[go: up one dir, main page]

JPH10340836A - Developing apparatus and developing method - Google Patents

Developing apparatus and developing method

Info

Publication number
JPH10340836A
JPH10340836A JP10767197A JP10767197A JPH10340836A JP H10340836 A JPH10340836 A JP H10340836A JP 10767197 A JP10767197 A JP 10767197A JP 10767197 A JP10767197 A JP 10767197A JP H10340836 A JPH10340836 A JP H10340836A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
nozzle
developing solution
discharge nozzle
rinsing liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10767197A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3580664B2 (en
Inventor
Masahiro Mimasaka
昌宏 美作
Hiroyuki Yoshii
弘至 吉井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP10767197A priority Critical patent/JP3580664B2/en
Publication of JPH10340836A publication Critical patent/JPH10340836A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3580664B2 publication Critical patent/JP3580664B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a developing apparatus and a developing method capable of uniform development at a low cost. SOLUTION: At the time of development, a substrate 100 is held in a standstill state by a substrate-holding part 1. While a developer ejection nozzle 11 is moved from a position on one side outside of the substrate 100 to the position on the other side outside of the substrate 100, passing through the substrate 100 along a rinsing liquid ejection nozzle 12, a developer is supplied onto the substrate 100 by the developer ejection nozzle 11. Thereafter, while the developer ejection nozzle 11 is moved from the position on the one side, outside the substrate 100 to the position on the other side, outside of the substrate 100 passing through the substrate 100 along with the rinsing liquid ejection nozzle 12, the rinsing liquid is supplied onto the substrate 100 by a rinsing liquid ejection nozzle 16.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上の感光性膜
に現像液を供給して現像処理を行う現像装置および現像
方法に関する。
The present invention relates to a developing apparatus and a developing method for performing a developing process by supplying a developing solution to a photosensitive film on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の
基板上に形成された感光性膜に現像処理を行うために現
像装置が用いられる。
2. Description of the Related Art A developing device is used for developing a photosensitive film formed on a substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk.

【0003】例えば、回転式現像装置は、基板を水平に
保持して鉛直軸の周りで回転させる回転保持部と、基板
の表面に現像液を供給する現像液吐出ノズルとを備え
る。現像液吐出ノズルは、水平面内で回動自在に設けら
れたノズルアームの先端に取り付けられており、基板の
上方位置と待機位置との間を移動することができる。
[0003] For example, a rotary developing device includes a rotation holding unit that holds a substrate horizontally and rotates it around a vertical axis, and a developer discharge nozzle that supplies a developer to the surface of the substrate. The developer discharge nozzle is attached to the tip of a nozzle arm rotatably provided in a horizontal plane, and can move between a position above the substrate and a standby position.

【0004】現像処理時には、現像液吐出ノズルが待機
位置から基板の上方に移動した後、基板上の感光性膜に
現像液を供給する。供給された現像液は、基板の回転に
よって基板の全面に塗り広げられ、感光性膜と接触す
る。表面張力により基板上に現像液を保持した状態(液
盛り)で一定時間基板を静止させることにより感光性膜
の現像が行われる。現像液の供給が終了すると、現像液
吐出ノズルはノズルアームの回動により基板の上方から
退いた待機位置に移動する。
[0004] During the developing process, the developing solution is supplied to the photosensitive film on the substrate after the developing solution discharge nozzle moves from the standby position to above the substrate. The supplied developer is spread over the entire surface of the substrate by the rotation of the substrate, and comes into contact with the photosensitive film. The development of the photosensitive film is performed by stopping the substrate for a certain period of time in a state in which the developer is held on the substrate by the surface tension (a liquid level). When the supply of the developer is completed, the developer discharge nozzle moves to a standby position retreated from above the substrate by the rotation of the nozzle arm.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の回転式現像装置では、回転する基板に吐出開始時
の現像液が当たることにより基板上の感光性膜が大きな
衝撃を受ける。その衝撃で現像液中に気泡が生じ、感光
性膜の表面に残留する微小な気泡が現像欠陥となる場合
がある。また、吐出開始時の現像液による衝撃で感光性
膜が損傷するおそれもある。
However, in the above-described conventional rotary developing device, the photosensitive film on the substrate is subjected to a large impact when the rotating substrate is exposed to the developing solution at the start of discharge. Bubbles are generated in the developer by the impact, and minute bubbles remaining on the surface of the photosensitive film may cause development defects. Further, the photosensitive film may be damaged by the impact of the developer at the start of the discharge.

【0006】そこで、スリット状吐出口を有する現像液
吐出ノズルから現像液を吐出しながら基板上の一端から
他端へ現像液吐出ノズルを直線状に移動させることによ
り、基板上に現像液を供給する現像方法が提案されてい
る。この現像方法によれば、基板上の感光性膜に衝撃が
加わらず、基板上に現像液が均一に供給される。しかし
ながら、現像液吐出ノズルを基板上で直線状に移動させ
るので、基板上で現像時間に差が生じる。それにより、
基板面内で現像均一性が悪くなり、現像後のパターン線
幅の均一性が低下する。
Therefore, the developer is supplied to the substrate by moving the developer discharge nozzle linearly from one end to the other end of the substrate while discharging the developer from the developer discharge nozzle having the slit-shaped discharge port. Developing methods have been proposed. According to this developing method, the photosensitive film on the substrate is not impacted, and the developer is uniformly supplied on the substrate. However, since the developer discharge nozzle is moved linearly on the substrate, a difference occurs in the development time on the substrate. Thereby,
The uniformity of development in the substrate surface is deteriorated, and the uniformity of the pattern line width after development is reduced.

【0007】本発明の目的は、低コストで均一な現像処
理を行うことができる現像装置および現像方法を提供す
ることである。
An object of the present invention is to provide a developing apparatus and a developing method capable of performing uniform developing processing at low cost.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段および発明の効果】Means for Solving the Problems and Effects of the Invention

【0009】第1の発明に係る現像装置は、基板を水平
姿勢で保持する基板保持手段と、現像液を吐出する現像
液吐出ノズルと、現像を停止させるためのリンス液を吐
出するリンス液吐出ノズルと、基板保持手段に静止状態
で保持された基板外の一方側の位置から基板上を通過し
て基板外の他方側の位置まで現像液吐出ノズルをリンス
液吐出ノズルとともに移動させる移動手段とを備えたも
のである。
A developing device according to a first aspect of the present invention includes a substrate holding means for holding a substrate in a horizontal position, a developing solution discharging nozzle for discharging a developing solution, and a rinsing liquid discharging for discharging a rinsing liquid for stopping development. A nozzle and moving means for moving the developer discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle from one position outside the substrate held stationary by the substrate holding means to a position on the other side outside the substrate by passing over the substrate; It is provided with.

【0010】第1の発明に係る現像装置においては、現
像液吐出ノズルがリンス液吐出ノズルとともに静止した
基板外の一方側の位置から基板上を通過して基板外の他
方側の位置まで移動する。
In the developing device according to the first aspect of the present invention, the developer discharge nozzle moves together with the rinse liquid discharge nozzle from one position outside the stationary substrate to the other side outside the substrate by passing over the substrate. .

【0011】この場合、現像液吐出ノズルにより基板上
に現像液を供給した後、リンス液吐出ノズルにより基板
上にリンス液を供給することにより現像を停止させるこ
とができる。したがって、基板上での現像時間を均一に
することが可能となる。また、現像液吐出ノズルがリン
ス液吐出ノズルとともに基板上を移動するので、移動手
段の構成が簡単かつ小型となり、省スペース化が図られ
る。これらの結果、低コストで均一な現像処理を行うこ
とが可能となる。
In this case, the development can be stopped by supplying the rinsing liquid onto the substrate by the rinsing liquid discharging nozzle after supplying the developing liquid onto the substrate by the developing liquid discharging nozzle. Therefore, the development time on the substrate can be made uniform. In addition, since the developer discharge nozzle moves on the substrate together with the rinse liquid discharge nozzle, the configuration of the moving means is simple and small, and space is saved. As a result, uniform development processing can be performed at low cost.

【0012】第2の発明に係る現像装置は、第1の発明
に係る現像装置の構成において、現像液吐出ノズルは、
基板の直径以上の幅で移動手段による移動方向とほぼ垂
直な方向にほぼ直線状に現像液を吐出し、リンス液吐出
ノズルは、基板の直径以上の幅で移動手段による移動方
向とほぼ垂直な方向にほぼ直線状にリンス液を吐出する
ものである。
A developing device according to a second aspect of the present invention is the developing device according to the first aspect, wherein the developing solution discharge nozzle comprises:
The developer is discharged substantially linearly in a direction substantially perpendicular to the moving direction by the moving means with a width equal to or larger than the diameter of the substrate, and the rinsing liquid discharge nozzle is substantially perpendicular to the moving direction by the moving means with a width larger than the diameter of the substrate. The rinse liquid is discharged substantially linearly in the direction.

【0013】この場合、現像液吐出ノズルの1回の走査
で現像液を基板上に均一に供給することができ、かつ現
像液の消費量が少なくなる。また、リンス液吐出ノズル
の1回の走査でリンス液を基板上に均一に供給すること
ができ、かつリンス液の消費量が少なくなる。
In this case, the developer can be uniformly supplied onto the substrate by one scanning of the developer discharge nozzle, and the consumption of the developer is reduced. Further, the rinse liquid can be uniformly supplied onto the substrate by one scan of the rinse liquid discharge nozzle, and the consumption of the rinse liquid is reduced.

【0014】第3の発明に係る現像装置は、第1または
第2の発明に係る現像装置の構成において、移動手段に
より現像液吐出ノズルをリンス液吐出ノズルとともに基
板上を一方向に移動させつつ現像液吐出ノズルによる現
像液の吐出を行った後、移動手段により現像液吐出ノズ
ルをリンス液吐出ノズルとともに一方向に移動させつつ
リンス液吐出ノズルによるリンス液の吐出を行う制御手
段をさらに備えたものである。
A developing device according to a third aspect of the present invention is the developing device according to the first or second aspect, wherein the moving means moves the developing solution discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle on the substrate in one direction. After the developing solution is discharged by the developing solution discharging nozzle, the developing device further includes control means for discharging the rinsing liquid by the rinsing liquid discharging nozzle while moving the developing solution discharging nozzle in one direction together with the rinsing liquid discharging nozzle by the moving means. Things.

【0015】この場合、現像液吐出ノズルを一方向に走
査させた後、リンス液吐出ノズルを同一方向に走査させ
ることにより、基板上の各部分で現像液吐出ノズルによ
る現像液の供給からリンス液吐出ノズルによるリンス液
の供給までの時間が等しくなる。それにより、基板面内
で現像時間が均一となり、現像パターンの線幅均一性が
向上する。
In this case, after the developing solution discharge nozzle is scanned in one direction, the rinsing solution discharging nozzle is scanned in the same direction, so that the supply of the developing solution by the developing solution discharging nozzle to the rinsing solution The time until the supply of the rinse liquid by the discharge nozzle becomes equal. As a result, the developing time becomes uniform in the substrate surface, and the line width uniformity of the developed pattern is improved.

