JPH0850797A - Sample & hold circuit - Google Patents
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- JPH0850797A JPH0850797A JP6205978A JP20597894A JPH0850797A JP H0850797 A JPH0850797 A JP H0850797A JP 6205978 A JP6205978 A JP 6205978A JP 20597894 A JP20597894 A JP 20597894A JP H0850797 A JPH0850797 A JP H0850797A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はサンプルホールド回路に
係り、アナログあるいは多値演算に際して、所要アナロ
グ電圧を所定タイミング保持し、あるいは所定位置まで
転送する際に使用されるサンプルホールド回路に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample and hold circuit, and more particularly to a sample and hold circuit used for holding a required analog voltage at a predetermined timing or transferring it to a predetermined position in analog or multi-value calculation.
【0002】[0002]
【従来の技術】本発明の発明者等は特願平05−045
900号において、この種のサンプルホールド回路を提
案している。このサンプルホールド回路は、図10に示
すように、奇数段の直列なMOSインバータINV1の
入出力をフィードバックキャパシタンスCF1により接
続してなるサンプル回路S1と、このサンプル回路S1
にカップリングキャパシタンスCC1を介して入力電圧
Vinを接続するスイッチSW1と、奇数段の直列なM
OSインバータINV2の入出力をフィードバックキャ
パシタンスCF2により接続してなるホールド回路H1
と、サンプル回路S1の出力をホールド回路H1の入力
に接続するカップリングキャパシタンスCC2と、この
カップリングキャパシタンスCC2とサンプル回路S1
とを開閉可能に接続するスイッチSW2とを有し、キャ
パシタンスCF1、CF2、CC1、CC2において電
荷を保持することによってデータを保存する。BACKGROUND OF THE INVENTION The inventors of the present invention have filed Japanese Patent Application No. 05-045.
No. 900 proposes this type of sample and hold circuit. As shown in FIG. 10, this sample-hold circuit includes a sample circuit S1 in which the input and output of odd-numbered series MOS inverters INV1 are connected by a feedback capacitance CF1, and the sample circuit S1.
To the switch SW1 for connecting the input voltage Vin via the coupling capacitance CC1 and the odd-numbered series M
A hold circuit H1 in which the input and output of the OS inverter INV2 are connected by a feedback capacitance CF2
And a coupling capacitance CC2 for connecting the output of the sample circuit S1 to the input of the hold circuit H1, the coupling capacitance CC2 and the sample circuit S1.
And a switch SW2 for opening and closing, and holding the charge in the capacitances CF1, CF2, CC1, and CC2 to store data.
【0003】このような構成において、MOS、キャパ
シタンス等に電荷が残留することがあり、これを放置す
ると出力データのオフセットが増加する。このオフセッ
トを解消するためにはサンプル回路S1、ホールド回路
H1の入出力をショートさせて、いわゆるリフレッシュ
を行う必要があるが、このときサンプルホールド回路の
出力にはリフレッシュノイズが発生する。In such a configuration, charges may remain in the MOS, capacitance, etc. If left unattended, the offset of output data increases. In order to eliminate this offset, it is necessary to short-circuit the input and output of the sample circuit S1 and the hold circuit H1 to perform so-called refresh, but at this time, refresh noise is generated in the output of the sample hold circuit.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような従
来の問題点を解消すべく創案されたもので、リフレッシ
ュノイズを防止し得るサンプルホールド回路を提供する
ことを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention was devised to solve such conventional problems, and an object of the present invention is to provide a sample hold circuit capable of preventing refresh noise.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明に係るサンプルホ
ールド回路は、1対のサンプルホールド回路を設けると
ともにこれらサンプルホールド回路の出力をマルチプレ
クサによって選択するものであり、第1のサンプルホー
ルド回路のリフレッシュを行っているときには第2のサ
ンプルホールド回路の出力を採用するものである。A sample and hold circuit according to the present invention is provided with a pair of sample and hold circuits and selects the outputs of these sample and hold circuits by a multiplexer, and refreshes the first sample and hold circuit. The output of the second sample-and-hold circuit is adopted during the operation.
【0006】[0006]
【作用】このようなサンプルホールド回路によれば、効
果的にリフレッシュノイズの発生を防止し得る。According to such a sample hold circuit, refresh noise can be effectively prevented.
【0007】[0007]
【実施例】次に本発明に係るサンプルホールド回路の1
実施例を図面に基づいて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, one of the sample and hold circuits according to the present invention will be described.
An embodiment will be described with reference to the drawings.
