JPH08316086A - 積層セラミック電子部品 - Google Patents
積層セラミック電子部品Info
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- JPH08316086A JPH08316086A JP7121775A JP12177595A JPH08316086A JP H08316086 A JPH08316086 A JP H08316086A JP 7121775 A JP7121775 A JP 7121775A JP 12177595 A JP12177595 A JP 12177595A JP H08316086 A JPH08316086 A JP H08316086A
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
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- H01G4/002—Details
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 セラミック層と電極層との熱膨張差に起因す
る内部応力による内部電極層界面のクラックの発生を防
止し得る積層セラミック電子部品を得る。 【構成】 セラミック焼結体10の内部に積層された内
部電極12a〜12gの外側に内部電極と同一材料の疑
似電極15を一定の間隔で複数枚配置する。疑似電極1
5が形成された応力緩和層10cは、内部電極12a〜
12gが形成された素子部10bとセラミック層14か
らなる外層部10aの各々の 熱収縮量の中間程度の
熱収縮量となる。このため、焼結後の降温過程における
素子部10bと外層部10bとの間の熱収縮量の差に基
づく内部応力を緩和する。
る内部応力による内部電極層界面のクラックの発生を防
止し得る積層セラミック電子部品を得る。 【構成】 セラミック焼結体10の内部に積層された内
部電極12a〜12gの外側に内部電極と同一材料の疑
似電極15を一定の間隔で複数枚配置する。疑似電極1
5が形成された応力緩和層10cは、内部電極12a〜
12gが形成された素子部10bとセラミック層14か
らなる外層部10aの各々の 熱収縮量の中間程度の
熱収縮量となる。このため、焼結後の降温過程における
素子部10bと外層部10bとの間の熱収縮量の差に基
づく内部応力を緩和する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、積層セラミック電子部
品に関し、特に、セラミック層と電極層の熱膨張差に起
因する内部応力を緩和させた積層セラミック電子部品に
関する。
品に関し、特に、セラミック層と電極層の熱膨張差に起
因する内部応力を緩和させた積層セラミック電子部品に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来の積層セラミック電子部品の一種と
して、積層コンデンサの構造を図7を参照して説明す
る。
して、積層コンデンサの構造を図7を参照して説明す
る。
【0003】積層コンデンサ70は、チタン酸バリウム
などの誘電体セラミックスよりなるセラミック焼結体7
1を用いて形成されている。セラミック焼結体71内に
は、セラミック層を介して重なり合うように複数の内部
電極72a〜72hが形成されている。セラミック焼結
体71の一方端面71aには、内部電極72a,72
c,72f、72hに電気的に接続されるように外部電
極75aが形成され、他方の端面71bには、内部電極
72b,72d,72e,72gに電気的に接続される
ように、外部電極75bが形成されている。内部電極7
2a〜72hは、通常、Ni、PdまたはAg−Pd合
金などの金属材料から構成される。そして、内部電極7
2a〜72hと、各内部電極間に介在するセラミック層
73とによって容量取出部を構成している。
などの誘電体セラミックスよりなるセラミック焼結体7
1を用いて形成されている。セラミック焼結体71内に
は、セラミック層を介して重なり合うように複数の内部
電極72a〜72hが形成されている。セラミック焼結
体71の一方端面71aには、内部電極72a,72
c,72f、72hに電気的に接続されるように外部電
極75aが形成され、他方の端面71bには、内部電極
72b,72d,72e,72gに電気的に接続される
ように、外部電極75bが形成されている。内部電極7
2a〜72hは、通常、Ni、PdまたはAg−Pd合
金などの金属材料から構成される。そして、内部電極7
2a〜72hと、各内部電極間に介在するセラミック層
73とによって容量取出部を構成している。
【0004】上記のような積層コンデンサ70におい
て、便宜上、容量取出部を素子部70bと称し、素子部
70bの上下方向に積層されたセラミック層74,74
を外層部70a,70aと称する。
て、便宜上、容量取出部を素子部70bと称し、素子部
70bの上下方向に積層されたセラミック層74,74
を外層部70a,70aと称する。
【0005】積層コンデンサ70の製造に際しては、外
層部70aを構成するための複数枚のセラミックグリー
ンシートと、導電ペーストを内部電極パターンに印刷し
