JPH11109302A - Liquid crystal display element inspecting method - Google Patents
Liquid crystal display element inspecting methodInfo
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- JPH11109302A JPH11109302A JP9282545A JP28254597A JPH11109302A JP H11109302 A JPH11109302 A JP H11109302A JP 9282545 A JP9282545 A JP 9282545A JP 28254597 A JP28254597 A JP 28254597A JP H11109302 A JPH11109302 A JP H11109302A
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- transparent
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示素子の検査
方法に関し、さらに詳しく言えば、点灯状態が異常であ
る場合、その原因をも定量的に判定できるようにした液
晶表示素子の検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal display device, and more particularly, to a method for inspecting a liquid crystal display device which can quantitatively determine the cause of abnormal lighting. Things.
【0002】[0002]
【従来の技術】図2は液晶パネル1の端子部側の一部分
を摘示した模式的断面図で、同図に示されているよう
に、液晶パネル1は、一方の面にそれぞれ透明電極が形
成された第1および第2透明基板2,3を例えばエポキ
シ系の接着剤からなるシール材4を介して対向的に貼り
合わせ、その透明電極間に液晶5を封入することにより
形成される。2. Description of the Related Art FIG. 2 is a schematic sectional view showing a part of a liquid crystal panel 1 on a terminal portion side. As shown in FIG. 2, the liquid crystal panel 1 has transparent electrodes formed on one surface. The first and second transparent substrates 2 and 3 thus formed are opposed to each other via a sealing material 4 made of, for example, an epoxy-based adhesive, and a liquid crystal 5 is sealed between the transparent electrodes.
【0003】ここで、例えば第1透明基板2側に形成さ
れている透明電極が所定パターンのセグメント電極2a
で、第2透明基板3側にはそれに対応するコモン電極3
aが形成されており、また、第1透明基板2にはその側
方に端子部21が連設されていて、同端子部21に第2
透明基板3側のコモン電極3a用の外部引出リード3b
が形成されているとすると、例えばシール材4内に導電
性ビーズを配合するなどの基板間導電接続手段により、
第2透明基板3側のコモン電極3aを外部引出リード3
bに電気的に接続するようにしている。Here, for example, the transparent electrode formed on the first transparent substrate 2 side is a segment electrode 2a having a predetermined pattern.
The common electrode 3 corresponding to the second transparent substrate 3 is provided on the second transparent substrate 3 side.
a is formed on the first transparent substrate 2, and a terminal portion 21 is continuously provided on a side of the first transparent substrate 2.
External lead 3b for common electrode 3a on transparent substrate 3 side
Is formed, for example, by a conductive connecting means between the substrates such as compounding conductive beads in the sealing material 4,
The common electrode 3a on the side of the second transparent substrate 3 is connected to the external lead 3
b.
【0004】なお、端子部21には、第1透明基板2の
セグメント電極2aに連なる外部引出リードも形成され
ているが、作図の都合上、図2にはそのセグメント電極
2a用の外部引出リードは示されていない。An external lead connected to the segment electrode 2a of the first transparent substrate 2 is also formed on the terminal portion 21, but for convenience of drawing, FIG. 2 shows an external lead for the segment electrode 2a. Is not shown.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】液晶パネル1の組立後
に点灯検査が行なわれるが、従来では、点灯検査機によ
り液晶パネル1に規定の駆動電圧を印加して、点灯状態
については目視によりその良否を判定し、断線不良や隣
接する電極間のリークなどの有無については点灯検査機
の電流測定値により判定するようにしている。なお、一
部では画像処理手段を導入し、点灯された電極の形状
や、面内に入り込んだガラス片、繊維屑などの異物の良
否判定を行なっている。A lighting test is carried out after assembling the liquid crystal panel 1. Conventionally, a specified driving voltage is applied to the liquid crystal panel 1 by a lighting tester, and the lighting state is visually checked. And whether or not there is a disconnection failure or a leak between adjacent electrodes is determined based on a current measurement value of a lighting inspection machine. In some cases, an image processing means is introduced to determine the shape of the lit electrode and the quality of foreign matter such as glass fragments and fiber chips that have entered the plane.
