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JPH0921969A - Multibeam detector - Google Patents

Multibeam detector

Info

Publication number
JPH0921969A
JPH0921969A JP19241595A JP19241595A JPH0921969A JP H0921969 A JPH0921969 A JP H0921969A JP 19241595 A JP19241595 A JP 19241595A JP 19241595 A JP19241595 A JP 19241595A JP H0921969 A JPH0921969 A JP H0921969A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
light
scanned
scanning
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19241595A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Suzuki
康夫 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP19241595A priority Critical patent/JPH0921969A/en
Publication of JPH0921969A publication Critical patent/JPH0921969A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect the passing of each light beam with high precision by making light beam for data writing to be smaller than the inner side pitch of each light beam which simultaneously scans the width of the sensor surface of the light detecting elements that receive the light beam. SOLUTION: The laser light beams from a point light source 1 are converted into parallel beams by a collimating lens 2. The beam radius is determined by an aperture diaphragm 3. The beams pass a cylindrical lens 4 and are converged on a polygon mirror 5 in a line form. The light beams, which are deflect- scanned by the mirror 5 that is rotating at a high speed, pass an fθ lens 8 and converted so that the light spots are scanned on a photosensitive body drum 9 at the same speed. A light beam L which passes the lens 8 is reflected by a fixed mirror 10 and is led to a timing detection sensor 12 through a condenser lens 11. By making the width of the sensor surface of the sensor 12 to be smaller than the inner side pitch of each light beam which simultaneously scans, the timing deviation of an information writing is accurately detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マルチラインを同
時に主走査する場合において、各走査を行う光ビームを
それぞれ検出するマルチビーム検出装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-beam detecting device for detecting a light beam for each scanning in the case of simultaneously performing main scanning on multiple lines.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、2個の半導体レーザー光源か
ら書き込み用の光ビームを得て、各光ビームの被走査面
上における走査位置を副走査方向に所定ピッチずらし、
光ビームを画像情報に応じてオン・オフ変調させなが
ら、2ラインを同時に主走査する記録方法が知られてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, a writing light beam is obtained from two semiconductor laser light sources, and the scanning position of each light beam on the surface to be scanned is shifted by a predetermined pitch in the sub-scanning direction.
A recording method is known in which two lines are simultaneously main-scanned while the light beam is on / off-modulated according to image information.

【0003】このような記録方法では、各光ビームによ
る主走査の起点を正確に揃えないと、良好な記録画像を
得ることができない。従って、各光ビームによる主走査
の起点を揃えるために、2本の光ビームを極めて高精度
に調整した後に偏向手段により偏向し、主走査に先立っ
て偏向した2本の光ビームを同一の光検出素子で検出
し、その検出結果に基づいて各光ビームとも同一のタイ
ミングで主走査を開始するようにしている。
In such a recording method, good recording images cannot be obtained unless the starting points of the main scanning by the respective light beams are accurately aligned. Therefore, in order to align the starting points of the main scanning by the respective light beams, the two light beams are adjusted with extremely high precision and then deflected by the deflecting means, and the two light beams deflected prior to the main scanning are made into the same light beam. The main scanning is started at the same timing for each light beam based on the detection result detected by the detection element.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、光ビームの合成を高精度化するには限
度があり、たとえ高精度に合成することができても、振
動や汚れ等の作用により経時的に合成の精度が低下する
ので、各光ビームによる主走査の起点を常に安定して揃
えておくことは困難である。また、1つの光検出素子に
複数のビームを同時に照射しているために、それぞれの
光量が、汚れ、振動等によってばらつきが生じて、高精
度な検出が困難となる。
However, in the above-mentioned conventional example, there is a limit to the precision of combining the light beams, and even if the light beams can be combined with high accuracy, the effects of vibration, dirt, etc. As a result, the accuracy of synthesis decreases with time, so it is difficult to always stably arrange the starting points of main scanning by the respective light beams. Moreover, since a plurality of beams are simultaneously radiated to one photo-detecting element, the respective light amounts vary due to dirt, vibration, etc., and high-precision detection becomes difficult.

