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JPH10163103A - 露光方法及び露光装置 - Google Patents

露光方法及び露光装置

Info

Publication number
JPH10163103A
JPH10163103A JP8336413A JP33641396A JPH10163103A JP H10163103 A JPH10163103 A JP H10163103A JP 8336413 A JP8336413 A JP 8336413A JP 33641396 A JP33641396 A JP 33641396A JP H10163103 A JPH10163103 A JP H10163103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
reticle
cavity
exposure apparatus
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8336413A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinji Mizutani
真士 水谷
Masahiko Yasuda
雅彦 安田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP8336413A priority Critical patent/JPH10163103A/ja
Publication of JPH10163103A publication Critical patent/JPH10163103A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • G03F7/70875Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスクの良好な温度制御により露光精度の向
上を図ること。 【解決手段】 空洞部(52)が形成されたマスク(3
6)をマスクホルダ(34)で保持し、その空洞部(5
2)に温度調整された流体を供給する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マスクホルダーに
保持されたマスクに形成されたパターンの像を感光基板
に露光する露光方法及び露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスや液晶表示プレート等の
製造に用いられる露光装置においては、所定パターンが
形成されたレチクル等のマスクに露光用の光を照射し、
当該パターンの像を投影光学系を介してウエハ等の感光
基板に転写する。このような露光装置は、環境制御され
たチャンバー内に収容されることが多く、これによっ
て、露光装置周辺をクリーンに保つと共に、適切な温度
制御を行っている。ところで、チャンバー内の温度制御
は一般に露光装置全体、或いは露光装置全体と感光基板
周辺に対して行われるが、このような温度制御では露光
精度向上の更なる要求に応えることが困難となってきて
いる。例えば、繰り返し行われる露光作業により、露光
用の光の一部がマスクに吸収され、露光精度を低下させ
る要因となっている。すなわち、クロム等でマスクに形
成されたパターン部分に照射される露光光の一部が当該
パターン部分に吸収され、マスク自体が熱膨張してしま
う。ここで、マスクに対して温度制御された空気を吹き
付ける等の方法も考えられるが、十分な効果が期待でき
ない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記のような
状況に鑑みて成されたものであり、マスクの良好な温度
制御により露光精度の向上に寄与する露光方法及び露光
装置を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の態様にかかる露光方法においては、
空洞部(52)が形成されたマスク(36)をマスクホ
ルダ(34)で保持し、空洞部(52)に温度調整され
た流体を供給する。
【0005】また、本発明の第2の態様にかかる露光装
置は、空洞部(52)が形成されたマスク(36)を保
持するマスクホルダ(34)と、空洞部(52)に着脱
可能な配管手段(56a,56b,58a,58b)
と、配管手段(56a,56b,58a,58b)を介
して、マスク(36)の空洞部(52)に温度調整され
た流体を供給する流体供給手段(60,62)とを備え
ている。
【0006】上記のような露光装置において、マスク
(36)の空洞部としては、露光パターン(36a)が
形成されている領域の外周部分に形成された無端環状の
通孔(52)とすることが好ましい。或いは、パターン
(36a)が形成されている領域全体を含む範囲で空洞
部(66)を平面的に形成することができる。この場
