JPH11159464A - Liquid material flow control pump - Google Patents
Liquid material flow control pumpInfo
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- 239000011344 liquid material Substances 0.000 title claims abstract description 44
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 239000010720 hydraulic oil Substances 0.000 claims description 5
- 238000012856 packing Methods 0.000 claims description 4
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N hexafluoroacetylacetone Chemical compound FC(F)(F)C(=O)CC(=O)C(F)(F)F QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 2
- BZJTUOGZUKFLQT-UHFFFAOYSA-N 1,3,5,7-tetramethylcyclooctane Chemical group CC1CC(C)CC(C)CC(C)C1 BZJTUOGZUKFLQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GVNVAWHJIKLAGL-UHFFFAOYSA-N 2-(cyclohexen-1-yl)cyclohexan-1-one Chemical compound O=C1CCCCC1C1=CCCCC1 GVNVAWHJIKLAGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101150065749 Churc1 gene Proteins 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005749 Copper compound Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102100038239 Protein Churchill Human genes 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OCXZUOIMVATIKY-UHFFFAOYSA-N [Cu].C[Si](C)(C)C=C Chemical compound [Cu].C[Si](C)(C)C=C OCXZUOIMVATIKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical class [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001553 barium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- BSDOQSMQCZQLDV-UHFFFAOYSA-N butan-1-olate;zirconium(4+) Chemical compound [Zr+4].CCCC[O-].CCCC[O-].CCCC[O-].CCCC[O-] BSDOQSMQCZQLDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 150000001880 copper compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 210000004907 gland Anatomy 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- VRMGPHYEHNLCQW-UHFFFAOYSA-N propan-2-ylcyclopentane;tungsten Chemical compound [W].CC(C)[C]1[CH][CH][CH][CH]1.CC(C)[C]1[CH][CH][CH][CH]1 VRMGPHYEHNLCQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 150000003482 tantalum compounds Chemical class 0.000 description 1
- HSXKFDGTKKAEHL-UHFFFAOYSA-N tantalum(v) ethoxide Chemical compound [Ta+5].CC[O-].CC[O-].CC[O-].CC[O-].CC[O-] HSXKFDGTKKAEHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003609 titanium compounds Chemical class 0.000 description 1
- MCULRUJILOGHCJ-UHFFFAOYSA-N triisobutylaluminium Chemical compound CC(C)C[Al](CC(C)C)CC(C)C MCULRUJILOGHCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HYWCXWRMUZYRPH-UHFFFAOYSA-N trimethyl(prop-2-enyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)CC=C HYWCXWRMUZYRPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003658 tungsten compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003755 zirconium compounds Chemical class 0.000 description 1
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- Reciprocating Pumps (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造用の液
体材料を供給するための液体材料流量制御ポンプに関す
る。さらに詳しくは、化学気相成長装置(CVD)や物
理気相成長装置(PVD)のガス供給用気化器に液体材
料を供給するための液体材料流量制御ポンプに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid material flow control pump for supplying a liquid material for semiconductor production. More specifically, the present invention relates to a liquid material flow control pump for supplying a liquid material to a gas supply vaporizer of a chemical vapor deposition apparatus (CVD) or a physical vapor deposition apparatus (PVD).
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体デバイスの製造の際には半導体
膜、絶縁膜、金属膜などの製膜が必要である。製膜の主
要な方法として真空蒸着やスパッターリングを用いる物
理気相成長法(PVD)、あるいは光や熱エネルギーに
よる化学気相成長法( CVD)がある。これらのうち制
御の容易性等から一般的にはCVD法(Chemical Vapo
rDeposition) が多用されている。この方法は処理対象
の試料をガス供給装置から供給された有機金属などのC
VDガス雰囲気中に置き、試料に熱あるいは光等のエネ
ルギーを与えることでCVDガスを分解し、試料表面に
半導体膜、絶縁膜、金属膜などを形成する方法である。2. Description of the Related Art When a semiconductor device is manufactured, it is necessary to form a film such as a semiconductor film, an insulating film, and a metal film. As a main method of film formation, there are physical vapor deposition (PVD) using vacuum evaporation and sputtering, or chemical vapor deposition (CVD) using light or thermal energy. Of these, the CVD method (Chemical Vapo
rDeposition) is frequently used. In this method, a sample to be processed is treated with C such as an organic metal supplied from a gas supply device.
