JPH09260626A - 光電変換装置及びその作製方法及び物質透過撮像装置及び実装装置 - Google Patents
光電変換装置及びその作製方法及び物質透過撮像装置及び実装装置Info
- Publication number
- JPH09260626A JPH09260626A JP26713896A JP26713896A JPH09260626A JP H09260626 A JPH09260626 A JP H09260626A JP 26713896 A JP26713896 A JP 26713896A JP 26713896 A JP26713896 A JP 26713896A JP H09260626 A JPH09260626 A JP H09260626A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- adhesive
- conversion device
- substrate
- substrates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 161
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 219
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 155
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 155
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 36
- 239000004840 adhesive resin Substances 0.000 claims description 18
- 229920006223 adhesive resin Polymers 0.000 claims description 18
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000013464 silicone adhesive Substances 0.000 claims description 7
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 6
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims description 5
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 claims description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 4
- YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N chloroprene Chemical compound ClC(=C)C=C YACLQRRMGMJLJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000005077 polysulfide Substances 0.000 claims description 4
- 229920001021 polysulfide Polymers 0.000 claims description 4
- 150000008117 polysulfides Polymers 0.000 claims description 4
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 claims description 4
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229920005549 butyl rubber Polymers 0.000 claims description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 claims description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 8
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011976 chest X-ray Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/804—Containers or encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L24/14—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of a plurality of bump connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/809—Constructional details of image sensors of hybrid image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/40—Optical elements or arrangements
- H10F77/496—Luminescent members, e.g. fluorescent sheets
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/50—Encapsulations or containers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/191—Photoconductor image sensors
- H10F39/195—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor
- Y10T156/1052—Methods of surface bonding and/or assembly therefor with cutting, punching, tearing or severing
- Y10T156/1062—Prior to assembly
- Y10T156/1075—Prior to assembly of plural laminae from single stock and assembling to each other or to additional lamina
- Y10T156/1077—Applying plural cut laminae to single face of additional lamina
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor
- Y10T156/1089—Methods of surface bonding and/or assembly therefor of discrete laminae to single face of additional lamina
- Y10T156/1092—All laminae planar and face to face
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
置において、各基板の高さギャップの発生を無くすこと
により、解像力の低下及び感度の低下、剥れ等の問題が
生じない光電変換装置を実現する。 【解決手段】 基台2上に、複数枚の半導体素子基板1
を配列して接着剤51で固定して形成する光電変換装置
において、複数の前記基板1の表面が、前記基台2表面
と、それぞれの前記基板1の半導体素子13面との間の
寸法を設計値Aに保った状態で、前記接着剤51を硬化
して所望の前記接着剤51の厚みで高さ調整されて、同
一平面としてあることを特徴とした実装方法による光電
変換装置。
Description
わり、特に大面積プロセスを用いて形成する光電変換装
置、例えばファクシミリ、デジタル複写機あるいはX線
撮像装置等の等倍読み取りを行う二次元の光電変換装置
に好適に用いられる光電変換装置に関するものである。
ーあるいはX線撮像装置等の原稿読み取り装置として、
縮小光学系とCCD型センサを用いた読み取り系が用い
られていたが、近年、水素化アモルファスシリコン(以
下、a−Siと記す)に代表される光電変換半導体材料
の開発により、光電変換素子及び信号処理部を大面積の
基板に形成し、情報源と等倍の光学系で読み取るいわゆ
る密着型センサの開発がめざましい。特にa−Siは光
電変換材料としてだけでなく、薄膜電界効果型トランジ
スタ(以下TFTと記す)としても用いることができる
ので光電変換半導体層とTFTの半導体層とを同時に形
成することができる利点を有している。
ジスタ等のスイッチ素子および容量素子とはマッチング
が良く、同一膜構成で形成できるため共通な膜として同
時に形成可能であり、さらに光電変換装置を高SN化、
低コスト化することができる。またコンデンサも中間層
として共通に使用される絶縁層を含んで構成することに
加えて、良好な特性で形成でき複数の光電変換素子で得
られた光情報の積分値を簡単な夫々構成で出力できる高
機能の光電変換装置が提供出来る。また低コストで大面
積、高機能、高特性である点を利用して高付加価値のフ
ァクシミリやX線レントゲン装置を提供できる。
では、製造時の微小なチリ、特にアモルファスシリコン
層を基板に堆積する時に薄膜堆積装置の壁から剥がれ出
るゴミや、メタル層を基板に堆積する時に基板上に残っ
ているほこりを完全になくすことは難しい。そのため、
ゴミやほこりなどに起因する配線の不具合、即ち配線の
ショート(短絡)またはオープン(断線)をなくすこと
はより大きな基板程難しかった。つまり、図3のように
