JPH08320223A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH08320223A JPH08320223A JP12838095A JP12838095A JPH08320223A JP H08320223 A JPH08320223 A JP H08320223A JP 12838095 A JP12838095 A JP 12838095A JP 12838095 A JP12838095 A JP 12838095A JP H08320223 A JPH08320223 A JP H08320223A
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- ccd
- distance measuring
- measuring device
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被写体に複数のビームを投光して位相差式三
角測距を行う測距装置において、センサーアレイ長を短
く、かつリニアCCDおよびリングCCDの段数を少な
くする。 【構成】 受光レンズ20、21を3つの単眼レンズか
らなる複眼構造にして、センサーアレイ12、13の狭
い範囲に測距対象からの5つの反射光(C、R、L、R
R、LL)を集光する。また、抜き取りCCD25、2
6とセンサーアレイ12、13とが対向し且つ抜き取り
CCD25、26とリニアCCD27、28とが一部ず
れるように配置されているので、抜き取りCCD25、
26を所望の段数だけ転送することで、センサーアレイ
12、13の任意の領域の信号電荷だけをリニアCCD
27、28にシフトすることができる。 【効果】 小型で短時間での測距が可能になる。
角測距を行う測距装置において、センサーアレイ長を短
く、かつリニアCCDおよびリングCCDの段数を少な
くする。 【構成】 受光レンズ20、21を3つの単眼レンズか
らなる複眼構造にして、センサーアレイ12、13の狭
い範囲に測距対象からの5つの反射光(C、R、L、R
R、LL)を集光する。また、抜き取りCCD25、2
6とセンサーアレイ12、13とが対向し且つ抜き取り
CCD25、26とリニアCCD27、28とが一部ず
れるように配置されているので、抜き取りCCD25、
26を所望の段数だけ転送することで、センサーアレイ
12、13の任意の領域の信号電荷だけをリニアCCD
27、28にシフトすることができる。 【効果】 小型で短時間での測距が可能になる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測定対象との距離を測
定する測距装置に関し、例えば、カメラのAF機構に適
用して好適なものである。
定する測距装置に関し、例えば、カメラのAF機構に適
用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、距離を測定したい測定対象にスポ
ット投光し、その反射光を受光して三角測距を行う測距
装置として、図5に示すものがよく知られている。即
ち、発光ダイオード(IRED)41から投光レンズ4
3を介して測定対象45にスポット投光し、その反射光
を受光レンズ44を介して位置検出素子(PSD)42
により受光する。PSD42は、その受光位置に応じた
信号A、Bを両端子から出力するので、その信号A、B
を夫々測定することによって、PSD42の受光位置を
検出することができ、測定対象45までの距離をその受
光位置から知ることができる。
ット投光し、その反射光を受光して三角測距を行う測距
装置として、図5に示すものがよく知られている。即
ち、発光ダイオード(IRED)41から投光レンズ4
3を介して測定対象45にスポット投光し、その反射光
を受光レンズ44を介して位置検出素子(PSD)42
により受光する。PSD42は、その受光位置に応じた
信号A、Bを両端子から出力するので、その信号A、B
を夫々測定することによって、PSD42の受光位置を
検出することができ、測定対象45までの距離をその受
光位置から知ることができる。
【0003】図6に、この測距装置の信号処理回路を示
す。
す。
【0004】PSD42の出力A、Bは、夫々、AMP
1A 、1B により電流−電圧変換され、更に、キャパシ
タCA 、CB により直流成分が除去される。これによ
り、IRED41のオン/オフに対応した点滅信号がA
MP2A 、2B に入力され、そこで反転増幅される。A
MP2A 、2B で増幅された点滅信号は、S/H信号に
よって制御されるアナログスイッチを介することによ
り、その点滅動作に同期して選択的にAMP3A 、3B
に入力される。そして、INT信号によるアナログスイ
ッチの制御によりキャパシタでの積分が開始される。こ
のようにS/H信号によって同期積分することにより、
測定対象からの反射光によって生じるPSD42からの
微弱な信号を検出し、ΣA、ΣBを得て測距可能として
いる。
1A 、1B により電流−電圧変換され、更に、キャパシ
タCA 、CB により直流成分が除去される。これによ
り、IRED41のオン/オフに対応した点滅信号がA
MP2A 、2B に入力され、そこで反転増幅される。A
MP2A 、2B で増幅された点滅信号は、S/H信号に
よって制御されるアナログスイッチを介することによ
り、その点滅動作に同期して選択的にAMP3A 、3B
に入力される。そして、INT信号によるアナログスイ
ッチの制御によりキャパシタでの積分が開始される。こ
のようにS/H信号によって同期積分することにより、
測定対象からの反射光によって生じるPSD42からの
微弱な信号を検出し、ΣA、ΣBを得て測距可能として
いる。
【0005】しかし、この図5及び図6に示した従来の
測距装置には、次のような問題点があった。即ち、S/
N比を考えると、微弱な信号に対してAMP1A 、1B
及びPSD42の抵抗から発生するノイズが毎回の同期
積分にのるため、信号成分を大きくするには、投光レン
ズ43、受光レンズ44等からなる測距ブロックを大き
くしたり、IRED41のパワーを大きくする必要があ
り、測距装置の小型化が困難であった。
測距装置には、次のような問題点があった。即ち、S/
N比を考えると、微弱な信号に対してAMP1A 、1B
及びPSD42の抵抗から発生するノイズが毎回の同期
積分にのるため、信号成分を大きくするには、投光レン
ズ43、受光レンズ44等からなる測距ブロックを大き
くしたり、IRED41のパワーを大きくする必要があ
り、測距装置の小型化が困難であった。
【0006】また、測定距離範囲を広くするためにはP
SD42を長くする必要があるが、PSD42が長くな
ると、得られるA、B信号の距離に対する変化率が小さ
くなり、位置を検出する精度が低下するという問題もあ
った。
SD42を長くする必要があるが、PSD42が長くな
ると、得られるA、B信号の距離に対する変化率が小さ
くなり、位置を検出する精度が低下するという問題もあ
った。
【0007】次に、USP4,521,106に提案さ
れているPSDの代わりにセンサーアレイを用いた装置
を図7に示す。
れているPSDの代わりにセンサーアレイを用いた装置
を図7に示す。
【0008】積分機能を備えたセンサーブロックS1 、
S2 、S3 、…で構成されたセンサーアレイ61に並行
して電荷転送手段であるCCD62が設けられている。
CCD62は、センサーブロック毎に投光手段のオンと
オフの夫々に対応した電荷を転送するようにセンサーブ
ロックの数の2倍の段数に構成されており、CK1 、C
K2 の2相クロックで駆動される。CCD62により転
送された電荷は、出力段(FDG:Floating Diffusion
Gate)64で電圧信号に変換されて取り出される。ま
た、CCD62は、RS信号により制御されるMOSゲ
ート63を介してリセットされる。SHは、シフトゲー
トである。
S2 、S3 、…で構成されたセンサーアレイ61に並行
して電荷転送手段であるCCD62が設けられている。
CCD62は、センサーブロック毎に投光手段のオンと
