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JPH10190016A - Semiconductor demultiplexing photodetector - Google Patents

Semiconductor demultiplexing photodetector

Info

Publication number
JPH10190016A
JPH10190016A JP8355729A JP35572996A JPH10190016A JP H10190016 A JPH10190016 A JP H10190016A JP 8355729 A JP8355729 A JP 8355729A JP 35572996 A JP35572996 A JP 35572996A JP H10190016 A JPH10190016 A JP H10190016A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
waveguide
semiconductor
waveguides
diffracted light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8355729A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinobu Sekiguchi
芳信 関口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP8355729A priority Critical patent/JPH10190016A/en
Publication of JPH10190016A publication Critical patent/JPH10190016A/en
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a photodetector having a demultiplexing function without increasing the number of components and the number of alignment processes. SOLUTION: This demultiplexing photodetector is constituted of semiconductor optical waveguides 1 and 1a to which light is made incident and a photodetector having diffraction gratings formed in the waveguides 1 and 1a and a plurality of elements which receive diffracted light radiated into the space from the waveguides 1 and 1a. In the diffracted light radiating region 5 of the waveguides 1 and 1a, a plurality of waveguides are formed in parallel with each other so that the phases of guided light of the waveguides in the region 5 can become coincident with each other.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光通信などにおい
て使用される分波機能を有する光検出装置、および、そ
れを用いた波長多重通信ネットワーク等に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photodetector having a demultiplexing function used in optical communication and the like, and a wavelength division multiplexing communication network using the same.

【0002】[0002]

【従来技術】従来、回折格子が形成された光導波路から
導波路外へ放射される回折光の放射角が波長に依存する
ことを利用した分波光検出装置として、本出願人の特開
平6−130438号公報に開示されたものがある
2. Description of the Related Art Conventionally, as a demultiplexed light detecting device utilizing the fact that the emission angle of diffracted light radiated from an optical waveguide having a diffraction grating to the outside of the waveguide depends on the wavelength, Japanese Patent Application Laid-open No. There is one disclosed in JP-A-130438.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとしている課題】従来例において、
入射光の波長λの変化に対する回折光の傾斜角θの変化
は、 dθ/dλ〜−0.4deg/nm (1) である。回折光の導波路に沿う方向の広がり角θp(フ
ァーフィールドパターン(FFP))は非常に狭く、θ
p〜0.2°以下である。したがって、入射光の波長が
1nm程度変化すれば、(1)式より回折光の放射角は
〜0.4°変化する。よって、回折光の放射角は、導波
路に沿う方向で回折光のビーム径程度変化することか
ら、光検出素子の導波路に沿う方向の受光面のサイズを
回折光のビーム径(θp)程度にすれば、lnm程度の
波長変化を検出できることになる。
SUMMARY OF THE INVENTION In the conventional example,
The change of the inclination angle θ of the diffracted light with respect to the change of the wavelength λ of the incident light is dθ / dλ to −0.4 deg / nm (1). The spread angle θp (far-field pattern (FFP)) of the diffracted light in the direction along the waveguide is very narrow,
p〜0.2 ° or less. Therefore, if the wavelength of the incident light changes by about 1 nm, the radiation angle of the diffracted light changes by about 0.4 ° according to equation (1). Therefore, since the radiation angle of the diffracted light changes about the beam diameter of the diffracted light in the direction along the waveguide, the size of the light receiving surface in the direction along the waveguide of the photodetector is changed to about the beam diameter (θp) of the diffracted light. Then, a wavelength change of about 1 nm can be detected.

【0004】しかしながら、回折光の導波路を横切る方
向での広がり角(θt)は広く15°程度あるので、従
来の構成(図6)では、集光のために導波路と光検出器
の間にシリンドリカルレンズが配置されており、構成部
品の増加、アライメント工程の増加が生じていた。
However, since the divergence angle (θt) of the diffracted light in the direction crossing the waveguide is as large as about 15 °, the conventional configuration (FIG. 6) requires a space between the waveguide and the photodetector for condensing. In this case, a cylindrical lens is arranged, and the number of components and the number of alignment steps increase.

【0005】図6は、回折格子付き光導波路と光検出素
子列132を有する光検出装置の上記従来例の構成図で
ある。同図において、n−GaAs基板122上に、順
に、n−AlGa1−xAs光閉じ込め層123、A
Ga1−yAs光導波層124(0≦y<x<1と
なっている。これにより光閉じ込め層123のエネルギ
ーギャップの方が光導波層124のそれより大きくなっ
て、層123の屈折率が小さくなり光閉じ込め機能を果
たす)、p−AlGa1−xAs光閉じ込め層12
5、p−AlGa1−zAsコンタクト層128(0
<z<1)が形成されている。横方向の閉じ込めは、ス
トライプ形状部を除く両側エッチング後の再成長で積層
された高抵抗AlGa1−xAs埋め込み層135で
行なわれる。
FIG. 6 is a configuration diagram of the above-mentioned conventional example of a photodetector having an optical waveguide with a diffraction grating and a photodetector array 132. As shown in FIG. In the figure, on an n-GaAs substrate 122, in sequence, n-Al x Ga 1- x As light confinement layer 123, A
l y Ga 1-y As waveguide layer 124 (0 ≦ y <has a x <1. Thus towards the energy gap of the optical confinement layer 123 is larger than that of the optical waveguide layer 124, the layer 123 refractive index becomes small optical confinement functions), p-Al x Ga 1 -x As light confinement layer 12
5, p-Al z Ga 1 -z As contact layer 128 (0
<Z <1) is formed. Lateral confinement is carried out in a high-resistance Al x Ga 1-x As buried layer 135 are stacked in regrowth after both side etching except the stripe-shaped portion.

