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JPH08304229A - Method and apparatus for measuring refractive index distribution of optical element - Google Patents

Method and apparatus for measuring refractive index distribution of optical element

Info

Publication number
JPH08304229A
JPH08304229A JP7110462A JP11046295A JPH08304229A JP H08304229 A JPH08304229 A JP H08304229A JP 7110462 A JP7110462 A JP 7110462A JP 11046295 A JP11046295 A JP 11046295A JP H08304229 A JPH08304229 A JP H08304229A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refractive index
test
interference fringe
optical element
wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7110462A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Suhara
浩之 須原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP7110462A priority Critical patent/JPH08304229A/en
Publication of JPH08304229A publication Critical patent/JPH08304229A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】温度などの環境変動を受けにくい測定方法およ
び装置を提供する。 【構成】同一光源1からの可干渉光を基準となる参照波
aと屈折率がほぼ同一の試液中に浸した測定対象の光学
素子よりなる被検物Aを透過する被検波bとに分割し、
参照波aと被検波bとの重畳による干渉縞像を形成す
る。光学素子と屈折率がほぼ同一の透光性固体73を試
液Bの一部と置換し、干渉縞像検出器15を干渉縞像の
結像面に配置し、被検物Aを試液中にて被検波bの光軸
に対して直交する軸線周りに回転させながら、干渉縞像
検出器15によって検出された干渉縞像を解析して透過
波面を計測する。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a measuring method and an apparatus which are less susceptible to environmental changes such as temperature. [Structure] Coherent light from the same light source 1 is divided into a reference wave a serving as a reference and a test wave b passing through a test object A formed of an optical element to be measured, which is immersed in a test solution having substantially the same refractive index. Then
An interference fringe image is formed by superimposing the reference wave a and the test wave b. The translucent solid 73 whose refractive index is almost the same as that of the optical element is replaced with a part of the test solution B, the interference fringe image detector 15 is arranged on the image plane of the interference fringe image, and the test object A is placed in the test solution. While rotating around the axis orthogonal to the optical axis of the detected wave b, the interference fringe image detected by the interference fringe image detector 15 is analyzed to measure the transmitted wavefront.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光学レンズなどの光学
素子の屈折率分布の測定方法および装置に関し、特に干
渉縞像の解析により光学素子の屈折率の分布を測定する
方法および装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for measuring a refractive index distribution of an optical element such as an optical lens, and more particularly to a method and apparatus for measuring a refractive index distribution of an optical element by analyzing an interference fringe image.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、レーザプリンタ、カメラなどの光
学機器に使用される光学レンズとして、プラスチックス
材料による成形レンズが普及している。このプラスチッ
クス成形レンズは、ガラス研磨レンズに比して非球面レ
ンズの製作性に優れ、安価であるが、製造上の屈折率の
分布が不安定で、レンズ内部に不均一性を生じることが
多い。レンズ内部の屈折率の不均一性は、光学特性に大
きい影響を及ぼし、画質、解像度を劣化する原因にな
る。このようなことから、光学レンズ内部の屈折率の分
布を高精度に測定し、光学レンズの均質性を評価する必
要がある。
2. Description of the Related Art In recent years, molded lenses made of plastics materials have become widespread as optical lenses used in optical devices such as laser printers and cameras. This plastics molded lens is superior in terms of manufacturability of an aspherical lens to a glass-polished lens and is inexpensive, but the distribution of the refractive index in manufacturing is unstable, and unevenness may occur inside the lens. Many. The non-uniformity of the refractive index inside the lens has a great influence on the optical characteristics and causes deterioration of image quality and resolution. For this reason, it is necessary to measure the distribution of the refractive index inside the optical lens with high accuracy and evaluate the homogeneity of the optical lens.

【0003】光学レンズの屈折率を測定する方法として
は、精密示差屈折計などを使用してVブロック法などに
より屈折角を計測して屈折率を求める方法と、トワイマ
ン・グリーン干渉計などの二光束干渉計を使用して干渉
縞より屈折率を測定する方法とがある。また、光学的均
質性の測定法として、フィゾ干渉計、マッハツェンダ干
渉計などの二光束干渉計を使用して干渉縞像の解析より
透過波面を計測し、屈折率分布から光学的均質性を求め
る方法が知られている。
As a method of measuring the refractive index of an optical lens, there are two methods such as a method of measuring a refraction angle by a V-block method using a precision differential refractometer or the like to obtain the refractive index, and a method of Twyman-Green interferometer. There is a method of measuring the refractive index from interference fringes using a light flux interferometer. Also, as a method of measuring optical homogeneity, a two-beam interferometer such as a Fizeau interferometer or a Mach-Zehnder interferometer is used to measure the transmitted wavefront by analyzing the interference fringe image, and obtain the optical homogeneity from the refractive index distribution. The method is known.

【0004】なお、これらの屈折率測定法、光学的均質
性の測定法について、より詳細な説明が必要ならば、光
学第20巻第2号(1991年2月)の63〜68頁の
「光学素材の屈折率および光学的均質性の測定」を参照
されたい。
If a more detailed explanation of these refractive index measuring methods and optical homogeneity measuring methods is required, see pages 63-68 of Optics Vol. 20, No. 2 (February 1991). See Refractive Index and Optical Homogeneity Measurements of Optical Materials.

【0005】このような方法では、被検物、即ち試料を
所定形状に高精度に加工する必要があり、測定対象の光
学素子を破壊しなければならない。また、透過波面より
求められる屈折率分布は光路進行方向に積算された平均
値となり、3次元空間的な屈折率分布を測定することは
できない。このことにより屈折率の不均一部分を3次元
空間的に特定することができない。
In such a method, it is necessary to process a test object, that is, a sample into a predetermined shape with high precision, and it is necessary to destroy an optical element to be measured. Further, the refractive index distribution obtained from the transmitted wavefront is an average value integrated in the traveling direction of the optical path, and the three-dimensional spatial refractive index distribution cannot be measured. This makes it impossible to specify the non-uniform refractive index in three-dimensional space.

【0006】そこで、本発明者は先に、光学素子の屈折
率分布の測定方法として特願平6−203502号を提
案した。この測定方法は、光学素子の屈折率分布を、形
状にかかわらず、非破壊で、3次元空間的な屈折率分布
として効率よく高精度に測定することができ、屈折率の
不均一部分を3次元空間的に特定することが可能である
ので、屈折率分布の測定方法としては、非常に有力であ
る。
Therefore, the present inventor has previously proposed Japanese Patent Application No. 6-203502 as a method for measuring the refractive index distribution of an optical element. With this measuring method, the refractive index distribution of the optical element can be measured non-destructively and efficiently as a three-dimensional spatial refractive index distribution regardless of the shape, and the uneven refractive index portion Since it can be specified dimensionally and spatially, it is a very effective method for measuring the refractive index distribution.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、基準と
なるはずの試液が環境変動、特に温度に対して敏感で1
℃変化すると屈折率が0.0001〜0.001 のオーダーで変化
する恐れがある。この環境変動が測定精度に影響を与え
ないようにするためには、環境変動の小さい安定した環
境のもとで測定を行うかまたは、温度補償をしなければ
ならないという問題があった。そこで、本発明は、上述
の問題点に着目してなされたものであり、温度などの環
境変動を受けにくい測定方法および装置を提供すること
を目的とするものである。
However, the test solution, which should be the standard, is sensitive to environmental changes, especially temperature.
When the temperature changes by ° C, the refractive index may change in the order of 0.0001 to 0.001. In order to prevent the environmental fluctuation from affecting the measurement accuracy, there is a problem that the measurement must be performed in a stable environment where the environmental fluctuation is small or the temperature must be compensated. Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a measuring method and apparatus that are less susceptible to environmental changes such as temperature.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明による光学素子の屈折率分布の測定方法
は、測定対象の光学素子よりなる被検物とこの光学素子
と屈折率がほぼ同一の透光性固体とを光学素子と屈折率
がほぼ同一の試液中に浸し、同一光源からの可干渉光
を、基準となる参照波と前記光学素子を透過する被検波
とに分割し、参照波と被検波との重畳による干渉縞像を
形成し、被検物を試液中に浸した状態にて被検波の光軸
に対して直交する軸線周りに回転させ少なくとも二つの
回転角位置の各々にて前記干渉縞像の解析により透過波
面を計測し、この複数方向からの透過波面の測定結果か
ら光学素子の屈折率分布を測定することを特徴としてい
る。
In order to achieve the above-mentioned object, the method of measuring the refractive index distribution of an optical element according to the present invention is such that the object to be measured is an optical element and the refractive index of this optical element is Substantially the same translucent solid is immersed in a test solution having a refractive index almost the same as that of the optical element, and the coherent light from the same light source is divided into a reference wave serving as a reference and a test wave passing through the optical element. , An interference fringe image is formed by superimposing the reference wave and the test wave, and the test object is immersed in the test solution and rotated around an axis orthogonal to the optical axis of the test wave, and at least two rotational angle positions In each of the above, the transmitted wavefront is measured by analyzing the interference fringe image, and the refractive index distribution of the optical element is measured from the measurement results of the transmitted wavefront from a plurality of directions.