【0008】図1において、サンプルホールド回路は第
1サンプルホールド回路SH1、第2サンプルホールド
回路SH2およびマルチプレクサMUXを有し、入力電
圧Vinは第1サンプルホールド回路SH1に入力され
ている。第2サンプルホールド回路SH2には第1サン
プルホールド回路SH1の出力が入力され、マルチプレ
クサMUXは第1、第2サンプルホールド回路の出力を
択一的に選択する。サンプルホールド回路SH1には、
さらにサンプル信号Ss、ホールド信号Sh、第1リフ
レッシュ信号Rf1、第2リフレッシュ信号Rf2が入
力され、また、サンプルホールド回路SH2には、サン
プル信号Ssと第1リフレッシュ信号Rf1が入力され
ている。In FIG. 1, the sample and hold circuit has a first sample and hold circuit SH1, a second sample and hold circuit SH2 and a multiplexer MUX, and an input voltage Vin is input to the first sample and hold circuit SH1. The output of the first sample-and-hold circuit SH1 is input to the second sample-and-hold circuit SH2, and the multiplexer MUX selectively selects the output of the first and second sample-and-hold circuits. The sample hold circuit SH1 has
Further, the sample signal Ss, the hold signal Sh, the first refresh signal Rf1, and the second refresh signal Rf2 are input, and the sample signal Ss and the first refresh signal Rf1 are input to the sample hold circuit SH2.
【0009】サンプル信号Ssはサンプルホールド回路
SH1、SH2内でのサンプリング(従来例のS1での
データ保持に対応)を実行させ、ホールド信号Shはサ
ンプルホールド回路SH1内でのホールディング(従来
例のH1でのデータ保持に対応)を実行させる。ここ
に、サンプルホールド回路SH2はサンプルホールド回
路SH1の出力が入力となっているので、入力電圧Vi
nを1回のサンプルホールドタイミング分だけ遅れて取
込む。この遅延を利用し、マルチプレクサMUXによっ
て、SH1のホールド回路のリフレッシュを行う際には
SH2からデータを出力させ、リフレッシュ終了後に再
びSH1からの出力に切替えて、リフレッシュノイズの
影響を消去する。The sample signal Ss causes sampling in the sample-hold circuits SH1 and SH2 (corresponding to the data holding in S1 of the conventional example), and the hold signal Sh holds in the sample-hold circuit SH1 (H1 of the conventional example). (Corresponding to data retention in) is executed. Here, since the output of the sample hold circuit SH1 is input to the sample hold circuit SH2, the input voltage Vi
n is fetched with a delay of one sample hold timing. By utilizing this delay, when the hold circuit of SH1 is refreshed by the multiplexer MUX, data is output from SH2, and after the refresh is completed, the output from SH1 is switched again to erase the influence of refresh noise.
【0010】図2はサンプルホールド回路SH1を示す
ブロック図であり、入力電圧VinをスイッチSW1
1、カップリングキャパシタンスCC11を順次介し
て、サンプル回路S11に接続し、サンプル回路S11
の出力を、スイッチSW12、カップリングキャパシタ
ンスCC12を順次介してホールド回路H11に接続し
てなる。FIG. 2 is a block diagram showing the sample and hold circuit SH1, in which the input voltage Vin is switched to the switch SW1.
1. Connected to the sample circuit S11 via the coupling capacitance CC11 in sequence, and the sample circuit S11
Is connected to the hold circuit H11 through the switch SW12 and the coupling capacitance CC12 in sequence.
【0011】サンプル回路S11は、3段直列のMOS
インバータINV11〜INV13(図5)の最終段出
力を、フィードバックキャパシタンスCf11を介して
初段入力に接続してなり、INV11〜INV13の増
幅性能により、良好な線形特性においてVinの反転
(電源電圧−Vin)がS11の出力に生じる。一方ホ
ールド回路H11は、S11と同様の3段直列のMOS
インバータINV11〜INV13(図5)の最終段出
力を、フィードバックキャパシタンスCf12を介して
初段入力に接続してなり、スイッチSW12を閉成する
と、S11の出力の反転、すなわちVinそのものがH
11の出力に生じる。The sample circuit S11 is a three-stage series MOS
The final stage outputs of the inverters INV11 to INV13 (FIG. 5) are connected to the first stage input via the feedback capacitance Cf11, and due to the amplification performance of the INV11 to INV13, the inversion of Vin (power supply voltage −Vin) in good linear characteristics Occurs at the output of S11. On the other hand, the hold circuit H11 is a three-stage series MOS similar to S11.
The final stage outputs of the inverters INV11 to INV13 (FIG. 5) are connected to the first stage input via the feedback capacitance Cf12, and when the switch SW12 is closed, the output of S11 is inverted, that is, Vin itself becomes H.
11 output.
