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JPH0848514A - Method for removing phosphorus in silicon - Google Patents

Method for removing phosphorus in silicon

Info

Publication number
JPH0848514A
JPH0848514A JP6183438A JP18343894A JPH0848514A JP H0848514 A JPH0848514 A JP H0848514A JP 6183438 A JP6183438 A JP 6183438A JP 18343894 A JP18343894 A JP 18343894A JP H0848514 A JPH0848514 A JP H0848514A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
vacuum
phosphorus
graphite
molten silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6183438A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Tomita
孝司 富田
Toru Nunoi
徹 布居
Yoshitatsu Otsuka
良達 大塚
Susumu Cho
進 張
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Altemira Co Ltd
Original Assignee
Sharp Corp
Showa Aluminum Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp, Showa Aluminum Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP6183438A priority Critical patent/JPH0848514A/en
Publication of JPH0848514A publication Critical patent/JPH0848514A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Silicon Compounds (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ケイ素中のりん濃度を1ppm 以下にする。 【構成】 真空度0.05Torr以下の真空雰囲気中にお
いて黒鉛るつぼ2内で原料ケイ素を溶解した後、この真
空雰囲気中において溶融ケイ素Lを融点以上でかつ16
00℃以下の温度範囲に保持しつつ、溶融ケイ素L中に
攪拌子12を浸漬し、この攪拌子12により溶融ケイ素Lを
攪拌する。
(57) [Summary] [Purpose] To reduce the phosphorus concentration in silicon to 1 ppm or less. [Structure] After melting the raw material silicon in the graphite crucible 2 in a vacuum atmosphere having a degree of vacuum of 0.05 Torr or less, the molten silicon L having a melting point of 16
The stirring bar 12 is immersed in the molten silicon L while maintaining the temperature range of 00 ° C. or less, and the molten silicon L is stirred by the stirring bar 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はケイ素中のりんの除去
方法に関する。
This invention relates to a method for removing phosphorus in silicon.

【0002】この明細書において、「ppm 」は重量基準
とする。
In this specification, "ppm" is based on weight.

【0003】[0003]

【従来の技術】たとえば太陽電池を製造するためのケイ
素としては、純度が99.999〜99.99999wt
%程度で、りんの含有量が1ppm 以下のものが要求され
ている。
2. Description of the Related Art For example, silicon used for manufacturing a solar cell has a purity of 99.999 to 99.99999 wt.
%, And a phosphorus content of 1 ppm or less is required.

【0004】ところで、このような高純度のケイ素を製
造するために用いられる市販されている工業用粗製ケイ
素には、りんの他に鉄、カルシウム、アルミニウム、ホ
ウ素等が含まれている。りんおよびホウ素以外の不純物
は、すでに周知である偏析凝固の原理を利用した一方向
凝固法や、帯域溶融法により効率良く除去されることが
わかっている。しかしながら、ケイ素中のりんの平衡偏
析係数は0.35と比較的大きいので、平衡偏析係数が
0.8であるホウ素とともにこのような方法で除去する
ためには作業を多数回繰り返す必要があり、時間がかか
るとともにコストが高くなるという問題があった。
By the way, commercially available industrial crude silicon used for producing such high-purity silicon contains iron, calcium, aluminum, boron and the like in addition to phosphorus. It is known that impurities other than phosphorus and boron can be efficiently removed by the unidirectional solidification method utilizing the well-known principle of segregation solidification or the zone melting method. However, since the equilibrium segregation coefficient of phosphorus in silicon is relatively large at 0.35, it is necessary to repeat the work a number of times in order to remove it in such a method together with boron having an equilibrium segregation coefficient of 0.8. There is a problem that it takes time and the cost becomes high.