【0009】また、上述の目的を達成するために、本発
明による光学素子の屈折率分布の測定装置は、同一光源
からの可干渉光を基準となる参照波と屈折率がほぼ同一
の試液中に浸した測定対象の光学素子よりなる被検物を
透過する被検波とに分割し、参照波と被検波との重畳に
よる干渉縞像を形成する二光束干渉計と、前記試液の一
部と置換される、光学素子と屈折率がほぼ同一の透光性
固体と、前記干渉縞像の結像面に配置された干渉縞像検
出器と、前記干渉縞像検出器によって検出された干渉縞
像を解析して透過波面を計測する透過波面計測手段と、
被検物を試液中にて被検波の光軸に対して直交する軸線
周りに回転させる回転手段とを有していることを特徴と
する。
In order to achieve the above object, the apparatus for measuring the refractive index distribution of an optical element according to the present invention uses a coherent light from the same light source as a reference in a sample solution whose refractive index is almost the same as that of a reference wave. A two-beam interferometer that forms an interference fringe image by superimposing a reference wave and a test wave, and a part of the test solution. The translucent solid having the same refractive index as that of the optical element to be replaced, the interference fringe image detector disposed on the image plane of the interference fringe image, and the interference fringe detected by the interference fringe image detector. A transmitted wavefront measuring means for analyzing the image and measuring the transmitted wavefront,
Rotating means for rotating the test object in the test solution around an axis orthogonal to the optical axis of the test wave.

【0010】また、本発明による測定装置においては、
前記透光性固体は、前記光学素子を収納する円柱状中空
部分を備えていてよい。また、本発明による測定装置に
おいては、前記透光性固体は、前記被検物と組合わせた
形状がほぼ円柱形状となるような形状に構成されていて
よい。また、本発明による測定装置においては、前記試
液を収容する容器は、測定対象物の屈折率とほぼ同一の
屈折率をもつ光学材料から構成されていてよい。また、
本発明による測定装置においては、前記透光性固体は、
前記試液中に混入された粉末状の光学材料からなってい
てよい。
Further, in the measuring device according to the present invention,
The translucent solid may include a cylindrical hollow portion that houses the optical element. Further, in the measuring apparatus according to the present invention, the translucent solid may be formed in a shape such that the shape combined with the test object is a substantially cylindrical shape. Further, in the measuring device according to the present invention, the container containing the reagent solution may be made of an optical material having a refractive index substantially the same as the refractive index of the measurement target. Also,
In the measuring device according to the present invention, the translucent solid is
It may be made of a powdery optical material mixed in the reagent solution.

【0011】[0011]

【作用】上述した構成によれば、被検物とほぼ同一の屈
折率を有する透光性固体を、被検物とともに、被検物と
ほぼ同一の屈折率を有する試液中に入れて測定するの
で、環境変動の影響を受けやすい試液を環境変動の少な
い透光性固体に置き換えることができ、測定に対する環
境変動の影響を小さくすることができる。
According to the above-mentioned structure, the light-transmissive solid having a refractive index substantially the same as that of the test object is put together with the test object into a reagent solution having a refractive index substantially the same as that of the test object for measurement. Therefore, it is possible to replace the reagent solution, which is easily affected by environmental changes, with a translucent solid, which has less environmental changes, and reduce the effect of environmental changes on measurement.

【0012】また、透光性固体が光学素子を収納する円
柱状中空部分を備えている場合には、被検物を回転させ
るために必要な空間を最小とすることができるととも
に、カメラレンズのような回転対称体の被検物を測定す
る際に試液が侵入する領域を最小にすることができる。
Further, when the light-transmissive solid has a cylindrical hollow portion for accommodating the optical element, the space required for rotating the test object can be minimized and the camera lens It is possible to minimize the area into which the test solution penetrates when measuring a rotationally symmetrical test object.

【0013】また、透光性固体を被検物と組合わせた形
状がほぼ円柱形状となるような形状に構成した場合に
は、回転非対称なレンズの測定においても環境変動の影
響を小さくすることができる。
Further, when the transparent solid is combined with the object to be inspected so as to have a substantially cylindrical shape, the influence of environmental fluctuations should be reduced even in the measurement of a rotationally asymmetric lens. You can

【0014】また、試液を収容する容器が測定対象物の
屈折率とほぼ同一の屈折率をもつ光学材料からなる場合
には、部品点数を削減することができる。また、透光性
固体を粉末状として試液中に混入した場合には、他の構
成部品を変更することなく、測定に対する環境変動の影
響を少なくすることができる。
Further, when the container containing the reagent solution is made of an optical material having a refractive index almost the same as the refractive index of the object to be measured, the number of parts can be reduced. Further, when the translucent solid is mixed into the test solution in the form of powder, the influence of environmental changes on the measurement can be reduced without changing the other components.

【0015】[0015]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につき
詳細に説明する。図1は、本発明による光学素子の屈折
率分布測定装置の一つの実施例を示し、この実施例で
は、被検物が回転対象で軸心が紙面に対して垂直に配置
された例を示している。この測定装置は、マッハツェン
ダ型の干渉計を基本構成としており、レーザ光源1と、
ビームエキスパンダ3と、光束分割用のビームスプリッ
タ5と、二つの高反射ミラー7、9と、光束重畳用のビ
ームスプリッタ11と、結像レンズ13と、CCDなど
によるエリアイメージセンサによる干渉縞検出器15
と、高速画像処理装置、マイクロコンピュータなどより
なる演算処理装置17とを含んでいる。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows one embodiment of a refractive index distribution measuring device for an optical element according to the present invention. In this embodiment, an object to be tested is an object to be rotated and an axis is arranged perpendicular to the paper surface. ing. This measuring apparatus has a Mach-Zehnder interferometer as a basic configuration, and includes a laser light source 1 and
Beam expander 3, beam splitter 5 for splitting light flux, two high-reflection mirrors 7 and 9, beam splitter 11 for superimposing light flux, imaging lens 13, and interference fringe detection by area image sensor such as CCD Bowl 15
And an arithmetic processing unit 17 including a high-speed image processing device and a microcomputer.

【0016】レーザ光源1より出射する可干渉光として
のレーザ光は、ビームエキスパンダ3によって光束径を
拡大され、ビームスプリッタ5によってこれを直進して
参照波aとなるレーザ光束と、図1にて下方に直角に屈
折して進んで被検波bとなるもう一つのレーザ光束とに
分割される。
A laser light beam emitted from the laser light source 1 as a coherent light beam has a beam diameter expanded by a beam expander 3 and travels straight by a beam splitter 5 to become a reference wave a, and FIG. Then, it is refracted downward at a right angle to proceed and is split into another laser beam which becomes the detected wave b.

【0017】参照波aは高反射ミラー7にて反射して後
述の被検物Aを透過することなくビームスプリッタ11
に入射し、被検波bは高反射ミラー9にて反射して被検
物Aを透過してビームスプリッタ11に入射する。
The reference wave a is reflected by the high-reflecting mirror 7 and does not pass through the object A to be described later, and the beam splitter 11
The incident wave b is reflected by the high-reflection mirror 9, passes through the object A, and enters the beam splitter 11.

【0018】ビームスプリッタ11に入射した参照波a
と被検波bとはビームスプリッタ11によって相互に重
畳され、結像レンズ13によって干渉縞像を干渉縞検出
器15の撮像面に結像する。
Reference wave a incident on the beam splitter 11
And the wave b to be detected are mutually superposed by the beam splitter 11, and the imaging fringe 13 forms an interference fringe image on the imaging surface of the interference fringe detector 15.

