JPH09274019A - 超音波による欠陥規模評価方法 - Google Patents
超音波による欠陥規模評価方法Info
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- JPH09274019A JPH09274019A JP8083944A JP8394496A JPH09274019A JP H09274019 A JPH09274019 A JP H09274019A JP 8083944 A JP8083944 A JP 8083944A JP 8394496 A JP8394496 A JP 8394496A JP H09274019 A JPH09274019 A JP H09274019A
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 受信強度によらず、超音波ビーム径より大き
な球状または円柱状の欠陥の直径を精度よく評価できる
ようにする。 【解決手段】 欠陥の上方の検査体１５の探傷面３を超
音波探触子１で走査して、欠陥１０、２０に対してアレ
イ探傷子１の走査方向の上流側と下流側から超音波ビー
ム４、５を当て、欠陥からの反射波の強度分布を測定
し、測定された強度分布のピーク間距離Ｘから、欠陥の
直径ｄを評価する。
な球状または円柱状の欠陥の直径を精度よく評価できる
ようにする。 【解決手段】 欠陥の上方の検査体１５の探傷面３を超
音波探触子１で走査して、欠陥１０、２０に対してアレ
イ探傷子１の走査方向の上流側と下流側から超音波ビー
ム４、５を当て、欠陥からの反射波の強度分布を測定
し、測定された強度分布のピーク間距離Ｘから、欠陥の
直径ｄを評価する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波を照射して
受信した反射波によって欠陥の大きさを評価する超音波
による欠陥規模評価方法に関する。
受信した反射波によって欠陥の大きさを評価する超音波
による欠陥規模評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、被検査体内の欠陥の規模（幅、長
さ等）を評価する方法として、例えば以下に述べる二つ
の方法が知られている。一つは、欠陥からの反射波の強
度が、欠陥が大きくなるに連れて高くなる特性から推定
する方法であり、他の一つは、探触子を走査したとき
に、ある大きさ以上の反射波の強度で欠陥が検出された
走査幅から推定する方法（例えば６ｄＢダウン法）であ
る。前者は、球状の欠陥をはじめとして、欠陥の大きさ
よりもビーム幅が大きい時に有効であり、また、後者は
平面状の欠陥が対象で、欠陥の大きさよりもビーム幅が
小さい時に有効である。
さ等）を評価する方法として、例えば以下に述べる二つ
の方法が知られている。一つは、欠陥からの反射波の強
度が、欠陥が大きくなるに連れて高くなる特性から推定
する方法であり、他の一つは、探触子を走査したとき
に、ある大きさ以上の反射波の強度で欠陥が検出された
走査幅から推定する方法（例えば６ｄＢダウン法）であ
る。前者は、球状の欠陥をはじめとして、欠陥の大きさ
よりもビーム幅が大きい時に有効であり、また、後者は
平面状の欠陥が対象で、欠陥の大きさよりもビーム幅が
小さい時に有効である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、物体内部の
小さな欠陥を高分解能で検出する場合には、超音波ビー
ムを細く絞った集束ビームを使用することが多い。この
ようなビームを使用すると、集束ビーム幅より大きな球
状の欠陥については、前者の反射波の強度から欠陥規模
を推定する方法では、欠陥の大きさを正確に評価できな
いという問題がある。また、球状の欠陥は、反射の指向
性が欠陥の大小によらずほぼ同一になるので、探触子の
走査幅から評価することもできないという問題がある。
小さな欠陥を高分解能で検出する場合には、超音波ビー
ムを細く絞った集束ビームを使用することが多い。この
ようなビームを使用すると、集束ビーム幅より大きな球