【0006】コンタクト層128の上には、回折光出射
用窓136が形成された上部p型電極127が形成さ
れ、n−GaAs基板122の裏面には、n型電極12
1が形成されている。また、AlGa1−yAs光導
波層124の内部若しくは導波層124から光の波長範
囲内の位置に、回折格子(不図示)が形成されている。
更に、回折格子付き光導波路の回折光出射用窓136の
真上には、3個の素子PD1〜3から成る光検出素子列
132が配置されている。また、回折光出射用窓136
の真上には、入射光の偏波状態によって分波機能が低下
しない様にする為の偏光板138が配置されている。
An upper p-type electrode 127 having a diffracted light emission window 136 formed thereon is formed on the contact layer 128, and an n-type electrode 12 is formed on the back surface of the n-GaAs substrate 122.
1 is formed. At a position in the wavelength range from the interior or the waveguide layer 124 of the light Al y Ga 1-y As waveguide layer 124, the diffraction grating (not shown) is formed.
Further, a light detection element array 132 including three elements PD1 to PD3 is arranged right above the diffracted light emission window 136 of the optical waveguide with a diffraction grating. Also, the diffracted light exit window 136
A polarizing plate 138 is disposed directly above the polarizing plate 138 so that the demultiplexing function is not reduced by the polarization state of the incident light.

【0007】以上の構成において、導波路に光が入力す
ると、光導波層124内又はこれを含む導波路の付近に
形成されている回折格子により回折光が導波路上面に出
射される。光導波路から出射される回折光のファーフィ
ールドパターンは、前述したように、導波路に沿う方向
では非常に狭くその広がり角(θ)は0.2°以下で
あり、導波路を横切る方向では広く、その広がり角(θ
)は15°程度である。このように導波路を横切る方
向における広がり角が大きいので、光検出素子列132
に入射する光量は、全放射光量の数%程度になってしま
う。
In the above configuration, when light is input to the waveguide, diffracted light is emitted to the upper surface of the waveguide by the diffraction grating formed in the optical waveguide layer 124 or near the waveguide including the same. As described above, the far-field pattern of the diffracted light emitted from the optical waveguide is very narrow in the direction along the waveguide and has a divergence angle (θ P ) of 0.2 ° or less, and in the direction crossing the waveguide. Wide, its divergence angle (θ
t ) is about 15 °. Since the divergence angle in the direction traversing the waveguide is large, the photodetector array 132
Is about several percent of the total amount of radiation.

【0008】そこで、光導波路と光検出素子列132の
間にシリンドリカルレンズ137を配置して、回折光の
導波路を横切る方向の集光を行なうことにより検出素子
列132に入射する光量を増加させ、光導波路に入射す
る光が弱くても検出が有効に行なわれるようにしたもの
である。しかし、これでは上述した様な欠点があった。
Therefore, a cylindrical lens 137 is disposed between the optical waveguide and the photodetector array 132 to collect the diffracted light in a direction crossing the waveguide, thereby increasing the amount of light incident on the detector array 132. In addition, the detection is effectively performed even if the light incident on the optical waveguide is weak. However, this has the drawbacks as described above.

【0009】従って、本発明の目的は、上記の問題点を
解決した光通信などにおいて使用される分波機能等を有
する光検出装置、および、それを用いた波長多重通信ネ
ットワーク等を提供することにある。
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a photodetector having a demultiplexing function and the like used in optical communication and the like which has solved the above problems, and a wavelength division multiplexing communication network and the like using the same. It is in.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、回折光
を放射する領域の導波路が、並列に複数存在し、かつ、
それぞれの導波光の位相をすべて一致させることによ
り、導波路を横切る方向において導波路と導波路の間を
含む広い領域から回折光が放射されることになり、この
方向の回折光の広がり角(θt)を大幅に低減させるこ
とができる。これにより、集光のためのシリンドリカル
レンズなどを不要とする分波検出装置を実現したもので
ある。
According to the present invention, there are provided a plurality of parallel waveguides in a region which emits diffracted light;
By making all the phases of the respective guided lights coincide, diffracted light is emitted from a wide area including between the waveguides in a direction crossing the waveguide, and the spread angle of the diffracted light in this direction ( θt) can be greatly reduced. This realizes a demultiplexing detection device that does not require a cylindrical lens or the like for condensing light.

【0011】狭い領域から放射される光の回折による広
がり角は、開口部の大きさをDとすると、平行光がスリ
ットDを通過した際の回折パターンで近似でき、回折光
強度が中心の1/2になる位置を広がり角θとすると、 sinθ=0.52・λ/D λ:光の波長 (2) となる。したがって、光の波長λを1.55μmとし、
ストライプの幅Dを通常のレーザの2μmとすると広が
り角は24度にもなる。
When the size of the opening is D, the spread angle of the light emitted from the narrow region can be approximated by a diffraction pattern when the parallel light passes through the slit D. Assuming that the position where / 2 is the spread angle θ, sin θ = 0.52 · λ / Dλ: wavelength of light (2) Therefore, the light wavelength λ is 1.55 μm,
If the width D of the stripe is 2 μm of a normal laser, the divergence angle becomes as large as 24 degrees.

【0012】一方、ストライプ幅を20μmにすれば、
広がり角は上の(2)式からおよそ1/10の2.4度
となるが、ストライプ幅が広くなるとストライプ内の光
強度分布を均一に保持することが困難となる。これらを
解決したものが以下に説明する各発明である。
On the other hand, if the stripe width is 20 μm,
The divergence angle is about 1/10 of 2.4 degrees from the above equation (2). However, if the stripe width is wide, it becomes difficult to maintain a uniform light intensity distribution in the stripe. The invention which solves these is each invention demonstrated below.

