[go: up one dir, main page]

JPH11183151A - Transparent sheet inspection equipment - Google Patents

Transparent sheet inspection equipment

Info

Publication number
JPH11183151A
JPH11183151A JP35361397A JP35361397A JPH11183151A JP H11183151 A JPH11183151 A JP H11183151A JP 35361397 A JP35361397 A JP 35361397A JP 35361397 A JP35361397 A JP 35361397A JP H11183151 A JPH11183151 A JP H11183151A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
inspection
transparent sheet
light
transmitted light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35361397A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Kumasaka
博 熊坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP35361397A priority Critical patent/JPH11183151A/en
Publication of JPH11183151A publication Critical patent/JPH11183151A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 透明シート状の被検査物の表面性状等を容易
かつ正確に検査する透明シート検査装置を提供する。 【解決手段】 透明シート材4の被検査物を検査する装
置であって、被検査物の表面に所定面積を有すると共に
実質的に均等な強度を有し、平行光束な光を照射する照
射手段1と、照射手段1により照射された被検査物の透
過光像を結像してマスク6を介して所定の撮像手段7に
投影する投影手段5と、を備え、撮像像手段7により撮
像された被検査物の透過光像の光電変換信号に基づき、
被検査物を検査する。被検査物を通った透過光の出射角
は表裏形状および内部の素材状態に起因し、透過光像の
光強度分布に差として現れる。その光電変換信号レベル
差から欠陥を検出することができる。
(57) [Problem] To provide a transparent sheet inspection apparatus for easily and accurately inspecting the surface properties and the like of a transparent sheet-like inspection object. An apparatus for inspecting an object to be inspected on a transparent sheet material, the irradiating means having a predetermined area on the surface of the object to be inspected, having substantially uniform intensity, and irradiating parallel light beams. 1, and a projection unit 5 that forms a transmitted light image of the inspection object irradiated by the irradiation unit 1 and projects the transmission light image on a predetermined imaging unit 7 via a mask 6. Based on the photoelectric conversion signal of the transmitted light image of the inspected object,
Inspect the test object. The emission angle of the transmitted light passing through the inspection object is caused by the front and back shapes and the state of the material inside, and appears as a difference in the light intensity distribution of the transmitted light image. A defect can be detected from the photoelectric conversion signal level difference.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は透明シート、特に透
明フィルム、透明ガラス板等の透明シートを検査するの
に好適な透明シート検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transparent sheet inspection apparatus suitable for inspecting a transparent sheet, particularly a transparent sheet such as a transparent film or a transparent glass plate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の透明シートの表面の凹凸
状欠陥の検査方法として、たとえばスリット状の光束を
被検査物表面に照射し、その光束の直線性の変化から表
面形状を得る所謂、光切断法が知られている。また、検
査装置としては、スリット状光束を出射する光源とスリ
ット状光束を照射した表面の光束直線性を検出する受光
系、たとえばエリアセンサカメラを備えたものがある。
2. Description of the Related Art Heretofore, as a method for inspecting the surface of a transparent sheet of this type for unevenness defects, for example, a so-called slit shape light beam is irradiated on the surface of an object to be inspected, and the surface shape is obtained from a change in the linearity of the light beam. The light-section method is known. Further, as an inspection apparatus, there is an inspection apparatus provided with a light source that emits a slit-like light beam and a light receiving system that detects a light beam linearity of a surface irradiated with the slit-like light beam, for example, an area sensor camera.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
表面検査方法および検査装置では、特に表面形状変化が
緩やかで、しかもその表面の凹凸変化量が微小な被検査
物に対しては受光倍率を大きくする必要がある。このた
めつぎのような点で問題となっていた。
However, according to the conventional surface inspection method and inspection apparatus, the light receiving magnification is increased particularly for an object to be inspected whose surface shape change is gradual and the surface irregularity change amount is minute. There is a need to. Therefore, there have been problems in the following points.

【0004】すなわち、 1.被検査物の送りおよび回転等による表面の位置変動
が受光系の合焦を乱し、また、光束の直線および傾きを
乱す要因となり、形状変化による直線性の変化を検出す
るのが困難になる。 2.位置変動を極力少なくするためには光源、受光系お
よび被検査物表面の相対位置を合わす必要があり、装置
が複雑化する。 3.変化量が微小な凹凸に対して受光倍率を大きくする
ことから、検査視野が狭くなり被検査物の全面検査に要
する時間が長くなる。
That is, 1. Positional fluctuations of the surface due to the movement and rotation of the inspection object disturb the focusing of the light receiving system, and also disturb the straight line and inclination of the light beam, making it difficult to detect a change in linearity due to a change in shape. . 2. In order to minimize position fluctuations, it is necessary to match the relative positions of the light source, the light receiving system, and the surface of the inspection object, which complicates the apparatus. 3. Since the light receiving magnification is increased with respect to the minute unevenness, the inspection field of view is narrowed, and the time required for full inspection of the inspection object is increased.

