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JPH0846006A - Production management method and production line - Google Patents

Production management method and production line

Info

Publication number
JPH0846006A
JPH0846006A JP17499394A JP17499394A JPH0846006A JP H0846006 A JPH0846006 A JP H0846006A JP 17499394 A JP17499394 A JP 17499394A JP 17499394 A JP17499394 A JP 17499394A JP H0846006 A JPH0846006 A JP H0846006A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lot
production
manufacturing
product
prototype
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17499394A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Maeda
和彦 前田
Masao Sakata
正雄 坂田
Sadao Shimosha
貞夫 下社
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP17499394A priority Critical patent/JPH0846006A/en
Publication of JPH0846006A publication Critical patent/JPH0846006A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Multi-Process Working Machines And Systems (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 量産品と試作品を1つの製造ラインで生産さ
れる際に、量産品の生産数量を減らさず、試作品の製作
期間を短くすることを目的とする。 【構成】 複数のローダ、アンローダを備え、しかも上
位システムの指示によりローダにある優先度の高いロッ
トを先に処理できる装置において、ウェハ識別機能を備
えることで、ロットの分割・合成が装置上で行える。こ
の装置を利用した製造ラインに、各工程の負荷状況を考
慮してロットの分割・合成を指示できる試作生産管理装
置を置くことで、試作ロットを短期間で生産できる。 【効果】 本発明では、装置で処理中のロットがある際
に、割り込んで優先度の高いロットを処理でき、試作品
の製作期間を短縮できる。
(57) [Summary] [Purpose] When a mass production product and a prototype are produced on one production line, the purpose is to reduce the production period of the prototype without reducing the production quantity of the mass production product. [Structure] An apparatus that includes a plurality of loaders and unloaders, and that can process lots with a high priority in the loader according to instructions from the host system first, by providing a wafer identification function so that lot division / combination can be performed on the apparatus. You can do it. Prototype lots can be produced in a short period of time by placing a prototype production control device on the production line using this device, which can instruct lot division / combination in consideration of the load status of each process. [Effects] According to the present invention, when there is a lot being processed by the apparatus, it is possible to process a lot with a high priority by interrupting it, and it is possible to shorten the production period of a prototype.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、1つの製造ラインの複
数の工程で処理が施され完成品となっていく製品が、同
時に複数個生産される製造ラインにおいて、生産数量が
多い製品を製造ライン生産効率(ある一定期間内に当該
製造ラインで生産される製品の数量と定義する)良く生
産することが望まれる量産品と、生産数量は少ないが製
作期間が短いことを優先する試作品とが、当該製造ライ
ンで混在して生産される際に、量産品の生産数量を減ら
すことなく、しかも試作品の製作期間を短くできる試作
生産管理方法に関するものである。また、本試作生産管
理方法を備え、生産ライン内のロット(搬送、製造し易
い数量の製品のまとまりをロットという)の進行を制御
し、量産品の生産数量を維持し、しかも試作品を優先し
て短期間で生産することに好適な試作生産管理装置に関
するものである。さらに、当該試作生産管理装置と、試
作品の生産に適した製造装置よりなり、試作品を優先し
て生産でき、製造装置の稼働率を低減しないことを特徴
とする試作ラインに関するものである。特に、半導体の
生産のように量産品を生産するするラインでも試作品
(歩留り向上用の評価ロットも含まれる)を流して、少
しでも歩留りの向上を図るような製造ラインに適してい
る。しかも、半導体生産のように製造装置によっては、
枚葉処理(ウェハ1枚づつ処理する装置)もあれば、バ
ッチ処理装置(同時に数ロットをまとめて処理できる装
置)もあり、ロットの進行制御が大変なラインに適した
試作生産管理方法である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention manufactures a product having a large production quantity in a manufacturing line in which a plurality of products are processed at a plurality of steps in one manufacturing line to be finished products at the same time. Line production efficiency (defined as the quantity of products produced on the manufacturing line within a certain period of time), mass-produced products that are desired to be produced, and prototypes that have a small production quantity but prioritize a short production period. However, the present invention relates to a trial production control method capable of shortening the production period of a prototype without reducing the production quantity of mass-produced products when mixedly produced in the production line. In addition, this prototype production control method is provided to control the progress of lots within a production line (collections of products that can be easily transported and manufactured are called lots), maintain the production volume of mass-produced products, and give priority to prototypes. The present invention relates to a trial production control device suitable for production in a short period of time. Further, the present invention relates to a trial production line characterized by comprising the trial production control device and a production device suitable for producing a prototype, which allows the trial product to be produced with priority, and the operating rate of the production device is not reduced. In particular, it is suitable for a production line in which a prototype (including an evaluation lot for improving yield) is flown even in a line for producing mass-produced products such as semiconductor production to improve the yield as much as possible. Moreover, depending on the manufacturing equipment, such as semiconductor production,
There are single-wafer processing (equipment that processes one wafer at a time) and batch processing equipment (equipment that can process several lots at the same time). It is a trial production control method suitable for lines where lot progress control is difficult. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来技術としては、以下の4つがある。 (1)試作品の製造条件管理・指示 試作品は、特定の工程で複数の製造条件で製品を処理し
てみて、そのうちどの製造条件が適切であったかを判断
するために生産される。そこで、製造条件の変更がある
工程を管理しておき、当該工程では製造条件を作業者ま
たは設備に指示する方法としては、例えば特開平4−2
450号公報「混成ロット管理方法及び装置」、特開平
5−109596号公報「半導体装置の製造管理方法」
に記載されている。 (2)ライン生産効率向上 枚数の少ない試作ロットなどを効率(ライン生産効率)
良く生産するために、ロットを合成したり、また合成し
たロットを分割したりする方法については、上記の2つ
の公開公報に記載されている。 (3)ロットの合成・分割装置 実際にロットを合成したり、分割するための装置につい
ては、特開昭62−286242号公報「ウェハ分類装
置」に記載されている。 (4)ロット進行予測・計画 製造ライン内のロットの進行を制御し、進行日程計画を
立案する機能については、一般的に知られた技術であ
る。
2. Description of the Related Art There are the following four conventional technologies. (1) Manufacture condition management / instruction of the prototype The prototype is produced in order to determine which of the manufacturing conditions was appropriate after processing the product under a plurality of manufacturing conditions in a specific process. Therefore, as a method of managing the process in which the manufacturing condition is changed and instructing the manufacturing condition to the operator or the equipment in the process, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 4-2
No. 450, “Mixed lot management method and device”, JP-A-5-109596, “Manufacturing management method for semiconductor device”
It is described in. (2) Improvement of line production efficiency Efficient production of prototype lots with few sheets (line production efficiency)
The method of combining lots and dividing the combined lots for good production is described in the above two publications. (3) Lot synthesizing / dividing device A device for actually synthesizing and dividing lots is described in JP-A-62-286242, "Wafer Sorting Device". (4) Lot Progress Prediction / Planning The function of controlling the progress of lots in the manufacturing line and planning the progress schedule is a generally known technique.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術では、
以下の点が考慮されていなかった。 (1)製造装置上でのロットの合成・分割 従来は、ロットを合成・分割する専用の処理装置を利用
してロットの合成・分割を行っていた。このため、ロッ
トを合成・分割するためにわざわざ別の装置のところま
でロットを持って行かなければならず、頻繁にロットの
合成・分割を行うことが困難であった。また、以下の点
については、ロットの合成・分割装置が別装置になって
いると、実現不可能である。
SUMMARY OF THE INVENTION In the above prior art,
The following points were not considered. (1) Combining / dividing lots on a manufacturing apparatus In the past, lots were combined / divided using a dedicated processing device for combining / dividing lots. Therefore, in order to combine and divide the lots, it is necessary to take the lot to another device, and it is difficult to frequently combine and divide the lots. Further, the following points cannot be realized if the lot combining / dividing device is a separate device.

