JPH09167240A

JPH09167240A - ディジタル画像信号処理装置および方法

Info

Publication number: JPH09167240A
Application number: JP34798595A
Authority: JP
Inventors: Kenji Takahashi; 健治高橋; Tetsujiro Kondo; 哲二郎近藤
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-12-15
Filing date: 1995-12-15
Publication date: 1997-06-24

Abstract

(57)【要約】【課題】ハードを軽減するために、画素の差分値によ
りエッジを検出する。【解決手段】画素抽出回路４２では、ディジタル画像
データから（３×３）ブロックの画素が抽出される。差
分検出回路４３ａ〜４３ｈでは、注目画素と画素ａ〜画
素ｈから差分ａ〜差分ｈとその方向が最大差分検出回路
４４へ供給される。最大差分検出回路４４では、絶対値
化された最大差分とその方向が検出され、最大差分は、
しきい値処理回路４６へ供給され、最大差分の方向は、
選択回路４５へ供給される。選択回路４５では、最大差
分の方向の反対方向となる差分が選択され、しきい値処
理回路４７へ供給される。しきい値処理回路４６では、
最大差分がしきい値Ｔ１と比較され、しきい値処理回路
４７では、反対方向となる差分がしきい値Ｔ２と比較さ
れる。エッジ検出回路４８では、それらの比較結果に基
づいて、エッジデータが出力される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ディジタル化さ
れた画像データの画素差分の組み合わせにより、画像の
エッジ抽出を行うことができるディジタル画像信号処理
装置および方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、画像のエッジ抽出は、画像に対し
てＤＣＴ、ＦＦＴを行うことによってなされていた。Ｄ
ＣＴ、ＦＦＴの結果、エッジ部の周波数特性が高い周波
数部分に偏ることを利用してエッジ部を求めていた。ま
た、１次微分特性を調べることによって、画像データの
変動を求め、それによってエッジを検出することもなさ
れていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＤＣ
Ｔ、ＦＦＴなどの周波数展開を行ったり、１次微分特性
を調べるために大規模なハードウェアが必要とされると
いう問題があった。

【０００４】従って、この発明の目的は、画素差分を調
べることにより、１次微分や周波数展開などのための大
規模なハードウェアを必要とせずに、より簡単なハード
ウェアによって、エッジ判定を行うことができるディジ
タル画像信号処理装置および方法を提供することにあ
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、ディジタル化された画像データから画素が抽出され
る画素抽出手段と、抽出された注目画素と周辺画素との
差分が算出され、算出された差分を絶対値に変換し、最
大となる第１の差分絶対値を検出する第１の最大差分検
出手段と、第１の差分絶対値の反対方向の第２の差分絶
対値を検出する第２の最大差分検出手段と、第１および
第２の差分絶対値にに対してそれぞれしきい値判定を行
うことによって、エッジの有無とエッジの方向を検出す
るための比較手段とからなることを特徴とするディジタ
ル画像信号処理装置である。

【０００６】さらに、請求項２に記載のはめいは、ディ
ジタル画像信号をサンプリングし、サンプリングによっ
て画素数が減少された信号を受け取り、間引かれた画素
を補間するようにしたディジタル画像信号処理装置にお
いて、受け取ったディジタル画像信号中に存在する注目
画素の周辺画素に関して、エッジの有無を検出し、エッ
ジの有無と周辺画素のレベル分布とによって、注目画素
のクラスを決定するためのクラス分類手段と、入力ディ
ジタル画像信号中に含まれ、注目画素の近傍に複数の画
素の値と係数の線形一次結合によって、注目画素の値を
作成した時に、作成された値と注目画素の真値との誤差
を最小とするような係数をクラス毎に発生するための係
数発生手段と、係数と注目画素の近傍の複数の画素の値
との線形一次結合によって、注目画素の値を生成するた
めの演算手段とからなることを特徴とするディジタル画
像信号処理装置である。