合、当該空洞部(66)には温度調整された気体を供給
することが好ましい。
【0007】本発明の第3の態様にかかる露光装置は、
マスク(70)に対して露光用の光を照射する照明手段
(32)と;内部に空洞部分(78)を有し、マスク
(70)のパターン(72)が形成されている面と反対
側の面に配置された温度調整用部材(74)と;温度調
整用部材(74)の空洞部(78)に連結された配管
(56a,56b,58a,58b)と;配管(56
a,56b,58a,58b)を介して、温度調整用部
材(74)の空洞部分(78)に温度調整された流体を
循環させる流体供給手段(60,62)とを備えてい
る。このような露光装置において、好ましくは、マスク
(70)のパターン部分(72)を塞がないように温度
調整用部材(74)を額縁状に成形し、その内部に空洞
部として無端環状の通孔(78)を形成することが好ま
しい。
【0008】
【作用及び効果】上記のような本発明の第1の態様にか
かる露光方法においては、マスク(36)内部の空洞部
(52)に温度調整された液体又は気体等の流体を流し
ているため、当該流体によってマスク(36)の直接的
な温度調整が可能となる。すなわち、露光用の光の一部
がマスク(36)に吸収されて当該マスク(36)の温
度が上昇した場合にも、その熱が空洞部(52)を流れ
る流体に吸収される。その結果、マスク(36)自体が
熱膨張することを未然に防止することが可能となる。
【0009】本発明の第2の態様にかかる露光装置にお
いては、露光作業を行うに先立ち、マスク(36)をマ
スクホルダ(34)上にロードした後、マスク(36)
の空洞部(52)に配管手段(56a,56b,58
a,58b)を連結する。そして、露光作業中において
は、流体供給手段(60,62)によって、配管手段
(56a,56b,58a,58b)を介してマスク
(36)の空洞部(52)に温度調整された流体を供給
する。このため、第1の態様にかかる露光方法と同様
に、マスク(36)に吸収された熱が空洞部(52)を
流れる流体に吸収され、マスク(36)の熱膨張を防止
できる。
【0010】ここで、露光パターン(36a)が形成さ
れている領域の外周部分に無端環状の通孔(52)を形
成し、当該通孔(52)に温度調整された流体を流す構
成にすれば、当該通孔(52)を流れる流体によってマ
スク(36)のパターン(36a)が遮られることもな
く、パターン(36a)の結像状態に悪影響を及ぼすこ
とがない。また、パターン(36a)が形成されている
領域全体を含む範囲で空洞部(66)を平面的に形成し
た場合には、当該空洞部(66)に液体ではなく気体を
循環させることにより、露光光の光路上での流体の濃度
不均一性により、パターン(36a)の結像状態が悪化
する問題を回避することができる。
【0011】本発明の第3の態様にかかる露光装置にお
いては、露光作業を行うに先立ち、マスク(70)をマ
スクホルダ(34)上にロードした後、内部に空洞部分
(78)を有する温度調整用部材(74)をマスク(7
0)のパターン(72)形成面と反対側の面に配置し、
配管(56a,56b,58a,58b)を当該温度調
整用部材(74)の空洞部(78)に連結する。そし
て、露光作業中においては、流体供給手段(60,6
2)により、配管(56a,56b,58a,58b)
を介して、温度調整用部材(74)の空洞部分(78)
に温度調整された流体を循環させる。このため、第2の
態様にかかる露光装置と同様に、マスク(70)に吸収
された熱が温度調整用部材(74)の空洞部を流れる流
体に吸収され、マスク(70)の熱膨張防止に寄与する
ことができる。特に、本態様においては、マスク(7
0)自体に空洞部を形成する必要がないため、製造工程
の簡略化が図れるメリットがある。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を以下
に示す実施例に基づいて説明する。本実施例は、レチク
ル36上に形成されたパターンの像をウエハ40上に投
影露光する半導体デバイス製造用の投影露光装置に本発
明を適用したものである。
【0013】
【実施例】図1は、温度制御された空気(14)が循環
する環境制御チャンバー12内に収容された本実施例の
露光装置の構成を示す。図において、環境制御チャンバ
ー12内には、投影露光装置本体10内を通過した空気
を冷却する空気冷却器16と、この冷却された空気を適
正温度まで加熱する空気再加熱機18とが装備されてい
る。投影露光装置本体10の側部には、当該露光装置本
体10近傍の空気の温度を検出する温度センサ20が配
置されており、この温度センサ20によって検出された
温度に基づいて温度コントローラ22が空気再加熱機1
8を制御するようになっている。
【0014】空気再加熱機18によって温度制御された
空気は、送風機24によって投影露光装置本体10側に
送り込まれる。送風機24の送風口近傍には、化学物質
除去フィルタ26が配置され、空気中の反応性化学物質
