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JPH11150057A - Board processor - Google Patents

Board processor

Info

Publication number
JPH11150057A
JPH11150057A JP31798197A JP31798197A JPH11150057A JP H11150057 A JPH11150057 A JP H11150057A JP 31798197 A JP31798197 A JP 31798197A JP 31798197 A JP31798197 A JP 31798197A JP H11150057 A JPH11150057 A JP H11150057A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
unit
processing apparatus
cabinet
substrate processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31798197A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3678563B2 (en
Inventor
Kouichi Kougaki
孝一 迎垣
Kazuo Morioka
一夫 森岡
Hiroki Mizuno
博喜 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP31798197A priority Critical patent/JP3678563B2/en
Publication of JPH11150057A publication Critical patent/JPH11150057A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3678563B2 publication Critical patent/JP3678563B2/en
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a board processor capable of reduction of the area of an occupied floor, the improvement of reliability, and the cost reduction. SOLUTION: A device body 1 is placed on floor material 200. An underfloor cabinet 100 is attached right below the floor material 200 under the device body 1. The underfloor cabinet 100 is constituted of member having permeability. A part of the constituent unit of a fluid facility, an exhaust facility, an intake facility, an electric facility, etc., is accommodated in the underfloor cabinet 100. The floor material 200 on the underfloor cabinet 100 is provided with a hole 201, and a conduit 101 to connect the underfloor cabinet 100 with the device body 1 is provided within the hole 201. A pipe and wiring to connect the constituent unit accommodated in the underfloor cabinet 100 with the device body 1 are inserted in the conduit 101.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板に所定の処理
を行う基板処理装置に関する。
The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板等の基板に種々の処理を行うために、基板処理装置が
用いられている。たとえば、半導体デバイスの製造プロ
セスでは、生産効率を高めるために一連の処理の各々を
ユニット化し、複数の処理ユニットを統合した基板処理
装置が用いられている。
2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus is used to perform various processes on substrates such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display, a glass substrate for a photomask, and a glass substrate for an optical disk. For example, in a semiconductor device manufacturing process, a substrate processing apparatus in which each of a series of processes is unitized and a plurality of processing units are integrated is used in order to increase production efficiency.

【0003】図6は従来の基板処理装置の一例を示す横
断面図、図7は図6の基板処理装置の側面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example of a conventional substrate processing apparatus, and FIG. 7 is a side view of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【0004】図6において、基板処理装置の装置本体1
aの正面側の処理領域Aには、基板にフォトレジスト等
の処理液の塗布処理を行う回転式塗布ユニット(スピン
コータ)10および基板に現像処理を行う回転式現像ユ
ニット(スピンデベロッパ)20が並設されている。ま
た、装置本体1aの背面側の処理領域Bには、基板に加
熱処理を行う加熱ユニット(ホットプレート)、基板に
冷却処理を行う冷却ユニット(クーリングプレート)、
基板に密着強化処理を行う密着強化ユニット等の複数の
熱処理ユニット30がそれぞれ複数段に配置されてい
る。
In FIG. 6, an apparatus main body 1 of a substrate processing apparatus is shown.
In the processing area A on the front side of a, a rotary coating unit (spin coater) 10 for applying a processing liquid such as a photoresist to the substrate and a rotary developing unit (spin developer) 20 for performing a developing processing on the substrate are arranged in parallel. Has been established. In the processing area B on the back side of the apparatus main body 1a, a heating unit (hot plate) for performing a heating process on the substrate, a cooling unit (cooling plate) for performing a cooling process on the substrate,
A plurality of heat treatment units 30 such as an adhesion strengthening unit for performing an adhesion strengthening process on a substrate are respectively arranged in a plurality of stages.

【0005】処理領域A,B間の搬送領域Cには、基板
を矢印Yの方向に搬送するとともに回転式塗布ユニット
10、回転式現像ユニット20および熱処理ユニット3
0に対して基板の搬入および搬出を行う搬送ユニット4
0が設けられている。
In the transport area C between the processing areas A and B, the substrate is transported in the direction of arrow Y, and the rotary coating unit 10, the rotary developing unit 20,
Transport unit 4 for loading and unloading substrates with respect to
0 is provided.

