JPH10209604A - Method for manufacturing printed wiring board, roughening solution used therefor, and method for preparing roughening solution - Google Patents
Method for manufacturing printed wiring board, roughening solution used therefor, and method for preparing roughening solutionInfo
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- JPH10209604A JPH10209604A JP593397A JP593397A JPH10209604A JP H10209604 A JPH10209604 A JP H10209604A JP 593397 A JP593397 A JP 593397A JP 593397 A JP593397 A JP 593397A JP H10209604 A JPH10209604 A JP H10209604A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】導体層と感光性フィルムとの密着性を高め、特
に導体幅が60μm以下の微細配線パターンの形成が可
能なプリント配線基板の製造方法並びにそれに用いる粗
化液及び粗化液の調製方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板101上に形成された導体層10
2上に感光性フィルム(ドライフィルムレジスト)を張
り合わせて、配線回路形成用マスクを介して感光性フィ
ルムを露光し、現像して基板上に導体パターン106を
形成するに際し、感光性フィルムを導体層102上に張
り合わせる前に、導体層表面を導体腐食抑制剤を含有す
る粗化液で処理して粗化面104を形成する。粗化液に
過硫酸塩を含む場合には、pH4以下の酸性溶液とし、
室温〜40℃の溶液温度で処理することが望ましい。ま
た、粗化液に銅濃度にして5〜35g/リットルの銅も
しくは銅化合物を溶解すると更に密着性が向上し好まし
い。
(57) Abstract: A method of manufacturing a printed wiring board capable of improving the adhesion between a conductor layer and a photosensitive film and forming a fine wiring pattern having a conductor width of 60 μm or less, a roughening solution used therefor, A method for preparing a roughened liquid is provided. A conductive layer formed on an insulating substrate is provided.
2, a photosensitive film (dry film resist) is laminated, and the photosensitive film is exposed through a wiring circuit forming mask and developed to form a conductive pattern 106 on the substrate. Before bonding on the surface 102, the surface of the conductor layer is treated with a roughening solution containing a conductor corrosion inhibitor to form a roughened surface 104. If the roughening solution contains persulfate, use an acidic solution of pH 4 or less,
It is desirable to process at a solution temperature of room temperature to 40 ° C. Further, it is preferable to dissolve copper or a copper compound at a copper concentration of 5 to 35 g / liter in the roughening solution because the adhesion is further improved.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線基板
の製造に係わり、特に配線パターン形成時の導体粗化面
を形成した導体と感光性フィルムとの密着性を高め、導
体回路形成に好適なプリント配線基板の製造方法並びに
それに用いる粗化液及び粗化液の調製方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of printed wiring boards, and more particularly to the improvement of the adhesion between a conductor having a roughened conductor surface and a photosensitive film when forming a wiring pattern, which is suitable for forming a conductor circuit. The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board, a roughening solution used for the same, and a method for preparing a roughening solution.
【0002】[0002]
【従来の技術】プリント配線基板を製造するにあたり、
銅張り積層板を用い、銅箔の表面に回路形成をおこなう
必要がある。この回路形成は、銅箔の表面に一般にドラ
イフィルムレジストと称されている感光性フィルムから
なるエッチングレジストを、熱圧着により張り合わせ
(ラミネート)、回路パターンが形成されたマスクを介
して露光し、現像をおこなった後に、得られたレジスト
パターンをマスクとして銅エッチング液に浸漬すること
によっておこなわれる。そしてこのように銅箔の表面に
エッチングレジストをラミネートする工程の前に、銅箔
の表面を整面処理することがおこなわれている。2. Description of the Related Art In manufacturing printed wiring boards,
It is necessary to form a circuit on the surface of a copper foil using a copper-clad laminate. The circuit is formed by laminating an etching resist made of a photosensitive film, which is generally called a dry film resist, on the surface of a copper foil by thermocompression bonding, exposing through a mask on which a circuit pattern is formed, and developing. After that, the resist pattern is immersed in a copper etching solution using the obtained resist pattern as a mask. Before the step of laminating the etching resist on the surface of the copper foil as described above, the surface of the copper foil is subjected to a surface smoothing process.
【0003】従来技術については、例えば特開平3−1
40483号公報に詳細に記載させれおり、整面処理は
銅箔の表面の酸化物などの不純物や汚れなどを除去する
と共に銅箔の表面に微細な粗面を形成させるためにおこ
なわれるものであり、銅箔の表面へのエッチングレジス
トの密着性を高めるための処理である。[0003] With respect to the prior art, for example, see
It is described in detail in Japanese Patent No. 40483, and the surface smoothing treatment is performed to remove impurities such as oxides and dirt on the surface of the copper foil and to form a fine rough surface on the surface of the copper foil. Yes, this is a process for increasing the adhesion of the etching resist to the surface of the copper foil.
【0004】そしてこの銅箔の整面処理は、#300〜
#100程度の羽布ロールやブラシロールを使用した整
面研磨機やスクラブ研磨機、センチュリー研磨機を用
い、銅張り積層板の表面をこの羽布ロールやブラシロー
ルや砥粒で機械的に研磨することによって行われるのが
一般的である。この他、化学的な研磨方法としては、例
えば特開平3−140483号公報に開示されているよ
うな方法が提案されている。[0004] The copper foil is provided with a surface conditioning treatment of # 300 to # 300.
The surface of the copper-clad laminate is mechanically polished with a rag roll, brush roll, or abrasive grain using a leveling polisher, scrub polisher, or century polisher using a # 100 feather roll or brush roll. This is generally done by doing In addition, as a chemical polishing method, for example, a method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-140483 has been proposed.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、このように羽
布ロールやブラシロールなどを用いて機械的研磨で整面
処理するにあたって、銅張り積層板の厚みが0.2mm
以下程度の薄い板を用いた場合、薄い銅張り板は腰が弱
く強度が低いために研磨時に銅張り板が曲がって羽布ロ
ールやブラシロールに引っ掛かったりして、工程の途中
でトラブルが多発するという問題があった。However, when the surface of the copper-clad laminate is subjected to mechanical polishing using a cloth roll or a brush roll as described above, the thickness of the copper-clad laminate is 0.2 mm.
When using a thin plate of less than or equal to the thickness, the thin copper-plated plate is weak and has low strength, so the copper-plated plate bends during polishing and gets caught on the feather roll or brush roll, causing many troubles during the process There was a problem of doing.
【0006】また、このように銅張り板が薄いと羽布ロ
ールやブラシロールによって銅張り板に付加される研磨
圧で基板変形したり不均一な研磨が行われるなどの問題
があった。しかも羽布ロールによる研磨の場合には、羽
布ロールを構成する不織布とAl2O3やSiO2など研
磨材の大きさのバラツキなどによって銅箔の表面に深い
研磨傷が発生する等、不均一な凹凸面となって高ファイ
ンパターンで回路を形成することができなくなるという
問題もあった。Further, when the copper-clad board is thin as described above, there has been a problem that the substrate is deformed or uneven polishing is performed by a polishing pressure applied to the copper-clad board by a feather roll or a brush roll. In addition, in the case of polishing with a feather roll, the non-woven fabric constituting the feather roll and a variation in the size of the abrasive such as Al 2 O 3 or SiO 2 cause deep polishing scratches on the surface of the copper foil, and the like. There is also a problem that a uniform uneven surface is formed and a circuit cannot be formed with a high fine pattern.
【0007】一方、特開平3−140483号公報に記
載されている化学的な研磨方法では、銅箔の表面形状が
緩やかで、ドライフィルムレジストとの密着性が不足し
て、現像によるレジストのパターン形成時や、エッチン
グによる銅箔の回路形成時にドライフィルムレジストと
銅箔間で剥離が生じ易く、60μm幅以下の微細配線を
歩留まり良く製造することが困難であった。すなわち、
このような微細配線になると例えば線幅が局部的に狭く
なったり、はなはだしくは断線に至るという問題もあっ
た。On the other hand, in the chemical polishing method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-140483, the surface shape of the copper foil is gradual, the adhesion to the dry film resist is insufficient, and the pattern of the resist is developed by development. At the time of formation or at the time of forming a circuit of the copper foil by etching, peeling is likely to occur between the dry film resist and the copper foil, and it has been difficult to produce fine wiring having a width of 60 μm or less with a high yield. That is,
With such fine wiring, for example, there has been a problem that the line width is locally narrowed, or the wire is severely broken.
【0008】高ファインパターンで回路を形成する技術
としては、パターン形成面に感光性レジスト液を塗布し
てレジストパターンを形成する方法がよく知られてい
る。しかし、プリント配線基板のように大面積のパター
ンを形成には、この感光性レジスト液を塗布する方法よ
りもドライフィルムレジストを張り合わせる方が均一な
膜厚のレジストパターンが得られ易く、しかもフィルム
をパターン形成面に熱圧着するだけで済むので工程短縮
が可能であるなど経済的にも優れている。したがって、
パターン形成面に対するレジストの密着性さえ改善され
ればプリント配線基板の製造には、ドライフィルムレジ
ストの使用が格段に優れている。As a technique for forming a circuit with a high fine pattern, a method of forming a resist pattern by applying a photosensitive resist solution to a pattern forming surface is well known. However, in order to form a large area pattern such as a printed wiring board, it is easier to obtain a resist pattern with a uniform film thickness by laminating a dry film resist than by applying this photosensitive resist solution, and the film It is only economical to perform thermocompression bonding on the pattern forming surface, so that the process can be shortened, and thus it is economically excellent. Therefore,
As long as the adhesion of the resist to the pattern formation surface is improved, the use of a dry film resist is remarkably excellent in manufacturing a printed wiring board.