【0005】本発明はかかる実情に鑑み、透明シート状
の被検査物の表面性状等を容易かつ正確に検査する透明
シート検査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a transparent sheet inspection apparatus for easily and accurately inspecting the surface properties of a transparent sheet-like inspection object.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の透明シート検査
装置は、透明シート材の被検査物を検査する装置であっ
て、被検査物の表面に所定面積を有すると共に実質的に
均等な強度を有し、平行光束な光を照射する照射手段
と、照射手段により照射された被検査物の透過光像を結
像してマスクを介して所定の撮像手段に投影する投影手
段と、を備え、撮像手段により撮像された被検査物の透
過光像の光電変換信号に基づき、前記被検査物を検査す
るようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A transparent sheet inspection apparatus according to the present invention is an apparatus for inspecting an object to be inspected made of a transparent sheet material, and has a predetermined area on the surface of the object to be inspected and a substantially uniform strength. Irradiating means for irradiating parallel light beams, and projecting means for forming a transmitted light image of the inspection object irradiated by the irradiating means and projecting the transmitted light image to a predetermined imaging means via a mask. In addition, the inspection object is inspected based on a photoelectric conversion signal of a transmitted light image of the inspection object captured by the imaging unit.

【0007】また、本発明の透明シート検査装置におい
て、前記照射手段は、被検査物面に対して所定角度傾い
た方向から照射し、また前記撮像手段は、前記被検査物
を介して照明手段および照射光と対向した配置関係で透
過光像を撮像することを特徴とする。
Further, in the transparent sheet inspection apparatus according to the present invention, the irradiating means irradiates the object from a direction inclined at a predetermined angle with respect to the surface of the object to be inspected, and the imaging means illuminates the object through the object to be inspected. And transmitting a transmitted light image in an arrangement relationship facing the irradiation light.

【0008】また、本発明の透明シート検査装置におい
て、被検査物に対する検出映像信号が、良品に対する検
出映像信号と比較され、規定値範囲を外れると被検査物
に異常が有ると判断することを特徴とする。
Further, in the transparent sheet inspection apparatus of the present invention, the detected video signal for the inspected object is compared with the detected image signal for a non-defective product, and if the detected image signal is out of the specified value range, it is determined that the inspected object is abnormal. Features.

【0009】請求項1に係る発明によれば、照射手段に
よって平行光束が被検査物表面に照射されることで、被
検査物を通った透過光の出射角は表裏形状および内部の
素材状態に起因し、透過光像の光強度分布に差として現
れる。その光電変換信号レベル差から欠陥を検出するこ
とができる。
According to the first aspect of the present invention, the surface of the object is irradiated with the parallel light beam by the irradiating means, so that the emission angle of the transmitted light passing through the object is changed to the front and back shapes and the state of the material inside. It appears as a difference in the light intensity distribution of the transmitted light image. A defect can be detected from the photoelectric conversion signal level difference.

【0010】また、請求項2に係る発明によれば、照射
手段によって平行光束が被検査物面に対して臨界角を除
く所定角度傾いた方向から照射する。なお、より望まし
くは所定角度として被検査物面に対し鋭角にすることが
望まれる。このことで緩やかな形状変化表面と良品な表
面とで、透過光像の光強度分布に差が明確に現れ、凹凸
変化の小さい形状変化を検出することかできる。
According to the second aspect of the present invention, the irradiating means irradiates the parallel light beam with respect to the surface of the inspection object from a direction inclined by a predetermined angle excluding the critical angle. It is more desirable that the predetermined angle be an acute angle with respect to the surface of the inspection object. This clearly shows a difference in the light intensity distribution of the transmitted light image between the gentle shape change surface and the non-defective surface, and it is possible to detect a shape change with a small unevenness change.