を除去するようになっている。化学物質除去フィルタ2
6の前方(風下)には、塵埃除去フィルタ28が配置さ
れ、空気中の塵埃を除去するようになっている。環境制
御チャンバー12内(図の左上部)には、もう1つ化学
物質除去フィルタ30が配置され、チャンバー12内に
取り込まれる外気中の反応性化学物質を除去するように
なっている。
【0015】投影露光装置10においては、照明系32
によって照度均一化された露光光がレチクルステージ3
4上に載置されたレチクル36に照射される。レチクル
36裏面に形成されたパターン36a(図4参照)の像
は、投影光学系38によってウエハ40上に投影され
る。なお、レチクル36には後述する独自の温度調整機
構が設けられている。ウエハ40は、ウエハステージ4
2上に載置されており、当該ウエハステージ42の端部
には移動鏡44が設置されている。レーザ干渉計46は
移動鏡44からの反射光に基づいてウエハステージ42
の位置を計測するようになっている。
【0016】図2は、本発明の第1実施例にかかるレチ
クル36周辺の構造及びレチクル36の温度調整機構
(56a,56b,58a,58b,60,62)の構
成を示す。また、図3はレチクル36の構造を示し、図
4はレチクル36とレチクルステージ34の断面構造を
示す。レチクルステージ(又は、レチクルホルダ)34
の中央部分には開口部48が形成され、レチクル36の
クロムパターン36a(図4)に達する光を遮らないよ
うになっている。また、レチクルステージ34上の4カ
所にはレチクル36を真空吸着するための吸着部50
a,50b,50c,50dが設けられており、図示し
ないバキューム機構によってレチクル36をレチクルス
テージ34に対して真空吸着する。レチクル36内のパ
ターン36aの外周部分には、無端環状の通孔52が形
成されており、2つの連結孔54a,54b(図3)を
介して外部と接続されるようになっている。通孔52の
製造の際には、例えば、レチクル36の上下を2枚の石
英板に分割し、両方の石英板に対応する溝を形成し、こ
れら2枚の石英板を張り合わせることが考えられる。ま
た、通孔52の断面形状は円に限定されず、矩形等の多
角形状でも良く、レチクル36の製造条件等に応じて適
宜設定できる。
【0017】レチクル36の温度調整機構は、レチクル
の連結孔54a,54bに挿入される注入ノズル56
a,56bと、これら注入ノズル56a,56bに連結
された配管58a,58bと、温度制御用の流体が貯蔵
された恒温槽62と、恒温槽62内の流体を所定の圧力
で配管58a,58b内に循環させるポンプ60とを備
えている。注入ノズル56a,56bとレチクル36の
側面との間にはシール用のパッキン(図示せず)が挿入
される。ポンプ60と恒温槽62は、配管58a,58
bを介してチャンバ12(図1)の外部に配置されてい
る。これにより、熱源及び震動源となり得るポンプ60
及び恒温槽62からの熱及び振動がチャンバ12内の露
光装置10に伝わらないようになっている。高温槽62
から配管58a,58bを介してレチクル36の通孔5
2を循環する流体としては、水等の液体又は空気やガス
等の気体が利用できる。配管58a,58bとしては、
樹脂等よりなる柔軟性の高いフレキシブルチューブを使
用することが望ましく、当該フレキシブルチューブによ
り、配管58a,58b内の流体の流れによる振動が吸
収され、レチクル36への振動の伝達を抑えることがで
きる。
【0018】本実施例において露光作業を行う場合に
は、レチクル36をレチクルステージ34上にロード
し、吸着孔50a,50b,50c,50dを介してレ
チクル36をレチクルステージ34上に真空吸着する。
次に、配管58a,58bに連結された注入ノズル56
a,56bをレチクル36の連結孔54a,54bに挿
入する。その後、露光作業を行っている間は、恒温槽6
2から流出した流体が、ポンプ60により、配管58
a,注入ノズル56aを介して一方の連結孔54aから
レチクル36の通孔52内に流し込まれる。通孔52を
流れた流体は、反対側の連結孔54bから、注入ノズル
56b,配管58bを介して恒温槽62に戻る。レチク
ル36を交換する場合には、通孔52内の流体を抜き出
した後に、注入ノズル56a,56bを連結孔54a,
54bから抜くようにする。なお、温度調整用の流体と
して液体を使用した場合には、例えば、レチクル36の
交換前に液体に換えて空気を通孔52内に循環させて、
一旦液体を外部に排出した後に、注入ノズル56a,5
6bを連結孔54a,54bから抜くようにする。
【0019】以上のように、本実施例においては、露光
作業中に温度調整用の流体がレチクル36内部の通孔5
2を循環するため、当該流体によってレチクル36の直
接的な温度調整が可能となる。すなわち、露光用の光の
一部がレチクル36に吸収されて当該レチクル36の温
度が上昇した場合にも、その熱が通孔52を流れる流体
に吸収され、レチクル36の温度を一定に保つことがで
きる。その結果、レチクル36自体が熱膨張することを
