JPH10170572A - 回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方法 - Google Patents
回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方法Info
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- JPH10170572A JPH10170572A JP35277096A JP35277096A JPH10170572A JP H10170572 A JPH10170572 A JP H10170572A JP 35277096 A JP35277096 A JP 35277096A JP 35277096 A JP35277096 A JP 35277096A JP H10170572 A JPH10170572 A JP H10170572A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 同一周波数の2つの交流信号を比較的低い周
波数のクロックにてサンプリングし、後段に高速のA/
Dコンバータなどを必要とせず、かつ、低周波領域にお
けるサンプリングデータの収集時間を短縮する交流信号
のサンプリング方法。 【構成】 回路素子などに測定用交流信号を加えて同素
子の両端間電圧と同素子に流れる電流を検出するととも
に、それぞれ下記の式に示す周波数Fsのクロックに同
期して作動する2つのサンプル・ホールド回路へ上記検
出した2つの交流信号の連続波形を順次取り込んで同時
にサンプリングし、A/Dコンバータに与える。 Fs=Fm(N/Y) Fs:サンプリングクロックの周波数、Fm:測定用交
流信号の周波数、N:検出信号の1周期間における所要
データ数、Y:サンプル・ホールド回路に取り込む検出
信号の波形数
波数のクロックにてサンプリングし、後段に高速のA/
Dコンバータなどを必要とせず、かつ、低周波領域にお
けるサンプリングデータの収集時間を短縮する交流信号
のサンプリング方法。 【構成】 回路素子などに測定用交流信号を加えて同素
子の両端間電圧と同素子に流れる電流を検出するととも
に、それぞれ下記の式に示す周波数Fsのクロックに同
期して作動する2つのサンプル・ホールド回路へ上記検
出した2つの交流信号の連続波形を順次取り込んで同時
にサンプリングし、A/Dコンバータに与える。 Fs=Fm(N/Y) Fs:サンプリングクロックの周波数、Fm:測定用交
流信号の周波数、N:検出信号の1周期間における所要
データ数、Y:サンプル・ホールド回路に取り込む検出
信号の波形数
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、特にLCRメータな
どの回路素子の定数測定器において、検出した電圧成分
と電流成分を表す2つの交流信号のサンプリング方法に
関するものである。
どの回路素子の定数測定器において、検出した電圧成分
と電流成分を表す2つの交流信号のサンプリング方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】コイルのインダクタンスL、コンデンサ
の静電容量C、抵抗器の抵抗Rなど、回路素子の定数を
測定する装置としてLCRメータと称される測定器が利
用されている。この種の装置においては、供試素子に測
定用の交流信号を加えて試料に流れる電流と試料の両端
にかかる電圧を検出し、それぞれ一定の時間間隔でその
レベルを順次サンプル・ホールド回路(以下、「S/H
回路」と言う。)に取り込み、そのホールド電圧をA/
Dコンバータにてディジタルデータに変換する。なお、
試料に流れる電流は例えば基準抵抗を介して電圧に変換
し検出するようにしている。
の静電容量C、抵抗器の抵抗Rなど、回路素子の定数を
測定する装置としてLCRメータと称される測定器が利
用されている。この種の装置においては、供試素子に測
定用の交流信号を加えて試料に流れる電流と試料の両端
にかかる電圧を検出し、それぞれ一定の時間間隔でその
レベルを順次サンプル・ホールド回路(以下、「S/H
回路」と言う。)に取り込み、そのホールド電圧をA/
Dコンバータにてディジタルデータに変換する。なお、
試料に流れる電流は例えば基準抵抗を介して電圧に変換
し検出するようにしている。
【0003】この検出した同一周波数の電圧信号と電流
信号の各一波からそれぞれ必要とするN個の波形データ
を得る場合、S/H回路におけるレベル抽出用のサンプ
リングクロックは、一般に検出信号すなわち測定用交流