【0005】そこで、このような問題を解決するため
に、ケイ素中のりんを除去する方法として、原料ケイ素
を真空雰囲気中で溶解しかつ保持することにより、りん
を蒸発除去する方法が考えられている(「日本金属学会
誌」第54巻、第2号(1990)161〜167頁参
照)。
In order to solve such a problem, therefore, a method of removing phosphorus in silicon by evaporating and removing phosphorus by melting and holding the raw material silicon in a vacuum atmosphere has been considered. (See "Journal of the Japan Institute of Metals", Vol. 54, No. 2 (1990) 161-167).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
方法では、真空度6.8×10-3Torrの真空雰囲気中で
りん32ppm を含む原料ケイ素を溶解し、1450℃ま
たは1550℃で1時間保持してもりんの濃度は6〜7
ppm に減少するだけであり、それ以上保持時間を延長し
てもりんの減少効果はそれ以上向上しないというのが現
状である。
However, according to the conventional method, the raw material silicon containing 32 ppm of phosphorus is dissolved in a vacuum atmosphere having a degree of vacuum of 6.8 × 10 -3 Torr and kept at 1450 ° C. or 1550 ° C. for 1 hour. Even if the concentration of phosphorus is 6-7
It is only reduced to ppm and the present situation is that the phosphorus reduction effect is not further improved even if the holding time is further extended.

【0007】この発明の目的は、上記問題を解決し、太
陽電池用として求められるりん濃度1ppm 以下のケイ素
を得ることができるケイ素中のりんの除去方法を提供す
ることにある。
An object of the present invention is to solve the above problems and provide a method for removing phosphorus from silicon which can obtain silicon having a phosphorus concentration of 1 ppm or less, which is required for solar cells.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明によるケイ素中
のりんの除去方法は、真空度0.05Torr以下の真空雰
囲気中において黒鉛るつぼ内で原料ケイ素を溶解した
後、この真空雰囲気中において溶融ケイ素を融点以上で
かつ1600℃以下の温度範囲に保持しつつ、溶融ケイ
素中に攪拌子を浸漬し、この攪拌子により溶融ケイ素を
攪拌することを特徴とするものである。
The method for removing phosphorus in silicon according to the present invention is to melt raw silicon in a graphite crucible in a vacuum atmosphere having a vacuum degree of 0.05 Torr or less and then melt silicon in the vacuum atmosphere. Is kept above the melting point and not higher than 1600 ° C., the stir bar is immersed in the molten silicon, and the molten silicon is stirred by the stir bar.

【0009】この発明は、発明者等が種々実験研究を重
ねることにより、真空処理の好適な条件を見出だしてな
されたものである。
The present invention has been made by the inventors of the present invention by discovering suitable conditions for vacuum processing through various experimental studies.

【0010】上記において、原料ケイ素の溶解時、およ
びその後の攪拌時に真空度0.05Torr以下の真空雰囲
気中に保持しておく理由は、真空度が0.05Torrを越
えると、りんの蒸発が遅くなり、工業的に好ましくない
からである。
In the above, the reason why the material is kept in a vacuum atmosphere having a vacuum degree of 0.05 Torr or less during the melting of the raw material silicon and the subsequent stirring is that the vaporization of phosphorus is delayed when the vacuum degree exceeds 0.05 Torr. It is not industrially preferable.

【0011】黒鉛るつぼを使用するのは次の理由によ
る。すなわち、耐熱性を有するるつぼ材としては、黒鉛
の他にガラスやアルミナ等もあるが、これらの材料は1
500℃を越えると溶融ケイ素と反応してSiOを生成
し、これが蒸発するので、高真空度を保持できないから
である。
The graphite crucible is used for the following reasons. That is, as the crucible material having heat resistance, there are glass, alumina, etc. in addition to graphite.
This is because when the temperature exceeds 500 ° C., SiO reacts with molten silicon to form SiO, which is evaporated, so that a high degree of vacuum cannot be maintained.

【0012】溶融ケイ素の保持温度を1600℃以下に
したのは、保持温度が1600℃を越えると、黒鉛と溶
融ケイ素との反応に起因するSiCの生成が激しくなる
からである。
The holding temperature of the molten silicon is set to 1600 ° C. or less because if the holding temperature exceeds 1600 ° C., the generation of SiC due to the reaction between the graphite and the molten silicon becomes severe.

