JPH0923442A - Cathode-ray tube controller - Google Patents
Cathode-ray tube controllerInfo
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- JPH0923442A JPH0923442A JP19246095A JP19246095A JPH0923442A JP H0923442 A JPH0923442 A JP H0923442A JP 19246095 A JP19246095 A JP 19246095A JP 19246095 A JP19246095 A JP 19246095A JP H0923442 A JPH0923442 A JP H0923442A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- screen
- index
- test signal
- ray tube
- Prior art date
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- Pending
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- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
- Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はカラーテレビジョン
受像機における各種の画像歪みを自動的に補正する陰極
線管制御装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cathode ray tube controller for automatically correcting various image distortions in a color television receiver.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に3本の電子銃を用いて3原色の画
像を映出する陰極線管受像機においては、電子銃からの
電子ビームが周辺磁界により乱されること、また3本の
電子ビームの表示画面への入射角が表示画面の曲率等に
より異なる等の理由により、幾何学的歪やコンバーゼン
スのずれが表示画面上で生じる。これらの画像歪みに対
する各種の補正方法として、水平及び垂直走査周期に同
期させてアナログ的な補正波形をつくり、この波形の大
きさや形を変えて調整する方式をとっていたが、補正精
度の点で問題がある。またこのような方法では、スクリ
ーン上での画像の各種のずれを目視で観察して手動で補
正するため、調整に時間がかかるという問題がある。2. Description of the Related Art Generally, in a cathode ray tube receiver which displays an image of three primary colors using three electron guns, the electron beam from the electron gun is disturbed by a peripheral magnetic field, and three electron beams are used. Geometrical distortion and convergence shift occur on the display screen due to the reason that the angle of incidence on the display screen differs depending on the curvature of the display screen and the like. As various correction methods for these image distortions, an analog correction waveform is created in synchronism with the horizontal and vertical scanning periods, and the size and shape of this waveform are changed for adjustment. I have a problem with. Further, in such a method, since various deviations of the image on the screen are visually observed and manually corrected, there is a problem that the adjustment takes time.
【0003】そこで高精度のコンバーゼンス補正を行う
方法として、特公昭59−8114号公報にディジタル
コンバーゼンス装置が提案されている。また自動的に偏
向歪を補正する方法として、特開昭58−25042号
公報や特開昭58−24186号公報に陰極線管制御装
置や電子ビーム偏向制御装置がそれぞれ提案されてい
る。Therefore, as a method for performing high-precision convergence correction, a digital convergence device is proposed in Japanese Patent Publication No. 59-8114. Further, as a method of automatically correcting the deflection distortion, a cathode ray tube control device and an electron beam deflection control device have been proposed in JP-A-58-25042 and JP-A-58-24186, respectively.
【0004】図19に画像歪みの自動補正が可能な従来
の陰極線管制御装置のブロック図を示す。又図20
(a)にインデックス蛍光体が塗布されたシャドウマス
ク50の外観図を示し、(b)にインデックス蛍光体5
1のパターン図を示す。図20(b)に示すように、イ
ンデックス蛍光体51は垂直線状体51aと斜め線状体
51bからなる検出素子である。そして図20(a)に
示すように、多数のインデックス蛍光体51が矩形のシ
ャドウマスク50上にマトリックス状となるよう塗布さ
れている。FIG. 19 is a block diagram of a conventional cathode ray tube control device capable of automatically correcting image distortion. See also FIG.
An external view of the shadow mask 50 coated with the index phosphor is shown in (a), and the index phosphor 5 is shown in (b).
1 shows a pattern diagram of 1. As shown in FIG. 20B, the index phosphor 51 is a detection element including a vertical linear body 51a and an oblique linear body 51b. Then, as shown in FIG. 20A, a large number of index phosphors 51 are applied in a matrix on a rectangular shadow mask 50.
【0005】図19に示す陰極線管52において、電子
銃及びネック部の部分にコンバーゼンスヨーク53と偏
向ヨーク54とが取り付けられている。これらのヨーク
に波形発生器55が接続され、同期信号に基づいて水平
偏向波形及び垂直偏向波形が印加される。電子銃から出
射した電子ビームは偏向ヨーク54で偏向されると共
に、RGBの各電子ビームがシャドウマスク50で収束
するようコンバーゼンスヨーク53で位置制御される。
そしてRGBの蛍光体がマトリックス状に塗布されたス
クリーンにRGBの各電子ビームがランディングする。In the cathode ray tube 52 shown in FIG. 19, a convergence yoke 53 and a deflection yoke 54 are attached to the electron gun and the neck portion. A waveform generator 55 is connected to these yokes, and a horizontal deflection waveform and a vertical deflection waveform are applied based on the synchronizing signal. The electron beam emitted from the electron gun is deflected by the deflection yoke 54, and the position is controlled by the convergence yoke 53 so that the RGB electron beams are converged by the shadow mask 50.
Then, the RGB electron beams land on the screen on which the RGB phosphors are applied in a matrix.
【0006】インデックス蛍光体51に電子ビームが到
来したとき、検出器56はインデックス蛍光体51の発
光によって電子ビームの到来位置を検出する。図19に
は明記しないテスト信号発生器がテスト信号58又は5
9を発生する。このテスト信号で輝度変調された電子ビ
ームはインデックス蛍光体51を水平方向に走査する。
処理装置57はテスト信号58又は59の出力時から垂
直線状体51aが発光するまでの時間間隔を計測し、垂
直線状体51aが発光してから斜め線状体51bが発光
までの時間間隔を計測する。そして処理装置57はこの
計測値から幾何学的歪み補正用やコンバーゼンス補正用
の信号を作成する。When the electron beam arrives at the index phosphor 51, the detector 56 detects the arrival position of the electron beam by the emission of the index phosphor 51. The test signal generator not shown in FIG.
9 is generated. The electron beam whose brightness is modulated by this test signal scans the index phosphor 51 in the horizontal direction.
The processing device 57 measures the time interval from the output of the test signal 58 or 59 to the light emission of the vertical linear body 51a, and the time interval from the emission of the vertical linear body 51a to the emission of the oblique linear body 51b. To measure. Then, the processing device 57 creates signals for geometrical distortion correction and convergence correction from the measured values.
【0007】波形発生器55は処理装置57の出力する
補正用の信号が与えられると、コンバーゼンスヨーク5
3や偏向ヨーク54を駆動するための各走査波形を発生
し、幾何学的歪みやコンバーゼンスのずれを自動的に補
正する。The waveform generator 55 receives the correction signal output from the processing unit 57, and then converges the convergence yoke 5.
3 and each scanning waveform for driving the deflection yoke 54 are generated, and geometrical distortion and convergence deviation are automatically corrected.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら近年は、
陰極線管のスクリーンの平面化が進み、また全長短縮の
ため偏向角が増大している。このような陰極線管では、
図21に示すように表示画面である蛍光面60の周辺部
において、色純度の劣化に対する余裕度を大きくするた
め、シャドウマスク50と蛍光面60との距離を、中央
部に比較して周辺部で大きくしている。そのため、従来
のような構成を用いてシャドウマスク50上で幾何学的
歪み及びコンバーゼンスのずれを補正しても、スクリー
ン上では歪みが生じるという問題が発生する。However, in recent years, however,
The flattening of the screen of the cathode ray tube is progressing, and the deflection angle is increasing because the overall length is shortened. In such a cathode ray tube,
As shown in FIG. 21, in the peripheral portion of the phosphor screen 60, which is the display screen, in order to increase the margin for deterioration of color purity, the distance between the shadow mask 50 and the phosphor screen 60 is set to the peripheral portion compared to the central portion. I am making it big. Therefore, even if the geometrical distortion and the convergence deviation are corrected on the shadow mask 50 by using the conventional configuration, the distortion occurs on the screen.
【0009】また図22(a)に示すように、水平方向
及び垂直方向の幾何学的歪み量及びコンバーゼンスのず
れ量が大きく、テスト信号58又は59が湾曲しその映
出位置がインデックス蛍光体51の位置から大きくずれ
ると、インデックス蛍光体51にテスト信号58、59
が全く当たらなくなる。また図22(b)に示すよう
に、インデックス蛍光体51の2つの斜め線状体の一方
にしかテスト信号59が当たらないことが起こる。この
場合は検出器56の光電変換素子から信号が出力され
ず、歪み量を計測することができなくなるという問題が
あった。Further, as shown in FIG. 22 (a), the horizontal and vertical geometric distortions and convergence deviations are large, the test signal 58 or 59 is curved, and the projected position thereof is the index phosphor 51. If it deviates significantly from the position of,
Will not be hit at all. Further, as shown in FIG. 22B, the test signal 59 may hit only one of the two oblique linear members of the index phosphor 51. In this case, a signal is not output from the photoelectric conversion element of the detector 56, and there is a problem that the amount of distortion cannot be measured.
【0010】また図23(a)のような幾何学的歪みの
ないテスト信号58が水平に映出された場合と比較し
て、図23(b)のようにテスト信号58が斜めに走査
するという偏向歪みが生じた場合には、光電変換素子に
は同じ入力が得られるため、結果として歪み量を特定で
きないという問題もあった。Further, as compared with the case where the test signal 58 having no geometrical distortion is horizontally projected as shown in FIG. 23A, the test signal 58 is obliquely scanned as shown in FIG. 23B. When such deflection distortion occurs, the same input can be obtained in the photoelectric conversion element, and as a result, there is a problem that the distortion amount cannot be specified.
【0011】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、シャドウマスクの複数のイン
デックス蛍光体を、偏向角の増大に応じて間隔が狭くな
るように配列することにより、スクリーンが平面体に近
いものであっても、幾何学的歪み及びコンバーゼンスの
ずれを自動的に精度良く補正する陰極線管表示装置を提
供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above conventional problems, and a plurality of index phosphors of a shadow mask are arranged so that the intervals become narrower as the deflection angle increases. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a cathode ray tube display device that automatically and accurately corrects geometric distortion and deviation of convergence even if the screen is close to a flat body.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、蛍光体が形成されたスクリーン、前記スクリーンに
対して複数の電子ビームを出射する電子銃、前記電子銃
及び前記スクリーンの間に配置されて収束した電子ビー
ムを透過させるシャドウマスクを含む陰極線管と、前記
陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃から放
射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び垂直
方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をする電
子ビーム偏向手段と、前記電子ビーム偏向手段に偏向制
御電流と偏向補正電流を与える偏向部と、前記スクリー
ンにおける表示画像の幾何学的歪みとコンバーゼンスの
ずれとを補正する補正波形を生成して前記偏向部に与え
る補正波形作成部と、前記スクリーン上で線状となるテ
スト信号を前記電子銃に与えるテスト信号発生部と、前
記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面に電子ビー
ムの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるように二次元
的に配列して設けられ、電子ビームの到来によって発光
する複数のインデックス蛍光体と、前記テスト信号発生
部のテスト信号により、前記電子銃からの電子ビームが
放射されて前記インデックス蛍光体のいずれかに到来し
た際の発光出力を検出してインデックス信号を出力する
光電変換部と、前記光電変換部の出力するインデックス
信号に基づき、前記スクリーンにおける電子ビームの各
到来位置を検出して、その到来位置情報を前記補正波形
作成部に与える位置検出部と、を具備することを特徴と
するものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen, and between the electron gun and the screen. A cathode ray tube including a shadow mask that is disposed and transmits a converged electron beam, and is attached to a neck portion of the cathode ray tube, and deflects an electron beam emitted from the electron gun in horizontal and vertical directions on the screen. An electron beam deflecting means for performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation of a display image on the screen And a correction waveform generation unit for generating a signal to be provided to the deflection unit, and a test signal that is linear on the screen And a test signal generator provided on the surface of the shadow mask facing the electron gun and arranged two-dimensionally so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A plurality of index phosphors that emit light by the test signal, and a test signal from the test signal generating unit detects the light emission output when the electron beam is emitted from the electron gun and reaches any of the index phosphors, and the index is detected. A photoelectric conversion unit that outputs a signal, and a position detection unit that detects each arrival position of the electron beam on the screen based on the index signal output by the photoelectric conversion unit and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit. And are provided.
【0013】本願の請求項3の発明は、蛍光体が形成さ
れたスクリーン、前記スクリーンに対して複数の電子ビ
ームを出射する電子銃、前記電子銃及び前記スクリーン
の間に配置されて収束した電子ビームを透過させるシャ
ドウマスクを含む陰極線管と、前記陰極線管のネック部
に取り付けられ、前記電子銃から放射された電子ビーム
を前記スクリーン上で水平及び垂直方向に偏向させると
共に、コンバーゼンス補正をする電子ビーム偏向手段
と、前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正
電流を与える偏向部と、前記スクリーンにおける表示画
像の幾何学的歪みとコンバーゼンスのずれとを補正する
補正波形を生成して前記偏向部に与える補正波形作成部
と、前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電
子銃に与えるテスト信号発生部と、前記シャドウマスク
の前記電子銃と対向する面に電子ビームの偏向角の増大
に応じて間隔が狭くなるように二次元的に配列して設け
られ、前記シャドウマスクの垂直対称軸上の上下に配置
されるものは前記シャドウマスクの大半の面に配置され
るものより形状が大きく、電子ビームの到来によって発
光する複数のインデックス蛍光体と、前記テスト信号発
生部のテスト信号により、前記電子銃からの電子ビーム
が放射されて前記インデックス蛍光体のいずれかに到来
した際の発光出力を検出してインデックス信号を出力す
る複数の光電変換部と、前記各光電変換部の出力するイ
ンデックス信号に基づき、前記スクリーンにおける電子
ビームの各到来位置を検出して、その到来位置情報を前
記補正波形作成部に与える位置検出部と、を具備するこ
とを特徴とするものである。According to a third aspect of the present invention, a screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen, and an electron which is arranged between the electron gun and the screen and converges A cathode ray tube including a shadow mask that transmits a beam, and an electron that is attached to a neck portion of the cathode ray tube and deflects an electron beam emitted from the electron gun in horizontal and vertical directions on the screen and performs convergence correction. Beam deflecting means, a deflection section for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, a correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation of a display image on the screen, and the deflection. Waveform correction section to be given to the electron gun, and a test for giving a linear test signal to the electron gun on the screen Signal generator and two-dimensionally arrayed on the surface of the shadow mask facing the electron gun so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. The ones arranged above and below have a larger shape than those arranged on most surfaces of the shadow mask, and a plurality of index phosphors that emit light by the arrival of an electron beam, and a test signal of the test signal generator, A plurality of photoelectric conversion units that detect an emission output when an electron beam from the electron gun is emitted and arrive at any of the index phosphors and output an index signal, and an index output by each photoelectric conversion unit. A position detection unit that detects each arrival position of the electron beam on the screen based on the signal and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit. , It is characterized in that it comprises a.