【０００７】そして、請求項４に記載の発明は、ディジ
タル化された画像データから画素が抽出されるステップ
と、抽出された注目画素と周辺画素との差分が算出さ
れ、算出された差分を絶対値に変換し、最大となる第１
の差分絶対値を検出するステップと、第１の差分絶対値
の反対方向の第２の差分絶対値を検出するステップと、
第１および第２の差分絶対値にに対してそれぞれしきい
値判定を行うことによって、エッジの有無とエッジの方
向を検出するためのステップとからなることを特徴とす
るディジタル画像信号処理方法である。

【０００８】また、請求項５に記載の発明は、ディジタ
ル画像信号をサンプリングし、サンプリングによって画
素数が減少された信号を受け取り、間引かれた画素を補
間するようにしたディジタル画像信号処理方法におい
て、受け取ったディジタル画像信号中に存在する注目画
素の周辺画素に関して、エッジの有無を検出し、エッジ
の有無と周辺画素のレベル分布とによって、注目画素の
クラスを決定するためのステップと、入力ディジタル画
像信号中に含まれ、注目画素の近傍に複数の画素の値と
係数の線形一次結合によって、注目画素の値を作成した
時に、作成された値と注目画素の真値との誤差を最小と
するような係数をクラス毎に発生するためのステップ
と、係数と注目画素の近傍の複数の画素の値との線形一
次結合によって、注目画素の値を生成するためのステッ
プとからなることを特徴とするディジタル画像信号処理
方法である。

【０００９】ディジタル化された画像データの画素値の
差分を求め、それぞれの差分の組み合わせによって、エ
ッジ検出が行われるため、ハードウェアの軽減化を達成
できる。また、差分の絶対値が最大となる方向と反対方
向の差分の絶対値をしきい値と比較することによって、
エッジ検出の精度を向上することができる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施例につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。この発明が適用
できるＭＵＳＥデコーダの一例を図１に示す。１１で示
す入力端子からＭＵＳＥのベースバンド信号が供給さ
れ、供給されたベースバンド信号は、ＬＰＦ（ローパス
フィルタ）１２へ供給される。ＬＰＦ１２では、供給さ
れたベースバンド信号に対して、所定の帯域制限が施さ
れた後、Ａ／Ｄ変換回路１３によって、ディジタル化が
なされる。このＡ／Ｄ変換回路１３のサンプリング周波
数は、１６．２ＭHzを使用し、ディジタル化がなされ
る。

【００１１】ディジタル化がなされたベースバンド信号
から画像データがディエンファシス回路１４へ供給さ
れ、ディエンファシス回路１４によってディエンファシ
ス処理が施された後、逆γ補正（γ^-1）回路１５へ供給
され、逆γ補正がなされる。逆γ補正回路１５からの画
像データは、動き部分・動き量検出回路１８、フレーム
間内挿回路１９およびクラス分類適応補間回路２３へ供
給される。

【００１２】動き部分・動き量検出回路１８では、端子
１７から供給された画面全体の動きベクトルに基づい
て、供給された画像データの動き領域および動き量が検
出される。この動き部分・動き量検出回路１８で検出さ
れる動き領域および動き量は、混合（ＭＩＸ）回路２５
において、静止領域と動き領域との画素毎の混合比の基
準となるものである。検出された動き領域および動き量
は、混合回路２５へ供給される。

【００１３】画像データからの静止領域は、フレーム間
内挿回路１９により１フレーム前の画像データを使用し
たフレーム間内挿がなされる。但し、カメラのパニング
のように、画像の全体が動く時には、コントロール信号
として伝送される動きベクトルに応じて１フレーム前の
画像を動かして重ね合わせる処理がなされる。フレーム
間内挿回路１９の出力信号がＬＰＦ２０へ供給される。
ＬＰＦ２０では、供給された画像データに対して１２Ｍ
Hzの帯域制限が施され、周波数変換回路２１では、画像
データのサンプリング周波数が３２．４ＭHzから２４．
３ＭHzへ周波数変換される。フィールド間内挿回路２２
では、フレーム間内挿回路１９と同様に、１フィールド
前の画像データを使用したフィールド間内挿がなされ
る。フィールド間内挿回路２２の出力信号は、混合回路
２５へ供給される。

