JPH09258246A - 配線基板、その製造方法及び該配線基板を備えた液晶素子 - Google Patents
配線基板、その製造方法及び該配線基板を備えた液晶素子Info
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- JPH09258246A JPH09258246A JP8066444A JP6644496A JPH09258246A JP H09258246 A JPH09258246 A JP H09258246A JP 8066444 A JP8066444 A JP 8066444A JP 6644496 A JP6644496 A JP 6644496A JP H09258246 A JPH09258246 A JP H09258246A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】金属配線と基板間の密着性の向上と、金属配線
と透明電極との安定した導通を図れるようにする。 【解決手段】透明電極9の下に形成される金属配線8
を、ガラス基板6上に該基板6と密着性のよい金属から
なる第1の層11と、この第1の層11上に低抵抗の金
属からなる第2の層12と、この第2の層12上に該第
2の層12の酸化を防止する金属からなる第3の層を順
に形成した多層構造としたことにより、金属配線8とガ
ラス基板6間の密着性が向上し、且つ金属配線8と透明
電極9との安定した導通を得ることができる。
と透明電極との安定した導通を図れるようにする。 【解決手段】透明電極9の下に形成される金属配線8
を、ガラス基板6上に該基板6と密着性のよい金属から
なる第1の層11と、この第1の層11上に低抵抗の金
属からなる第2の層12と、この第2の層12上に該第
2の層12の酸化を防止する金属からなる第3の層を順
に形成した多層構造としたことにより、金属配線8とガ
ラス基板6間の密着性が向上し、且つ金属配線8と透明
電極9との安定した導通を得ることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板、特に金
属配線上に透明電極を形成した配線基板、その製造方法
及び該配線基板を備えた液晶素子に関する。
属配線上に透明電極を形成した配線基板、その製造方法
及び該配線基板を備えた液晶素子に関する。
【0002】
【従来の技術】TN(Twisted Nematic )やSTN(Su
per Twisted Nematic )型等の液晶素子では、従来よ
り、ガラス基板上に形成される透明電極にはITO(In
dium TinOxide )膜が一般に用いられている。
per Twisted Nematic )型等の液晶素子では、従来よ
り、ガラス基板上に形成される透明電極にはITO(In
dium TinOxide )膜が一般に用いられている。
【0003】上述した透明電極を構成するITO膜は抵
抗値が高いため、最近のように表示面積の大型化、高精
細化に伴って印加される電圧波形の遅延が問題になって
きた。特に、強誘電性液晶を用いた液晶素子ではセルギ
ャップが1〜3μmとより狭いため、電圧波形の遅延が
顕著であった。また、抵抗値を低くするために透明電極
を厚く形成することも考えられるが、膜厚を厚くすると
成膜に時間を要し、且つコストもかかり、更に透明性も
悪くなる等の問題点があった。
抗値が高いため、最近のように表示面積の大型化、高精
細化に伴って印加される電圧波形の遅延が問題になって
きた。特に、強誘電性液晶を用いた液晶素子ではセルギ
ャップが1〜3μmとより狭いため、電圧波形の遅延が
顕著であった。また、抵抗値を低くするために透明電極
を厚く形成することも考えられるが、膜厚を厚くすると
成膜に時間を要し、且つコストもかかり、更に透明性も
悪くなる等の問題点があった。
【0004】このような問題点を解決するために、膜厚
の薄い透明電極に併設して低抵抗値の金属配線を形成す
る構成の電極基板が提案されている(例えば、特開平2
−63019号公報)。この公報に開示されている電極
基板は、金属配線を透明な絶縁物で埋め込み、表面に金
属パターンを露出した金属配線上に、ITO膜等の透明
電極を形成したものである。
の薄い透明電極に併設して低抵抗値の金属配線を形成す
る構成の電極基板が提案されている(例えば、特開平2
−63019号公報)。この公報に開示されている電極
基板は、金属配線を透明な絶縁物で埋め込み、表面に金
属パターンを露出した金属配線上に、ITO膜等の透明
電極を形成したものである。
【0005】上述したような構成の電極基板を作製する
場合、金属配線間を埋めて平坦化する絶縁物として透明
な樹脂を用いる構成の電極基板が提案されている(例え
ば、特開平6−347810号公報)。
場合、金属配線間を埋めて平坦化する絶縁物として透明
な樹脂を用いる構成の電極基板が提案されている(例え
ば、特開平6−347810号公報)。
【0006】このような低抵抗率の金属配線を、透明電
極を構成する下地のガラス基板に形成して電極基板(配
線基板)を作製する場合、従来、例えば図10乃至図1
1に示すような製造方法によって行われていた。
極を構成する下地のガラス基板に形成して電極基板(配
線基板)を作製する場合、従来、例えば図10乃至図1
1に示すような製造方法によって行われていた。
【0007】先ず、平滑な透明な型板101の表面上
に、UV(紫外線)硬化樹脂102を定量化治具(図示
省略)で所定量滴下する(図10(a)参照)。次に、
UV硬化樹脂102が滴下された型板101上に、予め
1μm程度の膜厚からなる金属配線103が形成された
ガラス基板104を、金属配線103を型板101に向
けてUV硬化樹脂102を挟むように接触させる(図1
0(b)参照)。金属配線103は、例えばスパッタ法
等によってガラス基板104上に銅等の金属膜層を形成
した後、フォトリソ法によりパターンニングして形成す
ることができる。次に、型板101とガラス基板104
とでUV硬化樹脂102を挟んだ一対物をプレス機10
5内に入れ、加圧して型板101とガラス基板104を
密着させる(図11(a)参照)。この時、後の工程で
ITO膜等の透明電極と金属配線103が接触して導通
性を保つようにするため、UV硬化樹脂102を金属配
線103の表面上から除去するか、又は極薄く樹脂が残
る程度になるように、型板101とガラス基板104と
を強く、且つ基板全面に均一に密着させる。
に、UV(紫外線)硬化樹脂102を定量化治具(図示
省略)で所定量滴下する(図10(a)参照)。次に、
UV硬化樹脂102が滴下された型板101上に、予め
1μm程度の膜厚からなる金属配線103が形成された
ガラス基板104を、金属配線103を型板101に向
けてUV硬化樹脂102を挟むように接触させる(図1
0(b)参照)。金属配線103は、例えばスパッタ法
等によってガラス基板104上に銅等の金属膜層を形成
した後、フォトリソ法によりパターンニングして形成す
ることができる。次に、型板101とガラス基板104
とでUV硬化樹脂102を挟んだ一対物をプレス機10
5内に入れ、加圧して型板101とガラス基板104を
密着させる(図11(a)参照)。この時、後の工程で
ITO膜等の透明電極と金属配線103が接触して導通
性を保つようにするため、UV硬化樹脂102を金属配
線103の表面上から除去するか、又は極薄く樹脂が残
る程度になるように、型板101とガラス基板104と
を強く、且つ基板全面に均一に密着させる。
【0008】次に、このUV硬化樹脂102を硬化させ
るために、型板101とガラス基板104の一体物をプ
レス機105内から取り出し、型板101側からUV
(紫外線)光106を照射してUV硬化樹脂102を硬
化させる(図11(b)参照)。
るために、型板101とガラス基板104の一体物をプ
レス機105内から取り出し、型板101側からUV
(紫外線)光106を照射してUV硬化樹脂102を硬
化させる(図11(b)参照)。
【0009】次に、離型治具(図示省略)により型板1
01からガラス基板104とUV硬化樹脂102の一体
物を剥離し(図11(c),(d)参照)、UV硬化樹
脂102上に金属配線103と電気的に接するようにし
てITO膜からなる透明電極107を形成して、UV硬
化樹脂102を埋め込んだ電極基板(配線基板)100
を得ていた(図11(e)参照)。
01からガラス基板104とUV硬化樹脂102の一体
物を剥離し(図11(c),(d)参照)、UV硬化樹
脂102上に金属配線103と電気的に接するようにし
てITO膜からなる透明電極107を形成して、UV硬
化樹脂102を埋め込んだ電極基板(配線基板)100
を得ていた(図11(e)参照)。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の製造方法によって作製される電極基板(配線基板)
100では、金属配線103の金属として、体積抵抗値
が2〜10×10-8Ωmと最も小さいCu(銅)が一般
的に用いられている。銅で形成した金属配線103は、
他の金属を用いた場合に比べて膜厚を薄く設定でき、且
つ材料費が安価なことから最も経済的である。
来の製造方法によって作製される電極基板(配線基板)
100では、金属配線103の金属として、体積抵抗値
が2〜10×10-8Ωmと最も小さいCu(銅)が一般
的に用いられている。銅で形成した金属配線103は、
他の金属を用いた場合に比べて膜厚を薄く設定でき、且
つ材料費が安価なことから最も経済的である。
【0011】しかしながら、銅を金属配線103として
用いた場合、銅で形成された金属配線103はガラス基
板104との密着力が小さいために、図11(c),
(d)に示した離型工程において、離型治具(図示省
略)により型板101からガラス基板104とUV硬化
樹脂102の一体物を剥離する際に、ガラス基板104
から金属配線103が剥離する恐れがあり、得られる電
極基板(配線基板)100の歩留りが大幅に低下すると
いう問題点があった。
用いた場合、銅で形成された金属配線103はガラス基
