JPH09126746A - 厚さ計 - Google Patents
厚さ計Info
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- JPH09126746A JPH09126746A JP28372695A JP28372695A JPH09126746A JP H09126746 A JPH09126746 A JP H09126746A JP 28372695 A JP28372695 A JP 28372695A JP 28372695 A JP28372695 A JP 28372695A JP H09126746 A JPH09126746 A JP H09126746A
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- radioactive rays
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 圧延材が撓んでいても時間に追従して撓んで
いる角度を測定し、値を補正することで正確な圧延材の
厚さを測定する。 【解決手段】 鋼材を連続して圧延する厚さ計におい
て、圧延鋼材16に放射線を照射する照射手段(照射部
11a)と、前記圧延鋼材を透過した放射線を受光する
受光手段(受光部11b)と、前記圧延鋼材と前記放射
線光軸とのなす角を検出する検出手段であるエッジセン
サ1および2と、前記検出手段でえられた検出値にもと
づいて、前記受光手段でえられた前記放射線の減衰値の
補正を行なう補正手段とからなっている。
いる角度を測定し、値を補正することで正確な圧延材の
厚さを測定する。 【解決手段】 鋼材を連続して圧延する厚さ計におい
て、圧延鋼材16に放射線を照射する照射手段(照射部
11a)と、前記圧延鋼材を透過した放射線を受光する
受光手段(受光部11b)と、前記圧延鋼材と前記放射
線光軸とのなす角を検出する検出手段であるエッジセン
サ1および2と、前記検出手段でえられた検出値にもと
づいて、前記受光手段でえられた前記放射線の減衰値の
補正を行なう補正手段とからなっている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧延機から出力さ
れる圧延鋼材の板厚を測定するための厚さ計に関する。
れる圧延鋼材の板厚を測定するための厚さ計に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、圧延機から出力される圧延鋼材の
板厚の測定には、図3にブロック図で示される測定装置
が用いられている。図3において、10は仕上圧延機で
あり、11はAGC厚さ計であり、12はバックアップ
用のAGC厚さ計であり、13はクラウン厚さ計であ
り、14はバックアップ用のクラウン厚さ計であり、1
5は巻取機である。
板厚の測定には、図3にブロック図で示される測定装置
が用いられている。図3において、10は仕上圧延機で
あり、11はAGC厚さ計であり、12はバックアップ
用のAGC厚さ計であり、13はクラウン厚さ計であ
り、14はバックアップ用のクラウン厚さ計であり、1
5は巻取機である。
【0003】圧延鋼材(図示せず、以下単に圧延材とい
う)は、仕上圧延機10によって圧延される。圧延材の
流れるライン方向には、AGC(automatic gage contr
ol)厚さ計11と、AGC厚さ計11のバックアップ用
のAGC厚さ計12と、クラウン厚さ計13と、クラウ
ン厚さ計13のバックアップ用のクラウン厚さ計14と
が設置されている。これらの厚さ計でえられたデータを
データ処理装置17に入力し、仕上圧延機10から出力
される圧延材の板厚を測定している。従来の厚さ計によ
る圧延材の板厚の測定の方法をつぎに示す。
う)は、仕上圧延機10によって圧延される。圧延材の
流れるライン方向には、AGC(automatic gage contr
ol)厚さ計11と、AGC厚さ計11のバックアップ用
のAGC厚さ計12と、クラウン厚さ計13と、クラウ
ン厚さ計13のバックアップ用のクラウン厚さ計14と
が設置されている。これらの厚さ計でえられたデータを
データ処理装置17に入力し、仕上圧延機10から出力
される圧延材の板厚を測定している。従来の厚さ計によ
る圧延材の板厚の測定の方法をつぎに示す。
【0004】図4においては、圧延材の進行方向は紙面
から手前に向かう方向であるが、その進行方向に対する
AGC厚さ計および圧延材の断面が示されるように、或
る速さで巻取機15(図3参照)の方向へ移動している
圧延材16に対して、AGC厚さ計11の上部に設置さ
