JPH1051195A - Mounting apparatus for electronic component - Google Patents
Mounting apparatus for electronic componentInfo
- Publication number
- JPH1051195A JPH1051195A JP9105579A JP10557997A JPH1051195A JP H1051195 A JPH1051195 A JP H1051195A JP 9105579 A JP9105579 A JP 9105579A JP 10557997 A JP10557997 A JP 10557997A JP H1051195 A JPH1051195 A JP H1051195A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- image
- polygon mirror
- moving
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 36
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 20
- 238000005339 levitation Methods 0.000 abstract 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 101000617550 Dictyostelium discoideum Presenilin-A Proteins 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品をプリン
ト基板または液晶やプラズマディスプレイパネル基板な
どに自動的に実装する電子部品実装装置に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounting apparatus for automatically mounting electronic components on a printed circuit board, a liquid crystal display, a plasma display panel substrate, or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から、電子部品実装装置において
は、狭リードピッチ・狭リード幅のQFP・コネクター
のような電子部品を実装する際には、プリント基板に装
着する前に部品のリード浮きを自動検査するのが一般的
である。2. Description of the Related Art Conventionally, in an electronic component mounting apparatus, when mounting an electronic component such as a QFP connector having a narrow lead pitch and a narrow lead width, the lead floating of the component must be performed before the electronic component is mounted on a printed circuit board. Generally, automatic inspection is performed.
【0003】図9は従来の電子部品実装装置の実装工程
図である。従来の電子部品実装装置では、図9に示すよ
うな一連の処理を経て、狭リードピッチの電子部品を実
装するものが多い。FIG. 9 is a mounting process diagram of a conventional electronic component mounting apparatus. Many conventional electronic component mounting apparatuses mount an electronic component having a narrow lead pitch through a series of processes as shown in FIG.
【0004】すなわち、図9(a)に示す工程ではトレ
ー3に格納されている電子部品2を実装装置のヘッド部
7が吸着してピックアップする。図9(b)に示す工程
では、吸着された電子部品2の画像を位置決め用カメラ
47で撮像し、画像処理装置を用いて位置決めし、その
位置決め情報を得る。That is, in the process shown in FIG. 9A, the electronic component 2 stored in the tray 3 is picked up by the head unit 7 of the mounting apparatus. In the step shown in FIG. 9B, an image of the sucked electronic component 2 is picked up by the positioning camera 47 and is positioned by using the image processing device to obtain the positioning information.
【0005】図9(c)に示す工程では、図9(b)の
工程で得られた位置決め情報を用いて、電子部品2を透
過式のリード浮きセンサー48でリード浮き検査する
か、または、リード浮き検査用カメラ49でリードの先
端部または先端部の影を撮像して画像処理装置でリード
浮き検査をする。In the step shown in FIG. 9 (c), using the positioning information obtained in the step shown in FIG. 9 (b), the electronic component 2 is inspected for lead floating by a transmission type lead floating sensor 48, or The leading edge of the lead or a shadow of the leading end is imaged by the lead lifting inspection camera 49, and the lead lifting inspection is performed by the image processing apparatus.
【0006】この検査の結果に異常がなければ、図9
(d)に示す工程で、図9(b)の工程で得られた位置
決め情報に基づいてプリント基板9および実装される電
子部品2の補正計算を行い、電子部品2をプリント基板
9の所定の位置に装着する。If there is no abnormality in the result of this inspection, FIG.
In a step shown in FIG. 9D, correction calculation of the printed board 9 and the mounted electronic component 2 is performed based on the positioning information obtained in the step of FIG. Attach in position.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の電子部品実装装置では、図9に示す工程に
従って行われる一連の処理を経て部品実装すると、図9
(b)に示す工程での位置決め用カメラ47と、図9
(c)に示す工程でのリード浮きセンサー48やリード
浮き検査用カメラ49とは、物理的に離れて設置されて
おり、図9(b)に示す工程で得られた位置決め情報を
用いて図9(c)に示す工程で部品の機械的な位置決め
をする必要があることから各々の工程での処理は並列化
できず、必然的にシリアル処理になり、各々の工程に対
して実装部品の移動・停止・上下動などの動作を必要と
する。However, in the above-described conventional electronic component mounting apparatus, when a component is mounted through a series of processes performed according to the steps shown in FIG.
The camera 47 for positioning in the step shown in FIG.
The lead floating sensor 48 and the lead floating inspection camera 49 in the step shown in FIG. 9C are physically separated from each other, and are drawn by using the positioning information obtained in the step shown in FIG. Since it is necessary to mechanically position the components in the process shown in FIG. 9 (c), the processes in each process cannot be parallelized, and are necessarily serial processes. Movement, stop, vertical movement, etc. are required.
【0008】そのため、結果的に、実装部品の移動・停
止・上下動などの動作時間も含めて、図9(b)および
(c)に示す工程の処理時間が、そのまま全体の実装時
間に利いてくることになり、それらの動作時間により全
体の実装時間が増大化してしまうという問題点を有して
いた。As a result, the processing time of the steps shown in FIGS. 9 (b) and 9 (c), including the operation time of moving, stopping, moving up and down, etc. of the mounted component, is directly useful for the entire mounting time. Therefore, there is a problem that the entire mounting time is increased by the operation time.
【0009】その上、図9(c)に示す工程のように、
透過式のリード浮きセンサー48でリード浮きの検査を
する際には、物理的な実装部品の4辺個別走査が必要と
なり、このための処理時間は通常1〜3秒程度である。
この処理時間はこのような部品の実装時間を長くさせる
要因となる。これは特に、QFPやコネクターを数多く
実装する場合には大きなデメリットとなる。[0009] In addition, as shown in FIG.
When the lead floating is inspected by the transmission type lead floating sensor 48, it is necessary to individually scan four sides of the physically mounted component, and the processing time for this is usually about 1 to 3 seconds.
This processing time causes a longer mounting time of such components. This is a significant disadvantage particularly when a large number of QFPs and connectors are mounted.
【0010】一方、リード浮き検査用カメラ49を用い
てリード浮き検査をする場合にも、そのカメラの焦点合
わせや分解能不足に起因する分割画像取込などから、上
記と同様に、リード浮き検査に長時間を必要とし、やは
り実装タクトタイムの問題が発生する。[0010] On the other hand, when the lead floating inspection is performed using the lead floating inspection camera 49, the lead floating inspection is performed in the same manner as described above due to the focusing of the camera and the capture of divided images due to lack of resolution. It takes a long time, and the problem of mounting tact time also occurs.
【0011】本発明は、上記問題点に鑑み、リード浮き
検査などの3次元形状の検査が必要な部品を実装する際
の実装タクトタイムを短縮することができ、また、部品
実装の際の撮像画像に対して水平・垂直両方向の画素サ
イズ(分解能)を保証することができ、さらに、QFP
やコネクターなどの狭ピッチ部品の実装の際には、その
実装の高速化・高分解能化(高精度化)に柔軟に対応す
ることができる電子部品実装装置を提供することを目的
とする。SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above problems, the present invention can reduce the mounting tact time when mounting a component that requires a three-dimensional shape inspection such as lead floating inspection, Pixel size (resolution) in both horizontal and vertical directions can be guaranteed for an image.
An object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus that can flexibly cope with high-speed and high-resolution (high-precision) mounting of a narrow-pitch component such as a connector or a connector.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明の電子部品実装装
置は、電子部品の3次元画像データに対する画像処理を
行う制御部を備え、この制御部を、3次元画像撮像手段
の上を移動する電子部品の移動方向に対して垂直方向の
レーザー光走査により得られる電子部品の3次元画像を
画像メモリーに取り込むとともに、電子部品を移動させ
る移動装置の動作速度を一定とするよう構成したことを
特徴としたものであり、リード浮き検査などの3次元形
状の検査が必要な部品を実装する際の実装タクトタイム
を短縮することができ、また、部品実装の際の撮像画像
に対して水平・垂直両方向の画素サイズ(分解能)を保
証することができ、さらに、QFPやコネクターなどの
狭ピッチ部品の実装の際には、その実装の高速化・高分
解能化(高精度化)に柔軟に対応することができる。An electronic component mounting apparatus according to the present invention includes a control unit for performing image processing on three-dimensional image data of an electronic component, and moves the control unit over three-dimensional image capturing means. A three-dimensional image of the electronic component obtained by laser light scanning in a direction perpendicular to the moving direction of the electronic component is loaded into an image memory, and the operating speed of the moving device for moving the electronic component is configured to be constant. It is possible to reduce the mounting tact time when mounting components that need to be inspected for three-dimensional shapes such as lead floating inspection. Pixel size (resolution) in both directions can be guaranteed, and when mounting narrow-pitch components such as QFPs and connectors, the mounting speed and resolution (high precision) It is possible to flexibly.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】請求項1に記載の電子部品実装装
置は、基板に実装すべき電子部品を供給する部品供給部
と、前記電子部品を保持するヘッド部と、前記ヘッド部
を移動させるヘッド部移動装置と、前記ヘッド部の移動
領域の下方に配設されかつレーザー光によるライン走査
を行うことにより前記ライン毎の高さデータを得る3次
元画像撮像手段と、3次元画像撮像手段からの前記高さ
データを3次元画像データとして記憶する画像メモリー
と、前記電子部品の前記3次元画像データに対する画像
処理を行う制御部とを備えたことを特徴とする。An electronic component mounting apparatus according to a first aspect of the present invention provides a component supply unit that supplies an electronic component to be mounted on a substrate, a head unit that holds the electronic component, and moves the head unit. A head unit moving device, a three-dimensional image capturing unit disposed below the moving area of the head unit, and performing line scanning by laser light to obtain height data for each line, and a three-dimensional image capturing unit. And an image memory that stores the height data as three-dimensional image data, and a control unit that performs image processing on the three-dimensional image data of the electronic component.
【0014】この構成によると、3次元画像撮像手段に
て実装部品の3次元画像を取り込み、この3次元画像に
対する画像処理を行うことで、電子部品の位置決めと3
次元的な部品形状の検査とを同時に行うことを可能にす
る。According to this configuration, the three-dimensional image of the mounted component is captured by the three-dimensional image capturing means, and image processing is performed on the three-dimensional image, whereby positioning of the electronic component and three-dimensional image processing are performed.
Inspection of a dimensional part shape can be performed simultaneously.
【0015】これは、従来技術が図9に示すように、カ
メラによる位置決めとリード浮き検査のような3次元形
状検査とがシリアル(別工程)の処理であったものを、
図10に示すように位置決めと3次元検査の同時処理を
可能とし、結果的には部品実装時間の大幅な短縮につな
がるものである。ここで、図10を用いて本発明と図9
に示す従来技術との違いを簡単に説明する。[0015] In the prior art, as shown in FIG. 9, the positioning by the camera and the three-dimensional shape inspection such as the lead floating inspection are serial (separate processes).
As shown in FIG. 10, the simultaneous processing of the positioning and the three-dimensional inspection is enabled, and as a result, the component mounting time is significantly reduced. Here, the present invention and FIG.
The differences from the prior art shown in FIG.
【0016】図10において、2は実装される電子部
品、3は電子部品2が載っているトレー、7は電子部品
2を移動させるヘッド部、8は3次元画像を撮像する3
次元画像撮像手段としての3次元センサー、9は電子部
品2を実装する対象であるプリント基板である。In FIG. 10, reference numeral 2 denotes an electronic component to be mounted, 3 denotes a tray on which the electronic component 2 is placed, 7 denotes a head for moving the electronic component 2, and 8 denotes a three-dimensional image.
A three-dimensional sensor 9 as a three-dimensional image capturing means is a printed circuit board on which the electronic component 2 is mounted.
【0017】図10(a)に示す工程では、電子部品2
はトレー3からヘッド部7でピックアップ(吸着)され
る。図10(b)に示す工程では、3次元センサー8の
上を電子部品2がヘッド部7の移動動作につれて移動す
るとき、この移動動作と3次元センサー8から発せられ
るレーザー光8aによる走査とで、吸着・移動されてい
る電子部品2の底面部2aの3次元画像を、画像処理装
置G1内の画像メモリーM1に取り込み、これを画像処
理することで、電子部品2の位置決めと3次元形状検査
との両方を行う。図10(c)に示す工程では、画像処
理装置G1の画像処理により求まった位置決め情報をも
とに、プリント基板9の上に電子部品2を実装する。In the step shown in FIG.
