JPH09257443A - 物質表面性オンライン測定方法 - Google Patents
物質表面性オンライン測定方法Info
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- JPH09257443A JPH09257443A JP6597096A JP6597096A JPH09257443A JP H09257443 A JPH09257443 A JP H09257443A JP 6597096 A JP6597096 A JP 6597096A JP 6597096 A JP6597096 A JP 6597096A JP H09257443 A JPH09257443 A JP H09257443A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】従来の測定法は、低平滑被測定物の測定では正
反射方向の光量が極端に減少しピーク光量が得られず、
また正反射光の分散巾も極めて広範囲に拡散するため正
反射方向での検出が不可能となり、低平滑領域の測定は
不可能であった。 【解決手段】印刷用塗被紙の表面光沢性及び平滑性を同
時にオンラインで測定する光学測定方法において、走行
する印刷用塗被紙表面の法線に対する照射光源の照射角
度と正反射光の被測定物の法線に対する受光角を78度
以上85度未満の範囲で可変出来る機構を備える事を特
徴とする装置を使用し、被測定物からの反射光をライン
CCDセンサーで受光及び検出しその反射光の光量の積
分値を被測定物の光沢指標とし、反射光の波形のピーク
高の底辺から1/4位置の分散巾の大きさをもって平滑
性の尺度とし簡便かつ高精度に低平滑領域の印刷塗工紙
の光沢性及び平滑性の同時測定を行う測定方法。
反射方向の光量が極端に減少しピーク光量が得られず、
また正反射光の分散巾も極めて広範囲に拡散するため正
反射方向での検出が不可能となり、低平滑領域の測定は
不可能であった。 【解決手段】印刷用塗被紙の表面光沢性及び平滑性を同
時にオンラインで測定する光学測定方法において、走行
する印刷用塗被紙表面の法線に対する照射光源の照射角
度と正反射光の被測定物の法線に対する受光角を78度
以上85度未満の範囲で可変出来る機構を備える事を特
徴とする装置を使用し、被測定物からの反射光をライン
CCDセンサーで受光及び検出しその反射光の光量の積
分値を被測定物の光沢指標とし、反射光の波形のピーク
高の底辺から1/4位置の分散巾の大きさをもって平滑
性の尺度とし簡便かつ高精度に低平滑領域の印刷塗工紙
の光沢性及び平滑性の同時測定を行う測定方法。
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明はシート、特にパルプ
からなる原紙に顔料を塗布する印刷用塗被紙、中でも光
沢を抑えたマット紙の物質表面性オンライン測定方法に
関するものである。
からなる原紙に顔料を塗布する印刷用塗被紙、中でも光
沢を抑えたマット紙の物質表面性オンライン測定方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】紙は植物体から取った繊維、すなわちパ
ルプを互いに接着し薄くすいた物である。また紙にはク
レーと喚ばれる填料を入れてある。紙はその原料となる
パルプの種類によってまた填料の有無、種類等のほか、
製造方法によって表面の状態が著しく異なる。出来上が
った紙表面に塗工機によって顔料(炭酸カルシウム・カ
オリン)及び接着剤(ラテックス・澱粉)を塗布し、光
沢性及び平滑性を増すためにスーパーカレンダーをかけ
る場合もある。紙の主要な用途は印刷用であるが目的に
よって表面のなめらかな印刷用塗被紙あるいは表面の粗
い印刷用塗工紙もありさまざまである。
ルプを互いに接着し薄くすいた物である。また紙にはク
レーと喚ばれる填料を入れてある。紙はその原料となる
パルプの種類によってまた填料の有無、種類等のほか、
製造方法によって表面の状態が著しく異なる。出来上が
った紙表面に塗工機によって顔料(炭酸カルシウム・カ
オリン)及び接着剤(ラテックス・澱粉)を塗布し、光
沢性及び平滑性を増すためにスーパーカレンダーをかけ
る場合もある。紙の主要な用途は印刷用であるが目的に
よって表面のなめらかな印刷用塗被紙あるいは表面の粗
い印刷用塗工紙もありさまざまである。
【0003】印刷用塗被紙の製造においてもっとも留意
すべき点はそれぞれの用途に応じた平滑性・光沢性・塗
工面質を保有する紙を効率よく製造することである。そ
の塗工紙にとって重要な紙表面平滑性を検出する測定装
置として、ベック(JISP 8119)・スムースタ
ー・シェフィールド・パーカープリントサーフ・ベント
セン・チャップマン・ウイリアムス・ガーレー・王研式
平滑度計といずれも空気漏れ法に基づいた測定法が一般
的である。平滑の空気漏れ法に基づいた測定法は紙の塗
層表面および塗被紙内部の空隙の影響または紙の透気性
の影響を受け易く、人間の視覚評価を必ずしも的確に反
映しない場合があり、しかも測定時、被測定物を損傷さ
せるため同じ試料での再測定は不可能である。また、ス