板104との密着力が小さいために、図11(c),
(d)に示した離型工程において、離型治具(図示省
略)により型板101からガラス基板104とUV硬化
樹脂102の一体物を剥離する際に、ガラス基板104
から金属配線103が剥離する恐れがあり、得られる電
極基板(配線基板)100の歩留りが大幅に低下すると
いう問題点があった。
【0012】また、金属配線103を形成する銅は酸化
しやすい金属であり、図11(e)に示した工程でIT
O膜等の透明電極107を金属配線103上に形成する
際に、金属配線103を形成する銅の表面酸化により、
透明電極との安定した電気的導通が得られなくなる問題
点があった。
しやすい金属であり、図11(e)に示した工程でIT
O膜等の透明電極107を金属配線103上に形成する
際に、金属配線103を形成する銅の表面酸化により、
透明電極との安定した電気的導通が得られなくなる問題
点があった。
【0013】そこで、本発明は、金属配線とこの金属配
線を表面に形成する基板との密着性の向上と、金属配線
とその上に形成する透明電極との安定した導通を図るこ
とができる配線基板、その製造方法及び該配線基板を備
えた液晶素子を提供することを目的とする。
線を表面に形成する基板との密着性の向上と、金属配線
とその上に形成する透明電極との安定した導通を図るこ
とができる配線基板、その製造方法及び該配線基板を備
えた液晶素子を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記のような問題を解決
するために、基板表面に配線パターンされた金属配線
と、前記金属配線の間に該金属配線とほぼ同じ厚さで充
填された樹脂と、前記樹脂上に前記金属配線と電気的に
接するようにして形成された透明電極と、を有する配線
基板において、前記金属配線を、前記基板上に該基板と
密着性のよい金属からなる第1の層と、前記第1の層上
に低抵抗の金属からなる第2の層と、前記第2の層上に
該第2の層の酸化を防止する金属からなる第3の層を順
に形成して多層構造としたことを特徴としている。
するために、基板表面に配線パターンされた金属配線
と、前記金属配線の間に該金属配線とほぼ同じ厚さで充
填された樹脂と、前記樹脂上に前記金属配線と電気的に
接するようにして形成された透明電極と、を有する配線
基板において、前記金属配線を、前記基板上に該基板と
密着性のよい金属からなる第1の層と、前記第1の層上
に低抵抗の金属からなる第2の層と、前記第2の層上に
該第2の層の酸化を防止する金属からなる第3の層を順
に形成して多層構造としたことを特徴としている。
【0015】また、基板上に金属配線を形成する第1の
工程と、前記金属配線の間に樹脂を充填する第2の工程
と、前記樹脂に光を照射して硬化させる第3の工程と、
前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
前記透明電極を形成する第4の工程と、を有する配線基
板の製造方法において、前記第1の工程で、前記基板上
に該基板と密着性のよい金属からなる第1の層を形成し
て、前記第1の層上に低抵抗の金属からなる第2の層
し、更に、前記第2の層上に該第2の層の酸化を防止す
る金属からなる第3の層を形成して多層構造の前記金属
配線を形成することを特徴としている。
工程と、前記金属配線の間に樹脂を充填する第2の工程
と、前記樹脂に光を照射して硬化させる第3の工程と、
前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
前記透明電極を形成する第4の工程と、を有する配線基
板の製造方法において、前記第1の工程で、前記基板上
に該基板と密着性のよい金属からなる第1の層を形成し
て、前記第1の層上に低抵抗の金属からなる第2の層
し、更に、前記第2の層上に該第2の層の酸化を防止す
る金属からなる第3の層を形成して多層構造の前記金属
配線を形成することを特徴としている。
【0016】また、互いに対向するように配置された一
対の電極基板の間に液晶を挟持してなる液晶素子におい
て、少なくとも一方の前記電極基板は、基板と、前記基
板表面に配線パターンされた金属配線と、前記金属配線
の間に該金属配線とほぼ同じ厚さに充填された樹脂と、
前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
形成された透明電極と、からなり、前記金属配線を、前
記基板上に該基板と密着性のよい金属からなる第1の層
と、前記第1の層上に低抵抗の金属からなる第2の層
と、前記第2の層上に該第2の層の酸化を防止する金属
からなる第3の層を順に形成して多層構造としたことを
特徴としている。
対の電極基板の間に液晶を挟持してなる液晶素子におい
て、少なくとも一方の前記電極基板は、基板と、前記基
板表面に配線パターンされた金属配線と、前記金属配線
の間に該金属配線とほぼ同じ厚さに充填された樹脂と、
前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
形成された透明電極と、からなり、前記金属配線を、前
記基板上に該基板と密着性のよい金属からなる第1の層
と、前記第1の層上に低抵抗の金属からなる第2の層
と、前記第2の層上に該第2の層の酸化を防止する金属
からなる第3の層を順に形成して多層構造としたことを
特徴としている。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。
施の形態を説明する。
【0018】図1は、本発明の第1の実施の形態に係る
配線基板を備えた液晶素子を示す概略断面図である。こ
の液晶素子1は、偏光板2a,2b間に対向して配置さ
れた一対の配線基板である電極基板3a,3bを備えて
おり、電極基板3a,3bは、径が均一な粒状のスペー
サ4により所定のセルギャップ(例えば、1.5μm)
で貼り付けられており、その間に電界に対して双安定性
を有する強誘電性液晶であるカイラルスメクティック液
晶5が注入され、シール部材(図示省略)によって封止
されている。
配線基板を備えた液晶素子を示す概略断面図である。こ
の液晶素子1は、偏光板2a,2b間に対向して配置さ
れた一対の配線基板である電極基板3a,3bを備えて
おり、電極基板3a,3bは、径が均一な粒状のスペー
サ4により所定のセルギャップ(例えば、1.5μm)
で貼り付けられており、その間に電界に対して双安定性
を有する強誘電性液晶であるカイラルスメクティック液
晶5が注入され、シール部材(図示省略)によって封止
されている。
【0019】電極基板(配線基板)3a,3bは、ガラ
ス基板6a,6bと、ガラス基板6a,6b上で絶縁膜
であるUV(紫外線)硬化樹脂7(電極基板3b側は図
示されていない)内に埋め込まれている3層構造の金属
配線8a,8bと、金属配線8a,8b上に形成されて
金属配線8a,8bと電気的に接しているITO膜から
なる透明電極9a,9bとでそれぞれ構成されている。
透明電極9a,9b上には、配向膜10a,10bがそ
れぞれ形成されている。
ス基板6a,6bと、ガラス基板6a,6b上で絶縁膜
であるUV(紫外線)硬化樹脂7(電極基板3b側は図
示されていない)内に埋め込まれている3層構造の金属
配線8a,8bと、金属配線8a,8b上に形成されて
金属配線8a,8bと電気的に接しているITO膜から
なる透明電極9a,9bとでそれぞれ構成されている。
透明電極9a,9b上には、配向膜10a,10bがそ
れぞれ形成されている。
【0020】各電極基板3a,3bの金属配線8a,8
b、透明電極9a,9bは、ストライプ状にそれぞれ形
成されて単純マトリクス配置され、その交差部で画素が
形成されている。
b、透明電極9a,9bは、ストライプ状にそれぞれ形
成されて単純マトリクス配置され、その交差部で画素が
形成されている。
【0021】ガラス基板6a,6bは、液晶基板用とし
てよく用いられる厚さが1mm程度で、材質はソーダガ
ラス(青板ガラス)のような一般的なものでよく、両面
を研磨した平行度のよいものが好ましい。
てよく用いられる厚さが1mm程度で、材質はソーダガ
ラス(青板ガラス)のような一般的なものでよく、両面
を研磨した平行度のよいものが好ましい。
【0022】UV硬化樹脂7は、UV硬化型樹脂モノマ
ー、オリゴマー及び光開始剤の混合物であり、アクリル
系、エポキシ系、エン・チオール系等のいかなる重合方
式の物でもよいが、電極基板作製工程であるITOスパ
ッタ成膜工程や配向膜焼成工程に耐えうる耐熱性、耐薬
品性、耐洗浄性を備えていることが必要である。例え
ば、主成分である反応性オリゴマーに耐熱性のある分子
構造を導入したものや、多官能モノマーにより架橋密度
を高めたものが好ましい。
ー、オリゴマー及び光開始剤の混合物であり、アクリル
系、エポキシ系、エン・チオール系等のいかなる重合方
式の物でもよいが、電極基板作製工程であるITOスパ
ッタ成膜工程や配向膜焼成工程に耐えうる耐熱性、耐薬
品性、耐洗浄性を備えていることが必要である。例え
ば、主成分である反応性オリゴマーに耐熱性のある分子
構造を導入したものや、多官能モノマーにより架橋密度
を高めたものが好ましい。
【0023】尚、UV硬化樹脂7にはUV(紫外線)光
が照射されるが、UV硬化樹脂以外にも、例えば可視光
や赤外線光等の照射によって硬化する樹脂を用いること
もできる。
が照射されるが、UV硬化樹脂以外にも、例えば可視光
や赤外線光等の照射によって硬化する樹脂を用いること
もできる。
【0024】金属配線8a,8bは、それぞれガラス基
板6a,6b上に形成される下地層11a,11b、そ
の上に低抵抗金属層12a,12b、更にその上に保護
層13a,13bを形成した3層構造で構成されてい
る。
板6a,6b上に形成される下地層11a,11b、そ
の上に低抵抗金属層12a,12b、更にその上に保護
層13a,13bを形成した3層構造で構成されてい
る。
【0025】下地層11a,11bとしては、例えばT
i(チタン),Mo(モリブデン),W(タングステ
ン),Al(アルミニウム),Ta(タンタル),Ni
(ニッケル)等のガラス基板6a,6bとの密着性のよ