て形成された複数枚の素子部構成用セラミックグリーン
シートとを積層、圧着し、焼成してセラミック焼結体7
1を形成し、さらにセラミック焼結体71の両端面に外
部電極75a,75bを形成する。
層部70aを構成するための複数枚のセラミックグリー
ンシートと、導電ペーストを内部電極パターンに印刷し
て形成された複数枚の素子部構成用セラミックグリーン
シートとを積層、圧着し、焼成してセラミック焼結体7
1を形成し、さらにセラミック焼結体71の両端面に外
部電極75a,75bを形成する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、セラミ
ック焼結体71は、セラミックグリーンシートの積層体
を焼成して形成されている。
ック焼結体71は、セラミックグリーンシートの積層体
を焼成して形成されている。
【0007】このセラミック焼結体71の焼成工程で
は、セラミック層と内部電極との熱膨張係数の差に起因
する内部応力の発生が問題となる。すなわち、チタン酸
バリウムなどを主成分とするセラミック層の熱膨張係数
は、金属を主成分とする内部電極72a〜72hの熱膨
張係数に比べて小さい。従って、図8に模式的に示すよ
うに、焼成後の降温過程において、外層部70aのセラ
ミック層74の収縮量は、素子部70bの内部電極72
a〜72hの収縮量に比べて少なくなる。このため、特
に、最外層に位置する内部電極72a,72hと外層部
のセラミック層74,74との界面に沿って剪断応力が
集中し、図中Xで示す最外層の内部電極72a,72h
の端部に剥離やクラックが発生することがあった。この
ような傾向は、高容量化を目指して内部電極間のセラミ
ック層73が薄くなり、内部電極の総厚みが相対的に大
きくなるに連れて顕著となり、重大な問題となってき
た。
は、セラミック層と内部電極との熱膨張係数の差に起因
する内部応力の発生が問題となる。すなわち、チタン酸
バリウムなどを主成分とするセラミック層の熱膨張係数
は、金属を主成分とする内部電極72a〜72hの熱膨
張係数に比べて小さい。従って、図8に模式的に示すよ
うに、焼成後の降温過程において、外層部70aのセラ
ミック層74の収縮量は、素子部70bの内部電極72
a〜72hの収縮量に比べて少なくなる。このため、特
に、最外層に位置する内部電極72a,72hと外層部
のセラミック層74,74との界面に沿って剪断応力が
集中し、図中Xで示す最外層の内部電極72a,72h
の端部に剥離やクラックが発生することがあった。この
ような傾向は、高容量化を目指して内部電極間のセラミ
ック層73が薄くなり、内部電極の総厚みが相対的に大
きくなるに連れて顕著となり、重大な問題となってき
た。
【0008】本発明の目的は、セラミック材料と電極材
料の熱膨張差に起因して生じる内部応力によって内部電
極とセラミック層の界面にクラックなどが生じることの
ない積層セラミック電子部品を提供することである。
料の熱膨張差に起因して生じる内部応力によって内部電
極とセラミック層の界面にクラックなどが生じることの
ない積層セラミック電子部品を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による積層セラミ
ック電子部品は、セラミック焼結体を有している。この
セラミック焼結体には、厚み方向に沿って順に外層部、
素子部、外層部が構成されている。素子部は、セラミッ
ク焼結体の厚み方向に所定の厚みのセラミック層を介し
て積層された複数の内部電極を有している。さらに、該
セラミック焼結体は、熱膨張差に起因する内部応力を緩
和するために、素子部と外層部との間において焼結体の
外表面に露出しないように形成された少なくとも1つの
疑似電極を有する応力緩和層を備えている。
ック電子部品は、セラミック焼結体を有している。この
セラミック焼結体には、厚み方向に沿って順に外層部、
素子部、外層部が構成されている。素子部は、セラミッ
ク焼結体の厚み方向に所定の厚みのセラミック層を介し
て積層された複数の内部電極を有している。さらに、該
セラミック焼結体は、熱膨張差に起因する内部応力を緩
和するために、素子部と外層部との間において焼結体の
外表面に露出しないように形成された少なくとも1つの
疑似電極を有する応力緩和層を備えている。
【0010】この疑似電極は、電極としての機能をなす
ものではなく、内部電極と同一の材料あるいは内部電極
材料とセラミックとの中間の熱膨張係数を有する材料に
よって形成される層であることを意図する。
ものではなく、内部電極と同一の材料あるいは内部電極
材料とセラミックとの中間の熱膨張係数を有する材料に
よって形成される層であることを意図する。
【0011】また、本発明の限定された局面に従う積層
セラミック電子部品では、応力緩和層の疑似電極が、素
子部の内部電極間の間隔よりも大きい間隔を持って、最
も外側に配置された内部電極のさらに外側に形成されて
いる。
セラミック電子部品では、応力緩和層の疑似電極が、素
子部の内部電極間の間隔よりも大きい間隔を持って、最
も外側に配置された内部電極のさらに外側に形成されて
いる。
【0012】また、本発明の他の限定された局面に従う
積層セラミック電子部品では、応力緩和層の疑似電極
