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JPH09119915A - Equipment for sample ionization and mass spectrometry - Google Patents

Equipment for sample ionization and mass spectrometry

Info

Publication number
JPH09119915A
JPH09119915A JP8291459A JP29145996A JPH09119915A JP H09119915 A JPH09119915 A JP H09119915A JP 8291459 A JP8291459 A JP 8291459A JP 29145996 A JP29145996 A JP 29145996A JP H09119915 A JPH09119915 A JP H09119915A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
sample
spray
space
ionization device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8291459A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Kato
義昭 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8291459A priority Critical patent/JPH09119915A/en
Publication of JPH09119915A publication Critical patent/JPH09119915A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】安定な試料のイオン化が可能な試料のイオン化
装置及び質量分析装置を提供することにある。 【解決手段】試料を噴霧することにより霧化し、霧化し
た試料をイオン化するに際して、試料が噴霧される空間
を囲み、この噴霧空間に外部から気体を強制的に導くよ
うに構成する。
(57) Abstract: To provide a sample ionizer and a mass spectrometer capable of stable ionization of a sample. SOLUTION: When a sample is atomized by spraying and the atomized sample is ionized, a space in which the sample is sprayed is surrounded, and a gas is forcibly guided to the spray space from the outside.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は試料のイオン化およ
び質量分析のための装置に関する。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for ionization and mass spectrometry of samples.

【0002】[0002]

【従来の技術】液体クロマトグラフ質量分析装置によれ
ば、液体クロマトグラフから流出する試料成分と溶媒を
含む流出物は霧化器に導かれ、霧化される。霧化された
流出物は更に脱溶媒室に導かれ、その中の溶媒が試料成
分から分離,除去される。試料成分はイオン源に導かれ
てイオン化され、そのようにして生じたイオンは質量分
析部に導かれて質量分析され、そしてその質量分析され
たイオンは検出される。一般に利用ないしは知られてい
る霧化装置によれば、液体クロマトグラフからの流出物
は内径100μmのパイプから大気圧中に噴出されて霧
化され、その霧化した流出物は同様に内径100μmの
パイプを通して脱溶媒室へ導かれる。これに関連するも
のとして、アナリティカル・ケミストリー(Analitical
Chemistory),1988,第60巻,第774〜780
が挙げられる。
2. Description of the Related Art According to a liquid chromatograph mass spectrometer, an effluent containing a sample component and a solvent flowing out from a liquid chromatograph is guided to an atomizer and atomized. The atomized effluent is further led to a desolvation chamber where the solvent therein is separated and removed from the sample components. The sample component is introduced into the ion source to be ionized, the ions thus generated are introduced into the mass spectrometric section for mass analysis, and the mass analyzed ions are detected. According to a commonly used or known atomizer, the effluent from a liquid chromatograph is jetted into the atmospheric pressure from a pipe with an inner diameter of 100 μm and atomized, and the atomized effluent also has an inner diameter of 100 μm. It is led to a desolvation chamber through a pipe. Related to this is Analytical Chemistry.
Chemistory), 1988, Volume 60, 774-780.
Is mentioned.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】前述したように、一般
の霧化装置では、流出物は大気中に噴霧される。したが
って、噴霧流と周囲の大気との摩擦により噴霧流の周り
に大気が吸引されるので、霧化された液滴と気体との衝
突が活発化し、液滴の微細化が促進される。
As described above, in a general atomizer, the effluent is atomized into the atmosphere. Therefore, since the atmosphere is sucked around the spray stream due to the friction between the spray stream and the surrounding atmosphere, collision between the atomized droplets and the gas is activated and the atomization of the droplets is promoted.

【0004】しかし、流出物の噴霧空間は大気開放形の
ため外気吸引が外気の乱れの影響を直接受けることにな
り、したがって安定なイオン化がそこなわれ、これが質
量分析精度の低下につながるという問題がある。
However, since the spray space of the effluent is open to the atmosphere, the suction of the outside air is directly affected by the turbulence of the outside air, so that stable ionization is impaired, which leads to a decrease in the accuracy of mass spectrometry. There is.