【0006】装置本体1aの一端部側には、基板を収納
するとともに基板の搬入および搬出を行う搬入出装置
(インデクサ)50が配置されている。搬入出装置50
は、基板Wを収納する複数のカセット60が載置される
カセット載置台51、および基板の搬入および搬出を行
う搬送ユニット52を備える。搬送ユニット52は、矢
印Xの方向に移動し、カセット載置台51上のカセット
60から基板Wを取り出して搬送領域Cの搬送ユニット
40に渡し、一連の処理を施された基板を搬送領域Cの
搬送ユニット40から受け取ってカセット載置台51上
のカセット60に戻す。搬入出装置50の上部には、フ
ィルタおよびファンからなる空気調整ユニット90が配
置されている。
A loading / unloading device (indexer) 50 for accommodating a substrate and loading and unloading the substrate is disposed at one end of the apparatus main body 1a. Loading / unloading device 50
Includes a cassette mounting table 51 on which a plurality of cassettes 60 for storing substrates W are mounted, and a transport unit 52 for loading and unloading substrates. The transport unit 52 moves in the direction of arrow X, takes out the substrate W from the cassette 60 on the cassette mounting table 51, passes the substrate W to the transport unit 40 in the transport area C, and transfers the substrate subjected to the series of processing to the transport area C. It is received from the transport unit 40 and returned to the cassette 60 on the cassette mounting table 51. An air adjusting unit 90 including a filter and a fan is disposed above the carry-in / out device 50.

【0007】回転式塗布ユニット10、回転式現像ユニ
ット20および熱処理ユニット30の下部には、図7に
示すように、内蔵ユニット70が設けられている。内蔵
ユニット70は、ポンプ、タンク、瓶類、弁等の流体設
備を内蔵し、回転式塗布ユニット10および回転式現像
ユニット20に処理液等の流体を供給するとともに回転
式塗布ユニット10および回転式現像ユニット20から
の廃液を外部に排出し、また液面センサ等の電装設備を
内蔵し、ポンプ、タンク、電磁弁等の動作を制御する。
A built-in unit 70 is provided below the rotary coating unit 10, the rotary developing unit 20, and the heat treatment unit 30, as shown in FIG. The built-in unit 70 has built-in fluid equipment such as a pump, a tank, bottles, and valves, supplies a fluid such as a processing liquid to the rotary coating unit 10 and the rotary developing unit 20, and includes the rotary coating unit 10 and the rotary type. The waste liquid from the developing unit 20 is discharged to the outside, and electric equipment such as a liquid level sensor is built in to control operations of a pump, a tank, an electromagnetic valve, and the like.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、流体設
備、電装設備等の構成ユニット(構成要素)は、装置本
体1aの下部に設けられた内蔵ユニット70に収納され
ている。これにより、基板処理装置の占有床面積(フッ
トプリント)の増加が抑制されている。
As described above, the constituent units (components) such as the fluid equipment and the electrical equipment are housed in the built-in unit 70 provided at the lower part of the apparatus main body 1a. Thereby, an increase in the occupied floor area (footprint) of the substrate processing apparatus is suppressed.

【0009】しかしながら、流体設備、電装設備等の構
成ユニットが増加すると、すべての構成ユニットを内蔵
ユニット70内に収納することが困難となる。このよう
な場合、図6および図7に示すように、装置本体1aと
は別に別置キャビネット2を追加し、流体設備、電装設
備等の構成ユニットの一部を別置キャビネット2内に収
納する。これにより、クリーンルーム内での基板処理装
置の占有床面積が大きくなるという問題が生じる。
However, as the number of constituent units such as fluid equipment and electrical equipment increases, it becomes difficult to house all the constituent units in the built-in unit 70. In such a case, as shown in FIGS. 6 and 7, a separate cabinet 2 is added separately from the apparatus main body 1a, and a part of the constituent units such as the fluid equipment and the electrical equipment are stored in the separate cabinet 2. . This causes a problem that the floor area occupied by the substrate processing apparatus in the clean room increases.