ーパーカレンダーで仕上げを行う際、通常生産現場にお
いては目的の平滑性及び光沢性が得られているかを確認
するためにラインを一時停止しウエブをサンプルとして
切り取り上述の平滑測定装置等を用い、測定を行い、品
質管理を行っているが、高速で操業しているラインを停
止するために破損紙が多く発生し効率が良くない。
すべき点はそれぞれの用途に応じた平滑性・光沢性・塗
工面質を保有する紙を効率よく製造することである。そ
の塗工紙にとって重要な紙表面平滑性を検出する測定装
置として、ベック(JISP 8119)・スムースタ
ー・シェフィールド・パーカープリントサーフ・ベント
セン・チャップマン・ウイリアムス・ガーレー・王研式
平滑度計といずれも空気漏れ法に基づいた測定法が一般
的である。平滑の空気漏れ法に基づいた測定法は紙の塗
層表面および塗被紙内部の空隙の影響または紙の透気性
の影響を受け易く、人間の視覚評価を必ずしも的確に反
映しない場合があり、しかも測定時、被測定物を損傷さ
せるため同じ試料での再測定は不可能である。また、ス
ーパーカレンダーで仕上げを行う際、通常生産現場にお
いては目的の平滑性及び光沢性が得られているかを確認
するためにラインを一時停止しウエブをサンプルとして
切り取り上述の平滑測定装置等を用い、測定を行い、品
質管理を行っているが、高速で操業しているラインを停
止するために破損紙が多く発生し効率が良くない。
【0004】印刷用塗被紙の表面平滑性を的確に非常に
精度よく検出する測定器として触針3次元粗さ測定器も
しくはレーザー光源等を用いた光学的非接触式の表面3
次元粗さ測定器がある。しかし、これらの方法では測定
時間が非常に長くまた測定面積も狭いため作業性が非常
に悪い。
精度よく検出する測定器として触針3次元粗さ測定器も
しくはレーザー光源等を用いた光学的非接触式の表面3
次元粗さ測定器がある。しかし、これらの方法では測定
時間が非常に長くまた測定面積も狭いため作業性が非常
に悪い。
【0005】このような状況において、簡便な測定を可
能にしたセンサーとして発光ダイオードを光源に用い入
射角を被測定物の法線に対し所定角度に固定し正反射受
光素子にラインCCDセンサーを用いその正反射光のピ
ーク光量と正反射光の分散の大きさをもって光沢性及び
平滑性の尺度としている非接触光学測定方式(例えば特
開昭63−315938号公報)がある。この方式を用
いれば紙製造工程において被測定物を傷つけず簡便にし
かも精度よく印刷用塗被紙表面の平滑性と光沢性のオン
ライン測定が可能である。
能にしたセンサーとして発光ダイオードを光源に用い入
射角を被測定物の法線に対し所定角度に固定し正反射受
光素子にラインCCDセンサーを用いその正反射光のピ
ーク光量と正反射光の分散の大きさをもって光沢性及び
平滑性の尺度としている非接触光学測定方式(例えば特
開昭63−315938号公報)がある。この方式を用
いれば紙製造工程において被測定物を傷つけず簡便にし
かも精度よく印刷用塗被紙表面の平滑性と光沢性のオン
ライン測定が可能である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、該方式は光源
の照射角が被測定物の法線に対し所定角度75゜に固定
であるため、触針3次元粗さ計測定器での測定値(中心
面平均粗さ)Ra=10.0μm以上のマット紙等の被
測定物では相関性が得られない。その理由として、該方
式での低平滑被測定物の測定では正反射方向の光量が極
端に減少しピーク光量が得られない為であり、また正反
射光の分散巾も極めて広範囲に拡散するため正反射方向
での検出が不可能となり、低平滑領域の測定は不可能で
ある。
の照射角が被測定物の法線に対し所定角度75゜に固定
であるため、触針3次元粗さ計測定器での測定値(中心
面平均粗さ)Ra=10.0μm以上のマット紙等の被
測定物では相関性が得られない。その理由として、該方
式での低平滑被測定物の測定では正反射方向の光量が極
端に減少しピーク光量が得られない為であり、また正反
射光の分散巾も極めて広範囲に拡散するため正反射方向
での検出が不可能となり、低平滑領域の測定は不可能で
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者は印刷塗被紙の
低平滑領域の光沢性、平滑性をオンラインで簡便に測定
するための鋭意研究を重ねた結果、照射角、及び受光角
を78度から85度の範囲で測定する事によって簡便で
精度の良い測定が可能であることを見いだし本発明をな
すに至った。
低平滑領域の光沢性、平滑性をオンラインで簡便に測定
するための鋭意研究を重ねた結果、照射角、及び受光角
を78度から85度の範囲で測定する事によって簡便で
精度の良い測定が可能であることを見いだし本発明をな
すに至った。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明に用いられる測定装置の測
定原理及び概略を図1に示す。光源(1)からの光を反
射板(2a)を(2b)の様に位置及び角度変更によっ
て被測定物表面(11)の法線(10)に対する照射光