【0016】第4の発明に係る現像装置は、第1または
第2の発明に係る現像装置の構成において、移動手段に
より現像液吐出ノズルをリンス液吐出ノズルとともに基
板上を一方向に移動させつつ現像液吐出ノズルによる現
像液の吐出を行った後、基板保持手段に保持された基板
を鉛直方向の軸の周りで180度回転させ、移動手段に
より現像液吐出ノズルをリンス液吐出ノズルとともに一
方向と逆の方向に移動させつつリンス液吐出ノズルによ
るリンス液の吐出を行う制御手段をさらに備えたもので
ある。
A developing device according to a fourth aspect of the present invention is the developing device according to the first or second aspect, wherein the moving means moves the developing solution discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle on the substrate in one direction. After the developing solution is discharged by the developing solution discharge nozzle, the substrate held by the substrate holding means is rotated by 180 degrees around a vertical axis, and the developing solution discharging nozzle is moved in one direction together with the rinsing liquid discharging nozzle by the moving means. Control means for discharging the rinsing liquid by the rinsing liquid discharging nozzle while moving the rinsing liquid in the opposite direction.

【0017】この場合、現像液吐出ノズルを一方向に走
査させた後、基板を180度回転させ、リンス液吐出ノ
ズルを逆方向に走査させることにより、基板上の各部分
で現像液吐出ノズルによる現像液の供給からリンス液吐
出ノズルによるリンス液の供給までの時間が等しくな
る。それにより、基板面内で現像時間が均一となり、現
像パターンの線幅均一性が向上する。
In this case, after the developing solution discharge nozzle is scanned in one direction, the substrate is rotated by 180 degrees, and the rinsing solution discharging nozzle is scanned in the opposite direction. The time from the supply of the developer to the supply of the rinse liquid by the rinse liquid discharge nozzle becomes equal. As a result, the developing time becomes uniform in the substrate surface, and the line width uniformity of the developed pattern is improved.

【0018】また、現像液吐出ノズルおよびリンス液吐
出ノズルの移動距離が短くなるので、現像処理に要する
時間が短縮され、現像装置の稼働率が向上する。
Further, since the moving distance of the developing solution discharge nozzle and the rinsing liquid discharging nozzle is shortened, the time required for the developing process is shortened, and the operating rate of the developing device is improved.

【0019】第5の発明に係る現像装置は、第3または
第4の発明に係る現像装置の構成において、制御手段
は、現像液の供給時に、現像液吐出ノズルが基板上に達
する前に現像液吐出ノズルによる現像液の吐出を開始さ
せるものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the configuration of the third or fourth aspect of the present invention, the control means controls the developing device to supply the developing solution before the developing solution discharge nozzle reaches the substrate. The discharge of the developer by the liquid discharge nozzle is started.

【0020】この場合、現像液吐出ノズルが静止した基
板上に達する前に現像液の吐出が開始されるので、吐出
開始時の現像液が基板に衝撃を与えることが回避され
る。それにより、現像液中の気泡の発生が抑制されて現
像欠陥の発生が防止されるとともに、衝撃による基板上
の感光性膜の損傷が防止される。
In this case, since the discharge of the developing solution is started before the developing solution discharging nozzle reaches the stationary substrate, it is possible to prevent the developing solution at the start of the discharging from giving an impact to the substrate. This suppresses the generation of bubbles in the developing solution and prevents the occurrence of development defects, and also prevents the photosensitive film on the substrate from being damaged by impact.

【0021】また、現像液吐出ノズルの移動中に空気に
接触する吐出口付近の現像液が基板外に廃棄され、現像
液吐出ノズルが基板上に到達した時点で現像液吐出ノズ
ルから新しい現像液が静止した基板上に供給される。そ
れにより、変質した現像液により現像欠陥が発生するこ
とが防止されるとともに、乾燥した現像液によるパーテ
ィクルが基板表面に付着することが防止される。
Further, while the developing solution discharge nozzle is moving, the developing solution near the discharge port that comes into contact with air is discarded outside the substrate, and when the developing solution discharging nozzle reaches the substrate, a new developing solution is discharged from the developing solution discharging nozzle. Is supplied on a stationary substrate. This prevents development defects caused by the deteriorated developer and prevents particles of the dried developer from adhering to the substrate surface.

【0022】第6の発明に係る現像装置は、第5の発明
に係る現像装置の構成において、制御手段は、現像液吐
出ノズルが基板上を通過した後に現像液吐出ノズルによ
る現像液の吐出を停止させるものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the configuration of the fifth aspect of the invention, the control means controls the discharge of the developer by the developer discharge nozzle after the developer discharge nozzle passes over the substrate. It is to stop.

【0023】この場合、現像液吐出ノズルが基板上を通
り過ぎた後に現像液の吐出が停止されるので、吐出停止
時の現像液の液だれにより基板表面に衝撃が加わること
が防止されるとともに、吐出停止時の衝撃により液盛り
中の現像液へ悪影響が与えられることが防止される。そ
れにより、現像欠陥の発生および現像後の感光性膜パタ
ーンの線幅均一性の劣化が防止される。
In this case, the discharge of the developing solution is stopped after the developer discharging nozzle passes over the substrate, so that the impact of the dripping of the developing solution at the time of stopping the discharging on the substrate surface is prevented, and It is possible to prevent the impact at the time of stopping the discharge from adversely affecting the developer in the liquid reservoir. As a result, occurrence of development defects and deterioration of line width uniformity of the photosensitive film pattern after development are prevented.

【0024】さらに、現像液吐出ノズルが基板上を通過
する間、新しい現像液が連続的に供給されるので、基板
上に現像液が均一に供給される。
Further, while the developing solution discharge nozzle passes over the substrate, new developing solution is continuously supplied, so that the developing solution is uniformly supplied onto the substrate.

【0025】第7の発明に係る現像装置は、第3〜第6
のいずれかの発明に係る現像装置の構成において、制御
手段は、リンス液の供給時に、リンス液吐出ノズルが基
板上に達する前にリンス液吐出ノズルによるリンス液の
吐出を開始させるものである。
[0025] The developing device according to the seventh aspect of the present invention comprises the third to sixth developing devices.
In the configuration of the developing device according to any one of the above aspects, the control means starts the discharge of the rinse liquid by the rinse liquid discharge nozzle before the rinse liquid discharge nozzle reaches the substrate when supplying the rinse liquid.

【0026】この場合、リンス液吐出ノズルが静止した
基板上に達する前にリンス液の吐出が開始されるので、
吐出開始時のリンス液が基板に衝撃を与えることが回避
される。それにより、リンス液中の気泡の発生が抑制さ
れて現像欠陥の発生が防止されるとともに、衝撃による
基板上の感光性膜の損傷が防止される。
In this case, the rinsing liquid discharge is started before the rinsing liquid discharge nozzle reaches the stationary substrate, so that
It is possible to prevent the rinsing liquid at the start of the discharge from giving an impact to the substrate. This suppresses the generation of bubbles in the rinsing liquid, thereby preventing the occurrence of development defects and preventing the photosensitive film on the substrate from being damaged by impact.

【0027】また、リンス液吐出ノズルの移動中に空気
に接触する吐出口付近のリンス液が基板外に廃棄され、
リンス液吐出ノズルが基板上に到達した時点でリンス液
吐出ノズルから新しいリンス液が静止した基板上に供給
される。それにより、変質したリンス液により現像欠陥
が発生することが防止されるとともに、乾燥したリンス
液によるパーティクルが基板表面に付着することが防止
される。
Further, the rinsing liquid near the discharge port which comes into contact with air during the movement of the rinsing liquid discharge nozzle is discarded outside the substrate,
When the rinse liquid discharge nozzle reaches the substrate, a new rinse liquid is supplied from the rinse liquid discharge nozzle onto the stationary substrate. This prevents development defects from occurring due to the altered rinsing liquid and prevents particles due to the dried rinsing liquid from adhering to the substrate surface.

【0028】第8の発明に係る現像装置は、第7の発明
に係る現像装置の構成において、制御手段は、リンス液
吐出ノズルが基板上を通過した後にリンス液吐出ノズル
によるリンス液の吐出を停止させるものである。
In the developing device according to an eighth aspect of the present invention, in the configuration of the developing device according to the seventh aspect, the control means controls the discharge of the rinse liquid by the rinse liquid discharge nozzle after the rinse liquid discharge nozzle has passed over the substrate. It is to stop.

【0029】この場合、リンス液吐出ノズルが基板上を
通り過ぎた後にリンス液の吐出が停止されるので、吐出
停止時のリンス液の液だれにより基板表面に衝撃が加わ
ることが防止されるとともに、吐出停止時の衝撃により
液盛り中の現像液へ悪影響が与えられることが防止され
る。それにより、現像欠陥の発生および現像後の感光性
膜パターンの線幅均一性の劣化が防止される。
In this case, since the discharge of the rinse liquid is stopped after the rinse liquid discharge nozzle has passed over the substrate, it is possible to prevent the dripping of the rinse liquid at the time of stopping the discharge from applying an impact to the substrate surface. It is possible to prevent the impact at the time of stopping the discharge from adversely affecting the developer in the liquid reservoir. As a result, occurrence of development defects and deterioration of line width uniformity of the photosensitive film pattern after development are prevented.

【0030】さらに、リンス液吐出ノズルが基板上を通
過する間、新しいリンス液が連続的に供給されるので、
基板上にリンス液が均一に供給される。
Further, while the rinsing liquid discharge nozzle passes over the substrate, new rinsing liquid is continuously supplied.
The rinsing liquid is uniformly supplied on the substrate.

【0031】第9の発明に係る現像装置は、第1〜第8
のいずれかの発明に係る現像装置の構成において、現像
液吐出ノズルによる現像液の吐出方向が鉛直下向きから
現像液吐出ノズルの移動方向と反対方向に傾けられたも
のである。
The developing device according to the ninth invention comprises the first to eighth developing devices.
In the configuration of the developing device according to any one of the above aspects, the discharge direction of the developer by the developer discharge nozzle is inclined from a vertically downward direction to a direction opposite to a moving direction of the developer discharge nozzle.

【0032】この場合、基板表面において現像液吐出ノ
ズルの移動方向への現像液の流動が抑制されるととも
に、移動方向とは逆方向への現像液の流動が誘起され
る。移動方向への現像液の流動が抑制されることによ
り、現像液が現像液吐出ノズルよりも移動方向側へ先行
して流れることが防止され、現像液の均一性が向上す
る。また、移動方向とは逆方向への現像液の流動が誘起
されることにより、マイクロバブルと呼ばれる現像液中
の微小な泡が基板表面に付着することが防止され、微小
な泡の付着による現像欠陥の発生が抑制される。
In this case, the flow of the developer in the direction of movement of the developer discharge nozzle on the substrate surface is suppressed, and the flow of the developer in the direction opposite to the direction of movement is induced. By suppressing the flow of the developing solution in the moving direction, the developing solution is prevented from flowing ahead of the developing solution discharge nozzle in the moving direction, and the uniformity of the developing solution is improved. In addition, since the flow of the developer in the direction opposite to the moving direction is induced, minute bubbles in the developer, called microbubbles, are prevented from adhering to the substrate surface, and the development due to the adhesion of the minute bubbles is prevented. The occurrence of defects is suppressed.

【0033】第10の発明に係る現像装置は、第1〜第
9の発明に係る現像装置の構成において、リンス液吐出
ノズルによるリンス液の吐出方向が鉛直下向きからリン
ス液吐出ノズルの移動方向と反対方向に傾けられたもの
である。
The developing device according to a tenth aspect of the present invention is the developing device according to the first to ninth aspects, wherein the rinsing liquid discharge direction of the rinsing liquid discharge nozzle from the rinsing liquid discharge nozzle is set in a direction perpendicular to the downward direction. It is tilted in the opposite direction.