【0009】したがって、本発明は上記の点に鑑みて為
されたものであり、従来の羽布ロールやブラシロールな
どを用いた機械的研磨及び化学的な研磨の場合のような
問題がなく、加えて、ドライフィルムレジストとの密着
性を高め、特に導体幅が60μm以下の微細配線パター
ンの形成が可能なプリント配線基板の製造方法並びにそ
れに用いる粗化液及び粗化液の調製方法を提供すること
を目的としたものである。Accordingly, the present invention has been made in view of the above points, and has no problems as in the case of mechanical polishing and chemical polishing using a conventional cloth roll or brush roll. In addition, the present invention provides a method for manufacturing a printed wiring board capable of forming a fine wiring pattern having a conductor width of 60 μm or less, and a method for preparing a roughening solution and a roughening solution used for the same, which enhances adhesion to a dry film resist. It is intended for that purpose.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明に係わるプリント
配線基板の製造方法は、銅張り積層板を用いて配線パタ
ーンを形成するに際し、銅箔上に感光性フィルム(ドラ
イフィルムレジスト)を張り合わせる前工程として、銅
箔表面を銅腐食抑制剤を含有した粗化液を作用させて表
面に緻密、かつ複雑な凹凸形状を有する粗化表面を形成
し、ドライフィルムレジストの密着性を格段に向上させ
ることを特徴とするものである。According to a method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention, a photosensitive film (dry film resist) is laminated on a copper foil when a wiring pattern is formed using a copper-clad laminate. As a pre-process, a roughening solution containing a copper corrosion inhibitor is applied to the surface of the copper foil to form a roughened surface with a dense and complex uneven shape on the surface, and the adhesion of dry film resist is significantly improved. It is characterized by the following.
【0011】以下本発明を詳細に説明する。本発明者等
は、配線パターン形成に際し銅箔とドライフィルムレジ
ストとの密着性を高めるために種々実験検討した結果、
導体層表面の粗化処理には導体腐食抑制剤を含有してな
る粗化液で銅箔を表面をエッチングすることが有効で、
密着性が飛躍的に向上することを見出した。すなわち、
この粗化処理により導体上に表面積の大きな複雑な形状
をした粗化表面が作られ、この上形成したドライフィル
ムレジストが強固に密着する。Hereinafter, the present invention will be described in detail. The present inventors have conducted various experimental studies to improve the adhesion between the copper foil and the dry film resist when forming the wiring pattern,
For roughening treatment of the conductor layer surface, it is effective to etch the copper foil surface with a roughening solution containing a conductor corrosion inhibitor,
It has been found that the adhesion is dramatically improved. That is,
By this roughening treatment, a roughened surface having a complex shape with a large surface area is formed on the conductor, and the dry film resist formed thereon is firmly adhered.
【0012】好ましい粗化液としては、例えば過硫酸塩
/銅腐食抑制剤系、過硫酸塩/酸/銅腐食抑制剤系、硫
酸/過酸化水素/銅腐食抑制剤系、塩化第二鉄/銅腐食
抑制剤系、塩化第二銅/銅腐食抑制剤系、塩化テトラア
ンミン銅/銅腐食抑制剤系等が挙げられる。Preferred roughening liquids are, for example, persulfate / copper corrosion inhibitor system, persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system, sulfuric acid / hydrogen peroxide / copper corrosion inhibitor system, ferric chloride / Copper corrosion inhibitors, cupric chloride / copper corrosion inhibitors, tetraammine copper chloride / copper corrosion inhibitors, and the like.
【0013】いずれの粗化液も導体層をエッチングする
粗化成分と導体層の表面に部分的に吸着して導体の腐食
を部分的に抑制する成分(これを導体腐食抑制剤と云
う)を有していることが特徴である。このような、粗化
液中では導体腐食抑制剤が導体表面に部分的に吸着し、
その吸着された部分の導体のエッチングを防ぐため、極
めて複雑な粗化面が得られると推定される。Each of the roughening liquids contains a roughening component for etching the conductor layer and a component for partially adsorbing on the surface of the conductor layer to partially suppress the corrosion of the conductor (this is called a conductor corrosion inhibitor). The feature is that it has. In such a roughening solution, the conductor corrosion inhibitor partially adsorbs on the conductor surface,
It is presumed that an extremely complicated roughened surface is obtained in order to prevent the conductor in the adsorbed portion from being etched.
【0014】粗化液中の導体腐食抑制剤としては、導体
層を構成する金属材料に適した腐食抑制剤を使用するこ
とであり、以下、導体として通常使用される銅の場合を
例に説明すると、好ましい銅腐食抑制剤としは、例えば
ベンゾトリアゾール誘導体〔1,2,3−ベンゾトリア
ゾール、4−or5−メチルベンゾトリアゾール、4−
or5−アミノベンゾトリアゾールなど〕、チアゾール
誘導体〔ベンゾチアゾール、2−メルカプトベンゾチア
ゾール、2−メチルベンゾチアゾール、2−フェニルチ
アゾールなど〕、イミダゾール誘導体〔イミダゾール、
ベンゾイミダゾール、2−メチルベンゾイミダゾール、
2−エチル−5−メチルベンゾイミダゾール、2−メル
カプトベンゾイミダゾールなど〕、インダゾール類〔6
−アミノインダゾール〕、メラミン誘導体〔メラミン、
N,N’−ジアリルメラミン、2−N−n−ブチルメラ
ミンなど〕、トリアジン誘導体〔2,4−ジアミノ−6
−フェニルトリアジン、2,4−ジアミノ−6−メチル
−s−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−s
−トリアジンなど〕、ピリミジン誘導体〔ジアミノピリ
ミジン、トリアミノピリミジン、テトラアミノピリミジ
ン、ジアミノメルカプトピリミジンなど〕、3,5−ジ
アミノ−1,2,4−トリアゾール、アルカンチオール
類〔CnH2n+1SH〕、アルキルアミン類〔メチルアミ
ン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミンな
ど〕、チオ尿素誘導体〔チオ尿素、1−フェニル−2−
チオ尿素、エチレンチオ尿素など〕、エタノールチオー
ル、ドデシルメルカプタン、2−メルカプトエタノール
などが挙げられる。The conductor corrosion inhibitor in the roughening solution is to use a corrosion inhibitor suitable for the metal material constituting the conductor layer. Hereinafter, the case of copper which is generally used as a conductor will be described as an example. Then, preferred copper corrosion inhibitors include, for example, benzotriazole derivatives [1,2,3-benzotriazole, 4-or5-methylbenzotriazole,
or 5-aminobenzotriazole, etc.), thiazole derivatives [benzothiazole, 2-mercaptobenzothiazole, 2-methylbenzothiazole, 2-phenylthiazole, etc.], imidazole derivatives [imidazole,
Benzimidazole, 2-methylbenzimidazole,
2-ethyl-5-methylbenzimidazole, 2-mercaptobenzimidazole, etc.), indazoles [6
-Aminoindazole), melamine derivatives (melamine,
N, N'-diallylmelamine, 2-Nn-butylmelamine, etc.), triazine derivatives [2,4-diamino-6
-Phenyltriazine, 2,4-diamino-6-methyl-s-triazine, 2-vinyl-4,6-diamino-s
-Triazine, etc.), pyrimidine derivatives [diaminopyrimidine, triaminopyrimidine, tetraaminopyrimidine, diaminomercaptopyrimidine, etc.], 3,5-diamino-1,2,4-triazole, alkanethiols [C n H 2n + 1 SH ], Alkylamines [methylamine, ethylamine, propylamine, butylamine, etc.], thiourea derivatives [thiourea, 1-phenyl-2-
Thiourea, ethylene thiourea, etc.], ethanol thiol, dodecyl mercaptan, 2-mercaptoethanol and the like.
【0015】特に好ましくは、2−メルカプトベンゾイ
ミダゾール、6−アミノインダゾール、2,4−ジアミ
ノ−6−フェニルトリアジン、2−ビニル−4,6−ジ
アミノ−s−トリアジン、2−メチルベンゾチアゾー
ル、メラミン、2−N−n−ブチルメラミンである。Particularly preferred are 2-mercaptobenzimidazole, 6-aminoindazole, 2,4-diamino-6-phenyltriazine, 2-vinyl-4,6-diamino-s-triazine, 2-methylbenzothiazole, melamine , 2-Nn-butylmelamine.
【0016】また、粗化液中の銅腐食抑制剤の濃度とし
ては0.01〜10g/リットル、好ましくは0.1〜
2g/リットルの範囲が良好である。The concentration of the copper corrosion inhibitor in the roughening solution is 0.01 to 10 g / l, preferably 0.1 to 10 g / l.
A range of 2 g / liter is good.
【0017】また、上記粗化液の中で過硫酸塩/銅腐食
抑制剤系や過硫酸塩/酸/銅腐食抑制剤系等の過硫酸塩
を含む溶液を調製する場合には、建浴後40〜80℃で
10分〜5時間程度加熱して、粗化液の水素イオン濃度
pHを4以下、好ましくは0.5〜4、更に好ましくは
1.0〜2.5の範囲にすると更に良好な複雑な形状を
した粗化面の得られる粗化液を調製することができる。In the case of preparing a solution containing a persulfate such as a persulfate / copper corrosion inhibitor system or a persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system in the above roughening solution, it is necessary to prepare a solution after the construction bath. Heating at 40 to 80 ° C. for about 10 minutes to 5 hours to adjust the hydrogen ion concentration pH of the roughening solution to 4 or less, preferably 0.5 to 4, more preferably 1.0 to 2.5. It is possible to prepare a roughening liquid having a rough surface having a good complicated shape.