【0004】・製造装置単体でウェハを識別(ライン内
に投入されるウェハには、各ウェハに固有のマーキング
が施されている。このマークを認識して、各ウェハを識
別すると、当該ロットは簡単に検索できる)できない ・ウェハ毎に製造条件を変更する際に、カセット(ウェ
ハを数10枚格納できる搬送治具)内のウェハを並べ替
えなければならない。そのため、製造装置上で任意に製
造条件を変更できない。 ・当該処理装置で処理が完了したウェハの識別して、完
成した分のロットを次の工程に払い出すことができな
い。つまり、合成してあるロット(例えば2つのロット
を合成してあるロットを考える)を処理すると、合成し
てあるロット全体の処理が終了するまで、合成されてい
る2つのロットは次の工程に払い出せない。しかし、製
造装置上にウェハ識別機能がついていると、2つあるロ
ットのうち完成した方のロットから、次の工程に払い出
される。
Identification of wafers by a single manufacturing apparatus (wafers put into a line have unique markings on each wafer. When this mark is identified and each wafer is identified, the lot is identified. (Easy search) No ・ When changing the manufacturing conditions for each wafer, the wafers in the cassette (transfer jig that can store several tens of wafers) must be rearranged. Therefore, the manufacturing conditions cannot be arbitrarily changed on the manufacturing apparatus. -It is not possible to identify the wafers that have been processed by the processing apparatus and deliver the completed lots to the next process. That is, when a combined lot (for example, considering a combined lot of two lots) is processed, the combined two lots are processed in the next process until the processing of the entire combined lot is completed. I can't pay. However, if the manufacturing apparatus has a wafer identification function, the completed lot of the two lots is paid out to the next process.

【0005】(2)製造装置上でのロット着工順序の変
更 半導体の製造装置には、ローダ(処理前のロットを置く
場所)と、アンローダ(処理終了後のロットを置く場
所)が両方とも2以上ある装置が多い。これは、装置上
の1つのロットの処理が終了しても、装置が製品待ち
(次の処理ロット待ち)にならないように、次に処理す
るロットを前もって処理装置上に置いておけるために、
ローダ、アンローダが2つ以上ある。しかし、一般の処
理装置では、以下の手順でしか処理されない。
(2) Change of Lot Start Order on Manufacturing Equipment In the semiconductor manufacturing equipment, both a loader (location of lot before processing) and unloader (location of lot after processing) are 2 There are many devices above. This is because the lot to be processed next can be placed in advance on the processing device so that the device does not wait for the product (waiting for the next processing lot) even after the processing of one lot on the device is completed.
There are two or more loaders and unloaders. However, in a general processing device, processing is performed only by the following procedure.

【0006】・2つあるローダのうち、片方のローダに
ロット#1を置く。 ・ロット#1の処理を開始する。 ・別のローダにロット#2を置く。 ・ロット#1の処理が終了する。ロット#1を取り出
し、次の工程に搬送する。 ・ロット#2の処理を開始する。 ・ロット#2の処理が終了する。ロット#2を取り出
し、次の工程に搬送する。 しかし、製造装置を上位システムから制御することで、
ロットの着工順序を任意に変更でき、ロット#1の処理
中にロット#2の処理を割り込ませることができる。
Place lot # 1 in one of the two loaders. -Start processing of lot # 1. -Place lot # 2 in another loader. -The processing of lot # 1 is completed. The lot # 1 is taken out and conveyed to the next step. -Start processing of lot # 2. -The processing of lot # 2 is completed. Lot # 2 is taken out and transported to the next step. However, by controlling the manufacturing equipment from the host system,
The start order of lots can be arbitrarily changed, and the process of lot # 2 can be interrupted during the process of lot # 1.

【0007】(3)枚葉単位の進行日程計画立案 従来の進行日程の立案は、ロット単位に行うのが普通で
あり、枚葉単位のロット分割を意識した進行日程が立案
がなされていなかった。 (4)生産効率を考慮したロットの合成・分割 従来のロットの合成・分割方式では、製造条件の相違の
みに着目して、ロットの合成・分割を行っていた。しか
し、実際の生産ラインでは、ライン全体の生産の効率を
考量してロットの合成・分割する必要がある。
(3) Planning of Progress Schedule for Single-Wafer Units Conventional progress schedules are usually planned for each lot, and a schedule for progress is not made in consideration of lot-division in single-wafer units. . (4) Combining / dividing lots in consideration of production efficiency In the conventional lot combining / dividing method, lots are combined / divided only by focusing on the difference in manufacturing conditions. However, in an actual production line, it is necessary to combine and divide lots in consideration of the production efficiency of the entire line.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明では以下
の手段を導入する事により、上記の従来技術では、実現
できていない機能を実現する。 (1)製造装置上でのロットの合成・分割 (1−a)日程計画手段 ロットの合成・分割を計画する。 (1−b)ウェハ識別手段 製造装置単体でウェハを識別できるウェハ識別手段。 (1−c)上位通信手段 日程計画、ロットの進度を管理する進度管理、製造に必
要なプロセス条件を管理製造条件管理のシステムとデー
タのやりとりが行えるための上位通信手段。 (1−d)複数のローダ、アンローダ
Therefore, in the present invention, the following means are introduced to realize a function that cannot be realized by the above-mentioned prior art. (1) Combining / dividing lots on manufacturing equipment (1-a) Schedule planning means Combining / dividing lots is planned. (1-b) Wafer Identification Means Wafer identification means capable of identifying a wafer by a single manufacturing apparatus. (1-c) High-order communication means High-order communication means for exchanging data with a schedule management system, progress management for managing the progress of lots, and management of process conditions necessary for manufacturing. (1-d) Multiple loaders and unloaders

