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JPH09148420A - Electrostatic adsorption electrode and method of manufacturing the same - Google Patents

Electrostatic adsorption electrode and method of manufacturing the same

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Publication number
JPH09148420A
JPH09148420A JP24753796A JP24753796A JPH09148420A JP H09148420 A JPH09148420 A JP H09148420A JP 24753796 A JP24753796 A JP 24753796A JP 24753796 A JP24753796 A JP 24753796A JP H09148420 A JPH09148420 A JP H09148420A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
electrostatic attraction
insulating film
film
recess
Prior art date
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Granted
Application number
JP24753796A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3225850B2 (en
Inventor
Nushito Takahashi
主人 高橋
Yoichi Ito
陽一 伊藤
Saburo Kanai
三郎 金井
Seiichiro Sugano
誠一郎 菅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH09148420A publication Critical patent/JPH09148420A/en
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ウエハの大口径化に対応した静電吸着電極を精
度良くかつ容易に製作できるようにする。 【解決手段】第1の電極11に第2の電極12を嵌合す
る凹部を設け、その凹部に絶縁膜13を形成し、該凹部
に第2の電極12をはめ込んで固定し、第1及び第2の
電極面が同一平面となるように加工して、その上に溶射
にて静電吸着膜14を形成し、溶射による静電吸着膜1
4を所定の厚さとなるように研磨する。これにより、大
口径ウエハ9に容易に対応することができる。
(57) [PROBLEMS] To make it possible to accurately and easily manufacture an electrostatic attraction electrode corresponding to an increase in diameter of a wafer. A first electrode (11) is provided with a recess for fitting a second electrode (12), an insulating film (13) is formed in the recess, and the second electrode (12) is fitted and fixed in the recess to form the first and second electrodes. The second electrode surface is processed so as to be coplanar, and the electrostatic adsorption film 14 is formed thereon by thermal spraying. The electrostatic adsorption film 1 formed by thermal spraying is formed.
4 is ground to a predetermined thickness. Thereby, it is possible to easily deal with the large diameter wafer 9.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は静電吸着電極及びそ
の製作方法に係り、特にウエハ等の半導体基板(以下、
「基板」と略)を真空処理,プラズマ処理または熱処理
等する際に、静電気力を利用して試料台に基板を保持す
るのに好適な静電吸着電極および製作方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrostatic attraction electrode and a method for manufacturing the same, and more particularly to a semiconductor substrate such as a wafer (hereinafter referred to as a semiconductor substrate).
The present invention relates to an electrostatic adsorption electrode suitable for holding a substrate on a sample stage by utilizing electrostatic force when performing vacuum treatment, plasma treatment, heat treatment, or the like on a “substrate” and a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、基板処理装置に用いられる静電吸
着電極としては、基板を吸着する電極に負の高電圧を印
加し、基板からプラズマを介してアースに接地する回路
を構成した、いわゆるモノポール電極と称するタイプの
ものが主流であった。例えば、特開平6−216224
号公報に記載の静電チャックが挙げられる。モノポール
電極は静電吸着回路が簡単になるといった長所や印加さ
れる静電吸着電位が基板で一定であるといった特徴があ
る。反面、吸着除電操作がプラズマが発生していないと
出来ないといった短所がある。また、特開平6−216
224号公報に記載の静電チャックでは、電極ブロック
に静電吸着材となるセラミック板を低温ロウ付けにて接
合している。静電吸着用のセラミックはあまり厚いと吸
着力が発生しないので、所定の薄さに仕上げる必要があ
る。該静電チャックではセラミックを電極ブロックに接
着後、研磨して所定の厚さに仕上げる方法を取ってい
る。また、モノポール電極を用いた静電吸着電極とし
て、例えば特開平6−275708号公報に記載の静電
チャックが挙げられる。該公報に記載の静電チャック
は、アルミニウム等の金属からなるサセプタ(ブロッ
ク)の上に絶縁膜を介して静電吸着膜を接着する方法に
より製作されている。この方法は、静電吸着膜を例えば
抵抗率が特定の範囲にあるSiC等で製作している。ま
た、ウエハ吸着面に相当する部分を一体物として製作し
ている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an electrostatic attraction electrode used in a substrate processing apparatus, a so-called circuit having a structure in which a negative high voltage is applied to an electrode for attracting a substrate and the substrate is grounded via a plasma to a so-called The type called a monopole electrode was the mainstream. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 6-216224
The electrostatic chuck described in Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2003-242242 is exemplified. The monopole electrode has the advantage that the electrostatic attraction circuit is simple and that the applied electrostatic attraction potential is constant on the substrate. On the other hand, there is a disadvantage that the adsorption charge removal operation cannot be performed unless plasma is generated. In addition, JP-A-6-216
In the electrostatic chuck described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 224, a ceramic plate serving as an electrostatic adsorption material is bonded to the electrode block by low temperature brazing. If the electrostatic chucking ceramic is too thick, it will not generate a chucking force, so it must be finished to a predetermined thickness. The electrostatic chuck employs a method in which ceramic is adhered to an electrode block and then ground to a predetermined thickness. Further, as an electrostatic attraction electrode using a monopole electrode, for example, an electrostatic chuck described in JP-A-6-275708 can be cited. The electrostatic chuck described in this publication is manufactured by a method of adhering an electrostatic adsorption film on a susceptor (block) made of a metal such as aluminum via an insulating film. In this method, the electrostatic adsorption film is made of, for example, SiC whose resistivity is within a specific range. In addition, the portion corresponding to the wafer suction surface is manufactured as an integral body.

【0003】また、これと同様に考えられるものとして
特開平6−260449号公報に記載のプラズマ処理装
置に用いられる静電チャックがある。
An electrostatic chuck used in the plasma processing apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-260449 is considered as a similar one.

【0004】また、いわゆるダイポール電極と称するタ
イプの電極は、正負の電極を静電吸着すべき基板面内に
有し、プラズマの有無にかかわらず吸着徐電出来るとい
った長所がある。ダイポール電極を用いた静電吸着電極
としては、例えば、USP5,055,964号明細書
に記載の静電チャックが挙げられる。該公報に記載の静
電チャックは、電極内に他方の電極を設けたタイプのも
のである。テーパ状の凹部を有した第1電極と該凹部に
収容される第2の電極と接合して形成され、第1電極お
よび第2電極ともに単一の導体ブロックから製造されて
いる。第1電極と第2電極とを接合した後、組み立てら
れたチャックの頂部表面に機械加工を施し、最終的な寸
法および平滑度,平面度が与えられる。チャック頂部表
面には、陽極酸化処理等の方法で絶縁材が形成される。
An electrode of the so-called dipole electrode has positive and negative electrodes on the surface of the substrate to be electrostatically adsorbed, and has an advantage that it can be adsorbed and slowly charged regardless of the presence or absence of plasma. An electrostatic chuck electrode using a dipole electrode is, for example, an electrostatic chuck described in US Pat. No. 5,055,964. The electrostatic chuck described in this publication is of a type in which the other electrode is provided inside the electrode. It is formed by joining a first electrode having a tapered recess and a second electrode housed in the recess, and both the first electrode and the second electrode are manufactured from a single conductor block. After joining the first and second electrodes, the top surface of the assembled chuck is machined to provide final dimensions, smoothness, and flatness. An insulating material is formed on the chuck top surface by a method such as anodizing.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】静電チャックは、ウエ
ハが大型化、すなわち、6インチから8インチ、さらに
12インチへと大型化すると電極温度によっては静電吸
着膜と電極ブロックとの熱膨張差が問題になったり、大
きな静電吸着膜の製作が難しいといった点が問題とな
る。例えば、特開平6−216224号公報に記載のセ
ラミック板を取り扱う際、ある程度の厚み、すなわち、
強度がないと接着等の取扱いが困難になるという問題が
ある。また、静電吸着膜を溶射により形成する場合は、
上記の問題は少ないと考えられるが、焼結材に比較して
溶射膜は耐電圧が低いといった点や、静電吸着に必要な
誘電率、電気抵抗値などの物性値を制御することが焼結
材に比較して難しいという問題がある。さらに、静電吸
着膜の厚さはウエハが大口径化しても変わらず、薄い静
電吸着膜としなければならないのでその取扱いが非常に
難しく、ウエハが大口径化された場合、焼結体で静電吸
着膜を作製するのが困難となる。すなわち、静電吸着膜
となる焼結体の大きさに比べその厚さが薄くなるので、
わずかな熱歪によって割れが生じたり、強度的に取扱い
が難しくなる。
In the electrostatic chuck, when the wafer becomes large, that is, from 6 inches to 8 inches, and further to 12 inches, the thermal expansion of the electrostatic adsorption film and the electrode block depends on the electrode temperature. The difference is a problem, and it is difficult to manufacture a large electrostatic adsorption film. For example, when handling the ceramic plate described in JP-A-6-216224, a certain thickness, that is,
If there is no strength, there is a problem that handling such as adhesion becomes difficult. Also, when forming the electrostatic adsorption film by thermal spraying,
Although it is considered that the above problems are few, it is difficult to control the physical properties such as the dielectric constant and electric resistance required for electrostatic adsorption because the sprayed film has a lower withstand voltage than the sintered material. There is a problem that it is more difficult than binding material. Furthermore, the thickness of the electrostatic adsorption film does not change even if the diameter of the wafer increases, and it is very difficult to handle because it must be a thin electrostatic adsorption film. It becomes difficult to manufacture the electrostatic adsorption film. That is, since the thickness is smaller than the size of the sintered body that becomes the electrostatic adsorption film,
Cracking occurs due to slight thermal strain, and handling becomes difficult in terms of strength.