角度78度(6)以上85度(8)未満で照射し、それ
ぞれの照射角度に対応する78度(7)以上85度
(9)未満の正反射光を集光レンズ(4)に当てる様に
反射板(3a)を(3b)の様に位置及び角度変更を行
い、集光された光束をラインCCDセンサー(5)にて
反射光の強度分布(12)を検出し、電気信号として出
力する方式により紙の表面性の測定を行う。また測定装
置を走行する被測定物上に取り付けた場合の全体図を図
2に示すが、走行する被測定物(13)の上部に図1の
測定原理を有する測定器(14)を設置し測定を実施す
る。測定装置は被測定物に対して下部に取り付ける事も
可能であり、その場合は被測定物の表面、裏面の表面性
の同時測定が可能となる。
定原理及び概略を図1に示す。光源(1)からの光を反
射板(2a)を(2b)の様に位置及び角度変更によっ
て被測定物表面(11)の法線(10)に対する照射光
角度78度(6)以上85度(8)未満で照射し、それ
ぞれの照射角度に対応する78度(7)以上85度
(9)未満の正反射光を集光レンズ(4)に当てる様に
反射板(3a)を(3b)の様に位置及び角度変更を行
い、集光された光束をラインCCDセンサー(5)にて
反射光の強度分布(12)を検出し、電気信号として出
力する方式により紙の表面性の測定を行う。また測定装
置を走行する被測定物上に取り付けた場合の全体図を図
2に示すが、走行する被測定物(13)の上部に図1の
測定原理を有する測定器(14)を設置し測定を実施す
る。測定装置は被測定物に対して下部に取り付ける事も
可能であり、その場合は被測定物の表面、裏面の表面性
の同時測定が可能となる。
【0009】印刷塗被紙の光沢性の測定を実施する場
合、被測定物の法線に対する照射角度は75±0.5゜
とJISP8142に規定されているが、マット紙の様
な低平滑紙では充分な反射光量が得られず、被測定物の
法線に対する光源の照射角を78度以上に高く設定した
場合には触針3次元粗さ測定器での測定値(中心面平均
粗さ)Ra=10.0μm以上の低平滑塗被紙でも反射
光量が充分に得られ光沢性及び平滑性の測定が可能とな
る。しかし照射角85度を越えるような測定になると反
射光の散乱が顕著となり正確な反射光が得られず測定精
度が落ちる。また、被測定物面の法線に対する照射光角
度78度以上85度未満で光源を設置するためには、該
特開昭63−315938号公報に示される様な投光手
段では光源が被測定物と接触する危険性が出てくる為、
光源はウエブの更に上方とし光源から出た光を一端反射
板に照射し反射した光が被測定物に照射され正反射光は
受光側に位置する反射板に反射し受光装置にて受光され
る方式により被測定物に接触する事なく、また装置の大
型化を抑制する事ができる。
合、被測定物の法線に対する照射角度は75±0.5゜
とJISP8142に規定されているが、マット紙の様
な低平滑紙では充分な反射光量が得られず、被測定物の
法線に対する光源の照射角を78度以上に高く設定した
場合には触針3次元粗さ測定器での測定値(中心面平均
粗さ)Ra=10.0μm以上の低平滑塗被紙でも反射
光量が充分に得られ光沢性及び平滑性の測定が可能とな
る。しかし照射角85度を越えるような測定になると反
射光の散乱が顕著となり正確な反射光が得られず測定精
度が落ちる。また、被測定物面の法線に対する照射光角
度78度以上85度未満で光源を設置するためには、該
特開昭63−315938号公報に示される様な投光手
段では光源が被測定物と接触する危険性が出てくる為、
光源はウエブの更に上方とし光源から出た光を一端反射
板に照射し反射した光が被測定物に照射され正反射光は
受光側に位置する反射板に反射し受光装置にて受光され
る方式により被測定物に接触する事なく、また装置の大
型化を抑制する事ができる。
【0010】光源としては経時で光量変化のないものが
望ましく、通常JISP8142に規定しているC−光
源とするが、小型電球のようなA−光源もしくは赤外発
光ダイオード、レーザー発光素子等を用いても差し支え
ない。光源から照射される光は光学的な集光法によって
被測定物上で境界の明確で有限な照射面積を持つことが
望ましい。この照射面積の大きさは、通常は、照射角度
を大きくすることによって増大するが、縦5〜20m
m、横10〜30mmの楕円形が適当である。被測定物
上で反射した反射光は反射板、集光レンズを経由して受
光素子上に集光する。
望ましく、通常JISP8142に規定しているC−光
源とするが、小型電球のようなA−光源もしくは赤外発
光ダイオード、レーザー発光素子等を用いても差し支え
ない。光源から照射される光は光学的な集光法によって
被測定物上で境界の明確で有限な照射面積を持つことが
望ましい。この照射面積の大きさは、通常は、照射角度
を大きくすることによって増大するが、縦5〜20m
m、横10〜30mmの楕円形が適当である。被測定物
上で反射した反射光は反射板、集光レンズを経由して受
光素子上に集光する。
【0011】受光素子は経時で感度変化のないものが望
ましく、本発明で用いたラインCCDセンサーは波長
0.2μm〜30μm程度の電磁波を電気信号として検
