JPH0897333A - 半導体モールドパッケージ - Google Patents
半導体モールドパッケージInfo
- Publication number
- JPH0897333A JPH0897333A JP26152394A JP26152394A JPH0897333A JP H0897333 A JPH0897333 A JP H0897333A JP 26152394 A JP26152394 A JP 26152394A JP 26152394 A JP26152394 A JP 26152394A JP H0897333 A JPH0897333 A JP H0897333A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode terminals
- view
- semiconductor
- radiator
- creeping
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 33
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 27
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 27
- 238000000465 moulding Methods 0.000 abstract description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電極端子間および電極端子と放熱器間の沿面
距離を大きくとり、沿面放電電圧を上げた半導体モール
ドパッケージを供する。 【構成】 電極端子2の間をモールド樹脂の凸部4でへ
だてるようにし、複数の電極端子間の沿面距離を大きく
し、沿面放電が起きにくくする。
距離を大きくとり、沿面放電電圧を上げた半導体モール
ドパッケージを供する。 【構成】 電極端子2の間をモールド樹脂の凸部4でへ
だてるようにし、複数の電極端子間の沿面距離を大きく
し、沿面放電が起きにくくする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体モールドパッケ
ージに関するものであり、更に詳しくは、沿面放電を起
きにくくしたモールドパッケージの構造に関する。
ージに関するものであり、更に詳しくは、沿面放電を起
きにくくしたモールドパッケージの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体モールドパッケージの形状
は、図9に示すような形状であり、電極端子2間に高電
圧が印加された時、電極間で沿面放電が起こる。また、
図10は、図9に示す従来の半導体モールドパッケージ
を放熱器11に取り付けた状態を示しているが、金属製
の放熱器11に取り付けた場合は、電極端子2に高電圧
が印加された時、電極端子2と放熱器11との間に沿面
放電が起こる可能性があるという欠点があった。
は、図9に示すような形状であり、電極端子2間に高電
圧が印加された時、電極間で沿面放電が起こる。また、
図10は、図9に示す従来の半導体モールドパッケージ
を放熱器11に取り付けた状態を示しているが、金属製
の放熱器11に取り付けた場合は、電極端子2に高電圧
が印加された時、電極端子2と放熱器11との間に沿面
放電が起こる可能性があるという欠点があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の技術的課題
は、沿面放電電圧を大きくして、沿面放電が起こりにく
い構造の半導体モールドパッケージを供することであ
る。
は、沿面放電電圧を大きくして、沿面放電が起こりにく
い構造の半導体モールドパッケージを供することであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、モールド樹脂
成形された半導体デバイスの、複数の電極端子間のモー
ルド樹脂部分に凹凸や、電極端子の一部をモールド樹脂
で囲むようにして、複数の電極端子間の沿面距離を大き
くして、沿面放電が起きにくくした構造とする。
成形された半導体デバイスの、複数の電極端子間のモー
ルド樹脂部分に凹凸や、電極端子の一部をモールド樹脂
で囲むようにして、複数の電極端子間の沿面距離を大き
くして、沿面放電が起きにくくした構造とする。
【0005】また、半導体デバイスを金属性の放熱器に
取り付けて使用する場合に半導体デバイスの放熱器に取
り付ける側のモールド樹脂部分を階段状にえぐることに
より、電極端子と放熱器間の沿面距離を大きくして、沿
面放電が起きにくくした構造とする。
取り付けて使用する場合に半導体デバイスの放熱器に取
り付ける側のモールド樹脂部分を階段状にえぐることに
より、電極端子と放熱器間の沿面距離を大きくして、沿
面放電が起きにくくした構造とする。
【0006】
【作用】沿面放電は、固体絶縁物の表面に水の薄膜が吸
着し、または、固体絶縁物表面が汚損されたために、固
体絶縁物表面で放電が発生するものであり、この場合、
固体絶縁物及び空気の絶縁耐力よりも表面の絶縁耐力が
小さくなっている。放電電圧は、沿面距離に比例するこ
とから、沿面放電電圧を大きくすることは、電極間、あ
るいは電極と他の導電体との沿面距離を大きくした構造
とすることによって達成できる。
着し、または、固体絶縁物表面が汚損されたために、固
体絶縁物表面で放電が発生するものであり、この場合、
固体絶縁物及び空気の絶縁耐力よりも表面の絶縁耐力が
小さくなっている。放電電圧は、沿面距離に比例するこ
とから、沿面放電電圧を大きくすることは、電極間、あ
るいは電極と他の導電体との沿面距離を大きくした構造
とすることによって達成できる。
【0007】
【実施例】以下に実施例を挙げ、本発明の半導体モール
ドパッケージについて、図面を参照して詳細に説明す
る。
ドパッケージについて、図面を参照して詳細に説明す
る。
【0008】(実施例1)図1に示すように、電極端子
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
にモールド樹脂成形時に凸部4を形成し、電極端子2間
の沿面距離を大きくする。
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
にモールド樹脂成形時に凸部4を形成し、電極端子2間
の沿面距離を大きくする。
【0009】(実施例2)図2に示すように、電極端子
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