【0006】しかしながら、目視による良否判定は熟練
を要し、特に図3に示すような透明電極2a,3aのパ
ターン欠け不良はしばしば見落とすことがある。画像処
理手段にれば、この点は解決されるが、高価な設備投資
が必要となり、コスト的な面で好ましくない。However, the quality judgment by visual inspection requires skill, and in particular, the defective pattern of the transparent electrodes 2a, 3a as shown in FIG. 3 is often overlooked. The image processing means solves this problem, but requires expensive equipment investment, which is not preferable in terms of cost.
【0007】また、断線不良や電極間リークは点灯検査
機にて発見できるが、上記のように一方の透明基板3側
の透明電極3aを基板間導電接続手段(例えば、シール
材4内のトランスファー)を介して他方の透明基板2側
の外部引出リード3bに接続している液晶パネル1にお
いては、断線が発見されたとしても、それが基板間導電
接続手段の導通不良によるものか、もしくは電極引き回
しの内部配線の傷に起因するものなのかについては判定
することができない。Although a disconnection defect and an inter-electrode leak can be found by a lighting inspection machine, as described above, the transparent electrode 3a on one of the transparent substrates 3 is connected to the inter-substrate conductive connection means (for example, the transfer in the sealing material 4). ), The liquid crystal panel 1 connected to the external lead 3b on the other transparent substrate 2 side, even if a disconnection is found, is due to a conduction failure of the inter-substrate conductive connection means, or an electrode. It cannot be determined whether the wiring is caused by damage to the internal wiring.
【0008】本発明は、このような従来の問題を解決す
るためになされたもので、その目的は、パターン欠け不
良をはじめとして、電極間リークや断線不良などを確実
に検査でき、しかも断線不良の場合には、その不良原因
までも究明し得るようにした液晶表示素子の検査方法を
提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem. It is an object of the present invention to surely inspect for inter-electrode leaks and disconnection defects, such as defective patterns, and to perform disconnection defects. In the case of (1), an object of the present invention is to provide a method for inspecting a liquid crystal display element, which can determine the cause of the defect.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、一方の面にそれぞれ所定パターンの透明
電極を有する第1および第2透明基板をシール材を介し
て対向的に貼り合わせ、その透明電極間に液晶を封入し
てなる液晶パネルを備え、上記第1透明基板には同第1
透明基板側の透明電極に連なる第1外部引出リード端子
群と上記第2透明基板側の透明電極用の第2外部引出リ
ード端子群とが形成された端子部が連設されていて、上
記第2透明基板側の透明電極が基板間導電接続手段を介
して上記端子部の第2外部引出リード端子群に電気的に
接続されている液晶表示素子の点灯状態を検査するにあ
たって、上記第1および第2外部引出リード端子群内か
らそれぞれ任意に選択されたリード端子間に所定の駆動
電圧を印加し、そのリード端子間の静電容量を測定する
ことにより、点灯状態の正常、異常および異常である場
合の原因を判定可能としたことを特徴としている。In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a first and second transparent substrates having transparent electrodes of a predetermined pattern on one surface thereof, which are opposed to each other via a sealing material. A liquid crystal panel in which liquid crystal is sealed between the transparent electrodes.
A terminal portion formed with a first external extraction lead terminal group connected to the transparent electrode on the transparent substrate side and a second external extraction lead terminal group for the transparent electrode on the second transparent substrate side is provided continuously. (2) When inspecting the lighting state of the liquid crystal display element in which the transparent electrode on the transparent substrate side is electrically connected to the second external lead terminal group of the terminal section via the inter-substrate conductive connection means, By applying a predetermined drive voltage between arbitrarily selected lead terminals from the second external lead lead terminal group and measuring the capacitance between the lead terminals, it is possible to determine whether the lighting state is normal, abnormal or abnormal. It is characterized in that the cause in a certain case can be determined.
【0010】すなわち、本発明では点灯している所定パ
ターンの透明電極をコンデンサと見立て、その部分の静
電容量を測定することにより、パターン欠け不良、電極
間リークや断線不良などを数値的に検査する。That is, in the present invention, a transparent electrode of a predetermined pattern that is lit is regarded as a capacitor, and the capacitance of the portion is measured, thereby numerically inspecting a defective pattern, a leak between electrodes, a disconnection defect, and the like. I do.