【0013】上記ケイ素中のりんの除去方法において、
黒鉛るつぼ中に攪拌子による攪拌効果を向上させるため
の黒鉛製邪魔板を配置しておくことがある。
In the above method for removing phosphorus in silicon,
A graphite baffle for improving the stirring effect of the stirrer may be placed in the graphite crucible in advance.

【0014】邪魔板を黒鉛製にしたのは、黒鉛るつぼを
用いたのと同様な理由による。また、邪魔板の数は1枚
または複数枚のいずれでもよい。
The baffle plate is made of graphite for the same reason as that of the graphite crucible. Further, the number of baffle plates may be one or plural.

【0015】[0015]

【作用】この発明の方法によれば、真空度0.05Torr
以下の真空雰囲気中において黒鉛るつぼ内で原料ケイ素
を溶解した後、この真空雰囲気中において溶融ケイ素を
融点以上でかつ1600℃以下の温度範囲に保持しつ
つ、溶融ケイ素中に攪拌子を浸漬し、この攪拌子により
溶融ケイ素を攪拌するので、ケイ素中のりんを速やかに
効率良く除去することができる。
According to the method of the present invention, the degree of vacuum is 0.05 Torr.
After melting the raw material silicon in the graphite crucible in the following vacuum atmosphere, while maintaining the molten silicon in the temperature above the melting point and 1600 ° C. or less in this vacuum atmosphere, the stir bar is immersed in the molten silicon, Since the molten silicon is stirred by this stirrer, phosphorus in the silicon can be quickly and efficiently removed.

【0016】黒鉛るつぼ中に攪拌子による攪拌効果を向
上させるための黒鉛製邪魔板を配置しておくと、ケイ素
中のりんの除去を一層促進させることができる。
By disposing a graphite baffle for improving the stirring effect of the stirrer in the graphite crucible, the removal of phosphorus in silicon can be further promoted.

【0017】[0017]

【実施例】以下、この発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0018】図1はこの発明の方法を実施する装置を示
す。
FIG. 1 shows an apparatus for carrying out the method of the invention.

【0019】図1において、ケイ素中のりんの除去装置
は、真空溶解炉(1) と、真空溶解炉(1) 内に配置された
黒鉛るつぼ(2) とを備えている。真空溶解炉(1) は、上
端が開口しかつ周壁に排気口を有する炉本体(3) と、炉
本体(3) の上端開口を閉鎖する蓋(4) とよりなり、排気
口に接続された図示しない真空排気装置により、その内
部が真空状態にされるようになっている。
In FIG. 1, the device for removing phosphorus in silicon comprises a vacuum melting furnace (1) and a graphite crucible (2) arranged in the vacuum melting furnace (1). The vacuum melting furnace (1) consists of a furnace body (3) with an open upper end and an exhaust port on the peripheral wall, and a lid (4) that closes the upper end opening of the furnace body (3) and is connected to the exhaust port. A vacuum exhaust device (not shown) brings the inside into a vacuum state.

【0020】黒鉛るつぼ(2) は、真空溶解炉(1) の底壁
に設置された載置台(5) 上に載せられている。るつぼ
(2) の内周面には、上下方向に伸びる邪魔板(6) が固定
状に設けられている。邪魔板(6) の上端はるつぼ(2) の
上端と等しくなっており、その下端はるつぼ(2) の上下
の中央部よりも若干下方の高さ位置に位置している。な
お、邪魔板(6) は真空溶解炉(1) の蓋(4) に垂下状に取
付けられていてもよい。この場合、邪魔板(6) はるつぼ
(2) の内周面に近接するように配置されるのがよい。ま
た、邪魔板(6) は必ずしも必要とするものではない。る
つぼ(2) の周囲には、これを囲むように円筒状黒鉛ヒー
タ(7) が配置されている。黒鉛ヒータ(7)は、その下端
が真空溶解炉(1) の底壁を下方から貫通した支持部材
(8) に固定されている。黒鉛ヒータ(7) の周囲に円筒状
熱遮蔽部材(9) が配置されている。熱遮蔽部材(9) の下
端は載置台(5) の下端まで伸びている。
The graphite crucible (2) is mounted on a mounting table (5) installed on the bottom wall of the vacuum melting furnace (1). Crucible
A baffle plate (6) extending vertically is fixedly provided on the inner peripheral surface of (2). The upper end of the baffle plate (6) is equal to the upper end of the crucible (2), and the lower end of the baffle plate (6) is located slightly lower than the upper and lower central portions of the crucible (2). The baffle plate (6) may be attached to the lid (4) of the vacuum melting furnace (1) in a hanging manner. In this case, the baffle (6) is a crucible
It should be placed close to the inner surface of (2). Further, the baffle plate (6) is not always necessary. A cylindrical graphite heater (7) is arranged around the crucible (2) so as to surround it. The graphite heater (7) is a support member whose lower end penetrates the bottom wall of the vacuum melting furnace (1) from below.
It is fixed to (8). A cylindrical heat shield member (9) is arranged around the graphite heater (7). The lower end of the heat shield member (9) extends to the lower end of the mounting table (5).