【0014】本願の請求項4の発明は、蛍光体が形成さ
れたスクリーン、前記スクリーンに対して複数の電子ビ
ームを出射する電子銃、前記電子銃及び前記スクリーン
の間に配置されて収束した電子ビームを透過させるシャ
ドウマスクを含む陰極線管と、前記陰極線管のネック部
に取り付けられ、前記電子銃から放射された電子ビーム
を前記スクリーン上で水平及び垂直方向に偏向させると
共に、コンバーゼンス補正をする電子ビーム偏向手段
と、前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正
電流を与える偏向部と、前記スクリーンにおける表示画
像の幾何学的歪みとコンバーゼンスのずれとを補正する
補正波形を生成して前記偏向部に与える補正波形作成部
と、前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電
子銃に与えるテスト信号発生部と、前記シャドウマスク
の前記電子銃と対向する面の大半に渡って設けられ、且
つ電子ビームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるよ
うに二次元的に複数個配列され、電子ビームの到来によ
って発光する第1のインデックス蛍光体と、前記シャド
ウマスクの前記電子銃と対向する面の垂直対称軸上に設
けられ、電子ビームの到来によって発光し、前記第1の
インデックス蛍光体より大きな形状を有し、且つ中心発
光波長が異なる第2のインデックス蛍光体と、前記テス
ト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃から各電
子ビームが放射されて前記第1のインデックス蛍光体の
いずれかに到来した際の発光出力を検出して第1のイン
デックス信号を出力する第1の光電変換部と、前記テス
ト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃から各電
子ビームが放射されて前記第2のインデックス蛍光体に
到来した際の発光出力を検出して第2のインデックス信
号を出力する第2の光電変換部と、前記第1及び第2の
光電変換部の出力する第1及び第2のインデックス信号
に基づき、前記スクリーンにおける各電子ビームの各到
来位置を検出して、その到来位置情報を前記補正波形作
成部に与える位置検出部と、を設けたことを特徴とする
ものである。According to a fourth aspect of the present invention, a screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen, and an electron arranged between the electron gun and the screen and converged. A cathode ray tube including a shadow mask that transmits a beam, and an electron that is attached to a neck portion of the cathode ray tube and deflects an electron beam emitted from the electron gun in horizontal and vertical directions on the screen and performs convergence correction. Beam deflecting means, a deflection section for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, a correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation of a display image on the screen, and the deflection. Waveform correction section to be given to the electron gun, and a test for giving a linear test signal to the electron gun on the screen Signal generating portion, provided over most of the surface of the shadow mask facing the electron gun, and a plurality of two-dimensionally arranged so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A first index phosphor that emits light when an electron beam arrives, and a first index phosphor that is provided on a vertical symmetry axis of a surface of the shadow mask that faces the electron gun and that emits light when an electron beam arrives. A second index phosphor having a larger shape and a different central emission wavelength, and a test signal from the test signal generator radiate each electron beam from the electron gun to cause the first index phosphor to emit light. A first photoelectric conversion unit that detects a light emission output when any one of the light sources arrives and outputs a first index signal, and a test signal from the test signal generation unit, A second photoelectric conversion unit that detects a light emission output when each electron beam is emitted from the electron gun and reaches the second index phosphor, and outputs a second index signal, and the first and second photoelectric conversion units. A position detection unit that detects each arrival position of each electron beam on the screen based on the first and second index signals output from the photoelectric conversion unit, and applies the arrival position information to the correction waveform creation unit; Is provided.
【0015】本願の請求項6の発明は、蛍光体が形成さ
れたスクリーン、前記スクリーンに対して複数の電子ビ
ームを出射する電子銃、前記電子銃及び前記スクリーン
の間に配置されて収束した電子ビームを透過させるシャ
ドウマスクを含む陰極線管と、前記陰極線管のネック部
に取り付けられ、前記電子銃から放射された電子ビーム
を前記スクリーン上で水平及び垂直方向に偏向させると
共に、コンバーゼンス補正をする電子ビーム偏向手段
と、前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正
電流を与える偏向部と、前記スクリーンにおける表示画
像の幾何学的歪みとコンバーゼンスのずれとを補正する
補正波形を生成して前記偏向部に与える補正波形作成部
と、前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電
子銃に与えるテスト信号発生部と、前記シャドウマスク
の前記電子銃と対向する面に電子ビームの偏向角の増大
に応じて間隔が狭くなるように二次元的に複数組配列さ
れ、電子ビームの到来位置によって異なる波長で発光す
る第1及び第2の蛍光体から構成されたインデックス蛍
光体と、前記テスト信号発生部のテスト信号により、前
記電子銃から各電子ビームが放射されて前記第1の蛍光
体に到来した際の発光出力を検出して第1のインデック
ス信号を出力する第1の光電変換部と、前記テスト信号
発生部のテスト信号により、前記電子銃から各電子ビー
ムが放射されて前記第2の蛍光体に到来した際の発光出
力を検出して第2のインデックス信号を出力する第2の
光電変換部と、前記第1及び第2の光電変換部の出力す
る第1及び第2のインデックス信号に基づき、前記スク
リーンにおける各電子ビームの各到来位置を検出して、
その到来位置情報を前記補正波形作成部に与えると共
に、前記第1と第2のインデックス信号のうち一方が得
られないとき、前記テスト信号のスクリーンでの位置を
水平方向に移動させる信号を前記テスト信号発生部に与
える位置検出部と、を設けたことを特徴とするものであ
る。According to a sixth aspect of the present invention, a screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen, and an electron arranged between the electron gun and the screen and converged. A cathode ray tube including a shadow mask that transmits a beam, and an electron that is attached to a neck portion of the cathode ray tube and deflects an electron beam emitted from the electron gun in horizontal and vertical directions on the screen and performs convergence correction. Beam deflecting means, a deflection section for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, a correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation of a display image on the screen, and the deflection. Waveform correction section to be given to the electron gun, and a test for giving a linear test signal to the electron gun on the screen Signal generation section and a surface of the shadow mask facing the electron gun are two-dimensionally arranged in plural sets such that the intervals become narrower as the deflection angle of the electron beam increases, and the wavelengths differ depending on the arrival position of the electron beam. Each electron beam is radiated from the electron gun to reach the first phosphor by the index phosphor composed of the first and second phosphors that emit light by the test signal and the test signal from the test signal generator. Each electron beam is emitted from the electron gun by the first photoelectric conversion unit that detects a light emission output at the time and outputs the first index signal, and the test signal of the test signal generation unit, and the second fluorescence is emitted. A second photoelectric conversion unit that detects a light emission output upon reaching the body and outputs a second index signal, and a first and second index signal that are output by the first and second photoelectric conversion units. Hazuki detects the respective arrival positions of the electron beams in the screen,
The arrival position information is given to the correction waveform creating section, and when one of the first and second index signals is not obtained, a signal for horizontally moving the position of the test signal on the screen is used as the test signal. And a position detecting section for giving to the signal generating section.
【0016】本願の請求項8の発明は、蛍光体が形成さ
れたスクリーン、前記スクリーンに対して複数の電子ビ
ームを出射する電子銃、前記電子銃及び前記スクリーン
の間に配置されて収束した電子ビームを透過させるシャ
ドウマスクを含む陰極線管と、前記陰極線管のネック部
に取り付けられ、前記電子銃から放射された電子ビーム
を前記スクリーン上で水平及び垂直方向に偏向させると
共に、コンバーゼンス補正をする電子ビーム偏向手段
と、前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正
電流を与える偏向部と、前記スクリーンにおける表示画
像の幾何学的歪みとコンバーゼンスのずれとを補正する
補正波形を生成して前記偏向部に与える補正波形作成部
と、前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電
子銃に与えるテスト信号発生部と、前記シャドウマスク
の前記電子銃と対向する面に電子ビームの偏向角の増大
に応じて間隔が狭くなるように二次元的に配列して設け
られ、電子ビームの到来によって発光する複数のインデ
ックス蛍光体と、前記テスト信号発生部のテスト信号に
より、前記電子銃からの電子ビームが放射されて前記イ
ンデックス蛍光体のいずれかに到来した際の発光出力を
検出してインデックス信号を出力する光電変換部と、前
記光電変換部の出力するインデックス信号に基づき、前
記スクリーンにおける電子ビームの各到来位置を検出し
て、その到来位置情報を前記補正波形作成部に与える位
置検出部と、前記電子ビームの位置を垂直方向及び水平
方向に一定量移動させる信号を前記補正波形作成部に与
える補助偏向制御手段と、前記位置検出部からの出力と
前記補助偏向制御手段からの出力により電子ビームの幾
何学的歪みを判別し、その結果を前記補正波形作成部に
与える歪み判別部と、を具備することを特徴とするもの
である。According to the invention of claim 8 of the present application, a screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen, and an electron which is arranged between the electron gun and the screen and converges. A cathode ray tube including a shadow mask that transmits a beam, and an electron that is attached to a neck portion of the cathode ray tube and deflects an electron beam emitted from the electron gun in horizontal and vertical directions on the screen and performs convergence correction. Beam deflecting means, a deflection section for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, a correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation of a display image on the screen, and the deflection. Waveform correction section to be given to the electron gun, and a test for giving a linear test signal to the electron gun on the screen Signal generator and a surface of the shadow mask that faces the electron gun are two-dimensionally arranged so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases, and emits light when the electron beam arrives. An index signal is output by detecting a light emission output when an electron beam is emitted from the electron gun and reaches any one of the index phosphors by a plurality of index phosphors and a test signal of the test signal generator. Based on the index signal output by the photoelectric conversion unit, and the photoelectric conversion unit to detect each arrival position of the electron beam on the screen, the position detection unit for giving the arrival position information to the correction waveform creation unit, the Auxiliary deflection control means for giving a signal for moving the position of the electron beam in the vertical direction and in the horizontal direction by a certain amount to the correction waveform creating section; And a distortion discriminating section for discriminating the geometrical distortion of the electron beam from the output from the auxiliary deflection control means and giving the result to the correction waveform creating section. is there.
【0017】このような特徴を有する本願の請求項1、
2の発明によれば、シャドウマスクの電子銃と対向する
面に、電子ビームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くな
るように複数のインデックス蛍光体を二次元的に配列
し、電子ビームの到来によって発光するようにする。陰
極線管のネック部に取り付けられ電子ビーム偏向手段
は、電子銃から放射された電子ビームをスクリーン上で
水平及び垂直方向に偏向させる。陰極線管の幾何学的歪
みとコンバーゼンスのずれとを補正するとき、先ずテス
ト信号発生部はスクリーン上で線状となるテスト信号を
電子銃に与える。光電変換部はテスト信号発生部のテス
ト信号により、電子ビームが放射されてインデックス蛍
光体のいずれかに到来した際の発光出力を検出し、イン
デックス信号を出力する。位置検出部は光電変換部の出
力するインデックス信号に基づき、スクリーンにおける
電子ビームの各到来位置を検出して、その到来位置情報
を補正波形作成部に与える。次に補正波形作成部はスク
リーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコンバーゼン
スのずれとを補正する補正波形を生成し、偏向部に与え
る。そして偏向部は電子ビーム偏向手段に偏向制御電流
と偏向補正電流を与える。こうすると表示画面が平面に
近くても、幾何学的歪み及びコンバーゼンスを自動的に
精度良く補正することができる。Claim 1 of the present application having such characteristics
According to the second aspect of the invention, a plurality of index phosphors are two-dimensionally arranged on the surface of the shadow mask facing the electron gun so that the intervals become narrower as the deflection angle of the electron beam increases. Make it emit light upon arrival. The electron beam deflecting means attached to the neck portion of the cathode ray tube deflects the electron beam emitted from the electron gun horizontally and vertically on the screen. When correcting the geometrical distortion of the cathode ray tube and the deviation of the convergence, first, the test signal generator gives a test signal which is linear on the screen to the electron gun. The photoelectric conversion unit detects the light emission output when the electron beam is emitted and reaches any of the index phosphors by the test signal of the test signal generation unit, and outputs the index signal. The position detection unit detects each arrival position of the electron beam on the screen based on the index signal output from the photoelectric conversion unit, and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit. Next, the correction waveform generation unit generates a correction waveform for correcting the geometrical distortion of the display image on the screen and the deviation of the convergence, and gives the correction waveform to the deflection unit. Then, the deflecting unit applies the deflection control current and the deflection correction current to the electron beam deflecting means. By doing so, even if the display screen is close to a flat surface, it is possible to automatically and accurately correct geometrical distortion and convergence.