【0019】高反射ミラー9は、ピエゾ素子などによる
電気−変位変換素子19により支持され、位相シフト法
による干渉縞解析を行なうために、被検波bの光路長を
波長オーダーで可変設定すべく光路方向に微動変位可能
に配置されている。
The high-reflecting mirror 9 is supported by an electric-displacement conversion element 19 such as a piezo element, and in order to perform interference fringe analysis by the phase shift method, an optical path for variably setting the optical path length of the test wave b in the wavelength order. It is arranged so that it can be finely displaced in any direction.

【0020】被検波bの光路の途中には被検物Aを収容
する容器状のセル21が配置されている。セル21内に
は、測定対象の光学素子たる被検物Aを固定状態にセッ
トするとともに、図中矢印で示すように被検波bの光軸
に対して直交する軸線周り(紙面に対して垂直な軸線周
り)に回転可能とされた回転被検物台23が配置されて
いる。回転被検物台23は、図示されていないサーボモ
ータと駆動連結され、このサーボモータにより所定回転
角位置に回転駆動される。
A container-shaped cell 21 for accommodating the object A to be inspected is arranged in the optical path of the wave b to be inspected. An object A, which is an optical element to be measured, is set in a fixed state in the cell 21, and as shown by an arrow in the figure, the axis A orthogonal to the optical axis of the wave b to be measured (perpendicular to the paper surface A rotatable test table 23 is arranged so as to be rotatable about its axis. The rotary inspection table 23 is drivingly connected to a servo motor (not shown), and is rotationally driven to a predetermined rotation angle position by the servo motor.

【0021】図2に示すように、セル21が被検波bの
光路を横切る両端面は光束の入射窓25と出射窓27と
から構成されている。そして、これら入射窓25、出射
窓27は各々面精度が高いオプチカルフラット29、3
1によって液密にシールドされている。
As shown in FIG. 2, both end faces of the cell 21 which cross the optical path of the wave b to be detected are composed of an entrance window 25 and an exit window 27 for the light beam. The entrance window 25 and the exit window 27 are optical flats 29 and 3 having high surface accuracy.
Liquid-tightly shielded by 1.

【0022】そしてセル21内には屈折率を被検物Aの
屈折率とほぼ同一に調合されたマッチング液である試液
(接触液)Bが充填されており、回転被検物台23上の
被検物Aは試液B中に浸されている。さらにセル21内
には屈折率が被検物Aの屈折率とほぼ同一で既知の固体
光学材料からなる第1マッチング硝材73が設けられて
いる。ガラスの屈折率温度係数は10-6/℃であるた
め、10-4〜10-3/℃オーダーの試液Bに比べはるか
に耐環境性に優れる。例えば被検物AがPC(ポリカー
ボネイト)でレーザー光の波長が633nm、室温23
〜25℃程度の条件下で測定を行う場合、第1マッチン
グ硝材73としては、BaF3(ショット名)が屈折率
差が最も小さくて良い。
The cell 21 is filled with a test solution (contact solution) B, which is a matching solution having a refractive index almost equal to that of the object A to be inspected, and is placed on the rotating object table 23. The sample A is immersed in the test solution B. Further, in the cell 21, a first matching glass material 73 made of a known solid optical material whose refractive index is substantially the same as that of the test object A is provided. Since the temperature coefficient of refractive index of glass is 10 −6 / ° C., it is much more excellent in environmental resistance than the reagent solution B of the order of 10 −4 to 10 −3 / ° C. For example, the inspection object A is PC (polycarbonate), the wavelength of the laser light is 633 nm, and the room temperature is 23.
When the measurement is performed under the condition of about 25 ° C., BaF3 (shot name) may have the smallest difference in refractive index as the first matching glass material 73.

【0023】第1マッチング硝材73の形状は直方体を
なし、直方体の一面の中心付近が円筒状にくり抜かれて
円柱状中空部分を有する孔83が形成されている。そし
て、その孔83の中には被検物Aが挿入できる構造にな
っている。上述したように、セル21内には試液Bが充
填されており、回転被検物台23上の被検物Aは試液B
中に浸されている。そして、セル21および第1マッチ
ング硝材73は装置本体側に固定され、被検物Aのみが
回転被検物台23上に回転可能に支持されている。
The shape of the first matching glass material 73 is a rectangular parallelepiped, and the vicinity of the center of one surface of the rectangular parallelepiped is hollowed out into a cylindrical shape to form a hole 83 having a cylindrical hollow portion. Then, the structure is such that the object A can be inserted into the hole 83. As described above, the test solution B is filled in the cell 21, and the test object A on the rotating test object table 23 is the test solution B.
It is soaked in. The cell 21 and the first matching glass material 73 are fixed to the apparatus main body side, and only the inspection object A is rotatably supported on the rotating inspection object table 23.

【0024】上述のようにして結像レンズ13によって
干渉縞検出器15の撮像面に結像した干渉縞像は、干渉
縞検出器15によって光電変換されて電気的な画像信号
となり、A/D変換器33によってA/D変換された
後、演算装置17に入力される。なお、演算装置17
は、位相シフト法などによる干渉縞像の解析によって透
過波面の計測演算を行う透過波面計測部35を含んでい
る。
The interference fringe image formed on the image pickup surface of the interference fringe detector 15 by the imaging lens 13 as described above is photoelectrically converted by the interference fringe detector 15 into an electric image signal, and the A / D After being A / D converted by the converter 33, it is input to the arithmetic unit 17. The arithmetic unit 17
Includes a transmitted wavefront measuring unit 35 that performs a calculation calculation of a transmitted wavefront by analyzing an interference fringe image by a phase shift method or the like.

【0025】次に上述の構成よりなる測定装置を使用し
て被検物Aの屈折率分布を計測する方法を説明する。ま
ず最初に、回転被検物台23に被検物Aをセットする前
に、干渉縞検出器15が出力する干渉縞像の画像信号を
演算装置17に取り込んで透過波面計測部35により干
渉縞像の解析を行い、初期状態の透過波面を計測する。
この計測結果に基づいて測定装置自体の定常的な誤差成
分を排除する初期処理を行う。
Next, a method of measuring the refractive index distribution of the object A to be measured by using the measuring device having the above-mentioned structure will be described. First, before setting the inspection object A on the rotating inspection table 23, the image signal of the interference fringe image output from the interference fringe detector 15 is taken into the arithmetic unit 17 and the transmission wavefront measuring unit 35 causes the interference fringes. Analyze the image and measure the transmitted wavefront in the initial state.
Based on this measurement result, initial processing is performed to eliminate the steady error component of the measuring device itself.

【0026】次に、回転被検物台23に被検物Aをセッ
トし、回転被検物台23が初期回転位置に位置している
状態にて干渉縞検出器15が出力する干渉縞像の画像信
号を演算装置17に取り込んで透過波面計測部35によ
り干渉縞像の解析を行い、透過波面を計測する。
Next, the inspection object A is set on the rotating inspection object table 23, and the interference fringe image output from the interference fringe detector 15 in a state where the rotating inspection object table 23 is positioned at the initial rotation position. The image signal of 1 is taken into the arithmetic unit 17, the interference fringe image is analyzed by the transmitted wavefront measuring unit 35, and the transmitted wavefront is measured.

【0027】ここで、被検物Aの屈折率が完全に均一
で、この屈折率がセル21内に充填されている試液Bの
屈折率と等しい場合には、位相シフト法による干渉縞像
の解析は0になるはずである。これに対し、被検物Aの
屈折率が試液Bの屈折率より僅かに相違していると、次
の関係式が成立する。
Here, when the refractive index of the test object A is completely uniform and this refractive index is equal to the refractive index of the reagent solution B filled in the cell 21, an interference fringe image by the phase shift method is obtained. The analysis should be zero. On the other hand, when the refractive index of the test object A is slightly different from the refractive index of the test solution B, the following relational expression holds.

【0028】 φ(y)=(2π/λ)∫Δn(x,y)dx 但し、 φ(y):透過波面(rad) Δn(x,y):被検物Aと試液Bとの屈折率差 λ:レーザ光の波長Φ (y) = (2π / λ) ∫Δn (x, y) dx where φ (y) is the transmitted wavefront (rad) Δn (x, y) is the refraction between the sample A and the test solution B. Index difference λ: wavelength of laser light

【0029】回転被検物台23が初期回転位置に位置し
ている状態下のみの透過波面の計測では、干渉縞像の解
析結果はx方向(光路進行方向)に積算されており、こ
れだけでは屈折率の不均一部分の空間的な位置を特定す
ることができない。
In the measurement of the transmitted wavefront only under the condition that the rotating object table 23 is located at the initial rotation position, the analysis result of the interference fringe image is integrated in the x direction (optical path traveling direction), and this is enough. It is not possible to specify the spatial position of the nonuniform refractive index portion.