【００１４】画像データからの動き領域は、クラス分類
適応補間回路２３により、エッジデータと共に後述する
ように空間的内挿、すなわちフレーム内内挿またはフィ
ールド内内挿がなされる。クラス分類適応補間回路２３
の出力信号が周波数変換回路２４へ供給される。周波数
変換回路２４では、画像データのサンプリング周波数が
３２．４ＭHzから４８．６ＭHzへ周波数変換される。そ
の出力信号が混合回路２５へ供給される。この混合回路
２５は、動き部分・動き量検出回路１８からの信号に基
づいて、静止画像と動き画像の混合比が制御される。こ
の混合回路２５の出力信号は、図示しないがＴＣＩデコ
ーダに供給され、Ｙ、Ｐｒ、Ｐｂの各信号に分離され
る。さらに、Ｄ／Ａ変化され、逆マトリクス演算され、
γ補正がなされた後、Ｒ、Ｇ、Ｂ信号が得られる。

【００１５】ここで、この発明が適用されるクラス分類
適応補間回路２３の一例を図２に示す。入力端子３１か
ら画像データの動き領域が供給される。この画像データ
の動き領域は、上述したように逆γ補正回路１５から供
給されたものである。その動き領域は、レベル検出回路
３２および補間回路３６へ供給される。レベル検出回路
３２では、供給された動き領域、例えば３画素×３ライ
ン（以下、（３×３）ブロックと称する）毎のレベル分
布のパターンが検出される。ブロック毎のレベル分布の
パターンは、一例として（３×３）ブロックの各画素の
レベルを、例えばそのブロックの平均値と比較すること
によって２値化し、検出される。

【００１６】クラス作成回路３４では、端子３３から供
給されるエッジデータと、検出された（３×３）ブロッ
ク毎のレベル分布のパターンとからクラスが作成され
る。具体的には、この一例において、エッジデータは、
エッジ量（２ビット）、エッジの方向（３ビット）から
なり、レベル分布のパターン（９ビット）と共に合計１
４ビットでブロックのクラスが作成される。ここで、エ
ッジ量（２ビット）とは、検出されたエッジの方向に関
する差分値を段階的に分けたものであり、例えば`00'
はエッジ無し、 `01' は差分値が小、 `10' は差分値が
中、 `11' は差分値が大となる。これらの１４ビットか
らなるクラスがクラス作成回路３４から係数ＲＯＭ３５
へ供給される。

【００１７】係数ＲＯＭ３５では、供給されたクラスを
アドレスとして、そのアドレスに対応する係数データが
読み出される。この係数データは、後述するように予め
演算により求められている。読み出された係数データ
は、係数ＲＯＭ３５から補間回路３６へ供給される。補
間回路３６では、供給された係数データから補間データ
を作成するために、例えば線形一次結合式が用いられ、
空間内内挿、すなわちフレーム内内挿またはフィールド
内内挿が行われる。補間が行われた画像データは、出力
端子３７を介して周波数変換回路２４へ供給される。

【００１８】この発明によるディジタル画像信号処理装
置のエッジ検出回路の一実施例を図３に示す。４１で示
す入力端子からディジタル画像データが供給される。画
素抽出回路４２では、図４に示すように入力された画像
データに対して、各画素毎にａ〜ｈの８方向、すなわち
注目画素を中心として、例えば（３×３）ブロックの９
画素が抽出される。抽出された注目画素は、画素抽出回
路４２から差分検出回路４３ａ〜４３ｈへ供給され、注
目画素の周辺に位置する画素ａ〜画素ｈは、それぞれ差
分検出回路４３ａ〜４３ｈへ供給される。