Is picked up (adsorbed) from the tray 3 by the head unit 7. In the step shown in FIG. 10B, when the electronic component 2 moves on the three-dimensional sensor 8 as the head unit 7 moves, the moving operation and the scanning by the laser light 8a emitted from the three-dimensional sensor 8 are performed. The three-dimensional image of the bottom surface 2a of the electronic component 2 being sucked and moved is taken into the image memory M1 in the image processing device G1, and the image is processed to perform positioning and three-dimensional shape inspection of the electronic component 2. And do both. In the step shown in FIG. 10C, the electronic component 2 is mounted on the printed circuit board 9 based on the positioning information obtained by the image processing of the image processing device G1.
【0018】請求項2に記載の電子部品実装装置は、請
求項1に記載の主制御部を、電子部品の移動方向に対し
て垂直方向のレーザー光走査により得られる3次元画像
を画像メモリーに取り込むとともに、電子部品を移動さ
せるヘッド部移動装置の動作速度を一定とするよう構成
した構成したことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided an electronic component mounting apparatus, wherein the main control unit according to the first aspect stores, in an image memory, a three-dimensional image obtained by laser light scanning in a direction perpendicular to the moving direction of the electronic component. It is characterized in that the operation speed of the head moving device for moving the electronic component is kept constant while taking in the electronic component.
【0019】この構成によると、請求項1に記載の電子
部品実装装置に対して、移動装置の動作速度を一定と
し、この前後の実装動作のなかでも不必要な部品の停止
をなくすことで、実装動作時のタクトタイムの短縮を可
能にする。According to this configuration, with respect to the electronic component mounting apparatus according to the first aspect, the operating speed of the moving device is fixed, and unnecessary stoppage of components during the mounting operation before and after the moving device is eliminated. Enables shortening of tact time during mounting operation.
【0020】請求項3に記載の電子部品実装装置は、基
板に実装すべき電子部品を移動させるための電子部品移
動装置と、前記移動装置の下方に配設されたポリゴンミ
ラーと、前記ポリゴンミラーに対してレーザー光を発光
する半導体レーザーと、前記ポリゴンミラーの廻りに配
設された1つ以上の位置検出素子と、前記電子部品の底
面に当たっているレーザー光を前記位置検出素子の上に
結像させる結像レンズとを設け、前記半導体レーザー
を、そのレーザー光が回転運動中の前記ポリゴンミラー
に当たって反射し、前記ポリゴンミラーの上を通過する
電子部品の底面に当たるように配置し、前記移動装置に
よる電子部品のポリゴンミラーの上での通過動作と前記
ポリゴンミラーの回転運動によって発生するレーザー走
査とに基づいて、前記位置検出素子が出力するデータを
演算して得られる前記電子部品の3次元画像を前記画像
メモリーに取り込み、前記3次元画像で電子部品の位置
決めと部品形状検査とを行うことを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, there is provided an electronic component mounting apparatus for moving an electronic component to be mounted on a substrate, a polygon mirror disposed below the moving device, and the polygon mirror. A semiconductor laser that emits a laser beam, one or more position detecting elements disposed around the polygon mirror, and an image of the laser light that strikes the bottom surface of the electronic component on the position detecting element. An imaging lens for causing the semiconductor laser to be disposed such that the laser light is reflected by the rotating polygon mirror and hits the bottom surface of an electronic component passing over the polygon mirror, and the semiconductor laser is arranged by the moving device. Based on the passing operation of the electronic component on the polygon mirror and the laser scanning generated by the rotational movement of the polygon mirror, Position capture a three-dimensional image of the electronic component detecting device can be obtained by calculating the data to be output to the image memory, and performs positioning with the parts shape inspection of the electronic component in the three-dimensional image.
【0021】この構成によると、ポリゴンミラーや半導
体位置検出素子および半導体レーザーなどから構成され
る3次元画像撮像手段により、電子部品に対する3次元
画像を撮像して、その電子部品の位置決めと3次元形状
検査とを同時に行うことを可能にする。According to this configuration, the three-dimensional image of the electronic component is captured by the three-dimensional image capturing means including the polygon mirror, the semiconductor position detecting element, and the semiconductor laser, and the positioning of the electronic component and the three-dimensional shape are performed. Inspection and inspection can be performed simultaneously.
【0022】請求項4に記載の電子部品実装装置は、請
求項3において、電子部品移動装置の基準位置からの移
動量を算出する移動量検出回路と、ポリゴンミラーの回
転量信号を受けて前記ポリゴンミラーの基準位置からの
回転量を算出する回転量検出回路と、前記電子部品移動
装置の移動量と前記ポリゴンミラーの回転量とを比較す
る第1の比較回路とを備えて、第1比較回路での比較結
果として、両者の差が許容範囲内ならば、画像メモリー
に記録されたデータを有効なデータとして取り扱い、前
記許容範囲外ならばデータを無効とするようにしたこと
を特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the electronic component mounting apparatus according to the third aspect, the electronic component moving device receives a rotation amount signal of a polygon mirror and a movement amount detection circuit for calculating a movement amount of the electronic component moving device from a reference position. A rotation amount detection circuit that calculates a rotation amount of the polygon mirror from a reference position; and a first comparison circuit that compares a movement amount of the electronic component moving device with a rotation amount of the polygon mirror. As a result of comparison in the circuit, if the difference between the two is within an allowable range, the data recorded in the image memory is treated as valid data, and if the difference is outside the allowable range, the data is invalidated. .
【0023】請求項5に記載の電子部品実装装置は、請
求項3または請求項4において、電子部品移動装置の各
時間での移動速度を算出する移動速度検出回路と、ポリ
ゴンミラーの回転量信号を受けて前記ポリゴンミラーの
各時間での回転速度を算出する回転速度検出回路と、前
記電子部品移動装置の移動速度と前記ポリゴンミラーの
回転速度とを比較する第2の比較回路とを備えて、第2
比較回路での比較結果として、両者の差が許容範囲内な
らば、画像メモリーに記録されたデータを有効なデータ
として取り扱い、前記許容範囲外ならば前記データを無
効とするようにしたことを特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, in the electronic component mounting apparatus according to the third or fourth aspect, a moving speed detection circuit for calculating a moving speed of the electronic component moving device at each time, and a rotation amount signal of a polygon mirror are provided. And a second comparison circuit for comparing the rotation speed of the polygon mirror with the rotation speed of the electronic component moving device. , Second
As a result of comparison by the comparison circuit, if the difference between the two is within an allowable range, the data recorded in the image memory is treated as valid data, and if the difference is outside the allowable range, the data is invalidated. And
【0024】この構成によると実装する電子部品を移動
させる移動装置の移動量とポリゴンミラーの回転量ない
しは移動装置の移動速度とポリゴンミラーの移動速度の
一方または両方とを回路的に監視することで、独立運動
している移動装置とポリゴンミラーの両方の走査運動で
取り込まれる3次元画像の正規性(部分的な歪みが無く
画像縦横比が一致すること)を確保し、3次元画像を処
理して得られる演算結果の精度・信頼性を保証する。According to this configuration, the moving amount of the moving device for moving the electronic component to be mounted and the rotating amount of the polygon mirror, or one or both of the moving speed of the moving device and the moving speed of the polygon mirror are monitored in a circuit. The three-dimensional image captured by the scanning movement of both the moving device and the polygon mirror that are independently moving is secured (the image aspect ratio is matched without partial distortion), and the three-dimensional image is processed. Guarantees the accuracy and reliability of the operation results obtained by
【0025】請求項6に記載の電子部品実装装置は、請
求項3〜請求項5において、3次元画像を取り込むため
の基本クロックの速度を変更するクロック速度変更手段
を備え、前記3次元画像に対して高分解能が必要な場合
には、前記クロック速度変更手段により基本クロックを
高速にするとともに、電子部品移動装置の移動速度を低
速にし、前記3次元画像の取り込みに高速性が必要な場
合には、前記クロック速度変更手段により前記基本クロ
ックを低速にするとともに、前記電子部品移動装置の移
動速度を高速にすることを特徴とする。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the electronic component mounting apparatus according to the third to fifth aspects, further comprising a clock speed changing means for changing a speed of a basic clock for capturing the three-dimensional image. On the other hand, when a high resolution is required, the basic clock is increased by the clock speed changing means, the moving speed of the electronic component moving device is reduced, and a high speed is required for capturing the three-dimensional image. Is characterized in that the basic clock is reduced by the clock speed changing means and the moving speed of the electronic component moving device is increased.
【0026】この構成によると、3次元画像を取り込む
ための基本クロックの速度(周波数)を変更し、併せて
撮像対象を移動させる移動装置の移動速度を加減速させ
て動作させ、取り込まれた画像の正規性を損なうことな
く、実装部品に応じて電子部品の位置決めや3次元的な
部品形状検査を行う際に、位置決めや検査の精度重視の
場合には分解能向上し、スピード重視の場合には走査速
度向上するという切替を容易に実現する。According to this configuration, the speed (frequency) of the basic clock for capturing the three-dimensional image is changed, and at the same time, the moving speed of the moving device for moving the object is accelerated / decelerated to operate. When locating electronic components and performing three-dimensional component shape inspection according to the mounted components without impairing the normality of the components, the resolution is improved when importance is placed on the accuracy of positioning and inspection, and when importance is placed on speed, Switching to improve the scanning speed is easily realized.
【0027】請求項7に記載の電子部品実装装置は、請
求項3〜請求項6において、電子部品が画像取り込み開
始位置に位置したのち、レーザ光での走査開始位置に位
置するまでの時間に、前記電子部品が移動する距離を計
算する計算手段を備え、前記計算手段により計算された
距離を考慮して、3次元画像で前記電子部品の位置決め
を行うようにしたことを特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, in the electronic component mounting apparatus according to any one of the third to sixth aspects, the electronic component is mounted at a time from when the electronic component is located at the image capturing start position to when it is located at the laser beam scanning start position. Calculating means for calculating a moving distance of the electronic component, and positioning the electronic component on a three-dimensional image in consideration of the distance calculated by the calculating means.
【0028】この構成よれば、前記計算手段により計算
された計算結果に基づいて部品の位置決めを行うように
すれば、タイミングのずれのバラツキに伴う位置決め精
度の低下を防止することができて、位置決めをより高精
度に行うことができる。According to this configuration, if the components are positioned based on the calculation result calculated by the calculation means, it is possible to prevent a decrease in positioning accuracy due to a variation in timing shift, and to perform positioning. Can be performed with higher accuracy.
【0029】以下、本発明の実施の形態を図面を参照し
ながら具体的に説明する。図1は本発明の実施の形態の
電子部品実装装置を示す。図1において、1は電子部品
実装装置の実装装置本体、2は本装置で実装される電子
部品(以下、部品と略記する)、3は部品2が載ってい
るトレー、4はトレー3に載った部品2を自動供給する
部品供給部としてのトレー供給部、7は実装時に部品2
を吸装着するヘッド部、5はヘッド部7をx軸方向に移
動させるものであって、xyロボットの一部を構成する
x軸側のロボット(以下、x軸ロボットと略記する)、
6aおよび6bはヘッド部7をx軸ロボット5とともに
y軸方向に移動させるxyロボットの一部を構成するy
軸側のロボット(以下、y軸ロボットと略記する)、8
は3次元(以下、3Dと略記する)センサーであり、部
品2の高さ画像を撮像する。9は部品2が実装されるプ
リント基板である。Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a mounting apparatus main body of an electronic component mounting apparatus, 2 denotes an electronic component (hereinafter abbreviated as a component) mounted by the present apparatus, 3 denotes a tray on which the component 2 is mounted, and 4 denotes a tray mounted on the tray 3. Tray supply unit as a component supply unit that automatically supplies the component 2 that has been mounted,
A head section 5 for sucking and mounting the head section 7 moves the head section 7 in the x-axis direction, and a robot on the x-axis side (hereinafter abbreviated as an x-axis robot) constituting a part of the xy robot;
6a and 6b constitute a part of the xy robot that moves the head unit 7 in the y-axis direction together with the x-axis robot 5.