【0018】さらにまた、過硫酸塩/銅腐食抑制剤系や
過硫酸塩/酸/銅腐食抑制剤系粗化液に銅または銅化合
物、例えば硫酸銅等を銅濃度に換算して5〜35g/リ
ットル溶解すると、粗化面態が良好で、かつ、粗化液使
用時のpH変動の少ない安定な粗化液が得られる。粗化
液建浴後の加熱および銅を溶解することにより、銅箔は
勿論のこと、絶縁層上に形成した電気銅めっき層の粗化
も容易にできる。Further, copper or a copper compound, for example, copper sulfate or the like is converted into a copper concentration of 5 to 35 g in the persulfate / copper corrosion inhibitor system or the persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system roughening solution. When dissolved per liter, a stable roughening solution having a good roughened surface state and little fluctuation in pH when the roughening solution is used can be obtained. By heating after the roughening bath and dissolving the copper, the copper foil as well as the electrolytic copper plating layer formed on the insulating layer can be easily roughened.
【0019】なお、銅箔の表面粗化処理工程において
は、室温〜40℃の溶液温度で処理することが望まし
い。In the copper foil surface roughening treatment step, it is desirable to carry out the treatment at a solution temperature of room temperature to 40 ° C.
【0020】以上述べてきたように、銅箔に粗化処理を
行うことにより微細配線が可能なプリント配線基板の製
造が可能となる。導体層とドライフィルムレジストとの
密着性を高めるために、本発明では導体腐食抑制剤を含
有した粗化液で導体表面をエッチングする。これは粗化
液中の導体腐食抑制剤が導体表面に部分的に吸着し、固
有のエッチング速度が低下し、導体表面が不均一にエッ
チングされるため、導体上に表面積の大きな極めて複雑
な形状をした粗化表面が得られるためと考えられる。As described above, by performing a roughening treatment on a copper foil, it becomes possible to manufacture a printed wiring board capable of fine wiring. In order to enhance the adhesion between the conductor layer and the dry film resist, in the present invention, the conductor surface is etched with a roughening solution containing a conductor corrosion inhibitor. This is because the conductor corrosion inhibitor in the roughening solution is partially adsorbed on the conductor surface, the intrinsic etching rate is reduced, and the conductor surface is unevenly etched. This is presumably because a roughened surface having the following characteristics was obtained.
【0021】前述した従来の方法では、本発明で得られ
るような複雑な表面形状の粗化面は得られない。また、
このような複雑な導体表面を形成することで、ドライフ
ィルムレジストとの密着性を向上させ、レジストの現像
工程や導体回路を形成するエッチング工程でのレジスト
の剥離を防止することで、微細配線を安定して形成する
ことが可能となり、配線密度の高いプリント配線基板が
製造できる。In the above-mentioned conventional method, a rough surface having a complicated surface shape as obtained by the present invention cannot be obtained. Also,
By forming such a complicated conductor surface, the adhesion to the dry film resist is improved, and the resist is prevented from peeling off in the resist development step and the etching step for forming the conductor circuit, thereby minimizing fine wiring. It is possible to form the printed wiring board stably with high wiring density.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】以下、図1および図2、図3に示
した製造工程図にしたがって、本発明をさらに詳しく説
明する。図1は、セミアディティブ法式、図2、図3は
導体回路(配線パターン)形成工程と層間絶縁膜形成工
程とを交互に複数回繰り返して積層する所謂ビルドアッ
プ法式であり、これらを例に挙げて説明するが、この他
のプリント配線板製造方式においても、微細な導体回路
パターン形成に本発明は適用できる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in more detail with reference to the manufacturing process diagrams shown in FIGS. 1, 2 and 3. FIG. 1 shows a semi-additive method, and FIGS. 2 and 3 show a so-called build-up method in which a conductor circuit (wiring pattern) forming step and an interlayer insulating film forming step are alternately and repeatedly repeated a plurality of times. As described above, the present invention can be applied to the formation of fine conductive circuit patterns in other printed wiring board manufacturing methods.
【0023】図1はセミアディティブ法式に関して、具
体的には下記の(A)記載の工程を、またビルドアップ
方式に関しては、下記の(B〜E)記載の代表的な工程
を任意に組み合わせて、要求される導体回路層間に種々
の接続構成がとれる多層配線基板が製造できる。FIG. 1 shows the semi-additive method, specifically, the steps described in (A) below, and the build-up method, arbitrarily combined with the representative steps described in (BE) below. In addition, it is possible to manufacture a multilayer wiring board that can take various connection configurations between required conductor circuit layers.
【0024】(A)工程:銅張り積層板100→貫通孔
形成103→導体表面粗化104→めっき触媒付与10
5→エッチングレジスト→導体回路形成106→絶縁層
形成(永久レジスト)107・パターニング108→銅
めっき109、もしくは銅張り積層板100→導体表面
粗化104→めっき触媒付与105→エッチングレジス
ト→導体回路形成106→貫通孔形成103→絶縁層形
成(永久レジスト)107・パターニング108→銅め
っき109。Step (A): copper-clad laminate 100 → through hole formation 103 → conductor surface roughening 104 → plating catalyst application 10
5 → Etching resist → Conductor circuit formation 106 → Insulating layer formation (permanent resist) 107 / patterning 108 → Copper plating 109 or copper clad laminate 100 → Conductor surface roughening 104 → Plating catalyst application 105 → Etching resist → Conductor circuit formation 106 → formation of through hole 103 → formation of insulating layer (permanent resist) 107 / patterning 108 → copper plating 109.
【0025】(B)工程:銅張り積層板200→貫通孔
形成203→導体表面粗化204→エッチングレジスト
→導体回路形成205→絶縁層形成206・パターニン
グ207、もしくは銅張り積層板200→導体表面粗化
204→エッチングレジスト→導体回路形成205→貫
通孔形成203→絶縁層形成206・パターニング20
7。Step (B): copper-clad laminate 200 → through-hole formation 203 → conductor surface roughening 204 → etching resist → conductor circuit formation 205 → insulating layer formation 206 / patterning 207, or copper-clad laminate 200 → conductor surface Roughening 204 → etching resist → conductor circuit formation 205 → through hole formation 203 → insulating layer formation 206 / patterning 20
7.
【0026】(C)工程:絶縁層粗化307→表面劣化
層除去308、309→めっき触媒付与311→銅めっ
き312→導体表面粗化313→エッチングレジスト→
導体回路形成314→絶縁層形成・パターニング31
5。Step (C): roughening of insulating layer 307 → removal of surface deterioration layer 308, 309 → application of plating catalyst 311 → copper plating 312 → roughening of conductor surface 313 → etching resist →
Conductive circuit formation 314 → Insulation layer formation / patterning 31
5.
【0027】(D)工程:銅張り積層板300→導体表
面粗化303→エッチングレジスト→導体回路形成30
4→絶縁層形成・パターニング315。Step (D): copper-clad laminate 300 → conductor surface roughening 303 → etching resist → conductor circuit formation 30
4 → Insulation layer formation / patterning 315.
【0028】(E)工程:貫通孔形成310→絶縁層粗
化307→表面劣化層除去309→めっき触媒付与31
1→銅めっき312→導体表面粗化313→エッチング
レジスト→導体回路形成314→絶縁層形成・パターニ
ング315。Step (E): formation of through hole 310 → roughening of insulating layer 307 → removal of surface deteriorated layer 309 → application of plating catalyst 31
1 → copper plating 312 → conductor surface roughening 313 → etching resist → conductor circuit formation 314 → insulation layer formation / patterning 315.
【0029】[0029]
<実施例1>この実施例は、上記(A)工程に従い2層
(片面1層)の両面配線基板を製造した例について説明
するものであり、以下、図1の断面工程図に従って順次
説明する。<Embodiment 1> This embodiment describes an example in which a double-sided wiring board having two layers (one layer on one side) is manufactured in accordance with the above-mentioned step (A). .
【0030】図1(a)工程:ガラスエポキシ積層板1
01の両面に銅箔102(35μm)を張り合わせた銅
張り積層板を基板100として準備する。 図1(b)工程:基板100にドリルで貫通孔103を
あける。FIG. 1A: glass epoxy laminate 1
A copper-clad laminate in which copper foil 102 (35 μm) is adhered to both surfaces of the substrate 01 is prepared as the substrate 100. FIG. 1B: A through hole 103 is formed in the substrate 100 by a drill.
【0031】図1(c)工程:この基板の導体表面を過
硫酸塩/銅腐食抑制剤系の粗化液で処理し、導体粗化面
104を形成した。用いた粗化液および粗化条件は、次
の通りである。Step (c) of FIG. 1: The conductor surface of this substrate was treated with a persulfate / copper corrosion inhibitor-based roughening solution to form a roughened conductor surface 104. The roughening solution and roughening conditions used are as follows.
【0032】(1)粗化液の組成:過硫酸塩としてNa
2S2O8(200g/リットル)、銅腐食抑制剤として
メラミン(0.5g/リットル)を純水に溶解し、50
℃、2時間加熱後、25℃に冷却する(粗化液のpH
1.8)。(1) Composition of roughening solution: Na as persulfate
2 S 2 O 8 (200 g / l) and melamine (0.5 g / l) as a copper corrosion inhibitor were dissolved in pure water,
After heating for 2 hours, cool to 25 ° C.
1.8).