【0013】そこで、本出願の特許請求の範囲の請求項
1に係る発明は、狭いストライプを並列に複数本配置
し、各ストライプ内の光の位相を一致させることによ
り、あたかもストライプとストライプの間を含む広い領
域から光が放射されるような状態を実現し、しかも、ス
トライプ内の光強度分布を均一に維持することを可能に
した構成を有することを特徴とするものである。詳細に
は、光が入射される半導体光導波路と該導波路に形成さ
れた回折格子と該導波路から空間に放射される回折光を
受光する複数の素子を持つ光検出器で構成される分波光
検出装置において、前記半導体導波路の少なくとも回折
光を放射する領域の導波路が、複数並列に存在し、か
つ、該回折光を放射する領域の導波路のそれぞれの導波
光の位相がすべて一致する様に形成されていることを特
徴とする。
The invention according to claim 1 of the present application is directed to a method in which a plurality of narrow stripes are arranged in parallel, and the phases of light in each stripe are made to coincide with each other, so that the stripes have the same effect. And a structure in which light can be emitted from a wide area including the above, and the light intensity distribution in the stripe can be maintained uniformly. In detail, a semiconductor optical waveguide into which light is incident, a diffraction grating formed in the waveguide, and a photodetector having a plurality of elements for receiving diffracted light radiated from the waveguide into space are provided. In the wave light detecting device, at least a plurality of waveguides in a region of the semiconductor waveguide that emits diffracted light exist in parallel, and all of the waveguides in the waveguide of the region that emits the diffracted light have the same phase. It is characterized in that it is formed so that

【0014】請求項2に係る発明は、光が入射される半
導体光導波路部分の隣接するストライプ導波路を近接配
置するか、または、導波路で接続することにより、導波
光が光学的に結合状態となるフェーズドアレーレーザ構
成とし、各ストライプ内の導波光の位相を一致させ、前
記回折光を放射する領域の導波路に接続させているもの
である。これにより、前記半導体導波路の回折光を放射
する領域の導波路が、複数並列に存在し、かつ、該回折
光を放射する領域の導波路のそれぞれの導波光の位相が
すべて一致する様にできる。詳細には、前記光が入射さ
れる半導体光導波路の部分は、複数の導波路で構成され
ており、かつ、これら複数の導波路が光学的に結合状態
にある程近接しているか、または、隣接する導波路間を
導波路で接続したフェーズドアレーレーザ構成であるこ
とを特徴とする。
According to the second aspect of the present invention, the guided light is optically coupled to the semiconductor optical waveguide where the light is incident by arranging the stripe waveguides adjacent to each other or by connecting them by a waveguide. The phased array laser is configured so that the phase of the guided light in each stripe is matched and the phased array laser is connected to the waveguide in the region that emits the diffracted light. Thereby, a plurality of waveguides in the semiconductor waveguide in the region emitting the diffracted light exist in parallel, and the phases of the respective guided lights in the waveguides in the region emitting the diffracted light all match. it can. In detail, the portion of the semiconductor optical waveguide on which the light is incident is constituted by a plurality of waveguides, and the plurality of waveguides are so close that they are optically coupled, or It is a phased array laser configuration in which adjacent waveguides are connected by waveguides.

【0015】請求項3に係る発明は、入射光の結合損失
や導波損失を補うために、光増幅部を複数設けることに
より、各導波光の位相の一致を容易に実現するとともに
ストライプ内の光強度分布の均一性を向上させることに
より、回折光の共振器方向の広がり角も狭くし、波長分
解能を向上させるものである。詳細には、前記光が入射
される半導体光導波路を含む全導波路において、導波光
を増幅するための電流注入領域が、複数箇所設けられて
いることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, by providing a plurality of optical amplifiers for compensating for coupling loss and waveguide loss of incident light, it is possible to easily achieve the same phase of each of the guided lights and to reduce the number of light beams within the stripe. By improving the uniformity of the light intensity distribution, the spread angle of the diffracted light in the direction of the resonator is narrowed, and the wavelength resolution is improved. In detail, a plurality of current injection regions for amplifying the guided light are provided in all the waveguides including the semiconductor optical waveguide into which the light is incident.

【0016】請求項4に係る発明は、回折光放射部の導
波路のバンド端波長を導波光の波長より短波長とするこ
とにより、導波光の吸収損失を低減し、回折光放射部の
導波光強度分布を更に平坦化し、波長分解能の低下を抑
制するものである。詳細には、少なくとも前記回折光を
放射する領域の導波路のバンド端波長が、導波光の波長
より短波長であることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, by setting the band edge wavelength of the waveguide of the diffracted light radiating section to be shorter than the wavelength of the guided light, the absorption loss of the guided light is reduced, and the waveguide of the diffracted light radiating section is guided. This is to further flatten the wave light intensity distribution and suppress a decrease in wavelength resolution. Specifically, at least the band edge wavelength of the waveguide in the region that emits the diffracted light is shorter than the wavelength of the guided light.

【0017】請求項5に係る発明は、回折光を放射する
領域の導波路間隔を、導波光が光学的に結合状態となる
のに必要なストライプ間隔より広くすることを可能に
し、少ないストライプで狭い広がり角を実現するもので
ある。更に、フェーズドアレー領域で、結合状態にある
隣接導波路の導波光を使用しないことにより、隣接導波
路に入射光と逆相導波光が励起された場合でも、分波特
性の安定性の維持を可能にするものである。詳細には、
前記光が入射される半導体光導波路の部分の光学的に結
合状態にある複数の導波路が、一本おきに、前記回折光
を放射する領域の導波路に接続していることを特徴とす
る。
According to a fifth aspect of the present invention, the interval between the waveguides in the region where the diffracted light is radiated can be made wider than the interval between the stripes necessary for the optically coupled state of the guided light. This achieves a narrow divergence angle. Furthermore, by not using the guided light of the adjacent waveguide in the coupled state in the phased array region, the stability of the demultiplexing characteristics is maintained even when the incident light and the opposite-phase guided light are excited in the adjacent waveguide. Is what makes it possible. For details,
A plurality of optically coupled waveguides in a portion of the semiconductor optical waveguide into which the light is incident are alternately connected to waveguides in a region that emits the diffracted light. .