【0011】また、請求項3に係る発明によれば、撮像
手段によって透過光像の光強度分布が光電変換された映
像信号に対し、処理装置において透過光像に対応する映
像信号部分のみを対象として映像信号レベルを、事前に
処理装置に記憶した被検査物で表面形状変化のない良品
の検出映像信号と比較する。事前に同種の被検査物で表
面形状変化のない良品部の検出映像信号を処理装置に記
憶し、この記憶映像信号と検査によって被検査物から検
出した映像信号とを比較することで緩やかな形状変化表
面と良品表面との信号差が検出することができる。ま
た、この比較結果を基に規格値と比較することで表面形
状不良の判断が確実に行える。
According to the third aspect of the present invention, for a video signal whose light intensity distribution of a transmitted light image has been photoelectrically converted by the imaging means, only a video signal portion corresponding to the transmitted light image is processed in the processing device. Then, the video signal level is compared with a non-defective detected video signal having no change in the surface shape of the inspection object stored in the processing device in advance. The detected image signal of a non-defective part of the same type of inspected object without any change in surface shape is stored in the processing unit in advance, and the stored image signal is compared with the image signal detected from the inspected object by the inspection to achieve a gentle shape. The signal difference between the changed surface and the non-defective surface can be detected. Further, by comparing the standard value with the standard value based on the comparison result, it is possible to reliably determine the surface shape defect.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき、本発明によ
る透明シート検査装置の好適な実施の形態を説明する。
図1は本発明の特徴を最もよく表す図であり、本発明装
置の構成例を示している。同図において、1は光源であ
るHe−Neレーザ、2はレーザ1の出力光を拡大しか
つ平行光とするビームエキスパンダ、3は被検査物表面
に照射されるべき検査光の原形状を画定するマスク板、
4は被検査物である透明シート、5は検査光の照射によ
り被検査物を透した透過光像を投影する平凸型シリンド
リカル投影レンズ、6は平凸型シリンドリカル投影レン
ズ5による投影像の受光範囲を定める受光マスク板、7
は受光マスク板6によって規定され、これを通過してき
た表面の投影像を受光し、その像を電気信号に変換する
CCDラインセンサ、8はCCDラインセンサ7によっ
て撮像した映像出力信号を処理するための処理装置であ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a transparent sheet inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram that best illustrates the features of the present invention, and shows a configuration example of the device of the present invention. In the figure, 1 is a He-Ne laser as a light source, 2 is a beam expander that expands the output light of the laser 1 and makes it parallel light, and 3 is the original shape of the inspection light to be irradiated on the surface of the inspection object. Defining mask board,
Reference numeral 4 denotes a transparent sheet as an object to be inspected, 5 denotes a plano-convex cylindrical projection lens that projects a transmitted light image transmitted through the object by irradiation of inspection light, and 6 denotes reception of a projected image by the plano-convex cylindrical projection lens 5. Light receiving mask plate for defining the range, 7
Is a CCD line sensor which receives the projected image of the surface which is defined by the light receiving mask plate 6 and passes through it, and converts the image into an electric signal. 8 is for processing a video output signal picked up by the CCD line sensor 7. Processing device.

【0013】なお、上記構成においてレーザ1からCC
Dラインセンサ7までの各構成部材は、外光を遮断する
ための図示されていない遮光板によってカバーされてお
り、これにより実質的に暗所に配置されている。
In the above configuration, the laser 1 to the CC
Each component up to the D-line sensor 7 is covered by a light-shielding plate (not shown) for blocking external light, and is thereby arranged substantially in a dark place.

【0014】検査光光源であるHe−Ne(波長63
2.8nm)レーザ1の出力ビーム光1aは、同一光軸
に配置されたビームエキスパンダ2に入射される。入射
したビーム1aを、検査光束3aとして照射する際に原
形状を定めるマスク板3の原形状の大きさよりも十分大
きく、光強度分布が均一なビーム光径に拡大し、また平
行光とした出射光束2aに変換する。
The inspection light source He-Ne (wavelength 63
(2.8 nm) The output beam 1a of the laser 1 is incident on a beam expander 2 arranged on the same optical axis. When irradiating the incident beam 1a as the inspection light beam 3a, the size is sufficiently larger than the size of the original shape of the mask plate 3 which determines the original shape, the light intensity distribution is enlarged to a uniform beam diameter, and the light is emitted as parallel light. It is converted into a light beam 2a.

【0015】このように変換された出射光束2aは、検
査光束として照射する原形状を定めるマスク板3に照射
される。マスク板3は被検査物4に照射する検査光束3
aの原形状部分のみが貫通され、他は遮光板により遮光
された構造を成している。また、マスク板3は光軸と垂
直に配置され、貫通されている検査光束3aの原形状部
の中心は光軸に位置する。
The output light beam 2a thus converted is irradiated on a mask plate 3 which defines an original shape to be irradiated as an inspection light beam. The inspection light beam 3 irradiating the inspection object 4 with the mask plate 3
Only the original shape portion a is penetrated, and the other portions are shielded from light by the light shielding plate. The mask plate 3 is arranged perpendicular to the optical axis, and the center of the original shape of the penetrated inspection light beam 3a is located on the optical axis.