【0033】(2)粗化条件:液温25℃で50秒間ス
プレーエッチングする。(2) Roughening conditions: Spray etching is performed at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0034】図1(d)工程:貫通孔内にめっき触媒1
05を塗布する。 図1(e)工程:基板両面にドライフィルムレジストを
熱圧着によりラミネートし、この上に予め所定の回路パ
ターンが形成されたネガマスクをあて露光、現像してレ
ジストの抜きパターンを形成した。これをエッチングレ
ジストとして銅箔をエッチングして導体回路106を形
成した後レジストを除去した。FIG. 1D: Plating catalyst 1 in through-hole
05 is applied. Step (e) of FIG. 1: A dry film resist was laminated on both surfaces of the substrate by thermocompression bonding, and a negative mask having a predetermined circuit pattern formed thereon was exposed thereon and exposed and developed to form a resist removal pattern. Using this as an etching resist, the copper foil was etched to form a conductor circuit 106, and then the resist was removed.
【0035】図1(f)工程:この基板上にスプレー塗
布により絶縁層107を形成した。用いた絶縁樹脂は、
エポキシアクリレート系感光性樹脂である。 図1(g)工程:上記の絶縁層106を80℃30分間
乾燥し、図示されていない所定のマスクを介して露光
し、溶剤現像を行って絶縁樹脂107を選択的にエッチ
ングしてパターニングする。 図1(h)工程:貫通孔部に電気銅めっき層109を3
0μm形成を形成した。 このようにして、図1(i)
に示したような両面配線基板を得た。FIG. 1F: An insulating layer 107 was formed on the substrate by spray coating. The insulating resin used was
It is an epoxy acrylate-based photosensitive resin. Step (g) of FIG. 1: The above-mentioned insulating layer 106 is dried at 80 ° C. for 30 minutes, exposed through a predetermined mask (not shown), and subjected to solvent development to selectively etch and pattern insulating resin 107. . Step (h) of FIG. 1: three copper electrolytic layers 109
A 0 μm formation was formed. Thus, FIG. 1 (i)
Was obtained.
【0036】このような製造方法で作成したプリント配
線基板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g
/cm)、ドライフィルムレジストとの密着性(JIS
K5400−1979)、および得られた最小導体回
路の幅(μm)を測定し、その結果を表1に表示した。
表中には後述する比較例の結果についても示した。The peel strength (g) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board prepared by such a manufacturing method.
/ Cm), adhesion to dry film resist (JIS
K5400-1979) and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit was measured, and the results are shown in Table 1.
The table also shows the results of comparative examples described later.
【0037】この表からも明らかなように、ドライフィ
ルムレジストと強固に密着し、本実施例のピール強度は
420g/cmを示しており、比較例(最高のもので2
75g/cm)と対比して向上している。また、得られ
た最小導体回路幅は50μmを示しており、比較例(最
小のもので75μm)と対比して優れており、微細配線
可能なプリント配線基板が実現された。As is clear from this table, the film tightly adheres to the dry film resist, and the peel strength of this example is 420 g / cm.
75 g / cm). Further, the obtained minimum conductor circuit width is 50 μm, which is superior to the comparative example (the minimum one is 75 μm), and a printed wiring board capable of fine wiring is realized.
【0038】<実施例2>上記実施例1と基本的には同
一の製造方法で両面配線基板を製造した。ただし、粗化
液としては実施例1の組成に硫酸銅を銅濃度として15
g/リットル添加した。その結果を表1に示すが、ピー
ル強度は586を示しており、実施例1(420)と対
比して更に向上している。また、得られた最小導体回路
幅は35を示しており、これも実施例1(50)と対比
して優れており、粗化液への銅の添加の有効性が確認さ
れた。なお、銅の添加は硫酸銅に限らず、粗化液に溶解
するその他の銅化合物もしくは銅金属を溶解しても同様
の結果を得ることができる。Example 2 A double-sided wiring board was manufactured by basically the same manufacturing method as in Example 1 described above. However, as the roughening solution, copper sulfate was added to the composition of Example 1 at a copper concentration of 15%.
g / liter. The results are shown in Table 1. The peel strength shows 586, which is further improved as compared with Example 1 (420). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 35, which was also superior to Example 1 (50), and the effectiveness of adding copper to the roughening solution was confirmed. The addition of copper is not limited to copper sulfate, and the same result can be obtained by dissolving other copper compounds or copper metal dissolved in the roughening solution.
【0039】<実施例3>この実施例は、上記(B)工
程と(C)工程とを組み合わせて両面合計4層(片面2
層)の多層配線基板を製造した例について説明するもの
であり、以下、図2の断面工程図にしたがって順次説明
する。<Embodiment 3> In this embodiment, the above steps (B) and (C) are combined to make a total of four layers on both sides (2 on one side).
In the following, an example in which a multi-layer wiring board of (layer) is manufactured will be described.
【0040】図2(a)工程:ガラスエポキシ積層板2
01の両面に銅箔202を張り合わせた銅張り積層板を
基板200として準備する。 図2(b)工程:基板200にドリルで貫通孔203を
あける。Step (a) of FIG. 2: Glass epoxy laminate 2
A copper-clad laminate in which a copper foil 202 is bonded to both surfaces of the substrate 01 is prepared as a substrate 200. Step (b) of FIG. 2: Drill a through hole 203 in the substrate 200.
【0041】図2(c)工程:この基板の導体表面を過
硫酸塩/酸/銅腐食抑制剤系の粗化液で処理し、導体粗
化面204を形成した。用いた粗化液および粗化条件
は、次の通りである。Step (c) of FIG. 2: The conductor surface of the substrate was treated with a persulfate / acid / copper corrosion inhibitor-based roughening solution to form a roughened conductor surface 204. The roughening solution and roughening conditions used are as follows.
【0042】(1)粗化液の組成:過硫酸塩としてNa
2S2O8(200g/リットル)、銅腐食抑制剤として
メラミン(1.0g/リットル)を水に溶解し、60℃
で1時間加熱後25℃に冷却する(粗化液のpH2.
0)。 (2)粗化条件:液温25℃で50秒間スプレーエッチ
ングする。(1) Composition of roughening solution: Na as persulfate
2 S 2 O 8 (200 g / l) and melamine (1.0 g / l) as a copper corrosion inhibitor were dissolved in water,
And then cooled to 25 ° C. for 1 hour (pH 2.
0). (2) Roughening conditions: spray etching at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0043】図2(d)工程:次に、基板両面に図示さ
れていないドライフィルムレジストを熱圧着によりラミ
ネートし、この上に予め所定の回路パターンが形成され
たネガマスクをあて露光、現像してレジストの抜きパタ
ーンを形成した。これをエッチングレジストとして銅箔
をエッチングして導体回路205を形成した後レジスト
を除去した。Step (d) of FIG. 2: Next, a dry film resist (not shown) is laminated on both surfaces of the substrate by thermocompression bonding, and exposed and developed by applying a negative mask on which a predetermined circuit pattern is formed in advance. A resist removal pattern was formed. Using this as an etching resist, the copper foil was etched to form a conductor circuit 205, and then the resist was removed.
【0044】図2(e)工程:この基板上にスプレー塗
布により絶縁層206を形成した。用いた絶縁樹脂は、
エポキシアクリレート系感光性樹脂である。FIG. 2E: An insulating layer 206 was formed on the substrate by spray coating. The insulating resin used was
It is an epoxy acrylate-based photosensitive resin.
【0045】図2(f)工程:上記の絶縁層206を8
0℃30分間乾燥し、2層目の導体回路形成に備えて、
図示されていない所定のマスクを介して露光し、溶剤現
像を行って絶縁樹脂206を選択的にエッチングしてパ
ターニング207し、電気的接続に必要な下地導体回路
205の所定領域を露出させ、さらに絶縁樹脂の膜質を
高めるため150℃で30分間加熱した。FIG. 2F: Step 8
After drying at 0 ° C. for 30 minutes, in preparation for the formation of the second conductive circuit,
Exposure is performed through a predetermined mask (not shown), solvent development is performed, the insulating resin 206 is selectively etched and patterned 207, and a predetermined area of the underlying conductor circuit 205 necessary for electrical connection is exposed. Heating was performed at 150 ° C. for 30 minutes to enhance the film quality of the insulating resin.
【0046】次いで、パターニングされた上記絶縁樹脂
層207の表面をアルカリ性の過マンガン酸塩の水溶液
で粗化し、粗化面208を形成した。粗化工程で基板表
面に付着した二酸化マンガン209を3%塩酸ヒドロキ
シルアミン水溶液で溶解し、次に絶縁層表面に生じた劣
化層210を界面活性剤の水溶液を用いて除去した。Next, the surface of the patterned insulating resin layer 207 was roughened with an aqueous solution of an alkaline permanganate to form a roughened surface 208. Manganese dioxide 209 adhering to the substrate surface in the roughening step was dissolved with a 3% aqueous solution of hydroxylamine hydrochloride, and then the deteriorated layer 210 formed on the surface of the insulating layer was removed using an aqueous solution of a surfactant.
【0047】図2(g)工程:次に、粗化面を活性化す
るため、めっき触媒液211に浸漬し、下地導電膜を無
電解めっきで0.2μm形成した後、厚付け電気銅めっ
きを25μm施し、銅めっき層212を形成した。いず
れも処理液は市販品を使用し、周知のめっき方法にて行
ったものである。Step (g) of FIG. 2: Next, in order to activate the roughened surface, the substrate is immersed in a plating catalyst solution 211 to form an underlying conductive film of 0.2 μm by electroless plating. Was applied to form a copper plating layer 212. In each case, the treatment liquid used was a commercially available product and was subjected to a known plating method.
【0048】図2(h)工程:再度図2(c)、図2
(d)工程と同じ方法を繰り返す。すなわち、銅めっき
層212表面を導体腐食抑制剤を含有する粗化液で粗化
213し、この上にエッチングレジストを形成し、露
光、現像、エッチング、レジスト剥離の工程を経て、導
体回路214を形成する。FIG. 2 (h) step: FIG. 2 (c), FIG.