【0005】したがって、本発明の目的は噴霧流への気
体の供給が外気変動により直接影響を受けるのを避け、
もって安定なイオン化が図られるのに適した試料のイオ
ン化および質量分析のための装置を提供することにあ
る。
Therefore, it is an object of the present invention to avoid directly affecting the supply of gas to the spray stream by ambient fluctuations,
An object is to provide an apparatus for ionization and mass spectrometry of a sample suitable for stable ionization.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、試料霧
化手段は試料が噴霧される空囲を囲む部材と、霧化試料
をイオン化するコロナ設電電極と外部からその噴霧空間
に気体を強制的に導く手段とを備えている。
According to the present invention, the sample atomizing means is composed of a member surrounding the space in which the sample is sprayed, a corona electrode for ionizing the atomized sample, and a gas from the outside into the spray space. And means for forcibly guiding.

【0007】試料が噴霧される空間はその空間包囲部材
で囲まれ、その空間には外部から強制的に気体が供給さ
れる。したがって、本発明によれば、一般に利用されあ
るは知られている例に比べて噴出流への気体供給量の直
接的な大気変動による影響が軽減され、もって安定なイ
オン化が図られる。
The space in which the sample is sprayed is surrounded by the space surrounding member, and gas is forcibly supplied to the space from the outside. Therefore, according to the present invention, the influence of the direct atmospheric fluctuation of the gas supply amount to the jet flow is reduced as compared with the commonly used or known example, and thus stable ionization is achieved.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】図1は参照するに、溶離液貯槽1
に貯えられた移動相である溶離液はポンプ2で送り出さ
れダンパ3で脈流がとられ、安定な流れとなり試料注入
口4を経てカラム5へ送られる。試料は試料注入口4か
ら注入され、カラム5で成分ごとに分離される。溶離液
は液体クロマトグラフ/質量分析計(LC/MS)イン
ターフェイス6′に送られる。インターフェイス6′に
おいては、マイクロパイプ6はヒータ7を内蔵したヒー
トブロック8で加熱される。溶離液はマイクロパイプ6
aの先端から脱溶媒室9の噴霧室8aに噴霧される。そ
れにより生成した霧滴はヒータ7を内蔵した脱溶媒室9
の加熱により気化し、コロナ放電ニードル10部へ達す
る。コロナ放電ニードル10へは高圧電源11から高電
圧が供給され、コロナ放電ニードル部先端よりコロナ放
電が生ずる。このコロナ放電によりカラム5からの流出
物中の溶媒分子がイオン化され、更にイオン分子反応に
より溶質分子すなわち試料成分がイオン化される。この
イオン分子反応後不要の溶媒は開口部19より大気中に
ファンで排気される。生成したイオンは第1スキマー1
2を経て差動排気系部20へ導入され、溶媒分子は真空
ポンプで排気される。イオンは更に第2スキマー13か
ら質量分析部14′に導かれる。すなわち、イオンはイ
オン引出し電極14で加速され、四重極15に入り質量
分析、すなわち質量ふるいを受け、検出器16で検出さ
れる。検出器16の出力は直流増幅器17で増幅され、
データ処理装置18に送られる。ここで質量分析部は四
重極であるが、磁場形やその他の方式でもかまわない。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Referring to FIG. 1, an eluent storage tank 1 is shown.
The eluent, which is the mobile phase, is stored in the pump 2 and is sent out by the pump 2 to have a pulsating flow in the damper 3 and becomes a stable flow and is sent to the column 5 through the sample inlet 4. A sample is injected from a sample injection port 4 and separated by a column 5 for each component. The eluent is sent to a liquid chromatograph / mass spectrometer (LC / MS) interface 6 '. In the interface 6 ', the micropipe 6 is heated by the heat block 8 having the heater 7 built therein. Eluent is micropipe 6
The spraying chamber 8a of the desolvation chamber 9 is sprayed from the tip of a. The fog droplets generated thereby are used in the desolvation chamber 9 containing the heater 7.
Is vaporized by heating and reaches the corona discharge needle 10 part. A high voltage is supplied to the corona discharge needle 10 from the high voltage power supply 11, and corona discharge is generated from the tip of the corona discharge needle portion. This corona discharge ionizes the solvent molecules in the effluent from the column 5, and further ionizes the solute molecules, that is, the sample components. After the ion molecule reaction, unnecessary solvent is exhausted into the atmosphere through the opening 19 by a fan. The generated ions are the first skimmer 1
After being introduced into the differential evacuation system section 20 via 2, the solvent molecules are exhausted by a vacuum pump. The ions are further guided from the second skimmer 13 to the mass spectrometric section 14 '. That is, the ions are accelerated by the ion extraction electrode 14, enter the quadrupole 15, undergo mass analysis, that is, a mass sieve, and are detected by the detector 16. The output of the detector 16 is amplified by the DC amplifier 17,
It is sent to the data processing device 18. Here, the mass spectrometer is a quadrupole, but may be a magnetic field type or another type.