オフの夫々に対応した電荷を転送するようにセンサーブ
ロックの数の2倍の段数に構成されており、CK1 、C
K2 の2相クロックで駆動される。CCD62により転
送された電荷は、出力段(FDG:Floating Diffusion
Gate)64で電圧信号に変換されて取り出される。ま
た、CCD62は、RS信号により制御されるMOSゲ
ート63を介してリセットされる。SHは、シフトゲー
トである。
【0009】図8に、この図7の装置の動作タイミング
を示す。
を示す。
【0010】信号IREDは、投光手段(IRED)の
オン/オフのタイミングを示し、ハイレベルで投光手段
がオンになる。信号SHは、各センサーブロックS1 、
S2、S3 、…からの電荷をCCD62に転送するため
のシフトゲートSHを駆動するゲート信号で、Aのタイ
ミングでSHを1パルス出して各センサーブロック
S 1 、S2 、S3 、…内を空にすると同時に、各センサ
ーブロックS1 、S2 、S 3 、…において、投光オフ時
の外光の蓄積が始まる。一方、図示はしていないが、R
S信号によりMOSゲート63を介してCCD62の初
期化が行われる。
オン/オフのタイミングを示し、ハイレベルで投光手段
がオンになる。信号SHは、各センサーブロックS1 、
S2、S3 、…からの電荷をCCD62に転送するため
のシフトゲートSHを駆動するゲート信号で、Aのタイ
ミングでSHを1パルス出して各センサーブロック
S 1 、S2 、S3 、…内を空にすると同時に、各センサ
ーブロックS1 、S2 、S 3 、…において、投光オフ時
の外光の蓄積が始まる。一方、図示はしていないが、R
S信号によりMOSゲート63を介してCCD62の初
期化が行われる。
【0011】そして、BのタイミングでCCD62の初
期化が終り、クロックCK1 、CK 2 を止め、更に、S
Hを1パルス出して、各センサーブロックS1 、S2 、
S3、…から蓄積電荷をCCD62のクロックCK1 で
駆動される部分に1つおきに転送する。そして、所定時
間経過後、CK1 、CK2 を1パルスずつ出して、CC
D62内の電荷を1段進める。
期化が終り、クロックCK1 、CK 2 を止め、更に、S
Hを1パルス出して、各センサーブロックS1 、S2 、
S3、…から蓄積電荷をCCD62のクロックCK1 で
駆動される部分に1つおきに転送する。そして、所定時
間経過後、CK1 、CK2 を1パルスずつ出して、CC
D62内の電荷を1段進める。
【0012】一方、BからCの間、投光がオンになり、
外光と信号光(反射光)が各センサーブロックS1 、S
2 、S3 、…に蓄積される。そして、Cのタイミングで
SHを1パルス出して、各センサーブロックS1 、
S2 、S3 、…から蓄積電荷をCCD62のクロックC
K1 で駆動される部分に1つおきに転送する。
外光と信号光(反射光)が各センサーブロックS1 、S
2 、S3 、…に蓄積される。そして、Cのタイミングで
SHを1パルス出して、各センサーブロックS1 、
S2 、S3 、…から蓄積電荷をCCD62のクロックC
K1 で駆動される部分に1つおきに転送する。
【0013】このようにして、CCD62により転送さ
れる電荷を出力段(FDG)64で順次読み出して、各
センサーブロックS1 、S2 、S3 、…に蓄積された電
荷量を検出することができる。このような多分割センサ
ーを用いると、PSDを用いた場合よりも、受光位置を
検出する分解能が向上する。
れる電荷を出力段(FDG)64で順次読み出して、各
センサーブロックS1 、S2 、S3 、…に蓄積された電
荷量を検出することができる。このような多分割センサ
ーを用いると、PSDを用いた場合よりも、受光位置を
検出する分解能が向上する。
【0014】しかしながら、この図7及び図8で説明し
た装置では、CCD62から出力される電荷量は、投光
の1周期分の電荷量であって、同期積分という機能がな
いために、その電荷量が少なく、また、S/N比も良く
なかった。即ち、この装置では、分解能以外の測距能力
の向上という点では殆ど効果がなかった。
た装置では、CCD62から出力される電荷量は、投光
の1周期分の電荷量であって、同期積分という機能がな
いために、その電荷量が少なく、また、S/N比も良く
なかった。即ち、この装置では、分解能以外の測距能力
の向上という点では殆ど効果がなかった。
【0015】一方、上記の装置に同期積分機能を持たせ
るためには、図6に示したような電気回路を複数設ける
必要がある。また、この電気回路を用いなくても、外光
がない場合は、信号光の積分による増幅が可能である
が、外光が大きい場合は外光によってCCD62に蓄積
される信号量が決まってしまう。つまり、CCD62の
飽和を防止するために、図8のAに対してBおよびCの
タイミングが早くなり、信号分が非常に微弱になってし
まう。
るためには、図6に示したような電気回路を複数設ける
必要がある。また、この電気回路を用いなくても、外光
がない場合は、信号光の積分による増幅が可能である
が、外光が大きい場合は外光によってCCD62に蓄積
される信号量が決まってしまう。つまり、CCD62の
飽和を防止するために、図8のAに対してBおよびCの
タイミングが早くなり、信号分が非常に微弱になってし
まう。
【0016】次に、特公平5−22843号公報に提案
されている測距装置を図9に示す。この装置は、図7及
び図8で説明した装置に同期積分機能をデバイス上で構
成したもので、CCDで構成した周回リングによって順
次センサー出力を積分する。また、投光がオンとオフの
ペアで等価な直流信号成分をそのCCDから排除するい
わゆるスキム(SKIM) 機能を有している。
されている測距装置を図9に示す。この装置は、図7及
び図8で説明した装置に同期積分機能をデバイス上で構
成したもので、CCDで構成した周回リングによって順
次センサー出力を積分する。また、投光がオンとオフの
ペアで等価な直流信号成分をそのCCDから排除するい
わゆるスキム(SKIM) 機能を有している。
【0017】図中、センサーアレイ81は、N個のセン
サーブロックからなっており、このセンサーアレイ81
に蓄積された電荷は、N個のシフトゲート82を介し
て、電荷転送手段である2N段のリニアCCD83に送
られる。これらのセンサーアレイ81、シフトゲート8
2及びリニアCCD83は、図7で説明したセンサーア
レイ61、シフトゲートSH及びCCD62と実質的に
同じものである。
サーブロックからなっており、このセンサーアレイ81
に蓄積された電荷は、N個のシフトゲート82を介し
て、電荷転送手段である2N段のリニアCCD83に送
られる。これらのセンサーアレイ81、シフトゲート8
2及びリニアCCD83は、図7で説明したセンサーア
レイ61、シフトゲートSH及びCCD62と実質的に
同じものである。
【0018】図7の装置では、リニアCCDであるCC
D62から直接出力段(FDG)64に電荷が送られた
が、図9の装置では、リニアCCD83は、2N段のC
CDで構成されるリングCCD84に接続されている。
このリングCCD84は、1周の周期が投光のオン/オ
フの1周期に同期しており、また、SH信号のタイミン
グが制御されていて、前回のSH信号で各段に転送され
た信号電荷に次のSH信号で各段に転送される信号電荷
が丁度加算されるようになっている。この動作により、
リングCCD84は、電荷を転送しながら加算してい
く。
D62から直接出力段(FDG)64に電荷が送られた
が、図9の装置では、リニアCCD83は、2N段のC
CDで構成されるリングCCD84に接続されている。
このリングCCD84は、1周の周期が投光のオン/オ
フの1周期に同期しており、また、SH信号のタイミン
グが制御されていて、前回のSH信号で各段に転送され
た信号電荷に次のSH信号で各段に転送される信号電荷
が丁度加算されるようになっている。この動作により、
リングCCD84は、電荷を転送しながら加算してい
く。
【0019】CLR部85は、リングCCD84及びリ
ニアCCD83から電荷を抜き取ってクリアする手段で