【００１９】差分検出回路４３ａ〜４３ｈでは、注目画
素と画素ａ〜画素ｈの差分Δａ〜Δｈが検出され、その
差分Δａ〜Δｈは、差分検出回路４３ａ〜４３ｈから最
大差分検出回路４４へ供給される。この差分Δａは、注
目画素のレベルをＬｙとし、画素ａのレベルをＬａとす
ると Δａ＝Ｌｙ−Ｌａ（１）で求められる。差分Δｂ〜Δｈも、同様に注目画素ｙの
値から画素ｂ〜画素ｈの値をそれぞれ減算することによ
って得られる。

【００２０】最大差分検出回路４４では、差分検出回路
４３ａ〜４３ｈからの差分Δａ〜Δｈを絶対値に変換
し、｜Δａ｜〜｜Δｈ｜の中から最大となる差分とその
方向が求められる。求められた最大差分は、最大差分検
出回路４４からしきい値処理回路４６へ供給され、最大
差分の方向は、選択回路４５へ供給される。しきい値処
理回路４６では、図５Ａに示すように供給された最大差
分が設定されたしきい値Ｔ１を用いてエッジか否かが判
断され、しきい値Ｔ１より大きいと判断される（差分
Ａ）と、エッジであると判断され、しきい値Ｔ１より小
さいと判断される（差分Ｂ）と、エッジでないと判断さ
れる。選択回路４５では、最大差分検出回路４４からの
最大差分の方向と反対方向の差分が選択される。すなわ
ち、差分検出回路４３ａ〜４３ｈからの差分Δａ〜Δｈ
から最大差分の方向と反対方向の差分が選択され、しき
い値処理回路４７へ供給される。

【００２１】しきい値処理回路４７では、図５Ｂに示す
ように供給された差分が設定されたしきい値Ｔ２を用い
てエッジが否かが判断され、しきい値Ｔ２より大きいと
判断される（差分Ｃ）と、エッジでないと判断され、し
きい値Ｔ２より小さいと判断される（差分Ｄ）と、エッ
ジであると判断される。ただし、しきい値処理回路４６
において、エッジでないと判断されたものに関しては、
しきい値処理回路４７の判断結果と無関係にエッジでな
いものとする。エッジ検出回路４８では、しきい値処理
回路４６および４７からの判断結果が供給され、それら
の判断結果からエッジの有無、エッジの方向、差分量な
どがエッジデータとして検出される。検出されたエッジ
データは、出力端子４９から出力される。

【００２２】具体的には、例えば注目画素と画素ｃとの
｜Δｃ｜が最大差分とすると、その｜Δｃ｜が最大差分
検出回路４４からしきい値処理回路４６へ供給される。
さらに、その｜Δｃ｜の方向が最大差分検出回路４４か
ら選択回路４５へ供給される。選択回路４５では、画素
ｃと反対方向となる差分絶対値｜Δｇ｜がしきい値処理
回路４７へ供給される。しきい値処理回路４６では、供
給された｜Δｃ｜としきい値Ｔ１が比較され、しきい値
処理回路４７では、供給された｜Δｇ｜としきい値Ｔ２
が比較される。これらのしきい値処理回路４６および４
７の比較結果は、｜Δｃ｜がしきい値Ｔ１より大きく、
且つ｜Δｇ｜がしきい値Ｔ２より小さい場合、注目画素
と画素ｃの間にエッジがあると判断される。その他の場
合は、エッジでないと判断される。

【００２３】次に、上述した係数ＲＯＭ３５に記憶され
る係数データの学習方法の一例を図６のフローチャート
を用いて説明する。このフローチャートは、ステップＳ
１から学習処理の制御が始まり、ステップＳ１の学習デ
ータ形成では、既知の画像に対応した学習データが形成
される。フィールド内またはフレーム内の周辺画素の値
が学習データとして採用される。注目画素の真値と複数
の周辺画素の値とが一組の学習データである。