Axis side robot (hereinafter abbreviated as y axis robot), 8
Denotes a three-dimensional (hereinafter abbreviated as 3D) sensor, which captures a height image of the component 2. 9 is a printed circuit board on which the component 2 is mounted.
【0030】トレー3に載っている部品2がヘッド部7
で吸着され3Dセンサー8の上をx軸ロボット5に沿っ
て移動するときに、3Dセンサー8によって部品2の3
D(高さ)画像が取り込まれる。3Dセンサー8によっ
て得られた(高さ)画像をソフトウェア処理して、部品
2の位置決めおよびリード浮きなどの3D形状検査を行
い、位置決め情報に従って、部品2がプリント基板9の
上の所定の位置に装着される。The component 2 placed on the tray 3 is
When moving along the x-axis robot 5 on the 3D sensor 8 sucked by the 3D sensor 8, the 3D sensor 3
A D (height) image is captured. The (height) image obtained by the 3D sensor 8 is subjected to software processing to perform 3D shape inspection such as positioning of the component 2 and lead floating, and the component 2 is positioned at a predetermined position on the printed circuit board 9 according to the positioning information. Be attached.
【0031】図2は3次元画像取り込みを表している。
図2において、2はx軸ロボット5の動作によって移動
している部品、8は3次元センサー、44はポリゴンミ
ラーによって走査されるレーザー光、45は部品2のリ
ードの一つであり装着面と反対側に曲がっている(浮い
ている)リード、46はリード45を3Dセンサー8で
撮像したときの高さデータである。FIG. 2 shows the capture of a three-dimensional image.
In FIG. 2, reference numeral 2 denotes a component moving by the operation of the x-axis robot 5, reference numeral 8 denotes a three-dimensional sensor, reference numeral 44 denotes a laser beam scanned by a polygon mirror, and reference numeral 45 denotes one of the leads of the component 2; Leads 46 that are bent (floating) on the opposite side are height data when the lead 45 is imaged by the 3D sensor 8.
【0032】図2(a)〜(c)は、3Dセンサー8の
上を部品2を移動させ、レーザー光44を部品2の移動
と垂直な方向に走査させて部品2の底面にレーザー光4
4を投光し、このレーザー光44の反射を半導体位置検
出素子に結像させ、この半導体位置検出素子の出力を逐
次高さ演算することで、部品2の3次元画像の画像メモ
リー35への取り込みが行われる様子を表している。FIGS. 2A to 2C show that the component 2 is moved over the 3D sensor 8 and the laser light 44 is scanned in a direction perpendicular to the movement of the component 2 so that the laser light 4
4 is projected, the reflection of the laser light 44 is imaged on the semiconductor position detecting element, and the output of the semiconductor position detecting element is sequentially subjected to height calculation, whereby the three-dimensional image of the component 2 is stored in the image memory 35. This shows a state in which capture is performed.
【0033】画像メモリー35の各水平行に取り込まれ
るデータは、上記の方法で高さ演算された各レーザー走
査線の上にある物体(この場合、部品2のリードやパッ
ケージ部)の3Dセンサー8側からの高さデータで、X
−Y断面図のごとくになる。The data captured in each horizontal row of the image memory 35 is stored in the 3D sensor 8 of the object (in this case, the lead of the component 2 or the package portion) on each of the laser scanning lines whose height has been calculated by the above method. The height data from the side, X
-It becomes like a Y sectional view.
【0034】図2(d)〜(f)は、部品2が3Dセン
サー8の上を通過し終えた時点での画像メモリー35の
様子を表しており、特にリード45が浮いているとする
と、Z−W断面図のなかで、リード45に対応する高さ
データ46は他のリードのものと比較すると大きい値と
なる。このデータ比較によりリードのリード浮き検査の
ような3次元形状の検査が可能になる。FIGS. 2D to 2F show the state of the image memory 35 when the component 2 has finished passing over the 3D sensor 8. In particular, if the lead 45 is floating, In the ZW sectional view, the height data 46 corresponding to the lead 45 has a larger value than those of the other leads. By this data comparison, a three-dimensional shape inspection such as a lead floating inspection of a lead becomes possible.
【0035】また、画像メモリー35には、2次元的な
部品2の画像データが入力されるため、この情報を画像
処理すれば、輝度データと高さデータの違いはあるが、
カメラなどの撮像デバイスを用いて画像処理するのと同
様の方法で部品の位置決めが可能となる。Further, since two-dimensional image data of the component 2 is input to the image memory 35, if this information is subjected to image processing, there is a difference between luminance data and height data.
The components can be positioned in the same manner as when performing image processing using an imaging device such as a camera.
【0036】図3は実装動作を示す。図3(a)におい
て、点Aから点B、点Bから点C、点Cから点Dの各矢
印で表される軌跡は、本実施の形態の電子部品実装装置
が、部品2をトレー3からピックアップして3Dセンサ
ー8の上を通過させ、3Dセンサー8により部品2の3
次元画像を撮像し、この画像データを画像処理して部品
の位置決め・検査を行って装着位置の補正計算をし、プ
リント基板9の上の所要の位置に部品2を装着する一連
の動作を表している。FIG. 3 shows the mounting operation. In FIG. 3A, the trajectory represented by each arrow from point A to point B, point B to point C, and point C to point D indicates that the electronic component mounting apparatus of the present embodiment From the 3D sensor 8, and the 3D sensor 8
This represents a series of operations of capturing a two-dimensional image, performing image processing on the image data, performing component positioning / inspection, performing correction calculation of a mounting position, and mounting the component 2 at a required position on the printed circuit board 9. ing.
【0037】図3(b)および(c)は、このときの図
3(a)に示す部品2の軌跡に対応するx軸方向および
y軸方向の各々のロボットの移動動作の加減速の変化の
様子を表わしている。ここで、点Bと点C間のx軸方向
の移動の途中で3Dセンサー8の上を部品2が通過し、
ここで3次元画像が撮像されるのであり、この間のx軸
ロボットの動作速度は一定で、y軸ロボットについては
停止させている。FIGS. 3B and 3C show changes in acceleration and deceleration of the movement of the robot in the x-axis direction and the y-axis direction corresponding to the locus of the part 2 shown in FIG. It shows the state of. Here, the part 2 passes over the 3D sensor 8 during the movement in the x-axis direction between the point B and the point C,
Here, a three-dimensional image is captured. During this time, the operation speed of the x-axis robot is constant, and the y-axis robot is stopped.
【0038】また、残りの動作については、トータルの
実装時間を最短にするために、点Aと点B間の動作から
点Bと点C間の動作、点Bと点C間の動作から点Cと点
D間の動作、という速度切替点での一時停止を伴う加減
速動作をなくし、機械実装の動作の高速化を図ってい
る。As for the remaining operations, in order to minimize the total mounting time, the operation between the points A and B is changed to the operation between the points B and C, and the operation between the points B and C is changed to the point. Acceleration / deceleration operations that involve a temporary stop at the speed switching point, which is an operation between C and D, are eliminated, and the speed of the machine mounting operation is increased.
【0039】3Dセンサー8の構成と働きについて、以
下に詳細に説明する。図4は3Dセンサー8をx軸方向
に見た図であり、図5は3Dセンサー8をy軸方向に見
た図である。図4および図5において、10はレーザー
光を発光する半導体レーザー、11はこのレーザー光を
集光整形する集光整形レンズ、12はミラー面に当たっ
たレーザー光を機械的回転によって走査させるポリゴン
ミラー、13はレーザー光の一部を通過させ一部を反射
させるハーフミラー、14は光を反射させるミラーであ
る。The configuration and operation of the 3D sensor 8 will be described in detail below. FIG. 4 is a view of the 3D sensor 8 viewed in the x-axis direction, and FIG. 5 is a view of the 3D sensor 8 viewed in the y-axis direction. 4 and 5, reference numeral 10 denotes a semiconductor laser that emits laser light, 11 denotes a condensing / shaping lens that condenses / shapes the laser light, and 12 denotes a polygon mirror that scans the laser light hitting a mirror surface by mechanical rotation. , 13 are half mirrors that allow a part of the laser light to pass and partially reflect the laser light, and 14 is a mirror that reflects the light.
【0040】15はポリゴンミラー12で機械的に振ら
れたレーザー光を被写体である部品2に垂直に投射させ
るように光路変換させるF−θレンズ、16a,16b
は部品2に当たったレーザー光の反射(散乱光)を結像
させる結像レンズ、17a,17bは部品2に当たった
レーザー光の反射光が結像レンズ16a、16bを通し
て結像される位置検出素子としての半導体位置検出素子
(以下、PSDと略記する)であり、結像した光の位置
と相関のある電気信号を発生する機能を有する。18
a,18bはPSD17a,17bの出力信号である。Reference numeral 15 denotes an F-.theta. Lens for converting the optical path of the laser light mechanically shaken by the polygon mirror 12 so that the laser light is projected perpendicularly onto the component 2 as an object.
Is an imaging lens that forms an image of the reflection (scattered light) of the laser light hitting the component 2, and 17a and 17b are position detections where the reflected light of the laser light that hits the component 2 is imaged through the imaging lenses 16a and 16b. It is a semiconductor position detecting element (hereinafter abbreviated as PSD) as an element, and has a function of generating an electric signal correlated with the position of an imaged light. 18
a and 18b are output signals of the PSDs 17a and 17b.
【0041】ここで、半導体レーザー10で発光された
レーザー光は、集光整形レンズ11でビーム形状を集光
整形された後、ハーフミラー13を通過し、ミラー14
を反射して、ポリゴンミラー12に当たる。ポリゴンミ
ラー12は定速回転運動をしており、ミラー面に当たっ
たレーザー光は振られることとなる。更に、F−θレン
ズ15で光路変換されたレーザー光は部品2に垂直に当
てられ、この反射光が結像レンズ16a,16bを介し
てPSD17a,17bに結像され、PSD17a,1
7bが部品2のレーザー反射面の高さを計測し得る出力
信号18a,18bを発生する。Here, the laser light emitted by the semiconductor laser 10 is condensed and shaped by the condensing lens 11, passes through the half mirror 13, and passes through the mirror 14.
And strikes the polygon mirror 12. The polygon mirror 12 is rotating at a constant speed, and the laser light hitting the mirror surface is swung. Further, the laser light whose optical path has been converted by the F-θ lens 15 is applied to the component 2 vertically, and the reflected light is imaged on the PSDs 17a and 17b via the imaging lenses 16a and 16b to form an image.
7b generates output signals 18a and 18b which can measure the height of the laser reflecting surface of the component 2.
【0042】図5において、19は光が入力されたこと
を感知する光センサー、20は光センサー19に光が入
力されたことを外部に知らせる信号であり、この信号は
ポリゴンミラー12の各ミラー面が所定の角度に来たと
き変化するもので、いわば、ポリゴンミラー12の各面
の原点信号(面原点)にあたる。更に、例えば18面の
ポリゴンミラー12であれば一回転に18回の信号が、
各々等間隔(18面であれば20度毎)の角度だけ回転
したとき出力されることとなる。これをポリゴンミラー
12の回転量信号と呼ぶ。In FIG. 5, reference numeral 19 denotes an optical sensor for detecting that light has been input, and reference numeral 20 denotes a signal for notifying that light has been input to the optical sensor 19 to the outside. It changes when the surface comes to a predetermined angle, which is equivalent to the origin signal (surface origin) of each surface of the polygon mirror 12. Further, for example, in the case of an 18-sided polygon mirror 12, a signal 18 times in one rotation is
It is output when each is rotated by an angle of equal intervals (every 20 degrees for 18 planes). This is called a rotation amount signal of the polygon mirror 12.
【0043】本実施の形態における3Dセンサー8は、
2系統のPSD回路を有しているが、これは1系統では
レーザー光が部品に当たったときに、角度的にPSDに
反射光が帰ってこない場合があるため、これを補うのが
主な目的で設けている。3系統以上設けるほうが有効な
場合もあるが、技術的には同じことであり、ここでは2
系統で説明する。The 3D sensor 8 in this embodiment is
It has two systems of PSD circuits, but the main reason for this is that in one system, when laser light hits components, reflected light may not return to the PSD angularly in some cases. Provided for the purpose. In some cases, it is more effective to provide three or more systems, but technically, it is the same.