【0010】また、別置キャビネット2内に収納される
流体設備、電装設備等の構成ユニットを装置本体1aに
接続するために配管3および配線4を設ける必要があ
る。この場合、別置キャビネット2と装置本体1aとの
間の渡り配管や配線の追加により、信頼性が低下すると
ともにコストが上昇する。
Further, it is necessary to provide a pipe 3 and a wiring 4 for connecting constituent units such as fluid equipment and electrical equipment housed in the separate cabinet 2 to the apparatus main body 1a. In this case, the reliability is reduced and the cost is increased due to the addition of the crossover piping and wiring between the separate cabinet 2 and the apparatus main body 1a.

【0011】本発明の目的は、占有床面積の低減化、信
頼性の向上および低コスト化が可能な基板処理装置を提
供することである。
An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of reducing an occupied floor area, improving reliability and reducing costs.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板処理装置は、基板に処理を行う処理部を
備えかつ下部に空間を有する床材上に設置される装置本
体を有する基板処理装置であって、処理部の処理に関連
する構成要素の一部が装置本体下部の床材直下の空間に
配設されたものである。
Means for Solving the Problems and Effects of the Invention A substrate processing apparatus according to a first aspect of the present invention has a processing unit for processing a substrate and has an apparatus main body installed on a floor material having a space below. In a substrate processing apparatus, a part of components related to processing of a processing unit is disposed in a space directly below a floor material at a lower part of the apparatus main body.

【0013】本発明に係る基板処理装置においては、処
理部の処理に関連する構成要素の一部が装置本体下部の
床材直下の空間に配設されるので、装置本体の占有床面
積を低減することが可能となる。また、構成要素が増加
した場合でも、装置本体の占有床面積の増加を抑制する
ことができる。
In the substrate processing apparatus according to the present invention, some of the components related to the processing of the processing section are arranged in the space directly below the floor material at the bottom of the apparatus main body, so that the occupied floor area of the apparatus main body is reduced. It is possible to do. Further, even when the number of components increases, it is possible to suppress an increase in the floor area occupied by the apparatus main body.

【0014】特に、構成要素の一部が装置本体下部の床
材直下に配設されているので、構成要素と装置本体との
接続距離が短くなる。それにより、信頼性が向上すると
ともに低コスト化が図られる。また、床材に開口部等の
ポートを設けることにより、あるいは床材の一部を取り
外すことにより、床材上から床材直下の構成要素の保守
作業を容易に行うことができる。
In particular, since some of the components are disposed directly below the floor material under the apparatus main body, the connection distance between the components and the apparatus main body is shortened. Thereby, the reliability is improved and the cost is reduced. Further, by providing a port such as an opening in the flooring material or by removing a part of the flooring material, the maintenance work of the components directly above the flooring material from the flooring material can be easily performed.

【0015】第2の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、構成要素の一
部が、装置本体下部の床材直下に取り付けられた収納容
器内に収納されたものである。
A substrate processing apparatus according to a second aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, wherein a part of the components is housed in a storage container attached directly below a floor material at a lower portion of the apparatus main body. It was done.

【0016】この場合、構成要素の一部が床材直下に取
り付けられた収納容器内に収納されるので、その構成要
素を床材に直接固定することなく床材直下の空間に容易
に配設することが可能となる。
In this case, since some of the components are stored in the storage container attached directly below the floor, the components are easily disposed in the space directly below the floor without directly fixing the components to the floor. It is possible to do.

【0017】第3の発明に係る基板処理装置は、第2の
発明に係る基板処理装置の構成において、収納容器が通
気性を有する部材により構成されたものである。
A substrate processing apparatus according to a third aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the second aspect of the present invention, wherein the storage container is formed of a member having air permeability.

【0018】この場合、収納容器が通気性を有するの
で、収納容器により装置本体下への排気または下降流
(ダウンフロー)が遮られることを防止することができ
る。
In this case, since the storage container has air permeability, it is possible to prevent the storage container from obstructing exhaust or downward flow (downflow) below the apparatus main body.

【0019】第4の発明に係る基板処理装置は、第1、
第2または第3の発明に係る基板処理装置の構成におい
て、構成要素の一部が、電装設備、流体設備、給気設備
または排気設備であるものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus comprising:
In the configuration of the substrate processing apparatus according to the second or third aspect, some of the components are electrical equipment, fluid equipment, air supply equipment, or exhaust equipment.

