JPH097533A - Fedアレイ用エッジ電子エミッタ - Google Patents
Fedアレイ用エッジ電子エミッタInfo
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- JPH097533A JPH097533A JP16521796A JP16521796A JPH097533A JP H097533 A JPH097533 A JP H097533A JP 16521796 A JP16521796 A JP 16521796A JP 16521796 A JP16521796 A JP 16521796A JP H097533 A JPH097533 A JP H097533A
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- grooves
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- H01J31/08—Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
- H01J31/10—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
- H01J31/12—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen
- H01J31/15—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen with ray or beam selectively directed to luminescent anode segments
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- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/022—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
- H01J9/025—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/467—Control electrodes for flat display tubes, e.g. of the type covered by group H01J31/123
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
- H01J3/021—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source
- H01J3/022—Electron guns using a field emission, photo emission, or secondary emission electron source with microengineered cathode, e.g. Spindt-type
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- H01J2201/30403—Field emission cathodes characterised by the emitter shape
- H01J2201/30423—Microengineered edge emitters
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- H01J2329/00—Electron emission display panels, e.g. field emission display panels
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造および使用が比較的簡単なエッジ放出型
電界放出素子アレイのための支持基板およびその製造方
法を提供する。 【解決手段】 FEDアレイ内の複数のエッジ・エミッ
タ(113)は、第1面(101)内に形成された平行
で横方向に離間された溝(103)と、対向面(10
2)内に形成された平行で横方向に離間された溝(10
4)とを有する板状基板(100)を含み、各第2溝
(104)は、各第1溝(103)とある角度で交差す
る。溝(103,104)の深さ(d1,d2)を合わ
せると、板状基板(100)の厚さよりも大きくなるの
で、第2溝(104)が第1溝(103)と交差する各
点において、基板(100)を貫通する開口(105)
が形成される。開口(105)内の表面上にゲート物質
(107)が堆積され、第1表面(10)のランド上に
エミッタ物質(113)が堆積され、各開口(105)
内にFEDエミッタが形成される。
電界放出素子アレイのための支持基板およびその製造方
法を提供する。 【解決手段】 FEDアレイ内の複数のエッジ・エミッ
タ(113)は、第1面(101)内に形成された平行
で横方向に離間された溝(103)と、対向面(10
2)内に形成された平行で横方向に離間された溝(10
4)とを有する板状基板(100)を含み、各第2溝
(104)は、各第1溝(103)とある角度で交差す
る。溝(103,104)の深さ(d1,d2)を合わ
せると、板状基板(100)の厚さよりも大きくなるの
で、第2溝(104)が第1溝(103)と交差する各
点において、基板(100)を貫通する開口(105)
が形成される。開口(105)内の表面上にゲート物質
(107)が堆積され、第1表面(10)のランド上に
エミッタ物質(113)が堆積され、各開口(105)
内にFEDエミッタが形成される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平面パネル表示装
置用電界放出素子アレイに関し、更に特定すれば、電界
放出素子アレイ形成用基板に関するものである。
置用電界放出素子アレイに関し、更に特定すれば、電界
放出素子アレイ形成用基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電界放出素子(FED)を利用して平面
パネル表示装置を形成する種々の方式が、過去に提案さ
れている。かかる方式の大部分は、通常スピント・チッ
プ(Spindt tip)と呼ばれている円錐状先端アレイを用い
ている。しかしながら、これらの方式は総じて製造が非
常に複雑であり、あるいは実用的ではないので、実用的
かつ信頼性高く、しかも安価に平面パネル表示装置を製
造するには、用いることができない。更に、スピント・
チップは、総じて信頼性がなく、十分な一貫性をもって
製造し、エミッタ先端とグリッドとの間の短絡、過度に
多いグリッド電流、先端の劣化、先端の爆発等を含む種
々の問題を防止することが非常に難しい。
パネル表示装置を形成する種々の方式が、過去に提案さ
れている。かかる方式の大部分は、通常スピント・チッ
プ(Spindt tip)と呼ばれている円錐状先端アレイを用い
ている。しかしながら、これらの方式は総じて製造が非
常に複雑であり、あるいは実用的ではないので、実用的
かつ信頼性高く、しかも安価に平面パネル表示装置を製
造するには、用いることができない。更に、スピント・
チップは、総じて信頼性がなく、十分な一貫性をもって
製造し、エミッタ先端とグリッドとの間の短絡、過度に
多いグリッド電流、先端の劣化、先端の爆発等を含む種
々の問題を防止することが非常に難しい。
【0003】更に最近になって、平面パネル表示装置の
実用的な実施例が、2件の係属中の米国特許出願おいて
に開示された。これらは、本願と同一譲受人に譲渡され
ている。第1の特許出願(Wiemann)は、1993年12
月17日に出願された、"Field Emission Display Empl
oying a Peripheral Diamond Material Edge ElectronE
mitter"と題する出願番号第08/168,301号、第2の特許
出願は、1993年12月20日に出願された、"Balli
stic Charge Transport Device with IntegralActive C
ontainment Absorption Means"と題する出願番号第08/1
69, 232号である。これら特許出願に開示されているF
EDおよびアレイ全体の動作に関する情報は、本願でも
使用可能である。
実用的な実施例が、2件の係属中の米国特許出願おいて
に開示された。これらは、本願と同一譲受人に譲渡され
ている。第1の特許出願(Wiemann)は、1993年12
月17日に出願された、"Field Emission Display Empl
oying a Peripheral Diamond Material Edge ElectronE
mitter"と題する出願番号第08/168,301号、第2の特許
出願は、1993年12月20日に出願された、"Balli
stic Charge Transport Device with IntegralActive C
ontainment Absorption Means"と題する出願番号第08/1
69, 232号である。これら特許出願に開示されているF