【0011】ここで、点灯している透明電極の対向面積
をS、電極間距離をd、液晶の誘電率をεとすると、そ
の点灯電極部の静電容量Cは、C=ε×S/dで表され
る。したがって、点灯電極部にパターン欠けや断線が発
生していると、Sが変化するため静電容量Cが正規の値
からずれることになり、これにより不良およびその原因
をも知ることができる。Here, assuming that the facing area of the lit transparent electrode is S, the distance between the electrodes is d, and the dielectric constant of the liquid crystal is ε, the capacitance C of the lit electrode portion is C = ε × S / It is represented by d. Therefore, if a pattern missing or a disconnection occurs in the lighting electrode portion, S changes and the capacitance C deviates from a regular value, so that a defect and its cause can be known.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】次に、本発明の技術的思想をより
よく理解するうえで、図1を参照しながら、その実施の
形態について説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment will be described with reference to FIG. 1 in order to better understand the technical idea of the present invention.
【0013】図1は先に説明した図2と同種の液晶パネ
ル1の全体的な平面図であり、図面上、図2の第1透明
基板2が下側に位置し、第2透明基板3がその上側に対
向的に配置されていると理解されたい。FIG. 1 is an overall plan view of a liquid crystal panel 1 of the same kind as that of FIG. 2 described above. In the drawing, the first transparent substrate 2 of FIG. Are understood to be arranged oppositely on the upper side.
【0014】この例は、フル表示で数字の「188」を
表示する7セグメント型ディスプレイについてのもの
で、第1透明基板2側にはその7セグメント表示のセグ
メント電極2aが形成されており、第2透明基板3側に
はそれと対向するコモン電極3aが形成されている。This example relates to a 7-segment display which displays the number "188" in full display. The segment electrode 2a for 7-segment display is formed on the first transparent substrate 2 side. On the side of the transparent substrate 3, a common electrode 3a facing the transparent substrate 3 is formed.
【0015】第1透明基板2には端子部21が連設され
ており、同端子部21にはSEG用外部引出リード2b
1〜2b7と、COM用外部引出リード3b1〜3b3
とが形成されている。The first transparent substrate 2 is provided with a terminal portion 21 connected thereto. The terminal portion 21 is connected to an external lead 2b for SEG.
1-2b7 and COM external lead-out leads 3b1-3b3
Are formed.
【0016】SEG用外部引出リード2b1〜2b7
は、電極引き回し用の内部配線2c(鎖線図示)を介し
て対応する各セグメント電極2aに接続され、これに対
して、COM用外部引出リード3b1〜3b3は、基板
間導電接続手段としてのシール材4内のトランスファー
4aおよび電極引き回し用の内部配線3c(太線図示)
を介して対応する各コモン電極3aに接続されている。External lead 2b1-2b7 for SEG
Are connected to the corresponding segment electrodes 2a via internal wirings 2c (shown by dashed lines) for leading the electrodes. On the other hand, the COM external lead-out leads 3b1 to 3b3 are formed of a sealing material as a conductive connection between the substrates. Transfer 4a in 4 and internal wiring 3c for electrode routing (shown in bold lines)
Are connected to the corresponding common electrodes 3a via the.
【0017】各セグメント電極2a、各コモン電極3
a、SEG用外部引出リード2b1〜2b7、COM用
外部引出リード3b1〜3b3および内部配線2c,3
cは、ともにITO(Indium Tin Oxid
e)から形成され、また、基板間導電接続手段4aには
導電性ビーズもしくは異方性導電ゴムなどが用いられ
る。Each segment electrode 2a, each common electrode 3
a, SEG external lead-out leads 2b1-2b7, COM external lead-out leads 3b1-b3, and internal wiring 2c, 3
c is ITO (Indium Tin Oxid)
e), and conductive beads or anisotropic conductive rubber are used for the inter-substrate conductive connection means 4a.