あり、デバイスの初期化を行うものである。なお、リン
グCCD84による電荷加算時には、このクリア動作は
禁止される。また、87は、非破壊で電荷量を電圧に変
換して読み出す手段である。
ニアCCD83から電荷を抜き取ってクリアする手段で
あり、デバイスの初期化を行うものである。なお、リン
グCCD84による電荷加算時には、このクリア動作は
禁止される。また、87は、非破壊で電荷量を電圧に変
換して読み出す手段である。
【0020】SKIM部86は、リングCCD84の各
段が電荷の加算で飽和しないように、投光オフの段の電
荷量即ち外光信号の量が所定値を越えた場合に、投光オ
ンと投光オフのペアのCCD段から一定量の電荷を排除
し、連続加算動作で信号光による電荷のみが積分されて
いくようにする手段である。
段が電荷の加算で飽和しないように、投光オフの段の電
荷量即ち外光信号の量が所定値を越えた場合に、投光オ
ンと投光オフのペアのCCD段から一定量の電荷を排除
し、連続加算動作で信号光による電荷のみが積分されて
いくようにする手段である。
【0021】以上の動作によって、外光成分に対する信
号成分の増大を達成することができる。しかしながら、
この図9に示す装置は、図8に示すタイミングと実質的
に同じタイミングで動作するものであり、リニアCCD
83及びリングCCD84の転送クロックが図8のBか
らCの間殆ど停止していて、その時間が無駄になってい
る。また、同じタイミングでリニアCCD83とリング
CCD84が停止しているため、CCD間での暗電流む
らの発生によるS/N比の低下が顕著になるという問題
もあった。更に、この装置では、リニアCCD83及び
リングCCD84の転送クロックが比較的複雑であると
いう問題もあった。
号成分の増大を達成することができる。しかしながら、
この図9に示す装置は、図8に示すタイミングと実質的
に同じタイミングで動作するものであり、リニアCCD
83及びリングCCD84の転送クロックが図8のBか
らCの間殆ど停止していて、その時間が無駄になってい
る。また、同じタイミングでリニアCCD83とリング
CCD84が停止しているため、CCD間での暗電流む
らの発生によるS/N比の低下が顕著になるという問題
もあった。更に、この装置では、リニアCCD83及び
リングCCD84の転送クロックが比較的複雑であると
いう問題もあった。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】以上に説明した従来公
知の測距装置の欠点を克服するために、図10に示すよ
うな装置が考えられた。
知の測距装置の欠点を克服するために、図10に示すよ
うな装置が考えられた。
【0023】この装置は、図9で説明した装置における 1.転送クロックが複雑 2.暗電流むらの発生 3.転送クロックが停止している期間が有効に使われて
いない 等の欠点を解消したものであり、更に、各センサーブロ
ックからの信号電荷量を制御する電子シャッター機能
(ICG)を備えている。
いない 等の欠点を解消したものであり、更に、各センサーブロ
ックからの信号電荷量を制御する電子シャッター機能
(ICG)を備えている。
【0024】センサーアレイ91は、複数のセンサーブ
ロックS1 、S2 、S3 、…で構成されており、各セン
サーブロックS1 、S2 、S3 、…で発生した信号電荷
が積分部92で積分される。なお、本例では、センサー
アレイ91と積分部92とを別に示しているが、これら
は、図7及び図9で説明したセンサーアレイ61及びセ
ンサーアレイ81と実質的に同じものである。
ロックS1 、S2 、S3 、…で構成されており、各セン
サーブロックS1 、S2 、S3 、…で発生した信号電荷
が積分部92で積分される。なお、本例では、センサー
アレイ91と積分部92とを別に示しているが、これら
は、図7及び図9で説明したセンサーアレイ61及びセ
ンサーアレイ81と実質的に同じものである。
【0025】ICG信号によって駆動されるクリア部9
3は、いわゆる電子シャッターであり、積分部92から
一定量の電荷を抜き取って積分部92のオーバーフロー
を防止する機能と、積分部92の電荷を全て抜き取って
積分部92を初期化する機能を有する。
3は、いわゆる電子シャッターであり、積分部92から
一定量の電荷を抜き取って積分部92のオーバーフロー
を防止する機能と、積分部92の電荷を全て抜き取って
積分部92を初期化する機能を有する。
【0026】各積分部92で積分された信号電荷は、S
T信号のタイミングで蓄積部94に転送され、蓄積部9
4で一時的に蓄積保持される。そして、蓄積部94に保
持された電荷は、シフトゲート95により、SH信号の
タイミングで、リニアCCD96に転送される。リニア
CCD96は、図9で説明したリニアCCD83と同じ
もので、図外のリングCCDに接続している。
T信号のタイミングで蓄積部94に転送され、蓄積部9
4で一時的に蓄積保持される。そして、蓄積部94に保
持された電荷は、シフトゲート95により、SH信号の
タイミングで、リニアCCD96に転送される。リニア
CCD96は、図9で説明したリニアCCD83と同じ
もので、図外のリングCCDに接続している。
【0027】図11に、この図10の装置の動作タイミ
ングを示す。
ングを示す。
【0028】信号IREDは、投光手段(IRED)の
オンとオフを示しており、ハイレベルがオン状態であ
る。この投光手段のオンとオフのタイミングに対応して
ICGパルスが供給され、各積分部92がクリア(初期
化)される。そして、そのICGパルスから次のSTパ
ルスまでの期間に各センサーブロックS1 、S2 、
S3、…で発生した信号電荷のみが各積分部92で積分
されて、各蓄積部94に転送される。なお、ICGパル
スのタイミングは、測定対象の輝度に応じて前後し、輝
度が高くなるに従ってSTパルスのタイミングに近づ
く。
オンとオフを示しており、ハイレベルがオン状態であ
る。この投光手段のオンとオフのタイミングに対応して
ICGパルスが供給され、各積分部92がクリア(初期
化)される。そして、そのICGパルスから次のSTパ
ルスまでの期間に各センサーブロックS1 、S2 、
S3、…で発生した信号電荷のみが各積分部92で積分
されて、各蓄積部94に転送される。なお、ICGパル
スのタイミングは、測定対象の輝度に応じて前後し、輝
度が高くなるに従ってSTパルスのタイミングに近づ
く。
【0029】図9の装置で説明したように、本装置で
も、投光手段(IRED)のオンとオフの1周期は、不
図示のリングCCDの1周期に同期している。そして、
IREDがオフの期間に積分された信号電荷は、STパ
ルスaによって各蓄積部94に転送される。これは外光
による信号電荷であり、SHパルスbによって、クロッ
クCK1 で駆動される部分のリニアCCD96に転送さ
れる。同時に各蓄積部94は空になる。
も、投光手段(IRED)のオンとオフの1周期は、不
図示のリングCCDの1周期に同期している。そして、
IREDがオフの期間に積分された信号電荷は、STパ
ルスaによって各蓄積部94に転送される。これは外光
による信号電荷であり、SHパルスbによって、クロッ
クCK1 で駆動される部分のリニアCCD96に転送さ
れる。同時に各蓄積部94は空になる。
【0030】次に、IREDがオンの期間に積分された
信号電荷は、STパルスcによって、空になった各蓄積
部94に転送される。これは外光+信号光による信号電
荷である。そして、その電荷は、SHパルスbからクロ
ックCK1 で1クロック遅れたタイミングで発生するS
Hパルスdにより、IREDがオフの時と交互位置のリ
ニアCCD96に転送される。
信号電荷は、STパルスcによって、空になった各蓄積
部94に転送される。これは外光+信号光による信号電
荷である。そして、その電荷は、SHパルスbからクロ
ックCK1 で1クロック遅れたタイミングで発生するS
Hパルスdにより、IREDがオフの時と交互位置のリ
ニアCCD96に転送される。
【0031】このようにしてリニアCCD96により交
互に転送されるIREDがオフとオンの信号電荷は、図
