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JPH08287511A - 光ピックアップ装置及び光検出装置 - Google Patents

光ピックアップ装置及び光検出装置

Info

Publication number
JPH08287511A
JPH08287511A JP7092834A JP9283495A JPH08287511A JP H08287511 A JPH08287511 A JP H08287511A JP 7092834 A JP7092834 A JP 7092834A JP 9283495 A JP9283495 A JP 9283495A JP H08287511 A JPH08287511 A JP H08287511A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photodetector
beam splitter
return
order light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7092834A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuhiko Ando
伸彦 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP7092834A priority Critical patent/JPH08287511A/ja
Priority to SG1996010067A priority patent/SG40877A1/en
Priority to US08/633,477 priority patent/US5684780A/en
Priority to CN96105101A priority patent/CN1083599C/zh
Priority to GB9608070A priority patent/GB2300065B/en
Priority to KR1019960011704A priority patent/KR960038784A/ko
Publication of JPH08287511A publication Critical patent/JPH08287511A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 少ない部品点数且つ短い光路長で光学系が構
成された光ピックアップ装置及びこのような光ピックア
ップ装置に好適な光検出装置を提供する。 【構成】 光ピックアップ装置は、記録媒体にレーザ光
を入射して、その戻り光を検出することによって信号を
読み取るものである。そして、本発明の光ピックアップ
装置は、戻り光を入射光の光軸上から取り出す第１のビ
ームスプリッタと、この戻り光を２つに分離する第２の
ビームスプリッタと、第２のビームスプリッタで分離さ
れた戻り光のうちの一方の戻り光を検出する第１の光検
出装置と、第２のビームスプリッタで分離された戻り光
のうちの他方の戻り光を０次光と、０次光と偏光状態が
異なる±１次光とに分離する偏光選択性グレーティング
と、偏光選択性グレーティングからの０次光及び±１次
光を検出する第２の光検出装置とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置や
光ディスク装置等に好適な光ピックアップ装置及び光検
出装置に関する。詳しくは、偏光選択性を有する光学素
子を用いることにより、部品点数を少なくすると共に、
光学系の光路長を短くすることを可能とするものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスク装置や光ディスク装置等
に用いられる光ピックアップ装置は、記録媒体からのＲ
Ｆ信号を検出するための光学系と、フォーカスエラーを
検出するための光学系と、トラッキングエラーを検出す
るための光学系とを備えている。
【０００３】このような光ピックアップ装置の光学系
は、例えば、図１７に示すように、記録媒体に光を入射
させるための往路の光学系が、レーザ光の光源１と、こ
の光源１と記録媒体２を結ぶ光軸上に配されるコリメー
タレンズ３、第１のビームスプリッタ４及び第１の凸レ
ンズ５とから構成される。そして、光源１からの光は、
コリメータレンズ３によって平行光にされた後、第１の