【0012】さらにサンプルホールド回路SH1は、キ
ャパシタンスCC11、CC12、Cf11、Cf12
のリフレッシュのために、スイッチSW13〜SW16
をそれぞれ有し、スイッチSW15、SW16を閉成す
るとキャパシタンスCf11、Cf12の両端に等しい
電位が印加されてリフレッシュが行われる。スイッチS
W13、SW14はCC11、CC12に基準電圧(こ
こではMOSドレイン電圧Vddの1/2の電圧Vdd
/2)を印加し、S11、H11の入力を基準電圧に戻
す。Further, the sample hold circuit SH1 includes capacitances CC11, CC12, Cf11, Cf12.
Switches SW13 to SW16 for refreshing
When the switches SW15 and SW16 are closed, the same potential is applied to both ends of the capacitances Cf11 and Cf12, and refresh is performed. Switch S
W13 and SW14 are connected to CC11 and CC12 with a reference voltage (here, a voltage Vdd that is ½ of the MOS drain voltage Vdd).
/ 2) is applied, and the inputs of S11 and H11 are returned to the reference voltage.
【0013】スイッチSW11とキャパシタンスCC1
1との間には、サンプル回路S11の電荷保持能力を高
めるための付加キャパシタンスCad11の一端が接続
され、Cad11の他端は基準電圧発生回路Gstdに
接続されている。一方、スイッチSW12とキャパシタ
ンスCC12との間には、ホールド回路H11の電荷保
持能力を高めるための付加キャパシタンスCad12の
一端が接続され、Cad12の他端は前記基準電圧発生
回路Gstdに接続されている。前記スイッチSW1
3、SW14が閉成されたときには、Cad11、Ca
d12は両端に等しい電荷が印加されて、リフレッシュ
される。Switch SW11 and capacitance CC1
1 is connected to one end of an additional capacitance Cad11 for increasing the charge retention capability of the sample circuit S11, and the other end of Cad11 is connected to the reference voltage generation circuit Gstd. On the other hand, between the switch SW12 and the capacitance CC12, one end of an additional capacitance Cad12 for increasing the charge holding capacity of the hold circuit H11 is connected, and the other end of the Cad12 is connected to the reference voltage generation circuit Gstd. The switch SW1
3, when SW14 is closed, Cad11, Ca
The d12 is refreshed by applying an equal charge to both ends.
【0014】サンプル信号Ss、ホールド信号Shはス
イッチSW11、SW12にそれぞれ入力され、Ssが
入力されたとき(ハイレベルになったとき)にSW11
は閉成され、Shが入力されたとき(ハイレベルになっ
たとき)にSW12は閉成される。Ss、Shは図9の
タイミングチャートに示すタイミングで入力され、これ
に呼応してサンプル回路S11の出力Ds1、ホールド
回路Dh1の出力が生じる。今Vinの値がaであった
ときに、Ssが入力されると、aはDs1として保持さ
れ、次にShが入力されると、aはホールド回路に転送
されてDh1として保持される。The sample signal Ss and the hold signal Sh are input to the switches SW11 and SW12, respectively, and when Ss is input (when it becomes high level), SW11.
Is closed, and SW12 is closed when Sh is input (high level). Ss and Sh are input at the timing shown in the timing chart of FIG. 9, and in response thereto, the output Ds1 of the sample circuit S11 and the output of the hold circuit Dh1 are generated. When Ss is input when the value of Vin is a, a is held as Ds1, and when Sh is input next, a is transferred to the hold circuit and held as Dh1.
【0015】第1リフレッシュ信号Rf1は信号Rf1
1、Rf12よりなり、信号Rf11はスイッチSW1
5に入力され、信号Rf12はスイッチSW13に入力
されている。Rf1は複数回のサンプルホールドに対し
て1回という間欠的なタイミングでS11をリフレッシ
ュし、リフレッシュ終了と同時にSsが入力されてサン
プリングが開始される。Rf12はRf11と同時に入
力され(同時にハイレベルとなり)、Rf11の入力が
終了した後にやや時間をおいて入力終了となる。ここに
キャパシタンスCC11のリフレッシュを行うためには
両端の電位を一定に保持する必要があるが、Rf11、
RF12を同時に終了すると、過渡状態においてCC1
1に充電電圧が印加される可能性がある。Rf12の持
続はこの不測の充電を防止する上で有効である。The first refresh signal Rf1 is the signal Rf1.
1 and Rf12, and the signal Rf11 is the switch SW1.