信号のN倍高速の周波数に設定される。
信号の各一波からそれぞれ必要とするN個の波形データ
を得る場合、S/H回路におけるレベル抽出用のサンプ
リングクロックは、一般に検出信号すなわち測定用交流
信号のN倍高速の周波数に設定される。
【0004】これに伴い、A/Dコンバータにも測定用
交流信号のN倍高速な変換速度を有する素子が必要とな
る。しかし高速のA/Dコンバータは価格が高く、コス
トアップにつながるので好ましくない。また、変換速度
にも限度があるので、測定可能最高周波数がそれによっ
て制限されるという難点がある。
交流信号のN倍高速な変換速度を有する素子が必要とな
る。しかし高速のA/Dコンバータは価格が高く、コス
トアップにつながるので好ましくない。また、変換速度
にも限度があるので、測定可能最高周波数がそれによっ
て制限されるという難点がある。
【0005】そこで本出願人は、測定用交流信号より遅
い周波数のサンプリングクロックにて検出信号の電圧及
び電流レベルを抽出しA/D変換することにより、従来
装置と等価なN個の波形データが得られるサンプリング
方法の発明を先に特開平8−94677号公報において
提案した。
い周波数のサンプリングクロックにて検出信号の電圧及
び電流レベルを抽出しA/D変換することにより、従来
装置と等価なN個の波形データが得られるサンプリング
方法の発明を先に特開平8−94677号公報において
提案した。
【0006】この公報に開示された装置構成を図1に再
掲して手短かに説明する。交流信号発生部1から測定用
交流信号が発せられると、試料2の両端にかかる電圧は
電圧検出回路3により検出され、その波形レベルはS/
H回路5にてサンプリングされる。また、試料2に流れ
る電流は電流検出回路4により電圧に変換して検出さ
れ、その波形レベルはS/H回路6にてサンプリングさ
れる。
掲して手短かに説明する。交流信号発生部1から測定用
交流信号が発せられると、試料2の両端にかかる電圧は
電圧検出回路3により検出され、その波形レベルはS/
H回路5にてサンプリングされる。また、試料2に流れ
る電流は電流検出回路4により電圧に変換して検出さ
れ、その波形レベルはS/H回路6にてサンプリングさ
れる。
【0007】これらサンプリングされた電圧及び電流の
波形レベルはスイッチ回路7を介して交互にA/Dコン
バータ9に加えられ、ディジタルデータに変換されてC
PU10に送られる。CPU10はこの入力データに対
して必要な演算処理を行う。なお、クロック発生回路8
は交流信号発生部1から送出される測定用交流信号の周
波数制御、及びS/H回路5,6のサンプリング周期、
スイッチ回路7の切換周期、A/Dコンバータ9の変換
周期等を設定する。
波形レベルはスイッチ回路7を介して交互にA/Dコン
バータ9に加えられ、ディジタルデータに変換されてC
PU10に送られる。CPU10はこの入力データに対
して必要な演算処理を行う。なお、クロック発生回路8
は交流信号発生部1から送出される測定用交流信号の周
波数制御、及びS/H回路5,6のサンプリング周期、
スイッチ回路7の切換周期、A/Dコンバータ9の変換
周期等を設定する。
【0008】上記公報における先願発明のサンプリング
方法説明用波形図を一部抜粋して図5に示し、その動作
を手短かに説明する。同図5(b)に示すように検出電
圧1波の時間長をTmとし、1波長Tmの波形を再現す
るのに必要とする電圧データをN個(V1,V2,…V
n)とすると、隣り合うデータの時間間隔はTm/Nで
ある。
方法説明用波形図を一部抜粋して図5に示し、その動作
を手短かに説明する。同図5(b)に示すように検出電
圧1波の時間長をTmとし、1波長Tmの波形を再現す
るのに必要とする電圧データをN個(V1,V2,…V
n)とすると、隣り合うデータの時間間隔はTm/Nで
ある。
【0009】ところで、LCRメータにより試料の抵抗
を測定する場合は、サンプリングしてCPU10の図示
しないメモリに取り込んだ電圧データと電流データから
次の3つの基本変数AR、AX、及びH
を測定する場合は、サンプリングしてCPU10の図示
しないメモリに取り込んだ電圧データと電流データから
次の3つの基本変数AR、AX、及びH
【0010】
【数1】
【0011】
【数2】
【0012】
【数3】 をまず演算し、それを利用して試料の抵抗成分R、リア
クタンス成分X、インダクタンス成分L、容量成分C、
及びその他の定数を算出するようにしている。
クタンス成分X、インダクタンス成分L、容量成分C、
及びその他の定数を算出するようにしている。
【0013】これら基本変数と試料の各特性定数の求め
方は、本出願人が先に提案した特開平6−51004号