1枚の基板を用いて大画面の光電変換装置121を製作
するときには、1枚の基板が大きくなればなるほど基板
1枚あたりの歩留まりは低くなり、同時に基板1枚あた
りの不具合による損失額も大きくなるのである。
基板による大面積な光電変換装置では現時点では充分な
低コスト価を達成することが難しい。
表面に光電変換半導体素子を形成した基板を複数枚用意
し、基台上に複数の基板をアレイ状に実装することで、
大面積の光電変換装置を構成することが行なわれてい
る。
を平面的に配列して構成した光電変換装置の一例を示す
模式的平面図であり、図4(B)はその模式的側面図で
ある。図において、1は基板、2は基台、51は基板1
と基台2を固定する接着剤である。
薄板ガラスを使用する。シリコンウエハーの厚み公差
は、±25μ、薄板ガラスの厚み公差は±200μであ
り、通常、半導体素子は表面に形成するが、それを実装
する際には、裏面を基台に接着する場合がほとんどであ
る。
と基台2を一定の厚さの接着剤51で固定しようとして
も、それぞれの基板の高さギャップが発生し、光電変換
装置の性能を著しく低下させるという問題があった。
ップBを示す模式的側面図であり、理解し易いようにギ
ャップBを強調して示してある。図に示すように、それ
ぞれの基板1の厚みT1 及びT2 は、バラツキを持って
いる為、接着剤の厚みt2 を一定にすると、各基板1の
表面(半導体素子部)の高さが異なり、基板の高さギャ
ップBが生じてしまうのである。
って、基板によっては例えば、基板上に形成した蛍光
体、もしくは、被写体(原稿)と半導体素子との距離が
許容範囲以上に離れ、その結果ピントズレを起こし、解
像力の低下や感度の低下を誘発するという問題が生じる
場合があった。
付ける場合、アレイ内の中で基板1の半導体素子面の高
さが異なる為、全ての基板1に密着させることが不可能
となると共に、接着できても剥れの原因になる場合があ
るという問題があった。
て同一面にする為、それぞれの基板の厚みをあらかじめ
研摩するなどの対策を施していたが、時間と工程が多く
かかりコスト上昇につながるという問題があった。
すべく、大画面の光電変換装置を光電変換素子を搭載し
た複数の基板を隣接して配置する構成とし、かかる構成
での光電変換装置の性能を向上させることを目的とす
る。
的に配列した光電変換装置において、各基板の高さギャ
ップの発生を無くすことにより、ピントズレ、解像力の
低下及び感度の低下、表面に蛍光体を接着する場合の蛍
光体の剥れ等の問題が生じない光電変換装置を簡単な方
法で実現することにある。
された基板間の間隙の変化が実質的になく、光電変換素
子のピッチずれなどが生じない光電変換装置を提供する
ことである。
く、低コスト化を達成し、かつ、上述の問題点をも解決
し得る構成の光電変換装置及びその作製方法を提供する
ことである。
数枚の半導体素子基板を配列して接着剤で固定してなる
光電変換装置において、複数の前記基板の基台と反対側
の表面が、それぞれの基板を接着する前記接着剤の厚み
で高さ調整されて、同一平面とされている光電変換装置
を提供する。
する複数の基板を隣接して基台と貼り合わせてなる光電
変換装置において、該基板と該基台とは弾力性を有する
接着剤を用いて貼り合わされてなる光電変換装置を提供
する。
体素子基板を配列して接着剤で固定してなる光電変換装
置の実装方法において、前記基台表面とそれぞれの前記
基板の半導体素子面との間の寸法を設計値に保った状態
で、前記接着剤を硬化する工程を有する光電変換装置の
作製方法を提供する。
素子基板を配列して接着剤で固定してなる光電変換装置
の実装装置において、前記接着剤が硬化するまで、前記
基台表面と前記基板の半導体素子面との間の寸法を設計
値に保った状態で、前記基板を保持する手段を有する実
装装置を提供する。
する基板を複数枚、平面を持つ一つの基台の上にアレイ
状に配列された光電変換装置において、一アレイ内にお
いて、半導体素子を有する複数の基板の半導体素子面を
同一面となる様に実装し、基板厚みのバラツキを裏面の
接着剤の厚みで調整し、それぞれの基板を固定する。こ
れにより、平面精度を向上することができる。
搭載した複数の基板を接着樹脂により、該基板同士を隣
接して基体と貼り合わせ、前記接着樹脂として弾性を有
する接着樹脂を用いることで、周囲環境温度変化等があ
ったときに基板と基体との熱膨張係数差で生ずる力を前
記貼り合わせ接着樹脂の弾力性にて吸収し、隣接する基
板間の隙間間隔の変動を抑制し、隣接する基板間の隙間
間隔を周囲環境温度変化等によらず均一に保持するもの
である。
電変換素子を搭載した基板を平面的に少なくとも2枚以
上の複数枚貼り合わせて構成する光電変換装置におい
て、光電変換素子を搭載した基板と貼り合わせ基台との
膨張係数差を前記貼り合わせの弾力性のない固定用接着
樹脂と弾力性のある半固定用接着樹脂にて吸収し、前記
光電変換素子を搭載した基板の平面的に少なくとも2枚
以上の複数基板を貼り合わせた隙間間隔を周囲環境温度
変化内で実質的に均一化するものである。
する光電変換装置において、光電変換素子を搭載した基
板と貼り合わせ基台との膨張係数差を前記貼り合わせの
弾力性のない固定用接着樹脂と弾力性のある半固定用接
着樹脂の塗布量と塗布位置の組み合わせによって解決す
ることができる。
る基板と基台の夫々の接着面の材質に応じて適宜選択す
ることが可能であるが、基板の高さを調整することを主
たる目的とする場合は、硬化収縮がないかあっても少な
い接着剤を選択することが望ましい。
完全に均一でなくとも光電変換装置の使用形態、たとえ
ば被読取物に密着させて読取る際に押圧によって実質的
に均一に読取ることができるという点においても好まし
い。
用形態が限られてしまうので、できれば弾力性を有する
接着剤としても硬化収縮がないか少ないものを選ぶこと
が望ましい。
しては、アクリル系、エポキシ系、シリコーン系などが
好適に挙げられ、また、弾力性、特にゴム状弾性を有す
る接着樹脂としては、シリコーン系であるシリコーンゴ
ム系、ブチルゴム系、ポリサルファイド系、スチレンゴ
ム系、ニトリルゴム系、クロロプレン系等の接着樹脂を
好適に用いることができる。
も2液型であってもよく、これらの接着剤を必要に応じ
て組合わせて、あるいは混合しても良い。
施形態に係る光電変換装置の模式的平面図、図1(B)
は、その模式的断面図を示す図であり、図において、4
枚の基板1は、基台2上に、接着剤51により、その半
導体素子13面が同一平面となるように固定されてい
る。また12は波長変換体としての蛍光体である。この
ような構成により入射したX線等の放射線のような、不
感知又は感度の低い波長域の電磁波を充分な感度を有す
る波長域の光に変換して、光電変換素子に対して出射す
ることで、X線撮像装置として機能させることができ
る。
である。
板1は、それぞれの厚みT1 ,T2が異なるが、接着剤
51の厚みt1 ,t2 によって調整されて、表面は同一
高さAに統一されている。
て、本実施形態の基板実装方法について説明する。以
下、図12の工程フローに沿って説明する。
1)。
セットした状態を示す模式的平面図であり、図6(B)
はその模式的断面図である。基台2は、第1ステージ3
上に取付けられている3本の位置決めピン5にそれぞれ
が接触する様にセットする。その時、前記セット状態を
維持する為、基台2の裏面を第1ステージ3よりバキュ
ームチャックする。
2)。
のその模式的断面図に示されるように、基台2の上面に
接着剤51を同図の様に所定の間隔で36ケ所塗布す
る。
の接着剤を、接着剤高さH=0.5mm以上に塗布す
る。
ん、〔基板セット〕(1203)は上述の〔基台セッ
ト〕1201、〔接着剤塗布〕1202と同時並行的に
行なってよい。
をセットした模式的平面図であり、図8(B)はその模
式的断面図である。基板1は、第2ステージ4上に取付
けられている3本の位置決めピン5にそれぞれが接触す
る様にセットする。その時、前記セット状態を維持する
為、基板1の裏面を第2ステージ4よりバキュームチャ
ックする。尚、図中13は光電変換素子マトリクスの一
部を概略的に示している。
204)。
テージ4から、バキュームプレート6又はバキュームパ
ッド7でバキュームチャックし、保持した状態を示す図
である。
平面図を、図9(B)及び図10(B)は夫々模式的断
面図を示す。
に、バキュームプレート6はアルミニウムなどの基材の
表面に溝9を設け、該溝9に連通して吸引口(不図示)
を形成してある。吸引口には(不図示の)ポンプなどの
吸引手段に連通され、吸引手段の作動によって、溝9内
の空気のような気体を吸引可能に構成される。
板1に接触させ、溝9と基板1とでできた空間内の空気
を吸引手段により排出することでバキュームプレート6
は基板1に吸着する。
れて良い。
接続されたパイプ7aの先端に取付けられた可撓性のパ
ッドで、多くの場合、パイプ7aの開口の囲りに弾性を
有する部材として取付けられている。バキュームパッド
7はパイプ7aと基板1との接触による基板1の損傷又
は傷付きを防止するために設けられ、また、パイプ7a
に接続された不図示のポンプのような吸引手段による吸
引を効率良く行なうための吸引漏れ防止のために設けら
れる。
力、基板の大きさなどを考慮して適宜決めることができ
る。
ド7は、基板1の上面である素子部に接触する為、バキ
ュームプレート6は、アルミ材などの基材の少なくとも
基板1に接触する部分の表面に、傷付き防止のために又
は吸引漏れの減少のためにテフロンを含有させた表面処
理などを施すことは好ましい。又、バキュームパッド7
は、ゴム材を使用するのが好ましい。
ず、適宜変形可能である。
5)。
ームプレート6にて、第2ステージ4より搬送し、第1
ステージ3の基台2の所定の場所へ位置決めされた場合
の一例を示す模式的平面図、図11(B)はその模式的
断面図である。この時、基台2の上面と、基板1の素子
面までの距離A(基準高さ寸法)は、バキュームプレー
ト6に取付けられている治具であるストッパーピン14
の突出量にて一定される。
びT2 が1.1±0.1で、厚みバラツキが最大で0.