5, and the signal Rf12 is input to the switch SW13. Rf1 refreshes S11 at an intermittent timing of once for sample and hold a plurality of times, and Ss is input and sampling is started at the same time as the refresh is completed. Rf12 is input at the same time as Rf11 (at the same time, becomes high level), and the input ends after a while after the input of Rf11 ends. Here, in order to refresh the capacitance CC11, it is necessary to keep the potentials at both ends constant, but Rf11,
When RF12 is finished at the same time, CC1
There is a possibility that a charging voltage will be applied to unit 1. Maintaining Rf12 is effective in preventing this unexpected charging.
【0016】第2リフレッシュ信号Rf2は信号Rf2
1、Rf22よりなり、信号Rf21はスイッチSW1
6に入力され、信号Rf22はスイッチSW14に入力
されている。Rf1は複数回のサンプルホールドに対し
て1回という間欠的なタイミングでH11をリフレッシ
ュし、リフレッシュ終了と同時にShが入力されてホー
ルディングが開始される。Rf22はRf21と同時に
入力され(同時にハイレベルとなり)、Rf21の入力
が終了した後にやや時間をおいて入力終了となる。ここ
にキャパシタンスCC12のリフレッシュを行うために
は両端の電位を一定に保持する必要があるが、Rf2
1、RF22を同時に終了すると、過渡状態においてC
C21に充電電圧が印加される可能性がある。Rf22
の持続はこの不測の充電を防止する上で有効である。The second refresh signal Rf2 is the signal Rf2.
1 and Rf22, and the signal Rf21 is the switch SW1.
6, and the signal Rf22 is input to the switch SW14. Rf1 refreshes H11 at an intermittent timing of once for sample and hold a plurality of times, and Sh is input at the same time as the refresh is completed and holding is started. Rf22 is input at the same time as Rf21 (at the same time becomes high level), and the input ends after a short time after the input of Rf21 ends. Here, in order to refresh the capacitance CC12, it is necessary to keep the potentials at both ends constant, but Rf2
1. When RF22 is finished at the same time, C in transient state
The charging voltage may be applied to C21. Rf22
Continuation of is effective in preventing this unexpected charge.
【0017】図3はサンプルホールド回路SH2を示す
ブロック図であり、SH1の出力をスイッチSW21、
カップリングキャパシタンスCC21を順次介して、サ
ンプル回路S21に接続し、サンプル回路S21の出力
を、スイッチSW22、カップリングキャパシタンスC
C22を順次介してホールド回路H21に接続してな
る。FIG. 3 is a block diagram showing the sample and hold circuit SH2. The output of SH1 is switched to the switch SW21,
The output of the sample circuit S21 is connected to the switch SW22 and the coupling capacitance C through the coupling capacitance CC21.
It is connected to the hold circuit H21 via C22 in sequence.
【0018】サンプル回路S21は、3段直列のMOS
インバータINV11〜INV13(図5)の最終段出
力を、フィードバックキャパシタンスCf21を介して
初段入力に接続してなり、INV11〜INV13の増
幅性能により、良好な線形特性においてVinの反転
(電源電圧−Vin)がS21の出力に生じる。一方ホ
ールド回路H21は、S21と同様の3段直列のMOS
インバータINV11〜INV13(図5)の最終段出
力を、フィードバックキャパシタンスCf22を介して
初段入力に接続してなり、スイッチSW22を閉成する
と、S21の出力の反転、すなわちVinそのものがH
21の出力に生じる。The sample circuit S21 is a three-stage series MOS
The final stage output of the inverters INV11 to INV13 (FIG. 5) is connected to the first stage input via the feedback capacitance Cf21, and due to the amplification performance of INV11 to INV13, the inversion of Vin (power supply voltage −Vin) with good linear characteristics. Occurs in the output of S21. On the other hand, the hold circuit H21 is a three-stage series MOS similar to S21.
The final stage outputs of the inverters INV11 to INV13 (FIG. 5) are connected to the first stage input via the feedback capacitance Cf22, and when the switch SW22 is closed, the output of S21 is inverted, that is, Vin itself becomes H.
21 output.
【0019】さらにサンプルホールド回路SH2は、キ
ャパシタンスCC21、CC22、Cf21、Cf22
のリフレッシュのために、スイッチSW23〜SW26
をそれぞれ有し、スイッチSW25、SW26を閉成す
るとキャパシタンスCf21、Cf22の両端に等しい
電位が印加されてリフレッシュが行われる。スイッチS
W23、SW24はCC21、CC22に基準電圧を印
加し、S21、H21の入力を基準電圧に戻す。Further, the sample and hold circuit SH2 includes capacitances CC21, CC22, Cf21 and Cf22.
