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JPH10116226A - 半導体記憶装置のアドレス整列装置 - Google Patents

半導体記憶装置のアドレス整列装置

Info

Publication number
JPH10116226A
JPH10116226A JP9201227A JP20122797A JPH10116226A JP H10116226 A JPH10116226 A JP H10116226A JP 9201227 A JP9201227 A JP 9201227A JP 20122797 A JP20122797 A JP 20122797A JP H10116226 A JPH10116226 A JP H10116226A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
address
output
data
memory cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9201227A
Other languages
English (en)
Inventor
Fui Baku Son
ソン・フイ・バク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
LG Semicon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Semicon Co Ltd filed Critical LG Semicon Co Ltd
Publication of JPH10116226A publication Critical patent/JPH10116226A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
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    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
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    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アドレス入力時に順序が整列された複数バイ
トの長さを有する記憶素子を連続的にアクセスできるよ
うにする。 【解決手段】 入力されるアドレスをデコーディングし
て、nビットの長さを有するセルをa×bの大きさを有
する少なくとも2つ以上のブロックに分け、入力される
アドレスによって、制御部からデータ入出力選択信号を
出力させて、そのブロックの連続するバイトを選択し
て、出力させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置の
アドレス整列装置(address alignment system)に関
するもので、特にアドレス入力時に順序の整列された複
数バイトの長さを有する記憶素子を連続的にアクセスで
きるようにした半導体記憶装置のアドレス整列装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体記憶装置は、記憶素子の
ほかに入力アドレスにより指定されたメモリワードを選
択するためのデコーダを必要とする。以下、添付図面を
参照して、従来技術による半導体記憶装置のデコーダに
関して説明する。図1は従来技術による半導体記憶装置
とデコーダの構成ブロック図である。ワード当たりのn
ビットのサイズを有するmワードから構成された半導体
記憶装置は、m×n個の2進記憶素子2と各ワードを選
択するために設けられているアドレスデコーダ1とから
構成される。2進記憶素子2は半導体記憶装置の基本設
計ブロックである。アドレス入力はアドレスデコーダ1
に連結されており、アドレスデコーダ1はメモリイネー
ブル信号により作動する。アドレスデコーダ1に入力さ
れるメモリイネーブル信号が0であれば、アドレスデコ
ーダ1の出力は0になるので、ワードを選択できない。
アドレスデコーダ1に入力されるメモリイネーブル信号
が1であれば、ワードを選択できる。図の例では2個の
アドレス入力信号が入力され、それに基づいて4つのワ
ードの中の1つが選択される。
【0003】読み出し/書き込み信号が1であれば、指
定されているワードの2進記憶素子2の格納値が3個の
ORゲート3を通過して出力端子に出力される。そのほ
かの2進記憶素子2は0を発生するので、出力に影響が
及ばない。そして、読み出し/書き込み信号が0であれ
ば、データ入力端子に待機中の情報が指定されたワード
の2進記憶素子2に格納される。従来の半導体記憶装置
においては、アドレスデコーダ1にアドレスが入力され
ると当該行の複数バイトの記憶素子が同時にアクセスさ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体記憶装置
は、アドレスがアドレスデコーダに入力されると該当す
る行に接続された記憶素子のみにアクセス可能であるた