い金属、あるいはそれらの合金からなる薄膜が好適に用
いられる。また、低抵抗金属層12a,12bとして
は、例えば低抵抗のCu(銅)からなる薄膜が好適に用
いられる。また、保護層13a,13bとしては、例え
ばMo(モリブデン),Ta(タンタル),W(タング
ステン),Ti(チタン)等の高融点金属、あるいはそ
れらの合金からなる酸化防止膜として機能する薄膜が好
適に用いられる。
i(チタン),Mo(モリブデン),W(タングステ
ン),Al(アルミニウム),Ta(タンタル),Ni
(ニッケル)等のガラス基板6a,6bとの密着性のよ
い金属、あるいはそれらの合金からなる薄膜が好適に用
いられる。また、低抵抗金属層12a,12bとして
は、例えば低抵抗のCu(銅)からなる薄膜が好適に用
いられる。また、保護層13a,13bとしては、例え
ばMo(モリブデン),Ta(タンタル),W(タング
ステン),Ti(チタン)等の高融点金属、あるいはそ
れらの合金からなる酸化防止膜として機能する薄膜が好
適に用いられる。
【0026】次に、上述した液晶素子1の電極基板3
a,3bに適用される本実施の形態に係る配線基板の製
造方法を、図2乃至図4を参照して説明する。
a,3bに適用される本実施の形態に係る配線基板の製
造方法を、図2乃至図4を参照して説明する。
【0027】先ず、例えば寸法300×310mmで厚
さ1.1mmの両面研磨された透明なガラス基板6上の
全面に、例えばスパッタ法によりガラス基板6との密着
性のよいMo(モリブデン)を500Å程度の膜厚で成
膜して下地層11を形成した後、その上に、例えばスパ
ッタ法により低抵抗のCu(銅)を1μm程度の膜厚で
成膜して低抵抗金属層12を形成し、更にその上に、例
えばスパッタ法により酸化防止膜として機能するTa
(タンタル)を500Å程度の膜厚で成膜して保護層1
3を形成した(図2(a)参照)。
さ1.1mmの両面研磨された透明なガラス基板6上の
全面に、例えばスパッタ法によりガラス基板6との密着
性のよいMo(モリブデン)を500Å程度の膜厚で成
膜して下地層11を形成した後、その上に、例えばスパ
ッタ法により低抵抗のCu(銅)を1μm程度の膜厚で
成膜して低抵抗金属層12を形成し、更にその上に、例
えばスパッタ法により酸化防止膜として機能するTa
(タンタル)を500Å程度の膜厚で成膜して保護層1
3を形成した(図2(a)参照)。
【0028】次に、フォトリソグラフィー法によって、
この保護層13上にフォトレジスト(図示省略)をスピ
ンコート法により2μm程度の膜厚で全面塗布してプリ
ベークし、所望パターンのフォトマスク(図示省略)を
用いて露光装置(例えば、キヤノン(株)社製、商品
名:MPA−1500)により、例えば80mmJ/c
m2 のエネルギーで露光し、フォトマスク(図示省略)
を現像、ポストベークしてフォトレジストパターン(図
示省略)を形成した後、エッチング液によりエッチング
処理を施して、ガラス基板6上に、例えば幅20μmで
ピッチ320μmのストライプ形状の下地層11、低抵
抗金属層12、保護層13の3層からなる金属配線8を
パターンニングした(図2(b)参照)。
この保護層13上にフォトレジスト(図示省略)をスピ
ンコート法により2μm程度の膜厚で全面塗布してプリ
ベークし、所望パターンのフォトマスク(図示省略)を
用いて露光装置(例えば、キヤノン(株)社製、商品
名:MPA−1500)により、例えば80mmJ/c
m2 のエネルギーで露光し、フォトマスク(図示省略)
を現像、ポストベークしてフォトレジストパターン(図
示省略)を形成した後、エッチング液によりエッチング
処理を施して、ガラス基板6上に、例えば幅20μmで
ピッチ320μmのストライプ形状の下地層11、低抵
抗金属層12、保護層13の3層からなる金属配線8を
パターンニングした(図2(b)参照)。
【0029】次に、平滑で透明な型板14の表面上に、
UV(紫外線)硬化樹脂(例えば、ペンタエリスリトー
ルトリアクリレート50重量部、ネオペンチルグリコー
ルジアクリレート50重量部、1−ヒドロキシシクロヘ
キシルフェニルケトン2重量部からなる樹脂)7を定量
化治具(図示省略)で所定量滴下し(図2(c)参
照)、このUV硬化樹脂7が滴下された型板14に、図
2(b)で示した金属配線8が形成されたガラス基板6
を、金属配線8側を型板14に向けてUV硬化樹脂7を
挟むように接触させる(図2(d)参照)。
UV(紫外線)硬化樹脂(例えば、ペンタエリスリトー
ルトリアクリレート50重量部、ネオペンチルグリコー
ルジアクリレート50重量部、1−ヒドロキシシクロヘ
キシルフェニルケトン2重量部からなる樹脂)7を定量
化治具(図示省略)で所定量滴下し(図2(c)参
照)、このUV硬化樹脂7が滴下された型板14に、図
2(b)で示した金属配線8が形成されたガラス基板6
を、金属配線8側を型板14に向けてUV硬化樹脂7を
挟むように接触させる(図2(d)参照)。
【0030】次に、UV硬化樹脂7を挟んだガラス基板
6と型板14の一体物に対して、プレス機15で上下か
ら例えば1分間かけて所定の圧力(例えば、プレス圧3
トン)を加えて全面にわたって密着させる(図3(a)
参照)。この時、後の工程でITO膜等の透明電極と金
属配線8が接触して導通性を保つようにするため、UV
硬化樹脂7を金属配線8の表面上から除去するか、又は
極薄く樹脂が残る程度になるように、型板14とガラス
基板6とを強く、且つ基板全面に均一に密着させる。
6と型板14の一体物に対して、プレス機15で上下か
ら例えば1分間かけて所定の圧力(例えば、プレス圧3
トン)を加えて全面にわたって密着させる(図3(a)
参照)。この時、後の工程でITO膜等の透明電極と金
属配線8が接触して導通性を保つようにするため、UV
硬化樹脂7を金属配線8の表面上から除去するか、又は
極薄く樹脂が残る程度になるように、型板14とガラス
基板6とを強く、且つ基板全面に均一に密着させる。
【0031】その後(例えば、約10分後)、プレス機
15から取り外したガラス基板6と型板14の一体物に
対し、型板14側からUV光(例えば、100wの高圧
水銀ランプ4本で構成された紫外線ランプから照射され
るUV光)16を照射してUV硬化樹脂7を硬化させる
(図3(b)参照)。
15から取り外したガラス基板6と型板14の一体物に
対し、型板14側からUV光(例えば、100wの高圧
水銀ランプ4本で構成された紫外線ランプから照射され
るUV光)16を照射してUV硬化樹脂7を硬化させる
(図3(b)参照)。
【0032】尚、UV硬化樹脂7を加圧するプレス機1
4としては、例えば、油圧シリンダーやエアーシリンダ
ーによるプレス機、ロールプレス機等を用いることがで
きる。また、プレス機14で加圧する際に、電熱ヒータ
又は加熱流体等に通して加熱しておくことにより、UV
硬化樹脂7の粘土が低下してガラス基板6上に良好に広
がる。
4としては、例えば、油圧シリンダーやエアーシリンダ
ーによるプレス機、ロールプレス機等を用いることがで
きる。また、プレス機14で加圧する際に、電熱ヒータ
又は加熱流体等に通して加熱しておくことにより、UV
硬化樹脂7の粘土が低下してガラス基板6上に良好に広
がる。
【0033】次に、離型治具(図示省略)により型板1
4からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離し
(図3(c),(d)参照)、UV硬化樹脂7上に金属
配線8と電気的に接するように金属配線8の配線パター
ンに合わせて、例えば幅300μmのITO膜からなる
透明電極9をスパッタ形成してパターンニングし、その
上に配向膜(図示省略)を形成して、配線基板(図1の
液晶素子1の電極基板3a,3bに相当している)3を
得た(図4参照)。
4からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離し
(図3(c),(d)参照)、UV硬化樹脂7上に金属
配線8と電気的に接するように金属配線8の配線パター
ンに合わせて、例えば幅300μmのITO膜からなる
透明電極9をスパッタ形成してパターンニングし、その
上に配向膜(図示省略)を形成して、配線基板(図1の
液晶素子1の電極基板3a,3bに相当している)3を
得た(図4参照)。
【0034】そして、この配線基板3を2枚作製して対
向配置し、1.5μm程度のセルギャップで貼り合わせ
てその間にカイラルスメクティック液晶を注入すること
によって、図1に示した液晶素子1を得た。
向配置し、1.5μm程度のセルギャップで貼り合わせ
てその間にカイラルスメクティック液晶を注入すること
によって、図1に示した液晶素子1を得た。
【0035】このように、本実施の形態では、金属配線
8を下地層11、低抵抗金属層12、保護層13の3層
とし、ガラス基板6の表面にガラス基板6と密着性のよ
い下地層(本実施の形態ではMo(モリブデン)膜)1
1を形成し、中間層の低抵抗金属層(本実施の形態では
Cu(銅)膜)12上に酸化防止膜として機能する保護
層(本実施の形態ではTa(タンタル)膜)13を形成
した構造により、図3(c),(d)に示した離型工程
において、離型治具(図示省略)により型板14からガ
ラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離する際に、
ガラス基板6と金属配線8の下地層11との剥離が抑制
されて、歩留りの大幅な向上を図ることができた。
8を下地層11、低抵抗金属層12、保護層13の3層
とし、ガラス基板6の表面にガラス基板6と密着性のよ
い下地層(本実施の形態ではMo(モリブデン)膜)1
1を形成し、中間層の低抵抗金属層(本実施の形態では
Cu(銅)膜)12上に酸化防止膜として機能する保護
層(本実施の形態ではTa(タンタル)膜)13を形成
した構造により、図3(c),(d)に示した離型工程
において、離型治具(図示省略)により型板14からガ
ラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離する際に、