【0016】マスク板3の検査光束3aの原形状として
(3x=5mm、3y=14mm)を有し、出射光束2
aからマスク板3へ照射され、原形状部分となって通過
した光束により、長方形の面を成す平行な検査光束3a
が形成され、被検査物の表面に照射される。
The inspection light beam 3a of the mask plate 3 has the original shape (3x = 5 mm, 3y = 14 mm).
a, the inspection beam 3a having a rectangular surface is illuminated by the mask plate 3 and passed therethrough as the original shape portion.
Is formed, and the surface of the inspection object is irradiated.

【0017】ここで、検査光束3aの長方形の面を有す
る光束の一辺である3x(5mm)は、たとえば被検査
物4である透明シート4の長手方向に対応する。また、
他方の一辺である3y(14mm)は幅方向に対応す
る。
Here, 3x (5 mm) which is one side of the light beam having a rectangular surface of the inspection light beam 3a corresponds to, for example, the longitudinal direction of the transparent sheet 4 which is the inspection object 4. Also,
The other side, 3y (14 mm), corresponds to the width direction.

【0018】なお、被検査物である透明シート4の表面
への検査光束3aは、光軸と透明シート4面の法線から
成る入射角θ(60〜87°)以内にある入射角にて斜
めから照射する。これにより被検査物の透明シート4の
長手方向の検査光束3aの照射長さ4xは、sin(9
0°−θ)=3x/4xの4xで表される。たとえば検
査光束3aの長方形の面を有する光束の一辺である3x
を5mm、入射角であるθを80°とすると、検査光束
3aの光束は平行光であることから、照射長4xは約2
9mmとなり、マスク板3の通過後の長方形の面を有す
る検査光束3aの一辺である3x=5mmに比べて、長
い範囲を照射することになる。
The inspection light beam 3a on the surface of the transparent sheet 4 as an object to be inspected is incident at an incident angle θ (60 to 87 °) which is within the incident angle θ (60 to 87 °) formed by the optical axis and the normal of the transparent sheet 4 surface. Irradiate diagonally. Thus, the irradiation length 4x of the inspection light beam 3a in the longitudinal direction of the transparent sheet 4 of the inspection object is sin (9
0 ° −θ) = 4x of 3x / 4x. For example, 3x which is one side of a light beam having a rectangular surface of the inspection light beam 3a
Is 5 mm and the incident angle [theta] is 80 [deg.], Since the inspection light beam 3a is a parallel light beam, the irradiation length 4x is about 2 mm.
9 mm, which is longer than the 3x = 5 mm, which is one side of the inspection light beam 3a having a rectangular surface after passing through the mask plate 3.

【0019】なお、検査光束3aの長方形の他辺である
3y(=14mm)は、被検査物の幅より幅の広い検査
光束が照射されている。このように被検査物である透明
シート4の表面に入射角θにて検査光束3aを照射し、
透明シート4による透過光像を光軸上で被検査物を介し
て、これに対向して光軸に配置された平凸型シリンドリ
カル投影レンズ5に透明シート4の透過光像4bが入射
される。
The other side of the rectangle 3y (= 14 mm) of the inspection light beam 3a is irradiated with an inspection light beam wider than the width of the inspection object. Thus, the surface of the transparent sheet 4 to be inspected is irradiated with the inspection light beam 3a at the incident angle θ,
The transmitted light image 4b of the transparent sheet 4 is incident on a plano-convex cylindrical projection lens 5 disposed on the optical axis in opposition to the transmitted light image of the transparent sheet 4 on the optical axis through the object to be inspected. .

【0020】このような透過光像4bの入射に対して、
平凸型シリンドリカル投影レンズ5は、検査光束3aの
3x方向の透過光像に対してはレンズ作用はなく、3y
方向の透過光像に対してはレンズ作用がある配置となっ
ている。なお、検査光束3aの被検査物表面の照射位置
と平凸型シリンドリカル投影レンズ5の間隔は、平凸型
シリンドリカル投影レンズ5の焦点距離以上の間隔を有
して平凸型シリンドリカル投影レンズ5が配置されてい
る。
With respect to the incidence of the transmitted light image 4b,
The plano-convex cylindrical projection lens 5 has no lens effect on the transmitted light image of the inspection light beam 3a in the 3x direction, and has a 3y
It is arranged to have a lens function for the transmitted light image in the direction. The distance between the irradiation position of the inspection light beam 3a on the surface of the object to be inspected and the plano-convex cylindrical projection lens 5 is larger than the focal length of the plano-convex cylindrical projection lens 5, and the plano-convex cylindrical projection lens 5 Are located.