【0018】請求項6に係る発明は、光が入射される半
導体光導波路部への電流注入と回折光を放射する導波路
部に隣接して設けられた光増幅部への電流注入をそれぞ
れ最適に駆動することにより、均一な導波光を得るもの
である。詳細には、電流注入領域が、前記光が入射され
る半導体光導波路の部分と導波路の数が少ない部分に独
立に形成されていることを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, the current injection into the semiconductor optical waveguide into which light is incident and the current injection into the optical amplifier provided adjacent to the waveguide that emits diffracted light are optimized. , A uniform guided light is obtained. More specifically, the present invention is characterized in that the current injection region is independently formed in a portion of the semiconductor optical waveguide where the light is incident and a portion where the number of waveguides is small.

【0019】請求項7に係る発明は、前記光が入射され
る半導体光導波路の部分とは反対側の端部に導波光を吸
収する導波光吸収部が設けられていることを特徴とす
る。これにより反射光が回折光に悪影響を与えることが
なくなる。
The invention according to claim 7 is characterized in that a guided light absorbing portion for absorbing guided light is provided at an end opposite to a portion of the semiconductor optical waveguide into which the light is incident. Thereby, the reflected light does not adversely affect the diffracted light.

【0020】請求項8に係る発明は、前記回折光を放射
する領域の導波路に近接してのみ回折格子が形成されて
いることを特徴とする。
The invention according to claim 8 is characterized in that a diffraction grating is formed only in the vicinity of the waveguide in the region for emitting the diffracted light.

【0021】請求項9に係る発明は、上記の発明の分波
光検出装置から成る受信装置を、異なる複数の波長で情
報通信を行う波長多重通信ネットワークにおいて使用す
るものである。詳細には、光ファイバーを使用し、異な
る複数の波長で情報通信を行う波長多重通信ネットワー
クにおいて、前記波長多重通信ネットワークに接続され
た少なくとも1台の端末が、前記複数の波長信号の内少
なくとも一部を受信するために、上記の半導体分波光検
出装置を分波受信装置として備えていることを特徴とす
る。
According to a ninth aspect of the present invention, a receiving apparatus comprising the above-described demultiplexed light detecting apparatus is used in a wavelength division multiplexing communication network for performing information communication at a plurality of different wavelengths. Specifically, in a wavelength division multiplexing communication network that performs information communication using a plurality of different wavelengths using an optical fiber, at least one terminal connected to the wavelength division multiplexing communication network has at least a part of the plurality of wavelength signals. In order to receive the signal, the above-described semiconductor demultiplexing light detecting device is provided as a demultiplexing receiving device.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】実施例1 図1は、本発明の第1実施例の特徴を最もよく表わす導
波路部分の上面図である。同図において、隣接する導波
路1が光学的に結合状態にある(または、隣接する導波
路が枝状の導波路で接続されていてもよい)フェーズド
アレイレーザ構造領域2には電流注入されており、信号
光が光ファイバ3からフェーズドアレイレーザ構造部2
の中央のストライプ1aに入射されると、入射光は増幅
されるとともに、隣接するストライプ1に位相の揃った
導波光が伝搬する。各導波光は、導波路1近傍に回折格
子(図2の210を参照)が形成されているグレーティ
ング結合領域5において回折され、大部分は導波路1の
外の空間に放射される。信号光の入射部および導波路の
一部(本実施例ではグレーティング結合領域5の後部の
光増幅部4)には電流注入のための電極29が設けられ
ており、光ファイバ3との結合損失や導波路1の損失を
補う構成となっている。デバイスの入射端には低反射コ
ーティング8が施され、他端部には導波光吸収部9が設
けられている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a top view of a waveguide portion which best shows the features of the first embodiment of the present invention. In the figure, current is injected into a phased array laser structure region 2 in which adjacent waveguides 1 are optically coupled (or adjacent waveguides may be connected by a branch waveguide). And the signal light is transmitted from the optical fiber 3 to the phased array laser structure 2.
When the light is incident on the central stripe 1a, the incident light is amplified, and the guided light having the same phase propagates to the adjacent stripe 1. Each guided light is diffracted in the grating coupling region 5 where a diffraction grating (see 210 in FIG. 2) is formed in the vicinity of the waveguide 1, and most of the light is radiated to a space outside the waveguide 1. An electrode 29 for current injection is provided in the signal light incident portion and a part of the waveguide (the optical amplifying portion 4 behind the grating coupling region 5 in this embodiment), and a coupling loss with the optical fiber 3 is provided. And a configuration that compensates for the loss of the waveguide 1. A low-reflection coating 8 is applied to the incident end of the device, and a waveguide light absorbing section 9 is provided at the other end.

【0023】図2は、図1の構成を詳細に示す部分断面
斜視図であり、p−InP基板22の一部分にピッチ4
80nmの回折格子210が形成されており、そのp−
InP基板22上に、ストライプ状に形成されたバンド
端波長1.13μmのInGaAsP光ガイド層23、
およびバンド端波長1.54μmの多重量子井戸(MQ
W)活性層24が積層されている。
FIG. 2 is a partial cross-sectional perspective view showing the configuration of FIG. 1 in detail.
An 80 nm diffraction grating 210 is formed, and its p-
An InGaAsP light guide layer 23 having a band edge wavelength of 1.13 μm formed in a stripe shape on an InP substrate 22;
And a multiple quantum well (MQ) having a band edge wavelength of 1.54 μm.
W) The active layer 24 is laminated.

