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JPH09232269A - Rotary substrate treatment device - Google Patents

Rotary substrate treatment device

Info

Publication number
JPH09232269A
JPH09232269A JP3505296A JP3505296A JPH09232269A JP H09232269 A JPH09232269 A JP H09232269A JP 3505296 A JP3505296 A JP 3505296A JP 3505296 A JP3505296 A JP 3505296A JP H09232269 A JPH09232269 A JP H09232269A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
plate
rotary
ring
push
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3505296A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahide Ikeda
昌秀 池田
Joichi Nishimura
讓一 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP3505296A priority Critical patent/JPH09232269A/en
Publication of JPH09232269A publication Critical patent/JPH09232269A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a rotary substrate treatment device short in the treatment time while having a simple device structure. SOLUTION: When a ring-like magnet 23 ascends, a repulsive force of a magnetic force affecting a permanent magnet 8 integral in a push-up member 10 is increased, and when the repulsive force is presently greater than gravity acting on the push-up member 10, the push-up member 10 starts rotating with a support shaft 7a serving as a rotation shaft and a plate 6 also starts ascending together therewith. When the ring-like magnet 23 further ascends, the push-up member 10 rotates until a position where its vertical member 10b comes into contact with a pin 9a, and the plate 6 ascends to the vicinity of a substrate W. At this time, an ascending position of the plate 6 is restricted by using a bolt 11 so that the plate 6 does not come into contact with a pattern face Wa of the substrate W. If the ring-like magnet 23 is at a position for ascending, as the ring-like magnet 23 is annular, the repulsive force always affects the permanent magnet 8 during a rotation processing and it is possible to maintain stably the plate 6 at an ascending position.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板や液
晶ガラス基板などの薄板状基板(以下、「基板」と称す
る)を回転させて洗浄処理などの諸処理を行う回転式基
板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a rotary substrate processing apparatus for rotating a thin substrate (hereinafter referred to as "substrate") such as a semiconductor substrate or a liquid crystal glass substrate to perform various treatments such as cleaning treatment.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、上記のような回転式基板処理装
置においては、基板が載置される回転台に複数の基板保
持部材を設け、その基板保持部材によって基板を位置決
め保持するように構成されている。基板保持部材によっ
て、基板を回転台から離間して水平に支持すれば、基板
の下面(回転台と対向する面)の損傷を防ぐことができ
る。ところが、基板を回転台から離間して保持している
ため、回転処理中に飛散した処理液のミストなどが基板
の下面に回り込んで付着し、当該下面が汚染されるとい
う問題がある。そこで、基板の回転処理中に下面に純水
などを吹き付けて下面へのミストの回り込みを防止する
ようにしている(以下、「バックリンス」と称する)。
2. Description of the Related Art Generally, in a rotary substrate processing apparatus as described above, a plurality of substrate holding members are provided on a turntable on which the substrates are placed, and the substrates are positioned and held by the substrate holding members. ing. If the substrate is supported horizontally by being separated from the turntable by the substrate holding member, it is possible to prevent the lower surface of the substrate (the surface facing the turntable) from being damaged. However, since the substrate is held apart from the turntable, there is a problem that the mist of the processing liquid scattered during the rotation process goes around and adheres to the lower surface of the substrate to contaminate the lower surface. Therefore, during rotation processing of the substrate, pure water or the like is sprayed onto the lower surface to prevent the mist from flowing around to the lower surface (hereinafter referred to as "back rinse").

【0003】ところで、上記の基板下面は薬液塗布処理
などにおいては基板裏面(レジスト塗布されたパターン
面と反対側)であり、バックリンスによっても充分に防
止できなかった基板裏面の汚染は、露光処理を行う際
に、基板表面(レジスト塗布されたパターン面)におけ
るパターンの正常な露光を妨げる原因となることがあ
る。このため、露光処理前に基板裏面の洗浄を行ってい
るが、このときは、基板表面を下側にして基板保持部材
により支持し、当該基板の裏面に洗浄ブラシを当接させ
たり、高圧ジェット水を噴射させつつ基板を回転させる
ことによって基板の裏面を洗浄する。
By the way, the lower surface of the substrate is the rear surface of the substrate (the side opposite to the resist-coated pattern surface) in the chemical coating process and the like. Contamination of the rear surface of the substrate which cannot be sufficiently prevented by back rinse is performed by the exposure process. When performing the above, it may hinder the normal exposure of the pattern on the substrate surface (pattern surface coated with resist). For this reason, the back surface of the substrate is cleaned before the exposure process. At this time, the back surface of the substrate is supported by the substrate holding member, and the cleaning brush is brought into contact with the back surface of the substrate, or the high pressure jet is used. The back surface of the substrate is cleaned by rotating the substrate while spraying water.

【0004】このような洗浄を行うときに、基板表面へ
のミストの付着防止を目的としてバックリンスを行う
と、基板表面に形成されたレジスト膜が損傷するという
問題がある。この問題を解決するため、以下に示すよう
に、基板表面と回転台の間に上下移動可能なプレートを
設けて、基板表面へのミストの付着を防止する回転式基
板洗浄装置(スピンスクラバー)が提案されている。
If back rinse is performed for the purpose of preventing the mist from adhering to the substrate surface during such cleaning, there is a problem that the resist film formed on the substrate surface is damaged. In order to solve this problem, as shown below, a rotary substrate cleaning device (spin scrubber) is provided that prevents the mist from adhering to the substrate surface by providing a vertically movable plate between the substrate surface and the turntable. Proposed.

【0005】図6は、従来の回転式基板洗浄装置SS6
の動作を説明するための部分正面図である。この回転式
基板洗浄装置SS6は、回転台101と、基板保持部材
105と、プレート106とを備えており、基板保持部
材105によって、基板Wがそのパターン面Waを下面
に(すなわち、裏面Wbを上面に)して回転台101か
ら離間して水平に保持されている。
FIG. 6 shows a conventional rotary substrate cleaning apparatus SS6.
6 is a partial front view for explaining the operation of FIG. The rotary substrate cleaning apparatus SS6 includes a turntable 101, a substrate holding member 105, and a plate 106, and the substrate holding member 105 causes the substrate W to have its pattern surface Wa as its lower surface (that is, the back surface Wb (On the upper surface) and is horizontally held apart from the turntable 101.