【0018】この液晶パネル1を点灯検査するにあたっ
て、本発明では、各セグメント要素Sに規定の駆動電圧
を印加してそのセグメント要素Sを点灯させて、その間
の静電容量を測定する。なお、この例において、1つの
セグメント要素S間の静電容量は120pFであるとす
る。In the lighting inspection of the liquid crystal panel 1, in the present invention, a prescribed driving voltage is applied to each segment element S, the segment element S is turned on, and the capacitance between them is measured. In this example, it is assumed that the capacitance between one segment element S is 120 pF.
【0019】パターン欠け検査 図1に示されているように、例えば、SEG用外部引出
リード2b3とCOM用外部引出リード3b1との間
に、図示しない点灯検査機により例えば電圧1V,周波
数1kHzの矩形波を加えて、所定のセグメント要素S
1を点灯させる。As shown in FIG. 1, for example, a rectangle having a voltage of 1 V and a frequency of 1 kHz is provided between a SEG external lead 2b3 and a COM external lead 3b1 by a lighting inspection device (not shown). By adding a wave, a predetermined segment element S
1 is turned on.
【0020】そして、LCRメータ10にてその間の静
電容量Cを測定する。120pFが測定されれば正常と
判定され、静電容量Cがそれによりも低く例えば110
pF程度の場合には、図3に示されているように、電極
の一部に欠けがあるものと判定される。これを各セグメ
ント要素Sごとに行なう。Then, the capacitance C between them is measured by the LCR meter 10. If 120 pF is measured, it is determined to be normal, and the capacitance C is lower than that, for example, 110 pF.
In the case of about pF, it is determined that a part of the electrode is missing as shown in FIG. This is performed for each segment element S.
【0021】コモン側断線検査(内部配線およびトラ
ンスファー断線検査) この場合には、SEG用外部引出リード2b1〜2b7
をすべて電気的に接続し、これに対してCOM用外部引
出リード3b1〜3b3を一つずつ切り替えて、図示し
ない点灯検査機により電圧1V,周波数1kHzの矩形
波を加え、LCRメータ10にてその間の静電容量Cを
測定する。Inspection of common-side disconnection (inspection of internal wiring and transfer disconnection) In this case, external lead-out leads 2b1-2b7 for SEG
Are electrically connected to each other, and the external lead-out leads 3b1 to 3b3 for COM are switched one by one, and a rectangular wave having a voltage of 1 V and a frequency of 1 kHz is applied by a lighting inspection machine (not shown). Is measured.
【0022】正常であれば、COM用外部引出リード3
b1および3b3で、それぞれ120pF×7セグメン
ト要素=840pFの静電容量が測定され、3b2では
120pF×2セグメント要素=240pFの静電容量
が測定される。If normal, the external lead 3 for COM
In b1 and 3b3, a capacitance of 120 pF × 7 segment elements = 840 pF is measured, and in 3b2, a capacitance of 120 pF × 2 segment elements = 240 pF is measured.
【0023】これに対して、各セグメント要素Sが不灯
の場合には、その原因はトランスファー4aでの断線、
もしくはそのトランスファー4aからセグメント要素S
に至るまでの内部配線3cでの断線のいずれかとなる。On the other hand, when each segment element S is not lit, the cause is a disconnection in the transfer 4a,
Or, from the transfer 4a, the segment element S
In the internal wiring 3c up to.
【0024】前者のトランスファー断線の場合には、そ
の対向電極間における静電容量が測定され、例えば10
pF程度の静電容量が測定される。後者の内部配線が断
線している場合には、測定される静電容量はその配線間
の静電容量であるため、測定値は2pF程度となる。In the case of the former transfer disconnection, the capacitance between the opposing electrodes is measured and, for example, 10
A capacitance of the order of pF is measured. When the latter internal wiring is broken, the measured capacitance is the capacitance between the wirings, and the measured value is about 2 pF.
【0025】セグメント側断線検査(内部配線および
トランスファー断線検査) COM用外部引出リード3b1〜3b3をすべて電気的
に連結し、これに対してSEG用外部引出リード2b1
〜2b7を一つずつ切り替えて、図示しない点灯検査機
により電圧1V,周波数1kHzの矩形波を加え、その
間の静電容量Cを測定する。Inspection of segment side disconnection (inspection of internal wiring and transfer disconnection) All of the COM external lead-out leads 3b1 to 3b3 are electrically connected, and the SEG external lead-out lead 2b1 is connected thereto.
