JPH11205632A - Sample-and-hold circuit and clamp circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はサンプルホールド回
路及びクランプ回路に関し、特に、高精度な温度補償が
可能なサンプルホールド回路及びクランプ回路に関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample and hold circuit and a clamp circuit, and more particularly to a sample and hold circuit and a clamp circuit capable of performing highly accurate temperature compensation.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、ビデオカメラ回路内等に使用され
るクランプ回路としては、高精度なクランプが可能なフ
ィードバッククランプ回路が採用されていた。図8は、
従来のフィードバッククランプ回路の構成を示す回路図
である。入力端子から入力された映像信号は演算増幅器
10からなるバッファ増幅器によって増幅され、出力端
子に出力される。出力信号電圧は、アナログスイッチか
らなる電子スイッチ回路11によって、サンプルすべき
時間位置において発生するクランプパルスと同期してサ
ンプリングされ、ホールド用のコンデンサ12に保持さ
れる。コンデンサ12の電圧は、演算増幅器16からな
る積分回路の+(プラス)端子に入力される。また、積
分回路の−(マイナス)端子には、基準クランプ電圧端
子から抵抗18が接続され、更に演算増幅器16の出力
端子からコンデンサ17が接続されている。2. Description of the Related Art Conventionally, as a clamp circuit used in a video camera circuit or the like, a feedback clamp circuit capable of highly accurate clamping has been employed. FIG.
FIG. 11 is a circuit diagram illustrating a configuration of a conventional feedback clamp circuit. The video signal input from the input terminal is amplified by the buffer amplifier including the operational amplifier 10 and output to the output terminal. The output signal voltage is sampled by an electronic switch circuit 11 including an analog switch in synchronization with a clamp pulse generated at a time position to be sampled, and is held in a hold capacitor 12. The voltage of the capacitor 12 is input to a + (plus) terminal of an integrating circuit including the operational amplifier 16. Further, a resistor 18 is connected to a − (minus) terminal of the integrating circuit from a reference clamp voltage terminal, and a capacitor 17 is connected to an output terminal of the operational amplifier 16.
【0003】図8の回路において、演算増幅器10から
なるバッファ増幅器および電子スイッチ11とコンデン
サ12からなるサンプルホールド回路は演算増幅器16
のフィードバック回路を形成しており、抵抗18および
コンデンサ17によって決定される時定数で、コンデン
サ12に保持される電圧が基準クランプ電圧となるよう
に信号の直流レベルがフィードバック制御される。In the circuit shown in FIG. 8, a buffer amplifier comprising an operational amplifier 10 and a sample-and-hold circuit comprising an electronic switch 11 and a capacitor 12 comprise an operational amplifier 16.
Is formed, and the DC level of the signal is feedback-controlled so that the voltage held in the capacitor 12 becomes the reference clamp voltage with the time constant determined by the resistor 18 and the capacitor 17.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】前記したような従来の
フィードバッククランプ回路においては、演算増幅器1
0はフィードバックループ内にあるので、該増幅器10
の温度ドリフトも含めてフィードバック制御される。但
し、積分回路を形成する演算増幅器16の温度ドリフト
は抑圧できない。従って、積分回路に使用する演算増幅
器16には低温度ドリフトの演算増幅器を使用するな
ど、設計には十分配慮が必要となる。また、サンプルホ
ールド回路の電子スイッチ11としては例えばCMOS
FETを使用したアナログスイッチ素子を使用するが、
この素子のオン抵抗、オフ抵抗、寄生容量、スイッチン
グ時間等の温度変化特性も問題となる。In the conventional feedback clamp circuit as described above, the operational amplifier 1
0 is in the feedback loop, so the amplifier 10
The feedback control is performed including the temperature drift of. However, the temperature drift of the operational amplifier 16 forming the integration circuit cannot be suppressed. Therefore, it is necessary to give sufficient consideration to the design, such as using an operational amplifier with a low temperature drift as the operational amplifier 16 used in the integration circuit. The electronic switch 11 of the sample and hold circuit is, for example, a CMOS.
Use an analog switch element using FET,
Temperature change characteristics such as on-resistance, off-resistance, parasitic capacitance, and switching time of this element also pose a problem.