(D) The same method as the step is repeated. That is, the surface of the copper plating layer 212 is roughened 213 with a roughening solution containing a conductor corrosion inhibitor, an etching resist is formed thereon, and the conductor circuit 214 is formed through the steps of exposure, development, etching, and resist peeling. Form.
【0049】図2(i)工程:最後に再度図2(e)工
程を繰り返し、絶縁層(ソルダレジストとする)を形成
してから、図2(f)工程と同様の方法でパターニング
215を行い接続に必要な導体回路214を露出させ
る。このようにして、図示したような2層積層構造の配
線基板を得た。FIG. 2 (i) step: Finally, the step of FIG. 2 (e) is repeated again to form an insulating layer (solder resist), and then the patterning 215 is performed in the same manner as in the step of FIG. 2 (f). The conductor circuit 214 necessary for the connection is exposed. Thus, a wiring board having a two-layer laminated structure as shown was obtained.
【0050】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。ドライフィルムレジストと強固に密着
し、本実施例のピール強度は520を示しており、比較
例(最高のもので275)と対比して向上している。ま
た、得られた最小導体回路幅は45を示しており、比較
例(最小のもので75)と対比して優れており、微細配
線可能なプリント配線基板が実現された。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1. It adheres firmly to the dry film resist, and the peel strength of this example is 520, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width is 45, which is excellent as compared with the comparative example (the minimum one is 75), and a printed wiring board capable of fine wiring is realized.
【0051】<実施例4>この例は片面3層、両面合計
6層の多層配線板を製造したものである。すなわち、実
施例3で得られた配線板上に、さらに両面共に導体層と
絶縁層とを1層づつ積層したものである。その分だけパ
ターン形成の繰り返し工程が増加した。先ず、実施例3
の最終工程〔図2(i)工程〕の後に、図2(e)工程
の絶縁層表面の粗化処理から図2(i)工程までを繰り
返し、基本的には実施例3と同様の工程で処理した。Embodiment 4 In this embodiment, a multilayer wiring board having three layers on one side and a total of six layers on both sides is manufactured. That is, on the wiring board obtained in Example 3, a conductor layer and an insulating layer were further laminated one by one on both sides. The number of repetition steps of pattern formation increased accordingly. First, Example 3
After the final step (step (i) in FIG. 2), the steps from the roughening treatment of the surface of the insulating layer in step (e) of FIG. 2 to the step (i) in FIG. 2 are repeated. Processed.
【0052】なお、材料および処理方法で実施例3と異
なる点を工程順に述べると、以下の通りである。図2
(c)、(h)の導体204、213の表面粗化工程に
おいて、粗化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を2−メ
ルカプトベンゾイミダゾールに変更した。2−メルカプ
トベンゾイミダゾールの添加量は0.7g/リットルで
ある。The differences between the materials and the processing method from Example 3 in the order of the steps are as follows. FIG.
In (c) and (h), in the surface roughening step of the conductors 204 and 213, the copper corrosion inhibitor “melamine” in the roughening solution was changed to 2-mercaptobenzimidazole. The addition amount of 2-mercaptobenzimidazole is 0.7 g / liter.
【0053】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。ドライフィルムレジストと強固に密着
し、本実施例のピール強度は537で、比較例(最高の
もので275)と対比して向上している。また、得られ
た最小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので7
5)と対比して優れており、微細配線可能なプリント配
線基板が実現された。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1. It is firmly adhered to the dry film resist, and the peel strength of this example is 537, which is higher than that of the comparative example (275 for the highest one). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, and the comparative example (the smallest one was 7
As compared with 5), a printed wiring board which can be finely wired is realized.
【0054】<実施例5>実施例1と基本的に同一工程
により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施例
で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を2−N−n−ブチ
ルメラミン(0.5g/リットル)に変更した。このよ
うな方法で造られたプリント配線基板のめっき銅箔上で
のセロテープのピール強度(g/cm)、ドライフィル
ムレジストとの密着性、および得られた最小導体回路の
幅(μm)を測定し、その結果を表1に表示した。Example 5 A double-sided wiring board having one layer on one side was manufactured by basically the same steps as in Example 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, the copper corrosion inhibitor “melamine” in the roughening solution was changed to 2-Nn-butylmelamine (0.5 g / liter). Measure the peel strength (g / cm) of scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board made in this way, the adhesion with the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductive circuit. The results are shown in Table 1.
【0055】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は541で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 541, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0056】<実施例6>実施例1と基本的に同一工程
により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施例
で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を6−アミノインダ
ゾール(0.5g/リットル)に変更した。このような
方法で造られたプリント配線基板のめっき銅箔上でのセ
ロテープのピール強度(g/cm)、ドライフィルムレ
ジストとの密着性、および得られた最小導体回路の幅
(μm)を測定し、その結果を表1に表示した。Example 6 A double-sided wiring board having one layer on one side was manufactured by basically the same steps as in Example 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, the copper corrosion inhibitor “melamine” in the roughening solution was changed to 6-aminoindazole (0.5 g / liter). Measure the peel strength (g / cm) of scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board made in this way, the adhesion with the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductive circuit. The results are shown in Table 1.
【0057】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は468で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は45で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of the present example is 468, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 45, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0058】<実施例7>実施例1と基本的に同一工程
により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施例
で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を6−ビニル−4,
6−ジアミノ−s−トリアジン(0.2g/リットル)
に変更した。このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。<Example 7> A double-sided wiring board having one side and one layer was manufactured by basically the same steps as in Example 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, the copper corrosion inhibitor “Melamine” in the roughening solution is treated with 6-vinyl-4,
6-diamino-s-triazine (0.2 g / l)
Changed to The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0059】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は420で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は50で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of the present example is 420, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 50, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0060】<実施例8>実施例1と基本的に同一工程
により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施例
で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を2−メチルベンゾ
チアゾール(0.3g/リットル)に変更した。このよ
うな方法で造られたプリント配線基板のめっき銅箔上で
のセロテープのピール強度(g/cm)、ドライフィル
ムレジストとの密着性、および得られた最小導体回路の
幅(μm)を測定し、その結果を表1に表示した。<Embodiment 8> A single-sided, single-layer double-sided wiring board was manufactured through basically the same steps as in Embodiment 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, the copper corrosion inhibitor “melamine” in the roughening solution was changed to 2-methylbenzothiazole (0.3 g / liter). Measure the peel strength (g / cm) of scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board made in this way, the adhesion with the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductive circuit. The results are shown in Table 1.
【0061】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は568で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は35で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 568, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 35, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0062】<実施例9>実施例1と基本的に同一工程
により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施例
で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の銅腐食抑制剤「メラミン」を2,4−ジアミノ
−6−フェニルトリアジン(1.2g/リットル)に変
更した。このような方法で造られたプリント配線基板の
めっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。<Embodiment 9> A single-sided, single-layer double-sided wiring board was manufactured by basically the same steps as in Embodiment 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, the copper corrosion inhibitor “melamine” in the roughening solution was changed to 2,4-diamino-6-phenyltriazine (1.2 g / liter). The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0063】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は520で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Strongly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this example is 520, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0064】<実施例10>実施例1と基本的に同一工
程により片面1層の両面配線基板を製造した。この実施
例で実施例1と異なる点は、以下の通りである。図1
(c)の導体層104の表面粗化処理工程において、粗
化液中の主成分である「Na2S2O8」を(NH4)2S2
O8に変更した。このような方法で造られたプリント配
線基板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g
/cm)、ドライフィルムレジストとの密着性、および
得られた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果
を表1に表示した。Example 10 A double-sided wiring board having one layer on one side was manufactured by basically the same steps as in Example 1. This embodiment is different from the first embodiment in the following points. FIG.
In the step (c) of roughening the surface of the conductor layer 104, “Na 2 S 2 O 8 ”, which is the main component in the roughening solution, is converted into (NH 4 ) 2 S 2
It was changed to O 8. The peel strength (g) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
/ Cm), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0065】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は515で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 515, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0066】<実施例11>この実施例は、上記工程D
と工程Eとを組み合わせて両面合計4層(片面2層背2
積層)の多層配線板を製造した例について説明するもの
であり、以下図3の断面工程図に従って順次説明する。
なお、この例も基本的には、実施例3に示した図2の各
工程と同一である。ただし、貫通孔203を開けるタイ
ミングと、処理方法の一部を変更している。<Embodiment 11> In this embodiment, the process D
And step E in combination, a total of 4 layers on both sides (2 layers on one side, 2
A description will be given of an example in which a multilayer wiring board (laminated) is manufactured.
Note that this example is also basically the same as each step in FIG. 2 shown in the third embodiment. However, the timing of opening the through-hole 203 and a part of the processing method are changed.
【0067】図3(a)工程:実施例3の図2(a)工
程と同一工程で、ガラスエポキシ積層基板301の両面
に銅箔を張り合わせた銅張り積層板を基板300として
準備する。 図3(b)工程:この基板の導体表面を過硫酸塩/腐食
抑制剤系の粗化液で処理し、導体粗化面303を形成し
た。用いた粗化液および粗化条件は、次の通りである。Step (a) of FIG. 3: A copper-clad laminate in which copper foil is adhered to both surfaces of a glass epoxy laminated substrate 301 is prepared as a substrate 300 in the same step as that of the step (a) of FIG. Step (b) of FIG. 3: The conductor surface of this substrate was treated with a roughening solution of a persulfate / corrosion inhibitor system to form a roughened conductor surface 303. The roughening solution and roughening conditions used are as follows.