【0024】電流狭窄は、公知の方法であるp−InP
層25およびn−InP層26の電流ブロック層により
行われる。更に、これらの層上に、n−InP上部クラ
ッド層27、n−InGaAsコンタクト層28、およ
び金属電極29が積層され、基板22の裏面に金属電極
21が形成されている。これらの層構成は、フェーズド
アレイレーザ構造部2、グレーティング結合領域(回折
光出力部)5、光増幅部4、導波光吸収部9を通じて基
本的に同じである。
The current confinement is performed by a known method, p-InP.
This is performed by the current blocking layer of the layer 25 and the n-InP layer 26. Further, an n-InP upper clad layer 27, an n-InGaAs contact layer 28, and a metal electrode 29 are laminated on these layers, and a metal electrode 21 is formed on the back surface of the substrate 22. These layer configurations are basically the same through the phased array laser structure 2, the grating coupling region (diffraction light output unit) 5, the optical amplification unit 4, and the guided light absorption unit 9.

【0025】なお、回折光出力部5では、回折光が空間
に放射されるのに障害となるn−InGaAs28、お
よび金属電極29は除去されている。また、図2では示
されていないが、信号光が入射される端面側には低反射
コーティング8が施されている。
In the diffracted light output section 5, the n-InGaAs 28 and the metal electrode 29, which hinder the diffracted light from being emitted into space, are removed. Although not shown in FIG. 2, a low-reflection coating 8 is applied to the end face on which the signal light is incident.

【0026】本実施例の動作を説明する。図2におい
て、フェーズドアレイレーザ構造領域2は発振しない程
度の電流注入状態にあり、波長1.55μmの光信号が
光ファイバ3から1つのストライプ導波路1aに入射さ
れる。フェーズドアレイレーザ構造領域2では、隣接導
波路間が約4μm程度と接近しており光学的に結合状態
にあり、さらに、電流注入状態にあるので、入射光は増
幅されるとともに、隣接する導波路に同じ位相の同一光
信号が次々に導波され、フェーズドアレイレーザ構造領
域2の全ストライプ導波路1の導波光は位相の揃った同
一の光信号となる。
The operation of this embodiment will be described. In FIG. 2, the phased array laser structure region 2 is in a current injection state that does not oscillate, and an optical signal having a wavelength of 1.55 μm is incident on one stripe waveguide 1 a from the optical fiber 3. In the phased array laser structure region 2, the distance between adjacent waveguides is close to about 4 μm, which is in an optically coupled state, and is in a current injection state, so that incident light is amplified and the adjacent waveguides are amplified. The same optical signal having the same phase is successively guided, and the guided light of all the stripe waveguides 1 in the phased array laser structure region 2 becomes the same optical signal having the same phase.

【0027】これらの導波光が回折光出力部5に達する
と、回折格子210により回折光がほぼ鉛直方向の空間
に放射される。この際、回折光出力部5のほぼ全長にお
いて導波光の減衰を補う為に、フェーズドアレイレーザ
構造領域2及び光増幅部4で電流が注入されており、回
折光出力部5のほぼ全長で、ストライプ内の光強度の均
一性が向上し、回折光の強度分布も向上して精度の良い
分波光検出が実現できる。
When these guided lights reach the diffracted light output section 5, the diffracted light is radiated by the diffraction grating 210 into a space substantially in the vertical direction. At this time, a current is injected into the phased array laser structure region 2 and the optical amplifier 4 to compensate for the attenuation of the guided light over substantially the entire length of the diffracted light output unit 5. The uniformity of the light intensity in the stripe is improved, and the intensity distribution of the diffracted light is also improved, so that accurate detection of the split light can be realized.

【0028】回折光の垂直方向からの傾斜角φは、回折
格子210のピッチΛと入射光の波長λに依存し、回折
光は次の関係式に従って波長に依存した傾斜角で放射さ
れる。 sinφ=neff-λ/Λ neff:導波路の等価屈折率 (3) つまり、回折光は波長毎に異なった傾斜角で放射される
ので、それぞれの回折光を別個の光検出器で受光するこ
とにより波長多重信号が個別波長の信号に分離される。
The tilt angle φ of the diffracted light from the vertical direction depends on the pitch の of the diffraction grating 210 and the wavelength λ of the incident light, and the diffracted light is emitted at a wavelength-dependent tilt angle according to the following relational expression. sinφ = neff-λ / Λ neff: Equivalent refractive index of the waveguide (3) In other words, since diffracted light is emitted at different inclination angles for each wavelength, each diffracted light must be received by a separate photodetector. As a result, the wavelength division multiplexed signal is separated into individual wavelength signals.

【0029】回折光の導波路1を横切る方向の広がり角
は、回折光出力部5(図1参照)の最も遠いストライプ
間の距離で決まる。本実施例では、各ストライプ導波路
の幅は2μm、ストライプの間は4μmに設定されてい
るので、図1の構成における最も遠いストライプの間の
距離は26μmとなり、回折光が導波路1を横切る方向
へ広がる角度は、(3)式より、2μm幅のストライプ
が一本の場合の約24度に対し、約1.8度と大幅に縮
小される。
The spread angle of the diffracted light in the direction crossing the waveguide 1 is determined by the distance between the farthest stripes of the diffracted light output section 5 (see FIG. 1). In this embodiment, since the width of each stripe waveguide is set to 2 μm and the distance between stripes is set to 4 μm, the distance between the farthest stripes in the configuration of FIG. 1 is 26 μm, and the diffracted light crosses the waveguide 1. According to equation (3), the angle spreading in the direction is greatly reduced to about 1.8 degrees from about 24 degrees in the case of one stripe having a width of 2 μm.

【0030】図3は、図1の導波型回折格子分波器を使
用した分波光検出装置の概略構成図である。回折光出力
部5の幅と長さは、波長多重信号の波長間隔、光検出器
アレイ30までの距離、各検出素子の受光部のサイズ、
および、受光部のピッチから最適な値に決定される。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a demultiplexed light detecting device using the waveguide type diffraction grating demultiplexer of FIG. The width and length of the diffracted light output unit 5 include the wavelength interval of the wavelength multiplexed signal, the distance to the photodetector array 30, the size of the light receiving unit of each detection element,
Also, the optimum value is determined from the pitch of the light receiving unit.