め、アドレス入力に連続性が無くなる。そのため、2行
に亘る長さとアドレスを有するデータを格納しようとす
る場合、それぞれの行に対して動作を分けて行わなけれ
ばならず、動作のスピードが非常に落ちる。本発明は、
上記のような従来技術の半導体記憶装置の問題点を解決
するために案出したもので、アドレス入力時に順序が整
列した複数バイトの長さを有する記憶素子を連続的にア
クセスできるようにした半導体記憶装置のアドレス整列
装置を提供することが目的である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
のアドレス整列装置は、nビットのサイズを有するm個
のセルを、a行×b列のサイズを有する少なくとも2つ
以上のブロックに分けて配置した記憶装置と、それらの
ブロックに対応して設けられ、入力されるアドレスをデ
コードして、入力アドレスに応じてセルをそれぞれアク
セスするアドレスデコーダと、入力アドレスによりデー
タ入出力選択信号を出力する制御手段部と、前記ブロッ
クの同じa列のセルに同時に連結されていて、前記制御
手段部のデータ入出力選択信号により、いずれか1つの
ブロックのセルを選択するa個のセル選択手段部と、前
記制御手段部の入出力選択信号により前記a個のセル選
択手段部のいずれか1つを選択して、アドレスの順序通
りにデータを再整列して出力するa個の入出力選択部
と、前記それぞれの入出力選択部に連結されるa個の入
出力ポートと、を有することを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の半導体記憶装置のアドレス整列装置に関して詳細に
説明する。図2は、本発明実施形態のアドレス整列装置
の構成ブロック図であり、図3は、アドレス整列装置の
動作に従う真理値テーブルである。本実施形態の半導体
記憶装置は、nビットのサイズを有するm個のデータを
格納するための記憶素子がa行×b列のサイズを有する
少なくとも2つ以上のブロックに分けて配置されてい
る。図示の例においては、2個のブロックに分けて配置
されている。すなわち、第1メモリセルブロック31と
第2メモリセルブロック32である。それぞれのブロッ
クは4バイトの入出力構造を有する。本アドレス配列装
置は、半導体記憶装置に入力されたアドレスをそれぞれ
デコードする第1アドレスデコーダ29と、第2アドレ
スデコーダ30とを備え、第1アドレスデコーダ29は
入力されたアドレスをデコードして第1メモリセルブロ
ック31のセルにアクセスし、第2アドレスデコーダ3
0は入力されたアドレスをデコードして第2メモリセル
ブロック32のセルにアクセスする。さらに、本実施形
態は、前記入力されるアドレスによりデータ入出力選択
信号(S0)、(S1)、(S2)、(S3)、(SU
0)、(SU1)を出力する制御回路部20をも備えて
いる。制御回路部20の入出力選択信号(S0)により
前記第1メモリセルブロック31、且つ第2メモリセル
ブロック32に連結されてデータ入出力を選択する2入
力第1マルチプレクサ21と、前記制御回路部20のデ
ータ入出力選択信号(S1)により前記第1メモリセル
ブロック31、且つ第2メモリセルブロック32に連結
されてデータ入出力を選択する2入力第2マルチプレク
サ22と、前記制御回路部20のデータ入出力選択信号
(S2)により前記第1メモリセルブロック31、且つ
第2メモリセルブロック32に連結されてデータ入出力
を選択する2入力第3マルチプレクサ23と、前記制御
回路部20のデータ入出力選択信号(S3)により前記
第1メモリセルブロック31、且つ第2メモリセルブロ
ック32に連結されてデータ入出力を選択する2入力第
4マルチプレクサ24との4つのマルチプレクサを備え
ている。これらはいずれも入力される選択信号が0のと
き第1メモリブロック31へ接続され、1のとき第2メ
モリブロック32へ接続される。さらに、前記制御回路
部20のデータ入出力選択信号(SU0)、(SU1)
によりセルデータを入出力する4入力第1、2、3、4
マルチプレクサ25、26、27、28と、この4入力
第1、2、3、4、マルチプレクサ25、26、27、
28のデータを入出力する第1、2、3、4入出力ポー
ト33、34、35、36とから構成される。上記4入
力マルチプレクサ25〜28は、その入力(SU0)、
(SU1)の状態に応じて2入力マルチプレクサ21〜
24を選択的に接続される。第1マルチプレクサ25は
入力状態が00、01、10、11のとき、マルチプレ
クサ26は入力状態が11、00、01、10のとき、
マルチプレクサ27は入力状態が10、11、00、1
0のとき、マルチプレクサ28は入力状態が01、1
0、11、00のときそれぞれマルチプレクサ21、2
2、23、24へ接続される。前記それぞれの第1、
2、3、4入出力ポート33、34、35、36は、8
ビットのデータの幅をもっているので、最大32ビット
の入出力が同時に行われる。
【0007】上記のように構成された本発明の半導体記
憶装置のアドレス整列装置の動作は、下記の通りであ
る。まず、記憶素子をアクセスするためにアドレスを入
力した場合、入力されたアドレスは第1アドレスデコー