が、内部電極の厚みよりも薄く形成されている。疑似電
極は、電極として機能しないため、導通性を保持する必
要はなく、内部電極に比べて薄くすることができる。
積層セラミック電子部品では、応力緩和層の疑似電極
が、内部電極の厚みよりも薄く形成されている。疑似電
極は、電極として機能しないため、導通性を保持する必
要はなく、内部電極に比べて薄くすることができる。
【0013】さらに、本発明の他の限定された局面に従
う積層セラミック電子部品において、応力緩和層は、平
面積の異なる複数の疑似電極を有している。複数の疑似
電極は、セラミック焼結体の素子部側から外層部側へ向
かって順に平面積が減少するように所定の距離をもって
配置されている。
う積層セラミック電子部品において、応力緩和層は、平
面積の異なる複数の疑似電極を有している。複数の疑似
電極は、セラミック焼結体の素子部側から外層部側へ向
かって順に平面積が減少するように所定の距離をもって
配置されている。
【0014】この疑似電極の枚数は特に限定されない。
しかも、外層部側へ向かって、各電極毎に順々に平面積
が減少するように配置してもよく、また、例えば2層毎
に平面積が減少する等、適当な枚数毎に減少するように
配置してもよい。
しかも、外層部側へ向かって、各電極毎に順々に平面積
が減少するように配置してもよく、また、例えば2層毎
に平面積が減少する等、適当な枚数毎に減少するように
配置してもよい。
【0015】さらに、本発明の他の局面に従う積層セラ
ミック電子部品において、最も外側に配置された内部電
極から外方に向かって所定の距離を隔てた内部電極に平
行な面内に、複数の内部電極同士が重複する平面形状と
異なる平面形状に少なくとも1つの疑似電極が形成され
ている。この疑似電極の平面形状は、任意の形状、例え
ば、一体的に連続した線形状、あるいは内部電極に平行
な面内に散点状に配置される形状など種々の形状が適用
可能である。
ミック電子部品において、最も外側に配置された内部電
極から外方に向かって所定の距離を隔てた内部電極に平
行な面内に、複数の内部電極同士が重複する平面形状と
異なる平面形状に少なくとも1つの疑似電極が形成され
ている。この疑似電極の平面形状は、任意の形状、例え
ば、一体的に連続した線形状、あるいは内部電極に平行
な面内に散点状に配置される形状など種々の形状が適用
可能である。
【0016】
【作用】図8に示す従来の積層コンデンサにおいて、ク
ラックの発生箇所は、最も外側に位置する内部電極72
a,74hの端部近傍に集中し、素子部の内部の内部電
極とその間のセラミック層との界面にはほとんど発生し
ていない。このような状況から推察すると、素子部で
は、外層部に比べて薄いセラミック層73の両面に内部
電極72a〜72hが配置される構造であり、内部電極
の収縮に伴って薄いセラミック層73がある程度追従し
て収縮することによって両者間の剪断応力が減少したも
のと考えられる。一方、外層部70a,70aと最外層
に配置された内部電極72a,72hとの関係において
は、外層部のセラミック層74,74が相対的に厚く形
成され、しかもその一方表面は外気に接し、他方表面に
のみ内部電極72a,72hが形成される構造となって
いる。このため、片面に形成された内部電極72a,7
2hからセラミック層74に伝えられる熱収縮力は、両
面に内部電極72a〜72hが積層された素子部のセラ
ミック層73に伝えられる熱収縮力に比べて小さく、し
かも層厚の大きいセラミック層74は、素子部の薄いセ
ラミック層73に比べて剛性が高いため、内部電極72
a,72hに伴って十分に収縮せず、このために両者間
に生じる剪断応力が大きくなり、特に熱収縮量の大きい
内部電極72a,72hの端部に集中してクラックが発
生するものと考えられる。
ラックの発生箇所は、最も外側に位置する内部電極72
a,74hの端部近傍に集中し、素子部の内部の内部電
極とその間のセラミック層との界面にはほとんど発生し
ていない。このような状況から推察すると、素子部で
は、外層部に比べて薄いセラミック層73の両面に内部
電極72a〜72hが配置される構造であり、内部電極
の収縮に伴って薄いセラミック層73がある程度追従し
て収縮することによって両者間の剪断応力が減少したも
のと考えられる。一方、外層部70a,70aと最外層
に配置された内部電極72a,72hとの関係において
は、外層部のセラミック層74,74が相対的に厚く形
成され、しかもその一方表面は外気に接し、他方表面に
のみ内部電極72a,72hが形成される構造となって
いる。このため、片面に形成された内部電極72a,7
2hからセラミック層74に伝えられる熱収縮力は、両
面に内部電極72a〜72hが積層された素子部のセラ
ミック層73に伝えられる熱収縮力に比べて小さく、し
かも層厚の大きいセラミック層74は、素子部の薄いセ
ラミック層73に比べて剛性が高いため、内部電極72
a,72hに伴って十分に収縮せず、このために両者間
に生じる剪断応力が大きくなり、特に熱収縮量の大きい
内部電極72a,72hの端部に集中してクラックが発
生するものと考えられる。
【0017】このような考察により、本発明による積層
セラミック電子部品は、素子部と外層部との間に応力緩