22b7 are switched one by one, and a rectangular wave having a voltage of 1 V and a frequency of 1 kHz is applied by a lighting inspection device (not shown), and the capacitance C is measured therebetween.
【0026】例えば、SEG用外部引出リード2b1が
正常であれば、120pF×2セグメント要素=240
pFの静電容量が測定され、静電容量Cが2pFしか測
定されないときには内部配線の断線と判定される。For example, if the SEG external lead 2b1 is normal, 120 pF × 2 segment elements = 240
The capacitance of pF is measured, and when the capacitance C is measured only at 2 pF, it is determined that the internal wiring is broken.
【0027】コモン側リーク検査 上記のコモン側断線検査時において、例えばCOM用
外部引出リード3b1と3b2との間でリークが発生し
ているとすれば、COM用外部引出リード3b1は7つ
のセグメント要素Sに接続され、3b2は2つのセグメ
ント要素Sに接続されていることから、合計で9セグメ
ント要素分の静電容量(120×9=1080pF)が
測定され、リークありと判定される。Common-side Leakage Inspection In the above-described common-side disconnection inspection, if, for example, a leak occurs between the COM external lead-out leads 3b1 and 3b2, the COM external lead-out lead 3b1 has seven segment elements. S and 3b2 are connected to the two segment elements S, so that a total of 9 segment elements of capacitance (120 × 9 = 1080 pF) are measured, and it is determined that there is a leak.
【0028】セグメント側リーク検査 上記のセグメント側断線検査時において、例えばSE
G用外部引出リード2b1と2b2との間でリークが発
生しているとすれば、各引出リード2b1,2b2は、
ともに2つのセグメント要素Sに接続されていることか
ら、合計で4セグメント要素分の静電容量(120×4
=480pF)が測定され、リークありと判定される。Segment-side leak inspection In the above-described segment-side disconnection inspection, for example, SE
Assuming that a leak has occurred between the external lead for G 2b1 and 2b2, each of the lead 2b1 and 2b2
Since both are connected to two segment elements S, the capacitance of a total of four segment elements (120 × 4
= 480 pF), and it is determined that there is a leak.
【0029】このように、静電容量Cを測定することに
より、良品と不良品とを判定することができるととも
に、断線不良の場合でも、その原因が基板間導電接続手
段(トランスファー4a)での断線か、内部配線3cで
の断線かを区別することができる。As described above, by measuring the capacitance C, a good product and a defective product can be determined, and even in the case of a disconnection failure, the cause is the conductive connection between substrates (transfer 4a). It is possible to distinguish between a disconnection and a disconnection in the internal wiring 3c.
【0030】また、本発明によれば、基板間導電接続手
段(トランスファー部)での接触抵抗の上昇によるコン
トラスト不良も静電容量Cの測定値の低減幅にて判定す
ることができる。Further, according to the present invention, the poor contrast due to the increase in the contact resistance in the inter-substrate conductive connection means (transfer section) can be determined by the reduction width of the measured value of the capacitance C.
【0031】すなわち、トランスファー部の接続抵抗が
大きくなるに連れて静電容量が漸次減少することが実験
により確認されており、また、トランスファー部の接続
抵抗とコントラスト不良は相関関係にあるため、静電容
量値でコントラスト不良の定量的な判定も可能となる。That is, it has been confirmed by an experiment that the capacitance gradually decreases as the connection resistance of the transfer section increases. Further, since the connection resistance of the transfer section and the poor contrast have a correlation, they are static. Quantitative determination of poor contrast can be made based on the capacitance value.
【0032】本発明の検査対象は、上記実施例のセグメ
ント型ディスプレイに限定されるものではなく、ドット
マトリクス型ディスプレイも含まれる。また、測定器と
してはLCRメータ以外にも単機能のCメータを使用し
てもよいことはもちろんである。The inspection object of the present invention is not limited to the segment type display of the above embodiment, but includes a dot matrix type display. It goes without saying that a single-function C meter other than the LCR meter may be used as the measuring device.
