JPH11211558A - センサ及びセンサアレイ - Google Patents
センサ及びセンサアレイInfo
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- JPH11211558A JPH11211558A JP10014120A JP1412098A JPH11211558A JP H11211558 A JPH11211558 A JP H11211558A JP 10014120 A JP10014120 A JP 10014120A JP 1412098 A JP1412098 A JP 1412098A JP H11211558 A JPH11211558 A JP H11211558A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
-
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- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/0225—Shape of the cavity itself or of elements contained in or suspended over the cavity
- G01J5/023—Particular leg structure or construction or shape; Nanotubes
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- Radiation Pyrometers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来よりも熱分離が大きくとれるセンサおよ
びセンサアレイを提供することを目的とする。 【解決手段】 基板2上に中空状態に設けられる素子に
おいて、検知部1と基板2とを接続する導電部を備えた
支持脚3を立体的に設けた。これにより、素子の占める
領域に対して支持脚3が長くとれるため、素子と基板間
の熱分離が大きくとれ、熱型センサの効率が向上する。
また、センサの集積度を増すことが可能となる。
びセンサアレイを提供することを目的とする。 【解決手段】 基板2上に中空状態に設けられる素子に
おいて、検知部1と基板2とを接続する導電部を備えた
支持脚3を立体的に設けた。これにより、素子の占める
領域に対して支持脚3が長くとれるため、素子と基板間
の熱分離が大きくとれ、熱型センサの効率が向上する。
また、センサの集積度を増すことが可能となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、外部からの信号
を検知するセンサおよびセンサが2次元アレイ状に配置
されたセンサアレイに関するもので、特に、赤外線を検
出する赤外線センサおよびそのセンサアレイに関するも
のである。
を検知するセンサおよびセンサが2次元アレイ状に配置
されたセンサアレイに関するもので、特に、赤外線を検
出する赤外線センサおよびそのセンサアレイに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】熱型赤外線センサに代表される熱型セン
サの開発が活発であり、特にマイクロマシーニング技術
を用いた微細なセンサが実用段階にある。センサ機能と
しては熱線受光による温度変化を電気抵抗、自発分極、
あるいは、熱起電力等の物理量に変換して熱・温度を検
出している。ここで、検出部の熱量変化を有効に温度変
化に変換するために、検出部と外界との熱の遮断を図る
必要がある。感温部分の周囲を真空にして、対流による
環境への熱伝達を低下させたり、また、素子構造として
は素子を形成している基板への熱伝導を低下させる構造
が採用されている。
サの開発が活発であり、特にマイクロマシーニング技術
を用いた微細なセンサが実用段階にある。センサ機能と
しては熱線受光による温度変化を電気抵抗、自発分極、
あるいは、熱起電力等の物理量に変換して熱・温度を検
出している。ここで、検出部の熱量変化を有効に温度変
化に変換するために、検出部と外界との熱の遮断を図る
必要がある。感温部分の周囲を真空にして、対流による
環境への熱伝達を低下させたり、また、素子構造として
は素子を形成している基板への熱伝導を低下させる構造
が採用されている。
【0003】図12は例えば特表平7―508095号
公報に示された集積されたセンサ素子の構成図であり、
図中(a)は平面図、(b)はG―G’での断面図であ
り、また117は検知部(感知領域)、120、121
は支持脚、102は基板、114は検知層である。検知
部117と支持脚120、121下の基板102はマイ
クロマシーニング技術をもって除去されており、検知部
117は支持脚120、121で保持され、基板に接続
されている。検知部117は検知層114、吸収層11
6、および、支持層となる絶縁層112と113から構
成されている。検知部117に入射する熱線を受光する
ことにより検知部117の温度が上昇する。この温度上
昇を感熱素子である検知層114によって電気信号に変
換することで熱線検知を行なわれている。電気信号は支
持脚120、121の上層にある導電層をもって基板ま
で導かれ、ここには図示されていない処理回路等を経て
信号が得られている。この従来技術の構造は検知部11