防止することが可能となる。
【0020】なお、本実施例においてはレチクル36の
パターン36aの外周部分に無端環状の通孔52を形成
しているが、これに換えて、レチクル36の側面を貫通
する通孔を少なくとも1本形成し、その通孔に流体を流
すようにしても良い。このような工夫により、レチクル
36の製造工程の簡略化が期待できる。また、レチクル
36或いはレチクルステージ34の一部に温度センサを
設け、当該温度センサの検出値に基づいて流体の温度を
調整するようにしても良い。
【0021】図5は、本発明の第2実施例にかかるレチ
クル64及び当該レチクル64の温度調整機構の構成を
示し、図6及び図7はレチクル64の構造を示す。な
お、本実施例は上述した第1実施例と共通する構成要素
を多く含むため、第1実施例と同一又は対応する構成要
素については同一の符号を付し、重複した説明を省略す
る。本実施例と上記第1実施例との違いは、レチクル
(36,64)の構造の違いにある。すなわち、本実施
例のレチクル64は、内部に薄板状の空洞部66が形成
され、連結孔68a,68bを介して注入ノズル56
a,56bに接続される。空洞部66はレチクル64の
転写パターン69を含めてレチクル64内部において平
面状に拡がり、第1実施例の通孔52と同様に温度調整
用の流体が循環するようになっている。なお、温度調整
用の流体としては、水等の液体の場合には空洞部66内
で密度の変化が生じやすいため、空気等の気体を用いる
ことが望ましい。
【0022】空洞部66の上面66a及び下面66b
は、レチクル64の上面及びパターン69の面に対して
平行に加工されており、露光用の光の主光線の倒れが生
じないようになっている。また、本実施例においては、
レチクル64の空洞部66内で屈折率の変化が生じるた
め、当該変化に合わせて照明系32等の調整を行う。な
お、本実施例のレチクル64の製造の際には、例えば、
レチクル64を上下の石英板に分割し、これら2つの石
英板の内側に空洞部66に対応する矩形の凹部を形成す
る。そして、これら2つの石英板を張り合わせることに
よってレチクル64を成形することができる。
【0023】以上のように、本実施例においては、温度
調整用の気体がレチクル64の全面にわたって循環する
ため、上述した第1実施例の効果に加え、レチクル64
全体の均一な温度制御を行えるという効果がある。
【0024】図8及び図9は、本発明の第3実施例にか
かるレチクル温度調整機構の構成を示す平面図及び断面
図(C−C)である。なお、本実施例は上述した第1及
び第2実施例と共通する構成要素を多く含むため、これ
らの実施例と同一又は対応する構成要素については同一
の符号を付し、重複した説明を省略する。本実施例は、
それ自体に特徴を持たない従来のレチクル70を使用
し、レチクル70の温度調整を行う機構(74,56
a,56b,58a,58b他)を当該レチクル70上
面に付加したものである。レチクル70上には、底面の
クロムパターン72に干渉しないように額縁状に成形さ
れた温度調整部材74が設けられている。この温度調整
部材74の内部には温度調整用の流体が流れる通孔78
が無端環状に形成されている。通孔78は、上述した第
1及び第2実施例と同様に注入ノズル56a,56bと
配管58a,58bを介して恒温槽62及びポンプ60
に接続される。
【0025】温度調整部材74の中央には、レチクル7
0のクロムパターン72への光の通路を確保する開口部
76が形成されている。温度調整部材74はレチクル7
0の熱を吸収する役目を担うものであり、温度調整用の
流体とレチクル70との間の熱交換率を向上させるため
に、温度調整部材74の外周面と通孔78との間の肉厚
をできる限り薄くすることが望ましい。
【0026】本実施例において露光作業を行う場合に
は、レチクル70をレチクルステージ34上にロード
し、吸着孔50a,50b,50c,50d(図2参
照)を介してレチクル70をレチクルステージ34上に
真空吸着する。次に、温度調整部材74をレチクル70
上にセットした後、配管58a,58bに連結された注
入ノズル56a,56bをレチクル36の連結孔(図示
せず)に挿入する。なお、温度調整部材74は予めレチ
クル70の上面に設置しておいても良い。その後、露光
作業を行っている間は、恒温槽62から流出した流体
が、ポンプ60により、配管58a,58b、注入ノズ
ル56a,56bを介して温度調整部材74内の通孔7
8を循環する。
【0027】本実施例において、レチクル70に特別な
加工を施すことなく当該レチクル70の温度制御を行え
るという効果がある。
【0028】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に示された本発明の技術的思想とし
ての要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の第1実施例にかかる投影露光
装置及び当該露光装置の環境制御機構の構成を示す概念