【0018】また本願の請求項3の発明によれば、前項
の発明の要素に加えて、シャドウマスクの垂直対称軸上
の上下に配置されるインデックス蛍光体は、シャドウマ
スクの大半の面に配置されるものより形状を大きくして
いる。このため垂直方向の幾何学的歪み量及びコンバー
ゼンスのずれ量の大きい場合でも、テスト信号が必ずイ
ンデックス蛍光体を走査することになり、スクリーン中
央部における垂直方向の大きな位置ずれ量を容易に検出
できる。According to the invention of claim 3 of the present application, in addition to the elements of the invention of the preceding paragraph, the index phosphors arranged above and below the vertical symmetry axis of the shadow mask are arranged on most surfaces of the shadow mask. It has a larger shape than what is used. Therefore, even when the geometrical distortion amount and the convergence deviation amount in the vertical direction are large, the test signal always scans the index phosphor, and a large vertical position deviation amount in the central portion of the screen can be easily detected. .
【0019】又本願の請求項4、5の発明によれば、請
求項3の発明の要素に加えて、第1のインデックス蛍光
体をシャドウマスクの面の大半に渡って設けると共に、
第2のインデックス蛍光体を第1のインデックス蛍光体
より大きな形状にし、且つ中心発光波長を異なるように
しておく。こうするとテスト信号によって得られた発光
が第1又は第2のインデックス蛍光体のいずれによるも
のかを区別できる。このため水平方向の幾何学的歪み量
及びコンバーゼンスのずれ量の大きい場合でも、第1及
び第2のインデックス蛍光体の出力状態の組み合わせに
よりインデックス信号の出力状態を容易に検出できる。According to the inventions of claims 4 and 5, in addition to the elements of the invention of claim 3, the first index phosphor is provided over most of the surface of the shadow mask, and
The shape of the second index phosphor is larger than that of the first index phosphor, and the central emission wavelengths are different. This makes it possible to distinguish whether the light emission obtained by the test signal is due to the first or second index phosphor. Therefore, even when the horizontal geometric distortion amount and the convergence deviation amount are large, the output state of the index signal can be easily detected by the combination of the output states of the first and second index phosphors.
【0020】又本願の請求項6、7の発明によれば、請
求項1、2の発明の要素に加えて、2種類の蛍光体から
なるインデックス蛍光体をシャドウマスクの面に渡って
複数箇所に設ける。そして一方の蛍光体の中心発光波長
を他方の蛍光体のものより異なるようにしておく。特に
第1と第2のインデックス信号のうち一方が得られない
とき、水平方向のずれが大きいと判断する。こうすると
水平方向の幾何学的歪み量及びコンバーゼンスのずれが
スクリーン上のどの部分で生じても、2種類の蛍光体の
出力状態の組み合わせによりインデックス信号の出力状
態を容易に検出できる。According to the inventions of claims 6 and 7, in addition to the elements of the inventions of claims 1 and 2, index phosphors composed of two kinds of phosphors are provided at a plurality of positions over the surface of the shadow mask. To be installed. Then, the central emission wavelength of one phosphor is set to be different from that of the other phosphor. Especially, when one of the first and second index signals cannot be obtained, it is determined that the horizontal shift is large. In this way, the output state of the index signal can be easily detected by the combination of the output states of the two types of phosphors, regardless of where on the screen the geometric distortion amount and the convergence shift in the horizontal direction occur.
【0021】本願の請求項8、9の発明によれば、請求
項1、2の発明の要素に加えて、補助偏向制御手段と歪
み判別部とを設ける。補助偏向制御手段は電子ビームの
位置を垂直方向又は水平方向に一定量移動させる信号を
補正波形作成部に与える。歪み判別部は、位置検出部か
らの出力と補助偏向制御手段からの出力とにより電子ビ
ームの幾何学的歪みを判別し、その結果を補正波形作成
部に与える。こうするとテスト信号を一定量移動させた
場合のインデックス信号の状態を判別することにより、
幾何学的歪みを精度良く検出し、幾何学的歪み及びコン
バーゼンスを補正することができる。According to the eighth and ninth aspects of the present invention, in addition to the elements of the first and second aspects of the invention, an auxiliary deflection control means and a distortion determining section are provided. The auxiliary deflection control means gives a signal for moving the position of the electron beam in the vertical direction or in the horizontal direction by a predetermined amount to the correction waveform creating section. The distortion discriminating section discriminates the geometric distortion of the electron beam from the output from the position detecting section and the output from the auxiliary deflection control means, and gives the result to the correction waveform creating section. By doing this, by determining the state of the index signal when the test signal is moved by a certain amount,
The geometric distortion can be detected with high accuracy, and the geometric distortion and the convergence can be corrected.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】本発明の第1実施例における陰極
線管制御装置について図1〜図5を参照しながら説明す
る。図1は第1実施例の陰極線管制御装置の動作原理を
示す概念図である。図2は本実施例の陰極線管制御装置
の構造を示すブロック図であり、図3は各回路部の内部
構成を具体的に示したブロック図である。いずれの図に
おいても従来例と同一部分は同一の名称をつけ、それら
の詳細な説明は省略する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A cathode ray tube control device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a conceptual diagram showing the operating principle of the cathode ray tube controller of the first embodiment. FIG. 2 is a block diagram showing the structure of the cathode ray tube control device of this embodiment, and FIG. 3 is a block diagram specifically showing the internal configuration of each circuit section. In any of the drawings, the same parts as those in the conventional example are given the same names, and detailed description thereof will be omitted.
【0023】図1に示すように陰極線管100にR、
G、B色の電子銃1、2、3がそれぞれ設けられてい
る。シャドウマスク4は電子銃1〜3から放射された電
子ビームが収束する部分に設けられた湾曲マスクであ
る。シャドウマスク4の背後に平面に近い蛍光面5が設
けられている。蛍光面5はR、G、Bの蛍光体がマトリ
ックス状に塗布された蛍光面であり、画像を映出するス
クリーンを構成している。インデックス蛍光体6は電子
ビームの主走査位置を検出するためにシャドウマスク4
の電子銃1〜3側の全面にマトリックス状に塗布された
検出素子である。インデックス蛍光体6は電子ビームの
主走査方向に対して斜め方向の線状体で構成され、ここ
では逆V字状となっている。As shown in FIG. 1, the cathode ray tube 100 is provided with R,
The G and B color electron guns 1, 2, and 3 are provided, respectively. The shadow mask 4 is a curved mask provided in a portion where the electron beams emitted from the electron guns 1 to 3 converge. Behind the shadow mask 4 is provided a fluorescent screen 5 which is nearly flat. The phosphor screen 5 is a phosphor screen in which R, G, and B phosphors are applied in a matrix form, and constitutes a screen for displaying an image. The index phosphor 6 is a shadow mask 4 for detecting the main scanning position of the electron beam.
Is a detection element applied in a matrix on the entire surface of the electron guns 1 to 3 side. The index phosphor 6 is composed of a linear body oblique to the main scanning direction of the electron beam, and has an inverted V shape here.
【0024】ここで図1(a)に示すように、インデッ
クス蛍光体6は、シャドウマスク4上で電子ビームの偏
向角の増大に応じて、隣接した2つのパターン間の間隔
が狭くなるように配置されている。このような配置によ
り、蛍光面5が平面に近く、且つスクリーン周辺部に行
くにつれてシャドウマスク4と蛍光面5との距離が大き
くなる陰極線管においては、図1(b)十字のマークで
示すように見て夫々のインデックス蛍光体6の同一位置
を通過して蛍光面5上に投影される電子ビームの位置が
水平及び垂直方向に均等な間隔となる。但しインデック
ス蛍光体6が塗布されたシャドウマスク4の大部分は非
貫通なので、電子ビームは図1(b)の十字マークの部
分にランディングする訳ではない。Here, as shown in FIG. 1A, the index phosphor 6 is arranged so that the interval between two adjacent patterns becomes narrower as the deflection angle of the electron beam on the shadow mask 4 increases. It is arranged. With such an arrangement, in the cathode ray tube in which the phosphor screen 5 is close to a flat surface and the distance between the shadow mask 4 and the phosphor screen 5 becomes larger toward the peripheral portion of the screen, as shown by the cross mark in FIG. The positions of the electron beams passing through the same positions of the respective index phosphors 6 and projected onto the phosphor screen 5 are uniformly spaced in the horizontal and vertical directions. However, since most of the shadow mask 4 coated with the index phosphor 6 is non-penetrating, the electron beam does not land on the cross mark portion of FIG. 1B.
【0025】図3に示すように陰極線管制御装置は、電
子ビーム偏向手段としてのコンバーゼンスヨーク101
と偏向ヨーク102が取り付けられた陰極線管100を
含んで構成される。入力端子103から信号処理部15
に映像信号が入力され、入力端子104から同期信号が
入力される。偏向部14は幾何学的歪み画面振幅補正回
路19とコンバーゼンス補正回路20から構成される回
路であり、同期信号に基づいて水平及び垂直偏向信号と
コンバーゼンス信号とを発生すると共に、補正波形作成
部13の生成する補正波形を重畳してコンバーゼンスヨ
ーク101と偏向ヨーク102に偏向電流を与える回路
である。即ち偏向部14は、各色の表示領域が全画面に
渡って均一に位置するための幾何学的歪みの補正波形を
作成したり、画面振幅の補正データにより偏向補正を行
う。更に偏向部14は各色の表示領域が全画面に渡って
同一箇所に位置するよう色ずれの補正波形を生成し、コ
ンバーゼンス補正を行う。As shown in FIG. 3, the cathode ray tube controller includes a convergence yoke 101 as an electron beam deflecting means.
And a cathode ray tube 100 to which a deflection yoke 102 is attached. From the input terminal 103 to the signal processing unit 15
The video signal is input to the input terminal, and the synchronization signal is input from the input terminal 104. The deflection unit 14 is a circuit including a geometric distortion screen amplitude correction circuit 19 and a convergence correction circuit 20. The deflection unit 14 generates horizontal and vertical deflection signals and a convergence signal based on a synchronization signal, and also a correction waveform generation unit 13 Is a circuit that superimposes the correction waveform generated by the above and applies a deflection current to the convergence yoke 101 and the deflection yoke 102. That is, the deflection unit 14 creates a correction waveform of geometrical distortion so that the display areas of the respective colors are uniformly positioned over the entire screen, and performs the deflection correction based on the correction data of the screen amplitude. Further, the deflection unit 14 generates a color misregistration correction waveform so that the display areas of the respective colors are located at the same position over the entire screen, and performs the convergence correction.
【0026】信号処理部15はテスト信号発生部を含
み、映像信号又はテスト信号を電力増幅し、陰極線管1
00のドライブ電極にそれらの信号を与える回路であ
る。検出部12は、光電変換素子21、時間/電圧変換
器22、計測回路23を含む回路であり、インデックス
蛍光体6がテスト信号により発光したインデックス信号
を入力し、受光時刻及び受光間隔等の信号により陰極線
管100の幾何学的歪みとコンバーゼンスのずれを検出
する位置検出部である。補正波形作成部13は検出部1
2の信号が入力されると、同期信号に同期して補正波形
を生成し、偏向部14に出力する回路である。The signal processor 15 includes a test signal generator, power-amplifies a video signal or a test signal, and outputs the signal to the cathode ray tube 1.
00 is a circuit that gives those signals to the drive electrodes. The detection unit 12 is a circuit that includes a photoelectric conversion element 21, a time / voltage converter 22, and a measurement circuit 23. The index phosphor 6 inputs an index signal emitted by a test signal, and receives signals such as a light reception time and a light reception interval. Is a position detection unit for detecting the geometrical distortion of the cathode ray tube 100 and the deviation of the convergence. The correction waveform creation unit 13 is the detection unit 1.
When the second signal is input, it is a circuit that generates a correction waveform in synchronization with the synchronization signal and outputs the correction waveform to the deflection unit 14.
【0027】このように構成された第1実施例の陰極線
管制御装置の動作について図1〜図3を用いて基本的な
動作を説明をする。図3の入力端子104には同期信号
が入力され、偏向部14で画面をラスタ走査するための
補正電流を作成する。この補正電流をコンバーゼンスヨ
ーク101や偏向ヨーク102に供給し、走査速度を制
御する。入力端子103から入力された映像信号は信号
処理部15に与えられ、信号処理部15は陰極線管(C
RT)100のカソード電極を駆動するための各種の信
号処理や増幅を行う。Regarding the operation of the cathode ray tube control apparatus of the first embodiment thus constructed, the basic operation will be described with reference to FIGS. A synchronizing signal is input to the input terminal 104 of FIG. 3, and the deflection unit 14 creates a correction current for raster scanning the screen. This correction current is supplied to the convergence yoke 101 and the deflection yoke 102 to control the scanning speed. The video signal input from the input terminal 103 is given to the signal processing unit 15, and the signal processing unit 15 receives the cathode ray tube (C
(RT) 100 performs various kinds of signal processing and amplification for driving the cathode electrode.