ビームスプリッタ４を透過して第１の凸レンズ５に入射
し、この第１の凸レンズ５によって記録媒体２上に集束
される。
【０００４】さらに、光ピックアップ装置の光学系は、
記録媒体２によって反射されて戻ってくる戻り光を検出
するために、復路の光学系が構成される。この復路の光
学系は、第１のビームスプリッタ４によって取り出され
た記録媒体２からの戻り光を検出するものであり、第１
のビームスプリッタ４によって反射された戻り光の光軸
上に、１／２波長板６と、第２の凸レンズ７と、凹レン
ズ８と、第２のビームスプリッタ９とを備えると共に、
第２のビームスプリッタ９を透過した戻り光を検出する
２分割フォトディテクタ１０と、第２のビームスプリッ
タ９で反射された戻り光を、シリンドリカルレンズ１１
を介した上で検出する４分割フォトディテクタ１２とを
備える。
【０００５】そして、第１のビームスプリッタ４で反射
された戻り光は、１／２波長板６によって偏光面が４５
度回転させられた後、第２の凸レンズ７及び凹レンズ８
によって所定の焦点距離にて集束された上で、第２のビ
ームスプリッタ９に入射する。そして、第２のビームス
プリッタ９を透過した戻り光は、そのまま２分割フォト
ディテクタ１０によって検出される。一方、第２のビー
ムスプリッタ９で反射された戻り光は、シリンドリカル
レンズ１１によって非点収差が生じさせられた上で、４
分割フォトディテクタ１２によって検出される。
【０００６】ここで、２分割フォトディテクタ１０は、
プッシュプル法によってトラッキングエラー信号を検出
するためのものであり、４分割フォトディテクタ１２
は、非点収差法によってフォーカスエラー信号を検出す
るためのものである。また、２分割フォトディテクタ１
０及び４分割フォトディテク１２は、記録媒体２からの
ＲＦ信号の検出にも利用され、例えば、２分割フォトデ
ィテクタ１０のよって検出された信号と、４分割フォト
ディテクタ１２によって検出された信号との差信号が光
磁気信号とされる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述の光ピックアップ
装置では、例えば、フォーカスエラー信号を検出するた
めにシリンドリカルレンズが必要であったり、２分割フ
ォトディテクタ及び４分割フォトディテクタで戻り光を
検出する際の倍率を上げるために、第１の凸レンズと凹
レンズを組み合わせる必要があったりして、多くの部品
を必要としている。そして、このように部品点数が多い
と製造コストが高くなってしまうため、部品点数を削減
することが望まれている。
【０００８】また、上述の光ピックアップ装置では、２
分割フォトディテクタ及び４分割フォトディテクタで戻
り光を検出する際の倍率を上げるために、第１の凸レン
ズと凹レンズを組み合わせているが、このように第１の
凸レンズと凹レンズを組み合わせると、復路の光学系の
光路長が長くなってしまう。そして、光学系の光路長が
長くなってしまうと、装置の小型化の妨げとなってしま
う。そこで、装置を小型化するために、より短い光路長
で光学系を構成できる光ピックアップ装置が望まれてい
る。
【０００９】なお、光ピックアップ装置としては、上述
したものの他に、例えば、ウォラストン偏光プリズムを
用いたものもあるが、このときも同様に、部品点数が多
くなっており、また光路長も長くなってしまっている。
【００１０】また、少ない部品点数且つ短い光路長で光
学系を構成できる光ピックアップ装置として、例えば、
Ｏ plus Ｅの１９９１年３月号において、日本電気株式
会社が、偏光性ホログラム光学素子を用いて戻り光を分
離し、この分離された戻り光を８つのフォトディテクタ
から成る８分割光検出装置で検出する光ピックアップ装
置を提案している。しかしながら、この光ピックアップ
装置では、記録媒体からＲＦ信号を得るために用いられ
る光検出装置を８つに分割しているため、記録媒体から
ＲＦ信号を検出する際のＳ／Ｎが悪くなってしまうとい
う問題がある。さらに、この光ピックアップ装置は、レ
ーザ光の光源や光検出装置等がそれぞれ独立しており、
それぞれが一体化されていないので、小型化が難しいと
いう問題もある。
【００１１】そこで、本発明は、従来のこのような実情
に鑑みて提案されたものであり、少ない部品点数で構成
され、光学系の光路長が短く、記録媒体からＲＦ信号を
検出する際のＳ／Ｎに優れ、各部品を一体化することが
できる光ピックアップ装置、及びこのような光ピックア