【0034】この場合、基板表面においてリンス液吐出
ノズルの移動方向へのリンス液の流動が抑制されるとと
もに、移動方向とは逆方向へのリンス液の流動が誘起さ
れる。移動方向へのリンス液の流動が抑制されることに
より、リンス液がリンス液吐出ノズルよりも移動方向側
へ先行して不規則に流れることが防止されるので、直線
状に現像の停止を行うことができ、現像の均一性が向上
する。また、移動方向とは逆方向へのリンス液の流動が
誘起されることにより、リンス効果が向上する。
In this case, the flow of the rinsing liquid in the direction of movement of the rinsing liquid discharge nozzle on the substrate surface is suppressed, and the flow of the rinsing liquid in the direction opposite to the moving direction is induced. Since the flow of the rinsing liquid in the moving direction is suppressed, the rinsing liquid is prevented from flowing irregularly ahead of the rinsing liquid discharge nozzle in the moving direction, so that the development is stopped linearly. And the uniformity of development is improved. In addition, the rinsing effect is improved by inducing the flow of the rinsing liquid in the direction opposite to the moving direction.

【0035】第11の発明に係る現像装置は、第1〜第
10のいずれかの発明に係る現像装置の構成において、
現像液吐出ノズルおよびリンス液吐出ノズルは、水平方
向に配置されたスリット状吐出口をそれぞれ有し、移動
手段は、現像液吐出ノズルおよびリンス液吐出ノズルを
スリット状吐出口とほぼ垂直な方向に直線状に移動させ
るものである。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the developing device according to any one of the first to tenth aspects,
The developer discharge nozzle and the rinse liquid discharge nozzle each have a slit-shaped discharge port arranged in a horizontal direction, and the moving means moves the developer discharge nozzle and the rinse liquid discharge nozzle in a direction substantially perpendicular to the slit-shaped discharge port. It is moved in a straight line.

【0036】これにより、現像液およびリンス液を少な
い消費量で基板の全面に均一に供給することができる。
Thus, the developing solution and the rinsing solution can be uniformly supplied to the entire surface of the substrate with a small consumption.

【0037】第12の発明に係る現像方法は、基板保持
手段に静止状態で保持された基板上に現像液吐出ノズル
から現像液を吐出供給する現像方法であって、現像液吐
出ノズルから基板上に現像液を吐出させつつ現像液吐出
ノズルをリンス液吐出ノズルとともに基板外の一方側の
位置から基板上を通過して基板外の他方側の位置まで移
動させる工程と、リンス液吐出ノズルからリンス液を吐
出させつつ現像液吐出ノズルをリンス液吐出ノズルとと
もに基板外の一方側または他方側の位置から基板上を通
過して基板外の他方側または一方側の位置まで移動させ
る工程とを含むものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a developing method for supplying a developing solution from a developing solution discharge nozzle onto a substrate held in a stationary state by a substrate holding means. Moving the developing solution discharge nozzle together with the rinsing liquid discharging nozzle from one side outside the substrate to the other side outside the substrate while discharging the developing solution, and rinsing from the rinsing liquid discharging nozzle Moving the developing solution discharge nozzle together with the rinsing liquid discharge nozzle from one side or the other side outside the substrate to the other side or one side outside the substrate while discharging the liquid. .

【0038】本発明に係る現像方法においては、現像液
吐出ノズルにより基板上に現像液を供給した後、リンス
液吐出ノズルにより基板上にリンス液を供給することに
より現像を停止させることができる。したがって、基板
上での現像時間を均一にすることが可能となる。また、
現像液吐出ノズルがリンス液吐出ノズルとともに基板上
を移動するので、現像液吐出ノズルおよびリンス液吐出
ノズルを移動させる手段の構成が簡単かつ小型となり、
省スペース化が図られる。これらの結果、低コストで均
一な現像処理を行うことができる。
In the developing method according to the present invention, after the developing solution is supplied to the substrate by the developing solution discharge nozzle, the rinsing liquid is supplied to the substrate by the rinsing solution discharging nozzle to stop the development. Therefore, the development time on the substrate can be made uniform. Also,
Since the developer discharge nozzle moves on the substrate together with the rinse liquid discharge nozzle, the structure of the means for moving the developer discharge nozzle and the rinse liquid discharge nozzle becomes simple and compact,
Space saving is achieved. As a result, uniform development processing can be performed at low cost.

【0039】[0039]

【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例における
現像装置の平面図、図2は図1の現像装置の主要部のX
−X線断面図、図3は図1の現像装置の主要部のY−Y
線断面図である。
FIG. 1 is a plan view of a developing device according to an embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 3 is a sectional view taken along line X-Y of FIG.
It is a line sectional view.

【0040】図2および図3に示すように、現像装置
は、基板100を水平姿勢で吸引保持する基板保持部1
を備える。基板保持部1は、モータ2の回転軸3の先端
部に固定され、鉛直方向の軸の周りで回転可能に構成さ
れている。基板保持部1の周囲には、基板100を取り
囲むように円形の内側カップ4が上下動自在に設けられ
ている。また、内側カップ4の周囲には、正方形の外側
カップ5が設けられている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the developing device includes a substrate holding unit 1 for holding the substrate 100 in a horizontal posture by suction.
Is provided. The substrate holding unit 1 is fixed to a tip of a rotating shaft 3 of a motor 2 and is configured to be rotatable around a vertical axis. Around the substrate holding portion 1, a circular inner cup 4 is provided so as to freely move up and down so as to surround the substrate 100. A square outer cup 5 is provided around the inner cup 4.

【0041】図1に示すように、外側カップ5の両側に
はそれぞれ待機ポット6,7が配置され、外側カップ5
の一方の側部側にはガイドレール8が配設されている。
また、ノズルアーム9がアーム駆動部10によりガイド
レール8に沿って走査方向Aおよびその逆方向に移動可
能に設けられている。外側カップ5の他方の側部側に
は、洗浄用リンス液として純水を吐出する洗浄用のリン
ス液吐出ノズル12が矢印Rの方向に回動可能に設けら
れている。
As shown in FIG. 1, standby pots 6 and 7 are arranged on both sides of the outer cup 5, respectively.
A guide rail 8 is disposed on one side of the guide rail.
The nozzle arm 9 is provided so as to be movable in the scanning direction A and the opposite direction along the guide rail 8 by the arm driving unit 10. On the other side of the outer cup 5, a rinsing liquid discharge nozzle 12 for discharging pure water as a rinsing liquid for cleaning is provided rotatably in the direction of arrow R.

【0042】ノズルアーム9には、下端部にスリット状
吐出口15(図3参照)を有する現像液吐出ノズル11
がガイドレール8と垂直に取り付けられている。この現
像液吐出ノズル11には、現像停止用のリンス液吐出ノ
ズル16が取り付けられている。これにより、現像液吐
出ノズル11は、リンス液吐出ノズル16とともに待機
ポット6の位置から基板100上を通過して待機ポット
7の位置まで走査方向Aに沿って直線状に平行移動可能
となっている。図3に示すように、現像液吐出ノズル1
1は矢印Qの方向に回動可能に構成されている。
The nozzle arm 9 has a developing solution discharge nozzle 11 having a slit-like discharge port 15 (see FIG. 3) at the lower end.
Are mounted perpendicular to the guide rail 8. A rinse liquid discharge nozzle 16 for stopping development is attached to the developer discharge nozzle 11. Thereby, the developer discharge nozzle 11 can move in a straight line along the scanning direction A from the position of the standby pot 6 to the position of the standby pot 7 from the position of the standby pot 6 together with the rinse liquid discharge nozzle 16. I have. As shown in FIG. 3, the developer discharge nozzle 1
1 is configured to be rotatable in the direction of arrow Q.

【0043】図2に示すように、現像液吐出ノズル11
には、現像液供給系12により現像液が供給される。ま
た、リンス液吐出ノズル16には、リンス液供給系17
により現像停止用のリンス液が供給される。本実施例で
は、現像停止用のリンス液として純水が用いられる。制
御部13は、モータ2の回転動作、アーム駆動部10に
よる現像液吐出ノズル11の走査、現像液吐出ノズル1
1からの現像液の吐出およびリンス液吐出ノズル16か
らのリンス液の吐出を制御する。
As shown in FIG. 2, the developing solution discharge nozzle 11
Is supplied with a developer by a developer supply system 12. The rinsing liquid discharge nozzle 16 has a rinsing liquid supply system 17.
Supplies a rinse liquid for stopping the development. In this embodiment, pure water is used as a rinsing liquid for stopping the development. The control unit 13 controls the rotation operation of the motor 2, the scanning of the developer discharge nozzle 11 by the arm drive unit 10, the developer discharge nozzle 1
1 controls the discharge of the developer from the nozzle 1 and the discharge of the rinse liquid from the rinse liquid discharge nozzle 16.

【0044】本実施例では、基板保持部1が基板保持手
段に相当し、アーム駆動部10が移動手段に相当し、制
御部13が制御手段に相当する。
In this embodiment, the substrate holding unit 1 corresponds to a substrate holding unit, the arm driving unit 10 corresponds to a moving unit, and the control unit 13 corresponds to a control unit.

【0045】図4は現像液吐出ノズル11およびリンス
液吐出ノズル16の概略断面図である。また、図5は現
像液吐出ノズル11のスリット状吐出口15を示す図、
図6はリンス液吐出ノズル16の正面図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view of the developing solution discharge nozzle 11 and the rinsing solution discharge nozzle 16. FIG. 5 is a view showing a slit-shaped discharge port 15 of the developer discharge nozzle 11;
FIG. 6 is a front view of the rinsing liquid discharge nozzle 16.

【0046】図4に示すように、現像液吐出ノズル11
は現像液供給口19およびスリット状吐出口15を有す
る。図5に示すスリット状吐出口15のスリット幅tは
0.05〜0.5mmであり、本実施例では0.1mm
である。また、スリット状吐出口15の吐出幅Lは処理
対象となる基板100の直径と同じかまたはそれよりも
大きく設定されている。このスリット状吐出口15は現
像液吐出ノズル11の走査方向Aと垂直に配置される。
As shown in FIG. 4, the developing solution discharge nozzle 11
Has a developer supply port 19 and a slit-shaped discharge port 15. The slit width t of the slit-shaped discharge port 15 shown in FIG. 5 is 0.05 to 0.5 mm, and is 0.1 mm in this embodiment.
It is. Further, the discharge width L of the slit-shaped discharge port 15 is set to be equal to or larger than the diameter of the substrate 100 to be processed. This slit-shaped discharge port 15 is arranged perpendicular to the scanning direction A of the developer discharge nozzle 11.