和層を設けている。まず、応力緩和層の内部に疑似電極
を設けると、疑似電極と素子部の最外層に位置する内部
電極とによってセラミック層を挟持した構造を構成する
ことができる。従って、この疑似電極と最外層の内部電
極とによって挟まれたセラミック素子は、疑似電極と内
部電極とによって両面側から熱収縮力を受け、両方の電
極に追随してある程度熱収縮し、これよって熱膨張差
(熱収縮差)に起因する内部応力を緩和する。このた
め、最外層の内部電極表面での剪断応力は低減され、ク
ラックの発生が防止される。この作用は、疑似電極の形
状を線形状あるいは散点状等の任意の形状に形成した場
合にも得ることができる。
セラミック電子部品は、素子部と外層部との間に応力緩
和層を設けている。まず、応力緩和層の内部に疑似電極
を設けると、疑似電極と素子部の最外層に位置する内部
電極とによってセラミック層を挟持した構造を構成する
ことができる。従って、この疑似電極と最外層の内部電
極とによって挟まれたセラミック素子は、疑似電極と内
部電極とによって両面側から熱収縮力を受け、両方の電
極に追随してある程度熱収縮し、これよって熱膨張差
(熱収縮差)に起因する内部応力を緩和する。このた
め、最外層の内部電極表面での剪断応力は低減され、ク
ラックの発生が防止される。この作用は、疑似電極の形
状を線形状あるいは散点状等の任意の形状に形成した場
合にも得ることができる。
【0018】また、疑似電極と素子部の最外層の内部電
極との間隔を大きくすると、すなわち疑似電極と最外層
の内部電極との間に介在するセラミック層の厚みを大き
くすると、このセラミック層の剛性は、外層部のセラミ
ック層と素子部のセラミック層との中間程度の剛性とな
る。従って、応力緩和層が外層部と素子部の中間的な熱
収縮動作を行う。これにより、外層部と素子部との間に
作用する熱収縮に伴う剪断応力を緩和し、素子部の最外
層に位置する内部電極の端部におけるクラックの発生を
抑制する。
極との間隔を大きくすると、すなわち疑似電極と最外層
の内部電極との間に介在するセラミック層の厚みを大き
くすると、このセラミック層の剛性は、外層部のセラミ
ック層と素子部のセラミック層との中間程度の剛性とな
る。従って、応力緩和層が外層部と素子部の中間的な熱
収縮動作を行う。これにより、外層部と素子部との間に
作用する熱収縮に伴う剪断応力を緩和し、素子部の最外
層に位置する内部電極の端部におけるクラックの発生を
抑制する。
【0019】また、素子部の最外層に配置された内部電
極の外側に形成された疑似電極の厚みを、内部電極の厚
みよりも小さく形成すると、この薄い疑似電極と最外層
の内部電極との間に介在するセラミック層の剛性が疑似
電極に対して相対的に増大する。このため、内部電極及
び疑似電極から与えられる熱収縮が抑制され、上記と同
様に外層部と素子部との間の剪断力を緩和する。
極の外側に形成された疑似電極の厚みを、内部電極の厚
みよりも小さく形成すると、この薄い疑似電極と最外層
の内部電極との間に介在するセラミック層の剛性が疑似
電極に対して相対的に増大する。このため、内部電極及
び疑似電極から与えられる熱収縮が抑制され、上記と同
様に外層部と素子部との間の剪断力を緩和する。
【0020】さらに、疑似電極を、素子部側から外層部
側に向かって順に平面積を減少するように配置した場
合、応力緩和層の熱収縮量は、外層部側に向かって素子
部に等しい程度から外層部と同程度にまで順に減少す
る。これにより、外層部と素子部との間の内部応力を分
散し、素子部の最外層に配置された内部電極の表面に生
じるクラックの発生を防止する。
側に向かって順に平面積を減少するように配置した場
合、応力緩和層の熱収縮量は、外層部側に向かって素子
部に等しい程度から外層部と同程度にまで順に減少す
る。これにより、外層部と素子部との間の内部応力を分
散し、素子部の最外層に配置された内部電極の表面に生
じるクラックの発生を防止する。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例につき図を参照しつつ
説明することにより、本発明を明らかにする。
説明することにより、本発明を明らかにする。
【0022】第1の実施例 図1は、本発明の第1の実施例による積層コンデンサの
断面構造図であり、図2は、切断線Y−Y方向からの断
面構造図である。積層コンデンサ10は、セラミック焼
結体11と、セラミック焼結体の両端面に形成された外
部電極17,17とから構成される。なお、図1中には
作図上の都合により、一方の外部電極17のみ図示して
いる。
断面構造図であり、図2は、切断線Y−Y方向からの断
面構造図である。積層コンデンサ10は、セラミック焼
結体11と、セラミック焼結体の両端面に形成された外
部電極17,17とから構成される。なお、図1中には
作図上の都合により、一方の外部電極17のみ図示して
いる。
【0023】セラミック焼結体10は、以下のように製
造される。まず、外層部10a用として、耐還元性セラ
ミックスを原料とするセラミックグリーンシートを所定
の形状に成形したものを用意する。
造される。まず、外層部10a用として、耐還元性セラ
ミックスを原料とするセラミックグリーンシートを所定