【0005】本発明の目的は、前記のような従来技術の
問題点を解決し、高精度な温度補償が可能なサンプルホ
ールド回路及びクランプ回路を提供することにある。An object of the present invention is to provide a sample-hold circuit and a clamp circuit which can solve the above-mentioned problems of the prior art and can perform temperature compensation with high accuracy.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、サンプルホー
ルド回路において、差動入力端子を有する増幅手段と、
ホールド出力が差動入力端子の一端に接続されたサンプ
ルホールド手段と、出力が差動入力端子の他端に接続さ
れ、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性を有する
ように構成された疑似サンプルホールド手段とを含むこ
とを特徴とする。また、該サンプルホールド回路を使用
したフィードバッククランプ回路にも特徴がある。本発
明によれば、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性
やインピーダンスを有する疑似サンプルホールド手段を
設け、該手段の出力電圧を演算増幅器の他端に入力する
ことにより、演算増幅器の同相信号除去特性(CMRR)を
利用してサンプルホールド回路あるいは誤差電圧演算回
路の温度ドリフトをキャンセルするように作用する。SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a sample and hold circuit, comprising: amplifying means having a differential input terminal;
Sample-and-hold means having a hold output connected to one end of a differential input terminal, and pseudo sample-and-hold means having an output connected to the other end of the differential input terminal and having the same temperature change characteristics as the sample-and-hold means And characterized in that: There is also a feature in a feedback clamp circuit using the sample and hold circuit. According to the present invention, the pseudo-sample-and-hold means having the same temperature change characteristics and impedance as the sample-and-hold means is provided, and the output voltage of the means is input to the other end of the operational amplifier. (CMRR) is used to cancel the temperature drift of the sample and hold circuit or the error voltage calculation circuit.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。図2は、一般的なビデオカ
メラ装置の回路構成例を示すブロック図である。CCD
20から生成された映像信号はCDS(相関二重サンプ
リング)回路21によって雑音が低減され、LPF(ロ
ーパスフィルタ)回路22を介して増幅器23によって
増幅される。本発明が適用されるクランプ回路24は、
後述するような構成および動作によって映像信号の直流
レベルを基準のレベルにクランプする。ブランキングク
リーン回路25はCCD20からの出力に含まれている
水平ブランキング期間中の不要な信号を取り除き、代わ
りにREF信号発生回路27によって発生されたREF
パルスを加える。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 2 is a block diagram illustrating a circuit configuration example of a general video camera device. CCD
The video signal generated from 20 is reduced in noise by a CDS (correlated double sampling) circuit 21, and is amplified by an amplifier 23 through an LPF (low-pass filter) circuit 22. The clamp circuit 24 to which the present invention is applied includes:
The DC level of the video signal is clamped to a reference level by the configuration and operation described below. The blanking clean circuit 25 removes an unnecessary signal included in the output from the CCD 20 during the horizontal blanking period, and substitutes for the REF signal generated by the REF signal generation circuit 27.
Apply a pulse.
【0008】図3は、ブランキングクリーン回路25の
入出力信号波形を示す波形図である。図3(a)はクラ
ンプ回路24からブランキングクリーン回路25へ入力
される映像信号波形例であり、図3(b)はREF信号
発生回路27からブランキングクリーン回路25へ入力
されるREF信号波形である。ブランキングクリーン回
路25は水平ブランキング期間中はREFパルス信号が
出力されるようにスイッチングしている。従って、もし
クランプ回路24の精度が悪いとスイッチング時にレベ
ルの段差が生じ、ペデスタルが狂ってしまったりゲイン
精度が悪化する原因となるので、クランプ回路24には
高い精度が要求される。FIG. 3 is a waveform diagram showing input / output signal waveforms of the blanking clean circuit 25. FIG. 3A shows an example of a video signal waveform input from the clamp circuit 24 to the blanking clean circuit 25, and FIG. 3B shows a REF signal waveform input from the REF signal generation circuit 27 to the blanking clean circuit 25. It is. The blanking clean circuit 25 switches so as to output the REF pulse signal during the horizontal blanking period. Therefore, if the accuracy of the clamp circuit 24 is low, a level difference occurs at the time of switching, which may cause a pedestal to be out of order or a decrease in gain accuracy. Therefore, the clamp circuit 24 is required to have high accuracy.