【0030】このため、回転被検物台23を初期回転位
置より所定角度、例えば90度回転させ、回転被検物台
23上の被検物Aの被検波bの光軸に対する向きを回転
被検物台23の初期回転位置よりの回転角だけ変化させ
る。このように被検物Aが回転変位しても被検物Aが試
液B中に浸されていることから、回転変位前と同様に、
参照波aと被検波bとの重畳によって干渉縞像が干渉縞
検出器15の撮像面に結像する。この状態下にて干渉縞
検出器15が出力する干渉縞像の画像信号を演算装置1
7に取り込んで透過波面計測部35より透過波面を計測
する。
Therefore, the rotary inspection table 23 is rotated by a predetermined angle, for example, 90 degrees from the initial rotation position, and the direction of the inspection wave b of the inspection object A on the rotational inspection table 23 is rotated with respect to the optical axis. The rotation angle from the initial rotation position of the inspection table 23 is changed. Even when the test object A is rotationally displaced in this way, the test object A is immersed in the test solution B, and therefore, as before the rotational displacement,
An interference fringe image is formed on the imaging surface of the interference fringe detector 15 by superimposing the reference wave a and the test wave b. Under this condition, the image signal of the interference fringe image output from the interference fringe detector 15 is used as the arithmetic unit 1
7, and the transmitted wavefront is measured by the transmitted wavefront measuring unit 35.

【0031】これにより、被検物Aに対して複数方向、
この場合、2方向から入射させた被検波bにより透過波
面が各々計測され、この複数個の透過波面データの組み
合わせにより、被検物Aの屈折率の不均一部分の空間的
位置を特定することが可能になる。
As a result, in a plurality of directions with respect to the inspection object A,
In this case, the transmitted wavefronts are respectively measured by the test wave b incident from two directions, and the spatial position of the non-uniform refractive index portion of the test object A is specified by the combination of the plurality of transmitted wavefront data. Will be possible.

【0032】被検物Aの屈折率分布を完全な3次元空間
分布として測定する場合には、被検物Aを被検波bの光
軸に対して直交する軸線周りに回転させて被検物Aに対
する被検波bの入射方向を180度あるいは360度の
範囲で変化させ、各回転角位置における透過波面の計測
データを収集してコンピュータにより画像を再構成す
る。この画像の再構成は公知のCT(コンピュータ・ト
モグラフィ)法により行う。
When the refractive index distribution of the test object A is measured as a complete three-dimensional spatial distribution, the test object A is rotated around an axis orthogonal to the optical axis of the test wave b. The incident direction of the test wave b with respect to A is changed within a range of 180 degrees or 360 degrees, measurement data of the transmitted wave front at each rotation angle position is collected, and an image is reconstructed by a computer. Reconstruction of this image is performed by a known CT (Computer Tomography) method.

【0033】図3はCT法の原理を示すものであり、角
度φの方向から入射した被検波による透過波面のデータ
p(X,φ)を変数Xについて1次元フーリエ変換を行
えば、求めるべき屈折率の分布Δn(x,y)の2次元
フーリエ変換の極座標表現におけるφ方向成分が得られ
る。
FIG. 3 shows the principle of the CT method, which should be obtained by performing a one-dimensional Fourier transform on the variable X with respect to the transmitted wavefront data p (X, φ) of the test wave incident from the direction of the angle φ. The φ direction component in the polar coordinate representation of the two-dimensional Fourier transform of the refractive index distribution Δn (x, y) can be obtained.

【0034】すなわち、0≦φ≦2πまたは0≦φ≦π
の角度範囲にわたって透過波面を計測し、その透過波面
データを1次元フーリエ変換し、フーリエ変換された各
断面の極座標データを直交座標データに変換した後、2
次元逆フーリエ変換を行うことにより被検物Aの3次元
屈折率分布を再構成することができる。
That is, 0 ≦ φ ≦ 2π or 0 ≦ φ ≦ π
After measuring the transmitted wavefront over the angle range of, the transmitted wavefront data is subjected to one-dimensional Fourier transform, and the Fourier-transformed polar coordinate data of each cross section is converted into rectangular coordinate data, and then 2
By performing the three-dimensional inverse Fourier transform, the three-dimensional refractive index distribution of the test object A can be reconstructed.

【0035】これを数式により表すと、次のようにな
る。直交座標系(ξ,η)と極座標系(r,φ)との関
係を、 ξ=r cosθ η=r sinθ 透過波面をp(X,φ)、被検物Aと試液Bとの屈折率
差をΔn(x,y)とすれば、2次元フーリエ変換F
(ξ,η)は次のように表される。
This can be expressed by the following equation. The relationship between the Cartesian coordinate system (ξ, η) and the polar coordinate system (r, φ) is expressed as follows: ξ = r cos θ η = r sin θ The transmitted wavefront is p (X, φ), and the refractive index of the sample A and the test solution B is If the difference is Δn (x, y), the two-dimensional Fourier transform F
(Ξ, η) is expressed as follows.

【0036】[0036]

【数1】 [Equation 1]

【0037】Δn(x,y)=(1/4π2)∫∫F
(ξ,η) exp[i(ξx+ηy)]dξdη
Δn (x, y) = (1 / 4π 2 ) ∫∫F
(Ξ, η) exp [i (ξx + ηy)] dξdη

【0038】図4は、CT法により画像を再構成して被
検物Aの3次元屈折率分布を得る場合の演算装置17の
構成を示している。この場合、演算装置17は、干渉縞
検出器15より回転角φ毎に画像信号を入力して透過波
面の収差量を算出する透過波面量算出部37と、回転角
φ毎の波面収差量を1次元フーリエ変換する1次元フー
リエ変換部39と、フーリエ変換された各断面の極座標
データを直交座標データに変換する極座標−直交座標変
換部41と、直交座標データの2次元逆フーリエ変換を
行う2次元逆フーリエ変換部43と、2次元逆フーリエ
変換の結果を屈折率に変換する屈折率変換部45と、屈
折率変換部45により変換された屈折率に基づいて屈折
率分布を出力する屈折率分布出力部47とを有してい
る。
FIG. 4 shows the configuration of the arithmetic unit 17 when the image is reconstructed by the CT method to obtain the three-dimensional refractive index distribution of the object A to be examined. In this case, the arithmetic unit 17 inputs the image signal from the interference fringe detector 15 for each rotation angle φ and calculates the amount of aberration of the transmitted wavefront, and the wavefront aberration amount for each rotation angle φ. A one-dimensional Fourier transform unit 39 for performing a one-dimensional Fourier transform, a polar coordinate-orthogonal coordinate transform unit 41 for transforming the Fourier-transformed polar coordinate data of each section into rectangular coordinate data, and a two-dimensional inverse Fourier transform of the orthogonal coordinate data 2 Dimensional inverse Fourier transform unit 43, refractive index conversion unit 45 that converts the result of two-dimensional inverse Fourier transform into a refractive index, and refractive index that outputs a refractive index distribution based on the refractive index converted by the refractive index conversion unit 45. And a distribution output unit 47.

【0039】このCT法による場合には、屈折率分布に
規則性がなく、またその分布が不明である被検物であっ
ても、屈折率分布を被検物の屈折率の不均一部分の空間
的位置を特定することが可能になる。
In the case of the CT method, the refractive index distribution has no regularity, and even for an object whose distribution is unknown, the refractive index distribution is determined by the non-uniform portion of the refractive index of the object. It becomes possible to specify the spatial position.

【0040】図5では、被検物が回転対象ではない場合
の実施例を示し、被検物とマッチング硝材以外の部分に
ついては、図1の実施例と同様のため、被検物とマッチ
ング硝材を含むセルの内部のみ図示した。回転対称では
ない被検物A1としては、例えば、レーザプリンタ等に
用いられるfθレンズ、トロイダルレンズ、トーリック
レンズ等の回転非対称なレンズがある。
FIG. 5 shows an embodiment in which the object to be inspected is not an object to be rotated. The parts other than the object to be inspected and the matching glass material are the same as those in the embodiment in FIG. Only the inside of the cell including is shown. Examples of the object A 1 which is not rotationally symmetric include rotationally asymmetric lenses such as fθ lens, toroidal lens and toric lens used in laser printers and the like.