It will be explained in the system.
【0044】ここで、前記の半導体位置検出素子(PS
D)17a,17bによる計測対象物である部品2の上
の高さの測定方法の一例を、半導体位置検出素子17a
の場合について代表して、図11に基づいて説明する。Here, the semiconductor position detecting element (PS)
D) An example of the method of measuring the height above the component 2 which is the measurement target by 17a and 17b is described below using the semiconductor position detecting element 17a.
The case (1) will be described with reference to FIG.
【0045】図11において、F−θレンズ15から紙
面に垂直方向に走査して部品2の上に投射されるレーザ
ビームは、部品2から乱反射する。この場合、投射され
た点が、部品2の底面上の高さ0のA1点と前記底面か
ら高さHのB1点とであるとする。In FIG. 11, a laser beam that is scanned from the F-θ lens 15 in the direction perpendicular to the paper and projected onto the component 2 is irregularly reflected from the component 2. In this case, the point projected is assumed to be a and B 1 point height H A 1 point height 0 on the bottom surface of the component 2 from the bottom surface.
【0046】乱反射したレーザビームは結像レンズ16
aによって集光され、それぞれが半導体位置検出素子1
7aの上のA2点とB2点とに結像する。その結果、A2
点とB2点とに起電力が発生し、それぞれC点から電流
I1,I2、D点から電流I3,I4が取り出される。The irregularly reflected laser beam is applied to the imaging lens 16.
a, and each is collected by the semiconductor position detecting element 1
An image is formed at points A 2 and B 2 above 7a. As a result, A 2
Electromotive force is generated at the point and the point B 2, and the currents I 1 and I 2 are extracted from the point C, and the currents I 3 and I 4 are extracted from the point D.
【0047】電流I1,I3は、A2点とC点との間の距
離xAとA2点とD点との間の距離に比例する抵抗成分に
よって決まり、電流I2,I4は、B2点とC点との間の
距離xBとB2点とD点との間の距離とに比例する抵抗成
分によって決まるので、半導体位置検出素子17aの長
さをLとすると、図11のxA,xBは次式のようにして
決まる。The currents I 1 and I 3 are determined by resistance components proportional to the distance x A between the points A 2 and C and the distance between the points A 2 and D, and the currents I 2 and I 4 Is determined by a resistance component proportional to the distance x B between the points B 2 and C and the distance between the points B 2 and D. Therefore, if the length of the semiconductor position detecting element 17a is L, x a in FIG. 11, x B is determined as follows.
【0048】xA=LI3/(I1+I3) xB=LI4/(I2+I4) 従って、図11の半導体位置検出素子17aの上でのA
2点とB2点との間の距離H’は次式で決まる。X A = LI 3 / (I 1 + I 3 ) x B = LI 4 / (I 2 + I 4 ) Therefore, A on the semiconductor position detecting element 17a of FIG.
The distance between the two points and the B 2 points H 'is determined by the following equation.
【0049】H’=xA−xB このようにして求められたPSDの上の高さH’に基づ
いて前記高さHが決定される。H ′ = x A −x B The height H is determined based on the height H ′ above the PSD thus obtained.
【0050】次に、3D画像を撮像する仕組みを、図6
と図7を用いて説明する。図6において、21は本電子
部品実装装置の主制御部、22はx軸ロボット5上で3
D画像の撮像のための基準位置を主制御部21に知らせ
る基準位置センサー、23はヘッド部7がこの基準位置
センサー22を通過したときに、これを主制御部21に
知らせる基準位置信号、24はx軸ロボット5を移動さ
せるモーターのエンコーダー、25はエンコーダー24
の出力するエンコーダー信号である。Next, the mechanism for capturing a 3D image is shown in FIG.
This will be described with reference to FIG. In FIG. 6, reference numeral 21 denotes a main control unit of the electronic component mounting apparatus;
A reference position sensor 23 for notifying the main control unit 21 of a reference position for capturing the D image, a reference position signal 23 for notifying the main control unit 21 when the head unit 7 has passed this reference position sensor 22, Is an encoder of a motor for moving the x-axis robot 5, and 25 is an encoder 24
Is the encoder signal that is output.
【0051】トレー3からピックアップされた部品2が
x軸ロボット5によってx軸の上を移動するとき、エン
コーダー24は常にエンコーダー信号(AB相、Z相ま
たはこれと等価な信号)25を主制御部21に与えてお
り、基準位置センサー22を部品2が通過するとき、基
準位置信号23が主制御部21に与えられることから、
この両方の信号で部品2のx軸上の基準位置からの相対
位置を主制御部21が算出できる。When the component 2 picked up from the tray 3 moves on the x-axis by the x-axis robot 5, the encoder 24 always outputs an encoder signal (AB phase, Z phase or a signal equivalent thereto) 25 to the main control unit. Since the reference position signal 23 is given to the main control unit 21 when the component 2 passes through the reference position sensor 22,
The main control unit 21 can calculate the relative position of the component 2 from the reference position on the x-axis based on these two signals.
【0052】一方、3Dセンサー8内にあるポリゴンミ
ラー12の回転量は、これが回転している間回転量信号
20として常に主制御部21に与えられており、これと
基準位置信号23とからポリゴンミラー12の基準位置
通過後の回転量を算出することができる。On the other hand, the rotation amount of the polygon mirror 12 in the 3D sensor 8 is always given to the main control unit 21 as the rotation amount signal 20 while the polygon mirror 12 is rotating. The amount of rotation of the mirror 12 after passing through the reference position can be calculated.
【0053】ここで、ポリゴンミラー12の回転量はそ
の速度に比例して増加し、x軸ロボット5の移動量も同
様のことが言える。一方、本実施の形態における3Dセ
ンサー8では、ポリゴンミラー12と3D画像撮像時の
x軸ロボット5は各々等速に回転・直進することを前提
としている。もしも、この条件が乱れる場合には、撮像
される3D画像の水平・垂直方向の一画素当たりの分解
能(画素サイズ)が速度ムラに応じてバラつくこととな
る。これは、計測精度上の誤差要因である。そこで本実
施の形態の電子部品実装装置では、上記構成の3Dセン
サー8で3D画像を主制御部21内にある画像メモリー
35に取り込むとともに、基本的に等速回転運動してい
るポリゴンミラー12と、サーボモーターなどのモータ
ーで駆動されているヘッド部7の間の動作の整合性を監
視・制御するために、ポリゴンミラー12の回転量信号
20とモーターのエンコーダー信号25とを用いるもの
である。Here, the amount of rotation of the polygon mirror 12 increases in proportion to its speed, and the same applies to the amount of movement of the x-axis robot 5. On the other hand, the 3D sensor 8 in the present embodiment is based on the premise that the polygon mirror 12 and the x-axis robot 5 at the time of capturing a 3D image rotate and go straight at a constant speed. If this condition is disturbed, the resolution (pixel size) per pixel in the horizontal and vertical directions of the captured 3D image will vary according to the speed unevenness. This is an error factor in measurement accuracy. Therefore, in the electronic component mounting apparatus according to the present embodiment, the 3D sensor 8 having the above-described configuration captures a 3D image into the image memory 35 in the main control unit 21, and the polygon mirror 12 that basically rotates at a constant speed. In order to monitor and control the consistency of the operation between the head units 7 driven by a motor such as a servomotor, the rotation amount signal 20 of the polygon mirror 12 and the encoder signal 25 of the motor are used.
【0054】図7において、26はエンコーダー信号2
5を受けてx軸ロボット5の基準位置からの移動量(距
離)を算出する移動量検出回路、27はエンコーダー信
号25を受けてx軸ロボット5の各時間での移動速度を
算出する移動速度検出回路、28はポリゴンミラー12
の回転量信号20を受けてx軸ロボット5の基準位置か
らの回転量を算出する回転量検出回路、29は回転量信
号20を受けてポリゴンミラー12の各時間での回転速
度を算出する回転速度検出回路、30はx軸ロボットの
動作とポリゴンミラー回転間の移動量の比較を行う第1
の比較回路、31はx軸ロボットの動作とポリゴンミラ
ー回転間の移動速度の比較を行う第2の比較回路、3
2,33は各々比較回路30,31の比較結果を格納す
る記憶回路、34は主制御部21の全体を制御・監視す
るプロセッサー回路、35は3D画像(高さ画像)を取
り込みまた記憶させておくための画像メモリー、36は
3Dセンサー8が送り出すPSD出力18a,18bを
画像メモリー35に取り込むための各種のタイミング信
号を発生するタイミング発生回路、37はPSD出力1
8a,18bを主制御部21が受け取るためのインター
フェース回路、38はPSD出力18a,18bを高さ
信号に変換・補正する高さ演算回路である。In FIG. 7, reference numeral 26 denotes an encoder signal 2
5, a movement amount detection circuit for calculating the movement amount (distance) of the x-axis robot 5 from the reference position, and a movement speed 27 for receiving the encoder signal 25 and calculating the movement speed of the x-axis robot 5 at each time. The detection circuit 28 is a polygon mirror 12
The rotation amount detection circuit 29 receives the rotation amount signal 20 and calculates the rotation amount of the x-axis robot 5 from the reference position, and receives the rotation amount signal 20 and calculates the rotation speed of the polygon mirror 12 at each time. A speed detection circuit for comparing a movement amount between the operation of the x-axis robot and the rotation of the polygon mirror;
A comparison circuit 31 for comparing the movement speed between the operation of the x-axis robot and the rotation of the polygon mirror;
Reference numerals 2 and 33 denote storage circuits for storing the comparison results of the comparison circuits 30 and 31, respectively; 34, a processor circuit for controlling and monitoring the entire main control unit 21; and 35, a 3D image (height image) which is fetched and stored. An image memory 36 stores a timing generation circuit for generating various timing signals for capturing the PSD outputs 18a and 18b sent from the 3D sensor 8 into the image memory 35, and 37 designates a PSD output 1
An interface circuit for the main control unit 21 to receive 8a and 18b, and a height calculation circuit 38 for converting and correcting the PSD outputs 18a and 18b to a height signal.
【0055】3Dセンサー8の発生するPSD出力18
a,18bは、インターフェース回路37によって主制
御部21に入力される。入力されたPSD出力18a,
18bは、基本的にPSD17a,17bが出力する原
信号であり、ソフトウェア的な処理を高さ画像に対して
施すためには、高さ変換・補正演算などの種々の演算を
PSD出力18a,18bに対して行う必要があり、高
さ演算回路38でこれを行う。高さ演算回路38で演算
された信号は、高さデータとして画像メモリー35に取
り込まれ、プロセッサー回路34によって種々のソフト
ウェア処理が施される。The PSD output 18 generated by the 3D sensor 8
a and 18 b are input to the main controller 21 by the interface circuit 37. The input PSD output 18a,
Basic signals 18b are the original signals output from the PSDs 17a and 17b. In order to perform software processing on the height image, various operations such as height conversion and correction operations are performed on the PSD outputs 18a and 18b. And the height calculation circuit 38 does this. The signal calculated by the height calculation circuit 38 is taken into the image memory 35 as height data, and subjected to various software processes by the processor circuit 34.
【0056】また、画像メモリー35への高さデータの
取り込みは、画像メモリー35の各水平行について逐次
行われるが、ポリゴンミラー12の回転量信号20を各
ポリゴン面の同期信号(基準信号)として用いるもので
ある。The height data is taken into the image memory 35 sequentially for each horizontal line in the image memory 35. The rotation amount signal 20 of the polygon mirror 12 is used as a synchronization signal (reference signal) for each polygon surface. It is used.