【0009】図2に戻って、AGC回路28はREFパ
ルスを基に映像信号のゲインを制御し、ガンマ補正回路
29、ホワイトクリップ回路30、ドライバ回路31を
経て映像信号が外部へ出力される。タイミング制御回路
26はCCDやその他の回路に必要なタイミングパルス
を供給する。Returning to FIG. 2, the AGC circuit 28 controls the gain of the video signal based on the REF pulse, and the video signal is output to the outside via the gamma correction circuit 29, the white clip circuit 30, and the driver circuit 31. The timing control circuit 26 supplies necessary timing pulses to the CCD and other circuits.
【0010】図1は、本発明を適用したフィードバック
クランプ回路の第1の実施例の構成を示す回路図であ
る。図8に示す従来のフィードバッククランプ回路との
相違点は、サンプルホールド回路と積分回路との間に点
線で囲んだ補正回路を追加した点である。補正回路の演
算増幅器13の+端子はサンプルホールド回路の電子ス
イッチ11とホールド用コンデンサ12の接続点に接続
されており、−端子にはやはり電子スイッチ15および
コンデンサ14の並列接続回路の一端が接続されてい
る。電子スイッチ15およびコンデンサ14の並列接続
回路の他端は演算増幅器13の出力に接続されており、
該出力は更に積分回路の演算増幅器16の+端子に接続
されている。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a first embodiment of a feedback clamp circuit to which the present invention is applied. The difference from the conventional feedback clamp circuit shown in FIG. 8 is that a correction circuit surrounded by a dotted line is added between the sample hold circuit and the integration circuit. The + terminal of the operational amplifier 13 of the correction circuit is connected to the connection point between the electronic switch 11 and the holding capacitor 12 of the sample and hold circuit, and the-terminal is also connected to one end of a parallel connection circuit of the electronic switch 15 and the capacitor 14. Have been. The other end of the parallel connection circuit of the electronic switch 15 and the capacitor 14 is connected to the output of the operational amplifier 13,
The output is further connected to the + terminal of the operational amplifier 16 of the integration circuit.
【0011】コンデンサ14は、サンプルホールド回路
のコンデンサ12と同一の特性および容量のものを使用
し、また電子スイッチ15もサンプルホールド回路の電
子スイッチ11と同一のものを使用する。2つの電子ス
イッチ11、15は共に、タイミング制御回路26から
出力されるクランプパルスによってオン/オフ制御され
る。このコンデンサ14および電子スイッチ回路15
は、いわば疑似サンプルホールド回路を形成している。The capacitor 14 has the same characteristics and capacity as the capacitor 12 of the sample and hold circuit, and the electronic switch 15 has the same configuration as the electronic switch 11 of the sample and hold circuit. Both of the two electronic switches 11 and 15 are on / off controlled by a clamp pulse output from the timing control circuit 26. The capacitor 14 and the electronic switch circuit 15
Form a so-called pseudo sample-and-hold circuit.
【0012】図4は、電子スイッチ11、15として使
用される、市販されているアナログスイッチICの構成
例を示す回路図である。スイッチング素子としてはPM
OSFET(Q3)およびNMOSFET(Q4)が並
列接続された回路を用い、MOSFET、Q1、Q2か
らなるインバータ回路によって相補的に駆動する。FE
Tをスイッチング素子として使用しているために、オン
抵抗、オフ抵抗、各端子間の寄生容量、スイッチング速
度等が信号に影響を与える恐れがあり、また温度変化に
よってこれらのパラメータも変化する。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of a commercially available analog switch IC used as the electronic switches 11 and 15. PM as a switching element
A circuit in which the OSFET (Q3) and the NMOSFET (Q4) are connected in parallel is driven complementarily by an inverter circuit composed of MOSFETs, Q1, and Q2. FE
Since T is used as a switching element, on-resistance, off-resistance, parasitic capacitance between terminals, switching speed, and the like may affect the signal, and these parameters also change due to temperature change.