2mmあるとすると、A=1.3mmとする。よって、
基板1の厚みのバラツキで、接着剤の厚みt1 及びt2
が、以下の様に決定する。
V光源10より発光されたUV光11によって、接着剤
51が照射され硬化されることを説明するための模式的
平面図、図12(B)はその模式的断面図である。
法)Aを維持する為、接着剤の厚みt1 を保持した状態
で接着剤51を硬化させる。もちろん光源10はUV光
に限るものではなく、接着剤に応じて適宜選択し得るも
のである。また、UV硬化は熱的な問題が生ぜず好まし
いが、これ以外の硬化方法であっても接着剤に応じて選
択は可能である。もちろん光硬化型接着剤でなければU
V光照射は不要であり、たとえば2液硬化型接着剤な
ど、単に所定時間の保持でよい場合もある。もちろん、
この場合は必要箇所のみ接着剤が付与されるのはいうま
でもない。
207)。
1が硬化し、基板1の上面から基台2までの寸法(基準
高さ寸法)Aが維持されることを確認後、バキュームプ
レート6のバキュームチャックを解放することを説明す
るための模式的平面図、図13(B)はその模式的断面
図である。
も、上述した基板セット以降の工程をくり返す。ここで
はあと3回同様な操作が行なわれ、4つの基板1が接着
されて工程の終了となる。
明の別の実施形態に係わる光電変換装置の模式的平面図
であり、図14(B)はその模式的断面図である。図1
5は図14(B)のE部の概略的拡大図である。図中1
は上面に半導体素子が形成された基板、2は複数の基板
を固定するための基台、51は基板1と基台2を貼り合
わせるための接着剤、13は基板に形成された半導体素
子、12は短波長の光を可視光に変換する蛍光体に代表
される波長変換体、61は蛍光体を基板1に貼り合わせ
るための接着剤であり、これらによって本発明の第2の
実施例に係わる光電変換装置が形成されているものであ
る。
基板1はそれぞれの厚みF1、F2が異なるが、接着剤
51の厚みf1、f2によって調整されて、下記に示す
ように基台を含めた厚さがBに統一されている。
目の基板1に対しても基板の厚みと接着層の厚みをそれ
ぞれF3、F4、f3、f4と定義をすれば同様の関係
を満たすものである。
0の各図面を用いて、本実施形態の基板実装方法につい
て説明する。なお、図17〜図20の各(A)及び
(B)はそれぞれ模式的平面図、模式的側面図である。
図17〜図20における103は基台2を固定するため
の第3ステージ、4台の104は基板のアラインメント
をするための第1ステージ、106は複数の基板1の素
子面側を同一平面にし、運搬するための第2ステージで
ある。第3ステージ103に設けられた105は位置合
わせピン、114は第2ステージとのギャップを制御す
るためのスペーサ、115は吸着穴である。第1ステー
ジに設けられた109は位置合わせピン、116は吸着
穴である。図示はしていないが、第2ステージ106の
下部側にも吸着穴に設けられている。なお、図16に示
した第1ステージ、第2ステージ、第3ステージはそれ
ぞれ図17〜図20の104,106,103に対応し
ている。
板セット1504→第1基板チャッキング1505→基
板位置決め1506の工程を説明するものである。4つ
設けられた第1ステージ104のそれぞれに4枚の基板
1をそれぞれ3つの位置決めピン109に突き当てて基
板セットを行う(1504)。この時、基板1の素子表
面は(B)の図で上面側にしておく。次に、基板1がス
テージからずれないように第1ステージ104側の吸着
穴116(図20(A)に図示している)より吸引を行
って第1の基板チャッキングを行う(1505)。第1
ステージ104はそれぞれX,Y,θ、Z方向に移動で
きるようになっており、各基板1の相対位置のアライン
メントは第3ステージ104を動かすことによって行わ
れる。各基板1の相対位置精度としてmm単位以下のも
のが要求されるような場合は顕微鏡によってパネルのパ
ターンもしくはアラインメントマークを確認しながらこ
れを行うと良い。ここまで行うことによって4枚の各パ
ネルは第3ステージ104上で相対位置がアラインメン
トされている状態となる(1506)。
接着剤塗布1501→基台セット1502→基台チャッ
キング1503の工程を説明するものである。基台2に
は接着剤塗布機(たとえばディスペンサー)によって接
着剤51が塗布される1501。図示する装置にたとえ
ばディスペンサーを組み込み、塗布できるようにしても
かまわない。図では基台に36カ所ポイント塗布された
状態を描いているが、求められる条件によってはライン
状に塗布しても全面に塗布しても構わない。4枚の基板
1の素子上面側を出来る限りフラットにするためには、
硬化時の膨張・収縮が出来るだけ少ない接着剤にすると
良い。更に温度変化による変形の影響を抑えるには光硬
化型かエポキシ系接着剤に代表される2液混合型接着剤
(主剤と硬化剤)を含む常温硬化型の接着剤にすると良
い。この様に接着剤51が塗布された基台2は第3ステ
ージ103に設けた3つの位置決めピン105に突き当
ててセットされる(1502)。次に基台2がずれない
ように基台下側表面を第3ステージ103側の吸着穴1
15(図17(A)に図示している)より吸引を行って
基台チャッキングを行う(1503)。
第2の基板チャッキング2の工程を示したものである。
第2ステージ106はアラインメントされた基板1をチ
ャッキングするために第1ステージ104上に移動した
後、基板1に接触する手前まで下降させステージ下面側
に設けた吸着穴(図示せず)より吸引を行って、その吸
引圧力をモニタリングしておく。そして第1ステージ1
04を静かに上昇させ、第2ステージ106と基板が接
触しようとする瞬間のモニタリング圧力が、ある一定圧
力以下になった時に上昇を止め、つづいて吸引も止め
る。そうすることによって位置ずれや破損を起こすこと
もなく基板1を第1ステージ104から第2ステージ1
06へスムーズに受け渡すことができ、第2ステージ1
06へのチャッキングが完了する(1507)。第1ス
テージ4台に対し、第2ステージが1台なので、第2ス
テージ106側の吸着部は各基板に対応させて4つに系
統分けしてスイッチングができるようにしておくことが
望ましい。また、基板1の厚さはそれぞればらついてい
るので、上述作業は第1ステージ104を1台づつ順番
に行うと良い。
置決め1508→接着剤硬化1509→基板チャック解
放1510→基台チャック解放1511の工程を説明す
るものである。4枚の基板1を吸着した第2ステージ1
06は基台2との接着を行うために第3ステージ103
上部に移動した後、下降し、第3ステージ103との隙
間を位置合わせスペーサ114の高さによって固定され
ることになる。この時、スペーサ114の高さは第3ス
テージ103と第2ステージ106のギャップが図13
で示した厚みBになるように設計されている。また、基
台2と基板1の平面方向のアラインメントにはスペーサ
114の突き出し部を第2ステージ106に設けたアラ
インメントホール(図示せず)に合わせ込むと良い。そ
して接着剤51が硬化するまで図のように基台2の裏面
と基板1の素子面側を吸着したまま保持する。そうする
ことによって、接着剤51が硬化するまでの間基板1、
基台2のズレを抑え硬化させることができるものであ
る。最後に第2ステージ106の吸着を止めて第2ステ
ージ106を上昇させれば、接着された状態の基板1と
基台2が第3ステージ103上に吸着されたまま残るこ
とになる。それから第3ステージ103の吸着を止めれ
ば接着された基板1と基台2は装置から取り外すことが
できるものである。
一の平面で真空吸着し、基台表面を別の同一表面で真空
吸着し、接着剤が硬化するまでの間、対抗する平面の距
離を一定に保つことによって図14(B)に示す様に素
子表面と基台の表面が設計寸法に接着されるとともに各
基板の素子表面は接着剤の厚みf1、f2によって高さ
調整されるものである。
る光電変換装置の模式的平面図である。図22は図21
の光電変換装置の模式的断面図である。
素子が搭載される4枚の基板211,212,213,
214が一定の隙間間隔(図には示されていない)をあ
けて、シリコーン系接着剤等の接着剤51で基台2に貼
り合わされて1つの大きな光電変換装置2101を構成
している。
情報源と等倍の光学系で読み取るいわゆる密着型センサ
を構成すべく、4枚の基板211〜214を用いて複数
の光電変換素子を二次元的に等間隔で配置したものであ
り、各基板には光電変換半導体層とTFTの半導体層と
が同時に形成されている。
光電変換半導体材料の開発により、光電変換素子及び薄
膜電界効果型トランジスタを大面積の基板(例えばガラ
ス基板)に形成することが可能であり、各基板211〜
214はこのような技術に基づき作製することができ
る。
周囲環境温度変化等があった場合に、光電変換素子を搭
載した基板とそれらを貼り合わせる基台との熱膨張係数
差により隣接する基板間の隙間間隔の変動を生じさせる
ような力が働くが、貼り合わせる接着剤51にシリコー
ン系接着剤のような弾力性のある材料を用いることによ
り、その力は接着樹脂の弾力性にて吸収される。そのた
め、貼り合わせたときの隙間間隔は周囲環境温度変化等
があっても均一に保持される。
ば熱膨張係数差は生じないが、接着樹脂として、例えば
熱硬化型の樹脂を用いると、基板と樹脂、或は基体と樹
脂との熱膨張係数の不一致のために、周囲環境温度変化
により界面でクラック等が生ずる場合があるので、基板
と基台とを同一材料で構成する場合でもシリコーン系接
着剤のような弾力性のある材料を用いることが望まし
い。接着剤を含めた厚さの調整は、実施例1又は2のい
ずれの位置合わせ方法をも適用することができる。
る別の光電変換装置の模式的平面図である。
も実施形態3と同様に、配列された光電変換素子が搭載