【0057】このような一連の撮像動作において、x軸
ロボット5の動作(つまり撮像対象部品の移動)とポリ
ゴンミラー12の動作は独立になされており、エンコー
ダー信号25を基にx軸ロボット5の移動量・速度を移
動量検出回路26および移動速度検出回路27で各々算
出し、ポリゴンミラー12の回転量信号20を基にポリ
ゴンミラー12の回転量・回転速度を回転量検出回路2
8および回転速度検出回路29で各々算出して、x軸ロ
ボット5およびポリゴンミラー12の移動量と移動速度
とを比較回路30,31で比較し、比較結果を記憶回路
32,33に記憶することで、x軸ロボット5の移動お
よびポリゴンミラー12の回転の両動作の同期動作の監
視あるいは制御を行うものである。In such a series of imaging operations, the operation of the x-axis robot 5 (that is, the movement of the part to be imaged) and the operation of the polygon mirror 12 are performed independently, and the operation of the x-axis robot 5 is performed based on the encoder signal 25. The movement amount / speed is calculated by the movement amount detection circuit 26 and the movement speed detection circuit 27, respectively, and the rotation amount / speed of the polygon mirror 12 is calculated based on the rotation amount signal 20 of the polygon mirror 12.
8 and the rotation speed detection circuit 29, respectively, and compares the movement amount and the movement speed of the x-axis robot 5 and the polygon mirror 12 with the comparison circuits 30 and 31, and stores the comparison result in the storage circuits 32 and 33. This monitors or controls the synchronous operation of both the movement of the x-axis robot 5 and the rotation of the polygon mirror 12.
【0058】監視の一例としては、前記比較回路30,
31の各比較回路において、その比較結果として差が許
容範囲内ならば、画像メモリーに記録されたデータを有
効なデータとして取り扱う一方、前記差が許容範囲外な
らば前記データを無効とするようにし、比較誤差が一定
以上大きい場合には撮像不良として、再度撮像し直す
か、あるいは比較結果を参照して、画像メモリー35内
の3D画像をソフトウェアないし付加回路を設けて正規
化や補正処理などが考えられる。As an example of monitoring, the comparison circuit 30,
In each of the comparing circuits 31, if the difference is within the allowable range as a result of the comparison, the data recorded in the image memory is treated as valid data, while if the difference is outside the allowable range, the data is invalidated. If the comparison error is larger than a certain value, it is determined that the image is defective, and the image is retaken, or the 3D image in the image memory 35 is provided with software or an additional circuit to perform normalization and correction processing by referring to the comparison result. Conceivable.
【0059】ここで、ポリゴンミラー12の回転量を移
動量に変換する一例を述べる。今、仮に、ポリゴンミラ
ー12が12面体であり、ポリゴンミラー12が30°
( = 360°÷12 )回転する間に、部品2が4
0μm移動するように設計されているとする。このと
き、画像取り込み開始後のポリゴンミラー12の回転量
を125.5回転とすると、部品2は、125.5(回
転)×12(面/回転)×40(μm)=60240
(μm)だけ移動していることになる。Here, an example of converting the rotation amount of the polygon mirror 12 into the movement amount will be described. Now, suppose that the polygon mirror 12 is a dodecahedron and the polygon mirror 12 is 30 °.
(= 360 ° ÷ 12) While rotating, part 2
It is assumed that it is designed to move by 0 μm. At this time, assuming that the rotation amount of the polygon mirror 12 after the start of image capturing is 125.5 rotations, the component 2 has 125.5 (rotation) × 12 (plane / rotation) × 40 (μm) = 60240
(Μm).
【0060】これを回路的に実現するには、ポリゴンミ
ラー12からの回転量信号20のパルス数(ポリゴンミ
ラー12の各面の基準点である面原点からの信号の数)
を画像取り込み中にカウントすればよい。前記の例で
は、125.5回転しているとき、125.5(回転)
×12(面原点数)=1506だけ面原点がカウントさ
れることになる。In order to realize this in a circuit, the number of pulses of the rotation amount signal 20 from the polygon mirror 12 (the number of signals from the plane origin which is the reference point of each plane of the polygon mirror 12)
May be counted during image capture. In the above example, 125.5 (rotation) when 125.5 rotation is performed
× 12 (number of plane origins) = 1506, the plane origin is counted.
【0061】よって、回転量信号20のパルス数が15
06個になると、部品2が40μm移動したとみなすこ
とができて、ポリゴンミラー12の回転量を移動量に変
換することができる。Therefore, the number of pulses of the rotation amount signal 20 is 15
When the number reaches 06, it can be considered that the component 2 has moved by 40 μm, and the rotation amount of the polygon mirror 12 can be converted into the movement amount.
【0062】また、図8は高さ演算回路38の内部構成
図であり、41はPSD出力18a,18bをA−D変
換するA−D変換回路、42はクロック発生回路、43
はクロック発生回路42から発生される複数のクロック
から一つを選択してA−D変換回路41や画像メモリー
35に一つの速さ(周波数)のクロックを与えるクロッ
ク速度変更手段としてのクロック選択回路、44はPS
D出力18a,18bについて三角測量の原理で計算す
る高さ変換回路、45はPSD17a,17bの面上に
結像する光の位置と測定対象に当たるレーザー光の位置
との間の非線形関係を補正する高さ補正回路であり、こ
こではクロック発生回路42によって発生される2つま
たはそれ以上の種類の周波数のクロックをクロック選択
回路43で選択して、主制御部21の内でこの信号を必
要とするA−D変換回路41や画像メモリー35などの
所要の回路に選択されたクロックを与え、同時にx軸ロ
ボットの動作速度をこのクロックの速さに反比例して加
減速させることで、特別な回路を付加することなく撮像
画像(3D画像)の水平・垂直方向の画素サイズを等し
いものに保ちながら、分解能を変更することが可能とな
る。FIG. 8 is a diagram showing the internal configuration of the height calculating circuit 38. Reference numeral 41 denotes an A / D conversion circuit for A / D converting the PSD outputs 18a and 18b; 42, a clock generation circuit;
Is a clock selection circuit as a clock speed changing means for selecting one from a plurality of clocks generated from a clock generation circuit 42 and providing a clock of one speed (frequency) to the A / D conversion circuit 41 and the image memory 35. , 44 is PS
A height conversion circuit 45 that calculates the D outputs 18a and 18b based on the principle of triangulation, and corrects a non-linear relationship between the position of light that forms an image on the surface of the PSDs 17a and 17b and the position of laser light that strikes a measurement target. This is a height correction circuit. In this case, two or more kinds of clocks generated by the clock generation circuit 42 are selected by the clock selection circuit 43, and this signal is required in the main control unit 21. The selected circuit is supplied to a required circuit such as the A / D conversion circuit 41 and the image memory 35, and at the same time, the operating speed of the x-axis robot is accelerated / decelerated in inverse proportion to the speed of the clock, thereby providing a special circuit. It is possible to change the resolution while keeping the horizontal and vertical pixel sizes of the captured image (3D image) equal without adding.
【0063】例えば、4MHzでA−D変換させてお
り、100mm/sでx軸ロボット5を移動させたと
き、水平・垂直方向の画素サイズが等しく50μm画素
であるとする。このとき8MHzのクロックを選択して
各所要の回路に与え、50mm/sでx軸ロボットを移
動させれば、取り込まれる画像の画素サイズ(分解能)
は25μm画素とすることができることになる。For example, it is assumed that the A / D conversion is performed at 4 MHz and the pixel size in the horizontal and vertical directions is equal to 50 μm when the x-axis robot 5 is moved at 100 mm / s. At this time, an 8 MHz clock is selected and given to each required circuit, and if the x-axis robot is moved at 50 mm / s, the pixel size (resolution) of the captured image is obtained.
Can be 25 μm pixels.
【0064】このとき、一行(水平行)当たりのデータ
ー量は2倍になり、且つ垂直方向についても同様のこと
がいえる。このため、2倍の分解能の画像を同一視野サ
イズ分だけ得ようとすると、4倍の画像メモリー35の
容量が必要になる。これについては、画像メモリー35
の容量拡大を選択するか、または分解能向上時には視野
サイズを限定して使用するかの選択になる。At this time, the data amount per row (horizontal row) is doubled, and the same can be said for the vertical direction. Therefore, in order to obtain an image with double resolution for the same visual field size, the capacity of the image memory 35 is quadrupled. For this, the image memory 35
It is a choice of whether to select a larger capacity or to limit the field of view when improving the resolution.
【0065】次に、主制御部21による画像取り込みか
ら画像処理動作における各信号との関係について、図7
と図8,図12と図13に基づいて説明する。部品2を
吸着する前記ヘッド部7を移動させるx軸ロボット5内
には前記モータが内蔵されており、前記モータに付加さ
れたエンコーダからは通常移動距離を表すAB相信号
と、ある固定位置(モータのある回転角度)を表すZ相
信号とが出力される。Next, the relationship between each signal in the image processing operation from the image capture by the main control unit 21 will be described with reference to FIG.
And FIG. 8, FIG. 12, and FIG. The motor is built in the x-axis robot 5 that moves the head unit 7 that adsorbs the component 2, and an AB-phase signal indicating a normal movement distance and a fixed position ( And a Z-phase signal representing a certain rotation angle of the motor).
【0066】このZ相信号と、基準位置を検出する位置
検出センサー(該センサーとしては、フォトセンサー、
またはホール素子などが用いられる)からの位置検出セ
ンサー信号との両方が受け取られると、画像データ取り
込み動作が開始される。The Z-phase signal and a position detection sensor for detecting a reference position (a photo sensor,
When both the position detection sensor signal and the position detection sensor signal are received, the image data capturing operation is started.
【0067】前記Z相信号と位置検出センサー信号との
両方が受け取られた後から画像データ取り込み開始まで
の時間は、ごく短いため、前記2種類の信号を受けて、
図13のように、ポリゴンミラー12の面原点を表す回
転量信号に同期して、レーザ発光と画像データ取り込み
の一連の動作は、プロセッサ回路を介さないでハードウ
ェア的に自動で行われるように、タイミング発生回路は
画像データ取り込みタイミングを出力する。The time from when both the Z-phase signal and the position detection sensor signal are received until the start of image data capture is very short.
As shown in FIG. 13, in synchronization with a rotation amount signal indicating the surface origin of the polygon mirror 12, a series of operations of laser emission and image data capture are automatically performed by hardware without a processor circuit. , The timing generation circuit outputs image data fetch timing.
【0068】この出力により、例えば1000行分の画
像データを取り込む。このように、回転量信号20が取
り込まれた時点をポリゴンミラー12の各面の基準位置
(面原点)として取り扱い、画像データ取り込みの開始
基準とする。そして、例えば1つの部品あたり1000
行の画像データを取り込む場合、1000行の画像デー
タを取り込むと、自動的に当該部品に対する画像取り込
みを終了するようにする。With this output, for example, image data for 1000 lines is fetched. In this way, the point in time when the rotation amount signal 20 is captured is treated as a reference position (surface origin) of each surface of the polygon mirror 12 and is used as a reference for starting image data capture. And, for example, 1000 per part
In the case where the image data of a row is taken in, when the image data of 1000 rows is taken in, the image taking in for the part concerned is automatically terminated.
【0069】各PSD出力18a,18bからは前記し
たように2つのアナログ信号が入力され、図12に示す
ようにアンプ回路202で増幅されたのち、これらの2
つのアナログ信号をインターフェース回路37を介して
高さ演算回路38のA−D変換回路41でA−D変換す
る。その後、PSD出力18a,18bのデジタル化し
た2つの信号のそれぞれを基に前記した高さ演算を行っ
てリードの高さ位置を算出する。ここで、前記デジタル
化した信号の値が許容範囲内ならば、正常なデータとし
て以後の処理を行う一方、許容範囲外ならば、異常なデ
ータとして以後の処理を停止する。すなわち、2つのP
SD出力18a,18bにおいて、一方の出力の値が許
容範囲内ならば、その許容範囲内のPSD出力のみ使用
し、両方の出力の値とも許容範囲内ならば両者の平均値
を取る。両方の出力の値とも許容範囲外ならば両方のP
SD出力についてのその後の処理は行わずに、エラーが
発生したとして処理する。As described above, two analog signals are input from the PSD outputs 18a and 18b, and are amplified by the amplifier circuit 202 as shown in FIG.