【0021】このことで平凸型シリンドリカル投影レン
ズ5に入射された透過光像4bの検査光束3aの3y方
向に対するレンズ出射光像は、焦点距離の位置で結像
し、それより離れると180度反転し、距離およびレン
ズ倍率に依存して拡大する反転像となる。また、3x方
向に対するレンズ出射光像については、レンズ作用が無
いため入射された光束の幅で出射される。
As a result, the transmitted light image 4b incident on the plano-convex cylindrical projection lens 5 in the direction 3y of the inspection light beam 3a is formed at the focal length position, and 180 degrees away from it. The inverted image is inverted and enlarged depending on the distance and the lens magnification. In addition, the lens-emitted light image in the 3x direction is emitted with the width of the incident light beam because there is no lens action.

【0022】このように平凸型シリンドリカル投影レン
ズ5を通過した被検査物の透過光像5aは、光軸上に配
置された受光マスクスリットによって投影光像の受光す
る範囲を定めている。このように受光マスク板6のスリ
ットによって投影光像の受光範囲が定められ、スリット
を通過した投影光像6aは光軸上に配置したCCDライ
ンセンサ7の受光素子面に投影し受光する。
As described above, the transmitted light image 5a of the inspection object that has passed through the plano-convex cylindrical projection lens 5 defines a range in which the projected light image is received by the light receiving mask slit arranged on the optical axis. Thus, the light receiving range of the projection light image is determined by the slit of the light receiving mask plate 6, and the projection light image 6a passing through the slit is projected and received on the light receiving element surface of the CCD line sensor 7 arranged on the optical axis.

【0023】なお、CCDラインセンサ7には撮像レン
ズを有せず、平凸型シリンドリカル投影レンズ5を通過
した被検査物の透過光像5aを受光マスク板6のスリッ
トを通過した投影光像6aのみを直接受光する。また、
CCDラインセンサ7の受光素子列は、被検査物の幅方
向(検査光束3aの3y方向)に、受光マスク板6のス
リット同様に光軸と垂直の方向に配置されている。ま
た、平凸型シリンドリカル投影レンズ5とCCDライン
センサ7の間隔は、CCDラインセンサ7の受光素子列
全面に平凸型シリンドリカル投影レンズ5により拡大さ
れた被検査物の透過光像5aの垂直方向の像の範囲が照
射する位置となっている。
The CCD line sensor 7 has no imaging lens, and transmits a transmitted light image 5a of the object to be inspected that has passed through the plano-convex cylindrical projection lens 5 to a projection light image 6a that has passed through the slit of the light receiving mask plate 6. Only receive light directly. Also,
The light receiving element rows of the CCD line sensor 7 are arranged in the width direction of the inspection object (the 3y direction of the inspection light beam 3a) in the direction perpendicular to the optical axis similarly to the slit of the light receiving mask plate 6. The distance between the plano-convex cylindrical projection lens 5 and the CCD line sensor 7 is set in the vertical direction of the transmitted light image 5a of the inspection object enlarged by the plano-convex cylindrical projection lens 5 over the entire light receiving element array of the CCD line sensor 7. Are the irradiation positions.

【0024】また、平凸型シリンドリカル投影レンズ5
とCCDラインセンサ7の間に配置された受光マスク板
6、およびそれに設けられたスリットは、CCDライン
センサ7の受光素子列全面のみに上記の場合と同様、被
検査物の透過光像5aの垂直方向の像の範囲が照射する
ように設けられている。CCDラインセンサ7により受
光された透過光像は電気信号に変換され、映像信号7a
として出力され、処理装置8に入力され、処理装置8に
より被検査物4の良不良の判断が行われる。
A plano-convex cylindrical projection lens 5
The light-receiving mask plate 6 disposed between the CCD line sensor 7 and the slits provided therein are provided only on the entire surface of the light-receiving element array of the CCD line sensor 7 in the same manner as described above. It is provided to illuminate the area of the image in the vertical direction. The transmitted light image received by the CCD line sensor 7 is converted into an electric signal, and a video signal 7a
Is output to the processing device 8, and the processing device 8 determines whether the inspection object 4 is good or bad.

【0025】なお、入力される映像信号7aに対して、
透過光像に対応する映像信号のみを対象とした映像信号
レベルを、事前に記憶した被検査物で表面形状変化の無
い良品の検出映像信号と比較する。その結果を前記同
様、事前に設定された規格レベルの上下限値と比較し、
規格値を外れるとその箇所に表面形状不良が存在すると
判断される。また、規格値内の場合は、その箇所の表面
は良品と判断される。
It should be noted that, for the input video signal 7a,
The video signal level for only the video signal corresponding to the transmitted light image is compared with a previously stored non-defective detected video signal of the inspection object having no change in surface shape. The result is compared with the upper and lower limit values of the standard level set in advance, as described above,
If the value deviates from the standard value, it is determined that a surface shape defect exists at that location. If the value is within the standard value, the surface at that location is determined to be good.