7の基板に対する断熱特性を向上させるために設けられ
た構造である。検知部117を基板から浮かせて、熱の
伝達経路を少なくしている。ここでの基板への伝達経路
は支持脚120、121であり、各々の支持脚を長く、
細く、かつ、熱伝導の少ない脚材料を用いることで断熱
特性を向上させている。
公報に示された集積されたセンサ素子の構成図であり、
図中(a)は平面図、(b)はG―G’での断面図であ
り、また117は検知部(感知領域)、120、121
は支持脚、102は基板、114は検知層である。検知
部117と支持脚120、121下の基板102はマイ
クロマシーニング技術をもって除去されており、検知部
117は支持脚120、121で保持され、基板に接続
されている。検知部117は検知層114、吸収層11
6、および、支持層となる絶縁層112と113から構
成されている。検知部117に入射する熱線を受光する
ことにより検知部117の温度が上昇する。この温度上
昇を感熱素子である検知層114によって電気信号に変
換することで熱線検知を行なわれている。電気信号は支
持脚120、121の上層にある導電層をもって基板ま
で導かれ、ここには図示されていない処理回路等を経て
信号が得られている。この従来技術の構造は検知部11
7の基板に対する断熱特性を向上させるために設けられ
た構造である。検知部117を基板から浮かせて、熱の
伝達経路を少なくしている。ここでの基板への伝達経路
は支持脚120、121であり、各々の支持脚を長く、
細く、かつ、熱伝導の少ない脚材料を用いることで断熱
特性を向上させている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のセンサ素子にお
いて、素子の大きさは基板除去孔140、150に囲ま
れる一点破線に示された領域αになる。この領域内に、
従来示されている方法で支持脚を長く、細くとることは
幾何学的には可能であるものの、この構造は、例えば半
導体作製技術に代表される微細加工技術の限界によりき
まるものであり、無為に長くとることは不可能となる。
また、支持脚120、121を極めて細くすることは、
支持脚自体の機械的強度の低下を招き、空隙作製の困難
さ、および、信頼性の低下を招くことになる。さらに、
素子の占める領域を小さくして、同じ面積に多数の素子
を組み込むことになれば、同じ設計指針であると断熱特
性の劣化が生じて所望の性能が得られないことになるな
どの問題点があった。また、検知層114を形成できる
領域がセンサ素子が占める一点破線に示された領域αに
比べ狭いために、センサ素子の占める領域を小さくしよ
うとすると検知層を形成する領域が著しく狭くなるとい
う問題点もあった。
いて、素子の大きさは基板除去孔140、150に囲ま
れる一点破線に示された領域αになる。この領域内に、
従来示されている方法で支持脚を長く、細くとることは
幾何学的には可能であるものの、この構造は、例えば半
導体作製技術に代表される微細加工技術の限界によりき
まるものであり、無為に長くとることは不可能となる。
また、支持脚120、121を極めて細くすることは、
支持脚自体の機械的強度の低下を招き、空隙作製の困難
さ、および、信頼性の低下を招くことになる。さらに、
素子の占める領域を小さくして、同じ面積に多数の素子
を組み込むことになれば、同じ設計指針であると断熱特
性の劣化が生じて所望の性能が得られないことになるな
どの問題点があった。また、検知層114を形成できる
領域がセンサ素子が占める一点破線に示された領域αに
比べ狭いために、センサ素子の占める領域を小さくしよ
うとすると検知層を形成する領域が著しく狭くなるとい
う問題点もあった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、断熱特性の向上、さらには、セ
ンサ素子の縮小化による多数センサ化・高密度集積を可
能とするセンサ構成を得ることを目的とする。
ためになされたもので、断熱特性の向上、さらには、セ
ンサ素子の縮小化による多数センサ化・高密度集積を可
能とするセンサ構成を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
わるセンサは、基板上に設けられ、外部からの信号を検
知する検知部を支持し、該検知部の信号を外部へ取り出
すための導電部を備えた支持部を有するセンサにおい
て、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成され
た前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱し
ものである。
わるセンサは、基板上に設けられ、外部からの信号を検
知する検知部を支持し、該検知部の信号を外部へ取り出
すための導電部を備えた支持部を有するセンサにおい
て、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成され
た前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱し
ものである。
【0007】この発明の請求項2に係わるセンサは、請
求項1において、検知部が基板の上方に配置されるもの
である。
求項1において、検知部が基板の上方に配置されるもの
である。
【0008】この発明の請求項3に係わるセンサは、請
求項2において、検知部が支持部の上方に配置されるも
のである。