発明の明細書に詳記してあり、本発明の要旨ではないの
でその説明は省略するが、基本変数はAXは電圧データ
とそれに対して移相が90°(π/2)ずれた電流デー
タとにより算出されるから、CPU10に取り込むデー
タの数は4の整数倍にする必要がある。
方は、本出願人が先に提案した特開平6−51004号
発明の明細書に詳記してあり、本発明の要旨ではないの
でその説明は省略するが、基本変数はAXは電圧データ
とそれに対して移相が90°(π/2)ずれた電流デー
タとにより算出されるから、CPU10に取り込むデー
タの数は4の整数倍にする必要がある。
【0014】そこで図5(b)においては、図面が複雑
化するのを避けるため便宜上データ数Nは8にしてあ
る。今、図5(a)に示す連続した検出電圧を図5
(C)に示す周期Tsのサンプリングクロックにより、
その立ち上がり時点でサンプリングするものとし、この
クロック周期Tsを例えば Ts=W・Tm+Tm/N ……………(1) (Wは自然数)とすると、N個のデータを得るにはこの
周期でN回サンプリングすればよい。したがってそれに
要する時間は上式のN倍となるから、 N・Ts=N(W・Tm+Tm/N) =Tm(N・W+1) ……………(2) である。
化するのを避けるため便宜上データ数Nは8にしてあ
る。今、図5(a)に示す連続した検出電圧を図5
(C)に示す周期Tsのサンプリングクロックにより、
その立ち上がり時点でサンプリングするものとし、この
クロック周期Tsを例えば Ts=W・Tm+Tm/N ……………(1) (Wは自然数)とすると、N個のデータを得るにはこの
周期でN回サンプリングすればよい。したがってそれに
要する時間は上式のN倍となるから、 N・Ts=N(W・Tm+Tm/N) =Tm(N・W+1) ……………(2) である。
【0015】図5(d)に示す検出電流についても検出
電圧と同時サンプリングされるから、全体の所要時間を
波形数に置き換えるとそれぞれNW+1波となる。ちな
みに図示の例ではN=8、W=2であるから N・W+1=17波 となる。
電圧と同時サンプリングされるから、全体の所要時間を
波形数に置き換えるとそれぞれNW+1波となる。ちな
みに図示の例ではN=8、W=2であるから N・W+1=17波 となる。
【0016】ここで、サンプリングクロック(図5
(c))がHレベルのときはスイッチ回路7が図示のよ
うに接点a側に接続され、Lレベルの時は接点b側へ接
続されるようにすると、S/H回路5及び6でサンプリ
ングされた電圧と電流はA/Dコンバータ9へ交互に加
えられる。
(c))がHレベルのときはスイッチ回路7が図示のよ
うに接点a側に接続され、Lレベルの時は接点b側へ接
続されるようにすると、S/H回路5及び6でサンプリ
ングされた電圧と電流はA/Dコンバータ9へ交互に加
えられる。
【0017】そこで、図5(g)に示すように例えば上
記サンプリングクロックTsより2倍速いクロックをA
/Dコンバータ9に与え、その立ち下がり時点でA/D
変換を開始させると、同図(h)に示すようにサンプリ
ングした電圧Vと電流Iが交互にディジタルデータに変
換され、CPU10に送られる。
記サンプリングクロックTsより2倍速いクロックをA
/Dコンバータ9に与え、その立ち下がり時点でA/D
変換を開始させると、同図(h)に示すようにサンプリ
ングした電圧Vと電流Iが交互にディジタルデータに変
換され、CPU10に送られる。
【0018】次に、上記特開平8−94677号公報の
先願発明における明細書からサンプリング方法説明用図
面の一部を抜粋した他の例を図6に示す。この図6にお
いては、同図(c)に示すようにサンプリングクロック
の1周期Tsが Ts=W・Tm+Y・Tm/N ……………(3) になっており、より一般化されている。ここでは、Yは 1<Y<N で、かつ、データ数Nとは公約数を持たない自然数であ
る。
先願発明における明細書からサンプリング方法説明用図
面の一部を抜粋した他の例を図6に示す。この図6にお
いては、同図(c)に示すようにサンプリングクロック
の1周期Tsが Ts=W・Tm+Y・Tm/N ……………(3) になっており、より一般化されている。ここでは、Yは 1<Y<N で、かつ、データ数Nとは公約数を持たない自然数であ
る。
【0019】このサンプリングクロックTsの立ち上が
り時点で、同図(a)の検出電圧と同図(d)の検出電
流を同時にサンプリングした場合の各波形レベルをそれ
ぞれ同図(b)と(e)に示す。この例においては、N
とWの値は例えば上記図4と同様にN=8、W=2にし
てある。Yについては3,5,7の値をとり得るが、図