In this method, a CVD gas is decomposed by applying heat or light energy to a sample and placed in a VD gas atmosphere to form a semiconductor film, an insulating film, a metal film, and the like on the sample surface.
【0003】近年前記の膜形成に用いられるCVD原料
は半導体デバイスの高集積化、高速化、多様化に伴い、
より高度な膜形成が要求されているために、これまでの
有機珪素化合物、有機アルミニウム化合物などに加え
て、有機タンタル化合物、有機バリウム化合物、有機チ
タニウム化合物、有機タングステン化合物、有機銅化合
物、有機ストロンチウム化合物、あるいは有機ジルコニ
ウム化合物などを用いることが検討されている。[0003] In recent years, the CVD raw materials used for the above-mentioned film formation have been increasing with the increasing integration, speeding up and diversification of semiconductor devices.
Due to the demand for more advanced film formation, organic tantalum compounds, organic barium compounds, organic titanium compounds, organic tungsten compounds, organic copper compounds, organic strontium, in addition to the conventional organic silicon compounds, organic aluminum compounds, etc. Use of a compound or an organic zirconium compound has been studied.
【0004】半導体製造の際、いずれのCVD原料の場
合においても供給ガスが高純度であるとともに正確な濃
度および供給量で制御する必要がある。またこれらの液
体材料は粘度が高く、熱的に不安定なほか、化学的な活
性度が高く空気中の水分、酸素などに触れた場合には直
ちに変質することなどから、品質の劣化なしに精度良く
気化供給することが必要である。[0004] In the production of semiconductors, it is necessary to control the supply gas with high purity and accurate concentration and supply amount regardless of the type of CVD raw material. In addition, these liquid materials have high viscosity, are thermally unstable, and have a high chemical activity and are immediately degraded when exposed to moisture or oxygen in the air. It is necessary to vaporize and supply with high accuracy.
【0005】従来からCVD装置にCVD液体材料をガ
ス状で供給する方法としては液体材料容器にキャリヤー
ガスをバブリングさせて気化供給する方法、液体材料を
気化器に定量ポンプで供給しキャリヤーガス中で気化さ
せる方法、あるいは液体材料を加圧状態に保持し流量制
御器で気化器に供給しキャリヤーガス中で気化させる方
法などがある。しかしながらこれらの内でも定量ポンプ
で供給する方法は、液体材料の蒸気圧、粘度、熱容量な
どが異なる場合においても定量的に供給し得る点から、
一般的には定量ポンプが好ましく、ピストンポンプ形式
のものが使用されている。Conventionally, as a method of supplying a CVD liquid material to a CVD apparatus in gaseous form, a method of bubbling and supplying a carrier gas to a liquid material container and a method of supplying the liquid material to a vaporizer by a constant-rate pump and supplying the gas to the vaporizer are used. There is a method of vaporizing, or a method of keeping a liquid material in a pressurized state, supplying the liquid material to a vaporizer by a flow controller, and vaporizing the liquid material in a carrier gas. However, even among these, the method of supplying with a metering pump is capable of quantitatively supplying even when the vapor pressure, viscosity, heat capacity, etc. of the liquid material are different,
Generally, a metering pump is preferable, and a piston pump type is used.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかし従来のピストン
ポンプではピストンの摺動部分がグランドパッキン部を
経て空気中に出入りするに伴い、ピストンの表面にわず
かに付着した液体材料が空気に触れるために変質し、ピ
ストン摺動部分およびパッキンを汚染し作動に支障をき
たす不都合があった。またピストンの摺動に伴って巻き
込まれる水分、炭酸ガスなどの外気成分が液体材料の品
質を低下させ、さらにはポンプの吐出弁を汚染する結
果、定量的に供給することができなくなるという不都合
があった。このほか、CVD装置が減圧下で操作される
場合は、ポンプの吐出側が減圧となるために液体材料の
出流れを生じるという不都合があった。以上のことから
CVD装置の操作条件が常圧あるいは減圧であっても、
液体材料の品質を劣化させることがなく、高精度で定量
的に供給することができるとともに、液体材料の漏洩あ
るいはガスの漏れ込みのないポンプの開発が望まれてい
た。However, in the conventional piston pump, as the sliding portion of the piston moves into and out of the air through the gland packing portion, the liquid material slightly attached to the piston surface comes into contact with the air. There has been a problem that the material deteriorates and contaminates the piston sliding portion and the packing, which hinders operation. In addition, the external air components such as water and carbon dioxide gas entrained by the sliding of the piston degrade the quality of the liquid material, and further contaminate the discharge valve of the pump. there were. In addition, when the CVD apparatus is operated under reduced pressure, there is a disadvantage that the discharge side of the pump is reduced in pressure, so that the liquid material flows out. From the above, even if the operating condition of the CVD apparatus is normal pressure or reduced pressure,