される4枚の基板211,212,213,214が一
定の隙間間隔をあけて、シリコーン系接着剤等の接着剤
51で基台2に貼り合わされて1つの大きな光電変換装
置2101を構成している。そして、光電変換素子を搭
載した基板とそれらを貼り合わせる基板との熱膨張係数
差により隣接する基板間の隙間間隔の変動を生じさせる
ような力が働いても、シリコーン系接着剤のような弾力
性のある材料を用いているので、その力は接着樹脂の弾
力性にて吸収される。
すように、隣接する基板の隣接側端部の接着樹脂の塗布
量を他の領域に比べて多くしている。このため、基板の
隣接側端部は基体との接着面積が大きくなり、熱膨張係
数差により生ずる力に対してより強い応力が働くように
なる。そのため、基板間の隙間間隔の変動がより生じに
くい構造となっている。
る光電変換装置の別の好適な一例を示す模式的平面図で
ある。
施形態4と同様に、基板の隣接側端部において基体との
接着面積を大きくし、熱膨張係数差により生ずる力に対
してより強い応力が働くようにしたものであるが、本実
施態様では図24に示すように、隣接する基板の隣接側
端部の接着樹脂の塗布箇所を他の領域に比べて多くする
ことで基体との接着面積を大きくしている。そのため、
実施形態4と同様に基板間の隙間間隔の変動がより生じ
にくい構造となっている。
例を図25及び図26を用いて説明する。
を用いて接着された光電変換素子の複数を有する4つの
基板1を有する光電変換装置の一例を説明するための模
式的平面図、図26はその模式的断面図である。
なる性質の接着剤51a,51bを使用している。本実
施例ではより弾性を有する接着剤を接着剤51bとして
示してある。
しては上述したようなシリコーン系接着剤を用い、それ
より弾力性の小さい接着剤51aとしてはたとえばエポ
キシ系接着剤を選択することができる。
は各基板が隣接する側の辺に沿って塗布し、基板を接着
し、それ以外の部分に弾性を有する接着剤51bを使用
している。即ち、本実施例ではいわば接着剤51aを固
定用に、接着剤51bを半固定用に用いている。
の、より弾力性のない接着剤を用いて固定しているの
で、環境温度に変化が生じても基板の継ぎ目部分の移動
が無視できる。従って、得られる画像もより一層高品位
なものになる。
例を説明するための模式的平面図である。
性質の異なる接着剤51a及び51bを使用している。
また、本例は実施態様例6と同様に、隣接する基板側の
辺に沿って弾力性のない又は小さい接着剤51aを付与
している。
1aの付与量を多くし、接着面積を大きくしている。
向上させることができ、しかも、熱膨張などの熱的問題
は弾力性のある接着剤51bによって同様に対処するこ
とができる。
るための模式的平面図を図28に示す。
性のない又は小さい接着剤51aを基板が隣接する側の
辺に沿って付与スポット数を多くしている。このような
付与の仕方により、同様に環境温度変化によらず基板間
の相対的位置決めを確実なものとすることができる。
るための模式的平面図を図29に示す。
性のない又は小さい接着剤51aをライン状に基板が隣
接する側の辺に沿って付与した。
ず、基板間の相対的位置決めを確固たるものとすること
ができる。
換装置を用いてX線レントゲン装置を構成した場合の一
例について説明する。
変換部及び周辺信号処理部の概略的部分平面図、図30
(B)は光電変換部及び周辺信号処理部の具体的な構成
例を示す概略的部分断面図である。
6011はa−Siセンサ基板、6012はa−Siセ
ンサ基板6011が貼り合わされた基体、6013はX
線を遮断するための板、6030はa−Siセンサ基板
6011上に設けられた蛍光体、6010はa−Siセ
ンサ基板6011と接続されるフレキシブル基板、60
18は周辺信号処理回路が搭載された回路基板、601
9はコネクタ、6014は抵抗、6020はこれらの部
材を収納する容器である。a−Siセンサ基板6011
と基板6012とは上記実施態様例に説明されるよう
に、シリコーン系接着剤のような弾力性のある材料で貼
り合わされており、a−Siセンサ基板6011どうし
の隙間間隔は周囲環境温度変化があっても均一に保持さ
れる。
ントゲン装置を用いた検査システムの構成を示す図であ
る。図31に示すように、本検査システムは、X線ルー
ムに配置されたイメージセンサ部6040、X線チュー
ブ6050、イメージプロセッサ6070、ディスプレ
イ6080、そしてドクタールームに配置されたディス
プレイ6081、レーザープリンタを有するフィルムプ
ロセッサ6100を有する。
が入室し、イメージセンサ部6040の前に胸部602
0が対向するように移動すると、イメージプロセッサ6
070からの制御信号によりX線チューブ6050が動
作しX線6060が照射される。照射されたX線は胸部
を通過し、イメージセンサ部6040により光信号、電
気信号と変換され、イメージプロセッサ6070に転送
される。そして、イメージプロセッサ6070は胸部の
画像信号を生成してディスプレイ6080に送り胸部の
レントゲン画像を表示するとともに、ドクタールームに
画像信号6090として信号を送る。
されてきた画像信号6090をディスプレイ6081に
送り胸部のレントゲン画像を表示するとともに、フィル
ムプロセッサ6100により必要に応じてフィルム61
10を作製する。
いて基台と基板を接着することで、弾性のない接着剤の
みを使用した場合に較べて光電変換装置が置かれる環境
の温度が大きく急激に変化しても接着剤のクラックや各
基板間の間隙が変化するという問題をより生じにくくす
ることができる。
ない又はそれより弾力性の小さい接着剤のように異なる
性質の接着剤とを並用することで熱的のみならず、振動
など機械的にもより強固にすることができ、移動システ
ムなど車載にもより適したものとすることができる。
光電変換装置も実施態様例1又は2に説明されるような
プロセスによって基板高さを調整して固定されるのが望
ましいことは云うまでもない。
以下の効果が得られる。
基板間での半導体素子面高さの凹凸がない為、ピントズ
レがなく、解像力の低下及び感度の低下を防止すること
が可能となる。
面が複数の基板に対しても同一(又は実質的に同一)平
面である為、波長変換体の貼り付け作業も容易であり、
かつ、剥れにくく、信頼性も高いものが得られる。
る前に、それぞれの基板の厚みを一定の寸法に加工する
工程が不要となり、生産性の向上ならびにコストダウン
を達成することができる。
基板の半導体素子面までの距離(基準高さ寸法)Aを保
った状態で、光硬化性接着剤にて固定することで作業時
間も短かく、安定した製品を多数製造することが可能と
なる。
化等があったときに基板と基体との熱膨張係数差で生ず
る力を貼り合わせ接着樹脂の弾力性にて吸収し、隣接す
る基板間の隙間間隔の変動を抑制し、隣接する基板間の
隙間間隔を周囲環境温度変化等によらず均一に保持する
ことができる。
ッチで配列され、基板間が当該画素ピッチに対応するよ
うに所定の間隔で隣接して配置されている場合、基板間
の隙間間隔の変動は光電変換装置全体としての画素ピッ
チの変動となって現れることがあるが、本発明において
は、隣接する基板間の隙間間隔が周囲環境温度変化等に
よらず均一に保持されるので画素ピッチの変動を抑制す
ることができる。
接側端部の接着樹脂の塗布量又は塗布箇所を他の領域に
比べて多くすることで、隣接する基板の隣接側端部の接
着面積を増大させ、より基板間の隙間間隔の変動が生じ
ないようにすることができる。
着剤を弾力性がないか小さくし、その他の部分の接着剤
を弾力性を有するように異なる特性の接着剤を用いるこ
とで基板間の間隙の変動を生じにくくし、かつ、基板面
位置精度を向上させ、しかも周囲環境の温度変化による
問題を解決することができる。
接着剤を弾力性がないか小さくし、その他の部分を弾力
性を有する接着剤を使用するように、特性の異なる接着
剤を用い、更に、隣接側端部の接着剤の塗布量又は接着
面積を他の部分の特性の異なる接着剤より多く、あるい
は接着箇所(ポイント)の密度を他の部分の特性の異な
る接着剤より高くすることで上記に加え、より一層耐振
性を向上することができる。
レントゲン装置(X線撮像装置)に代表される物質透過
撮影装置を小型化することができ、移動のため車載する
ことも容易になるとともに、撮影データをデジタル処理
あるいは電気的操作を行なうことも容易になる。
に限定されるものではなく、本発明の主旨の範囲におい
て、適宜変形、組合せできることは云うまでもない。
ための模式的平面図(A)、及びその模式的断面図
(B)。
面図。
めの模式的平面図。
模式的平面図、(B)はその模式的断面図。
のフローチャート。
装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及び
模式的断面図。
装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及び
模式的断面図。
装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及び
模式的断面図。
装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及び
模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
的断面図。
めのフローチャート。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
実装手順の好適な一例を説明するための模式的平面図及
び模式的断面図。
るための模式的平面図及び模式的切断面図。
るための模式的平面図及び模式的切断面図。
るための模式的平面図。
るための模式的平面図。
るための模式的平面図及び模式的切断面図。
るための模式的平面図及び模式的切断面図。