EDおよびアレイ全体の動作に関する情報は、本願でも
使用可能である。
【0004】概略的には、上述の特許出願は、貫通孔が
アレイ状に形成された誘電体基板上に形成されたエッジ
・エミッタFEDアレイについて記載している。必要と
される位置および必要とされるサイズでこれらの孔を形
成することは、非常に難しくしかも費用がかかる可能性
がある。更に、孔が形成された後の基板上にFEDを形
成するには、数回の困難な堆積およびマスキング工程が
必要であり、各後続工程において必要な位置合せ(regis
tration)を達成するには費用がかかる。
アレイ状に形成された誘電体基板上に形成されたエッジ
・エミッタFEDアレイについて記載している。必要と
される位置および必要とされるサイズでこれらの孔を形
成することは、非常に難しくしかも費用がかかる可能性
がある。更に、孔が形成された後の基板上にFEDを形
成するには、数回の困難な堆積およびマスキング工程が
必要であり、各後続工程において必要な位置合せ(regis
tration)を達成するには費用がかかる。
【0005】したがって、製造および使用が簡単な基板
およびかかる基板の製造方法を提供することができれ
ば、非常に望ましいであろう。
およびかかる基板の製造方法を提供することができれ
ば、非常に望ましいであろう。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、エッ
ジ放出電界放出素子アレイのための、新規で改良された
支持基板を提供することである。
ジ放出電界放出素子アレイのための、新規で改良された
支持基板を提供することである。
【0007】本発明の他の目的は、製造および使用が比
較的簡単な、エッジ放出型電界放出素子アレイのため
の、新規で改良された支持基板を提供することである。
較的簡単な、エッジ放出型電界放出素子アレイのため
の、新規で改良された支持基板を提供することである。
【0008】本発明の更に他の目的は、製造が比較的安
価にでき、しかも完全に自己整合プロセスの中で使用可
能な、エッジ放出型電界放出素子アレイのための、新規
で改良された支持基板を提供することである。
価にでき、しかも完全に自己整合プロセスの中で使用可
能な、エッジ放出型電界放出素子アレイのための、新規
で改良された支持基板を提供することである。
【0009】本発明の更に他の目的は、バラスティング
(ballasting)が比較的容易に組み込まれ、アレイ全体に
わたって均一な電流分布が得られる、エッジ放出型電界
放出素子アレイのための、新規で改良された支持基板を
提供することである。
(ballasting)が比較的容易に組み込まれ、アレイ全体に
わたって均一な電流分布が得られる、エッジ放出型電界
放出素子アレイのための、新規で改良された支持基板を
提供することである。
【0010】本発明の更に別の目的は、複数の基板を積
層することによって必要な空間および支持が得られる、
エッジ放出型電界放出素子アレイのための、新規で改良
された支持基板を提供することである。
層することによって必要な空間および支持が得られる、
エッジ放出型電界放出素子アレイのための、新規で改良
された支持基板を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述のおよびその他の問
題の少なくとも部分的な解決、ならびに上述のおよびそ
の他の目的の実現は、本発明によるFEDアレイ内の複
数のエッジ・エミッタ(edge emitter)によって得ること
ができる。かかるエッジ・エミッタは、第1面に形成さ
れた平行で横方向に離間された溝と、対向面(opposed s
urface)に形成された平行で横方向に離間された溝とを
有し、各第2の溝が各第1の溝とある角度をもって交差
する、板状基板を含む。これらの溝を組み合わせた深さ
は、板状基板の厚さよりも大きくなるので、第2の溝が
第1の溝と交差する各領域即ち部分には、基板を貫通す
る開口が形成される。ゲート物質を開口内の表面上に堆
積し、エミッタ物質を第1面のランド上に堆積すること
により、各開口にFEDエミッタを形成する。
題の少なくとも部分的な解決、ならびに上述のおよびそ
の他の目的の実現は、本発明によるFEDアレイ内の複
数のエッジ・エミッタ(edge emitter)によって得ること
ができる。かかるエッジ・エミッタは、第1面に形成さ
れた平行で横方向に離間された溝と、対向面(opposed s
urface)に形成された平行で横方向に離間された溝とを
有し、各第2の溝が各第1の溝とある角度をもって交差
する、板状基板を含む。これらの溝を組み合わせた深さ
は、板状基板の厚さよりも大きくなるので、第2の溝が
第1の溝と交差する各領域即ち部分には、基板を貫通す
る開口が形成される。ゲート物質を開口内の表面上に堆
積し、エミッタ物質を第1面のランド上に堆積すること
により、各開口にFEDエミッタを形成する。
【0012】上述のおよびその他の問題の少なくとも部
分的な解決、ならびに上述のおよびその他の目的の実現
は、本発明による電界放出素子アレイの複数のエッジ電
子エミッタのための支持基板の製造方法によって達成さ
れる。この方法は、第1および第2平面が平行に対向す
る関係で、間に選択された厚さをもって位置付けられ
た、板状誘電体基板を用意する段階と、第1平面に第1
の深さまで平行で横方向に離間された複数の第1溝を形
成する段階と、第2平面に第2の深さまで平行で横方向
に離間された複数の第2溝を形成する段階と、各第2溝
が各第1溝と、第1溝に対してある角度をもって交差す
るように第2溝を位置付け、第1および第2深さが組み
合わされると板状基板の厚さよりも大きくなり、第2の
溝が第1溝と交差する各点に、基板を貫通する開口を形
成する段階とを含む。
分的な解決、ならびに上述のおよびその他の目的の実現
は、本発明による電界放出素子アレイの複数のエッジ電
子エミッタのための支持基板の製造方法によって達成さ
れる。この方法は、第1および第2平面が平行に対向す
る関係で、間に選択された厚さをもって位置付けられ
た、板状誘電体基板を用意する段階と、第1平面に第1
の深さまで平行で横方向に離間された複数の第1溝を形
成する段階と、第2平面に第2の深さまで平行で横方向
に離間された複数の第2溝を形成する段階と、各第2溝
が各第1溝と、第1溝に対してある角度をもって交差す
るように第2溝を位置付け、第1および第2深さが組み
合わされると板状基板の厚さよりも大きくなり、第2の
溝が第1溝と交差する各点に、基板を貫通する開口を形
成する段階とを含む。
【0013】上述の支持基板を用いる方法の具体例は、
更に、各開口内の複数の第2溝の第2側表面上および複
数の第1溝の第1側表面上にゲート金属層を堆積する段
階と、各ランド上にエミッタ物質を堆積し、各開口内に
おいて複数の第1溝の第1側表面上に、ゲート金属層と
共にエッジ・エミッタを形成する段階とを含む。
更に、各開口内の複数の第2溝の第2側表面上および複
数の第1溝の第1側表面上にゲート金属層を堆積する段
階と、各ランド上にエミッタ物質を堆積し、各開口内に
おいて複数の第1溝の第1側表面上に、ゲート金属層と
共にエッジ・エミッタを形成する段階とを含む。
【0014】
【発明の実施の形態】ここで図1を参照すると、本発明
によるエッジ・エミッタの二次元アレイを組み込んだ平
面画像表示アセンブリ30の一実施例の部分断面図が描
かれている。ほぼ光学的に透明な視覚スクリーン構造体
(viewing screen assembly)31は、陰極ルミネセンス
物質層(cathodoluminescent material layer)のような
物質のエネルギ変換層33と、導電性陽極層34とが堆
積された透明スクリーン32を含む。この具体的実施例
では、貫通する中間開口(interspace aperture)43が
規定され、当該開口が中間領域を規定する中間絶縁層4
2を、導電性陽極層34上に堆積する。
によるエッジ・エミッタの二次元アレイを組み込んだ平
面画像表示アセンブリ30の一実施例の部分断面図が描
かれている。ほぼ光学的に透明な視覚スクリーン構造体
(viewing screen assembly)31は、陰極ルミネセンス
物質層(cathodoluminescent material layer)のような
物質のエネルギ変換層33と、導電性陽極層34とが堆
積された透明スクリーン32を含む。この具体的実施例
では、貫通する中間開口(interspace aperture)43が
規定され、当該開口が中間領域を規定する中間絶縁層4
2を、導電性陽極層34上に堆積する。
【0015】簡略化された構成図として示されている、
二次元アレイ状に配置された複数の電子エミッタは、図
中破線の枠で示されている支持基板44によって規定さ
れている。この基板44には、貫通する基板開口45が
規定されている。電子を放出するための電子放出物質層
46が、支持基板44の絶縁部分47上に堆積され、非
導電層48が電子放出層46上に堆積されている。導電
性ゲート層49が、基板開口45内の支持基板44の両
側に堆積されている。電子放出物質層46は、例えば、
ダイアモンド、ダイアモンド状炭素、非結晶性ダイアモ
ンド状炭素、窒化アルミニウム、および表面仕事関数が
約1.0電子ボルト未満のその他の電子放出物質の内の