【0005】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
マルチビームにおいて光検出素子に同時に複数の光ビー
ムが当たることがないようにして、高精度の検出ができ
るようにしたマルチビーム検出装置を提案することにあ
る。
The object of the present invention is to solve the above problems,
It is an object of the present invention to propose a multi-beam detection device capable of highly accurate detection by preventing a plurality of light beams from simultaneously striking a photo-detecting element in the multi-beam.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の第1発明に係るマルチビーム検出装置は、少なくとも
1個以上の半導体レーザー光源からデータ書き込み用の
光ビームを出射し、各光ビームの被走査面上における走
査位置を副走査方向に所定のピッチずらして複数ライン
を同時に主走査して記録する際に、各光ビームによる主
走査のタイミング制御のために、主走査に先立って各光
ビームの通過を検出するマルチビーム検出装置におい
て、光ビームを受光して電気信号を出力する光検出素子
のセンサ面の幅を同時に走査する各光ビームの内側ピッ
チよりも小さくしたことを特徴とする。
A multi-beam detection device according to a first aspect of the invention for achieving the above object emits a data writing light beam from at least one or more semiconductor laser light sources, and outputs each light beam. When a plurality of lines are simultaneously main-scanned and recorded by shifting the scanning position on the surface to be scanned in the sub-scanning direction by a predetermined pitch, each light beam is controlled prior to the main scanning in order to control the timing of the main scanning by each light beam. In a multi-beam detection device for detecting the passage of beams, the width of the sensor surface of a photodetector element that receives a light beam and outputs an electric signal is smaller than the inner pitch of each light beam that scans at the same time. .

【0007】第2発明に係るマルチビーム検出装置は、
少なくとも1個以上の半導体レーザー光源からデータ書
き込み用の光ビームを出射し、各光ビームの被走査面上
における走査位置を副走査方向に所定のピッチずらして
複数ラインを同時に主走査して記録する際に、各光ビー
ムによる主走査のタイミング制御のために、主走査に先
立って各光ビームの通過を検出するマルチビーム検出装
置において、光ビームを受光して電気信号を出力する光
検出素子のセンサ面の直前に長方形開口を有するスリッ
ト部材を設け、前記長方形開口を前記センサ面よりも十
分小さくし、前記長方形開口の光ビーム走査方向の幅を
同時に走査する各光ビームの内側ピッチよりも小さくし
たことを特徴とする。
A multi-beam detector according to the second invention is
A data writing light beam is emitted from at least one or more semiconductor laser light sources, the scanning position of each light beam on the surface to be scanned is shifted by a predetermined pitch in the sub-scanning direction, and a plurality of lines are simultaneously main-scanned and recorded. At this time, in order to control the timing of the main scanning by each light beam, in a multi-beam detector that detects the passage of each light beam prior to the main scanning, a photodetector element that receives the light beam and outputs an electrical signal A slit member having a rectangular opening is provided immediately in front of the sensor surface, the rectangular opening is made sufficiently smaller than the sensor surface, and the width of the rectangular opening in the light beam scanning direction is smaller than the inner pitch of each light beam simultaneously scanned. It is characterized by having done.

【0008】上述の構成を有する第1発明のマルチビー
ム検出装置は、少なくとも1個以上の半導体レーザー光
源からデータ書き込み用の複数本の光ビームを出射し、
各光ビームを被走査面上における主走査位置を副走査方
向に所定ピッチずらし、複数ラインを同時に主走査して
記録する際に、主走査に先立って、同時に走査する各光
ビームの内側ピッチよりも小さい幅のセンサ面を有する
光検出素子で各光ビームの通過を検出する。
The multi-beam detector of the first invention having the above-mentioned structure emits a plurality of light beams for writing data from at least one or more semiconductor laser light sources,
The main scanning position of each light beam on the surface to be scanned is shifted by a predetermined pitch in the sub-scanning direction, and when multiple lines are simultaneously main-scanned and recorded, prior to main-scanning, the inner pitch of each light beam scanned simultaneously is The passage of each light beam is detected by a photodetector having a sensor surface with a small width.