状の欠陥については、前者の反射波の強度から欠陥規模
を推定する方法では、欠陥の大きさを正確に評価できな
いという問題がある。また、球状の欠陥は、反射の指向
性が欠陥の大小によらずほぼ同一になるので、探触子の
走査幅から評価することもできないという問題がある。
【０００４】本発明はこのような従来技術の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的は、集束ビーム幅より大
きな球状の欠陥についても、反射波の強度から欠陥の大
きさを正確に評価できる欠陥規模評価方法を提供するこ
とにある。
みてなされたもので、その目的は、集束ビーム幅より大
きな球状の欠陥についても、反射波の強度から欠陥の大
きさを正確に評価できる欠陥規模評価方法を提供するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、欠陥に対して超音波探触子を走査して、
欠陥の左右異なる２方向から超音波ビームを当て、それ
ぞれ得られる欠陥からの反射波の強度分布におけるピー
ク間距離から欠陥の大きさを評価するようにした。
に、本発明は、欠陥に対して超音波探触子を走査して、
欠陥の左右異なる２方向から超音波ビームを当て、それ
ぞれ得られる欠陥からの反射波の強度分布におけるピー
ク間距離から欠陥の大きさを評価するようにした。
【０００６】あるいは、あらかじめ欠陥から探傷面また
は超音波探触子走査面に向けた垂線を検出し、この垂線
に対して前記超音波探触子の走査方向の上流側および下
流側の一方で超音波探触子を走査して欠陥に対して超音
波ビームを当て、受信した超音波ビームの欠陥からの反
射波の強度分布を検出し、検出された反射波の強度分布
のピークと前記垂線間の距離から欠陥の大きさを評価す
るようにした。
は超音波探触子走査面に向けた垂線を検出し、この垂線
に対して前記超音波探触子の走査方向の上流側および下
流側の一方で超音波探触子を走査して欠陥に対して超音
波ビームを当て、受信した超音波ビームの欠陥からの反
射波の強度分布を検出し、検出された反射波の強度分布
のピークと前記垂線間の距離から欠陥の大きさを評価す
るようにした。
【０００７】これらの場合、超音波を細く絞った超音波
集束ビームが使用され、超音波ビームを発生する手段と
してアレイ探触子を使用することが好ましい。
集束ビームが使用され、超音波ビームを発生する手段と
してアレイ探触子を使用することが好ましい。
【０００８】このように構成すると、被検査体内の欠陥
に対して探傷面からある角度で超音波ビームを放射しな
がら超音波探触子を走査した時に得られる反射波強度分
布のピーク位置の変動から欠陥の大きさを評価すること
ができる。すなわち、反射波強度分布のピーク位置は、
欠陥の中心と超音波ビームの中心線が合致した時、超音
波ビームが欠陥表面に垂直に当たることにより表れる。
従って、欠陥径が大きくなれば欠陥中心は深い方に移動
し、これに伴ってピーク位置も移動する。
に対して探傷面からある角度で超音波ビームを放射しな
がら超音波探触子を走査した時に得られる反射波強度分
布のピーク位置の変動から欠陥の大きさを評価すること
ができる。すなわち、反射波強度分布のピーク位置は、
欠陥の中心と超音波ビームの中心線が合致した時、超音
波ビームが欠陥表面に垂直に当たることにより表れる。
従って、欠陥径が大きくなれば欠陥中心は深い方に移動
し、これに伴ってピーク位置も移動する。
【０００９】また、集束ビームは、その焦点を欠陥に合
わせることにより、反射波強度分布のピークが鋭くな
り、より正確にピーク位置を確認できる。
わせることにより、反射波強度分布のピークが鋭くな
り、より正確にピーク位置を確認できる。
【００１０】また、アレイ探触子は、電子的に超音波ビ
ームの切り替えを行うため、超音波ビームの走査速度を
高速にでき、超音波ビームの角度も遅延時間の変更によ
り自由に設定できる。
ームの切り替えを行うため、超音波ビームの走査速度を
高速にでき、超音波ビームの角度も遅延時間の変更によ