1つで構成することが好ましい。
二次元アレイ状に配置された複数の電子エミッタは、図
中破線の枠で示されている支持基板44によって規定さ
れている。この基板44には、貫通する基板開口45が
規定されている。電子を放出するための電子放出物質層
46が、支持基板44の絶縁部分47上に堆積され、非
導電層48が電子放出層46上に堆積されている。導電
性ゲート層49が、基板開口45内の支持基板44の両
側に堆積されている。電子放出物質層46は、例えば、
ダイアモンド、ダイアモンド状炭素、非結晶性ダイアモ
ンド状炭素、窒化アルミニウム、および表面仕事関数が
約1.0電子ボルト未満のその他の電子放出物質の内の
1つで構成することが好ましい。
【0016】図1に描いた実施例では、支持基板44
は、基板開口45が中間開口43と実質的に一致するよ
うに、中間絶縁層42上に配置されている。また、支持
基板44は導電性ゲート層49を分離し、導電性ゲート
層49が、基板開口45の対向する両側で、対向面に分
割されていることも注記しておく。別個の電子エミッタ
を制御するために、対向面の行および列を電気的に接続
する。これについては、以下で詳細に説明する。
は、基板開口45が中間開口43と実質的に一致するよ
うに、中間絶縁層42上に配置されている。また、支持
基板44は導電性ゲート層49を分離し、導電性ゲート
層49が、基板開口45の対向する両側で、対向面に分
割されていることも注記しておく。別個の電子エミッタ
を制御するために、対向面の行および列を電気的に接続
する。これについては、以下で詳細に説明する。
【0017】背面(backplane)50が、支持基板44に
対して離れて配置され、その間に空胴領域(evacuated r
egion)52を規定する。ゲッタ物質層53が、支持基板
44に対向するように、背面50上に配置されている。
スペーサ54が領域52に配置され、支持基板44上の
絶縁層48およびゲッタ物質層53と動作可能に接触し
ているため、領域52を空胴化する際に、画像表示アセ
ンブリ30が破壊することはない。例えば、ゲッタ物質
層53をパターニングして、ゲッタ物質層53の代わり
に背面50上にスペーサ54を配置してもよいことは理
解されよう。この開示のために、そしてゲッタ物質層5
3は通常非常に薄いので、いずれの実施例においても、
背面50はスペーサ54によって支持され、スペーサ5
4も背面50によって支持されることが考慮されること
になる。
対して離れて配置され、その間に空胴領域(evacuated r
egion)52を規定する。ゲッタ物質層53が、支持基板
44に対向するように、背面50上に配置されている。
スペーサ54が領域52に配置され、支持基板44上の
絶縁層48およびゲッタ物質層53と動作可能に接触し
ているため、領域52を空胴化する際に、画像表示アセ
ンブリ30が破壊することはない。例えば、ゲッタ物質
層53をパターニングして、ゲッタ物質層53の代わり
に背面50上にスペーサ54を配置してもよいことは理
解されよう。この開示のために、そしてゲッタ物質層5
3は通常非常に薄いので、いずれの実施例においても、
背面50はスペーサ54によって支持され、スペーサ5
4も背面50によって支持されることが考慮されること
になる。
【0018】再び図1を参照すると、多数の電位源6
2,64,66,68が描かれており、これらは各々画
像表示アセンブリ30の1つ以上の素子に動作可能に接
続されている。本説明のために、そして決して動作の限
定ではないものとして言えば、電位源62,64,6
6,68の各々を、接地電位のような基準電位に、動作
可能に接続してもよい。ここで、接地電位はあくまでも
一例に過ぎない。電位源62は、導電性ゲート層49と
基準電位との間に動作可能に接続されている。電位源6
4は、ビューイング・スクリーン・アセンブリ31の導
電性陽極34と基準電位との間に動作可能に接続されて
いる。電位源66は、ゲッタ物質層53と基準電位との
間に動作可能に接続されている。電位源68は、電子放
出物質層46と基準電位との間に動作可能に接続されて
いる。
2,64,66,68が描かれており、これらは各々画
像表示アセンブリ30の1つ以上の素子に動作可能に接
続されている。本説明のために、そして決して動作の限
定ではないものとして言えば、電位源62,64,6
6,68の各々を、接地電位のような基準電位に、動作
可能に接続してもよい。ここで、接地電位はあくまでも
一例に過ぎない。電位源62は、導電性ゲート層49と
基準電位との間に動作可能に接続されている。電位源6
4は、ビューイング・スクリーン・アセンブリ31の導
電性陽極34と基準電位との間に動作可能に接続されて
いる。電位源66は、ゲッタ物質層53と基準電位との
間に動作可能に接続されている。電位源68は、電子放
出物質層46と基準電位との間に動作可能に接続されて
いる。
【0019】画像表示アセンブリ30の動作の間、電子
放出物質層46から放出された電子は、基板開口45お
よび中間開口43の範囲を横断し、陰極ルミネセンス層
44に入射し、ここで電子が光子の放出を励起する。電
位源62は電位源68と協同して、電子放出を制御する
役割を果たす。電位源64は、負電位(attractive pote
ntial)を発生し、これによって中間開口43内に必要な
電界を形成し、放出された電子の収集を可能にする。電
位源66は、中間開口43、基板開口45、または領域
52のいずれかの中にランダムに配置されている、イオ
ン性構成物に、負電位を与える。同時に、電位源66
は、ゲッタ物質層53において、あらゆる負に帯電した
放出電子に対して、反対電位を与えることによって、放
出された電子の軌道を修正する。
放出物質層46から放出された電子は、基板開口45お
よび中間開口43の範囲を横断し、陰極ルミネセンス層
44に入射し、ここで電子が光子の放出を励起する。電
位源62は電位源68と協同して、電子放出を制御する
役割を果たす。電位源64は、負電位(attractive pote
ntial)を発生し、これによって中間開口43内に必要な
電界を形成し、放出された電子の収集を可能にする。電
位源66は、中間開口43、基板開口45、または領域
52のいずれかの中にランダムに配置されている、イオ
ン性構成物に、負電位を与える。同時に、電位源66
は、ゲッタ物質層53において、あらゆる負に帯電した
放出電子に対して、反対電位を与えることによって、放
出された電子の軌道を修正する。
【0020】電位源62,68は、選択的に、当技術で
は既知の方法で、画素アレイの所望部分に印加され、電
子放出物質層46の対応部分からの電子放出の制御を可
能にする。このように電子放出を制御することにより、
ビューイング・スクリーン・アセンブリ31上で観察可
能な1枚の所望の画像または複数の所望の画像が得られ
る。
は既知の方法で、画素アレイの所望部分に印加され、電
子放出物質層46の対応部分からの電子放出の制御を可
能にする。このように電子放出を制御することにより、
ビューイング・スクリーン・アセンブリ31上で観察可
能な1枚の所望の画像または複数の所望の画像が得られ
る。
【0021】本発明による平面表示アセンブリ30’の
他の実施例の部分断面図が、図2に示されている。図1
に関連して既に述べた構造には、ここでも同様に引用す
るが、参照番号全てに「’」を加えて引用し、異なる実
施例であることを示す。図2により詳しく描かれている
ように、中間絶縁層42’は、複数の積層絶縁層70’
〜75’で構成され、各層は、一例としてのみ言えば、
モリブデン、アルミニウム、チタン、ニッケル、または
タングステンのような導電層80’〜84’が堆積され
た表面と関連付けられている。したがって、個々の導電
層80’〜84’は、隣接する絶縁層70’〜75’の
間に挟持されている。図2の描画には6枚の絶縁層と、
その間に挟持された5枚の導電層が含まれているが、か
かる導電層および/または絶縁層は、これより少なくま
たは多く用いることによって中間絶縁層42’を実現し
てもよいことが考えられる。更に、絶縁層70’〜7
4’のいくつかまたは全ては、その間に導電層を配せず
に設けても良いことも考えられる。
他の実施例の部分断面図が、図2に示されている。図1
に関連して既に述べた構造には、ここでも同様に引用す
るが、参照番号全てに「’」を加えて引用し、異なる実
施例であることを示す。図2により詳しく描かれている
ように、中間絶縁層42’は、複数の積層絶縁層70’
〜75’で構成され、各層は、一例としてのみ言えば、
モリブデン、アルミニウム、チタン、ニッケル、または
タングステンのような導電層80’〜84’が堆積され
た表面と関連付けられている。したがって、個々の導電
層80’〜84’は、隣接する絶縁層70’〜75’の
間に挟持されている。図2の描画には6枚の絶縁層と、
その間に挟持された5枚の導電層が含まれているが、か
かる導電層および/または絶縁層は、これより少なくま
たは多く用いることによって中間絶縁層42’を実現し
てもよいことが考えられる。更に、絶縁層70’〜7
4’のいくつかまたは全ては、その間に導電層を配せず
に設けても良いことも考えられる。
【0022】また、図2には、導電層、この代表例で
は、導電層84’と基準電位との間に動作可能に接続さ
れている、電圧源のような、電位源85’も描かれてい