【0041】このような回転対象ではない被検物A1
あっても、図1(図2)の第1マッチング硝材73の孔
83の円柱空間内に挿入して測定することができる。こ
の場合には被検物A1とマッチング硝材73との間の隙
間が大きくなるため、この隙間に充填する試液Bの量が
多くなり、温度変動による屈折率変化の影響を被検物が
回転対称の場合と比べて受けやすくなる。これを防止す
るために、本実施例では、被検物A1と第1マッチング
硝材73との間の空間を埋める如く、被検物A1と組み
合わせた形状がほぼ円柱状となる第2マッチング硝材7
5を回転被検物台23上に設けている。この第2マッチ
ング硝材75は被検物A1とほぼ同一の屈折率を有し、
測定の際には、第2マッチング硝材75と被検物被検物
1とは回転被検物台23上で一体的に回転する。
Even the test object A 1 that is not the object of rotation can be measured by inserting it into the cylindrical space of the hole 83 of the first matching glass material 73 of FIG. 1 (FIG. 2). In this case, the gap between the test object A 1 and the matching glass material 73 becomes large, so that the amount of the test solution B filling the clearance becomes large and the test object rotates due to the influence of the change in the refractive index due to the temperature change. It is easier to receive than the symmetrical case. In order to prevent this, in the present embodiment, the second matching in which the shape combined with the test object A 1 is substantially cylindrical so as to fill the space between the test object A 1 and the first matching glass material 73. Glass material 7
5 is provided on the rotary inspection table 23. The second matching glass material 75 has a refractive index almost the same as that of the test object A 1 ,
At the time of measurement, the second matching glass material 75 and the object to be inspected A 1 rotate integrally on the rotating object table 23.

【0042】図6では、図2のセル21、オプティカル
フラット9、31及び第1マッチング硝材73を一体化
した場合の実施例を示し、他の部分については図1の実
施例と同様のため図示していない。図では一体化された
第3マッチング硝材77のみを示している。即ち、この
第3マッチング硝材77は、図2に示した第1マッチン
グ硝材73と同様の固体光学材料からなり、即ち被検物
とほぼ同一の屈折率を有し、外形は図6(a)に示すよ
うに直方体形状に形成されている。さらに、この第3マ
ッチング硝材77は、入射光Liが入射する入射面79
及び出射光Loが出射する出射面81がオプティカルフ
ラット9、31と同程度の面精度に光学研磨され、光軸
と直交する方向には円柱状空間を形成する孔83が設け
られている。この孔83の一端は図6の(b)に示すよ
うに閉塞されて、孔83の円柱状空間内には被検物Aと
試液Bが挿入される。
FIG. 6 shows an embodiment in which the cell 21, the optical flats 9 and 31 and the first matching glass material 73 of FIG. 2 are integrated, and the other parts are similar to those of the embodiment of FIG. Not shown. In the figure, only the integrated third matching glass material 77 is shown. That is, the third matching glass material 77 is made of the same solid optical material as the first matching glass material 73 shown in FIG. 2, that is, has the same refractive index as that of the object to be inspected, and its outer shape is shown in FIG. As shown in, it is formed in a rectangular parallelepiped shape. Further, the third matching glass material 77 has an incident surface 79 on which the incident light Li is incident.
The emission surface 81 from which the emitted light Lo is emitted is optically polished to the same level of surface precision as the optical flats 9 and 31, and a hole 83 forming a cylindrical space is provided in the direction orthogonal to the optical axis. One end of the hole 83 is closed as shown in FIG. 6B, and the test substance A and the test solution B are inserted into the cylindrical space of the hole 83.

【0043】このようにセル21、オプティカルフラッ
ト9、31及び第1マッチング硝材73を一体化してセ
ル、オプティカルフラット及びマッチング硝材の機能を
有する第3マッチング硝材77としたことにより、部品
点数を低減することができる。この部品点数の低減によ
り、組付け調整が容易になるとともに、低コスト化を達
成することができる。
By thus integrating the cell 21, the optical flats 9 and 31, and the first matching glass material 73 into a third matching glass material 77 having the functions of the cell, the optical flat and the matching glass material, the number of parts is reduced. be able to. This reduction in the number of parts facilitates assembly adjustment and achieves cost reduction.

【0044】また、オプティカルフラット9、31と第
1マッチング硝材73とを一体化しているので、オプテ
ィカルフラット9、31と第1マッチング硝材73との
間に試液Bが存在することがない。したがってこの被検
波透過部分の試液Bによる屈折率の環境変動がなくなる
ので、この部分の波面収差の影響を除去することができ
る。
Moreover, since the optical flats 9 and 31 and the first matching glass material 73 are integrated, the reagent solution B does not exist between the optical flats 9 and 31 and the first matching glass material 73. Therefore, the environmental fluctuation of the refractive index due to the sample solution B in the test wave transmitting portion is eliminated, so that the influence of the wavefront aberration in this portion can be eliminated.

【0045】図7では、粉体からなるマッチング硝材を
用いた場合の実施例を示し、マッチング硝材以外の部分
については、図1の実施例と同様のため、被検物とマッ
チング硝材を含むセルの内部のみ図示した。この実施例
では、図2の第1マッチング硝材73の代わりに、数〜
数十μmの粒径を有する粉末状のマッチング硝材85を
用い、このマッチング硝材85を試液B中に混入させた
ものである。このように粉末状のマッチング硝材85を
用いることにより、マッチング硝材85以外については
従来のものを用いることができるので、専用の治具や光
学部品を製作する必要がない。また、形状の異なる種々
の被検物Aの測定に応用することができる。
FIG. 7 shows an embodiment in which a matching glass material made of powder is used. Since parts other than the matching glass material are the same as those in the embodiment of FIG. 1, a cell containing the test object and the matching glass material is shown. Only the inside of is shown. In this embodiment, instead of the first matching glass material 73 of FIG.
A powdery matching glass material 85 having a particle diameter of several tens of μm is used, and the matching glass material 85 is mixed in the test solution B. By using the powdery matching glass material 85 in this manner, conventional materials other than the matching glass material 85 can be used, and it is not necessary to manufacture a dedicated jig or optical component. Further, it can be applied to measurement of various test objects A having different shapes.

【0046】上述した粉末状のマッチング硝材85を混
入させた試液Bは、図2のセル21だけでなく、図5の
セル21や図6のセル77に用いることもでき、このよ
うに組み合わせることにより、環境変動による影響をよ
り小さくすることができる。
The reagent solution B mixed with the above-mentioned powdery matching glass material 85 can be used not only in the cell 21 of FIG. 2 but also in the cell 21 of FIG. 5 and the cell 77 of FIG. 6, and is combined in this way. As a result, it is possible to further reduce the influence of environmental changes.

【0047】図8は、本発明による光学素子の屈折率分
布測定装置の他の実施例を示している。なお、図8にお
いて、図1に対応する部分は図1に付した符号と同一の
符号により示されている。この実施例においては、レー
ザ光源1が出射するレーザ光の偏光方向は紙面に対して
約45度になるように設定し、ビームスプリッタ5、1
1として各々偏光ビームスプリッタを使用する。参照波
aと被検波bとはビームスプリッタ11を通過すること
により重なり合うが、偏光面が相互に直交しているため
干渉はしない。
FIG. 8 shows another embodiment of the refractive index distribution measuring apparatus for an optical element according to the present invention. In addition, in FIG. 8, portions corresponding to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as those in FIG. In this embodiment, the polarization direction of the laser light emitted from the laser light source 1 is set to be about 45 degrees with respect to the paper surface, and the beam splitters 5 and 1 are used.
A polarization beam splitter is used as each 1. The reference wave a and the test wave b are overlapped by passing through the beam splitter 11, but they do not interfere with each other because their polarization planes are orthogonal to each other.