り自由に設定できる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００１２】図１は本発明の一実施形態に係る超音波探
傷の原理を示す説明図である。同図からも分かるよう
に、今、検査体１５の内部にｐ１を中心とする直径ｄ１
の球状欠陥１０と、ｐ２を中心とする直径ｄ２の球状欠
陥２０があるとする。このような欠陥を有する検査体１
５の探傷面３に沿って超音波探触子、この場合には、ア
レイ探触子１をＸ方向に走査する。ここで、便宜上、欠
陥１０の中心から探傷面３に垂直に伸ばした垂線をＮと
しておく。このようにしたときに、欠陥１０から前記垂
線Ｎの左側では角度−θで、また右側では角度＋θで超
音波を送出する。
傷の原理を示す説明図である。同図からも分かるよう
に、今、検査体１５の内部にｐ１を中心とする直径ｄ１
の球状欠陥１０と、ｐ２を中心とする直径ｄ２の球状欠
陥２０があるとする。このような欠陥を有する検査体１
５の探傷面３に沿って超音波探触子、この場合には、ア
レイ探触子１をＸ方向に走査する。ここで、便宜上、欠
陥１０の中心から探傷面３に垂直に伸ばした垂線をＮと
しておく。このようにしたときに、欠陥１０から前記垂
線Ｎの左側では角度−θで、また右側では角度＋θで超
音波を送出する。
【００１３】まず、探傷面３から欠陥表面までの深さが
Ｆで、直径がｄ１の小さな欠陥１０について説明する。
アレイ探触子１をＸ方向に走査すると、垂線Ｎの左側で
は、アレイ探触子１から送出する角度−θの集束ビーム
の中心線４は位置Ａにきた時、欠陥１０の中心ｐ１を通
る。この時、欠陥の外面に超音波ビームが垂直に当たる
ことになり、反射波強度は、図２に示すように走査位置
Ａでピークになる強度分布を示す。また、垂線Ｎの右側
では、アレイ探触子１から送出する角度＋θの集束ビー
ムの中心線５は位置Ａ’にきた時、欠陥１０の中心ｐ１
を通る。この時、欠陥１０の外面に超音波ビームが垂直
にあたることになり、反射波強度は、図２に示すように
走査位置Ａ’でピークになる強度分布を示す。この時の
ピーク間距離Ａ−Ａ’はＸ１となる。
Ｆで、直径がｄ１の小さな欠陥１０について説明する。
アレイ探触子１をＸ方向に走査すると、垂線Ｎの左側で
は、アレイ探触子１から送出する角度−θの集束ビーム
の中心線４は位置Ａにきた時、欠陥１０の中心ｐ１を通
る。この時、欠陥の外面に超音波ビームが垂直に当たる
ことになり、反射波強度は、図２に示すように走査位置
Ａでピークになる強度分布を示す。また、垂線Ｎの右側
では、アレイ探触子１から送出する角度＋θの集束ビー
ムの中心線５は位置Ａ’にきた時、欠陥１０の中心ｐ１
を通る。この時、欠陥１０の外面に超音波ビームが垂直
にあたることになり、反射波強度は、図２に示すように
走査位置Ａ’でピークになる強度分布を示す。この時の
ピーク間距離Ａ−Ａ’はＸ１となる。
【００１４】一方、探傷面３から欠陥表面までの深さが
Ｆで、直径がｄ２の大きな欠陥２０では、垂線Ｎの左側
では、アレイ探触子１から送出する角度−θの集束ビー
ムの中心線６は位置Ｂにきた時、欠陥２０の中心ｐ２を
通る。この時、欠陥２０の外面に超音波ビームが垂直に
あたることになり、反射波強度は、図２に示すように走
査位置Ｂでピークになる強度分布を示す。また、垂線Ｎ
の右側では、アレイ探触子１から送出する角度＋θの集
束ビームの中心線７は位置Ｂ’にきた時、欠陥２０の中
心ｐ２を通る。この時、欠陥２０の外面に超音波ビーム
が垂直にあたることになり、反射波強度は、図２に示す
ように走査位置Ｂ’でピークになる強度分布を示す。こ
の時のピーク間距離Ｂ−Ｂ’はＸ２となる。当然、Ｘ１
＜Ｘ２となり、欠陥の大きさに応じてピーク間距離は変
化する。
Ｆで、直径がｄ２の大きな欠陥２０では、垂線Ｎの左側
では、アレイ探触子１から送出する角度−θの集束ビー
ムの中心線６は位置Ｂにきた時、欠陥２０の中心ｐ２を
通る。この時、欠陥２０の外面に超音波ビームが垂直に
あたることになり、反射波強度は、図２に示すように走
査位置Ｂでピークになる強度分布を示す。また、垂線Ｎ
の右側では、アレイ探触子１から送出する角度＋θの集
束ビームの中心線７は位置Ｂ’にきた時、欠陥２０の中