【0009】第2発明のマルチビーム検出装置は、少な
くとも1個以上の半導体レ−ザからデ−タ書き込み用の
複数本光ビ−ムを出射し、各ビ−ムを被走査面における
主走査位量を副走査方向に所定ピッチずらし、複数ライ
ンを同時に主走査して記録する際に、光検出素子のセン
サ面の直前に長方形開口を有するスリット部材を配置
し、主走査に先立って、光検出素子のセンサ面よりも十
分小さくかつ同時に走査する各光ビームの内側ピッチよ
り小さい長方形開口を介して、各光ビームの通過を検出
する。
In the multi-beam detector of the second invention, a plurality of light beams for writing data are emitted from at least one or more semiconductor lasers, and each beam is subjected to main scanning on the surface to be scanned. When a plurality of lines are simultaneously scanned in the main scan and recorded at the same time, the slit member having a rectangular opening is arranged immediately in front of the sensor surface of the photodetector, and the slit is moved in advance in the main scan. The passage of each light beam is detected through a rectangular aperture that is sufficiently smaller than the sensor surface of the detection element and smaller than the inner pitch of each light beam that is simultaneously scanned.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明を図示の実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は第1の実施例の構成図を示し、
半導体レーザー光源から成る単一の点光源1の前方に
は、光束を発散状態から平行状態へ変換するコリメータ
レンズ2、絞り形状に従ってビーム径を決定する開口絞
り3、一方向にのみ収束作用を行って線状に集光させる
シリンドリカルレンズ4、高速回転しているポリゴンミ
ラー5が順次に配列されており、ポリゴンミラー5はモ
ータ6により回転駆動されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiment. FIG. 1 shows a configuration diagram of the first embodiment,
In front of a single point light source 1 composed of a semiconductor laser light source, a collimator lens 2 for converting a light beam from a divergent state to a parallel state, an aperture stop 3 for determining a beam diameter according to a stop shape, and a converging action in only one direction. A cylindrical lens 4 for linearly focusing light and a polygon mirror 5 rotating at high speed are sequentially arranged, and the polygon mirror 5 is rotationally driven by a motor 6.

【0011】ポリゴンミラー5の反射方向には、球面レ
ンズ7、トーリックレンズを構成するfθレンズ8、感
光体ドラム9が順次に配列されており、fθレンズ8と
感光体ドラム9の間には、fθレンズ8の画像有効部か
らの光ビームLの方向に固定ミラー10が配置され、固
定ミラー10の反射方向に集光レンズ11、タイミング
検知用センサ12が配列されている。
A spherical lens 7, an fθ lens 8 forming a toric lens, and a photosensitive drum 9 are sequentially arranged in the reflecting direction of the polygon mirror 5, and between the fθ lens 8 and the photosensitive drum 9. The fixed mirror 10 is arranged in the direction of the light beam L from the image effective portion of the fθ lens 8, and the condenser lens 11 and the timing detection sensor 12 are arranged in the reflection direction of the fixed mirror 10.

【0012】点光源1からのレーザー光は発散しながら
出射され、コリメータレンズ2を透過することにより平
行光に変換される。コリメータレンズ2を出射した光束
は開口絞り3の形状によってビーム径が決められ、シリ
ンドリカルレンズ4を透過することによって一方向だけ
収束作用を受けて、ポリゴンミラー5上に線状に集光さ
れる。高速で回転しているポリゴンミラー5の鏡面で反
射された光ビームは、モータ6の回転に伴って偏向走査
され、球面レンズ7、fθレンズ8を透過して感光体ド
ラム9上に微小な光スポットとして結像される。
The laser light from the point light source 1 is emitted while diverging, and is converted into parallel light by passing through the collimator lens 2. The beam diameter of the light beam emitted from the collimator lens 2 is determined by the shape of the aperture stop 3, and is transmitted through the cylindrical lens 4 to undergo a converging action in only one direction and is linearly condensed on the polygon mirror 5. The light beam reflected by the mirror surface of the polygon mirror 5 rotating at a high speed is deflected and scanned as the motor 6 rotates, passes through the spherical lens 7 and the fθ lens 8, and is reflected on the photosensitive drum 9 as a minute light beam. It is imaged as a spot.