面作成の便宜上Y=3にされている。
り時点で、同図(a)の検出電圧と同図(d)の検出電
流を同時にサンプリングした場合の各波形レベルをそれ
ぞれ同図(b)と(e)に示す。この例においては、N
とWの値は例えば上記図4と同様にN=8、W=2にし
てある。Yについては3,5,7の値をとり得るが、図
面作成の便宜上Y=3にされている。
【0020】電圧Vと電流Iのサンプリング値はそれぞ
れ1番から8番まで番号を付してあるが、図5の同番号
のサンプリング値とは大きさが必ずしも一致していな
い。しかし、基本変数AR、AX、及びHの演算にはな
んら支障はない。式(3)のクロックTsでN回サンプ
リングした場合に要する時間は N・Ts=N(W・Tm+Y・Tm/N) =Tm(N・W+Y) ……………(4) 図5の場合と同様に波形数に置き換えると、図示の例で
はN=8、W=2、Y=3であるから N・W+Y=19波 となる。
れ1番から8番まで番号を付してあるが、図5の同番号
のサンプリング値とは大きさが必ずしも一致していな
い。しかし、基本変数AR、AX、及びHの演算にはな
んら支障はない。式(3)のクロックTsでN回サンプ
リングした場合に要する時間は N・Ts=N(W・Tm+Y・Tm/N) =Tm(N・W+Y) ……………(4) 図5の場合と同様に波形数に置き換えると、図示の例で
はN=8、W=2、Y=3であるから N・W+Y=19波 となる。
【0021】ここで、検出電圧、電流の1波からN個の
波形データを得る従来のサンプリング方法によると、そ
のサンプリング周波数fsはサンプリング周期Tm/N
の逆数で表されるから、 fs=N/Tm ……………(5) である。
波形データを得る従来のサンプリング方法によると、そ
のサンプリング周波数fsはサンプリング周期Tm/N
の逆数で表されるから、 fs=N/Tm ……………(5) である。
【0022】また、上記先願発明における図5の場合の
サンプリング周波数Fsは、同様にサンプリング周期T
sの逆数で表されるから、式(1)より Fs=1/Ts =1/(W・Tm+Tm/N) =N/Tm(N・W+1) 上式の右辺に式(5)を代入すると Fs=fs/(N・W+1) よって先願発明のFsは、従来方法によるサンプリング
周波数fsの1/(N・W+1)となる。ちなみに図5
の例ではN=8、W=2であるから Fs=fs/17 の低い周波数になる。
サンプリング周波数Fsは、同様にサンプリング周期T
sの逆数で表されるから、式(1)より Fs=1/Ts =1/(W・Tm+Tm/N) =N/Tm(N・W+1) 上式の右辺に式(5)を代入すると Fs=fs/(N・W+1) よって先願発明のFsは、従来方法によるサンプリング
周波数fsの1/(N・W+1)となる。ちなみに図5
の例ではN=8、W=2であるから Fs=fs/17 の低い周波数になる。
【0023】同様にして、先願発明における図6の例の
サンプリング周波数Fsは、式(3)より Fs=1/Ts =1/(W・Tm+Y・Tm/N) =N/Tm(N・W+Y) 上式の右辺に式(5)を代入すると Fs=fs/(N・W+Y) よってこの場合のFsは、従来方法によるサンプリング
周波数fsの1/(N・W+Y)となる。ちなみに図6
の例ではN=8、W=2、Y=3であるからFs=fs
/19の低い周波数となる。
サンプリング周波数Fsは、式(3)より Fs=1/Ts =1/(W・Tm+Y・Tm/N) =N/Tm(N・W+Y) 上式の右辺に式(5)を代入すると Fs=fs/(N・W+Y) よってこの場合のFsは、従来方法によるサンプリング
周波数fsの1/(N・W+Y)となる。ちなみに図6
の例ではN=8、W=2、Y=3であるからFs=fs
/19の低い周波数となる。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】上記先願発明のサンプ
リング方法によると、連続した検出電圧、電流の波形か
ら測定用交流信号の1周期より長い時間のサンプリング
周期で必要とする数の波形データを収集するので、測定
周波数が比較的高くなっても特に高速のA/Dコンバー
タを用いる必要がないという利点がある。
リング方法によると、連続した検出電圧、電流の波形か
ら測定用交流信号の1周期より長い時間のサンプリング
周期で必要とする数の波形データを収集するので、測定
周波数が比較的高くなっても特に高速のA/Dコンバー
タを用いる必要がないという利点がある。
【0025】ところで、サンプリングクロックの周期T
sが前記式(1)または式(3)により設定されると、
S/H回路においてN個の波形データを得るのに要する