【0028】図1に示すように陰極線管100の内部に
おいて、シャドウマスク4で配置された複数個のインデ
ックス蛍光体6は、テスト信号発生部のテスト信号で輝
度変調された電子ビームが入射されると発光する。この
光はインデックス信号(2次元的位置信号)として図3
の光電変換素子21に与えられ、電気信号に変換され
る。こうしてインデックス蛍光体6からの帰還信号は検
出部12に入力され、テスト信号による発光位置が検出
される。補正波形作成部13はこの検出信号から幾何学
的歪みやコンバーゼンスのずれの補正を行うための最適
の補正波形を作成する。補正波形作成部13の補正波形
は偏向部14に供給され、電子ビームの走査を制御する
ために用いられる。As shown in FIG. 1, inside the cathode ray tube 100, the plurality of index phosphors 6 arranged by the shadow mask 4 are irradiated with the electron beam whose brightness is modulated by the test signal of the test signal generator. Emits light. This light is used as an index signal (two-dimensional position signal) in FIG.
Is supplied to the photoelectric conversion element 21 and is converted into an electric signal. In this way, the feedback signal from the index phosphor 6 is input to the detector 12, and the light emitting position by the test signal is detected. The correction waveform creation unit 13 creates an optimum correction waveform for correcting geometric distortion and convergence deviation from this detection signal. The correction waveform of the correction waveform creation unit 13 is supplied to the deflection unit 14 and is used to control the scanning of the electron beam.
【0029】以上のように、シャドウマスク4上の所定
位置に配列された、電子ビームの主走査方向に対して2
つの斜めの線状体で構成されたインデックス蛍光体6に
より、前記電子ビームの走査に応じてインデックス信号
を発生する。そして検出部12で前記電子ビームの2次
元の位置を検出し、検出部12の検出信号により電子ビ
ームを偏向して自動的に幾何学的歪みやコンバーゼンス
の補正を行うことができる。As described above, the shadow mask 4 is arranged at a predetermined position in the main scanning direction of the electron beam.
An index signal is generated according to the scanning of the electron beam by the index phosphor 6 composed of two oblique linear members. Then, the two-dimensional position of the electron beam can be detected by the detection unit 12, and the electron beam can be deflected by the detection signal of the detection unit 12 to automatically correct geometrical distortion and convergence.
【0030】次に本実施例の制御方法について、図3〜
図4のブロック図と図5の波形図とを用いて詳細に説明
する。図4は補正波形作成部13の具体的な構成を示す
ブロック図である。本図に示すように、補正波形作成部
13は補正データを保持するメモリ27を有する。メモ
リ27は同期信号に同期してアドレス発生回路26によ
りアドレスが制御される。演算回路31は検出部12の
検出信号に基づき各補正点の補正データを演算する回路
であり、この補正データはメモリ27に保持される。Next, the control method of this embodiment will be described with reference to FIGS.
This will be described in detail with reference to the block diagram of FIG. 4 and the waveform diagram of FIG. FIG. 4 is a block diagram showing a specific configuration of the correction waveform creating unit 13. As shown in the figure, the correction waveform creation unit 13 has a memory 27 that holds correction data. The address of the memory 27 is controlled by the address generation circuit 26 in synchronization with the synchronization signal. The calculation circuit 31 is a circuit that calculates correction data of each correction point based on the detection signal of the detection unit 12, and this correction data is stored in the memory 27.
【0031】ここでいう補正データとは検出信号(位置
ずれ信号)により各補正点の位置ずれ量を補正するデー
タである。補間回路28はメモリ27から読み出された
各補正点のデータを用いて補正点間のデータ補間を行う
回路である。D/A変換器29は補間回路28で補間さ
れたデータをアナログ量に変換する回路である。LPF
(低域通過フィルタ)30はD/A変換器29で変換さ
れたアナログ量を平滑する回路である。このように図3
の計測回路23からの位置ずれ信号は補正波形作成部1
3に供給され、各種の補正波形が作成される。The correction data mentioned here is data for correcting the amount of positional deviation of each correction point by the detection signal (positional deviation signal). The interpolation circuit 28 is a circuit that interpolates data between correction points using the data of each correction point read from the memory 27. The D / A converter 29 is a circuit that converts the data interpolated by the interpolation circuit 28 into an analog amount. LPF
The (low-pass filter) 30 is a circuit for smoothing the analog amount converted by the D / A converter 29. Thus, FIG.
The positional deviation signal from the measuring circuit 23 of FIG.
3 and various correction waveforms are created.
【0032】インデックス蛍光体6の拡大図を図5
(a)に示す。従来例と異なり、インデックス蛍光体6
は2つの斜め線状体6c、6dで構成される。R,G,
B各電子銃に信号処理部15よりテスト信号が入力さ
れ、インデックス蛍光体6上にテスト信号24,25が
映出する。ここでテスト信号25はGのテスト信号、テ
スト信号24はRのテスト信号とする。Bのテスト信号
はRのテスト信号24と同じ動作をするので、図面には
記さず説明は省略する。この場合テスト信号25の光電
変換信号は図5(b)のようになり、テスト信号24の
光電変換信号は図5(c)のようになる。このように斜
め線状体6a、6cを電子ビームが横切るとき、最初の
立ち上がりエッジでパルスを発生するものとする。An enlarged view of the index phosphor 6 is shown in FIG.
(A). Different from the conventional example, the index phosphor 6
Is composed of two diagonal linear members 6c and 6d. R, G,
A test signal is input from the signal processing unit 15 to each electron gun B, and the test signals 24 and 25 are projected on the index phosphor 6. Here, the test signal 25 is a G test signal, and the test signal 24 is an R test signal. Since the B test signal operates in the same manner as the R test signal 24, it is not shown in the drawing and its explanation is omitted. In this case, the photoelectric conversion signal of the test signal 25 is as shown in FIG. 5B, and the photoelectric conversion signal of the test signal 24 is as shown in FIG. 5C. When the electron beam crosses the oblique linear members 6a and 6c in this manner, a pulse is generated at the first rising edge.
【0033】図3の光電変換素子21により光電変換さ
れた信号は、時間/電圧変換器22に供給されて信号の
2次元的位置が抽出される。時間/電圧変換器22はテ
スト信号25により、図5(b)に示す2つのタイミン
グパルスが入力されると、(d)に示すゲートパルスを
生成し、更に(f)に示すランプ信号を発生する。同様
にして時間/電圧変換器22は、テスト信号24により
図5(c)に示す2つのタイミングパルスが入力される
と、(e)に示すゲートパルスを生成し、更に(g)に
示すランプ信号を発生する。The signal photoelectrically converted by the photoelectric conversion element 21 of FIG. 3 is supplied to the time / voltage converter 22 and the two-dimensional position of the signal is extracted. When the two timing pulses shown in FIG. 5B are input by the test signal 25, the time / voltage converter 22 generates the gate pulse shown in FIG. 5D and further generates the ramp signal shown in FIG. To do. Similarly, the time / voltage converter 22 generates the gate pulse shown in (e) when the two timing pulses shown in FIG. 5 (c) are input by the test signal 24, and further the ramp shown in (g). Generate a signal.
【0034】計測回路23では図5(a)のテスト信号
25を基準信号と見なすと共に、テスト信号24を集束
信号と見なし、タイミングを計測する。第1番目に垂直
方向のコンバーゼンス等の位置計測を行う場合は、テス
ト信号25、24を映出し、図5(b)、(c)のよう
に、インデックス蛍光体6の左の斜め線状体6cから右
の斜め線状体6dまで電子ビームが走査するのに要する
時間間隔t1、t2をそれぞれ計測する。The measuring circuit 23 regards the test signal 25 of FIG. 5A as a reference signal and the test signal 24 as a focusing signal, and measures the timing. When the first position measurement such as convergence in the vertical direction is performed, the test signals 25 and 24 are projected, and the left diagonal linear member of the index phosphor 6 is displayed as shown in FIGS. 5B and 5C. Time intervals t1 and t2 required for the electron beam to scan from 6c to the right diagonal linear member 6d are measured.
【0035】計測の方法としては、図5(d)、(e)
に示すようなゲートパルスを作成し、この信号から図5
(f)、(g)に示すランプ信号を発生して、時間間隔
を電圧情報に変換する。従って、垂直方向の基準信号の
時間間隔を示す量としては電圧V1が検出され、集束信
号の時間間隔を示す量としては電圧V2が検出される。
時間/電圧変換器22からの時間電圧変換された信号は
計測回路23に供給されて、各補正方向のずれ量が計測
される。このずれ量によりテスト信号24がテスト信号
25と同一垂直位置(V1 =V2 )となるように補正を
する。The measurement method is as shown in FIGS. 5 (d) and 5 (e).
The gate pulse shown in Fig. 5 is created, and from this signal,
The ramp signals shown in (f) and (g) are generated to convert the time interval into voltage information. Therefore, the voltage V1 is detected as the amount indicating the time interval of the vertical reference signal, and the voltage V2 is detected as the amount indicating the time interval of the focusing signal.
The time-voltage converted signal from the time / voltage converter 22 is supplied to the measuring circuit 23, and the deviation amount in each correction direction is measured. Based on this shift amount, the test signal 24 is corrected so as to be in the same vertical position (V1 = V2) as the test signal 25.
【0036】第2番目に水平方向のコンバーゼンス等の
位置計測を行う場合も同様である。即ちテスト信号2
5、24を映出し、図5(h)、(i)のように基準信
号と集束信号の出力時からインデックス蛍光体6が発光
するまでの時間間隔t3、t4を計測する。計測の方法
としては、図5(d)、(e)と同様にしてタイミング
パルスをもとにゲートパルスを作成し、このゲートパル
スから図5(j)、(k)に示すランプ信号を発生す
る。そしてこれらのランプ信号の時間間隔を電圧情報に
変換する。従って、水平方向の基準信号の時間間隔を示
す量としては電圧V3が、集束信号の時間間隔を示す量
としては電圧V4が検出される。時間/電圧変換器22
で電圧変換された信号は計測回路23に供給されて、各
補正方向のずれ量が計測される。このずれ量によりテス
ト信号24がテスト信号25と同一水平位置(V3=V
4)になるように補正をする。The same applies when the second position measurement such as convergence in the horizontal direction is performed. That is, test signal 2
5 and 24 are projected, and the time intervals t3 and t4 from the output of the reference signal and the focusing signal to the emission of the index phosphor 6 are measured as shown in FIGS. As a measuring method, a gate pulse is created based on the timing pulse in the same manner as in FIGS. 5D and 5E, and the ramp signal shown in FIGS. 5J and 5K is generated from the gate pulse. To do. Then, the time intervals of these ramp signals are converted into voltage information. Therefore, the voltage V3 is detected as the amount indicating the time interval of the horizontal reference signal, and the voltage V4 is detected as the amount indicating the time interval of the focusing signal. Time / voltage converter 22
The voltage-converted signal is supplied to the measuring circuit 23, and the deviation amount in each correction direction is measured. Due to this shift amount, the test signal 24 and the test signal 25 are at the same horizontal position (V3 = V
4) Make corrections.
【0037】以上の位置ずれ量に基づき図2及び図3の
補正波形作成部13は、幾何学的歪、画面振幅、コンバ
ーゼンス等を制御するための補正波形を作成する。この
補正波形の作成は従来例と同様に、ディジタルコンバー
ゼンス方式により行う。Based on the above positional deviation amount, the correction waveform creating unit 13 in FIGS. 2 and 3 creates a correction waveform for controlling geometric distortion, screen amplitude, convergence and the like. The correction waveform is created by the digital convergence method as in the conventional example.
【0038】なお、本実施例では図5(a)に示すよう
に代表点のみの補正手段について説明したが、全画面の
補正を行うためには、図1に示す各インデックス蛍光体
6からの情報を順次検出して行うことにより、ダイナミ
ック的な補正波形を作成することができる。以上のよう
に、シャドウマスクの表面上の複数の検出素子を、偏向
角の増大に応じて隣接2点間の間隔が狭くなるように配
列することにより、表示画面が平面に近い陰極線管にお
いても、高精度な幾何学的歪み及びコンバーゼンスのず
れの補正を行うことができる。In this embodiment, as shown in FIG. 5 (a), the correction means for only the representative points has been described, but in order to correct the entire screen, the index phosphors 6 shown in FIG. A dynamic correction waveform can be created by sequentially detecting and performing information. As described above, by arranging a plurality of detecting elements on the surface of the shadow mask so that the interval between two adjacent points becomes narrower as the deflection angle increases, even in a cathode ray tube whose display screen is close to a flat surface. Therefore, it is possible to perform highly accurate correction of geometric distortion and convergence deviation.
【0039】本発明の第2実施例における陰極線管制御
装置について図6〜図9を参照しながら説明する。図6
は第2実施例の陰極線管制御装置の動作原理と構造を示
すブロック図である。いずれの図においても従来例及び
第1実施例と同一部分は同一の符号をつけ、それらの詳
細な説明は省略する。A cathode ray tube control apparatus according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG.
FIG. 6 is a block diagram showing the operating principle and structure of the cathode ray tube controller of the second embodiment. In each figure, the same parts as those in the conventional example and the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0040】第1実施例の陰極線管制御装置の構成と異
なるのは、陰極線管の検出面に配置された検出素子を、
垂直方向の幾何学的歪み量及びコンバーゼンスのずれ量
が大きい位置では大きくし、他の検出素子とは出力の異
なるインデックス蛍光体を用いたことである。こうする
と歪み量が大きくても補正が可能になる。The difference from the configuration of the cathode ray tube control device of the first embodiment is that the detection element arranged on the detection surface of the cathode ray tube is
This is because the index fluorescent substance is used at a position where the geometrical distortion amount in the vertical direction and the deviation amount of the convergence are large, and the output is different from that of other detection elements. This allows correction even if the amount of distortion is large.