【0047】この現像液吐出ノズル11の側壁にリンス
液吐出ノズル16が取り付けられている。図6に示すよ
うに、リンス液吐出ノズル16は管状部材20からな
り、その周壁にスリット状吐出口18が設けられてい
る。リンス液は、矢印で示すように、管状部材20の両
端部から供給される。スリット状吐出口18の吐出幅W
は処理対象となる基板100の直径と同じかまたはそれ
よりも大きく設定されている。このスリット状吐出口1
8は現像液吐出ノズル11の走査方向Aと垂直に配置さ
れる。
A rinse liquid discharge nozzle 16 is attached to the side wall of the developer discharge nozzle 11. As shown in FIG. 6, the rinsing liquid discharge nozzle 16 is formed of a tubular member 20, and a slit-shaped discharge port 18 is provided on a peripheral wall thereof. The rinsing liquid is supplied from both ends of the tubular member 20, as indicated by arrows. Discharge width W of slit-like discharge port 18
Is set to be equal to or larger than the diameter of the substrate 100 to be processed. This slit-shaped discharge port 1
Reference numeral 8 is arranged perpendicular to the scanning direction A of the developer discharge nozzle 11.

【0048】図7は現像液吐出ノズル11による現像液
の吐出方向を示す側面図である。図7に示すように、現
像液の供給時には、現像液吐出ノズル11は、現像液の
吐出方向Bが基板の法線方向(鉛直下向き)から走査方
向Aと反対側に角度α傾斜するように傾けられる。傾斜
角度αは0〜30°の範囲内であり、本実施例では20
°に設定される。
FIG. 7 is a side view showing the direction in which the developing solution is discharged by the developing solution discharging nozzle 11. As shown in FIG. 7, at the time of supplying the developing solution, the developing solution discharging nozzle 11 causes the discharging direction B of the developing solution to be inclined at an angle α from the normal direction of the substrate (vertically downward) to the side opposite to the scanning direction A. Can be tilted. The inclination angle α is in the range of 0 to 30 °, and is 20 in the present embodiment.
° set.

【0049】また、現像液吐出ノズル11は、現像液の
供給時にスリット状吐出口15が基板100の上面に対
して0.2〜5.0mm、より好ましくは0.2〜1.
0mmの間隔を保つように走査される。本実施例では、
現像液吐出ノズル11のスリット状吐出口15と基板1
00の上面との間隔が0.3±0.1mmに設定され
る。
Further, the developing solution discharge nozzle 11 has a slit-like discharge port 15 with respect to the upper surface of the substrate 100 of 0.2 to 5.0 mm, more preferably 0.2 to 1.
Scanning is performed so as to keep an interval of 0 mm. In this embodiment,
Slit-shaped discharge port 15 of developer discharge nozzle 11 and substrate 1
00 is set to 0.3 ± 0.1 mm.

【0050】図8はリンス液吐出ノズル16によるリン
ス液の吐出方向を示す側面図である。図8に示すよう
に、リンス液の供給時には、現像液吐出ノズル11は、
リンス液吐出ノズル16からのリンス液の吐出方向Cが
基板の法線方向(鉛直下向き)から走査方向Aと反対側
に角度β傾斜するように傾けられる。傾斜角度βは10
〜60°の範囲内であり、本実施例では30°に設定さ
れる。
FIG. 8 is a side view showing the direction in which the rinsing liquid is discharged by the rinsing liquid discharge nozzle 16. As shown in FIG. 8, at the time of supplying the rinsing liquid, the developer discharging nozzle 11
The discharge direction C of the rinse liquid from the rinse liquid discharge nozzle 16 is inclined from the normal direction of the substrate (vertically downward) to the side opposite to the scanning direction A by an angle β. The inclination angle β is 10
It is within the range of 60 °, and is set to 30 ° in this embodiment.

【0051】次に図9を参照しながら図1の現像装置の
動作の第1の例を説明する。現像処理時には、基板10
0は基板保持部1により静止状態で保持されている。
Next, a first example of the operation of the developing device of FIG. 1 will be described with reference to FIG. During the development process, the substrate 10
0 is held in a stationary state by the substrate holding unit 1.

【0052】まず、図9(a)に示すように、待機時に
は、現像液吐出ノズル11は、待機ポット6内の位置P
0に待機している。現像液の供給時には、現像液吐出ノ
ズル11が上昇した後、走査方向Aに移動し、外側カッ
プ5内の走査開始位置P1で下降する。
First, as shown in FIG. 9A, during standby, the developing solution discharge nozzle 11 is moved to the position P in the standby pot 6.
Waiting for 0. At the time of supplying the developing solution, the developing solution discharge nozzle 11 moves up in the scanning direction A after rising, and descends at the scanning start position P <b> 1 in the outer cup 5.

【0053】その後、現像液吐出ノズル11は、走査開
始位置P1から所定の走査速度で走査を開始する。この
時点では、現像液吐出ノズル11からまだ現像液の吐出
は行わない。本実施例では、走査速度は10〜500m
m/秒とする。
Thereafter, the developer discharge nozzle 11 starts scanning at a predetermined scanning speed from the scanning start position P1. At this time, the developer is not yet discharged from the developer discharge nozzle 11. In this embodiment, the scanning speed is 10 to 500 m
m / sec.

【0054】現像液吐出ノズル11の走査開始後、現像
液吐出ノズル11のスリット状吐出口15が基板100
上に到達する前に、吐出開始位置P2にて所定の流量で
現像液吐出ノズル11による現像液の吐出を開始する。
本実施例では、現像液の吐出流量は1.5L/分とす
る。
After the start of the scanning of the developing solution discharging nozzle 11, the slit-shaped discharging port 15 of the developing solution discharging nozzle 11
Before reaching the upper side, the discharge of the developer by the developer discharge nozzle 11 is started at a predetermined flow rate at the discharge start position P2.
In the present embodiment, the discharge flow rate of the developer is 1.5 L / min.

【0055】現像液吐出ノズル11は、現像液を吐出し
ながら吐出開始位置P2から基板100上を走査方向A
に直線状に移動する。これにより、基板100の全面に
現像液が連続的に供給される。供給された現像液は、表
面張力により基板100上に保持される。
The developer discharge nozzle 11 scans the substrate 100 from the discharge start position P2 in the scanning direction A while discharging the developer.
To move linearly. Thus, the developer is continuously supplied to the entire surface of the substrate 100. The supplied developer is held on the substrate 100 by surface tension.

【0056】現像液吐出ノズル11が基板100上を通
過した後、基板100上から外れた吐出停止位置P3で
現像液吐出ノズル11による現像液の吐出を停止させ
る。そして、現像液吐出ノズル11が外側カップ5内の
走査停止位置P4に到達した時点で現像液吐出ノズル1
1の走査を停止させる。
After the developer discharge nozzle 11 has passed over the substrate 100, the discharge of the developer by the developer discharge nozzle 11 is stopped at the discharge stop position P3 off the substrate 100. When the developer discharge nozzle 11 reaches the scan stop position P4 in the outer cup 5, the developer discharge nozzle 1
1 is stopped.

【0057】その後、現像液吐出ノズル11は、走査停
止位置P4で上昇した後、他方の待機ポット7の位置P
5まで移動し、待機ポット7内に下降する。
Thereafter, the developing solution discharge nozzle 11 rises at the scanning stop position P4, and then moves to the position P of the other standby pot 7.
5 and descends into the standby pot 7.

【0058】待機ポット7内では、現像液吐出ノズル1
1の先端に付着した現像液を水洗洗浄ノズル(図示せ
ず)で水洗洗浄し、その後残留する水滴を吸引ノズル
(図示せず)で吸引して除去する処理が行われる。な
お、これらの処理で発生する水滴の飛沫が処理中の基板
に飛び散らないように、待機ポット6,7は側壁で囲ま
れている(図3参照)。
In the standby pot 7, the developer discharging nozzle 1
The developer adhering to the tip of 1 is washed and washed with a washing and washing nozzle (not shown), and thereafter, the remaining water droplets are suctioned and removed by a suction nozzle (not shown). The standby pots 6 and 7 are surrounded by side walls so that water droplets generated in these processes do not scatter on the substrate being processed (see FIG. 3).

【0059】図9(b)に示すように、基板100上に
現像液が保持された状態を所定時間(例えば約60秒)
維持し、基板100上のフォトレジスト膜等の感光性膜
の現像を進行させる。このとき、通常は基板100を静
止させておくが、モータ2により基板保持部1を回転駆
動することにより、基板100上の現像液の流動による
現像むらが発生しない程度のごく低速(約5rpm以
下)で基板100を回転または間欠回転させてもよい。
なお、基板100を回転させる場合には、次のリンス液
供給処理の開始時点で基板100の向きが図9(a)の
現像液供給時と同じ向きになっていることが必要であ
る。
As shown in FIG. 9B, the state in which the developer is held on the substrate 100 is maintained for a predetermined time (for example, about 60 seconds).
While maintaining, the development of a photosensitive film such as a photoresist film on the substrate 100 is advanced. At this time, the substrate 100 is usually kept stationary, but by rotating the substrate holding unit 1 by the motor 2, a very low speed (approximately 5 rpm or less) that does not cause uneven development due to the flow of the developing solution on the substrate 100 is generated. ), The substrate 100 may be rotated or intermittently rotated.
When the substrate 100 is rotated, it is necessary that the orientation of the substrate 100 at the start of the next rinsing liquid supply process is the same as that at the time of supplying the developing solution in FIG.

【0060】この間に、現像液吐出ノズル11は、待機
ポット7内から上昇した後、走査方向Aと逆方向に移動
し、外側カップ5内の次の走査開始位置R1で下降す
る。この場合、現像液吐出ノズル11およびリンス液吐
出ノズル16が基板100上に保持された現像液に接触
しないように、現像液吐出ノズル11の下端を基板10
0の表面から3mm程度以上離した状態で移動させるこ
とが望ましい。
During this time, the developer discharge nozzle 11 moves up in the standby pot 7, moves in the direction opposite to the scanning direction A, and descends at the next scanning start position R 1 in the outer cup 5. In this case, the lower end of the developing solution discharge nozzle 11 is placed on the substrate 10 so that the developing solution discharging nozzle 11 and the rinsing solution discharging nozzle 16 do not contact the developing solution held on the substrate 100.
It is desirable to move it in a state where it is separated from the surface 0 by about 3 mm or more.

【0061】その後、図9(c)に示すように、現像液
吐出ノズル11は、リンス液吐出ノズル16とともに走
査開始位置R1から走査方向Aに所定の走査速度で走査
を開始する。この時点では、リンス液吐出ノズル16か
らまだリンス液の吐出は行わない。
Thereafter, as shown in FIG. 9C, the developing solution discharge nozzle 11 starts scanning at a predetermined scanning speed in the scanning direction A from the scanning start position R1 together with the rinse liquid discharging nozzle 16. At this point, the rinsing liquid has not yet been discharged from the rinsing liquid discharging nozzle 16.

【0062】現像液吐出ノズル11の走査開始後、リン
ス液吐出ノズル16のスリット状吐出口18が基板10
0上に到達する前に、吐出開始位置R2にて所定の流量
でリンス液吐出ノズル16によるリンス液の吐出を開始
する。リンス液の吐出流量は、現像液の吐出流量と同様
またはやや大流量とする。本実施例では、リンス液の吐
出流量は3.0L/分とする。
After the scanning of the developing solution discharge nozzle 11 is started, the slit-shaped discharge port 18 of the rinse solution discharge nozzle 16
Before reaching zero, the rinsing liquid discharge nozzle 16 starts rinsing liquid discharge at a predetermined flow rate at the discharge start position R2. The discharge flow rate of the rinsing liquid is the same as or slightly larger than the discharge flow rate of the developer. In this embodiment, the discharge flow rate of the rinsing liquid is 3.0 L / min.