【0020】この場合、電装設備、流体設備、給気設備
または排気設備による装置本体の占有床面積の増加を抑
制することができる。
In this case, it is possible to suppress an increase in the occupied floor area of the apparatus main body due to the electrical equipment, fluid equipment, air supply equipment, or exhaust equipment.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施例にお
ける基板処理装置の正面図、図2は図1の基板処理装置
の側面図、図3は図1の基板処理装置の横断面図であ
る。
FIG. 1 is a front view of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view of the substrate processing apparatus of FIG. 1, and FIG. 3 is a cross section of the substrate processing apparatus of FIG. FIG.

【0022】図3において、基板処理装置の装置本体1
の正面側の処理領域Aには、基板にフォトレジスト等の
処理液の塗布処理を行う回転式塗布ユニット(スピンコ
ータ)10および基板に現像処理を行う回転式現像ユニ
ット(スピンデベロッパ)20が並設される。また、装
置本体1の背面側の処理領域Bには、基板に加熱処理を
行う加熱ユニット(ホットプレート)、基板に冷却処理
を行う冷却ユニット(クーリングプレート)、基板に密
着強化処理を行う密着強化ユニット等の複数の熱処理ユ
ニット30がそれぞれ複数段に配置されている。
In FIG. 3, an apparatus main body 1 of the substrate processing apparatus is shown.
A rotary coating unit (spin coater) 10 for applying a processing liquid such as a photoresist to a substrate and a rotary developing unit (spin developer) 20 for performing a developing process on the substrate are arranged in parallel in a processing area A on the front side of the substrate. Is done. In the processing area B on the back side of the apparatus main body 1, a heating unit (hot plate) for performing a heating process on the substrate, a cooling unit (cooling plate) for performing a cooling process on the substrate, and an adhesion enhancement for performing an adhesion enhancement process on the substrate are provided. A plurality of heat treatment units 30 such as units are arranged in a plurality of stages.

【0023】処理領域A,B間の搬送領域Cには、基板
を矢印Yの方向に搬送するとともに回転式塗布ユニット
10、回転式現像ユニット20および熱処理ユニット3
0に対して基板の搬入および搬出を行う搬送ユニット4
0が設けられている。
In the transport area C between the processing areas A and B, the substrate is transported in the direction of arrow Y, and the rotary coating unit 10, the rotary developing unit 20,
Transport unit 4 for loading and unloading substrates with respect to
0 is provided.

【0024】装置本体1の一端部側には、基板を収納す
るとともに基板の搬入および搬出を行う搬入出装置(イ
ンデクサ)50が配置されている。搬入出装置50は、
基板を収納する複数のカセット60が載置されるカセッ
ト載置台51、および基板の搬入および搬出を行う搬送
ユニット52を備える。搬送ユニット52は、矢印Xの
方向に移動し、カセット載置台51上のカセット60か
ら基板Wを取り出して搬送領域Cの搬送ユニット40に
渡し、一連の処理を施された基板を搬送領域Cの搬送ユ
ニット40から受け取ってカセット載置台51上のカセ
ット60に戻す。
A loading / unloading device (indexer) 50 for accommodating the substrate and loading and unloading the substrate is disposed at one end of the apparatus main body 1. The loading / unloading device 50
A cassette mounting table 51 on which a plurality of cassettes 60 for storing substrates are mounted, and a transport unit 52 for loading and unloading substrates are provided. The transport unit 52 moves in the direction of arrow X, takes out the substrate W from the cassette 60 on the cassette mounting table 51, passes the substrate W to the transport unit 40 in the transport area C, and transfers the substrate subjected to the series of processing to the transport area C. It is received from the transport unit 40 and returned to the cassette 60 on the cassette mounting table 51.