【0009】処理装置には、2つ以上のローダ、アンロ
ーダを備えている。 (1−e)ウェハ搬送手段 (2)製造装置上でのロット着工順序の変更 (2−a)カセット識別手段 装置にカセットが置かれたことを認識するカセット識別
手段。 (2−b)着工順序判断手段 複数個あるローダの内から、どのローダを優先して着工
するかを判断できる着工順序判断手段。
The processing apparatus has two or more loaders and unloaders. (1-e) Wafer transfer means (2) Change of lot start order on manufacturing equipment (2-a) Cassette identification means Cassette identification means for recognizing that a cassette is placed in the apparatus. (2-b) Start-up order determination means Start-up order determination means that can determine which of the plurality of loaders is to be started first.

【0010】(3)枚葉単位の進行日程計画立案 (3−a)枚葉完成時刻予測手段 (4)生産効率を考慮したロットの合成・分割 (4−a)生産効率計算手段(3) Planning of progress schedule for each single wafer (3-a) Single wafer completion time predicting means (4) Lot synthesis / division in consideration of production efficiency (4-a) Production efficiency calculating means

【0011】[0011]

【作用】上記の課題解決手段が相互に働いて、以下の方
法で、試作品を短期間で製作し、量産品を数多く製作で
きる。事前に日程計画手段で計算されてある各ロットの
進行予測と、この進行予測から計算でロットを合成・分
割する工程を求め、ロット合成・分割計画にを立案す
る。このロット合成・分借る計画に基づいて、実際にロ
ットの合成・分割を行う。具体的には、以下の手順で行
われる。
The above-mentioned means for solving the problems work together to produce a prototype in a short period of time and produce a large number of mass-produced products by the following method. A process for predicting the progress of each lot calculated in advance by a schedule planning means and a process for combining and dividing lots by calculation from the progress prediction are obtained, and a lot combining / dividing plan is drafted. Based on this lot combining / borrowing plan, the lots are actually combined / divided. Specifically, the procedure is as follows.

【0012】(1)ロットをローダにセットする。 (2)カセット識別手段が置かれたカセットを識別し、
カセット番号を装置の全体のコントローラ(制御部)に
通知する。 (3)装置全体制御部では、カセットがセットされたこ
とを上位通信手段を利用して、進度管理システムに通知
する。 (4)進度管理システムでは、当該ロットに関する情報
を当該装置に伝える。 (5)装置では、進度管理から伝えられたロットの合成
・分割指示に従って、当該ロットを分割合成する。 (6)当該ウェハのマークをウェハ識別手段で読み込ん
で、ウェハの仕向け先を装置全体制御部が決定する。 (7)装置全体制御部からの指示に従って、ウェハ搬送
手段でウェハを所定のカセットに詰め込む。 以上の手順により、装置上でロットの合成・分割が可能
となる。
(1) Set the lot in the loader. (2) Identify the cassette in which the cassette identification means is placed,
The cassette number is notified to the entire controller (control unit) of the device. (3) The overall control unit of the apparatus notifies the progress management system that the cassette has been set by using the upper communication means. (4) In the progress management system, information regarding the lot is transmitted to the device. (5) The apparatus divides and combines the lots according to the lot combining / dividing instruction transmitted from the progress management. (6) The mark of the wafer is read by the wafer identification means, and the destination of the wafer is determined by the apparatus overall control unit. (7) According to the instruction from the overall control unit of the apparatus, the wafer is loaded into a predetermined cassette by the wafer transfer means. With the above procedure, it is possible to combine and divide lots on the apparatus.

【0013】次に、装置上でのロットの優先着工につい
て、その手順を以下に示す。 (1)ロットをローダにセットする。 (2)カセット識別手段が置かれたカセットを識別し、
カセット番号を装置の全体のコントローラ(制御部)に
通知する。 (3)装置全体制御部では、カセットがセットされたこ
とを上位通信手段を利用して、進度管理システムに通知
する。 (4)進度管理システムでは、当該ロットに関する情報
を当該装置に伝える。 (5)装置では、進度管理から伝えられたロットの優先
度情報に従って、当該ロットを優先するか否かを判断す
る。 (6)当該ロットを優先着工する場合には、ウェハ搬送
手段で、優先すべきロットのウェハを次にプロセス処理
室に入れる。 (7)装置全体制御部からの指示に従って、ウェハ搬送
手段でウェハをアンローダ側の所定のカセットに詰め込
む。 以上の手順により、装置上で優先度が高いロットを優先
度が低いロットより先に処理することができる。
Next, the procedure for the priority start of lots on the apparatus will be described below. (1) Set the lot in the loader. (2) Identify the cassette in which the cassette identification means is placed,
The cassette number is notified to the entire controller (control unit) of the device. (3) The overall control unit of the apparatus notifies the progress management system that the cassette has been set by using the upper communication means. (4) In the progress management system, information regarding the lot is transmitted to the device. (5) The apparatus determines whether to give priority to the lot according to the lot priority information transmitted from the progress management. (6) When starting the lot in priority, the wafer of the lot to be prioritized is put into the process chamber by the wafer transfer means. (7) In accordance with an instruction from the overall control unit of the apparatus, the wafer transfer means loads the wafer into a predetermined cassette on the unloader side. Through the above procedure, a lot with a high priority can be processed on a device before a lot with a low priority.

【0014】それにより、以下のようにロットを処理可
能となる。 ・2つあるローダのうち、片方のローダにロット#1を
置く。 ・ロット#1の処理を開始する。 ・別のローダにロット#2を置く。 ・先の判定手順でロット#2を優先的に処理すべきと判
断する。 ・ロット#2の処理を開始する。 ・ロット#2の処理が終了する。ロット#2を取り出
し、次の工程に搬送する。 ・中断されたロット#1の処理を続行する。 ・ロット#1の処理が終了する。ロット#1を取り出
し、次の工程に搬送する。
As a result, the lot can be processed as follows. -Place lot # 1 in one of the two loaders. -Start processing of lot # 1. -Place lot # 2 in another loader. -It is determined that lot # 2 should be preferentially processed according to the above determination procedure. -Start processing of lot # 2. -The processing of lot # 2 is completed. Lot # 2 is taken out and transported to the next step. -Continue processing of the interrupted lot # 1. -The processing of lot # 1 is completed. The lot # 1 is taken out and conveyed to the next step.