【0013】発明者は、温度変化によるレベル変動を演
算増幅器の+端子および−端子の双方に加えることによ
り変動をキャンセルするという基本的着想に基づき、各
種の回路構成について試作、測定を行った結果、図1に
示す回路が、従来の回路に比べて温度変化に対する直流
のドリフトが減少することを確認した。図1の補正回路
は基本的には増幅度1のバッファ増幅器として動作す
る。温度補償が行われる原因は、スイッチ11およびコ
ンデンサ12からなるサンプルホールド回路の出力電圧
の温度による変化が、スイッチ15およびコンデンサ1
4からなる疑似サンプルホールド回路の出力電圧の温度
による変化と等しく、演算増幅器13の同相信号除去特
性(CMRR)によってキャンセルされたものと考えられ
る。あるいは、演算増幅器13の+端子および−端子か
ら見たインピーダンスが等しくなるので、演算増幅器1
3の温度によるドリフトが減少したものと考えられる。The inventors have made prototypes and measured various circuit configurations based on the basic idea of canceling the fluctuation by adding the level fluctuation due to temperature change to both the + terminal and the-terminal of the operational amplifier. It has been confirmed that the circuit shown in FIG. 1 reduces the DC drift with respect to the temperature change as compared with the conventional circuit. The correction circuit of FIG. 1 basically operates as a buffer amplifier having an amplification degree of one. The cause of the temperature compensation is that the change in the output voltage of the sample-and-hold circuit composed of the switch 11 and the capacitor 12 due to the temperature is caused by the switch 15 and the capacitor 1
It is considered that the output voltage of the pseudo sample-and-hold circuit composed of No. 4 is equal to the change due to temperature, and is canceled by the common mode signal rejection characteristic (CMRR) of the operational amplifier 13. Alternatively, since the impedances seen from the + terminal and the − terminal of the operational amplifier 13 become equal, the operational amplifier 1
It is considered that the drift due to the temperature of No. 3 was reduced.
【0014】図5は、フィードバッククランプ回路の第
2の実施例の構成を示す回路図である。図1に示す第1
の実施例においては、積分回路と補正回路とが別に構成
されていたが、第2の実施例は積分型のサンプルホール
ド回路がクランプおよび温度補償機能をも備えるように
構成した例である。図5の回路において、演算増幅器1
0および40、電子スイッチ11、コンデンサ41によ
って積分型のサンプルホールド回路が形成されている。FIG. 5 is a circuit diagram showing the configuration of a second embodiment of the feedback clamp circuit. The first shown in FIG.
Although the integration circuit and the correction circuit are configured separately in the embodiment, the second embodiment is an example in which the integration type sample and hold circuit is also provided with a clamp and a temperature compensation function. In the circuit of FIG.
0, 40, the electronic switch 11, and the capacitor 41 form an integral sample-and-hold circuit.
【0015】演算増幅器40の−端子には、電子スイッ
チ43およびコンデンサ42の並列回路の一端が接続さ
れ、他端には基準クランプ電圧が印加されている。電子
スイッチ43およびコンデンサ42はそれぞれ電子スイ
ッチ11およびコンデンサ41と同一のものを使用す
る。電子スイッチ43およびコンデンサ42は、やはり
疑似サンプルホールド回路を形成しており、第1の実施
例と同様にサンプルホールド回路の温度ドリフトのキャ
ンセルあるいは両入力端子のインピーダンスを揃えるこ
とによる演算増幅器40の温度ドリフトの減少により、
温度補償効果を奏するものと考えられる。One terminal of the parallel circuit of the electronic switch 43 and the capacitor 42 is connected to the negative terminal of the operational amplifier 40, and a reference clamp voltage is applied to the other terminal. The electronic switch 43 and the capacitor 42 are the same as the electronic switch 11 and the capacitor 41, respectively. The electronic switch 43 and the capacitor 42 also form a pseudo sample-and-hold circuit, and cancel the temperature drift of the sample-and-hold circuit or adjust the temperature of the operational amplifier 40 by equalizing the impedance of both input terminals as in the first embodiment. Due to the reduced drift,
It is considered that a temperature compensation effect is exhibited.
【0016】図6は、フィードバッククランプ回路の第
3の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
1に示す第1の実施例の変形例であり、第1の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図6の回
路において、電子スイッチ51およびコンデンサ50に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが、
この回路はサンプルホールド回路と全く同一の構成で実
際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしている。従
って、サンプルホールド回路の温度による特性変化のキ
ャンセルや両入力端子のインピーダンスを揃えることに
よる演算増幅器13の温度ドリフトの減少の効果がより
期待できる。FIG. 6 is a circuit diagram showing the configuration of a third embodiment of the feedback clamp circuit. This embodiment is a modification of the first embodiment shown in FIG. 1, and differs from the first embodiment in the configuration of the pseudo sample-hold circuit. In the circuit of FIG. 6, a pseudo sample hold circuit is formed by the electronic switch 51 and the capacitor 50.
This circuit actually samples and holds the reference clamp voltage with exactly the same configuration as the sample / hold circuit. Therefore, the effect of canceling the characteristic change due to the temperature of the sample hold circuit and reducing the temperature drift of the operational amplifier 13 by making the impedances of both input terminals uniform can be expected.