【0006】本発明の第1の目的は、これら課題を解決
し大口径ウエハに容易に対応可能な静電吸着電極及びそ
の製作方法を提供することにある。本発明の第2の目的
は、大口径ウエハに対応し電極の大きさを精度良くかつ
容易に製作でき、しかも電極上の絶縁膜の管理を容易に
実施できる静電吸着電極およびその製作方法を提供する
ことにある。
A first object of the present invention is to provide an electrostatic attraction electrode which can solve these problems and can easily cope with a large-diameter wafer, and a manufacturing method thereof. A second object of the present invention is to provide an electrostatic attraction electrode and a method for producing the electrostatic attraction electrode, which can be used for a large-diameter wafer, can accurately and easily manufacture the electrode size, and can easily manage the insulating film on the electrode. To provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の目的は、
電極を第1の電極と第2の電極に分離し、第1の電極の
一部に凹部を設け、その凹部に絶縁膜を形成して第2の
電極を挿入・固定し、両電極の表面を平坦に加工して、
その上に溶射により静電吸着用の絶縁膜を形成し、最終
的に所定の膜厚に加工することにより、達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION A first object of the present invention is to:
The electrode is separated into a first electrode and a second electrode, a recess is provided in a part of the first electrode, an insulating film is formed in the recess, and the second electrode is inserted and fixed, and the surfaces of both electrodes Is processed flat,
This is achieved by forming an insulating film for electrostatic adsorption on it by thermal spraying and finally processing it to a predetermined film thickness.

【0008】本発明の第2の目的は、電極ブロック上に
静電吸着部材である静電吸着焼結体を複数に分割して配
置し、静電吸着部材を電極ブロック上に接着あるいは機
械的に固定し、静電吸着部材が固定された電極ブロック
上に絶縁材の皮膜を溶射により形成し、絶縁材の皮膜が
形成された電極ブロック上面を研磨し静電吸着部材面を
露出させることにより、達成される。
A second object of the present invention is to dispose an electrostatic adsorption sintered body, which is an electrostatic adsorption member, on an electrode block in a divided manner, and to bond the electrostatic adsorption member to the electrode block by mechanical or mechanical bonding. By spraying a film of an insulating material on the electrode block to which the electrostatic adsorption member is fixed, and polishing the upper surface of the electrode block on which the insulating material film is formed to expose the surface of the electrostatic adsorption member. Is achieved.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】第1の電極の一部に凹部を設け
る。その凹部に絶縁膜を形成して第2の電極を挿入・固
定する。これにより、第1,第2両電極表面を機械加工
できるので、電極表面を平坦に加工でき電極の製作が容
易となる。しかも高精度に製作できるので、加工後の両
電極表面上に溶射により静電吸着用の絶縁膜を形成する
ことによって、静電吸着用の絶縁膜の膜厚も高精度にな
り、静電吸着特性の管理も容易に行うことが可能とな
る。これにより、一体物の静電吸着膜におけるウエハの
大口径化に伴う製作の難しさは解決される。また、静電
吸着部材を物性値が比較的安定している焼結体とするこ
とにより、耐電圧不足は解消される。また、小さい複数
の焼結体の板材で構成する。これを静電吸着面となるよ
うに電極ブロック上に配置し、ロウ付け等で接着する。
次に、焼結体を固定した電極ブロック上に耐電圧の高い
アルミナなどの絶縁材を溶射によって成膜する。その
後、焼結体が露出し所定の厚さになるまで研磨する。こ
のようにして静電吸着電極を製作するので、静電吸着面
は焼結体で形成でき、その他の部分は耐電圧の高い溶射
膜で形成できる。これにより、焼結体の物性値で静電吸
着特性を決定でき、小さな部材の焼結体の組み合わせに
より静電吸着面を形成できるので、一体物の静電吸着膜
の製作に対しウエハの大口径化に伴う製作の難しさは解
決される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A recess is provided in a part of a first electrode. An insulating film is formed in the recess and the second electrode is inserted and fixed. As a result, the surfaces of both the first and second electrodes can be machined, so that the surfaces of the electrodes can be machined flat and the electrodes can be easily manufactured. Moreover, since it can be manufactured with high precision, the film thickness of the electrostatic adsorption insulating film can be made highly accurate by forming the electrostatic adsorption insulating film on the surfaces of both electrodes after processing by spraying. It becomes possible to easily manage the characteristics. As a result, the difficulty of manufacturing due to the increase in the diameter of the wafer in the electrostatic attraction film of the one body is solved. Further, by using a sintered body having relatively stable physical properties as the electrostatic attraction member, insufficient withstand voltage can be eliminated. Further, it is composed of a plurality of small sintered plate members. This is placed on the electrode block so as to become the electrostatic attraction surface, and is bonded by brazing or the like.
Next, an insulating material such as alumina having a high withstand voltage is formed on the electrode block to which the sintered body is fixed by thermal spraying. Then, polishing is performed until the sintered body is exposed and has a predetermined thickness. Since the electrostatic attraction electrode is manufactured in this manner, the electrostatic attraction surface can be formed of a sintered body, and the other portions can be formed of a sprayed film having a high withstand voltage. As a result, the electrostatic adsorption characteristics can be determined by the physical properties of the sintered body, and the electrostatic adsorption surface can be formed by combining the sintered bodies of small members. The difficulty of manufacturing due to the caliber is solved.

【0010】以下、本発明の一実施例を図1ないし図9
を用いて説明する。図1は、本発明の一実施例である静
電吸着電極を用いた基板処理装置の一例を示したもので
ある。基板処理装置としては、例えば、エッチング装
置,成膜装置等プラズマを用いたプラズマ処理装置やイ
オン注入装置等の真空処理装置がある。この場合は、プ
ラズマ処理装置を例に説明する。内部にプラズマ5を発
生させられる真空容器1には、ガス供給装置2および真
空排気装置3が接続され、プラズマ発生装置4が設けら
れている。真空容器1内には、プラズマ5により処理さ
れる試料、例えば、半導体素子基板であるウエハや液晶
基板等の基板9が配置される試料台が設けられている。
試料台は、静電吸着電極10を用いて構成されている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows an example of a substrate processing apparatus using an electrostatic attraction electrode according to an embodiment of the present invention. Examples of the substrate processing apparatus include a plasma processing apparatus using plasma such as an etching apparatus and a film forming apparatus, and a vacuum processing apparatus such as an ion implantation apparatus. In this case, a plasma processing apparatus will be described as an example. A gas supply device 2 and a vacuum exhaust device 3 are connected to a vacuum container 1 in which a plasma 5 is generated, and a plasma generation device 4 is provided. In the vacuum chamber 1, a sample stage on which a sample to be processed by the plasma 5, for example, a substrate 9 such as a semiconductor element substrate such as a wafer or a liquid crystal substrate, is provided.
The sample table is configured using the electrostatic attraction electrode 10.

【0011】静電吸着電極10は、この場合、電極1
1,電極12,絶縁膜13および絶縁膜14から成る。
電極11は、内部に冷媒流路21が形成されるとともに
上面にリング状の凹部が形成されている。電極12はリ
ング状に形成されている。電極11および12は、アル
ミニウム合金などの導電材料で製作される。電極11の
上面の凹部には、絶縁膜13を介して電極12が嵌合さ
れて固定される。絶縁膜13は電極11と電極12の間
にあり、両者を直流的に絶縁する。電極11と電極12
の表面には、静電吸着用の絶縁膜14が形成される。ま
た、電極11には電圧印加のためのリード線18が接続
されている。電極12には電圧印加用のリード線19が
接続される。リード線19は電極11に設けられた絶縁
管15により形成される貫通孔を通して接続される。リ
ード線19と電極11とは絶縁管7によって電気的に絶
縁される。リード線18および19は静電吸着用電源8
に接続される。電極11と電極12とは電気的に絶縁さ
れているので、静電吸着用電源8によって正負の電圧を
印加することによって電極11,12の上面に基板9を
静電吸着することが可能となる。また、電極12へのリ
ード線19の接続は、図示していないが電極12に雌ネ
ジを形成し、リード線19の先端に雄ネジを形成して、
電極12とリード線19とをボルト締結することも容易
に実施できる。これは、電極11とリード線18との接
続においても同様である。
In this case, the electrostatic adsorption electrode 10 is the electrode 1.
1, an electrode 12, an insulating film 13 and an insulating film 14.
The electrode 11 has a coolant passage 21 formed therein and a ring-shaped recess formed on the upper surface. The electrode 12 is formed in a ring shape. The electrodes 11 and 12 are made of a conductive material such as an aluminum alloy. The electrode 12 is fitted and fixed in the recess of the upper surface of the electrode 11 with the insulating film 13 interposed therebetween. The insulating film 13 is located between the electrode 11 and the electrode 12, and insulates both from each other. Electrode 11 and electrode 12
An insulating film 14 for electrostatic attraction is formed on the surface of the. A lead wire 18 for applying a voltage is connected to the electrode 11. A lead wire 19 for voltage application is connected to the electrode 12. The lead wire 19 is connected through a through hole formed by an insulating tube 15 provided on the electrode 11. The lead wire 19 and the electrode 11 are electrically insulated by the insulating tube 7. The leads 18 and 19 are the electrostatic attraction power source 8
Connected to. Since the electrodes 11 and 12 are electrically insulated from each other, it is possible to electrostatically adsorb the substrate 9 on the upper surfaces of the electrodes 11 and 12 by applying positive and negative voltages by the electrostatic adsorption power supply 8. . The lead wire 19 is connected to the electrode 12 by forming a female screw on the electrode 12 and forming a male screw on the tip of the lead wire 19, although not shown.
The electrode 12 and the lead wire 19 can be easily bolted together. This also applies to the connection between the electrode 11 and the lead wire 18.