の形状に成形したものを用意する。
【0024】さらに、応力緩和層10c用として、上記
と同様のセラミックグリーンシートと、その表面にNi
ペーストを内部電極の厚みよりも薄く印刷して疑似電極
を形成したセラミックグリーンシートとを各々5枚用意
する。
と同様のセラミックグリーンシートと、その表面にNi
ペーストを内部電極の厚みよりも薄く印刷して疑似電極
を形成したセラミックグリーンシートとを各々5枚用意
する。
【0025】さらに、素子部10b用として、上記と同
様のセラミックグリーンシートの表面に、Niペースト
を印刷して内部電極を形成した電極シートを201枚用
意する。
様のセラミックグリーンシートの表面に、Niペースト
を印刷して内部電極を形成した電極シートを201枚用
意する。
【0026】そして、図1に示すように、下層側から、
外層部用のセラミックグリーンシートを積層し、さらに
その表面上に、応力緩和層用として疑似電極を印刷した
セラミックグリーンシートと、印刷していない無地のグ
リーンシートとを交互に5枚ずつ積層する。さらにその
表面上に、素子部用の電極シートを201枚積層する。
さらに、上記と同様に、応力緩和層用のセラミックグリ
ーンシート及び外層部用のセラミックグリーンシートを
積層する。
外層部用のセラミックグリーンシートを積層し、さらに
その表面上に、応力緩和層用として疑似電極を印刷した
セラミックグリーンシートと、印刷していない無地のグ
リーンシートとを交互に5枚ずつ積層する。さらにその
表面上に、素子部用の電極シートを201枚積層する。
さらに、上記と同様に、応力緩和層用のセラミックグリ
ーンシート及び外層部用のセラミックグリーンシートを
積層する。
【0027】そして、セラミックグリーンシートを積層
した積層体を圧着し、各チップサイズに切断する。その
後、切断したチップ積層体を還元条件下で焼成する。焼
成終了後、常温まで降温し、セラミック焼結体10を得
た。
した積層体を圧着し、各チップサイズに切断する。その
後、切断したチップ積層体を還元条件下で焼成する。焼
成終了後、常温まで降温し、セラミック焼結体10を得
た。
【0028】セラミック焼結体10は、その厚み方向に
沿って外層部10a、応力緩和層10c、素子部10
b、応力緩和層10c及び外層部10aが一体的に積層
形成されている。応力緩和層10c,10cは、素子部
10bの最外層に形成された内部電極12a,12gの
外側に、各々セラミック層16を介在して複数枚、本例
では5枚形成されている。セラミック層16の厚さは、
素子部10bの内部電極間のセラミック層13に比べ厚
く、本例では2倍の厚みに形成されている。また、疑似
電極15は、複数の内部電極12a〜12gの互いに重
複する平面の形状と同じ平面形状に形成されている。ま
た、その膜厚は、内部電極12a〜12dの膜厚よりも
薄く形成されている。
沿って外層部10a、応力緩和層10c、素子部10
b、応力緩和層10c及び外層部10aが一体的に積層
形成されている。応力緩和層10c,10cは、素子部
10bの最外層に形成された内部電極12a,12gの
外側に、各々セラミック層16を介在して複数枚、本例
では5枚形成されている。セラミック層16の厚さは、
素子部10bの内部電極間のセラミック層13に比べ厚
く、本例では2倍の厚みに形成されている。また、疑似
電極15は、複数の内部電極12a〜12gの互いに重
複する平面の形状と同じ平面形状に形成されている。ま
た、その膜厚は、内部電極12a〜12dの膜厚よりも
薄く形成されている。
【0029】このように製造されたセラミック焼結体1
0では、最外層の内部電極12a,12gの表面あるい
は端面近傍でのクラックの発生は見られなかった。これ
は、応力緩和層10cが、多数の内部電極が積層された
素子部10bの相対的に大きな熱収縮動作と、相対的に
厚いセラミック層14から構成される外層部10aの相
対的に小さな熱収縮動作の中間的な熱収縮動作を行った
ことにより、セラミック焼結体10の熱収縮量が素子部
10bから外層部10aに向かって段階的に変化し、素
子部10bと外層部10aの熱収縮量の差に起因する内
部応力の集中が緩和されたことによるものである。
0では、最外層の内部電極12a,12gの表面あるい
は端面近傍でのクラックの発生は見られなかった。これ
は、応力緩和層10cが、多数の内部電極が積層された
素子部10bの相対的に大きな熱収縮動作と、相対的に
厚いセラミック層14から構成される外層部10aの相
対的に小さな熱収縮動作の中間的な熱収縮動作を行った
ことにより、セラミック焼結体10の熱収縮量が素子部
10bから外層部10aに向かって段階的に変化し、素
子部10bと外層部10aの熱収縮量の差に起因する内
部応力の集中が緩和されたことによるものである。
【0030】第2の実施例 図3は、本発明の第2の実施例による積層コンデンサの
セラミック焼結体の断面構造図であり、図4はその平面
構造である。なお、図4は、セラミック焼結体31の内
部電極及び疑似電極の形状を模式的に示している。
セラミック焼結体の断面構造図であり、図4はその平面
構造である。なお、図4は、セラミック焼結体31の内
部電極及び疑似電極の形状を模式的に示している。
【0031】第2の実施例による積層コンデンサ30の