【0017】図7は、フィードバッククランプ回路の第
4の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
5に示す第2の実施例の変形例であり、第2の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図7の回
路において、電子スイッチ43およびコンデンサ42に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが
が、コンデンサ42の一端はグランドに接続されてお
り、実際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしてい
る。この実施例においても、第2実施例と同様に、サン
プルホールド回路の温度による特性変化のキャンセルや
両入力端子のインピーダンスを揃えることによる演算増
幅器13の温度ドリフトの減少の効果が期待できる。FIG. 7 is a circuit diagram showing the configuration of a fourth embodiment of the feedback clamp circuit. This embodiment is a modification of the second embodiment shown in FIG. 5, and differs from the second embodiment in the configuration of the pseudo sample hold circuit. In the circuit of FIG. 7, a pseudo sample-hold circuit is formed by the electronic switch 43 and the capacitor 42. One end of the capacitor 42 is connected to the ground, and actually samples and holds the reference clamp voltage. In this embodiment, as in the second embodiment, the effect of canceling the characteristic change due to the temperature of the sample and hold circuit and reducing the temperature drift of the operational amplifier 13 by making the impedances of both input terminals uniform can be expected.
【0018】以上、本発明を映像信号のクランプ回路に
適用する例を開示したが、本発明のサンプルホールド回
路およびクランプ回路は任意の信号のサンプルホールド
回路およびクランプ回路に適用可能である。Although an example in which the present invention is applied to a video signal clamp circuit has been disclosed above, the sample and hold circuit and the clamp circuit of the present invention can be applied to a sample and hold circuit and a clamp circuit for an arbitrary signal.
【0019】[0019]
【発明の効果】以上述べたように、本発明においては、
サンプルホールド手段と同じ温度変化特性やインピーダ
ンスを有する疑似サンプルホールド手段を設け、該手段
の出力電圧を演算増幅器の他端に入力することにより、
演算増幅器の同相信号除去特性(CMRR)を利用してサン
プルホールド回路あるいは誤差電圧演算回路の温度ドリ
フトをキャンセルするようにしたので、サンプルホール
ド回路及び該回路を使用したクランプ回路において、簡
単な回路で高精度な温度補償が可能となるという効果が
ある。As described above, in the present invention,
By providing pseudo sample and hold means having the same temperature change characteristics and impedance as the sample and hold means, and inputting the output voltage of the means to the other end of the operational amplifier,
Since the temperature drift of the sample and hold circuit or the error voltage calculation circuit is canceled by using the common mode signal rejection characteristic (CMRR) of the operational amplifier, a simple circuit can be used in the sample and hold circuit and the clamp circuit using the circuit. Therefore, there is an effect that highly accurate temperature compensation can be performed.
【図1】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第1の実施例の構成を示
す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a first embodiment of a foot back clamp circuit.
【図2】一般的なビデオカメラ装置の回路構成を示すブ
ロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of a general video camera device.
【図3】フ゛ランキンク゛クリーン回路の入出力信号波形を示す波形
図である。FIG. 3 is a waveform diagram showing input / output signal waveforms of a feedback clean circuit.
【図4】アナログスイッチICの構成例を示す回路図で
ある。FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a configuration example of an analog switch IC.
【図5】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第2の実施例の構成を示
す回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram showing the configuration of a second embodiment of the foot back clamp circuit.
【図6】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第3の実施例の構成を示
す回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram showing the configuration of a third embodiment of the foot back clamp circuit.
【図7】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第4の実施例の構成を示
す回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a fourth embodiment of a foot back clamp circuit.
【図8】従来のフィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の構成を示す回路図
である。FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional foot pack clamp circuit.
10、13、16…演算増幅器、11、15…電子スイ
ッチ素子、12、14、17…コンデンサ、18…抵抗10, 13, 16 ... operational amplifier, 11, 15 ... electronic switch element, 12, 14, 17 ... capacitor, 18 ... resistor
Claims (4)
ンプルホールド手段と、 出力が前記差動入力端子の他端に接続され、温度変化に
対する出力電圧の変化が前記サンプルホールド手段と同
じ特性を有するように構成された疑似サンプルホールド
手段とを含むことを特徴とするサンプルホールド回路。Amplifying means having a differential input terminal; sample and hold means having a hold output connected to one end of the differential input terminal; output being connected to the other end of the differential input terminal; And a pseudo sample-and-hold means configured to have a change in output voltage with respect to the same as the sample-and-hold means.