ップ装置に好適な光検出装置を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに完成された本発明に係る光ピックアップ装置は、記
録媒体にレーザ光を入射し、記録媒体によって反射され
て戻ってくる戻り光を検出することにより、記録媒体か
ら信号を読み取る光ピックアップ装置であって、記録媒
体に入射する入射光の光軸上に配され、戻り光を入射光
の光軸上から取り出す第１のビームスプリッタと、第１
のビームスプリッタで取り出された戻り光の光軸上に配
され、この戻り光を２つに分離する第２のビームスプリ
ッタと、第２のビームスプリッタで分離された戻り光の
うちの一方の戻り光を検出する第１の光検出装置と、第
２のビームスプリッタで分離された戻り光のうちの他方
の戻り光の光軸上に配され、この戻り光を０次光と、０
次光と偏光状態が異なる±１次光とに分離する偏光選択
性を有する光学素子と、この光学素子からの０次光及び
±１次光を検出する第２の光検出装置とを備えることを
特徴とするものである。
【００１３】また、本発明に係る他の光ピックアップ装
置は、記録媒体にレーザ光を入射し、記録媒体によって
反射されて戻ってくる戻り光を検出することにより、記
録媒体から信号を読み取る光ピックアップ装置であっ
て、戻り光の光軸上に配され、戻り光を２つに分離する
第１のビームスプリッタと、第１のビームスプリッタで
分離された戻り光のうちの一方の戻り光の光軸上に配さ
れ、この戻り光を０次光及び±１次光に分離するグレー
ティングと、グレーティングからの±１次光を検出する
第１の光検出装置と、第１のビームスプリッタで分離さ
れた戻り光のうちの他方の戻り光の光軸上に配され、こ
の戻り光を０次光と、０次光と偏光状態が異なる±１次
光とに分離する偏光選択性を有する光学素子と、この光
学素子からの０次光及び±１次光を検出する第２の光検
出装置とを備えることを特徴とするものである。
【００１４】なお、上記光学素子としては、例えば、グ
レーティングに偏光選択性を持たせた、いわゆる偏光選
択性グレーティングが挙げられる。また、このような偏
光選択性グレーティングとしては、例えば、ホログラム
技術を用いた、いわゆる偏光性ホログラム光学素子が挙
げられる。
【００１５】一方、本発明に係る光検出装置は、記録媒
体にレーザ光を入射し、記録媒体によって反射されて戻
ってくる戻り光を検出することにより、記録媒体から信
号を読み取る光ピックアップ装置に用いられる光検出装
置であって、ビームスプリッタで分離された戻り光のう
ちの一方の戻り光を検出する３つのフォトディテクタ
Ａ，Ｂ，Ｃから成る３分割フォトディテクタを備えると
共に、ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの他
方の戻り光が偏光選択性グレーティングを通過したとき
に生じる０次光と、０次光と偏光状態が異なる±１次光
とについて、０次光を検出する３つのフォトディテクタ
Ｄ，Ｅ，Ｆから成る３分割フォトディテクタと、＋１次
光を検出するフォトディテクタＧと、−１次光を検出す
るフォトディテクタＨとを備える。そして、フォトディ
テクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈによって検出さ
れる光量をそれぞれａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈと
したとき、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエ
ラー信号ＴＥ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤ
ＲＦを、それぞれ下記式（１）、式（２）、式（３）、
式（４）に基づいて得る。
【００１６】 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（１） ＴＥ＝ａ−ｃ ・・・（２） ＭＯＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ） ・・・（３） ＣＤＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）＋（ｇ＋ｈ） ・・・（４） また、本発明に係る他の光検出装置は、記録媒体にレー
ザ光を入射し、記録媒体によって反射されて戻ってくる
戻り光を検出することにより、記録媒体から信号を読み
取る光ピックアップ装置に用いられる光検出装置であっ