【0015】次に、枚葉単位の進行制御について、以下
に示す。 (1)装置全体制御部でウェハの処理が終了したことを
認識する。 (2)装置全体制御部で当該ウェハが所属しているロッ
ト内の全てのウェハの処理が終了したか否かを判定す
る。 (3)全てのウェハの処理が終了した時点で、作業者に
当該ロットの完成を指示する。 (4)作業者が当該ロットを次の工程に搬送する。 これにより、合成されているロットのうちから、優先的
に処理しなければならないロットを他のロットに先駆け
て次の工程に送ることができる。
Next, the progress control on a sheet-by-sheet basis will be described below. (1) The overall control unit of the apparatus recognizes that the wafer processing is completed. (2) The apparatus overall control unit determines whether all wafers in the lot to which the wafer belongs have been processed. (3) The operator is instructed to complete the lot when all the wafers have been processed. (4) The worker transfers the lot to the next process. As a result, it is possible to send a lot that has to be preferentially processed among the synthesized lots to the next process prior to other lots.

【0016】つぎに、量産品を効率よく生産するための
手段について説明する。 (1)装置全体制御部でウェハの処理が終了したことを
認識する。 (2)装置全体制御部で現在処理中の合成ロットが次の
工程でも合成のまま処理される場合には、当該ロットを
当工程で分割するのではなく、合成したまま次の工程に
送ることにする。 (3)処理が終了したウェハを1つのカセットに格納す
る。
Next, a means for efficiently producing mass-produced products will be described. (1) The overall control unit of the apparatus recognizes that the wafer processing is completed. (2) When the combined lot currently being processed by the overall control unit of the apparatus is processed as it is in the next step as well, the lot is sent to the next step as it is without being divided in this step. To (3) The processed wafers are stored in one cassette.

【0017】[0017]

【実施例】以下、図に基づいて本発明の実施例を説明す
る。図1に、本発明が対象としている試作ラインのシス
テム構成の1実施例を示す。この例では、8a工程1、
8b工程2、8c工程3、8d工程4の4つの工程から
なるラインを考える。各工程には、装置があり、装置に
よっては枚葉処理装置6と、バッチ処理装置7が混在し
て存在する。また、この試作ラインを管理するためのシ
ステムとして、始めにライン全体のロットの進捗を管理
する進度管理装置2と、進度管理システムが管理してい
るデータが入っている進度管理D/B(データベース)
3がある。さらに、製造装置を動かすために必要となる
製造条件を管理するための製造条件管理装置4と、製造
条件管理システムが管理しているデータが入っている製
造条件管理D/B(データベース)5がある。この進度
管理システムと製造条件管理システムから、ロット進度
データと、製造条件データを受取り、この試作ラインに
おける全ロットの進行日程を立案する日程計画装置があ
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of the system configuration of a prototype line which is the subject of the present invention. In this example, 8a step 1,
Consider a line consisting of four steps, 8b step 2, 8c step 3, and 8d step 4. Each process has an apparatus, and depending on the apparatus, the single-wafer processing apparatus 6 and the batch processing apparatus 7 coexist. As a system for managing this prototype line, a progress management device 2 for managing the progress of lots on the entire line, and a progress management D / B (database that contains the data managed by the progress management system) )
There are three. Further, a manufacturing condition management device 4 for managing the manufacturing conditions necessary for operating the manufacturing device, and a manufacturing condition management D / B (database) 5 containing data managed by the manufacturing condition management system. is there. There is a schedule planning device that receives the lot progress data and the manufacturing condition data from the progress management system and the manufacturing condition management system, and plans the progress schedule of all the lots on the trial production line.

【0018】これらの装置と各製造装置は、LANで接
続されており、相互にデータの授受を行うことができ
る。この試作ラインでは、ロットを合成・分割するため
の装置として、ロット分割装置10と、ロット合成装置
11が存在する。また、各工程で処理が終わったロット
は、ロット搬送装置12によって、次の工程に搬送され
る。次に、本発明のロット分割の概念を図2に示す。本
発明では、1つのカセットに入っている複数枚のウェハ
を、別々のカセットに分割する作業をロット分割とい
う。
These devices and each manufacturing device are connected by a LAN, and data can be exchanged with each other. In this prototype line, there are a lot dividing device 10 and a lot combining device 11 as devices for combining and dividing lots. Further, the lot processed in each step is transferred to the next step by the lot transfer device 12. Next, the concept of lot division according to the present invention is shown in FIG. In the present invention, the operation of dividing a plurality of wafers contained in one cassette into different cassettes is called lot division.

【0019】同様に、本発明のロット合成の概念を図3
に示す。本発明では、複数のカセットに入っている複数
枚のウェハを、1つのカセットにまとめて格納すること
をロット合成という。また、当該試作ラインには、バッ
チ処理装置7と、枚葉処理装置6が存在する。バッチ処
理装置7の概念を図4に示す。バッチ処理装置では、複
数のロット、または複数枚のウェハを同時に処理でき
る。しかし、反面、同時に処理したロットは、分割して
処理を完了することはできない。
Similarly, the concept of the lot synthesis of the present invention is shown in FIG.
Shown in In the present invention, collectively storing a plurality of wafers contained in a plurality of cassettes in one cassette is called lot composition. Further, a batch processing device 7 and a single-wafer processing device 6 are present in the prototype line. The concept of the batch processing device 7 is shown in FIG. The batch processing apparatus can simultaneously process a plurality of lots or a plurality of wafers. However, on the other hand, lots processed at the same time cannot be divided and completed.

【0020】枚葉処理装置6の概念を図5に示す。枚葉
処理装置では、ウェハ1枚づつしか処理できない。しか
し、ローダ、アンローダが複数個ある装置では、処理途
中のロットを中断して、別のロットを着工(処理)する
ことができる。
The concept of the single wafer processing apparatus 6 is shown in FIG. The single wafer processing apparatus can process only one wafer at a time. However, in an apparatus having a plurality of loaders and unloaders, it is possible to interrupt a lot being processed and start (process) another lot.