時間N・Tsは式(2)または式(4)にて与えられ、
この時間の大きさはTmの大小すなわち測定周波数の高
低に逆比例する。このため低い周波数による測定に先願
発明のサンプリング方法を利用するとデータ収集に時間
がかかり、それに伴って測定終了までの時間も長くな
る。
sが前記式(1)または式(3)により設定されると、
S/H回路においてN個の波形データを得るのに要する
時間N・Tsは式(2)または式(4)にて与えられ、
この時間の大きさはTmの大小すなわち測定周波数の高
低に逆比例する。このため低い周波数による測定に先願
発明のサンプリング方法を利用するとデータ収集に時間
がかかり、それに伴って測定終了までの時間も長くな
る。
【0026】この発明は上記の事情を考慮してなされた
もので、その目的は、測定周波数が比較的低い場合のデ
ータ収集に要する時間を短縮するサンプリング方法を提
供するとにある。
もので、その目的は、測定周波数が比較的低い場合のデ
ータ収集に要する時間を短縮するサンプリング方法を提
供するとにある。
【0027】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明においては測定周波数の1波より短い周期
のサンプリングクロックを用い、S/H回路に取り込ん
だ連続する検出電圧及び検出電流波形を例えば上記クロ
ックの立ち上がり時点でサンプリングする手段を備えて
いる。図2(a)にS/H回路へ入力する1周期Tmの
検出電圧(又は検出電流)の波形を示し、同図(b)に
は上記Tmより短い周期Tsのサンプリングクロックを
示す。
め、この発明においては測定周波数の1波より短い周期
のサンプリングクロックを用い、S/H回路に取り込ん
だ連続する検出電圧及び検出電流波形を例えば上記クロ
ックの立ち上がり時点でサンプリングする手段を備えて
いる。図2(a)にS/H回路へ入力する1周期Tmの
検出電圧(又は検出電流)の波形を示し、同図(b)に
は上記Tmより短い周期Tsのサンプリングクロックを
示す。
【0028】検出電圧の1波に等時間間隔で割り振った
N個の波形データをV1,V2,…Vnとすると、隣り
合う波形データの時間幅はTm/Nである。ただし、デ
ータ数Nは4の整数倍の値とする。
N個の波形データをV1,V2,…Vnとすると、隣り
合う波形データの時間幅はTm/Nである。ただし、デ
ータ数Nは4の整数倍の値とする。
【0029】サンプリングクロックの1周期Tsは例え
ば Ts=Y・Tm/N ……………(6) とする。この周期Tsは、前記式(3)に示す先願発明
の周期を表す一般式において、W=0とおいた場合の値
に等しい。式(6)のTsをサンプリング周波数Fs
に、Tmを測定周波数Fmにそれぞれ置き換えて表す
と、 Fs=(N/Y)Fm……………(A) となる。
ば Ts=Y・Tm/N ……………(6) とする。この周期Tsは、前記式(3)に示す先願発明
の周期を表す一般式において、W=0とおいた場合の値
に等しい。式(6)のTsをサンプリング周波数Fs
に、Tmを測定周波数Fmにそれぞれ置き換えて表す
と、 Fs=(N/Y)Fm……………(A) となる。
【0030】ここで、N個の波形データはサンプリング
期間中にすべて1回だけサンプリングされ、サンプリン
グから欠落するデータが生じないようにするため、Yの
値は先願発明と同様に 1<Y<N で、かつ、データ数Nに対して公約数を持たない自然数
とする。このようにすると式(6)から Ts/Tm=Y/N<1 であるから、サンプリングクロックの1周期Tsは当然
のことながら検出電圧1波の周期Tmより短くなる。
期間中にすべて1回だけサンプリングされ、サンプリン
グから欠落するデータが生じないようにするため、Yの
値は先願発明と同様に 1<Y<N で、かつ、データ数Nに対して公約数を持たない自然数
とする。このようにすると式(6)から Ts/Tm=Y/N<1 であるから、サンプリングクロックの1周期Tsは当然
のことながら検出電圧1波の周期Tmより短くなる。
【0031】S/H回路へ連続的に加わる検出電圧をこ
のクロックの立ち上がり時点で順次サンプリングし、N
個の波形データを収集する。この場合、データ収集に要
する時間は式(6)のN倍となる。すなわち、 N・Ts=N(Y・Tm/N) =Y・Tm ……………(7) ここで、Tmは測定周波数の1波長の時間であるから、
Y波分の時間でデータ収集が終了する。これを先願発明
における式(4)と比較すると、N×W波分の時間が短
縮される。
のクロックの立ち上がり時点で順次サンプリングし、N
個の波形データを収集する。この場合、データ収集に要