Switches SW23 to SW26 for refreshing
When the switches SW25 and SW26 are closed, the same potential is applied to both ends of the capacitances Cf21 and Cf22, and refresh is performed. Switch S
W23 and SW24 apply the reference voltage to CC21 and CC22, and return the inputs of S21 and H21 to the reference voltage.
【0020】スイッチSW21とキャパシタンスCC2
1との間には、サンプル回路S21の電荷保持能力を高
めるための付加キャパシタンスCad21の一端が接続
され、Cad21の他端は基準電圧発生回路Gstdに
接続されている。一方、スイッチSW22とキャパシタ
ンスCC22との間には、ホールド回路H21の電荷保
持能力を高めるための付加キャパシタンスCad22の
一端が接続され、Cad22の他端は前記基準電圧発生
回路Gstdに接続されている。前記スイッチSW2
3、SW24が閉成されたときには、Cad21、Ca
d22は両端に等しい電荷が印加されて、リフレッシュ
される。Switch SW21 and capacitance CC2
1 is connected to one end of an additional capacitance Cad21 for increasing the charge retention capability of the sample circuit S21, and the other end of the Cad21 is connected to the reference voltage generation circuit Gstd. On the other hand, between the switch SW22 and the capacitance CC22, one end of an additional capacitance Cad22 for enhancing the charge holding capability of the hold circuit H21 is connected, and the other end of the Cad22 is connected to the reference voltage generation circuit Gstd. The switch SW2
3, when SW24 is closed, Cad21, Ca
The d22 is refreshed by applying an equal charge to both ends.
【0021】サンプル信号SsはスイッチSW21、S
W22両者に入力され、Ssが入力されたときにSW2
1、SW22はともに閉成される。SH2は、SH1の
サンプルタイミングに同期して、SH1の出力を取込
み、出力Ds2として保持する。この出力のタイミング
は、図9に示すように、SH1のサンプリングに対して
1サンプルタイミング分遅延している。The sample signal Ss is supplied to the switches SW21 and S21.
W22 is input to both, when Ss is input, SW2
Both SW1 and SW22 are closed. SH2 takes in the output of SH1 and holds it as output Ds2 in synchronization with the sample timing of SH1. As shown in FIG. 9, the timing of this output is delayed by one sample timing with respect to the sampling of SH1.
【0022】図4に示すようにマルチプレクサMUXに
は出力Dh1、Ds2および信号Rf22が入力され、
Rf22のハイ、ローの変化に呼応してDh1、Ds2
を択一的に出力するようになっている。MUXは一対の
MOSスイッチMS1、MS2を有し、Dh1、Ds2
はMS1、MS2にそれぞれ入力されている。MS1は
Rf22がローレベルのときに閉成され、MS2はRf
22がハイレベルのときに閉成される。各MOSスイッ
チはnMOSとpMOSを並列接続してなり、これらM
OSのゲートには逆極性の制御信号を入力する必要があ
る。そこでRf22はMOSインバータINV3に入力
され、正逆両極性の信号が生成されている。以上よりS
H1のホールド回路H11がリフレッシュされていると
きには、Ds2が最終出力DoutとしてMUXから出
力され、その後直ちにDh1に復帰する。その結果、図
9に示すように、最終出力Doutはリフレッシュノイ
ズの影響を受けることなく、連続的にVinを出力する
ことになる。As shown in FIG. 4, outputs Dh1, Ds2 and signal Rf22 are input to the multiplexer MUX,
Dh1, Ds2 in response to changes in Rf22 high and low
Is output alternatively. The MUX has a pair of MOS switches MS1 and MS2, and Dh1 and Ds2.
Are input to MS1 and MS2, respectively. MS1 is closed when Rf22 is low level, MS2 is Rf
It is closed when 22 is at high level. Each MOS switch consists of nMOS and pMOS connected in parallel.
It is necessary to input a control signal of opposite polarity to the gate of OS. Therefore, Rf22 is input to the MOS inverter INV3, and signals of both positive and negative polarities are generated. From the above, S
When the hold circuit H11 for H1 is being refreshed, Ds2 is output from the MUX as the final output Dout, and then immediately returns to Dh1. As a result, as shown in FIG. 9, the final output Dout continuously outputs Vin without being affected by the refresh noise.
【0023】図5に示すインバータINV11〜INV
13は、最終段インバータINV13の出力にローパス
特性を得るためのキャパシタンスCLが接続され、IN
V12とINV13の間に平衡レジスタンスR1、R2
が接続されている。これによってS11、S21、H1
1、S21の発振が防止されている。Inverters INV11 to INV shown in FIG.
A capacitor CL for obtaining a low-pass characteristic is connected to the output of the final stage inverter INV13
Balance resistances R1 and R2 between V12 and INV13
Is connected. By this, S11, S21, H1
1, the oscillation of S21 is prevented.