求項2において、検知部が支持部の上方に配置されるも
のである。
【0009】この発明の請求項4に係わるセンサは、請
求項1において、検知部が基板の略同一面内に配置され
るものである。
求項1において、検知部が基板の略同一面内に配置され
るものである。
【0010】この発明の請求項5に係わるセンサは、請
求項1において、少なくとも検知部の下方の基板に該検
知部の領域に相当する溝を有し、支持部が基板の深さ方
向に配置されるものである。
求項1において、少なくとも検知部の下方の基板に該検
知部の領域に相当する溝を有し、支持部が基板の深さ方
向に配置されるものである。
【0011】この発明の請求項6に係わるセンサは、請
求項5において、支持部及び検知部が形成される領域の
基板に溝が形成されるものである。
求項5において、支持部及び検知部が形成される領域の
基板に溝が形成されるものである。
【0012】この発明の請求項7に係わるセンサは、請
求項1において、検知部に信号吸収部をさらに備えたも
のである。
求項1において、検知部に信号吸収部をさらに備えたも
のである。
【0013】この発明の請求項8に係わるセンサアレイ
は、基板上に設けられ、外部からの信号を検知するため
の検知部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で
検知された信号を外部に取り出す導電部とを備えたセン
サが、2次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイ
において、前記導電層が隣接するセンサ、あるいはさら
に離れた場所のセンサ部で基板に接続されるものであ
る。
は、基板上に設けられ、外部からの信号を検知するため
の検知部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で
検知された信号を外部に取り出す導電部とを備えたセン
サが、2次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイ
において、前記導電層が隣接するセンサ、あるいはさら
に離れた場所のセンサ部で基板に接続されるものであ
る。
【0014】この発明の請求項9に係わるセンサアレイ
は、請求項8において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるものである。
は、請求項8において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるものである。
【0015】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、本発明の
一実施の形態によるセンサの構成を示した斜視図、図2
は各断面図であり、図2(a)は図1中のA―A’断面
図、図2(b)は図2(a)中のB―B’断面図、図2
(c)は図2(a)中のC―C’断面図である。図にお
いて、1は基体層5(の下層)上に検知層7を備えた検
知部、2は基板、3は基体層5(の下層)上に導電層6
を備えた支持脚、8は接続部である。検知部1は基板か
ら立体的に延びた2本の支持脚3により支持され、検知
層7とその信号をとりだす導電層6の電極、基体層5か
らなる。基体層5は検知部1、支持脚3の構造を支える
層で、下層5a、上層5bからなる。支持脚3は導電層
6と基体層5からなる。これらの図では、検知領域のほ
かに3層の多層空中配線された様子を示している。各々
の支持脚3はそれらの端部において隣接する支持脚3、
検知部1、あるいは、基板2に接続部8をもって接続さ
れる。従来のように支持脚3を基板の面内方向だけでは
なく、本実施の形態のように法線方向に形成すること
で、支持脚の総延長を十分に長くすることができる。さ
らに、本発明によれば検知部を支持する支持体としての
支持脚を、従来のように細くしなくてもセンサ素子は作
製しうるために、センサの衝撃信頼性、保管信頼性等を
満足し得るセンサが作製できる。
一実施の形態によるセンサの構成を示した斜視図、図2
は各断面図であり、図2(a)は図1中のA―A’断面
図、図2(b)は図2(a)中のB―B’断面図、図2
(c)は図2(a)中のC―C’断面図である。図にお
いて、1は基体層5(の下層)上に検知層7を備えた検
知部、2は基板、3は基体層5(の下層)上に導電層6
を備えた支持脚、8は接続部である。検知部1は基板か
ら立体的に延びた2本の支持脚3により支持され、検知
層7とその信号をとりだす導電層6の電極、基体層5か
らなる。基体層5は検知部1、支持脚3の構造を支える
層で、下層5a、上層5bからなる。支持脚3は導電層
6と基体層5からなる。これらの図では、検知領域のほ
かに3層の多層空中配線された様子を示している。各々
の支持脚3はそれらの端部において隣接する支持脚3、
検知部1、あるいは、基板2に接続部8をもって接続さ
れる。従来のように支持脚3を基板の面内方向だけでは
なく、本実施の形態のように法線方向に形成すること
で、支持脚の総延長を十分に長くすることができる。さ
らに、本発明によれば検知部を支持する支持体としての
支持脚を、従来のように細くしなくてもセンサ素子は作
製しうるために、センサの衝撃信頼性、保管信頼性等を
満足し得るセンサが作製できる。
【0016】ここに示した一実施の形態の構成は、例え
ば以下のようにして作製される。図3は以下に示す作製
方法を示す図である。センサの信号処理回路を有する珪