【0026】図2は、平行な検査光束3aが被検査物4
の表面に対し、入射角θで表面のある範囲4xを照射
し、緩やかな表面形状変化の有無による透過光を示す。
図2において、表裏面に緩やかな凹凸形状変化がない面
(4x1 ,4x3 )の場合、表裏面と被検査物の長手方
向の基準軸4aの平行が保たれることから被検査物表面
に照射された光束は被検査物の屈折率によって被検査物
内に入射し、透過した光束が被検査物から出射され透過
光像(4b1 ,4b3 )を形成する。
FIG. 2 shows that the parallel inspection light beam 3a is
Are illuminated with a certain range 4x of the surface at an incident angle θ, and the transmitted light is indicated by the presence or absence of a gradual change in the surface shape.
2, the front and back surfaces gentle irregularities no change surface in (4x 1, 4x 3) For, the front and back surfaces to the longitudinal direction of the object to be inspected from the surface that the parallel is kept of the reference axis 4a of the object light beam irradiated to the incident on the inspection object by the refractive index of the object, the transmitted light beam to form a transmitted light image emitted from the object to be inspected (4b 1, 4b 3).

【0027】つぎに、緩やかな凸形状表面(4x2 )の
場合、その表面は基準軸4aとの平行性がなくなり、基
準軸4aに対し傾きxn 度を生じる。その表面に対する
各照射箇所の入射角θn はθ−xn °(=θn )と成
り、表面形状変化のない場合の表面への入射角θと異な
る入射角で検査光束が照射される。
Next, in the case of a gently convex surface (4 × 2 ), the surface loses parallelism with the reference axis 4a and has a tilt of x n degrees with respect to the reference axis 4a. It becomes the incident angle theta n of each irradiation position is θ-x n ° (= θ n) relative to the surface, the inspection light beam at an incident angle theta with different incident angles to the surface in the absence of surface shape variation is irradiated.

【0028】凸形状表面(4x2 )に対し、入射角θn
で照射され、その表面で同様に被検査物の屈折率によっ
て被検査物内に入射し、透過した光束が被検査物から出
射され透過光像(4b2 )を成す。
With respect to the convex surface (4 × 2 ), the incident angle θ n
The light is incident on the surface of the object due to the refractive index of the object, and the transmitted light flux is emitted from the object to form a transmitted light image (4b 2 ).

【0029】このように検査光束3aを照射した被検査
物表面の範囲4xに対する入射角θおよび透過出射角
θ′の透過光範囲4x′において、透過光のある位置で
透過光と直角を成す直線4c上での透過光強度分布は、
4dのように示される。表面の凸形状による光強度の変
化が変化部4b2 ′として現れ、表面形状変化のない表
面と透過光強度の差か得られる。
In the transmitted light range 4x 'of the incident angle θ and the transmitted / emitted angle θ' with respect to the range 4x of the surface of the inspection object irradiated with the inspection light beam 3a, a straight line perpendicular to the transmitted light at a certain position of the transmitted light. The transmitted light intensity distribution on 4c is
It is shown as 4d. A change in light intensity due to the convex shape of the surface appears as a change portion 4b 2 ′, and the difference between the surface having no change in surface shape and the transmitted light intensity is obtained.

【0030】このように得られた透過光像を平凸型シリ
ンドリカル投影レンズ5および受光マスク板6を通し、
CCDラインセンサ7で受光することで、光強度の変化
を電気信号の電圧レベル変化に変換される。さらに、変
換された電気信号7aは処理装置8に入力された後に、
事前に記憶した良品の映像信号と比較し、その後に規格
レベルの上下限値と比較され表面に形状変化不良が存在
するか判断される。
The transmitted light image thus obtained is passed through a plano-convex cylindrical projection lens 5 and a light receiving mask plate 6, and
When the light is received by the CCD line sensor 7, the change in light intensity is converted into a change in the voltage level of an electric signal. Further, after the converted electric signal 7a is input to the processing device 8,
This is compared with a non-defective video signal stored in advance, and then compared with upper and lower limits of a standard level to determine whether a shape change defect exists on the surface.