心ｐ２を通る。この時、欠陥２０の外面に超音波ビーム
が垂直にあたることになり、反射波強度は、図２に示す
ように走査位置Ｂ’でピークになる強度分布を示す。こ
の時のピーク間距離Ｂ−Ｂ’はＸ２となる。当然、Ｘ１
＜Ｘ２となり、欠陥の大きさに応じてピーク間距離は変
化する。
【００１５】以上のように、ある一定の角度で超音波ビ
ームを走査すると、欠陥１０，２０の大きさによってそ
の反射波強度のピーク位置が異なる。従って、ピーク間
距離Ｘを測定すれば、逆に欠陥の大きさｄが推定できる
ことになる。
ームを走査すると、欠陥１０，２０の大きさによってそ
の反射波強度のピーク位置が異なる。従って、ピーク間
距離Ｘを測定すれば、逆に欠陥の大きさｄが推定できる
ことになる。
【００１６】すなわち、欠陥の直径ｄは、Ｘをピーク間
距離、Ｆを欠陥深さ、θを超音波ビーム角度として、 ｄ＝（Ｘ−２Ｆｔａｎθ）／ｔａｎθ ・・・（１） で計算でき、ピーク間距離Ｘと欠陥の大きさｄとは図３
に示すような関係となる。
距離、Ｆを欠陥深さ、θを超音波ビーム角度として、 ｄ＝（Ｘ−２Ｆｔａｎθ）／ｔａｎθ ・・・（１） で計算でき、ピーク間距離Ｘと欠陥の大きさｄとは図３
に示すような関係となる。
【００１７】図４は、実際にアレイ探触子１を用いて、
深さ２０．１４ｍｍの鋼中に直径１ｍｍのドリルで空け
た空孔３０を探傷している状態を示す図である。この場
合、超音波ビームの角度は約±２０度で、空孔３０の表
面付近で集束している。最初、空孔３０の真上より左側
では−２０度の超音波ビームを放射しながらアレイ探触
子１を機械的に走査して、空孔３０からの反射波を受信
する。また、空孔３０の真上より右側では、＋２０度の
超音波ビームを放射しながら同様に空孔３０からの反射
波を受信する。図５は、この時の反射波の強度をプロッ
トした図である。縦軸は受信強度、横軸はアレイ探触子
の走査位置である。図５から、それぞれのピーク間の距
離を測定すると、１４．５ｍｍとなる。前記（１）式に
これらの値を代入して空孔の直径ｄを評価すると０．９
８ｍｍとなる。
深さ２０．１４ｍｍの鋼中に直径１ｍｍのドリルで空け
た空孔３０を探傷している状態を示す図である。この場
合、超音波ビームの角度は約±２０度で、空孔３０の表
面付近で集束している。最初、空孔３０の真上より左側
では−２０度の超音波ビームを放射しながらアレイ探触
子１を機械的に走査して、空孔３０からの反射波を受信
する。また、空孔３０の真上より右側では、＋２０度の
超音波ビームを放射しながら同様に空孔３０からの反射
波を受信する。図５は、この時の反射波の強度をプロッ
トした図である。縦軸は受信強度、横軸はアレイ探触子
の走査位置である。図５から、それぞれのピーク間の距
離を測定すると、１４．５ｍｍとなる。前記（１）式に
これらの値を代入して空孔の直径ｄを評価すると０．９
８ｍｍとなる。
【００１８】図６は、直径が１〜３ｍｍ、深さが３０ｍ
ｍ以下の４種類の空孔に対して評価を行った結果であ
り、この結果から±２０％の誤差で評価が可能である。
ｍ以下の４種類の空孔に対して評価を行った結果であ
り、この結果から±２０％の誤差で評価が可能である。
【００１９】以上は、アレイ探触子１を機械的に走査し
て超音波の送受信を行ったが、長いアレイ探触子１を使
用して、超音波ビームの電子制御により、アレイ探触子
を動かさないで送受信を行い、欠陥規模評価を行うこと
もできる。すなわち、欠陥を検出するまで、アレイ探触
子１を機械的に移動（走査）させ、欠陥を検出した位置
で、アレイ探触子１自体は機械的には移動させないで、
アレイ探触子１を電気的に走査し、送受信を行うように
することもできる。
て超音波の送受信を行ったが、長いアレイ探触子１を使
用して、超音波ビームの電子制御により、アレイ探触子
を動かさないで送受信を行い、欠陥規模評価を行うこと
もできる。すなわち、欠陥を検出するまで、アレイ探触
子１を機械的に移動（走査）させ、欠陥を検出した位置
で、アレイ探触子１自体は機械的には移動させないで、
アレイ探触子１を電気的に走査し、送受信を行うように
することもできる。