する時間は式(6)のN倍となる。すなわち、 N・Ts=N(Y・Tm/N) =Y・Tm ……………(7) ここで、Tmは測定周波数の1波長の時間であるから、
Y波分の時間でデータ収集が終了する。これを先願発明
における式(4)と比較すると、N×W波分の時間が短
縮される。
【0032】
【発明の実施の形態】この発明の概略的な実施の形態は
図1に示す先願発明とほぼ同様なので、以下、図1によ
り手短に説明する。図示しない操作キーにより測定周波
数を設定すると、その周波数に対応したメモリアクセス
クロックがクロック発生回路8から交流信号発生部1へ
送出される。
図1に示す先願発明とほぼ同様なので、以下、図1によ
り手短に説明する。図示しない操作キーにより測定周波
数を設定すると、その周波数に対応したメモリアクセス
クロックがクロック発生回路8から交流信号発生部1へ
送出される。
【0033】交流信号発生部1は内蔵のメモリに収納さ
れているsin波形データをD/A変換し、設定された
周波数Fmの測定用交流電圧を形成して試料2に加え
る。これにより試料2に電流Iが流れ、同試料の両端に
はそのインピーダンスに比例した大きさの電圧降下Vが
発生する。
れているsin波形データをD/A変換し、設定された
周波数Fmの測定用交流電圧を形成して試料2に加え
る。これにより試料2に電流Iが流れ、同試料の両端に
はそのインピーダンスに比例した大きさの電圧降下Vが
発生する。
【0034】この電圧Vと電流Iはそれぞれ電圧検出回
路3と電流検出回路4にて検出され、S/H回路5及び
6に加えられる。S/H回路5,6はクロック発生回路
8から与えられる周波数Fsのクロックにてこの検出電
圧と検出電流を同時的にサンプリングし、このサンプリ
ングされた電圧と電流は、Fsの半周期ごとに切り替わ
るスイッチ回路7を介してA/Dコンバータ9へ交互に
入力する。
路3と電流検出回路4にて検出され、S/H回路5及び
6に加えられる。S/H回路5,6はクロック発生回路
8から与えられる周波数Fsのクロックにてこの検出電
圧と検出電流を同時的にサンプリングし、このサンプリ
ングされた電圧と電流は、Fsの半周期ごとに切り替わ
るスイッチ回路7を介してA/Dコンバータ9へ交互に
入力する。
【0035】A/Dコンバータ9はクロック発生回路8
からサンプリング周波より2倍速い周波数2FsのA/
D変換用クロックを受け、その1つのクロック期間でサ
ンプリング電圧がディジタルデータに変換されると、次
の1つのクロック期間ではサンプリング電流がディジタ
ルデータに変換され、この動作が順次繰り返される。
からサンプリング周波より2倍速い周波数2FsのA/
D変換用クロックを受け、その1つのクロック期間でサ
ンプリング電圧がディジタルデータに変換されると、次
の1つのクロック期間ではサンプリング電流がディジタ
ルデータに変換され、この動作が順次繰り返される。
【0036】CPU10はこれら電圧データと電流デー
タをそれぞれのメモリに取り込み、データ収集後はまず
基本変数AR,AX,Hの値を演算し、次にこの基本変
数を利用して試料の特性定数を算出する。
タをそれぞれのメモリに取り込み、データ収集後はまず
基本変数AR,AX,Hの値を演算し、次にこの基本変
数を利用して試料の特性定数を算出する。
【0037】ここで、測定周波数Fmと検出電圧(検出
電流)の1周期Tm、及びサンプリング周波数Fsとサ
ンプリングクロックの1周期Tsはそれぞれ逆数関係に
あるから Tm=1/Fm Ts=1/Fs である。これを式(6)に代入すると、 1/Fs=Y(1/Fm)/N より、上記の式(A) Fs=(N/Y)Fm ……………(A) を得る。
電流)の1周期Tm、及びサンプリング周波数Fsとサ
ンプリングクロックの1周期Tsはそれぞれ逆数関係に
あるから Tm=1/Fm Ts=1/Fs である。これを式(6)に代入すると、 1/Fs=Y(1/Fm)/N より、上記の式(A) Fs=(N/Y)Fm ……………(A) を得る。
【0038】よって、図示しない操作キーにて測定周波
数Fm、収集するデータ数N、及びYの値を設定する
と、式(A)を満足する周波数Fsのサンプリングクロ
ックと、周波数2FsのA/D変換用クロックがクロッ
ク発生回路8から送出される。
数Fm、収集するデータ数N、及びYの値を設定する
と、式(A)を満足する周波数Fsのサンプリングクロ
ックと、周波数2FsのA/D変換用クロックがクロッ
ク発生回路8から送出される。
【0039】さて、図2のサンプリングクロック周期T
sは上記式(6)に示すように Ts=Y・Tm/N である。いま、検出電圧の1周期に割り振った波形デー
タを例えばV1,V2,…V12の12個とすると、N