【００２４】ここで、周辺画素で構成されるブロックの
ダイナミックレンジが所定のしきい値より小さいもの
は、学習データとして扱わない制御がなされる。ダイナ
ミックレンジが小さいものは、ノイズの影響を受けやす
く、正確な学習結果が得られないおそれがあるからであ
る。ステップＳ２のデータ終了では、入力された全デー
タ、例えば１フレームのデータの処理が終了していれ
ば、ステップＳ５の予測係数決定へ制御が移り、終了し
ていなければ、ステップＳ３のクラス決定へ制御が移
る。

【００２５】ステップＳ３のクラス決定は、上述のよう
に、フィールド内またはフレーム内の所定の画素の値お
よびエッジデータに基づいたクラス決定がなされる。ス
テップＳ４の正規方程式生成では、後述する式（９）の
正規方程式が作成される。全データの処理が終了後、ス
テップＳ２のデータ終了から制御がステップＳ５に移
る。このステップＳ５の予測係数決定では、この正規方
程式を行列解法を用いて解いて、予測係数を決める。ス
テップＳ６の予測係数ストアで、予測係数をメモリにス
トアし、この学習のフローチャートが終了する。

【００２６】図６中のステップＳ４（正規方程式生成）
およびステップＳ５（予測係数決定）の処理をより詳細
に説明する。注目画素の真値をｙとし、その推定値をｙ
´とし、その周囲の画素の値をｘ₁〜ｘ_nとしたとき、
クラス毎に係数ｗ₁〜ｗ_nによるｎタップの線形１次結
合ｙ´＝ｗ₁ｘ₁＋ｗ₂ｘ₂＋・・・＋ｗ_nｘ_n （２）を設定する。学習前は、ｗ_iが未定係数である。

【００２７】上述のように、学習はクラス毎になされ、
データ数がｍの場合、式（２）は、式（３）で表され
る。ｙ_j´＝ｗ₁ｘ_j1＋ｗ₂ｘ_j2＋・・・＋ｗ_nｘ_jn （３）（但し、ｊ＝１，２，・・・，ｍ）

【００２８】ｍ＞ｎの場合、ｗ₁〜ｗ_nは、一意には決
まらないので、誤差ベクトルＥの要素をそれぞれの学習
データｘ_j1，ｘ_j2，・・・，ｘ_jn，ｙ_jにおける予測誤
差をｅ_jとして、次の式（４）のごとく定義する。ｅ_j＝ｙ_j−（ｗ₁ｘ_j1＋ｗ₂ｘ_j2＋・・・＋ｗ_nｘ_jn）（４）（但し、ｊ＝１，２，・・・，ｍ）次に、式（５）を最小にする係数を求め、最小自乗法に
おける最適な予測係数ｗ₁，ｗ₂，・・・，ｗ_nを決定
する。

【００２９】

【数１】

【００３０】すなわち、式（５）のｗ_iによる偏微分係
数を求めると、式（６）に示すようになる。式（６）で
（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）である。

【００３１】

【数２】

【００３２】式（６）を０にするように各ｗ_iを決めれ
ばよいから、

【００３３】

【数３】

【００３４】として、行列を用いると、

【００３５】

【数４】

【００３６】となる。この方程式は、一般に正規方程式
と呼ばれている。正規方程式は、丁度未知数がｎ個だけ
ある連立方程式である。これにより最確値たる各未定係
数ｗ₁，ｗ₂，・・・ｗ_nを求めることができる。具体
的には、一般的に式（９）の左辺の行列は、正定値対称
なので、コレスキー法という手法により式（９）の連立
方程式を解くことができ、未定係数ｗ_iが求まり、クラ
スコードをアドレスとして、この係数ｗ_iをメモリに格
納しておく。

【００３７】図７は、この発明によるエッジ抽出の他の
実施例を示すものである。他の実施例では、垂直方向お
よび斜め方向のエッジだけを求めるものである。すなわ
ち、斜め方向のエッジ１および３、垂直方向のエッジ２
を求める。まず、図７Ａに示すように、水平方向に関す
る２つの差分絶対値の内で大きい方の差分絶対値をしき
い値Ｔ１で比較し、そして図７Ｂに示すように、この２
つの水平方向を除いた６方向の差分絶対値の中で最小と
なるものを求め、その差分絶対値をしきい値Ｔ２と比較
することにより、垂直方向および斜め方向に限ったエッ
ジを検出することができる。

【００３８】具体的には、｜Δｃ｜および｜Δｇ｜から
大きい方がしきい値Ｔ１と比較される。その他の差分Δ
ａ、Δｂ、Δｄ、Δｅ、Δｆ、Δｈが絶対値に変換さ
れ、絶対値に変換されたこれらの差分絶対値の中から最
小となるものが求められ、その差分絶対値は、しきい値
Ｔ２と比較される。そして、それぞれの比較結果を用い
て垂直方向および斜め方向に限ったエッジが求められ
る。

【００３９】また、上述した一実施例は、入力された画
像データに対して、各画素毎に（３×３）ブロックの８
方向の差分絶対値を用いてエッジ抽出を行う方式であ
る。しかしながら、図８に示すように（５×５）ブロッ
クの画素を用いて、注目画素と画素ａ〜画素ｈとから最
大となる差分絶対値の反対方向の差分絶対値に代えて、
例えば注目画素と画素Ａ〜画素Ｈとから最大となる差分
絶対値の反対方向の差分絶対値を求め、その差分絶対値
をしきい値Ｔ２と比較することでエッジ抽出を行う方式
も可能である。また、注目画素と画素ａ〜画素ｈとから
最大となる差分絶対値の反対方向の差分絶対値と、注目
画素と画素Ａ〜画素Ｈとから最大となる差分絶対値の反
対方向の差分絶対値との和をしきい値Ｔ２と比較するこ
とでエッジ抽出を行う方式などを用いることも可能であ
る。

【００４０】さらに、上述した他の実施例は、しきい値
Ｔ１と比較される水平方向（画素ｃ、ｇ）に関する２つ
の差分絶対値を除いた６方向（画素ａ、ｂ、ｄ、ｅ、
ｆ、ｈ）の差分絶対値の中から最小となる差分絶対値が
求められ、その差分絶対値がしきい値Ｔ２と比較される
ことでエッジ抽出を行う方式である。しかしながら、注
目画素から同じ方向となる注目画素と画素ａの差分絶対
値と、注目画素と画素Ａの差分絶対値との和、同様に注
目画素と画素ｂ、ｄ、ｅ、ｆ、ｈのそれぞれの差分絶対
値と、注目画素と画素Ｂ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｈのそれぞれの
差分絶対値との和が求められ、求められた同じ方向の６
つの差分絶対値の和の中から最小となる差分絶対値の和
がしきい値Ｔ２と比較されることでエッジ抽出を行う方
式などを用いることも可能である。

【００４１】そして、この実施例において、注目画素と
周辺画素の差分絶対値の中から最大となる差分絶対値
と、その反対方向の差分絶対値とを用いてエッジ抽出を
行っているが、これはほんの一例であり、画素の方向と
は無関係に最大となる差分絶対値と、最小となる差分絶
対値とを求め上述のようにしきい値判定を行うことによ
り、エッジ抽出を行うことで、さらに精度を良くするこ
とができる。

【００４２】また、この実施例では、エッジの有無、エ
ッジの方向およびレベル分布のパターンからそのブロッ
クのクラスが作成されるが、エッジの有無とレベル分布
のパターンを用いてクラスを作成することも可能であ
り、またエッジの有無、エッジの方向、レベル分布のパ
ターンおよび差分量を用いてクラスを作成することも可
能である。

【００４３】

【発明の効果】この発明に依れば、クラス分類などの処
理を行うときに求める差分値でエッジ検出が行えるた
め、ハードウェアを軽減することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明が適用できるディジタル画像信号処理
装置の一例を示すブロック図である。

【図２】この発明が適用できるクラス分類適応補間回路
の一例を示すブロック図である。

【図３】この発明のディジタル画像信号処理装置のエッ
ジ検出の一実施例を示すブロック図である。

【図４】この発明のエッジ検出回路の説明に用いる略線
図である。

【図５】この発明のエッジ検出回路の説明に用いる略線
図である。

【図６】この発明が適用できるクラス分類適応補間回路
の係数ＲＯＭの学習の一例の説明に用いるフローチャー
トである。

【図７】この発明のエッジ検出回路の他の例の説明に用
いる略線図である。

【図８】この発明のエッジ検出回路の他の例の説明に用
いる略線図である。

【符号の説明】４２画素抽出回路４３差分検出回路４４最大差分検出回路４５選択回路４６、４７しきい値処理回路４８エッジ検出回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディジタル化された画像データから画素
が抽出される画素抽出手段と、抽出された注目画素と周辺画素との差分が算出され、算
出された差分を絶対値に変換し、最大となる第１の差分
絶対値を検出する第１の最大差分検出手段と、上記第１の差分絶対値の反対方向の第２の差分絶対値を
検出する第２の最大差分検出手段と、上記第１および第２の差分絶対値にに対してそれぞれし
きい値判定を行うことによって、エッジの有無とエッジ
の方向を検出するための比較手段とからなることを特徴
とするディジタル画像信号処理装置。
【請求項２】ディジタル画像信号をサンプリングし、
上記サンプリングによって画素数が減少された信号を受
け取り、上記間引かれた画素を補間するようにしたディ
ジタル画像信号処理装置において、受け取ったディジタル画像信号中に存在する注目画素の
周辺画素に関して、エッジの有無を検出し、上記エッジ
の有無と上記周辺画素のレベル分布とによって、上記注
目画素のクラスを決定するためのクラス分類手段と、上記入力ディジタル画像信号中に含まれ、上記注目画素
の近傍に複数の画素の値と係数の線形一次結合によっ
て、上記注目画素の値を作成した時に、作成された値と
上記注目画素の真値との誤差を最小とするような係数を
上記クラス毎に発生するための係数発生手段と、上記係数と上記注目画素の近傍の複数の画素の値との線
形一次結合によって、注目画素の値を生成するための演
算手段とからなることを特徴とするディジタル画像信号
処理装置。
【請求項３】請求項１または請求項２に記載のディジ
タル画像信号処理装置において、上記第２の最大差分検出手段において、抽出された上記
注目画素と、上記周辺画素および／または上記周辺画素
と異なる周辺画素との差分とその方向が求められ、求め
られた上記差分を絶対値に変換し、最大となる第１の差
分絶対値の反対方向の第２の差分絶対値を検出すること
を特徴とするディジタル画像信号処理装置。
【請求項４】ディジタル化された画像データから画素
が抽出されるステップと、抽出された注目画素と周辺画素との差分が算出され、算
出された差分を絶対値に変換し、最大となる第１の差分
絶対値を検出するステップと、上記第１の差分絶対値の反対方向の第２の差分絶対値を
検出するステップと、上記第１および第２の差分絶対値にに対してそれぞれし
きい値判定を行うことによって、エッジの有無とエッジ
の方向を検出するためのステップとからなることを特徴
とするディジタル画像信号処理方法。
【請求項５】ディジタル画像信号をサンプリングし、
上記サンプリングによって画素数が減少された信号を受
け取り、上記間引かれた画素を補間するようにしたディ
ジタル画像信号処理方法において、受け取ったディジタル画像信号中に存在する注目画素の
周辺画素に関して、エッジの有無を検出し、上記エッジ
の有無と上記周辺画素のレベル分布とによって、上記注
目画素のクラスを決定するためのステップと、上記入力ディジタル画像信号中に含まれ、上記注目画素
の近傍に複数の画素の値と係数の線形一次結合によっ
て、上記注目画素の値を作成した時に、作成された値と
上記注目画素の真値との誤差を最小とするような係数を
上記クラス毎に発生するためのステップと、上記係数と上記注目画素の近傍の複数の画素の値との線
形一次結合によって、注目画素の値を生成するためのス
テップとからなることを特徴とするディジタル画像信号
処理方法。