ガラス基板6と金属配線8の下地層11との剥離が抑制
されて、歩留りの大幅な向上を図ることができた。
【0036】更に、金属配線8の低抵抗金属層12上に
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
【0037】また、この金属配線8を有する配線基板
(図1の液晶素子1の電極基板3a,3bに相当してい
る)3を備えた液晶素子1は、ガラス基板6a,6bと
金属配線8a,8bの剥離が抑制され、且つ金属配線8
a,8bと透明電極9a,9bとが安定して導通するこ
とにより、高品位な表示を行うことができる。
(図1の液晶素子1の電極基板3a,3bに相当してい
る)3を備えた液晶素子1は、ガラス基板6a,6bと
金属配線8a,8bの剥離が抑制され、且つ金属配線8
a,8bと透明電極9a,9bとが安定して導通するこ
とにより、高品位な表示を行うことができる。
【0038】また、この液晶素子1は、透明電極9a,
9bの下に金属配線8a,8bが併設される構成によ
り、電極の抵抗値が小さくなることによって、強誘電性
液晶(本実施の形態ではカイラルスメクティック液晶)
を用いていても電圧波形の遅延を低減することができ
る。
9bの下に金属配線8a,8bが併設される構成によ
り、電極の抵抗値が小さくなることによって、強誘電性
液晶(本実施の形態ではカイラルスメクティック液晶)
を用いていても電圧波形の遅延を低減することができ
る。
【0039】更に、この液晶素子1は、金属配線8a,
8bの併設により透明電極9a,9bの膜厚を厚くする
必要がないので、透明電極9a,9bの透過率が下がっ
てこの透明電極9a,9bが認識されることはない。
8bの併設により透明電極9a,9bの膜厚を厚くする
必要がないので、透明電極9a,9bの透過率が下がっ
てこの透明電極9a,9bが認識されることはない。
【0040】また、上述した実施の形態との比較のため
に、金属配線8の保護層13をTa(タンタル)の代わ
りにAl(アルミニウム)で形成したところ、その上の
透明電極9との間で導通不良の配線が確認された。これ
は、Al(アルミニウム)が酸化して表面にAl2 O3
の不導体膜が形成されたことによるものと考えられる。
に、金属配線8の保護層13をTa(タンタル)の代わ
りにAl(アルミニウム)で形成したところ、その上の
透明電極9との間で導通不良の配線が確認された。これ
は、Al(アルミニウム)が酸化して表面にAl2 O3
の不導体膜が形成されたことによるものと考えられる。
【0041】また、Au(金)やPt(白金)等の酸化
しない金属を保護層13として用いた場合、Au(金)
は低抵抗金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12
と密着性に難があり、また、Au(金)及びPt(白
金)はパターンニングの際に特殊なエッチャントを用い
らければならず、エッチング工程が複雑になり効率的で
ない。
しない金属を保護層13として用いた場合、Au(金)
は低抵抗金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12
と密着性に難があり、また、Au(金)及びPt(白
金)はパターンニングの際に特殊なエッチャントを用い
らければならず、エッチング工程が複雑になり効率的で
ない。
【0042】更に、Cr(クロム)を下地層11及び保
護層13として用いた場合、Cr(クロム)はパターン
ニングの際に発生するエッチング廃液が有毒であるため
に、特別な廃液処理装置を必要とし、コストが高くな
る。
護層13として用いた場合、Cr(クロム)はパターン
ニングの際に発生するエッチング廃液が有毒であるため
に、特別な廃液処理装置を必要とし、コストが高くな
る。
【0043】以上のことから、下地層11に用いる金属
としては、上述したようにMo(モリブデン),Ti
(チタン),W(タングステン),Al(アルミニウ
ム),Ta(タンタル),Ni(ニッケル)、あるいは
それらの合金が適しており、保護層13に用いる金属と
しては、上述したようにTa(タンタル),Mo(モリ
ブデン),W(タングステン),Ti(チタン)、ある
いはそれらの合金が適している。
としては、上述したようにMo(モリブデン),Ti
(チタン),W(タングステン),Al(アルミニウ
ム),Ta(タンタル),Ni(ニッケル)、あるいは
それらの合金が適しており、保護層13に用いる金属と
しては、上述したようにTa(タンタル),Mo(モリ
ブデン),W(タングステン),Ti(チタン)、ある
いはそれらの合金が適している。
【0044】図5(a),(b)は、本発明の第2の実
施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板3a,3
bに適用される配線基板を模式的に示したものである。
施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板3a,3
bに適用される配線基板を模式的に示したものである。
【0045】本実施の形態では、図5(a)に示すよう
に、例えば寸法300×310mmで厚さ1.1mmの
両面研磨された透明なガラス基板6上の全面に、例えば
スパッタ法によりガラス基板6との密着性のよい金属
(例えば、Mo)を500Å程度の膜厚で成膜して下地
層11を形成し、その上に、下地層11の金属(例え
ば、Mo)と、下地層11上に形成される低抵抗金属層
12の金属(例えば、Cu)とを例えばスパッタ法によ
り同時にスパッタリングを行い、500Å程度の膜厚で
第1のミキシング層17を成膜した後、この第1のミキ
シング層17上に、例えばスパッタ法により低抵抗の金
属(例えば、Cu)を1μm程度の膜厚で成膜して低抵
抗金属層12を形成する。
に、例えば寸法300×310mmで厚さ1.1mmの
両面研磨された透明なガラス基板6上の全面に、例えば
スパッタ法によりガラス基板6との密着性のよい金属
(例えば、Mo)を500Å程度の膜厚で成膜して下地
層11を形成し、その上に、下地層11の金属(例え
ば、Mo)と、下地層11上に形成される低抵抗金属層
12の金属(例えば、Cu)とを例えばスパッタ法によ
り同時にスパッタリングを行い、500Å程度の膜厚で
第1のミキシング層17を成膜した後、この第1のミキ
シング層17上に、例えばスパッタ法により低抵抗の金
属(例えば、Cu)を1μm程度の膜厚で成膜して低抵
抗金属層12を形成する。
【0046】次に、この低抵抗金属層12上に低抵抗金
属層12の金属(例えば、Cu)と、保護層13の金属
(例えば、Ta)とを例えばスパッタ法により同時にス
パッタリングを行い、500Å程度の膜厚で第2のミキ
シング層18を成膜した後、この第2のミキシング層1
8上に、例えばスパッタ法により酸化防止膜として機能
する金属(例えば、Ta)を500Å程度の膜厚で成膜
して保護層13を形成する。
属層12の金属(例えば、Cu)と、保護層13の金属
(例えば、Ta)とを例えばスパッタ法により同時にス
パッタリングを行い、500Å程度の膜厚で第2のミキ
シング層18を成膜した後、この第2のミキシング層1
8上に、例えばスパッタ法により酸化防止膜として機能
する金属(例えば、Ta)を500Å程度の膜厚で成膜
して保護層13を形成する。
【0047】その後、第1の実施の形態と同様の工程を
経て、下地層11,第1のミキシング層17,低抵抗金
属層12,第2のミキシング層18及び保護層13で構
成される金属配線19をUV硬化樹脂7で埋め込み、金
属配線19上に透明電極9、配向膜(図示省略)を形成
して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基板3a,3
bに相当している)20を得た(図5(b)参照)。
経て、下地層11,第1のミキシング層17,低抵抗金
属層12,第2のミキシング層18及び保護層13で構
成される金属配線19をUV硬化樹脂7で埋め込み、金
属配線19上に透明電極9、配向膜(図示省略)を形成
して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基板3a,3
bに相当している)20を得た(図5(b)参照)。
【0048】このように、本実施の形態では、第1の実
施の形態で得られる効果以外に、金属配線19の下地層
11と低抵抗金属層12の界面、及び低抵抗金属層12
と保護層13の界面に、それぞれの界面を構成する元素
が混合した第1のミキシング層17と第2のミキシング
層18を形成した構造により、第1の実施の形態と同様
に離型工程において、離型治具(図示省略)により型板
14からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離
する際に、ガラス基板6と金属配線19の下地層11、
及び低抵抗金属層12と保護層13は、それぞれ第1の
ミキシング層17と第2のミキシング層18を介して良
好に密着しているので、それぞれの界面での剥離は全く
観察されなかった。
施の形態で得られる効果以外に、金属配線19の下地層
11と低抵抗金属層12の界面、及び低抵抗金属層12
と保護層13の界面に、それぞれの界面を構成する元素
が混合した第1のミキシング層17と第2のミキシング
層18を形成した構造により、第1の実施の形態と同様
に離型工程において、離型治具(図示省略)により型板
14からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離
する際に、ガラス基板6と金属配線19の下地層11、
及び低抵抗金属層12と保護層13は、それぞれ第1の
ミキシング層17と第2のミキシング層18を介して良
好に密着しているので、それぞれの界面での剥離は全く
観察されなかった。
【0049】図6(a),(b)は、本発明の第3の実
施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板3a,3
bに適用される配線基板を模式的に示したものである。
施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板3a,3