【0031】図2の表面凸形状(4x2 )による透過光
強度は、電圧レベルの変化として変換され、規格レベル
の上下限値のいずれかでも外れると形状変化が存在する
と判断される。
The transmitted light intensity due to the surface convex shape (4 × 2 ) shown in FIG. 2 is converted as a change in the voltage level, and if any of the upper and lower limits of the standard level deviates, it is determined that a shape change exists.

【0032】なお、被検査物である透明シート4の全面
を同様に検査するために、被検査物の基準軸4a方向の
送り機構を備える(図示せず)。たとえば、送り機構に
より被検査物を一定速度で基準軸4a方向に移動させ、
被検査物面に検査光束を順次照射し、その時の被検査物
を透過した光像を平凸型シリンドリカルレンズ5および
受光マスク板6を通し、CCDラインセンサ7で受光す
る。これにより光強度の変化を電気信号の電圧レベル変
化に変換し、処理装置8に入力することで全面検査を可
能とし、表面形状変化不良が1つでも存在すると、その
被検査物は不良品と判断される。
In order to similarly inspect the entire surface of the transparent sheet 4 to be inspected, a feed mechanism for moving the inspected object in the direction of the reference axis 4a is provided (not shown). For example, the inspection object is moved at a constant speed in the direction of the reference axis 4a by the feed mechanism,
The surface of the inspection object is sequentially irradiated with the inspection light beam, and the light image transmitted through the inspection object at that time passes through the plano-convex cylindrical lens 5 and the light receiving mask plate 6 and is received by the CCD line sensor 7. As a result, the change in light intensity is converted into a change in the voltage level of an electric signal, and the entire test can be performed by inputting the change to the processing device 8. If any surface shape change defect exists, the test object is regarded as a defective product. Is determined.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、こ
の種の透明シート状の被検査物の両面を高速で検査する
ことができる。さらに被検査物内部も検査することがで
きる。また、本発明によれば平行照射光束に対し被検査
物を斜めに透かして撮像することから被検査物表面にお
ける一定の厚み変化の欠陥を含む凹凸状欠陥および被検
査物内部の異常に対し、屈折変形が大きく撮像でき、そ
の光電変換信号の信号処理により欠陥を確実に判定す
る。したがって、被検査物の両面および内部を同時に検
査することができ、検査効率良く短時間に検査すること
ができる。撮像手段としてl次元センサを用い、被検査
物の幅方向を1次元で撮像し光電変換することで、被検
査物を連続的に送りながら検査が可能となり、検査の高
速化が図れる等の利点を有している。
As described above, according to the present invention, both sides of this type of transparent sheet-like inspection object can be inspected at high speed. Furthermore, the inside of the inspection object can be inspected. Further, according to the present invention, since the object to be inspected is imaged obliquely with respect to the parallel irradiation light beam, irregularities including a defect with a constant thickness change on the surface of the object and abnormalities inside the object to be inspected, An image with a large refraction deformation can be taken, and a defect is reliably determined by signal processing of the photoelectric conversion signal. Therefore, both sides and the inside of the inspection object can be inspected at the same time, and the inspection can be performed efficiently and in a short time. By using an one-dimensional sensor as an imaging unit and performing one-dimensional imaging in the width direction of the inspection object and performing photoelectric conversion, inspection can be performed while the inspection object is continuously transmitted, and advantages such as faster inspection can be achieved. have.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態における要部構成を示す概略
図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a main part configuration in an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施形態における被検査物表面の形状
変化による透過光の強度分布差の例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a difference in intensity distribution of transmitted light due to a change in the shape of the surface of an inspection object according to the embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 He−Neレーザ 2 ビームエキスパンダ 3 マスク板 4 透明シート 5 平凸型シリンドリカル投影レンズ 6 受光マスク板 7 CCDラインセンサ Reference Signs List 1 He-Ne laser 2 Beam expander 3 Mask plate 4 Transparent sheet 5 Plano-convex cylindrical projection lens 6 Light receiving mask plate 7 CCD line sensor