セラミック焼結体31は、第1の実施例に比べ、応力緩
和層30c,30cの構造のみが相違し、素子部30
b、外層部30aの構造については第1の実施例と同様
である。従って、素子部30bの内部電極32a〜32
f、セラミック層33及び外層部30aのセラミック層
34の構成は、各々第1実施例の素子部10bの内部電
極12a〜12g、セラミック層13及び外層部10a
のセラミック層14の構成と同様であるため、ここでの
説明は省略する。
セラミック焼結体31は、第1の実施例に比べ、応力緩
和層30c,30cの構造のみが相違し、素子部30
b、外層部30aの構造については第1の実施例と同様
である。従って、素子部30bの内部電極32a〜32
f、セラミック層33及び外層部30aのセラミック層
34の構成は、各々第1実施例の素子部10bの内部電
極12a〜12g、セラミック層13及び外層部10a
のセラミック層14の構成と同様であるため、ここでの
説明は省略する。
【0032】応力緩和層30は、平面積の異なる5種類
の疑似電極35a〜35eを同じ大きさの2つの電極を
一組として積層して構成されている。例えば、各疑似電
極35a〜35eは、一辺の長さが10%ずつ短くなる
ように形成されている。各疑似電極35a〜35eの間
にはセラミック層36が介在している。大きさの異なる
複数の疑似電極35a〜35eは、素子部30bの最外
層の内部電極32a,32fから外層部30a,30a
に向かってピラッド状に積層されている。このような応
力緩和層30c,30cを設けたセラミック積層体を焼
成、降温した場合においても、得られたセラミック焼結
体31の最外層の内部電極32a,32fの表面近傍に
はクラックの発生は見られなかった。
の疑似電極35a〜35eを同じ大きさの2つの電極を
一組として積層して構成されている。例えば、各疑似電
極35a〜35eは、一辺の長さが10%ずつ短くなる
ように形成されている。各疑似電極35a〜35eの間
にはセラミック層36が介在している。大きさの異なる
複数の疑似電極35a〜35eは、素子部30bの最外
層の内部電極32a,32fから外層部30a,30a
に向かってピラッド状に積層されている。このような応
力緩和層30c,30cを設けたセラミック積層体を焼
成、降温した場合においても、得られたセラミック焼結
体31の最外層の内部電極32a,32fの表面近傍に
はクラックの発生は見られなかった。
【0033】このようなピラッド状に配置された疑似電
極35a〜35eを有する応力緩和層30cは、各疑似
電極35a〜35eの端部の位置がセラミック焼結体3
1の中央部分に向かって異なるように構成されているこ
とにより、応力集中が生じる箇所が分散され、この結
果、最外層の内部電極32a,32fの端部近傍にのみ
応力が集中するのを緩和することができたものである。
極35a〜35eを有する応力緩和層30cは、各疑似
電極35a〜35eの端部の位置がセラミック焼結体3
1の中央部分に向かって異なるように構成されているこ
とにより、応力集中が生じる箇所が分散され、この結
果、最外層の内部電極32a,32fの端部近傍にのみ
応力が集中するのを緩和することができたものである。
【0034】第3の実施例 図5は、第3の実施例による積層コンデンサ50のセラ
ミック焼結体51の断面構造図であり、図6は、その平
面構造図である。第3の実施例によるセラミック焼結体
51は、第1の実施例に比べ、応力緩和層50c,50
cの構成のみが相違しており、素子部50bの内部電極
52a〜52f、セラミック層53及び外層部50a,
50aのセラミック層54,54の構成は第1の実施例
における素子部10bの内部電極12a〜12g、セラ
ミック層13及び外層部10a,10aのセラミック層
14,14の構成と同様であるため、ここでの説明は省
略する。
ミック焼結体51の断面構造図であり、図6は、その平
面構造図である。第3の実施例によるセラミック焼結体
51は、第1の実施例に比べ、応力緩和層50c,50
cの構成のみが相違しており、素子部50bの内部電極
52a〜52f、セラミック層53及び外層部50a,
50aのセラミック層54,54の構成は第1の実施例
における素子部10bの内部電極12a〜12g、セラ
ミック層13及び外層部10a,10aのセラミック層
14,14の構成と同様であるため、ここでの説明は省
略する。
【0035】応力緩和層50cは、耐還元性セラミック
スを原料とするセラミックグリーンシートの表面に、N
iペーストを印刷することにより格子状の疑似電極55
を形成したセラミックグリーンシートを10枚積層して
構成されている。
スを原料とするセラミックグリーンシートの表面に、N
iペーストを印刷することにより格子状の疑似電極55
を形成したセラミックグリーンシートを10枚積層して
構成されている。
【0036】このような応力緩和層50c,50cを積
層した積層体を焼成、降温して得られたセラミック焼結
体51は、素子部50bの最外層に形成された内部電極
52a,52fの表面近傍にクラックの発生は見られな
かった。
層した積層体を焼成、降温して得られたセラミック焼結
体51は、素子部50bの最外層に形成された内部電極