れているX線の照射部11aからX線(図2中の矢印)
を照射し、照射されたX線の透過量をAGC厚さ計11
の下部に設置されている受光部11bで測定する。測定
されたX線の透過量からX線が圧延材を透過するときに
圧延材の厚さに応じて減衰した強度の減衰値がわかるの
で、この減衰値にもとづいてあらかじめ設定された式に
よって圧延材の厚さを算出する。AGC厚さ計11の設
置位置は固定されているので、圧延材16の測定される
位置は、図5の実線Aに示されるように常に圧延材16
の幅方向の端から一定距離離れた位置である。
から手前に向かう方向であるが、その進行方向に対する
AGC厚さ計および圧延材の断面が示されるように、或
る速さで巻取機15(図3参照)の方向へ移動している
圧延材16に対して、AGC厚さ計11の上部に設置さ
れているX線の照射部11aからX線(図2中の矢印)
を照射し、照射されたX線の透過量をAGC厚さ計11
の下部に設置されている受光部11bで測定する。測定
されたX線の透過量からX線が圧延材を透過するときに
圧延材の厚さに応じて減衰した強度の減衰値がわかるの
で、この減衰値にもとづいてあらかじめ設定された式に
よって圧延材の厚さを算出する。AGC厚さ計11の設
置位置は固定されているので、圧延材16の測定される
位置は、図5の実線Aに示されるように常に圧延材16
の幅方向の端から一定距離離れた位置である。
【0005】一方、クラウン厚さ計13は、圧延材16
の幅方向に移動することができ、圧延材16を幅方向に
わたって走査しながらその厚さを測定する。測定は、A
GC厚さ計11と同様に、X線を用いて行われる。測定
のあいだも圧延材16は連続的に圧延されてコイル方向
へ進行させられながら移動しているため、実際には、圧
延材16の幾何学的な意味での幅方向ではなく、図5の
点線Bで示される、斜め方向にわたって厚さを測定する
ことになる。しかし、長手方向で断面形状が大きく変化
することはないので、前記斜め方向にわたって測定した
厚さを、幅方向の断面の厚さであると近似している。こ
こでいうコイルとは、巻取機15に圧延材16が巻き取
られたものをいう。
の幅方向に移動することができ、圧延材16を幅方向に
わたって走査しながらその厚さを測定する。測定は、A
GC厚さ計11と同様に、X線を用いて行われる。測定
のあいだも圧延材16は連続的に圧延されてコイル方向
へ進行させられながら移動しているため、実際には、圧
延材16の幾何学的な意味での幅方向ではなく、図5の
点線Bで示される、斜め方向にわたって厚さを測定する
ことになる。しかし、長手方向で断面形状が大きく変化
することはないので、前記斜め方向にわたって測定した
厚さを、幅方向の断面の厚さであると近似している。こ
こでいうコイルとは、巻取機15に圧延材16が巻き取
られたものをいう。
【0006】ここで、クラウン厚さ計13で測定した厚
さには、圧延材の長手方向の厚さの変化が含まれてお
り、正しい断面厚さではないので、前記AGC厚さ計1
1で測定した厚さと、クラウン厚さ計13で測定した厚
さを用いて、次式のように長手方向の厚さの変化を補正
する。
さには、圧延材の長手方向の厚さの変化が含まれてお
り、正しい断面厚さではないので、前記AGC厚さ計1
1で測定した厚さと、クラウン厚さ計13で測定した厚
さを用いて、次式のように長手方向の厚さの変化を補正
する。
【0007】(断面厚さ)=(クラウン厚さ計で測定し
た厚さ)−(AGC厚さ計で測定した厚さ) さらに、図5に示すように、AGC厚さ計11とクラウ
ン厚さ計13とは、ある一定距離離れて設置されている
ので、同一時刻における両者の測定値の差を求めると、
長手方向の厚さの変化が測定誤差になる。したがって、
精度良くプロフィルを測定するために、厚さ計測定値を
圧延材の流れる速さにあわせてトラッキングし、同一断
面における断面プロフィルを求めることができるように
する。
た厚さ)−(AGC厚さ計で測定した厚さ) さらに、図5に示すように、AGC厚さ計11とクラウ
ン厚さ計13とは、ある一定距離離れて設置されている
ので、同一時刻における両者の測定値の差を求めると、
長手方向の厚さの変化が測定誤差になる。したがって、
精度良くプロフィルを測定するために、厚さ計測定値を
圧延材の流れる速さにあわせてトラッキングし、同一断
面における断面プロフィルを求めることができるように
する。
【0008】圧延材の厚さが測定されたのちに、圧延材
16は巻取機15によって巻き取られる。
16は巻取機15によって巻き取られる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、圧延材
は、巻取機15に巻き取られて圧延材に張力がかかるよ