るための模式的平面図。
るための模式的平面図。
るための模式的平面図。
近傍の好適な一例を示す模式的部分平面図、(B)はそ
の模式的部分断面図。
ン装置を有するレントゲンシステムの好適な一例を説明
するための概略的構成図。
Claims (43)
- 【請求項1】 基台上に、複数枚の半導体素子基板を配
列して接着剤で固定してなる光電変換装置において、 複数の前記基板の基台と反対側の表面が、それぞれの基
板を接着する前記接着剤の厚みで高さ調整されて、同一
平面とされていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記接着剤は、弾力
性を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項3】 請求項2において、前記接着剤による接
着は、隣接する基板側端部に沿って接着面積が大きくさ
れていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項4】 請求項2において、前記接着剤による接
着は、隣接する基板側端部に沿って接着ポイントを多く
されていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項5】 請求項2において、前記接着剤による接
着は、隣接する基板側端部に沿って多くの量が使用され
ていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項6】 請求項1において、前記固定は、異なる
特性を有する2種以上の接着剤を使用してなされること
を特徴とする光電変換装置。 - 【請求項7】 請求項6において、前記接着剤は、弾力
性を有する第1の接着剤と該第1の接着剤より弾力性が
無いか実質的に弾力性が無い第2の接着剤を有すること
を特徴とする光電変換装置。 - 【請求項8】 請求項7において、前記第2の接着剤
は、隣接する基板側端部に沿って付与されていることを
特徴とする光電変換装置。 - 【請求項9】 請求項8において、前記第2の接着剤
は、第1の接着剤の付与面積より大きな面積に広がって
付与されていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項10】 請求項8において、前記第2の接着剤
の接着ポイントは、第1の接着剤の接着ポイントの配置
密度より高密度とされていることを特徴とする光電変換
装置。 - 【請求項11】 請求項8において、前記第2の接着剤
は、ライン状に付与されていることを特徴とする光電変
換装置。 - 【請求項12】 請求項1において、前記接着剤は、光
硬化型を含むことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項13】 請求項1において、前記接着剤は、常
温硬化型を含むことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項14】 請求項1において、前記接着剤は、2
液混合型接着剤を含むことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項15】 請求項14において、前記2液混合型
接着剤は、主剤と硬化剤とを混合して用いる接着剤を含
むことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項16】 請求項1において、前記基板上に波長
変換体を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項17】 請求項16において、該波長変換体
は、蛍光体を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項18】 請求項1において、前記半導体素子
は、光電変換素子を含むことを特徴とする光電変換装
置。 - 【請求項19】 請求項18において、前記光電変換素
子は、2次元状に配列されていることを特徴とする光電
変換装置。 - 【請求項20】 請求項1において、前記接着剤は、ア
クリル系、エポキシ系およびシリコーン系接着剤からな
る群から選択されることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項21】 請求項1において、前記接着剤は、シ
リコーンゴム系、ポリサルファイド系、スチレンゴム
系、ニトリルゴム系、クロロプレン系接着剤からなる群
から選択されることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項22】 それぞれ光電変換素子を有する複数の
基板を隣接して基台と貼り合わせてなる光電変換装置に
おいて、該基板と該基台とは弾力性を有する接着剤を用
いて貼り合わされてなることを特徴とする光電変換装
置。 - 【請求項23】 請求項22において、前記接着剤は、
ゴム状弾性を有する接着樹脂を有することを特徴とする
光電変換装置。 - 【請求項24】 請求項22において、隣接する基板の
隣接側端部の接着剤の塗布量又は塗布箇所は、他の領域
に比べて多くされていることを特徴とする光電変換装
置。 - 【請求項25】 請求項22において、隣接する基板の
隣接側端部の接着剤の塗布面積は、他の領域に比べて大
きくされていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項26】 請求項22において、前記弾力性を有
する接着剤は、隣接する基板の隣接側端部以外の領域に
付与されていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項27】 請求項26において、前記隣接側端部
は、弾力性が無いか前記弾力性を有する接着剤より弾力
性が無い第2の接着剤を有することを特徴とする光電変
換装置。 - 【請求項28】 請求項27において、前記第2の接着
剤は、前記弾力性のある接着剤の配置密度より高密度に
付与されていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項29】 請求項27において、前記第2の接着
剤は、該端部に沿ってライン状に付与されていることを
特徴とする光電変換装置。 - 【請求項30】 請求項27において、前記第2の接着
剤は、前記弾力性のある接着剤の塗布面積より大きい塗
布面積を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項31】 請求項22において、前記弾力性を有
する接着剤は、シリコーンゴム系、ブチルゴム系、ポリ
サルファイド系、スチレンゴム系、ニトリルゴム系、ク
ロロプレン系からなる群から選択される樹脂を有するこ
とを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項32】 請求項22において、前記基板上に波
長変換体を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項33】 請求項32において、前記波長変換体
は、蛍光体を有することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項34】 請求項22において、前記光電変換素
子は、2次元状に配列されていることを特徴とする光電
変換装置。 - 【請求項35】 請求項22において、前記接着剤は、
シリコーンゴム系、ブチルゴム系、ポリサルファイド
系、スチレンゴム系、ニトリルゴム系、クロロプレン系
からなる群から選ばれることを特徴とする光電変換装
置。 - 【請求項36】 請求項27において、前記第2の接着
剤は、アクリル系、エポキシ系、シリコーン系からなる
群から選択されることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項37】 請求項1の光電変換装置を有すること
を特徴とする物質透過撮像装置。 - 【請求項38】 請求項22の光電変換装置を有するこ
とを特徴とする物質透過撮像装置。 - 【請求項39】 基台上に、複数枚の半導体素子基板を
配列して接着剤で固定してなる光電変換装置の実装方法
において、前記基台表面とそれぞれの前記基板の半導体
素子面との間の寸法を設計値に保った状態で、前記接着
剤を硬化する工程を有することを特徴とする光電変換装
置の作製方法。 - 【請求項40】 請求項39において、前記寸法は、治
具の突出量で維持されることを特徴とする光電変換装置
の作製方法。 - 【請求項41】 請求項39において、前記接着剤は、
光硬化性を有することを特徴とする光電変換装置の作製
方法。 - 【請求項42】 請求項41において、該接着剤を硬化
するための光照射ステップを有することを特徴とする光
電変換装置の作製方法。 - 【請求項43】 基台上に、複数枚の半導体素子基板を
配列して接着剤で固定してなる光電変換装置の実装装置
において、前記接着剤が硬化するまで、前記基台表面と
前記基板の半導体素子面との間の寸法を設計値に保った
状態で、前記基板を保持する手段を有することを特徴と
する実装装置。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26713896A JP3805031B2 (ja) | 1995-10-20 | 1996-10-08 | 光電変換装置 |
DE69636404T DE69636404T2 (de) | 1995-10-20 | 1996-10-18 | Verfahren zur Herstellung einer photoelektrischen Umwandlungsvorrichtung |