【0006】また、回転台101は、プレート駆動手段
107を備えている。プレート駆動手段107は、作動
片107a1と垂下片107a2とからなる逆L字状の押
上部材107aを備えており、前記垂下片107a2
下端にはおもり107bが取り付けられている。押上部
材107aの中間屈曲部は、軸受107dに設けられた
ピン107cに挿通されて支持されている。このとき
に、押上部材107aは、ピン107cのピン軸を回動
軸として回動可能に支持されている。
The rotary table 101 is also provided with a plate driving means 107. The plate driving means 107 is provided with an inverted L-shaped lifting member 107a composed of an operating piece 107a 1 and a hanging piece 107a 2, and a weight 107b is attached to the lower end of the hanging piece 107a 2 . An intermediate bent portion of the push-up member 107a is inserted into and supported by a pin 107c provided on the bearing 107d. At this time, the push-up member 107a is rotatably supported with the pin shaft of the pin 107c as a rotation shaft.

【0007】回転式基板洗浄装置SS6において、基板
の回転処理が開始されると、回転台101が図示を省略
するモータによって回転駆動され始める。そして、回転
台101の回転運動にともなって、おもり107bに遠
心力が作用し始める。おもり107bに作用する遠心力
は、回転台101の回転速度の増加にしたがって大きく
なり、やがて、押上部材107aが、図中の時計回りに
回動し始め、その結果、作動片107a1がプレート1
06を徐々に上方へ押し上げる。こうして、回転台10
1の回転速度が所定の速度に達すると、プレート106
は基板保持部材105のストッパー105aの下面に当
接する位置(図中に二点鎖線で示す位置)まで上昇さ
れ、その後、図示を省略するノズルから洗浄液が噴射さ
れて基板の裏面Wbに洗浄処理が施され、回転処理中は
この状態が維持される。
In the rotary substrate cleaning apparatus SS6, when the substrate rotation process is started, the rotary base 101 is rotationally driven by a motor (not shown). Then, as the rotary table 101 rotates, centrifugal force begins to act on the weight 107b. The centrifugal force acting on the weight 107b increases as the rotation speed of the turntable 101 increases, and eventually the push-up member 107a starts to rotate clockwise in the figure, and as a result, the operating piece 107a 1 moves to the plate 1a.
Gradually push 06 upward. Thus, the turntable 10
When the rotation speed of 1 reaches a predetermined speed, the plate 106
Is lifted to a position (a position indicated by a chain double-dashed line in the figure) where it abuts on the lower surface of the stopper 105a of the substrate holding member 105, and then a cleaning liquid is sprayed from a nozzle (not shown) to clean the back surface Wb of the substrate. This state is maintained during the rotation process.

【0008】回転処理が終了すると、回転台101の回
転速度が徐々に低下し、おもり107bに作用する遠心
力も低下する。そして、押上部材107aが図中の反時
計回りに回動し、その結果、プレート106が下降し、
元の位置(図中に実線で示す位置)まで復帰していく。
When the rotation process ends, the rotation speed of the turntable 101 gradually decreases, and the centrifugal force acting on the weight 107b also decreases. Then, the push-up member 107a rotates counterclockwise in the figure, and as a result, the plate 106 descends,
Return to the original position (the position shown by the solid line in the figure).

【0009】以上のようにすれば、回転処理中はプレー
ト106が上昇して、基板Wとプレート106との間隔
が狭くなっているため、基板Wのパターン面Wa側にミ
ストが回り込むことはほとんどなく、パターン面Waへ
のミストの付着を防止することができる。
With the above arrangement, the plate 106 rises during the rotation process and the gap between the substrate W and the plate 106 is narrowed, so that the mist hardly wraps around the pattern surface Wa side of the substrate W. Therefore, it is possible to prevent the mist from adhering to the pattern surface Wa.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような回転式基板洗浄装置SS6では、処理初期にお
ける回転台101の回転速度が低いうちは、おもり10
7bに充分な遠心力が作用しないため、押上部材107
aがプレート106をストッパー105aの下面に当接
する位置まで上昇させることができない。そして、プレ
ート106が当該位置まで上昇しないうちに、洗浄液を
噴射すると、基板Wとプレート106との間隔が広いた
め、ミストが基板のパターン面Wa側に回り込んで、パ
ターン面Waに付着することになる。
However, in the rotary substrate cleaning apparatus SS6 as described above, the weight 10 is provided while the rotation speed of the rotary table 101 is low at the initial stage of processing.
Since a sufficient centrifugal force does not act on 7b, the push-up member 107
It is not possible to raise the plate 106 to the position where the plate 106 contacts the lower surface of the stopper 105a. When the cleaning liquid is sprayed before the plate 106 has risen to the position, the mist wraps around the pattern surface Wa side of the substrate and adheres to the pattern surface Wa because the gap between the substrate W and the plate 106 is wide. become.

【0011】そこで、上記回転式基板洗浄装置SS6で
は、回転台101が所定の回転速度に達するまで洗浄液
を噴出しないようにインターロックを設ける必要があ
り、装置全体として複雑になる。また、回転台101が
所定の回転速度に達するまで洗浄処理が行えないため、
処理時間が長くなるという問題がある。
Therefore, in the rotary substrate cleaning apparatus SS6, it is necessary to provide an interlock so that the cleaning liquid is not ejected until the rotary table 101 reaches a predetermined rotation speed, which makes the apparatus as a whole complicated. Moreover, since the cleaning process cannot be performed until the rotary table 101 reaches a predetermined rotation speed,
There is a problem that the processing time becomes long.

【0012】本発明は、上記課題に鑑みて、簡便な装置
構成で、処理時間も短い回転式基板処理装置を提供する
ことを目的とする。
In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a rotary substrate processing apparatus having a simple apparatus configuration and a short processing time.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板を回転させつつ、前記基板
の上面に処理液を付与して所定の処理を行う回転式基板
処理装置において、(a)前記基板を回転させるための
回転台と、(b) 前記回転台の上面に設けられ、前記
基板を前記回転台から所定の間隔を隔てて保持する基板
保持部材と、(c) 少なくとも前記基板と同程度の大きさ
を有し、前記所定の間隔内に設けられるとともに、前記
所定の間隔内において上下移動可能なプレートと、(d)
第1の磁性部材を有し、前記回転台に設けられるととも
に、前記プレートを上下移動させるプレート駆動手段
と、(e) 前記回転台の回転軸を中心とする所定の回転軌
跡に沿って、前記回転台の下方に配置された略円環状の
第2の磁性部材と、(f) 前記回転台と前記第2の磁性部
材とを相対昇降させる相対昇降手段とを備え、前記回転
台と前記第2の磁性部材との相対昇降による前記第1と
第2の磁性部材の間に作用する磁力の増減によって前記
プレート駆動手段を駆動し、前記プレートを前記基板近
傍まで上昇させることと、前記プレートを前記回転台近
傍まで降下させることとを可能にしている。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is a rotary substrate processing apparatus for applying a processing liquid to the upper surface of the substrate to perform a predetermined processing while rotating the substrate. In (a) a turntable for rotating the substrate, (b) a substrate holding member which is provided on an upper surface of the turntable and holds the substrate at a predetermined distance from the turntable, ) A plate having at least the same size as the substrate, provided within the predetermined interval, and movable up and down within the predetermined interval, (d)
A plate driving unit that has a first magnetic member, is provided on the rotary table, and moves the plate up and down; and (e) along a predetermined rotation locus about the rotation axis of the rotary table, A substantially annular second magnetic member arranged below the turntable, and (f) relative raising / lowering means for moving the turntable and the second magnetic member relative to each other. The plate driving means is driven by the increase and decrease of the magnetic force acting between the first and second magnetic members due to the relative elevation with respect to the second magnetic member, and the plate is raised to the vicinity of the substrate; It is possible to lower the rotation table to the vicinity thereof.