9の装置の場合と同様に、不図示のリングCCDに転送
され、そのリングを周回することによって加算されてい
く。
互に転送されるIREDがオフとオンの信号電荷は、図
9の装置の場合と同様に、不図示のリングCCDに転送
され、そのリングを周回することによって加算されてい
く。
【0032】この装置によれば、電荷転送手段であるリ
ニアCCD96及び不図示のリングCCDを駆動するク
ロックに停止期間が必要なくなるので、転送クロックが
簡単になるとともに、クロックの停止期間の無駄もなく
なる。また、クロックの停止期間がないので、リングC
CD及びリニアCCDでの暗電流が平均化されて暗電流
むらがなくなる。つまり、この図10の装置を図5のP
SD42の代わりに用いることによって、三角測距の原
理を用いたより高精度の測距を行うことができる。
ニアCCD96及び不図示のリングCCDを駆動するク
ロックに停止期間が必要なくなるので、転送クロックが
簡単になるとともに、クロックの停止期間の無駄もなく
なる。また、クロックの停止期間がないので、リングC
CD及びリニアCCDでの暗電流が平均化されて暗電流
むらがなくなる。つまり、この図10の装置を図5のP
SD42の代わりに用いることによって、三角測距の原
理を用いたより高精度の測距を行うことができる。
【0033】次に、図10の装置を2個用いた位相差式
アクティブ測距装置について、その1点測距の場合の光
学原理図である図1を参照して説明する。
アクティブ測距装置について、その1点測距の場合の光
学原理図である図1を参照して説明する。
【0034】図1において、2つの受光レンズ10、1
1の焦点面にはそれぞれセンサーアレイ12、13が配
置されている。また、赤外発光ダイオード(IRED)
15から投光レンズ14を介して測定対象16にスポッ
ト投光された光は、反射光として受光レンズ10、11
を介してセンサーアレイ12、13において合焦する。
なお、図1では、センサーアレイ12、13にそれぞれ
接続される積分部、蓄積部およびスキム動作を行うCC
D部の図示を省略している。
1の焦点面にはそれぞれセンサーアレイ12、13が配
置されている。また、赤外発光ダイオード(IRED)
15から投光レンズ14を介して測定対象16にスポッ
ト投光された光は、反射光として受光レンズ10、11
を介してセンサーアレイ12、13において合焦する。
なお、図1では、センサーアレイ12、13にそれぞれ
接続される積分部、蓄積部およびスキム動作を行うCC
D部の図示を省略している。
【0035】ここで、2つの受光レンズ10、11間の
基線長をB、受光レンズ10、11の焦点距離をf、セ
ンサーアレイ12上での測定対象16の反射スポットの
無限遠測定対象に対する変位量をX1 、センサーアレイ
13上での測定対象16の反射スポットの無限遠測定対
象に対する変位量をX2 とする。すると、受光レンズ1
0の投光レンズ14に対する基線長が、受光レンズ11
の投光レンズ14に対するそれよりも長いので、X1 >
X2 の関係が成立することから、測定対象16までの距
離Lは、以下の式(1)で表される。 L=B×f/(X1 −X2 ) (1)
基線長をB、受光レンズ10、11の焦点距離をf、セ
ンサーアレイ12上での測定対象16の反射スポットの
無限遠測定対象に対する変位量をX1 、センサーアレイ
13上での測定対象16の反射スポットの無限遠測定対
象に対する変位量をX2 とする。すると、受光レンズ1
0の投光レンズ14に対する基線長が、受光レンズ11
の投光レンズ14に対するそれよりも長いので、X1 >
X2 の関係が成立することから、測定対象16までの距
離Lは、以下の式(1)で表される。 L=B×f/(X1 −X2 ) (1)
【0036】つまり、2つのセンサーアレイ12、13
上での反射スポット変位量の差を演算することにより、
測定対象16までの距離(例えば被写体距離)Lを求め
ることができる。また、前記図5の測距装置では測定対
象がコントラストをもつ場合や投光ビームが測定対象の
一部にしか当たらない場合、受光スポットの光重心の移
動によって誤った測距情報を出力してしまうが、図1の
位相差式測距装置では、光重心の移動変化が(X1 −X
2 )の演算によってキャンセルされるので、誤った測距
情報を出力することがないという利点がある。
上での反射スポット変位量の差を演算することにより、
測定対象16までの距離(例えば被写体距離)Lを求め
ることができる。また、前記図5の測距装置では測定対
象がコントラストをもつ場合や投光ビームが測定対象の
一部にしか当たらない場合、受光スポットの光重心の移
動によって誤った測距情報を出力してしまうが、図1の
位相差式測距装置では、光重心の移動変化が(X1 −X
2 )の演算によってキャンセルされるので、誤った測距
情報を出力することがないという利点がある。
【0037】しかしながら、図1の位相差式アクティブ
測距装置により、任意の方向に存在する測定対象までの
距離を測定可能な多点測距を行う場合には、投光ビーム
の数が増えるに伴ってセンサーアレイが不可避的に長く
なってしまう。
測距装置により、任意の方向に存在する測定対象までの
距離を測定可能な多点測距を行う場合には、投光ビーム
の数が増えるに伴ってセンサーアレイが不可避的に長く
なってしまう。
【0038】また、センサーアレイが長くなると、必然
的にリニアCCDやこれと同じ段数を要するリングCC
Dの段数も多くなり、結果的に測距装置が大型になり、
短時間での測距ができなくなってしまうという問題があ
った。
的にリニアCCDやこれと同じ段数を要するリングCC
Dの段数も多くなり、結果的に測距装置が大型になり、
短時間での測距ができなくなってしまうという問題があ
った。
【0039】そこで、本発明の目的は、特に位相差方式
で多点測距を行うことが可能な測距装置において、セン
サーアレイ長を短く、かつリニアCCDおよびリングC
CDの段数を少なくできて、小型で短時間で測距を行う
ことが可能な測距装置を提供することである。
で多点測距を行うことが可能な測距装置において、セン
サーアレイ長を短く、かつリニアCCDおよびリングC
CDの段数を少なくできて、小型で短時間で測距を行う
ことが可能な測距装置を提供することである。
【0040】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1の発明では、距離を測定したい測定対
象にスポット投光し、その反射光を受光して三角測距を
行う測距装置であって、前記測定対象に投光するための
投光手段と、前記測定対象からの反射光を受光して光電
変換する複数のセンサーが配列されたセンサーアレイ
と、前記センサーアレイの各センサーからの出力電荷を
受け取って転送する電荷転送手段とを備えた測距装置に
おいて、前記センサーアレイに対向するとともに前記電
荷転送手段とは互いに少なくとも一部がずれるように配
置され、前記第1のセンサーアレイのうちの所望の領域
の信号だけを前記電荷転送手段に転送する抜き取り手段
を更に備えている。
ために、請求項1の発明では、距離を測定したい測定対
象にスポット投光し、その反射光を受光して三角測距を
行う測距装置であって、前記測定対象に投光するための
投光手段と、前記測定対象からの反射光を受光して光電
変換する複数のセンサーが配列されたセンサーアレイ
と、前記センサーアレイの各センサーからの出力電荷を
受け取って転送する電荷転送手段とを備えた測距装置に
おいて、前記センサーアレイに対向するとともに前記電
荷転送手段とは互いに少なくとも一部がずれるように配
置され、前記第1のセンサーアレイのうちの所望の領域
の信号だけを前記電荷転送手段に転送する抜き取り手段
を更に備えている。
【0041】請求項2の発明では、距離を測定したい測
定対象にスポット投光し、その反射光を2か所で受光し
て三角測距を行う位相差式の測距装置であって、前記測
定対象に投光するための投光手段と、第1および第2の
受光レンズを介して前記測定対象からの反射光を受光し
て光電変換する複数のセンサーが配列された第1および
第2のセンサーアレイと、前記第1および第2のセンサ
ーアレイの各センサーからの出力電荷をそれぞれ受け取