【0033】[0033]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高価な画像処理手段を用いることなく、ともすると従来
見逃しがちであった複雑なパターンにおけるパターン欠
けを見つけることができる。As described above, according to the present invention,
Without using expensive image processing means, it is possible to find a missing pattern in a complicated pattern that has often been missed in the past.
【0034】また、断線不良の場合においても、その原
因が基板間導電接続手段(トランスファー部)での断線
か、もしくは電極引き回し用の内部配線での断線かを区
別することができる。Further, even in the case of a disconnection failure, it is possible to distinguish whether the cause is a disconnection in the inter-substrate conductive connection means (transfer section) or a disconnection in the internal wiring for electrode routing.
【図1】本発明による検査方法の一例を説明するための
液晶パネルの平面図。FIG. 1 is a plan view of a liquid crystal panel for explaining an example of an inspection method according to the present invention.
【図2】液晶パネルの端子部側の一部分を摘示した模式
的断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a part of a liquid crystal panel on a terminal portion side.
【図3】パターン欠けのある電極を示した説明図。FIG. 3 is an explanatory view showing an electrode having a pattern missing.
1 液晶パネル 2,3 透明基板 21 端子部 2a 透明電極(セグメント電極) 3a 透明電極(コモン電極) 2b1〜2b7 SEG用外部引出リード 3b1〜3b3 COM用外部引出リード 2c セグメント電極用内部配線 3c コモン電極用内部配線 4 シール材 4a 基板間導電接続手段(トランスファー部) 10 LCRメータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Liquid crystal panel 2, 3 Transparent substrate 21 Terminal part 2a Transparent electrode (segment electrode) 3a Transparent electrode (common electrode) 2b1-2b7 SEG external lead-out 3b1-3b3 COM external lead-out 2c Segment electrode internal wiring 3c Common electrode Internal wiring 4 Sealing material 4a Conductive connection means between substrates (transfer section) 10 LCR meter
Claims (1)
電極を有する第1および第2透明基板をシール材を介し
て対向的に貼り合わせ、その透明電極間に液晶を封入し
てなる液晶パネルを備え、上記第1透明基板には同第1
透明基板側の透明電極に連なる第1外部引出リード端子
群と上記第2透明基板側の透明電極用の第2外部引出リ
ード端子群とが形成された端子部が連設されていて、上
記第2透明基板側の透明電極が基板間導電接続手段を介
して上記端子部の第2外部引出リード端子群に電気的に
接続されている液晶表示素子の点灯状態を検査するにあ
たって、上記第1および第2外部引出リード端子群内か
らそれぞれ任意に選択されたリード端子間に所定の駆動
電圧を印加し、そのリード端子間の静電容量を測定する
ことにより、点灯状態の正常、異常および異常である場
合の原因を判定可能としたことを特徴とする液晶表示素
子の検査方法。1. A liquid crystal panel in which first and second transparent substrates each having a predetermined pattern of transparent electrodes on one surface thereof are opposed to each other via a sealing material, and a liquid crystal is sealed between the transparent electrodes. The first transparent substrate includes the first transparent substrate.
A terminal portion formed with a first external extraction lead terminal group connected to the transparent electrode on the transparent substrate side and a second external extraction lead terminal group for the transparent electrode on the second transparent substrate side is provided continuously. (2) When inspecting the lighting state of the liquid crystal display element in which the transparent electrode on the transparent substrate side is electrically connected to the second external lead terminal group of the terminal section via the inter-substrate conductive connection means, By applying a predetermined drive voltage between arbitrarily selected lead terminals from the second external lead lead terminal group and measuring the capacitance between the lead terminals, it is possible to determine whether the lighting state is normal, abnormal or abnormal. A method for inspecting a liquid crystal display element, wherein a cause in a certain case can be determined.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9282545A JPH11109302A (en) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Liquid crystal display element inspecting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9282545A JPH11109302A (en) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Liquid crystal display element inspecting method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11109302A true JPH11109302A (en) | 1999-04-23 |
Family
ID=17653873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9282545A Withdrawn JPH11109302A (en) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | Liquid crystal display element inspecting method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11109302A (en) |
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1997
- 1997-09-30 JP JP9282545A patent/JPH11109302A/en not_active Withdrawn
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