る。電位源84’は、中間開口43’内の電界に所望の
修正を加え、陽極34’に遷移する放出電子の速度に影
響を与えるように選択される。望ましければ、同様に、
図示しない他の電位源を導電層80’〜83’の他の層
に用いてもよい。
は、導電層84’と基準電位との間に動作可能に接続さ
れている、電圧源のような、電位源85’も描かれてい
る。電位源84’は、中間開口43’内の電界に所望の
修正を加え、陽極34’に遷移する放出電子の速度に影
響を与えるように選択される。望ましければ、同様に、
図示しない他の電位源を導電層80’〜83’の他の層
に用いてもよい。
【0023】次に図3に移ると、本発明による支持基板
100の上面図が、その一部を分解して示されている。
支持基板100ならびに以下のプロセスおよび素子が、
簡略構成図において先に示した、基板44または44’
の完全な実施例を形成する。また、支持基板100をよ
りよく理解するために、図4および図5に、図3の線4
−4および線5−5から見た断面図も示す。
100の上面図が、その一部を分解して示されている。
支持基板100ならびに以下のプロセスおよび素子が、
簡略構成図において先に示した、基板44または44’
の完全な実施例を形成する。また、支持基板100をよ
りよく理解するために、図4および図5に、図3の線4
−4および線5−5から見た断面図も示す。
【0024】支持基板100は、ガラスまたはその他の
適切な非平面誘電体物質で形成された、全体的に板状の
誘電体基板であり、離間された平行平坦面101,10
2を有する。平坦面101に、複数の平行で横方向に離
間された溝103が、選択された深さd1に形成されて
いる。また、平坦面102にも、複数の平行で横方向に
離間された溝104が、選択された深さd2に形成され
ている。溝104は、溝103に対してある交差角、本
実施例では90゜の角度をなすように、各溝103と交
差するように位置付けられている。d1とd2とを合わせ
た深さの合計は、支持基板100の厚さより大きくなる
ので、溝104が溝103と交差する各点または領域で
は、開口105が支持基板100を貫通して形成され
る。このように、支持基板100は、行および列に配置
された開口105の二次元配列を規定する。
適切な非平面誘電体物質で形成された、全体的に板状の
誘電体基板であり、離間された平行平坦面101,10
2を有する。平坦面101に、複数の平行で横方向に離
間された溝103が、選択された深さd1に形成されて
いる。また、平坦面102にも、複数の平行で横方向に
離間された溝104が、選択された深さd2に形成され
ている。溝104は、溝103に対してある交差角、本
実施例では90゜の角度をなすように、各溝103と交
差するように位置付けられている。d1とd2とを合わせ
た深さの合計は、支持基板100の厚さより大きくなる
ので、溝104が溝103と交差する各点または領域で
は、開口105が支持基板100を貫通して形成され
る。このように、支持基板100は、行および列に配置
された開口105の二次元配列を規定する。
【0025】本具体的実施例では、溝103,104
は、表面101から、そして次に表面102から基板1
00をのこ引き(saw cutting)することによって形成さ
れたものである。のこ引き作業の間チッピング(chippin
g)やその他の欠陥を最少に抑えるために、そして比較的
鋭敏で良好に規定されたエッジを得るために、特に支持
基板100がガラス板の場合は、支持基板100の表面
101,102には、最初に、金属または有機物質層を
被覆しておく。この被膜は、溝103,104の底面の
規定を改善する(丸みを抑える等)ためのエッチングが
必要な場合には、自己整合エッチング・マスクとしても
用いることができる。溝103,104を支持基板10
0に形成した後、いずれかの好都合なプロセスで、通常
被膜に用いられている物質の種類に応じて、被膜を除去
する。
は、表面101から、そして次に表面102から基板1
00をのこ引き(saw cutting)することによって形成さ
れたものである。のこ引き作業の間チッピング(chippin
g)やその他の欠陥を最少に抑えるために、そして比較的
鋭敏で良好に規定されたエッジを得るために、特に支持
基板100がガラス板の場合は、支持基板100の表面
101,102には、最初に、金属または有機物質層を
被覆しておく。この被膜は、溝103,104の底面の
規定を改善する(丸みを抑える等)ためのエッチングが
必要な場合には、自己整合エッチング・マスクとしても
用いることができる。溝103,104を支持基板10
0に形成した後、いずれかの好都合なプロセスで、通常
被膜に用いられている物質の種類に応じて、被膜を除去
する。
【0026】図6および図7を参照すると、複数のエッ
ジ電子エミッタを製造するプロセスの他の工程を示すた
めに、図4および図5と同様の、支持基板100の断面
図が描かれている。ゲート金属層107を、表面102
上のソース(図示せず)から、溝104,103の両側
に堆積する。この堆積は、スパッタリング等のようない
ずれかの既知の方法で行うことができる。層107は、
溝104(図6参照)の両側において連続層を形成する
が、表面102が堆積のためのシャドウ・マスク(shado
w mask)を形成するので、溝103の両側で層107に
分断が発生する(図7参照)。以下で更に詳しく説明す
るが、溝103両側の分断された層107は、エッジ電
子エミッタの抽出電極を形成する。
ジ電子エミッタを製造するプロセスの他の工程を示すた
めに、図4および図5と同様の、支持基板100の断面
図が描かれている。ゲート金属層107を、表面102
上のソース(図示せず)から、溝104,103の両側
に堆積する。この堆積は、スパッタリング等のようない
ずれかの既知の方法で行うことができる。層107は、
溝104(図6参照)の両側において連続層を形成する
が、表面102が堆積のためのシャドウ・マスク(shado
w mask)を形成するので、溝103の両側で層107に
分断が発生する(図7参照)。以下で更に詳しく説明す
るが、溝103両側の分断された層107は、エッジ電
子エミッタの抽出電極を形成する。
【0027】層107を堆積した後、表面101,10
2を研磨して、その上に形成されていたゲート金属を全
て除去する。層107に残ったゲート物質は、溝104
の両側で連続導体を形成すると共に、溝103の両側で
個別の抽出電極を形成する。抽出電極は連続導体に接続
されている。この具体的実施例では、連続導体(層10
7)は、電子エミッタの二次元アレイの行接続部として
機能する。犠牲金属またはその他の物質の比較的厚い層
108を層107上に堆積し、ゲート層107に対する
間隔および保護を与える。これについては、以下で明ら
かとなろう。1つの溝103(図6より)のエッジ部分
を大きく拡大した図を図8に示し、層107,108の
表面101に対する関係を表わす。
2を研磨して、その上に形成されていたゲート金属を全
て除去する。層107に残ったゲート物質は、溝104
の両側で連続導体を形成すると共に、溝103の両側で
個別の抽出電極を形成する。抽出電極は連続導体に接続
されている。この具体的実施例では、連続導体(層10
7)は、電子エミッタの二次元アレイの行接続部として
機能する。犠牲金属またはその他の物質の比較的厚い層
108を層107上に堆積し、ゲート層107に対する
間隔および保護を与える。これについては、以下で明ら
かとなろう。1つの溝103(図6より)のエッジ部分
を大きく拡大した図を図8に示し、層107,108の
表面101に対する関係を表わす。
【0028】図9を参照すると、図3の右側から見た支
持基板100の正面図により、複数のエッジ電子エミッ
タを製造するプロセスの更に他の工程が示されている。
プラズマ・エンハンス化学蒸着(PECVD)、蒸着、
スパッタリング等のような好都合な方法のいずれかによ
って、全体的に酸化物のような好都合な物質から成る薄
い絶縁層112を、支持基板100の表面101上に形
成する。厚さが1μm程度の絶縁層112を用いて、エ
ミッタ113を抽出ゲート層107から絶縁し離間す
る。これについては、以下で説明する。
持基板100の正面図により、複数のエッジ電子エミッ
タを製造するプロセスの更に他の工程が示されている。
プラズマ・エンハンス化学蒸着(PECVD)、蒸着、
スパッタリング等のような好都合な方法のいずれかによ
って、全体的に酸化物のような好都合な物質から成る薄
い絶縁層112を、支持基板100の表面101上に形
成する。厚さが1μm程度の絶縁層112を用いて、エ
ミッタ113を抽出ゲート層107から絶縁し離間す
る。これについては、以下で説明する。
【0029】PECVD、蒸着、スパッタリング等のよ
うないずれかの好都合な方法によって、エミッタ113
を絶縁層112上に形成する。エミッタ113は、19
93年12月17日に出願された、"Field Emission Di
splay Employing a Peripheral Diamond Material Edge
Electron Emitter"と題する米国出願番号第08/168,301
号に開示された、導電性物質の単一層、または、多層エ
ミッタ・アセンブリのいずれかとすることができる。ま
た、放出層は、ダイアモンド状炭素物質、窒化アルミニ