52a,52fの表面近傍にクラックの発生は見られな
かった。
【0037】応力緩和層50cは、内部電極52a〜5
2fに平行な面内において疑似電極55が不連続に形成
されている。このような不連続な疑似電極55を含む平
面内では、素子部50bのように、連続的な内部電極5
2a〜52fを含む層に比べ、水平方向への熱収縮動作
が相対的に緩和される。このため、素子部50bから応
力緩和層50c、外層部50aの順に熱収縮量が段階的
に減少することにより、これに伴って水平方向への内部
応力が分散され、素子部50bの最外層の内部電極52
a,52f表面に応力集中が生じるのを緩和している。
2fに平行な面内において疑似電極55が不連続に形成
されている。このような不連続な疑似電極55を含む平
面内では、素子部50bのように、連続的な内部電極5
2a〜52fを含む層に比べ、水平方向への熱収縮動作
が相対的に緩和される。このため、素子部50bから応
力緩和層50c、外層部50aの順に熱収縮量が段階的
に減少することにより、これに伴って水平方向への内部
応力が分散され、素子部50bの最外層の内部電極52
a,52f表面に応力集中が生じるのを緩和している。
【0038】なお、このような観点から、疑似電極55
の形状は、図6に示すような格子状に限定されるもので
はなく、スリット状、ドット状、折れ線形状など任意の
形状のものを適用することができる。また、積層枚数
は、セラミック焼結体などの形状に応じて適宜設定する
ことができる。
の形状は、図6に示すような格子状に限定されるもので
はなく、スリット状、ドット状、折れ線形状など任意の
形状のものを適用することができる。また、積層枚数
は、セラミック焼結体などの形状に応じて適宜設定する
ことができる。
【0039】なお、上記第1〜第3の実施例の応力緩和
層に形成される疑似電極は、内部電極と同一材料のもの
が好ましいが、内部電極とセラミックとの間程度の熱膨
張係数を有する材料であれば、他の材料を用いて形成し
てもよく、その積層枚数は適宜調整することができる。
内部電極の材料もNiに限らず、PdやAg−Pd合金
等を用いてもよい。
層に形成される疑似電極は、内部電極と同一材料のもの
が好ましいが、内部電極とセラミックとの間程度の熱膨
張係数を有する材料であれば、他の材料を用いて形成し
てもよく、その積層枚数は適宜調整することができる。
内部電極の材料もNiに限らず、PdやAg−Pd合金
等を用いてもよい。
【0040】また、上記の第1〜第3の実施例による応
力緩和層の構成は、相互に組合せることが可能である。
すなわち、応力緩和層の内部に、第1の実施例による厚
みの薄い疑似電極層と、第2の実施例による平面積の減
少した疑似電極と、第3の実施例による不連続形状の疑
似電極とを適宜組合せる等してもよい。
力緩和層の構成は、相互に組合せることが可能である。
すなわち、応力緩和層の内部に、第1の実施例による厚
みの薄い疑似電極層と、第2の実施例による平面積の減
少した疑似電極と、第3の実施例による不連続形状の疑
似電極とを適宜組合せる等してもよい。
【0041】
【発明の効果】以上のように、本発明による積層セラミ
ック電子部品では、例えば熱収縮量の小さい外層部と相
対的に熱収縮量の大きい素子部との間に応力緩和層を設
けるように構成したことによって、熱膨張差に起因する
内部応力による内部電極とセラミック層との界面近傍で
のクラックや剥離を防止することが可能となり、信頼性
の高い積層セラミック電子部品を得ることができる。
ック電子部品では、例えば熱収縮量の小さい外層部と相
対的に熱収縮量の大きい素子部との間に応力緩和層を設
けるように構成したことによって、熱膨張差に起因する
内部応力による内部電極とセラミック層との界面近傍で
のクラックや剥離を防止することが可能となり、信頼性
の高い積層セラミック電子部品を得ることができる。
【図1】本発明の第1の実施例の積層コンデンサの断面
構造図。
構造図。
【図2】図1に示す積層コンデンサの切断線Y−Yに沿
った方向からの側面断面構造図。
った方向からの側面断面構造図。
【図3】本発明の第2の実施例による積層コンデンサの
断面構造図。
断面構造図。
【図4】図3に示す積層コンデンサの平面構造図。
【図5】本発明の第3の実施例による積層コンデンサの
断面構造図。
断面構造図。
【図6】図5に示す積層コンデンサの平面構造図。
【図7】従来の積層コンデンサの断面構造図。
【図8】図7に示す積層コンデンサの焼結後の降温時に
おける熱収縮状態を示す説明図。
おける熱収縮状態を示す説明図。
10,30,50…積層コンデンサ 11,31,51…セラミック焼結体 10a,30a,50a…外層部 10b,30b,50b…素子部 10c,30c,50c…応力緩和層 12a〜12g,32a〜32f,52a〜52f…内
部電極 15〜15,35a〜35e,55…疑似電極 13,16,33,36,53,56…セラミック層
部電極 15〜15,35a〜35e,55…疑似電極 13,16,33,36,53,56…セラミック層
Claims (5)
- 【請求項1】 セラミック焼結体を有する積層セラミッ
ク電子部品であって、 前記セラミック焼結体には、厚み方向に沿って順に、外