出するセンサーで動作原理から分類すると、量子効果型
と熱効果型に分類できるが、本発明は物質表面での反射
光量の測定である為、量子効果型のものを用いたが、信
号の取り出し方から更に光電子放出型、光導電型、光起
電力型に大別できる。光電子放出型センサーには光電子
をそのまま信号電流にする光電管と2次電子倍増機能を
組み込んだ光電子倍増管がある。光導電型の代表的なも
のはCdSセルが一般的で、光起電力型センサーにはフ
ォトダイオード・フォトトランジスター・アバランシェ
フォトダイオード等が上げられる。以上のいずれを用い
ても差し支えないが、本発明では形状的な面から光起電
力型センサーのフォトダイオードを多数並べたラインC
CDセンサーを用いた。
ましく、本発明で用いたラインCCDセンサーは波長
0.2μm〜30μm程度の電磁波を電気信号として検
出するセンサーで動作原理から分類すると、量子効果型
と熱効果型に分類できるが、本発明は物質表面での反射
光量の測定である為、量子効果型のものを用いたが、信
号の取り出し方から更に光電子放出型、光導電型、光起
電力型に大別できる。光電子放出型センサーには光電子
をそのまま信号電流にする光電管と2次電子倍増機能を
組み込んだ光電子倍増管がある。光導電型の代表的なも
のはCdSセルが一般的で、光起電力型センサーにはフ
ォトダイオード・フォトトランジスター・アバランシェ
フォトダイオード等が上げられる。以上のいずれを用い
ても差し支えないが、本発明では形状的な面から光起電
力型センサーのフォトダイオードを多数並べたラインC
CDセンサーを用いた。
【0012】正反射方向に反射した光束はラインCCD
センサー上に開き角5゜以下をもって集光し光起電力作
用により起電力を発生させ外部端子にとりだす。これを
このままアナログレコーダーに出力することも可能であ
るが、望ましくはコンピューターでA/D変換を行い、
内部のメモリーに格納するか記録媒体にデータを保存す
る。その結果ラインCCDセンサー上に入射した光束は
巾方向に2048素子、強度は256諧調に分割され光
量に対応する電圧値に変換され、図3の様な紙表面性差
に基づいた反射光強度分布(14)が得られる。分布の
底辺からピーク位置までの高さをピーク高さ(15)と
し、その底辺からの高さ位置に対応する分布巾を分散巾
(16)としたが、分散巾の名称を底辺からの高さ位置
をピーク高さで割った値を位置巾の先頭につけて分散巾
の名称とした。
センサー上に開き角5゜以下をもって集光し光起電力作
用により起電力を発生させ外部端子にとりだす。これを
このままアナログレコーダーに出力することも可能であ
るが、望ましくはコンピューターでA/D変換を行い、
内部のメモリーに格納するか記録媒体にデータを保存す
る。その結果ラインCCDセンサー上に入射した光束は
巾方向に2048素子、強度は256諧調に分割され光
量に対応する電圧値に変換され、図3の様な紙表面性差
に基づいた反射光強度分布(14)が得られる。分布の
底辺からピーク位置までの高さをピーク高さ(15)と
し、その底辺からの高さ位置に対応する分布巾を分散巾
(16)としたが、分散巾の名称を底辺からの高さ位置
をピーク高さで割った値を位置巾の先頭につけて分散巾
の名称とした。
【0013】得られた反射光強度分布の積分値をYと
し、屈折率1.567標準板のガラス表面からの正反射
光強度分布の積分値をXとすると光沢性(%)は次式で
規定される。
し、屈折率1.567標準板のガラス表面からの正反射
光強度分布の積分値をXとすると光沢性(%)は次式で
規定される。
【0014】
【数1】光沢性(%)=(Y/X)×100 X:屈折率1.567標準板のガラス表面からの正反射
光強度分布の積分値 Y:紙からの正反射光強度分布の積分値
光強度分布の積分値 Y:紙からの正反射光強度分布の積分値
【0015】また、平滑性は得られた反射光強度分布の
1/4位置巾値(t)を分散幅t0で除した数値をもっ
て平滑性の尺度とした。
1/4位置巾値(t)を分散幅t0で除した数値をもっ
て平滑性の尺度とした。
【0016】
【数2】平滑性=t/t0 t : 得られた反射光強度分布の1/4位置巾値 t0: 分散底辺巾
【0017】特に反射光ピーク波形のピーク高さの底辺
から1/4位置巾を平滑の指標とした理由は実験的な確
認からである。分散巾の取り方を様々変更して平滑性を
比較したところ、ピーク高さを4等分して底辺から1/
4位置の分散巾を平滑性の指標としたところ、それぞれ
の位置巾に対応するRaとの相関係数との関係を示した
図4に示す様に、触針3次元粗さ計のRa値との相関性
が最も高かったからである。
から1/4位置巾を平滑の指標とした理由は実験的な確
認からである。分散巾の取り方を様々変更して平滑性を
比較したところ、ピーク高さを4等分して底辺から1/
4位置の分散巾を平滑性の指標としたところ、それぞれ
の位置巾に対応するRaとの相関係数との関係を示した
図4に示す様に、触針3次元粗さ計のRa値との相関性
が最も高かったからである。
【0018】本発明は光源の照射角度及び反射光角度を
78度以上85度未満にすることを特徴としているが、