ウム、セシウム、またはその他の低仕事関数物質(即ち
<1.5ボルト)とすることができる。この具体的実施
例では、エミッタ113は金属層114、ダイアモンド
状炭素物質層115、およびその他の金属層116を含
む。
うないずれかの好都合な方法によって、エミッタ113
を絶縁層112上に形成する。エミッタ113は、19
93年12月17日に出願された、"Field Emission Di
splay Employing a Peripheral Diamond Material Edge
Electron Emitter"と題する米国出願番号第08/168,301
号に開示された、導電性物質の単一層、または、多層エ
ミッタ・アセンブリのいずれかとすることができる。ま
た、放出層は、ダイアモンド状炭素物質、窒化アルミニ
ウム、セシウム、またはその他の低仕事関数物質(即ち
<1.5ボルト)とすることができる。この具体的実施
例では、エミッタ113は金属層114、ダイアモンド
状炭素物質層115、およびその他の金属層116を含
む。
【0030】バラスティングが不要な場合、金属層11
4,116の一方または双方を、エミッタ・リード(列
接続部)として接続する。この場合、犠牲層108をこ
の時点で除去し、エミッタ113および層112を切削
(clip)し、抽出ゲート層107の外縁とほぼ同一平面と
する。溝103に面する層115の縁部は、放出表面と
して機能し、構造全体は、エッジ放出冷陰極電子源即ち
電界放出素子の二次元マトリクス(行/列)を形成す
る。支持基板100を平面画像表示装置30に支持基板
44として組み込むと、マトリクス状のアドレス可能な
冷陰極表示装置が得られる。
4,116の一方または双方を、エミッタ・リード(列
接続部)として接続する。この場合、犠牲層108をこ
の時点で除去し、エミッタ113および層112を切削
(clip)し、抽出ゲート層107の外縁とほぼ同一平面と
する。溝103に面する層115の縁部は、放出表面と
して機能し、構造全体は、エッジ放出冷陰極電子源即ち
電界放出素子の二次元マトリクス(行/列)を形成す
る。支持基板100を平面画像表示装置30に支持基板
44として組み込むと、マトリクス状のアドレス可能な
冷陰極表示装置が得られる。
【0031】エミッタ113のバラスティングが望まし
い場合、少なくとも層116、または層116,114
の双方を、ドープ(α)シリコンのような抵抗性物質で形
成することができる。次に、パターニング、蒸着、スパ
ッタリング等のようないずれかの好都合な方法によっ
て、アルミニウムのようないずれかの好都合な物質の導
電層を、エミッタ113の層116上に形成する。層1
12、エミッタ113および層120を形成するために
用いられる方法によっては、表面101以外の露出表面
上にマスク層を形成することが望ましい場合がある。か
かるマスク層および付加物質は後に除去され、両側にオ
ーバーハング(overhang)を有するまたは有さない、図1
0といくらか類似した最終アセンブリを確保する。
い場合、少なくとも層116、または層116,114
の双方を、ドープ(α)シリコンのような抵抗性物質で形
成することができる。次に、パターニング、蒸着、スパ
ッタリング等のようないずれかの好都合な方法によっ
て、アルミニウムのようないずれかの好都合な物質の導
電層を、エミッタ113の層116上に形成する。層1
12、エミッタ113および層120を形成するために
用いられる方法によっては、表面101以外の露出表面
上にマスク層を形成することが望ましい場合がある。か
かるマスク層および付加物質は後に除去され、両側にオ
ーバーハング(overhang)を有するまたは有さない、図1
0といくらか類似した最終アセンブリを確保する。
【0032】図11に最も明確に示し、そして図12に
大きく拡大して示すように、フォトレジストまたはその
他のマスク物質から成る層121を、導電層120の表
面に形成し、導電層120をエッチングして、少なくと
もオーバーハングを除去することが好ましい。次に、層
113,112をエッチングするか、そうでなければ加
工して、図13に示すように、そして図14に大きく拡
大して示すように、少なくともオーバーハングを除去す
る。フォトレジストまたはその他のマスク物質の第2層
125を、導電層120の表面上に形成する。更に、図
15に示すように、そして図16に大きく拡大して示す
ように、層120に十分な距離にわたってエッチ・バッ
ク(後退)を施し、エミッタ113のために、全体的に
中心に配置された導電性リードを形成する。以下でより
詳しく説明するが、図16に示すように導電層120を
後退させる理由は、最終エミッタ・リード(導電層12
0)とエミッタ113の放出表面との間に、適正な側方
バラスト抵抗を設けるためである。
大きく拡大して示すように、フォトレジストまたはその
他のマスク物質から成る層121を、導電層120の表
面に形成し、導電層120をエッチングして、少なくと
もオーバーハングを除去することが好ましい。次に、層
113,112をエッチングするか、そうでなければ加
工して、図13に示すように、そして図14に大きく拡
大して示すように、少なくともオーバーハングを除去す
る。フォトレジストまたはその他のマスク物質の第2層
125を、導電層120の表面上に形成する。更に、図
15に示すように、そして図16に大きく拡大して示す
ように、層120に十分な距離にわたってエッチ・バッ
ク(後退)を施し、エミッタ113のために、全体的に
中心に配置された導電性リードを形成する。以下でより
詳しく説明するが、図16に示すように導電層120を
後退させる理由は、最終エミッタ・リード(導電層12
0)とエミッタ113の放出表面との間に、適正な側方
バラスト抵抗を設けるためである。
【0033】導電層120を所望な幅だけ後退させた
後、エッチング等(犠牲層108を形成するのに用いた
物質の種類によって異なる)のいずれかの好都合な方法
によって層125を除去し、犠牲層108を除去する。
図17に示すように、そして図18に大きく拡大して示
すように、犠牲層108の除去によって、溝103に突
出する、即ち、張り出す層112,113が残る。エッ
ジ電界エミッタの適正な動作のために、層112,11
3が抽出ゲート層107の外縁と同一平面となる点まで
切除することが好ましい。これは、種々の技法のいずれ
かを用いて行うことができる。一例として、オーバーハ
ングは、表面101の方向から開口105を貫通するよ
うに、湿性またはガス研磨スラリを用いて、摩擦研磨す
ることができる。オーバーハングは、スリット103内
に挿入されたツールで機械的に切除するか、あるいはマ
スクしエッチングすればよい。
後、エッチング等(犠牲層108を形成するのに用いた
物質の種類によって異なる)のいずれかの好都合な方法
によって層125を除去し、犠牲層108を除去する。
図17に示すように、そして図18に大きく拡大して示
すように、犠牲層108の除去によって、溝103に突
出する、即ち、張り出す層112,113が残る。エッ
ジ電界エミッタの適正な動作のために、層112,11
3が抽出ゲート層107の外縁と同一平面となる点まで
切除することが好ましい。これは、種々の技法のいずれ
かを用いて行うことができる。一例として、オーバーハ
ングは、表面101の方向から開口105を貫通するよ
うに、湿性またはガス研磨スラリを用いて、摩擦研磨す
ることができる。オーバーハングは、スリット103内
に挿入されたツールで機械的に切除するか、あるいはマ
スクしエッチングすればよい。
【0034】図19に示すように、そして図20に大き
く拡大して示すように、層115の外縁上に、溝103
と対向し、抽出グリッド層107から中間層112の幅
だけ離間された、表面130を形成する。表面130は
縁または面であり、ここから電子が溝103内に放出さ
れる。導電層120は、表面130に対する列接続部を
形成し、導電層120と表面130との間にある抵抗性
物質層114および/または116の部分が、側方バラ
スト抵抗として機能する。バラスト抵抗によって供給さ
れる抵抗量の主な決定要素は、層112,116として
用いられる物質、および層120と面130との間の距
離「d」である。
く拡大して示すように、層115の外縁上に、溝103
と対向し、抽出グリッド層107から中間層112の幅
だけ離間された、表面130を形成する。表面130は
縁または面であり、ここから電子が溝103内に放出さ
れる。導電層120は、表面130に対する列接続部を
形成し、導電層120と表面130との間にある抵抗性
物質層114および/または116の部分が、側方バラ
スト抵抗として機能する。バラスト抵抗によって供給さ
れる抵抗量の主な決定要素は、層112,116として
用いられる物質、および層120と面130との間の距
離「d」である。
【0035】図21を参照すると、導電層120に後退
を施すための自己整合パターニング・プロセスが開示さ
れている。このプロセスでは、図10、または望ましけ
れば図13と関連付けて説明したように、層107,1
12、エミッタ113および導電層120を形成する。
ロール・コーティング(roll coating)等のようないずれ
かの好都合な方法によって、正フォトレジスト層135
を導電層120の表面上に設ける。表面101およびフ