【0031】図3では、回折光出力部5の長さは130
μm、幅は26μmであり、光検出器アレイ30が回折
光出力部5の垂直上部約110mmに配置されている。
光検出器アレイ30の各検出素子は、150×200μ
mの受光部を持ち、ピッチ370μmで、20素子が回
折光出力部5に面して導波光の進行方向に配列されてい
る。
In FIG. 3, the length of the diffracted light output section 5 is 130
μm, the width is 26 μm, and the photodetector array 30 is arranged approximately 110 mm vertically above the diffracted light output unit 5.
Each detection element of the photodetector array 30 is 150 × 200 μ
It has m light receiving sections, and has a pitch of 370 μm, and 20 elements are arranged in the traveling direction of the guided light facing the diffracted light output section 5.

【0032】波長多重信号は、1.5μmの波長域にお
いて、波長間隔〜1nm、20波多重されているものと
すると、回折光の導波方向の広がりは、放射角の波長依
存性が−0.4deg/nmであるから、波長間隔(Δ
λ)〜1nmの光は、導波路から110mm離れた位置
にある光検出器の受光面上で〜370μm空間的に離れ
る。したがって、光検出器アレイ30の各検出素子のピ
ッチ〜370μmと一致するので、1素子が、分波され
た1波長を受信し、電気信号に変換する。一方、導波路
1を横切る方向の広がり(回折光の強度が中心強度の1
/2となる範囲)は、回折光出力部5の幅が26μmで
あるので、上記(2)式から広がり角が約1.8度とな
り、回折光強度は従来の2μmストライプの場合に比較
して13倍以上も増大する。従って、従来不可欠であっ
た導波路を横切る方向の集光手段を用いずに充分な回折
光を受光可能となった。
Assuming that the wavelength division multiplexed signal is multiplexed in 20 wavelengths at a wavelength interval of 1 nm in a wavelength region of 1.5 μm, the spread of the diffracted light in the waveguide direction has a wavelength dependence of the radiation angle of −0. .4 deg / nm, the wavelength interval (Δ
λ) 11 nm light is spatially separated by 3370 μm on the light receiving surface of the photodetector located 110 mm away from the waveguide. Therefore, since the pitch matches the pitch of each detection element of the photodetector array 30 to 370 μm, one element receives one split wavelength and converts it into an electric signal. On the other hand, the spread in the direction crossing the waveguide 1 (the intensity of the diffracted light is 1
/ 2), since the width of the diffracted light output portion 5 is 26 μm, the divergence angle is about 1.8 degrees from the above equation (2), and the diffracted light intensity is smaller than that of the conventional 2 μm stripe. More than 13 times. Therefore, sufficient diffracted light can be received without using a condensing means in a direction crossing the waveguide, which is indispensable in the past.

【0033】本実施例では、回折光出力部5の実効的な
ストライプ幅を26μmとしたが、さらに広く200μ
mにすれば、他の構成を変えずに大部分の回折光を受光
することが可能である。
In this embodiment, the effective stripe width of the diffracted light output section 5 is set to 26 μm.
If m, most of the diffracted light can be received without changing other configurations.

【0034】図4は、本発明のデバイスを波長多重通信
の分波受信器として使用する場合の概略構成図である。
同図において、送信側で各送信器1〜nから光ファイバ
40に出力されたそれぞれ異なった波長の信号(λ1、
λ2、・・・、λn)は、合流器41によつて波長多重
化され、一本の光ファイバ40に入力される。受信側で
は、本発明の分波受信器42により波長多重信号が各波
長に分離されて電気信号(S1、S2、・・・、Sn)
となり、電線を介してそれぞれの端末1〜nに入力され
る。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram when the device of the present invention is used as a demultiplexer for wavelength division multiplexing communication.
In the figure, signals of different wavelengths (λ1,
λ2,..., λn) are wavelength-multiplexed by the merger 41 and input to one optical fiber 40. On the receiving side, the wavelength division multiplexed signal is separated into each wavelength by the demultiplexing receiver 42 of the present invention, and the electric signals (S1, S2,..., Sn) are separated.
And are input to the terminals 1 to n via electric wires.

【0035】実施例2 図5は、本発明の第2の実施例であり、図1との違い
は、フェーズドアレーレーザ構造領域52への電流注入
を、グレーティング結合領域(回折光出力部)55の前
後に設けられた光増幅部54への電流注入とは独立に制
御できる点と、フェーズドアレーレーザ構造領域52の
ストライプ導波路51が一本おきに回折光出力部55及
び光増幅部54のストライプ55に接続されている点で
ある。
Embodiment 2 FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention. The difference from FIG. 1 is that a current is injected into the phased array laser structure region 52 by a grating coupling region (diffraction light output portion) 55. Can be controlled independently of the current injection into the optical amplification unit 54 provided before and after that, and every other stripe waveguide 51 in the phased array laser structure region 52 has the diffracted light output unit 55 and the optical amplification unit 54. This is a point connected to the stripe 55.

【0036】フェーズドアレーレーザ構造領域52のス
トライプ51の間隔は、隣接するストライブ51が光学
的に結合状態でなければならないので、大幅に広げるこ
とは困難である。一方、回折光出力部55では、位相が
一致していれば、ストライプ間隔は実施例1の2〜3倍
でも充分である。また、光増幅部54の消費電力はスト
ライプ51の数に比例するので、ストライプ51の数を
少なくなった分、消費電力を少なくできる。
The spacing between the stripes 51 in the phased array laser structure region 52 is difficult to greatly increase because the adjacent stripes 51 must be in an optically coupled state. On the other hand, in the diffracted light output unit 55, as long as the phases match, a stripe interval of 2 to 3 times that of the first embodiment is sufficient. Further, since the power consumption of the optical amplifier 54 is proportional to the number of the stripes 51, the power consumption can be reduced by the reduction in the number of the stripes 51.