って転送する第1および第2の電荷転送手段とを備えた
測距装置において、前記第1および第2のセンサーアレ
イに対向するとともに前記第1および第2の電荷転送手
段とは互いに少なくとも一部がずれるようにそれぞれ配
置され、前記第1および第2のセンサーアレイのうちの
所望の領域の信号だけを前記第1および第2の電荷転送
手段にそれぞれ転送する第1および第2の抜き取り手段
を更に備えている。
定対象にスポット投光し、その反射光を2か所で受光し
て三角測距を行う位相差式の測距装置であって、前記測
定対象に投光するための投光手段と、第1および第2の
受光レンズを介して前記測定対象からの反射光を受光し
て光電変換する複数のセンサーが配列された第1および
第2のセンサーアレイと、前記第1および第2のセンサ
ーアレイの各センサーからの出力電荷をそれぞれ受け取
って転送する第1および第2の電荷転送手段とを備えた
測距装置において、前記第1および第2のセンサーアレ
イに対向するとともに前記第1および第2の電荷転送手
段とは互いに少なくとも一部がずれるようにそれぞれ配
置され、前記第1および第2のセンサーアレイのうちの
所望の領域の信号だけを前記第1および第2の電荷転送
手段にそれぞれ転送する第1および第2の抜き取り手段
を更に備えている。
【0042】請求項3の発明では、前記第1および第2
の抜き取り手段がCCDで構成されており、その転送段
数によって前記第1および第2のセンサーアレイのどの
領域の信号を前記第1および第2の電荷転送手段に転送
するかが決定されるように構成されている。
の抜き取り手段がCCDで構成されており、その転送段
数によって前記第1および第2のセンサーアレイのどの
領域の信号を前記第1および第2の電荷転送手段に転送
するかが決定されるように構成されている。
【0043】請求項4の発明では、前記第1および第2
の受光レンズが複眼構造を有している。
の受光レンズが複眼構造を有している。
【0044】請求項5の発明では、前記投光手段が複数
の発光部を有している。
の発光部を有している。
【0045】請求項6の発明では、前記電荷転送手段で
転送されている電荷から一定量の電荷を除去するスキム
手段を更に備える。
転送されている電荷から一定量の電荷を除去するスキム
手段を更に備える。
【0046】請求項7の発明では、前記第1および第2
の電荷転送手段の少なくとも一部がリング状に結合され
ている。
の電荷転送手段の少なくとも一部がリング状に結合され
ている。
【0047】
【作用】請求項1〜3の発明によると、センサーアレイ
に対向する抜き取り手段が、センサーアレイのうちの所
望の領域の信号だけを抜き取って電荷転送手段にシフト
するので、抜き取り手段と同じ段数の電荷転送手段を設
ける必要がなくなり、電荷転送手段の段数を低減するこ
とができる。
に対向する抜き取り手段が、センサーアレイのうちの所
望の領域の信号だけを抜き取って電荷転送手段にシフト
するので、抜き取り手段と同じ段数の電荷転送手段を設
ける必要がなくなり、電荷転送手段の段数を低減するこ
とができる。
【0048】請求項2の発明によると、光重心の移動を
キャンセルした位相差方式による高精度な測距ができる
ようになる。
キャンセルした位相差方式による高精度な測距ができる
ようになる。
【0049】請求項4の発明によると、受光レンズを複
眼構造にすることにより、測定対象からの反射光を狭い
範囲に集めることができるので、センサーアレイの長さ
を短くすることができる。従って、装置全体を小型化
し、高速な測距動作を行うことができるようになる。
眼構造にすることにより、測定対象からの反射光を狭い
範囲に集めることができるので、センサーアレイの長さ
を短くすることができる。従って、装置全体を小型化
し、高速な測距動作を行うことができるようになる。
【0050】請求項5の発明によると、投光手段が複数
の発光部を有することにより、任意の方向に存在する測
定対象までの距離を測定可能な多点測距を行うことがで
きるようになる。
の発光部を有することにより、任意の方向に存在する測
定対象までの距離を測定可能な多点測距を行うことがで
きるようになる。
【0051】請求項6の発明によると、電荷転送手段で
転送されている電荷から一定量の電荷を除去することに
より、電荷転送手段で電荷が飽和することを防止するこ
とができるとともに、S/N比を向上させることができ
る。
転送されている電荷から一定量の電荷を除去することに
より、電荷転送手段で電荷が飽和することを防止するこ
とができるとともに、S/N比を向上させることができ
る。
【0052】請求項7の発明によると、電荷転送手段の
少なくとも一部がリング状に結合されることにより、信
号電荷を順次加算していくことができるので、優れたS
/N比を達成することができる。
少なくとも一部がリング状に結合されることにより、信
号電荷を順次加算していくことができるので、優れたS
/N比を達成することができる。
【0053】
【実施例】以下、本発明を実施例につき図1〜図4を参
照して説明する。
照して説明する。
【0054】図2に、本発明の一実施例による測距装置
の光学図を示す。本実施例は、5点の多点測距を行う場
合を示している。
の光学図を示す。本実施例は、5点の多点測距を行う場
合を示している。
【0055】図2において、複眼構造の受光レンズ2
0、21は、それぞれ3つの単眼レンズ20a、20
b、20cおよび21a、21b、21cから構成され
た分割レンズである。この受光レンズ20、21を介し
て測定対象(被写体:図示せず)からの反射光を受光す
るセンサーアレイ12、13は、図1で説明したセンサ
ーアレイ10、11と同様のものであり、反射光を光電
変換して電気信号を発生する。積分蓄積部23、24
は、センサーアレイ12、13の出力電流を積分および
蓄積する。抜き取り手段である抜き取りCCD25、2
6は、センサーアレイ12、13とそれぞれ対向してお
り、測距情報を得るために相関演算を行う際に、センサ
ーアレイ12、13の任意の領域の信号だけを抜き取っ
て次段のリニアCCD27、28に画素信号をシフトさ
せる。
0、21は、それぞれ3つの単眼レンズ20a、20
b、20cおよび21a、21b、21cから構成され
た分割レンズである。この受光レンズ20、21を介し
て測定対象(被写体:図示せず)からの反射光を受光す
るセンサーアレイ12、13は、図1で説明したセンサ
ーアレイ10、11と同様のものであり、反射光を光電
変換して電気信号を発生する。積分蓄積部23、24
は、センサーアレイ12、13の出力電流を積分および
蓄積する。抜き取り手段である抜き取りCCD25、2
6は、センサーアレイ12、13とそれぞれ対向してお
り、測距情報を得るために相関演算を行う際に、センサ
ーアレイ12、13の任意の領域の信号だけを抜き取っ
て次段のリニアCCD27、28に画素信号をシフトさ
せる。
【0056】リニアCCD27、28は、抜き取りCC
D25、26の右端部を除いた部分とそれぞれ対向し
(すなわち、抜き取りCCD25、26と互いにずれて
おり)、抜き取りCCD25、26で抜き取られた画素
信号を次段のリングCCD29、30に転送する。リン
グCCD29、30は、リニアCCD27、28と同じ
段数を有しており、リニアCCD27、28から転送さ
れた画素信号を転送しながら順次加算していく。
D25、26の右端部を除いた部分とそれぞれ対向し
(すなわち、抜き取りCCD25、26と互いにずれて
おり)、抜き取りCCD25、26で抜き取られた画素
信号を次段のリングCCD29、30に転送する。リン
グCCD29、30は、リニアCCD27、28と同じ
段数を有しており、リニアCCD27、28から転送さ
れた画素信号を転送しながら順次加算していく。
【0057】投光レンズ14は、発光ダイオード22か
らの光を図示しない測定対象に向けて投光する。発光ダ
イオード(IRED)22は、時系列で発光する5点の
発光部22a〜22eを有しており、これら5点の発光
部22a〜22eからそれぞれ投光方向の異なるセンタ
ー(C)、ライト(R)、レフト(L)、ライトライト