bに適用される配線基板を模式的に示したものである。
【0050】本実施の形態では、例えば寸法300×3
10mmで厚さ1.1mmの両面研磨された透明なガラ
ス基板6上の全面に、不飽和の金属酸化膜層21を例え
ばスパッタ法により500Å程度の膜厚で形成し(図6
(a)参照)、その上に、第1の実施の形態と同様、下
地層11、低抵抗金属層12、保護層13を例えばスパ
ッタ形成して、フォトリソエッチング法により幅20μ
m、ピッチ320μmのストライプ形状のパターンニン
グして3層構造からなる金属配線22を作製した。
10mmで厚さ1.1mmの両面研磨された透明なガラ
ス基板6上の全面に、不飽和の金属酸化膜層21を例え
ばスパッタ法により500Å程度の膜厚で形成し(図6
(a)参照)、その上に、第1の実施の形態と同様、下
地層11、低抵抗金属層12、保護層13を例えばスパ
ッタ形成して、フォトリソエッチング法により幅20μ
m、ピッチ320μmのストライプ形状のパターンニン
グして3層構造からなる金属配線22を作製した。
【0051】金属酸化膜21は、例えばMo,Ti,T
a,Ni,W、あるいはそれらの合金のいずれかをスパ
ッタ用ターゲットとして用い、Arガス中に酸素を混合
したプラズマ中でスパッタリングを行う反応性スパッタ
法によって形成した。
a,Ni,W、あるいはそれらの合金のいずれかをスパ
ッタ用ターゲットとして用い、Arガス中に酸素を混合
したプラズマ中でスパッタリングを行う反応性スパッタ
法によって形成した。
【0052】その後、第1の実施の形態と同様の工程を
経て、金属配線22をUV硬化樹脂7で埋め込み、金属
配線22上に透明電極9、配向膜(図示省略)を形成し
て、配線基板(図1の液晶素子1の電極基板3a,3b
に相当している)23を得た(図6(b)参照)。
経て、金属配線22をUV硬化樹脂7で埋め込み、金属
配線22上に透明電極9、配向膜(図示省略)を形成し
て、配線基板(図1の液晶素子1の電極基板3a,3b
に相当している)23を得た(図6(b)参照)。
【0053】このように、本実施の形態では、ガラス基
板6と金属配線22の間に金属酸化膜21を形成した構
造により、第1の実施の形態で得られる効果以外に、ガ
ラス基板6側から入射する外光のガラス基板6と金属配
線22の界面での反射を金属酸化膜21によって大幅に
低減することができた。この時のガラス基板6と金属配
線22の界面での光の反射率を測定したところ、10%
以下に低減していた。また、この配線基板(図1の液晶
素子1の電極基板3a,3bに相当している)23を備
えた液晶素子は、金属配線22の金属酸化膜21により
外光の反射を低減できるので、表示品質の向上を図るこ
とができる。
板6と金属配線22の間に金属酸化膜21を形成した構
造により、第1の実施の形態で得られる効果以外に、ガ
ラス基板6側から入射する外光のガラス基板6と金属配
線22の界面での反射を金属酸化膜21によって大幅に
低減することができた。この時のガラス基板6と金属配
線22の界面での光の反射率を測定したところ、10%
以下に低減していた。また、この配線基板(図1の液晶
素子1の電極基板3a,3bに相当している)23を備
えた液晶素子は、金属配線22の金属酸化膜21により
外光の反射を低減できるので、表示品質の向上を図るこ
とができる。
【0054】図7(a),(b),(c)は、本発明の
第4の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
第4の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
【0055】本実施の形態では、ガラス基板6上に、第
1の実施の形態と同様、下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13を例えばスパッタ形成して、フォトリソ
エッチング法により幅20μm、ピッチ320μmのス
トライプ形状のパターンニングして3層構造からなる金
属配線8を作製した後、ガラス基板6上の金属配線8間
に赤(R),緑(G),青(B)の各画素で構成される
顔料系のカラーフィルター24を、例えばフォトリソエ
ッチング法により約1μmの膜厚で形成した(図7
(a)参照)。
1の実施の形態と同様、下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13を例えばスパッタ形成して、フォトリソ
エッチング法により幅20μm、ピッチ320μmのス
トライプ形状のパターンニングして3層構造からなる金
属配線8を作製した後、ガラス基板6上の金属配線8間
に赤(R),緑(G),青(B)の各画素で構成される
顔料系のカラーフィルター24を、例えばフォトリソエ
ッチング法により約1μmの膜厚で形成した(図7
(a)参照)。
【0056】その後、第1の実施の形態と同様の工程
で、カラーフィルター24上の各金属配線8間にUV硬
化樹脂7を充填して硬化させ(図7(b)参照)、金属
配線8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μ
m、ピッチ320μmのITO膜からなる透明電極9を
スパッタ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図
示省略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電
極基板3a,3bに相当している)25を得た(図7
(c)参照)。
で、カラーフィルター24上の各金属配線8間にUV硬
化樹脂7を充填して硬化させ(図7(b)参照)、金属
配線8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μ
m、ピッチ320μmのITO膜からなる透明電極9を
スパッタ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図
示省略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電
極基板3a,3bに相当している)25を得た(図7
(c)参照)。
【0057】このように、本実施の形態によれば、カラ
ーフィルター機能を有する配線基板25においても第1
の実施の形態と同様、金属配線8を下地層11、低抵抗
金属層12、保護層13の3層構造とし、ガラス基板6
の表面にガラス基板6と密着性のよい下地層(本実施の
形態ではMo(モリブデン)膜)11を形成し、中間層
の低抵抗金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12
上に酸化防止膜として機能する保護層(本実施の形態で
はTa(タンタル)膜)13を形成した構造により、第
1の実施の形態と同様に、離型治具(図示省略)により
型板14からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を
剥離する際に、ガラス基板6と金属配線8の下地層11
との剥離が抑制されて、歩留りの大幅な向上を図ること
ができた。
ーフィルター機能を有する配線基板25においても第1
の実施の形態と同様、金属配線8を下地層11、低抵抗
金属層12、保護層13の3層構造とし、ガラス基板6
の表面にガラス基板6と密着性のよい下地層(本実施の
形態ではMo(モリブデン)膜)11を形成し、中間層
の低抵抗金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12
上に酸化防止膜として機能する保護層(本実施の形態で
はTa(タンタル)膜)13を形成した構造により、第
1の実施の形態と同様に、離型治具(図示省略)により
型板14からガラス基板6とUV硬化樹脂7の一体物を
剥離する際に、ガラス基板6と金属配線8の下地層11
との剥離が抑制されて、歩留りの大幅な向上を図ること
ができた。
【0058】更に、金属配線8の低抵抗金属層12上に
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
【0059】尚、カラーフィルター24は、フォトリソ
エッチング法以外にも、例えば印刷法、昇華転写法、イ
ンクジェット法によっても形成することができる。
エッチング法以外にも、例えば印刷法、昇華転写法、イ
ンクジェット法によっても形成することができる。
【0060】また、金属配線8には、第2の実施の形態
で示したように、下地層11と低抵抗金属層12の界
面、及び低抵抗金属層12と保護層13の界面に、それ
ぞれの界面を構成する元素が混合した第1のミキシング
層と第2のミキシング層を形成してもよく、更に、第3
の実施の形態で示したように、ガラス基板6と金属配線
8の間に金属酸化膜を形成してもよい。
で示したように、下地層11と低抵抗金属層12の界
面、及び低抵抗金属層12と保護層13の界面に、それ
ぞれの界面を構成する元素が混合した第1のミキシング
層と第2のミキシング層を形成してもよく、更に、第3
の実施の形態で示したように、ガラス基板6と金属配線
8の間に金属酸化膜を形成してもよい。
【0061】図8(a),(b),(c)は、本発明の
第5の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
第5の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
【0062】本実施の形態では、先ず、第1の実施の形
態で用いたガラス基板6上に親水性アクリル系のインク
受容層(カラーフィルター層)26を、例えばスピンコ
ートにより0.8μmの膜厚に形成し、その後、カラー
フィルター用インクジェットプリンタ(図示省略)によ
り水性のカラーフィルター用染料インキを、例えば幅3
00μm、ピッチ320μmで打ち込んでインク受容層
26に染み込ませ、更に、200℃で30分加熱し硬化
処理してカラーフィルター27を形成した(図8(a)
参照)。
態で用いたガラス基板6上に親水性アクリル系のインク