【0024】スイッチSW11〜SW14、SW21〜
SW24は図6のように構成され、前記と同様のMOS
スイッチMS3の後段にダミートランジスタDT1を接
続してなり、MOSスイッチのnMOS、pMOSに対
応するためのインバータINV4が設けられている。Switches SW11 to SW14, SW21 to
The SW24 is configured as shown in FIG. 6 and has the same MOS structure as the above.
A dummy transistor DT1 is connected to the subsequent stage of the switch MS3, and an inverter INV4 is provided to correspond to the nMOS and pMOS of the MOS switch.
【0025】スイッチSW15、SW16、SW25、
SW26は図7のように構成され、前記と同様のMOS
スイッチMS4の後段にダミートランジスタDT2を接
続してなり、MOSスイッチのnMOS、pMOSに対
応するためのインバータINV5が設けられている。The switches SW15, SW16, SW25,
The SW 26 is configured as shown in FIG. 7, and has the same MOS structure as that described above.
A dummy transistor DT2 is connected to the subsequent stage of the switch MS4, and an inverter INV5 is provided to correspond to the nMOS and pMOS of the MOS switch.
【0026】前記基準電圧発生回路Gstdは図8のよ
うに構成され、図5の3段インバータの最終段出力をフ
ィードバックキャパシタンスCF3を介して初段入力に
フィードバックしてなり、さらに図7のスイッチSW3
によって3段インバータの入出力が直接接続されてい
る。これによってINV6の出力は安定な動作点Vdd
/2に収束し、常にVdd/2を出力することになる。
この場合CF3はINV6の発振防止に寄与する。The reference voltage generation circuit Gstd is constructed as shown in FIG. 8, and the final stage output of the three-stage inverter of FIG. 5 is fed back to the first stage input via the feedback capacitance CF3, and further the switch SW3 of FIG.
The input and output of the three-stage inverter are directly connected by. As a result, the output of INV6 has a stable operating point Vdd.
It converges to / 2 and always outputs Vdd / 2.
In this case, CF3 contributes to the oscillation prevention of INV6.
【0027】[0027]
【発明の効果】前述のとおり、本発明に係るサンプルホ
ールド回路は、1対のサンプルホールド回路を設けると
ともにこれらサンプルホールド回路の出力をマルチプレ
クサによって選択するものであり、第1のサンプルホー
ルド回路のリフレッシュを行っているときには第2のサ
ンプルホールド回路の出力を採用するので、リフレッシ
ュノイズを防止し得るという優れた効果を有する。As described above, the sample and hold circuit according to the present invention is provided with a pair of sample and hold circuits and selects the outputs of these sample and hold circuits by a multiplexer. Since the output of the second sample-and-hold circuit is adopted during the operation, there is an excellent effect that the refresh noise can be prevented.
【図1】本発明に係る、サンプルホールド回路の1実施
例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a sample hold circuit according to the present invention.
【図2】同実施例における第1サンプルホールド回路を
示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a first sample hold circuit according to the first embodiment.
【図3】同実施例における第2サンプルホールド回路を
示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a second sample and hold circuit in the embodiment.
【図4】同実施例におけるマルリプレクサを示す回路図
である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a round replexer in the embodiment.
【図5】同実施例におけるインバータを示す回路図であ
る。FIG. 5 is a circuit diagram showing an inverter in the embodiment.
【図6】同実施例における第1スイッチを示す回路図で
ある。FIG. 6 is a circuit diagram showing a first switch in the example.
【図7】同実施例における第2スイッチを示す回路図で
ある。FIG. 7 is a circuit diagram showing a second switch in the example.
【図8】同実施例における基準電圧発生回路を示すブロ
ック図である。FIG. 8 is a block diagram showing a reference voltage generation circuit in the same embodiment.
【図9】同実施例の動作を示すタイミングチャートであ
る。FIG. 9 is a timing chart showing the operation of the embodiment.
【図10】従来のサンプルホールド回路を示す回路図で
ある。FIG. 10 is a circuit diagram showing a conventional sample hold circuit.
Cad11、Cad12、Cad21、Cad2
2...付加キャパシタンス CC1、CC2、CC11、CC12...カップリン
グキャパシタンス CF11、CF12、CF21、CF22、CF
3...フィードバックキャパシタンス Ds1、Dh1、Ds2、Dout...出力 DT1、DT2...ダミートランジスタ H1、H11、H21...ホールド回路 INV1、INV2、INV11、INV12、INV
13、INV3、INV4、INV5、INV6...