(RR)、およびレフトレフト(LL)の5つのビーム
を発光する。
らの光を図示しない測定対象に向けて投光する。発光ダ
イオード(IRED)22は、時系列で発光する5点の
発光部22a〜22eを有しており、これら5点の発光
部22a〜22eからそれぞれ投光方向の異なるセンタ
ー(C)、ライト(R)、レフト(L)、ライトライト
(RR)、およびレフトレフト(LL)の5つのビーム
を発光する。
【0058】ここで、測定対象が無限遠の位置にあると
すると、センタービーム(C)の測定対象からの反射光
は、レンズ20b、21bを介してセンサーアレイ1
2、13のほぼ中央部に入射する。また、ライトビーム
(R)の測定対象からの反射光は、レンズ20b、21
bを介してセンサーアレイ12、13の中央部よりも左
側に入射する。また、レフトビーム(L)の測定対象か
らの反射光は、レンズ20b、21bを介してセンサー
アレイ12、13の中央部よりも右側に入射する。ま
た、ライトライトビーム(RR)の測定対象からの反射
光は、レンズ20c、21cを介してセンサーアレイ1
2、13の中央部よりも少し右側に入射する。また、レ
フトレフトビーム(LL)の測定対象からの反射光は、
レンズ20a、21aを介してセンサーアレイ12、1
3の中央部よりも少し左側に入射する。
すると、センタービーム(C)の測定対象からの反射光
は、レンズ20b、21bを介してセンサーアレイ1
2、13のほぼ中央部に入射する。また、ライトビーム
(R)の測定対象からの反射光は、レンズ20b、21
bを介してセンサーアレイ12、13の中央部よりも左
側に入射する。また、レフトビーム(L)の測定対象か
らの反射光は、レンズ20b、21bを介してセンサー
アレイ12、13の中央部よりも右側に入射する。ま
た、ライトライトビーム(RR)の測定対象からの反射
光は、レンズ20c、21cを介してセンサーアレイ1
2、13の中央部よりも少し右側に入射する。また、レ
フトレフトビーム(LL)の測定対象からの反射光は、
レンズ20a、21aを介してセンサーアレイ12、1
3の中央部よりも少し左側に入射する。
【0059】このように、本実施例では、受光レンズ2
0、21として3分割された複眼構造のレンズを用いる
ことによって、5点投光で広がった投光ビームをセンサ
ーアレイ12、13の狭い範囲に集光しているので、セ
ンサーアレイ12、13として従来よりも短いものを用
いることが可能になっている。また、本実施例では、測
距方向は時系列で発光する5点の発光部22a〜22e
を有する発光ダイオード22の投光方向により決定され
る。
0、21として3分割された複眼構造のレンズを用いる
ことによって、5点投光で広がった投光ビームをセンサ
ーアレイ12、13の狭い範囲に集光しているので、セ
ンサーアレイ12、13として従来よりも短いものを用
いることが可能になっている。また、本実施例では、測
距方向は時系列で発光する5点の発光部22a〜22e
を有する発光ダイオード22の投光方向により決定され
る。
【0060】図2に示された各反射ビームは無限遠測定
対象に対応したものであるから、センサーアレイ12と
センサーアレイ13とで受光スポットの変位量に差は生
じない。しかし、有限距離測定対象に対しては、センサ
ーアレイ12とセンサーアレイ13とで受光スポットの
変位量に差が生じる。従って、5つの受光スポットにつ
いてそれぞれ、その差を相関演算により求め、図1で説
明した式(1)から距離情報を算出する。
対象に対応したものであるから、センサーアレイ12と
センサーアレイ13とで受光スポットの変位量に差は生
じない。しかし、有限距離測定対象に対しては、センサ
ーアレイ12とセンサーアレイ13とで受光スポットの
変位量に差が生じる。従って、5つの受光スポットにつ
いてそれぞれ、その差を相関演算により求め、図1で説
明した式(1)から距離情報を算出する。
【0061】次に、抜き取りCCD25、26による画
素信号の抜き取り動作原理について説明する。
素信号の抜き取り動作原理について説明する。
【0062】図3(a)は、図2のセンサーアレイ1
2、積分蓄積部23、抜き取りCCD25およびリニア
CCD27部分をより詳細に示す図である。なお、図3
(a)において、リングCCD29の図示を省略してい
る。
2、積分蓄積部23、抜き取りCCD25およびリニア
CCD27部分をより詳細に示す図である。なお、図3
(a)において、リングCCD29の図示を省略してい
る。
【0063】まず、抜き取りCCD25による転送動作
を行わない場合について説明する。この場合、センサー
アレイ12のすべてのセンサーの画素信号出力が積分蓄
積部23で積分および蓄積され、抜き取りCCD25に
シフトされる。抜き取りCCD25では水平方向の転送
動作を行わないので、センサーアレイ12の右端部(リ
ニアCCD27と抜き取りCCD25とが対向していな
い部分に対応する)を除いた領域Aの信号だけが抜き取
りCCD25を介してリニアCCD27にシフトされ、
更にリングCCDにシフトされていく。
を行わない場合について説明する。この場合、センサー
アレイ12のすべてのセンサーの画素信号出力が積分蓄
積部23で積分および蓄積され、抜き取りCCD25に
シフトされる。抜き取りCCD25では水平方向の転送
動作を行わないので、センサーアレイ12の右端部(リ
ニアCCD27と抜き取りCCD25とが対向していな
い部分に対応する)を除いた領域Aの信号だけが抜き取
りCCD25を介してリニアCCD27にシフトされ、
更にリングCCDにシフトされていく。
【0064】次に、抜き取りCCD25によりn1 ビッ
ト分の転送動作を行う場合について説明する。この場
合、積分蓄積部23を介して抜き取りCCD25にシフ
トされたセンサーアレイ12のすべてのセンサーの画素
信号出力が、抜き取りCCD25で左方向にn1 ビット
分転送される。従って、センサーアレイ12から左右に
n1 ビット分を除いた領域Bの信号だけが抜き取りCC
D25を介してリニアCCD27にシフトされ、更にリ
ングCCDにシフトされていく。
ト分の転送動作を行う場合について説明する。この場
合、積分蓄積部23を介して抜き取りCCD25にシフ
トされたセンサーアレイ12のすべてのセンサーの画素
信号出力が、抜き取りCCD25で左方向にn1 ビット
分転送される。従って、センサーアレイ12から左右に
n1 ビット分を除いた領域Bの信号だけが抜き取りCC
D25を介してリニアCCD27にシフトされ、更にリ
ングCCDにシフトされていく。
【0065】次に、抜き取りCCD25によりn2 (n
2 >n1 )ビット分の転送動作を行う場合について説明
する。この場合、積分蓄積部23を介して抜き取りCC
D25にシフトされたセンサーアレイ12のすべてのセ
ンサーの画素信号出力が、抜き取りCCD25で左方向
にn2 ビット分転送される。従って、センサーアレイ1
2から左端のn2 ビット分を除いた領域Cの信号だけが
抜き取りCCD25を介してリニアCCD27にシフト
され、更にリングCCDにシフトされていく。
2 >n1 )ビット分の転送動作を行う場合について説明
する。この場合、積分蓄積部23を介して抜き取りCC
D25にシフトされたセンサーアレイ12のすべてのセ
ンサーの画素信号出力が、抜き取りCCD25で左方向
にn2 ビット分転送される。従って、センサーアレイ1
2から左端のn2 ビット分を除いた領域Cの信号だけが
抜き取りCCD25を介してリニアCCD27にシフト
され、更にリングCCDにシフトされていく。
【0066】以上のように、抜き取りCCD25での転
送ビット数を変更することにより、センサーアレイ12
上の画素信号の抜き取り領域を任意に変えることができ
る。このように、センサーアレイ12の所望領域の信号
を抜き取ることにより、リングCCDで扱う信号領域
(ビット数)が小さくなるので、測距時間を短縮するこ
とができるとともに、リングCCDの規模が小さくなっ
て装置全体の小型化を図ることができる。
送ビット数を変更することにより、センサーアレイ12
上の画素信号の抜き取り領域を任意に変えることができ