【0041】図6、図7に示すようにシャドウマスク4
のインデックス蛍光体のうち、中央上下端部では他の位
置と比較して大きなハッチングで示すインデックス蛍光
体63を設けている。そしてこの部分以外は第1実施例
と同一の黒色で示すインデックス蛍光体6をマトリック
ス状に多数個配置する。このとき図7に示すように大き
いインデックス蛍光体63には、他のインデックス蛍光
体6とは異なる蛍光体を用いる。例えばインデックス蛍
光体63にP47の蛍光体を用い、他のインデックス蛍
光体6にP46蛍光体を用いる。As shown in FIGS. 6 and 7, the shadow mask 4
Of the index phosphors, the index phosphors 63, which are hatched larger than the other positions, are provided at the center upper and lower ends. Except for this portion, a large number of index phosphors 6 shown in black, which are the same as in the first embodiment, are arranged in a matrix. At this time, as shown in FIG. 7, a phosphor different from the other index phosphors 6 is used for the large index phosphor 63. For example, P47 phosphor is used for the index phosphor 63, and P46 phosphor is used for the other index phosphor 6.
【0042】インデックス蛍光体の分光特性を図8に示
す。P47とP46では出力の発光ピーク波長が異なる
ので、光電変換素子としてそれぞれの発光ピーク波長に
最も感度の高い光電子増倍管等を用いたり、波長により
透過率の異なるフィルタを光電子増倍管等と組み合わせ
て用いる。こうすると2種類のインデックス蛍光体6
3、6からの出力を識別できる。The spectral characteristics of the index phosphor are shown in FIG. Since P47 and P46 have different emission peak wavelengths of output, a photomultiplier tube or the like having the highest sensitivity for each emission peak wavelength is used as a photoelectric conversion element, or a filter having different transmittance depending on the wavelength is used as a photomultiplier tube or the like. Used in combination. With this, two types of index phosphors 6
The output from 3, 6 can be identified.
【0043】さて図6に示す光電変換素子32、33
は、インデックス領域を検出して光電変換を行うための
光電変換部で、インデックス蛍光体63、6の発光ピー
ク波長に最も感度が高い素子を用いる。これらの光電変
換素子32、33は陰極線管100の近傍又は内部に設
ける。また時間/電圧変換器34、35はインデックス
蛍光体63、6の大きさに基づいてダイナミックレンジ
を広くしている。計測回路23は2つの時間/電圧回路
34、35の信号を入力して位置ずれ信号を作成し、補
正波形作成部13に与える回路である。補正波形作成部
13の補正波形は偏向部14に出力される。また、テス
ト信号発生回路36はインデックス蛍光体63、6の大
きさに応じてテスト信号を発生する。ここで時間/電圧
変換器34,35と計測回路23は、テスト信号による
電子ビームのスクリーンへの到来位置を検出する位置検
出部の機能を有している。Now, the photoelectric conversion elements 32 and 33 shown in FIG.
Is a photoelectric conversion unit for performing photoelectric conversion by detecting the index region, and an element having the highest sensitivity to the emission peak wavelengths of the index phosphors 63 and 6 is used. These photoelectric conversion elements 32 and 33 are provided near or inside the cathode ray tube 100. The time / voltage converters 34 and 35 widen the dynamic range based on the size of the index phosphors 63 and 6. The measuring circuit 23 is a circuit that inputs signals from the two time / voltage circuits 34 and 35 to create a positional deviation signal and supplies the positional deviation signal to the correction waveform creating unit 13. The correction waveform of the correction waveform creation unit 13 is output to the deflection unit 14. The test signal generation circuit 36 also generates a test signal according to the size of the index phosphors 63 and 6. Here, the time / voltage converters 34 and 35 and the measurement circuit 23 have a function of a position detection unit that detects the arrival position of the electron beam at the screen by the test signal.
【0044】本実施例の陰極線管制御装置の動作につい
て図9を用いて詳細に説明する。前述したように陰極線
管においては、偏向の中心点から蛍光面までの距離は、
周辺にいくほど遠くなる。このため電子ビームの振れ
は、画面の4隅が最も大きくなる。従って幾何学的歪み
の補正を行わなければ、表示画面上での映像は、図9
(a)、(b)に示すように電子ビームの走査線が中央
上下端部で大きくくびれた形となる。The operation of the cathode ray tube controller of this embodiment will be described in detail with reference to FIG. As described above, in the cathode ray tube, the distance from the center point of deflection to the phosphor screen is
The farther you go, the farther you go. Therefore, the deflection of the electron beam becomes maximum at the four corners of the screen. Therefore, if the geometric distortion is not corrected, the image on the display screen will be as shown in FIG.
As shown in (a) and (b), the scanning lines of the electron beam have a large waist at the central upper and lower ends.
【0045】このような幾何学的歪みをもつ表示画面に
対して、仮に全画面で同じ大きさのインデックス蛍光体
6を用いると、図9(a)に示すように垂直方向の歪み
量が最も大きくなる画面の中央垂直端部で、テスト信号
61がインデックス蛍光体6上を通過しないことが起こ
り得る。この場合には、インデックス蛍光体6の発光に
よるインデックス信号が検出されず、幾何学的歪み及び
コンバーゼンスの補正に異常動作が生じる可能性があ
る。If an index phosphor 6 having the same size is used on the display screen having such a geometrical distortion, the distortion amount in the vertical direction is the highest as shown in FIG. 9 (a). It is possible that the test signal 61 does not pass over the index phosphor 6 at the central vertical edge of the enlarged screen. In this case, the index signal due to the light emission of the index phosphor 6 is not detected, and there is a possibility that an abnormal operation occurs in the correction of geometrical distortion and convergence.
【0046】しかし本実施例では、図9(b)に示すよ
うに画面の垂直対称軸の上下端部に大きなインデックス
蛍光体63を設けることにより、幾何学的歪み量及びコ
ンバーゼンスのずれ量が大きくても歪み量を検出するこ
とができる。この場合、インデックス蛍光体63が大き
いと、隣接するインデックス蛍光体6との間隔が狭くな
り、インデックス蛍光体63によるインデックス信号の
出力の立ち下がり部が、隣接するインデックス蛍光体6
によるインデックス信号の出力と、時間的に重なる恐れ
がある。このとき誤った歪み量を検出することが起こり
得る。However, in this embodiment, as shown in FIG. 9B, the large index phosphor 63 is provided at the upper and lower ends of the vertical symmetry axis of the screen, so that the geometric distortion amount and the convergence deviation amount are large. However, the amount of distortion can be detected. In this case, if the index phosphor 63 is large, the interval between the adjacent index phosphors 6 becomes narrower, and the trailing edge of the index signal output by the index phosphors 63 is adjacent to the adjacent index phosphors 6.
There is a possibility that the output of the index signal due to will overlap in time. At this time, an erroneous distortion amount may be detected.
【0047】そこで図6に示すようにインデックス蛍光
体63の出力を、他のインデックス蛍光体6の出力に対
して、異なる信号処理をするようにしている。前述した
ように例えばインデックス蛍光体63に図8に示すP4
7の蛍光体を用い、他のインデックス蛍光体6にP46
の蛍光体を用いる。蛍光体の発光の検出には、この2種
類の蛍光体のそれぞれの発光ピーク波長に対して感度の
高い光電変換素子32、33を用いることにより、隣接
するインデックス蛍光体63、6からの出力が時間的に
重なりあっていても識別可能となる。Therefore, as shown in FIG. 6, the output of the index phosphor 63 is subjected to different signal processing with respect to the outputs of the other index phosphors 6. As described above, for example, P4 shown in FIG.
7 is used, and the other index phosphor 6 is P46.
Of the phosphor is used. To detect the emission of the fluorescent substance, by using the photoelectric conversion elements 32 and 33 having high sensitivity to the emission peak wavelengths of the two types of fluorescent substances, the output from the adjacent index fluorescent substances 63 and 6 can be obtained. Even if they overlap in time, they can be identified.
【0048】また、時間/電圧変換器34、35の動作
は第1実施例のものと同じであるが、インデックス蛍光
体63からの出力を処理する時間/電圧変換器34は、
他のインデックス蛍光体6からの出力を処理する時間/
電圧変換器35よりもランプ出力のダイナミックレンジ
を大きくとる。こうすると歪み量が大きな場合でも、出
力が飽和することなく歪み量を検出することができる。The operation of the time / voltage converters 34 and 35 is the same as that of the first embodiment, but the time / voltage converter 34 for processing the output from the index phosphor 63 is
Time to process output from other index phosphors /
The dynamic range of the lamp output is set larger than that of the voltage converter 35. In this way, even if the distortion amount is large, the distortion amount can be detected without the output being saturated.
【0049】以上のように、陰極線管のシャドウマスク
の表面に配置された検出素子を、垂直方向の幾何学的歪
み量及びコンバーゼンスのずれ量の大きいところでは大
きくし、かつ他の検出素子とは異なるインデックス蛍光
体を用いて出力を異なるようにすることにより、垂直方
向の歪み量が大きくても補正が可能となる。As described above, the detection element arranged on the surface of the shadow mask of the cathode ray tube is made large at the position where the geometric distortion amount and the convergence deviation amount in the vertical direction are large, and is different from other detection elements. By using different index phosphors to make the outputs different, it is possible to correct even if the vertical distortion amount is large.
【0050】次に本発明の第3実施例における陰極線管
制御装置について図10〜図13を参照しながら説明す
る。図10は第3実施例の陰極線管制御装置の動作原理
と構造を示すブロック図である。いずれの図においても
従来例及び第1、2実施例と同一部分は同一の符号をつ
け、それらの詳細な説明は省略する。Next, a cathode ray tube control apparatus according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a block diagram showing the operating principle and structure of the cathode ray tube controller of the third embodiment. In each figure, the same parts as those in the conventional example and the first and second embodiments are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0051】第1実施例と異なるのは、インデックス蛍
光体6の2つの斜め線状体をそれぞれ異なる発光特性の
蛍光体で構成したことである。図11、図12に示すよ
うに、夫々のインデックス蛍光体6を2つの斜め線状体
6e、6fで構成する。例えばべた黒で示す左の斜め線
状体6eはP47の蛍光体とし、ハッチングで示す右の
斜め線状体6fはP46の蛍光体とする。インデックス
蛍光体6からの出力の識別方法は第2実施例と同様であ
るのでここでは説明を省略する。The difference from the first embodiment is that the two oblique linear members of the index phosphor 6 are composed of phosphors having different emission characteristics. As shown in FIGS. 11 and 12, each index phosphor 6 is composed of two slanting linear bodies 6e and 6f. For example, the left diagonal linear member 6e shown in solid black is a P47 phosphor, and the right diagonal linear member 6f shown in hatching is a P46 phosphor. The method of identifying the output from the index phosphor 6 is the same as that in the second embodiment, and therefore the description is omitted here.
【0052】さらに本実施例の陰極線管制御装置は、そ
れぞれのインデックス蛍光体6における斜め線状体6
e、6fからの検出信号を用いて、水平方向の歪み補正
の異常動作の検出や、正常動作の初期設定の制御を行う
ようにしてある。Further, in the cathode ray tube control device of this embodiment, the oblique linear members 6 in each index phosphor 6 are used.
The detection signals from e and 6f are used to detect an abnormal operation of distortion correction in the horizontal direction and control the initial setting of a normal operation.
【0053】図10の2値化回路37は光電変換素子3
2、33からのアナログの光電変換信号を2値化したデ
ィジタル信号に変換する回路である。出力判別回路38
は2値化回路37からの出力により、所定位置のインデ
ックス信号が検出されているか否かを判別する回路であ
る。これ以外の回路は第1及び第2実施例のものと同様
の動作を行うので、それらの機能説明は省略する。ここ
で2値化回路37,出力判別回路38,時間/電圧変換
器22,計測回路23は、スクリーンにおけるテスト信
号による電子ビームの到来位置を検出すると共に、第1
及び第2のインデックス信号のうち一方が得られないと
き、テスト信号をスクリーン位置で水平方向にシフトさ
せる信号を出力する位置検出部の機能を有している。The binarization circuit 37 of FIG.
This is a circuit for converting an analog photoelectric conversion signal from 2, 33 into a binarized digital signal. Output discriminating circuit 38
Is a circuit for determining whether or not an index signal at a predetermined position is detected based on the output from the binarization circuit 37. The circuits other than this perform the same operations as those of the first and second embodiments, and therefore their functional descriptions are omitted. Here, the binarization circuit 37, the output determination circuit 38, the time / voltage converter 22, and the measurement circuit 23 detect the arrival position of the electron beam by the test signal on the screen, and
And one of the second index signals is not obtained, it has a function of a position detection unit that outputs a signal for horizontally shifting the test signal at the screen position.
【0054】本実施例の陰極線管制御装置の動作を詳細
に説明する。図11は蛍光面5からシャドウマスク4に
向かって見た陰極線管の分解斜視図である。シャドウマ
スク4の円形の穴(スリット)に電子銃1、2、3から
の電子ビームが収束する。インデックス蛍光体6はこれ
らの多数の穴の一部を横断するように逆V字状にシャド
ウマスク4に塗布されている。The operation of the cathode ray tube controller of this embodiment will be described in detail. FIG. 11 is an exploded perspective view of the cathode ray tube viewed from the fluorescent screen 5 toward the shadow mask 4. The electron beams from the electron guns 1, 2, 3 converge on the circular holes (slits) of the shadow mask 4. The index phosphor 6 is applied to the shadow mask 4 in an inverted V shape so as to traverse a part of these many holes.