【0021】本発明で提案しているウェハ認識機能を備
えた装置の概念図を図6に示す。ウェハ識別機能付き処
理装置では、ローダとアンローダの間にそれぞれウェハ
識別装置がついている。ローダ側のウェハ識別装置で
は、処理前のウェハについているマークを認識し、これ
から処理するウェハを判断できる。また特にバッチ処理
装置では、処理装置によっては処理の最中にウェハの順
序が入れ替わってしまい、処理後に再度ウェハを識別す
る必要がある場合がある。この場合には、アンローダ側
にもウェハ識別装置17をつける必要がある。
FIG. 6 shows a conceptual diagram of an apparatus having a wafer recognition function proposed by the present invention. In the processing apparatus with a wafer identification function, a wafer identification apparatus is provided between the loader and the unloader. The wafer identification device on the loader side can recognize the mark on the unprocessed wafer and determine the wafer to be processed. Particularly in a batch processing apparatus, the order of the wafers may be changed during the processing depending on the processing apparatus, and it may be necessary to identify the wafer again after the processing. In this case, it is necessary to attach the wafer identification device 17 also to the unloader side.

【0022】先に述べたウェハ認識機能付き処理装置の
具体的な構成を図7に示す。この図に示されている処理
装置では、先の概念図と違いウェハ認識装置は処理装置
に1台だけついている。またローダ、アンローダにおか
れたロットを認識するためにカセット識別部19が、全
ローダ、アンローダについている。この処理装置の基本
動作を図8の通信手順に基づいて説明する。
FIG. 7 shows a specific configuration of the above-described processing apparatus with a wafer recognition function. In the processing apparatus shown in this figure, unlike the above conceptual diagram, only one wafer recognition apparatus is attached to the processing apparatus. Further, a cassette identification section 19 is provided for all the loaders and unloaders in order to recognize the lots placed in the loaders and unloaders. The basic operation of this processing device will be described based on the communication procedure of FIG.

【0023】(1)日程計画システムで、製造条件管理
システムから各ロットの製造条件を受信する。 (2)日程計画システムで、進度管理システムから各ロ
ットの進度情報を受信する。 (3)日程計画システムで、各ロットの進行予測と、こ
の進行予測から計算でロットを合成・分割する工程を求
め、ロット合成・分割計画にを立案する。このロット合
成・分割計画に基づいて、実際にロットの合成・分割を
各製造装置で行う。 (4)ロットをローダにセットする。ロットがセットさ
れたことにより、カセット識別装置で、カセットのセッ
トを認識し、装置全体制御部に伝える。
(1) The schedule planning system receives the manufacturing conditions of each lot from the manufacturing condition management system. (2) The schedule planning system receives the progress information of each lot from the progress management system. (3) In the schedule planning system, the progress of each lot is predicted, and the process of synthesizing / dividing the lots is calculated from the progress prediction, and a lot synthesizing / dividing plan is prepared. Based on this lot combining / dividing plan, each manufacturing apparatus actually combines / divides lots. (4) Set the lot in the loader. When the lot is set, the cassette identification device recognizes the cassette set and informs the entire device control unit.

【0024】(5)装置全体制御部は、ローダに置かれ
たカセットの番号を進度管理システムに伝える。 (6)進度管理システムでは、当該ロットに関する情報
(ロットNO、品名、工程、枚数、優先度、ロット合成
・分割)を当該装置に伝える。 (7)当該装置では、当該ロットの製造条件を製造条件
管理システムに問い合わせる。 (8)製造条件管理システムでは、当該ロットの製造条
件(例えば、温度、圧力、電流、等)を当該装置に伝え
る。 (9)当該装置では、進度管理から伝えられたロットの
合成・分割指示に従って、当該ロットの分割着工を行
う。そのために、装置内のウェハ搬送制御部に搬送指示
を出す。また、当該ロットが優先処理ロットである場合
は、既に処理中のロットの処理を中断して、当該ロット
の処理を開始する。
(5) The overall control unit of the apparatus informs the progress management system of the number of the cassette placed in the loader. (6) In the progress management system, information about the lot (lot number, item name, process, number of sheets, priority, lot composition / division) is transmitted to the device. (7) The apparatus inquires the manufacturing condition management system about the manufacturing conditions of the lot. (8) In the manufacturing condition management system, manufacturing conditions (for example, temperature, pressure, current, etc.) of the lot are transmitted to the device. (9) In the apparatus, the divided construction of the lot is started in accordance with the lot combining / dividing instruction transmitted from the progress management. Therefore, a transfer instruction is issued to the wafer transfer control unit in the apparatus. If the lot is a priority process lot, the process of the lot that is already being processed is interrupted and the process of the lot is started.

【0025】(10)搬送指示で運ばれたウェハのマー
クをウェハ識別手段で読み込んで、全体制御部に通知す
る。 (11)通知されたウェハのマークを進度管理システム
に送り、当該ロットとの照合を依頼する。 (12)進度管理システムでは、当該ロットと当該ウェ
ハの照合結果を当該装置に送り返す。 (13)試作品の場合には、ウェハ毎に製造条件を変え
る場合があるので、当該ウェハの製造条件を条件管理シ
ステムに問い合わせる。 (14)製造条件管理システムから、当該ウェハの製造
条件を当該装置に送信する。 (15)当該ウェハをウェハ識別装置からプロセス処理
室に搬送するとようのに、搬送指示を搬送制御部に送
る。 (16)ウェハ毎の処理条件をプロセス処理部に伝え
る。プロセス処理部では、当該ウェハの処理を行う。
(10) The wafer identification means reads the mark of the wafer carried by the transfer instruction and notifies the overall control section. (11) The notified wafer mark is sent to the progress management system and requested to collate with the lot. (12) In the progress management system, the collation result of the lot and the wafer is sent back to the device. (13) In the case of a prototype, since the manufacturing conditions may be changed for each wafer, the condition management system is inquired about the manufacturing conditions of the wafer. (14) The manufacturing condition management system transmits the manufacturing conditions for the wafer to the device. (15) A transfer instruction is sent to the transfer control unit such that the wafer is transferred from the wafer identification device to the process chamber. (16) Report processing conditions for each wafer to the process processing unit. The process processing section processes the wafer.

【0026】(17)処理が終了した時点で、終了報告
を全体制御部に伝える。この終了報告を進度管理システ
ムに伝え、ウェハ毎の処理実績を管理する。 (18)ウェハ毎の処理実績の妥当性を応答する。 (19)ウェハ毎の処理結果を製造条件管理で管理す
る。 (20)処理が終了したウェハの搬送先を搬送制御部に
指示する。その際に、ロット分割の場合には、分割する
ロット毎のアンローダに搬送を指示する。また、合成す
る場合には、違うロットであっても1つのアンローダに
搬送する。 (21)アンローダにあるロットに関する全ウェハの処
理が終了したら、当該ロットの終了の旨を表示部に表示
する。この表示を見て作業者は、当該ロットを次の工程
に搬送する。
(17) When the processing is completed, a completion report is sent to the overall control section. This completion report is transmitted to the progress management system to manage the processing results for each wafer. (18) Respond to the validity of the processing result for each wafer. (19) The processing result for each wafer is managed by manufacturing condition management. (20) The transfer control unit is instructed of the transfer destination of the processed wafer. At that time, in the case of lot division, conveyance is instructed to the unloader for each lot to be divided. In addition, when synthesizing, even if the lots are different, they are transported to one unloader. (21) When the processing of all the wafers related to the lot in the unloader is completed, the fact that the lot is completed is displayed on the display unit. Looking at this display, the operator conveys the lot to the next process.