=12であるから Ts=Y・Tm/12 よって、Yの値は12と公約数を持たない5,7,11
のいずれかとなる。
sは上記式(6)に示すように Ts=Y・Tm/N である。いま、検出電圧の1周期に割り振った波形デー
タを例えばV1,V2,…V12の12個とすると、N
=12であるから Ts=Y・Tm/12 よって、Yの値は12と公約数を持たない5,7,11
のいずれかとなる。
【0040】ここでY=5とし、サンプリングクロック
周期Tsを Ts=5・Tm/12 とした場合の例を図3に示す。同図(b)はサンプリン
グクロックであり、同図(a)のV1,V2,…V12
は検出電圧からサンプリングした波形データ、同図
(c)のI1,I2,…I12は検出電流からサンプリ
ングした波形データである。
周期Tsを Ts=5・Tm/12 とした場合の例を図3に示す。同図(b)はサンプリン
グクロックであり、同図(a)のV1,V2,…V12
は検出電圧からサンプリングした波形データ、同図
(c)のI1,I2,…I12は検出電流からサンプリ
ングした波形データである。
【0041】次に、データ数Nは図3と同様に12と
し、Yを7とした場合の例を図4に示す。同図(b)は
サンプリングクロックであり、同図(a)のV1,
V2,…V12は検出電圧からサンプリングした波形デ
ータ、同図(c)のI1,I2,…I12は検出電流か
らサンプリングした波形データである。
し、Yを7とした場合の例を図4に示す。同図(b)は
サンプリングクロックであり、同図(a)のV1,
V2,…V12は検出電圧からサンプリングした波形デ
ータ、同図(c)のI1,I2,…I12は検出電流か
らサンプリングした波形データである。
【0042】図3の例では12個の波形データを収集す
るのに検出電圧(検出電流)5波分の時間を要し、図4
の例では7波分の時間を要する。すなわち、上記式
(7)に示すようにデータ収集時間はYの値によって定
まるから、A/Dコンバータの変換速度等を考慮し、デ
ータ数Nとは公約数を持たない自然数の中からできるだ
け小さい値を設定することが望ましい。
るのに検出電圧(検出電流)5波分の時間を要し、図4
の例では7波分の時間を要する。すなわち、上記式
(7)に示すようにデータ収集時間はYの値によって定
まるから、A/Dコンバータの変換速度等を考慮し、デ
ータ数Nとは公約数を持たない自然数の中からできるだ
け小さい値を設定することが望ましい。
【0043】なお、この発明の構成は特開平8−946
77号公報の先願発明とほぼ同様であり、先願発明のW
設定機能を付加すれば、この装置1台で低周波領域のほ
か高周波領域における試料の特性測定も可能である。
77号公報の先願発明とほぼ同様であり、先願発明のW
設定機能を付加すれば、この装置1台で低周波領域のほ
か高周波領域における試料の特性測定も可能である。
【0044】
【発明の効果】以上、説明したようにサンプリング周波
数Fsを表す式(A)のYがデータ数Nに対して公約数
を持たず、かつ、 1<Y<N なる範囲の自然数に設定すると、測定周波数Fmが低周
波領域の場合は、Yの値が小さいほどデータ収集時間を
大幅に短縮することができる。
数Fsを表す式(A)のYがデータ数Nに対して公約数
を持たず、かつ、 1<Y<N なる範囲の自然数に設定すると、測定周波数Fmが低周
波領域の場合は、Yの値が小さいほどデータ収集時間を
大幅に短縮することができる。
【0045】なお、操作キーなどに先願発明のW設定機
能を持たせると、特に高速のA/Dコンバータを用いな
いで先願発明と同様に測定周波数を高周波領域まで拡張
することも可能である。
能を持たせると、特に高速のA/Dコンバータを用いな
いで先願発明と同様に測定周波数を高周波領域まで拡張
することも可能である。
【図1】本発明が適用された回路素子の測定器の一形態
を示す概略的な電気的構成図。
を示す概略的な電気的構成図。
【図2】本発明にかかるサンプリングクロックの説明用
波形図。
波形図。
【図3】本発明を適用したサンプリング方法の一実施形
態を示す概略的な波形説明図。
態を示す概略的な波形説明図。
【図4】本発明を適用したサンプリング方法の他の実施
形態を示す概略的な波形説明図。
形態を示す概略的な波形説明図。
【図5】従来のサンプリング方法の一実施形態を示す概
略的な波形説明図。
略的な波形説明図。
【図6】従来のサンプリング方法の他の実施形態を示す
概略的な波形説明図。
概略的な波形説明図。
1 交流信号発生部 2 試料 3 電圧検出回路 4 電流検出回路 5 S/H(サンプル・ホールド)回路 6 S/H(サンプル・ホールド)回路 9 A/Dコンバータ 10 CPU