【0055】図13はインデックス蛍光体6のパターン
とその発光による光電変換素子32、33の出力波形で
ある。先ず図13(a)のテスト信号39が映出された
場合を考える。このテスト信号39はインデックス蛍光
体6の左右2つの斜め線状体6e、6fを走査する。こ
のとき光電変換素子32はP47の斜め線状体6eの発
光を検出し、光電変換素子33はP46の斜め線状体6
fの発光を検出する。よって、光電変換素子32、33
の光電変換信号を2値化回路37で2値化した信号は、
それぞれ図13(b)、(c)に示すようなパルスとな
る。このように2つのパルスが出力された場合は、出力
判別回路38は補正波形作成部13を制御しない。この
2つのパルスが出力される時間間隔を時間/電圧変換回
路22に与え、電圧値に変換する。そしてこの電圧値を
計測回路23に与え、テスト信号39の位置ずれを計測
する。そしてこの計測結果を補正波形作成部13に出力
する。FIG. 13 shows the pattern of the index phosphor 6 and the output waveforms of the photoelectric conversion elements 32 and 33 according to the light emission thereof. First, consider the case where the test signal 39 of FIG. 13A is displayed. This test signal 39 scans the two diagonal linear bodies 6e and 6f on the left and right of the index phosphor 6. At this time, the photoelectric conversion element 32 detects light emission of the P47 diagonal linear member 6e, and the photoelectric conversion element 33 detects the P46 diagonal linear member 6e.
The light emission of f is detected. Therefore, the photoelectric conversion elements 32, 33
The signal obtained by binarizing the photoelectric conversion signal of 2 by the binarization circuit 37 is
The pulses are as shown in FIGS. 13B and 13C, respectively. When two pulses are output in this way, the output determination circuit 38 does not control the correction waveform generation unit 13. The time interval at which these two pulses are output is given to the time / voltage conversion circuit 22 and converted into a voltage value. Then, this voltage value is given to the measuring circuit 23 to measure the positional deviation of the test signal 39. Then, the measurement result is output to the correction waveform creating unit 13.
【0056】次に、図13(a)に破線で示すテスト信
号40が映出された場合を考える。この際には、左の斜
め線状体6eを通過しないので、光電変換素子32、3
3の出力を2値化回路37で2値化した出力はそれぞれ
図13(d)、(e)に示すようになる。すなわち、左
の斜め線状体6eからの出力は検出されない。このよう
なパルスが出力判別回路38に入力されると、出力判別
回路38は左の斜め線状体6eの出力がないことから、
テスト信号40が右に片寄っていると判別し、その情報
を補正波形作成部13に出力する。このとき補正波形作
成部13はテスト信号40の表示を左へ移動させ、偏向
部14に出力する。このようにして、水平方向に幾何学
的歪み及びコンバーゼンスの補正が異常動作した場合で
も、歪みの方向を検出して正常動作の初期設定を行うこ
とを可能にしている。Next, consider the case where the test signal 40 shown by the broken line in FIG. At this time, the photoelectric conversion elements 32, 3 do not pass through the left diagonal linear member 6e.
The binarization circuit 37 binarizes the output of No. 3 to obtain the outputs shown in FIGS. 13D and 13E, respectively. That is, the output from the left diagonal linear member 6e is not detected. When such a pulse is input to the output discriminating circuit 38, the output discriminating circuit 38 does not output the left diagonal linear body 6e,
It is determined that the test signal 40 is offset to the right, and the information is output to the corrected waveform forming unit 13. At this time, the correction waveform generation unit 13 moves the display of the test signal 40 to the left and outputs it to the deflection unit 14. In this way, even if the geometric distortion and the convergence correction are abnormally operated in the horizontal direction, the direction of the distortion can be detected and the normal operation can be initialized.
【0057】以上のように、陰極線管の検出面に配置さ
れた検出素子の2つの斜め線状体をそれぞれ異なる蛍光
体で構成し、所定位置の検出素子に対応した検出信号が
出力されることを判断し、この信号により偏向手段を制
御して電子ビームの幾何学的歪み及びコンバーゼンスの
補正動作を制御することにより、水平方向の偏向歪み量
が大きい場合でも自動補正を可能にしている。As described above, the two oblique linear members of the detection element arranged on the detection surface of the cathode ray tube are made of different phosphors, and the detection signal corresponding to the detection element at the predetermined position is output. By controlling the deflection means by this signal and controlling the geometrical distortion of the electron beam and the convergence correction operation, automatic correction is enabled even when the horizontal deflection distortion amount is large.
【0058】次に本発明の第4実施例における陰極線管
制御装置について図14〜図18を参照しながら説明す
る。図14は第4実施例の陰極線管制御装置の動作原理
と構造を示すブロック図である。いずれの図においても
従来例及び第1〜3実施例と同一部分は同一の符号をつ
け、それらの詳細な説明は省略する。Next, a cathode ray tube control apparatus according to the fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 14 is a block diagram showing the operating principle and structure of the cathode ray tube controller of the fourth embodiment. In any of the drawings, the same parts as those in the conventional example and the first to third embodiments are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0059】第1実施例と異なるのは、テスト信号の位
置を一定量移動させ、その際のインデックス信号を移動
前のインデックス信号と比較することにより、幾何学的
歪みの状態を判別するようにした点である。図14にお
いて、A/D変換器41は計測回路23からのアナログ
信号をディジタル信号に変換する回路である。演算回路
42は変換されたディジタル信号に基づき、データ比較
等の演算や補正誤差を求めるための演算をする回路であ
る。メモリ43は幾何学的歪みの予め決められたデータ
や、演算回路42より算出された補正データを記憶する
メモリである。The difference from the first embodiment is that the position of the test signal is moved by a certain amount and the index signal at that time is compared with the index signal before the movement so that the state of the geometric distortion can be determined. That is the point. In FIG. 14, an A / D converter 41 is a circuit that converts an analog signal from the measurement circuit 23 into a digital signal. The arithmetic circuit 42 is a circuit for performing arithmetic operations such as data comparison and arithmetic operations for obtaining a correction error based on the converted digital signal. The memory 43 is a memory that stores predetermined data of geometric distortion and correction data calculated by the arithmetic circuit 42.
【0060】D/A変換器44は演算回路42からのデ
ィジタル的な補正データをアナログ信号に変換するため
の変換器であり、その出力は偏向部14に与えられる。
さらに補助偏向制御部45は補正波形作成部13を制御
してテスト信号の位置を一定量変化させる回路である。
歪み判別回路46は補助偏向制御部45からの出力と検
出部12からの出力により、幾何学的歪みの状態を判別
する回路である。尚図14に示す時間/電圧変換器22
と計測回路23は、第1実施例と同様の機能を有する位
置検出部を構成している。The D / A converter 44 is a converter for converting the digital correction data from the arithmetic circuit 42 into an analog signal, and the output thereof is given to the deflection section 14.
The auxiliary deflection controller 45 is a circuit that controls the correction waveform generator 13 to change the position of the test signal by a certain amount.
The distortion discriminating circuit 46 is a circuit for discriminating the state of geometric distortion based on the output from the auxiliary deflection control unit 45 and the output from the detection unit 12. The time / voltage converter 22 shown in FIG.
The measuring circuit 23 constitutes a position detecting section having the same function as that of the first embodiment.
【0061】本実施例の陰極線管制御装置の動作につい
て図15〜図18のインデックス蛍光体のパターンとテ
スト信号を用いて説明する。図15(a)は幾何学的歪
みがない場合のインデックス蛍光体6上のテスト信号6
4、65をそれぞれ実線,破線で示す。図16(a)は
幾何学的歪みがある場合のインデックス蛍光体6上のテ
スト信号66、67をそれぞれ実線,破線で示す。テス
ト信号64の場合には光電変換素子21に入力されるイ
ンデックス信号は図15(b)のようになる。またテス
ト信号66の場合には光電変換素子21に入力されるイ
ンデックス信号は図16(b)のようになる。この場合
図15(b)と図16(b)は同じ出力となる。よって
このままでは図16(a)の状態でも、図15(a)と
同様の幾何学的歪みのない状態と判別される。すなわち
幾何学的歪みがないと判別される恐れがある。The operation of the cathode ray tube controller of this embodiment will be described with reference to the index phosphor patterns and test signals shown in FIGS. FIG. 15A shows the test signal 6 on the index phosphor 6 when there is no geometric distortion.
4 and 65 are shown by a solid line and a broken line, respectively. FIG. 16A shows the test signals 66 and 67 on the index phosphor 6 in the case where there is a geometrical distortion by a solid line and a broken line, respectively. In the case of the test signal 64, the index signal input to the photoelectric conversion element 21 is as shown in FIG. In the case of the test signal 66, the index signal input to the photoelectric conversion element 21 is as shown in FIG. In this case, FIG. 15 (b) and FIG. 16 (b) have the same output. Therefore, in this state, even in the state of FIG. 16A, it is determined that there is no geometric distortion as in FIG. 15A. That is, it may be determined that there is no geometric distortion.
【0062】本実施例で図16(a)のような幾何学的
歪みを検出するには、まず補助偏向制御部45によりテ
スト信号64、66の映出位置を水平方向に一定量変化
させる。このとき、図15(a)、図16(a)の実線
のテスト信号64、66をそれぞれ破線で示すようなテ
スト信号65、67の位置に移動させる。テスト信号6
5、67によるインデックス信号はそれぞれ図15
(c)、図16(c)のようになる。このときテスト信
号の位置移動前後の出力を比較すると、図15(b)、
(c)では2つの線状体間を通過するのに要する時間t
2は変化しないが、図16(b)のt2が図16(c)
ではt2′に変化する。In order to detect the geometric distortion as shown in FIG. 16 (a) in this embodiment, first, the auxiliary deflection controller 45 changes the projected positions of the test signals 64 and 66 in the horizontal direction by a certain amount. At this time, the solid line test signals 64 and 66 in FIGS. 15A and 16A are moved to the positions of the test signals 65 and 67 as shown by the broken lines, respectively. Test signal 6
The index signals of 5 and 67 are shown in FIG.
16 (c) and FIG. 16 (c). At this time, comparing the outputs of the test signal before and after the position movement, as shown in FIG.
In (c), the time t required to pass between the two linear bodies is t.
2 does not change, but t2 in FIG. 16 (b) is shown in FIG. 16 (c).
Then it changes to t2 '.
【0063】また、図16(a)においてテスト信号6
6が左下がりに傾いていれば、テスト信号66を左方向
に移動させることによりt2が減少し、t2′となる。
よってt2の増減により傾きの方向を判断できる。図1
4の歪み判別回路46はt2の増減量を演算回路42に
出力する。演算回路42ではこの傾きの情報により、検
出点の左の隣接点では上方向の補正を行い、検出点の右
の隣接点では下方向の補正を行う。このようにして図1
6(a)の位置での幾何学的歪みの補正ができる。Further, in FIG. 16A, the test signal 6
If 6 is tilted to the lower left, t2 is reduced by moving the test signal 66 to the left, resulting in t2 '.
Therefore, the direction of the inclination can be determined by increasing or decreasing t2. FIG.
The distortion discriminating circuit 46 of No. 4 outputs the increase / decrease amount of t2 to the arithmetic circuit 42. Based on the information on the inclination, the arithmetic circuit 42 performs upward correction at the left adjacent point of the detection point and downward correction at the right adjacent point of the detection point. Thus, FIG.
The geometrical distortion can be corrected at the position 6 (a).
【0064】次に、偏向の絶対位置の補正について図1
7を用いて説明する。図17(b)においてt1はテス
ト信号68を出力してから左側の斜め線状体が発光し始
めるまでの時間を示し、t2は電子ビームが左側の斜め
線状体から右側の斜め線状体を通過するのに要する時間
である。まず、テスト信号68が予め決められた実線で
示すように絶対位置にある際のt1、t2と、その絶対
位置からテスト信号68を破線で示すように一定量水平
方向に移動させたときのt1の値(図17(c)に示す
t1’とする)をメモリ43に記憶しておく。Next, the correction of the absolute position of the deflection will be described with reference to FIG.
7 will be described. In FIG. 17B, t1 indicates the time from the output of the test signal 68 until the left diagonal linear body starts to emit light, and t2 indicates the electron beam from the left diagonal linear body to the right diagonal linear body. Is the time it takes to pass through. First, t1 and t2 when the test signal 68 is at the absolute position as indicated by the predetermined solid line, and t1 when the test signal 68 is horizontally moved from the absolute position by a certain amount as shown by the broken line. Value (denoted as t1 ′ shown in FIG. 17C) is stored in the memory 43.
【0065】次にテスト信号68を映出し、t1、t2
の実際の時間を測定し、メモリ43に記憶された値と比
較する。t1、t2の実測値がメモリ43に記憶された
値と異なっていれば、補正波形作成部13の補正波形を
変化させ、テスト信号68の水平垂直両方向の絶対位置
のずれを補正する。Next, the test signal 68 is projected and t1, t2
The actual time of is measured and compared with the value stored in memory 43. If the measured values of t1 and t2 are different from the values stored in the memory 43, the correction waveform of the correction waveform creating unit 13 is changed to correct the deviation of the absolute position of the test signal 68 in both the horizontal and vertical directions.
【0066】さらに図18(a)は、検出位置において
画面の偏向幅が縮んでおり、かつ偏向が上にずれている
テスト信号69を示す。このときのt1、t2の値は、
図18(b)に示すように幾何学的歪みが発生している
にもかかわらず、図18(c)に示すようにメモリ43
に記憶された正しい絶対位置にあるテスト信号70によ
る映出時のt1、t2と等しくなり、歪み量が検出され
なくなる恐れがある。Further, FIG. 18A shows the test signal 69 in which the deflection width of the screen is narrowed and the deflection is shifted upward at the detection position. The values of t1 and t2 at this time are
Despite the geometric distortion occurring as shown in FIG. 18B, the memory 43 as shown in FIG.
Since it becomes equal to t1 and t2 at the time of projection by the test signal 70 stored in the correct absolute position, the distortion amount may not be detected.
【0067】本実施例の幾何学的歪みを補正する手順と
して、まず図14の補助偏向制御部45により補正波形
作成部13を制御し、電子ビームの位置を水平方向に破
線で示すように一定量移動し、この際のt1を検出す
る。このとき図18(a)のような幾何学的歪みを有す
るテスト信号69においては、移動した一定量を走査す
る時間は長くなり、図18(d)に示すように変化す
る。一方幾何学的歪みのないテスト信号70を破線で示
すように水平方向に一定量移動すると、t1、t2の検
出値は図18(e)のようになる。このとき得られたt
1とメモリ43に記憶されたt1’と比較することによ
り、幾何学的歪みの有無を検出できる。歪みが検出され
れば、演算回路42は検出位置でのラスタを伸縮し、歪
みの補正を行う。以上の動作をt1、t2がメモリ43
の値と等しくなるまで繰り返すことにより、偏向の幾何
学的歪みを補正することができる。As a procedure for correcting the geometrical distortion of the present embodiment, first, the auxiliary deflection controller 45 shown in FIG. 14 controls the correction waveform generator 13 so that the position of the electron beam is constant in the horizontal direction as shown by the broken line. The amount is moved, and t1 at this time is detected. At this time, in the test signal 69 having the geometrical distortion as shown in FIG. 18A, the time for scanning the moved fixed amount becomes long and changes as shown in FIG. 18D. On the other hand, when the test signal 70 having no geometrical distortion is moved by a certain amount in the horizontal direction as shown by the broken line, the detected values of t1 and t2 are as shown in FIG. T obtained at this time
The presence or absence of geometric distortion can be detected by comparing 1 with t1 ′ stored in the memory 43. When the distortion is detected, the arithmetic circuit 42 expands / contracts the raster at the detection position to correct the distortion. The above operation is performed by the memory 43 in t1 and t2.
The geometric distortion of the deflection can be corrected by repeating until it becomes equal to the value of.
【0068】以上のように、テスト信号を水平方向に一
定量移動したときのインデックス信号のタイミングの変
化を検出することにより、偏向の傾きや伸縮等の幾何学
的な歪みを補正することができる。さらに幾何学的歪み
の補正後に第1実施例と同じ方法でコンバーゼンスの補
正を行うことができる。As described above, by detecting the change in the timing of the index signal when the test signal is moved by a certain amount in the horizontal direction, it is possible to correct the geometrical distortion such as the inclination or expansion / contraction of the deflection. . Furthermore, after the geometric distortion is corrected, the convergence can be corrected by the same method as in the first embodiment.
【0069】なお以上の各実施例において、陰極線管の
色選別部としてシャドウマスクを用いて説明したが、他
の色選別部を用いても同様の効果が得られることはいう
までもない。In each of the above embodiments, the shadow mask is used as the color selecting section of the cathode ray tube, but it goes without saying that the same effect can be obtained by using other color selecting sections.
【0070】[0070]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本願の請求
項1〜5の発明によれば、表示スクリーンが平面に近い
陰極線管においても、偏向の幾何学的歪み及びコンバー
ゼンスの高精度の補正が実現できる。As described above in detail, according to the inventions of claims 1 to 5 of the present application, even in a cathode ray tube in which the display screen is close to a plane, the geometric distortion of deflection and the convergence can be corrected with high accuracy. Can be realized.
【0071】また本願の請求項3〜5の発明によれば、
スクリーン中央部における垂直方向幾何学的歪み量が大
きくてもテスト信号がインデックス蛍光体を走査するた
め、歪み量を容易に検出でき、偏向の幾何学的歪み及び
コンバーゼンスの高精度の補正を実現できる。According to the invention of claims 3 to 5 of the present application,
Even if there is a large amount of geometric distortion in the vertical direction in the center of the screen, the test signal scans the index phosphor, so the distortion amount can be easily detected, and the geometric distortion of deflection and convergence can be corrected with high accuracy. .
【0072】また本願の請求項6、7の発明によれば、
第1と第2のインデックス信号が共に得られないとき
は、水平方向のずれが大きいと判断できる。そして所定
位置の蛍光体の出力状態に基づいて補正波形作成部を制
御することにより、補正系の異常動作の自動検出が可能
となる。また偏向の幾何学的歪み及びコンバーゼンスの
完全無調整化が実現できる。According to the inventions of claims 6 and 7,
When both the first and second index signals cannot be obtained, it can be determined that the horizontal shift is large. The abnormal operation of the correction system can be automatically detected by controlling the correction waveform creation unit based on the output state of the phosphor at the predetermined position. Further, the geometric distortion of the deflection and the complete non-adjustment of the convergence can be realized.
【0073】更に本願の請求項8、9の発明によれば、
テスト信号を水平方向に一定量移動したとき、インデッ
クス信号の出力タイミングの変化を検出することによ
り、偏向の傾きや伸縮等の幾何学的な歪み及びコンバー
ゼンスを精度良く補正することができ、その実用的効果
は大きい。Further, according to the inventions of claims 8 and 9 of the present application,
By detecting the change in the output timing of the index signal when the test signal is moved by a certain amount in the horizontal direction, it is possible to accurately correct the geometric distortion and convergence such as the inclination and expansion / contraction of the deflection. Effect is large.
【図1】本発明の第1実施例における陰極線管制御装置
の概念図である。FIG. 1 is a conceptual diagram of a cathode ray tube control device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】第1実施例の陰極線管制御装置の概略構成を示
すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a cathode ray tube control device of the first embodiment.
【図3】第1実施例の陰極線管制御装置の詳細構成を示
すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a detailed configuration of a cathode ray tube control device of the first embodiment.
【図4】第1実施例の陰極線管制御装置における補正波
形作成部のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of a correction waveform creation unit in the cathode ray tube control device of the first embodiment.
【図5】第1実施例の陰極線管制御装置の動作を示すテ
スト信号と各種の信号波形図である。FIG. 5 is a test signal and various signal waveform diagrams showing the operation of the cathode ray tube control apparatus of the first embodiment.
【図6】本発明の第2実施例における陰極線管制御装置
の概念図である。FIG. 6 is a conceptual diagram of a cathode ray tube control device according to a second embodiment of the present invention.
【図7】第2実施例の陰極線管制御装置に用いられるイ
ンデックス蛍光体の配置図である。FIG. 7 is a layout view of index phosphors used in the cathode ray tube controller of the second embodiment.
【図8】第2実施例のインデックス蛍光体の分光特性図
である。FIG. 8 is a spectral characteristic diagram of the index phosphor of the second embodiment.
【図9】第2実施例の陰極線管制御装置の動作を示す画
面図である。FIG. 9 is a screen view showing the operation of the cathode ray tube controller of the second embodiment.
【図10】本発明の第3実施例の陰極線管制御装置の構
成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a cathode ray tube control device according to a third embodiment of the present invention.
【図11】第3実施例における陰極線管の構造図であ
る。FIG. 11 is a structural diagram of a cathode ray tube according to a third embodiment.
【図12】第3実施例の陰極線管制御装置に用いられる
インデックス蛍光体の配置図である。FIG. 12 is a layout view of index phosphors used in the cathode ray tube control apparatus of the third embodiment.
【図13】第3実施例の陰極線管制御装置の動作を示す
テスト信号と各種の信号波形図である。FIG. 13 is a test signal and various signal waveform charts showing the operation of the cathode ray tube controller of the third embodiment.
【図14】本発明の第4実施例の陰極線管制御装置の構
成を示すブロック図である。FIG. 14 is a block diagram showing a configuration of a cathode ray tube control device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図15】第4実施例の陰極線管制御装置の動作を示す
テスト信号と各種の信号波形図(その1)である。FIG. 15 is a test signal and various signal waveform charts (No. 1) showing the operation of the cathode ray tube controller of the fourth embodiment.
【図16】第4実施例の陰極線管制御装置の動作を示す
テスト信号と各種の信号波形図(その2)である。FIG. 16 is a test signal and various signal waveform diagrams (No. 2) showing the operation of the cathode ray tube control apparatus of the fourth embodiment.
【図17】第4実施例の陰極線管制御装置の動作を示す
テスト信号と各種の信号波形図(その3)である。FIG. 17 is a test signal and various signal waveform diagrams (No. 3) showing the operation of the cathode ray tube controller of the fourth embodiment.
【図18】第4実施例の陰極線管制御装置の動作を示す
テスト信号と各種の信号波形図(その4)である。FIG. 18 is a test signal and various signal waveform diagrams (No. 4) showing the operation of the cathode ray tube control apparatus of the fourth embodiment.
【図19】従来例の陰極線管制御装置の基本構成を示す
ブロック図である。FIG. 19 is a block diagram showing a basic configuration of a conventional cathode ray tube control device.
【図20】従来例の陰極線管制御装置の動作原理を示す
説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram showing the operating principle of a conventional cathode ray tube control device.
【図21】陰極線管の偏向歪みを防止する従来例の概念
図である。FIG. 21 is a conceptual diagram of a conventional example for preventing deflection distortion of a cathode ray tube.
【図22】従来例の陰極線管制御装置における問題点
(その1)を示す説明図である。FIG. 22 is an explanatory diagram showing a problem (No. 1) in the conventional cathode ray tube control device.
【図23】従来例の陰極線管制御装置における問題点
(その2)を示す説明図である。FIG. 23 is an explanatory diagram showing a problem (No. 2) in the conventional cathode ray tube control device.
1,2,3 電子銃 4 シャドウマスク 5 蛍光面 6,63 インデックス蛍光体 12 検出部 13 補正波形作成部 14 偏向部 15 信号処理部 19 幾何学的歪み画面振幅補正回路 20 コンバーゼンス補正回路 21,32,33 光電変換素子 22,34,35 時間/電圧変換器 23 計測回路 24,25,39,40 61,66,67,68,6
9,70 テスト信号 26 アドレス発生回路 27 メモリ 28 補間回路 29 D/A変換器 30 LPF(低域通過フィルタ) 36 テスト信号発生回路 37 2値化回路 38 出力判別回路 41 A/D変換器 42 演算回路 43 メモリ 44 D/A変換器 45 補助偏向制御部 46 歪み判別回路 100 陰極線管 101 コンバーゼンスヨーク 102 偏向ヨーク 103 入力端子 104 入力端子1,2,3 Electron gun 4 Shadow mask 5 Phosphor screen 6,63 Index phosphor 12 Detection part 13 Correction waveform creation part 14 Deflection part 15 Signal processing part 19 Geometric distortion screen amplitude correction circuit 20 Convergence correction circuit 21, 32 , 33 Photoelectric conversion element 22, 34, 35 Time / voltage converter 23 Measuring circuit 24, 25, 39, 40 61, 66, 67, 68, 6
9, 70 Test signal 26 Address generation circuit 27 Memory 28 Interpolation circuit 29 D / A converter 30 LPF (low pass filter) 36 Test signal generation circuit 37 Binarization circuit 38 Output discrimination circuit 41 A / D converter 42 Operation Circuit 43 Memory 44 D / A converter 45 Auxiliary deflection control unit 46 Distortion determination circuit 100 Cathode ray tube 101 Convergence yoke 102 Deflection yoke 103 Input terminal 104 Input terminal
Claims (9)
クリーンに対して複数の電子ビームを出射する電子銃、
前記電子銃及び前記スクリーンの間に配置されて収束し
た電子ビームを透過させるシャドウマスクを含む陰極線
管と、 前記陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃か
ら放射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び
垂直方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をす
る電子ビーム偏向手段と、 前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正電流
を与える偏向部と、 前記スクリーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコン
バーゼンスのずれとを補正する補正波形を生成して前記
偏向部に与える補正波形作成部と、 前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電子銃
に与えるテスト信号発生部と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面に電子ビ
ームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるように二次
元的に配列して設けられ、電子ビームの到来によって発
光する複数のインデックス蛍光体と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
からの電子ビームが放射されて前記インデックス蛍光体
のいずれかに到来した際の発光出力を検出してインデッ
クス信号を出力する光電変換部と、 前記光電変換部の出力するインデックス信号に基づき、
前記スクリーンにおける電子ビームの各到来位置を検出
して、その到来位置情報を前記補正波形作成部に与える
位置検出部と、を具備することを特徴とする陰極線管制
御装置。1. A screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen,
A cathode ray tube including a shadow mask disposed between the electron gun and the screen to transmit a converged electron beam, and an electron beam emitted from the electron gun on the screen, the cathode ray tube being attached to a neck portion of the cathode ray tube. An electron beam deflecting means for horizontally and vertically deflecting and performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a geometric distortion of a display image on the screen. A correction waveform generation unit that generates a correction waveform that corrects the convergence deviation and applies the correction waveform to the deflection unit; a test signal generation unit that applies a test signal that is linear on the screen to the electron gun; Two-dimensionally arranged on the surface facing the electron gun so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A plurality of index phosphors arranged in an array and emitting light by the arrival of an electron beam, and a test signal of the test signal generation unit emits an electron beam from the electron gun to arrive at any of the index phosphors. Based on the index signal output by the photoelectric conversion unit that outputs an index signal by detecting the light emission output when the,
A cathode ray tube control device, comprising: a position detection unit that detects each arrival position of an electron beam on the screen and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit.
その対称軸が垂直偏向方向であることを特徴とする請求
項1記載の陰極線管制御装置。2. The index phosphor is an oblique line phosphor formed in a V shape or an inverted V shape,
The cathode ray tube controller according to claim 1, wherein the axis of symmetry is a vertical deflection direction.
クリーンに対して複数の電子ビームを出射する電子銃、
前記電子銃及び前記スクリーンの間に配置されて収束し
た電子ビームを透過させるシャドウマスクを含む陰極線
管と、 前記陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃か
ら放射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び
垂直方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をす
る電子ビーム偏向手段と、 前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正電流
を与える偏向部と、 前記スクリーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコン
バーゼンスのずれとを補正する補正波形を生成して前記
偏向部に与える補正波形作成部と、 前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電子銃
に与えるテスト信号発生部と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面に電子ビ
ームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるように二次
元的に配列して設けられ、前記シャドウマスクの垂直対
称軸上の上下に配置されるものは前記シャドウマスクの
大半の面に配置されるものより形状が大きく、電子ビー
ムの到来によって発光する複数のインデックス蛍光体
と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
からの電子ビームが放射されて前記インデックス蛍光体
のいずれかに到来した際の発光出力を検出してインデッ
クス信号を出力する複数の光電変換部と、 前記各光電変換部の出力するインデックス信号に基づ
き、前記スクリーンにおける電子ビームの各到来位置を
検出して、その到来位置情報を前記補正波形作成部に与
える位置検出部と、を具備することを特徴とする陰極線
管制御装置。3. A screen on which a phosphor is formed, an electron gun which emits a plurality of electron beams toward the screen,
A cathode ray tube including a shadow mask disposed between the electron gun and the screen to transmit a converged electron beam, and an electron beam emitted from the electron gun on the screen, the cathode ray tube being attached to a neck portion of the cathode ray tube. An electron beam deflecting means for horizontally and vertically deflecting and performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a geometric distortion of a display image on the screen. A correction waveform generation unit that generates a correction waveform that corrects the convergence deviation and applies the correction waveform to the deflection unit; a test signal generation unit that applies a test signal that is linear on the screen to the electron gun; Two-dimensionally arranged on the surface facing the electron gun so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A plurality of index fluorescents which are provided in an array and arranged above and below on the vertical symmetry axis of the shadow mask have a larger shape than those arranged on most surfaces of the shadow mask, and emit light when an electron beam arrives. Body and a plurality of photoelectric cells that detect an emission output when an electron beam is emitted from the electron gun and arrive at any of the index phosphors according to a test signal of the test signal generation unit and output an index signal. A conversion unit; and a position detection unit that detects each arrival position of the electron beam on the screen based on the index signal output from each photoelectric conversion unit and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit. A cathode ray tube control device characterized by:
クリーンに対して複数の電子ビームを出射する電子銃、
前記電子銃及び前記スクリーンの間に配置されて収束し
た電子ビームを透過させるシャドウマスクを含む陰極線
管と、 前記陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃か
ら放射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び
垂直方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をす
る電子ビーム偏向手段と、 前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正電流
を与える偏向部と、 前記スクリーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコン
バーゼンスのずれとを補正する補正波形を生成して前記
偏向部に与える補正波形作成部と、 前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電子銃
に与えるテスト信号発生部と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面の大半に
渡って設けられ、且つ電子ビームの偏向角の増大に応じ
て間隔が狭くなるように二次元的に複数個配列され、電
子ビームの到来によって発光する第1のインデックス蛍
光体と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面の垂直対
称軸上に設けられ、電子ビームの到来によって発光し、
前記第1のインデックス蛍光体より大きな形状を有し、
且つ中心発光波長が異なる第2のインデックス蛍光体
と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
から各電子ビームが放射されて前記第1のインデックス
蛍光体のいずれかに到来した際の発光出力を検出して第
1のインデックス信号を出力する第1の光電変換部と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
から各電子ビームが放射されて前記第2のインデックス
蛍光体に到来した際の発光出力を検出して第2のインデ
ックス信号を出力する第2の光電変換部と、 前記第1及び第2の光電変換部の出力する第1及び第2
のインデックス信号に基づき、前記スクリーンにおける
各電子ビームの各到来位置を検出して、その到来位置情
報を前記補正波形作成部に与える位置検出部と、を設け
たことを特徴とする陰極線管制御装置。4. A screen on which a phosphor is formed, an electron gun which emits a plurality of electron beams toward the screen,
A cathode ray tube including a shadow mask disposed between the electron gun and the screen to transmit a converged electron beam, and an electron beam emitted from the electron gun on the screen, the cathode ray tube being attached to a neck portion of the cathode ray tube. An electron beam deflecting means for horizontally and vertically deflecting and performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a geometric distortion of a display image on the screen. A correction waveform generation unit that generates a correction waveform that corrects the convergence deviation and applies the correction waveform to the deflection unit; a test signal generation unit that applies a test signal that is linear on the screen to the electron gun; It is provided over most of the surface facing the electron gun, and the space is increased according to the increase of the deflection angle of the electron beam. A plurality of first index phosphors that are arranged two-dimensionally so as to be narrower and emit light when an electron beam arrives; and the first mask is provided on a vertical symmetry axis of a surface of the shadow mask that faces the electron gun. It emits light when the beam arrives,
Has a shape larger than the first index phosphor,
Further, when the second index phosphors having different central emission wavelengths and the test signal of the test signal generating section emit each electron beam from the electron gun and arrive at any of the first index phosphors. A first photoelectric conversion unit that detects a light emission output and outputs a first index signal, and a test signal from the test signal generation unit causes each electron beam to be emitted from the electron gun and the second index phosphor. A second photoelectric conversion unit that detects a light emission output when it arrives and outputs a second index signal; and first and second photoelectric conversion units that output the first and second photoelectric conversion units.
And a position detecting section for detecting each arrival position of each electron beam on the screen based on the index signal of (1) and providing the arrival position information to the correction waveform creating section. .
は、 2つの斜め線状の蛍光体がV字状又は逆V字状に形成さ
れ、その対称軸が垂直偏向方向であることを特徴とする
請求項4記載の陰極線管制御装置。5. The first and second index phosphors are characterized in that two oblique line-shaped phosphors are formed in a V shape or an inverted V shape, and the symmetry axis thereof is a vertical deflection direction. The cathode ray tube control device according to claim 4.
クリーンに対して複数の電子ビームを出射する電子銃、
前記電子銃及び前記スクリーンの間に配置されて収束し
た電子ビームを透過させるシャドウマスクを含む陰極線
管と、 前記陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃か
ら放射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び
垂直方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をす
る電子ビーム偏向手段と、 前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正電流
を与える偏向部と、 前記スクリーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコン
バーゼンスのずれとを補正する補正波形を生成して前記
偏向部に与える補正波形作成部と、 前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電子銃
に与えるテスト信号発生部と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面に電子ビ
ームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるように二次
元的に複数組配列され、電子ビームの到来位置によって
異なる波長で発光する第1及び第2の蛍光体から構成さ
れたインデックス蛍光体と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
から各電子ビームが放射されて前記第1の蛍光体に到来
した際の発光出力を検出して第1のインデックス信号を
出力する第1の光電変換部と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
から各電子ビームが放射されて前記第2の蛍光体に到来
した際の発光出力を検出して第2のインデックス信号を
出力する第2の光電変換部と、 前記第1及び第2の光電変換部の出力する第1及び第2
のインデックス信号に基づき、前記スクリーンにおける
各電子ビームの各到来位置を検出して、その到来位置情
報を前記補正波形作成部に与えると共に、前記第1と第
2のインデックス信号のうち一方が得られないとき、前
記テスト信号のスクリーンでの位置を水平方向に移動さ
せる信号を前記テスト信号発生部に与える位置検出部
と、を設けたことを特徴とする陰極線管制御装置。6. A screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen,
A cathode ray tube including a shadow mask disposed between the electron gun and the screen to transmit a converged electron beam, and an electron beam emitted from the electron gun on the screen, the cathode ray tube being attached to a neck portion of the cathode ray tube. An electron beam deflecting means for horizontally and vertically deflecting and performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a geometric distortion of a display image on the screen. A correction waveform generation unit that generates a correction waveform that corrects the convergence deviation and applies the correction waveform to the deflection unit; a test signal generation unit that applies a test signal that is linear on the screen to the electron gun; Two-dimensionally arranged on the surface facing the electron gun so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A plurality of sets of index phosphors, which are composed of first and second phosphors that emit light with different wavelengths depending on the arrival position of the electron beam, and each electron beam from the electron gun according to a test signal of the test signal generator. Of the electron gun by detecting a light emission output when the light is emitted and reaches the first phosphor and outputting a first index signal, and a test signal of the test signal generator. A second photoelectric conversion unit that detects a light emission output when each electron beam is emitted from the second phosphor and reaches the second phosphor, and outputs a second index signal; and the first and second photoelectric conversion units. First and second output of the section
The arrival position of each electron beam on the screen is detected on the basis of the index signal of No. 1, and the arrival position information is given to the correction waveform creating unit, and one of the first and second index signals is obtained. A cathode ray tube control device, comprising: a position detector that gives a signal for horizontally moving the position of the test signal on the screen when the test signal generator is not present.
れ、その対称軸が垂直偏向方向であることを特徴とする
請求項6記載の陰極線管制御装置。7. The index fluorescent material according to claim 6, wherein two diagonal linear fluorescent materials are formed in a V shape or an inverted V shape, and the axis of symmetry is a vertical deflection direction. Cathode ray tube control device.
クリーンに対して複数の電子ビームを出射する電子銃、
前記電子銃及び前記スクリーンの間に配置されて収束し
た電子ビームを透過させるシャドウマスクを含む陰極線
管と、 前記陰極線管のネック部に取り付けられ、前記電子銃か
ら放射された電子ビームを前記スクリーン上で水平及び
垂直方向に偏向させると共に、コンバーゼンス補正をす
る電子ビーム偏向手段と、 前記電子ビーム偏向手段に偏向制御電流と偏向補正電流
を与える偏向部と、 前記スクリーンにおける表示画像の幾何学的歪みとコン
バーゼンスのずれとを補正する補正波形を生成して前記
偏向部に与える補正波形作成部と、 前記スクリーン上で線状となるテスト信号を前記電子銃
に与えるテスト信号発生部と、 前記シャドウマスクの前記電子銃と対向する面に電子ビ
ームの偏向角の増大に応じて間隔が狭くなるように二次
元的に配列して設けられ、電子ビームの到来によって発
光する複数のインデックス蛍光体と、 前記テスト信号発生部のテスト信号により、前記電子銃
からの電子ビームが放射されて前記インデックス蛍光体
のいずれかに到来した際の発光出力を検出してインデッ
クス信号を出力する光電変換部と、 前記光電変換部の出力するインデックス信号に基づき、
前記スクリーンにおける電子ビームの各到来位置を検出
して、その到来位置情報を前記補正波形作成部に与える
位置検出部と、 前記電子ビームの位置を垂直方向及び水平方向に一定量
移動させる信号を前記補正波形作成部に与える補助偏向
制御手段と、 前記位置検出部からの出力と前記補助偏向制御手段から
の出力により電子ビームの幾何学的歪みを判別し、その
結果を前記補正波形作成部に与える歪み判別部と、を具
備することを特徴とする陰極線管制御装置。8. A screen on which a phosphor is formed, an electron gun for emitting a plurality of electron beams to the screen,
A cathode ray tube including a shadow mask disposed between the electron gun and the screen to transmit a converged electron beam, and an electron beam emitted from the electron gun on the screen, the cathode ray tube being attached to a neck portion of the cathode ray tube. An electron beam deflecting means for horizontally and vertically deflecting and performing convergence correction, a deflecting portion for applying a deflection control current and a deflection correction current to the electron beam deflecting means, and a geometric distortion of a display image on the screen. A correction waveform generation unit that generates a correction waveform that corrects the convergence deviation and applies the correction waveform to the deflection unit; a test signal generation unit that applies a test signal that is linear on the screen to the electron gun; Two-dimensionally arranged on the surface facing the electron gun so that the interval becomes narrower as the deflection angle of the electron beam increases. A plurality of index phosphors arranged in an array and emitting light by the arrival of an electron beam, and a test signal of the test signal generation unit emits an electron beam from the electron gun to arrive at any of the index phosphors. Based on the index signal output by the photoelectric conversion unit that outputs an index signal by detecting the light emission output when the,
A position detection unit that detects each arrival position of the electron beam on the screen and gives the arrival position information to the correction waveform creation unit, and a signal that moves the position of the electron beam by a certain amount in the vertical direction and the horizontal direction. Auxiliary deflection control means applied to the correction waveform creation section, and geometrical distortion of the electron beam is discriminated by the output from the position detection section and the output from the auxiliary deflection control means, and the result is applied to the correction waveform creation section. A cathode ray tube control device comprising: a distortion determination unit.
その対称軸が垂直偏向方向であることを特徴とする請求
項8記載の陰極線管制御装置。9. The index phosphor is a diagonal phosphor formed in a V shape or an inverted V shape,
9. The cathode ray tube controller according to claim 8, wherein the axis of symmetry is the vertical deflection direction.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19246095A JPH0923442A (en) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | Cathode-ray tube controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19246095A JPH0923442A (en) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | Cathode-ray tube controller |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0923442A true JPH0923442A (en) | 1997-01-21 |
Family
ID=16291673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19246095A Pending JPH0923442A (en) | 1995-07-04 | 1995-07-04 | Cathode-ray tube controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0923442A (en) |
-
1995
- 1995-07-04 JP JP19246095A patent/JPH0923442A/en active Pending
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