It has been desired to develop a pump that can supply the liquid material with high precision and quantitatively without deteriorating the quality of the liquid material and that does not leak the liquid material or leak the gas.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記の問題
点を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、液封されたベロ
ーズとピストンを組み合わせてポンプを構成することに
より解決し得ることを見出し本願発明に到達した。すな
わち本発明はケーシング内がベローズで2つの室に仕切
られ、該ベローズ内側室に外気とパッキンでシールされ
たピストンと作動油を備え、該ケーシングに吸入弁を内
蔵する吸入側配管継手と1.0〜100kg/cm2 の
圧力差で作動する吐出弁を内蔵する吐出側配管継手とが
それぞれ溶接され、該ベローズの外側室は該吸入側配管
継手および該吐出側配管継手に接続されており、該ピス
トンの摺動で拡大縮小する該ベローズを介して液体材料
を吸入、吐出することを特徴とする液体材料流量制御ポ
ンプである。Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies to solve the above problems, and as a result, have found that the present invention can solve the problem by constructing a pump by combining a liquid-sealed bellows and a piston. The present invention has been reached. That is, according to the present invention, a bellows is used to partition the inside of a casing into two chambers. A discharge-side pipe joint incorporating a discharge valve operating at a pressure difference of 0 to 100 kg / cm 2 is welded, and an outer chamber of the bellows is connected to the suction-side pipe joint and the discharge-side pipe joint; A liquid material flow control pump characterized in that a liquid material is sucked and discharged through the bellows which expands and contracts by sliding the piston.
【0008】本発明はケーシング内がベローズで仕切ら
れ、ベローズ内を満たす作動油と、ベローズ内に設けら
れたピストンの摺動でベローズの容積が可変することに
よって、液体材料を吸入吐出し得るように構成したポン
プである。このように構成することによって液体材料を
外気と完全に遮断された状態で、高い精度で定量的に供
給することを可能にしたものであり、液体材料を品質の
低下なしに、長期間にわたり連続供給可能にしたもので
ある。本発明は半導体製造に用いる液体材料の供給用の
ポンプに適用される。According to the present invention, the volume of the bellows is varied by sliding the hydraulic oil filling the bellows and the piston provided in the bellows, and the liquid material can be sucked and discharged. The pump is configured as described above. With this configuration, it is possible to supply the liquid material quantitatively with high accuracy in a state in which the liquid material is completely shut off from the outside air. It is made available. The present invention is applied to a pump for supplying a liquid material used in semiconductor manufacturing.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】本発明におけるベローズは、小さ
な圧力変化に応じてその容積が容易に変化し得るととも
に形状の復元性が良いものであれば、形状に特に限定は
ないが、通常は円筒多襞状のベローズが用いられる。円
筒状ベローズにおけるベローズの径に対する襞の高さに
特に制限はないが、襞が小さすぎる場合は容積の変化を
起しにくく、大きすぎる場合にはベローズ内の空間が細
くなりピストンとの組み合わせに制約を生じることから
通常は(襞の高さ/ベローズ径)で0.1〜0.35、
好ましくは0.15〜2.5程度である。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The bellows of the present invention is not particularly limited in shape as long as its volume can be easily changed in response to a small change in pressure and the shape can be easily restored. A multi-fold bellows is used. There is no particular limitation on the height of the folds relative to the diameter of the bellows in the cylindrical bellows, but if the folds are too small, it is unlikely that the volume will change.If the folds are too large, the space inside the bellows will be thin and the combination with the piston will be difficult. Due to restrictions, the height is usually 0.1 to 0.35 (fold height / bellows diameter),
Preferably it is about 0.15 to 2.5.