【0068】(1)粗化液の組成:過硫酸塩としてNa
2S2O8(200g/リットル)、銅腐食抑制剤として
2−メルカプトベンゾチアゾール(0.5g/リット
ル)を純水に溶解し、70℃、20分間加熱後、25℃
に冷却する(粗化液のpH2.5)。 (2)粗化条件:液温25℃で50秒間スプレーエッチ
ングする。(1) Composition of roughening solution: Na as persulfate
2 S 2 O 8 (200 g / liter) and 2-mercaptobenzothiazole (0.5 g / liter) as a copper corrosion inhibitor were dissolved in pure water, heated at 70 ° C. for 20 minutes, and then heated at 25 ° C.
(Roughening solution pH 2.5). (2) Roughening conditions: spray etching at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0069】図3(c)工程:次に、基板両面に図示さ
れていないドライフィルムレジストを熱圧着によりラミ
ネートし、この上に図示されていない予め所定の回路パ
ターンが形成されたネガマスクをあて露光、現像してレ
ジストの抜きパターンを形成した。これをエッチングレ
ジストとして銅箔をエッチングして導体回路304を形
成した後レジストを除去した。FIG. 3C: Next, a dry film resist (not shown) is laminated on both sides of the substrate by thermocompression bonding, and a negative mask on which a predetermined circuit pattern (not shown) is formed is exposed thereon. The pattern was developed to form a resist removal pattern. Using this as an etching resist, the copper foil was etched to form a conductor circuit 304, and then the resist was removed.
【0070】図3(d)工程:この基板上にスプレー塗
布により絶縁層305を形成した。用いた絶縁樹脂は、
エポキシアクリレート系感光性樹脂である。FIG. 3D: An insulating layer 305 was formed on the substrate by spray coating. The insulating resin used was
It is an epoxy acrylate-based photosensitive resin.
【0071】図3(e)工程:上記の絶縁層305を8
0℃30分間乾燥し、2層目の導体回路形成に備えて、
図示されていない所定のマスクを介して露光し、溶剤現
像を行って絶縁樹脂305を選択的にエッチングしてパ
ターニング306し、電気的接続に必要な下地導体回路
304の所定領域を露出させ、さらに絶縁樹脂の膜質を
高めるため150℃で30分間加熱した。Step (e) of FIG.
After drying at 0 ° C. for 30 minutes, in preparation for the formation of the second conductive circuit,
Exposure is performed through a predetermined mask (not shown), solvent development is performed, the insulating resin 305 is selectively etched and patterned 306, and a predetermined region of the underlying conductive circuit 304 necessary for electrical connection is exposed. Heating was performed at 150 ° C. for 30 minutes to enhance the film quality of the insulating resin.
【0072】次いで、パターニングされた上記絶縁樹脂
層306の表面をアルカリ性の過マンガン酸塩の水溶液
で粗化し、粗化面307を形成した。粗化工程で基板表
面に付着した二酸化マンガン308を3%塩酸ヒドロキ
シルアミン水溶液で溶解し、次に絶縁層表面に生じた劣
化層309を界面活性剤の水溶液を用いて除去した。Next, the surface of the patterned insulating resin layer 306 was roughened with an alkaline aqueous solution of permanganate to form a roughened surface 307. Manganese dioxide 308 adhering to the substrate surface in the roughening step was dissolved with a 3% aqueous solution of hydroxylamine hydrochloride, and then the degraded layer 309 formed on the surface of the insulating layer was removed using an aqueous solution of a surfactant.
【0073】図3(f)工程:実施例3の図2(b)に
該当する工程で、基板300のスルーホール形成領域に
ドリルで貫通孔310をあける。Step (f) in FIG. 3: In a step corresponding to FIG. 2 (b) in the third embodiment, a through-hole 310 is drilled in a through-hole forming region of the substrate 300.
【0074】図3(g)工程:次に、粗化面を活性化す
るため、めっき触媒液311に浸漬し、下地導電膜を無
電解めっきで0.2μm形成した後、厚付け電気銅めっ
きを25μm施し、銅めっき層312を形成した。いず
れも処理液は市販品を使用し、周知のめっき方法にて行
ったものである。Step (g) of FIG. 3: Next, in order to activate the roughened surface, the substrate is immersed in a plating catalyst solution 311 to form an underlying conductive film of 0.2 μm by electroless plating. Was applied to form a copper plating layer 312. In each case, the treatment liquid used was a commercially available product and was subjected to a known plating method.
【0075】図3(h)工程:再度図3(b)、図3
(c)工程と同じ方法を繰り返す。すなわち、銅めっき
層312表面を前述の銅腐食抑制剤を含有する粗化液で
粗化処理313し、この上にエッチングレジストを形成
し、露光、現像、エッチング、レジスト剥離の工程を経
て、導体回路314を形成する。FIG. 3 (h) step: FIG. 3 (b), FIG.
(C) The same method as in the step is repeated. That is, the surface of the copper plating layer 312 is subjected to a roughening treatment 313 with a roughening solution containing the above-mentioned copper corrosion inhibitor, and an etching resist is formed thereon. A circuit 314 is formed.
【0076】図3(i)工程:最後に図3(d)工程を
繰り返し、絶縁層(ソルダレジストとする)を形成して
から、パターニング315を行い接続に必要な導体回路
を露出させる。このようにして、図示したような2層積
層構造の配線基板を得た。Step (i) of FIG. 3: Finally, the step of FIG. 3 (d) is repeated to form an insulating layer (which is referred to as a solder resist), and then patterning 315 is performed to expose conductor circuits necessary for connection. Thus, a wiring board having a two-layer laminated structure as shown was obtained.
【0077】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0078】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は535で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of the present example is 535, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0079】<実施例12>この実施例は、実施例4と
同様に片面3層、両面合計6層の積層体から構成される
多層配線基板の製造例を示したものであるが、ドリルに
より貫通孔を形成する工程のタイミングが異なってい
る。実施例11に示した図3の工程に比較的類似してい
るので、以下、図3を引用して説明する。<Embodiment 12> This embodiment shows an example of manufacturing a multilayer wiring board composed of a laminate of three layers on one side and a total of six layers on both sides in the same manner as in the fourth embodiment. The timing of the step of forming the through hole is different. Since the process is relatively similar to the process of FIG. 3 shown in the eleventh embodiment, a description will be given below with reference to FIG.
【0080】先ず、図3(a)〜図3(d)工程まで
は、実施例11と同様に処理する。次に図3(f)のド
リルによる貫通孔の形成工程と、図3(e)工程の絶縁
樹脂層306のパターン形成からその表面粗化処理30
7、308、309までの工程を入れ変え、先に図3
(f)工程のドリルによる貫通孔形成を行ない、その後
に図3(e)の工程〔図2(f)に該当する工程〕を実
施する。以後の工程は、実施例11の図3(g)〜図3
(i)工程と同一である。First, the processes in FIGS. 3A to 3D are performed in the same manner as in the eleventh embodiment. Next, a process of forming a through hole by a drill in FIG. 3F and a process of forming a pattern of the insulating resin layer 306 in the process of FIG.
The steps up to 7, 308 and 309 were switched, and FIG.
A through hole is formed by a drill in the step (f), and then the step of FIG. 3E (step corresponding to FIG. 2F) is performed. The subsequent steps are the same as those shown in FIGS.
(I) Same as step.
【0081】このようにして片面2層の積層構造を得た
後、さらに図3(e)工程における絶縁樹脂層の表面粗
化処理、および図3(g)〜図3(i)工程を繰り返す
ことにより、片面3層、両面合計6層構造の配線基板を
得た。After the two-layer structure on one side is thus obtained, the surface roughening treatment of the insulating resin layer in the step (e) of FIG. 3 and the steps (g) to (i) of FIG. 3 are repeated. Thus, a wiring board having a three-layer structure on one side and a total of six layers on both surfaces was obtained.
【0082】ただし、導体層304、311の表面粗化
処理工程における粗化液および処理条件は実施例11の
場合と異なり、以下のようにした。過硫酸塩として(N
H4)2S2O8(200g/リットル)、酸として98%
H2SO41ミリリットル/リットル)、銅腐食抑制剤と
して2−メチルベンゾチアゾール(0.5g/リット
ル):液温25℃で60秒スプレーエッチングした。However, the roughening solution and the processing conditions in the surface roughening process of the conductor layers 304 and 311 were different from those in Example 11 and were as follows. As persulfate (N
H 4 ) 2 S 2 O 8 (200 g / l), 98% as acid
H 2 SO 4 1 ml / liter), 2-methyl-benzothiazole as a copper corrosion inhibitor (0.5 g / l): was 60 seconds spray etching a liquid temperature 25 ° C..
【0083】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0084】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は503で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 503, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0085】<実施例13>実施例11と基本的に同一
工程により、片面2層、両面合計4層の両面配線基板を
製造した。この実施例で実施例10と異なる点は以下の
通りである。Example 13 A double-sided wiring board having two layers on one side and a total of four layers on both sides was manufactured by basically the same steps as in Example 11. This embodiment is different from the tenth embodiment in the following points.
【0086】図3(b)(h)工程の導体層の表面粗化
処理工程303,313における粗化液および処理条件
は実施例10の場合と異なり、以下のようにした。 (1)粗化液:98%H2SO4(120ミリリットル/
リットル)、35%H2O2(80ミリリットル/リット
ル)、2−メルカプトベンゾイミダゾール(0.5g/
リットル)の水溶液。 (2)化条件:液温30℃で60秒間スプレーエッチン
グ。The roughening solution and the processing conditions in the surface roughening steps 303 and 313 of the conductor layer in the steps (b) and (h) of FIG. 3 are different from those in Example 10 and are as follows. (1) Roughening solution: 98% H 2 SO 4 (120 ml /
L), 35% H 2 O 2 (80 ml / l), 2-mercaptobenzimidazole (0.5 g /
L) aqueous solution. (2) Condition: spray etching at a liquid temperature of 30 ° C. for 60 seconds.