Claims (3)
- 【請求項1】 回路素子に測定用交流信号を加えて同素
子の両端間電圧と同素子に流れる電流を検出し、該検出
した同一周波数の2つの交流信号を所定のクロックに同
期してサンプリングしディジタル変換するとともに、得
られた所要のディジタルデータから上記素子の諸定数を
算出する回路素子測定器における検出信号のサンプリン
グ方法において、 上記検出した2つの交流信号の連続波形を、それぞれ下
記式(A)に示す周波数Fsのクロックに同期して作動
する2つのサンプル・ホールド回路へ順次取り込んで同
時的にサンンプリングするようにしたことを特徴とする
回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方
法。 Fs=Fm(N/Y)……………(A) Fs:サンプリングクロックの周波数 Fm:測定用交流信号の周波数 N:検出交流信号の1周期間における所要データ数 Y:サンプル・ホールド回路に取り込む検出交流信号の
波形数 - 【請求項2】 上記Nは4の整数倍の値に設定されるこ
とを特徴とする請求項1に記載の回路素子測定器におけ
る検出交流信号のサンプリング方法。 - 【請求項3】 上記Yはその大きさが1<Y<Nで、か
つ、Nとの間に公約数を有しない自然数に設定されるこ
とを特徴とする請求項1または2に記載の回路素子測定
器における検出交流信号のサンプリング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35277096A JPH10170572A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35277096A JPH10170572A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10170572A true JPH10170572A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18426326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35277096A Pending JPH10170572A (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | 回路素子測定器における検出交流信号のサンプリング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10170572A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009098060A (ja) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Miyakawa Seisakusho:Kk | 電流測定装置 |
JP2021510490A (ja) * | 2018-01-10 | 2021-04-22 | キャプトロン エレクトロニック ゲー・エム・ベー・ハーCAPTRON Electronic GmbH | スペクトラム拡散検知信号および同期整流器を備えたセンサスイッチ |
-
1996
- 1996-12-13 JP JP35277096A patent/JPH10170572A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009098060A (ja) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Miyakawa Seisakusho:Kk | 電流測定装置 |
JP2021510490A (ja) * | 2018-01-10 | 2021-04-22 | キャプトロン エレクトロニック ゲー・エム・ベー・ハーCAPTRON Electronic GmbH | スペクトラム拡散検知信号および同期整流器を備えたセンサスイッチ |
US11307056B2 (en) | 2018-01-10 | 2022-04-19 | Captron Electronic Gmbh | Sensor switch with spread spectrum sensing signal and synchronous rectifier |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040723 |
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