【0014】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る回転式基板処理装置において、前記プレートを、
前記基板の平面サイズよりも大きくするとともに、前記
プレートにおける前記基板の外周よりも外側の領域にお
ける厚みを前記基板と対向する領域における厚みよりも
厚くしている。
According to a second aspect of the invention, in the rotary substrate processing apparatus according to the first aspect of the invention, the plate is
In addition to being larger than the planar size of the substrate, a thickness of a region of the plate outside the outer periphery of the substrate is larger than a thickness of a region facing the substrate.

【0015】また、請求項3の発明は、請求項1の発明
に係る回転式基板処理装置において、前記プレートを、
前記基板の平面サイズと同程度の大きさとし、前記プレ
ートにおける前記基板の外周部に対向する領域の厚みを
当該領域よりも内側の領域の厚みよりも厚くしている。
According to a third aspect of the present invention, in the rotary substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, the plate is
The size is approximately the same as the planar size of the substrate, and the thickness of the region of the plate facing the outer periphery of the substrate is thicker than the thickness of the region inside the region.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0017】図1は、本発明に係る回転式基板処理装置
の一実施形態である回転式基板洗浄装置SS1の要部断
面正面図である。この回転式基板洗浄装置SS1は、基
板Wを回転させる回転台1と、基板Wと回転台1との間
で上下移動可能なプレート6と、基板Wに純水などの洗
浄液を噴射するノズル50と、回転処理中に基板Wから
飛散した洗浄液を回収するカップ20と、回転台1を回
転駆動させるためのモータ40と、カップ20を昇降さ
せるためのエアシリンダ30とを備えている。
FIG. 1 is a sectional front view of essential parts of a rotary substrate cleaning apparatus SS1 which is an embodiment of the rotary substrate processing apparatus according to the present invention. This rotary substrate cleaning apparatus SS1 includes a rotary table 1 for rotating a substrate W, a plate 6 movable up and down between the substrate W and the rotary table 1, and a nozzle 50 for injecting a cleaning liquid such as pure water onto the substrate W. And a cup 20 for collecting the cleaning liquid scattered from the substrate W during the rotation process, a motor 40 for rotationally driving the rotary base 1, and an air cylinder 30 for raising and lowering the cup 20.

【0018】回転台1は、回転軸41を介してモータ4
0に接続されており、当該モータ40の回転に連動して
回転可能とされている。図2は、回転台1の上面図であ
る。回転台1の周辺部上面には、2つの回動式保持部材
4と4つの固定式保持部材5とが立設されている。回動
式保持部材4は、円柱状の支持部4bと、その支持部4
bの上面に支持部4bの中心軸から偏心して設けられた
円柱状の保持部4aとを備える。また、固定式保持部材
5は、円柱状の支持部5bと、その支持部5b上面に設
けられた円柱状の保持部5aとを備える。そして、これ
ら保持部材により基板Wが回転台1から離間して水平に
保持されることになるが、その機構については、後に説
明する。
The rotary base 1 has a motor 4 via a rotary shaft 41.
It is connected to 0 and is rotatable in association with the rotation of the motor 40. FIG. 2 is a top view of the turntable 1. Two rotary holding members 4 and four fixed holding members 5 are erected on the upper surface of the peripheral portion of the rotary table 1. The rotatable holding member 4 includes a cylindrical support portion 4b and the support portion 4b.
A cylindrical holding portion 4a provided eccentrically from the central axis of the support portion 4b is provided on the upper surface of b. Further, the fixed holding member 5 includes a cylindrical support portion 5b and a cylindrical holding portion 5a provided on the upper surface of the support portion 5b. The holding member holds the substrate W horizontally away from the turntable 1. The mechanism will be described later.

【0019】また、回転台1には、3つのプレート駆動
手段7が設けられており、当該プレート駆動手段7によ
ってプレート6が上下移動される。基板Wの保持および
プレート6の上下移動はカップ20の昇降にともなって
行われるが、これについては、後に詳述する。なお、回
動式保持部材4および固定式保持部材5の個数は、上記
の形態に限定されるものではなく、基板Wを安定して保
持できるようにそれぞれ1つ以上設けてあればよい。ま
た、プレート駆動手段7も3つに限定されるものではな
く、プレート6を安定して上下移動できる個数であれば
よい。
Further, the rotary table 1 is provided with three plate driving means 7, and the plate driving means 7 vertically moves the plate 6. The holding of the substrate W and the vertical movement of the plate 6 are performed as the cup 20 is moved up and down, which will be described in detail later. The numbers of the rotary holding members 4 and the fixed holding members 5 are not limited to the above-mentioned forms, and one or more may be provided so that the substrate W can be stably held. Further, the plate driving means 7 is not limited to three, and may be any number that can stably move the plate 6 up and down.

【0020】プレート6は、基板Wの平面サイズよりも
大きい円板状の部材であり、その周縁部6aは基板Wと
対向する領域よりも外側の領域とされており、内部6b
は、基板Wと対向する領域とされている。また、周縁部
6aの厚さは、内部6bの厚さよりも厚く形成されてい
る。そして、このプレート6には、回動式保持部材4お
よび固定式保持部材5に対向する位置に、それぞれの支
持部4b、5bよりも若干大径のガイド孔が形成されて
いる。プレート6は、回動式保持部材4および固定式保
持部材5に上記ガイド孔を貫通されて設けられることに
より、上下方向に移動可能とされている。
The plate 6 is a disk-shaped member that is larger than the planar size of the substrate W, and its peripheral edge portion 6a is an area outside the area facing the substrate W and the inside 6b.
Is an area facing the substrate W. Further, the thickness of the peripheral edge portion 6a is formed to be thicker than the thickness of the inside 6b. Then, in the plate 6, guide holes having a diameter slightly larger than those of the support portions 4b and 5b are formed at positions facing the rotary holding member 4 and the fixed holding member 5. The plate 6 is movable in the vertical direction by being provided in the rotary holding member 4 and the fixed holding member 5 so as to pass through the guide holes.

【0021】図1に戻って、カップ20の底部下面に
は、カップベース21が設けられており、カップベース
21はピストン31を介してエアシリンダ30に接続さ
れている。また、カップ20の底部上面には、リング状
磁石23を内蔵したリング22が設けられている。リン
グ状磁石23は回転軸41を中心とする円環状の永久磁
石であり、その内径側には、例えば、S極が、外径側に
は、N極が形成されている。エアシリンダ30によって
カップ20を昇降させることにより、リング状磁石23
を昇降させることができる。なお、カップ20を昇降さ
せる手段としては、エアシリンダ30に限定されるもの
ではなく、例えば、電磁アクチュエータなどであっても
かまわない。
Returning to FIG. 1, a cup base 21 is provided on the lower surface of the bottom of the cup 20, and the cup base 21 is connected to the air cylinder 30 via a piston 31. Further, a ring 22 containing a ring-shaped magnet 23 is provided on the upper surface of the bottom of the cup 20. The ring-shaped magnet 23 is an annular permanent magnet centered on the rotation shaft 41, and has, for example, an S pole on the inner diameter side and an N pole on the outer diameter side. By moving the cup 20 up and down by the air cylinder 30, the ring-shaped magnet 23
Can be raised and lowered. The means for raising and lowering the cup 20 is not limited to the air cylinder 30, and may be an electromagnetic actuator, for example.

【0022】基板Wに対して回転洗浄処理を行うとき
は、まず、そのパターン面Waを下側に、裏面Wbを上
側にして、回動式保持部材4の支持部4bおよび固定式
保持部材5の支持部5bに載置する。なお、このときに
は、カップ20は降下された位置(図1中の二点鎖線の
位置)にある。
When the rotation cleaning process is performed on the substrate W, first, the pattern surface Wa is on the lower side and the back surface Wb is on the upper side, and the supporting portion 4b of the rotary holding member 4 and the fixed holding member 5 are first. It is placed on the supporting portion 5b of the. At this time, the cup 20 is in the lowered position (the position indicated by the chain double-dashed line in FIG. 1).

【0023】次に、エアシリンダ30を動作させること
により、カップ20を図1中の実線の位置まで上昇させ
る。カップ20の上昇にともなって、リング状磁石23
も図1中の実線の位置まで上昇する。そして、その結
果、リング状磁石23は、磁石保持部材14に内蔵され
た永久磁石14aおよびプレート駆動手段7に具備され
た永久磁石8に接近する。
Next, the air cylinder 30 is operated to raise the cup 20 to the position shown by the solid line in FIG. As the cup 20 rises, the ring-shaped magnet 23
Also rises to the position indicated by the solid line in FIG. As a result, the ring-shaped magnet 23 approaches the permanent magnet 14a built in the magnet holding member 14 and the permanent magnet 8 provided in the plate driving means 7.

【0024】ところで、固定式保持部材5は、回転台1
に固定配置されているのに対して、回動式保持部材4
は、回転台1に回動自在に配置され、さらに回転台1の
下方の磁石保持部材14に連結されている。そして、リ
ング状磁石23が磁石保持部材14に内蔵された永久磁
石14aに接近あるいは離間することによって、永久磁
石14aに作用する磁力線の向きが反転し、永久磁石1
4aに回動力が生じ、それにともなって回動式保持部材
4が回動する。すなわち、リング状磁石23が下降して
いるときは、回動式保持部材4の保持部4aは、基板W
の周端部から離間して、基板Wを解放し、また、リング
状磁石23が上昇しているときは、保持部4aが基板の
Wの周端部に当接し、押圧付勢するように構成されてい
る。そして、押圧付勢された基板Wは、固定式保持部材
5の保持部5aによって位置が規制される。このように
して、リング状磁石23の上昇により、基板Wは回転台
1から離間して水平に保持される。
By the way, the fixed holding member 5 is the rotary table 1.
In contrast to the fixed arrangement of the rotary holding member 4
Is rotatably arranged on the turntable 1 and is further connected to the magnet holding member 14 below the turntable 1. When the ring-shaped magnet 23 approaches or separates from the permanent magnet 14a contained in the magnet holding member 14, the direction of the magnetic force lines acting on the permanent magnet 14a is reversed, and the permanent magnet 1
A turning force is generated in 4a, and the rotary holding member 4 rotates accordingly. That is, when the ring-shaped magnet 23 is descending, the holding portion 4 a of the rotary holding member 4 moves to the substrate W.
When the ring-shaped magnet 23 is raised, the holding portion 4a abuts on the peripheral end portion of the substrate W and presses and urges the substrate W away from the peripheral end portion of the substrate W. It is configured. The position of the substrate W that has been pressed and biased is regulated by the holding portion 5 a of the fixed holding member 5. In this way, the substrate W is separated from the turntable 1 and held horizontally by the rise of the ring-shaped magnet 23.

【0025】一方、永久磁石8を内蔵したプレート駆動
手段7もリング状磁石23の昇降によって駆動される。
図3は、プレート駆動手段7の動作を説明するための部
分正面図である。
On the other hand, the plate driving means 7 containing the permanent magnet 8 is also driven by raising and lowering the ring-shaped magnet 23.
FIG. 3 is a partial front view for explaining the operation of the plate driving means 7.

【0026】プレート駆動手段7は、回転台1に固設さ
れた支持軸7aと、支持軸7aに回動自在に支持された
押上部材10と、回転台1に固設された軸受9と、軸受
9に両端を挟持されたピン9aとを備える。また、永久
磁石8は押上部材10に内蔵されており、その位置は実
質的にリング状磁石23の鉛直上方である。このとき
に、永久磁石8の極性は、図3に示す如く、対向するリ
ング状磁石23の極性と一致しており、すなわち、リン
グ状磁石23の外径側にN極が、内径側にS極が形成さ
れている場合には、永久磁石8における回転台1の回転
中心から遠い側にN極が、近い側にS極が形成されてい
る。したがって、リング状磁石23と永久磁石8との間
には磁力による斥力が作用するように構成されている。
The plate driving means 7 includes a support shaft 7a fixed to the rotary table 1, a push-up member 10 rotatably supported by the support shaft 7a, and a bearing 9 fixed to the rotary table 1. The bearing 9 includes a pin 9a whose both ends are held. The permanent magnet 8 is built in the push-up member 10, and its position is substantially above the ring-shaped magnet 23 in the vertical direction. At this time, the polarities of the permanent magnets 8 match the polarities of the ring magnets 23 facing each other, as shown in FIG. 3, that is, the N pole is on the outer diameter side of the ring magnet 23 and the S pole is on the inner diameter side. When the poles are formed, the N pole is formed on the side farther from the rotation center of the rotary table 1 in the permanent magnet 8 and the S pole is formed on the closer side. Therefore, a repulsive force due to the magnetic force acts between the ring-shaped magnet 23 and the permanent magnet 8.

【0027】リング状磁石23が下降した位置(図3中
の実線で示す位置)にあるときは、当該リング状磁石2
3と永久磁石8との間隔が相対的に大きいため両磁石間
に作用する斥力よりも押上部材10に作用する重力の方
が大きく、当該押上部材10には図3中における反時計
回りの回動力が生じる。そして、押上部材10の作動片
10aの先端がピン9aに係止された状態(図3中の実
線で示す状態)となる。このときには、プレート6は回
転台1に上面に設けられた3つの微小突起物12(図2
参照)によって支持された状態となる。
When the ring-shaped magnet 23 is in the lowered position (the position shown by the solid line in FIG. 3), the ring-shaped magnet 2 is
Since the distance between the magnet 3 and the permanent magnet 8 is relatively large, the gravity acting on the push-up member 10 is larger than the repulsive force acting between the two magnets, and the push-up member 10 is rotated counterclockwise in FIG. Power is generated. Then, the tip of the operating piece 10a of the push-up member 10 is in a state of being locked to the pin 9a (the state shown by the solid line in FIG. 3). At this time, the plate 6 has three minute projections 12 (see FIG. 2) provided on the upper surface of the turntable 1.
It becomes a state supported by the reference).

【0028】次に、リング状磁石23が上昇する過程に
おいて、当該リング状磁石23と永久磁石8との間隔が
小さくなるにしたがって、両磁石間に作用する斥力は増
大し、やがて、その斥力が押上部材10に作用する重力
よりも大きくなると、押上部材10に図3中における時
計回りの回動力が作用し始め、当該押上部材10が支持
軸7aを回動軸として徐々に回動し始める。そして、そ
の結果、押上部材10がプレート6を徐々に押し上げる
こととなり、プレート6は固定式保持部材5の支持部5
bおよび回動式保持部材4の支持部4bに案内されて鉛
直方向に沿って上昇する。
Next, in the process of raising the ring-shaped magnet 23, as the distance between the ring-shaped magnet 23 and the permanent magnet 8 becomes smaller, the repulsive force acting between the two magnets increases, and eventually the repulsive force is increased. When it becomes larger than the gravity acting on the push-up member 10, a clockwise turning force in FIG. 3 starts to act on the push-up member 10, and the push-up member 10 gradually starts to rotate with the support shaft 7a as the rotation shaft. As a result, the push-up member 10 gradually pushes up the plate 6, and the plate 6 supports the support portion 5 of the fixed holding member 5.
b and is guided by the support portion 4b of the rotary holding member 4 to ascend along the vertical direction.

【0029】次に、リング状磁石23がさらに上昇する
と、それにともなって、押上部材10もさらに回動し、
やがて、押上部材10の垂下片10bがピン9aに当接
し、当該押上部材10が図3中の二点鎖線で示される位
置に規制される。それにともなって、プレート6も基板
W近傍まで上昇した状態で支持されることとなる。この
ときに、プレート6が基板Wに接触してパターン面Wa
の損傷を防止するため、プレート6の下面にはボルト1
1が設けられている。ボルト11は回転台1を挿通して
回転台1の下方にワッシャー11aを有しており、この
ワッシャー11aが回転台1の下面に当接することによ
ってプレート6が基板Wのパターン面Waに接触するの
を防止している。なお、このときに、プレート6が基板
Wのパターン面Waから離れすぎても、洗浄処理中のミ
ストがパターン面Waとプレート6との間に回り込むた
め、ボルト11は、プレート6が基板Wのパターン面W
aに接触しない範囲でなるべくパターン面Waに近づけ
る方が望ましい。また、プレート6の上昇位置の規制
は、ボルト11を使用することに限らず、例えば、固定
式保持部材5および回動式保持部材4にストッパーを設
けることによってもよい。
Next, when the ring-shaped magnet 23 is further raised, the push-up member 10 is further rotated accordingly,
Eventually, the hanging piece 10b of the push-up member 10 comes into contact with the pin 9a, and the push-up member 10 is restricted to the position shown by the chain double-dashed line in FIG. Along with that, the plate 6 is also supported in a state of being raised to the vicinity of the substrate W. At this time, the plate 6 comes into contact with the substrate W and the pattern surface Wa
To prevent damage to the
1 is provided. The bolt 11 has a washer 11a below the rotary table 1 through which the rotary table 1 is inserted. When the washer 11a contacts the lower surface of the rotary table 1, the plate 6 contacts the pattern surface Wa of the substrate W. Are prevented. At this time, even if the plate 6 is too far from the pattern surface Wa of the substrate W, the mist during the cleaning process wraps around between the pattern surface Wa and the plate 6. Pattern surface W
It is desirable to bring the pattern surface Wa as close to the pattern surface Wa as possible without contacting a. Further, the regulation of the rising position of the plate 6 is not limited to the use of the bolt 11, but may be provided, for example, by providing the fixed holding member 5 and the rotary holding member 4 with stoppers.

【0030】次に、リング状磁石23が、回転処理時の
所定の位置(図3中の二点鎖線の位置)まで上昇する
と、さらに大きな斥力が押上部材10に作用するため、
当該押上部材10は安定して図中の二点鎖線の姿勢を維
持することができ、その結果、プレート6も安定して上
昇位置に支持される。そして、回転処理が開始される
と、ノズル50から洗浄液が噴射されるとともに、回転
台1が回転動作を始めるが、リング状磁石23は円環状
であるため、回転処理中も、安定してプレート6が上昇
した状態が維持される。
Next, when the ring-shaped magnet 23 rises to a predetermined position (position indicated by a chain double-dashed line in FIG. 3) during the rotation processing, a larger repulsive force acts on the push-up member 10,
The push-up member 10 can stably maintain the posture of the chain double-dashed line in the figure, and as a result, the plate 6 is also stably supported in the raised position. Then, when the rotation process is started, the cleaning liquid is sprayed from the nozzle 50, and the rotary table 1 starts the rotation operation. However, since the ring-shaped magnet 23 has an annular shape, the plate is stably maintained during the rotation process. The state where 6 is raised is maintained.

【0031】図4は、プレート6が上昇した様子を説明
するための図である。図示の如く、プレート6の上昇位
置においては、プレート6の周縁部6aの厚さが内部6
bの厚さよりも厚いため、当該周縁部6aが基板Wの周
囲を覆うようになっている。したがって、基板Wのパタ
ーン面Waとプレート6との間に処理液のミストが回り
込むことがほとんどなくなるため、パターン面Waへの
ミストの付着を防止できる。そして、その結果、従来は
パターン面Waにミストが付着すると不都合が生じるよ
うな処理液も使用できるため、基板処理方法の選択肢が
広がる。
FIG. 4 is a diagram for explaining how the plate 6 is raised. As shown in the drawing, when the plate 6 is in the raised position, the thickness of the peripheral edge portion 6a of the plate 6 is equal to that of the inside 6
Since it is thicker than the thickness of b, the peripheral portion 6a covers the periphery of the substrate W. Therefore, the mist of the processing liquid hardly wraps around between the pattern surface Wa of the substrate W and the plate 6, so that the mist can be prevented from adhering to the pattern surface Wa. As a result, conventionally, a processing liquid that causes a problem when mist adheres to the pattern surface Wa can also be used, so that the choice of substrate processing methods is expanded.

【0032】回転処理が終了すると、図1のモータ40
が停止し、回転台1の回転速度が徐々に低下していく。
そして、回転台1が完全に停止しても、押上部材10に
はリング状磁石23からの斥力が作用し続けているた
め、プレート6は上昇した状態を維持し続けている。次
に、カップ20が下降すると、それにともなってリング
状磁石23も下降し、押上部材10に作用する斥力が弱
くなり、押上部材10が処理前の状態(図3中の実線の
位置)に戻る。そして、押上部材10の回動にともなっ
て、プレート6も下降位置に戻る。
When the rotation process is completed, the motor 40 shown in FIG.
Stops and the rotation speed of the turntable 1 gradually decreases.
Even when the rotary table 1 is completely stopped, the repulsive force from the ring-shaped magnet 23 continues to act on the push-up member 10, so that the plate 6 continues to be kept in the raised state. Next, when the cup 20 descends, the ring-shaped magnet 23 descends accordingly, the repulsive force acting on the push-up member 10 weakens, and the push-up member 10 returns to the state before processing (the position indicated by the solid line in FIG. 3). . Then, with the rotation of the push-up member 10, the plate 6 also returns to the lowered position.

【0033】以上のようにすれば、回転処理時にカップ
20を上昇させると同時にプレート6も上昇するため、
回転台1が所定の回転速度に達するまで処理液の噴射を
待つ必要がなくなり、そのためのインターロックをなく
すことができる。したがって、装置構成が簡便化される
とともに、低コスト化も図ることができる。
With the above arrangement, since the cup 20 is raised at the same time as the cup 20 is raised during the rotation process,
It is not necessary to wait for the injection of the treatment liquid until the rotary table 1 reaches a predetermined rotation speed, and the interlock for that can be eliminated. Therefore, the device configuration can be simplified and the cost can be reduced.

【0034】さらに、回転台1の回転を開始すると同時
に、処理液の噴射をできるため、回転処理時間を短縮で
き、処理効率を向上することができる。
Furthermore, since the treatment liquid can be jetted at the same time when the rotation of the turntable 1 is started, the rotation treatment time can be shortened and the treatment efficiency can be improved.

【0035】[0035]

【変形例】以上、この発明の実施形態について説明した
が、この発明は上記の形態に限定されるものではなく、
例えば、プレートの形状は以下に示すようなものであっ
てもよい。
[Modification] The embodiment of the present invention has been described above. However, the present invention is not limited to the above embodiment,
For example, the shape of the plate may be as shown below.

【0036】図5は、プレートの他の形態について説明
する図である。なお、図5は、図4と同様にプレート1
6が上昇した状態を示している。このプレート16は、
基板Wの平面サイズと同程度の大きさを有した円板状の
部材であり、その周縁部16aの厚さは内部16bの厚
さよりも厚くなっている。プレート16の上昇位置は、
周縁部16aが基板Wのパターン面Waに接触しない範
囲内で接近するようにボルト11(図3参照)によって
規制されているが、周縁部16aがパターン面Waに接
触してもかまわない。これはパターン面Waの周縁部
は、最終的に使用しないためである。
FIG. 5 is a diagram for explaining another form of the plate. Note that FIG. 5 is similar to FIG.
6 has shown the state which rose. This plate 16
It is a disk-shaped member having a size substantially the same as the plane size of the substrate W, and the thickness of the peripheral edge portion 16a thereof is thicker than the thickness of the inside 16b. The rising position of the plate 16 is
Although the peripheral edge 16a is regulated by the bolts 11 (see FIG. 3) so as to approach the pattern surface Wa of the substrate W within a range that does not contact the peripheral surface 16a, the peripheral edge 16a may contact the pattern surface Wa. This is because the peripheral portion of the pattern surface Wa is not used finally.

【0037】上記のプレート16によれば、基板Wのパ
ターン面Waと周縁部16aとの間隔が極めて狭くなっ
ているか、あるいはパターン面Waと周縁部16aとが
接触しているため、パターン面Wa側に処理液のミスト
が回り込むことがなく、パターン面Waへのミストの付
着を防止することができる。さらに、プレート16の内
部16bは回転処理中に若干たわみが生じたとしても、
厚くなっている周縁部16aは変形しにくいため基板W
を損傷させることはない。したがって、内部16bを薄
くし、プレート16全体の質量を低下させることがで
き、その結果、プレート16のイナーシアを小さくする
ことができる。
According to the plate 16 described above, the distance between the pattern surface Wa of the substrate W and the peripheral edge portion 16a is extremely narrow, or the pattern surface Wa and the peripheral edge portion 16a are in contact with each other. The mist of the treatment liquid does not wrap around to the side, and it is possible to prevent the mist from adhering to the pattern surface Wa. Furthermore, even if the inside 16b of the plate 16 is slightly bent during the rotation process,
Since the thickened peripheral portion 16a is hard to be deformed, the substrate W
Will not damage. Therefore, the inner portion 16b can be thinned to reduce the mass of the plate 16 as a whole, and as a result, the inertia of the plate 16 can be reduced.

【0038】また、上記実施形態においては、カップ2
0を昇降させることによってリング状磁石23と永久磁
石8とを接近、離間させていたが、これを回転台1を昇
降させることによって行ってもよい。
Further, in the above embodiment, the cup 2
Although the ring-shaped magnet 23 and the permanent magnet 8 are moved close to and away from each other by raising and lowering 0, this may be performed by raising and lowering the rotary table 1.

【0039】また上記実施形態においてはプレート駆動
手段7を構成する押上部材10に内蔵された永久磁石8
と、カップ20の底部上面に設けられたリング22に内
蔵されたリング状磁石23との斥力を利用してプレート
6を上下移動させているが、これに限られず、押上部材
10を回動自在に支持する支持軸7aや永久磁石8の位
置を変更する等により、永久磁石8とリング状磁石23
との引用を利用してプレート6を上下移動させるように
してもよい。
Further, in the above embodiment, the permanent magnet 8 built in the push-up member 10 which constitutes the plate driving means 7.
And the plate 6 is moved up and down by using the repulsive force of the ring-shaped magnet 23 built in the ring 22 provided on the upper surface of the bottom of the cup 20, but not limited to this, the push-up member 10 can be freely rotated. By changing the positions of the support shaft 7a and the permanent magnet 8 that are supported by the permanent magnet 8 and the ring-shaped magnet 23,
The plate 6 may be moved up and down by utilizing the quote.

【0040】さらに、本発明にかかる回転式基板処理装
置は、回転式基板洗浄装置のみならず、回転式塗布装置
や回転式現像装置などにも適用できる。この場合は、基
板Wの裏面Wbを下側とする処理であり、当該裏面Wb
へのミストの付着が防止できるため、続く洗浄処理が容
易になる。
Further, the rotary substrate processing apparatus according to the present invention can be applied not only to the rotary substrate cleaning apparatus but also to a rotary coating apparatus, a rotary developing apparatus and the like. In this case, the back surface Wb of the substrate W is set to the lower side, and the back surface Wb
Since the mist can be prevented from adhering to the surface, the subsequent cleaning process becomes easy.

【0041】[0041]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、回転台と当該
回転台から所定の間隔を隔てて保持された基板との間で
上下移動可能なプレートを備えるとともに、当該回転台
に磁性部材を有したプレート駆動手段を備え、略円環状
の磁性部材を昇降させることにより双方の磁性部材の間
の磁力を増減させてプレート駆動手段を駆動し、プレー
トを基板近傍まで上昇させることと、回転台近傍まで降
下させることとを可能にしているので、回転台が所定の
回転速度に達するまで処理液の噴射を待つ必要がなくな
り、そのためのインターロックをなくすことができる。
したがって、装置構成が簡便化されるとともに、低コス
ト化も図ることができる。また、回転台の回転を開始す
ると同時に、処理液の噴射をできるため、回転処理時間
を短縮でき、処理効率を向上することができる。
According to the first aspect of the present invention, a plate movable up and down is provided between the turntable and the substrate held at a predetermined distance from the turntable, and the turntable has a magnetic member. And a plate drive means having a drive means for driving the plate drive means by increasing and decreasing the magnetic member having a substantially annular shape to increase or decrease the magnetic force between both magnetic members, and raising the plate to the vicinity of the substrate, and rotating the plate. Since it is possible to lower it to the vicinity of the table, it is not necessary to wait for the injection of the processing liquid until the rotary table reaches a predetermined rotation speed, and the interlock for that can be eliminated.
Therefore, the device configuration can be simplified and the cost can be reduced. Further, since the treatment liquid can be jetted at the same time as the rotation of the turntable is started, the rotation treatment time can be shortened and the treatment efficiency can be improved.

【0042】請求項2の発明によれば、基板の平面サイ
ズよりも大きいプレートにおける基板の外周よりも外側
の領域における厚みを基板と対向する領域の厚みよりも
厚くしているので、プレートの周縁部が基板の周囲を覆
い、基板とプレートとの間に処理液のミストが回り込む
ことがほとんどなくなるため、基板の下面へのミストの
付着を防止できる。そして、その結果、従来は基板面に
ミストが付着すると不都合が生じるような処理液も使用
できるため、基板処理方法の選択肢が広がる。
According to the second aspect of the present invention, since the thickness of the region outside the outer periphery of the plate of the plate which is larger than the plane size of the substrate is larger than the thickness of the region facing the substrate, the peripheral edge of the plate. Since the portion covers the periphery of the substrate and the mist of the processing liquid hardly wraps around between the substrate and the plate, it is possible to prevent the mist from adhering to the lower surface of the substrate. As a result, a treatment liquid that conventionally causes a problem when mist adheres to the substrate surface can be used, so that the choice of substrate treatment methods can be expanded.

【0043】請求項3の発明によれば、基板と同程度の
平面サイズを有するプレートにおける基板の外周部に対
向する領域の厚みを内側の領域の厚みよりも厚くしてい
るので、当該内側の領域の厚みを薄くしてもプレートの
周縁部は変形しにくいため回転処理中に基板を損傷させ
ることがなくなる。したがって、プレートを軽量化で
き、当該プレートのイナーシアを小さくすることができ
る。
According to the third aspect of the present invention, the thickness of the region of the plate having the same plane size as the substrate facing the outer peripheral portion of the substrate is made thicker than the thickness of the inner region. Even if the thickness of the region is reduced, the peripheral portion of the plate does not easily deform so that the substrate is not damaged during the rotation process. Therefore, it is possible to reduce the weight of the plate and reduce the inertia of the plate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る回転式基板処理装置の一実施形態
である回転式基板洗浄装置の要部断面正面図である。
FIG. 1 is a sectional front view of a main part of a rotary substrate cleaning apparatus that is an embodiment of a rotary substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の回転式基板洗浄装置の回転台の上面図で
ある。
FIG. 2 is a top view of a turntable of the rotary substrate cleaning apparatus of FIG.

【図3】図1のプレート駆動手段の動作を説明するため
の部分正面図である。
FIG. 3 is a partial front view for explaining the operation of the plate driving means of FIG.

【図4】プレートが上昇した様子を説明するための図で
ある。
FIG. 4 is a diagram for explaining how the plate is raised.

【図5】プレートの他の形態について説明する図であ
る。
FIG. 5 is a diagram illustrating another form of the plate.

【図6】従来の回転式基板洗浄装置の動作を説明するた
めの部分正面図である。
FIG. 6 is a partial front view for explaining the operation of the conventional rotary substrate cleaning apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回転台 4 回動式保持部材 5 固定式保持部材 6 プレート 7 プレート駆動手段 8 永久磁石 20 カップ 23 リング状磁石 30 エアシリンダ 40 モータ W 基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 rotary table 4 rotary holding member 5 fixed holding member 6 plate 7 plate driving means 8 permanent magnet 20 cup 23 ring magnet 30 air cylinder 40 motor W substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/68 H01L 21/30 564C 569C ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical display location H01L 21/68 H01L 21/30 564C 569C

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を回転させつつ、前記基板の上面に
処理液を付与して所定の処理を行う回転式基板処理装置
において、 (a) 前記基板を回転させるための回転台と、 (b) 前記回転台の上面に設けられ、前記基板を前記回転
台から所定の間隔を隔てて保持する基板保持部材と、 (c) 少なくとも前記基板と同程度の大きさを有し、前記
所定の間隔内に設けられるとともに、前記所定の間隔内
において上下移動可能なプレートと、 (d) 第1の磁性部材を有し、前記回転台に設けられると
ともに、前記プレートを上下移動させるプレート駆動手
段と、 (e) 前記回転台の回転軸を中心とする所定の回転軌跡に
沿って、前記回転台の下方に配置された略円環状の第2
の磁性部材と、 (f) 前記回転台と前記第2の磁性部材とを相対昇降させ
る相対昇降手段と、を備え、 前記回転台と前記第2の磁性部材との相対昇降による前
記第1と第2の磁性部材の間に作用する磁力の増減によ
って前記プレート駆動手段を駆動し、前記プレートを前
記基板近傍まで上昇させることと、前記プレートを前記
回転台近傍まで降下させることとが可能であることを特
徴とする回転式基板処理装置。
1. A rotary substrate processing apparatus that applies a processing liquid to the upper surface of the substrate to perform a predetermined process while rotating the substrate, comprising: (a) a rotary table for rotating the substrate; ) A substrate holding member which is provided on the upper surface of the turntable and holds the substrate at a predetermined distance from the turntable, and (c) has at least the same size as the substrate and has the predetermined distance. A plate that is provided inside and that can move up and down within the predetermined interval; and (d) a plate drive means that has a first magnetic member and that is provided on the turntable and that moves the plate up and down. (e) A second substantially annular ring disposed below the rotary table along a predetermined rotation locus about the rotation axis of the rotary table.
(F) relative elevating means for relatively elevating and lowering the rotary base and the second magnetic member, and the first and second magnetic heads by relative elevation of the rotary base and the second magnetic member. It is possible to drive the plate driving means by increasing and decreasing the magnetic force acting between the second magnetic members to raise the plate to the vicinity of the substrate and to lower the plate to the vicinity of the rotary table. A rotary substrate processing apparatus characterized by the above.
【請求項2】 請求項1記載の回転式基板処理装置にお
いて、 前記プレートは、前記基板の平面サイズよりも大きく、
前記プレートにおける前記基板の外周よりも外側の領域
における厚みが前記基板と対向する領域における厚みよ
りも厚いことを特徴とする回転式基板処理装置。
2. The rotary substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the plate is larger than a planar size of the substrate,
A rotary substrate processing apparatus, wherein a thickness of a region of the plate outside an outer periphery of the substrate is larger than a thickness of a region facing the substrate.
【請求項3】 請求項1記載の回転式基板処理装置にお
いて、 前記プレートは、前記基板の平面サイズと同程度の大き
さを有し、前記プレートにおける前記基板の外周部に対
向する領域の厚みが当該領域よりも内側の領域の厚みよ
りも厚いことを特徴とする回転式基板処理装置。
3. The rotary substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the plate has a size substantially equal to a plane size of the substrate, and a thickness of a region of the plate facing the outer peripheral portion of the substrate. Is thicker than the region inside the region, the rotary substrate processing apparatus.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11289002A (en) * 1998-04-03 1999-10-19 Toshiba Microelectronics Corp Single wafer processing mechanism
JP2007535126A (en) * 2003-10-21 2007-11-29 セミトゥール・インコーポレイテッド System for processing workpieces
JP2010093190A (en) * 2008-10-10 2010-04-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device
JP2010093191A (en) * 2008-10-10 2010-04-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device
CN103165495A (en) * 2011-12-19 2013-06-19 大日本网屏制造株式会社 Substrate holding and rotating device, substrate treatment apparatus including the device, and substrate treatment method
WO2014203587A1 (en) * 2013-06-18 2014-12-24 大日本スクリーン製造株式会社 Substrate holding and rotating device, substrate processing device equipped with same, and substrate processing method
KR20240072979A (en) * 2020-11-30 2024-05-24 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Substrate processing apparatus and substrate processing method

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11289002A (en) * 1998-04-03 1999-10-19 Toshiba Microelectronics Corp Single wafer processing mechanism
JP2007535126A (en) * 2003-10-21 2007-11-29 セミトゥール・インコーポレイテッド System for processing workpieces
JP2010093190A (en) * 2008-10-10 2010-04-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device
JP2010093191A (en) * 2008-10-10 2010-04-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device
KR101426999B1 (en) * 2011-12-19 2014-08-06 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 Substrate holding and rotating device, substrate treatment apparatus including the device, and substrate treatment method
JP2013229552A (en) * 2011-12-19 2013-11-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate holding rotary device, substrate processing apparatus including the same, and substrate processing method
CN103165495A (en) * 2011-12-19 2013-06-19 大日本网屏制造株式会社 Substrate holding and rotating device, substrate treatment apparatus including the device, and substrate treatment method
US9385020B2 (en) 2011-12-19 2016-07-05 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate holding and rotating device, substrate treatment apparatus including the device, and substrate treatment method
WO2014203587A1 (en) * 2013-06-18 2014-12-24 大日本スクリーン製造株式会社 Substrate holding and rotating device, substrate processing device equipped with same, and substrate processing method
JP2015002328A (en) * 2013-06-18 2015-01-05 株式会社Screenホールディングス Substrate holding rotary device, substrate processing apparatus including the same, and substrate processing method
CN105378909A (en) * 2013-06-18 2016-03-02 株式会社思可林集团 Substrate holding and rotating device, substrate processing device equipped with same, and substrate processing method
US9962744B2 (en) 2013-06-18 2018-05-08 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate holding and rotating device, substrate processing device equipped with same, and substrate processing method
KR20240072979A (en) * 2020-11-30 2024-05-24 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Substrate processing apparatus and substrate processing method

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