て、ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの一方
の戻り光がグレーティングを通過したときに生じる±１
次光について、＋１次光を検出する３つのフォトディテ
クタＡ，Ｂ，Ｃから成る３分割フォトディテクタと、−
１次光を検出する３つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆか
ら成る３分割フォトディテクタを備えると共に、ビーム
スプリッタで分離された戻り光のうちの他方の戻り光が
偏光選択性グレーティングを通過したときに生じる０次
光と、０次光と偏光状態が異なる±１次光とについて、
０次光を検出するフォトディテクタＧと、＋１次光を検
出するフォトディテクタＨと、−１次光を検出するフォ
トディテクタＩとを備える。そして、フォトディテクタ
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉによって検出され
る光量をそれぞれａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉ
としたとき、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキング
エラー信号ＴＥ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号Ｃ
ＤＲＦを、それぞれ下記式（５）、式（６）、式
（７）、式（８）に基づいて得る。
【００１７】 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（５） ＴＥ＝（ａ−ｃ）＋（ｄ−ｆ） ・・・（６） ＭＯＲＦ＝ｇ−（ｈ＋ｉ） ・・・（７） ＣＤＲＦ＝ｇ＋（ｈ＋ｉ） ・・・（８）
【００１８】
【作用】本発明に係る光ピックアップ装置では、第１の
ビームスプリッタにより、記録媒体からの戻り光が入射
光の光軸上から取り出され、第２のビームスプリッタに
より、第１のビームスプリッタで取り出された戻り光が
２つに分離され、第１の光検出装置により、第２のビー
ムスプリッタで分離された戻り光のうちの一方の戻り光
が検出される。そして、偏光選択性を有する光学素子に
より、第２のビームスプリッタで分離された戻り光のう
ちの他方の戻り光が、０次光と、０次光と偏光状態が異
なる±１次光とに分離され、第２の光検出装置により、
この光学素子からの０次光及び±１次光が検出される。
【００１９】また、本発明に係る他の光ピックアップ装
置では、第１のビームスプリッタにより、記録媒体から
の戻り光が２つに分離され、グレーティングにより、第
１のビームスプリッタで分離された戻り光のうちの一方
の戻り光が０次光及び±１次光に分離され、第１の光検
出装置により、グレーティングからの±１次光が検出さ
れる。そして、偏光選択性を有する光学素子により、第
１のビームスプリッタで分離された戻り光のうちの他方
の戻り光が０次光と、０次光と偏光状態が異なる±１次
光とに分離され、第２の光検出装置により、この光学素
子からの０次光及び±１次光が検出される。
【００２０】一方、本発明に係る光検出装置では、ビー
ムスプリッタで分離された戻り光のうちの一方の戻り光
が３つのフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃから成る３分割フ
ォトディテクタによって検出されると共に、ビームスプ
リッタで分離された戻り光のうちの他方の戻り光が偏光
選択性グレーティングを通過したときに生じる回折光に
ついて、０次光が３つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆか
ら成る３分割フォトディテクタによって検出され、±１
次光がフォトディテクタＧ及びフォトディテクタＨによ
ってそれぞれ検出される。そして、フォーカスエラー信
号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、及び光磁気信号
ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤＲＦが、それぞれ上記式
（１）、式（２）、式（３）、式（４）に基づいて得ら
れる。
【００２１】また、本発明に係る他の光検出装置では、
ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの一方の戻
り光がグレーティングを通過したときに生じる回折光に