EP04027466A EP1513201B1 (en) | 1995-10-20 | 1996-10-18 | Photoelectric conversion apparatus and method of manufacturing the same |
EP96116758A EP0769817B1 (en) | 1995-10-20 | 1996-10-18 | Method of manufacturing a photoelectric conversion apparatus |
DE69637881T DE69637881D1 (de) | 1995-10-20 | 1996-10-18 | Photoelektrische Umwandlungsvorrichtung und Herstellungsverfahren dazu |
US08/733,772 US5856699A (en) | 1995-10-20 | 1996-10-18 | Photoelectric conversion apparatus with level photoreceiving surface |
TW085112756A TW402817B (en) | 1995-10-20 | 1996-12-18 | Photoelectric conversion apparatus and method of manufacturing the same |
US09/176,258 US6352875B1 (en) | 1995-10-20 | 1998-10-21 | Photoelectric conversion apparatus and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27299795 | 1995-10-20 | ||
JP7-272997 | 1995-10-20 | ||
JP732496 | 1996-01-19 | ||
JP8-7324 | 1996-01-19 | ||
JP26713896A JP3805031B2 (ja) | 1995-10-20 | 1996-10-08 | 光電変換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09260626A true JPH09260626A (ja) | 1997-10-03 |
JP3805031B2 JP3805031B2 (ja) | 2006-08-02 |
Family
ID=27277562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26713896A Expired - Fee Related JP3805031B2 (ja) | 1995-10-20 | 1996-10-08 | 光電変換装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5856699A (ja) |
EP (2) | EP1513201B1 (ja) |
JP (1) | JP3805031B2 (ja) |
DE (2) | DE69636404T2 (ja) |
TW (1) | TW402817B (ja) |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001264442A (ja) * | 2000-03-22 | 2001-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像記録媒体 |
JP2001281343A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-10 | Shimadzu Corp | 2次元画像検出器およびその製造方法 |
US6747277B2 (en) | 2000-02-25 | 2004-06-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray image pickup apparatus and method of making the same |
US6855935B2 (en) | 2000-03-31 | 2005-02-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Electromagnetic wave detector |
JP2005214800A (ja) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線イメージセンサ |
JP2006139316A (ja) * | 2006-02-10 | 2006-06-01 | Ushio Inc | 原稿読み取り用光源装置 |
WO2006112320A1 (ja) * | 2005-04-15 | 2006-10-26 | Hitachi Medical Corporation | X線平面検出器及びx線画像診断装置 |
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
JP2007285709A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Canon Inc | 放射線撮像装置の製造方法及び放射線撮像システム |
JP2008014900A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 放射線像変換パネルの製造方法および放射線像変換パネル |
WO2008078702A1 (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 放射線検出器 |
WO2009044658A1 (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | 放射線検出器 |
JP2011519178A (ja) * | 2008-04-29 | 2011-06-30 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光検出器 |
JP2012027002A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-02-09 | Canon Inc | 放射線検出装置及び放射線撮像システム |
WO2012026187A1 (ja) | 2010-08-24 | 2012-03-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器 |
JP2012509476A (ja) * | 2008-11-21 | 2012-04-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | タイル型検出器の組み立て方法 |
US8796607B2 (en) | 2011-02-18 | 2014-08-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus and imaging system |
JP2015049121A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | 株式会社東芝 | 検出器モジュール製造方法、検出器モジュール及び医用画像診断装置 |
JP5966925B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2016-08-10 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像検出器の製造方法 |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3805031B2 (ja) * | 1995-10-20 | 2006-08-02 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
JP3618973B2 (ja) * | 1997-10-01 | 2005-02-09 | キヤノン株式会社 | 半導体装置及び光検出装置の製造方法 |
GB9925227D0 (en) | 1999-10-25 | 1999-12-22 | Internet Limited | Data storage retrieval and access system |
JP4302279B2 (ja) * | 2000-02-29 | 2009-07-22 | 富士フイルム株式会社 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
JP2003168794A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Canon Inc | 放射線検出素子、放射線撮像装置、放射線検出方法、及び放射線撮像方法 |
US6953934B2 (en) * | 2002-03-06 | 2005-10-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation detection apparatus and system |
JP3722367B2 (ja) | 2002-03-19 | 2005-11-30 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子の製造方法 |
US7127793B2 (en) * | 2002-04-24 | 2006-10-31 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of producing solid state pickup device |