【0037】更に、フェーズドアレーレーザ構造領域5
2の隣接導波路の導波光を使用しないことにより、隣接
導波路に入射光と逆位相が励起された場合にも、分波特
性の安定性の維持を可能にするものである。隣接導波路
に位相が逆転した光が励起された場合、回折光が2つに
分裂して分波光検出の精度が劣化する。
Further, the phased array laser structure region 5
By not using the guided light of the second adjacent waveguide, it is possible to maintain the stability of the demultiplexing characteristic even when the opposite waveguide is excited in the adjacent waveguide. When the light whose phase is inverted is excited in the adjacent waveguide, the diffracted light is split into two, and the accuracy of detecting the demultiplexed light is deteriorated.

【0038】実施例2では回折光出力部55及び光増幅
部54のストライプ51をフェーズドアレーレーザ構造
領域52のストライプ51の一本おきとすることによ
り、光増幅部54のストライプ数は、実施例1と比べて
5本から4本に減少し、回折光放射部55の幅は、26
μmから38μmに広がっている。よって、消費電力は
実施例1の4/5、回折光が導波路51を横切る方向へ
広がる角度は約1.8度から約1.2度へと、更に特性
を向上させられる。尚、図5において、53は、信号光
をフェーズドアレイレーザ構造部52の中央のストライ
プ51aに入射される光ファイバ3であり、58は低反
射コーティングであり、59は導波光吸収部であり、6
9は電流注入用電極であり、70はフェーズドアレー構
造領域52の電極69と光増幅部54の電極69の間を
分離する溝である。
In the second embodiment, the stripes 51 of the diffracted light output section 55 and the light amplification section 54 are alternately arranged in the phased array laser structure area 52. The number of the diffracted light emitting portions 55 is reduced from 26
It extends from μm to 38 μm. Accordingly, the power consumption is 4/5 that of the first embodiment, and the angle at which the diffracted light spreads in the direction crossing the waveguide 51 is increased from about 1.8 degrees to about 1.2 degrees, which further improves the characteristics. In FIG. 5, reference numeral 53 denotes an optical fiber 3 for inputting signal light to the central stripe 51a of the phased array laser structure 52, 58 denotes a low reflection coating, 59 denotes a guided light absorbing unit, 6
Reference numeral 9 denotes a current injection electrode, and reference numeral 70 denotes a groove that separates the electrode 69 of the phased array structure region 52 from the electrode 69 of the optical amplifier 54.

【0039】尚、本発明の分波光検出装置の使用法とし
ては、上記の如く波長多重通信の分波受信器として使用
する場合の他に、入射光の波長が変動してもこれをトラ
ッキングして検出できる波長トラッキング機能を持つ光
検出装置などとしても用いられる。
The use of the demultiplexed light detecting device of the present invention is not limited to the case where the demultiplexed light detecting device is used as a demultiplexing receiver for wavelength division multiplexing communication as described above. It can also be used as a photodetector having a wavelength tracking function that can be detected by light detection.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように、半導体光導波路と
該導波路に形成された回折格子と該導波路から空間に放
射される回折光を受光する複数の光検出器で構成される
本発明の分波光検出装置において、回折光を放射する領
域の導波路が、複数並列に存在し、かつ、それぞれの導
波光の位相を全て一致させることにより、回折光が導波
路を横切る方向へ広がる角度が大幅に低減され、従来必
要であった集光のためのシリンドリカルレンズなどが不
必要になる。そして、構成部品の減少、及び、組み立て
時のアライメント工程の減少により、装置の小形化及び
コストダウンが実現された。
As described above, the present invention comprises a semiconductor optical waveguide, a diffraction grating formed on the waveguide, and a plurality of photodetectors for receiving diffracted light radiated from the waveguide into space. In the demultiplexed light detection device, a plurality of waveguides in a region that emits diffracted light exist in parallel, and by making all the phases of the respective guided lights coincide, the angle at which the diffracted light spreads in the direction crossing the waveguides Is greatly reduced, and a conventionally required cylindrical lens for condensing light is not required. The reduction in the number of components and the number of alignment steps at the time of assembly reduced the size and cost of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本発明のフェーズドアレーレーザ構造領
域を持つ構成の複数の半導体導波路を備える分波光検出
装置の実施例1の上面模式図である。
FIG. 1 is a schematic top view of a first embodiment of a demultiplexed light detecting device provided with a plurality of semiconductor waveguides having a phased array laser structure region according to the present invention.

【図2】図2は詳細な構造を示す図1の部分断面斜視図
である。
FIG. 2 is a partial sectional perspective view of FIG. 1 showing a detailed structure.

【図3】図3は本発明のデバイスの分波受信動作を説明
する図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining a demultiplexing reception operation of the device of the present invention.

【図4】図4は本発明の分波受信装置を使用した波長多
重通信の概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram of wavelength division multiplexing communication using the demultiplexing receiver according to the present invention.

【図5】図5は本発明の分波光検出装置の別の形態を表
わす上面模式図である。
FIG. 5 is a schematic top view showing another embodiment of the demultiplexed light detecting device of the present invention.