受容層(カラーフィルター層)26を、例えばスピンコ
ートにより0.8μmの膜厚に形成し、その後、カラー
フィルター用インクジェットプリンタ(図示省略)によ
り水性のカラーフィルター用染料インキを、例えば幅3
00μm、ピッチ320μmで打ち込んでインク受容層
26に染み込ませ、更に、200℃で30分加熱し硬化
処理してカラーフィルター27を形成した(図8(a)
参照)。
【0063】そして、このカラーフィルター27上に第
1の実施の形態と同様、下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13を例えばスパッタ形成して、フォトリソ
エッチング法により幅20μm、ピッチ320μmのス
トライプ形状のパターンニングして3層構造からなる金
属配線8を作製した(図8(a)参照)。
1の実施の形態と同様、下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13を例えばスパッタ形成して、フォトリソ
エッチング法により幅20μm、ピッチ320μmのス
トライプ形状のパターンニングして3層構造からなる金
属配線8を作製した(図8(a)参照)。
【0064】その後、第1の実施の形態と同様の工程で
カラーフィルター27上の各金属配線8間にUV硬化樹
脂7を充填して硬化させ(図8(b)参照)、金属配線
8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μm、ピ
ッチ320μmのITO膜からなる透明電極9をスパッ
タ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図示省
略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基
板3a,3bに相当している)28を得た(図8(c)
参照)。
カラーフィルター27上の各金属配線8間にUV硬化樹
脂7を充填して硬化させ(図8(b)参照)、金属配線
8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μm、ピ
ッチ320μmのITO膜からなる透明電極9をスパッ
タ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図示省
略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基
板3a,3bに相当している)28を得た(図8(c)
参照)。
【0065】このように、本実施の形態によれば、カラ
ーフィルター27上に金属配線8を有する配線基板28
においても第1の実施の形態と同様、金属配線8を下地
層11、低抵抗金属層12、保護層13の3層構造と
し、ガラス基板6の表面にガラス基板6と密着性のよい
下地層(本実施の形態ではMo(モリブデン)膜)11
を形成し、中間層の低抵抗金属層(本実施の形態ではC
u(銅)膜)12上に酸化防止膜として機能する保護層
(本実施の形態ではTa(タンタル)膜)13を形成し
た構造により、第1の実施の形態と同様に離型工程にお
いて、離型治具(図示省略)により型板14からガラス
基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離する際に、ガラ
ス基板6と金属配線8の下地層11との剥離が抑制され
て、歩留りの大幅な向上を図ることができた。
ーフィルター27上に金属配線8を有する配線基板28
においても第1の実施の形態と同様、金属配線8を下地
層11、低抵抗金属層12、保護層13の3層構造と
し、ガラス基板6の表面にガラス基板6と密着性のよい
下地層(本実施の形態ではMo(モリブデン)膜)11
を形成し、中間層の低抵抗金属層(本実施の形態ではC
u(銅)膜)12上に酸化防止膜として機能する保護層
(本実施の形態ではTa(タンタル)膜)13を形成し
た構造により、第1の実施の形態と同様に離型工程にお
いて、離型治具(図示省略)により型板14からガラス
基板6とUV硬化樹脂7の一体物を剥離する際に、ガラ
ス基板6と金属配線8の下地層11との剥離が抑制され
て、歩留りの大幅な向上を図ることができた。
【0066】更に、金属配線8の低抵抗金属層12上に
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
【0067】図9(a),(b),(c)は、本発明の
第6の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
第6の実施の形態に係る上述した液晶素子1の電極基板
3a,3bに適用される配線基板の製造工程を模式的に
示したものである。
【0068】本実施の形態では、上述した第5の実施の
形態と同様な方法で第1の実施の形態で用いたガラス基
板6上のインク受容層(カラーフィルー層)26にカラ
ーフィルター27を形成し、更に、その表面にカラーフ
ィルー保護層(例えば、ポリアミド系の透明コーティン
グ剤)29を、約0.5μmの膜厚でスピンコート及び
ベーキングにより形成した。その後、このカラーフィル
ー保護層29上に第1の実施の形態と同様、下地層1
1、低抵抗金属層12、保護層13を例えばスパッタ形
成して、フォトリソエッチング法により幅20μm、ピ
ッチ320μmのストライプ形状のパターンニングして
3層構造からなる金属配線8を作製した(図9(a)参
照)。
形態と同様な方法で第1の実施の形態で用いたガラス基
板6上のインク受容層(カラーフィルー層)26にカラ
ーフィルター27を形成し、更に、その表面にカラーフ
ィルー保護層(例えば、ポリアミド系の透明コーティン
グ剤)29を、約0.5μmの膜厚でスピンコート及び
ベーキングにより形成した。その後、このカラーフィル
ー保護層29上に第1の実施の形態と同様、下地層1
1、低抵抗金属層12、保護層13を例えばスパッタ形
成して、フォトリソエッチング法により幅20μm、ピ
ッチ320μmのストライプ形状のパターンニングして
3層構造からなる金属配線8を作製した(図9(a)参
照)。
【0069】その後、第1の実施の形態と同様の工程で
カラーフィルター27上の各金属配線8間にUV硬化樹
脂7を充填して硬化させ(図9(b)参照)、金属配線
8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μm、ピ
ッチ320μmのITO膜からなる透明電極9をスパッ
タ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図示省
略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基
板3a,3bに相当している)30を得た(図8(c)
参照)。
カラーフィルター27上の各金属配線8間にUV硬化樹
脂7を充填して硬化させ(図9(b)参照)、金属配線
8の配線パターンに合わせて、例えば幅300μm、ピ
ッチ320μmのITO膜からなる透明電極9をスパッ
タ形成、パターンニングし、その上に配向膜(図示省
略)を形成して、配線基板(図1の液晶素子1の電極基
板3a,3bに相当している)30を得た(図8(c)
参照)。
【0070】このように、本実施の形態によれば、カラ
ーフィルター27のカラーフィルター保護層29上に金
属配線8を有する配線基板30においても第1の実施の
形態と同様、金属配線8を下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13の3層構造とし、ガラス基板6の表面に
ガラス基板6と密着性のよい下地層(本実施の形態では
Mo(モリブデン)膜)11を形成し、中間層の低抵抗
金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12上に酸化
防止膜として機能する保護層(本実施の形態ではTa
(タンタル)膜)13を形成した構造により、第1の実
施の形態と同様に離型工程において、離型治具(図示省
略)により型板14からガラス基板6とUV硬化樹脂7
の一体物を剥離する際に、ガラス基板6と金属配線8の
下地層11との剥離が抑制されて、歩留りの大幅な向上
を図ることができた。
ーフィルター27のカラーフィルター保護層29上に金
属配線8を有する配線基板30においても第1の実施の
形態と同様、金属配線8を下地層11、低抵抗金属層1
2、保護層13の3層構造とし、ガラス基板6の表面に
ガラス基板6と密着性のよい下地層(本実施の形態では
Mo(モリブデン)膜)11を形成し、中間層の低抵抗
金属層(本実施の形態ではCu(銅)膜)12上に酸化
防止膜として機能する保護層(本実施の形態ではTa
(タンタル)膜)13を形成した構造により、第1の実
施の形態と同様に離型工程において、離型治具(図示省
略)により型板14からガラス基板6とUV硬化樹脂7
の一体物を剥離する際に、ガラス基板6と金属配線8の
下地層11との剥離が抑制されて、歩留りの大幅な向上
を図ることができた。
【0071】更に、金属配線8の低抵抗金属層12上に
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
酸化防止膜として機能する保護層13を形成したことに
より、金属配線8と透明電極9との安定した導通を得る
ことができた。
【0072】また、カラーフィルター27上に形成した
カラーフィルター保護層29により、フォトリソエッチ
ング法により金属配線8を形成した際に、酸等のエッチ
ング液によるカラーフィルター27の脱色等を防止する
ことができる。
カラーフィルター保護層29により、フォトリソエッチ
ング法により金属配線8を形成した際に、酸等のエッチ
ング液によるカラーフィルター27の脱色等を防止する
ことができる。
【0073】更に、上述した第4乃至第6の各実施の形
態において、第2の実施の形態で示したように、金属配
線8の下地層11と低抵抗金属層12の界面、及び低抵
抗金属層12と保護層13の界面に、それぞれの界面を
構成する元素が混合した第1のミキシング層と第2のミ