これにより触針3次元粗さ測定器での測定値(中心面平
均粗さ)Ra=10.0μm以上の印刷用塗被紙の表面
平滑性の測定が可能となった。特にその相関性は非常に
高く、相関係数r=0.99以上であった。また、光沢
性に対しても75度鏡面光沢度試験法との相関性も高
く、今まで煩わしかった低平滑紙の平滑性と光沢性の簡
便な測定が可能となった。
78度以上85度未満にすることを特徴としているが、
これにより触針3次元粗さ測定器での測定値(中心面平
均粗さ)Ra=10.0μm以上の印刷用塗被紙の表面
平滑性の測定が可能となった。特にその相関性は非常に
高く、相関係数r=0.99以上であった。また、光沢
性に対しても75度鏡面光沢度試験法との相関性も高
く、今まで煩わしかった低平滑紙の平滑性と光沢性の簡
便な測定が可能となった。
【0019】
【実施例】以下に本発明の効果を実施例により説明する
が本発明はこれにより限定されるものではない。尚実施
例中の諸測定値は次の方法によってえられたものであ
る。 ア)白紙光沢度:JISP8142 に従い角度75度
で測定した。(%) イ)三次元表面粗さ:触針3次元粗さ計測定器SE−3
AK(小坂研究所)により算出されるRa値を用いた。
(μm)
が本発明はこれにより限定されるものではない。尚実施
例中の諸測定値は次の方法によってえられたものであ
る。 ア)白紙光沢度:JISP8142 に従い角度75度
で測定した。(%) イ)三次元表面粗さ:触針3次元粗さ計測定器SE−3
AK(小坂研究所)により算出されるRa値を用いた。
(μm)
【0020】本発明で使用されるウエブとしては一般に
使用されるマット紙とするが、下記に示されるパルプ配
合のマット原紙にブレード塗布装置によって、絶乾塗布
量が15g/m2となるように以下の固形分濃度が62
%の塗工液を塗布速度1000m/minで塗布し得ら
れた塗被紙を各条件にてスーパーカレンダーによって処
理を行い、それぞれのサンプルを本装置によって表面性
の測定をおこなった。 パルプ配合 NBKP:300 LBKP:700 塗布液配合 市販重質炭酸カルシウム :20部 市販軽質炭酸カルシウム :30部 市販2級カオリン :50部 市販ポリアクリル酸系分散剤 :0.1部 市販燐酸エステル化澱粉 : 2部 市販スチレン・ブタジエン・ラテックス :15部 水酸化ナトリウム :0.15部 固形分濃度 :62% 以下の実施例、比較例において、特に断らない限り塗布
液は上記の配合で調整される。塗布量も通例上記に同
じ。
使用されるマット紙とするが、下記に示されるパルプ配
合のマット原紙にブレード塗布装置によって、絶乾塗布
量が15g/m2となるように以下の固形分濃度が62
%の塗工液を塗布速度1000m/minで塗布し得ら
れた塗被紙を各条件にてスーパーカレンダーによって処
理を行い、それぞれのサンプルを本装置によって表面性
の測定をおこなった。 パルプ配合 NBKP:300 LBKP:700 塗布液配合 市販重質炭酸カルシウム :20部 市販軽質炭酸カルシウム :30部 市販2級カオリン :50部 市販ポリアクリル酸系分散剤 :0.1部 市販燐酸エステル化澱粉 : 2部 市販スチレン・ブタジエン・ラテックス :15部 水酸化ナトリウム :0.15部 固形分濃度 :62% 以下の実施例、比較例において、特に断らない限り塗布
液は上記の配合で調整される。塗布量も通例上記に同
じ。
【0021】以下に本発明に用いるサンプルの作成を示
す。
す。
【0022】サンプル1 上記条件で得られたオフセット印刷用紙の巻き取り品を
下記条件でスーパーカレンダー掛けしたものである。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :90℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :10回
下記条件でスーパーカレンダー掛けしたものである。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :90℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :10回
【0023】サンプル2 下記条件でスーパーカレンダー掛けした以外は、すべて
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :10回
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :10回
【0024】サンプル3 下記条件でスーパーカレンダー掛けした。以外は、すべ
てサンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :90℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
てサンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :200kg/cm ヒートロール温度 :90℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