層部、素子部、外層部が構成されており、 前記素子部は、所定の厚みのセラミック層を介して前記
セラミック焼結体の厚み方向に積層された複数の内部電
極を有しており、 さらに、熱膨張差に起因する内部応力を緩和するため
に、前記素子部と少なくとも一方の前記外層部との間に
おいて焼結体の外表面に露出されないように形成され
た、少なくとも1つの疑似電極を有する応力緩和層を備
えたことを特徴とする、積層セラミック電子部品。 - 【請求項2】 前記応力緩和層が、複数の前記内部電極
の内、前記セラミック焼結体の厚み方向の最も外側に配
置された内部電極のさらに外側に、複数の前記内部電極
間の間隔よりも大きい間隔をもって形成された疑似電極
を備えることを特徴とする、請求項1に記載の積層セラ
ミック電子部品。 - 【請求項3】 前記応力緩和層の前記疑似電極が、前記
内部電極の厚みよりも薄く形成されていることを特徴と
する、請求項1に記載の積層セラミック電子部品。 - 【請求項4】 前記応力緩和層は、平面積の異なる複数
の前記疑似電極を有しており、 複数の前記疑似電極は、前記素子部側から前記外層側へ
向かって、順に平面積が減少するように所定の距離をも
って配置されていることを特徴とする、請求項1に記載
の積層セラミック電子部品。 - 【請求項5】 前記セラミック焼結体の厚み方向の最も
外側に配置された前記内部電極から外方に向かって所定
の距離を隔てられており、かつ前記内部電極に平行な面
内に、複数の前記内部電極同士が重複する平面形状と異
なる平面形状を有するように少なくとも1つの前記疑似
電極が形成されていることを特徴とする、請求項1に記
載の積層セラミック電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7121775A JPH08316086A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 積層セラミック電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7121775A JPH08316086A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 積層セラミック電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08316086A true JPH08316086A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=14819584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7121775A Pending JPH08316086A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 積層セラミック電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08316086A (ja) |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2007081008A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 積層コンデンサ及びモールドコンデンサ |
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KR100826408B1 (ko) * | 2006-10-11 | 2008-05-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 캐패시터 |
US7394646B2 (en) | 2005-03-28 | 2008-07-01 | Tdk Corporation | Laminated ceramic electronic component |
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CN103137326A (zh) * | 2011-12-01 | 2013-06-05 | 李文熙 | 电子组件及其制造方法 |
US8564930B2 (en) | 2011-04-13 | 2013-10-22 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Laminated capacitor |
US8630081B2 (en) | 2010-07-21 | 2014-01-14 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Ceramic electronic component |
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-
1995
- 1995-05-19 JP JP7121775A patent/JPH08316086A/ja active Pending
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