【図6】図10は本発明者による従来例を示す斜視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective view showing a conventional example by the present inventor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、51 ストライプ導波路 1a、51a 光の入射するストライプ導波路 2、52 フェーズドアレイレーザ構造領域 3、40、53 光ファイバ 4、54 光増幅部 5、55 グレーティング結合領域(回折光出力部) 8、58 低反射コーティング 9、59 導波光吸収部 21 p側共通電極 22 p−InP基板 23 InGaAsP光ガイド層 24 MQW活性層 25、26 電流ブロック層 27 n−InP光閉じ込め層 28 n−InGaAsコンタクト層 29、69 n側電極 30 光検出器アレイ 41 合流器 42 本発明の分波受信装置 70 電極分離用の溝 210 回折格子 1, 51 Striped waveguide 1a, 51a Striped waveguide on which light enters 2, 52 Phased array laser structure region 3, 40, 53 Optical fiber 4, 54 Optical amplification unit 5, 55 Grating coupling region (diffracted light output unit) 8 , 58 Low-reflection coating 9, 59 Guided light absorption part 21 p-side common electrode 22 p-InP substrate 23 InGaAsP light guide layer 24 MQW active layer 25, 26 Current block layer 27 n-InP light confinement layer 28 n-InGaAs contact layer 29, 69 n-side electrode 30 photodetector array 41 combiner 42 demultiplexing receiver of the present invention 70 groove for electrode separation 210 diffraction grating

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成9年4月10日[Submission date] April 10, 1997

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図2[Correction target item name] Figure 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図2】 FIG. 2

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図3[Correction target item name] Figure 3

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図3】 FIG. 3

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光が入射される半導体光導波路と該導波路
に形成された回折格子と該導波路から空間に放射される
回折光を受光する複数の素子を持つ光検出器で構成され
る分波光検出装置において、前記半導体導波路の少なく
とも回折光を放射する領域の導波路が、複数並列に存在
し、かつ、該回折光を放射する領域の導波路のそれぞれ
の導波光の位相がすべて一致する様に形成されているこ
とを特徴とする半導体分波光検出装置。
1. A photodetector having a semiconductor optical waveguide on which light is incident, a diffraction grating formed on the waveguide, and a plurality of elements for receiving diffracted light emitted from the waveguide into space. In the demultiplexed light detection device, at least a plurality of waveguides in a region of the semiconductor waveguide that emits diffracted light exist in parallel, and the phases of the respective guided lights of the waveguides in the region that emit the diffracted light are all different. A semiconductor demultiplexed light detection device characterized by being formed so as to match.
【請求項2】前記光が入射される半導体光導波路の部分
は、複数の導波路で構成されており、かつ、これら複数
の導波路が光学的に結合状態にある程近接しているか、
または、隣接する導波路間を導波路で接続したフェーズ
ドアレーレーザ構成であることを特徴とする請求項1記
載の半導体分波光検出装置。
2. The semiconductor optical waveguide portion, into which the light is incident, comprises a plurality of waveguides, and the plurality of waveguides are so close that they are optically coupled to each other.
2. The semiconductor demultiplexed light detecting device according to claim 1, wherein a phased array laser configuration in which adjacent waveguides are connected by a waveguide.
【請求項3】前記光が入射される半導体光導波路を含む
全導波路において、導波光を増幅するための電流注入領
域が、複数箇所設けられていることを特徴とする請求項
1または2記載の半導体分波光検出装置。
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein a plurality of current injection regions for amplifying the guided light are provided in all the waveguides including the semiconductor optical waveguide into which the light is incident. Semiconductor demultiplexed light detection device.
【請求項4】少なくとも前記回折光を放射する領域の導
波路のバンド端波長が、導波光の波長より短波長である
ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか記載の半導体
分波光検出装置。
4. The semiconductor branched light detection according to claim 1, wherein at least the band edge wavelength of the waveguide in the region that emits the diffracted light is shorter than the wavelength of the guided light. apparatus.
【請求項5】前記光が入射される半導体光導波路の部分
の複数の導波路が、一本おきに、前記回折光を放射する
領域の導波路に接続していることを特徴とする請求項1
乃至4の何れか記載の半導体分波光検出装置。
5. The semiconductor optical waveguide according to claim 5, wherein a plurality of waveguides in a portion of the semiconductor optical waveguide into which the light is incident are connected to waveguides in a region for emitting the diffracted light. 1
5. The semiconductor demultiplexed light detection device according to any one of claims 4 to 4.
【請求項6】電流注入領域が、前記光が入射される半導
体光導波路の部分と導波路の数が少ない部分に独立に形
成されていることを特徴とする請求項5記載の半導体分
波光検出装置。
6. The semiconductor split-light detection according to claim 5, wherein the current injection region is formed independently in a portion of the semiconductor optical waveguide where the light is incident and a portion where the number of the waveguides is small. apparatus.
【請求項7】前記光が入射される半導体光導波路の部分
とは反対側の端部に導波光を吸収する導波光吸収部が設
けられていることを特徴とする請求項1乃至6の何れか
記載の半導体分波光検出装置。
7. A waveguide light absorbing portion for absorbing guided light is provided at an end opposite to a portion of the semiconductor optical waveguide on which the light is incident. Or the semiconductor demultiplexed light detection device.
【請求項8】前記回折光を放射する領域の導波路に近接
してのみ回折格子が形成されていることを特徴とする請
求項1乃至7の何れか記載の半導体分波光検出装置。
8. The apparatus according to claim 1, wherein a diffraction grating is formed only in the vicinity of the waveguide in a region where the diffracted light is emitted.
【請求項9】光ファイバーを使用し、異なる複数の波長
で情報通信を行う波長多重通信ネットワークにおいて、
前記波長多重通信ネットワークに接続された少なくとも
1台の端末が、前記複数の波長信号の内少なくとも一部
を受信するために、請求項1乃至8の何れかに記載の半
導体分波光検出装置を分波受信装置として備えているこ
とを特徴とする波長多重通信ネットワーク。
9. A wavelength division multiplexing communication network for performing information communication at a plurality of different wavelengths using an optical fiber,
The at least one terminal connected to the wavelength division multiplexing communication network receives the semiconductor demultiplexed light detection device according to claim 1 in order to receive at least a part of the plurality of wavelength signals. A wavelength division multiplexing communication network provided as a wave receiving device.
JP8355729A 1996-12-24 1996-12-24 Semiconductor demultiplexing photodetector Pending JPH10190016A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009503887A (en) * 2005-08-05 2009-01-29 ゼネラル・ナノ・オプティクス・リミテッド Injection laser

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JP2009503887A (en) * 2005-08-05 2009-01-29 ゼネラル・ナノ・オプティクス・リミテッド Injection laser

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