【0048】また、この実施例では、もう一つのビーム
スプリッタ49が設けられており、ビームスプリッタ4
9はビームスプリッタ11よりの参照波aと被検波bと
の重畳光束を二つに分割する。ビームスプリッタ49に
より2分割された重畳光束の一方は偏光子51を通過す
ることにより干渉を生じ、その干渉縞は結像レンズ13
によって第一の干渉縞検出器15の撮像面に結像する。
他方の重畳光束は光学異方性部材であるλ/4板53を
通過することにより一方の重畳光束に対してπ/2の位
相差を生じる。この他方の重畳光束はその後に偏光子5
5を通過することにより干渉を生じ、その干渉縞は結像
レンズ57によって第二の干渉縞検出器59の撮像面に
結像する。
Further, in this embodiment, another beam splitter 49 is provided, and the beam splitter 4
Reference numeral 9 divides the superposed light flux of the reference wave a and the test wave b from the beam splitter 11 into two. One of the superimposed light beams split into two by the beam splitter 49 passes through the polarizer 51 to cause interference, and the interference fringes form the imaging lens 13
An image is formed on the imaging surface of the first interference fringe detector 15 by.
The other superimposed light flux passes through the λ / 4 plate 53, which is an optically anisotropic member, so that a phase difference of π / 2 is generated with respect to the one superimposed light flux. The other superposed light flux is then transmitted to the polarizer 5
As a result, the interference fringes are imaged on the image pickup surface of the second interference fringe detector 59 by the imaging lens 57.

【0049】第一の干渉縞検出器15と第二の干渉縞検
出器59に結像した干渉縞像は、共に同一の被検物Aに
ついてのものであるが、第二の干渉縞検出器59に至る
光路にはλ/4板53が存在することにより、相互に9
0度、位相がずれたものになる。例えば第一の干渉縞検
出器15に結像した干渉縞像が図9(a)に示す状態で
あるとすると、第二の干渉縞検出器59に結像する干渉
縞像は図9(b)に示す状態となり、干渉縞像が半分ず
れたものになる。
The interference fringe images formed on the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59 are for the same object A, but the second interference fringe detector is the same. The presence of the λ / 4 plate 53 in the optical path leading to
It is 0 degrees out of phase. For example, assuming that the interference fringe image formed on the first interference fringe detector 15 is in the state shown in FIG. 9A, the interference fringe image formed on the second interference fringe detector 59 is shown in FIG. ), And the interference fringe image is shifted by half.

【0050】この場合、第一の干渉縞検出器15と第二
の干渉縞検出器59は、被検物Aの同一点からの光情報
を受けるように配置されている。なお、干渉縞像のずれ
は、90度=π/2に限らず、一般にnを自然数として
nπ/2であればよい。
In this case, the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59 are arranged so as to receive optical information from the same point on the object A to be inspected. The deviation of the interference fringe image is not limited to 90 degrees = π / 2, and may be nπ / 2 in general, where n is a natural number.

【0051】図10は、第一の干渉縞検出器15と第二
の干渉縞検出器59の出力信号より干渉縞の位相変位量
を算出する装置を示している。この算出装置は第一の干
渉縞検出器15と第二の干渉縞検出器59の出力信号よ
りリサージュ波形を得てその干渉縞の明暗変化をカウン
トするものである。
FIG. 10 shows an apparatus for calculating the phase displacement amount of the interference fringes from the output signals of the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59. This calculation device obtains a Lissajous waveform from the output signals of the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59 and counts the change in brightness of the interference fringes.

【0052】第一の干渉縞検出器15、第二の干渉縞検
出器59には各々増幅回路61、63と方形波変換回路
65、67とが接続されている。第一の干渉縞検出器1
5、第二の干渉縞検出器59が出力する出力信号は各々
増幅回路61、63によって増幅される。
Amplifier circuits 61 and 63 and square wave conversion circuits 65 and 67 are connected to the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59, respectively. First interference fringe detector 1
5, the output signals output from the second interference fringe detector 59 are amplified by amplifier circuits 61 and 63, respectively.

【0053】図11(a)は第一の干渉縞検出器15の
出力信号波形を、図11(b)は第二の干渉縞検出器5
9の出力信号波形を各々示している。これらは被検物A
を光軸に対して直交する軸線周りに回転させることによ
って干渉縞が一定の速度で変化した場合の出力信号波形
であり、第一の干渉縞検出器15の出力信号波形は第一
の干渉縞検出器15の点P1 (図9参照)における光強
度変化を観測したことによるものであり、第二の干渉縞
検出器59の出力信号波形は点P1 と同一の観測点に相
当する第二の干渉縞検出器15の点P2 (図9参照)に
おける光強度変化における光強度変化を観測したことに
よるものであり、この両者には90度の位相ずれがあ
る。
FIG. 11A shows the output signal waveform of the first interference fringe detector 15, and FIG. 11B shows the second interference fringe detector 5.
The output signal waveforms of 9 are shown respectively. These are the objects to be inspected A
Is an output signal waveform in the case where the interference fringes change at a constant speed by rotating about the axis orthogonal to the optical axis, and the output signal waveform of the first interference fringe detector 15 is the first interference fringes. This is because the light intensity change at the point P1 (see FIG. 9) of the detector 15 is observed, and the output signal waveform of the second interference fringe detector 59 corresponds to the same observation point as the point P1. This is because the change in the light intensity due to the change in the light intensity at the point P2 (see FIG. 9) of the interference fringe detector 15 is observed, and both of them have a phase shift of 90 degrees.

【0054】これら出力信号は、方形波変換回路65、
67によって所定のスレッシュレベルにより図11
(c)、(d)に示されているような方形波信号に変換
される。この二つの方形波信号はパルスカウント回路6
9に入力され、パルスカウント回路69は二つの方形波
信号の入力タイミング検出とアップパルスおよびダウン
パルスのカウントにより、干渉縞の移動方向と移動本数
を検出する。
These output signals are converted into a square wave conversion circuit 65,
According to the predetermined threshold level by 67, FIG.
It is converted into a square wave signal as shown in (c) and (d). These two square wave signals are used for the pulse counting circuit 6
9, the pulse count circuit 69 detects the moving direction and the number of moving interference fringes by detecting the input timing of the two square wave signals and counting the up pulse and the down pulse.

【0055】この干渉縞の移動方向と移動本数のデータ
は位相変位量算出装置71に入力され、位相変位量算出
装置71はこれらのデータより光軸方向の位相変位量を
算出し、この位相変位量に予め位相シフト法によって測
定した初期値を加えることにより透過波面の収差量を算
出する。この操作が各干渉縞検出器の各画素について行
われることにより、被検物全体の位相変位量ならびに透
過波面量が求められる。
The data of the movement direction and the number of movements of the interference fringes are input to the phase displacement amount calculating device 71, and the phase displacement amount calculating device 71 calculates the phase displacement amount in the optical axis direction from these data, and the phase displacement amount is calculated. The amount of aberration of the transmitted wavefront is calculated by adding the initial value previously measured by the phase shift method to the amount. By performing this operation for each pixel of each interference fringe detector, the amount of phase displacement and the amount of transmitted wave front of the entire test object can be obtained.

【0056】上述の構成よりなる測定装置を使用して被
検物Aの屈折率分布を計測する方法を説明する。まず、
電気−変位変換素子19を駆動して位相シフト法などの
解析方法を用いて透過波面分布の初期値を測定する。次
に、回転被検物台23を矢印方向に回転駆動し、被検物
Aを光軸に対して直交する軸線周り(紙面に対して垂直
な軸線周り)に回転させる。この被検物Aの回転によっ
て第一の干渉縞検出器15と第二の干渉縞検出器59に
結像する干渉縞像が移動し、その干渉縞の移動方向と移
動量(移動本数)を上述の如くパルスカウント回路69
によって検出する。
A method of measuring the refractive index distribution of the object A to be measured using the measuring device having the above structure will be described. First,
The electric-displacement conversion element 19 is driven and the initial value of the transmitted wavefront distribution is measured using an analysis method such as a phase shift method. Next, the rotary inspection table 23 is rotationally driven in the direction of the arrow, and the inspection object A is rotated about an axis line orthogonal to the optical axis (about an axis line perpendicular to the paper surface). The rotation of the object A moves the interference fringe images formed on the first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59, and the movement direction and movement amount (number of movements) of the interference fringes are determined. As described above, the pulse counting circuit 69
Detect by.

【0057】次いで、位相変位量算出装置71が干渉縞
の移動方向と移動本数より光軸方向の位相変位量を算出
し、この位相変位量に予め位相シフト法によって測定し
た初期値を加えることにより、ある回転角φにおける透
過波面の収差量p(x,θ)を算出する。この操作を入
射方向が180度あるいは360度にわたる範囲で行
い、計測データをCT法を用いて解析し、屈折率分布を
算出する。
Then, the phase displacement amount calculating device 71 calculates the phase displacement amount in the optical axis direction from the movement direction and the number of movements of the interference fringes, and adds the initial value previously measured by the phase shift method to this phase displacement amount. , The aberration amount p (x, θ) of the transmitted wavefront at a certain rotation angle φ is calculated. This operation is performed within a range in which the incident direction extends over 180 degrees or 360 degrees, the measurement data is analyzed using the CT method, and the refractive index distribution is calculated.