ついて、＋１次光が３つのフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ
から成る３分割フォトディテクタによって検出され、−
１次光が３つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆから成る３
分割フォトディテクタによって検出されると共に、ビー
ムスプリッタで分離された戻り光のうちの他方の戻り光
が偏光選択性グレーティングを通過したときに生じる回
折光について、０次光がフォトディテクタＧによって検
出され、±１次光がフォトディテクタＨ及びフォトディ
テクタＩによってそれぞれ検出される。そして、フォー
カスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、及
び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤＲＦが、それぞれ
上記式（５）、式（６）、式（７）、式（８）に基づい
て得られる。
【００２２】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２３】実施例１ 本実施例の光ピックアップ装置は、図１及び図２に示す
ように、記録媒体２１にレーザ光を入射し、記録媒体２
１によって反射されて戻ってくる戻り光を検出すること
により、記録媒体２１からのＲＦ信号を読み取ると共
に、トラッキング制御及びフォーカシング制御を行う光
ピックアップ装置２２である。
【００２４】この光ピックアップ装置２２は、図３に示
すように、記録媒体２１に向けてレーザ光を出射する発
光部２３、適切な光学系を構成するための複合プリズム
２４、及び記録媒体２１からの戻り光等を検出する受光
部２５が一体となった複合素子２６と、複合素子２６か
ら出射するレーザ光の光軸上に配され、このレーザ光を
記録媒体２１の記録面２１ａ上に集束させるレンズ２７
とを備える。
【００２５】上記複合素子２６について図４に拡大して
示す。図４に示すように、複合素子２６は、発光部２３
として、記録媒体２１に向けてレーザ光を出射する光源
２３ａを備える。この光源２３ａからのレーザ光の出射
方向は、直接記録媒体２１に向かう方向となっている必
要はなく、例えば、図５に示すように、光源２３ａから
のレーザ光が、ミラー２３ｂによって反射されて、記録
媒体２１に向かう方向となるようにしてもよい。このよ
うにレーザ光がミラー２３ｂ等を介して記録媒体２１に
向かうようにすれば、光源２３ａの位置の自由度が高く
なるので、複合素子２６をより小さくまとめることが可
能となる。
【００２６】一方、複合素子２６の複合プリズム２４
は、図４に示すように、光源２３ａから出射するレーザ
光の光軸上に配されるものであり、第１のプリズム２４
ａと、第１のプリズム２４ａと第１の偏光膜を介して接
合された第２のプリズム２４ｂと、第２のプリズム２４
ｂと第２の偏光膜を介して接合された第３のプリズム２
４ｃと、第３のプリズム２４ｃに取り付けられた偏光選
択性グレーティング２４ｄとを備える。そして、第１の
偏光膜部分が、入射してきた光を透過光と反射光に分離
する第１のビームスプリッタ２４ｅになっており、第２
の偏光膜部分が、入射してきた光を透過光と反射光に分
離する第２のビームスプリッタ２４ｆとなっている。
【００２７】ここで、第１のビームスプリッタ２４ｅ
は、光源２３ａから記録媒体２１に入射する入射光の光
軸上に配され、入射光を透過光と反射光に分離すると共
に、記録媒体２１からの戻り光を入射光の光軸上から取
り出す。一方、第２のビームスプリッタ２４ｆは、第１
のビームスプリッタ２４ｅで取り出された戻り光の光軸
上に配され、この戻り光を第２のビームスプリッタ２４
ｆを透過する戻り光と反射される戻り光の２つに分割す
る。ここで、第２のビームスプリッタ２４ｆによる戻り
光の分離方向は、例えば、記録媒体２１のトラック方向
に直交する方向に相当するようにする。そして、偏光選
択性グレーティング２４ｄは、第２のビームスプリッタ
２４ｆを透過した戻り光の光軸上に、図６に示すよう
に、０次光ＬＢ０がこの戻り光ＬＢの偏光方向ＨＢに対
して＋４５度の偏光方向ＨＢ０となり、±１次光ＬＢ
１，ＬＢ２がこの戻り光ＬＢの偏光方向ＨＢに対して−
４５度の偏光方向ＨＢ１，ＨＢ２となるように配され、
この戻り光ＬＢを、０次光ＬＢ０と、０次光ＬＢ０と偏
光方向が直交する±１次光ＬＢ１，ＬＢ２とに分離す