【００２０】なお、上記実施形態では、上記のようにピ
ーク間距離を検出して、欠陥の大きさを評価している
が、一方のピークと垂線との距離を測定しても同様に欠
陥の大きさを評価することができる。この場合には、例
えば超音波ビームの入射角θを０にしてアレイ探触子１
を機械的に走査し、ピーク位置を検出する。このピーク
位置は入射角が０なので前記垂線Ｎの位置にほぼ相当す
る。このようにして垂線Ｎの位置を検出すると、検出し
たピーク位置にアレイ探触子１を固定して、あらかじめ
設定した入射角θo で電気的に走査し、入射角θo にお
けるピーク位置を検出する。このときの垂線Ｎからピー
クまでの距離をＸo 、Ｆを欠陥深さ、θoを超音波ビー
ムの入射角度とすると、欠陥の直径は、 ｄ＝２（Ｘo −Ｆｔａｎθo ）／ｔａｎθo ・・・（２） としても計算することができる。
ーク間距離を検出して、欠陥の大きさを評価している
が、一方のピークと垂線との距離を測定しても同様に欠
陥の大きさを評価することができる。この場合には、例
えば超音波ビームの入射角θを０にしてアレイ探触子１
を機械的に走査し、ピーク位置を検出する。このピーク
位置は入射角が０なので前記垂線Ｎの位置にほぼ相当す
る。このようにして垂線Ｎの位置を検出すると、検出し
たピーク位置にアレイ探触子１を固定して、あらかじめ
設定した入射角θo で電気的に走査し、入射角θo にお
けるピーク位置を検出する。このときの垂線Ｎからピー
クまでの距離をＸo 、Ｆを欠陥深さ、θoを超音波ビー
ムの入射角度とすると、欠陥の直径は、 ｄ＝２（Ｘo −Ｆｔａｎθo ）／ｔａｎθo ・・・（２） としても計算することができる。
【００２１】この実施形態では、垂線Ｎの位置を検出す
るときに、アレイ探触子１から照射される超音波ビーム
の入射角θを０として走査しているが、これは、１つの
例であって、公知の超音波探傷によって欠陥位置を特定
して垂線Ｎの位置を検出してもよいことは言うまでもな
い。
るときに、アレイ探触子１から照射される超音波ビーム
の入射角θを０として走査しているが、これは、１つの
例であって、公知の超音波探傷によって欠陥位置を特定
して垂線Ｎの位置を検出してもよいことは言うまでもな
い。
【００２２】また、この実施形態ではアレイ探触子を使
用しているが、送受信ユニットが単数である通常の超音
波探触子を使用することもできることは言うまでもな
い。
用しているが、送受信ユニットが単数である通常の超音
波探触子を使用することもできることは言うまでもな
い。
【００２３】
【発明の効果】これまでの説明で明らかように、本発明
によれば、欠陥に超音波ビームを当て、その反射波の強
度分布のピーク間距離、もしくは欠陥から探傷面もしく
は超音波探触子走査面に向けた垂線とピークとの距離か
ら欠陥の大きさを評価できるので、超音波ビーム径より
大きな球状または円柱状の欠陥に対してその直径を直接
評価することができる。
によれば、欠陥に超音波ビームを当て、その反射波の強
度分布のピーク間距離、もしくは欠陥から探傷面もしく
は超音波探触子走査面に向けた垂線とピークとの距離か
ら欠陥の大きさを評価できるので、超音波ビーム径より
大きな球状または円柱状の欠陥に対してその直径を直接
評価することができる。
【図１】本発明の評価原理を示す説明図である。
【図２】欠陥からの反射波の強度分布の状態を示す図で
ある。
ある。
【図３】ピーク間距離と欠陥寸法の関係を示す図であ
る。
る。
【図４】本発明の一実施形態における探傷の状態を示す
図である。
図である。
【図５】本発明の一実施形態における反射波の強度分布
を示す図である。
を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態における実験結果を示す図
である。
である。
１ アレイ探触子 ３ 探傷面 ４，５，６，７ 超音波ビームの中心線 １０，２０ 球状欠陥 １５ 検査体 ３０ 空孔 Ｆ 欠陥深さ Ｎ 垂線 ｄ１，ｄ２ 欠陥の直径 ｐ１，ｐ２ 欠陥の中心位置 Ｘ１，Ｘ２ ピーク間距離 θ，θo 超音波ビームの入射角
Claims (4)