【0010】また円筒状ベローズにおける径と長さの比
(長さ/径)は通常は0.15〜10、好ましくは0.
3〜5程度である。ベローズの金属板の厚さは材質およ
びベローズの大きさによって異なり一概には特定できな
いが通常は0.03〜0.5mm、好ましくは0.08
〜0.3mm程度である。またベローズの材質は腐蝕を
生じることがなく、繰り返し変形による材質の劣化を生
じないものであれば特に限定されないが通常はSUS3
16、SUS316L、タンタルまたはインコネルなど
が用いられる。The ratio between the diameter and the length (length / diameter) of the cylindrical bellows is usually 0.15 to 10, preferably 0.1 to 10.
It is about 3 to 5. The thickness of the metal plate of the bellows varies depending on the material and the size of the bellows and cannot be specified unconditionally, but is usually 0.03 to 0.5 mm, preferably 0.08.
It is about 0.3 mm. The material of the bellows is not particularly limited as long as it does not cause corrosion and does not cause deterioration of the material due to repeated deformation.
16, SUS316L, tantalum or inconel is used.
【0011】ベローズを作動させるためのピストンの
径、および摺動長は目的とする液体材料の供給流量、お
よびピストンの摺動長を変えて流量可変とする場合には
その可変範囲などに応じて設計され、とくに限定されな
いが、ピストンの径に対するピストンの最大摺動長の比
(最大摺動長/径)は通常0.2〜10、好ましくは
0.5〜5程度である。The diameter and the sliding length of the piston for operating the bellows depend on the supply flow rate of the target liquid material and the variable range when the sliding length of the piston is changed to make the flow rate variable. Although designed and not particularly limited, the ratio of the maximum sliding length of the piston to the diameter of the piston (maximum sliding length / diameter) is usually about 0.2 to 10, preferably about 0.5 to 5.
【0012】また、ベローズ内に封入される作動油は使
用温度範囲で液状を保持すると共に腐食性がなく特に大
きな粘度を有するものでなければ良く、一般的には炭化
水素系油、シリコン系油などが用いられる。The hydraulic oil sealed in the bellows is not required to be a liquid that maintains a liquid state in the operating temperature range and is not corrosive and has a particularly large viscosity. Are used.
【0013】ピストンの摺動に応じて変形するベローズ
の最大変形率は、小さすぎる場合には容積効率が悪く、
大きすぎる場合には繰り返し変形によりベローズ材質の
劣化を生じることから通常は無荷重でのベローズ長の2
〜65%、好ましくは5〜30%程度である。If the maximum deformation rate of the bellows which is deformed in accordance with the sliding of the piston is too small, the volume efficiency is poor.
If it is too large, the bellows material will deteriorate due to repeated deformation.
~ 65%, preferably about 5-30%.
【0014】配管継手内に内臓される吸入弁および吐出
弁は液体材料を高精度に封止し得るものであれば良くそ
の形式には特に限定はないが、通常はボールあるいは円
錐プラグ状物とシートとの組み合わせ、あるいはさらに
スプリングコイルなどの弾性体を組み合わせたもので構
成される。また吐出弁はCVD装置の操作条件が減圧の
場合においても吸引により出流れを生じることがないよ
うに、作動する圧力差が1〜100kg/cm2 、好ま
しくは2〜30kg/cm2 程度のものが用いられる。The suction valve and the discharge valve incorporated in the pipe joint are not particularly limited as long as they can seal the liquid material with high precision. It is composed of a combination with a seat or a combination of an elastic body such as a spring coil. Further, the discharge valve has an operating pressure difference of 1 to 100 kg / cm 2 , preferably about 2 to 30 kg / cm 2, so that no outflow occurs due to suction even when the operation condition of the CVD apparatus is reduced. Is used.
【0015】またポンプに配管を接続するための配管継
手は、ケーシングに直接溶接して用いられる。またその
配管継手の気密性としてはヘリウムリークレートで1×
10-9Torr・L/sec以下のものが用いられる。
これらの例としてはVCR継手(米、ケイジョン社
製)、MCG継手(東横化学(株)製)などがある。上
記吸入弁、吐出弁はケーシングに溶接された溶接配管継
手内に設けられる。このように構成することによって吸
入弁、吐出弁部分からの外部への漏れあるいはその部分
からの汚染を防止することができる。A pipe joint for connecting a pipe to a pump is used by directly welding to a casing. The airtightness of the pipe joint is 1 × at the helium leak rate.