【0012】また、電極11の中央には、絶縁管が設置
された貫通孔20が設けられている。貫通孔20は、静
電吸着したウエハ裏面へ伝熱ガスを導入する際に使用さ
れる。静電吸着用の絶縁膜14は、この場合、溶射によ
り形成され、最後に研磨仕上げを行って平坦且つ所定の
膜厚状態に加工される。溶射による絶縁膜14を用いれ
ば、予め電極表面に機械加工を施しくぼみ(図示省略)
を形成しておくことで、絶縁膜14の形成後の電極11
あるいは電極12の表面に容易に溝を形成することがで
きる。これにより、電極表面にガス分散溝を設ける電極
設計が容易になる。電極表面へのガス分散溝は、処理さ
れる基板の温度制御のための基板裏面への伝熱ガス(例
えば、ヘリウムガス)の供給や、基板温度分布の均一化
のための伝熱特性を調整するために設けられる。
Further, a through hole 20 in which an insulating tube is installed is provided at the center of the electrode 11. The through hole 20 is used when introducing the heat transfer gas to the back surface of the electrostatically adsorbed wafer. In this case, the insulating film 14 for electrostatic attraction is formed by thermal spraying, and is finally polished to be processed into a flat and predetermined thickness state. If the insulating film 14 formed by thermal spraying is used, the surface of the electrode is machined in advance to form depressions (not shown).
By forming the electrode 11, the electrode 11 after the formation of the insulating film 14 is formed.
Alternatively, the groove can be easily formed on the surface of the electrode 12. This facilitates electrode design in which gas dispersion grooves are provided on the electrode surface. The gas distribution groove on the electrode surface adjusts the heat transfer characteristics to supply the heat transfer gas (for example, helium gas) to the back surface of the substrate for controlling the temperature of the substrate to be processed and to make the substrate temperature distribution uniform. It is provided to do.

【0013】静電吸着電極10の真空容器1低面への取
付は、アース板24により行われる。アース板24には
絶縁板23を介して電極11が取り付けられている。中
央に設けられたガス供給用の貫通孔20への伝熱ガスが
漏れないように各接続部はシールされ、電極11,絶縁
板23およびアース板24はボルト(図示省略)で締め
付けて固定されている。電極11の外側周囲にはカバー
22が設置されている。カバー22は、外周部に向かっ
て滑らかに傾斜している。したがって、上方からプラズ
マ中のイオン照射を受けた場合に陰になる部分がない。
そのため、プラズマエッチング等の処理を行った際に発
生する反応生成物がカバー22に堆積しても、クリーニ
ング用のプラズマ中に曝すことにより容易に除去でき
る。したがって、異物低減も容易に行うことが出来る。
The electrostatic attraction electrode 10 is attached to the lower surface of the vacuum container 1 by a ground plate 24. The electrode 11 is attached to the ground plate 24 via the insulating plate 23. Each connection part is sealed so that the heat transfer gas does not leak to the through hole 20 for gas supply provided in the center, and the electrode 11, the insulating plate 23 and the ground plate 24 are fixed by tightening with bolts (not shown). ing. A cover 22 is installed around the outside of the electrode 11. The cover 22 is smoothly inclined toward the outer peripheral portion. Therefore, there is no shaded part when the ions in the plasma are irradiated from above.
Therefore, even if a reaction product generated when performing a process such as plasma etching accumulates on the cover 22, it can be easily removed by exposing the reaction product to plasma for cleaning. Therefore, foreign substances can be easily reduced.

【0014】さらに、電極11には、静電吸着用電源と
共にバイアス電源7が接続されている。バイアス電源7
は、高周波バイアス電圧を電極11に印加するが、電極
11とアース板24との間で異常放電を発生しないよう
に、電極11,絶縁板23およびアース板24の直径を
変えて、電極11とアース板24の両者が直接に見えな
いようにしてある。これによって、電極11の外周部に
別の絶縁部材を設ける必要がなく、カバー22が兼用し
ている。
Further, a bias power supply 7 is connected to the electrode 11 together with a power supply for electrostatic attraction. Bias power supply 7
Applies a high-frequency bias voltage to the electrode 11, but changes the diameters of the electrode 11, the insulating plate 23, and the ground plate 24 so that abnormal discharge does not occur between the electrode 11 and the ground plate 24. Both of the ground plates 24 are not directly visible. As a result, it is not necessary to provide another insulating member on the outer peripheral portion of the electrode 11, and the cover 22 also serves.

【0015】なお、図1に示した基板16の温度制御
は、電極11に設けられた冷媒流路21に流す冷媒の温
度によってコントロールされる。すなわち、冷媒の温度
によって電極11が温度制御され、絶縁膜14および伝
熱ガスを介して基板9の温度がコントロールされる。こ
の場合、冷媒流路21は電極11にのみ設けてあるが、
絶縁膜13を介する熱伝導によって電極12も温度制御
される。したがって、冷媒は電極12へ供給する必要は
ない。これにより、冷媒流路21は電極11へ設けるだ
けで十分であり、機構的にも簡略化できる。なお、本実
施例では、基板の受け渡し機構部などは省略した。
The temperature control of the substrate 16 shown in FIG. 1 is controlled by the temperature of the coolant flowing through the coolant passage 21 provided in the electrode 11. That is, the temperature of the electrode 11 is controlled by the temperature of the coolant, and the temperature of the substrate 9 is controlled via the insulating film 14 and the heat transfer gas. In this case, the coolant channel 21 is provided only in the electrode 11,
The temperature of the electrode 12 is also controlled by heat conduction through the insulating film 13. Therefore, the refrigerant need not be supplied to the electrode 12. Thereby, it is sufficient to provide the coolant channel 21 to the electrode 11, and the mechanism can be simplified. In this embodiment, the substrate transfer mechanism and the like are omitted.

【0016】このように構成された静電吸着電極を製作
する方法を以下に示す。まず、図2に示す電極11を製
作する。電極11には、予め電極12を嵌合するための
くぼみ、すなわち、凹部が設けられる。該くぼみには絶
縁膜13が形成される。絶縁膜13は、この場合、溶射
にて形成し、電極11と電極12との電気的絶縁を図る
ために絶縁性に優れたアルミナ100%の溶射膜として
ある。図3は図2を立体的に示した図である。絶縁膜1
3の一部には絶縁管15の貫通孔につながる孔が設けら
れる。また、電極11の中央には、貫通孔20が設けら
れ、伝熱ガスの供給孔を形成する。
A method of manufacturing the electrostatic attraction electrode having the above structure will be described below. First, the electrode 11 shown in FIG. 2 is manufactured. The electrode 11 is previously provided with a recess for fitting the electrode 12, that is, a recess. An insulating film 13 is formed in the depression. In this case, the insulating film 13 is formed by thermal spraying, and is a 100% alumina thermal sprayed film having excellent insulating properties in order to electrically insulate the electrodes 11 and 12 from each other. FIG. 3 is a three-dimensional view of FIG. Insulating film 1
A hole connected to the through hole of the insulating pipe 15 is provided in a part of 3. A through hole 20 is provided in the center of the electrode 11 to form a heat transfer gas supply hole.

【0017】なお、図2,3に示された絶縁膜13は溶
射によって形成する実施例を示したが、他の絶縁膜の形
成方法として、次のようにしても良い。電極11と電極
12との対向面に位置する絶縁膜をアルミナ等の絶縁材
料によって置き換える。その一例を図4に示す。低面部
を絶縁板131とし、外側側面を絶縁リング132と
し、内側側面を絶縁リング133として、電極11と電
極12との間の電気的絶縁を確保する。絶縁板131に
は、リード線19を通すために絶縁管15に対応して孔
16が設けてある。絶縁板131,絶縁リング132お
よび133は、図4に示したように別々の部品により構
成しても良いし、また、図5に示すように一体で製作し
ても良い。図2に示した電極11のくぼみに嵌合させる
電極12を図6に示す。リング状に形成した電極12は
これまで述べた図3,4,5に示した絶縁膜および絶縁
材を用いる場合に使用される。なお、図2,3では、電
極11に絶縁膜13を設けたが、電極12に絶縁膜を設
けても良い。図7は電極12側に絶縁膜135を設けた
例を示す。絶縁膜135は電極12の底面および両側面
に溶射して設けられる。
Although the insulating film 13 shown in FIGS. 2 and 3 has been shown as an example in which it is formed by thermal spraying, another method for forming an insulating film may be as follows. The insulating film located on the opposing surface of the electrodes 11 and 12 is replaced with an insulating material such as alumina. An example is shown in FIG. The lower surface portion is the insulating plate 131, the outer side surface is the insulating ring 132, and the inner side surface is the insulating ring 133 to ensure electrical insulation between the electrodes 11 and 12. The insulating plate 131 is provided with holes 16 corresponding to the insulating tubes 15 for passing the lead wires 19. The insulating plate 131 and the insulating rings 132 and 133 may be composed of separate parts as shown in FIG. 4, or may be integrally manufactured as shown in FIG. FIG. 6 shows an electrode 12 fitted into the recess of the electrode 11 shown in FIG. The ring-shaped electrode 12 is used when the insulating film and the insulating material shown in FIGS. Although the electrode 11 is provided with the insulating film 13 in FIGS. 2 and 3, the electrode 12 may be provided with an insulating film. FIG. 7 shows an example in which an insulating film 135 is provided on the electrode 12 side. The insulating film 135 is provided by thermal spraying on the bottom surface and both side surfaces of the electrode 12.