【0027】次に、図9に1つの工程でのロットの着工
順序の例を示す。この図は、ガントチャートと呼ばれる
図で、横軸に時刻、縦軸に当該装置で処理されるロット
を示してある。この例では、ロット#4が優先処理ロッ
ト(試作品)であったとする。従来は、ロット#4が来
ることを事前に作業者が判断して、装置を空けて待って
いた。つまり、ロット#2、#3があるにもかかわら
ず、ロット#2、#3を処理せずにロット#4の到着を
待っていた。このため、装置が稼動した時間帯があり、
量産品の生産数を減らすことになっていた。また、量産
品が当該工程長い時間停滞することにより、量産品の進
行が混乱していた。
Next, FIG. 9 shows an example of the starting order of lots in one process. This figure is called a Gantt chart, in which the horizontal axis shows time and the vertical axis shows lots processed by the apparatus. In this example, it is assumed that lot # 4 is a priority processing lot (prototype). Conventionally, an operator judges in advance that Lot # 4 is coming, vacates the apparatus, and waits. In other words, although lots # 2 and # 3 exist, lots # 2 and # 3 were not processed and the arrival of lot # 4 was waited for. For this reason, there are times when the device operates,
It was supposed to reduce the number of mass-produced products. Moreover, the progress of the mass-produced product has been confused because the mass-produced product is stagnant for a long time in the process.

【0028】そこで、優先品を来るまで製品を着工して
いると、図10に示すように優先品が当該工程で長い時
間停滞することになる。1つの案としたは、時刻4の時
点でアンローダに載っているロット#3をロット#4が
到着した時点でどけて、ロット#4を優先的に処理する
方法が図11の案である。この案では、やはり、ロット
#4に先ほどよりは短いが待ち時間が発生してしまう。
Therefore, if the products are built until the priority products come, as shown in FIG. 10, the priority products will stay in the process for a long time. As one of the proposals, a method of preferentially processing the lot # 4 by removing the lot # 3 on the unloader at the time 4 when the lot # 4 arrives is the proposal of FIG. According to this plan, a lot of waiting time occurs in lot # 4, though it is shorter than before.

【0029】そこで、枚葉の進行制御を行うことで、図
12に示すような処理が可能となる。つまり、ロット#
4が当該工程に到着する時刻6の時点で、処理中のロッ
ト#2を中断し、ロット#4を割り込みで処理する。こ
れにより、ロット#4の待ち時間はゼロにできる。以上
のように、1つの処理装置上で、当該ロットが他のロッ
トを追い越せることにより、試作品などの優先度高いロ
ットを短い製作期間で生産できる。さらに、装置を空け
て待っていないために、装置の稼動率が高い状態で生産
でき、ライン全体の生産量を多くできる。
Therefore, the processing as shown in FIG. 12 can be performed by controlling the progress of the sheet. That is, lot #
At time 6 when 4 arrives at the process, lot # 2 being processed is interrupted and lot # 4 is processed by interruption. As a result, the waiting time for lot # 4 can be reduced to zero. As described above, a lot having a high priority such as a prototype can be produced in a short production period by allowing the lot to overtake another lot on one processing apparatus. Further, since the equipment is not emptied and waiting, the equipment can be produced with a high operating rate, and the production amount of the entire line can be increased.

【0030】次に、複数工程の場合について説明する。
図13に示す例では、工程A、B、Cの3工程の場合を
説明する。まず、工程Aの時点では、ロット#1、#2
は1つのロットに合成されており、しかも工程Aはバッ
チ処理装置である。一般的には、この合成されたロット
は、次の工程Bで分割される。つまり、一般的な分割の
条件は、製造条件が異なる工程で必ず分割するというも
のである。この例では、分割したロットが工程Bで処理
され、次に工程Cで処理される。この時点で、工程Bと
工程Cの処理時間の相違から、工程Cでは、ロット#1
の方がロット#2より先に次の工程(例えば、工程D)
へ送ることができる。
Next, the case of a plurality of steps will be described.
In the example shown in FIG. 13, the case of three steps A, B, and C will be described. First, at the time of process A, lots # 1 and # 2
Are synthesized in one lot, and step A is a batch processing apparatus. Generally, this combined lot is divided in the next step B. In other words, a general dividing condition is that the process is always performed in different manufacturing conditions. In this example, the divided lot is processed in step B and then in step C. At this point, due to the difference in processing time between the process B and the process C, in the process C, lot # 1
Is the next process (for example, process D) before lot # 2.
Can be sent to.

【0031】しかし、図14に示す例では、工程Cでロ
ット#3が先に処理されており、工程Bでロットを分割
して処理しても(図14中の中段の点線矢印)、工程C
の処理はなんら変わらない。そこで、このような場合に
はロット#1とロット#2を工程Aの終了後に分割する
のではなく、工程Bも合成ロットのまま処理する。これ
により、ロット搬送の回数を少なくでき、搬送にかかる
時間と作業の低減ができる。また、図14に示す工程D
では、工程Cのアンローダ側でロットを分割したことに
より、ロット#1が図14の下部の点線位置で処理され
るはずが、少々早く処理される。これにより、ロット#
2も早く処理される。
However, in the example shown in FIG. 14, the lot # 3 is processed first in the process C, and even if the lot is divided and processed in the process B (the dotted arrow in the middle of FIG. 14), C
The processing of is no different. Therefore, in such a case, the lot # 1 and the lot # 2 are not divided after the end of the process A, and the process B is also processed as a synthetic lot. As a result, the number of times of lot transportation can be reduced, and the time and work required for transportation can be reduced. Also, the process D shown in FIG.
Then, since the lot was divided on the unloader side in the process C, the lot # 1 should be processed at the dotted line position in the lower part of FIG. 14, but it is processed a little faster. This allows lot #
2 is processed quickly.