The two analog signals are A / D converted by the A / D conversion circuit 41 of the height calculation circuit 38 via the interface circuit 37. Thereafter, the above-described height calculation is performed based on each of the two digitized signals of the PSD outputs 18a and 18b to calculate the height position of the lead. Here, if the value of the digitized signal is within the allowable range, the subsequent processing is performed as normal data. If the value is out of the allowable range, the subsequent processing is stopped as abnormal data. That is, two P
In the SD outputs 18a and 18b, if the value of one of the outputs is within the allowable range, only the PSD output within the allowable range is used, and if the values of both outputs are within the allowable range, the average value of both is taken. If both output values are out of tolerance, both P
The subsequent processing for the SD output is not performed, and processing is performed assuming that an error has occurred.
【0070】このようにしてリード高さデータを演算し
たのち、高さ補正回路45で高さ補正を行う。この高さ
補正は、PSD17a,17bに対する入射光の位置が
線形に変化しても、PSD17a,17b上での位置が
線形に変化しないことに起因して行うものであり、予め
テーブルや曲線式を記憶しておき、上記演算された高さ
データを補正して、正確な高さデータとするものであ
る。After calculating the lead height data in this way, the height correction circuit 45 performs height correction. This height correction is performed because the position on the PSDs 17a and 17b does not change linearly even if the position of the incident light with respect to the PSDs 17a and 17b changes linearly. The calculated height data is stored and corrected to obtain accurate height data.
【0071】高さ補正された高さデータは、画像メモリ
ー回路35に入力されて、タイミング発生回路36から
得たタイミングをアドレスとして記憶させる。そして、
回転量検出回路28と移動量検出回路26との比較回路
30での比較結果として記憶回路32に記憶されたデー
タから、画像データが許容範囲内のものか否か判断す
る。許容範囲外ならば、画像メモリ回路35に記憶され
た画像データを無効なものとして取り扱う。許容範囲内
ならば、プロセッサー回路34から画像メモリー回路3
5に記憶されたデータを読み出して部品の位置決めなど
の画像処理が行われる。The height data corrected in height is input to the image memory circuit 35, and the timing obtained from the timing generation circuit 36 is stored as an address. And
It is determined from the data stored in the storage circuit 32 as a result of the comparison between the rotation amount detection circuit 28 and the movement amount detection circuit 26 by the comparison circuit 30 whether or not the image data is within the allowable range. If not, the image data stored in the image memory circuit 35 is treated as invalid. If it is within the allowable range, the processor circuit 34 sends the image memory circuit 3
5 is read out, and image processing such as positioning of components is performed.
【0072】以下に、より詳細に前記1つの部品2に対
する画像取り込み動作および取り込まれた画像の処理動
作の流れの一例を、図14に基づいて説明する。まず、
ステップ#60で部品2の画像取り込みを行う。An example of the flow of the image capturing operation for the one component 2 and the processing operation of the captured image will be described in more detail with reference to FIG. First,
In step # 60, the image of the component 2 is captured.
【0073】次いで、ステップ#61で、画像が取り込
まれた部品2のリードの位置決めを行う。この位置決め
には、種々の方法(アルゴリズム)があるが、ここでは
代表的なものを説明する。Next, in step # 61, the positioning of the lead of the component 2 from which the image has been captured is performed. There are various methods (algorithms) for this positioning, but a representative one will be described here.
【0074】まず、図15(a)に示すように、QFP
などの四角形の電子部品2の1つの辺のリードの傾きを
粗く検出する。次いで、図15(b)に示すように、検
出されたリードの中から任意に選択された2つのリード
の位置を大まかに検出する。First, as shown in FIG.
For example, the inclination of the lead on one side of the rectangular electronic component 2 is roughly detected. Next, as shown in FIG. 15B, the positions of two leads arbitrarily selected from the detected leads are roughly detected.
【0075】最後に、図15(c)に示すように、大ま
かに検出されたリード位置を基にリード位置を精度良く
検出する。このようにして、QFPのような四角形の部
品の1つの辺のリードの位置が検出されれば、このリー
ド位置を基に、他の辺のリードについては、図15
(c)に示すようにリード位置を精度良く検出すればよ
い。Finally, as shown in FIG. 15C, the lead position is accurately detected based on the roughly detected lead position. When the position of the lead on one side of a quadrangular component such as QFP is detected in this way, the lead on the other side is determined based on this lead position as shown in FIG.
The lead position may be detected with high accuracy as shown in FIG.
【0076】次いで、#62でリードピッチが適正か否
か判断する。適正であればステップ#63で前記したよ
うに各リードの高さの演算を行う。この高さの演算は、
図17に示すように、ステップ#61で求められたリー
ド位置情報から、各リードについてリード先端部204
(図中、斜線部分)周辺の複数の画素(図17での小さ
な各四角形に相当)の高さ情報(これは画像メモリーに
格納されているデータそのものである)を平均化するこ
とで、リード高さが求められる。位置決めで求められた
各リードの位置に、このリード高さを加えた情報
(xi,yi,zi)が各リードの3次元位置となる。た
だし、i=1,・・・,nで、nはリード本数である。
次いで、ステップ#64で仮想平面(シーティング・プ
レーン)の計算を行う。ここで、仮想平面について説明
する。Next, it is determined at # 62 whether or not the lead pitch is appropriate. If it is appropriate, the height of each lead is calculated in step # 63 as described above. The calculation of this height is
As shown in FIG. 17, from the lead position information obtained in step # 61, the leading end 204 of each lead is obtained.
By averaging the height information (this is the data itself stored in the image memory) of a plurality of pixels (corresponding to small squares in FIG. 17) around (hatched portions in the figure), the read is performed. Height is required. Information (x i , y i , z i ) obtained by adding the height of each lead to the position of each lead obtained by positioning is the three-dimensional position of each lead. Here, i = 1,..., N, and n is the number of leads.
Next, a virtual plane (seating plane) is calculated in step # 64. Here, the virtual plane will be described.
【0077】一般に、QFPなどの複数のリードを有す
る部品では、基板に実装されたとき、一部のリードが基
板の電極部から離れる、いわゆるリード浮きの状態が生
じる場合がある。部品を実装する前に部品のリードの浮
きを検出するための処理がステップ#65で行うリード
浮き検出であるが、この処理を部品がノズルに吸着され
た状態で行おうとすると、図16(a)に示すように部
品2が傾いてノズル7aに吸着されている可能性もある
ため、単純にリード各点の高さを求めるだけでは正確に
リードの浮きを求めることができない。そこで、部品を
実装したときの接地平面ととなる仮想平面を求めて、そ
の仮想平面から各リードまでの距離を求めて、リード浮
き量を評価する必要がある。In general, when a component having a plurality of leads such as a QFP is mounted on a board, a part of the leads may be separated from the electrode portion of the board, that is, a so-called lead floating state may occur. The process for detecting the floating of the lead of the component before mounting the component is the detection of the floating of the lead performed in step # 65. If this process is to be performed in a state where the component is sucked by the nozzle, FIG. Since there is a possibility that the component 2 is inclined and adsorbed to the nozzle 7a as shown in (2), it is not possible to accurately determine the height of each lead simply by determining the height of each point of the lead. Therefore, it is necessary to obtain a virtual plane that becomes a ground plane when components are mounted, obtain a distance from the virtual plane to each lead, and evaluate the floating amount of the lead.
【0078】なお、図16(a)において、201は基
準平面、200はノズル7aの吸着により部品2に生じ
た傾きによる2つのリードの高さ間の誤差(H1−H2)
を示している。In FIG. 16A, reference numeral 201 denotes a reference plane, and reference numeral 200 denotes an error (H 1 −H 2 ) between the heights of the two leads due to an inclination generated in the component 2 due to the suction of the nozzle 7a.
Is shown.
【0079】仮想平面202は、部品2の持つ3点のリ
ード位置から構成される平面であり、以下の2つの条件
を満たす平面が仮想平面202の構成点となりえる。 (1) 図16(b)に示すように、すべてのリード位
置が、仮想平面202より上方若しくは仮想平面上に存
在すること。The virtual plane 202 is a plane composed of three lead positions of the component 2, and a plane satisfying the following two conditions can be a constituent point of the virtual plane 202. (1) As shown in FIG. 16B, all lead positions are located above or on the virtual plane 202.
【0080】(2) 図16(c)に示すように、部品
2の重心を仮想平面202に投影した点(重心投影点)
203が、仮想平面202を構成するリード位置の3点
が生成する三角形内に存在すること。(2) As shown in FIG. 16C, a point where the center of gravity of the part 2 is projected on the virtual plane 202 (center of gravity projected point)
203 exists in the triangle generated by the three points of the lead positions constituting the virtual plane 202.
【0081】次いで、ステップ#63で演算された高さ
およびステップ#64で求められた仮想平面を基に、ス
テップ#65でリードの浮きが許容範囲内か否か判断す
る。リードの浮きは、すべてのリードについて、リード
の3次元位置から求められた仮想平面までの距離を計算
することにより行われる。この距離が、各リードの仮想
平面からのリード浮き量であり、この値が許容範囲内な
らば画像処理動作を終了する。許容範囲外ならば、ステ
ップ#67でリード浮きエラーとして画像処理動作を終
了する。また、ステップ#62でリードピッチが許容範
囲外ならば、ステップ#66でピッチエラーとして画像
処理動作を終了する。Next, based on the height calculated in step # 63 and the virtual plane obtained in step # 64, it is determined in step # 65 whether the float of the lead is within an allowable range. The lifting of the leads is performed by calculating the distance from the three-dimensional position of the leads to the virtual plane determined for all the leads. This distance is the amount of lead lift of each lead from the virtual plane, and if this value is within the allowable range, the image processing operation ends. If it is out of the allowable range, the image processing operation is terminated in step # 67 as a lead floating error. If the lead pitch is outside the allowable range in step # 62, the image processing operation is terminated as a pitch error in step # 66.
【0082】次に、画像取り込みタイミングのずれの補
正処理の一例について説明する。図12は、図7の主制
御部21と各装置との関係を示す図であり、検出回路2
6〜29、比較回路30,31、記憶回路32,33、
プロセッサー回路34とを1つのポリゴンミラー制御部
200として示されている。図13は画像取り込みタイ
ミングを示すタイミングチャートである。Next, an example of a process for correcting a shift in image capture timing will be described. FIG. 12 is a diagram showing the relationship between the main control unit 21 of FIG.
6 to 29, comparison circuits 30 and 31, storage circuits 32 and 33,
The processor circuit 34 is shown as one polygon mirror control unit 200. FIG. 13 is a timing chart showing the image capture timing.
【0083】図12と図13において、ヘッド部7の移
動に従って部品2が特定位置に位置したとき3次元セン
サー8が前記位置検出センサー信号を出力し、かつ部品
を移動させるモータのエンコーダ出力の1つで一定位置
を保証する、Z相が出るタイミングでポリゴンミラー制
御部200は画像データ取り込みのための準備動作に入
る。In FIGS. 12 and 13, when the component 2 is located at a specific position in accordance with the movement of the head 7, the three-dimensional sensor 8 outputs the position detection sensor signal, and the encoder output 1 of the motor for moving the component. The polygon mirror controller 200 enters a preparatory operation for taking in image data at the timing when the Z phase comes out.
【0084】この準備動作に入ったのち、実際の画像デ
ータの取り込みは、ポリゴンミラー12の面原点の検出
動作に同期して1ライン毎に取り込む。すなわち、ポリ
ゴンミラー12の面原点を示す回転量信号20が検出さ
れ、半導体レーザ10のレーザー光の発光がなされると
同時的に画像取り込みが行われるようにしている。After the preparation operation is started, actual image data is taken in line by line in synchronization with the operation of detecting the plane origin of the polygon mirror 12. That is, when the rotation amount signal 20 indicating the plane origin of the polygon mirror 12 is detected and the laser light of the semiconductor laser 10 is emitted, the image is taken in at the same time.
【0085】このとき、図13に示すように、ヘッド部
7が画像データ取り込み開始位置に位置してから、実際
に画像データ取り込み動作に入るにはタイムラグがあ
る。このタイムラグは、ヘッド部7とポリゴンミラー1
2の動作が非同期であることから、画像取り込みまでに
部品2が移動してしまう量tと、回路的なセットアッブ
のために固定時間分「準備期間」として遅れが出る分と
によるものである。At this time, as shown in FIG. 13, there is a time lag from when the head section 7 is positioned at the image data fetching start position to when the image data fetching operation is actually started. This time lag is caused by the head 7 and the polygon mirror 1
2 is asynchronous, the amount of movement t of the component 2 by the time the image is captured, and the delay of a fixed time “preparation period” due to circuit setup. .