【0018】次に、電極11と電極12とを嵌合した状
態を図8に示す。絶縁膜13の膜厚がミクロンオーダー
で製作されている場合は別として、通常の加工精度で製
作した電極11と電極12との上面は同一平面内になる
とは限らない。図8に一点鎖線で示した研磨面まで加工
することで、電極11と電極12との上面が同一平面内
で平坦化される。次に、図9に示すように研磨面の上か
ら静電吸着用の絶縁膜を溶射にて形成する。最後に吸着
用絶縁膜が所定の厚さとなるように最終研磨して完成す
る。
Next, FIG. 8 shows a state in which the electrodes 11 and 12 are fitted together. Aside from the case where the film thickness of the insulating film 13 is manufactured on the order of microns, the upper surfaces of the electrode 11 and the electrode 12 manufactured with normal processing accuracy are not always in the same plane. By processing up to the polishing surface indicated by the alternate long and short dash line in FIG. 8, the upper surfaces of the electrode 11 and the electrode 12 are flattened in the same plane. Next, as shown in FIG. 9, an insulating film for electrostatic adsorption is formed on the polished surface by thermal spraying. Finally, final polishing is performed so that the insulating film for adsorption has a predetermined thickness to complete.

【0019】以上述べたように、本実施例によれば、電
極面を研磨加工することで、それぞれの電極上面が同一
平面内で平坦化され、該平坦化された電極面上に絶縁膜
を溶射し、該絶縁膜を所定の厚さに最終研磨するので、
電極の大きさを精度良くかつ容易に製作でき、しかも電
極上の絶縁膜の管理を容易に実施できる。これにより、
大口径の電極も精度良く容易に製作することができる。
高精度の静電吸着電極を容易に製作できるので、静電吸
着特性が安定するといった効果がある。また、機械加工
により各部品を製作できるので、製作費が安価になると
いった効果もある。さらに、電極へのリード線の接続方
法がボルト締結法を利用できるため、確実で組み立て性
に優れるといった効果もある。また、電極表面の形状も
容易に機械加工にて製作できるため、基板温度設計のた
めの基板裏面ガス(ヘリウムガス)の流路を自由に設計
できるといった効果もある。さらに、基板吸着面が研磨
加工されるとともに、基板裏面に冷却ガスを供給可能に
なっているので、冷媒により温度コントロールされた電
極によって電極吸着面の温度を一様に制御でき、基板の
温度制御を容易できる。
As described above, according to this embodiment, by polishing the electrode surface, the upper surface of each electrode is flattened in the same plane, and the insulating film is formed on the flattened electrode surface. Since thermal spraying is performed and the insulating film is finally polished to a predetermined thickness,
The size of the electrode can be accurately and easily manufactured, and the insulating film on the electrode can be easily managed. This allows
A large-diameter electrode can be easily manufactured with high precision.
Since a highly accurate electrostatic attraction electrode can be easily manufactured, there is an effect that the electrostatic attraction property becomes stable. Further, since each part can be manufactured by machining, there is an effect that the manufacturing cost can be reduced. Furthermore, since a bolt fastening method can be used as a method of connecting the lead wire to the electrode, there is an effect that it is reliable and excellent in assembling. Further, since the shape of the electrode surface can be easily manufactured by machining, there is also an effect that the flow path of the substrate backside gas (helium gas) for designing the substrate temperature can be freely designed. Furthermore, since the substrate adsorption surface is polished and cooling gas can be supplied to the back surface of the substrate, the temperature of the electrode adsorption surface can be uniformly controlled by the electrodes whose temperature is controlled by the refrigerant, and the substrate temperature control can be performed. Can be easy.

【0020】本発明の第2の実施例を図10ないし図1
5を用いて説明する。第2の実施例では静電吸着用の絶
縁膜の他の形成方法について説明する。図10は、本実
施例により製作した静電吸着電極を示す。電極ブロック
100は前記一実施例における電極11および電極12
から成る。電極ブロック100上面には、複数の静電吸
着焼結体101a,bおよび溶射膜103が設けられ
る。複数の静電吸着焼結体101a,bは、この場合、
内側と外側に二重に配置され、内側に配置された静電吸
着焼結体101bに伝熱ガス供給用の貫通孔20aが設
けられている。静電吸着焼結体101a,bおよび溶射
膜103の上面は、最終的に研磨され研磨面104に基
板が保持される。すなわち、ダイポール方式の静電吸着
電極の場合は、正負の電圧を印加する電極11,12を
絶縁膜13を介して組み合わせ、焼結体101a,bを
それぞれの電極に対応させて配置し、その上から溶射を
施す。これにより、モノポールと同様な製作方法で静電
吸着電極が製作できる。
A second embodiment of the present invention is shown in FIGS.
5 will be described. In the second embodiment, another method for forming an insulating film for electrostatic attraction will be described. FIG. 10 shows an electrostatic attraction electrode manufactured according to this example. The electrode block 100 includes the electrode 11 and the electrode 12 in the above-described embodiment.
Consists of On the upper surface of the electrode block 100, a plurality of electrostatic adsorption sintered bodies 101a and 101b and a sprayed film 103 are provided. In this case, the plurality of electrostatic adsorption sintered bodies 101a and 101b are
The electrostatic attraction and sintering body 101b, which is doubly arranged inside and outside, is provided with a through hole 20a for supplying heat transfer gas. The upper surfaces of the electrostatic adsorption sintered bodies 101a, 101b and the sprayed film 103 are finally polished and the substrate is held on the polishing surface 104. That is, in the case of the electrostatic attraction electrode of the dipole system, the electrodes 11 and 12 for applying positive and negative voltages are combined with each other through the insulating film 13, and the sintered bodies 101a and 101b are arranged corresponding to the respective electrodes. Spray from above. Thereby, the electrostatic attraction electrode can be manufactured by the same manufacturing method as that of the monopole.

【0021】以下、本実施例の静電吸着電極を製作する
方法を示す。まず、図11に本静電吸着電極を製作する
最初の工程を示す。アルミニウムやアルミニウム合金か
らなる電極ブロック100の上面に、アルミナにチタニ
アを混合した焼結材またはシリコン炭化物(SiC)な
どの電気抵抗が略1010〜1011Ωcm程度の材料から
なる静電吸着焼結体101a,bを配置する。静電吸着
焼結体は、通常一枚の板材で電極表面を被うように製作
されるが、本実施例では小さな焼結体101a,bに分
けて製作し、該焼結体101a,bを電極ブロック10
0の表面の所定の場所に配置する。電極ブロック100
と焼結体101a,bとは、図12に示すように両者の
間に接着剤102a,bを介して接着する。接着は、例
えば、高温使用のエポキシ系の接着剤を使用しても良い
し、低温ロウ付けを使用しても良い。このようにして焼
結体101a,bを電極ブロック100上面に固定す
る。その後、図12に示すように電極ブロック100お
よび焼結体101a,b上に溶射膜103を形成する。
溶射膜の材質は、例えば、アルミナとする。溶射膜10
3の部分では、静電吸着を行う必要はない。したがっ
て、耐絶縁性に優れているアルミナを使用することがで
きる。すなわち、静電吸着材として溶射膜を形成する場
合は1010〜1011Ωcm程度の抵抗値が必要であった
のに対し、単なる絶縁膜として用いるのでアルミナ素材
の抵抗値である1014Ωcm以上の高い値にすることが
できる。これにより、耐電圧性に優れた膜とすることが
できる。
A method of manufacturing the electrostatic attraction electrode of this embodiment will be described below. First, FIG. 11 shows a first step of manufacturing the electrostatic attraction electrode. On the upper surface of the electrode block 100 made of aluminum or aluminum alloy, an electrostatic adsorption sintered body 101a made of a material having an electric resistance of about 10 10 to 10 11 Ωcm such as a sintered material obtained by mixing titania with alumina or silicon carbide (SiC), Place b. The electrostatic adsorption sintered body is usually manufactured by covering a surface of the electrode with a single plate material, but in this embodiment, it is divided into small sintered bodies 101a and 101b, and the sintered bodies 101a and 101b are manufactured. The electrode block 10
Place it in place on the 0 surface. Electrode block 100
As shown in FIG. 12, the sintered bodies 101a and 101b are adhered to each other via adhesives 102a and 102b. For the adhesion, for example, an epoxy adhesive used at high temperature may be used, or low temperature brazing may be used. In this way, the sintered bodies 101a and 101b are fixed to the upper surface of the electrode block 100. Thereafter, as shown in FIG. 12, a sprayed film 103 is formed on the electrode block 100 and the sintered bodies 101a and 101b.
The material of the sprayed film is, for example, alumina. Sprayed film 10
In part 3, there is no need to perform electrostatic attraction. Therefore, alumina having excellent insulation resistance can be used. That is, when a sprayed film is formed as an electrostatic adsorption material, a resistance value of about 1010 to 1011 Ωcm is required, whereas it is used as a simple insulating film, so the resistance value of alumina material is set to a high value of 1014 Ωcm or more. be able to. This makes it possible to obtain a film having excellent voltage resistance.