うになるまでの期間は圧延された時点でのわずかな反り
や内部応力の影響がそのまま圧延材の外形形状となって
あらわれるため、仕上圧延機10の出力側では図6
(a)に示すように撓んでいる。したがって、あらかじ
め設定している水平方向の基準高さ(図の基準線PLの
高さ)に比べて、たとえば位置Ha 部で測定すれば(図
6(a)参照)、X線照射部から近い位置に圧延材が位
置する(基準線PLから圧延材16の下側までの距離h
1 が大きい)。しかも、圧延材の表面が水平方向に対し
て傾いている一方、X線は常に図6(b)中の矢印方
向、つまり鉛直方向に照射される。したがって、撓んで
いる圧延材16に対しては、圧延材の厚さに対して斜め
方向にX線が照射されることになる。図6(b)から時
間を経て、X線による測定位置がHb である図6(c)
の状態になると、圧延材の下側から基準線PLまでの距
離h2 は、距離h1 に比べて小さくなり、X線が照射さ
れる角度も測定位置が位置Ha であるときとは異なる。
すなわち、測定する時間によって照射位置の差(h2 −
h1 )と傾きによる差が発生するため、X線の圧延材へ
の透過量を測定しても、正確な圧延材の厚さが測定でき
ないという問題がある。
は、巻取機15に巻き取られて圧延材に張力がかかるよ
うになるまでの期間は圧延された時点でのわずかな反り
や内部応力の影響がそのまま圧延材の外形形状となって
あらわれるため、仕上圧延機10の出力側では図6
(a)に示すように撓んでいる。したがって、あらかじ
め設定している水平方向の基準高さ(図の基準線PLの
高さ)に比べて、たとえば位置Ha 部で測定すれば(図
6(a)参照)、X線照射部から近い位置に圧延材が位
置する(基準線PLから圧延材16の下側までの距離h
1 が大きい)。しかも、圧延材の表面が水平方向に対し
て傾いている一方、X線は常に図6(b)中の矢印方
向、つまり鉛直方向に照射される。したがって、撓んで
いる圧延材16に対しては、圧延材の厚さに対して斜め
方向にX線が照射されることになる。図6(b)から時
間を経て、X線による測定位置がHb である図6(c)
の状態になると、圧延材の下側から基準線PLまでの距
離h2 は、距離h1 に比べて小さくなり、X線が照射さ
れる角度も測定位置が位置Ha であるときとは異なる。
すなわち、測定する時間によって照射位置の差(h2 −
h1 )と傾きによる差が発生するため、X線の圧延材へ
の透過量を測定しても、正確な圧延材の厚さが測定でき
ないという問題がある。
【0010】かかる問題を回避するために、図7に示す
ように、リニアセンサなどで圧延材の端を検出し、測定
部の端からの距離を求めることによって測定位置の高さ
を求める方法がとられている。この方法によれば、リニ
アセンサなどのエッジセンサ1で圧延材から放射される
赤外線を検出することで圧延材の端であることを検知す
る。しかし、検知するのは基準線PLにおける位置であ
るから、リニアセンサにおいて端と検知されるのは、図
のE1 の位置である。真の位置は図の位置E2であるか
ら、正確な圧延材の厚さが測定できないという問題もあ
る。
ように、リニアセンサなどで圧延材の端を検出し、測定
部の端からの距離を求めることによって測定位置の高さ
を求める方法がとられている。この方法によれば、リニ
アセンサなどのエッジセンサ1で圧延材から放射される
赤外線を検出することで圧延材の端であることを検知す
る。しかし、検知するのは基準線PLにおける位置であ
るから、リニアセンサにおいて端と検知されるのは、図
のE1 の位置である。真の位置は図の位置E2であるか
ら、正確な圧延材の厚さが測定できないという問題もあ
る。
【0011】本発明はこのような問題を解決し、圧延材
が撓んでいても、時間に追従して撓んでいる角度を測定
し、値を補正することで、正確な圧延材の厚さを測定す
ることができる厚さ計を提供することを目的とする。
が撓んでいても、時間に追従して撓んでいる角度を測定
し、値を補正することで、正確な圧延材の厚さを測定す
ることができる厚さ計を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の厚さ計は、鋼材
を連続して圧延する装置において、圧延鋼材に放射線を
照射する照射手段と、前記圧延鋼材を透過した放射線を
受光する受光手段と、前記圧延鋼材と前記放射線光軸と
のなす角を検出する検出手段と、前記検出手段でえられ
た検出値にもとづいて、前記受光手段でえられた前記放
射線の減衰値の補正を行なう補正手段とからなってい
る。
を連続して圧延する装置において、圧延鋼材に放射線を
照射する照射手段と、前記圧延鋼材を透過した放射線を
受光する受光手段と、前記圧延鋼材と前記放射線光軸と
のなす角を検出する検出手段と、前記検出手段でえられ
た検出値にもとづいて、前記受光手段でえられた前記放
射線の減衰値の補正を行なう補正手段とからなってい
る。
【0013】前記検出手段が前記圧延鋼材からの自発光
またはバックライトの影を検出するリニアセンサである
ことが、前記圧延鋼材の高さと幅方向位置の両方が同時
に測定できるため好ましい。
またはバックライトの影を検出するリニアセンサである
ことが、前記圧延鋼材の高さと幅方向位置の両方が同時
に測定できるため好ましい。
【0014】前記検出手段が、外部から圧延鋼材に照射
された光線の反射光を検出するレーザ式距離センサであ
ることが、低価格で前記装置を実現できるため好まし
い。
された光線の反射光を検出するレーザ式距離センサであ
ることが、低価格で前記装置を実現できるため好まし
い。
【0015】前記補正手段は、前記検出手段によってえ
られた前記圧延鋼材の水平方向に対する傾き角である検
出値に基づいて前記受光手段でえられた前記放射線の減
衰値を補正してなっている。
られた前記圧延鋼材の水平方向に対する傾き角である検
出値に基づいて前記受光手段でえられた前記放射線の減
衰値を補正してなっている。
【0016】
【発明の実施の形態】つぎに図面を参照しながら本発明
の厚さ計の一実施例を説明する。
の厚さ計の一実施例を説明する。
【0017】図1は本発明の厚さ計の一実施例を示す、
圧延材の進行方向からみた概略的な説明図である。図1
において、1および2はエッジセンサであり、図1にお
いて図4と同じ要素には同じ符号を付している。
圧延材の進行方向からみた概略的な説明図である。図1
において、1および2はエッジセンサであり、図1にお
いて図4と同じ要素には同じ符号を付している。
【0018】図1に示すように、まず、圧延材の厚さを
測定するための測定の基準位置を検出する検出手段であ
るリニアセンサなどのエッジセンサ1およびエッジセン
サ2で、エッジ位置を検出する。圧延材のエッジ位置の
検出方法をつぎに示す。
測定するための測定の基準位置を検出する検出手段であ
るリニアセンサなどのエッジセンサ1およびエッジセン
サ2で、エッジ位置を検出する。圧延材のエッジ位置の
検出方法をつぎに示す。
【0019】図1に示されるように、エッジセンサ1お
よび2を、互いの位置関係がエッジ位置に対して同一側
となるように圧延材16の長手方向の側面側上部に設置
する。圧延材からは、360°どの方向にも自発光(赤
外光)が放射されており、該放射されている自発光の、
圧延材の下側のエッジ位置から放射されている光のみを
検出することでエッジセンサ1および2によってエッジ
位置を測定する。ここで圧延材の下側を測定するのは、
板厚の影響を受けないためである。また、エッジ位置の
測定には、自発光を検出する方法の他に、バックライト
の影を検出する方法を用いることもできる。
よび2を、互いの位置関係がエッジ位置に対して同一側
となるように圧延材16の長手方向の側面側上部に設置
する。圧延材からは、360°どの方向にも自発光(赤
外光)が放射されており、該放射されている自発光の、
圧延材の下側のエッジ位置から放射されている光のみを
検出することでエッジセンサ1および2によってエッジ
位置を測定する。ここで圧延材の下側を測定するのは、
板厚の影響を受けないためである。また、エッジ位置の
測定には、自発光を検出する方法の他に、バックライト
の影を検出する方法を用いることもできる。
【0020】エッジ位置を測定する際に、三角測量によ
る演算を行なうことによって、基準線PLからの高さh
を測定することができる。エッジ位置が検出されたとき
に、圧延材にたとえばX線、γ線などの放射線を照射す
る照射手段である、AGC厚さ計11の照射部11aか
ら放射線が照射される圧延材の位置を測定の基準位置と
する。前述の測定を行なうことによって、エッジ位置E
gからみた測定の基準位置と高さhとを同時に測定する
ことができる。
る演算を行なうことによって、基準線PLからの高さh
を測定することができる。エッジ位置が検出されたとき
に、圧延材にたとえばX線、γ線などの放射線を照射す
る照射手段である、AGC厚さ計11の照射部11aか
ら放射線が照射される圧延材の位置を測定の基準位置と
する。前述の測定を行なうことによって、エッジ位置E
gからみた測定の基準位置と高さhとを同時に測定する
ことができる。
【0021】前述のエッジ位置の検出と同様に、自発光
の測定を時系列的に行なうと、圧延材の下側の位置の履
歴がえられる。自発光の測定は、たとえば10msec
ごとに行われる。
の測定を時系列的に行なうと、圧延材の下側の位置の履
歴がえられる。自発光の測定は、たとえば10msec
ごとに行われる。
【0022】このようにして、圧延材の端(エッジ)E
gの位置が測定できると、あらかじめ設定されているパ
ラメータである圧延材が圧延ラインを流れる速さと、時
間の変化と、測定高さとから、圧延材の進行方向(長手
方向)にわたっての断面形状が測定される。圧延材をそ
の側面の方向からみて前記エッジEgの測定高さが変動
する様子を図2に示した。
gの位置が測定できると、あらかじめ設定されているパ
ラメータである圧延材が圧延ラインを流れる速さと、時
間の変化と、測定高さとから、圧延材の進行方向(長手
方向)にわたっての断面形状が測定される。圧延材をそ
の側面の方向からみて前記エッジEgの測定高さが変動
する様子を図2に示した。
【0023】いま、微小時間Δt秒間に測定点がM1 か
らM2 まで移動したとき、測定点M1 の高さhと測定点
M2 の高さとの変化Δhと、圧延材の移動距離Δlとを
用いて、M1 とM2 を結ぶ直線の水平方向に対する傾き
の角度θ(図2参照)は、次式(1)で求められる。
らM2 まで移動したとき、測定点M1 の高さhと測定点
M2 の高さとの変化Δhと、圧延材の移動距離Δlとを
用いて、M1 とM2 を結ぶ直線の水平方向に対する傾き
の角度θ(図2参照)は、次式(1)で求められる。
【0024】tanθ=Δh/Δl (1) いま、現在の測定点がM2 であるばあいを例にとって考
える。受光手段であるAGC厚さ計11の受光部11b
で受光したX線、またはγ線の減衰値、すなわち透過量
から与えられた式によって算出された圧延材の厚さDw
と、圧延材の正確な厚さDtの関係は、次式(2)で表
せる。
える。受光手段であるAGC厚さ計11の受光部11b
で受光したX線、またはγ線の減衰値、すなわち透過量
から与えられた式によって算出された圧延材の厚さDw
と、圧延材の正確な厚さDtの関係は、次式(2)で表
せる。
【0025】Dt=Dw・cosθ (2) したがって、傾きの角度θを求め、X線、またはγ線な
どの放射線の減衰値Dwを補正するマイコンを含むデー
タ処理装置などの補正手段によって、圧延材の正確な厚
さDtが求められる。
どの放射線の減衰値Dwを補正するマイコンを含むデー
タ処理装置などの補正手段によって、圧延材の正確な厚
さDtが求められる。
【0026】前記実施例では、圧延材からの自発光をリ
ニアセンサなどで受光することによって測定の基準位置
を検出したが、外部からレーザ光などを照射し、当該照
射された光線の反射光を光センサ(レーザ式距離セン
サ)で検出することによっても、測定の基準位置を検出
することができる。また、レーザ式距離センサを厚さ計
に用いることによって、リニアセンサを厚さ計に用いる
ばあいに比べて低価格で装置を実現することができる。
ニアセンサなどで受光することによって測定の基準位置
を検出したが、外部からレーザ光などを照射し、当該照
射された光線の反射光を光センサ(レーザ式距離セン
サ)で検出することによっても、測定の基準位置を検出
することができる。また、レーザ式距離センサを厚さ計
に用いることによって、リニアセンサを厚さ計に用いる
ばあいに比べて低価格で装置を実現することができる。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、圧延材が撓んでいて
も、エッジセンサなどの検出手段で時間に追従した撓ん
でいる角度を測定し、前記検出手段でえられた検出値に
もとづいて補正手段によってX線やγ線などの放射線の
減衰値の補正を行なうことで、正確な圧延材の厚さを測
定することができる。
も、エッジセンサなどの検出手段で時間に追従した撓ん
でいる角度を測定し、前記検出手段でえられた検出値に
もとづいて補正手段によってX線やγ線などの放射線の
減衰値の補正を行なうことで、正確な圧延材の厚さを測
定することができる。
【図1】本発明の厚さ計を示す圧延材の進行方向からみ
た概略的な説明図である。
た概略的な説明図である。
【図2】圧延材を側面の方向からみて、下側の測定高さ
が変動する様子を示す図である。
が変動する様子を示す図である。
【図3】圧延材の板厚の測定に用いられる測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図4】従来のAGC厚さ計を示す断面図である。
【図5】AGC厚さ計とクラウン厚さ計によって測定さ
れる圧延材の位置を示す図である。
れる圧延材の位置を示す図である。
【図6】圧延機で圧延された圧延材のライン方向の側面
図である。
図である。
【図7】従来のAGC厚さ計による圧延材の厚さの測定
方法を示す断面図である。
方法を示す断面図である。
1 エッジセンサ 2 エッジセンサ 11 AGC厚さ計 13 クラウン厚さ計 16 圧延材
Claims (1)
- 【請求項1】 鋼材を連続して圧延する装置において、
圧延鋼材に放射線を照射する照射手段と、前記圧延鋼材
を透過した放射線を受光する受光手段と、前記圧延鋼材
と前記放射線光軸とのなす角を検出する検出手段と、前
記検出手段でえられた検出値にもとづいて、前記受光手
段でえられた前記放射線の減衰値の補正を行なう補正手
段とからなる厚さ計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28372695A JPH09126746A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 厚さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28372695A JPH09126746A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 厚さ計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH09126746A true JPH09126746A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=17669304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28372695A Pending JPH09126746A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 厚さ計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09126746A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1460375A2 (de) * | 2003-03-20 | 2004-09-22 | IMS Messsysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum geometrischen Vermessen eines Materialbandes |
CN113876341A (zh) * | 2020-07-03 | 2022-01-04 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法 |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP28372695A patent/JPH09126746A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1460375A2 (de) * | 2003-03-20 | 2004-09-22 | IMS Messsysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum geometrischen Vermessen eines Materialbandes |
EP1460375A3 (de) * | 2003-03-20 | 2004-12-08 | IMS Messsysteme GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum geometrischen Vermessen eines Materialbandes |
US7026620B2 (en) | 2003-03-20 | 2006-04-11 | Ims Messsysteme Gmbh | Method and device for the geometrical measurement of a material strip |
CN113876341A (zh) * | 2020-07-03 | 2022-01-04 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法 |
CN113876341B (zh) * | 2020-07-03 | 2023-12-19 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法 |
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