キシング層を形成してもよく、更に、第3の実施の形態
で示したように、ガラス基板6と金属配線8の間に金属
酸化膜を形成してもよい。
態において、第2の実施の形態で示したように、金属配
線8の下地層11と低抵抗金属層12の界面、及び低抵
抗金属層12と保護層13の界面に、それぞれの界面を
構成する元素が混合した第1のミキシング層と第2のミ
キシング層を形成してもよく、更に、第3の実施の形態
で示したように、ガラス基板6と金属配線8の間に金属
酸化膜を形成してもよい。
【0074】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
金属配線を、基板上に該基板と密着性のよい金属からな
る第1の層と、この第1の層上に低抵抗の金属からなる
第2の層と、この第2の層上に該第2の層の酸化を防止
する金属からなる第3の層を順に形成して多層構造とし
たことにより、基板と金属配線とが良好に密着され、且
つ金属配線と透明電極との安定した導通を図ることがで
きる配線基板を提供することができる。
金属配線を、基板上に該基板と密着性のよい金属からな
る第1の層と、この第1の層上に低抵抗の金属からなる
第2の層と、この第2の層上に該第2の層の酸化を防止
する金属からなる第3の層を順に形成して多層構造とし
たことにより、基板と金属配線とが良好に密着され、且
つ金属配線と透明電極との安定した導通を図ることがで
きる配線基板を提供することができる。
【0075】また、本発明に係る配線基板の製造方法に
よれば、基板上に該基板と密着性のよい金属からなる第
1の層を形成して、この第1の層上に低抵抗の金属から
なる第2の層を形成し、更に、この第2の層上に該第2
の層の酸化を防止する金属からなる第3の層を形成して
多層構造の金属配線を形成することにより、基板と金属
配線とが良好に密着して歩留りが向上し、且つ金属配線
と透明電極との安定した導通を図ることができる。
よれば、基板上に該基板と密着性のよい金属からなる第
1の層を形成して、この第1の層上に低抵抗の金属から
なる第2の層を形成し、更に、この第2の層上に該第2
の層の酸化を防止する金属からなる第3の層を形成して
多層構造の金属配線を形成することにより、基板と金属
配線とが良好に密着して歩留りが向上し、且つ金属配線
と透明電極との安定した導通を図ることができる。
【0076】また、本発明に係る配線基板を備えた液晶
素子によれば、基板と金属配線とが良好に密着され、且
つ金属配線と透明電極との安定して導通することによ
り、高品位な表示を行うことができる。
素子によれば、基板と金属配線とが良好に密着され、且
つ金属配線と透明電極との安定して導通することによ
り、高品位な表示を行うことができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る配線基板を備
えた液晶素子を示す概略断面図。
えた液晶素子を示す概略断面図。
【図2】第1の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は基板上に形成された金
属配線を示す図、(c)は型板上にUV硬化樹脂を滴下
した状態を示す図、(d)は金属配線を形成した基板で
型板上のUV硬化樹脂を挟む状態を示す図。
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は基板上に形成された金
属配線を示す図、(c)は型板上にUV硬化樹脂を滴下
した状態を示す図、(d)は金属配線を形成した基板で
型板上のUV硬化樹脂を挟む状態を示す図。
【図3】第1の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)は基板と型板間に挟んだU
V硬化樹脂をプレス機で加圧している状態を示す図、
(b)はUV硬化樹脂にUV光を照射している状態を示
す図、(c),(d)は型板を基板の金属配線上から剥
離した状態を示す図。
説明するための図で、(a)は基板と型板間に挟んだU
V硬化樹脂をプレス機で加圧している状態を示す図、
(b)はUV硬化樹脂にUV光を照射している状態を示
す図、(c),(d)は型板を基板の金属配線上から剥
離した状態を示す図。
【図4】金属配線上に透明電極を形成して得られた第1
の実施の形態に係る配線基板を示す図。
の実施の形態に係る配線基板を示す図。
【図5】第2の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は金属配線上に透明電極
を形成して得られた第2の実施の形態に係る配線基板を
示す図。
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は金属配線上に透明電極
を形成して得られた第2の実施の形態に係る配線基板を
示す図。
【図6】第3の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は金属配線上に透明電極
を形成して得られた第3の実施の形態に係る配線基板を
示す図。
説明するための図で、(a)は金属配線を形成する金属
層の成膜工程を示す図、(b)は金属配線上に透明電極
を形成して得られた第3の実施の形態に係る配線基板を
示す図。
【図7】第4の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)は金属配線の間にカラーフ
ィルターを形成した状態を示す図、(b)はカラーフィ
ルター上にUV硬化樹脂を充填して硬化した状態を示す
図、(c)はUV硬化樹脂上に透明電極を形成して得ら
れた第4の実施の形態に係る配線基板を示す図。
説明するための図で、(a)は金属配線の間にカラーフ
ィルターを形成した状態を示す図、(b)はカラーフィ
ルター上にUV硬化樹脂を充填して硬化した状態を示す
図、(c)はUV硬化樹脂上に透明電極を形成して得ら
れた第4の実施の形態に係る配線基板を示す図。
【図8】第5の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)はカラーフィルター上に金
属配線を形成した状態を示す図、(b)はカラーフィル
ター上にUV硬化樹脂を充填して硬化した状態を示す
図、(c)はUV硬化樹脂上に透明電極を形成して得ら
れた第5の実施の形態に係る配線基板を示す図。
説明するための図で、(a)はカラーフィルター上に金
属配線を形成した状態を示す図、(b)はカラーフィル
ター上にUV硬化樹脂を充填して硬化した状態を示す
図、(c)はUV硬化樹脂上に透明電極を形成して得ら
れた第5の実施の形態に係る配線基板を示す図。
【図9】第6の実施の形態に係る配線基板の製造方法を
説明するための図で、(a)はカラーフィルター上にカ
ラーフィルター保護層を介して金属配線を形成した状態
を示す図、(b)はカラーフィルター保護層上にUV硬
化樹脂を充填して硬化した状態を示す図、(c)はUV
硬化樹脂上に透明電極を形成して得られた第6の実施の
形態に係る配線基板を示す図。
説明するための図で、(a)はカラーフィルター上にカ
ラーフィルター保護層を介して金属配線を形成した状態
を示す図、(b)はカラーフィルター保護層上にUV硬
化樹脂を充填して硬化した状態を示す図、(c)はUV
硬化樹脂上に透明電極を形成して得られた第6の実施の
形態に係る配線基板を示す図。
【図10】従来例に係る配線基板の製造方法を説明する
ための図で、(a)は型板上にUV硬化樹脂を滴下した
状態を示す図、(b)は金属配線を形成した基板で型板
上のUV硬化樹脂を挟む状態を示す図。
ための図で、(a)は型板上にUV硬化樹脂を滴下した
状態を示す図、(b)は金属配線を形成した基板で型板
上のUV硬化樹脂を挟む状態を示す図。
【図11】従来例に係る配線基板の製造方法を説明する
ための図で、(a)はプレス機により型板でUV硬化樹
脂を加圧した状態を示す図、(b)はUV硬化樹脂にU
V光を照射している状態を示す図、(c),(d)は型
板を基板の金属配線上から剥離した状態を示す図、
(e)は金属配線上に透明電極を形成して得られた従来
例に係る配線基板を示す図。
ための図で、(a)はプレス機により型板でUV硬化樹
脂を加圧した状態を示す図、(b)はUV硬化樹脂にU
V光を照射している状態を示す図、(c),(d)は型
板を基板の金属配線上から剥離した状態を示す図、
(e)は金属配線上に透明電極を形成して得られた従来
例に係る配線基板を示す図。
1 液晶素子 3、3a,3b、20、23、25、28、30
電極基板(配線基板) 5 カイラルスメクティック液晶(液晶) 6、6a,6b ガラス基板(基板) 7 UV硬化樹脂(樹脂) 8、8a,8b 金属配線 9、9a,9b 透明電極 10a,10b 配向膜 11、11a,11b 下地層 12、12a,12b 低抵抗層 13、13a,13b 保護層 14 型板 15 プレス機 16 UV光(光) 17 第1のミキシング層(ミキシング層) 18 第2のミキシング層(ミキシング層) 24,27 カラーフィルター 26 インク受容層 29 カラーフィルター保護層
電極基板(配線基板) 5 カイラルスメクティック液晶(液晶) 6、6a,6b ガラス基板(基板) 7 UV硬化樹脂(樹脂) 8、8a,8b 金属配線 9、9a,9b 透明電極 10a,10b 配向膜 11、11a,11b 下地層 12、12a,12b 低抵抗層 13、13a,13b 保護層 14 型板 15 プレス機 16 UV光(光) 17 第1のミキシング層(ミキシング層) 18 第2のミキシング層(ミキシング層) 24,27 カラーフィルター 26 インク受容層 29 カラーフィルター保護層
Claims (41)
- 【請求項1】 基板表面に配線パターンされた金属配線
と、前記金属配線の間に該金属配線とほぼ同じ厚さで充
填された樹脂と、前記樹脂上に前記金属配線と電気的に
接するようにして形成された透明電極と、を有する配線
基板において、 前記金属配線を、前記基板上に該基板と密着性のよい金
属からなる第1の層と、前記第1の層上に低抵抗の金属
からなる第2の層と、前記第2の層上に該第2の層の酸