【0025】図1および図2に示すように、回転式塗布
ユニット10、回転式現像ユニット20および熱処理ユ
ニット30の下部には、内蔵ユニット70が設けられて
いる。内蔵ユニット70は、ポンプ、タンク、瓶類、弁
等の流体設備を内蔵し、回転式塗布ユニット10および
回転式現像ユニット20に処理液等の流体を供給すると
ともに、回転式塗布ユニット10および回転式現像ユニ
ット20からの廃液を外部に排出し、また液面センサ等
の電装設備を内蔵し、ポンプ、タンク、電磁弁等の動作
を制御する。
As shown in FIGS. 1 and 2, a built-in unit 70 is provided below the rotary coating unit 10, the rotary developing unit 20, and the heat treatment unit 30. The built-in unit 70 has built-in fluid equipment such as a pump, a tank, bottles, and a valve, supplies a fluid such as a processing liquid to the rotary coating unit 10 and the rotary developing unit 20, and includes a rotary coating unit 10 and a rotary It discharges the waste liquid from the developing unit 20 to the outside, and has built-in electrical equipment such as a liquid level sensor to control the operation of a pump, a tank, an electromagnetic valve and the like.

【0026】回転式塗布ユニット10、回転式現像ユニ
ット20および熱処理ユニット30の上部には、フィル
タおよびファンからなる空気調整ユニット80が配置さ
れている。また、搬入出装置50の上部にも、フィルタ
およびファンからなる空気調整ユニット90が配置され
ている。
An air adjusting unit 80 including a filter and a fan is disposed above the rotary coating unit 10, the rotary developing unit 20, and the heat treatment unit 30. An air adjustment unit 90 including a filter and a fan is also arranged above the carry-in / out device 50.

【0027】装置本体1は、グレーチング(格子)から
なる床材200上に設置されている。床材200は、コ
ンクリート床210の上方に複数の支持柱220により
支持されている。つまり、床材200が階上、階下を隔
てている。
The apparatus main body 1 is installed on a flooring 200 made of grating (grating). The floor material 200 is supported by a plurality of support columns 220 above a concrete floor 210. That is, the floor material 200 separates the upper floor from the lower floor.

【0028】特に、本実施例では、装置本体1下部の床
材200の直下に床下キャビネット100が吊り下げて
取り付けられている。この床下キャビネット100は、
グレーチング、パンチングメタル等の通気性を有する部
材により構成される。
In particular, in this embodiment, the underfloor cabinet 100 is hung and mounted directly below the floor material 200 at the lower part of the apparatus main body 1. This underfloor cabinet 100
It is composed of a member having air permeability such as grating and punching metal.

【0029】床下キャビネット100内には、流体設
備、給気設備、排気設備、電装設備等の構成ユニットの
一部が収納される。特に、床下キャビネット100に
は、サーボアンプ、電源ユニット、恒温水ユニット、バ
ッファタンク、HMDS(ヘキサメチルジシラザン)バ
ブリングタンク等の比較的保守または交換の頻度が低い
構成ユニットを収納することが好ましい。また、この床
下キャビネット100に、トランス、薬液瓶、薬液タン
ク、空気調整ユニット等の他の構成ユニットを収納して
もよい。
In the underfloor cabinet 100, some of the structural units such as fluid equipment, air supply equipment, exhaust equipment, and electrical equipment are housed. In particular, it is preferable that the underfloor cabinet 100 house components such as a servo amplifier, a power supply unit, a constant temperature water unit, a buffer tank, and a HMDS (hexamethyldisilazane) bubbling tank, which are relatively infrequently maintained or replaced. Further, other constituent units such as a transformer, a chemical solution bottle, a chemical solution tank, and an air adjusting unit may be stored in the underfloor cabinet 100.

【0030】床下キャビネット100上の床材200に
は孔201が設けられ、この孔201に装置本体1と床
下キャビネット100とを接続する導管(ダクト)10
1が設けられている。この導管101内には、床下キャ
ビネット100内の流体設備、給気設備、排気設備、電
装設備等の構成ユニットを装置本体1に接続する配管お
よび配線が挿入されている。
A hole 201 is provided in the floor material 200 on the underfloor cabinet 100, and a conduit (duct) 10 connecting the apparatus body 1 and the underfloor cabinet 100 is formed in the hole 201.
1 is provided. In the conduit 101, piping and wiring for connecting constituent units such as fluid equipment, air supply equipment, exhaust equipment, and electrical equipment in the underfloor cabinet 100 to the apparatus main body 1 are inserted.