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明シート材の被検査物を検査する装置
であって、 被検査物の表面に所定面積を有すると共に実質的に均等
な強度を有し、平行光束な光を照射する照射手段と、 照射手段により照射された被検査物の透過光像を結像し
てマスクを介して所定の撮像手段に投影する投影手段
と、を備え、 撮像手段により撮像された被検査物の透過光像の光電変
換信号に基づき、前記被検査物を検査するようにしたこ
とを特徴とする透明シート検査装置。
1. An apparatus for inspecting an object to be inspected made of a transparent sheet material, said irradiating means having a predetermined area on the surface of the object to be inspected, having substantially uniform intensity, and irradiating parallel light beams. And a projection unit that forms a transmitted light image of the inspection object irradiated by the irradiation unit and projects the transmission light image on a predetermined imaging unit via a mask, wherein the transmitted light of the inspection object captured by the imaging unit is provided. A transparent sheet inspection apparatus, wherein the inspection object is inspected based on a photoelectric conversion signal of an image.
【請求項2】 前記照射手段は、被検査物面に対して所
定角度傾いた方向から照射し、また前記撮像手段は、前
記被検査物を介して照明手段および照射光と対向した配
置関係で透過光像を撮像することを特徴とする請求項1
記載の透明シート検査装置。
2. The irradiating means irradiates the object to be inspected from a direction inclined at a predetermined angle with respect to the surface of the object to be inspected, and the imaging means has an arrangement relationship with the illuminating means and the irradiation light via the object to be inspected. 2. A transmission light image is taken.
The transparent sheet inspection device according to the above.
【請求項3】 被検査物に対する検出映像信号が、良品
に対する検出映像信号と比較され、規定値範囲を外れる
と被検査物に異常があると判断することを特徴とする請
求項1記載の透明シート検査装置。
3. The transparency according to claim 1, wherein the detected video signal for the inspected object is compared with the detected video signal for a non-defective product, and if the detected image signal is out of a specified value range, it is determined that the inspected object has an abnormality. Sheet inspection device.
JP35361397A 1997-12-22 1997-12-22 Transparent sheet inspection equipment Pending JPH11183151A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35361397A JPH11183151A (en) 1997-12-22 1997-12-22 Transparent sheet inspection equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35361397A JPH11183151A (en) 1997-12-22 1997-12-22 Transparent sheet inspection equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11183151A true JPH11183151A (en) 1999-07-09

Family

ID=18432037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35361397A Pending JPH11183151A (en) 1997-12-22 1997-12-22 Transparent sheet inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11183151A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179885A (en) * 2010-02-26 2011-09-15 Seiko Epson Corp Device and method for calibration, tool for position detection, and component inspection apparatus
JP2012242325A (en) * 2011-05-23 2012-12-10 Tdk Corp Green sheet film thickness measuring instrument
CN107421966A (en) * 2016-04-26 2017-12-01 株式会社三丰 Method and apparatus for detecting the defects of transparency
CN120761411A (en) * 2020-02-28 2025-10-10 日东电工株式会社 Inspection method for light-transmitting layered products

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179885A (en) * 2010-02-26 2011-09-15 Seiko Epson Corp Device and method for calibration, tool for position detection, and component inspection apparatus
JP2012242325A (en) * 2011-05-23 2012-12-10 Tdk Corp Green sheet film thickness measuring instrument
CN107421966A (en) * 2016-04-26 2017-12-01 株式会社三丰 Method and apparatus for detecting the defects of transparency
DE102017207027B4 (en) 2016-04-26 2024-07-18 Mitutoyo Corporation Method and device for detecting a defect in a transparent body
CN120761411A (en) * 2020-02-28 2025-10-10 日东电工株式会社 Inspection method for light-transmitting layered products

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6011620A (en) Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
US7907270B2 (en) Inspection apparatus and method, and production method for pattern substrates
US4966457A (en) Inspecting apparatus for determining presence and location of foreign particles on reticles or pellicles
JP3668294B2 (en) Surface defect inspection equipment
EP0930498A2 (en) Inspection apparatus and method for detecting defects
JPH03267745A (en) Surface property detecting method
CN101443654A (en) Surface inspection apparatus
JPH0333645A (en) Surface state inspecting apparatus
KR970000781B1 (en) Foreign body inspection device
JP2001041719A (en) Inspection apparatus and inspection method for transparent material and storage medium
JPH0882602A (en) Method and apparatus for inspecting fault of plate glass
JPH11183151A (en) Transparent sheet inspection equipment
JPH11248643A (en) Foreign film inspection device for transparent film
JP2001124538A (en) Method and device for detecting defect in surface of object
JP3078784B2 (en) Defect inspection equipment
JP2006292412A (en) Surface inspection system, surface inspection method and substrate manufacturing method
JP4654408B2 (en) Inspection apparatus, inspection method, and pattern substrate manufacturing method
JP3409272B2 (en) Foreign matter inspection method of exposure mask
JPH06258237A (en) Defect inspection equipment
JP2000028535A (en) Defect inspection equipment
JP2021167845A (en) Surface foreign matter detection device and surface foreign matter detection method using the same
JP2906745B2 (en) Surface undulation inspection device
JP6086277B2 (en) Pattern inspection apparatus and illumination optical system used therefor
JP2009222629A (en) Device for inspecting edge of object to be inspected
JP3572545B2 (en) Pass / fail judgment method of substrate