【0063】現像液吐出ノズル11は、リンス液吐出ノ
ズル16からリンス液を吐出しながら吐出開始位置R2
から基板100上を走査方向Aに直線状に移動する。こ
れにより、基板100の全面にリンス液が連続的に供給
され、現像処理が停止される。
The developing solution discharge nozzle 11 discharges the rinsing liquid from the rinsing liquid
To move on the substrate 100 linearly in the scanning direction A. Thus, the rinsing liquid is continuously supplied to the entire surface of the substrate 100, and the developing process is stopped.

【0064】この場合、現像液吐出ノズル11およびリ
ンス液吐出ノズル16と基板100の表面との距離は、
特に限定されないが、現像液吐出ノズル11およびリン
ス液吐出ノズル16が基板100上に保持された現像液
に接触しないように現像液吐出ノズル11の下端を基板
100から3mm以上離すことが望ましい。これによ
り、基板100上の現像液の汚染が回避される。
In this case, the distance between the developer discharging nozzle 11 and the rinsing liquid discharging nozzle 16 and the surface of the substrate 100 is
Although not particularly limited, it is desirable that the lower end of the developing solution discharge nozzle 11 be separated from the substrate 100 by 3 mm or more so that the developing solution discharging nozzle 11 and the rinsing solution discharging nozzle 16 do not contact the developing solution held on the substrate 100. Thus, contamination of the developer on the substrate 100 is avoided.

【0065】現像液吐出ノズル11が基板100上を通
過した後、リンス液吐出ノズル16が基板100上から
外れた吐出停止位置R3でリンス液吐出ノズル16によ
るリンス液の吐出を停止させる。そして、現像液吐出ノ
ズル11が外側カップ5内の走査停止位置R4に到達し
た時点で現像液吐出ノズル11の走査を停止させる。
After the developing solution discharging nozzle 11 has passed over the substrate 100, the rinsing solution discharging nozzle 16 stops discharging the rinsing liquid at the discharging stop position R3 where the rinsing liquid discharging nozzle 16 is off the substrate 100. Then, when the developing solution discharge nozzle 11 reaches the scanning stop position R4 in the outer cup 5, the scanning of the developing solution discharge nozzle 11 is stopped.

【0066】その後、現像液吐出ノズル11は、走査停
止位置R4で上昇した後、走査方向Aと逆方向に移動
し、待機ポット6の位置で待機ポット6内に下降する。
Thereafter, the developer discharge nozzle 11 moves up in the scanning direction A after moving up in the scanning stop position R4, and descends into the standby pot 6 at the position of the standby pot 6.

【0067】なお、リンス液吐出ノズル16によるリン
ス液の供給は現像の停止を目的としているので、基板1
00上の現像液のすべてをリンス液で置換する必要はな
い。すなわち、リンス液が基板100に供給された時点
で現像液の規定度はリンス液で薄められて速やかに低下
する。そのため、基板100上の現像液にリンス液が供
給されると濃度の変化に敏感なフォトレジスト膜等の感
光性膜の現像反応は直ちに停止する。基板100上に残
留した現像液や現像液に溶解したレジスト成分等は次の
図9(d)の処理で洗浄される。
Since the supply of the rinsing liquid by the rinsing liquid discharge nozzle 16 is intended to stop the development, the substrate 1
It is not necessary to replace all of the developer on top with the rinse solution. That is, when the rinsing liquid is supplied to the substrate 100, the normality of the developing liquid is diluted with the rinsing liquid and quickly decreases. Therefore, when a rinsing liquid is supplied to the developing liquid on the substrate 100, the developing reaction of a photosensitive film such as a photoresist film sensitive to a change in concentration is immediately stopped. The developing solution remaining on the substrate 100 and the resist components dissolved in the developing solution are washed in the next process of FIG.

【0068】さらに、基板100上の全面で現像処理時
間の均一化を図るには、図9(c)のリンス液の供給時
において、図9(a)の現像液の供給時と同じ速度でリ
ンス液吐出ノズル16を走査させることが好ましい。し
かしながら、図9(c)におけるリンス液吐出ノズル1
6の走査速度が図9(a)における現像液吐出ノズル1
1の走査速度と厳密に同じである必要はなく、現像結果
に応じてリンス液吐出ノズル16の走査速度を調整して
もよい。
Further, in order to make the development processing time uniform over the entire surface of the substrate 100, the supply of the rinsing liquid shown in FIG. 9C is performed at the same speed as the supply of the developer shown in FIG. Preferably, the rinsing liquid discharge nozzle 16 is scanned. However, the rinsing liquid discharge nozzle 1 in FIG.
The scanning speed of the developing solution discharge nozzle 1 in FIG.
The scanning speed of the rinsing liquid discharge nozzle 16 need not be exactly the same as the first scanning speed, and may be adjusted in accordance with the development result.

【0069】次に、図9(d)に示すように、モータ2
により回転数1000rpm程度で基板100を回転さ
せ、洗浄用のリンス液吐出ノズル12から純水を基板1
00の中心部分および周辺部分に供給し、一定時間基板
100の表面を洗浄する。
Next, as shown in FIG.
The substrate 100 is rotated at a rotational speed of about 1000 rpm, and pure water is supplied from the rinse liquid discharge nozzle 12 for cleaning to the substrate 1.
The substrate 100 is supplied to the central portion and the peripheral portion of the substrate 100 to clean the surface of the substrate 100 for a certain time.

【0070】最後に、図9(e)に示すように、リンス
液吐出ノズル12によるリンス液の供給を停止し、モー
タ2により基板100を約4000rpm以上の高速で
回転させ、基板100からリンス液を振り切り、基板1
00を乾燥させる。
Finally, as shown in FIG. 9E, the supply of the rinsing liquid by the rinsing liquid discharge nozzle 12 is stopped, and the substrate 100 is rotated by the motor 2 at a high speed of about 4000 rpm or more. Shake off the substrate 1
Dry 00.

【0071】なお、図9(c)のリンス液の供給処理に
おける走査開始位置R1、吐出開始位置R2、吐出停止
位置R3および走査停止位置R4は、それぞれ図9
(a)の現像液の供給処理における走査開始位置P1、
吐出開始位置P2、吐出停止位置P3および走査停止位
置P4と一致しなくてもよく、現像液吐出ノズル11か
らの現像液およびリンス液吐出ノズル16からのリンス
液の着液位置を考慮してこれらの位置を必要に応じて調
整してもよい。
The scan start position R1, discharge start position R2, discharge stop position R3, and scan stop position R4 in the rinsing liquid supply process of FIG.
(A) the scanning start position P1 in the developer supply process;
The discharge start position P2, the discharge stop position P3, and the scan stop position P4 do not need to coincide with each other, and these positions are considered in consideration of the landing positions of the developer from the developer discharge nozzle 11 and the rinse liquid from the rinse liquid discharge nozzle 16. May be adjusted as needed.

【0072】また、走査開始位置P1と吐出開始位置P
2の順序、吐出停止位置P3と走査停止位置P4の順
序、走査開始位置Rと吐出開始位置R2の順序、および
吐出停止位置R3と走査停止位置R4の順序は、上記の
例に限らず、それぞれ互いに同時であってもよい。
The scanning start position P1 and the ejection start position P
2, the order of the discharge stop position P3 and the scan stop position P4, the order of the scan start position R and the discharge start position R2, and the order of the discharge stop position R3 and the scan stop position R4 are not limited to the above examples. It may be simultaneous with each other.

【0073】図10は基板100上での現像液吐出ノズ
ル11の走査を示す側面図である。上記のように現像液
の吐出方向が鉛直下向きから走査方向Aと反対方向に傾
けられているので、基板100の表面において走査方向
Aへの現像液の流動が抑制されるとともに、走査方向A
とは逆方向への現像液の流動が誘起される。走査方向A
への現像液の流動が抑制されることにより、現像液が現
像液吐出ノズル11よりも走査方向Aの側へ先行して流
れることが防止され、現像の均一性が向上する。走査方
向Aとは逆方向への現像液の流動が誘起されることによ
り、マイクロバブルと呼ばれる現像液中の微小な泡が基
板100上の感光性膜の表面に付着することが防止さ
れ、現像欠陥の発生が抑制される。
FIG. 10 is a side view showing the scanning of the developing solution discharge nozzle 11 on the substrate 100. As described above, the discharge direction of the developer is inclined from the vertically downward direction in the direction opposite to the scanning direction A, so that the flow of the developer in the scanning direction A on the surface of the substrate 100 is suppressed, and the scanning direction A
The flow of the developer in the opposite direction is induced. Scan direction A
By suppressing the flow of the developing solution to the developing solution, the developing solution is prevented from flowing ahead of the developing solution discharge nozzle 11 in the scanning direction A, and the uniformity of development is improved. By inducing the flow of the developing solution in the direction opposite to the scanning direction A, fine bubbles in the developing solution called microbubbles are prevented from adhering to the surface of the photosensitive film on the substrate 100, and The occurrence of defects is suppressed.

【0074】図11は基板100上でのリンス液吐出ノ
ズル16の走査を示す側面図である。上記のようにリン
ス液の吐出方向が鉛直下向きから走査方向Aと反対方向
に傾けられているので、基板100の表面において走査
方向Aへのリンス液の流動が抑制されるとともに、走査
方向Aとは逆方向へのリンス液の流動が誘起される。走
査方向Aへのリンス液の流動が抑制されることにより、
リンス液が走査方向Aの側に先行して不規則に流れるこ
とが防止されるので、現像の停止が直線状に進行し、し
たがって現像の均一性が向上する。また、走査方向Aと
は逆方向へのリンス液の流動が誘起されることにより、
リンス効果が向上する。
FIG. 11 is a side view showing scanning of the rinse liquid discharge nozzle 16 on the substrate 100. Since the discharge direction of the rinsing liquid is inclined from the vertically downward direction to the direction opposite to the scanning direction A as described above, the flow of the rinsing liquid in the scanning direction A on the surface of the substrate 100 is suppressed, and In this case, the flow of the rinsing liquid in the opposite direction is induced. By suppressing the flow of the rinsing liquid in the scanning direction A,
Since the rinsing liquid is prevented from flowing irregularly prior to the side in the scanning direction A, the development is stopped linearly, and the uniformity of the development is improved. Also, the flow of the rinsing liquid in the direction opposite to the scanning direction A is induced,
The rinsing effect is improved.

【0075】次に、図12を参照しながら図1の現像装
置の動作の第2の例を説明する。図12(a)に示す現
像液供給処理は、図9(a)に示した現像液供給処理と
同様である。
Next, a second example of the operation of the developing device of FIG. 1 will be described with reference to FIG. The developer supply process shown in FIG. 12A is the same as the developer supply process shown in FIG.

【0076】図12(b)に示すように、基板100上
に現像液が保持された状態を一定時間維持し、現像を進
行させる。この間に、モータ2により基板100を図1
2(a)の状態から180°回転させる。このとき、現
像液が流動を起こさないように、基板100の回転数は
約5rpm以下であることが望ましい。また、現像液吐
出ノズル11は、待機ポット7内から上昇した後、現像
液供給時の走査方向Aと逆の走査方向Dに移動し、走査
開始位置R1で下降する。
As shown in FIG. 12B, the state in which the developing solution is held on the substrate 100 is maintained for a certain period of time, and the development proceeds. During this time, the substrate 100 is moved by the motor 2 in FIG.
Rotate 180 ° from the state of 2 (a). At this time, the rotation speed of the substrate 100 is preferably about 5 rpm or less so that the developer does not flow. Further, the developer discharging nozzle 11 moves up in the standby pot 7, then moves in the scanning direction D opposite to the scanning direction A at the time of supplying the developer, and descends at the scanning start position R1.