ォトレジスト層135から平行に離間された関係でミラ
ー140を位置付け、支持基板100の側面102から
ミラー140上に光を射出する。光は開口105を通過
しながら照らし、反射してフォトレジスト層135に戻
ってくるが、これには十分なマスクが施されているの
で、フォトレジスト層135の縁部が露出されるに過ぎ
ない。実際、フォトレジスト層135の両縁は、ほぼ平
行光源からの通常の露光によって、同時に露出可能であ
ることがわかっている。光源の発散角(divergence angl
e)がわかっていれば、所望の後退を得るためのフォトレ
ジスト層135からのミラー140の間隔を、正確に計
算することができる。フォトレジスト層135の露出部
分を除去し、層135をマスクとして用い、導電層12
0を選択的にエッチングする。
を施すための自己整合パターニング・プロセスが開示さ
れている。このプロセスでは、図10、または望ましけ
れば図13と関連付けて説明したように、層107,1
12、エミッタ113および導電層120を形成する。
ロール・コーティング(roll coating)等のようないずれ
かの好都合な方法によって、正フォトレジスト層135
を導電層120の表面上に設ける。表面101およびフ
ォトレジスト層135から平行に離間された関係でミラ
ー140を位置付け、支持基板100の側面102から
ミラー140上に光を射出する。光は開口105を通過
しながら照らし、反射してフォトレジスト層135に戻
ってくるが、これには十分なマスクが施されているの
で、フォトレジスト層135の縁部が露出されるに過ぎ
ない。実際、フォトレジスト層135の両縁は、ほぼ平
行光源からの通常の露光によって、同時に露出可能であ
ることがわかっている。光源の発散角(divergence angl
e)がわかっていれば、所望の後退を得るためのフォトレ
ジスト層135からのミラー140の間隔を、正確に計
算することができる。フォトレジスト層135の露出部
分を除去し、層135をマスクとして用い、導電層12
0を選択的にエッチングする。
【0036】具体的に図22を参照すると、本発明によ
る平面パネル表示装置230の断面図が示されている。
ほぼ光学的に透明なビューイング・スクリーン・アセン
ブリ231は、全体的に先に説明したように、陰極ルミ
ネセンス物質層のようなのエネルギ変換物質層と、導電
性アノード層とが堆積されている透明スクリーンを含
む。上述の支持基板100と同様、基板232〜236
を積層することによって、中間絶縁アセンブリ242が
形成され、軸方向に整合された開口がそれを貫通してい
る。基板232〜236を貫通する整合開口は、中間孔
243を規定する。支持基板275は、その表面に単一
の導電層が形成されており(先に図2に関連して先に説
明した)、軸方向に整合された開口が貫通する基板23
6上に積層されている。単一基板276が基板275上
に積層され、スペーサとして機能し、支持基板244
(図19および図20の基板100と同様)が、基板2
76上に積層されている。基板276には、先の全基板
と軸方向に整合された開口が貫通している。上述のよう
に、支持基板244を処理し(例えば図19および図2
0)、エッジ・エミッタの二次元アレイをその上に設け
る。背面250が、支持基板244に対して離れるよう
に配置され、3枚の基板254が、基板244と背面2
50との間で共に積層されてスペーサを形成し、その間
に空胴領域252が規定される。ゲッタ物質層253
が、支持基板244と対向するように背面250上に配
置されている。ガラス・フリット(glass frit)等のよう
ないずれかの接着剤で、上述の様々な基板が共に密閉さ
れ、スクリーン・アセンブリ231および背面250に
接着される。
る平面パネル表示装置230の断面図が示されている。
ほぼ光学的に透明なビューイング・スクリーン・アセン
ブリ231は、全体的に先に説明したように、陰極ルミ
ネセンス物質層のようなのエネルギ変換物質層と、導電
性アノード層とが堆積されている透明スクリーンを含
む。上述の支持基板100と同様、基板232〜236
を積層することによって、中間絶縁アセンブリ242が
形成され、軸方向に整合された開口がそれを貫通してい
る。基板232〜236を貫通する整合開口は、中間孔
243を規定する。支持基板275は、その表面に単一
の導電層が形成されており(先に図2に関連して先に説
明した)、軸方向に整合された開口が貫通する基板23
6上に積層されている。単一基板276が基板275上
に積層され、スペーサとして機能し、支持基板244
(図19および図20の基板100と同様)が、基板2
76上に積層されている。基板276には、先の全基板
と軸方向に整合された開口が貫通している。上述のよう
に、支持基板244を処理し(例えば図19および図2
0)、エッジ・エミッタの二次元アレイをその上に設け
る。背面250が、支持基板244に対して離れるよう
に配置され、3枚の基板254が、基板244と背面2
50との間で共に積層されてスペーサを形成し、その間
に空胴領域252が規定される。ゲッタ物質層253
が、支持基板244と対向するように背面250上に配
置されている。ガラス・フリット(glass frit)等のよう
ないずれかの接着剤で、上述の様々な基板が共に密閉さ
れ、スクリーン・アセンブリ231および背面250に
接着される。
【0037】積層基板232〜236、基板275,2
76、支持基板244、および3枚の基板254の各々
は、接触係合状態で積層され、内部空洞が形成されると
き、外部(例えば、大気)圧力に対抗して支持する構造
となっている。基板間周囲にハーメティック・シール(h
ermetic seal)が形成可能であることを保証するため
に、各基板は、溝103の各集合の対向端部にこれと平
行に、かつ基板の同一側に、更に各溝104の集合の対
抗端部にこれと平行に、かつ基板の同一側に、ラビット
接合部(rabbit joint)285を含む。次に、ラビット接
合部(rabbit joint)にハーメティック・シール剤、本実
施例ではガラス・フリットを充填し、接触係合状態で基
板を密閉する。
76、支持基板244、および3枚の基板254の各々
は、接触係合状態で積層され、内部空洞が形成されると
き、外部(例えば、大気)圧力に対抗して支持する構造
となっている。基板間周囲にハーメティック・シール(h
ermetic seal)が形成可能であることを保証するため
に、各基板は、溝103の各集合の対向端部にこれと平
行に、かつ基板の同一側に、更に各溝104の集合の対
抗端部にこれと平行に、かつ基板の同一側に、ラビット
接合部(rabbit joint)285を含む。次に、ラビット接
合部(rabbit joint)にハーメティック・シール剤、本実
施例ではガラス・フリットを充填し、接触係合状態で基
板を密閉する。
【0038】以上のように、エッジ放出型電界放出素子
アレイのための新規で改良された支持基板が開示され
た。これは、製造が簡単で安価であり、エッジ放出型電
界放出素子の製造プロセスを大幅に簡略化するものであ
る。更に、上述の新規で改良された支持基板は、エッジ
放出型電界放出素子アレイを、完全に自己整合プロセス
を用いて製造可能とするものであり、製造が更に簡略化
され、コストの低減を図ることができる。加えて、上述
の新規で改良された支持基板は、エッジ放出型電界放出
素子アレイにバラスト抵抗の組み込みを可能とし、アレ
イ全体にわたって均一な電流分布を得ることができる。
更に、上述の新規で改良された支持基板は、ブロックを
積み上げるのと同様、容易に積層可能で、エッジ放出型
電界放出素子アレイに、必要な間隔および支持を与える
ことができる。
アレイのための新規で改良された支持基板が開示され
た。これは、製造が簡単で安価であり、エッジ放出型電
界放出素子の製造プロセスを大幅に簡略化するものであ
る。更に、上述の新規で改良された支持基板は、エッジ
放出型電界放出素子アレイを、完全に自己整合プロセス
を用いて製造可能とするものであり、製造が更に簡略化
され、コストの低減を図ることができる。加えて、上述
の新規で改良された支持基板は、エッジ放出型電界放出
素子アレイにバラスト抵抗の組み込みを可能とし、アレ
イ全体にわたって均一な電流分布を得ることができる。
更に、上述の新規で改良された支持基板は、ブロックを
積み上げるのと同様、容易に積層可能で、エッジ放出型
電界放出素子アレイに、必要な間隔および支持を与える
ことができる。
【0039】以上、本発明の具体的実施例について示し
説明してきたが、当業者には更に他の修正や改良も想起
されよう。したがって、本発明は、ここに示した特定形
態に限定されるものではないことが理解されることを望
み、本発明の精神および範囲から逸脱しない全ての修正
は特許請求の範囲に該当することを意図するものであ
る。
説明してきたが、当業者には更に他の修正や改良も想起
されよう。したがって、本発明は、ここに示した特定形
態に限定されるものではないことが理解されることを望
み、本発明の精神および範囲から逸脱しない全ての修正
は特許請求の範囲に該当することを意図するものであ
る。
【図1】本発明による平面パネル表示装置を、一部を分
解して示す簡略断面図。
解して示す簡略断面図。
【図2】本発明による平面パネル表示装置の変更例を示