る。このように、センサーアレイ12の所望領域の信号
を抜き取ることにより、リングCCDで扱う信号領域
(ビット数)が小さくなるので、測距時間を短縮するこ
とができるとともに、リングCCDの規模が小さくなっ
て装置全体の小型化を図ることができる。
【0067】また、抜き取りCCD25での抜き取り領
域は、測距方向により決定される。例えば、図2の5つ
のビームのうち、センター(C)、ライトライト(R
R)、およびレフトレフト(LL)を測距する場合は、
領域Bを選択し、センサーアレイ12の中央部が測距領
域となるようにする。また、ライト(R)を測距する場
合は、領域Aを選択し、センサーアレイ12の左側部分
が測距領域となるようにする。また、レフト(L)を測
距する場合は、領域Cを選択し、センサーアレイ12の
右側部分が測距領域となるようにする。このようにする
ことによって、受光スポットを含む有効かつ最小のセン
サーアレイ領域から迅速な相関演算を行うことができ
る。
域は、測距方向により決定される。例えば、図2の5つ
のビームのうち、センター(C)、ライトライト(R
R)、およびレフトレフト(LL)を測距する場合は、
領域Bを選択し、センサーアレイ12の中央部が測距領
域となるようにする。また、ライト(R)を測距する場
合は、領域Aを選択し、センサーアレイ12の左側部分
が測距領域となるようにする。また、レフト(L)を測
距する場合は、領域Cを選択し、センサーアレイ12の
右側部分が測距領域となるようにする。このようにする
ことによって、受光スポットを含む有効かつ最小のセン
サーアレイ領域から迅速な相関演算を行うことができ
る。
【0068】図3(b)は、図3(a)のより具体的な
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【0069】図3(b)において、30はセンサーアレ
イ、31はST信号で電荷信号を次段にシフトする積分
部および蓄積部、32はSH1 信号で制御されるシフト
ゲート、33は転送クロックCK0 パルスで転送動作を
行う抜き取りCCD、34はSH2 信号で制御されるシ
フトゲート、35は2相のクロックCK1 、CK2 で動
作するリニアCCD、36は抜き取りCCD33をリセ
ットするクリアゲートである。
イ、31はST信号で電荷信号を次段にシフトする積分
部および蓄積部、32はSH1 信号で制御されるシフト
ゲート、33は転送クロックCK0 パルスで転送動作を
行う抜き取りCCD、34はSH2 信号で制御されるシ
フトゲート、35は2相のクロックCK1 、CK2 で動
作するリニアCCD、36は抜き取りCCD33をリセ
ットするクリアゲートである。
【0070】次に、図4を参照して図3(b)の装置の
転送動作を説明する。
転送動作を説明する。
【0071】図4において、信号IREDは、投光手段
(IRED)のオンとオフを示しており、ハイレベルが
投光オン状態である。IREDのオンとオフの1周期
は、不図示のリングCCDの1周期に同期している。そ
して、IREDがオフの期間に積分された信号電荷は、
STパルスaによってシフトゲート32にシフトされ、
SH1 パルスbによって、抜き取りCCD33にシフト
される。そして、転送クロックCK0 パルスcによって
画素信号は抜き取りCCD33内を左方向に1段転送さ
れる。
(IRED)のオンとオフを示しており、ハイレベルが
投光オン状態である。IREDのオンとオフの1周期
は、不図示のリングCCDの1周期に同期している。そ
して、IREDがオフの期間に積分された信号電荷は、
STパルスaによってシフトゲート32にシフトされ、
SH1 パルスbによって、抜き取りCCD33にシフト
される。そして、転送クロックCK0 パルスcによって
画素信号は抜き取りCCD33内を左方向に1段転送さ
れる。
【0072】また、IREDがオンの期間に積分された
信号電荷は、STパルスdによってシフトゲート32に
シフトされ、SH1 パルスeによって、抜き取りCCD
33にシフトされる。すなわち、この時点では、IRE
Dがオンの期間のセンサーアレイ信号とオフの期間のセ
ンサーアレイ信号とが、抜き取りCCD33内で交互に
並んでいる。そして、転送クロックCK0 の2×n1 個
のパルス列fによって画素信号は抜き取りCCD33内
を左方向にn1 ビット転送される。この結果、図3
(a)に示す領域Bの画素信号が抜き取られることにな
る。
信号電荷は、STパルスdによってシフトゲート32に
シフトされ、SH1 パルスeによって、抜き取りCCD
33にシフトされる。すなわち、この時点では、IRE
Dがオンの期間のセンサーアレイ信号とオフの期間のセ
ンサーアレイ信号とが、抜き取りCCD33内で交互に
並んでいる。そして、転送クロックCK0 の2×n1 個
のパルス列fによって画素信号は抜き取りCCD33内
を左方向にn1 ビット転送される。この結果、図3
(a)に示す領域Bの画素信号が抜き取られることにな
る。
【0073】さらに、SH2 パルスgによって、抜き取
りCCD33の信号電荷がリニアCCD35にシフトさ
れ、転送クロックCK1 で図示しないリングCCDに転
送され、そのリングを周回することによって加算されて
いく。
りCCD33の信号電荷がリニアCCD35にシフトさ
れ、転送クロックCK1 で図示しないリングCCDに転
送され、そのリングを周回することによって加算されて
いく。
【0074】抜き取りCCD33での転送量(n1 )
は、転送クロックCK0 の転送パルス数を変えることに
より制御可能であり、これにより上述のようにセンサー
アレイ30の抜き取り領域を任意に変えることができ
る。
は、転送クロックCK0 の転送パルス数を変えることに
より制御可能であり、これにより上述のようにセンサー
アレイ30の抜き取り領域を任意に変えることができ
る。
【0075】また、本実施例の測距装置では、デバイス
上にリングCCDを構成し、このリングCCDを周回さ
せることで、電荷の加算を行うことができるので、S/
N比を向上させることができる。また、リングCCDに
図9に示すようなスキム部が設けられており、このスキ
ム部は、転送されている信号からオン/オフで等価な外
光成分だけを除き、信号光の部分はそのままリングCC
Dを周回して積分されていく。従って、電荷の加算によ
ってリングCCDが飽和することを防止できるととも
に、S/N比を更に向上させることができる。
上にリングCCDを構成し、このリングCCDを周回さ
せることで、電荷の加算を行うことができるので、S/
N比を向上させることができる。また、リングCCDに
図9に示すようなスキム部が設けられており、このスキ
ム部は、転送されている信号からオン/オフで等価な外
光成分だけを除き、信号光の部分はそのままリングCC
Dを周回して積分されていく。従って、電荷の加算によ
ってリングCCDが飽和することを防止できるととも
に、S/N比を更に向上させることができる。
【0076】以上説明した実施例では、投光ビーム数が
5つで、抜き取り領域数が3つの場合であったが、本発
明はこれに限定されるものでない。例えば、多点測距の
投光ビーム数は、これをカメラの被写体距離の測定に用
いる場合には、撮影レンズの焦点距離によって適宜決め
ることができ、抜き取り領域数は、投光ビーム数、受光
レンズの構成および焦点距離、並びにセンサーアレイの
全長などからその測距装置に対して最も効率的な測距演
算が行えるように決定される。また、本発明は、位相差
式の測距装置だけでなく、反射光を1か所で受光する測
距装置にも適用することが可能である。
5つで、抜き取り領域数が3つの場合であったが、本発
明はこれに限定されるものでない。例えば、多点測距の
投光ビーム数は、これをカメラの被写体距離の測定に用
いる場合には、撮影レンズの焦点距離によって適宜決め
ることができ、抜き取り領域数は、投光ビーム数、受光
レンズの構成および焦点距離、並びにセンサーアレイの
全長などからその測距装置に対して最も効率的な測距演
算が行えるように決定される。また、本発明は、位相差
式の測距装置だけでなく、反射光を1か所で受光する測
距装置にも適用することが可能である。