KR100539234B1 (ko) * | 2003-06-11 | 2005-12-27 | 삼성전자주식회사 | 투명 고분자 소재를 적용한 씨모스형 이미지 센서 모듈 및그 제조방법 |
US20050009239A1 (en) * | 2003-07-07 | 2005-01-13 | Wolff Larry Lee | Optoelectronic packaging with embedded window |
JP4389626B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2009-12-24 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子の製造方法 |
DE202004011854U1 (de) * | 2004-07-28 | 2004-11-04 | Microelectronic Packaging Dresden Gmbh | Image-Modul |
TWI278694B (en) * | 2005-09-20 | 2007-04-11 | Ind Tech Res Inst | Method for supporting a flexible substrate and method for manufacturing a flexible display |
DE102006038969B4 (de) * | 2006-08-21 | 2013-02-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenkonverterelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
DE102007027207A1 (de) * | 2006-10-21 | 2008-04-24 | Sunzenit Gmbh | Photovoltaikmodul mit Kühleinrichtung |
JP5004848B2 (ja) * | 2007-04-18 | 2012-08-22 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
JP5350604B2 (ja) * | 2007-05-16 | 2013-11-27 | スパンション エルエルシー | 半導体装置及びその製造方法 |
US9496442B2 (en) * | 2009-01-22 | 2016-11-15 | Omnipv | Solar modules including spectral concentrators and related manufacturing methods |
JP2012154696A (ja) | 2011-01-24 | 2012-08-16 | Canon Inc | シンチレータパネル、放射線検出装置およびそれらの製造方法 |
WO2012145038A1 (en) * | 2011-04-19 | 2012-10-26 | Teledyne Rad-Icon Imaging Corp. | Method of direct silicon tiling of a tiled image sensor array |
EA021593B1 (ru) | 2012-11-21 | 2015-07-30 | Закрытое Акционерное Общество "Импульс" | Детектор рентгеновского изображения, способ изготовления фоточувствительного элемента и способ изготовления детектора |
US10162343B2 (en) | 2014-07-23 | 2018-12-25 | Apple Inc. | Adaptive processes for improving integrity of surfaces |
US10649497B2 (en) * | 2014-07-23 | 2020-05-12 | Apple Inc. | Adaptive processes for improving integrity of surfaces |
US9599723B2 (en) | 2015-08-18 | 2017-03-21 | Carestream Health, Inc. | Method and apparatus with tiled image sensors |
DE102018200845B4 (de) * | 2018-01-19 | 2021-05-06 | Siemens Healthcare Gmbh | Montageverfahren für die Herstellung eines Röntgendetektors, Röntgendetektor und Röntgengerät |
JP7427410B2 (ja) | 2019-10-11 | 2024-02-05 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びカメラ |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4537827A (en) * | 1983-02-07 | 1985-08-27 | Hughes Aircraft Company | Optically flat semiconductor baseplate structure |
EP0355522B1 (en) | 1988-08-18 | 1993-12-15 | Seiko Epson Corporation | Solid state image pickup device |
JPH0287869A (ja) | 1988-09-26 | 1990-03-28 | Ricoh Co Ltd | 千鳥配列マルチチツプ型イメージセンサ |
JPH02143466A (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の製造方法 |
GB2262658B (en) * | 1989-02-21 | 1993-09-29 | Canon Kk | Photoelectric converter |
US4999077A (en) * | 1989-08-31 | 1991-03-12 | Xerox Corporation | Method of fabricating full width scanning or imaging arrays from subunits |
US5132539A (en) * | 1991-08-29 | 1992-07-21 | General Electric Company | Planar X-ray imager having a moisture-resistant sealing structure |
JP3805031B2 (ja) * | 1995-10-20 | 2006-08-02 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
-
1996
- 1996-10-08 JP JP26713896A patent/JP3805031B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-10-18 EP EP04027466A patent/EP1513201B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-18 EP EP96116758A patent/EP0769817B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-18 US US08/733,772 patent/US5856699A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-18 DE DE69636404T patent/DE69636404T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-18 DE DE69637881T patent/DE69637881D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 TW TW085112756A patent/TW402817B/zh not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-10-21 US US09/176,258 patent/US6352875B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6747277B2 (en) | 2000-02-25 | 2004-06-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray image pickup apparatus and method of making the same |
JP2001264442A (ja) * | 2000-03-22 | 2001-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像記録媒体 |
JP2001281343A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-10 | Shimadzu Corp | 2次元画像検出器およびその製造方法 |