素基板に保護用の酸化珪素を積層する。基板2も最後に
示される溶解層9の除去に耐え得る材質、あるいは、保
護層13を有するものであれば特に問われるものではな
い。この基板2上に、例えば、珪素からなる溶解層9を
積層する。基板2に接続するために該溶解層9に接続部
8の箇所に孔を設け、酸化珪素からなる基体層5の下層
5aを設け、さらに基板に電気接続する孔を接続部8内
に設ける(図3(a))。次に例えばクロム金属からな
る導電層6を積層し、図2(b)に示された形状に導電
層6を整える。さらに、例えば窒化珪素からなる基体層
5の上層5bを積層する(図3(b))。これら支持脚
3となる基体層5と導電層6を所望の形状に整形する
(図3(c))。この後、必要とするだけ溶解層9、基
体層5、導電層6を積層、および、形状を整え得ること
で積層型の支持脚3は形成できる。検知部1として酸化
珪素からなる支持層、金属、酸化物、窒化物等、温度変
化で電気抵抗の変化する検知層7、電極としての導電層
6を設け、図2(c)に示される形状に整える。ここで
は最後に保護層として窒化珪素を付加している(図3
(d))。最後に、溶解層9として設けた珪素を弗化キ
セノンガス中にさらすことで除去する(図3(e))。
これらの工程を経て、図1に示された構造を得ることが
できる。
ば以下のようにして作製される。図3は以下に示す作製
方法を示す図である。センサの信号処理回路を有する珪
素基板に保護用の酸化珪素を積層する。基板2も最後に
示される溶解層9の除去に耐え得る材質、あるいは、保
護層13を有するものであれば特に問われるものではな
い。この基板2上に、例えば、珪素からなる溶解層9を
積層する。基板2に接続するために該溶解層9に接続部
8の箇所に孔を設け、酸化珪素からなる基体層5の下層
5aを設け、さらに基板に電気接続する孔を接続部8内
に設ける(図3(a))。次に例えばクロム金属からな
る導電層6を積層し、図2(b)に示された形状に導電
層6を整える。さらに、例えば窒化珪素からなる基体層
5の上層5bを積層する(図3(b))。これら支持脚
3となる基体層5と導電層6を所望の形状に整形する
(図3(c))。この後、必要とするだけ溶解層9、基
体層5、導電層6を積層、および、形状を整え得ること
で積層型の支持脚3は形成できる。検知部1として酸化
珪素からなる支持層、金属、酸化物、窒化物等、温度変
化で電気抵抗の変化する検知層7、電極としての導電層
6を設け、図2(c)に示される形状に整える。ここで
は最後に保護層として窒化珪素を付加している(図3
(d))。最後に、溶解層9として設けた珪素を弗化キ
セノンガス中にさらすことで除去する(図3(e))。
これらの工程を経て、図1に示された構造を得ることが
できる。
【0017】このように本発明で作製されるセンサ素子
は例えば数十ミクロン角の領域においても伝熱的にみた
実質的な支持脚長さが従来の平面的な手法で作製される
ものより数倍、あるいは、それ以上の長さを得ることが
できる。センサの占める領域を一定としても断熱特性の
向上が図れる。さらに、1個のセンサの占める領域を狭
くして同一面積上に多数のセンサ素子を設ける場合にも
断熱特性の劣化なしに、あるいは、さらに向上させて作
製しうる。また、検知部1をを最上面に設けることで、
センサが占める領域に対して検知層7を形成できる領域
が広くでき、特にセンサを小型、あるいは、多素子化す
るときに検知層領域を広くとれることで、微細な形状に
は加工しにくい検知層を適用できるといった利点があ
る。
は例えば数十ミクロン角の領域においても伝熱的にみた
実質的な支持脚長さが従来の平面的な手法で作製される
ものより数倍、あるいは、それ以上の長さを得ることが
できる。センサの占める領域を一定としても断熱特性の
向上が図れる。さらに、1個のセンサの占める領域を狭
くして同一面積上に多数のセンサ素子を設ける場合にも
断熱特性の劣化なしに、あるいは、さらに向上させて作
製しうる。また、検知部1をを最上面に設けることで、
センサが占める領域に対して検知層7を形成できる領域
が広くでき、特にセンサを小型、あるいは、多素子化す
るときに検知層領域を広くとれることで、微細な形状に
は加工しにくい検知層を適用できるといった利点があ
る。
【0018】実施の形態2.図4は、実施の形態1に示
したセンサの一部上面図に相当するもので、支持脚3の
層の上面図であり、実施の形態1に関する図2(b)に
相当するものである。実施の形態1に比べて支持脚3が
面内に延びて屈曲した構造となっている。この屈曲した
構造は従来の技術にもみられるもので、面内の領域をよ
り有効に利用とするものである。面内で支持脚の長さが
長くなるために、積層する支持脚の層数を軽減可能とな
る。
したセンサの一部上面図に相当するもので、支持脚3の
層の上面図であり、実施の形態1に関する図2(b)に
相当するものである。実施の形態1に比べて支持脚3が
面内に延びて屈曲した構造となっている。この屈曲した
構造は従来の技術にもみられるもので、面内の領域をよ
り有効に利用とするものである。面内で支持脚の長さが
長くなるために、積層する支持脚の層数を軽減可能とな
る。
【0019】上記実施の形態1、2においては示される
材料は、成熟したとみられる珪素系の半導体微細加工に
適用されているものであり、工業的に作製しやすいもの
である。支持脚として珪素、酸化珪素、窒化珪素を主に
使用することは半導体微細加工技術の適用で微細で、安
価なセンサを作製しやすいという利点を有する。