【0022】次に、図12に示した研磨面104まで表
面を研磨する。これにより、図13に示すように焼結体
101a,bが表面に現れる。研磨後の静電吸着電極を
図13に示す。この表面に現れた焼結体101a,bの
部分が基板と接触して静電吸着が行われる。このとき、
一部溶射膜103も基板に接触するが、溶射膜103の
抵抗値が高く、吸着力はほとんど発生しない。したがっ
て、実質的な静電吸着力は、表面に現れた焼結体101
a,bによって発生する。
Next, the surface is polished up to the polishing surface 104 shown in FIG. As a result, the sintered bodies 101a and 101b appear on the surface as shown in FIG. The electrostatic attraction electrode after polishing is shown in FIG. The portions of the sintered bodies 101a and 101b appearing on the surface come into contact with the substrate to perform electrostatic attraction. At this time,
Part of the sprayed film 103 also contacts the substrate, but the resistance value of the sprayed film 103 is high and almost no adsorption force is generated. Therefore, the substantial electrostatic attraction is due to the sintered body 101 appearing on the surface.
It is generated by a and b.

【0023】このような製作方法によれば次の利点があ
る。 (1)焼結体101a,bの寸法が小さいため、焼結体
の製作が容易である。 (2)同じく、電極の温度が変化しても電極ブロック1
00と焼結体101a,bの熱膨張差が小さく、機械的
性質に関しての耐温度特性に優れる。 (3)基板9が大型化しても、焼結体101a,bの寸
法あるいは個数を適宜調整することにより対応できる。 (4)焼結体で製作された静電吸着体は、通常最終的に
必要な厚さが0.1mm以下であることが多い。このた
め、電極に接着させた後に研磨する必要があるが、小さ
なブロックで焼結体を製作するので薄い製作が可能であ
り、接着後の研磨代を少なくできる。
This manufacturing method has the following advantages. (1) Since the dimensions of the sintered bodies 101a and 101b are small, the sintered body can be easily manufactured. (2) Similarly, even if the temperature of the electrode changes, the electrode block 1
00 and the sintered bodies 101a, 101b have a small difference in thermal expansion, and have excellent temperature resistance characteristics with respect to mechanical properties. (3) Even if the substrate 9 becomes large, it can be dealt with by appropriately adjusting the size or the number of the sintered bodies 101a and 101b. (4) In most cases, the electrostatically attracted body made of a sintered body has a finally required thickness of 0.1 mm or less. For this reason, it is necessary to grind it after adhering it to the electrode, but since the sintered body is manufactured with a small block, thin manufacturing is possible, and the grinding allowance after adhering can be reduced.

【0024】なお、焼結体101a,bを配置する部分
の電極ブロック100の面を少し低くなるように加工し
て凹ませ、該低くなった面に焼結体101a,bを接着
する。このようにすると、研磨の厚さが少なくても焼結
体101a,bと溶射膜103との両者が研磨され易く
なる。本方法は、焼結体101a,bの厚さを電極ブロ
ック100の各部分で変えたい場合の製作方法としても
適用できる。さらに、焼結体101a,bの位置決めを
容易にできるという利点もある。
The surface of the electrode block 100 where the sintered compacts 101a, 101b are arranged is processed to be slightly lower and recessed, and the sintered compacts 101a, 101b are bonded to the lowered surfaces. In this way, both the sintered bodies 101a and 101b and the sprayed film 103 are easily polished even if the polishing thickness is small. This method can also be applied as a manufacturing method when the thickness of the sintered bodies 101a and 101b is desired to be changed in each part of the electrode block 100. Furthermore, there is an advantage that the sintered bodies 101a and 101b can be easily positioned.

【0025】また、図10に示す静電吸着電極は基板裏
面への伝熱ガス供給を用いた基板の温度制御に対応した
構成となっている。伝熱ガスを用いる場合は、基板外周
部からのガス漏れを防ぐ必要があり、電極面としては平
坦性が要求される。図12に示された研磨面5まで研磨
すると、図13に示すように溶射膜103と同一平面に
焼結体101a,bの面が現れる。これにより、基板9
の外周部における伝熱ガスのシールは、溶射膜103b
とそれに接続されている焼結体101aの平坦部とで実
行される。溶射膜103cは一段低く窪んだ面に溶射さ
れた部分であり、研磨されていない。電極中央側に設け
られた伝熱ガス供給孔から供給されたヘリウム等の伝熱
ガスは、この溶射膜103cの部分を通って速やかに基
板裏面に供給される。この溶射膜103cの部分は特に
加工する必要はなく、単に基板温度分布が均一化される
ように焼結体101a,bの位置を配置するだけで、溶
射膜103cが被覆された伝熱ガスの分散溝部が形成さ
れる。
The electrostatic adsorption electrode shown in FIG. 10 has a structure corresponding to the temperature control of the substrate using the heat transfer gas supplied to the back surface of the substrate. When a heat transfer gas is used, it is necessary to prevent gas leakage from the outer peripheral portion of the substrate, and flatness is required for the electrode surface. When the polishing surface 5 shown in FIG. 12 is polished, the surfaces of the sintered bodies 101a and 101b appear on the same plane as the sprayed film 103 as shown in FIG. As a result, the substrate 9
The heat transfer gas is sealed at the outer peripheral portion of the sprayed film 103b.
And the flat portion of the sintered body 101a connected thereto. The sprayed film 103c is a part which is sprayed on the surface which is depressed one step lower and is not polished. The heat transfer gas such as helium supplied from the heat transfer gas supply hole provided on the center side of the electrode is quickly supplied to the back surface of the substrate through the sprayed film 103c. This sprayed film 103c portion does not need to be processed in particular, and simply by arranging the positions of the sintered bodies 101a and 101b so that the substrate temperature distribution is made uniform, the heat transfer gas covered with the sprayed film 103c can be formed. Dispersion grooves are formed.

【0026】なお、図12に示された焼結体101a,
bはその断面が垂直であるが、このような垂直面に溶射
膜を形成するのは難しい。そこで、焼結体101a,b
の断面を45度程度に傾斜した面にする。このようにす
れば、より確実に溶射膜を形成することができる。図1
4に焼結体101c,dの断面を傾斜させた静電吸着電
極を示す。電極ブロックは、この場合、単一の電極11
aで構成されている。電極11aには静電吸着用電源8
が接続される。この場合、伝熱ガス供給用の貫通孔20
は電極11aの中央に設けてある。電極11aは基板9
に対応して基板9の外周辺部にリング状の凸部を有して
いる。該凸部の側面は傾斜面としてある。該凸部から内
側の電極11a上面には接着剤102c,dを用いて焼
結体101c,dが二重のリング状に配置して固定して
ある。これら電極11aと焼結体101c,dとの上表
面に溶射膜を形成し、焼結体101c,dが所定厚さの
レベルになるように溶射膜も含め上面を研磨してある。
これにより、電極11aのリング状凸部に形成された溶
射膜103bは、焼結体101cの上面と同レベルにな
る。溶射膜103a,103e,103c,103dの
部分では基板9の載置面より低くなり、溝部が形成され
る。同様に、リング状に配置された焼結体101cおよ
びd同士の間にも溶射膜の溝部が形成される。これによ
り、貫通孔20から溶射膜103bまでは溶射膜による
溝で連通する。基板9裏面においては溶射膜による溝を
介して、伝熱ガスが均一分散される。
The sintered body 101a shown in FIG.
Although b has a vertical cross section, it is difficult to form a thermal spray coating on such a vertical surface. Therefore, the sintered bodies 101a and 101b
The cross section of is a surface inclined at about 45 degrees. By doing so, the sprayed film can be formed more reliably. FIG.
4 shows an electrostatic attraction electrode in which the cross sections of the sintered bodies 101c and 101d are inclined. The electrode block is in this case a single electrode 11
a. The electrode 11a has a power supply 8 for electrostatic attraction.
Is connected. In this case, the through hole 20 for supplying the heat transfer gas
Is provided at the center of the electrode 11a. The electrode 11a is the substrate 9
Corresponding to, a ring-shaped convex portion is provided on the outer peripheral portion of the substrate 9. The side surface of the convex portion is an inclined surface. Sintered bodies 101c and 101d are arranged and fixed in a double ring shape with adhesives 102c and 102d on the upper surface of the electrode 11a inside the convex portion. A sprayed film is formed on the upper surfaces of the electrode 11a and the sintered bodies 101c, d, and the upper surfaces including the sprayed film are polished so that the sintered bodies 101c, d have a predetermined thickness level.
As a result, the sprayed film 103b formed on the ring-shaped convex portion of the electrode 11a is at the same level as the upper surface of the sintered body 101c. The portions of the sprayed films 103a, 103e, 103c, 103d are lower than the mounting surface of the substrate 9 and a groove is formed. Similarly, a groove portion of the sprayed film is formed between the sintered bodies 101c and 101d arranged in a ring shape. As a result, the through hole 20 and the sprayed film 103b communicate with each other through a groove formed by the sprayed film. On the back surface of the substrate 9, the heat transfer gas is uniformly dispersed through the grooves formed by the sprayed film.

【0027】また、図13図に示す静電吸着電極では、
基板外周部における伝熱ガスのシールを、溶射膜103
bと焼結体101aからなる平坦部で行っていた。これ
に対し、図14に示す静電吸着電極では、伝熱ガスのシ
ールを基板外周部の溶射膜103bの被覆された平坦部
単独としてある。このようにすることで、電極11aの
リング状凸部の幅を任意に設定し、伝熱ガスのシール部
の寸法を自由に決めることができる。また、図14に示
す例では、電極ブロックはモノポール方式にしてある
が、例えば、焼結体101cの下側に図12のように電
極12を設けてダイポール方式としても良い。
Further, in the electrostatic attraction electrode shown in FIG. 13,
The heat transfer gas is sealed on the outer peripheral portion of the substrate by the sprayed film 103.
It was performed in the flat part consisting of b and the sintered body 101a. On the other hand, in the electrostatic attraction electrode shown in FIG. 14, the heat transfer gas is sealed only by the flat portion covered with the sprayed film 103b on the outer peripheral portion of the substrate. By doing so, the width of the ring-shaped convex portion of the electrode 11a can be arbitrarily set, and the dimension of the heat transfer gas seal portion can be freely determined. Further, in the example shown in FIG. 14, the electrode block is of a monopole type, but the electrode 12 may be provided below the sintered body 101c as shown in FIG.

【0028】以上、本実施例によれば、小片の焼結部材
で静電吸着膜を形成できるので、基板、例えば、ウエハ
の大口径化に伴う製作上の課題が解決でき、コスト低減
が図れる。また、各々の焼結部材が小さいので、その寸
法管理が容易であり、しかも薄い焼結体を製作できる。
これにより、焼結体の取扱いもウエハ径とほぼ同一の一
体焼結体に比べて取扱いが簡単で、格段の差がある。こ
の点においても、製作コストの低減が図れる。また、本
実施例によれば、基本的にはウエハサイズを選ばないの
で、異形の基板等にも容易に適用できるという特徴があ
る。例えば、液晶用基板等の大面積,矩形の基板でも全
く問題なく静電吸着電極を製作できる。また、静電吸着
電極が低温や高温で使用される場合に、静電吸着部と電
極ブロックの材料の違いによって熱膨張差が生じ、静電
吸着部材に亀裂が発生したり剥離したりするという現象
を防止できるので、電極の信頼性が向上するという効果
もある。すなわち、焼結部材を小さくしているので熱膨
張による変形量が小さく亀裂または剥離にまでは至らな
い。さらに、焼結体をアルミニウム合金からなる電極に
接着するに際し、接着剤やロウ材を使用するが、本実施
例では、接着した焼結体の上から溶射による被覆を行う
ので、接着剤やロウ材がウエハ処理中に外部に漏れ出て
金属汚染を生じさせる等の不具合を防止することができ
る。また、静電吸着には焼結部材で成る誘電体を用いる
ので、静電吸着は焼結部材で決められる物性値に基づき
吸着特性が確保される。したがって、アルミナなどの溶
射膜は単に電気絶縁のための使用で良く、静電吸着材と
して適用されるアルミナとチタニアの混合材より耐電圧
を高くできる。このため、電極の電気的絶縁特性の向上
が図れる。
As described above, according to the present embodiment, since the electrostatic adsorption film can be formed by the small piece of the sintered member, the manufacturing problem associated with the increase in the diameter of the substrate, for example, the wafer can be solved, and the cost can be reduced. . Further, since each sintered member is small, it is possible to easily control the dimensions thereof and to manufacture a thin sintered body.
As a result, the handling of the sintered body is easier than that of the integral sintered body having substantially the same diameter as the wafer, and there is a marked difference. Also in this respect, the manufacturing cost can be reduced. Further, according to the present embodiment, since the wafer size is basically not selected, there is a feature that it can be easily applied to a deformed substrate or the like. For example, the electrostatic attraction electrode can be manufactured without any problem even on a large-area rectangular substrate such as a liquid crystal substrate. In addition, when the electrostatic attraction electrode is used at low temperature or high temperature, a difference in thermal expansion occurs due to the difference in material between the electrostatic attraction section and the electrode block, which may cause cracking or peeling of the electrostatic attraction member. Since the phenomenon can be prevented, there is an effect that the reliability of the electrode is improved. That is, since the sintered member is made small, the amount of deformation due to thermal expansion is small and cracking or peeling does not occur. Further, an adhesive or a brazing material is used when adhering the sintered body to the electrode made of an aluminum alloy. In this embodiment, however, since the coating is performed by thermal spraying on the adhered sintered body, the adhesive or brazing material is used. It is possible to prevent problems such as the material leaking to the outside during wafer processing to cause metal contamination. Further, since a dielectric made of a sintered member is used for electrostatic adsorption, the electrostatic adsorption ensures the adsorption characteristic based on the physical property value determined by the sintered member. Therefore, a sprayed film of alumina or the like may be used merely for electrical insulation, and can have a higher withstand voltage than a mixed material of alumina and titania applied as an electrostatic adsorption material. Therefore, the electrical insulation characteristics of the electrodes can be improved.

【0029】次に、本発明を用いた他の実施例を図16
ないし図21を用いて説明する。図16は、基板を搬送
する搬送アームに適用した例を示す。図16および図1
7に示されるように、搬送アーム201の先端には基板
9を指示するための支持部が設けられている。該支持部
には、基板9の裏面を3点で支持する支持ブロック21
0,220が設けてある。支持ブロック220部の詳細
を図19に示す。なお、支持ブロック210も同様であ
る。搬送アーム201の上面には、支持ブロック220
を設ける位置に、この場合、凹部が設けてある。該凹部
には絶縁膜221を介して電極222が設けられる。電
極222を取り付けた状態が図18に示されれおり、ア
ーム201の上面に3箇所位置する。この状態で、研磨
面104まで研磨し、3箇所の電極上面を一致させる。
レベル出しされた電極222の上面には、図19に示す
ように絶縁膜223が形成される。搬送アーム201の
電極222下方には、貫通孔が明けられ、絶縁管202
が取り付けてある。絶縁管202内の孔を介して電極2
22には、リード線203が接続されている。3箇所の
それぞれの電極に接続されたリード線203は、静電吸
着用電源(図示省略)に接続される。
Next, another embodiment using the present invention is shown in FIG.
21 to 21. FIG. 16 shows an example applied to a transfer arm that transfers a substrate. FIG. 16 and FIG.
As shown in FIG. 7, a support portion for pointing the substrate 9 is provided at the tip of the transfer arm 201. The support block 21 supports the back surface of the substrate 9 at three points.
0, 220 are provided. The details of the support block 220 are shown in FIG. The same applies to the support block 210. The support block 220 is provided on the upper surface of the transfer arm 201.
In this case, a concave portion is provided at the position where is provided. An electrode 222 is provided in the recess via an insulating film 221. A state where the electrodes 222 are attached is shown in FIG. 18, and is located at three positions on the upper surface of the arm 201. In this state, the polishing surface 104 is polished, and the upper surfaces of the three electrodes are aligned.
An insulating film 223 is formed on the upper surface of the leveled electrode 222, as shown in FIG. A through hole is formed below the electrode 222 of the transfer arm 201, and
Is attached. The electrode 2 through the hole in the insulating tube 202
A lead wire 203 is connected to 22. The lead wire 203 connected to each of the three electrodes is connected to an electrostatic attraction power supply (not shown).

【0030】このように構成することにより、300m
m以上の径を有する基板も確実に保持できる。これによ
り、搬送アームによる基板搬送の速度を速くしても、基
板がアーム上からずれたり落下したりすることがなく、
確実な搬送を行うことができる。また、搬送速度を上げ
ることができるので、スループットを向上できる。
With this structure, 300 m
A substrate having a diameter of m or more can be surely held. As a result, even if the substrate transfer speed by the transfer arm is increased, the substrate does not shift or drop from the arm,
It is possible to carry out reliable transport. Further, since the transport speed can be increased, throughput can be improved.

【0031】図20は支持ブロック220の他の実施例
を示すもので、焼結体を用いた例を示す。搬送アーム2
01上面には、絶縁板224を介し電極225を設け
る。さらに、電極225上面に接着剤226を用いて焼
結体227を取り付ける。焼結体227は搬送アーム2
01上に複数箇所設けられ、研磨面104まで研磨され
て同一レベルに加工される。このように構成することに
より、上記と同様の効果があるとともに、本例によれ
ば、焼結体までを組み合わせた後に研磨加工するだけで
仕上がり、前述のように加工後に絶縁膜を形成する等の
作業が不要となり、製作を容易にすることができる。
FIG. 20 shows another embodiment of the support block 220, which is an example using a sintered body. Transport arm 2
An electrode 225 is provided on the upper surface of 01 through an insulating plate 224. Further, a sintered body 227 is attached to the upper surface of the electrode 225 using an adhesive 226. The sintered body 227 is the transfer arm 2
01 are provided at a plurality of positions, and the polishing surface 104 is polished to the same level. With this configuration, the same effect as above is obtained, and according to the present example, it is finished only by combining up to the sintered body and then polishing, and the insulating film is formed after the processing as described above. The work of is unnecessary and the production can be facilitated.

【0032】上述のようにして製作される搬送アーム
は、例えば、図21に示すように真空搬送室200内に
配置される。真空搬送室200の外周辺にはぞれぞれ真
空容器1a,1b,1cおよびロード,アンロードロッ
ク室300が設置される。それぞれの真空容器1a,1
b,1c内には、例えば、前述した静電吸着電極10
a,10b,10cが設けられる。大気側より供給され
る基板は、ロードロック室を介して真空雰囲気内に導入
され、搬送アーム201によって所定の真空容器に運ば
れる。真空容器内での処理の終わった基板は、搬送アー
ムによってアンロードロック室に搬送され、アンロード
ロック室を介して大気側に取り出される。この間、基板
は静電吸着されて搬送および真空処理を行われ、確実に
支持された状態で処理される。したがって、信頼性も高
くスループットの向上を図れる装置とすることができ
る。
The transfer arm manufactured as described above is arranged in a vacuum transfer chamber 200 as shown in FIG. 21, for example. Vacuum containers 1a, 1b, 1c and load / unload lock chambers 300 are installed around the outside of the vacuum transfer chamber 200, respectively. Each vacuum container 1a, 1
In the b and 1c, for example, the electrostatic attraction electrode 10 described above is used.
a, 10b, 10c are provided. The substrate supplied from the atmosphere side is introduced into the vacuum atmosphere through the load lock chamber, and is transported to a predetermined vacuum container by the transport arm 201. The substrate that has been processed in the vacuum container is transferred to the unload lock chamber by the transfer arm, and is taken out to the atmosphere side through the unload lock chamber. During this time, the substrate is electrostatically adsorbed, carried and vacuum processed, and processed while being surely supported. Therefore, it is possible to provide a device having high reliability and improved throughput.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上、本発明によれば、大口径ウエハに
対応して容易に静電吸着支持手段を製作することができ
るという効果がある。
As described above, according to the present invention, there is an effect that the electrostatic adsorption supporting means can be easily manufactured for a large-diameter wafer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本発明の一実施例である静電吸着電極を
用いた基板処理装置の構成を示す縦断面図である。
FIG. 1 is a vertical cross-sectional view showing the configuration of a substrate processing apparatus using an electrostatic attraction electrode according to an embodiment of the present invention.

【図2】図2は図1の静電吸着電極の製作工程を示す図
であって、電極1への絶縁膜形成状態を示した断面図で
ある。
2 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the electrostatic attraction electrode of FIG. 1, showing a state of forming an insulating film on the electrode 1. FIG.

【図3】図3は図2の電極を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing the electrode of FIG.

【図4】図4は図3の電極へ形成される絶縁膜の他の実
施例を示す斜視図である。
4 is a perspective view showing another embodiment of an insulating film formed on the electrode of FIG.

【図5】図5は図3の電極へ形成される絶縁膜のさらに
他の実施例を示す斜視図である。
5 is a perspective view showing still another embodiment of the insulating film formed on the electrode of FIG.

【図6】図6は図1の静電吸着電極の電極2を示す斜視
図である。
6 is a perspective view showing an electrode 2 of the electrostatic attraction electrode of FIG.

【図7】図7は図6の電極2の他の実施例を示す斜視図
である。
FIG. 7 is a perspective view showing another embodiment of the electrode 2 of FIG.

【図8】図8は図1の静電吸着電極の製作工程を示す図
であって、電極1,2の組み立て段階を示す縦断面図で
ある。
FIG. 8 is a view showing a manufacturing process of the electrostatic attraction electrode of FIG. 1, and is a vertical cross-sectional view showing an assembling stage of the electrodes 1 and 2;

【図9】図9は図1の静電吸着電極の製作工程を示す図
であって、静電吸着電極の完成段階を示す縦断面図であ
る。
9 is a view showing a manufacturing process of the electrostatic attraction electrode of FIG. 1, and is a vertical cross-sectional view showing a completion stage of the electrostatic attraction electrode.

【図10】図10は図1の静電吸着電極の他の実施例を
示す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing another embodiment of the electrostatic attraction electrode of FIG.

【図11】図11は図10の静電吸着電極の製作工程を
示す図であって、電極ブロック上への焼結体の配置段階
を示す斜視図である。
11 is a view showing a manufacturing process of the electrostatic attraction electrode of FIG. 10, and is a perspective view showing a step of disposing a sintered body on an electrode block.

【図12】図12は図10の静電吸着電極の製作工程を
示す図であって、焼結体の配置後の電極ブロックへの溶
射段階を示す断面図である。
12 is a view showing a manufacturing process of the electrostatic attraction electrode of FIG. 10, and is a cross-sectional view showing a spraying step on the electrode block after the sintered body is arranged.

【図13】図13は図10の静電吸着電極の製作工程を
示す図であって、溶射膜研磨後の静電吸着電極の完成段
階を示す縦断面図である。
FIG. 13 is a view showing a manufacturing process of the electrostatic adsorption electrode of FIG. 10, and is a vertical cross-sectional view showing a completion stage of the electrostatic adsorption electrode after polishing the sprayed film.

【図14】図14は図1の静電吸着電極のさらに他の実
施例を示す縦断面図である。
14 is a vertical cross-sectional view showing still another embodiment of the electrostatic attraction electrode of FIG.

【図15】図15は図14の静電吸着電極の平面図であ
る。
15 is a plan view of the electrostatic attraction electrode of FIG.

【図16】図16は本発明の他の実施例である静電吸着
電極を用いた基板搬送装置の基板支持部の構成を示す斜
視図である。
FIG. 16 is a perspective view showing a structure of a substrate support portion of a substrate transfer device using an electrostatic attraction electrode according to another embodiment of the present invention.

【図17】図17は図16の側面図である。FIG. 17 is a side view of FIG. 16;

【図18】図18は図16の基板支持部の製作工程を示
す図であって、電極配置段階を示す断面図である。
FIG. 18 is a view showing a manufacturing process of the substrate supporting part of FIG. 16, and is a cross-sectional view showing an electrode disposing step.

【図19】図19は図16の基板支持部の製作工程を示
す図であって、完成段階を示す縦断面図である。
FIG. 19 is a view showing a manufacturing process of the substrate supporting part of FIG. 16, and is a vertical sectional view showing a completion stage.

【図20】図20は図19の基板支持部の他の実施例を
示す縦断面図である。
20 is a longitudinal sectional view showing another embodiment of the substrate supporting portion of FIG.

【図21】図21は本発明の静電吸着電極および基板搬
送装置を用いた処理装置の一例を示す平断面図である。
FIG. 21 is a plan sectional view showing an example of a processing apparatus using the electrostatic attraction electrode and the substrate transfer apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1a,1b,1c…真空容器、2…ガス供給装置、
3…真空排気装置、4…プラズマ発生装置、5…プラズ
マ、6…伝熱ガス供給装置、7…バイアス電源、8…静
電吸着用電源、9…基板、10,10a,10b,10
c…静電吸着電極、11,11a…電極、12…電極、
13…絶縁膜、14…吸着用絶縁膜、15…絶縁管、1
6…貫通孔、17…絶縁管、18…リード線、19…リ
ード線、20,20a…貫通孔、21…冷媒流路、22
…カバー、23…絶縁板、24…アース板、100…電
極ブロック、101a,101b,101c,101d
…焼結体、102a,102b,102c,102d…
接着剤、103,103a,103b,103c,10
3d…溶射膜、104…研磨面、131…絶縁板、13
2…絶縁リング、133…絶縁リング、134…絶縁
板、135…絶縁膜、200…真空容器、201…搬送
アーム、202…絶縁管、203…リード線、210…
支持ブロック、220…支持ブロック、221…絶縁
膜、222…電極、223…絶縁膜、224…絶縁板、
225…電極、226…接着剤、227…焼結体、30
0…ロード,アンロードロック室。
1, 1a, 1b, 1c ... Vacuum container, 2 ... Gas supply device,
3 ... Vacuum exhaust device, 4 ... Plasma generation device, 5 ... Plasma, 6 ... Heat transfer gas supply device, 7 ... Bias power supply, 8 ... Electrostatic adsorption power supply, 9 ... Substrate 10, 10, 10a, 10b, 10
c ... Electrostatic attraction electrode, 11, 11a ... Electrode, 12 ... Electrode,
13 ... Insulating film, 14 ... Adsorption insulating film, 15 ... Insulating tube, 1
6 ... Through hole, 17 ... Insulation pipe, 18 ... Lead wire, 19 ... Lead wire, 20, 20a ... Through hole, 21 ... Refrigerant flow path, 22
... cover, 23 ... insulating plate, 24 ... ground plate, 100 ... electrode block, 101a, 101b, 101c, 101d
... Sintered body, 102a, 102b, 102c, 102d ...
Adhesive, 103, 103a, 103b, 103c, 10
3d ... Sprayed film, 104 ... Polished surface, 131 ... Insulating plate, 13
2 ... Insulation ring, 133 ... Insulation ring, 134 ... Insulation plate, 135 ... Insulation film, 200 ... Vacuum container, 201 ... Transport arm, 202 ... Insulation tube, 203 ... Lead wire, 210 ...
Support block, 220 ... Support block, 221 ... Insulating film, 222 ... Electrode, 223 ... Insulating film, 224 ... Insulating plate,
225 ... Electrode, 226 ... Adhesive, 227 ... Sintered body, 30
0 ... Load and unload lock room.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅野 誠一郎 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Seiichiro Sugano 502 Kintate-cho, Tsuchiura-shi, Ibaraki Prefecture Hiritsu Manufacturing Co., Ltd. Mechanical Research Laboratory

Claims (19)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1の電極と第2の電極に電圧を印加して
基板を吸着する静電吸着電極において、前記第1の電極
に第2の電極をはめ込む凹部を設け、該凹部を含めた第
1の電極表面に絶縁膜を形成して該凹部に前記第2の電
極をはめ込んで固定し、前記固定した第1の電極と前記
第2との両電極表面に絶縁膜を形成して成ることを特徴
とする静電吸着電極。
1. An electrostatic attraction electrode for applying a voltage to a first electrode and a second electrode to attract a substrate, wherein a recess for fitting the second electrode into the first electrode is provided, including the recess. An insulating film is formed on the surface of the first electrode, and the second electrode is fitted and fixed in the recess, and an insulating film is formed on the surfaces of both the fixed first electrode and the second electrode. An electrostatic attraction electrode characterized by being formed.
【請求項2】請求項1記載の静電吸着電極において、前
記第1の電極に前記第2の電極をはめ込む凹部から前記
第1の電極の裏面に貫通する穴を設け、該穴に絶縁管を
挿入あるいは絶縁膜を形成し、該凹部を含めた第1の電
極表面に絶縁膜を形成した静電吸着電極。
2. The electrostatic attraction electrode according to claim 1, wherein a hole is formed in the first electrode through a recess for fitting the second electrode into the back surface of the first electrode, and the insulating tube is provided in the hole. Or an insulating film is formed, and an insulating film is formed on the surface of the first electrode including the recess.
【請求項3】第1の電極と第2の電極に電圧を印加して
基板を吸着する静電吸着電極において、前記第1の電極
に第2の電極をはめ込む凹部を設け、前記第1の電極表
面のうち前記第2の電極と対向する前記凹部の面に絶縁
膜を形成し、前記第1の電極の前記凹部に前記第2の電
極をはめ込んで固定し、前記固定した第1の電極と前記
第2との両電極表面に静電吸着膜を形成して成ることを
特徴とする静電吸着電極。
3. An electrostatic attraction electrode for applying a voltage to a first electrode and a second electrode to attract a substrate, wherein a recess for fitting the second electrode into the first electrode is provided and the first electrode is provided. An insulating film is formed on the surface of the recess facing the second electrode on the surface of the electrode, the second electrode is fitted and fixed in the recess of the first electrode, and the fixed first electrode is fixed. And an electrostatic adsorption film formed on the surfaces of both the second electrode and the second electrode.
【請求項4】請求項3記載の静電吸着電極において、前
記第1の電極の前記凹部で前記第2の電極と対向する面
の絶縁膜を高抵抗材料で形成し、前記静電吸着膜の抵抗
値より高くした静電吸着電極。
4. The electrostatic adsorption electrode according to claim 3, wherein an insulating film on a surface of the first electrode facing the second electrode in the recess is formed of a high resistance material. Electrostatic adsorption electrode with a higher resistance value than.
【請求項5】請求項4記載の静電吸着電極において、前
記対向面の絶縁膜の材料をアルミナとし、前記静電吸着
膜をチタニアとアルミナの混合材料とした静電吸着電
極。
5. The electrostatic attraction electrode according to claim 4, wherein the material of the insulating film on the facing surface is alumina, and the electrostatic attraction film is a mixed material of titania and alumina.
【請求項6】第1の電極と第2の電極に電圧を印加して
基板を吸着する静電吸着電極の製作方法において、前記
第1の電極に第2の電極をはめ込む凹部を設け、該凹部
を含めた第1の電極表面に絶縁膜を形成して該凹部に前
記第2の電極をはめ込んで固定し、前記固定した第1の
電極と前記第2との両電極表面が略同一平面でかつ前記
料電極のそれぞれが導電体表面となるように加工した
後、前記両電極表面に絶縁膜を形成することを特徴とす
る静電吸着電極の製作方法。
6. A method of manufacturing an electrostatic attraction electrode for applying a voltage to a first electrode and a second electrode to attract a substrate, wherein a recess for fitting the second electrode is provided in the first electrode, An insulating film is formed on the surface of the first electrode including the recess, and the second electrode is fitted and fixed in the recess, and both the fixed first electrode surface and the second electrode surface are substantially coplanar. A method for manufacturing an electrostatic attraction electrode, characterized in that after processing each of the material electrodes so as to become a conductor surface, an insulating film is formed on both electrode surfaces.
【請求項7】請求項6記載において、前記第1の電極と
第2の電極の両電極表面への絶縁膜の形成は溶射にて行
われる静電吸着電極の製作方法。
7. The method of manufacturing an electrostatic attraction electrode according to claim 6, wherein the insulating film is formed on both electrode surfaces of the first electrode and the second electrode by thermal spraying.
【請求項8】請求項7記載において、前記絶縁膜が溶射
された前記料電極表面は、前記絶縁膜を所定の厚さに研
磨加工する静電吸着電極の製作方法。
8. The method of manufacturing an electrostatic attraction electrode according to claim 7, wherein the material electrode surface on which the insulating film is sprayed is polished to a predetermined thickness.
【請求項9】電極ブロック上面に接合部材を介して複数
の静電吸着部材を固定し、前記静電吸着部材の吸着面を
除いて前記電極ブロック上面を絶縁材で覆ったことを特
徴とする静電吸着電極。
9. A plurality of electrostatic attraction members are fixed to the upper surface of the electrode block through a joining member, and the upper surface of the electrode block is covered with an insulating material except the attraction surface of the electrostatic attraction member. Electrostatic adsorption electrode.
【請求項10】請求項9記載の前記絶縁材は溶射膜でな
る静電吸着電極。
10. The electrostatic attraction electrode according to claim 9, wherein the insulating material is a sprayed film.
【請求項11】請求項10記載の前記溶射膜をアルミナ
とした静電吸着電極。
11. An electrostatic attraction electrode in which the sprayed film according to claim 10 is made of alumina.
【請求項12】プラズマ処理室内でウエハを静電吸着保
持する静電吸着電極において、導電材でなる試料台上面
の前記ウエハ配置範囲内に複数の静電吸着焼結体を分割
配置し、前記静電吸着焼結体以外の前記試料台上面を溶
射膜で覆ったことを特徴とする静電吸着電極。
12. An electrostatic adsorption electrode for electrostatically holding a wafer in a plasma processing chamber, wherein a plurality of electrostatic adsorption sintered bodies are dividedly arranged within the wafer arrangement range on the upper surface of a sample table made of a conductive material, An electrostatic adsorption electrode characterized in that the upper surface of the sample table other than the electrostatic adsorption sintered body is covered with a sprayed film.
【請求項13】請求項12記載の静電吸着電極におい
て、前記溶射膜が少なくとも前記ウエハの外周部に対応
して形成され、前記溶射膜の内側に前記静電吸着焼結体
が配置され、前記溶射膜と前記焼結体とを同一面レベル
とした静電吸着電極。
13. The electrostatic adsorption electrode according to claim 12, wherein the sprayed film is formed at least corresponding to an outer peripheral portion of the wafer, and the electrostatically adsorbed sintered body is disposed inside the sprayed film. An electrostatic attraction electrode in which the sprayed film and the sintered body are on the same surface level.
【請求項14】電極ブロック上に複数の静電吸着部材と
なる材料を分割して配置し、前記静電吸着部材を前記電
極ブロック上に接着あるいは機械的に固定し、前記静電
吸着部材が固定された電極ブロック上に絶縁材の皮膜を
溶射により形成し、前記絶縁材の皮膜が形成された電極
ブロック上面を研磨し前記静電吸着部材面を露出させる
ことを特徴とする静電吸着電極の製作方法。
14. A plurality of materials serving as electrostatic attraction members are divided and arranged on an electrode block, and the electrostatic attraction members are bonded or mechanically fixed on the electrode block. An electrostatic attraction electrode, characterized in that a film of an insulating material is formed on a fixed electrode block by thermal spraying, and an upper surface of the electrode block on which the insulating material film is formed is polished to expose the surface of the electrostatic attraction member. How to make.
【請求項15】請求項14記載の前記溶射皮膜をアルミ
ナとした静電吸着電極の製作方法。
15. A method of manufacturing an electrostatic attraction electrode, wherein the sprayed coating according to claim 14 is alumina.
【請求項16】第1の電極に設けた凹部に絶縁材を介し
て第2の電極を設け、前記第1の電極と前記第2の電極
との上面を同一レベルに加工して、該上面に絶縁膜を溶
射して成ることを特徴とする静電吸着電極。
16. A second electrode is provided in a recess provided in the first electrode via an insulating material, and the upper surfaces of the first electrode and the second electrode are processed to have the same level, and the upper surface is processed. An electrostatic adsorption electrode, characterized in that it is formed by spraying an insulating film on.
【請求項17】第1の電極に凹部を設け、該凹部に絶縁
材を介して第2の電極を固定し、前記第1の電極と前記
第2の電極との上面を同一レベルに加工して、該上面に
溶射により絶縁膜を形成することを特徴とする静電吸着
電極の製作方法。
17. A recess is provided in the first electrode, the second electrode is fixed to the recess through an insulating material, and the upper surfaces of the first electrode and the second electrode are processed to the same level. And forming an insulating film on the upper surface by thermal spraying.
【請求項18】同一レベルに加工された電極上面に複数
の焼結体を固定し、前記焼結体が設けられた前記電極上
面に絶縁膜を溶射し、前記焼結体が所定の厚さとなるま
で前記絶縁膜と共に同一レベルまで加工されて成ること
を特徴とする静電吸着電極。
18. A plurality of sintered bodies are fixed to the upper surface of the electrode processed to the same level, an insulating film is sprayed on the upper surface of the electrode provided with the sintered body, and the sintered body has a predetermined thickness. The electrostatic attraction electrode is characterized in that it is processed to the same level as the insulating film until the above.
【請求項19】同一レベルに加工された電極上面に複数
の焼結体を固定し、前記焼結体が設けられた前記電極上
面に絶縁膜を溶射し、前記焼結体が所定の膜厚となるま
で前記絶縁膜と共に上面を同一レベルに加工することを
特徴とする静電吸着電極の製作方法。
19. A plurality of sintered bodies are fixed on the upper surface of an electrode processed to the same level, an insulating film is sprayed on the upper surface of the electrode on which the sintered body is provided, and the sintered body has a predetermined film thickness. The method for manufacturing an electrostatic attraction electrode is characterized in that the upper surface is processed to the same level as the insulating film until the above condition is satisfied.
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