ダ29と第2アドレスデコーダ30によりそれぞれデコ
ードされる。このとき同時に制御回路部20にもアドレ
スが入力されて、制御回路部20からデータ入出力選択
信号(S0)、(S1)、(S2)、(S3)、(SU
0)、(SU1)を出力する。
【0008】図3を参照して、それぞれのアドレス値に
よる各構成ブロックの動作を説明すれば、下記の通りで
ある。図3は、入力されたアドレスAの最下位ビットを
A0、次下位ビットをA1、A2、....と仮定した
場合の動作テーブル値を示すものである。入力されたア
ドレスが0であれば、制御回路部20から出力される
(S0)、(S1)、(S2)、(S3)のデータ入出
力選択信号が全て0になって、それぞれの2入力マルチ
プレクサ21、22、23、24は、全て第1メモリセ
ルブロック31と連結される。そして、(SU0)、
(SU1)のデータ入出力選択信号も0になるので、そ
れぞれの4入力マルチプレクサ25、26、27、28
は、順序通りにそれぞれの入出力ポート33、34、3
5、36に連結される。よって、それぞれの入出力ポー
ト33、34、35、36の入出力はバイト0、バイト
1、バイト2、バイト3になる。
【0009】そして、入力されたアドレスが1であれ
ば、(S0)のデータ入出力選択信号は1になって、2
入力第1マルチプレクサ21は第2メモリセルブロック
32に連結され、(S1)、(S2)、(S3)のデー
タ入出力選択信号は0になって、2入力第2、3、4マ
ルチプレクサ22、23、24は全て第1メモリセルブ
ロック31に連結される。そして、(SU0)、(SU
1)のデータ入出力選択信号は01になるので、4入力
第1、2、3、4マルチプレクサ25、26、27、2
8は、第1、2、3、4入出力ポート33、34、3
5、36の入出力がそれぞれバイト1、バイト2、バイ
ト3、バイト4になるように動作する。
【0010】そして、入力されたアドレスが2であれ
ば、(S0)、(S1)のデータ入出力選択信号は1に
なって、2入力第1、2マルチプレクサ21、22は第
2メモリセルブロック32に連結され、(S2)、(S
3)のデータ入出力選択信号は0になって、2入力第
3、4マルチプレクサ23、24は第1メモリセルブロ
ック31に連結される。そして、(SU0)、(SU
1)のデータ入出力選択信号は10になるので、4入力
第1、2、3、4マルチプレクサ25、26、27、2
8は、第1、2、3、4入出力ポート33、34、3
5、36の入出力がそれぞれバイト2、バイト3、バイ
ト4、バイト5になるように動作する。
【0011】そして、入力されたアドレスが4であれ
ば、(S0)、(S1)、(S2)、(S3)のデータ
入出力選択信号は全て1になって、2入力第1、2、
3、4マルチプレクサ21、22、23、24は第2メ
モリセルブロック32に連結される。そして、(SU
0)、(SU1)のデータ入出力選択信号は0になるの
で、4入力第1、2、3、4マルチプレクサ25、2
6、27、28は第1、2、3、4入出力ポート33、
34、35、36への入出力がそれぞれバイト4、バイ
ト5、バイト6、バイト7になるように動作する。
【0012】そして、入力アドレスが4、5、6、7の
場合、第1メモリセルブロック31のアドレスに8が加
わってデコードされる。すなわち、次の行のバイトがア
クセスされる。したがって、入力アドレスが例えば6の
場合、第1メモリセルブロック31のデータはバイト8
〜バイト11から選択される。例えば、上記のように入
力アドレスが6の場合、(S0)、(S1)のデータ入
出力選択信号は0になり、(S2)、(S3)のデータ
入出力選択信号は1になって、2入力第1、2マルチプ
レクサ21、22は第1メモリセルブロック31に連結
され、2入力第3、4マルチプレクサ23、24は第2
メモリセルブロック32に連結される。そして、(SU
0)、(SU1)のデータ入出力選択信号は01になる
ので、4入力第1、2、3、4マルチプレクサ25、2
6、27、28は第1、2、3、4入出力ポート33、
34、35、36の入出力がそれぞれバイト6、バイト
7、バイト8、バイト9になるように動作する。
【0013】
【発明の効果】本発明の半導体記憶装置のアドレス整列
装置は、以上で説明したように、どのアドレスを選択し
ても連続している複数バイト記憶場所をアクセスできる
ので、データの伝送効率及び記憶装置の使用効率を向上
させるという効果がある。特に、長さの異なる様々な命
令語を有するCPUの主記憶装置などに用いる場合、ア
ドレスアクセス動作が効率よく成されて、処理速度及び
信頼性を向上させる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来技術による半導体記憶装置のデコーダの
構成ブロック図。
【図2】 本発明実施形態のアドレス整列装置の構成ブ
ロック図。
【図3】 アドレス整列装置の動作に従う真理値テーブ
ル。
【符号の説明】
20 制御回路部 21、22、23、24 2入力マルチプレクサ 25、26、27、28 4入力マルチプレクサ 29 第1アドレスデコーダ 30 第2アドレスデコーダ 31 第1メモリセルブロック 32 第2メモリセルブロック 33、34、35、36 入出力ポート