【0031】本実施例の基板処理装置においては、構成
ユニットの一部が床材200の直下に取り付けられた床
下キャビネット100内に収納されるので、装置本体1
の占有床面積が低減される。また、構成ユニットが増加
した場合でも、装置本体1の占有床面積の増加が抑制さ
れる。
In the substrate processing apparatus according to the present embodiment, a part of the constituent units is housed in the underfloor cabinet 100 attached immediately below the floor member 200, so that the apparatus body 1
Occupied floor area is reduced. Further, even when the number of constituent units increases, the increase in the floor area occupied by the apparatus main body 1 is suppressed.

【0032】さらに、床下キャビネット100内に収納
された構成ユニットと装置本体1とを接続する配管およ
び配線の距離が短くなるので、信頼性が向上するととも
に低コスト化が図られる。また、床材200に開口部等
のポート(図示せず)を設けることにより、あるいは床
材200の一部を取り外すことにより、階下に降りるこ
となく、床材200の上から床材200直下の床下キャ
ビネット100に収納された構成ユニットの保守作業を
容易に行うことができる。
Further, the distance between the piping and wiring connecting the component units housed in the underfloor cabinet 100 and the apparatus body 1 is shortened, so that the reliability is improved and the cost is reduced. Further, by providing a port (not shown) such as an opening in the flooring material 200 or by removing a part of the flooring material 200, the flooring material 200 can be directly above the flooring material 200 without going downstairs. The maintenance work of the constituent units stored in the underfloor cabinet 100 can be easily performed.

【0033】特に、床下キャビネット100が通気性を
有するので、床下キャビネット100が装置本体1の下
方への排気またはダウンフローを妨げることが防止され
る。
In particular, since the underfloor cabinet 100 has air permeability, it is possible to prevent the underfloor cabinet 100 from obstructing the exhaust or downflow of the apparatus body 1 below.

【0034】本実施例では、回転式塗布ユニット10、
回転式現像ユニット20、熱処理ユニット30、搬送ユ
ニット40および搬入出装置50が処理部に相当し、床
下キャビネット100が収納容器に相当する。
In the present embodiment, the rotary coating unit 10
The rotary developing unit 20, the heat treatment unit 30, the transport unit 40, and the loading / unloading device 50 correspond to a processing unit, and the underfloor cabinet 100 corresponds to a storage container.

【0035】図4は本発明の第2の実施例における基板
処理装置の正面図、図5は図4の基板処理装置の側面図
である。なお、本実施例の基板処理装置の横断面図は図
3に示した横断面図と同様である。
FIG. 4 is a front view of a substrate processing apparatus according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a side view of the substrate processing apparatus of FIG. The cross-sectional view of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as the cross-sectional view shown in FIG.

【0036】図4および図5に示すように、装置本体1
下部の床材200の直下に排気マニホールド110が取
り付けられている。この排気マニホールド110近傍の
床材200には孔202が設けられている。排気マニホ
ールド110の配管111,112は、床材200の孔
202を通して装置本体1に接続されている。排気マニ
ホールド110の配管113は、工場内の排気設備に接
続されている。
As shown in FIG. 4 and FIG.
An exhaust manifold 110 is mounted directly below the lower floor material 200. Holes 202 are provided in the floor material 200 near the exhaust manifold 110. The pipes 111 and 112 of the exhaust manifold 110 are connected to the apparatus main body 1 through the holes 202 of the floor material 200. The piping 113 of the exhaust manifold 110 is connected to exhaust equipment in a factory.

【0037】本実施例では、排気マニホールド110が
構成ユニットの一部に相当する。本実施例の基板処理装
置の他の部分の構成は、第1の実施例の基板処理装置の
構成と同様である。
In this embodiment, the exhaust manifold 110 corresponds to a part of a constituent unit. The configuration of the other parts of the substrate processing apparatus of the present embodiment is the same as the configuration of the substrate processing apparatus of the first embodiment.