材料は、成熟したとみられる珪素系の半導体微細加工に
適用されているものであり、工業的に作製しやすいもの
である。支持脚として珪素、酸化珪素、窒化珪素を主に
使用することは半導体微細加工技術の適用で微細で、安
価なセンサを作製しやすいという利点を有する。
【0020】実施の形態3.図5は同じく積層型支持脚
を有するセンサの別の形態の例である。図5(a)は平
面型の検知部1、および、支持脚3を有する形態におい
て、支持脚3を複数層設けたもので、この構造を用いる
ことにより、断熱特性の向上がはかることができる。
を有するセンサの別の形態の例である。図5(a)は平
面型の検知部1、および、支持脚3を有する形態におい
て、支持脚3を複数層設けたもので、この構造を用いる
ことにより、断熱特性の向上がはかることができる。
【0021】ここで、例えば熱型の赤外線センサにおい
てはよく知られているように受光面積が性能に影響する
ことになる。赤外光学系と被測定体を決めると入射して
くる放射強度は面積密度で一定となるため、受光面積に
比例した性能が得られる。このため、開口率向上層10
を設けることも可能となる。また、図5(b)は実施の
形態1に吸収層11を設けた構造である。前述のように
検知部1を最上面に設けることで、センサ領域に対し
て、検知層を形成できる領域が決して狭くならない。こ
の形態においても吸収層11を有効にセンサ領域の多く
の領域に形成でき、センサとしての性能がさらに向上す
る。
てはよく知られているように受光面積が性能に影響する
ことになる。赤外光学系と被測定体を決めると入射して
くる放射強度は面積密度で一定となるため、受光面積に
比例した性能が得られる。このため、開口率向上層10
を設けることも可能となる。また、図5(b)は実施の
形態1に吸収層11を設けた構造である。前述のように
検知部1を最上面に設けることで、センサ領域に対し
て、検知層を形成できる領域が決して狭くならない。こ
の形態においても吸収層11を有効にセンサ領域の多く
の領域に形成でき、センサとしての性能がさらに向上す
る。
【0022】実施の形態4.さらに、図6に示すよう
に、検知層7を基板面上に位置させて支持脚3が基板2
の上面に張り出した構造も有効となる。材料的には、マ
イクロマシーニング技術として良く知られているよう
に、溶解層として酸化珪素、構造・支持脚として窒化珪
素、珪素他の組み合わせとか、溶解層として有機層、構
造層として無機層を用いるなど構造体の材料は実施の形
態1に限られるものではない。
に、検知層7を基板面上に位置させて支持脚3が基板2
の上面に張り出した構造も有効となる。材料的には、マ
イクロマシーニング技術として良く知られているよう
に、溶解層として酸化珪素、構造・支持脚として窒化珪
素、珪素他の組み合わせとか、溶解層として有機層、構
造層として無機層を用いるなど構造体の材料は実施の形
態1に限られるものではない。
【0023】実施の形態5.図7は発明の実施の形態5
によるセンサの構成図である。図7(a)は図7(c)
中のD―D’破線での断面図であり、図7(b)は図7
(c)中のE―E’破線での断面図である。このセンサ
素子においては支持脚3は基板2中に埋め込まれて作製
される。作製手段の一例は以下の通りである。
によるセンサの構成図である。図7(a)は図7(c)
中のD―D’破線での断面図であり、図7(b)は図7
(c)中のE―E’破線での断面図である。このセンサ
素子においては支持脚3は基板2中に埋め込まれて作製
される。作製手段の一例は以下の通りである。
【0024】基板2に深溝加工で例えば閉じられた矩形
状の溝を形成する。その上に酸化珪素からなる溶解層9
を設ける。この溶解層9は溝部、および、検知部1の下
部にのみ残すように整えられる。この後、基体層5、導
電層6、検知層7を積層し、その形状を整える。基体層
5、導電層6は溝側壁に付きやすいように気相成長型成
膜法で作製される。基体層5の形状を整えることで酸化
珪素の溶解層の一部は再表面に露出することになる。こ
の状態で弗化水素酸を主体として酸化珪素を除去するこ
とでセンサ素子が完成する。図7(a)では溶解層9は
除去されており空隙4となっている。支持脚3は基板2
中に設けられた溝に従って基板2中に延びる構造となっ
ている。支持脚の長さに比べて支持脚を形成する面積が
小さくできる。これにより、センサ領域の有効利用、あ
るいは、センサの小型化によって支持脚が短くならない
構造となりうる。この構造においても、放射線検出型セ
ンサとしての性能を向上させる前述開口向上層10を設
けることは有効である。
状の溝を形成する。その上に酸化珪素からなる溶解層9
を設ける。この溶解層9は溝部、および、検知部1の下
部にのみ残すように整えられる。この後、基体層5、導
電層6、検知層7を積層し、その形状を整える。基体層
5、導電層6は溝側壁に付きやすいように気相成長型成
膜法で作製される。基体層5の形状を整えることで酸化
珪素の溶解層の一部は再表面に露出することになる。こ
の状態で弗化水素酸を主体として酸化珪素を除去するこ
とでセンサ素子が完成する。図7(a)では溶解層9は
除去されており空隙4となっている。支持脚3は基板2
中に設けられた溝に従って基板2中に延びる構造となっ
ている。支持脚の長さに比べて支持脚を形成する面積が
小さくできる。これにより、センサ領域の有効利用、あ
るいは、センサの小型化によって支持脚が短くならない
構造となりうる。この構造においても、放射線検出型セ