【0077】
【発明の効果】本発明によれば、センサーアレイのうち
の所望の領域の信号だけを抜き取って電荷転送手段に転
送するので、電荷転送手段の段数を低減することがで
き、この結果、装置全体が小型になり、高速な測距動作
を行うことが可能になる。
の所望の領域の信号だけを抜き取って電荷転送手段に転
送するので、電荷転送手段の段数を低減することがで
き、この結果、装置全体が小型になり、高速な測距動作
を行うことが可能になる。
【図1】1点測距の場合の位相差式アクティブ測距装置
の光学原理図である。
の光学原理図である。
【図2】本発明の一実施例による測距装置の要部を示す
光学図である。
光学図である。
【図3】抜き取りCCDでの抜き取り動作を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図4】図3の装置において、各部の動作タイミングを
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図5】従来の測距装置の測定の原理を示す概略図であ
る。
る。
【図6】図5の装置の信号処理回路を示す回路図であ
る。
る。
【図7】従来の別の測距装置の要部を示す概略図であ
る。
る。
【図8】図7の装置の動作タイミングを示すタイミング
チャートである。
チャートである。
【図9】従来の更に別の測距装置の要部を示す概略図で
ある。
ある。
【図10】図9の装置を改良した装置の要部を示す概略
図である。
図である。
【図11】図10の装置の動作タイミングを示すタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
12、13、30 センサーアレイ 20、21 受光レンズ 25、26、33 抜き取りCCD 27、28、35 リニアCCD 29、30 リングCCD 22 発光ダイオード
Claims (7)
- 【請求項1】 距離を測定したい測定対象にスポット投
光し、その反射光を受光して三角測距を行う測距装置で
あって、前記測定対象に投光するための投光手段と、前
記測定対象からの反射光を受光して光電変換する複数の
センサーが配列されたセンサーアレイと、前記センサー
アレイの各センサーからの出力電荷を受け取って転送す
る電荷転送手段とを備えた測距装置において、 前記センサーアレイに対向するとともに前記電荷転送手
段とは互いに少なくとも一部がずれるように配置され、
前記センサーアレイのうちの所望の領域の信号だけを前
記電荷転送手段に転送する抜き取り手段を更に備えてい
ることを特徴とする測距装置。 - 【請求項2】 距離を測定したい測定対象にスポット投
光し、その反射光を2か所で受光して三角測距を行う位
相差式の測距装置であって、前記測定対象に投光するた
めの投光手段と、第1および第2の受光レンズを介して
前記測定対象からの反射光を受光して光電変換する複数
のセンサーが配列された第1および第2のセンサーアレ
イと、前記第1および第2のセンサーアレイの各センサ
ーからの出力電荷をそれぞれ受け取って転送する第1お
よび第2の電荷転送手段とを備えた測距装置において、 前記第1および第2のセンサーアレイに対向するととも
に前記第1および第2の電荷転送手段とは互いに少なく
とも一部がずれるようにそれぞれ配置され、前記第1お
よび第2のセンサーアレイのうちの所望の領域の信号だ
けを前記第1および第2の電荷転送手段にそれぞれ転送
する第1および第2の抜き取り手段を更に備えているこ
とを特徴とする測距装置。 - 【請求項3】 前記第1および第2の抜き取り手段がC
CDで構成されており、その転送段数によって前記第1
および第2のセンサーアレイのどの領域の信号を前記第
1および第2の電荷転送手段に転送するかが決定される
ように構成されていることを特徴とする請求項2に記載
の測距装置。 - 【請求項4】 前記第1および第2の受光レンズが複眼
構造を有していることを特徴とする請求項2または3に
記載の測距装置。 - 【請求項5】 前記投光手段が複数の発光部を有してい
ることを特徴とする請求項2〜4のいずれか1項に記載
の測距装置。 - 【請求項6】 前記電荷転送手段で転送されている電荷
から一定量の電荷を除去するスキム手段を更に備えるこ
とを特徴とする請求項2〜5のいずれか1項に記載の測
距装置。 - 【請求項7】 前記第1および第2の電荷転送手段の少
なくとも一部がリング状に結合されていることを特徴と
する請求項2〜6のいずれか1項に記載の測距装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12838095A JPH08320223A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 測距装置 |
US08/606,844 US5808726A (en) | 1995-02-28 | 1996-02-26 | Distance measurement apparatus |
EP96301325A EP0730167B1 (en) | 1995-02-28 | 1996-02-27 | Distance measurement apparatus |
DE69629407T DE69629407T2 (de) | 1995-02-28 | 1996-02-27 | Entfernungsmessgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12838095A JPH08320223A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 測距装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08320223A true JPH08320223A (ja) | 1996-12-03 |
Family
ID=14983392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12838095A Pending JPH08320223A (ja) | 1995-02-28 | 1995-05-26 | 測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08320223A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6035138A (en) * | 1998-01-29 | 2000-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor apparatus applied to distance measuring apparatus, and method for controlling sensor apparatus |
JP2010249697A (ja) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Sharp Corp | 光学式測距装置、およびそれを用いた電子機器 |
-
1995
- 1995-05-26 JP JP12838095A patent/JPH08320223A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6035138A (en) * | 1998-01-29 | 2000-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor apparatus applied to distance measuring apparatus, and method for controlling sensor apparatus |
JP2010249697A (ja) * | 2009-04-16 | 2010-11-04 | Sharp Corp | 光学式測距装置、およびそれを用いた電子機器 |
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