図である。
【図2】図2は、本発明の第1実施例にかかるレチクル
周辺の構成及びレチクル温度調整機構の概念構成を示す
平面図である。
【図3】図3は、第1実施例に使用されるレチクルの構
造を示す平面図である。
【図4】図4は、図2のA−A方向の断面図であり、第
1実施例のレチクルの内部構造を示す。
【図5】図5は、本発明の第2実施例にかかるレチクル
周辺の構成及びレチクル温度調整機構の概念構成を示す
平面図である。
【図6】図6は、第2実施例に使用されるレチクルの構
造を示す斜視図である。
【図7】図7は、第2実施例のレチクルの内部構造を示
す説明図である。
【図8】図8は、本発明の第3実施例にかかるレチクル
周辺の構成を示す平面図である。
【図9】図9は、図8のC−C方向の断面図であり、第
3実施例のレチクル、レチクルステージ及び温度調整部
材の構造を示す。
【符号の説明】
10・・・露光装置 12・・・チャンバ 32・・・照明系 34・・・レチクルステージ 36,64,70・・・レチクル 38・・・投影レンズ 40・・・ウエハ 52・・・通孔 54a,54b・・・連結孔 56a,56b・・・注入ノズル 58a,58b・・・配管 60・・・ポンプ 62・・・恒温槽 66・・・空洞部 74・・・温度調整部材 78・・・通孔

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】マスクホルダーに保持されたマスクに形成
    されたパターンの像を感光基板に露光する露光方法にお
    いて、 空洞部が形成された前記マスクを前記マスクホルダに保
    持させる工程と;前記空洞部に温度調整された流体を供
    給する工程とを含むことを特徴とする露光方法。
  2. 【請求項2】マスクに形成されたパターンの像を感光基
    板上に露光する露光装置において、 空洞部が形成されたマスクを保持するマスクホルダー
    と;前記空洞部に着脱可能な配管手段と;前記配管手段
    を介して、前記マスクの空洞部に温度調整された流体を
    供給する流体供給手段とを備えていることを特徴とする
    露光装置。
  3. 【請求項3】前記マスクの空洞部は、前記パターンが形
    成されている領域の外周部分に形成された無端環状の通
    孔であることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
  4. 【請求項4】前記マスクの空洞部は、前記パターンが形
    成されている領域全体を含む範囲で平面的に形成されて
    いることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
  5. 【請求項5】前記流体供給手段は、前記流体として前記
    マスク空洞部に温度調整された気体を供給することを特
    徴とする請求項4に記載の露光装置。
  6. 【請求項6】マスクに形成されたパターンの像を感光基
    板上に転写露光する露光装置において、 前記マスクに対して露光用の光を照射する照明手段と;
    内部に空洞部分を有し、前記マスクのパターンが形成さ
    れている面と反対側の面に配置された温度調整用部材
    と;前記温度調整用部材の空洞部に連結された配管と;
    前記配管を介して、前記温度調整用部材の空洞部分に温
    度調整された流体を循環させる流体供給手段とを備えた
    ことを特徴とする露光装置。
  7. 【請求項7】前記温度調整用部材は、前記マスクのパタ
    ーン部分を塞がないように、額縁状に成形され、その内
    部に前記空洞部として無端環状の通孔が形成されている
    ことを特徴とする請求項6に記載の露光装置。
JP8336413A 1996-12-02 1996-12-02 露光方法及び露光装置 Pending JPH10163103A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002250799A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Ushio Inc 電子ビーム処理装置
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JP2015111225A (ja) * 2013-12-06 2015-06-18 東芝ライテック株式会社 液晶パネルの製造装置及び液晶パネルの製造方法
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CN108121164A (zh) * 2016-11-29 2018-06-05 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 光罩散热装置及其工作方法

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