【0013】ポリゴンミラー5で等角速度で偏向走査さ
れた光ビームは、fθレンズ8を透過することにより、
感光体ドラム9上で光スポットが等速度で走査されるよ
うに変換され、光スポットは感光体ドラム9上を矢印の
方向に繰り返し走査される。このとき、fθレンズ8の
画像有効部を通った光ビームLは固定ミラー10で反射
され、集光レンズ11を介してタイミング検知用センサ
12に導かれる。このようにして、ポリゴンミラー5の
反射面の分割誤差により、繰り返し走査時に生ずる情報
書込みのタイミングずれを、各反射面で偏向走査された
先頭部の光ビームを検知することにより認識する。
The light beam deflected and scanned by the polygon mirror 5 at a constant angular velocity passes through the fθ lens 8 to
The light spot is converted so as to be scanned at a constant speed on the photosensitive drum 9, and the light spot is repeatedly scanned on the photosensitive drum 9 in the direction of the arrow. At this time, the light beam L passing through the image effective portion of the fθ lens 8 is reflected by the fixed mirror 10 and guided to the timing detection sensor 12 via the condenser lens 11. In this way, the timing deviation of information writing that occurs during repetitive scanning due to the division error of the reflecting surface of the polygon mirror 5 is recognized by detecting the light beam at the head portion deflected and scanned by each reflecting surface.

【0014】図2はタイミング検知用センサ12の拡大
図を示し、タイミング検知用センサ12は縦長の形状を
しており、点光源1から出射された第1ビームL1と第2
ビームL2の内側ピッチbに対して、センサ幅aはa<b
の関係にある。このように設定することにより、第1ビ
ームL1と第2ビームL2のセンサ出力O1、O2を、図3に示
すように分離することができるので、それぞれの光ビー
ムのタイミングを正確に検知することができる。
FIG. 2 is an enlarged view of the timing detection sensor 12. The timing detection sensor 12 has a vertically long shape and includes the first beam L1 emitted from the point light source 1 and the second beam L1.
For the inner pitch b of the beam L2, the sensor width a is a <b
In a relationship. With this setting, the sensor outputs O1 and O2 of the first beam L1 and the second beam L2 can be separated as shown in FIG. 3, so that the timing of each light beam can be accurately detected. You can

【0015】また、第1ビームL1と第2ビームL2の副走
査方向のピッチcは走査密度に応じて設定され、点光源
1、コリメーターレンズ2、開口絞り3から成るレーザ
ーユニットを回転させてその値に調整している。更に、
第1ビームL1及び第2ビームL2の内側ピッチbは約2m
mで、この値は点光源1に形成された複数の発光点の間
隔約100μmと光学系の倍率約20倍とから算出で
き、センサ12の幅は1.5mm程度になっていればよ
い。
The pitch c of the first beam L1 and the second beam L2 in the sub-scanning direction is set according to the scanning density, and a laser unit including a point light source 1, a collimator lens 2 and an aperture stop 3 is rotated. I am adjusting to that value. Furthermore,
The inner pitch b of the first beam L1 and the second beam L2 is about 2 m
In m, this value can be calculated from the interval of a plurality of light emitting points formed in the point light source 1 of about 100 μm and the magnification of the optical system of about 20 times, and the width of the sensor 12 may be about 1.5 mm.