【0021】真空溶解炉(1) の蓋(4) の中央部を気密状
に貫通して垂直状の黒鉛製回転軸(11)が配置されてい
る。回転軸(11)は上下動自在である。回転軸(11)の下端
は黒鉛るつぼ(2) 内における邪魔板(6) の下端よりも若
干下方まで伸びている。回転軸(11)の下端に攪拌子(12)
が固定状に設けられている。攪拌子(12)は円板状で、そ
の周面に複数の羽根が周方向に間隔をおいて設けられて
いる。回転軸(11)は、真空溶解炉(1) の上方に配置され
た図示しないモータにより回転させられるようになって
いる。回転軸(11)、すなわち攪拌子(12)の回転数は20
0〜800rpmの範囲内にあることが好ましい。
A vertical graphite rotating shaft (11) is arranged in an airtight manner through the central portion of the lid (4) of the vacuum melting furnace (1). The rotating shaft (11) can move up and down. The lower end of the rotating shaft (11) extends slightly below the lower end of the baffle plate (6) in the graphite crucible (2). A stir bar (12) at the lower end of the rotating shaft (11)
Is fixedly provided. The stirrer (12) has a disk shape, and a plurality of blades are provided on the circumferential surface of the stirrer (12) at intervals in the circumferential direction. The rotating shaft (11) can be rotated by a motor (not shown) arranged above the vacuum melting furnace (1). The rotation speed of the rotating shaft (11), that is, the stirrer (12) is 20.
It is preferably in the range of 0 to 800 rpm.

【0022】このような構成において、ケイ素中のりん
を除去するには、まず真空溶解炉(1) の蓋(4) を開けて
所定量の原料ケイ素を黒鉛るつぼ(2) 内に入れた後再度
蓋(4) をし、図示しない真空排気装置により真空溶解炉
(1) 内を0.05Torr以下の真空度を有する真空状態に
する。ついで、黒鉛ヒータ(7) により原料ケイ素を加熱
して溶解する。このとき、邪魔板(6) の上端は溶融ケイ
素(L) の液面よりも上方に突出している。その後、溶融
ケイ素(L) を融点以上でかつ1600℃以下の温度範囲
に保持しつつ、溶融ケイ素(L) 中に攪拌子(12)を浸漬
し、この攪拌子(12)により溶融ケイ素(L) を攪拌する。
すると、りんが速やかに蒸発し、除去される。
In such a structure, in order to remove phosphorus in silicon, first the lid (4) of the vacuum melting furnace (1) is opened and a predetermined amount of raw material silicon is put into the graphite crucible (2). Close the lid (4) again, and use a vacuum exhaust device (not shown) to create a vacuum melting furnace.
(1) The inside is made a vacuum state having a vacuum degree of 0.05 Torr or less. Then, the raw material silicon is heated and melted by the graphite heater (7). At this time, the upper end of the baffle plate (6) projects above the liquid surface of the molten silicon (L). After that, the stirring bar (12) is immersed in the molten silicon (L) while maintaining the molten silicon (L) in the temperature range not lower than the melting point and not higher than 1600 ° C. ) Is stirred.
Then, phosphorus is quickly evaporated and removed.