【0087】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0088】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は546で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 546, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0089】<実施例14>実施例11と基本的に同一
工程により、片面2層、両面合計4層の両面配線基板を
製造した。この実施例で実施例11と異なる点は以下の
通りである。Example 14 A double-sided wiring board having two layers on one side and a total of four layers on both sides was manufactured by basically the same steps as in Example 11. This embodiment is different from the eleventh embodiment in the following points.
【0090】図3(b)、図3(h)工程の導体層の表
面粗化処理工程303、313における粗化液および処
理条件は実施例10の場合と異なり、以下のようにし
た。 (1)粗化液:FeCl3(370g/リットル)、メ
ラミン(0.5g/リットル)の水溶液。The roughening solution and processing conditions in the surface roughening treatment steps 303 and 313 of the conductor layer in the steps of FIGS. 3B and 3H are different from those in Example 10 and are as follows. (1) Roughening solution: an aqueous solution of FeCl 3 (370 g / l) and melamine (0.5 g / l).
【0091】(2)粗化条件:液温25℃で50秒間ス
プレーエッチング。(2) Roughening conditions: spray etching at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0092】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0093】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は428で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は50で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 428, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 50, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0094】<実施例15>実施例11と基本的に同一
工程により、片面2層、両面合計4層の両面配線基板を
製造した。この実施例で実施例11と異なる点は以下の
通りである。Example 15 A double-sided wiring board having two layers on one side and a total of four layers on both sides was manufactured by basically the same steps as in Example 11. This embodiment is different from the eleventh embodiment in the following points.
【0095】図3(b)、図3(h)工程の導体層の表
面粗化処理工程303、313における粗化液および処
理条件は実施例11の場合と異なり、以下のようにし
た。 (1)粗化液:CuCl2(250g/リットル)、3
6%HCl(130ミリリットル/リットル)、6−ア
ミノインダゾール(0.5g/リットル)の水溶液。 (2)粗化条件:液温25℃で50秒間スプレーエッチ
ング。The roughening solution and the treatment conditions in the surface roughening treatment steps 303 and 313 of the conductor layer in the steps of FIG. 3B and FIG. 3H are different from those of Example 11 and are as follows. (1) Roughening liquid: CuCl 2 (250 g / liter), 3
An aqueous solution of 6% HCl (130 ml / l), 6-aminoindazole (0.5 g / l). (2) Roughening conditions: spray etching at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0096】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0097】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は571で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は35で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this example is 571, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 35, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0098】<実施例16>実施例11と基本的に同一
工程により、片面2層、両面合計4層の両面配線基板を
製造した。この実施例で実施例11と異なる点は以下の
通りである。Example 16 A double-sided wiring board having two layers on one side and a total of four layers on both sides was manufactured by basically the same steps as in Example 11. This embodiment is different from the eleventh embodiment in the following points.
【0099】図3(b)、図3(h)工程の導体層の表
面粗化処理工程303、313における粗化液および処
理条件は実施例11の場合と異なり、以下のようにし
た。 (1)粗化液:Cu(NH4)4Cl2(450g/リッ
トル)、NH4Cl(100g/リットル)、28%ア
ンモニア水(5ミリリットル/リットル)、2,4−ジ
アミノ−6−フェニルトリアジン(0.5g/リット
ル)の水溶液。 (2)粗化条件:液温25℃で50秒間スプレーエッチ
ング。The roughening solution and the treatment conditions in the surface roughening treatment steps 303 and 313 of the conductor layer in the steps of FIG. 3B and FIG. 3H are different from those in Example 11 and are as follows. (1) Roughening liquid: Cu (NH 4 ) 4 Cl 2 (450 g / L), NH 4 Cl (100 g / L), 28% aqueous ammonia (5 mL / L), 2,4-diamino-6-phenyl An aqueous solution of triazine (0.5 g / l). (2) Roughening conditions: spray etching at a liquid temperature of 25 ° C. for 50 seconds.
【0100】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the scotch tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0101】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は511で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。Firmly adheres to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 511, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0102】<実施例17>実施例11と基本的に同一
工程により、片面2層、両面合計4層の両面配線基板を
製造した。この実施例で実施例11と異なる点は以下の
通りである。Example 17 A double-sided wiring board having two layers on one side and a total of four layers on both sides was manufactured by basically the same steps as in Example 11. This embodiment is different from the eleventh embodiment in the following points.
【0103】図3(b)、図3(h)工程の導体層の表
面粗化処理工程303、313における粗化液および処
理条件は実施例11の場合と異なり、以下のようにし
た。 (1)粗化液:Na2S2O8(200g/リットル)、
98%H2SO4(1ミリリットル/リットル)、2,4
−ジアミノ−6−フェニルトリアジン(2.0g/リッ
トル)の水溶液。 (2)粗化条件:液温40℃の粗化槽に浸漬、エアーブ
ロー撹拌・揺動により60秒間エッチングする。The roughening solution and the processing conditions in the surface roughening treatment steps 303 and 313 of the conductor layer in the steps of FIG. 3B and FIG. 3H are different from those in Example 11 and are as follows. (1) Roughening solution: Na 2 S 2 O 8 (200 g / liter),
98% H 2 SO 4 (1 ml / liter), 2, 4
-An aqueous solution of diamino-6-phenyltriazine (2.0 g / l). (2) Roughening conditions: immersion in a roughening bath at a liquid temperature of 40 ° C., etching for 60 seconds by air blow stirring and rocking.
【0104】このような方法で造られたプリント配線基
板のめっき銅箔上でのセロテープのピール強度(g/c
m)、ドライフィルムレジストとの密着性、および得ら
れた最小導体回路の幅(μm)を測定し、その結果を表
1に表示した。The peel strength (g / c) of the cellophane tape on the plated copper foil of the printed wiring board manufactured by such a method.
m), the adhesion to the dry film resist, and the width (μm) of the obtained minimum conductor circuit were measured, and the results are shown in Table 1.
【0105】ドライフィルムレジストと強固に密着し、
本実施例のピール強度は507で、比較例(最高のもの
で275)と対比して向上している。また、得られた最
小導体回路幅は40で、比較例(最小のもので75)と
対比して優れており、微細配線可能なプリント配線基板
が実現された。It adheres firmly to the dry film resist,
The peel strength of this embodiment is 507, which is higher than that of the comparative example (275 at the highest). Further, the obtained minimum conductor circuit width was 40, which was superior to the comparative example (the minimum one was 75), and a printed wiring board capable of fine wiring was realized.
【0106】<比較例1>この例は、実施例1の各工程
の中で導体表面の粗化処理工程〔図1(b)工程〕を省
略して製造したものであり、その結果を表1に表示し
た。銅箔102とドライフィルムレジストとの密着性が
悪く、ピール強度は145と劣り、また、ラインの欠損
等を生じないで形成できた最小導体幅も110μmと劣
っていた。<Comparative Example 1> This example was manufactured by omitting the step of roughening the conductor surface (the step of FIG. 1B) in each step of Example 1, and the results are shown in Table 1. 1 is shown. The adhesion between the copper foil 102 and the dry film resist was poor, the peel strength was inferior to 145, and the minimum conductor width that could be formed without causing line breakage was inferior to 110 μm.
【0107】<比較例2>この例は、実施例3の各工程
の中で導体表面の粗化処理工程〔図2(b)工程〕を機
械的研磨法のスクラブ研磨に変えて製造したものであ
り、その結果を表1に表示した。銅箔202とドライフ
ィルムレジストとの密着性が悪く、ピール強度は237
と劣り、また、ラインの欠損等を生じないで形成できた
最小導体幅も80μmと劣っていた。<Comparative Example 2> In this example, the step of roughening the conductor surface (step (FIG. 2B)) in each step of Example 3 was changed to scrub polishing of a mechanical polishing method. And the results are shown in Table 1. The adhesion between the copper foil 202 and the dry film resist is poor, and the peel strength is 237.
In addition, the minimum conductor width that could be formed without causing a line defect or the like was also inferior to 80 μm.
【0108】<比較例3>この例は、実施例13の各工
程の中で導体表面の粗化処理工程〔図3(b)、図3
(h)〕で粗化液中の銅腐食抑制剤を削除(無添加)し
て製造したものであり、その結果を表1に表示した。銅
箔302とドライフィルムレジストとの密着性が悪く、
ピール強度は275と劣り、また、ラインの欠損等を生
じないで形成できた最小導体幅も75μmと劣ってい
た。<Comparative Example 3> In this example, a step of roughening the conductor surface in each step of Example 13 [FIG. 3 (b), FIG.
(H)] in which the copper corrosion inhibitor in the roughening solution was removed (no addition), and the results are shown in Table 1. The adhesion between the copper foil 302 and the dry film resist is poor,
The peel strength was inferior to 275, and the minimum conductor width that could be formed without causing line breakage was inferior to 75 μm.
【0109】[0109]
【表1】 [Table 1]
【0110】[0110]
【発明の効果】以上詳述したように、本発明により所期
の目的を達成することができた。すなわち、配線基板の
製造において、銅箔とドライフィルムレジストとの密着
性が優れ、線幅60μm以下の微細配線パターンを容易
に製造することができ、産業上に寄与する効果は極めて
大きい。As described in detail above, the intended object has been achieved by the present invention. That is, in the production of a wiring board, the adhesion between the copper foil and the dry film resist is excellent, and a fine wiring pattern having a line width of 60 μm or less can be easily produced, and the effect of contributing to industry is extremely large.
【図1】本発明の一実施例となる配線基板の製造工程を
示す断面工程図。FIG. 1 is a sectional process view showing a manufacturing process of a wiring board according to one embodiment of the present invention.