【0025】サンプル4 下記条件でスーパーカレンダー掛けした以外は、すべて
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :180kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :180kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
【0026】サンプル5 下記条件でスーパーカレンダー掛けした以外は、すべて
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :160kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
サンプル1と同条件でサンプルを作成した。 カレンダー線圧 :160kg/cm ヒートロール温度 :60℃ カレンダー速度 :800m/min ニップ回数 :2回
【0027】サンプル6 上記方法にて得られたオフセット印刷用紙をカレンダー
掛けしなかった以外はすべてサンプル1と同条件でサン
プルを作成した。
掛けしなかった以外はすべてサンプル1と同条件でサン
プルを作成した。
【0028】実施例1 スーパーカレンダー最下段出口付近に本発明のセンサー
を定点で取り付けを行い、上記方法にて得られた巻き取
り各サンプルを速度800m/minで走行させてオン
ラインで平滑及び光沢の測定を行った。センサーの条件
は被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度
を78度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、
平滑性は数2により求めた値とした。
を定点で取り付けを行い、上記方法にて得られた巻き取
り各サンプルを速度800m/minで走行させてオン
ラインで平滑及び光沢の測定を行った。センサーの条件
は被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度
を78度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、
平滑性は数2により求めた値とした。
【0029】実施例2 被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度を
82度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
82度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
【0030】実施例3 被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度を
85度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
85度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
【0031】比較例1 被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度を
75度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
75度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
【0032】比較例2 被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度を
77度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
77度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
【0033】比較例3 被測定物表面の法線に対する照射光角度及び受光角度を
87度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
87度に設定し、光沢性は数1により求めた値とし、平
滑性は数2により求めた値とした以外は実施例1と同様
に測定を実施した。
【0034】それぞれのサンプルを上記実施例及び比較
例により測定実施し、表1は各サンプルの触針3次元粗
さ計及びJIS光沢計測定値であり、表2、表3はそれ
ぞれ触針3次元粗さ計測定値及びJIS光沢計測定値と
各実施例、比較例における測定値の比較である。表4は
各実施例及び比較例における触針3次元粗さ計及びJI
S光沢計測定値それぞれの相関係数の比較である。
例により測定実施し、表1は各サンプルの触針3次元粗
さ計及びJIS光沢計測定値であり、表2、表3はそれ
ぞれ触針3次元粗さ計測定値及びJIS光沢計測定値と
各実施例、比較例における測定値の比較である。表4は
各実施例及び比較例における触針3次元粗さ計及びJI
S光沢計測定値それぞれの相関係数の比較である。