Those having 10 -9 Torr · L / sec or less are used.
Examples of these include a VCR joint (manufactured by Cajon Corporation, USA) and an MCG joint (manufactured by Toyoko Chemical Co., Ltd.). The suction valve and the discharge valve are provided in a welded pipe joint welded to the casing. With this configuration, it is possible to prevent leakage from the suction valve and discharge valve portions to the outside or contamination from the portions.
【0016】ポンプのケーシング、弁、継手類など、液
体材料の接液部材質としてはSUS316、SUS31
6L、タンタル、インコネルなどが用いられる。これら
の内でも電解研磨されたものが特に好ましい。また液体
供給における脈流を防ぐためにこのように構成したポン
プユニットを2連あるいは多連で並列に接続して用いる
ことが好ましい。ポンプユニット当たりのピストンの摺
動回数は、小さすぎる場合は脈流が大となること、大き
すぎる場合には定量性が悪くなることから、通常は1〜
30回/秒、好ましくは2〜15回/秒程度である。SUS316, SUS31, etc. are used as materials for contacting liquid materials such as pump casings, valves, fittings, etc.
6L, tantalum, inconel or the like is used. Of these, those polished electrolytically are particularly preferred. Further, in order to prevent a pulsating flow in the liquid supply, it is preferable to connect and use two or more pump units configured in this way in parallel. The number of slidings of the piston per pump unit is usually 1 to 1 because the pulse flow becomes large when too small and the quantification becomes bad when too large.
It is 30 times / second, preferably about 2 to 15 times / second.
【0017】本発明の液体材料流量制御ポンプで供給さ
れるCVD液体材料としては、常温で液体であっても、
また固体を溶媒に溶解したものであっても、液状を保持
し得る状態であれば特に限定はなく、用途に応じて適宜
選択、使用される。液体材料の例としては、トリメチル
アルミニウム(Al(CH3)3)、ジメチルアルミニウムハイ
ドライド(Al(CH3)2H )、トリイソブチルアルミニウム
(Al(i-C4H9)3 )、テトラエトキシシラン(Si(OC
2H5)4) 、ヘキサカルボニルモリブデン(Mo(CO)6)、ジ
メチルペンタンジオネート金(Au(CH3)2(OC5H7)5)、ペン
タエトキシタンタル(Ta(OC2H5)5) 、テトラプロピオキ
シチタン(Ti(OC3H7)4) 、テトラブトキシジルコニウム
(Zr(OC4H9)4)、ヘキサフルオロアセチルアセトン銅ビニ
ルトリメチルシラン((CF3CO)2CHCu ・ CH2CHSi(CH3)3)
、ヘキサフルオロアセチルアセトン銅アリルトリメチ
ルシラン((CF3CO)2CHCu ・ CH2CHCH2Si(CH3)3)、ビス
(イソプロピルシクロペンタジエニル)タングステンジ
ハイドライド( (i-C3H7C5H5)2WH2) 、テトラキスジメチ
ルアミノジルコニウム(Zr(N(CH3)2)4) などが用いられ
る。The CVD liquid material supplied by the liquid material flow control pump of the present invention may be liquid at room temperature,
Even if the solid is dissolved in a solvent, it is not particularly limited as long as it can maintain a liquid state, and is appropriately selected and used according to the application. Examples of liquid material, trimethyl aluminum (Al (CH 3) 3) , dimethylaluminum hydride (Al (CH 3) 2 H ), triisobutylaluminum (Al (iC 4 H 9) 3), tetraethoxysilane (Si (OC
2 H 5) 4), hexacarbonyl molybdenum (Mo (CO) 6), dimethyl pentanedionate gold (Au (CH 3) 2 ( OC 5 H 7) 5), pentaethoxytantalum (Ta (OC 2 H 5) 5), tetra-propylene oxytitanium (Ti (OC 3 H 7) 4), tetrabutoxyzirconium
(Zr (OC 4 H 9 ) 4 ), hexafluoroacetylacetone copper vinyltrimethylsilane ((CF 3 CO) 2 CHCu ・ CH 2 CHSi (CH 3 ) 3 )
, Hexafluoroacetylacetone copper allyltrimethylsilane ((CF 3 CO) 2 CHCu · CH 2 CHCH 2 Si (CH 3 ) 3 ), bis (isopropylcyclopentadienyl) tungsten dihydride ((iC 3 H 7 C 5 H 5 ) 2 WH 2 ), tetrakisdimethylaminozirconium (Zr (N (CH 3 ) 2 ) 4 ), and the like.