す、図1と同様の図。
す、図1と同様の図。
【図3】本発明による支持基板の上面図。
【図4】本発明による支持基板の線4−4から見た断面
図。
図。
【図5】本発明による支持基板の線5−5から見た断面
図。
図。
【図6】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイの
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
【図7】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイの
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
【図8】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイの
製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図9】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイの
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
製造における種々の連続工程を示す、図4および図5と
同様の断面図。
【図10】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図11】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
【図12】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図13】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
【図14】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図15】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
【図16】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図17】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
【図18】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図19】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
の製造における種々の連続工程を示す、図4および図5
と同様の断面図。
【図20】図3の支持基板を用いた電界放出素子アレイ
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
の製造における種々の連続工程を示す、高倍率拡大断片
図。
【図21】本発明による電界放出素子アレイの一部の形
成を示す概略図。
成を示す概略図。
【図22】本発明による平面パネル表示装置を、一部を
分解して示す断面図。
分解して示す断面図。
30 平面画像表示アセンブリ 30’ 平面表示アセンブリ 31 ビューイング・スクリーン・アセンブリ 32 透明スクリーン 33 エネルギ変換層 34 導電性陽極層 42 中間絶縁層 42’ 中間絶縁層 43 中間開口 44 支持基板 45 基板開口 46 電子放出物質層 47 絶縁部分 48 非導電層 49 導電性ゲート層 50 背面 52 空胴領域 53 ゲッタ物質層 54 スペーサ 62,64,66,68 電位源 70’〜75’ 絶縁層 80’〜84’ 導電層 85’ 電位源 100 支持基板 101,102 平行平坦面 103,104 溝 105 開口 107 ゲート金属層 107 抽出グリッド層 108 犠牲層 112 絶縁層 113 エミッタ 114 金属層 115 ダイアモンド状炭素物質層 116 金属層 120 導電層 135 フォトレジスト層 140 ミラー 230 平面パネル表示装置 231 視覚スクリーン構造体 232〜236 基板 243 中間孔 244 支持基板 250 背面 252 空胴領域 254 基板 275 支持基板 276 単一基板 285 ラビット接合部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジェフリー・エー・ファリン アメリカ合衆国アリゾナ州ファウンテイ ン・ヒルズ、イースト・リッチウッド・ア ベニュー15925 (72)発明者 ウェイン・モロウ アメリカ合衆国アリゾナ州フェニックス、 イースト・モント・ウェイ4814 (72)発明者 スティーブン・エー・ボート アメリカ合衆国アリゾナ州ギルバート、サ ウス・シルバラード・ストリート18
Claims (5)
- 【請求項1】電界放出素子アレイ用の端部で電子を放出
する複数のエミッタにおける支持基板であって:平行に
対向する関係で配置され、選択された厚さがその間にあ
る第1および第2平坦面(101,102)を有する平
坦な誘電体基板(100);前記第1平坦面(101)
内に形成され、第1の深さ(d1)を有する、複数の平
行で横方向に離間された第1溝(103);および前記
第2平坦面(102)内に形成され、第2の深さ(d
2)を有する、複数の平行で横方向に離間された第2溝
(104);から成り、 前記第2溝(104)は、各第2溝(104)が前記第
1溝(103)に対してある角度で各第1溝(103)
と各々交差するように配置され、前記第1および第2の
深さ(d1,d2)を合わせると前記平坦な基板(10
0)の厚さより大きくなり、第2溝(104)が第1溝
(103)と交差する各領域の部分において、基板(1
00)を貫通する開口(105)が形成されることを特
徴とする支持基板。 - 【請求項2】電界放出素子アレイ用の端部で電子を放出
する複数のエミッタにおける支持基板であって:平行に
対向する関係で配置され、選択された厚さがその間にあ
る第1および第2平坦面を有する平坦な基板;前記第1
平坦面内に形成され、第1の深さを有する複数の平行で
横方向に離間された第1溝であって、当該第1溝の対向
する両側面に、前記各第1溝を規定する第1側面と、前
記第1平坦面内で隣接する前記第1溝の間に1つづつ配
置された複数のランドとを有する前記第1溝;前記第2
平坦面内に形成され、第2の深さを有する複数の平行で
横方向に離間された第2溝であって、当該第2溝の対向
する両側面に前記各第2溝を規定する第2側面を有し、
前記第2溝は、各第2溝が前記第1溝に対してある角度
で各第1溝と交差するように配置され、前記第1および
第2の深さを合わせると前記平坦な基板の厚さよりも大
きくなり、第2溝が第1溝と交差する各領域の部分にお
いて、基板を貫通する開口が形成されている、前記第2
溝;前記各開口内の、前記複数の第1溝の第2側面上、
および前記複数の第1溝の第1側面上に堆積されたゲー
ト金属層;および前記各ランド上に支持され、前記複数
の第1溝の第1側面上の前記ゲート金属層と共に、前記
各開口内で、エッジ・エミッタを形成するエミッタ物
質;から成ることを特徴とするエッジ電子エミッタ。 - 【請求項3】電界放出素子アレイであって:平行に対向
する関係で配置され、選択された厚さがその間にある第
1および第2平坦面を有する平坦基板;前記第1平坦面
内に形成され、平行で横方向に離間され、かつ第1の深
さを有する複数の第1溝であって、当該第1溝の対向す
る両側面に前記各第1溝を規定する第1側面と、前記第
1平坦面内の隣接する第1溝の間に1つづつ配置された
複数のランドとを有する前記第1溝;前記第2平坦面内
に形成され、平行で横方向に離間され、かつ第2の深さ
を有する複数の第2溝であって、当該第2溝の対向する
両側面に前記各第2溝を規定する第2側面を有し、前記
第2溝は、各第2溝が前記第1溝に対してある角度で各
第1溝と交差するように配置され、前記第1および第2
の深さを合わせると前記平坦な基板の厚さよりも大きく
なり、第2溝が第1溝と交差する各領域の部分におい
て、基板を貫通する開口が形成されている、前記第2
溝;前記各開口内において、前記複数の第1溝の第2側
面上および前記複数の第1溝の第1側面上に堆積された
ゲート金属層であって、各第2溝の第2側面の少なくと
も1つに沿って連続的に延在し、前記アレイの行導体を
形成する、前記ゲート金属層;前記各ランド上に支持さ
れ、前記複数の第1溝の第1側面上の前記ゲート金属層
と共に、前記各開口内で、エッジ・エミッタを形成する
エミッタ物質であって、各ランドに沿って連続的に延在
し、前記アレイ用の列導体を形成する前記エミッタ物
質;および前記平坦な基板から離間され、前記第1およ
び第2側面とほぼ平行な光学的に透明なフェースプレー
ト構造体であって、ルミネセンス物質の陰極と導電性の
陽極とを含み、前記エミッタ物質によって放出される電
子を受けるように配置された前記フェースプレート構造
体;から成ることを特徴とする電界放出素子アレイ。 - 【請求項4】電界放出素子アレイの複数のエッジ電子エ
ミッタ用の支持基板を製造する方法であって:平行に対
向する関係で配置され、選択された厚さがその間にある
第1および第2平坦面を有する平坦な誘電体基板を用意