MOSインバータ MS1、MS2、MS3、MS4...MOSスイッチ MUX...マルチプレクサ S1、S11、S12、S21...サンプル回路 Sh...ホールド信号 SH1...第1サンプルホールド回路 SH2...第2サンプルホールド回路 Ss...サンプル信号 SW1、SW2、SW3、SW11、SW12...ス
イッチ R1、R2...平衡レジスタンス Rf1 ...第1リフレッシュ信号 Rf11、Rf12...信号 Rf2...第2リフレッシュ信号 Rf21、Rf22...信号 Vin...入力電圧Cad11, Cad12, Cad21, Cad2
2. . . Additional capacitances CC1, CC2, CC11, CC12. . . Coupling capacitance CF11, CF12, CF21, CF22, CF
3. . . Feedback capacitances Ds1, Dh1, Ds2, Dout. . . Outputs DT1, DT2. . . Dummy transistors H1, H11, H21. . . Hold circuits INV1, INV2, INV11, INV12, INV
13, INV3, INV4, INV5, INV6. . .
MOS inverters MS1, MS2, MS3, MS4. . . MOS switch MUX. . . Multiplexers S1, S11, S12, S21. . . Sample circuit Sh. . . Hold signal SH1. . . First sample hold circuit SH2. . . Second sample hold circuit Ss. . . Sample signals SW1, SW2, SW3, SW11, SW12. . . Switches R1, R2. . . Equilibrium resistance Rf1. . . The first refresh signals Rf11, Rf12. . . Signal Rf2. . . Second refresh signals Rf21, Rf22. . . Signal Vin. . . Input voltage
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 誠 東京都世田谷区北沢3−5−18 鷹山ビル 株式会社鷹山内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Makoto Yamamoto 3-5-18 Kitazawa, Setagaya-ku, Tokyo Takayama Building Takayamauchi Co., Ltd.
Claims (5)
号、第1リフレッシュ信号、第2リフレッシュ信号が接
続され、前記サンプル信号によって前記入力電圧をサン
プリングし、前記ホールド信号によってサンプリングさ
れた入力電圧を転送してホールディングし、前記第1リ
フレッシュ信号が所定の頻度でサンプル信号の直前に入
力されサンプリングのためのリフレシュを行い、前記第
2リフレシュ信号が所定の頻度で前記ホールド信号の直
前に入力されてホールディングのためのリフレシュを行
うようになっている第1サンプルホールド回路と;この
前記第1サンプルホールド回路の出力、前記サンプル信
号、前記第1リフレシュ信号が接続され、前記サンプル
信号によって第1サンプルホールド回路の出力をサンプ
リングおよびホールディングし、前記第1リフレシュ信
号が所定の頻度で前記ホールド信号直前に入力されて、
サンプリングおよびホールディングのためのリフレシュ
を行うようになっている第2サンプルホールド回路と;
前記第1、第2サンプルホールド回路の出力が入力さ
れ、前記第2リフレシュ信号が第1サンプルホールド回
路に入力されたときには、第2サンプルホールド回路の
出力を選択し、その他のときに第1サンプルホールド回
路の出力を選択するマルチプレクサと;を備えているサ
ンプルホールド回路。1. An input voltage, a sample signal, a hold signal, a first refresh signal, and a second refresh signal are connected, the input voltage is sampled by the sample signal, and the input voltage sampled by the hold signal is transferred. Holding, the first refresh signal is input at a predetermined frequency immediately before the sample signal to perform refreshing for sampling, and the second refresh signal is input at a predetermined frequency immediately before the hold signal to perform holding. A first sample-and-hold circuit adapted to perform refreshing for the purpose; and an output of the first sample-and-hold circuit, the sample signal, and the first refresh signal are connected, and a sample signal of the first sample-and-hold circuit is connected. Output is sampled and held And the first refresh signal is input at a predetermined frequency immediately before the hold signal,
A second sample and hold circuit adapted to perform refresh for sampling and holding;
When the outputs of the first and second sample and hold circuits are input and the second refresh signal is input to the first sample and hold circuit, the output of the second sample and hold circuit is selected, and at other times the first sample and hold circuit is selected. And a multiplexer for selecting the output of the hold circuit;
の直列なMOSインバータの入出力を第1フィードバッ
クキャパシタンスにより接続してなる第1サンプル回路
と;この第1サンプル回路に第1カップリングキャパシ
タンスを介して入力電圧を接続する第1スイッチと;前
記第1サンプル回路の出力に接続された第2スイッチ
と、 この第2スイッチの出力に接続された第2カップリング
キャパシタンスと;奇数段の直列なMOSインバータの
入出力を第2フィードバックキャパシタンスにより接続
してなる第1ホールド回路と;前記第2カップリングキ
ャパシタンスの出力をこの第1ホールド回路に接続する
第2カップリングキャパシタンスと;を備え、 前記第1スイッチは前記サンプル信号によって閉成さ
れ、前記第2スイッチはホールド信号によって閉成さ
れ、前記第1サンプル回路は前記第1リフレシュ信号に
よって電荷除去によるリフレシュが行われ、前記第1ホ
ールド回路は第2リフレシュ信号によって電荷除去によ
るリフレシュが行われるようになっていることを特徴と