【0009】脱溶媒室9はヒートブロック8に熱絶縁体
8bを介して結合されており、これによりマイクロパイ
プ6と脱溶媒室9は別々の温度に加熱,設定され得る。
The desolvation chamber 9 is connected to the heat block 8 via a heat insulator 8b, whereby the micropipe 6 and the desolvation chamber 9 can be heated and set to different temperatures.

【0010】脱溶媒室9はマイクロパイプ6の先端から
の噴霧流の周りに等間隔に配置されるように複数の気体
吸引口9aが設けられており、ここから大気が噴霧流の
周りに吸引される。
The desolvation chamber 9 is provided with a plurality of gas suction ports 9a so as to be arranged at equal intervals around the spray flow from the tip of the micropipe 6, from which the atmosphere is sucked around the spray flow. To be done.

【0011】カラム5からの流出物はマイクロパイプ6
内では気化されず、その先端から噴霧室8a(これは噴
霧流軸対称の円錐形状である)に噴出したときに一気に
霧化される。この霧化された噴霧流はベルヌーイの法則
により気体吸引口9aからの大気との摩擦でその大気を
吸引し、それによって生成した液滴と吸引した気体との
衝突が活発化し、霧状の液滴の微細化が促進される。こ
の微細化はイオン化効率の向上、したがって質量分析の
感度向上につながる。もちろん、そのようにして微細化
された液滴は脱溶媒室9を通るとき加熱下にさらされる
ことによりより微細化される。
The effluent from the column 5 is a micropipe 6
It is not vaporized inside and is atomized at once when ejected from its tip into the spray chamber 8a (which has a conical shape symmetrical with the spray flow axis). According to Bernoulli's law, this atomized spray flow attracts the atmosphere by friction with the atmosphere from the gas suction port 9a, and the collision of the droplets generated thereby and the sucked gas is activated, resulting in a mist-like liquid. The micronization of the droplets is promoted. This miniaturization leads to an improvement in ionization efficiency, and thus an improvement in sensitivity of mass spectrometry. Of course, the droplets thus miniaturized are further miniaturized by being exposed to heating when passing through the desolvation chamber 9.

【0012】説明からわかるように、噴霧室8aは完全
大気開放形ではなく、壁により囲まれてできており、し
たがって完全大気開放形に比べて大気吸引量、つまり噴
霧流に向かっての気体供給量が大気変動の直接的影響を
受けがたい。このため、安定なイオン化が図られる。
As can be seen from the description, the spray chamber 8a is not completely open to the atmosphere but is surrounded by a wall, and therefore the amount of suction of the air, that is, gas supply toward the spray flow, is larger than that of the complete open atmosphere. Volumes are not directly affected by atmospheric changes. For this reason, stable ionization is achieved.

【0013】図2および図3は本発明に基づくもう一つ
の実施例のインターフェースの主要部を示す。気体導入
孔9a−1はヒートブロック8内に設けられている。供
給される気体はヒートブロック8内を通る際に加熱され
る。加熱された気体は液滴と衝突して微細化し更に気化
を助長する。気体導入孔9a−1は噴霧軸対称に複数個
設け、気体が安定に供給されるようにすればよい。
2 and 3 show the essential parts of the interface of another embodiment according to the present invention. The gas introduction hole 9a-1 is provided in the heat block 8. The supplied gas is heated when passing through the heat block 8. The heated gas collides with the droplets and becomes finer to further promote vaporization. A plurality of gas introduction holes 9a-1 may be provided symmetrically with respect to the spray axis so that the gas is stably supplied.

【0014】図4は本発明に基づく更にもう一つの実施
例のインターフェースの主要部を示す。この実施例はヒ
ートブロック8と脱溶媒室9の間にわずかの間隙9a−
2を設け、この間隙を通して気体を噴霧流に供給するよ
うにしたものである。9cは調整具で、これはヒートブ
ロック8の外周と脱溶媒室9の外周にそれぞれねじ係合
している。ただし、一方とのねじ係合は左ねじ係合、他
方とのねじ係合は右ねじ係合となっている。したがっ
て、調整具9cをまわすことにより間隙9a−2を調整
することができる。また、調整具9cの外周は気体の流
通を妨げないように大部分開口している。
FIG. 4 shows the essential parts of the interface of yet another embodiment according to the present invention. In this embodiment, a slight gap 9a-is provided between the heat block 8 and the desolvation chamber 9.
2 is provided, and gas is supplied to the spray flow through this gap. Reference numeral 9c is an adjusting tool, which is screwed to the outer circumference of the heat block 8 and the outer circumference of the desolvation chamber 9, respectively. However, the screw engagement with one is a left screw engagement, and the screw engagement with the other is a right screw engagement. Therefore, the gap 9a-2 can be adjusted by turning the adjusting tool 9c. Further, the outer periphery of the adjusting tool 9c is largely opened so as not to hinder the flow of gas.

【0015】図5は本発明に基づく別のもう一つの実施
例のインターフェースの主要部を示す。図4と同様ヒー
トブロック8と脱溶媒室9の間に気体が通る間隙9a−
3を設ける点は同じであるが、ただ図5では間隙9a−
3が円錐環状をなすようにヒートブロック8の噴霧流出
端は凸面円錐形を、脱溶媒室9の噴霧流入端は同じ傾き
をもつ凹面円錐形をなしている。図4に比べて、気体流
入路が傾いているため気体導入がより安定的となる。
FIG. 5 shows the essential parts of the interface of another embodiment according to the present invention. As in FIG. 4, a gap 9a- through which gas passes between the heat block 8 and the desolvation chamber 9
3 is the same, but in FIG. 5 only the gap 9a-
The spray outflow end of the heat block 8 has a convex conical shape, and the spray inflow end of the desolvation chamber 9 has a concave conical shape with the same inclination so that 3 has a conical annular shape. Compared to FIG. 4, the gas introduction path is inclined, so that the gas introduction becomes more stable.

【0016】図4および図5のいずれの場合も間隙9a
−2および9a−3の大きさが重要である。
In both cases of FIG. 4 and FIG. 5, the gap 9a is formed.
The size of -2 and 9a-3 is important.

【0017】図6,図5に示した形状のヒートブロック
と脱溶媒室を用いて間隔Dとクラスターイオンの関係を
とった実験データを示す。測定条件は次のとおりであ
る。
Experimental data showing the relationship between the distance D and the cluster ions using the heat block and the desolvation chamber having the shapes shown in FIGS. 6 and 5 are shown. The measurement conditions are as follows.

【0018】移動相:水100% ヒートブロック:320℃ 脱溶媒室温度:400℃ 水を噴霧すると質量スペクトル上には{H3O(H2O)n}
+(n=0〜10)のイオンが出現する。図6は{H3
(H2O)n}+ のイオン強度I1 と{H3O(H2O)5}+
イオン強度I2 のイオン強度比I2/I1と間隔Dとの関
係を示すものである。間隔Dが1mm以下では{H3O(H
2O)5}+ が{H3O(H2O)}より強度が高い。しかしDが
2mmになると急激にこの比は小さくなり、2mmを越えて
間隔が広がると、この比は少し上昇し、10mmを越える
と再び下降しはじめる。
Mobile phase: 100% water Heat block: 320 ° C. Desolvation chamber temperature: 400 ° C. When water is sprayed, {H 3 O (H 2 O) n } appears on the mass spectrum.
+ (N = 0 to 10) ions appear. Figure 6 shows {H 3 O
(H 2 O) n} + a shows the relationship between the ionic strength I 1 and {H 3 O (H 2 O ) 5} ionic strength I 2 of + ions intensity ratio I 2 / I 1 and distance D is there. If the distance D is 1 mm or less, {H 3 O (H
2 O) 5 } + is stronger than {H 3 O (H 2 O)}. However, when D becomes 2 mm, this ratio sharply decreases, and when the distance exceeds 2 mm, the ratio increases a little, and when it exceeds 10 mm, it starts to decrease again.

【0019】図7に図6と同条件でピリジン100ナノ
グラムを注入し、その擬分子イオンの感度(面積値)と
間隔Dとの関係を示す。
FIG. 7 shows the relationship between the sensitivity (area value) of the pseudo-molecular ion and the interval D when 100 nanograms of pyridine was injected under the same conditions as in FIG.

【0020】2mmで最大感度を示し間隔Dが大きくなる
につれすこしずつ下降する。なお縦軸は任意単位であ
る。
The maximum sensitivity is shown at 2 mm, and the distance gradually decreases as the distance D increases. The vertical axis is an arbitrary unit.

【0021】図8に間隔2mmと20mmの時のピリジン擬
分子イオン(m/z80)の感度(ピーク面積)と流量
の関係を示す。1ml/min の流量の時最大感度になる
ようヒートブロック温度を設定し、その値は実験を通し
変えなかった。1ml/min の時のピリジンの感度を1
00としてプロットしてある。間隔Dが20mmにおいて
感度が50%になる所は0.5ml/minと1.5ml/m
inであるのに対し、間隔Dが2mmの時は0.3ml/min
と1.6ml/minとなり、間隔2mmの使用範囲が広がっ
ていることがわかる。
FIG. 8 shows the relationship between the sensitivity (peak area) and flow rate of the pyridine pseudo-molecular ion (m / z 80) when the distance is 2 mm and 20 mm. The heat block temperature was set so that the maximum sensitivity was obtained at a flow rate of 1 ml / min, and the value was not changed throughout the experiment. The sensitivity of pyridine at 1 ml / min is 1
It is plotted as 00. When the distance D is 20 mm, the sensitivity becomes 50% at 0.5 ml / min and 1.5 ml / m.
In contrast to 0.3 ml / min when the distance D is 2 mm
And 1.6 ml / min, and it can be seen that the usage range of the interval 2 mm has expanded.

【0022】以上の事実について考察すると、間隔Dが
0、即ちヒートブロックと脱溶媒室が密着すると、噴霧
室内が負圧となり、霧の微細化が行われずクラスタイオ
ンが大きくなると考えられる。そのためピリジンイオン
の感度も不充分となる。一方間隔を大きく(20mm)と
すると空気が良く供給され、霧の微細化がすすみクラス
ターイオンは小さくなる。しかし、比較的温度の低い空
気が供給されるため霧の微細化は限界がある。間隔2mm
においては、加熱された間隔を空気が通過する際加熱さ
れるため、霧の微細化は進むと考えられる。そのため、
クラスタイオンの減少と分析対象イオンの増加が得られ
たと考えられる。
Considering the above facts, it is considered that when the distance D is 0, that is, when the heat block and the desolvation chamber are in close contact with each other, a negative pressure is generated in the spray chamber, the atomization of the mist is not performed, and the cluster ions become large. Therefore, the sensitivity of the pyridine ion becomes insufficient. On the other hand, if the distance is made large (20 mm), air is supplied well, and the fog becomes finer, and cluster ions become smaller. However, since air having a relatively low temperature is supplied, there is a limit to finer fog. 2mm spacing
In the above, since the air is heated as it passes through the heated interval, it is considered that the mist becomes finer. for that reason,
It is considered that a decrease in cluster ions and an increase in analyte ions were obtained.

【0023】図9は本発明に基づく更に別の実施例のイ
ンターフェースの主要部を示す。図5までの実施例は気
体供給が霧化室8aを通る噴霧流による減圧現象を利用
した自然供給形であるのに対して、図9の実施例は気体
を強制的にコントロールして供給することができるタイ
プのものである。すなわち、窒素やヘリウムなどの気体
をガス溜め10に1気圧以上にして貯えると、このガス
溜め10から気体が気体流入口9d,環状気体流入口9
eおよび円周上に設けられた複数の気体流出口9fを通
して霧化室8aに強制的に供給される。もちろん、ガス
溜10の圧力が1気圧になるように気体をガス溜10に
貯えれば前述した自然供給方式と同様に気体が霧化室8
aの減圧状態に応じて霧化室8aに供給される。11は
ガス溜め10を加熱するためのヒータである。
FIG. 9 shows a main part of an interface of still another embodiment according to the present invention. The embodiment up to FIG. 5 is a natural supply type in which the gas supply utilizes the decompression phenomenon due to the spray flow passing through the atomization chamber 8a, whereas the embodiment in FIG. 9 is forcedly supplied to supply the gas. It is of the type that can. That is, when a gas such as nitrogen or helium is stored in the gas reservoir 10 at a pressure of 1 atm or more, the gas is introduced from the gas reservoir 10 into the gas inlet port 9d and the annular gas inlet port 9d.
e and a plurality of gas outlets 9f provided on the circumference are forcibly supplied to the atomization chamber 8a. Of course, if the gas is stored in the gas reservoir 10 so that the pressure of the gas reservoir 10 becomes 1 atm, the gas is atomized in the atomization chamber 8 as in the natural supply system described above.
It is supplied to the atomization chamber 8a according to the reduced pressure state of a. Reference numeral 11 is a heater for heating the gas reservoir 10.

【0024】なお、本発明に基づくインターフェースは
SFC/MS(超臨界流体クロマトグラフ/質量分析
計),キャピラリーゾーン電気泳動/質量分析計に利用
することもでき、また液体クロマトグラフの検出器とし
て用いることもできる。
The interface according to the present invention can also be used in SFC / MS (supercritical fluid chromatograph / mass spectrometer), capillary zone electrophoresis / mass spectrometer, and as a detector of a liquid chromatograph. You can also

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、噴霧流への気体の供給
が外気変動により直接影響を受けるのを避け、もって安
定なイオン化が図られるのに適した試料のイオン化およ
び質量分析のための装置が提供される。
According to the present invention, the gas supply to the spray stream is prevented from being directly affected by fluctuations in the ambient air, and therefore, for ionization and mass spectrometry of a sample suitable for stable ionization. A device is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に基づく一実施例を示すLC/MSの構
成図。
FIG. 1 is a block diagram of an LC / MS showing an embodiment according to the present invention.

【図2】本発明に基づくもう一つのインターフェースの
主要部の縦断面図。
FIG. 2 is a longitudinal sectional view of a main part of another interface according to the present invention.

【図3】図2のIII−III′線に沿う断面図。3 is a sectional view taken along the line III-III ′ of FIG.

【図4】本発明に基づく別の実施例のインターフェース
の主要部の縦断面図。
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of a main part of an interface of another embodiment according to the present invention.

【図5】本発明に基づく別の実施例のインターフェース
の主要部の縦断面図。
FIG. 5 is a longitudinal sectional view of a main part of an interface of another embodiment according to the present invention.

【図6】気体流入間隔Dに対するイオン強度比I2/I1
の関係を示す図。
[FIG. 6] Ion intensity ratio I 2 / I 1 to gas inflow interval D
FIG.

【図7】気体流入間隔Dに対するイオン強度Iの関係を
示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a relationship of an ion intensity I with respect to a gas inflow interval D.

【図8】試料注入量に対する感度の関係を示す図。FIG. 8 is a diagram showing a relationship of sensitivity with respect to a sample injection amount.

【図9】本発明に基づく更に別の一実施例のインターフ
ェースの主要部の縦断面図。
FIG. 9 is a vertical cross-sectional view of a main part of an interface according to still another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

5…カラム、8…ヒートブロック、9…脱溶媒室、9d
…気体流入口、14′…質量分析部、18a…霧化室。
5 ... column, 8 ... heat block, 9 ... desolvation chamber, 9d
... Gas inlet, 14 '... Mass spec, 18a ... Atomization chamber.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】試料を霧化する手段と、その霧化した試料
をイオン化するコロナ放電電極とを備えた試料のイオン
化装置であって、前記試料霧化手段は前記試料が噴霧さ
れる空間を囲む部材と、その噴霧空間に気体を外部から
強制的に導く手段とを備えていることを特徴とする試料
のイオン化装置。
1. A sample ionization device comprising a means for atomizing a sample and a corona discharge electrode for ionizing the atomized sample, wherein the sample atomizing means defines a space in which the sample is sprayed. An ionization device for a sample, comprising: a surrounding member; and means for forcibly introducing a gas into the spray space from the outside.
【請求項2】請求項1において、気体を溜めるガス溜め
を有し、前記ガス溜めから前記噴霧空間に気体を導くこ
とを特徴とするイオン化装置。
2. The ionization device according to claim 1, further comprising a gas reservoir for accumulating the gas, wherein the gas is introduced from the gas reservoir to the spray space.
【請求項3】請求項2において、前記ガス溜めには窒素
又はヘリウムが貯えられていることを特徴とするイオン
化装置。
3. The ionization device according to claim 2, wherein nitrogen or helium is stored in the gas reservoir.
【請求項4】請求項2において、前記ガス溜めに貯えら
れたガスの圧力が1気圧以下であることを特徴とするイ
オン化装置。
4. The ionization device according to claim 2, wherein the pressure of the gas stored in the gas reservoir is 1 atm or less.
【請求項5】請求項2において、前記ガスを加熱するヒ
ータを有することを特徴とするイオン化装置。
5. The ionization device according to claim 2, further comprising a heater for heating the gas.
【請求項6】液体クロマトグラフと、該液体クロマトグ
ラフからの、試料成分と溶媒を含む流出物を霧化する手
段と、その霧化した流出物中の試料をイオン化するコロ
ナガス電電極と、そのイオン化されたイオンを質量分離
する手段と、その質量分離されたイオンを検出する手段
とを備え、前記霧化手段は前記液体クロマトグラフから
の流出物が噴霧される空間を規定する部材とその噴霧空
間に外部から強制的に気体を導く手段とを備えている試
料の質量分析装置。
6. A liquid chromatograph, means for atomizing an effluent containing a sample component and a solvent from the liquid chromatograph, a corona gas electrode for ionizing a sample in the atomized effluent, and the same. A means for mass-separating the ionized ions, and a means for detecting the mass-separated ions, wherein the atomization means defines a space in which the effluent from the liquid chromatograph is sprayed and its spray. And a means for forcibly introducing a gas into the space from the outside.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2019050203A (en) * 2014-08-05 2019-03-28 ティーイーエル エピオン インコーポレイテッド GCIB nozzle assembly
WO2023003335A1 (en) * 2021-07-20 2023-01-26 주식회사 엘지화학 Interface between liquid chromatography, ionizing device, and mass spectrometer, and sample analysis method using same

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