【0086】前記タイムラグ後に、1フレーム分の画像
がポリゴンミラー12の同期で取り込まれる。よって、
部品2が3次元センサー8の画像取り込み開始位置に位
置してから、3次元センサー8のポリゴンミラー12が
走査開始位置に位置するまでの時間に部品2が移動する
距離を、部品を移動させているモータのエンコーダ出力
(AB相)を計数回路300で回路的に計数して求め、
処理回路34に出力する。そして、その結果に基づいて
部品2の位置決めを行うようにすれば、タイミングのず
れのバラツキに伴う位置決め精度の低下を防止すること
ができて、位置決めをより高精度に行うことができる。After the time lag, one frame's worth of image is captured in synchronization with the polygon mirror 12. Therefore,
By moving the component by the distance that the component 2 moves in the time from when the component 2 is located at the image capturing start position of the three-dimensional sensor 8 to when the polygon mirror 12 of the three-dimensional sensor 8 is located at the scanning start position. The encoder output (AB phase) of the motor is counted and obtained in a circuit by a counting circuit 300,
Output to the processing circuit 34. If the positioning of the component 2 is performed based on the result, it is possible to prevent a decrease in the positioning accuracy due to a variation in the timing shift, and to perform the positioning with higher accuracy.
【0087】上記の実施の形態では、ヘッド部7が1つ
の吸着ノズルで1つの電子部品2を吸着する場合につい
て述べたが、ヘッド部7が複数のノズルを備えている場
合にも本発明は適用できる。また、このように複数のノ
ズルで複数の部品を吸着した状態で、連続的に位置決め
および部品形状検査を行うとき、例えば、1つの部品当
たり1000行の画像データを取り込むとした場合、4
個のノズルでは、4000行の画像データを取り込み、
1000行ごとに1つの部品の画像データとして取り扱
う。In the above embodiment, the case where the head 7 sucks one electronic component 2 with one suction nozzle has been described. However, the present invention is also applicable to the case where the head 7 has a plurality of nozzles. Applicable. Further, when positioning and component shape inspection are continuously performed in such a state that a plurality of components are sucked by a plurality of nozzles, for example, when it is assumed that 1000 rows of image data are taken in for each component, 4
Each nozzle takes in 4000 rows of image data,
It is handled as image data of one component for every 1000 lines.
【0088】タクトタイムの中に占める部品の位置決め
と3次元形状の検査に関する時間は極めて大きいもので
ある。しかしながら、本発明によれば、複数ノズルで複
数の部品を連続して3Dセンサーで3次元画像を取り込
み、引き続いて順次装着するとき、部品の取り出しから
装着対象基板までの部品移動に関する時間は、1ノズル
1部品であっても、複数ノズル複数部品であっても、ほ
ぼ一定であり、タクトタイムの短縮の点で特に効果が大
きい。The time required for component positioning and three-dimensional shape inspection in the tact time is extremely long. However, according to the present invention, when a plurality of components are successively captured with a 3D sensor by a plurality of nozzles and a three-dimensional image is successively mounted, the time required for component movement from the removal of the component to the mounting target board is one. Regardless of whether it is a single part of a nozzle or a multiple part of a plurality of nozzles, it is substantially constant, and the effect is particularly great in terms of shortening the tact time.
【0089】また、このように複数のノズルを備えたヘ
ッド部7では、図18に示すように、電子部品2の装着
順を考慮して、画像処理順を適宜変更可能とすることも
できる。すなわち、例えば4本のノズル(No.1〜N
o.4)がこの順に部品2を吸着して画像データを画像
メモリ回路35に取り込む一方、No.4〜No.1の
順に4本のノズルが基板に対して実装を行うとき、各部
品の画像データを取り込む毎に、取り込まれた画像デー
タの画像処理を他の部品の画像データの画像処理よりも
優先して行うべきか否か判断して、最も優先させるべき
部品の画像処理を優先して行うこともできる。In the head unit 7 having a plurality of nozzles as described above, the image processing order can be appropriately changed in consideration of the mounting order of the electronic components 2 as shown in FIG. That is, for example, four nozzles (No. 1 to N
o. No. 4) picks up the component 2 in this order and loads the image data into the image memory circuit 35, while No. 4 picks up the image data. 4-No. When four nozzles are mounted on the board in the order of 1, every time image data of each component is captured, image processing of the captured image data is prioritized over image processing of image data of other components. It is also possible to judge whether or not to perform the process, and to prioritize the image processing of the component to be given the highest priority.
【0090】このような場合には、最も装着が早いもの
から順に画像処理を行うため、画像処理が終了すれば、
他の部品の画像処理中であっても実装を行うことができ
る。また、上記の説明からも明らかなように、分解能を
上げるためにはクロック速度の向上と同時に、x軸ロボ
ット5の速度を落とす必要がある。In such a case, since the image processing is performed in order from the earliest mounting, if the image processing is completed,
Mounting can be performed even during image processing of another component. Further, as is clear from the above description, in order to increase the resolution, it is necessary to reduce the speed of the x-axis robot 5 at the same time as improving the clock speed.
【0091】いずれにしても、QFPやコネクターなど
の部品の狭ピッチ化に対応するためには、画像の高分解
能化が不可欠であり、一方である程度荒い分解能で計測
できる部品については極力速い走査で撮像したいことに
なる。そのような場合にこの高分解能化の手段は非常に
有効である。In any case, in order to cope with the narrow pitch of components such as QFPs and connectors, it is indispensable to increase the resolution of an image. You want to take an image. In such a case, the means for increasing the resolution is very effective.
【0092】なお、上記の実施の形態においては、ヘッ
ド部7のx軸ロボット5上の基準位置からの相対位置を
検出するためエンコーダ24の出力を用いていたが、x
軸ロボット5に直接リニアスケールを適用することによ
り、ヘッド部7の位置を検出することもできる。In the above-described embodiment, the output of the encoder 24 is used to detect the relative position of the head unit 7 from the reference position on the x-axis robot 5.
By applying a linear scale directly to the axis robot 5, the position of the head unit 7 can also be detected.
【0093】[0093]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、3次元画
像撮像手段を用いて高さ画像を撮像し、この3次元画像
撮像手段で取り込まれた3次元画像に対する画像処理を
行うことにより、一工程の中で、実装する電子部品の位
置決めと、リード浮き検査に代表される3次元的な部品
形状検査とを同時に行うことができる。As described above, according to the present invention, a height image is captured by using the three-dimensional image capturing means, and image processing is performed on the three-dimensional image captured by the three-dimensional image capturing means. In one step, positioning of an electronic component to be mounted and three-dimensional component shape inspection typified by lead floating inspection can be performed simultaneously.
【0094】そのため、リード浮き検査などの3次元形
状の検査が必要な部品を実装する際の実装タクトタイム
を短縮することができる。また、ヘッド部を移動させる
ヘッド部移動装置(例えばx軸またはy軸ロボット)の
動作速度を一定とし、この前後の実装動作のなかでも部
品移動の停止をなくすとともに、基本的に非同期な2軸
(例えば移動装置の移動方向沿いの駆動軸とポリゴンモ
ーター軸)を機械的に動作させて、3次元画像撮像手段
により3次元画像を撮像することにより、水平・垂直両
方向の画素サイズ(分解能)が保証可能なシステムとす
ることができる。Therefore, it is possible to reduce a mounting tact time when mounting a component that requires a three-dimensional shape inspection such as a lead floating inspection. In addition, the operation speed of a head unit moving device (for example, an x-axis or y-axis robot) for moving the head unit is kept constant, and during the mounting operation before and after this, the movement of the components is not stopped, and the two-axis basically asynchronous. (For example, a driving axis and a polygon motor axis along the moving direction of the moving device) are mechanically operated to capture a three-dimensional image by the three-dimensional image capturing means, so that the pixel size (resolution) in both the horizontal and vertical directions is reduced. The system can be guaranteed.
【0095】そのため、部品実装の際の撮像画像に対し
て水平・垂直両方向の画素サイズ(分解能)を保証する
ことができる。また、QFPやコネクター等の狭ピッチ
部品の実装の際には、その実装部品の撮像画像において
高分解能化した画像を取り込み、一方、ある程度荒い分
解能で計測できる部品の実装の際には、その実装部品の
撮像画像において画素の正規性を保ちつつ分解能を落と
して(高分解能化した場合に比べ)速い走査で撮像する
ことができる。Therefore, it is possible to guarantee the pixel size (resolution) in both the horizontal and vertical directions with respect to the captured image at the time of component mounting. Also, when mounting a narrow pitch component such as a QFP or a connector, a high-resolution image is captured in a captured image of the mounted component, while when mounting a component that can be measured with a somewhat coarse resolution, the mounting is performed. In the captured image of the component, the resolution can be reduced while maintaining the normality of the pixel (compared to the case where the resolution is increased), and the image can be captured by fast scanning.
【0096】そのため、QFPやコネクター等の狭ピッ
チ部品の実装の際には、その実装の高速化・高分解能化
(高精度化)に柔軟に対応することができる。Therefore, when mounting a narrow-pitch component such as a QFP or a connector, it is possible to flexibly cope with an increase in the speed and resolution (high accuracy) of the mounting.
【図1】本発明の実施の形態の電子部品実装装置の全体
概略図FIG. 1 is an overall schematic diagram of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実施の形態における3次元画像取り込みの説
明図FIG. 2 is an explanatory view of capturing a three-dimensional image in the embodiment.
【図3】同実施の形態における部品実装動作の説明図FIG. 3 is an explanatory diagram of a component mounting operation in the embodiment.
【図4】同実施の形態における3Dセンサーのx軸方向
の構成断面図FIG. 4 is a cross-sectional view of the configuration of the 3D sensor according to the embodiment in the x-axis direction.
【図5】同実施の形態における3Dセンサーのy軸方向
の構成断面図FIG. 5 is a sectional view of the configuration of the 3D sensor according to the embodiment in the y-axis direction.
【図6】同実施の形態における3Dセンサーからの出力
信号の説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of an output signal from a 3D sensor according to the embodiment.
【図7】同実施の形態における主制御部の内部構成図FIG. 7 is an internal configuration diagram of a main control unit in the embodiment.
【図8】同実施の形態における高さ演算回路の内部構成
図FIG. 8 is an internal configuration diagram of a height calculation circuit according to the embodiment;
【図9】従来の電子部品実装装置における実装工程図FIG. 9 is a mounting process diagram in a conventional electronic component mounting apparatus.
【図10】本発明の実施の形態の電子部品実装装置にお
ける実装工程図FIG. 10 is a mounting process diagram in the electronic component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図11】前記実施形態における高さ測定方法の例を示
す説明図FIG. 11 is an explanatory view showing an example of a height measuring method in the embodiment.
【図12】前記実施形態における主制御部と各装置との
関係を示す説明図FIG. 12 is an explanatory diagram showing a relationship between a main control unit and each device in the embodiment.
【図13】前記実施形態における画像取り込みタイミン
グを示すタイミングチャート図FIG. 13 is a timing chart showing image capture timing in the embodiment.
【図14】前記実施形態における画像取り込みから画像
処理までの動作を示すフローチャート図FIG. 14 is a flowchart showing an operation from image capture to image processing in the embodiment.
【図15】電子部品のリードの認識に関する一例として
のアルゴリズムを示す説明図FIG. 15 is an explanatory diagram showing an algorithm as an example regarding recognition of leads of an electronic component.
【図16】電子部品のリードの浮きの高さ測定に関する
説明図FIG. 16 is an explanatory diagram relating to measurement of the height of floating of a lead of an electronic component.
【図17】電子部品の各リードの高さ演算の説明図FIG. 17 is an explanatory diagram of calculating the height of each lead of an electronic component.
【図18】複数の電子部品の画像取り込みおよび画像処
理を行う場合の実施形態のタイミングチャート図FIG. 18 is a timing chart of an embodiment in a case where image capturing and image processing of a plurality of electronic components are performed.