【0077】この場合、リンス液吐出ノズル16の走査
方向Dが図9(c)の場合と反対であるので、リンス液
の吐出方向も図9(c)の場合と反対になるように現像
液吐出ノズル11を反対側に傾ける。
In this case, since the scanning direction D of the rinsing liquid discharge nozzle 16 is opposite to that in the case of FIG. 9C, the developing liquid is discharged so that the rinsing liquid discharge direction is also opposite to that of FIG. 9C. The ejection nozzle 11 is inclined to the opposite side.

【0078】その後、図12(c)に示すように、現像
液吐出ノズル11は、走査開始位置R1から走査方向D
に所定の走査速度で走査を開始する。この時点では、リ
ンス液吐出ノズル16からまだリンス液の吐出は行わな
い。
Thereafter, as shown in FIG. 12C, the developing solution discharge nozzle 11 is moved from the scanning start position R1 to the scanning direction D.
The scanning is started at a predetermined scanning speed. At this point, the rinsing liquid has not yet been discharged from the rinsing liquid discharging nozzle 16.

【0079】現像液吐出ノズル11の走査開始後、リン
ス液吐出ノズル16のスリット状吐出口18が基板10
0上に到達する前に、吐出開始位置R2にて所定の流量
でリンス液吐出ノズル16によるリンス液の吐出を開始
する。
After the start of the scanning of the developing solution discharging nozzle 11, the slit-shaped discharging port 18 of the rinsing solution discharging nozzle 16
Before reaching zero, the rinsing liquid discharge nozzle 16 starts rinsing liquid discharge at a predetermined flow rate at the discharge start position R2.

【0080】現像液吐出ノズル11は、リンス液吐出ノ
ズル16からリンス液を吐出しながら吐出開始位置R2
から基板100上を走査方向Dに直線状に移動する。こ
れにより、基板100の全面にリンス液が連続的に供給
され、現像処理が停止される。
The developer discharge nozzle 11 discharges the rinsing liquid from the rinsing liquid discharge nozzle 16 while discharging the rinse start position R2.
To move on the substrate 100 linearly in the scanning direction D. Thus, the rinsing liquid is continuously supplied to the entire surface of the substrate 100, and the developing process is stopped.

【0081】現像液吐出ノズル11が基板100上を通
過した後、リンス液吐出ノズル16が基板100上から
外れた吐出停止位置R3でリンス液吐出ノズル16によ
るリンス液の吐出を停止させる。そして、現像液吐出ノ
ズル11が外側カップ5内の走査停止位置R4に到達し
た時点で現像液吐出ノズル11の走査を停止させる。
After the developing solution discharging nozzle 11 has passed over the substrate 100, the rinsing liquid discharging nozzle 16 stops discharging the rinsing liquid at the discharging stop position R3 where the rinsing liquid discharging nozzle 16 is off the substrate 100. Then, when the developing solution discharge nozzle 11 reaches the scanning stop position R4 in the outer cup 5, the scanning of the developing solution discharge nozzle 11 is stopped.

【0082】その後、現像液吐出ノズル11は、走査停
止位置R4で上昇した後、待機ポット6の位置まで移動
し、待機ポット6内に下降する。図12(d)の洗浄処
理および図12(e)の乾燥処理は、図9(d),
(e)と同様である。
Thereafter, the developer discharge nozzle 11 moves up to the position of the standby pot 6 after rising at the scanning stop position R4, and descends into the standby pot 6. The cleaning process of FIG. 12D and the drying process of FIG.
Same as (e).

【0083】本実施例の現像装置では、現像液吐出ノズ
ル11が静止した基板100上に到達する前に現像液の
吐出が開始されるので、吐出開始時の現像液が基板10
0に衝撃を与えることが回避される。それにより、現像
液中の気泡の発生が抑制され、現像欠陥の発生が防止さ
れる。
In the developing device of the present embodiment, the discharge of the developing solution is started before the developing solution discharging nozzle 11 reaches the stationary substrate 100.
The impact on zero is avoided. Thereby, generation of bubbles in the developer is suppressed, and generation of development defects is prevented.

【0084】また、現像液吐出ノズル11の移動中に空
気に接触するスリット状吐出口15付近の現像液が基板
100外に廃棄され、現像液吐出ノズル11が基板10
0上に到達した時点で現像液吐出ノズル11から新しい
現像液が静止した基板100上に供給される。それによ
り、変質した現像液により現像欠陥が発生することが防
止されるとともに、乾燥した現像液によるパーティクル
が基板100上の感光性膜の表面に付着することが防止
される。
During the movement of the developing solution discharge nozzle 11, the developing solution in the vicinity of the slit-shaped discharge port 15 which comes into contact with air is discarded outside the substrate 100, and the developing solution discharging nozzle 11
At the time when the developer reaches 0, a new developer is supplied from the developer discharge nozzle 11 onto the stationary substrate 100. This prevents development defects caused by the deteriorated developer and prevents particles of the dried developer from adhering to the surface of the photosensitive film on the substrate 100.

【0085】さらに、現像液吐出ノズル11が静止した
基板100上をスリット状吐出口15と基板100の上
面とが近接した状態で水平方向に直線状に平行移動し、
スリット状吐出口15に形成された帯状の現像液が基板
100の表面に連続的に接触するので、基板100の表
面に衝撃が加わることなく基板100の全面に現像液が
均一に供給される。
Further, the developing solution discharge nozzle 11 is horizontally and linearly moved in parallel with the slit-shaped discharge port 15 and the upper surface of the substrate 100 on the substrate 100 on which the developing solution discharge nozzle 11 is stationary.
Since the strip-shaped developer formed in the slit-shaped discharge port 15 continuously contacts the surface of the substrate 100, the developer is uniformly supplied to the entire surface of the substrate 100 without applying an impact to the surface of the substrate 100.

【0086】また、現像液吐出ノズル11が基板100
上を通過するまで現像液の供給が続けられるので、吐出
停止時の衝撃による液盛り中の現像液への悪影響が防止
される。その結果、現像欠陥の発生が抑制されるととも
に、現像後の感光性膜パターンの線幅均一性が向上す
る。
Further, the developing solution discharge nozzle 11 is
Since the supply of the developer is continued until the developer passes above, an adverse effect on the developer in the liquid pool due to the impact at the time of stopping the discharge is prevented. As a result, the occurrence of development defects is suppressed, and the line width uniformity of the photosensitive film pattern after development is improved.

【0087】また、現像液吐出ノズル11が基板100
上を通り過ぎた後に現像液の吐出が停止されるので、吐
出停止時の現像液の液だれにより基板100上の感光性
膜に衝撃が加わることが防止される。したがって、現像
欠陥の発生や感光性膜パターンの線幅均一性の劣化が防
止される。
Further, the developing solution discharge nozzle 11 is
Since the discharge of the developer is stopped after passing over, the impact of the dripping of the developer at the time of stopping the discharge on the photosensitive film on the substrate 100 is prevented. Therefore, occurrence of development defects and deterioration of line width uniformity of the photosensitive film pattern are prevented.

【0088】さらに、リンス液吐出ノズル16が静止し
た基板100上に到達する前にリンス液の吐出が開始さ
れ、リンス液吐出ノズル16が基板100上を通り過ぎ
た後にリンス液の吐出が停止されるので、吐出開始時お
よび吐出停止時の衝撃による液盛り中の現像液への悪影
響が防止される。その結果、現像むらや現像欠陥がさら
に抑制される。
Further, the discharge of the rinse liquid is started before the rinse liquid discharge nozzle 16 reaches the stationary substrate 100, and the discharge of the rinse liquid is stopped after the rinse liquid discharge nozzle 16 has passed over the substrate 100. Therefore, an adverse effect on the developing solution in the liquid pool due to the impact at the start of discharge and at the stop of discharge is prevented. As a result, uneven development and development defects are further suppressed.

【0089】また、現像液の吐出方向が走査方向Aと反
対方向に傾けられているので、基板100の表面での走
査方向Aへの現像液の流動が抑制されるとともに、走査
方向Aとは逆方向への現像液の流動が誘起される。それ
により、現像の均一性が向上し、かつ現像欠陥の発生が
防止される。
Further, since the discharge direction of the developer is inclined in the direction opposite to the scanning direction A, the flow of the developer in the scanning direction A on the surface of the substrate 100 is suppressed, and The flow of the developer in the opposite direction is induced. Thereby, the uniformity of development is improved, and the occurrence of development defects is prevented.

【0090】また、リンス液の吐出方向が走査方向と反
対方向に傾けられているので、基板100の表面での走
査方向へのリンス液の流動が抑制されるとともに、走査
方向とは逆方向へのリンス液の流動が誘起される。それ
により、現像の均一性が向上し、かつリンス効果が向上
する。
Further, since the discharge direction of the rinsing liquid is inclined in the direction opposite to the scanning direction, the flow of the rinsing liquid in the scanning direction on the surface of the substrate 100 is suppressed, and the rinsing liquid flows in the direction opposite to the scanning direction. Of the rinse liquid is induced. Thereby, the uniformity of development is improved, and the rinsing effect is improved.

【0091】特に、図12の例では、現像液の供給処理
後に基板100を180°回転させてリンス処理を行う
ことにより、現像液吐出ノズル11およびリンス液吐出
ノズル16が基板100上を移動する回数が少なくな
る。それにより、現像液吐出ノズル11およびリンス液
吐出ノズル16が基板100上を通過中に現像液吐出ノ
ズル11の先端に付着した現像液またはリンス液吐出ノ
ズル16に付着したリンス液が基板100上に落下して
現像欠陥が発生したり、基板100上にパーティクルが
付着することが防止される。また、現像液吐出ノズル1
1およびリンス液吐出ノズル16の移動時間が短縮され
るので、現像装置の稼働率が向上する。
In particular, in the example of FIG. 12, after the supply of the developing solution, the substrate 100 is rotated by 180 ° to perform the rinsing process, so that the developing solution discharging nozzle 11 and the rinsing liquid discharging nozzle 16 move on the substrate 100. Fewer times. As a result, while the developer discharge nozzle 11 and the rinse liquid discharge nozzle 16 pass over the substrate 100, the developer adhered to the tip of the developer discharge nozzle 11 or the rinse liquid adhered to the rinse liquid discharge nozzle 16 is deposited on the substrate 100. It is possible to prevent a development defect from occurring by dropping and prevent particles from adhering to the substrate 100. Also, the developer discharge nozzle 1
Since the moving time of the nozzle 1 and the rinsing liquid discharge nozzle 16 is reduced, the operating rate of the developing device is improved.

【0092】図13はリンス液吐出ノズルの他の例を示
す正面図である。図13に示すリンス液吐出ノズル16
は、管状部材21からなり、その側壁に一列に配列され
た細孔状の複数の吐出口22が設けられている。複数の
吐出口22は、走査方向Aと垂直な方向に配置される。
FIG. 13 is a front view showing another example of the rinsing liquid discharge nozzle. Rinse liquid discharge nozzle 16 shown in FIG.
Is composed of a tubular member 21 and is provided with a plurality of pore-shaped discharge ports 22 arranged in a line on the side wall thereof. The plurality of ejection ports 22 are arranged in a direction perpendicular to the scanning direction A.