する請求項1に記載のサンプルホールド回路。2. The first sample-hold circuit comprises: a first sample circuit formed by connecting the input and output of an odd-numbered series MOS inverter in series with a first feedback capacitance; and a first coupling capacitance connected to the first sample circuit. A first switch for connecting an input voltage via; a second switch connected to the output of the first sample circuit; and a second coupling capacitance connected to the output of the second switch; A first hold circuit formed by connecting the input and output of a MOS inverter with a second feedback capacitance; and a second coupling capacitance connecting the output of the second coupling capacitance to the first hold circuit; One switch is closed by the sample signal and the second switch is closed. The first sample circuit is refreshed by electric charge removal by the first refresh signal, and the first hold circuit is refreshed by electric charge removal by the second refresh signal. The sample hold circuit according to claim 1, wherein
の直列なMOSインバータの入出力を第3フィードバッ
クキャパシタンスにより接続してなる第2サンプル回路
と;この第2サンプル回路に第3カップリングキャパシ
タンスを介して第1サンプルホールド回路の出力を接続
する第3スイッチと;奇数段の直列なMOSインバータ
の入出力を第4フィードバックキャパシタンスにより接
続してなる第2ホールド回路と;前記第2サンプル回路
の出力をこの第2ホールド回路の入力に接続する第4カ
ップリングキャパシタンスと;を備え、 前記第3スイッチは前記サンプル信号によって閉成さ
れ、前記第2サンプル回路および第2ホールド回路は前
記第1リフレシュ信号によって電荷除去によるリフレシ
ュが行われるようになっていることを特徴とする請求項
1に記載のサンプルホールド回路。3. A second sample-and-hold circuit comprising: a second sample circuit formed by connecting the input and output of an odd-numbered series MOS inverter in series with a third feedback capacitance; and a third coupling capacitance in the second sample circuit. A third switch for connecting the output of the first sample and hold circuit via the second switch; a second hold circuit in which the input and output of odd-numbered series MOS inverters are connected by a fourth feedback capacitance; and the output of the second sample circuit And a fourth coupling capacitance connecting the input to the second hold circuit, the third switch being closed by the sample signal, and the second sample circuit and the second hold circuit being the first refresh signal. That the refreshing by electric charge removal is performed by Sample and hold circuit of claim 1, symptoms.
去の期間を与える第1信号と、電荷除去後の待機期間を
与える第2信号とよりなることを特徴とする請求項1記
載のサンプルホールド回路。4. The sample according to claim 1, wherein the first and second refresh signals are composed of a first signal for providing a period for removing charges and a second signal for providing a waiting period after removing charges. Hold circuit.
キャパシタンスと間に第4スイッチが接続され、この第
4スイッチはサンプル信号によって閉成されることを特
徴とする請求項3記載のサンプルホールド回路。5. The sample-hold circuit according to claim 3, wherein a fourth switch is connected between the second sample circuit and the fourth coupling capacitance, and the fourth switch is closed by the sample signal. .
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6205978A JPH0850797A (en) | 1994-08-08 | 1994-08-08 | Sample & hold circuit |
EP95112410A EP0696804B1 (en) | 1994-08-08 | 1995-08-07 | Sampling and holding circuit |
DE69521245T DE69521245T2 (en) | 1994-08-08 | 1995-08-07 | Sampling and holder circuit |
US08/512,317 US5606274A (en) | 1994-08-08 | 1995-08-08 | Sampling and holding circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6205978A JPH0850797A (en) | 1994-08-08 | 1994-08-08 | Sample & hold circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0850797A true JPH0850797A (en) | 1996-02-20 |
Family
ID=16515874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6205978A Pending JPH0850797A (en) | 1994-08-08 | 1994-08-08 | Sample & hold circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0850797A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6393034B1 (en) | 1999-01-26 | 2002-05-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Laser apparatus and laser processing apparatus |
-
1994
- 1994-08-08 JP JP6205978A patent/JPH0850797A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6393034B1 (en) | 1999-01-26 | 2002-05-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Laser apparatus and laser processing apparatus |
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Legal Events
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050712 |