- 【請求項１】 被検査体表面を超音波探触子で走査しな
がら被検査体内の欠陥に対して超音波を照射し、受信し
た欠陥からの反射波の状態から欠陥の規模を評価する超
音波による欠陥規模評価方法において、 前記欠陥から探傷面または超音波探触子走査面に向けた
垂線に対して前記超音波探触子の走査方向の上流側およ
び下流側で超音波探触子を走査して欠陥に対して超音波
ビームを照射し、 受信した超音波ビームの欠陥からの反射波の強度分布を
求め、 求められた反射波の強度分布のピーク間距離から欠陥の
規模を評価すること、を特徴とする超音波による欠陥規
模評価方法。 - 【請求項２】 被検査体表面を超音波探触子で走査しな
がら被検査体内の欠陥に対して超音波を照射し、受信し
た欠陥からの反射波の状態から欠陥の規模を評価する超
音波による欠陥規模評価方法において、 前記欠陥から探傷面または超音波探触子走査面に向けた
垂線を検出し、 この垂線に対して前記超音波探触子の走査方向の上流側
および下流側の一方で超音波探触子を走査して欠陥に対
して超音波ビームを照射し、 受信した超音波ビームの欠陥からの反射波の強度分布を
求め、 求められた反射波の強度分布のピークと前記垂線間の距
離から欠陥の規模を評価すること、を特徴とする超音波
による欠陥規模評価方法。 - 【請求項３】 前記照射される超音波ビームは、集束ビ
ームであることを特徴とする請求項１または２記載の超
音波による欠陥規模評価方法。 - 【請求項４】 前記超音波探触子は、アレイ探触子であ
ることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に
記載の超音波による欠陥規模評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8083944A JPH09274019A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 超音波による欠陥規模評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8083944A JPH09274019A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 超音波による欠陥規模評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09274019A true JPH09274019A (ja) | 1997-10-21 |
Family
ID=13816703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8083944A Pending JPH09274019A (ja) | 1996-04-05 | 1996-04-05 | 超音波による欠陥規模評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09274019A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194348A (ja) * | 2000-01-06 | 2001-07-19 | Nikko Kensa Service Kk | ロールの剥離検査方法 |
| JP2014041067A (ja) * | 2012-08-23 | 2014-03-06 | Hitachi Ltd | 超音波探傷方法及び装置 |
| FR3027384A3 (fr) * | 2014-10-21 | 2016-04-22 | Renault Sa | Procede d'estimation du diametre d'une soudure |
-
1996
- 1996-04-05 JP JP8083944A patent/JPH09274019A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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