化を防止する金属からなる第3の層を順に形成して多層
構造とした、 ことを特徴とする配線基板。 - 【請求項2】 前記第1の層はMo,Ti,W,Al,
Ta,Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形成さ
れる、 請求項1記載の配線基板。 - 【請求項3】 前記第2の層はCu、あるいはその合金
で形成される、 請求項1記載の配線基板。 - 【請求項4】 前記第3の層はMo,Ti,W,Ta,
Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形成される、 請求項1記載の配線基板。 - 【請求項5】 前記第1の層と前記第2の層との界面、
及び前記第2の層と前記第3の層との界面に、それぞれ
の界面を構成する元素が混合したミキシング層をそれぞ
れ形成した、 請求項1乃至4のいずれか1項記載の配線基板。 - 【請求項6】前記基板と前記金属配線の前記第1の層と
の間に、酸素を含有した不飽和の金属酸化膜を形成し
た、 請求項1乃至5のいずれか1項記載の配線基板。 - 【請求項7】 前記金属配線間にカラーフィルターを配
置した、 請求項1乃至6のいずれか1項記載の配線基板。 - 【請求項8】 前記基板と前記金属配線の前記第1の層
との間にカラーフィルターを配置した、 請求項1乃至7のいずれか1項記載の配線基板。 - 【請求項9】 前記カラーフィルターと前記金属配線の
前記第1の層との間に前記カラーフィルターを保護する
カラーフィルター保護層を形成した、 請求項8記載の配線基板。 - 【請求項10】 前記基板はガラス基板である、 請求項1記載の配線基板。
- 【請求項11】 前記透明電極はITO膜である、 請求項1記載の配線基板。
- 【請求項12】 前記樹脂は紫外線硬化樹脂である、 請求項1記載の配線基板。
- 【請求項13】 基板上に金属配線を形成する第1の工
程と、前記金属配線の間に樹脂を充填する第2の工程
と、前記樹脂に光を照射して硬化させる第3の工程と、
前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
前記透明電極を形成する第4の工程と、を有する配線基
板の製造方法において、 前記第1の工程で、前記基板上に該基板と密着性のよい
金属からなる第1の層を形成して、前記第1の層上に低
抵抗の金属からなる第2の層を形成し、更に、前記第2
の層上に該第2の層の酸化を防止する金属からなる第3
の層を形成して多層構造の前記金属配線を形成する、 ことを特徴とする配線基板の製造方法。 - 【請求項14】 前記第1の層はMo,Ti,W,A
l,Ta,Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形
成される、 請求項13記載の配線基板の製造方法。 - 【請求項15】 前記第2の層はCu、あるいはその合
金で形成される、 請求項13記載の配線基板の製造方法。 - 【請求項16】 前記第3の層はMo,Ti,W,T
a,Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形成され
る、 請求項13記載の配線基板の製造方法。 - 【請求項17】 前記第1の層と前記第2の層との界
面、及び前記第2の層と前記第3の層との界面に、それ
ぞれの界面を構成する元素が混合したミキシング層をそ
れぞれ形成した、 請求項13乃至16のいずれか1項記載の配線基板の製
造方法。 - 【請求項18】 前記基板と前記金属配線の前記第1の
層との間に、酸素を含有した不飽和の金属酸化膜を形成
した、 請求項13乃至17のいずれか1項記載の配線基板の製
造方法。 - 【請求項19】 前記金属配線間にカラーフィルターを
配置した、 請求項13乃至18のいずれか1項記載の配線基板の製
造方法。 - 【請求項20】 前記基板と前記金属配線の前記第1の
層との間にカラーフィルターを配置した、 請求項13乃至19のいずれか1項記載の配線基板の製
造方法。 - 【請求項21】 前記カラーフィルターと前記金属配線
の前記第1の層との間に前記カラーフィルターを保護す
るカラーフィルター保護層を形成した、 請求項20記載の配線基板の製造方法。 - 【請求項22】 前記基板はガラス基板である、 請求項13記載の配線基板の製造方法。
- 【請求項23】 前記透明電極はITO膜である、 請求項13記載の配線基板の製造方法。
- 【請求項24】 前記樹脂は紫外線硬化樹脂である、 請求項13記載の配線基板の製造方法。
- 【請求項25】 前記光は紫外線光である、 請求項13記載の配線基板の製造方法。
- 【請求項26】 互いに対向するように配置された一対
の電極基板の間に液晶を挟持してなる液晶素子におい
て、 少なくとも一方の前記電極基板は、基板と、 前記基板表面に配線パターンされた金属配線と、 前記金属配線の間に該金属配線とほぼ同じ厚さに充填さ
れた樹脂と、 前記樹脂上に前記金属配線と電気的に接するようにして
形成された透明電極と、からなり、 前記金属配線を、前記基板上に該基板と密着性のよい金
属からなる第1の層と、前記第1の層上に低抵抗の金属
からなる第2の層と、前記第2の層上に該第2の層の酸
化を防止する金属からなる第3の層を順に形成して多層
構造とした、 ことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項27】 前記第1の層はMo,Ti,W,A
l,Ta,Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形
成される、 請求項26記載の液晶素子。 - 【請求項28】 前記第2の層はCu、あるいはその合
金で形成される、 請求項26記載の液晶素子。 - 【請求項29】 前記第3の層はMo,Ti,W,T
a,Ni、あるいはそれらの合金のいずれかで形成され
る、 請求項26記載の液晶素子。 - 【請求項30】 前記第1の層と前記第2の層との界
面、及び前記第2の層と前記第3の層との界面に、それ
ぞれの界面を構成する元素が混合したミキシング層をそ
れぞれ形成した、 請求項26乃至29のいずれか1項記載の液晶素子。 - 【請求項31】 前記基板と前記金属配線の前記第1の
層との間に、酸素を含有した不飽和の金属酸化膜を形成
した、 請求項26乃至30のいずれか1項記載の液晶素子。 - 【請求項32】 前記金属配線間にカラーフィルターを
配置した、 請求項26乃至31のいずれか1項記載の液晶素子。 - 【請求項33】 前記基板と前記金属配線の前記第1の
層との間にカラーフィルターを配置した、 請求項26乃至32のいずれか1項記載の液晶素子。 - 【請求項34】 前記カラーフィルターと前記金属配線
の前記第1の層との間に前記カラーフィルターを保護す
るカラーフィルター保護層を形成した、 請求項33記載の液晶素子。 - 【請求項35】前記基板はガラス基板である、 請求項26記載の液晶素子。
- 【請求項36】 前記透明電極はITO膜である、 請求項26記載の液晶素子。
- 【請求項37】 前記樹脂は紫外線硬化樹脂である、 請求項26記載の液晶素子。
- 【請求項38】 前記液晶は強誘電性液晶である、 請求項26記載の液晶素子。
- 【請求項39】 前記強誘電性液晶はカイラルスメクテ
ィック液晶である、 請求項38記載の液晶素子。 - 【請求項40】 前記透明電極上に配向膜を形成した、 請求項26記載の液晶素子。
- 【請求項41】 前記各電極基板の前記透明電極及び前
記金属配線は単純マトリクス配置される、 請求項26記載の液晶素子。
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US08/814,318 US6208400B1 (en) | 1996-03-15 | 1997-03-11 | Electrode plate having metal electrodes of aluminum or nickel and copper or silver disposed thereon |
EP97301727A EP0795776B1 (en) | 1996-03-15 | 1997-03-14 | Electrode plate, process for producing the plate, liquid crystal, device incluiding the plate and process for producing the device |
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DE69717889T DE69717889D1 (de) | 1996-03-15 | 1997-03-14 | Elektrodenplatte, Herstellungsverfahren der Platte, diese Platte enthaltendes Flüssigkristallgerät und Herstellungsverfahren des Gerätes |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1996
- 1996-03-22 JP JP8066444A patent/JPH09258246A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6873383B1 (en) | 1998-04-08 | 2005-03-29 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal device and electronic apparatus |
US7092055B2 (en) | 1998-04-08 | 2006-08-15 | Seiko Epson Corporation | Liquid crystal device and electronic apparatus |
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