ルド出力が前記差動入力端子の一端に接続されたサンプ
ルホールド手段と、出力が前記差動入力端子の他端に接
続され、温度変化に対する出力電圧の変化が前記サンプ
ルホールド手段と同じ特性を有するように構成された疑
似サンプルホールド手段とを含むサンプルホールド回路
を有することを特徴とするフィードバッククランプ回
路。Amplifying means having a differential input terminal, sample-and-hold means having a hold output connected to one end of the differential input terminal, and an output connected to the other end of the differential input terminal; And a pseudo sample-and-hold means configured to have a change in output voltage with respect to the sample-and-hold means having the same characteristics as the sample-and-hold means.
サンプルホールド手段に使用される素子と同一の電子ス
イッチ素子およびコンデンサの並列接続回路であり、該
並列接続回路の一端は前記増幅手段のマイナス端子に接
続され、他端は前記増幅手段の出力端に接続されてお
り、 前記増幅手段の出力は積分回路に入力されており、 前記積分回路の出力は抵抗を介して、入力信号を増幅す
るバッファ増幅手段のマイナス端子に接続されており、 バッファ増幅手段の出力がサンプルホールド回路に接続
されていることを特徴とする請求項2に記載のフィード
バッククランプ回路。3. The pseudo sample and hold means is a parallel connection circuit of the same electronic switch element and capacitor as the element used for the sample and hold means, and one end of the parallel connection circuit is connected to a minus terminal of the amplification means. The other end is connected to the output end of the amplifying means. The output of the amplifying means is input to an integrating circuit. The output of the integrating circuit is a buffer amplifier for amplifying an input signal via a resistor. 3. The feedback clamp circuit according to claim 2, wherein the feedback clamp circuit is connected to a negative terminal of the means, and an output of the buffer amplifying means is connected to a sample hold circuit.
チの一端とホールド用のコンデンサの接続点は前記増幅
手段のマイナス端子に接続され、前記ホールド用のコン
デンサの他端は増幅手段の出力端子に接続され、 前記疑似サンプルホールド手段は、前記サンプルホール
ド手段に使用される素子と同一の電子スイッチ素子およ
びコンデンサの並列接続回路であり、該並列接続回路の
一端は前記増幅手段のプラス端子に接続され、他端はク
ランプすべき基準電圧に接続されており、 前記増幅手段の出力は抵抗を介して、入力信号を増幅す
るバッファ増幅手段のプラス端子に接続されており、 バッファ増幅手段の出力がサンプルホールド回路に接続
されており、 全体としてクランプ機能を有する積分型のサンプルホー
ルド回路が形成されていることを特徴とする請求項2に
記載のフィードバッククランプ回路。4. A connection point between one end of an electronic switch of the sample and hold circuit and a holding capacitor is connected to a minus terminal of the amplifying means, and the other end of the holding capacitor is connected to an output terminal of the amplifying means. The pseudo sample-and-hold means is a parallel connection circuit of the same electronic switch element and capacitor as the element used for the sample-and-hold means, and one end of the parallel connection circuit is connected to a plus terminal of the amplification means; The terminal is connected to a reference voltage to be clamped, the output of the amplifying means is connected via a resistor to the plus terminal of a buffer amplifying means for amplifying an input signal, and the output of the buffer amplifying means is a sample-and-hold circuit. To form an integral sample-and-hold circuit with a clamping function as a whole. Feedback clamping circuit according to claim 2, characterized in that.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10004801A JPH11205632A (en) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Sample-and-hold circuit and clamp circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10004801A JPH11205632A (en) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Sample-and-hold circuit and clamp circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11205632A true JPH11205632A (en) | 1999-07-30 |
Family
ID=11593880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10004801A Pending JPH11205632A (en) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Sample-and-hold circuit and clamp circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11205632A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010034770A (en) * | 2008-07-28 | 2010-02-12 | Nec Engineering Ltd | Video signal clamping circuit |
CN101807922A (en) * | 2010-03-19 | 2010-08-18 | 北京时代民芯科技有限公司 | Sampling hold circuit for improving performance by adopting compensation way |
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-
1998
- 1998-01-13 JP JP10004801A patent/JPH11205632A/en active Pending
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