【0018】さらにビス(2,2,6,6,- テトラメチル-3,5
ヘプタンジオナイト)バリウム(Ba(C11H19O2)2)、ビス
(2,2,6,6,- テトラメチル-3,5ヘプタンジオナイト)ス
トロンチウム(Sr(C11H19O2)2)、テトラ(2,2,6,6,- テ
トラメチル-3,5ヘプタンジオナイト)チタニウム(Ti(C
11H19O2)4)、テトラ(2,2,6,6,- テトラメチル-3,5ヘプ
タンジオナイト)ジルコニウム(Zr(C11H19O2)4)、ビス
(2,2,6,6,- テトラメチル-3,5ヘプタンジオナイト)鉛
(Pb(11H19O2)2) なども用いられる。Further, bis (2,2,6,6, -tetramethyl-3,5
Heptandionite) barium (Ba (C 11 H 19 O 2 ) 2 ), bis (2,2,6,6, -tetramethyl-3,5 heptandionite) strontium (Sr (C 11 H 19 O 2 ) 2 ), tetra (2,2,6,6, -tetramethyl-3,5heptaneionite) titanium (Ti (C
11 H 19 O 2) 4) , tetra (2,2,6,6, - tetramethyl-3,5 heptanedionite) zirconium (Zr (C 11 H 19 O 2) 4), bis (2,2, 6,6, - tetramethyl-3,5 heptanedionite) lead (Pb (11 H 19 O 2 ) 2) , etc. are also used.
【0019】上記に記載の化合物のほかこれらの化合物
のヘキサン、ヘプタン、酢酸ブチル、イソプロピルアル
コール、テトラヒドロフランなどの溶液も用いることが
できる。In addition to the compounds described above, solutions of these compounds in hexane, heptane, butyl acetate, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran and the like can also be used.
【0020】次に本発明を図1に示すポンプのケーシン
グ部分断面図により具体的に説明するが、本発明はこれ
らにより限定されるものではない。図1では、ケーシン
グ1内が多数の襞を有するベローズ2で2つの室に仕切
られている。ベローズの中側室にはピストン3が摺動し
得るように挿入されており、その空間には作動油4が封
入されている。またケーシングの上下部分にはそれぞれ
吸入側配管継手6、吐出側配管継手7が溶接されており
その中に吸入弁8および吐出弁9が内蔵されている。吐
出弁9はスプリングなどによって1〜100kg/cm
2 程度の圧力差で作動するように設定されている。Next, the present invention will be described in detail with reference to a partial sectional view of the casing of the pump shown in FIG. 1, but the present invention is not limited thereto. In FIG. 1, the inside of a casing 1 is divided into two chambers by a bellows 2 having many folds. A piston 3 is slidably inserted into the middle chamber of the bellows, and a working oil 4 is sealed in the space. A suction pipe joint 6 and a discharge pipe joint 7 are welded to upper and lower portions of the casing, respectively, and a suction valve 8 and a discharge valve 9 are incorporated therein. The discharge valve 9 is 1-100 kg / cm by a spring or the like.
It is set to operate with a pressure difference of about 2 .
【0021】ベローズはピストンの摺動に応じてその形
状が縮小拡大し、その容積変化にしたがって液体材料5
が吸入、吐出されることにより定量的に供給することが
できる。なお図1ではベローズ中でピストンが摺動する
例を示したが、本発明にはピストンをベローズから離れ
た位置に設け、作動油の出入りによって実質的に同様の
効果を得る方法も含まれる。The bellows shrinks and expands in shape according to the sliding of the piston, and the liquid material 5 according to its volume change.