【0032】次に、図15、図16を例に、アンローダ
におけるロットの分割の効果について説明する。図15
は、先に示したガントチャートと同様で、この例では2
つの工程A、Bについての例を示す。図15では、工程
Aで合成されていたロット#1とロット#2を枚葉処理
装置で処理している。この例では、合成ロット、ロット
#1とロット#2が完成した時点でロットを分割して、
次の工程である工程Bへ送っている。しかし、図16の
例では、工程Aで合成ロットの処理の途中で、既に完成
しているロット#1だけを先に分割して次の工程に払い
出す。これにより、時刻で5単位も早くロット#1を生
産できる。
Next, the effect of lot division in the unloader will be described with reference to FIGS. 15 and 16. FIG.
Is similar to the Gantt chart shown earlier, in this example 2
An example of two steps A and B will be shown. In FIG. 15, the lot # 1 and the lot # 2 synthesized in the process A are processed by the single-wafer processing apparatus. In this example, when the synthetic lot, lot # 1 and lot # 2 are completed, the lot is divided and
It is sent to the next process, process B. However, in the example of FIG. 16, in the middle of the processing of the combined lot in the process A, only the already completed lot # 1 is divided first and delivered to the next process. As a result, lot # 1 can be produced as early as 5 units in time.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上記述されたように、本発明の試作生
産管理方法を用いると、試作ロットは量産ロットより早
く生産でき、なおかつ装置の稼動率を低下させずに試作
ロットを生産できるので、ライン効率の良いラインを実
現できる。また、試作生産管理方法を用いることで、ロ
ットの合成・分割を最小限にとどめることができ、工程
間の搬送装置の能力が少なくて済む。そのため、搬送装
置の投資を少なくできる。さらに、人手搬送の場合に
は、少ない作業者で生産できる。また、ウェハ認識機能
を持った製造装置を用いることで、製造ライン内にロッ
ト合成・分割の専用装置を置かなくても済み、スペース
効率も向上できる。また、本装置を用いることで、装置
内でロットの追い越しが行え、優先度高いロットをより
早く生産できる。本発明の試作生産管理装置と、ウェハ
認識機能を持った製造装置を用いることで、試作品と量
産品を1つの生産ラインで生産しても、ライン効率が低
下しない。そのため、わざわざ試作ラインを量産ライン
とは別に作らなくても、量産ラインで試作品を流すこと
で、トータルの投資額を抑えることができる。
As described above, when the trial production control method of the present invention is used, the trial lot can be produced earlier than the mass production lot, and the trial lot can be produced without lowering the operation rate of the device. A line with good line efficiency can be realized. Also, by using the trial production control method, lot composition / division can be minimized, and the capacity of the transfer device between processes can be reduced. Therefore, the investment of the transport device can be reduced. Further, in the case of manual transportation, it can be produced by a small number of workers. Further, by using a manufacturing apparatus having a wafer recognition function, it is not necessary to provide a dedicated apparatus for lot composition / division in the manufacturing line, and space efficiency can be improved. Further, by using this device, a lot can be overtaken in the device, and a lot with a high priority can be produced earlier. By using the prototype production control apparatus of the present invention and the manufacturing apparatus having the wafer recognition function, even if the prototype and the mass-produced product are produced in one production line, the line efficiency does not decrease. Therefore, even if a prototype line is not created separately from the mass production line, the total investment amount can be suppressed by flowing the prototype on the mass production line.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の試作ラインの実施例のシステム構成。FIG. 1 is a system configuration of an example of a trial production line of the present invention.

【図2】本発明のロット分割の概念図。FIG. 2 is a conceptual diagram of lot division according to the present invention.

【図3】本発明のロット合成の概念図。FIG. 3 is a conceptual diagram of lot synthesis according to the present invention.

【図4】本発明のバッチ処理装置の概念図。FIG. 4 is a conceptual diagram of a batch processing apparatus of the present invention.

【図5】本発明の枚葉処理装置の概念図。FIG. 5 is a conceptual diagram of a single-wafer processing apparatus of the present invention.

【図6】本発明のウェハ識別機能付き処理装置の概念
図。
FIG. 6 is a conceptual diagram of a processing apparatus with a wafer identification function according to the present invention.

【図7】本発明のウェハ識別機能付き処理装置の機能ブ
ロック図。
FIG. 7 is a functional block diagram of a processing apparatus with a wafer identification function according to the present invention.

【図8】本発明の試作ラインにおける通信手順。FIG. 8 is a communication procedure in the prototype line of the present invention.

【図9】本発明の1工程のロット着工状態(従来、特急
あり)を示すガントチャート。
FIG. 9 is a Gantt chart showing a 1-step lot start state of the present invention (conventional, there is an express train).

【図10】本発明の1工程のロット着工状態(特急な
し)を示すガントチャート。
FIG. 10 is a Gantt chart showing a lot process start state (without an express train) in one step of the present invention.

【図11】本発明の1工程のロット着工状態(特急あ
り、ロット単位の追い越し)を示すガントチャート。
FIG. 11 is a Gantt chart showing a state in which a lot has been started in one step of the present invention (there is an express train, and a lot is passed).

【図12】本発明の1工程のロット着工状態(特急あ
り、ウェハ単位の追い越し)を示すガントチャート。
FIG. 12 is a Gantt chart showing a lot process starting state (with an urgent express, overtaking by wafer unit) in one step of the present invention.

【図13】本発明の3工程のロット着工状態(ロット分
割あり)を示すガントチャート。
FIG. 13 is a Gantt chart showing a lot process start state (with lot division) of three steps of the present invention.

【図14】本発明の3工程のロット着工状態(ロット分
割なし)を示すガントチャート。
FIG. 14 is a Gantt chart showing a lot process start state (no lot division) in three steps of the present invention.

【図15】本発明の2工程のロット着工状態(処理中の
ロット分割なし)を示すガントチャート。
FIG. 15 is a Gantt chart showing a two-step lot start state of the present invention (no lot division during processing).