【0035】
【表1】
【0036】
【表2】
【0037】
【表3】
【0038】
【表4】
【0039】
【発明の効果】本発明で得られた測定値はいずれも印刷
用塗工紙の表面光沢性及び平滑性をよく表わした数値で
あり、従来法では不可能であった低平滑領域のオンライ
ン測定が可能となった。
用塗工紙の表面光沢性及び平滑性をよく表わした数値で
あり、従来法では不可能であった低平滑領域のオンライ
ン測定が可能となった。
【図1】測定原理概略図。
【図2】測定全体図。
【図3】反射光強度分布。
【図4】分散巾の取り方による、触針3次元粗さ計との
相関性の比較。
相関性の比較。
1 光源 2a 照射側反射板 2b 移動後の反射板 3a 反射側反射板 3b 移動後反射板 4 集光レンズ 5 ラインCCDセンサー 6 照射角度78度 7 反射角度78度 8 照射角度85度 9 反射角度85度 10 法線 11 被測定物 12 反射光強度分布 13 走行する被測定物 14 本発明に使用した測定器 15 ピーク高さ 16 分散巾
Claims (1)
- 【請求項1】 印刷用塗被紙の表面光沢性及び平滑性を
同時にオンラインで測定する光学測定方法において、走
行する印刷用塗被紙表面の法線に対する照射光源の照射
角度と正反射光の被測定物の法線に対する受光角を78
度以上85度未満の範囲で可変出来る機構を備える事を
特徴とする装置を使用し、被測定物からの反射光をライ
ンCCDセンサーで受光及び検出しその反射光の光量の
積分値を被測定物の光沢指標とし、反射光の波形のピー
ク高の底辺から1/4位置の分散巾の大きさをもって平
滑性の尺度とし簡便かつ高精度に低平滑領域の印刷塗工
紙の光沢性及び平滑性の同時測定を行う測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6597096A JPH09257443A (ja) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | 物質表面性オンライン測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6597096A JPH09257443A (ja) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | 物質表面性オンライン測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09257443A true JPH09257443A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=13302374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6597096A Pending JPH09257443A (ja) | 1996-03-22 | 1996-03-22 | 物質表面性オンライン測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09257443A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006329908A (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Bridgestone Corp | ゴム剥げ検出方法及びその装置 |
US7465948B2 (en) | 2003-09-16 | 2008-12-16 | Paper Australia Pty Ltd. | Sheet-surface analyser and method of analysing a sheet-surface |
JP2017223692A (ja) * | 2017-08-02 | 2017-12-21 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
-
1996
- 1996-03-22 JP JP6597096A patent/JPH09257443A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7465948B2 (en) | 2003-09-16 | 2008-12-16 | Paper Australia Pty Ltd. | Sheet-surface analyser and method of analysing a sheet-surface |
JP2006329908A (ja) * | 2005-05-30 | 2006-12-07 | Bridgestone Corp | ゴム剥げ検出方法及びその装置 |
JP2017223692A (ja) * | 2017-08-02 | 2017-12-21 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
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