【0038】本実施例の基板処理装置においては、排気
マニホールド110が装置本体1下部の床材200の直
下に配設されているので、装置本体1の占有床面積が増
加しない。また、排気マニホールド110と装置本体1
とを接続する配管111,112の長さが短くなるの
で、信頼性が向上するとともに、低コスト化が図られ
る。
In the substrate processing apparatus of the present embodiment, since the exhaust manifold 110 is disposed immediately below the floor member 200 below the apparatus main body 1, the occupied floor area of the apparatus main body 1 does not increase. Further, the exhaust manifold 110 and the device main body 1
Since the lengths of the pipes 111 and 112 for connecting the two are shortened, the reliability is improved and the cost is reduced.

【0039】さらに、床材200に開口部等のポート
(図示せず)を設けることにより、あるいは床材200
の一部を取り外すことにより、階下に降りることなく、
床材200の上から排気マニホールド110の保守作業
を容易に行うことができる。
Further, a port (not shown) such as an opening may be provided in the flooring material 200 or the flooring material 200 may be provided.
By removing a part of, without going downstairs,
Maintenance work of the exhaust manifold 110 can be easily performed from above the floor material 200.

【0040】なお、上記実施例では、本発明を複数の処
理部を備えた基板処理装置に適用した場合を説明した
が、本発明は、塗布処理、現像処理、洗浄処理、熱処
理、搬送処理、搬入出処理等の単一の処理部を有する基
板処理装置にも同様に適用することができる。
In the above embodiment, the case where the present invention is applied to a substrate processing apparatus having a plurality of processing units has been described. However, the present invention is applied to a coating process, a developing process, a cleaning process, a heat treatment, a transport process, The present invention can be similarly applied to a substrate processing apparatus having a single processing unit such as a loading / unloading process.

【0041】また、装置本体下部の床下直下の空間に配
設する構成ユニットは、上記実施例に限らず、種々の構
成ユニットを配設することができる。
The constituent units provided in the space directly below the floor below the apparatus main body are not limited to the above-described embodiment, and various constituent units can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例における基板処理装置の
正面図である。
FIG. 1 is a front view of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の基板処理装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】図1の基板処理装置の横断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the substrate processing apparatus of FIG.

【図4】本発明の第2の実施例における基板処理装置の
正面図である。
FIG. 4 is a front view of a substrate processing apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図5】図4の基板処理装置の側面図である。FIG. 5 is a side view of the substrate processing apparatus of FIG.

【図6】従来の基板処理装置の横断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of a conventional substrate processing apparatus.

【図7】図6の基板処理装置の側面図である。FIG. 7 is a side view of the substrate processing apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 装置本体 10 回転式塗布ユニット 20 回転式現像ユニット 30 熱処理ユニット 70 内蔵ユニット 100 床下キャビネット 101 導管 110 排気マニホールド 111,112,113 配管 200 床材 201,202 孔 210 コンクリート床 220 支持柱 Reference Signs List 1 apparatus main body 10 rotary coating unit 20 rotary developing unit 30 heat treatment unit 70 built-in unit 100 underfloor cabinet 101 conduit 110 exhaust manifold 111, 112, 113 pipe 200 floor material 201, 202 hole 210 concrete floor 220 support column

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/30 569C ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 21/30 569C

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に処理を行う処理部を備えかつ下部
に空間を有する床材上に設置される装置本体を有する基
板処理装置であって、前記処理部の処理に関連する構成
要素の一部が前記装置本体下部の前記床材直下の空間に
配設されたことを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus having a processing unit for performing processing on a substrate and having an apparatus main body installed on a floor material having a space below, wherein one of components related to processing of the processing unit is provided. A substrate processing apparatus, wherein a portion is disposed in a space directly below the floor material at a lower portion of the apparatus main body.
【請求項2】 前記構成要素の一部が、前記装置本体下
部の前記床材直下に取り付けられた収納容器内に収納さ
れたことを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a part of the constituent elements is stored in a storage container attached directly below the floor material at a lower portion of the apparatus main body.
【請求項3】 前記収納容器が通気性を有する部材によ
り構成されたことを特徴とする請求項2記載の基板処理
装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein said storage container is made of a member having air permeability.
【請求項4】 前記構成要素の一部が、電装設備、流体
設備、給気設備または排気設備であることを特徴とする
請求項1、2または3記載の基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a part of the components is an electrical equipment, a fluid equipment, an air supply equipment, or an exhaust equipment.
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