にモールド樹脂成形時に凹部5を形成し、電極端子2間
の沿面距離を大きくする。
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
にモールド樹脂成形時に凹部5を形成し、電極端子2間
の沿面距離を大きくする。
【0010】(実施例3)図3に示すように、電極端子
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
のモールドパッケージとの接続部近辺をモールド樹脂成
形時に樹脂で覆うような樹脂封止6を作製し、電極端子
2間の沿面距離を大きくする。
2間の沿面放電電圧を大きくするために、電極端子2間
のモールドパッケージとの接続部近辺をモールド樹脂成
形時に樹脂で覆うような樹脂封止6を作製し、電極端子
2間の沿面距離を大きくする。
【0011】(実施例4)図4に示すように、電極端子
2と放熱器11(図8参照)の沿面放電電圧を大きくす
るために、モールド成形時に、放熱器側で電極端子接続
部近傍の樹脂モールド3を階段状にえぐって段差8を形
成し、電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きくす
る。
2と放熱器11(図8参照)の沿面放電電圧を大きくす
るために、モールド成形時に、放熱器側で電極端子接続
部近傍の樹脂モールド3を階段状にえぐって段差8を形
成し、電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きくす
る。
【0012】(実施例5)図5に示すように、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間に凸部4、及び放熱器側で電極端子接続部近傍
の樹脂モールド3に階段状の段差7を形成し、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きく
する。
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間に凸部4、及び放熱器側で電極端子接続部近傍
の樹脂モールド3に階段状の段差7を形成し、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きく
する。
【0013】(実施例6)図6に示すように、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間に凹部5、及び放熱器側で電極端子接続部近傍
の樹脂モールド3に階段状の段差8を形成し、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きく
する。
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間に凹部5、及び放熱器側で電極端子接続部近傍
の樹脂モールド3に階段状の段差8を形成し、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大きく
する。
【0014】(実施例7)図7に示すように、電極端子
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間のモールドパッケージとの接続部近辺を樹脂で
覆うような樹脂封止6、及び放熱器側で電極端子接続部
近傍の樹脂モールド3に階段状の段差9を形成し、電極
端子2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大
きくする。
2間及び電極端子2と放熱器11(図8参照)間の沿面
放電電圧を大きくするために、モールド成形時に、電極
端子2間のモールドパッケージとの接続部近辺を樹脂で
覆うような樹脂封止6、及び放熱器側で電極端子接続部
近傍の樹脂モールド3に階段状の段差9を形成し、電極
端子2間及び電極端子2と放熱器11間の沿面距離を大
きくする。
【0015】図8に、実施例1の半導体モールドパッケ
ージを放熱器に取り付けた状態を示している。
ージを放熱器に取り付けた状態を示している。
【0016】なお、以上、3端子の半導体モールドパッ
ケージについて説明したが、本発明による構造は、端子
数が変わっても適用可能である。
ケージについて説明したが、本発明による構造は、端子
数が変わっても適用可能である。
【0017】
【発明の効果】以上、述べたように、本発明の半導体モ
ールドパッケージによれば、電極端子間及び電極端子と
放熱器間の構造を、樹脂により、凹凸や階段状の段差を
形成して変えることにより、沿面距離が大きくとれて、
沿面放電電圧を大きく改善した半導体モールドパッケー
ジが得られるようになった。
ールドパッケージによれば、電極端子間及び電極端子と
放熱器間の構造を、樹脂により、凹凸や階段状の段差を
形成して変えることにより、沿面距離が大きくとれて、
沿面放電電圧を大きく改善した半導体モールドパッケー
ジが得られるようになった。
【図1】実施例1による半導体モールドパッケージを示
す図。図1(a)は平面図、図1(b)は側面図、図1
(c)は平面図(裏面)、図1(d)は正面図。
す図。図1(a)は平面図、図1(b)は側面図、図1
(c)は平面図(裏面)、図1(d)は正面図。
【図2】実施例2による半導体モールドパッケージを示
す図。図2(a)は平面図、図2(b)は側面図、図2
(c)は平面図(裏面)、図2(d)は正面図。
す図。図2(a)は平面図、図2(b)は側面図、図2
(c)は平面図(裏面)、図2(d)は正面図。
【図3】実施例3による半導体モールドパッケージを示
す図。図3(a)は平面図、図3(b)は側面図、図3
(c)は平面図(裏面)、図3(d)は正面図。
す図。図3(a)は平面図、図3(b)は側面図、図3
(c)は平面図(裏面)、図3(d)は正面図。
【図4】実施例4による半導体モールドパッケージを示
す図。図4(a)は平面図、図4(b)は側面図、図4
(c)は平面図(裏面)、図4(d)は正面図。
す図。図4(a)は平面図、図4(b)は側面図、図4
(c)は平面図(裏面)、図4(d)は正面図。
【図5】実施例5による半導体モールドパッケージを示
す図。図5(a)は平面図、図5(b)は側面図、図5
(c)は平面図(裏面)、図5(d)は正面図。
す図。図5(a)は平面図、図5(b)は側面図、図5
(c)は平面図(裏面)、図5(d)は正面図。
【図6】実施例6による半導体モールドパッケージを示
す図。図6(a)は平面図、図6(b)は側面図、図6
(c)は平面図(裏面)、図6(d)は正面図。
す図。図6(a)は平面図、図6(b)は側面図、図6
(c)は平面図(裏面)、図6(d)は正面図。
【図7】実施例7による半導体モールドパッケージを示
す図。図7(a)は平面図、図7(b)は側面図、図7
(c)は平面図(裏面)、図7(d)は正面図。
す図。図7(a)は平面図、図7(b)は側面図、図7
(c)は平面図(裏面)、図7(d)は正面図。
【図8】図1の半導体モールドパッケージを放熱器に取
り付けた状態を断面で示す説明図。
り付けた状態を断面で示す説明図。
【図9】従来の半導体モールドパッケージの形状を断面
で示す説明図。図9(a)は平面図、図9(b)は側面
図、図9(c)は平面図(裏面)、図9(d)は正面
図。
で示す説明図。図9(a)は平面図、図9(b)は側面
図、図9(c)は平面図(裏面)、図9(d)は正面
図。
【図10】図9の半導体パッケージを放熱器に取り付け
た状態を断面で示す説明図。
た状態を断面で示す説明図。
1 半導体リードフレーム 2 電極端子 3 樹脂モールド 4 (パッケージ)凸部 5 (パッケージ)凹部 6 端子包囲樹脂部 7,8,9 階段状段差 10 電極端子・放熱器間沿面構造(階段状段差) 11 放熱器
Claims (3)
- 【請求項1】 モールド樹脂成形された半導体デバイス
の複数の電極端子間のモールド樹脂部分に凹凸を設けた
構造であることを特徴とする半導体モールドパッケー
ジ。 - 【請求項2】 モールド樹脂成形された半導体デバイス
の複数の電極端子のモールド樹脂部分との接続部近傍を
モールド樹脂で覆った構造であることを特徴とする半導
体モールドパッケージ。 - 【請求項3】 放熱器に取り付けられた半導体デバイス
の放熱器側で電極端子接続部近傍のモールド樹脂部分が
階段状にえぐられた構造であることを特徴とする半導体
モールドパッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26152394A JPH0897333A (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 半導体モールドパッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26152394A JPH0897333A (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 半導体モールドパッケージ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0897333A true JPH0897333A (ja) | 1996-04-12 |
Family
ID=17363092
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26152394A Pending JPH0897333A (ja) | 1994-09-29 | 1994-09-29 | 半導体モールドパッケージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0897333A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10142472A1 (de) * | 2001-08-31 | 2002-10-31 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Hochleistung- und Leistungsbauteil mit Ausgangskontaktstiften |
EP2051300A3 (en) * | 2007-10-15 | 2009-12-09 | Power Integrations, Inc. | Package for a power semiconductor device |
CN102629595A (zh) * | 2012-04-18 | 2012-08-08 | 无锡凤凰半导体科技有限公司 | 元器件包封结构 |
JP2017059846A (ja) * | 2016-11-24 | 2017-03-23 | 三菱電機株式会社 | パワーモジュールの製造方法 |
CN107039388A (zh) * | 2013-12-02 | 2017-08-11 | 三菱电机株式会社 | 功率模块的制造方法 |
JP2018522423A (ja) * | 2015-08-07 | 2018-08-09 | ヴィシェイ デール エレクトロニクス エルエルシー | 成形体、および高電圧用途を対象とする、成形体を有する電気装置 |
WO2018198957A1 (ja) * | 2017-04-24 | 2018-11-01 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
WO2020039466A1 (ja) * | 2018-08-20 | 2020-02-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
CN112703594A (zh) * | 2018-09-19 | 2021-04-23 | 罗姆股份有限公司 | 半导体装置 |
JP2022076308A (ja) * | 2020-11-09 | 2022-05-19 | 株式会社デンソー | 電気機器 |
JP2023077817A (ja) * | 2021-11-25 | 2023-06-06 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及び電力変換装置 |
-
1994
- 1994-09-29 JP JP26152394A patent/JPH0897333A/ja active Pending
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10142472A1 (de) * | 2001-08-31 | 2002-10-31 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Hochleistung- und Leistungsbauteil mit Ausgangskontaktstiften |
EP2051300A3 (en) * | 2007-10-15 | 2009-12-09 | Power Integrations, Inc. | Package for a power semiconductor device |
CN102629595A (zh) * | 2012-04-18 | 2012-08-08 | 无锡凤凰半导体科技有限公司 | 元器件包封结构 |
CN107039388A (zh) * | 2013-12-02 | 2017-08-11 | 三菱电机株式会社 | 功率模块的制造方法 |
US10332869B2 (en) | 2013-12-02 | 2019-06-25 | Mitsubishi Electric Corporation | Method for manufacturing power module |
JP2018522423A (ja) * | 2015-08-07 | 2018-08-09 | ヴィシェイ デール エレクトロニクス エルエルシー | 成形体、および高電圧用途を対象とする、成形体を有する電気装置 |
JP2017059846A (ja) * | 2016-11-24 | 2017-03-23 | 三菱電機株式会社 | パワーモジュールの製造方法 |
US11482479B2 (en) | 2017-04-24 | 2022-10-25 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device |
WO2018198957A1 (ja) * | 2017-04-24 | 2018-11-01 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
JPWO2018198957A1 (ja) * | 2017-04-24 | 2020-03-12 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
US11621216B2 (en) | 2018-08-20 | 2023-04-04 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor module |
JPWO2020039466A1 (ja) * | 2018-08-20 | 2021-06-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
WO2020039466A1 (ja) * | 2018-08-20 | 2020-02-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
CN112703594A (zh) * | 2018-09-19 | 2021-04-23 | 罗姆股份有限公司 | 半导体装置 |
JP2023015278A (ja) * | 2018-09-19 | 2023-01-31 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
US11854923B2 (en) | 2018-09-19 | 2023-12-26 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2024059956A (ja) * | 2018-09-19 | 2024-05-01 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
US12051633B2 (en) | 2018-09-19 | 2024-07-30 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2022076308A (ja) * | 2020-11-09 | 2022-05-19 | 株式会社デンソー | 電気機器 |
JP2023077817A (ja) * | 2021-11-25 | 2023-06-06 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及び電力変換装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7671382B2 (en) | Semiconductor device with thermoplastic resin to reduce warpage | |
US6734551B2 (en) | Semiconductor device | |
JP3406753B2 (ja) | 半導体装置および半導体モジュール | |
US6867484B2 (en) | Semiconductor device | |
JP3026426B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法及びその金型構造 | |
JP2003124437A5 (ja) | ||
JPS63233555A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH09260550A (ja) | 半導体装置 | |
JPH04233257A (ja) | 大規模集積電子部品 | |
JPH0897333A (ja) | 半導体モールドパッケージ | |
EP0307946B1 (en) | Method of manufacturing a resin insulated type semiconductor device | |
JP4416140B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
GB2151845A (en) | A semiconductor memory | |
JP3715590B2 (ja) | インサート成形ケース及び半導体装置 | |
JP3123917B2 (ja) | 混成集積回路装置 | |
JPH1050897A (ja) | 半導体装置 | |
JPH05326796A (ja) | 半導体装置用パッケージ | |
US20220328383A1 (en) | Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device | |
JP3519223B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPS6246268Y2 (ja) | ||
JPH0351979Y2 (ja) | ||
JP3506341B2 (ja) | 半導体装置 | |
CN112534572B (zh) | 半导体模块 | |
JPS6334282Y2 (ja) | ||
JPH0349399Y2 (ja) |