【0058】図8に示されている測定装置においては、
第一の干渉縞検出器15、第二の干渉縞検出器59は1
次元CCDなどによるリニアイメージセンサにより構成
されてよい。1次元CCDなどによるリニアイメージセ
ンサは画像信号を高速にシリアル出力することが可能で
あるから、干渉縞のリアルタイム計測が可能になる。
In the measuring device shown in FIG.
The first interference fringe detector 15 and the second interference fringe detector 59 are 1
A linear image sensor such as a three-dimensional CCD may be used. A linear image sensor such as a one-dimensional CCD can serially output an image signal at high speed, and thus real-time measurement of interference fringes becomes possible.

【0059】例えば、7μm×5000画素の高分解能
な1次元CCDを用いた場合、フリンジ1本に対して必
要な画像数が10画素であるとしても、分解能70μm
で、最大500フリンジ、即ち波面収差量にして500
λ(概ね300μm)まで対応可能であり、被検物の大
きさd=50mm、試液Bとの屈折率差Δn=0.00
1であったとしても、Δndは概ね79λであり、充分
許容できる。
For example, when a high-resolution one-dimensional CCD of 7 μm × 5000 pixels is used, the resolution is 70 μm even if the number of images required for one fringe is 10 pixels.
Then, a maximum of 500 fringes, that is, a wavefront aberration amount of 500
It can handle up to λ (approximately 300 μm), the size of the test object d = 50 mm, and the refractive index difference Δn = 0.00 with the reagent solution B.
Even if it is 1, Δnd is approximately 79λ, which is sufficiently acceptable.

【0060】また、試液Bとの屈折率差が大きいと被検
物の回転によって干渉縞が急激に変化するが、1次元C
CDは画像信号を数m秒以下の応答速度で高速にシリア
ル出力することができるので、回転させながらリアルタ
イムで透過波面量を算出することが可能となる。
If the refractive index difference from the sample solution B is large, the interference fringes change rapidly due to the rotation of the test object, but the one-dimensional C
Since the CD can serially output the image signal at a high speed with a response speed of several milliseconds or less, the transmitted wavefront amount can be calculated in real time while rotating.

【0061】以上の実施例では、被検物Aを試液B中に
浸した状態にて被検物Aに対して複数方向から入射させ
た被検波による透過波面を計測し、この複数個の透過波
面データの組み合わせにより、任意の形状の被検物に対
して深さ方向の屈折率分布を測定し、屈折率の不均一部
分を3次元空間的に特定する場合に、環境変動の影響を
受けやすい試液Bの一部を環境変動の影響を受けにくい
透光性固体73(75、77、85)で置き換えたの
で、環境変動によって生じる屈折率変動を小さくするこ
とができ、高精度な測定を行うことが可能になる。
In the above embodiments, the transmitted wavefronts of the test waves incident on the test object A in a plurality of directions are measured while the test object A is immersed in the test solution B, and the plurality of transmitted waves are transmitted. When the refractive index distribution in the depth direction is measured for the object of any shape by combining the wavefront data and the non-uniform part of the refractive index is specified three-dimensionally, it is affected by environmental changes. Since a part of the easy test solution B is replaced with the light-transmissive solid 73 (75, 77, 85) that is not easily affected by environmental fluctuations, it is possible to reduce the refractive index fluctuations caused by environmental fluctuations and to perform highly accurate measurement. It will be possible to do.

【0062】また、透光性固体73(77)が被検物A
を収納する孔83(円柱状中空部分)を備えている場合
には、カメラレンズのような回転対称体の被検物Aを測
定する際に試液Bが侵入する領域を最小にすることがで
き、環境変動の影響をより小さくすることができる。
Further, the translucent solid 73 (77) is the object A to be inspected.
When the hole 83 (cylindrical hollow portion) for accommodating the liquid is provided, it is possible to minimize the area where the test solution B enters when measuring the test object A of a rotationally symmetric body such as a camera lens. Therefore, the influence of environmental changes can be reduced.

【0063】また、透光性固体75を被検物A1と組合
わせた形状がほぼ円柱形状となるような形状に構成した
場合には、回転非対称なレンズ等の被検物A1の測定に
おいても環境変動の影響を小さくすることができるの
で、例えば、レーザプリンタの走査レンズ等の回転非対
称な被検物A1を高精度に測定することができる。
When the transparent solid 75 and the object A 1 are combined into a substantially cylindrical shape, the object A 1 such as a rotationally asymmetric lens is measured. Also in this case, the influence of environmental changes can be reduced, so that, for example, a rotationally asymmetric test object A 1 such as a scanning lens of a laser printer can be measured with high accuracy.

【0064】また、試液Bを収容する容器が測定対象物
の屈折率とほぼ同一の屈折率をもつ光学材料からなる場
合には、容器、透光性固体等を一体化して部品点数を削
減することができるので、被検波が透過する領域の試液
Bを少なくすることができ、したがって波面収差の影響
を除去でき、より高精度な測定をすることができる。
Further, when the container containing the reagent solution B is made of an optical material having a refractive index substantially the same as the refractive index of the object to be measured, the container and the light-transmissive solid are integrated to reduce the number of parts. Therefore, it is possible to reduce the amount of the reagent solution B in the region through which the test wave is transmitted, and thus it is possible to eliminate the influence of the wavefront aberration, and it is possible to perform more accurate measurement.

【0065】また、透光性固体85を粉末状として試液
B中に混入した場合には、他の構成部品を変更すること
なく、測定に対する環境変動の影響を少なくすることが
でき、より高精度な測定をすることができる。
When the light-transmissive solid 85 is mixed in the sample solution B in the form of powder, the influence of environmental changes on the measurement can be reduced without changing other components, and higher accuracy can be obtained. You can make various measurements.

【0066】[0066]

【発明の効果】以上説明したように、本発明による光学
素子の屈折率分布の測定方法および装置によれば、被検
物を試液中に浸した状態にて被検物に対して複数方向か
ら入射させた被検波による透過波面を計測し、この複数
個の透過波面データの組み合わせにより、任意の形状の
被検物に対して深さ方向の屈折率分布を測定し、屈折率
の不均一部分を3次元空間的に特定する場合に、環境変
動の影響を受けやすい試液の一部を環境変動の影響を受
けにくい透光性固体で置き換えたので、環境変動によっ
て生じる屈折率変動を小さくすることができ、高精度な
測定を行うことが可能になる。
As described above, according to the method and apparatus for measuring the refractive index distribution of the optical element according to the present invention, the test object is immersed in the test solution from a plurality of directions with respect to the test object. The transmitted wavefront by the incident test wave is measured, and the refractive index distribution in the depth direction is measured for the test object of any shape by combining the transmitted wavefront data, and the part where the refractive index is not uniform is measured. When three-dimensionally identifying a sample, a part of the reagent solution that is easily affected by environmental changes was replaced with a translucent solid that is not easily affected by environmental changes. Therefore, it becomes possible to perform highly accurate measurement.

【0067】また、透光性固体が光学素子を収納する円
柱状中空部分を備えている場合には、カメラレンズのよ
うな回転対称体の被検物を測定する際に試液が侵入する
領域を最小にすることができ、環境変動の影響をより小
さくすることができる。
Further, when the translucent solid has a cylindrical hollow portion for accommodating the optical element, a region where the test solution enters when measuring a rotationally symmetrical object such as a camera lens is measured. It can be minimized and the influence of environmental changes can be made smaller.

【0068】また、透光性固体を被検物と組合わせた形
状がほぼ円柱形状となるような形状に構成した場合に
は、回転非対称なレンズの測定においても環境変動の影
響を小さくすることができるので、レーザプリンタの走
査レンズ等の回転非対称なレンズを高精度に測定するこ
とができる。
Further, when the transparent solid is combined with the object to be inspected into a substantially cylindrical shape, the influence of environmental fluctuations should be reduced even in the measurement of a rotationally asymmetric lens. Therefore, a rotationally asymmetric lens such as a scanning lens of a laser printer can be measured with high accuracy.