ンサとしての性能を向上させる前述開口向上層10を設
けることは有効である。
【0025】実施の形態6.図8は発明の実施の形態6
によるセンサ構成の断面図である。この場合にも実施の
形態5と同様に基板を溶解する方法を適用する。ここで
は結晶異方性のない加工法で作製されるもので、珪素を
基板材料としたときに弗化キセノンや硝酸弗酸を主体と
した溶液で加工可能となる。断熱特性を得るための支持
脚3を設けた領域を囲むように溝が設けられている。こ
の溝は例えば支持脚3を形成するときに形成したものと
同じように溝形成してもよく、あらためて設けられても
よい。この溝は空隙を有するセンサ部を取り囲むように
作製されるもので、空隙の形状を決めている。前述の空
隙作製方法では、基板を選択の余地無く加工されるた
め、センサを狭い領域に多素子化すると、隣接素子の空
隙部分がつながり、センサが基板に保持できなくなる。
この外周部にある閉じられた溝部は加工を止めるために
設けられるものである。この構造とすることで、基板の
一部を除去して空隙を設け、形成されるセンサにおいて
も、空隙を作製する方法として良好な特性を提供される
前述加工法の適用ができ、さらに、センサの小型化が容
易に可能となる。
によるセンサ構成の断面図である。この場合にも実施の
形態5と同様に基板を溶解する方法を適用する。ここで
は結晶異方性のない加工法で作製されるもので、珪素を
基板材料としたときに弗化キセノンや硝酸弗酸を主体と
した溶液で加工可能となる。断熱特性を得るための支持
脚3を設けた領域を囲むように溝が設けられている。こ
の溝は例えば支持脚3を形成するときに形成したものと
同じように溝形成してもよく、あらためて設けられても
よい。この溝は空隙を有するセンサ部を取り囲むように
作製されるもので、空隙の形状を決めている。前述の空
隙作製方法では、基板を選択の余地無く加工されるた
め、センサを狭い領域に多素子化すると、隣接素子の空
隙部分がつながり、センサが基板に保持できなくなる。
この外周部にある閉じられた溝部は加工を止めるために
設けられるものである。この構造とすることで、基板の
一部を除去して空隙を設け、形成されるセンサにおいて
も、空隙を作製する方法として良好な特性を提供される
前述加工法の適用ができ、さらに、センサの小型化が容
易に可能となる。
【0026】実施の形態7.図9は発明の実施の形態7
によるセンサ構成の断面図と上面図である。図9(a)
は図9(b)中のF―F’破線での断面図である。この
センサにおいては基板は結晶性のものに限定される。例
えば良く知られた(100)方位を表面に有する珪素基
板である。基板2に溝加工、基体層5、導電層6、検知
層7等の積層、整形した後、基板の{110}方向に平
行となる基板除去孔12を基板2に到達するまで開口す
る。この状態で例えば水酸化カリウム溶液に浸すことで
基板2は特定の結晶方位面が露出したところで加工がと
まる。従来の技術にも示されている良く知られた結晶異
方性加工法である。これにより熱分離が良好なセンサ素
子が完成する。実施の形態4において必要であった溶解
層9が不要となりセンサの作製が可能になる。基板は他
にも酸化マグネシウム等も用いることができ燐酸を主成
分をするもので同様の構造を得ることが出来る。
によるセンサ構成の断面図と上面図である。図9(a)
は図9(b)中のF―F’破線での断面図である。この
センサにおいては基板は結晶性のものに限定される。例
えば良く知られた(100)方位を表面に有する珪素基
板である。基板2に溝加工、基体層5、導電層6、検知
層7等の積層、整形した後、基板の{110}方向に平
行となる基板除去孔12を基板2に到達するまで開口す
る。この状態で例えば水酸化カリウム溶液に浸すことで
基板2は特定の結晶方位面が露出したところで加工がと
まる。従来の技術にも示されている良く知られた結晶異
方性加工法である。これにより熱分離が良好なセンサ素
子が完成する。実施の形態4において必要であった溶解
層9が不要となりセンサの作製が可能になる。基板は他
にも酸化マグネシウム等も用いることができ燐酸を主成
分をするもので同様の構造を得ることが出来る。
【0027】実施の形態8.図10は発明の実施の形態
8によるセンサアレイの構成を示した上面図である。図
11は従来の発明によるセンサをアレイ化して作製され
たセンサアレイを示す。図中20、21は基板に接続さ
れる箇所である。従来の形態ではセンサの占める領域内
に検知部1、及び検知部からの信号を取り出す導電部
(図示せず)を備えた支持脚3を設けており、従来の技
術で述べたように、本構造では断熱特性の向上は図りに
くい問題があった。実施の形態8の図10においては、
アレイ化されたセンサで各センサ領域のみならず隣接、
あるいは、それより離れたセンサ部で支持脚(支持脚の
導電部)を基板に接続する構造としている。このような
構成にすることで、断熱特性の向上が図れる。
8によるセンサアレイの構成を示した上面図である。図
11は従来の発明によるセンサをアレイ化して作製され
たセンサアレイを示す。図中20、21は基板に接続さ
れる箇所である。従来の形態ではセンサの占める領域内
に検知部1、及び検知部からの信号を取り出す導電部
(図示せず)を備えた支持脚3を設けており、従来の技
術で述べたように、本構造では断熱特性の向上は図りに
くい問題があった。実施の形態8の図10においては、
アレイ化されたセンサで各センサ領域のみならず隣接、