【図16】本発明の2工程のロット着工状態(処理中の
ロット分割なし)を示すガントチャート。
FIG. 16 is a Gantt chart showing a two-step lot start state of the present invention (no lot division during processing).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 日程計画装置 2 進度管理装置 3 進度管理D/B(データベース) 4 条件管理装置 5 条件管理D/B 6 枚葉処理装置 7 バッチ処理装置 8 工程 8a 工程1 8b 工程2 8c 工程3 8d 工程4 9 LAN 10 ロット分割 11 ロット合成 12 ロット搬送 13 合成ロット 14 ロット 15 ウェハ 16 処理装置 17 ウェハ識別装置 18 カセット 19 カセット識別装置 20 プロセス処理室 21 全体制御部 22 移載用ハンド 23 搬送部 24 搬送制御部 25 表示部 1 Schedule planning device 2 Progress management device 3 Progress management D / B (database) 4 Condition management device 5 Condition management D / B 6 Single wafer processing device 7 Batch processing device 8 Process 8a Process 1 8b Process 2 8c Process 3 8d Process 4 9 LAN 10 Lot division 11 Lot synthesis 12 Lot transfer 13 Synthesis lot 14 Lot 15 Wafer 16 Processing device 17 Wafer identification device 18 Cassette 19 Cassette identification device 20 Process processing room 21 Overall control unit 22 Transfer hand 23 Transfer unit 24 Transfer control Part 25 Display

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムとを備えた生産
ラインにおける試作製品の生産管理方法において、 製造装置は複数のローダ、アンローダを有し、各ローダ
はローダに搭載されたロットの認識手段を有し、 上位システムはローダに搭載されたロットに情報に基づ
いて試作製品のロットを優先的に処理する指令を製造装
置に発することを特徴とする生産管理方法。
1. A production line comprising a plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control section, and a host system to which the control sections are connected. In the production control method of a prototype product, the manufacturing apparatus has a plurality of loaders and unloaders, each loader has a lot recognition means installed in the loader, and the host system is based on the information of the lots installed in the loader. A production management method comprising issuing a command to a manufacturing apparatus to preferentially process a lot of a prototype product.
【請求項2】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムである日程計画
装置と進度管理装置と条件管理装置とを備えた生産ライ
ンにおいて、 製造装置は搭載されたロットの認識手段を有する複数の
ローダ、アンローダを備え、 上位システムはローダに搭載されたロットの情報に基づ
いて優先順位の高いロットを優先的に処理する指令を製
造装置に発する機能を備えることを特徴とする生産ライ
ン。
2. A plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control unit, and a schedule planning apparatus and a progress which are host systems to which the control sections are connected. In a production line equipped with a management device and a condition management device, the manufacturing device is equipped with a plurality of loaders and unloaders that have means for recognizing the installed lots, and the host system is prioritized based on the lot information installed in the loaders. A production line having a function of issuing a command to a manufacturing apparatus to preferentially process a high lot.
【請求項3】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムとを備えた生産
ラインにおける試作製品の生産管理方法において、 製造装置は複数のローダ、アンローダと、製品の認識手
段と、ロットの合成、分割機能とを有し、 上位システムは、製品の情報を製造装置に伝達し、試作
製品を優先的に分割して処理する指令を発することを特
徴とする生産管理方法。
3. A production line comprising a plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control section, and a host system to which the control section is connected. In the production control method of the prototype product, the manufacturing device has a plurality of loaders, unloaders, product recognition means, lot combining and dividing functions, and the host system transmits the product information to the manufacturing device and makes a prototype. A production management method characterized by issuing a command to preferentially divide and process a product.
【請求項4】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムである日程計画
装置と進度管理装置と条件管理装置とを備えた生産ライ
ンにおいて、 製造装置は複数のローダ、アンローダと、製品の認識手
段と、ロットの合成、分割機能とを有し、 上位システムは、製品の情報を製造装置に伝達し、優先
度の高い製品を分割して処理する指令を発する機能を備
えることを特徴とする生産ライン。
4. A plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control unit, and a schedule planning apparatus and a progress which are host systems to which the control sections are connected. In a production line equipped with a management device and a condition management device, the manufacturing device has a plurality of loaders, unloaders, product recognition means, lot combining and dividing functions, and the host system manufactures product information. A production line having a function of transmitting to a device and issuing a command for dividing and processing a high-priority product.
【請求項5】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムとを備えた生産
ラインにおける試作製品の生産管理方法において、 上記システムは、各工程の負荷状況を考慮して、負荷が
集中していて合成したロットを分割しなくても進行が変
わらないときには、製品の分割工程を後ろ倒しすること
により、工程間の搬送回路を低減して、製作期間の短縮
を実行することを特徴とする試作生産管理方法。
5. A production line comprising a plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control section, and a host system to which the control sections are connected. In the production control method for prototype products, the above system considers the load status of each process and delays the product dividing process when the load is concentrated and the progress does not change without dividing the combined lot. By doing so, the number of transport circuits between steps is reduced, and the production period is shortened.
【請求項6】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムである日程計画
装置と進度管理装置と条件管理装置とを備えた生産ライ
ンにおいて、 上位システムは、各工程の負荷状況を考慮して、負荷が
集中していて合成したロットを分割しなくても進行が変
わらないときには、製品の分割工程を後ろ倒しすること
により、工程間の搬送回路を低減して、製作期間の短縮
を実行することを製造装置に指令する機能を備えること
を特徴とする生産ライン。
6. A plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control unit, and a schedule planning apparatus and a progress which are host systems to which the control sections are connected. In a production line equipped with a management device and a condition management device, the host system considers the load status of each process and when the load is concentrated and the progress does not change even if the combined lot is not divided, The production line having the function of instructing the manufacturing apparatus to reduce the number of transfer circuits between steps and shorten the manufacturing period by arranging the dividing steps of 1.
【請求項7】 複数の処理工程に対応する複数の製造装
置と、各製造装置を結ぶ製品の搬送装置と、全体の制御
部と、制御部が接続される上位システムである日程計画
装置と進度管理装置と条件管理装置とを備えた生産ライ
ンにおいて、 上位システムは、各工程の負荷状況を考慮して、負荷が
集中していて合成したロットを分割しなくても進行が変
わらないときには、製品の分割工程を後ろ倒しすること
により、工程間の搬送回路を低減して、製作期間の短縮
を実行することを製造装置に指令する機能と、優先度の
高い製品を優先的に生産できるように試作生産管理装置
で計画し、当該計画に基づいて試作生産向け製造装置で
製品を合成・分割し、優先度の高い製品を短い製作期間
で生産し、しかも製造装置の稼動率を高いまま維持する
機能を備えることを特徴とする生産ライン。
7. A plurality of manufacturing apparatuses corresponding to a plurality of processing steps, a product conveying apparatus connecting the manufacturing apparatuses, an overall control unit, and a schedule planning apparatus and a progress which are host systems to which the control sections are connected. In a production line equipped with a management device and a condition management device, the host system considers the load status of each process and when the load is concentrated and the progress does not change even if the combined lot is not divided, By rearranging the division process of step 1, the function of instructing the manufacturing equipment to reduce the carrier circuit between processes and executing the shortening of the manufacturing period, and the product with high priority can be preferentially produced. Plan with the prototype production control device, synthesize and divide the products with the production device for prototype production based on the plan, produce high priority products in a short production period, and keep the operating rate of the production device high function Production line, characterized in that it comprises.
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