る。
【００２８】なお、このような複合プリズム２４に用い
られる偏光選択性グレーティング２４としては、例え
ば、複屈折媒体に格子を形成したものを用いればよい。
このような偏光選択性グレーティングでは、複屈折媒体
によって入射光が偏光状態の異なる常光線と異常光線と
に分離されると共に、格子によって入射光が回折されて
０次光と±１次光とに分離される。また、このような偏
光選択性グレーティングは、例えば、ホログラム技術を
用いて作られた偏光性ホログラム光学素子であってもよ
い。
【００２９】そして、複合素子２６の受光部２５は、図
４に示すように、第２のビームスプリッタ２４ｆで反射
された戻り光の光軸上に配される第１の光検出装置２５
ａと、第２のビームスプリッタ２４ｆを透過して偏光選
択性グレーティング２４ｄで分離された戻り光の光軸上
に配される第２の光検出装置２５ｂと、第１のビームス
プリッタ２４ｅで反射された入射光の光軸上に配される
第３の光検出装置２５ｃとを備える。
【００３０】ここで、第１の光検出装置２５ａは、図７
に示すように、受光領域が平行に分割された３つのフォ
トディテクタＡ，Ｂ，Ｃから成る３分割フォトディテク
タＡＢＣを備え、第２のビームスプリッタ２４ｆで反射
された戻り光ＬＡの光軸がフォトディテクタＢの中心に
一致するように配される。一方、第２の光検出装置２５
ｂは、第２のビームスプリッタ２４ｆを透過した戻り光
ＬＢが偏光選択性グレーティング２４ｄを通過したとき
に生じる０次光ＬＢ０の光軸上に配されるフォトディテ
クタＤＥＦと、±１次光ＬＢ１，ＬＢ２の光軸上にそれ
ぞれ配されるフォトディテクタＧ及びフォトディテクタ
Ｈとを備える。ここで、０次光ＬＢ０の光軸上に配され
るフォトディテクタＤＥＦは、受光領域が平行に分割さ
れた３つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆから成る３分割
フォトディテクタであり、０次光ＬＢ０の光軸がフォト
ディテクタＥの中心に一致するように配される。
【００３１】このような光ピックアップ装置では、必要
な部品が少なくて済み、さらには、光学系の光路長を短
くすることができる。特に、発光部２３、複合プリズム
２４及び受光部２５を上述のように複合素子２６として
一体化することにより、光学系の光路長を非常に短くし
て、全体の大きさを非常にコンパクトなものとすること
ができる。
【００３２】このような光ピックアップ装置で記録媒体
から信号を読み出す際は、図４に示すように、光源２３
ａからレーザ光が出射される。このレーザ光は複合プリ
ズム２４の第１のプリズム２４ａに入射し、第１のビー
ムスプリッタ２４ｅによって透過光と反射光に分離され
る。そして、この反射光は、第１のプリズム２４ａ内で
反射されて、第１のプリズム２４ａから第３の光検出装
置２５ｃに向かって出射して、この第３の光検出装置２
５ｃによって検出される。ここで、第３の光検出装置２
５ｃは、光源２３ａからのレーザ光のパワーをモニター
するためのものであり、ここで検出された光量に基づい
て光源２３ａからのレーザ光のパワーが制御される。こ
れにより、この光ピックアップ装置では、レーザ光のパ
ワーを常に適切なレベルとすることができる。
【００３３】一方、第１のビームスプリッタ２４ｅを透
過した透過光は、第２のプリズム２４ｂから出射して、
図３に示すように、レンズ２７に入射し、このレンズ２
７によって記録媒体２１の記録面２１ａ上に集束され
る。そして、記録媒体２１の記録面２１ａ上に入射した
入射光は、記録媒体２１の記録面２１ａによって反射さ
れて、記録媒体２１からの信号を含んだ戻り光となる。
【００３４】この戻り光は、入射光の逆の経路で、レン
ズ２７を介して複合プリズム２４の第２のプリズム２４
ｂに入射する。第２のプリズム２４ｂに入射した戻り光
は、図４に示すように、第１のビームスプリッタ２４ｅ
によって反射され、第２のビームスプリッタ２４ｆに向
かう。そして、第１のビームスプリッタ２４ｅによって
反射された戻り光は、第２のビームスプリッタ２４ｆに
より、第２のビームスプリッタ２４ｆを透過する戻り光
ＬＢと、第２のビームスプリッタ２４ｆで反射される戻
り光ＬＡとに分離される。
【００３５】なお、第１のビームスプリッタ２４ｅ及び
／又は第２のビームスプリッタ２４ｆには、エンハンス
効果を持たせた方がよい。第１のビームスプリッタ２４
ｅ及び／又は第２のビームスプリッタ２４ｆにエンハン
ス効果を持たせると、これらのビームスプリッタによっ