する段階;前記第1平坦面内に、第1の深さを有する、
平行で横方向に離間された複数の第1溝を形成する段
階;および前記第2平坦面内に、第2の深さを有する、
平行で横方向に離間された複数の第2溝を形成し、各第
2溝が前記第1溝に対してある角度で各第1溝と交差す
るように前記第2溝を配置し、前記第1および第2の深
さを合わせると前記板状基板の厚さよりも大きくなり、
第2溝が第1溝と交差する各領域の部分において、基板
を貫通する開口を形成する段階;から成ることを特徴と
する方法。 - 【請求項5】電界放出素子アレイ用の複数のエッジ電子
エミッタを製造する方法であって:平行に対向する関係
で配置され、選択された厚さがその間にある第1および
第2平坦面(101,102)を有する平坦な基板(1
00)を用意する段階;前記第1平坦面(101)内に
第1の深さ(d1)まで、平行で横方向に離間された複
数の第1溝(103)を形成し、前記各第1溝(10
3)に、前記各第1溝(103)の対向する両側面に前
記各第1溝を規定する第1側面と、前記第1平坦面(1
01)内で隣接する第1溝(103)の間に1つづつ配
置された複数のランドとを設ける段階;前記第2平坦面
(102)内に第2の深さ(d2)まで、平行で横方向
に離間された複数の第2溝(104)を形成する段階で
あって、該第2溝(104)は各々、前記各第2溝(1
04)の対向する両側面に、前記各第2溝(104)を
規定する第2側面を有し、各第2溝(104)が前記第
1溝(103)に対してある角度で各第1溝(103)
と交差するように前記第2溝(104)を配置し、前記
第1および第2の深さ(d1,d2)を合わせると前記
平坦な基板(100)の厚さよりも大きくなり、第2溝
(104)が第1溝(103)と交差する各領域の部分
において、前記基板(100)を貫通する開口(10
5)を形成する段階;前記各開口(105)内におい
て、前記複数の第2溝(104)の各第2側面の少なく
とも一方の上、および前記複数の第1溝(103)の各
第1側面の少なくとも一方の上にゲート金属層(10
7)を堆積する段階;および前記各ランド上にエミッタ
物質(113)を堆積し、前記複数の第1溝(103)
の第1側面上の前記ゲート金属層(107)と共に、前
記各開口(105)内にエッジ・エミッタ(113)を
形成する段階;から成ることを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US489017 | 1990-03-06 | ||
US08/489,017 US5691600A (en) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | Edge electron emitters for an array of FEDS |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH097533A true JPH097533A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=23942061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16521796A Pending JPH097533A (ja) | 1995-06-08 | 1996-06-04 | Fedアレイ用エッジ電子エミッタ |
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---|---|
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EP (1) | EP0747920A3 (ja) |
JP (1) | JPH097533A (ja) |
KR (1) | KR970003379A (ja) |
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---|---|---|---|---|
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US6262530B1 (en) * | 1997-02-25 | 2001-07-17 | Ivan V. Prein | Field emission devices with current stabilizer(s) |
US5777432A (en) * | 1997-04-07 | 1998-07-07 | Motorola Inc. | High breakdown field emission device with tapered cylindrical spacers |
JP2000100315A (ja) * | 1998-07-23 | 2000-04-07 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出素子及び冷陰極電界電子放出表示装置 |
US6590320B1 (en) | 2000-02-23 | 2003-07-08 | Copytale, Inc. | Thin-film planar edge-emitter field emission flat panel display |
TWI287940B (en) * | 2003-04-01 | 2007-10-01 | Cabot Microelectronics Corp | Electron source and method for making same |
US7447298B2 (en) * | 2003-04-01 | 2008-11-04 | Cabot Microelectronics Corporation | Decontamination and sterilization system using large area x-ray source |
CN1707724A (zh) * | 2004-06-07 | 2005-12-14 | 清华大学 | 场发射装置及其制造方法 |
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---|---|---|---|---|
NL6515150A (ja) * | 1965-11-23 | 1966-01-25 | ||
FR2260865B1 (ja) * | 1974-02-12 | 1976-11-26 | Thomson Csf | |
US4417184A (en) * | 1980-08-04 | 1983-11-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Picture image display apparatus |
DE3544467A1 (de) * | 1985-12-16 | 1987-08-20 | Alexander Dr Phil Gschwandtner | Aufbau einer elektronensteuereinrichtung (elektrodenplatte) fuer flache selbstleuchtende anzeigevorrichtungen |
EP0500543A4 (en) * | 1989-09-29 | 1992-11-19 | Motorola, Inc. | Flat panel display using field emission devices |
US5142184B1 (en) * | 1990-02-09 | 1995-11-21 | Motorola Inc | Cold cathode field emission device with integral emitter ballasting |
US5214347A (en) * | 1990-06-08 | 1993-05-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Layered thin-edged field-emitter device |
JP3353943B2 (ja) * | 1992-06-01 | 2002-12-09 | モトローラ・インコーポレイテッド | 反転モード電子放出器 |
US5545946A (en) * | 1993-12-17 | 1996-08-13 | Motorola | Field emission display with getter in vacuum chamber |
US5502348A (en) * | 1993-12-20 | 1996-03-26 | Motorola, Inc. | Ballistic charge transport device with integral active contaminant absorption means |
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- 1995-06-08 US US08/489,017 patent/US5691600A/en not_active Expired - Fee Related
-
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