【0093】図14はリンス液吐出ノズルのさらに他の
例を示す図である。図14のリンス液吐出ノズル16は
リンス液を扇形に吐出する吐出口23を有する。
FIG. 14 is a view showing still another example of the rinsing liquid discharge nozzle. The rinse liquid discharge nozzle 16 in FIG. 14 has a discharge port 23 for discharging the rinse liquid in a fan shape.

【0094】このように、リンス液吐出ノズル16で
は、現像液吐出ノズル11ほど吐出の均一性が要求され
ず、温度調整も不要であるので、基板100の直径以上
の幅に直線状にリンス液を吐出できる構造であればよ
い。
As described above, the rinsing liquid discharge nozzle 16 does not require as uniform discharge as the developing liquid discharge nozzle 11 and does not require temperature adjustment. What is necessary is just a structure which can discharge.

【0095】図15は現像液吐出ノズルにリンス液吐出
ノズルが一体化された共用ノズルの一例を示す概略断面
図である。
FIG. 15 is a schematic sectional view showing an example of a common nozzle in which a rinsing liquid discharging nozzle is integrated with a developing liquid discharging nozzle.

【0096】図15の共用ノズル30においては、ノズ
ル本体31に現像液供給口32および現像液用スリット
状吐出口33ならびにリンス液供給口34およびリンス
液用スリット状吐出口35が設けられている。現像液供
給口32は配管38を介して図2の現像液供給系12に
接続される。リンス液供給口34は配管39を介して図
2のリンス液供給系17に接続される。
In the common nozzle 30 shown in FIG. 15, the nozzle main body 31 is provided with a developer supply port 32 and a slit discharge port 33 for the developer, and a rinse liquid supply port 34 and a slit discharge port 35 for the rinse liquid. . The developer supply port 32 is connected to the developer supply system 12 of FIG. The rinse liquid supply port 34 is connected to the rinse liquid supply system 17 of FIG.

【0097】この共用ノズル30によれば、現像液吐出
ノズルとリンス液吐出ノズルとが一体化されているの
で、省スペース化が図られる。
According to the common nozzle 30, since the developing solution discharge nozzle and the rinsing liquid discharge nozzle are integrated, the space can be saved.

【0098】図16は現像液吐出ノズルにリンス液吐出
ノズルが一体化された共用ノズルの他の例を示す概略断
面図である。
FIG. 16 is a schematic sectional view showing another example of a common nozzle in which a rinsing liquid discharging nozzle is integrated with a developing liquid discharging nozzle.

【0099】図16の共用ノズル30においては、ノズ
ル本体40に現像液およびリンス液に共通の供給口41
ならびに現像液およびリンス液に共通のスリット状吐出
口42が設けられている。供給口41は配管43を介し
て三方弁44に接続される。三方弁44の一方のポート
は配管45を介して図2の現像液供給系12に接続さ
れ、他方のポートは配管46を介して図2のリンス液供
給系17に接続される。三方弁44は現像液を供給しか
つリンス液を停止する状態、現像液を停止しかつリンス
液を供給する状態、および現像液をおよびリンス液を停
止する状態に切り換えることができる。
In the common nozzle 30 shown in FIG. 16, the nozzle body 40 has a common supply port 41 for the developer and the rinsing liquid.
Further, a slit-shaped discharge port 42 common to the developing solution and the rinsing liquid is provided. The supply port 41 is connected to a three-way valve 44 via a pipe 43. One port of the three-way valve 44 is connected to the developer supply system 12 of FIG. 2 through a pipe 45, and the other port is connected to the rinse liquid supply system 17 of FIG. The three-way valve 44 can switch between a state in which the developer is supplied and the rinsing liquid is stopped, a state in which the developer is stopped and the rinsing liquid is supplied, and a state in which the developer and the rinsing liquid are stopped.

【0100】この共用ノズル30によれば、現像液吐出
ノズルとリンス液吐出ノズルとが一体化されているの
で、省スペース化が図られるとともに、配管も簡略化さ
れる。
According to the common nozzle 30, since the developing solution discharging nozzle and the rinsing liquid discharging nozzle are integrated, the space can be saved and the piping can be simplified.

【0101】図15および図16の共用ノズル30を用
いた場合には、リンス液によりノズル洗浄を行うことが
できる。図17に示すように、待機ポット6内のV字形
ブロック50内に共用ノズル30をはめ込んだ状態で、
共用ノズル30からリンス液を吐出する。それにより、
リンス液で共用ノズル30の洗浄を行うことができる。
なお、V字形ブロック50の中央部には、共用ノズルの
先端部から落下する現像液またはリンス液の雫を除去す
るための孔51が形成されている。待機ポット6の内面
とV字形ブロック50の外周面との間には、排出口(ド
レン)が設けられている。
When the common nozzle 30 shown in FIGS. 15 and 16 is used, the nozzle can be cleaned with a rinsing liquid. As shown in FIG. 17, with the common nozzle 30 fitted in the V-shaped block 50 in the standby pot 6,
The rinsing liquid is discharged from the common nozzle 30. Thereby,
The common nozzle 30 can be washed with the rinsing liquid.
At the center of the V-shaped block 50, there is formed a hole 51 for removing a drop of a developing solution or a rinsing liquid that falls from the tip of the common nozzle. A discharge port (drain) is provided between the inner surface of the standby pot 6 and the outer peripheral surface of the V-shaped block 50.

【0102】このように、共用ノズル30から吐出され
るリンス液をノズル洗浄に用いることにより、ノズル洗
浄用の設備を設ける必要がなくなり、省スペース化が図
られる。
As described above, by using the rinsing liquid discharged from the common nozzle 30 for nozzle cleaning, it is not necessary to provide a facility for nozzle cleaning, and space can be saved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例における現像装置の平面図で
ある。
FIG. 1 is a plan view of a developing device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の現像装置の主要部のX−X線断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view taken along line XX of a main part of the developing device of FIG.

【図3】図1の現像装置の主要部のY−Y線断面図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view taken along line YY of a main part of the developing device of FIG.

【図4】現像液吐出ノズルおよびリンス液吐出ノズルの
概略断面図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view of a developer discharge nozzle and a rinse liquid discharge nozzle.

【図5】現像液吐出ノズルのスリット状吐出口を示す図
である。
FIG. 5 is a view showing a slit-shaped discharge port of a developer discharge nozzle.

【図6】リンス液吐出ノズルの正面図である。FIG. 6 is a front view of a rinse liquid discharge nozzle.

【図7】現像液吐出ノズルによる現像液の吐出方向を示
す側面図である。
FIG. 7 is a side view illustrating a direction in which a developer is discharged by a developer discharge nozzle.

【図8】リンス液吐出ノズルによるリンス液の吐出方向
を示す側面図である。
FIG. 8 is a side view showing a direction in which a rinse liquid is discharged by a rinse liquid discharge nozzle.

【図9】図1の現像装置の動作の第1の例を説明するた
めの図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining a first example of the operation of the developing device of FIG. 1;

【図10】基板上での現像液吐出ノズルの走査を示す側
面図である。
FIG. 10 is a side view showing scanning of a developer discharge nozzle on a substrate.

【図11】基板上でのリンス液吐出ノズルの走査を示す
側面図である。
FIG. 11 is a side view showing scanning of a rinsing liquid discharge nozzle on a substrate.

【図12】図1の現像装置の動作の第2の例を説明する
ための図である。
FIG. 12 is a view for explaining a second example of the operation of the developing device in FIG. 1;

【図13】リンス液吐出ノズルの他の例を示す正面図で
ある。
FIG. 13 is a front view showing another example of the rinse liquid discharge nozzle.

【図14】リンス液吐出ノズルのさらに他の例を示す図
である。
FIG. 14 is a view showing still another example of the rinse liquid discharge nozzle.

【図15】共用ノズルの一例を示す概略断面図である。FIG. 15 is a schematic sectional view showing an example of a common nozzle.

【図16】共用ノズルの他の例を示す概略断面図であ
る。
FIG. 16 is a schematic sectional view showing another example of the common nozzle.

【図17】待機ポットの概略断面図である。FIG. 17 is a schematic sectional view of a standby pot.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板保持部 4 内側カップ 5 外側カップ 6,7 待機スポット 8 ガイドレール 9 ノズルアーム 10 ノズル駆動部 11 現像液吐出ノズル 12 現像液供給系 13 制御部 15 スリット状吐出口 16 リンス液吐出ノズル 17 リンス液供給系 18 スリット状吐出口 30 共用ノズル DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate holding | maintenance part 4 Inner cup 5 Outer cup 6,7 Standby spot 8 Guide rail 9 Nozzle arm 10 Nozzle drive part 11 Developer discharge nozzle 12 Developer supply system 13 Control part 15 Slit-form discharge port 16 Rinse liquid discharge nozzle 17 Rinse Liquid supply system 18 Slit-shaped discharge port 30 Common nozzle