【図2】本発明の他の実施例となる配線基板の製造工程
を示す断面工程図。FIG. 2 is a sectional process view showing a manufacturing process of a wiring board according to another embodiment of the present invention.
【図3】本発明の他の実施例となる配線基板の製造工程
を示す断面工程図。FIG. 3 is a sectional process view showing a manufacturing process of a wiring board according to another embodiment of the present invention.
100…両面銅張り積層基板、 101…基板(積層板)、 102…銅箔、 103…貫通孔、 104…導体の粗化面、 105…めっき触媒、 106…導体回路、 107…絶縁層、 108…絶縁層パターニング、 200…両面銅張り積層基板、 201…基板(積層板)、 202…銅箔、 203…貫通孔、 204…導体の粗化面、 205…導体回路、 206…絶縁層、 207…絶縁層パターニング、 208…絶縁層の粗化、 209…二酸化マンガン(除去)、 210…劣化層(除去)、 211…めっき触媒、 212…銅めっき 213…導体の粗化面、 214…導体回路、 215…絶縁層パターニング、 300…両面銅張り積層基板、 301…基板(積層板)、 302…銅箔、 303…導体の粗化面、 304…導体回路、 305…絶縁層、 306…絶縁層パターニング、 307…絶縁層の粗化、 308…二酸化マンガン(除去) 309…劣化層(除去)、 310…貫通孔 311…めっき触媒、 312…銅めっき 313…導体の粗化面、 314…導体回路、 315…絶縁層パターニング。 Reference Signs List 100: double-sided copper-clad laminated substrate, 101: substrate (laminate), 102: copper foil, 103: through hole, 104: roughened surface of conductor, 105: plating catalyst, 106: conductor circuit, 107: insulating layer, 108 ... Insulating layer patterning, 200: Double-sided copper-clad laminated substrate, 201: Substrate (laminate), 202: Copper foil, 203: Through hole, 204: Roughened surface of conductor, 205: Conductor circuit, 206: Insulating layer, 207 ... patterning of an insulating layer, 208 ... roughening of an insulating layer, 209 ... manganese dioxide (removed), 210 ... degraded layer (removed), 211 ... plating catalyst, 212 ... copper plating 213 ... roughened surface of conductor, 214 ... conductor circuit 215: insulating layer patterning 300: double-sided copper-clad laminate substrate 301: substrate (laminate) 302: copper foil 303: roughened surface of conductor 304: conductor circuit 305 Insulating layer, 306: patterning of insulating layer, 307: roughening of insulating layer, 308: manganese dioxide (removed) 309: degraded layer (removed), 310: through hole 311: plating catalyst, 312: copper plating 313: coarse of conductor 314: Conductor circuit, 315: Insulating layer patterning.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H05K 3/46 H05K 3/46 E (72)発明者 杉山 寿 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 浜岡 伸夫 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所情報通信事業部内 (72)発明者 橋本 悟 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所情報通信事業部内 (72)発明者 村松 善徳 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所情報通信事業部内──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H05K 3/46 H05K 3/46 E (72) Inventor Hisashi Susumu Sugiyama 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Production by Hitachi, Ltd. Within the Technology Research Laboratory (72) Inventor Nobuo Hamaoka 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside the Information and Communications Division, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Yoshinori Muramatsu 216 Totsuka-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture In-house Information and Communications Division of Hitachi, Ltd.
Claims (11)
フィルムを張り合わせ、配線パターン形成用マスクを介
して感光性フィルムを露光し、現像して基板上に配線パ
ターンを形成するプリント配線基板の製造工程におい
て、導体層上に感光性フィルムを張り合わせる前工程と
して、導体層表面を導体腐食抑制剤を含有する粗化液で
化学的に処理する表面粗化処理工程を有して成るプリン
ト配線基板の製造方法。1. A printed wiring for laminating a photosensitive film on a conductor layer formed on an insulating substrate, exposing the photosensitive film via a wiring pattern forming mask, and developing the same to form a wiring pattern on the substrate. In the manufacturing process of the substrate, as a pre-step of laminating the photosensitive film on the conductor layer, the method includes a surface roughening treatment step of chemically treating the surface of the conductor layer with a roughening solution containing a conductor corrosion inhibitor. A method for manufacturing a printed wiring board.
に銅濃度にして5〜35g/リットルの銅もしくは銅化
合物を溶解した粗化液で処理する工程として成る請求項
1記載のプリント配線基板の製造方法。2. The print according to claim 1, wherein said surface roughening treatment step is a step of treating with a roughening solution obtained by dissolving copper or a copper compound at a copper concentration of 5 to 35 g / l in the roughening solution. Manufacturing method of wiring board.
40℃の溶液温度で処理する工程として成る請求項1も
しくは2記載のプリント配線基板の製造方法。3. The method according to claim 1, wherein the surface roughening treatment step is performed at room temperature to room temperature.
3. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, comprising a step of processing at a solution temperature of 40 ° C.
過硫酸塩/銅腐食抑制剤系、過硫酸塩/酸/銅腐食抑制
剤系、硫酸/過酸化水素/銅腐食抑制剤系、塩化第二鉄
/銅腐食抑制剤系、塩化第二銅/銅腐食抑制剤系、およ
び塩化テトラアンミン銅/銅腐食抑制剤系のいずれか一
つの水溶液で構成して成る請求項1乃至3の何れか一つ
に記載のプリント配線基板の製造方法。4. A roughening solution containing said conductor corrosion inhibitor,
Persulfate / copper corrosion inhibitor system, persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system, sulfuric acid / hydrogen peroxide / copper corrosion inhibitor system, ferric chloride / copper corrosion inhibitor system, cupric chloride / The method for producing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, comprising an aqueous solution of any one of a copper corrosion inhibitor system and a copper tetraammine chloride / copper corrosion inhibitor system.
化液をpH4以下の酸性溶液とし、室温〜40℃の溶液
温度で処理する工程として成る請求項1乃至4の何れか
一つに記載のプリント配線基板の製造方法。5. The method according to claim 1, wherein when the roughening solution contains a persulfate, the roughening solution is converted into an acidic solution having a pH of 4 or less and treated at a solution temperature of room temperature to 40 ° C. A method for manufacturing a printed wiring board according to any one of the first to third aspects.
0.01〜10g/リットルとして成る請求項1乃至4
の何れか一つに記載のプリント配線基板の製造方法。6. The method according to claim 1, wherein the concentration of the conductor corrosion inhibitor in the roughening solution is 0.01 to 10 g / liter.
The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of the above.
ンゾイミダゾール、6−アミノインダゾール、2,4−
ジアミノ−6−フェニルトリアジン、2−ビニル−4、
6−ジアミノ−S−トリアジン、2−メチルベンゾチア
ゾール、メラミン、2−N−n−ブチルメラミンの少な
くとも1種で構成して成る請求項1乃至6の何れか一つ
に記載のプリント配線基板の製造方法。7. The conductor corrosion inhibitor is 2-mercaptobenzimidazole, 6-aminoindazole, 2,4-
Diamino-6-phenyltriazine, 2-vinyl-4,
The printed wiring board according to any one of claims 1 to 6, comprising at least one of 6-diamino-S-triazine, 2-methylbenzothiazole, melamine, and 2-N-n-butylmelamine. Production method.
箔で構成して成る請求項1乃至7の何れか一つに記載の
プリント配線基板の製造方法。8. The method according to claim 1, wherein the conductor layer formed on the insulating substrate is made of copper foil.
/銅腐食抑制剤系、硫酸/過酸化水素/銅腐食抑制剤
系、塩化第二鉄/銅腐食抑制剤系、塩化第二銅/銅腐食
抑制剤系、および塩化テトラアンミン銅/銅腐食抑制剤
系のいずれか一つの水溶液で構成すると共に、前記水溶
液に銅濃度にして5〜35g/リットルの銅もしくは銅
化合物を溶解して成る銅を導体層とするプリント配線基
板の導体層表面粗化処理用粗化液。9. A persulfate / copper corrosion inhibitor system, a persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system, a sulfuric acid / hydrogen peroxide / copper corrosion inhibitor system, a ferric chloride / copper corrosion inhibitor system, It is composed of an aqueous solution of any one of a cupric chloride / copper corrosion inhibitor system and a copper tetraammine chloride / copper corrosion inhibitor system, and the aqueous solution contains copper or a copper compound at a copper concentration of 5 to 35 g / liter. A roughening solution for a surface roughening treatment of a conductor layer of a printed wiring board having copper as a conductor layer formed by melting.
pH4以下の酸性溶液として成る請求項9記載のプリン
ト配線基板の導体層表面粗化処理用粗化液。10. When the roughening solution contains a persulfate,
The roughening solution for roughening the surface of a conductive layer of a printed wiring board according to claim 9, which is an acidic solution having a pH of 4 or less.
酸塩/酸/銅腐食抑制剤系からなるプリント配線基板の
導体層表面粗化処理用粗化液の調製法であって、粗化液
の建浴後、40〜80℃で10分〜5時間加熱すると共
に、粗化液をpH4以下の酸性溶液とする粗化液の調製
方法。11. A method for preparing a roughening solution for a surface roughening treatment of a conductor layer of a printed wiring board, comprising a persulfate / copper corrosion inhibitor system or a persulfate / acid / copper corrosion inhibitor system. A method for preparing a roughening solution which is heated at 40 to 80 ° C. for 10 minutes to 5 hours after the formation of the roughening solution and the roughening solution is converted to an acidic solution having a pH of 4 or less.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP593397A JPH10209604A (en) | 1997-01-17 | 1997-01-17 | Method for manufacturing printed wiring board, roughening solution used therefor, and method for preparing roughening solution |
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Publications (1)
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