【0023】次に、この発明のさらに具体的な実験例に
ついて説明する。
Next, more specific experimental examples of the present invention will be described.

【0024】表1に示す種々のりん濃度を有する5kg
の原料ケイ素を使用し、真空雰囲気中において黒鉛るつ
ぼ(2) 内で原料ケイ素を溶解した後、この真空雰囲気中
において溶融ケイ素(L) を1500℃に保持しつつ、溶
融ケイ素(L) 中に攪拌子(12)を浸漬し、この攪拌子(12)
を500rpmで回転させることにより溶融ケイ素(L)
を攪拌した。また、攪拌子(12)による攪拌を行わずに、
上記と同様な処理を行った。真空度、邪魔板(6) の有無
および処理時間は表1に示す通りである。そして、処理
後のりんの濃度を測定した。その結果も表1に示す。
5 kg with various phosphorus concentrations shown in Table 1
After melting the raw material silicon in the graphite crucible (2) in a vacuum atmosphere by using the raw material silicon of, the molten silicon (L) is kept in the vacuum atmosphere at 1500 ° C. while being melted in the molten silicon (L). Immerse the stirrer (12), then this stirrer (12)
Silicon (L) by rotating at 500 rpm
Was stirred. Further, without stirring by the stirrer (12),
The same process as above was performed. The degree of vacuum, the presence or absence of the baffle plate (6), and the processing time are as shown in Table 1. Then, the phosphorus concentration after the treatment was measured. Table 1 also shows the results.

【0025】[0025]

【表1】 [Table 1]

【0026】[0026]

【発明の効果】この発明のケイ素中のりんの除去方法に
よれば、上述のように、ケイ素中のりんを速やかに効率
良く除去することができる。したがって、太陽電池を製
造するのに用いられるケイ素に要求されるりん濃度であ
る1ppm 以下を達成することができる。
As described above, according to the method for removing phosphorus in silicon of the present invention, phosphorus in silicon can be removed quickly and efficiently. Therefore, it is possible to achieve the phosphorus concentration of 1 ppm or less required for silicon used for manufacturing a solar cell.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の方法を実施する装置を示す垂直断面
図である。
1 is a vertical cross-sectional view showing an apparatus for carrying out the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(2) 黒鉛るつぼ (12) 攪拌子 (L) 溶融ケイ素 (2) Graphite crucible (12) Stirrer (L) Molten silicon

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大塚 良達 堺市海山町6丁224番地 昭和アルミニウ ム株式会社内 (72)発明者 張 進 堺市海山町6丁224番地 昭和アルミニウ ム株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Ryoda Otsuka 6-224 Kaiyama-cho, Sakai City, Showa Aluminum Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空度0.05Torr以下の真空雰囲気中
において黒鉛るつぼ内で原料ケイ素を溶解した後、この
真空雰囲気中において溶融ケイ素を融点以上でかつ16
00℃以下の温度範囲に保持しつつ、溶融ケイ素中に攪
拌子を浸漬し、この攪拌子により溶融ケイ素を攪拌する
ことを特徴とするケイ素中のりんの除去方法。
1. After melting raw material silicon in a graphite crucible in a vacuum atmosphere having a degree of vacuum of 0.05 Torr or less, molten silicon having a melting point of 16 or more and a melting point of 16 or more is melted in the vacuum atmosphere.
A method for removing phosphorus from silicon, which comprises immersing a stirrer in molten silicon while maintaining the temperature within a range of 00 ° C. or lower, and stirring the molten silicon with the stirrer.
【請求項2】 黒鉛るつぼ中に攪拌子による攪拌効果を
向上させるための黒鉛製邪魔板を配置しておくことを含
む請求項1記載のケイ素中のりんの除去方法。
2. The method for removing phosphorus from silicon according to claim 1, further comprising disposing a baffle plate made of graphite for improving the stirring effect of the stirrer in the graphite crucible.
JP6183438A 1994-08-04 1994-08-04 Method for removing phosphorus in silicon Pending JPH0848514A (en)

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Effective date: 20020521