て反射される戻り光がエンハンス効果を受けるため、記
録媒体からの信号のＣ／Ｎの劣化を防止することができ
る。
【００３６】そして、第２のビームスプリッタ２４ｆで
反射された戻り光ＬＡは、第２のプリズム２４ｂから第
１の光検出装置２５ａに向かって出射して、図７に示し
たように、第１の光検出装置２５ａのフォトディテクタ
Ａ，Ｂ，Ｃによって検出される。
【００３７】一方、第２のビームスプリッタ２４ｆを透
過した戻り光ＬＢは、図４に示すように、第３のプリズ
ム２４ｃに入射し、この第３のプリズム２４ｃ内で反射
されて、偏光選択性グレーティング２４ｄを介して、第
２の光検出装置２５ｂに向かって出射する。ここで、こ
の戻り光ＬＢは、偏光選択性グレーティング２４ｄによ
って回折して、０次光ＬＢ０と、０次光ＬＢ０と偏光方
向が直交する±１次光ＬＢ１，ＬＢ２とに分離される。
そして、図７に示したように、偏光選択性グレーティン
グ２４ｄからの０次光ＬＢ０は、第２の光検出装置２５
ｂのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆによって検出され、±
１次光ＬＢ１，ＬＢ２は、第２の光検出装置２５ｂのフ
ォトディテクタＧ及びフォトディテクタＨによってそれ
ぞれ検出される。
【００３８】なお、上述したように記録媒体２１のトラ
ック方向が第２のビームスプリッタ２４ｆによる戻り光
の分離方向に直交する方向に相当しているので、図７に
示すように、フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ、フォトディ
テクタＧ、フォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆ及びフォトディ
テクタＨの配列方向は、記録媒体２１のトラック方向Ｔ
に直交する方向に相当している。また、図７に示すよう
に、フォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆに入射する戻り光の偏
光方向ＨＢ０は、フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃに入射す
る戻り光の偏光方向ＨＡに対して＋４５度の方向であ
り、フォトディテクタＧ及びフォトディテクタＨに入射
する戻り光の偏光方向ＨＢ１，ＨＢ２は、フォトディテ
クタＡ，Ｂ，Ｃに入射する戻り光の偏光方向ＨＡに対し
て−４５度の方向である。
【００３９】このようなフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈによって検出される光量をそれぞれ
ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈとすると、入射光の記
録媒体２１の記録面２１ａ上における焦点ずれの量を示
すフォーカスエラー信号ＦＥと、入射光の記録媒体２１
の記録面２１ａ上におけるトラックずれの量を示す、プ
ッシュプル法に基づくトラッキングエラー信号ＴＥと、
記録媒体２１からのＲＦ信号である光磁気信号ＭＯＲＦ
又は光信号ＣＤＲＦとは、下記式（１−１）、式（１−
２）、式（１−３）、式（１−４）によって得られる。
【００４０】 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（１−１） ＴＥ＝ａ−ｃ ・・・（１−２） ＭＯＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ） ・・・（１−３） ＣＤＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）＋（ｇ＋ｈ） ・・・（１−４） ここで、フォーカスエラーの大きさとフォーカスエラー
信号の関係を示すいわゆるＳ字曲線のｐｐ値は、第２の
ビームスプリッタ２４ｆと偏光選択性グレーティング２
４ｄの間の光路長と、レンズ２７の縦倍率とによって定
まる。
【００４１】このような光ピックアップ装置では、光磁
気信号ＭＯＲＦや光信号ＣＤＲＦのもととなる光量は、
５つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈによって検
出される。したがって、このような光ピックアップ装置
では、フォトディテクタの分割数が少ないので、記録媒
体２１からＲＦ信号を検出する際のＳ／Ｎが優れたもの
となる。
【００４２】なお、本実施例では、偏光選択性グレーテ