【0016】以上は2個の発光点を有する半導体レーザ
ー光源の場合について説明したが、3個以上の発光点を
有する半導体レーザー光源についても同様に適用でき、
更にそれぞれ単一の発光点を有する複数個の半導体レー
ザー光源を用いて、複数のレーザー光を同時に走査させ
る場合にも適用することができる。なお、この場合には
複数の光ビームが光偏向装置によって走査されるとき
に、走査方向に約2mm程度の差を有するように、光偏
向装置への光ビーム入射位置を設定する等の方法で対応
することができる。
The above description has been made on the case of the semiconductor laser light source having two light emitting points, but the same can be applied to the semiconductor laser light source having three or more light emitting points.
Further, it can be applied to a case where a plurality of semiconductor laser light sources each having a single light emitting point are used to simultaneously scan a plurality of laser lights. In this case, when a plurality of light beams are scanned by the light deflecting device, the light beam incident position on the light deflecting device is set so that there is a difference of about 2 mm in the scanning direction. Can respond.

【0017】図4は第2の実施例を示し、集光レンズ1
3とタイミング検知用センサ14の間に長方形開口15
aを有するスリット板15が設けられている。タイミン
グ検知用センサ14のセンサ面14aは開口15aに比
べて十分に大きく、開口15aの幅dは第1ビームL1と
第2ビームL2の内側ピッチeよりも小さくなっている。
そして、集光レンズ13、スリット板15、タイミング
検知用センサ14はほぼ同一中心軸上に配列されてい
る。
FIG. 4 shows a second embodiment of the condenser lens 1.
3 and the timing detection sensor 14 between the rectangular opening 15
A slit plate 15 having a is provided. The sensor surface 14a of the timing detection sensor 14 is sufficiently larger than the opening 15a, and the width d of the opening 15a is smaller than the inner pitch e of the first beam L1 and the second beam L2.
The condenser lens 13, the slit plate 15, and the timing detection sensor 14 are arranged on substantially the same central axis.

【0018】ポリゴンミラーによって走査される第1ビ
ームL1と第2ビームL2は、集光レンズ13によってスリ
ット板15のほぼ表面に結像され、第1ビームL1と第2
ビームL2がスリット板15の開口15aを通過するとき
に、タイミング検知用センサ14は電気信号を発生す
る。このときの第1ビームL1と第2ビームL2のセンサ出
力は図2に示すように分離しているので、それぞれの検
知タイミングを正確に求めることができる。
The first beam L1 and the second beam L2 scanned by the polygon mirror are focused on the surface of the slit plate 15 by the condenser lens 13, and the first beam L1 and the second beam L2 are imaged.
When the beam L2 passes through the opening 15a of the slit plate 15, the timing detection sensor 14 generates an electric signal. Since the sensor outputs of the first beam L1 and the second beam L2 at this time are separated as shown in FIG. 2, the respective detection timings can be accurately obtained.

【0019】このように、スリット板15によって走査
される複数の光ビームのセンサ出力を分離することによ
り、タイミング検知用センサ14として特別なセンサ部
を必要としないので、タイミング検知用センサ14の選
択に自由度を持たせることができる。
By separating the sensor outputs of the plurality of light beams scanned by the slit plate 15 in this manner, no special sensor unit is required as the timing detection sensor 14, so that the timing detection sensor 14 is selected. Can have a degree of freedom.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したように第1発明に係るマル
チビーム検出装置は、各光ビームの内側ピッチよりも光
検出素子のセンサ面の幅を小さくしてあるので、光検出
素子に同時に複数の光ビームが入射することなく、複数
の光ビームのタイミングを分離して検知することがで
き、正確な光走査を行うことができる。
As described above, in the multi-beam detector according to the first aspect of the invention, the width of the sensor surface of the photodetector is smaller than the inner pitch of each light beam. It is possible to separate and detect the timings of a plurality of light beams without the incidence of the above light beams, and it is possible to perform accurate light scanning.

【0021】第2発明に係るマルチビーム検出装置は、
スリット部材の長方形開口を光検出素子のセンサ面より
も十分に小さくし、かつ長方形開口の光ビーム走査方向
の幅を各光ビームの内側ピッチよりも小さくしたことに
より、光検出素子に同時に複数の光ビームが入射するこ
となく、複数の光ビームのタイミングを分離して検知す
ることができ、正確な光走査を行うことができる。
A multi-beam detector according to the second invention is
By making the rectangular opening of the slit member sufficiently smaller than the sensor surface of the light detection element and making the width of the rectangular opening in the light beam scanning direction smaller than the inner pitch of each light beam, a plurality of light detection elements can be simultaneously formed. The timing of a plurality of light beams can be separated and detected without the incidence of light beams, and accurate light scanning can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施例の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a first embodiment.

【図2】タイミング検知用センサの説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a timing detection sensor.

【図3】センサの出力波形のグラフ図である。FIG. 3 is a graph of an output waveform of the sensor.

【図4】第2の実施例の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a second embodiment.

【符号の説明】 1 半導体レーザー光源点光源 2 コリメータレンズ 3 開口絞り 4 シリンドリカルレンズ 5 ポリゴンミラー 8 トーリックレンズ 9 感光体 12、14 タイミング検知用センサ 15 スリット板[Description of symbols] 1 semiconductor laser light source point light source 2 collimator lens 3 aperture stop 4 cylindrical lens 5 polygon mirror 8 toric lens 9 photoconductors 12 and 14 timing detection sensor 15 slit plate

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも1個以上の半導体レーザー光
源からデータ書き込み用の光ビームを出射し、各光ビー
ムの被走査面上における走査位置を副走査方向に所定の
ピッチずらして複数ラインを同時に主走査して記録する
際に、各光ビームによる主走査のタイミング制御のため
に、主走査に先立って各光ビームの通過を検出するマル
チビーム検出装置において、光ビームを受光して電気信
号を出力する光検出素子のセンサ面の幅を同時に走査す
る各光ビームの内側ピッチよりも小さくしたことを特徴
とするマルチビーム検出装置。
1. A light beam for writing data is emitted from at least one or more semiconductor laser light sources, a scanning position of each light beam on a surface to be scanned is shifted by a predetermined pitch in a sub-scanning direction, and a plurality of lines are simultaneously main-scanned. When scanning and recording, a multi-beam detector that detects the passage of each light beam prior to the main scanning for timing control of the main scanning by each light beam receives the light beam and outputs an electrical signal. The multi-beam detection device is characterized in that the width of the sensor surface of the light detection element is smaller than the inner pitch of each light beam scanned at the same time.
【請求項2】 少なくとも1個以上の半導体レーザー光
源からデータ書き込み用の光ビームを出射し、各光ビー
ムの被走査面上における走査位置を副走査方向に所定の
ピッチずらして複数ラインを同時に主走査して記録する
際に、各光ビームによる主走査のタイミング制御のため
に、主走査に先立って各光ビームの通過を検出するマル
チビーム検出装置において、光ビームを受光して電気信
号を出力する光検出素子のセンサ面の直前に長方形開口
を有するスリット部材を設け、前記長方形開口を前記セ
ンサ面よりも十分小さくし、前記長方形開口の光ビーム
走査方向の幅を同時に走査する各光ビームの内側ピッチ
よりも小さくしたことを特徴とするマルチビーム検出装
置。
2. A light beam for writing data is emitted from at least one or more semiconductor laser light sources, and the scanning position of each light beam on the surface to be scanned is shifted by a predetermined pitch in the sub-scanning direction to simultaneously scan a plurality of lines simultaneously. When scanning and recording, a multi-beam detector that detects the passage of each light beam prior to the main scanning for timing control of the main scanning by each light beam receives the light beam and outputs an electrical signal. A slit member having a rectangular opening is provided immediately in front of the sensor surface of the light detecting element, the rectangular opening is made sufficiently smaller than the sensor surface, and the width of each of the light beams that simultaneously scans the width of the rectangular opening in the light beam scanning direction. A multi-beam detection device characterized by being made smaller than the inner pitch.
JP19241595A 1995-07-04 1995-07-04 Multibeam detector Pending JPH0921969A (en)

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JP (1) JPH0921969A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100362479B1 (en) * 2000-03-27 2002-11-25 삼성전자 주식회사 Laser Scanning Unit
JP2007156150A (en) * 2005-12-06 2007-06-21 Ricoh Co Ltd Image forming apparatus

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