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 nビットのサイズを有するm個のセル
    を、a行×b列のサイズを有する少なくとも2つ以上の
    ブロックに分けて配置した記憶装置と、 それらのブロックに対応して設けられ、入力されるアド
    レスをデコードして、入力アドレスに応じてセルをそれ
    ぞれアクセスするアドレスデコーダと、 入力アドレスによりデータ入出力選択信号を出力する制
    御手段部と、 前記ブロックの同じa列のセルに同時に連結されてい
    て、前記制御手段部のデータ入出力選択信号により、い
    ずれか1つのブロックのセルを選択するa個のセル選択
    手段部と、 前記制御手段部の入出力選択信号により前記a個のセル
    選択手段部のいずれか1つを選択して、アドレスの順序
    通りにデータを再整列して出力するa個の入出力選択部
    と、 前記それぞれの入出力選択部に連結されるa個の入出力
    ポートと、を有することを特徴とする半導体記憶装置の
    アドレス整列装置。
  2. 【請求項2】 アドレスデコーダが最後のブロックの当
    該行のセルをアクセスするようになると、最初ブロック
    に対応する他のアドレスデコーダは、次行のセルをアク
    セスすることを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装
    置のアドレス整列装置。
  3. 【請求項3】 順次増加するアドレスを有するバイト単
    位の記憶素子からなる第1、2メモリセルブロックと、 入力されるアドレスをデコーディングして、前記第1、
    2メモリセルブロックをそれぞれアクセスする第1、2
    アドレスデコーダと、 アドレスが入力されて、データ入出力選択信号(S
    0)、(S1)、(S2)、(S3)、(SU0)、
    (SU1)を出力する制御回路部と、 前記制御回路部から出力されるそれぞれのデータ入出力
    選択信号(S0)、(S1)、(S2)、(S3)によ
    り前記第1メモリセルブロック、或いは第2メモリセル
    ブロックのセルを選択する2入力第1、第2、第3及び
    第4マルチプレクサと、 前記制御回路部から出力されるデータ入出力選択信号
    (SU0)、(SU1)により前記2入力第1、第2、
    第3及び第4マルチプレクサのいずれか1つにそれぞれ
    連結され、アドレスの順序通りにデータを再整列して出
    力する4入力第1、第2、第3、第4マルチプレクサ
    と、 前記4入力第1、第2、第3及び第4マルチプレクサに
    それぞれ連結されてデータを入出力する第1、第2、第
    3及び第4入出力ポートと、を有することを特徴とする
    半導体記憶装置のアドレス整列装置。
  4. 【請求項4】 4入力第1、第2、第3及び第4マルチ
    プレクサは、入力されるアドレスの下位の幾つかのビッ
    トをデコーディングして出力されるデータ入出力選択信
    号(SU0)、(SU1)により、2入力第1、第2、
    第3及び第4マルチプレクサに選択的にそれぞれ連結さ
    れてメモリセルブロックを選択することを特徴とする請
    求項3記載の半導体記憶装置のアドレス整列装置。
JP9201227A 1996-07-31 1997-07-28 半導体記憶装置のアドレス整列装置 Pending JPH10116226A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR31642/1996 1996-07-31
KR1019960031642A KR100205351B1 (ko) 1996-07-31 1996-07-31 반도체 기억 장치의 주소 정렬 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10116226A true JPH10116226A (ja) 1998-05-06

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ID=19468245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9201227A Pending JPH10116226A (ja) 1996-07-31 1997-07-28 半導体記憶装置のアドレス整列装置

Country Status (4)

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US (1) US5875147A (ja)
JP (1) JPH10116226A (ja)
KR (1) KR100205351B1 (ja)
TW (1) TW391011B (ja)

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KR980011478A (ko) 1998-04-30
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