【0069】また、試液を収容する容器が測定対象物の
屈折率とほぼ同一の屈折率をもつ光学材料からなる場合
には、容器、透光性固体等を一体化して部品点数を削減
することができるので、被検波が透過する領域の試液を
少なくすることができ、したがって波面収差の影響を除
去でき、より高精度な測定をすることができる。
When the container containing the reagent solution is made of an optical material having a refractive index almost the same as the refractive index of the object to be measured, the container and the translucent solid should be integrated to reduce the number of parts. Therefore, it is possible to reduce the amount of reagent solution in the region through which the test wave is transmitted, and thus it is possible to eliminate the influence of wavefront aberration and perform more accurate measurement.

【0070】また、透光性固体を粉末状として試液中に
混入した場合には、他の構成部品を変更することなく、
測定に対する環境変動の影響を少なくすることができ、
より高精度な測定をすることができる。
When the translucent solid is mixed into the test solution in the form of powder, the other components are not changed,
The influence of environmental changes on the measurement can be reduced,
More accurate measurement can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光学素子の屈折率分布測定装置の
一実施例を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a refractive index distribution measuring apparatus for an optical element according to the present invention.

【図2】セル部分の拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a cell portion.

【図3】CT法の原理説明図である。FIG. 3 is a diagram illustrating the principle of the CT method.

【図4】CT法による演算装置の一実施例を示すブロッ
ク線図である。
FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of an arithmetic unit based on the CT method.

【図5】被検物が回転対象ではない場合に好適なセル部
分の実施例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a cell portion suitable when a test object is not a rotation target.

【図6】セル、オプティカルフラット及びマッチング硝
材を一体化した場合の実施例を示し、(a)は斜視図、
(b)は側面図である。
FIG. 6 shows an embodiment in which a cell, an optical flat and a matching glass material are integrated, (a) is a perspective view,
(B) is a side view.

【図7】粉体のマッチング硝材を用いた場合のセル部分
の実施例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a cell portion when a powder matching glass material is used.

【図8】本発明による光学素子の屈折率分布の測定装置
の他の実施例を示す構成図である。
FIG. 8 is a configuration diagram showing another embodiment of the measuring apparatus of the refractive index distribution of the optical element according to the present invention.

【図9】干渉縞像の例を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of an interference fringe image.

【図10】干渉縞の位相変位量算出装置の一実施例を示
すブロック線図である。
FIG. 10 is a block diagram showing an embodiment of an apparatus for calculating a phase displacement amount of interference fringes.

【図11】(a)、(b)は各々干渉縞検出器の出力信
号の波形例を、(c)、(d)は各々方形波の波形例を
示す説明図である。
11A and 11B are explanatory views showing waveform examples of output signals of the interference fringe detector, and FIGS. 11C and 11D are waveform diagrams of square waves.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源 11 ビームスプリッタ 15 干渉縞検出器(第一の干渉縞検出器) 17 演算処理装置 21 セル 23 回転被検物台 29 オプチカルフラット 31 オプチカルフラット 35 透過波面計測部 37 透過波面量算出部 39 1次元フーリエ変換部 41 極座標−直交座標変換部 43 2次元逆フーリエ変換部 45 屈折率変換部 47 屈折率分布出力部 49 ビームスプリッタ 53 λ/4板 59 第二の干渉縞検出器 69 パルスカウント回路 71 位相変位量算出装置 73 透光性固体 75 第2マッチング硝材 77 セル(マッチング硝材) 83 孔 85 マッチング硝材 A 被検物 B 試液 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 laser light source 11 beam splitter 15 interference fringe detector (first interference fringe detector) 17 arithmetic processing unit 21 cell 23 rotating object table 29 optical flat 31 optical flat 35 transmitted wavefront measurement unit 37 transmitted wavefront amount calculation unit 39 One-dimensional Fourier transform unit 41 Polar coordinate-Cartesian coordinate transform unit 43 Two-dimensional inverse Fourier transform unit 45 Refractive index converter 47 Refractive index distribution output unit 49 Beam splitter 53 λ / 4 plate 59 Second interference fringe detector 69 Pulse counting circuit 71 Phase Displacement Calculator 73 Translucent Solid 75 Second Matching Glass Material 77 Cell (Matching Glass Material) 83 Hole 85 Matching Glass Material A Specimen B Test Solution

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測定対象の光学素子よりなる被検物とこ
の光学素子と屈折率がほぼ同一の透光性固体とを光学素
子と屈折率がほぼ同一の試液中に浸し、 同一光源からの可干渉光を、基準となる参照波と前記光
学素子を透過する被検波とに分割し、 参照波と被検波との重畳による干渉縞像を形成し、 被検物を試液中に浸した状態にて被検波の光軸に対して
直交する軸線周りに回転させ少なくとも二つの回転角位
置の各々にて前記干渉縞像の解析により透過波面を計測
し、 この複数方向からの透過波面の測定結果から光学素子の
屈折率分布を測定することを特徴とする光学素子の屈折
率分布の測定方法。
1. A test object consisting of an optical element to be measured and a translucent solid having a refractive index almost the same as that of the optical element are dipped in a test solution having a refractive index almost the same as that of the optical element, Coherent light is divided into a reference wave that serves as a reference and the test wave that passes through the optical element, and an interference fringe image is formed by superimposing the reference wave and the test wave, and the test object is immersed in the test solution. Measure the transmitted wavefront by analyzing the interference fringe image at each of at least two rotation angle positions by rotating it around an axis orthogonal to the optical axis of the test wave, and measure the transmitted wavefront from multiple directions. A method for measuring the refractive index distribution of an optical element, which comprises measuring the refractive index distribution of the optical element from
【請求項2】 同一光源からの可干渉光を基準となる参
照波と屈折率がほぼ同一の試液中に浸した測定対象の光
学素子よりなる被検物を透過する被検波とに分割し、参
照波と被検波との重畳による干渉縞像を形成する二光束
干渉計と、 前記試液の一部と置換される、光学素子と屈折率がほぼ
同一の透光性固体と、 前記干渉縞像の結像面に配置された干渉縞像検出器と、 前記干渉縞像検出器によって検出された干渉縞像を解析
して透過波面を計測する透過波面計測手段と、 被検物を試液中にて被検波の光軸に対して直交する軸線
周りに回転させる回転手段とを有していることを特徴と
する光学素子の屈折率分布の測定装置。
2. Coherent light from the same light source is divided into a reference wave serving as a reference and a test wave passing through a test object formed of an optical element to be measured, which is immersed in a test solution having a refractive index of approximately the same. A two-beam interferometer that forms an interference fringe image by superimposing a reference wave and a test wave, a translucent solid having a refractive index substantially the same as that of an optical element, which is replaced with a part of the reagent solution, and the interference fringe image An interference fringe image detector disposed on the image plane of the, a transmitted wavefront measuring means for measuring the transmitted wavefront by analyzing the interference fringe image detected by the interference fringe image detector, and the test sample in the test solution. And a rotating means for rotating the optical axis of the test wave around an axis orthogonal to the optical axis of the wave to be detected.
【請求項3】 前記透光性固体は、前記光学素子を収納
する円柱状中空部分を備えていることを特徴とする請求
項2記載の光学素子の屈折率分布の測定装置。
3. The apparatus for measuring the refractive index distribution of an optical element according to claim 2, wherein the light-transmissive solid has a cylindrical hollow portion that houses the optical element.
【請求項4】 前記透光性固体は、前記被検物と組合わ
せた形状がほぼ円柱形状となるような形状に構成されて
いることを特徴とする請求項3記載の光学素子の屈折率
分布の測定装置。
4. The refractive index of the optical element according to claim 3, wherein the translucent solid has a shape such that a shape combined with the object to be inspected becomes a substantially cylindrical shape. Distribution measuring device.
【請求項5】 前記試液を収容する容器は、測定対象物
の屈折率とほぼ同一の屈折率をもつ光学材料からなるこ
とを特徴とする請求項2記載の光学素子の屈折率分布の
測定装置。
5. The apparatus for measuring the refractive index distribution of an optical element according to claim 2, wherein the container containing the reagent solution is made of an optical material having a refractive index substantially the same as the refractive index of the object to be measured. .
【請求項6】 前記透光性固体は、前記試液中に混入さ
れた粉末状の光学材料からなることを特徴とする請求項
2記載の光学素子の屈折率分布の測定装置。
6. The apparatus for measuring the refractive index distribution of an optical element according to claim 2, wherein the translucent solid is made of a powdery optical material mixed in the sample solution.
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