Can be supplied quantitatively by inhaling and discharging. Although FIG. 1 shows an example in which the piston slides in the bellows, the present invention includes a method in which the piston is provided at a position distant from the bellows and substantially the same effect is obtained by entering and exiting hydraulic oil.
【0022】このように構成されたポンプユニットを複
数、並列に接続することによって、液体材料を脈流が少
なく、高い精度で、かつ品質を劣化させることなく供給
することができる。また、ポンプの制御をコンピュター
制御で行うことによって、CVD装置の操作に応じて自
動的に作動させることもできる。By connecting a plurality of pump units configured in this way in parallel, the liquid material can be supplied with a small pulsating flow, with high accuracy, and without deterioration in quality. In addition, by controlling the pump by computer control, the pump can be automatically operated in accordance with the operation of the CVD apparatus.
【0023】[0023]
【発明の効果】本発明により半導体製造用CVD液体材
料をCVD装置の操作条件が常圧あるいは減圧に係わら
ず高精度で、しかも品質劣化を生じることなく供給する
ことができるようになった。According to the present invention, a CVD liquid material for semiconductor production can be supplied with high accuracy and without deterioration in quality, regardless of whether the operating conditions of the CVD apparatus are normal pressure or reduced pressure.
【図1】本発明の液体材料流量制御ポンプのケーシング
部断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a casing of a liquid material flow control pump according to the present invention.
1 ケーシング 2 ベローズ 3 ピストン 4 作動油 5 液体材料 6 吸入側配管継手 7 吐出側配管継手 8 吸入弁 9 吐出弁 10 作動油液封口 11 メタルガスケット 12 パッキン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Casing 2 Bellows 3 Piston 4 Hydraulic oil 5 Liquid material 6 Suction side pipe joint 7 Discharge side pipe joint 8 Suction valve 9 Discharge valve 10 Hydraulic fluid sealing 11 Metal gasket 12 Packing
Claims (3)
切られ、該ベローズ内側室に外気とパッキンでシールさ
れたピストンと作動油を備え、該ケーシングに吸入弁を
内蔵する吸入側配管継手と1.0〜100kg/cm2
の圧力差で作動する吐出弁を内蔵する吐出側配管継手と
がそれぞれ溶接され、該ベローズの外側室は該吸入側配
管継手および該吐出側配管継手に接続されており、該ピ
ストンの摺動で拡大縮小する該ベローズを介して液体材
料を吸入、吐出することを特徴とする液体材料流量制御
ポンプ。The interior of a casing is partitioned by a bellows into two chambers, and a bellows inner chamber is provided with a piston and hydraulic oil sealed with outside air and packing, and the casing has a suction-side pipe joint and a suction valve built-in. 0.0 to 100 kg / cm 2
The discharge side piping joint which incorporates the discharge valve which operates by the pressure difference is welded, and the outer chamber of the bellows is connected to the suction side piping joint and the discharge side piping joint. A liquid material flow control pump, wherein a liquid material is sucked and discharged through the bellows which expands and contracts.
トで1×10-9Torr・L/sec以下である請求項
1に記載の液体材料流量制御ポンプ。2. The liquid material flow control pump according to claim 1, wherein the airtightness of the pipe joint is 1 × 10 −9 Torr · L / sec or less in helium leak rate.
6、SUS316L、タンタル、またはインコネルであ
る請求項1に記載の液体材料流量制御ポンプ。3. The material of the portion in contact with the liquid is SUS31.
6. The liquid material flow control pump according to claim 1, wherein the pump is SUS316L, tantalum, or Inconel.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34418197A JPH11159464A (en) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | Liquid material flow control pump |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34418197A JPH11159464A (en) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | Liquid material flow control pump |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11159464A true JPH11159464A (en) | 1999-06-15 |
Family
ID=18367261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34418197A Pending JPH11159464A (en) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | Liquid material flow control pump |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11159464A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006200464A (en) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Saginomiya Seisakusho Inc | Bellows pump |
JP2006266250A (en) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Saginomiya Seisakusho Inc | Metering pump |
-
1997
- 1997-11-28 JP JP34418197A patent/JPH11159464A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006200464A (en) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Saginomiya Seisakusho Inc | Bellows pump |
JP2006266250A (en) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Saginomiya Seisakusho Inc | Metering pump |
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