あるいは、それより離れたセンサ部で支持脚(支持脚の
導電部)を基板に接続する構造としている。このような
構成にすることで、断熱特性の向上が図れる。
【0028】さらに、基板に導電性をもので、かつ、各
センサが共通接地が可能なときには基板接続部の一方、
例えば図9において電気接続部21を基板に接続させる
ことは有効となる。配線数を減らせること、また、アレ
イ動作させる周辺回路は従来のものと同様に駆動させて
も同じ動作が可能となることである。
センサが共通接地が可能なときには基板接続部の一方、
例えば図9において電気接続部21を基板に接続させる
ことは有効となる。配線数を減らせること、また、アレ
イ動作させる周辺回路は従来のものと同様に駆動させて
も同じ動作が可能となることである。
【0029】なお、上記実施の形態においては、センサ
は赤外線センサについて例示したが、赤外線以外の放射
線やその他の物理量を検知する温度センサや、真空領域
内での真空度を測定するセンサ、流量センサなどに応用
できることは言うまでもない。
は赤外線センサについて例示したが、赤外線以外の放射
線やその他の物理量を検知する温度センサや、真空領域
内での真空度を測定するセンサ、流量センサなどに応用
できることは言うまでもない。
【0030】
【発明の効果】以上のように、本願発明の第1の発明に
よれば、基板上に設けられ、外部からの信号を検知する
検知部を支持し、該検知部で検知された信号を外部へ取
り出すための導電部を備えた支持部を有するセンサにお
いて、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成さ
れた前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱
したので、さらに、検知部が基板あるいは支持部の上方
に配置され、また検知部が基板の略面内に配置されるの
で、断熱特性が向上し、センサの縮小も可能となる。ま
た、上記構造において、支持部を基板の深さ方向に配置
する構造上記構造としたので、従来よりも支持部を長く
とることができ、断熱特性が向上し、また支持体を平面
に設けるよりも支持部の面内占有率が減少し、センサの
縮小も可能となる。さらに、上記構造において、検知部
に信号吸収部をさらに備えたので、信号の取り込みが効
率的に行われ、センサとしての性能が向上する。
よれば、基板上に設けられ、外部からの信号を検知する
検知部を支持し、該検知部で検知された信号を外部へ取
り出すための導電部を備えた支持部を有するセンサにお
いて、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形成さ
れた前記支持部により、前記検知部と前記基板とを断熱
したので、さらに、検知部が基板あるいは支持部の上方
に配置され、また検知部が基板の略面内に配置されるの
で、断熱特性が向上し、センサの縮小も可能となる。ま
た、上記構造において、支持部を基板の深さ方向に配置
する構造上記構造としたので、従来よりも支持部を長く
とることができ、断熱特性が向上し、また支持体を平面
に設けるよりも支持部の面内占有率が減少し、センサの
縮小も可能となる。さらに、上記構造において、検知部
に信号吸収部をさらに備えたので、信号の取り込みが効
率的に行われ、センサとしての性能が向上する。
【0031】また、本願発明の第2の発明によれば、基
板上に設けられ、外部からの信号を検知するための検知
部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で検知さ
れた信号を外部に取り出す導電部とを備えたセンサが2
次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイにおい
て、前記導電部が隣接するセンサ、あるいはさらに離れ
た場所のセンサ部で基板に接続されるので、断熱特性が
向上し、素子の集積度を上げることが可能となる。ま
た、上記構造において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるので、基板内での配線
が容易なセンサの作製が可能になる。
板上に設けられ、外部からの信号を検知するための検知
部と、その一部が基板に接続されて前記検知部で検知さ
れた信号を外部に取り出す導電部とを備えたセンサが2
次元アレイ状に複数個配設されたセンサアレイにおい
て、前記導電部が隣接するセンサ、あるいはさらに離れ
た場所のセンサ部で基板に接続されるので、断熱特性が
向上し、素子の集積度を上げることが可能となる。ま
た、上記構造において、1個のセンサが複数の導電部を
有し、該複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を
有する基板に電気的に接続されるので、基板内での配線
が容易なセンサの作製が可能になる。
【図1】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
斜視図である。
斜視図である。
【図2】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
断面図、上面図である。
【図3】 この発明の実施の形態1によるセンサ構成の
作製方法に関する図である。
作製方法に関する図である。
【図4】 この発明の実施の形態2によるセンサ構成の
上面図である。
上面図である。
【図5】 この発明の実施の形態3によるセンサ構成の