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を水平姿勢で保持する基板保持手段
と、 現像液を吐出する現像液吐出ノズルと、 現像を停止させるためのリンス液を吐出するリンス液吐
出ノズルと、 前記基板保持手段に静止状態で保持された基板外の一方
側の位置から前記基板上を通過して前記基板外の他方側
の位置まで前記現像液吐出ノズルを前記リンス液吐出ノ
ズルとともに移動させる移動手段とを備えたことを特徴
とする現像装置。
1. A substrate holding means for holding a substrate in a horizontal position, a developing solution discharging nozzle for discharging a developing solution, a rinsing liquid discharging nozzle for discharging a rinsing liquid for stopping development, and Moving means for moving the developing solution discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle from a position on one side outside the substrate held in a stationary state to a position on the other side outside the substrate by passing over the substrate. A developing device, characterized in that:
【請求項2】 前記現像液吐出ノズルは、前記基板の直
径以上の幅で前記移動手段による移動方向とほぼ垂直な
方向にほぼ直線状に現像液を吐出し、 前記リンス液吐出ノズルは、前記基板の直径以上の幅で
前記移動手段による移動方向とほぼ垂直な方向にほぼ直
線状にリンス液を吐出することを特徴とする請求項1記
載の現像装置。
2. The developing solution discharging nozzle discharges the developing solution substantially linearly in a direction substantially perpendicular to a moving direction of the moving means with a width equal to or larger than the diameter of the substrate. 2. The developing device according to claim 1, wherein the rinsing liquid is discharged substantially linearly in a direction substantially perpendicular to a moving direction of the moving means with a width equal to or larger than the diameter of the substrate.
【請求項3】 前記移動手段により前記現像液吐出ノズ
ルを前記リンス液吐出ノズルとともに前記基板上を一方
向に移動させつつ前記現像液吐出ノズルによる現像液の
吐出を行った後、前記移動手段により前記現像液吐出ノ
ズルを前記リンス液吐出ノズルとともに前記一方向に移
動させつつ前記リンス液吐出ノズルによるリンス液の吐
出を行う制御手段をさらに備えたことを特徴とする請求
項1または2記載の現像装置。
3. The method according to claim 1, wherein the moving means moves the developing solution discharge nozzle together with the rinsing liquid discharging nozzle on the substrate in one direction while discharging the developing solution by the developing solution discharging nozzle. 3. The developing device according to claim 1, further comprising control means for discharging the rinse liquid by the rinse liquid discharge nozzle while moving the developer discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle in the one direction. apparatus.
【請求項4】 前記移動手段により前記現像液吐出ノズ
ルを前記リンス液吐出ノズルとともに前記基板上を一方
向に移動させつつ前記現像液吐出ノズルによる現像液の
吐出を行った後、前記基板保持手段に保持された基板を
鉛直方向の軸の周りで180度回転させ、前記移動手段
により前記現像液吐出ノズルを前記リンス液吐出ノズル
とともに前記一方向と逆の方向に移動させつつ前記リン
ス液吐出ノズルによるリンス液の吐出を行う制御手段を
さらに備えたことを特徴とする請求項1または2記載の
現像装置。
4. The method according to claim 1, wherein the moving means moves the developing solution discharge nozzle together with the rinsing liquid discharging nozzle in one direction on the substrate and discharges the developing solution by the developing solution discharging nozzle. The substrate held by the nozzle is rotated by 180 degrees around a vertical axis, and the rinsing liquid discharging nozzle is moved by the moving means in the direction opposite to the one direction together with the rinsing liquid discharging nozzle. 3. The developing device according to claim 1, further comprising a control unit configured to discharge the rinsing liquid by the control unit.
【請求項5】 前記制御手段は、現像液の供給時に、前
記現像液吐出ノズルが前記基板上に達する前に前記現像
液吐出ノズルによる現像液の吐出を開始させることを特
徴とする請求項3または4記載の現像装置。
5. The method according to claim 3, wherein the control unit starts discharging the developing solution by the developing solution discharging nozzle before the developing solution discharging nozzle reaches the substrate when supplying the developing solution. Or the developing device according to 4.
【請求項6】 前記制御手段は、前記現像液吐出ノズル
が前記基板上を通過した後に前記現像液吐出ノズルによ
る現像液の吐出を停止させることを特徴とする請求項5
記載の現像装置。
6. The method according to claim 5, wherein the control unit stops the discharge of the developer by the developer discharge nozzle after the developer discharge nozzle passes over the substrate.
The developing device as described in the above.
【請求項7】 前記制御手段は、リンス液の供給時に、
前記リンス液吐出ノズルが前記基板上に達する前に前記
リンス液吐出ノズルによるリンス液の吐出を開始させる
ことを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の現像
装置。
7. The method according to claim 6, wherein the control unit supplies a rinsing liquid.
7. The developing device according to claim 3, wherein the rinsing liquid discharge nozzle starts rinsing liquid discharge before the rinsing liquid discharge nozzle reaches the substrate.
【請求項8】 前記制御手段は、前記リンス液吐出ノズ
ルが前記基板上を通過した後に前記リンス液吐出ノズル
によるリンス液の吐出を停止させることを特徴とする請
求項7記載の現像装置。
8. The developing apparatus according to claim 7, wherein said control means stops the discharge of the rinse liquid by the rinse liquid discharge nozzle after the rinse liquid discharge nozzle has passed over the substrate.
【請求項9】 前記現像液吐出ノズルによる現像液の吐
出方向が鉛直下向きから前記現像液吐出ノズルの移動方
向と反対方向に傾けられたことを特徴とする請求項1〜
8のいずれかに記載の現像装置。
9. The discharge direction of the developer by the developer discharge nozzle is tilted from a vertically downward direction to a direction opposite to a moving direction of the developer discharge nozzle.
9. The developing device according to any one of 8.
【請求項10】 前記リンス液吐出ノズルによるリンス
液の吐出方向が鉛直下向きから前記リンス液吐出ノズル
の移動方向と反対方向に傾けられたことを特徴とする請
求項1〜9のいずれかに記載の現像装置。
10. The rinsing liquid discharge nozzle according to claim 1, wherein a rinsing liquid discharge direction of the rinsing liquid discharge nozzle is inclined from a vertically downward direction to a direction opposite to a moving direction of the rinsing liquid discharge nozzle. Developing device.
【請求項11】 前記現像液吐出ノズルおよび前記リン
ス液吐出ノズルは、水平方向に配置されたスリット状吐
出口をそれぞれ有し、前記移動手段は、前記現像液吐出
ノズルおよび前記リンス液吐出ノズルを前記スリット状
吐出口とほぼ垂直な方向に直線状に移動させることを特
徴とする請求項1〜10のいずれかに記載の現像装置。
11. The developing solution discharging nozzle and the rinsing solution discharging nozzle each have a slit-shaped discharging port arranged in a horizontal direction, and the moving unit includes a developing solution discharging nozzle and the rinsing solution discharging nozzle. The developing device according to claim 1, wherein the developing device is moved linearly in a direction substantially perpendicular to the slit-shaped discharge port.
【請求項12】 基板保持手段に静止状態で保持された
基板上に現像液吐出ノズルから現像液を吐出供給する現
像方法であって、 前記現像液吐出ノズルから前記基板上に現像液を吐出さ
せつつ前記現像液吐出ノズルをリンス液吐出ノズルとと
もに前記基板外の一方側の位置から前記基板上を通過し
て前記基板外の他方側の位置まで移動させる工程と、 前記リンス液吐出ノズルからリンス液を吐出させつつ前
記現像液吐出ノズルを前記リンス液吐出ノズルとともに
前記基板外の一方側または他方側の位置から前記基板上
を通過して前記基板外の他方側または一方側の位置まで
移動させる工程とを含むことを特徴とする現像方法。
12. A developing method for supplying a developing solution from a developing solution discharging nozzle onto a substrate held in a stationary state by a substrate holding means, wherein the developing solution is discharged from the developing solution discharging nozzle onto the substrate. Moving the developing solution discharging nozzle together with the rinsing liquid discharging nozzle from one position outside the substrate to a position on the other side outside the substrate by passing over the substrate; and rinsing the rinsing liquid from the rinsing liquid discharging nozzle. Moving the developing solution discharge nozzle together with the rinse liquid discharge nozzle from a position on one side or the other side outside the substrate to a position on the other side or one side outside the substrate while discharging the developer. And a developing method.
JP10767197A 1997-04-10 1997-04-24 Developing device and developing method Expired - Fee Related JP3580664B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10767197A JP3580664B2 (en) 1997-04-10 1997-04-24 Developing device and developing method

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-91800 1997-04-10
JP9180097 1997-04-10
JP10767197A JP3580664B2 (en) 1997-04-10 1997-04-24 Developing device and developing method

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004165440A Division JP4011040B2 (en) 1997-04-10 2004-06-03 Developing apparatus and developing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10340836A true JPH10340836A (en) 1998-12-22
JP3580664B2 JP3580664B2 (en) 2004-10-27

Family

ID=26433238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10767197A Expired - Fee Related JP3580664B2 (en) 1997-04-10 1997-04-24 Developing device and developing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3580664B2 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2814083A1 (en) 2000-09-21 2002-03-22 Sumitomo Rubber Ind Dynamic shock absorber for tennis racket comprises visco-elastic part and added mass arranged in layer on visco-elastic part, and horizontal bar and vertical bar on two sides of horizontal bar
US6656277B2 (en) 2002-03-08 2003-12-02 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Apparatus for and method of processing substrate
US6692165B2 (en) 2001-03-01 2004-02-17 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
US6749351B2 (en) 2001-12-26 2004-06-15 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Apparatus for developing substrate
US6752544B2 (en) 2002-03-28 2004-06-22 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Developing apparatus and developing method
US6869234B2 (en) 2002-03-28 2005-03-22 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Developing apparatus and developing method
WO2006027891A1 (en) * 2004-09-09 2006-03-16 Tokyo Electron Limited Substrate cleaning method and developing apparatus
JP2010056318A (en) * 2008-08-28 2010-03-11 Sokudo Co Ltd Substrate processing unit and substrate processing apparatus
JP2011147863A (en) * 2010-01-20 2011-08-04 Dic Corp Coating die and coating method
US8303197B2 (en) 2007-08-31 2012-11-06 Semes Co., Ltd. Method of developing a substrate and apparatus for performing the same

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2814083A1 (en) 2000-09-21 2002-03-22 Sumitomo Rubber Ind Dynamic shock absorber for tennis racket comprises visco-elastic part and added mass arranged in layer on visco-elastic part, and horizontal bar and vertical bar on two sides of horizontal bar
US6623384B2 (en) 2000-09-21 2003-09-23 Sumitomo Rubber Industries, Ltd. Dynamic damper and dynamic damper-installed tennis racket
US6692165B2 (en) 2001-03-01 2004-02-17 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
US6749351B2 (en) 2001-12-26 2004-06-15 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Apparatus for developing substrate
US6656277B2 (en) 2002-03-08 2003-12-02 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Apparatus for and method of processing substrate
US6869234B2 (en) 2002-03-28 2005-03-22 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Developing apparatus and developing method
US6752544B2 (en) 2002-03-28 2004-06-22 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Developing apparatus and developing method
WO2006027891A1 (en) * 2004-09-09 2006-03-16 Tokyo Electron Limited Substrate cleaning method and developing apparatus
JP2006080315A (en) * 2004-09-09 2006-03-23 Tokyo Electron Ltd Substrate cleaning method and developing apparatus
US7604013B2 (en) 2004-09-09 2009-10-20 Tokyo Electron Limited Substrate cleaning method and developing apparatus
US7901514B2 (en) 2004-09-09 2011-03-08 Tokyo Electron Limited Substrate cleaning method and developing apparatus
US8303197B2 (en) 2007-08-31 2012-11-06 Semes Co., Ltd. Method of developing a substrate and apparatus for performing the same
JP2010056318A (en) * 2008-08-28 2010-03-11 Sokudo Co Ltd Substrate processing unit and substrate processing apparatus
JP2011147863A (en) * 2010-01-20 2011-08-04 Dic Corp Coating die and coating method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3580664B2 (en) 2004-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007311439A (en) Method and apparatus for processing substrate
JP2009032846A (en) Substrate treating apparatus
US7968278B2 (en) Rinse treatment method and development process method
CN101158820A (en) Method and apparatus for rinsing a substrate during lithographic development processing
JP3612196B2 (en) Developing apparatus, developing method, and substrate processing apparatus
JP3580664B2 (en) Developing device and developing method
KR100283442B1 (en) Developing apparatus and developing method
JP3665715B2 (en) Developing method and developing apparatus
TW201503227A (en) Substrate liquid processing apparatus, and substrate liquid processing method
JP3401141B2 (en) Substrate development processing method and apparatus
JP2008016781A (en) Substrate processing method and substrate processing apparatus
JP3970432B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JPH11244760A (en) Substrate treating device
JP2000068188A (en) Apparatus and method for development
JP4011040B2 (en) Developing apparatus and developing method
JP3585704B2 (en) Developing device and developing method
JP4024351B2 (en) Development device
JP2002100556A (en) Substrate developing apparatus
JP3633774B2 (en) Processing liquid discharge nozzle and substrate processing apparatus
JP4198219B2 (en) Development device
JP4352084B2 (en) Development device
JP3559182B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JPH11219881A (en) Substrate treating device
JP3566026B2 (en) Developing device and developing method
JPH11307433A (en) Device and method for developing

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040203

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040413

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040603

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040720

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040720

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080730

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090730

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100730

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110730

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120730

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees