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JPH09223859A - Printed wiring board - Google Patents

Printed wiring board

Info

Publication number
JPH09223859A
JPH09223859A JP2971296A JP2971296A JPH09223859A JP H09223859 A JPH09223859 A JP H09223859A JP 2971296 A JP2971296 A JP 2971296A JP 2971296 A JP2971296 A JP 2971296A JP H09223859 A JPH09223859 A JP H09223859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
layer
primary
conductor
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2971296A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masanori Tamaki
昌徳 玉木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP2971296A priority Critical patent/JPH09223859A/en
Publication of JPH09223859A publication Critical patent/JPH09223859A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a printed wiring board excellent in adhesion to a resin insulating layer for a conductor formed by the additive method and in heat cycle characteristics by improving the adhesion between a primary plating layer and a secondary plating layer comprising the conductor. SOLUTION: A conductor circuit 2 as the first layer, composed of a plurality of conductor patterns, is formed on the surface of a substrate 1, and light- sensitive adhesive solution is applied to the surface of the conductor circuit 2. The conductor circuit 20 is left for 20 minutes, and then dried at 60 deg.C to form openings 4, 100μm in diameter, to be via holes on the wiring board. Further, heat treatment is performed to form a resin insulating layer 3 having the opening 4 excellent in dimensional accuracy. Prebaking, exposure, development and curing are performed to form plating resist 5. An electroless Cu-Ni-P alloy layer 6 is formed in the areas with no resist formed, and an electroless copper plating layer 7 is formed on the surface of a copper-nickel plating thin film, the primary plating film. This improves the adhesion between the primary plating layer and the secondary plating layer comprising the conductor, and makes it possible to form a printed wiring board, excellent in adhesion between conductor and resin insulating layer, with stability.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、アディティブ法によ
り形成した導体と樹脂絶縁層との密着性、特に、導体を
構成する一次めっき層と二次めっき層の密着性を改善し
たプリント配線板についての提案である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board having improved adhesion between a conductor formed by an additive method and a resin insulating layer, and more particularly, adhesion between a primary plating layer and a secondary plating layer forming the conductor. Is a proposal of.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子工業の進歩に伴い電子機器の
小型化あるいは高速化が進められており、このためプリ
ント配線板やLSIを実装する配線板に対してもファイ
ンパターンによる高密度化および高い信頼性が要求され
ている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the progress of the electronic industry, electronic devices have been reduced in size and increased in speed. For this reason, a printed circuit board and a wiring board on which an LSI is mounted have a high density and a fine pattern. High reliability is required.

【0003】このために、最近では、配線板に導体を形
成する方法として、接着剤を基板表面に塗布して樹脂絶
縁層を形成し、この樹脂絶縁層の表面を粗化した後、無
電解めっきを施して導体を形成するアディティブ法が注
目を浴びている。
For this reason, recently, as a method of forming a conductor on a wiring board, an adhesive is applied to the surface of the substrate to form a resin insulating layer, and the surface of the resin insulating layer is roughened, and then electroless. Attention has been paid to the additive method of forming a conductor by plating.

【0004】このようなアディティブ法において、導体
と樹脂絶縁層との密着性(以下、「ピール強度」とい
う。)を改善する手段として、従来、樹脂絶縁層の導体
形成面側に、化学的エッチングによる微細な凹凸を設け
る方法が知られている。この方法によれば、樹脂絶縁層
表面に設けた凹凸に銅めっき等のめっき金属が充填され
るので、その凹凸によるアンカー効果により、ピール強
度を改善することができる。このようなアンカー効果に
よるピール強度の改善は、一般に、破壊面積を大きくす
ること、導体金属または絶縁層樹脂の強度を大きくする
ことによってなされる。
In such an additive method, as a means for improving the adhesion between the conductor and the resin insulation layer (hereinafter referred to as "peel strength"), chemical etching is conventionally performed on the conductor formation surface side of the resin insulation layer. There is known a method of providing fine irregularities by According to this method, since the unevenness provided on the surface of the resin insulating layer is filled with the plating metal such as copper plating, the peeling strength can be improved by the anchor effect due to the unevenness. The improvement of the peel strength due to the anchor effect is generally performed by increasing the breaking area and the strength of the conductor metal or the insulating layer resin.

【0005】ところが、より高密度でパターン精度の高
い配線が要求される最近のアディティブ型プリント配線
板では、レジストの微小パターンを精度良く形成するた
めに、樹脂絶縁層の表面粗化によって形成されるアンカ
ーを小さくすることが必要となる。そのため、上記従来
技術において、アンカーを小さくすると、破壊面積が小
さくなる結果、ピール強度が著しく低下するという問題
を生じた。
However, in a recent additive type printed wiring board which requires a wiring with higher density and higher pattern accuracy, the resin insulating layer is formed by surface roughening in order to accurately form a fine pattern of a resist. It is necessary to make the anchor small. Therefore, in the above-mentioned conventional technique, when the anchor is made smaller, the fracture area becomes smaller, resulting in a problem that the peel strength is significantly reduced.

【0006】この問題を解消するために、発明者らは先
に、基板上に設けた樹脂絶縁層の粗化面に触媒核を付与
して薄付けの無電解合金めっき(一次めっき)処理を直
に施し、さらにその合金めっき層表面に厚付けの無電解
銅めっき(二次めっき)処理を施して導体層を形成して
なるプリント配線板を提案した。特にこの提案では、ア
ンカー内に充填される一次めっき金属として、導通抵抗
が低く硬度に優れる銅−ニッケル系合金を用いることが
望ましい。それ故に、上記提案にかかる技術によれば、
より高密度でパターン精度の高い配線においても、導通
抵抗を低く維持しつつピール強度をある程度改善するこ
とはできる。
[0006] In order to solve this problem, the present inventors previously performed thin electroless alloy plating (primary plating) treatment by providing catalyst nuclei on the roughened surface of the resin insulating layer provided on the substrate. We have proposed a printed wiring board that is directly applied, and then the surface of the alloy plating layer is subjected to thick electroless copper plating (secondary plating) to form a conductor layer. Particularly in this proposal, it is desirable to use a copper-nickel alloy having a low conduction resistance and excellent hardness as the primary plating metal filled in the anchor. Therefore, according to the technique of the above proposal,
Even in a wiring having a higher density and a higher pattern accuracy, the peel strength can be improved to some extent while keeping the conduction resistance low.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように一次めっき金属として銅−ニッケル系合金を用
い、二次めっき金属として例えば銅を用いると、一次め
っき層は、ニッケルを含むために酸化しやすい。その結
果、例えば製造トラブルなどで一次めっき層が空気中に
長時間にわたって晒されると、一次めっき層の表面が酸
化し、一次めっき層(銅−ニッケル系合金層)と二次め
っき層(銅めっき層)の密着不良が発生するという問題
があった。
However, when the copper-nickel alloy is used as the primary plating metal and copper is used as the secondary plating metal as described above, the primary plating layer is oxidized because it contains nickel. Cheap. As a result, for example, when the primary plating layer is exposed to the air for a long time due to manufacturing trouble or the like, the surface of the primary plating layer is oxidized, and the primary plating layer (copper-nickel alloy layer) and the secondary plating layer (copper plating). There was a problem that poor adhesion of the layer) occurred.

【0008】また、このような密着不良は、一次めっき
層の表面酸化が生じなくても、配線パターンの高密度化
に伴って樹脂絶縁層に形成されるアンカーが小さくな
り、図1に示すように、アンカー窪みを含む粗化面側に
形成される一次めっき層が、アンカー窪み内を一次めっ
き金属で完全に充填した状態でかつ平坦に被覆される場
合にも生じた。
[0008] In addition, such poor adhesion causes the anchor formed on the resin insulating layer to become smaller as the wiring pattern becomes higher in density even if the surface oxidation of the primary plating layer does not occur, as shown in FIG. In addition, when the primary plating layer formed on the roughened surface side including the anchor recess is completely filled with the primary plating metal in the anchor recess and is evenly coated.

【0009】このように、導体を構成する一次めっき層
と二次めっき層の密着性が悪くなると、アディティブ法
により形成した導体と樹脂絶縁層との密着性(ピール強
度)を低下させることになる。また、このような一次め
っき層と二次めっき層の2層からなる導体は、それぞれ
の層の熱膨張係数が異なるために、ヒートサイクルなど
で剥離が生じる場合がある。
As described above, when the adhesion between the primary plating layer and the secondary plating layer forming the conductor is deteriorated, the adhesion (peel strength) between the conductor formed by the additive method and the resin insulating layer is deteriorated. . Further, such a conductor composed of two layers, a primary plating layer and a secondary plating layer, may have peeling due to a heat cycle or the like because the layers have different thermal expansion coefficients.

【0010】この発明の目的は、従来技術が抱えている
上記問題を解消することにあり、特に、導体を構成する
一次めっき層と二次めっき層の密着性を改善することに
より、より高密度でパターン精度の高い配線において
も、アディティブ法により形成した導体の樹脂絶縁層と
の密着性(ピール強度)およびヒートサイクル特性に優
れたプリント配線板を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above problems of the prior art, and in particular, by improving the adhesion between the primary plating layer and the secondary plating layer forming the conductor, a higher density is achieved. It is an object of the present invention to provide a printed wiring board having excellent adhesion (peel strength) of a conductor formed by the additive method to a resin insulating layer and excellent heat cycle characteristics even in wiring having high pattern accuracy.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】発明者は、上記目的の実
現に向け鋭意研究を行った結果、以下に示す内容を要旨
構成とする発明を完成するに至った。すなわち、この発
明は、基板上に設けた樹脂絶縁層の粗化面に、一次めっ
き処理と二次めっき処理にて形成した導体回路を有する
プリント配線板において、前記導体回路は、アンカー窪
みを含む粗化面側が、該粗化面に沿って設けた一次めっ
き層で構成され、かつその一次めっき層の表面には、二
次めっき層が、アンカー窪み内の少なくとも一部を占め
るように充填された状態で形成されていることを特徴と
するプリント配線板である。
Means for Solving the Problems The inventor of the present invention has intensively studied for realizing the above-mentioned object, and as a result, has completed the invention having the following contents as the gist. That is, the present invention is a printed wiring board having a conductor circuit formed by a primary plating process and a secondary plating process on a roughened surface of a resin insulating layer provided on a substrate, wherein the conductor circuit includes an anchor dent. The roughened surface side is composed of a primary plating layer provided along the roughened surface, and the surface of the primary plating layer is filled with a secondary plating layer so as to occupy at least part of the anchor recess. The printed wiring board is characterized in that it is formed in an open state.

【0012】ここで、上記一次めっき層は、膜厚が1以
上2μm未満であること、アンカー窪み内に占める割合
が30〜50 vol%であること、あるいはNi,Co,Cu,Auお
よびAgの少なくとも2種以上の合金からなることが望ま
しい。また、上記一次めっき層は、Ni,Co,Cu,Auおよ
びAgの少なくとも1種以上と、Sn,Pb, B,P,Cおよ
び遷移金属の少なくとも1種以上との合金からなること
が望ましい。
Here, the primary plating layer has a film thickness of 1 or more and less than 2 μm, a ratio in the anchor recess of 30 to 50 vol%, or of Ni, Co, Cu, Au and Ag. It is desirable to be composed of at least two kinds of alloys. The primary plating layer is preferably made of an alloy of at least one kind of Ni, Co, Cu, Au and Ag and at least one kind of Sn, Pb, B, P, C and a transition metal.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】この発明のプリント配線板は、導
体回路が、アンカー窪みを含む粗化面側が該粗化面に沿
って設けた一次めっき層で構成され、かつその一次めっ
き層の表面には、二次めっき層がアンカー窪み内の少な
くとも一部を占めるように充填された状態で形成されて
いる点に特徴がある。これにより、一次めっき層と二次
めっき層との密着面積が増大する。しかも、アンカー窪
み内を一次めっき層で完全に充填させていないので、一
次めっき層と二次めっき層との間には、化学結合以外に
アンカー効果による物理的な結合力が加わる。その結
果、導体を構成する一次めっき層と二次めっき層の密着
性が改善でき、より高密度でパターン精度の高い配線に
おいても、アディティブ法により形成した導体の樹脂絶
縁層との密着性(ピール強度)を改善したプリント配線
板を提供することができるようになる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In a printed wiring board according to the present invention, a conductor circuit is composed of a primary plating layer having a roughened surface side including anchor recesses provided along the roughened surface, and the surface of the primary plated layer. Is characterized in that the secondary plating layer is formed so as to be filled so as to occupy at least a part of the anchor recess. This increases the contact area between the primary plating layer and the secondary plating layer. Moreover, since the interior of the anchor recess is not completely filled with the primary plating layer, a physical bonding force due to the anchor effect is applied between the primary plating layer and the secondary plating layer in addition to the chemical bond. As a result, the adhesion between the primary plating layer and the secondary plating layer forming the conductor can be improved, and even in wiring with higher density and higher pattern accuracy, the adhesion (peel) of the conductor formed by the additive method to the resin insulation layer can be improved. It is possible to provide a printed wiring board having improved strength.

【0014】このような効果は、一次めっき層の膜厚を
1μm以上2μm未満とし、アンカー窪み内に占める一
次めっき層の割合を30〜50 vol%とすることで、より一
層顕著に作用する。
Such an effect becomes more remarkable when the thickness of the primary plating layer is 1 μm or more and less than 2 μm and the proportion of the primary plating layer in the anchor recess is 30 to 50 vol%.

【0015】ここで、一次めっき層の膜厚を1μm以上
2μm未満とする理由は、製品毎の品質のバラツキを抑
えると同時にめっき膜のピンホールをなくし、また抵抗
値の増大を防止するためである。即ち、1μm未満で
は、析出するめっき膜の組成にバラツキがあり、製品毎
のピール強度のバラツキが大きくなる。また、一次めっ
き膜にピンホールが発生しやすく、二次めっき液が十分
に接触せずめっき層に空隙が生じる。この空隙は、熱衝
撃時に膨張してクラックの原因ともなった。この点、1
μmを超えると、このようなピンホールは消滅し、析出
するめっき膜の組成も安定したものとなる。しかしなが
ら、2μmを超えると、抵抗値が大きくなり、導体回路
としては好ましくない。したがって、本発明では、一次
めっき層の膜厚を1μm以上2μm未満の範囲に限定し
た。
The reason why the thickness of the primary plating layer is set to 1 μm or more and less than 2 μm is to suppress the variation in quality of each product, eliminate the pinholes in the plating film, and prevent the resistance value from increasing. is there. That is, when the thickness is less than 1 μm, the composition of the deposited plating film varies, and the peel strength varies from product to product. Further, pinholes are likely to occur in the primary plating film, the secondary plating solution does not come into sufficient contact, and voids are created in the plating layer. These voids also expanded upon thermal shock and caused cracks. This point, 1
When the thickness exceeds μm, such pinholes disappear and the composition of the deposited plating film becomes stable. However, if it exceeds 2 μm, the resistance value becomes large, which is not preferable as a conductor circuit. Therefore, in the present invention, the thickness of the primary plating layer is limited to the range of 1 μm or more and less than 2 μm.

【0016】アンカー窪み内に占める一次めっき層の割
合を30〜50 vol%とする理由は、ピール強度を向上させ
るとともに、上層の二次めっき膜との密着性を確保する
ためである。即ち、30 vol%未満では、ピール強度の向
上が十分ではなく、一方、50vol%を超えると、一次め
っき膜表面が平滑化してしまい、アンカー効果を奏する
ことができないため、この一次めっき膜上に形成される
二次めっきとの密着性が十分確保できない。そこで、ア
ンカー窪み内に占める一次めっき層の割合を30〜50 vol
%とした。
The reason why the proportion of the primary plating layer in the anchor recess is 30 to 50 vol% is to improve the peel strength and to secure the adhesion to the upper secondary plating film. That is, if it is less than 30 vol%, the peel strength is not sufficiently improved, while if it exceeds 50 vol%, the surface of the primary plating film is smoothed and the anchor effect cannot be achieved. Adhesiveness with the secondary plating formed cannot be secured sufficiently. Therefore, the ratio of the primary plating layer in the anchor recess is 30 to 50 vol.
%.

【0017】この発明において、プリント配線板の導体
を構成する一次めっき層の金属は、合金となるような金
属の組み合わせであればよいが、特に、導通抵抗を低く
維持する点から、Ni,Co,Cu,AuおよびAgの少なくとも
1種を必須成分とする。
In the present invention, the metal of the primary plating layer that constitutes the conductor of the printed wiring board may be a combination of metals that form an alloy. In particular, from the viewpoint of maintaining low conduction resistance, Ni, Co , Cu, Au, and Ag are essential components.

【0018】この発明のプリント配線板においては、よ
り高密度でパターン精度の高い配線を施すことから、そ
の導体金属は、電解めっきまたは無電解めっきが可能な
ものであることが好ましく、それ故に、Ni,Co,Cu,Au
およびAg、ならびにSn,Pb,B,P,Cおよび遷移金属
が用いられる。
In the printed wiring board of the present invention, it is preferable that the conductor metal is capable of electrolytic plating or electroless plating because wiring having higher density and higher pattern accuracy is provided. Ni, Co, Cu, Au
And Ag, and Sn, Pb, B, P, C and transition metals are used.

【0019】なかでも、Cu−Ni−P合金めっきは、強度
と抵抗特性に優れ、しかもそのめっき浴では異常析出が
少なくめっき浴の安定性に優れる点で好適である。ここ
に、Cuの供給源としては、水溶性のCu源であればよい
が、好ましくは、CuSO4, CuCl2, 酢酸銅, Cu(NO3)2が好
適である。Niの供給源としては、水溶源であればよい
が、好ましくは、NiSO4, NiCl2, 酢酸ニッケル, Ni(N
O3)2である。
Among them, the Cu-Ni-P alloy plating is preferable because it is excellent in strength and resistance characteristics, and in the plating bath, there is little abnormal precipitation and the stability of the plating bath is excellent. The Cu source may be any water-soluble Cu source, but CuSO 4 , CuCl 2 , copper acetate, and Cu (NO 3 ) 2 are preferable. The supply source of Ni may be a water-soluble source, but is preferably NiSO 4 , NiCl 2 , nickel acetate, Ni (N
O 3 ) 2 .

【0020】この発明において、プリント配線板の樹脂
絶縁層を構成する無電解めっき用接着剤としては、酸あ
るいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂液中に酸あるいは酸
化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を分散してなるものが最
適である。これは、酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性
樹脂粒子を粗化して除去することにより、表面に蛸壺状
のアンカーを形成でき、導体回路との密着性を改善でき
るからである。また、一次めっき膜は、この粗化面をト
レースするため、同時に二次めっき膜との密着性を改善
することができる。
In the present invention, the adhesive for electroless plating forming the resin insulating layer of the printed wiring board is a heat-resistant resin soluble in an acid or an oxidant in a heat-resistant resin liquid that is hardly soluble in the acid or the oxidant. It is most suitable that the particles are dispersed. This is because by roughening and removing the heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent, an octopus-shaped anchor can be formed on the surface and the adhesion to the conductor circuit can be improved. Further, since the primary plating film traces this roughened surface, the adhesion with the secondary plating film can be improved at the same time.

【0021】ここで、酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱
性樹脂としては、感光化した熱硬化性樹脂や感光化した
熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との複合体が望ましい。感
光化することにより、バイアホール形成用の開口部が、
露光、現像によって容易に形成できるからである。ま
た、熱可塑性樹脂と複合化することにより、靱性が向上
して、導体回路のピール強度向上、あるいはヒートサイ
クルによるバイアホール部分のクラック発生防止が実現
できるからである。具体的には、エポキシ樹脂をアクリ
ル酸やメタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレ
ートや、エポキシアクリレートとポリエーテルスルフォ
ンとの複合体がよい。特に、エポキシアクリレートは、
全エポキシ基の20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸な
どと反応したものが望ましい。
Here, the heat-resistant resin which is hardly soluble in an acid or an oxidant is preferably a photosensitized thermosetting resin or a composite of a photosensitized thermosetting resin and a thermoplastic resin. By photosensitization, the opening for via hole formation
This is because it can be easily formed by exposure and development. In addition, by compounding with a thermoplastic resin, the toughness can be improved, the peel strength of the conductor circuit can be improved, and the generation of cracks in the via hole portion due to heat cycle can be prevented. Specifically, an epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid, methacrylic acid, or the like, or a composite of epoxy acrylate and polyether sulfone is preferable. In particular, epoxy acrylate is
It is desirable that 20 to 80% of all epoxy groups have reacted with acrylic acid or methacrylic acid.

【0022】前記耐熱性樹脂粒子としては、.平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、.平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させて平均粒径を前記粉
末の3倍以上の大きさとした凝集粒子、.平均粒径が
10μm以下の耐熱性樹脂粉末と、平均粒径が前記粉末の
1/5以下でかつ2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合
物、.平均粒径が2μm〜10μmの耐熱性樹脂粉末の
表面に、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または
無機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑
似粒子、から選ばれることが望ましい。これらは、複雑
なアンカーを形成できるからである。なお、L/S=50/50
(μm)以下のファインパターンを得るためには、上記
樹脂絶縁層に形成するアンカー窪みの深さを15μm以下
にする必要があり、特に、この発明にかかる合金めっき
層(一次めっき層)は、このような浅いアンカーでも高
いピール強度(密着性)を得ようとする場合に有効であ
る。このような耐熱性樹脂粒子を構成する樹脂として
は、エポキシ樹脂やアミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹
脂、グアナミン樹脂)などを用いることができる。この
うち、エポキシ樹脂は、そのオリゴマーの種類、硬化剤
の種類、架橋密度を変えることにより、任意に酸や酸化
剤に対する溶解度を変えることができる。例えば、ビス
フェノールA型エポキシ樹脂オリゴマーをアミン系硬化
剤で硬化処理したものは、酸化剤に溶解しやすい。一
方、ノボラックエポキシ樹脂オリゴマーをイミダゾール
系硬化剤で硬化させたものは、酸化剤に溶解しにくい。
The heat resistant resin particles include: Heat resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less ,. Average particle size is 2μ
Agglomerated particles obtained by aggregating a heat-resistant resin powder having a particle diameter of m or less to have an average particle size three times or more the size of the powder. Average particle size
A mixture of a heat-resistant resin powder having a particle diameter of 10 μm or less and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 1/5 or less and 2 μm or less of the powder, It is preferable that the heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm to 10 μm is selected from pseudo particles formed by adhering at least one of the heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less and the inorganic powder on the surface of the heat-resistant resin powder. . These are because they can form complex anchors. L / S = 50/50
In order to obtain a fine pattern of (μm) or less, the depth of the anchor recess formed in the resin insulating layer needs to be 15 μm or less. In particular, the alloy plating layer (primary plating layer) according to the present invention is It is effective for obtaining a high peel strength (adhesion) even with such a shallow anchor. Epoxy resin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin) or the like can be used as the resin constituting such heat-resistant resin particles. Among these, the epoxy resin can arbitrarily change the solubility in an acid or an oxidizing agent by changing the kind of the oligomer, the kind of the curing agent, and the crosslinking density. For example, a bisphenol A-type epoxy resin oligomer cured with an amine-based curing agent is easily dissolved in an oxidizing agent. On the other hand, a novolac epoxy resin oligomer cured with an imidazole-based curing agent is difficult to dissolve in an oxidizing agent.

【0023】本発明において、粗化処理に使用できる酸
としては、リン酸や塩酸、硫酸、有機酸(蟻酸や酢酸な
ど)などがあり、なかでも有機酸が望ましい。この理由
は、粗化処理した場合に、バイアホールから露出する金
属導体層を腐食させにくいからである。酸化剤として
は、クロム酸や過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム
など)などが望ましい。特に、アミノ樹脂粒子を溶解除
去する場合には、酸と酸化剤で交互に粗化処理すること
が望ましい。
In the present invention, as the acid that can be used for the roughening treatment, there are phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, organic acids (formic acid, acetic acid, etc.), and the organic acid is preferable. The reason for this is that the metal conductor layer exposed from the via hole is unlikely to corrode when the roughening treatment is performed. As the oxidizing agent, chromic acid, permanganate (potassium permanganate, etc.) and the like are desirable. In particular, when the amino resin particles are dissolved and removed, it is desirable to carry out a roughening treatment alternately with an acid and an oxidizing agent.

【0024】なお、この発明において、多層配線板を形
成する場合は、以上説明したような樹脂絶縁層は、複数
層で構成されてもよい。例えば、複数層にする場合は次
の形態がある。 (1)基板に近い側を、酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱
性樹脂層とし、その上層を酸あるいは酸化剤に難溶性の
耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂
粒子が分散されてなる無電解めっき用接着剤層とした、
2層構造の樹脂絶縁層。この構成では、無電解めっき用
接着剤を粗化処理しても粗化しすぎて層間を短絡させて
しまうことがない。
In the present invention, when a multilayer wiring board is formed, the resin insulation layer as described above may be composed of a plurality of layers. For example, in the case of using a plurality of layers, there are the following modes. (1) The side close to the substrate is a heat-resistant resin layer that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent, and the upper layer is a heat-resistant resin particle that is soluble in an acid or an oxidizing agent in a heat-resistant resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. And an adhesive layer for electroless plating in which
A two-layer resin insulation layer. With this configuration, even if the electroless plating adhesive is roughened, it is not roughened too much and short-circuiting between layers does not occur.

【0025】(2)基板に形成した導体回路間に充填樹脂
材を埋め込み、この充填樹脂材と導体回路の表面を同一
平面になるようにし、この上に、酸あるいは酸化剤に難
溶性の耐熱性樹脂層を形成し、さらにその上に、酸ある
いは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂中に酸あるいは酸化剤
に可溶性の耐熱性樹脂粒子が分散されてなる無電解めっ
き用接着剤を形成した、3層構造の樹脂絶縁層。この構
成では、基板側の導体回路間に充填樹脂材を充填してい
るので、基板表面が平滑になり、厚さのバラツキにより
生じる現像不良はない。また、充填樹脂材にシリカなど
の無機粒子を含有させることにより、硬化収縮を低減し
て基板の反りを防止できる。なお、充填樹脂材としては
無溶剤樹脂が望ましく、特に無溶剤エポキシ樹脂が最適
である。溶剤を使用すると、加熱した場合に残留溶剤が
気化して層間剥離の原因になるからである。
(2) A filling resin material is embedded between the conductor circuits formed on the substrate so that the surface of the filling resin material and the conductor circuit are flush with each other. Conductive resin layer is formed, and further thereon, an adhesive for electroless plating is formed in which heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in a heat-resistant resin that is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Three-layer resin insulation layer. In this structure, since the filling resin material is filled between the conductor circuits on the substrate side, the surface of the substrate becomes smooth and there is no development failure caused by variation in thickness. In addition, by including inorganic particles such as silica in the filler resin material, curing shrinkage can be reduced and the substrate warpage can be prevented. As the filling resin material, a solventless resin is desirable, and a solventless epoxy resin is particularly suitable. If a solvent is used, the residual solvent will evaporate when heated, causing delamination.

【0026】次に、この発明のプリント配線板を製造す
る方法の一例について説明する。 (1)まず、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラ
ミック基板、金属基板などの基材表面に、常法により接
着剤層を形成し、次いで、酸や酸化剤を用いて、常法に
したがって前記接着剤層の表面を粗化し、その後、触媒
を付与して粗化した接着剤層の表面に固定化する。銅張
積層板をエッチングして銅パターンとした場合は、無溶
剤の絶縁樹脂(エポキシ樹脂やポリイミド樹脂)を塗布
して、これを硬化した後、研磨し、銅パターンを露出さ
せて、基板を平滑化しておくことが望ましい。基板を平
滑化しておくと、その上に感光性の絶縁層を形成した場
合、厚さが均一になるため、露光、現像しやすいからで
ある。
Next, an example of a method for manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. (1) First, an adhesive layer is formed on a substrate surface such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate by a conventional method, and then the above-mentioned adhesion is performed by using an acid or an oxidizing agent according to a conventional method. The surface of the agent layer is roughened, and then a catalyst is applied to fix the surface of the roughened adhesive layer. When the copper clad laminate is etched to form a copper pattern, a solventless insulating resin (epoxy resin or polyimide resin) is applied, and after curing, polishing is performed to expose the copper pattern and the substrate It is desirable to smooth it. This is because when the substrate is smoothed, the photosensitive insulating layer formed thereon has a uniform thickness, which facilitates exposure and development.

【0027】(2) 次に、酸処理にて触媒を活性化した
後、少なくともアンカー窪みを含む粗化面側に無電解合
金めっき(一次めっき)を施し、さらに通常のめっき
(二次めっき)を施して、導体パターンを形成し、所望
のプリント配線板を得る。望ましくは、基板上に設けた
樹脂絶縁層の粗化された凹凸面に沿って、膜厚が1μm
以上2μm未満、あるいはアンカー窪み内の30〜50 vol
%を銅−ニッケル系合金等の合金で占めるような状態で
一次めっき層を設け、次いで、この一次めっき層の上に
通常のめっきによる二次めっきを施して導体パターンを
形成する。
(2) Next, after activating the catalyst by acid treatment, electroless alloy plating (primary plating) is applied to the roughened surface side including at least the anchor depressions, and further ordinary plating (secondary plating) Then, a conductor pattern is formed to obtain a desired printed wiring board. Desirably, the film thickness is 1 μm along the roughened uneven surface of the resin insulation layer provided on the substrate.
More than 2 μm or more, or 30 to 50 vol in the anchor recess
The primary plating layer is provided in such a state that the copper alloy is an alloy such as a copper-nickel alloy, and then secondary plating by ordinary plating is performed on the primary plating layer to form a conductor pattern.

【0028】ここで、上記プリント配線板を構成する導
体回路は、既知のプリント配線板について実施されてい
る種々の方法でも形成することができる。例えば、所定
のパターンに印刷しためっきレジストを形成してからめ
っきにより導体回路を形成する方法、基板に無電解めっ
きを施してから回路をエッチングする方法や無電解めっ
きを施す際に直接回路を形成する方法などを適用するこ
とができる。このうち、めっきレジストを利用して導体
回路を形成する方法では、まず、基板上に設けた樹脂絶
縁層の表面を粗化した後、めっきレジスト形成前に、一
次めっきのための触媒核を付与する。そして、めっきレ
ジストが形成されていない部分に一次めっきを施す。そ
してさらに、二次めっきにより、銅パターンだけでな
く、バイアホールを形成する。
Here, the conductor circuit forming the above-mentioned printed wiring board can be formed by various methods which have been carried out for known printed wiring boards. For example, a method of forming a conductive circuit by plating after forming a plating resist printed in a predetermined pattern, a method of etching a circuit after performing electroless plating on a substrate, or a method of directly forming a circuit when performing electroless plating The method etc. which do can be applied. Among these, in the method of forming a conductor circuit using a plating resist, first, after roughening the surface of the resin insulation layer provided on the substrate, before forming the plating resist, a catalyst nucleus for primary plating is applied. To do. Then, primary plating is applied to the portion where the plating resist is not formed. Then, by the secondary plating, not only the copper pattern but also the via hole is formed.

【0029】また、多層配線板を製造する場合は、下層
となる導体回路表面を粗化する。この粗化処理として
は、酸化還元処理(黒化還元処理)、めっき処理による
粗化処理が望ましく、特に、銅−ニッケル−リンの合金
めっきが最適である。この合金めっきは、針状結晶の粗
化面を形成するので絶縁樹脂との密着性に優れ、また、
電気電導性を有しているのでバイアホールを形成する場
合でも除去する必要がないからである。
When manufacturing a multilayer wiring board, the surface of the conductor circuit as the lower layer is roughened. As this roughening treatment, oxidation-reduction treatment (blackening reduction treatment) and roughening treatment by plating treatment are desirable, and copper-nickel-phosphorus alloy plating is most suitable. Since this alloy plating forms a roughened surface of needle-like crystals, it has excellent adhesion to the insulating resin, and
This is because it has electrical conductivity and therefore does not need to be removed even when forming a via hole.

【0030】上記めっきレジストとしては、市販品を用
いることができるが、望ましくは、エポキシ樹脂をアク
リル酸やメタクリル酸などと反応させたエポキシアクリ
レートとイミダゾール硬化剤とからなる組成物、あるい
はエポキシアクリレートとポリエーテルスルホンとイミ
ダゾール硬化剤とからなる組成物が好適である。上記組
成物において、エポキシアクリレートとポリエーテルス
ルホンとの比率は、50/50〜80/20程度が望ましい。エ
ポキシアクリレートが多すぎると可撓性が低下し、少な
すぎると感光性、耐塩基性、耐酸性および耐酸剤特性が
低下するからである。エポキシアクリレートは、全エポ
キシ基の20〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反
応したものが望ましい。アクリル化率が高すぎるとOH基
による親水性が高くなって吸湿性が上がり、アクリル化
率が低すぎると解像度が低下するからである。また、基
本骨格樹脂であるエポキシ樹脂としては、ノボラック型
エポキシ樹脂が望ましい。架橋密度が高く、硬化物の吸
水率が 0.1%以下に調整でき、耐塩基性に優れるからで
ある。ノボラック型エポキシ樹脂としては、クレゾール
ノボラック型やフェノールノボラック型がある。このよ
うなノボラック型エポキシ樹脂のアクリレート、メタク
リレートとイミダゾール硬化剤からなるめっきレジスト
を現像するには、ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル(DMDG)やトリエチレングリコールジメチルエーテル
(DMTG)、ジエチレングリコールジブチルエーテル(DB
DG)などのグリコール系の溶媒と水からなる現像液を用
いることが望ましい。現像残りがないからである。例え
ばサンノプコ社製の商品名SN−OX−4844などがある。な
お、グリコール系の溶媒と水の混合比率は8:2〜 9.
5:0.5 がよい。
As the plating resist, a commercially available product may be used, but preferably, a composition comprising an epoxy acrylate obtained by reacting an epoxy resin with acrylic acid or methacrylic acid and an imidazole curing agent, or an epoxy acrylate. A composition consisting of polyether sulfone and an imidazole curing agent is suitable. In the above composition, the ratio of epoxy acrylate and polyether sulfone is preferably about 50/50 to 80/20. This is because if the amount of epoxy acrylate is too large, the flexibility is lowered, and if it is too small, the photosensitivity, base resistance, acid resistance and acid resistance are lowered. The epoxy acrylate is preferably one in which 20 to 80% of all epoxy groups have reacted with acrylic acid or methacrylic acid. This is because if the degree of acrylate is too high, the hydrophilicity due to the OH group increases and the hygroscopicity increases, and if the degree of acrylate is too low, the resolution decreases. As the epoxy resin as the basic skeleton resin, a novolak type epoxy resin is desirable. This is because the crosslinking density is high, the water absorption of the cured product can be adjusted to 0.1% or less, and the base resistance is excellent. Examples of novolac type epoxy resins include cresol novolac type and phenol novolac type. To develop plating resists consisting of acrylate and methacrylate of novalac type epoxy resin and imidazole curing agent, diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), triethylene glycol dimethyl ether (DMTG), diethylene glycol dibutyl ether (DB
It is desirable to use a developer consisting of a glycol solvent such as DG) and water. This is because there is no development residue. For example, there is a trade name SN-OX-4844 manufactured by San Nopco. The mixing ratio of glycol solvent and water is 8: 2-9.
5: 0.5 is good.

【0031】上記触媒核としては、貴金属イオンやコロ
イドなどが望ましく、一般的には、塩化パラジウムやパ
ラジウムコロイドを使用する。また、触媒核を固定する
ために加熱処理を行うことが望ましい。
Noble metal ions or colloids are desirable as the catalyst nuclei, and palladium chloride or palladium colloid is generally used. In addition, it is desirable to perform heat treatment to fix the catalyst nucleus.

【0032】上記一次めっきの処理液としては、銅、ニ
ッケル、コバルトおよびリンから選ばれる少なくとも2
種以上の金属イオンを含む無電解めっき液を用いること
が望ましい。この理由は、これらの金属イオンを含む無
電解めっき液によって形成される合金は、強度に優れピ
ール強度の向上に有利だからである。銅イオン源、ニッ
ケルイオン源およびコバルトイオン源としては、硫酸銅
や塩化ニッケル、塩化コバルトなど、溶解により銅イオ
ン、ニッケルイオン、コバルトイオンを放出する化合物
を用いる。このような無電解めっき液には、他に少なく
とも錯化剤、還元剤およびpH調整剤が必要である。こ
れらのうち、錯化剤としては、銅イオン、ニッケルイオ
ンおよびコバルトイオンと塩基性条件下で安定した錯体
を形成するヒドロキシカルボン酸が望ましい。このヒド
ロキシカルボン酸としては、クエン酸やリンゴ酸、酒石
酸などがある。このようなヒドロキシカルボン酸の濃度
は、 0.1〜0.8 Mとすることが望ましい。ヒドロキシカ
ルボン酸濃度が 0.1Mより少ないと、十分な量の錯体が
形成されず、異常析出やめっき液の分解が生じる。一
方、 0.8Mを超えると、析出速度が遅くなったり水素の
発生が多くなったりするなどの不具合が発生するからで
ある。金属イオンを還元して金属元素にするための還元
剤としては、アルデヒド、次亜リン酸塩(ホスフィン酸
塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩およびヒドラジンから
選ばれる少なくとも1種を用いることが望ましい。これ
らの還元剤は、水溶性であり還元力に優れるからであ
る。特に、ニッケルを析出させることができる次亜リン
酸塩が好適である。pH調整剤としては、水酸化ナトリ
ウム、水酸化カリウムおよび水酸化カルシウムから選ば
れる少なくとも1種の塩基性化合物がよい。塩基性条件
下で、ヒドロキシカルボン酸がニッケルイオンなどと錯
体を形成するからである。なお、前記無電解めっき液に
は、ビピリジルを含有させることが望ましい。この理由
は、ビピリジルがめっき浴中の金属酸化物の発生を抑制
し、導体(めっき皮膜)へのノジュール発生を抑制でき
るからである。
The treatment liquid for the above primary plating is at least 2 selected from copper, nickel, cobalt and phosphorus.
It is desirable to use an electroless plating solution containing one or more kinds of metal ions. The reason is that the alloy formed by the electroless plating solution containing these metal ions has excellent strength and is advantageous for improving the peel strength. As the copper ion source, the nickel ion source, and the cobalt ion source, compounds such as copper sulfate, nickel chloride, and cobalt chloride that release copper ions, nickel ions, and cobalt ions upon dissolution are used. Such an electroless plating solution requires at least a complexing agent, a reducing agent and a pH adjusting agent. Of these, the complexing agent is preferably a hydroxycarboxylic acid that forms a stable complex with copper ions, nickel ions and cobalt ions under basic conditions. Examples of the hydroxycarboxylic acid include citric acid, malic acid and tartaric acid. The concentration of such hydroxycarboxylic acid is preferably 0.1 to 0.8M. If the concentration of hydroxycarboxylic acid is less than 0.1 M, a sufficient amount of complex is not formed and abnormal deposition or decomposition of the plating solution occurs. On the other hand, if it exceeds 0.8 M, problems such as a slow deposition rate and a large amount of hydrogen generation may occur. As a reducing agent for reducing metal ions to metal elements, it is desirable to use at least one selected from aldehydes, hypophosphites (called phosphinates), borohydrides and hydrazines. This is because these reducing agents are water-soluble and have excellent reducing power. Hypophosphite, which can deposit nickel, is particularly preferable. As the pH adjuster, at least one basic compound selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide and calcium hydroxide is preferable. This is because hydroxycarboxylic acid forms a complex with nickel ions or the like under basic conditions. It is desirable that the electroless plating solution contains bipyridyl. The reason for this is that bipyridyl can suppress the generation of metal oxides in the plating bath and suppress the generation of nodules in the conductor (plating film).

【0033】以上説明したような無電解めっき液を用い
た一次めっきにより、無電解めっき用接着剤の粗化面に
対する追従性に優れ、この粗化面の形態をそのままトレ
ースした一次めっき膜が形成される。その結果、一次め
っき膜は粗化面と同様にアンカーを有し、それ故に、こ
の一次めっき膜上に形成される二次めっき膜は、前記ア
ンカーの作用によって一次めっき膜との密着性が確保さ
れるのである。即ち、一次めっき膜は、ピール強度を支
配するために強度の高い上述しためっき液による析出皮
膜が望ましく、一方、二次めっき膜は、以下に述べるよ
うに、複合めっきよりも電気電導性が高く析出速度が早
い、単純な銅めっき膜が望ましい。
By the primary plating using the electroless plating solution as described above, the followability of the adhesive for electroless plating to the roughened surface is excellent, and a primary plating film is formed by tracing the shape of the roughened surface as it is. To be done. As a result, the primary plating film has an anchor as well as the roughened surface, and therefore the secondary plating film formed on this primary plating film secures the adhesion to the primary plating film by the action of the anchor. Is done. That is, the primary plating film is preferably a deposition film of the above-mentioned plating solution having high strength in order to control the peel strength, while the secondary plating film has higher electric conductivity than the composite plating, as described below. A simple copper plating film with a high deposition rate is desirable.

【0034】上記二次めっきの処理液としては、無電解
銅めっき液、なかでも銅イオン、トリアルカノールアミ
ン、還元剤およびpH調整剤からなる無電解めっき液に
おいて、銅イオンの濃度が 0.005〜0.015mol/l、還元
剤の濃度が0.01〜0.04 mol/l、pH調整剤の濃度が0.
25〜0.35 mol/lであることを特徴とする無電解銅めっ
き液を用いることが望ましい。この無電解めっき液は、
浴が安定であり、ノジュールなどの発生が少ないからで
ある。上記無電解銅めっき液において、トリアルカノー
ルアミンの濃度は 0.1〜0.8Mとすることが望ましい。
この範囲でめっき析出反応が最も進行しやすいからであ
る。このようなトリアルカノールアミンとしては、トリ
エタノールアミン、トリイソパノールアミン、トリメタ
ノールアミンおよびトリプロパノールアミンから選ばれ
る少なくとも1種であることが望ましい。水溶性だから
である。還元剤としては、アルデヒド、次亜リン酸塩、
水素化ホウ素塩およびヒドラジンから選ばれる少なくと
も1種であることが望ましい。水溶性であり、塩基性条
件下で還元力を持つからである。pH調整剤としては、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウムおよび水酸化カルシ
ウムから選ばれる少なくとも1種であることが望まし
い。
The treatment solution for the secondary plating is an electroless copper plating solution, especially an electroless plating solution comprising copper ions, trialkanolamine, a reducing agent and a pH adjusting agent, and the concentration of copper ions is 0.005 to 0.015. mol / l, reducing agent concentration 0.01-0.04 mol / l, pH adjuster concentration 0.
It is desirable to use an electroless copper plating solution characterized in that it is 25 to 0.35 mol / l. This electroless plating solution
This is because the bath is stable and there is little generation of nodules. In the electroless copper plating solution, the trialkanolamine concentration is preferably 0.1 to 0.8M.
This is because the plating precipitation reaction most easily proceeds in this range. Such trialkanolamine is preferably at least one selected from triethanolamine, triisopropanolamine, trimethanolamine and tripropanolamine. Because it is water-soluble. As the reducing agent, aldehyde, hypophosphite,
At least one selected from borohydride salts and hydrazine is desirable. This is because it is water-soluble and has a reducing power under basic conditions. As a pH adjuster,
At least one selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide and calcium hydroxide is desirable.

【0035】[0035]

【実施例】【Example】

(実施例1) (1)ガラスエポキシ銅張積層板の表面に感光性ドライフ
ィルムをラミネートし、所望の導体回路パターンが描画
されたマスクフィルムを通して紫外線露光させ画像を焼
き付け、1,1,1-トリクロロエタンで現像を行い、エッチ
ングレジストを形成した。次いで、塩化第二銅エッチン
グ液を用いて非導体部の銅を除去した後、メチレンクロ
リドで前記レジストを剥離した。これにより基板1の表
面に複数の導体パターンからなる第1層導体回路2を形
成した(図2(a) 参照)。 (2)ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に
溶解したクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製:分子量2500)の25%アクリル化物を70重量部、ポ
リエーテルスルフォン(PES)30重量部、イミダゾー
ル系硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)4重量
部、感光性モノマーであるカプロラクトン変成トリス
(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東亜合成製、
商品名:アロニックスM325 )10重量部、光開始剤とし
てのベンゾフェノン(関東化学製)5重量部、光増感剤
としてのミヒラーケトン(関東化学製)0.5 重量部、さ
らにこれらの混合物に対して、エポキシ樹脂粒子を平均
粒径5μmのものを20重量部と平均粒径0.5 μmのもの
を20重量部の合計40重量部を配合した。そして、この混
合物にNMPを適量添加しながらホモディスパー攪拌機
で攪拌して粘度2000cps に調整し、続いて、3本ロール
で混練して感光性接着剤溶液を得た。 (3)この感光性接着剤溶液を、前記(1) で形成した導体
回路2の表面に、ロールコーターを用いて塗布し、水平
状態で20分間放置してから、60℃で乾燥を行なった(図
2(b)参照)。 (4)前記(3) の処理を施した基板に、100 μmφの黒円
が印刷されたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧
水銀灯により500mJ /cm2 で露光した。これをDMDG溶液
でスプレー現像処理することにより、配線板上に100 μ
mφのバイアホールとなる開口4を形成した。さらに、
前記配線板を超高圧水銀灯により約3000mJ/cm2 で露光
し、100 ℃で1時間、その後、150 ℃で5時間の加熱処
理をすることによりフォトマスクフィルムに相当する寸
法精度に優れた開口4を有する厚さ60μmの樹脂絶縁層
3を形成した(図2(c)参照)。 (5)前記(4) で形成した樹脂絶縁層3の表面を、pH=13
に調整した過マンガン酸カリウム(KMnO4 、60g/l(0.38
mol/l))(クロム酸を使用してもよい)に70℃で15分間
浸漬することにより、樹脂絶縁層3の表面を粗化し、表
面に微細なアンカーを有する粗化面を形成した。このと
きの粗化面の深さは、クロスカットした樹脂絶縁層3を
光学顕微鏡で観察して測定した結果、8〜10μmであっ
た。次いで、中和溶液(シプレイ製)に浸漬したのち水
洗した(図2(d) 参照)。 (6)表面を粗化した樹脂絶縁層3の表面に、無電解めっ
き金属の析出に必要な触媒核を付与した後、さらに感光
性レジストを厚さ30μmに塗布し、プリベーク、露光、
現像および硬化処理を行い、めっきレジスト5を形成し
た。 (7)前記(6) でめっきレジスト5を形成した基板を、10
%のH2SO4 溶液に浸漬して、前記触媒核を活性化させた
後、表1に示す組成の無電解合金めっき液(一次めっき
液)に50分間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.5μmの無電
解Cu-Ni-P合金層6をレジスト非形成部分に形成した
(図2(e) 参照)。 (8)前記(7) で一次めっきを施した後、その基板を表2
に示す組成の二次めっき用の無電解銅めっき液(EDTA系
銅無電解めっき液)に2時間40分間浸漬して、めっき膜
の厚さ11μmの無電解銅めっき(二次めっき)を行い、
バイアホールと銅パターンを形成したプリント配線板を
得た。この二次めっきでは、一次めっき膜である銅−ニ
ッケルめっき薄膜の表面に厚さ11μmの無電解銅めっき
層7を形成した(図2(g) 参照)。 (9)前記(7),(8) で施しためっき皮膜の密着強度(ピー
ル強度)を、オートグラフにて測定した。その結果、表
10に示すように、1.42kg/cm であった。また、ヒートサ
イクル試験を行ったところ、一次めっき膜と二次めっき
膜の界面での剥離が発生したヒートサイクル数は1500サ
イクルであった。
(Example 1) (1) A photosensitive dry film is laminated on the surface of a glass-epoxy copper-clad laminate, exposed to ultraviolet light through a mask film on which a desired conductor circuit pattern is drawn, and an image is printed, 1,1,1- Development was performed with trichloroethane to form an etching resist. Then, after removing the copper in the non-conductive portion using a cupric chloride etching solution, the resist was peeled off with methylene chloride. As a result, the first-layer conductor circuit 2 having a plurality of conductor patterns was formed on the surface of the substrate 1 (see FIG. 2 (a)). (2) 70 parts by weight of a 25% acrylate of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku: molecular weight 2500) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), 30 parts by weight of polyether sulfone (PES), an imidazole curing agent ( Shikoku Kasei, trade name: 2E4MZ-CN) 4 parts by weight, caprolactone modified tris (acryloxyethyl) isocyanurate (a product of Toa Gosei, a photosensitive monomer)
Trade name: Aronix M325) 10 parts by weight, benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator, 5 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer, and epoxy to a mixture thereof. A total of 40 parts by weight of 20 parts by weight of resin particles having an average particle size of 5 μm and 20 parts by weight of particles having an average particle size of 0.5 μm were mixed. Then, while adding an appropriate amount of NMP to this mixture, the mixture was stirred with a homodisper stirrer to adjust the viscosity to 2000 cps, and subsequently kneaded with three rolls to obtain a photosensitive adhesive solution. (3) This photosensitive adhesive solution was applied on the surface of the conductor circuit 2 formed in (1) above using a roll coater, left standing for 20 minutes in a horizontal state, and then dried at 60 ° C. (See FIG. 2 (b)). (4) A photomask film having a 100 μmφ black circle printed thereon was brought into close contact with the substrate subjected to the treatment of (3), and exposed at 500 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp. This is spray-developed with DMDG solution to give 100 μm on the wiring board.
An opening 4 was formed to serve as a mφ via hole. further,
The wiring board was exposed at about 3000 mJ / cm 2 with an ultra-high pressure mercury lamp, and heat-treated at 100 ° C. for 1 hour, and then at 150 ° C. for 5 hours to obtain an opening 4 having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film. A resin insulating layer 3 having a thickness of 60 μm was formed (see FIG. 2 (c)). (5) The surface of the resin insulation layer 3 formed in (4) above is adjusted to pH = 13.
Adjusted to potassium permanganate (KMnO 4 , 60g / l (0.38
mol / l)) (chromic acid may be used) at 70 ° C. for 15 minutes to roughen the surface of the resin insulating layer 3 and form a roughened surface having fine anchors on the surface. The depth of the roughened surface at this time was 8 to 10 μm as a result of observing and measuring the cross-cut resin insulating layer 3 with an optical microscope. Then, it was immersed in a neutralizing solution (made by Shipley) and washed with water (see FIG. 2 (d)). (6) After the catalyst nuclei necessary for the deposition of the electroless plated metal are applied to the surface of the resin insulating layer 3 whose surface is roughened, a photosensitive resist is further applied to a thickness of 30 μm, prebaked, exposed,
Development and curing were performed to form a plating resist 5. (7) Replace the substrate on which the plating resist 5 was formed in (6) above with 10
% H 2 SO 4 solution to activate the catalyst nuclei, and then dipped in an electroless alloy plating solution (primary plating solution) having the composition shown in Table 1 for 50 minutes to form a plating film thickness An electroless Cu-Ni-P alloy layer 6 having a thickness of 1.5 μm was formed on the resist non-forming portion (see FIG. 2 (e)). (8) After performing the primary plating in (7) above, the substrate is shown in Table 2.
The electroless copper plating solution (secondary plating) with a thickness of 11 μm is formed by immersing in the electroless copper plating solution for secondary plating (EDTA-based copper electroless plating solution) of the composition shown in 2 hours and 40 minutes. ,
A printed wiring board having a via hole and a copper pattern was obtained. In this secondary plating, an electroless copper plating layer 7 having a thickness of 11 μm was formed on the surface of the copper-nickel plating thin film which is the primary plating film (see FIG. 2 (g)). (9) The adhesion strength (peel strength) of the plating film applied in (7) and (8) above was measured by an autograph. As a result, the table
As shown in 10, it was 1.42 kg / cm 2. Further, when a heat cycle test was conducted, the number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0036】[0036]

【表1】 [Table 1]

【0037】[0037]

【表2】 [Table 2]

【0038】(実施例2)表3に示す組成の無電解合金
めっき液に1時間浸漬して、めっき膜の厚さ1.5μmの
無電解Co−W−P合金めっき(一次めっき)を施したこ
と以外は、実施例1と同様の方法により、ピール強度測
定とヒートサイクル試験を行った。その結果、そのピー
ル強度は、表10に示すように、2.0kg/cmであった。ま
た、一次めっき膜と二次めっき膜の界面での剥離が発生
したヒートサイクル数は1500サイクルであった。
Example 2 An electroless Co-WP alloy plating (primary plating) having a plating film thickness of 1.5 μm was performed by immersing in an electroless alloy plating solution having a composition shown in Table 3 for 1 hour. Except for the above, the peel strength measurement and the heat cycle test were performed in the same manner as in Example 1. As a result, the peel strength was 2.0 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0039】[0039]

【表3】 [Table 3]

【0040】(実施例3)表4に示す組成の電解めっき
液に10分間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.3μmの電解Cu
−Co−Niめっき(一次めっき)を施したこと以外は、実
施例4と同様の方法により、ピール強度測定とヒートサ
イクル試験を行った。その結果、そのピール強度は、表
10に示すように、1.8kg/cmであった。また、一次めっき
膜と二次めっき膜の界面での剥離が発生したヒートサイ
クル数は1500サイクルであった。
Example 3 An electrolytic Cu solution having a plating film thickness of 1.3 μm was prepared by immersing the electrolytic plating solution having the composition shown in Table 4 for 10 minutes.
A peel strength measurement and a heat cycle test were performed in the same manner as in Example 4 except that the -Co-Ni plating (primary plating) was performed. As a result, the peel strength is
As shown in 10, it was 1.8 kg / cm. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0041】[0041]

【表4】 [Table 4]

【0042】(実施例4)表5に示す組成の無電解めっ
き液に1時間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.5μmの無電
解Cu−Ni−Bめっき(一次めっき)を施したこと以外
は、実施例2と同様の方法により、ピール強度測定とヒ
ートサイクル試験を行った。その結果、そのピール強度
は、表10に示すように、2.4kg/cmであった。また、一次
めっき膜と二次めっき膜の界面での剥離が発生したヒー
トサイクル数は1500サイクルであった。
(Example 4) Other than that the electroless Cu-Ni-B plating (primary plating) having a plating film thickness of 1.5 μm was applied by immersing in an electroless plating solution having the composition shown in Table 5 for 1 hour. In the same manner as in Example 2, the peel strength measurement and the heat cycle test were performed. As a result, the peel strength was 2.4 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0043】[0043]

【表5】 [Table 5]

【0044】(実施例5)表6に示す組成の無電解めっ
き液に1時間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.8μmの無電
解Cu−Ni−B−Cめっき(一次めっき)を施したこと以
外は、実施例2と同様の方法により、ピール強度測定と
ヒートサイクル試験を行った。その結果、そのピール強
度は、表10に示すように、2.2kg/cmであった。また、一
次めっき膜と二次めっき膜の界面での剥離が発生したヒ
ートサイクル数は1500サイクルであった。
Example 5 An electroless Cu-Ni-BC plating (primary plating) having a plating film thickness of 1.8 μm was applied by immersing the electroless plating solution having the composition shown in Table 6 for 1 hour. Except for the above, the peel strength measurement and the heat cycle test were performed in the same manner as in Example 2. As a result, the peel strength was 2.2 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0045】[0045]

【表6】 [Table 6]

【0046】(実施例6)表7に示す組成の電解めっき
液に15分間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.8μmの電解Ag
−Snめっき(一次めっき)を施したこと以外は、実施例
2と同様の方法により、ピール強度測定とヒートサイク
ル試験を行った。その結果、そのピール強度は、表10に
示すように、1.7kg/cmであった。また、一次めっき膜と
二次めっき膜の界面での剥離が発生したヒートサイクル
数は1400サイクルであった。
Example 6 Electrolytic Ag having a plating film thickness of 1.8 μm was immersed in an electrolytic plating solution having the composition shown in Table 7 for 15 minutes.
A peel strength measurement and a heat cycle test were performed in the same manner as in Example 2 except that the Sn plating (primary plating) was performed. As a result, the peel strength was 1.7 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1400 cycles.

【0047】[0047]

【表7】 [Table 7]

【0048】(実施例7)表8に示す組成の電解めっき
液に15分間浸漬して、めっき膜の厚さ 1.8μmの電解Au
−Pbめっき(一次めっき)を施したこと以外は、実施例
4と同様の方法により、ピール強度測定とヒートサイク
ル試験を行った。その結果、そのピール強度は、表10に
示すように、1.7kg/cmであった。また、一次めっき膜と
二次めっき膜の界面での剥離が発生したヒートサイクル
数は1500サイクルであった。
Example 7 Electrolytic Au having a plating film thickness of 1.8 μm was immersed in an electrolytic plating solution having the composition shown in Table 8 for 15 minutes.
A peel strength measurement and a heat cycle test were performed in the same manner as in Example 4 except that the -Pb plating (primary plating) was performed. As a result, the peel strength was 1.7 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1500 cycles.

【0049】[0049]

【表8】 [Table 8]

【0050】(実施例8)表9に示す組成の電解めっき
液に15分間浸漬して、めっき膜の厚さ2μmの電解Au−
Agめっき(一次めっき)を施したこと以外は、実施例4
と同様の方法により、ピール強度測定とヒートサイクル
試験を行った。その結果、そのピール強度は、表10に示
すように、1.6kg/cmであった。また、一次めっき膜と二
次めっき膜の界面での剥離が発生したヒートサイクル数
は1600サイクルであった。
(Embodiment 8) The electrolytic plating solution having the composition shown in Table 9 was dipped in the electrolytic plating solution for 15 minutes to form an electrolytic Au- having a plating film thickness of 2 μm.
Example 4 except that Ag plating (primary plating) was performed
A peel strength measurement and a heat cycle test were performed by the same method as described above. As a result, the peel strength was 1.6 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was 1600 cycles.

【0051】[0051]

【表9】 [Table 9]

【0052】(実施例9)実施例1において(7) 処理の
後、配線基板を空気中に25℃で24時間放置した。放置
後、配線基板の一次めっき膜表面への酸化膜形成の有無
を水のはっ水現象の有無にて判断した結果、はっ水現象
が観察された。即ち、一次めっき膜の表面には酸化膜が
形成されていることが判った。この配線基板に、実施例
1の (8)〜(9) の処置を施し、多層プリント配線板を得
た。このようにして得られた配線板のピール強度は1.4k
g/cmであった。また、一次めっき膜と二次めっき膜の間
で剥離が発生したヒートサイクル数は1000サイクルであ
った。
(Example 9) After the treatment (7) in Example 1, the wiring board was left in the air at 25 ° C for 24 hours. After standing, whether or not an oxide film was formed on the surface of the primary plating film of the wiring board was judged by the presence or absence of water-repellent phenomenon, and the water-repellent phenomenon was observed. That is, it was found that an oxide film was formed on the surface of the primary plating film. This wiring board was subjected to the treatments (8) to (9) of Example 1 to obtain a multilayer printed wiring board. The peel strength of the wiring board thus obtained is 1.4k.
g / cm. The number of heat cycles in which peeling occurred between the primary plating film and the secondary plating film was 1000 cycles.

【0053】(比較例1)実施例1(7) において、表1
に示す組成の無電解合金めっき液(一次めっき液)に2
時間47分間浸漬して、めっき膜の厚さ 5.0μmの無電解
Cu-Ni-P合金層6を形成したこと以外は、実施例1と同
様にして導体を形成し、ピール強度測定とヒートサイク
ル試験を行った。この時の、一次めっき層の被覆状態
は、図1に示すように、アンカー窪み内を一次めっき金
属で完全に充填した状態(アンカー内での充填率100vol
%)でかつ平坦に被覆した状態であった。その結果、そ
のピール強度は、表10に示すように、1.4kg/cmであっ
た。また、一次めっき膜と二次めっき膜の間で剥離が発
生したヒートサイクル数は 800サイクルであった。
Comparative Example 1 Table 1 in Example 1 (7)
2 in the electroless alloy plating solution (primary plating solution) having the composition shown in
For 47 minutes, electroless with plating film thickness of 5.0 μm
A conductor was formed in the same manner as in Example 1 except that the Cu-Ni-P alloy layer 6 was formed, and the peel strength measurement and the heat cycle test were performed. At this time, the coating state of the primary plating layer is, as shown in FIG. 1, a state in which the inside of the anchor recess is completely filled with the primary plating metal (filling ratio in the anchor is 100 vol.
%) And a flat coating. As a result, the peel strength was 1.4 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles at which peeling occurred between the primary plating film and the secondary plating film was 800 cycles.

【0054】(比較例2)実施例1(7) において、表1
に示す組成の無電解合金めっき液に20分間浸漬して、め
っき膜の厚さ 0.5μmの無電解Cu-Ni-P合金層6(アン
カー内の充填率20vol%)を形成したこと以外は、実施
例1と同様にして導体回路を形成し、ピール強度測定と
ヒートサイクル試験を行った。その結果、ピール強度
は、表10に示すように、1.0kg/cmであった。また、ヒー
トサイクル試験では、一次めっき膜と二次めっき膜との
界面の剥離よりも前に、導体回路のクラックが発生し
た。これは、一次めっき膜のピンホールに起因する気泡
が加熱時に膨張したためであろうと推定している。
Comparative Example 2 Table 1 in Example 1 (7)
Other than forming an electroless Cu-Ni-P alloy layer 6 (filling ratio in the anchor: 20 vol%) with a thickness of 0.5 μm of the plating film by immersing in an electroless alloy plating solution having the composition shown in A conductor circuit was formed in the same manner as in Example 1, and a peel strength measurement and a heat cycle test were performed. As a result, the peel strength was 1.0 kg / cm, as shown in Table 10. Further, in the heat cycle test, a crack in the conductor circuit occurred before the peeling of the interface between the primary plating film and the secondary plating film. It is presumed that this is because the bubbles caused by the pinholes in the primary plating film expanded during heating.

【0055】(比較例3)実施例9において、表1に示
す組成の無電解合金めっき液に2時間45分間浸漬して、
めっき膜の厚さ 5.0μmの無電解Cu-Ni-P合金層6(ア
ンカー内の充填率100vol%)を形成したこと以外は、実
施例9と同様にして導体回路を形成し、ピール強度測定
とヒートサイクル試験を行った。その結果、ピール強度
は、表10に示すように、1.4kg/cmであった。また、一次
めっき膜と二次めっき膜の間で剥離が発生したヒートサ
イクル数は 500サイクルであった。
Comparative Example 3 In Example 9, the electroless alloy plating solution having the composition shown in Table 1 was dipped for 2 hours and 45 minutes,
A conductor circuit was formed in the same manner as in Example 9 except that the electroless Cu-Ni-P alloy layer 6 (filling ratio in the anchor was 100 vol%) having a thickness of the plating film of 5.0 μm was formed, and the peel strength was measured. And a heat cycle test was performed. As a result, the peel strength was 1.4 kg / cm, as shown in Table 10. The number of heat cycles in which peeling occurred between the primary plating film and the secondary plating film was 500 cycles.

【0056】[0056]

【表10】 [Table 10]

【0057】表10に示す結果から明らかなように、本発
明のプリント配線板は、従来技術にかかる比較例に比べ
ると、ピール強度に優れることが確認できた。しかも、
本発明のプリント配線板は、導体の比抵抗を低く維持で
き、L/S=50/50(μm)形成能にも優れることを確
認した。また、ヒートサイクル特性にも優れることを確
認した。
As is clear from the results shown in Table 10, it was confirmed that the printed wiring board of the present invention was excellent in peel strength as compared with the comparative example according to the prior art. Moreover,
It was confirmed that the printed wiring board of the present invention can keep the specific resistance of the conductor low and is excellent in the L / S = 50/50 (μm) forming ability. It was also confirmed that the heat cycle characteristics were excellent.

【0058】なお、ピール強度、比抵抗およびヒートサ
イクル特性についての試験方法または評価方法を説明す
る。 (1) ピール強度 JIS−C−6481に準じて測定し評価した。 (2) 比抵抗 比抵抗ρは、電気伝導度の逆数を意味する。断面積S,
長さlの部分の抵抗Rを四端子法により測定し、R=
(l/S)ρ から比抵抗ρを算出し評価した。 (3) ヒートサイクル特性 −65〜125 ℃までの冷熱衝撃試験を行い、一次めっき膜
と二次めっき膜の界面での剥離の有無を 100サイクル単
位で確認し、剥離が発生したサイクル数で評価した。
A test method or evaluation method for peel strength, specific resistance and heat cycle characteristics will be described. (1) Peel strength Measured and evaluated according to JIS-C-6481. (2) Specific resistance The specific resistance ρ means the reciprocal of electrical conductivity. Cross-sectional area S,
The resistance R of the portion of length l is measured by the four-terminal method, and R =
The specific resistance ρ was calculated from (l / S) ρ and evaluated. (3) Heat cycle characteristics A thermal shock test from -65 to 125 ° C was performed, and the presence or absence of peeling at the interface between the primary plating film and the secondary plating film was confirmed in 100 cycle units, and evaluated by the number of cycles at which peeling occurred. did.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、導
体を構成する一次めっき層と二次めっき層の密着性を改
善することができ、より高密度でパターン精度の高い配
線においても導体と樹脂絶縁層との密着性(ピール強
度)に優れるプリント配線板を安定して提供することで
きる。
As described above, according to the present invention, the adhesion between the primary plating layer and the secondary plating layer forming the conductor can be improved, and the conductor can be used even in wiring of higher density and high pattern accuracy. It is possible to stably provide a printed wiring board having excellent adhesion (peel strength) between the resin insulating layer and the resin insulating layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】従来技術にかかる一次めっき層の被覆状態を示
す部分断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing a covering state of a primary plating layer according to a conventional technique.

【図2】本発明にかかるプリント配線板の一製造工程を
示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing one manufacturing process of the printed wiring board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 導体回路 3 樹脂絶縁層 4 バイアホール用開口 5 めっきレジスト 6 一次めっき層 7 二次めっき層 1 substrate 2 conductor circuit 3 resin insulation layer 4 opening for via hole 5 plating resist 6 primary plating layer 7 secondary plating layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に設けた樹脂絶縁層の粗化面に、
一次めっき処理と二次めっき処理にて形成した導体回路
を有するプリント配線板において、前記導体回路は、ア
ンカー窪みを含む粗化面側が、該粗化面に沿って設けた
一次めっき層で構成され、かつその一次めっき層の表面
には、二次めっき層が、アンカー窪み内の少なくとも一
部を占めるように充填された状態で形成されていること
を特徴とするプリント配線板。
1. A roughened surface of a resin insulating layer provided on a substrate,
In a printed wiring board having a conductor circuit formed by a primary plating treatment and a secondary plating treatment, the conductor circuit is configured such that a roughened surface side including an anchor recess is formed by a primary plated layer provided along the roughened surface. The printed wiring board is characterized in that a secondary plating layer is formed on the surface of the primary plating layer so as to occupy at least a part of the anchor recess.
【請求項2】 上記一次めっき層は、膜厚が1以上2μ
m未満である請求項1に記載のプリント配線板。
2. The primary plating layer has a thickness of 1 or more and 2 μm.
The printed wiring board according to claim 1, which is less than m.
【請求項3】 上記一次めっき層は、アンカー窪み内に
占める割合が30〜50vol%である請求項1に記載のプリ
ント配線板。
3. The printed wiring board according to claim 1, wherein the proportion of the primary plating layer in the anchor recess is 30 to 50 vol%.
【請求項4】 上記一次めっき層は、Ni,Co,Cu,Auお
よびAgの少なくとも2種以上の合金からなる請求項1〜
3のいずれかに記載のプリント配線板。
4. The primary plating layer is made of an alloy of at least two kinds of Ni, Co, Cu, Au and Ag.
The printed wiring board according to any one of 3 above.
【請求項5】 上記一次めっき層は、Ni,Co,Cu,Auお
よびAgの少なくとも1種以上と、Sn,Pb, B,P,Cお
よび遷移金属の少なくとも1種以上との合金からなる請
求項1〜3のいずれかに記載のプリント配線板。
5. The primary plating layer comprises an alloy of at least one or more of Ni, Co, Cu, Au and Ag and at least one or more of Sn, Pb, B, P, C and a transition metal. Item 5. The printed wiring board according to any one of Items 1 to 3.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6762921B1 (en) 1999-05-13 2004-07-13 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed-circuit board and method of manufacture
CN105828533A (en) * 2016-05-06 2016-08-03 广东利尔化学有限公司 Chemical nickel-phosphorus-plated alloy solution and method for applying the same to printed wiring board to deposit nickel-phosphorus alloy
WO2022270339A1 (en) * 2021-06-24 2022-12-29 京セラ株式会社 Wiring board

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