4 トレー供給部 5 x軸ロボット 6a,6b y軸ロボット 7 ヘッド部 8 3次元センサー 10 半導体レーザー 12 ポリゴンミラー 17a,17b 半導体位置検出素子(PSD) 16a,16b 結像レンズ 21 主制御部 26 移動量検出回路 27 移動速度検出回路 28 回転量検出回路 29 回転速度検出回路 30 第1の比較回路 31 第2の比較回路 35 画像メモリー 43 クロック選択回路 Reference Signs List 4 tray supply unit 5 x-axis robot 6a, 6b y-axis robot 7 head unit 8 three-dimensional sensor 10 semiconductor laser 12 polygon mirror 17a, 17b semiconductor position detecting element (PSD) 16a, 16b imaging lens 21 main control unit 26 moving amount Detection circuit 27 Moving speed detection circuit 28 Rotation amount detection circuit 29 Rotation speed detection circuit 30 First comparison circuit 31 Second comparison circuit 35 Image memory 43 Clock selection circuit
Claims (7)
供給部と、 前記電子部品を保持するヘッド部と、 前記ヘッド部を移動させるヘッド部移動装置と、 前記ヘッド部の移動領域の下方に配設されかつレーザー
光によるライン走査を行うことにより前記ライン毎の高
さデータを得る3次元画像撮像手段と、 3次元画像撮像手段からの前記高さデータを3次元画像
データとして記憶する画像メモリーと、 前記電子部品の前記3次元画像データに対する画像処理
を行う制御部とを備えた電子部品実装装置。A component supply unit that supplies an electronic component to be mounted on a substrate; a head unit that holds the electronic component; a head unit moving device that moves the head unit; And a three-dimensional image capturing unit that obtains height data for each line by performing line scanning with a laser beam, and an image that stores the height data from the three-dimensional image capturing unit as three-dimensional image data An electronic component mounting apparatus, comprising: a memory; and a control unit that performs image processing on the three-dimensional image data of the electronic component.
垂直方向のレーザー光走査により得られる3次元画像を
画像メモリーに取り込むとともに、電子部品を移動させ
るヘッド部移動装置の動作速度を一定とするよう構成し
た請求項1に記載の電子部品実装装置。2. The control unit according to claim 1, wherein a three-dimensional image obtained by laser beam scanning in a direction perpendicular to a moving direction of the electronic component is taken into an image memory, and an operation speed of a head unit moving device for moving the electronic component is kept constant. The electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein:
めの電子部品移動装置と、 前記移動装置の下方に配設されたポリゴンミラーと、 前記ポリゴンミラーに対してレーザー光を発光する半導
体レーザーと、 前記ポリゴンミラーの廻りに配設された1つ以上の位置
検出素子と、 前記電子部品の底面に当たっているレーザー光を前記位
置検出素子の上に結像させる結像レンズとを設け、 前記半導体レーザーを、そのレーザー光が回転運動中の
前記ポリゴンミラーに当たって反射し、前記ポリゴンミ
ラー上を通過する電子部品の底面に当たるように配置
し、前記移動装置による電子部品のポリゴンミラー上で
の通過動作と前記ポリゴンミラーの回転運動によって発
生するレーザー走査とに基づいて、前記位置検出素子が
出力するデータを演算して得られる前記電子部品の3次
元画像を前記画像メモリーに取り込み、前記3次元画像
で電子部品の位置決めと部品形状検査とを行うことを特
徴とする電子部品実装装置。3. An electronic component moving device for moving an electronic component to be mounted on a substrate, a polygon mirror disposed below the moving device, and a semiconductor laser that emits laser light to the polygon mirror. And one or more position detecting elements disposed around the polygon mirror; and an imaging lens for forming an image of the laser light impinging on the bottom surface of the electronic component on the position detecting element; The laser is arranged so that the laser light is reflected by the rotating polygon mirror while rotating, and hits the bottom surface of the electronic component passing on the polygon mirror, and the moving device passes the electronic component on the polygon mirror. The data output by the position detecting element is calculated based on the laser scanning generated by the rotational movement of the polygon mirror. The captures 3-dimensional image of the electronic component in the image memory obtained Te, an electronic component mounting apparatus and performs positioning and the part shape inspection of the electronic component in the three-dimensional image.
を算出する移動量検出回路と、 ポリゴンミラーの回転量信号を受けて前記ポリゴンミラ
ーの基準位置からの回転量を算出する回転量検出回路
と、 前記電子部品移動装置の移動量と前記ポリゴンミラーの
回転量とを比較する第1の比較回路とを備えて、 第1比較回路での比較結果として、両者の差が許容範囲
内ならば、画像メモリーに記録されたデータを有効なデ
ータとして取り扱い、前記許容範囲外ならばデータを無
効とするようにした請求項3に記載の電子部品実装装
置。A moving amount detecting circuit for calculating a moving amount of the electronic component moving device from a reference position; A first comparison circuit that compares the amount of movement of the electronic component moving device with the amount of rotation of the polygon mirror. If the difference between the two is within an allowable range, 4. The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the data recorded in the image memory is treated as valid data, and the data is invalid if the data is outside the allowable range.
算出する移動速度検出回路と、 ポリゴンミラーの回転量信号を受けて前記ポリゴンミラ
ーの各時間での回転速度を算出する回転速度検出回路
と、 前記電子部品移動装置の移動速度と前記ポリゴンミラー
の回転速度とを比較する第2の比較回路とを備えて、 第2比較回路での比較結果として、両者の差が許容範囲
内ならば、画像メモリーに記録されたデータを有効なデ
ータとして取り扱い、前記許容範囲外ならば前記データ
を無効とするようにした請求項3または請求項4に記載
の電子部品実装装置。5. A moving speed detecting circuit for calculating a moving speed of an electronic component moving device at each time, and a rotating speed detecting device for receiving a rotation amount signal of a polygon mirror and calculating a rotating speed of the polygon mirror at each time. A second comparison circuit that compares a moving speed of the electronic component moving device with a rotation speed of the polygon mirror. If a difference between the two is within an allowable range as a result of the comparison by the second comparing circuit, 5. The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the data recorded in the image memory is treated as valid data, and the data is invalid if the data is outside the allowable range.
の速度を変更するクロック速度変更手段を備え、 前記3次元画像に対して高分解能が必要な場合には、前
記クロック速度変更手段により基本クロックを高速にす
るとともに、電子部品移動装置の移動速度を低速にし、
前記3次元画像の取り込みに高速性が必要な場合には、
前記クロック速度変更手段により前記基本クロックを低
速にするとともに、前記電子部品移動装置の移動速度を
高速にする請求項3〜請求項5のいずれかに記載の電子
部品実装装置。6. A clock speed changing means for changing a speed of a basic clock for taking in a three-dimensional image, wherein when a high resolution is required for the three-dimensional image, the clock speed changing means changes the basic clock. And moving the electronic component moving device at a low speed,
If high speed is required to capture the three-dimensional image,
6. The electronic component mounting apparatus according to claim 3, wherein the clock speed changing unit lowers the basic clock and increases the moving speed of the electronic component moving device.
したのち、レーザ光での走査開始位置に位置するまでの
時間に、前記電子部品が移動する距離を計算する計算手
段を備え、 前記計算手段により計算された距離を考慮して、3次元
画像で前記電子部品の位置決めを行うようにした請求項
3〜請求項6のいずれかに記載の電子部品実装装置。7. A calculating means for calculating a moving distance of the electronic component during a time from when the electronic component is positioned at the image capturing start position to when it is positioned at the scanning start position by laser light, The electronic component mounting apparatus according to any one of claims 3 to 6, wherein the electronic component is positioned in a three-dimensional image in consideration of the distance calculated by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10557997A JP3578588B2 (en) | 1996-04-23 | 1997-04-23 | Electronic component mounting equipment |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10074496 | 1996-04-23 | ||
JP8-100744 | 1996-04-23 | ||
JP10557997A JP3578588B2 (en) | 1996-04-23 | 1997-04-23 | Electronic component mounting equipment |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004151123A Division JP3926347B2 (en) | 1996-04-23 | 2004-05-21 | Electronic component mounting equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1051195A true JPH1051195A (en) | 1998-02-20 |
JP3578588B2 JP3578588B2 (en) | 2004-10-20 |
Family
ID=26441707
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10557997A Expired - Lifetime JP3578588B2 (en) | 1996-04-23 | 1997-04-23 | Electronic component mounting equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3578588B2 (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002195810A (en) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Three-dimensional measuring device |
JP2006153741A (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Ym Systems Kk | Apparatus, method and program for measuring three-dimensional shape |
JP2009004455A (en) * | 2007-06-19 | 2009-01-08 | Panasonic Corp | Component imaging method |
JP2010071946A (en) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Anritsu Corp | Substrate surface displacement measuring device |
KR101038496B1 (en) | 2005-03-11 | 2011-06-01 | 삼성테크윈 주식회사 | Component Mounter |
CN113739695A (en) * | 2020-05-27 | 2021-12-03 | 云米互联科技(广东)有限公司 | Image-based radio frequency connector detection method, detection device and storage medium |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9491411B2 (en) | 2013-07-25 | 2016-11-08 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method |
US9015928B2 (en) | 2013-07-25 | 2015-04-28 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Electronic component mounting apparatus |
US9332230B2 (en) | 2013-07-25 | 2016-05-03 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method |
CN110966937B (en) * | 2019-12-18 | 2021-03-09 | 哈尔滨工业大学 | A three-dimensional configuration splicing method of large components based on laser vision sensing |
-
1997
- 1997-04-23 JP JP10557997A patent/JP3578588B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002195810A (en) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Three-dimensional measuring device |
JP2006153741A (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Ym Systems Kk | Apparatus, method and program for measuring three-dimensional shape |
KR101038496B1 (en) | 2005-03-11 | 2011-06-01 | 삼성테크윈 주식회사 | Component Mounter |
JP2009004455A (en) * | 2007-06-19 | 2009-01-08 | Panasonic Corp | Component imaging method |
JP2010071946A (en) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Anritsu Corp | Substrate surface displacement measuring device |
CN113739695A (en) * | 2020-05-27 | 2021-12-03 | 云米互联科技(广东)有限公司 | Image-based radio frequency connector detection method, detection device and storage medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3578588B2 (en) | 2004-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100318875B1 (en) | Electronic component mounting apparatus | |
US6610991B1 (en) | Electronics assembly apparatus with stereo vision linescan sensor | |
US6606788B1 (en) | Component recognizing method and apparatus | |
EP0823037B1 (en) | Method and system for triangulation-based 3-d imaging utilizing an angled scanning beam of radiant energy | |
JP4315536B2 (en) | Electronic component mounting method and apparatus | |
JP3371764B2 (en) | Imaging method and apparatus | |
JP3578588B2 (en) | Electronic component mounting equipment | |
JP3926347B2 (en) | Electronic component mounting equipment | |
JP2003035517A (en) | Lead pin pitch/levelness testing device using two- dimensional laser displacement sensor | |
JP4546635B2 (en) | Electronic component mounting method and apparatus | |
US7843573B2 (en) | Component shape profiling method and component mounting method | |
JP3945638B2 (en) | Inspection method and inspection apparatus | |
JP2008294065A (en) | Electronic component mounting method and apparatus | |
JP2000161916A (en) | Inspection device for semiconductor packages | |
JP3923168B2 (en) | Component recognition method and component mounting method | |
JP3949257B2 (en) | Component recognition method, component inspection, and mounting method | |
US6400459B1 (en) | Methods and apparatus for using optical sensors in component replacement heads | |
JP3883279B2 (en) | Electronic component mounting method and apparatus | |
JP3269816B2 (en) | Component mounting equipment | |
JP3258607B2 (en) | Surface inspection equipment | |
JP2003130619A (en) | Method and apparatus for detecting defective lead terminal of electronic component | |
JP3114941B2 (en) | Component mounting equipment | |
JP2884581B2 (en) | Teaching method of reference data in inspection device of mounted printed circuit board | |
JP4654693B2 (en) | Inspection image imaging device | |
JPH07169812A (en) | Method of wafer rotary-angle computing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040323 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040521 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040615 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040713 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070723 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080723 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100723 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110723 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110723 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120723 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120723 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723 Year of fee payment: 9 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |