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JPH09329749A - Optical scanning type microscope - Google Patents

Optical scanning type microscope

Info

Publication number
JPH09329749A
JPH09329749A JP8171832A JP17183296A JPH09329749A JP H09329749 A JPH09329749 A JP H09329749A JP 8171832 A JP8171832 A JP 8171832A JP 17183296 A JP17183296 A JP 17183296A JP H09329749 A JPH09329749 A JP H09329749A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
scanning
light
laser
laser light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8171832A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kouji Yamagaki
浩司 山垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP8171832A priority Critical patent/JPH09329749A/en
Publication of JPH09329749A publication Critical patent/JPH09329749A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanning type microscope constituted so that an image with excellent contrast is obtained by minimizing the discoloring of fluorescence in a sample caused by the irradiation of a laser light beam when laser power and a photodetector are adjusted before image data is obtained. SOLUTION: The optical scanning type microscope 1 is provided with a laser light source 101 emitting the laser light beam and scanning mirrors 107 and 108 two-dimensionally scanning the sample 105 with the laser light beam. Besides, it is provided with a laser irradiation control mask 10 arranged in an optical path to the sample 105 from the light source 101 and set for intermittently irradiating the sample 105 with the laser light beam moved in a horizontal direction by the horizontal scanning action of the mirrors 107 and 108.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は光走査型顕微鏡に
関する。
The present invention relates to an optical scanning microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】生物試料に光を照射し、生物試料に起き
る現象を観察する顕微鏡として光走査型顕微鏡、例えば
レーザ走査顕微鏡が知られている。
2. Description of the Related Art An optical scanning microscope, for example, a laser scanning microscope is known as a microscope for irradiating a biological sample with light and observing a phenomenon occurring in the biological sample.

【0003】図5は共焦点レーザ走査顕微鏡のブロック
構成図である。
FIG. 5 is a block diagram of a confocal laser scanning microscope.

【0004】共焦点レーザ走査顕微鏡100は、励起レ
ーザ光を発するレーザ光源101と、励起フィルタ10
2と、励起レーザ光を対物レンズ103の瞳面を満たす
大きさに拡大するビームエクスパンダ104と、励起レ
ーザ光を透過させないが試料105で励起された蛍光を
透過させるダイクロイックミラー106と、レーザ光を
2次元的に走査する走査ミラー107,108と、集光
レンズ109と、レーザ光を除去する吸収フィルタ11
0と、集光レンズ111と、対物レンズ103の焦点面
と共役な位置に配置され、集光レンズ111で集光され
た蛍光のみを通過させるピンホール112aが形成され
たピンホールプレート112と、ピンホール112aを
通過した蛍光を検出し、電気信号に変換する蛍光検出器
113と、モニタ121、CPU122等を備え、蛍光
検出器112からの電気信号に基づき試料105の画像
化を図る蛍光画像システム120とから構成される。
The confocal laser scanning microscope 100 includes a laser light source 101 that emits excitation laser light and an excitation filter 10.
2, a beam expander 104 that expands the excitation laser light to a size that fills the pupil plane of the objective lens 103, a dichroic mirror 106 that does not transmit the excitation laser light, but transmits the fluorescence excited by the sample 105, and the laser light. Scanning mirrors 107 and 108 for two-dimensionally scanning a beam, a condenser lens 109, and an absorption filter 11 for removing laser light.
0, a condenser lens 111, and a pinhole plate 112 which is arranged at a position conjugate with the focal plane of the objective lens 103 and has a pinhole 112a through which only the fluorescence condensed by the condenser lens 111 passes. A fluorescence image system that includes a fluorescence detector 113 that detects fluorescence that has passed through the pinhole 112a and converts it into an electric signal, a monitor 121, a CPU 122, and the like, and that images the sample 105 based on the electric signal from the fluorescence detector 112. And 120.

【0005】上記構成の共焦点レーザ走査顕微鏡の動作
を説明する。
The operation of the confocal laser scanning microscope having the above configuration will be described.

【0006】レーザ光源101から出射された励起レー
ザ光は、励起フィルタ102及びビームエクスパンダ1
04を通過した後、ダイクロイックミラー106で反射
され、走査ミラー107,108によって2次元的に振
られ、集光レンズ109及び対物レンズ103によって
試料105上の焦点面にスポットとして照射される。
The excitation laser light emitted from the laser light source 101 is generated by the excitation filter 102 and the beam expander 1.
After passing through 04, it is reflected by the dichroic mirror 106, is two-dimensionally shaken by the scanning mirrors 107 and 108, and is irradiated as a spot on the focal plane on the sample 105 by the condenser lens 109 and the objective lens 103.

【0007】励起レーザ光の照射によって励起したスポ
ット部分の蛍光は、励起レーザ光とともに対物レンズ1
03から集光レンズ109、走査ミラー107,108
へと光路を逆行し、ダイクロイックミラー106で励起
レーザ光と分離される。
The fluorescence of the spot portion excited by the irradiation of the excitation laser light, the objective lens 1 together with the excitation laser light.
03 to condenser lens 109, scanning mirrors 107 and 108
The optical path is reversed to and is separated from the excitation laser light by the dichroic mirror 106.

【0008】ダイクロイックミラー106を通過した蛍
光は、吸収フィルタ110を通過した後、集光レンズ1
11でピンホール112に集光され、蛍光検出器113
で電気信号に変換され、蛍光画像システム120で画像
として表示される。
The fluorescence passing through the dichroic mirror 106 passes through the absorption filter 110, and then the condenser lens 1
The light is focused on the pinhole 112 at 11, and the fluorescence detector 113
Is converted into an electric signal and is displayed as an image by the fluorescence image system 120.

【0009】励起レーザ光のスポットは走査ミラー10
7,108によって図6に示すように画像取得範囲(5
12×480画素)で走査されるので、蛍光画像システ
ム120では対応する範囲の画像データを得ることがで
きる。
The spot of the excitation laser light is the scanning mirror 10.
7, 108, the image acquisition range (5
(12 × 480 pixels), the fluorescence image system 120 can obtain image data in a corresponding range.

【0010】ピンホール112aを試料105の焦点面
の蛍光のみが通過するので、ピンホール112で不要な
散乱光が除去され、蛍光画像システム120では深さ方
向の解像度及びコントラストが著しく向上した画像を得
ることが可能である。
Since only the fluorescence on the focal plane of the sample 105 passes through the pinhole 112a, unnecessary scattered light is removed by the pinhole 112, and the fluorescence image system 120 produces an image with significantly improved resolution and contrast in the depth direction. It is possible to obtain.

【0011】図6及び図7は従来の光走査方法を説明す
る図である。
6 and 7 are views for explaining a conventional optical scanning method.

【0012】ところで、生物試料の蛍光観察を行う場
合、図6に示すように走査の繰返しによって生物試料が
長時間に亘ってレーザ光のような強い光を受けると、褪
色を起こし、蛍光量が落ちてしまう。例えば、画像デー
タの取得に先立ち行われるレーザパワーや光検出器の調
節時(画像取得条件調節時)におけるレーザ光の照射に
よって蛍光が褪色してしまい、コントラストの良い画像
が得られなくなってしまうおそれがある。
By the way, when performing fluorescence observation of a biological sample, when the biological sample receives strong light such as laser light for a long time due to repeated scanning as shown in FIG. 6, fading occurs and the amount of fluorescence changes. It will fall. For example, fluorescence may fade due to laser light irradiation during adjustment of laser power or photodetector adjustment (during image acquisition condition adjustment) performed prior to image data acquisition, and an image with good contrast may not be obtained. There is.

【0013】上記画像取得条件調節時の褪色を抑えるた
め、従来においては次の2つの方法が行われている。
In order to suppress fading when adjusting the image acquisition conditions, the following two methods have been conventionally used.

【0014】第1の方法は、試料へのレーザ光の照射を
間欠的(例えば1秒毎)に行い、試料面に対する蛍光励
起時間を短くする方法である。
The first method is a method of intermittently irradiating the sample with laser light (for example, every 1 second) to shorten the fluorescence excitation time for the sample surface.

【0015】第2の方法は、1フレーム当たりの走査線
数を、例えば480本から120本に減らし、先ず1本
目,5本目,9本目のように間をあけて水平走査し、次
に2本目,6本目,10本目、その次に3本目,7本
目,11本目、最後に4本目,8本目,12本目のよう
に走査線が最初の走査線の間に入るように4回の走査に
よって画面全体の走査を行い、試料105の1スポット
に対する励起光の励起時間を短くする方法である(図7
参照)。
The second method is to reduce the number of scanning lines per frame from, for example, 480 to 120, perform horizontal scanning at intervals of 1st, 5th and 9th, and then 2 4th scanning so that the scanning lines are between the first scanning lines such as the 6th line, the 6th line, the 10th line, then the 3rd line, the 7th line, the 11th line, and finally the 4th line, the 8th line, and the 12th line. This is a method of scanning the entire screen by means of shortening the excitation time of the excitation light for one spot of the sample 105 (FIG. 7).
reference).

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】しかし、第1の方法で
は、レーザ光の照射は間欠的ではあっても、照射範囲が
試料面全体であるので、画像取得条件の調節時に試料1
05が必要以上にレーザ光の照射を受け、多くの部分で
蛍光が褪色してしまい、調節後に取得された画像はコン
トラストの極めて悪いものとなってしまうという問題が
ある。
However, in the first method, the irradiation of the laser beam is intermittent, but the irradiation range is the entire surface of the sample, so that the sample 1 is adjusted when the image acquisition conditions are adjusted.
No. 05 is irradiated with laser light more than necessary, fluorescence is fading in many parts, and there is a problem that an image obtained after adjustment has extremely poor contrast.

【0017】また、第2の方法では、垂直走査方向の褪
色領域を少なくすることはできるが、水平走査時には依
然として全ての走査線上でレーザ光が照射されるので、
水平走査領域の蛍光の褪色は従来と同じであり、やはり
コントラストの良い画像を得ることができないという問
題がある。
In the second method, the fading area in the vertical scanning direction can be reduced, but since the laser beam is still radiated on all scanning lines during horizontal scanning,
The fading of fluorescence in the horizontal scanning region is the same as that of the conventional one, and there is a problem that an image with good contrast cannot be obtained.

【0018】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題は画像データの取得に先立ち行われ
るレーザパワーや光検出器の調節時において、レーザ光
の照射による試料中の蛍光の褪色を最小限に抑えて、コ
ントラストの良い画像を得ることができる光走査型顕微
鏡を提供することである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its problem is to detect fluorescence in a sample due to laser light irradiation during adjustment of laser power and photodetector performed prior to acquisition of image data. An object of the present invention is to provide an optical scanning microscope capable of obtaining an image with good contrast while minimizing fading.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく請
求項1に記載の発明の光走査型顕微鏡は、光ビームを発
する光源と、試料上で前記光ビームを2次元的に走査す
る走査手段とを備えた光走査型顕微鏡において、前記光
源から前記試料までの光路中に配置され、前記走査手段
の水平走査によって水平方向に移動する前記光ビームを
前記試料上に間欠的に照射するための遮光手段を備える
ことを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical scanning microscope according to a first aspect of the present invention comprises a light source for emitting a light beam and a scanning for two-dimensionally scanning the light beam on a sample. In the optical scanning microscope including means, for intermittently irradiating the sample with the light beam that is arranged in the optical path from the light source to the sample and moves in the horizontal direction by the horizontal scanning of the scanning means. The light-shielding means is provided.

【0020】走査手段の水平走査によって光ビームが水
平方向に移動したとき、光源から試料までの光路中に配
置された遮光手段によって試料への照射が間欠的となる
ので、レーザ光の照射による試料中の蛍光の褪色を最小
限に抑えることができる。
When the light beam is moved in the horizontal direction by the horizontal scanning of the scanning means, the sample is irradiated by the laser beam because the irradiation of the sample is intermittent due to the light shielding means arranged in the optical path from the light source to the sample. It is possible to minimize the fading of the fluorescence inside.

【0021】請求項2に記載の発明の光走査型顕微鏡
は、請求項1に記載の光走査型顕微鏡において、前記遮
光手段は、試料面とほぼ共役な位置に設けられることを
特徴とする。
An optical scanning microscope according to a second aspect of the present invention is the optical scanning microscope according to the first aspect, wherein the light shielding means is provided at a position substantially conjugate with the sample surface.

【0022】遮光手段が試料面とほぼ共役な位置に設け
られているので、励起レーザ光が遮光される領域の大き
さや形状を変えることで、試料上に任意の量の励起レー
ザ光を照射することができる。
Since the light shielding means is provided at a position substantially conjugate with the sample surface, the sample is irradiated with an arbitrary amount of excitation laser light by changing the size and shape of the region where the excitation laser light is shielded. be able to.

【0023】請求項3に記載の発明の光走査型顕微鏡
は、請求項1に記載の光走査型顕微鏡において、1回の
垂直走査毎に、前記遮光手段を移動させる駆動手段を備
えていることを特徴とする。
An optical scanning microscope according to a third aspect of the present invention is the optical scanning microscope according to the first aspect, further comprising drive means for moving the light shielding means for each vertical scanning. Is characterized by.

【0024】駆動手段によって1回の垂直走査毎に、遮
光手段を移動させるので、レーザ光の照射は垂直走査方
向においても間歇的となり、試料内での蛍光の褪色を均
一とすることができる。
Since the light-shielding means is moved by the driving means for each vertical scanning, the irradiation of the laser beam is intermittent also in the vertical scanning direction, and the fading of fluorescence in the sample can be made uniform.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】図1はこの発明の1実施形態に係るレーザ
走査顕微鏡のブロック構成図、図2はレーザ照射制御マ
スクの拡大図であり、図5のレーザ走査顕微鏡と同一部
分には同一符号を付して、その説明を省略する。
FIG. 1 is a block diagram of a laser scanning microscope according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged view of a laser irradiation control mask. The same parts as those of the laser scanning microscope of FIG. And its description is omitted.

【0027】レーザ走査顕微鏡(光走査型顕微鏡)1
は、レーザ照射制御マスク(遮光手段)10と、このレ
ーザ照射制御マスク10を駆動する駆動部(駆動手段)
20とを備えている点で図5に示した従来のレーザ走査
顕微鏡と構成上異なる。
Laser scanning microscope (optical scanning microscope) 1
Is a laser irradiation control mask (shading means) 10 and a drive unit (driving means) for driving the laser irradiation control mask 10.
20 differs from the conventional laser scanning microscope shown in FIG.

【0028】レーザ照射制御マスク10は、遮光性材料
で形成された矩形状の平板に励起レーザ光を透過させる
スリット(透光部)11と遮光部12とを交互に形成し
てなる。
The laser irradiation control mask 10 is formed by alternately forming slits (light transmitting portions) 11 for transmitting excitation laser light and light shielding portions 12 on a rectangular flat plate formed of a light shielding material.

【0029】また、このレーザ照射制御マスク10は試
料105面とほぼ共役な位置(対物レンズ103の1次
像面)に光軸に対して直交して設けられている。そし
て、このレーザ照射制御マスク10は、光軸と直交する
方向へ移動できるようになっている。
Further, the laser irradiation control mask 10 is provided at a position (primary image plane of the objective lens 103) substantially conjugate with the surface of the sample 105, orthogonal to the optical axis. The laser irradiation control mask 10 can move in the direction orthogonal to the optical axis.

【0030】駆動部20はCPU122からの指示によ
りレーザ照射制御マスク10を駆動する。
The drive unit 20 drives the laser irradiation control mask 10 according to an instruction from the CPU 122.

【0031】図3はこの発明の1実施形態に係る光走査
型顕微鏡に適用される光走査方法の一例を説明する図で
ある。
FIG. 3 is a view for explaining an example of the optical scanning method applied to the optical scanning microscope according to the embodiment of the present invention.

【0032】上記構成のレーザ走査顕微鏡の動作を図
1、図2及び図3を参照して説明する。なお、駆動部2
0によってレーザ照射制御マスク10は、予め光軸上に
移動されているものとする。
The operation of the laser scanning microscope having the above configuration will be described with reference to FIGS. 1, 2 and 3. The drive unit 2
It is assumed that the laser irradiation control mask 10 has been moved to the optical axis in advance by 0.

【0033】レーザ光源101から出射された励起レー
ザ光は、励起フィルタ102及びビームエクスパンダ1
04を通過した後、ダイクロイックミラー106で反射
され、走査ミラー107,108によって2次元的に振
られ、集光レンズ109によってレーザ照射制御マスク
10上に集光される。
The excitation laser light emitted from the laser light source 101 is excited by the excitation filter 102 and the beam expander 1.
After passing through 04, it is reflected by the dichroic mirror 106, is two-dimensionally swung by the scanning mirrors 107 and 108, and is condensed on the laser irradiation control mask 10 by the condenser lens 109.

【0034】このレーザ光はレーザ照射制御マスク10
のスリット11を通過して試料105を照射し、蛍光を
励起させる。
This laser light is emitted from the laser irradiation control mask 10
The sample 105 is irradiated with light through the slit 11 to excite fluorescence.

【0035】この蛍光は励起レーザ光とともに対物レン
ズ103からレーザ照射制御マスク10、集光レンズ1
09、走査ミラー108,107へと光路を逆行し、ダ
イクロイックミラー106で励起レーザ光と分離され
る。
This fluorescence is emitted from the objective lens 103 through the laser irradiation control mask 10 and the condenser lens 1 together with the excitation laser light.
09, the optical path goes backward to the scanning mirrors 108 and 107, and is separated from the excitation laser light by the dichroic mirror 106.

【0036】ダイクロイックミラー106を通過した蛍
光は吸収フィルタ110を通過した後、集光レンズ11
1でピンホール112aに集光される。その後、蛍光は
蛍光検出器113で受光されて電気信号に変換され、蛍
光画像システム120で画像として表示される。
The fluorescence passing through the dichroic mirror 106 passes through the absorption filter 110, and then the condenser lens 11
At 1, the light is focused on the pinhole 112a. Then, the fluorescence is received by the fluorescence detector 113, converted into an electric signal, and displayed as an image by the fluorescence image system 120.

【0037】上記動作中、レーザ照射制御マスクのスリ
ット10によって試料105は間歇的に励起レーザ光の
照射を受けるだけなので、励起レーザ光の照射量は大幅
に減少する。
During the above operation, the sample 105 is intermittently irradiated with the excitation laser light by the slit 10 of the laser irradiation control mask, so that the irradiation amount of the excitation laser light is greatly reduced.

【0038】CPU122は、レーザ照射制御マスク1
0を1水平走査毎にスリット11の幅分だけ左右に動か
すように駆動部20を制御する。このようにすること
で、励起レーザ光に励起されて試料105から発する蛍
光を必要最小限に抑えることができるとともに、試料1
05上に均一にレーザ光を照射することが可能となる
(図3参照)。
The CPU 122 uses the laser irradiation control mask 1
The drive unit 20 is controlled so that 0 is moved left and right by the width of the slit 11 for each horizontal scanning. By doing so, the fluorescence emitted from the sample 105 upon being excited by the excitation laser light can be suppressed to the necessary minimum, and the sample 1
It is possible to uniformly irradiate the laser beam on 05 (see FIG. 3).

【0039】図4はこの発明の1実施形態に係る光走査
型顕微鏡に適用される光走査方法の他の例を説明する図
である。
FIG. 4 is a diagram for explaining another example of the optical scanning method applied to the optical scanning microscope according to the embodiment of the present invention.

【0040】走査は図7と同様に4フレーム毎に行なわ
れ、1フレーム毎に駆動部20によってレーザ照射制御
マスク10を動かし、励起レーザ光によって照射される
領域を変えるようにしてもよい。このようにすること
で、前記の場合と同様に試料105上に均一にレーザ光
を照射することが可能となる。
The scanning is performed every four frames as in the case of FIG. 7, and the laser irradiation control mask 10 may be moved by the drive unit 20 for each frame to change the region irradiated by the excitation laser light. By doing so, it becomes possible to uniformly irradiate the sample 105 with the laser light as in the case described above.

【0041】更に、レーザ光の照射を間歇的(例えば1
秒毎)に行うようにして、励起レーザ光によって照射さ
れる時間を短縮するようにしてもよい。
Furthermore, the irradiation of the laser beam is intermittent (for example, 1
It may be performed every second) to shorten the time of irradiation with the excitation laser light.

【0042】更にまた、上記3つの方法を適宜組合わせ
るようにしてもよい。
Furthermore, the above three methods may be combined appropriately.

【0043】次に蛍光観察の実施例を説明する。Next, an example of fluorescence observation will be described.

【0044】試料105としてFITCにて染色した細
胞を蛍光観察するに先立って、図3に示す光走査方法を
適用してレーザパワーや光検出器の調節(画像取得条件
調節)を行った。その後、レーザ走査型顕微鏡1を使用
して蛍光観察を行なったとき、得られた画像は褪色が最
小限に抑えられた、かつ試料内での褪色が均一なコント
ラストの良いものであった。
Prior to fluorescence observation of cells stained with FITC as the sample 105, the laser power and the photodetector were adjusted (image acquisition condition adjustment) by applying the optical scanning method shown in FIG. After that, when fluorescence observation was performed using the laser scanning microscope 1, the obtained image had fading suppressed to the minimum and the fading in the sample was uniform and had a good contrast.

【0045】なお、染色色素としてはFITC以外に、
BODIPY FL(ボディピィエフエル)、Rhod
amine(ローダミン)、Texas Red(テキ
サスレッド)、Propidium Iodide(プ
ロピディウム アイオダイド)等を用いることができ
る。
As dyeing dyes, other than FITC,
BODIPY FL, Rhod
Amine (Rhodamine), Texas Red (Texas Red), Propium Iodide (propidium iodide) and the like can be used.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上に説明したように請求項1記載の発
明の光走査顕微鏡によれば、走査手段の水平走査によっ
て光ビームが水平方向に移動したとき、光源から試料ま
での光路中に配置された遮光手段によって試料への照射
が間歇的となるので、レーザ光の照射による試料中の蛍
光の褪色を最小限に抑えることができる。したがって、
実際に励起レーザ光を照射して試料を観察したとき、コ
ントラストの良い画像を得ることができる。
As described above, according to the optical scanning microscope of the invention described in claim 1, when the light beam is moved in the horizontal direction by the horizontal scanning of the scanning means, it is arranged in the optical path from the light source to the sample. Since the irradiation of the sample is intermittent by the light-shielding means provided, the fading of the fluorescence in the sample due to the irradiation of the laser light can be minimized. Therefore,
When the sample is observed by actually irradiating it with the excitation laser light, an image with good contrast can be obtained.

【0047】請求項2記載の発明の光走査顕微鏡によれ
ば、遮光手段が試料面とほぼ共役な位置に設けられるの
で、励起レーザ光が遮光される領域の大きさや形状を変
えることで、試料上に任意の量の励起レーザ光を照射す
ることができる。
According to the optical scanning microscope of the second aspect of the invention, since the light shielding means is provided at a position substantially conjugate with the sample surface, the size and shape of the region where the excitation laser beam is shielded is changed to change the size of the sample. It is possible to irradiate an arbitrary amount of excitation laser light on the top.

【0048】請求項3記載の発明の光走査顕微鏡によれ
ば、駆動手段によって1回の垂直走査毎に、遮光手段を
移動させるので、レーザ光の照射は垂直走査方向におい
ても間歇的となり、試料内での蛍光の褪色を均一とする
ことができる。
According to the optical scanning microscope of the third aspect of the invention, since the light shielding means is moved by the driving means for each vertical scanning, the irradiation of the laser beam is intermittent also in the vertical scanning direction, and the sample is The fading of the fluorescence inside can be made uniform.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1はこの発明の第1実施形態に係るレーザ走
査型顕微鏡のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a laser scanning microscope according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2はレーザ照射制御マスクの拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a laser irradiation control mask.

【図3】図3はこの発明の実施形態に係る光走査型顕微
鏡に適用される光走査方法の一例を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of an optical scanning method applied to the optical scanning microscope according to the embodiment of the present invention.

【図4】図4はこの発明の実施形態に係る光走査型顕微
鏡に適用される光走査方法の他の例を説明する図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating another example of the optical scanning method applied to the optical scanning microscope according to the embodiment of the present invention.

【図5】図5は従来の光走査方法を説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a conventional optical scanning method.

【図6】図6は従来の光走査方法を説明する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a conventional optical scanning method.

【図7】図7は従来の光走査方法を説明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a conventional optical scanning method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ走査型顕微鏡(光走査型顕微鏡) 10 レーザ照射制御マスク(遮光手段) 20 駆動部(駆動手段) 101 光源 105 試料 107,108 走査ミラー(走査手段) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser scanning microscope (light scanning microscope) 10 Laser irradiation control mask (light-shielding means) 20 Driving part (driving means) 101 Light source 105 Samples 107, 108 Scanning mirror (scanning means)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ビームを発する光源と、試料上で前記
光ビームを2次元的に走査する走査手段とを備えた光走
査型顕微鏡において、 前記光源から前記試料までの光路中に配置され、前記走
査手段の水平走査によって水平方向に移動する前記光ビ
ームを前記試料上に間欠的に照射するための遮光手段を
備えることを特徴とする光走査型顕微鏡。
1. A light scanning microscope comprising a light source for emitting a light beam and a scanning means for two-dimensionally scanning the light beam on a sample, the light scanning microscope being disposed in an optical path from the light source to the sample, An optical scanning microscope, comprising: a light-shielding device for intermittently irradiating the sample with the light beam that moves in the horizontal direction by the horizontal scanning of the scanning device.
【請求項2】 前記遮光手段は、試料面とほぼ共役な位
置に設けられることを特徴とする請求項1に記載の光走
査型顕微鏡。
2. The optical scanning microscope according to claim 1, wherein the light shielding unit is provided at a position substantially conjugate with the sample surface.
【請求項3】 1回の垂直走査毎に、前記遮光手段を移
動させる駆動手段を備えていることを特徴とする請求項
1に記載の光走査型顕微鏡。
3. The optical scanning microscope according to claim 1, further comprising a driving unit that moves the light shielding unit for each vertical scanning.
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