US6855935B2 (en) | 2000-03-31 | 2005-02-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Electromagnetic wave detector |
JP2005214800A (ja) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線イメージセンサ |
JP4563042B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2010-10-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線イメージセンサ |
WO2006112320A1 (ja) * | 2005-04-15 | 2006-10-26 | Hitachi Medical Corporation | X線平面検出器及びx線画像診断装置 |
JPWO2006112320A1 (ja) * | 2005-04-15 | 2008-12-11 | 株式会社日立メディコ | X線平面検出器及びx線画像診断装置 |
JP2006322746A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器 |
JP4622670B2 (ja) * | 2005-05-17 | 2011-02-02 | 株式会社島津製作所 | 2次元放射線検出器 |
JP2006139316A (ja) * | 2006-02-10 | 2006-06-01 | Ushio Inc | 原稿読み取り用光源装置 |
JP2007285709A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Canon Inc | 放射線撮像装置の製造方法及び放射線撮像システム |
JP2008014900A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Fujifilm Corp | 放射線像変換パネルの製造方法および放射線像変換パネル |
WO2008078702A1 (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 放射線検出器 |
US7772562B2 (en) | 2006-12-27 | 2010-08-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector |
WO2009044658A1 (ja) * | 2007-10-01 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | 放射線検出器 |
JP2011519178A (ja) * | 2008-04-29 | 2011-06-30 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光検出器 |
JP2012509476A (ja) * | 2008-11-21 | 2012-04-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | タイル型検出器の組み立て方法 |
JP2012027002A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-02-09 | Canon Inc | 放射線検出装置及び放射線撮像システム |
WO2012026187A1 (ja) | 2010-08-24 | 2012-03-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器 |
US9158010B2 (en) | 2010-08-24 | 2015-10-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Radiation detector |
JP5966925B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2016-08-10 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像検出器の製造方法 |
US8796607B2 (en) | 2011-02-18 | 2014-08-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus and imaging system |
JP2015049121A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | 株式会社東芝 | 検出器モジュール製造方法、検出器モジュール及び医用画像診断装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6352875B1 (en) | 2002-03-05 |
DE69636404D1 (de) | 2006-09-14 |
EP1513201A2 (en) | 2005-03-09 |
DE69637881D1 (de) | 2009-04-30 |
JP3805031B2 (ja) | 2006-08-02 |
EP1513201B1 (en) | 2009-03-18 |
DE69636404T2 (de) | 2007-02-01 |
EP0769817A3 (en) | 1998-04-01 |
US5856699A (en) | 1999-01-05 |
EP1513201A3 (en) | 2007-03-14 |
TW402817B (en) | 2000-08-21 |
EP0769817A2 (en) | 1997-04-23 |
EP0769817B1 (en) | 2006-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3805031B2 (ja) | 光電変換装置 | |
US9846246B2 (en) | Method and apparatus with tiled image sensors | |
KR101058441B1 (ko) | 기판 접합 장치 및 방법 | |
US5635718A (en) | Multi-module radiation detecting device and fabrication method | |
CN109713087B (zh) | 芯片维修方法及设备 | |
US7564112B2 (en) | Semiconductor device, radiographic imaging apparatus, and method for manufacturing the same | |
US6909173B2 (en) | Flexible substrate, semiconductor device, imaging device, radiation imaging device and radiation imaging system | |
CN107656425A (zh) | 工作台以及曝光装置 | |
US20060051887A1 (en) | Manufacturing method and joining device for solid-state imaging devices | |
TW202244510A (zh) | 探針卡及探針卡的修補方法 | |
US6303196B1 (en) | Pellicle | |
JP4100965B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
KR20180008700A (ko) | 가요성 디스플레이 모듈 접합 방법 | |
JP2020194192A (ja) | ワーク吸着保持方法、ワークステージ及び露光装置 | |
JP2001209192A (ja) | 基板露光方法および装置 | |
CN100433246C (zh) | 接合装置、接合方法和用于制造半导体器件的方法 | |
JP2002164525A (ja) | 光電変換装置 | |
JP3042641B2 (ja) | プリント配線板 | |
JPH06112239A (ja) | 中間膜により、チップを基板内のハウジングに挿入する方法および装置 | |
JP2810909B2 (ja) | 露光装置 | |
JP2010243188A (ja) | 放射線検出パネル、放射線画像検出器、放射線検出パネルの製造方法および放射線画像検出器の製造方法 | |
JP2001189553A (ja) | 基板の接合装置及びその装置を用いた基板の接合方法 | |
Oluseyi et al. | LBNL four-side buttable CCD package development | |
CN110291424B (zh) | 直接转换化合物半导体切片结构 | |
JPH01228178A (ja) | 固体撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060508 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060509 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130519 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140519 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |