JPH0879634A - Correlation duplex sampling device - Google Patents
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- JPH0879634A JPH0879634A JP6206725A JP20672594A JPH0879634A JP H0879634 A JPH0879634 A JP H0879634A JP 6206725 A JP6206725 A JP 6206725A JP 20672594 A JP20672594 A JP 20672594A JP H0879634 A JPH0879634 A JP H0879634A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は撮像装置等において、光
電変換素子であるCCDの撮像信号のS/N向上に必要
な相関2重サンプリング装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a correlated double sampling device necessary for improving S / N of an image pickup signal of a CCD which is a photoelectric conversion element in an image pickup device or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、撮像装置等において、CCDの撮
像信号に含まれるリセット雑音を取り除いて高S/Nの
撮像信号を得るために相関2重サンプリング装置はます
ます重要視されている。2. Description of the Related Art In recent years, a correlated double sampling device has become more and more important in an image pickup device or the like in order to remove a reset noise contained in a CCD image pickup signal to obtain a high S / N image pickup signal.
【0003】以下に、従来の相関2重サンプリング装置
について説明する。図4は、従来の相関2重サンプリン
グ装置の構成を示すブロック図を示すものである。図4
において、9はCCD、10はCDS回路、11はクラ
ンプパルス発生回路,12はサンプルパルス発生回路、
13は出力端子で構成されている。A conventional correlated double sampling device will be described below. FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a conventional correlated double sampling device. FIG.
In, 9 is a CCD, 10 is a CDS circuit, 11 is a clamp pulse generation circuit, 12 is a sample pulse generation circuit,
Reference numeral 13 is an output terminal.
【0004】以上のように構成された相関2重サンプリ
ング装置について、以下にその動作を図5を参照しなが
ら説明する。The operation of the correlated double sampling device configured as described above will be described below with reference to FIG.
【0005】図5は図4に示す従来の相関2重サンプリ
ング装置での動作状態を示す信号波形図である。FIG. 5 is a signal waveform diagram showing an operating state of the conventional correlated double sampling device shown in FIG.
【0006】はじめに、CCD9にレンズ等から図5の
(a)に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、光電変換素子であるCCD9は図5の(b)に示す
ような信号の他に一定の直流レベルとリセットパルスが
混入するフィールドスルー成分が含まれる出力信号をC
DS10に出力する。First, when light having no level fluctuation with time as shown in FIG. 5A enters the CCD 9 from a lens or the like, the CCD 9 which is a photoelectric conversion element outputs a signal as shown in FIG. 5B. In addition to C, the output signal containing a constant DC level and a field through component mixed with a reset pulse is C
Output to DS10.
【0007】つぎに、CDS10に図5の(c)に示す
ような図5の(b)のリセットパルスを除く一定の直流
レベルをクランプするクランプパルスをクランプパルス
発生回路11から供給し、加えて図5の(d)に示すよ
うな図5の(b)の信号部分をサンプルホールドするサ
ンプルパルスをサンプルパルス発生回路12から供給す
る。このときCDS10に直結する出力端子13は図5
の(e)で示すような図5の(b)の信号波形のリセッ
トパルスを除く直流レベルでクランプし、かつ信号部分
をサンプルホールドした信号を出力する。Next, the CDS 10 is supplied with a clamp pulse for clamping a constant DC level other than the reset pulse shown in FIG. 5B from the clamp pulse generation circuit 11 as shown in FIG. A sample pulse for sampling and holding the signal portion of FIG. 5B as shown in FIG. 5D is supplied from the sample pulse generation circuit 12. At this time, the output terminal 13 directly connected to the CDS 10 is shown in FIG.
(E), the signal waveform of FIG. 5 (b) is clamped at the DC level except the reset pulse except for the reset pulse, and the signal portion is sampled and held and output.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、温度変化等によりCDS回路に出力する
CCDの出力信号の位相が変化した場合において、CD
S回路に供給するサンプルパルスの位相が固定であるた
め常時CCD出力信号の信号部分を最適にサンプルホー
ルドすることができないという問題点を有していた。However, in the above-mentioned conventional configuration, when the phase of the output signal of the CCD output to the CDS circuit changes due to temperature change or the like, the CD
Since the phase of the sample pulse supplied to the S circuit is fixed, the signal portion of the CCD output signal cannot always be optimally sampled and held.
【0009】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、CDS回路に供給するサンプルパルスの位相をメモ
リ、マイコンを用いて最適化し、高S/Nの撮像信号を
得ることができる相関2重サンプリング装置を提供する
ことを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems. Correlation 2 that can obtain a high S / N image pickup signal by optimizing the phase of the sample pulse supplied to the CDS circuit using a memory and a microcomputer. An object is to provide a heavy sampling device.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の相関2重サンプリング装置は、光電変換装子
であるCCDと、CCDの出力信号を処理する相関2重
サンプリング回路であるCDS回路と、CDS回路の出
力信号をAD変換して出力するADC回路と、ADC回
路の出力信号を記憶し記憶したデータをマイコンに出力
するメモリと、メモリの出力信号を基にCDS回路に供
給するサンプルパルスの位相を制御するための位相制御
信号を出力するマイコンと、マイコンから出力した位相
制御信号を基にCDS回路に供給するサンプルパルスを
出力するサンプルパルス発生回路と、CDS回路に供給
するクランプパルスを出力するクランプパルス発生回路
と、撮像信号を取り出すCDS回路に直結した出力端子
により構成されている。To achieve this object, a correlated double sampling device of the present invention is a photoelectric conversion device CCD, and a correlated double sampling circuit CDS for processing an output signal of the CCD. Circuit, an ADC circuit that AD-converts and outputs the output signal of the CDS circuit, a memory that stores the output signal of the ADC circuit and outputs the stored data to the microcomputer, and supplies the CDS circuit based on the output signal of the memory A microcomputer that outputs a phase control signal for controlling the phase of the sample pulse, a sample pulse generation circuit that outputs a sample pulse that is supplied to the CDS circuit based on the phase control signal that is output from the microcomputer, and a clamp that supplies the CDS circuit. It consists of a clamp pulse generation circuit that outputs a pulse and an output terminal that is directly connected to the CDS circuit that extracts the imaging signal. That.
【0011】[0011]
【作用】本発明は上記した構成により、CCDは、光電
変換した出力信号をCDS回路に出力し、クランプパル
ス発生回路は、CDS回路にCCDの出力信号のリセッ
トパルスを除くフィールドスルーの直流レベルをクラン
プするクランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回
路は、CDS回路にCCDの出力信号の信号期間の始ま
りの位相をサンプルホールドするためのサンプルパルス
を供給する。CDS回路は、処理したCCDの出力信号
をADC回路に出力し、ADC回路は、AD変換し、メ
モリは、ADC回路の出力信号をアドレス1に記憶す
る。次に、マイコンは、サンプルパルス発生回路にCC
Dの出力信号の始まりの位相より任意の位相角θだけサ
ンプルパルスの位相を進ませる位相制御信号を出力し、
サンプルパルス発生回路は、CDS回路にCCDの出力
信号の始まりの位相より任意の位相角θだけ進んだサン
プルパルスを供給する。CDS回路は、処理したCCD
の出力信号をADC回路に出力し、ADC回路は、AD
変換し、メモリは、ADC回路の出力信号をアドレス2
に記憶し、アドレス1、アドレス2に記憶したデータを
マイコンに出力する。マイコンは、アドレス1、アドレ
ス2のデータの差分を取り差分がマイコンに設定した値
よりも大きければ、サンプルパルス発生回路にサンプル
パルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進ま
せる位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路で
は、CDS回路にサンプルパルスの位相を現時点より更
に任意の位相角θだけ進ませたサンプルパルスを供給す
る。再び、CDS回路は処理した出力信号をADC回路
に出力し、ADC回路は、AD変換する。メモリは、現
時点で記憶していたアドレス1のデータを消去し、アド
レス2のデータをアドレス1に書き込み、先ほどサンプ
ルパルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進
ませた時に得られたADC回路の出力信号をアドレス2
のデータとして記憶する。マイコンは、メモリから出力
したアドレス1、アドレス2のデータの差分がマイコン
に設定した値に収束するまでサンプルパルス発生回路へ
位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路は、C
DS回路に供給するサンプルパルスの位相を任意の位相
角θだけ進ませ、CDS回路は、処理したCCDの出力
信号をADC回路に出力し、ADC回路は、AD変換
し、メモリは、アドレス1、アドレス2のデータを更新
してマイコンにデータを出力し、マイコンは、アドレス
1、アドレス2の差分がマイコンに設定した値に収束し
た時点でサンプルパルス発生回路への位相制御信号を停
止し、サンプルパルス発生回路は、マイコンから出力し
た位相制御信号を停止した時点で発生していたCDS回
路へのサンプルパルスを継続して出力し、撮像信号をC
DS回路に直結している出力端子から取り出す。According to the present invention having the above-described structure, the CCD outputs the photoelectrically converted output signal to the CDS circuit, and the clamp pulse generating circuit causes the CDS circuit to output the DC level of the field through except the reset pulse of the CCD output signal. The clamp pulse for clamping is supplied, and the sample pulse generation circuit supplies the CDS circuit with a sample pulse for sample-holding the phase of the beginning of the signal period of the output signal of the CCD. The CDS circuit outputs the processed CCD output signal to the ADC circuit, the ADC circuit performs AD conversion, and the memory stores the output signal of the ADC circuit at address 1. Next, the microcomputer applies CC to the sample pulse generation circuit.
A phase control signal that advances the phase of the sample pulse by an arbitrary phase angle θ from the starting phase of the output signal of D is output,
The sample pulse generation circuit supplies the CDS circuit with a sample pulse advanced by an arbitrary phase angle θ from the starting phase of the CCD output signal. The CDS circuit is a processed CCD
Output signal to the ADC circuit, and the ADC circuit outputs AD
The memory converts the output signal of the ADC circuit to address 2
The data stored in address 1 and address 2 are output to the microcomputer. The microcomputer takes the difference between the data at address 1 and address 2, and if the difference is larger than the value set in the microcomputer, the phase control signal that advances the phase of the sample pulse to the sample pulse generation circuit by an arbitrary phase angle θ from the present time. Then, the sample pulse generating circuit supplies the sample pulse obtained by advancing the phase of the sample pulse by an arbitrary phase angle θ from the present time to the CDS circuit. Again, the CDS circuit outputs the processed output signal to the ADC circuit, and the ADC circuit performs AD conversion. The memory erases the data of the address 1 stored at the present time, writes the data of the address 2 to the address 1, and advances the phase of the sample pulse by an arbitrary phase angle θ from the present time. Address 2 for the output signal of the circuit
Stored as data. The microcomputer outputs the phase control signal to the sample pulse generation circuit until the difference between the data of address 1 and address 2 output from the memory converges to the value set in the microcomputer, and the sample pulse generation circuit outputs C
The phase of the sample pulse supplied to the DS circuit is advanced by an arbitrary phase angle θ, the CDS circuit outputs the processed CCD output signal to the ADC circuit, the ADC circuit performs AD conversion, and the memory addresses 1 The data of address 2 is updated and the data is output to the microcomputer. The microcomputer stops the phase control signal to the sample pulse generation circuit when the difference between address 1 and address 2 converges to the value set in the microcomputer, and the sample The pulse generation circuit continuously outputs the sample pulse to the CDS circuit that was generated when the phase control signal output from the microcomputer was stopped, and the image pickup signal C
Take out from the output terminal directly connected to the DS circuit.
【0012】[0012]
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0013】図1は本発明の第1の実施例における相関
2重サンプリング装置のブロック図を示すものである。
図1において、1はレンズ等を用いて光を電気信号に光
電変換した信号を出力するCCD、2はCCDの出力信
号を処理する相関2重サンプリング回路であるCDS回
路、3はCDS回路の出力信号をAD変換するADC回
路、4はADC回路の出力信号を記憶し記憶したデータ
をマイコンに出力するメモリ、5はメモリの出力信号を
基に前記CDS回路に供給するサンプルパルスの位相を
制御するための位相制御信号をサンプルパルス発生回路
に供給するマイコン、6はマイコンから供給された位相
制御信号を基に前記CDS回路に供給するサンプルパル
スを出力するサンプルパルス発生回路、7はCDS回路
に供給するCCDの出力信号のリセットパルスを除くフ
ィールドスルーの直流レベルをクランプするクランプパ
ルスを発生するクランプパルス発生回路、8は撮像信号
を取り出すCDS回路に直結した出力端子である。FIG. 1 is a block diagram of a correlated double sampling apparatus according to the first embodiment of the present invention.
In FIG. 1, 1 is a CCD that outputs a signal obtained by photoelectrically converting light into an electric signal using a lens, 2 is a CDS circuit that is a correlated double sampling circuit that processes the output signal of the CCD, and 3 is an output of the CDS circuit. An ADC circuit for AD converting the signal, 4 is a memory for storing the output signal of the ADC circuit and outputting the stored data to the microcomputer, and 5 is for controlling the phase of the sample pulse supplied to the CDS circuit based on the output signal of the memory. For supplying a phase control signal to the sample pulse generation circuit, 6 is a sample pulse generation circuit for outputting a sample pulse to be supplied to the CDS circuit based on the phase control signal supplied from the microcomputer, and 7 is a supply to the CDS circuit To generate a clamp pulse that clamps the DC level of the field through except the reset pulse of the CCD output signal. Npuparusu generation circuit, 8 denotes an output terminal directly connected to the CDS circuit for taking out an image pickup signal.
【0014】以上のように構成された本実施例の相関2
重サンプリング装置について、以下その動作図2,図3
を参照しながら説明する。図2,図3は本実施の動作状
態を示す信号波形図である。Correlation 2 of the present embodiment configured as described above
The operation of the heavy sampling device is shown in FIGS. 2 and 3 below.
Will be described with reference to. 2 and 3 are signal waveform diagrams showing the operation state of the present embodiment.
【0015】まず、CCD1にレンズ等から図2の
(a)に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、CCD1からは図2の(b)に示すような信号の他
に一定の直流レベルとリセットパルスが混入するフィー
ルドスルー成分が含まれる出力信号をCDS2に出力す
る。CDS2に、クランプパルス発生回路7から図2の
(c)に示すようなCCDの出力信号のリセットパルス
を除くフィールドスルーの直流レベルをクランプするク
ランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回路から図
2の(d)に示すようなCCDの出力信号の信号期間の
始まりの位相をサンプルホールドするサンプルパルスを
供給する。CDS2の出力信号をADC3に出力し、A
DC3でAD変換し、図3の(g)に示すような振幅値
Aの出力信号をメモリ4に出力し、メモリ4のアドレス
1のデータとして記憶する。次に、マイコン5から図3
の(h)に示すような振幅値BのDC信号である位相制
御信号をサンプルパルス発生回路6に出力し、サンプル
パルス発生回路6はマイコン5から出力した位相制御信
号を基に、図2の(e)に示すような図2の(d)のC
DS2に供給するサンプルパルスの位相よりθ0だけ進
んだサンプルパルスを再びCDS2に供給し、CDS2
の出力信号をADC3でAD変換し、図3の(i)に示
すような振幅値Cの出力信号をメモリ4に出力し、メモ
リ4のアドレス2のデータとして記憶する。そしてメモ
リ4のアドレス1、アドレス2のデータをマイコン5に
出力し、マイコン5は、図3の(j)に示すようなアド
レス1とアドレス2のデータの差分信号である振幅値D
の信号を検出し、検出した差分である振幅値Dの信号が
マイコンに設定した値より大きいため、図3の(k)に
示すような振幅値EのDC信号である位相制御信号をサ
ンプルパルス発生回路6に出力し、サンプルパルス発生
回路6はマイコン5から出力した位相制御信号を基に、
図2の(f)に示すような図2の(e)のCDS2に供
給するサンプルパルスの位相より更にθ1だけ進んだサ
ンプルパルスを再びCDS2に供給し、CDS2の出力
信号をADC3でAD変換し、メモリ4は、先ほどアド
レス1に記憶していたデータを消去し、アドレス2のデ
ータをアドレス1のデータとして記憶し、図3の(l)
に示すようなADC3から出力した振幅値Fの出力信号
をメモリ4のアドレス2に記憶する。メモリ4のアドレ
ス1、アドレス2のデータをマイコン5に出力し、マイ
コン5は図3の(m)に示すようなアドレス1、アドレ
ス2のデータの差分信号である振幅値Gの信号を検出
し、検出した差分信号である振幅値Gの信号がマイコン
に設定した値に収束したためサンプルパルス発生回路へ
の位相制御信号を停止し、サンプルパルス発生回路で
は、マイコンから出力した位相制御信号を停止した時点
で発生していたCDS回路へのサンプルパルスを継続し
て出力し、CDS回路に直結している出力端子8から撮
像信号を取り出す。First, when light having no level fluctuation with time as shown in FIG. 2A enters the CCD 1 from a lens or the like, the CCD 1 outputs a constant signal in addition to the signal shown in FIG. 2B. The output signal including the field-through component mixed with the DC level and the reset pulse is output to the CDS2. The CDS2 is supplied with a clamp pulse for clamping the DC level of the field through except the reset pulse of the CCD output signal as shown in FIG. 2C from the clamp pulse generation circuit 7, and the sample pulse generation circuit of FIG. A sample pulse for sampling and holding the phase at the beginning of the signal period of the CCD output signal as shown in (d) is supplied. The output signal of CDS2 is output to ADC3,
A / D conversion is performed by DC3, and an output signal having an amplitude value A as shown in (g) of FIG. 3 is output to the memory 4 and stored as address 1 data of the memory 4. Next, from the microcomputer 5 to FIG.
2 (h) outputs a phase control signal, which is a DC signal having an amplitude value B, to the sample pulse generation circuit 6, and the sample pulse generation circuit 6 outputs the phase control signal shown in FIG. C in FIG. 2D as shown in FIG.
The sample pulse advanced by θ0 from the phase of the sample pulse supplied to DS2 is again supplied to CDS2, and CDS2
The ADC output signal is AD-converted by the ADC 3, and the output signal having the amplitude value C as shown in (i) of FIG. 3 is output to the memory 4 and stored as the data of address 2 of the memory 4. Then, the data of address 1 and address 2 of the memory 4 is output to the microcomputer 5, and the microcomputer 5 outputs an amplitude value D which is a difference signal between the data of address 1 and address 2 as shown in (j) of FIG.
Signal of the amplitude value D, which is the detected difference, is larger than the value set in the microcomputer, the phase control signal, which is the DC signal of the amplitude value E as shown in FIG. Output to the generation circuit 6, and the sample pulse generation circuit 6 is based on the phase control signal output from the microcomputer 5,
As shown in (f) of FIG. 2, a sample pulse advanced by θ1 from the phase of the sample pulse supplied to CDS2 of (e) of FIG. 2 is again supplied to CDS2, and the output signal of CDS2 is AD-converted by ADC3. , The memory 4 erases the data previously stored in the address 1 and stores the data of the address 2 as the data of the address 1, (l) in FIG.
The output signal of the amplitude value F output from the ADC 3 as shown in FIG. The data of address 1 and address 2 of the memory 4 is output to the microcomputer 5, and the microcomputer 5 detects the signal of the amplitude value G which is the difference signal of the data of address 1 and address 2 as shown in (m) of FIG. , The phase difference control signal to the sample pulse generating circuit was stopped because the detected signal of the amplitude value G converged to the value set in the microcomputer, and the sample pulse generating circuit stopped the phase control signal output from the microcomputer. The sample pulse to the CDS circuit generated at that time is continuously output, and the image pickup signal is taken out from the output terminal 8 directly connected to the CDS circuit.
【0016】以上のように本実施例によれば、CDS2
に供給するサンプルパルスの位相を任意に変化させ、サ
ンプルパルスの位相変化の前後で得られるCDS2で処
理するCCD1の出力信号をメモリ4で記憶し、メモリ
4で記憶したデータの差分値をマイコン5で検出し、マ
イコン5で検出したデータの差分値がマイコン5に設定
した値に収束するまでCDS2に供給するサンプルパル
スの位相を変化させ、マイコン5で検出したデータの差
分値がマイコンに設定した値に収束した時点でサンプル
パルス発生回路への位相制御を停止し、サンプルパルス
発生回路は、マイコンから出力した位相制御信号を停止
した時点で発生していたCDS回路へのサンプルパルス
を継続して供給し、CDS2に直結した出力端子8から
撮像信号を取り出すことにより、高S/Nの撮像信号を
得ることができる。As described above, according to this embodiment, the CDS2
, The output signal of the CCD 1 processed by the CDS 2 obtained before and after the phase change of the sample pulse is stored in the memory 4, and the difference value of the data stored in the memory 4 is stored in the microcomputer 5 Detected by the microcomputer 5, the phase of the sample pulse supplied to the CDS 2 is changed until the difference value of the data detected by the microcomputer 5 converges to the value set in the microcomputer 5, and the difference value of the data detected by the microcomputer 5 is set in the microcomputer. When the value converges to the value, the phase control to the sample pulse generation circuit is stopped, and the sample pulse generation circuit continues the sample pulse to the CDS circuit generated when the phase control signal output from the microcomputer is stopped. A high S / N image pickup signal can be obtained by supplying the image pickup signal from the output terminal 8 directly connected to the CDS 2.
【0017】[0017]
【発明の効果】以上のように本発明は、温度変化等によ
りCDS回路に入力されるイメージセンサの出力信号の
位相が変化した場合においても、CDS回路に供給する
サンプルパルスの位相をCDS回路の出力信号を基に最
適にすることで高S/Nの撮像信号を得ることができ
る。As described above, according to the present invention, even when the phase of the output signal of the image sensor input to the CDS circuit changes due to a temperature change or the like, the phase of the sample pulse supplied to the CDS circuit can be changed by the CDS circuit. By optimizing based on the output signal, a high S / N image pickup signal can be obtained.
【図1】本発明の第1の実施例における相関2重サンプ
リング装置のブロック図FIG. 1 is a block diagram of a correlated double sampling device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】同実施例における相関2重サンプリング装置の
動作状態を説明するための信号波形図FIG. 2 is a signal waveform diagram for explaining an operating state of the correlated double sampling device in the same embodiment.
【図3】同実施例における相関2重サンプリング装置の
動作状態を説明するための信号波形図FIG. 3 is a signal waveform diagram for explaining an operating state of the correlated double sampling apparatus in the same embodiment.
【図4】従来の相関2重サンプリング装置の構成を示す
ブロック図FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a conventional correlated double sampling device.
【図5】従来の相関2重サンプリング装置の動作状態を
説明するための信号波形図FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining an operating state of a conventional correlated double sampling device.
1,9 CCD 2,10 CDS回路 3 ADC回路 4 メモリ 5 マイコン 6,12 サンプルパルス発生回路 7,11 クランプパルス発生回路 8,13 出力端子 1,9 CCD 2,10 CDS circuit 3 ADC circuit 4 Memory 5 Microcomputer 6,12 Sample pulse generation circuit 7,11 Clamp pulse generation circuit 8,13 Output terminal
Claims (1)
換した信号をCDS回路に出力するCCDと、 前記CCDの出力信号を処理する相関2重サンプリング
回路であるCDS回路と、 前記CDS回路の出力信号をAD変換するADC回路
と、 前記ADC回路の出力信号を記憶し記憶したデータをマ
イコンに出力するメモリと、 前記メモリの出力信号を基に前記CDS回路に供給する
サンプルパルスの位相を制御するための位相制御信号を
サンプルパルス発生回路に供給するマイコンと、 前記
マイコンから供給された位相制御信号を基に前記CDS
回路に供給するサンプルパルスを出力するサンプルパル
ス発生回路と、 前記CDS回路に供給するCCDの出力信号のリセット
パルスを除くフィールドスルーの直流レベルをクランプ
するクランプパルスを発生するクランプパルス発生回路
と、 撮像信号を取り出すCDS回路に直結した出力端子とを
備えたことを特徴とする相関2重サンプリング装置。1. A CCD that outputs a signal obtained by photoelectrically converting light into an electric signal using a lens or the like, a CDS circuit that is a correlated double sampling circuit that processes an output signal of the CCD, and the CDS circuit. Of the output signal of the ADC circuit, a memory for storing the output signal of the ADC circuit and outputting the stored data to the microcomputer, and a phase of the sample pulse supplied to the CDS circuit based on the output signal of the memory. A microcomputer that supplies a phase control signal for controlling the sample pulse generating circuit, and the CDS based on the phase control signal supplied from the microcomputer.
A sample pulse generating circuit for outputting a sample pulse to be supplied to the circuit; a clamp pulse generating circuit for generating a clamp pulse for clamping the DC level of the field through except the reset pulse of the CCD output signal supplied to the CDS circuit; A correlated double sampling device having an output terminal directly connected to a CDS circuit for extracting a signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6206725A JPH0879634A (en) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | Correlation duplex sampling device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6206725A JPH0879634A (en) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | Correlation duplex sampling device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0879634A true JPH0879634A (en) | 1996-03-22 |
Family
ID=16528080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6206725A Pending JPH0879634A (en) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | Correlation duplex sampling device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0879634A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6847223B2 (en) | 2003-02-14 | 2005-01-25 | Wintest Corporation | Method and device for inspection active matrix substrate |
KR100574891B1 (en) * | 2003-01-13 | 2006-04-27 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Image sensor with clamp circuit |
JP2008283257A (en) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Phase adjustment device, phase adjustment method, and digital camera |
JP2008311985A (en) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Panasonic Corp | Phase adjusting device and digital camera |
US7800789B2 (en) | 2005-02-10 | 2010-09-21 | Seiko Epson Corporation | Analog front-end circuit and electronic device |
WO2012050115A1 (en) * | 2010-10-14 | 2012-04-19 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | Endoscope and endoscopic system |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP6206725A patent/JPH0879634A/en active Pending
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