断面図である。
断面図である。
【図6】 この発明の実施の形態4によるセンサの構成
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図7】 この発明の実施の形態5によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
断面図、上面図である。
【図8】 この発明の実施の形態6によるセンサ構成の
断面図である。
断面図である。
【図9】 この発明の実施の形態7によるセンサ構成の
断面図、上面図である。
断面図、上面図である。
【図10】 この発明の実施の形態8によるセンサアレ
イ構成の上面図である。
イ構成の上面図である。
【図11】 従来のセンサアレイの配置を示した上面図
である。
である。
【図12】 従来のセンサの上面図、断面図である。
1 検知部、 2 基板、 3 支持脚、 4
空隙、 5 基体層、5a 基体層の下層、 5b
基板層の上層、 6 導電層、7 検知層、 8
接続部、 9 溶解層、 10 開口向上層、1
1 吸収層、 12 基板除去孔、 13 保護
層、20 基板接続部、 21 基板電気接続部。
空隙、 5 基体層、5a 基体層の下層、 5b
基板層の上層、 6 導電層、7 検知層、 8
接続部、 9 溶解層、 10 開口向上層、1
1 吸収層、 12 基板除去孔、 13 保護
層、20 基板接続部、 21 基板電気接続部。
Claims (9)
- 【請求項1】 基板上に設けられ、外部からの信号を検
知する検知部を支持し、該検知部で検知した信号を外部
へ取り出すための導電部を備えた支持部を有するセンサ
において、前記基板面の法線方向に矩形状に蛇行して形
成された前記支持部により、前記検知部と前記基板とを
断熱したことを特徴とするセンサ。 - 【請求項2】 検知部が基板の上方に配置されることを
特徴とする請求項1に記載のセンサ。 - 【請求項3】 検知部が支持部の上方に配置されること
を特徴とする請求項2に記載のセンサ。 - 【請求項4】 検知部が基板の略同一面内に配置される
ことを特徴とする請求項1に記載のセンサ。 - 【請求項5】 少なくとも検知部の下方の基板に該検知
部の領域に相当する溝を有し、支持部が基板の深さ方向
に配置されることを特徴とする請求項1に記載のセン
サ。 - 【請求項6】 支持部及び検知部が形成される領域の基
板に溝が形成されることを特徴とする請求項5に記載の
センサ。 - 【請求項7】 検知部に信号吸収部をさらに備えたこと
を特徴とする請求項1に記載のセンサ。 - 【請求項8】 基板上に設けられ、外部からの信号を検
知するための検知部と、その一部が基板に接続されて前
記検知部で検知された信号を外部に取り出す導電部とを
備えたセンサが、2次元アレイ状に複数個配設されたセ
ンサアレイにおいて、前記導電層が隣接するセンサ、あ
るいはさらに離れた場所のセンサ部で基板に接続される
ことを特徴とするセンサアレイ。 - 【請求項9】 1個のセンサが複数の導電部を有し、該
複数の導電部のうち少なくとも1つが導電性を有する基
板に電気的に接続されることを特徴とする請求項8に記
載のセンサアレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10014120A JPH11211558A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | センサ及びセンサアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10014120A JPH11211558A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | センサ及びセンサアレイ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11211558A true JPH11211558A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11852272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10014120A Pending JPH11211558A (ja) | 1998-01-27 | 1998-01-27 | センサ及びセンサアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11211558A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2018216265A1 (ja) * | 2017-05-22 | 2018-11-29 | 三菱電機株式会社 | 赤外線撮像素子、赤外線撮像アレイおよび赤外線撮像素子の製造方法 |
CN110361096A (zh) * | 2019-06-26 | 2019-10-22 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种高填充因子的红外探测器结构 |
-
1998
- 1998-01-27 JP JP10014120A patent/JPH11211558A/ja active Pending
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