ィング２４ｄによる回折方向を、第２のビームスプリッ
タ２４ｆによる戻り光の分離方向と同じ方向として、第
２のビームスプリッタ２４ｆで反射された戻り光ＬＡ
と、第２のビームスプリッタ２４ｆを透過して偏光選択
性グレーティング２４ｄによって回折された０次光ＬＢ
０及び±１次光ＬＢ１，ＬＢ２とが一列に並ぶようにし
たが、これに限られるものではなく、例えば、偏光選択
性グレーティング２４ｄによる回折方向を、第２のビー
ムスプリッタ２４ｆによる戻り光の分離方向と直交する
方向として、第２の光検出装置２５ｂのフォトディテク
タＧ及びフォトディテクタＨをフォトディテクタＤ，
Ｅ，Ｆの左右に配するようにしてもよい。
【００４３】実施例２ 本実施例の光ピックアップ装置は、記録媒体に３本のレ
ーザ光を入射してトラッキングエラーを検出する、いわ
ゆる３スポット法を用いた光ピックアップ装置であり、
光源からのレーザ光を記録媒体に入射する前に０次光及
び±１次光に分離するグレーティングと、第１の光検出
装置のフォトディテクタとして、このグレーティングか
らの±１次光を検出するフォトディテクタとを備えてい
る他は、実施例１の光ピックアップ装置と同様に構成さ
れる。
【００４４】すなわち、本実施例の光ピックアップ装置
は、例えば、図８に示すように、光源２３ａからのレー
ザ光が入射される第１のプリズム２４ａの底面部分にグ
レーティング２４ｇが取り付けられると共に、図９に示
すように、第１の光検出装置２５ａのフォトディテクタ
Ａ，Ｂ，Ｃの両側、すなわちグレーティング２４ｇから
の±１次光であって第２のビームスプリッタ２４ｆで反
射された戻り光の光軸上に、フォトディテクタＩ，Ｊが
追加される。
【００４５】このとき、第１の検出装置２５ａ及び第２
の光検出装置２５ｂ上でのスポットパターンは、例え
ば、図９に示すように、グレーティング２４ｇによる回
折光のうちの０次光ＬＡ００，ＬＢ００，ＬＢ１０，Ｌ
Ｂ２０が、上述の実施例と同様に、第１の光検出装置２
５ａのフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ、及び第２の光検出
装置２５ｂのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆ、フォトディ
テクタＧ、フォトディテクタＨにそれぞれ入射すると共
に、グレーティング２４ｇによる回折光のうちの±１次
光ＬＡ０１，ＬＡ０２，ＬＢ０１，ＬＢ０２，ＬＢ１
１，ＬＢ１２，ＬＢ２１，ＬＢ２２が、０次光ＬＡ０
０，ＬＢ００，ＬＢ１０，ＬＢ２０の両側に入射する。
そして、第２のビームスプリッタ２４ｆで反射された戻
り光のうち、グレーティング２４ｇからの±１次光ＬＡ
０１，ＬＡ０２が、第１の光検出装置２５ｂのフォトデ
ィテクタＩ及びフォトディテクタＪに入射する。
【００４６】このような光ピックアップ装置において
は、記録媒体２１からのＲＦ信号とフォーカスエラー信
号は上述の実施例１と同様であるが、トラッキングエラ
ーについては、３スポット法に基づくトラッキングエラ
ー信号ＴＥと、プッシュプル法に基づくプッシュプル信
号ＰＰとを、それぞれ取り出すことが可能となる。すな
わち、フォトディテクタＡ，Ｃ，Ｉ，Ｊによって検出さ
れる光量をそれぞれａ，ｃ，ｉ，ｊとすると、３スポッ
ト法に基づくトラッキングエラー信号ＴＥは下記式（２
−１）によって得られ、プッシュプル法に基づくプッシ
ュプル信号ＰＰは下記式（２−２）によって得られる。
【００４７】 ＴＥ＝ｉ−ｊ ・・・（２−１） ＰＰ＝ａ−ｃ ・・・（２−２）実施例３ 本実施例の光ピックアップ装置は、記録媒体からの戻り
光をグレーティングで分割して検出する光ピックアップ
装置であり、第２のビームスプリッタで反射された戻り
光を回折して０次光及び±１次光に分離するグレーティ
ングを備えると共に、このように戻り光がグレーティン
グによって分割されるのに伴って複合素子の受光部のフ
ォトディテクタパターンが変更される他は、実施例１の
光ピックアップ装置と同様に構成される。
【００４８】すなわち、本実施例の光ピックアップ装置
は、例えば、図１０に示すように、複合プリズム２４の
第２のプリズム２４ｂの底面部分であって、第２のビー
ムスプリッタ２４ｆで反射される戻り光の光軸上に、グ
レーティング２４ｈが取り付けられる。そして、図１１
に示すように、複合素子２６の第１の光検出装置２５ａ
は、グレーティング２４ｈからの±１次光ＬＡ１，ＬＡ
２の光軸上にそれぞれ配される２つのフォトディテクタ
ＡＢＣ，ＤＥＦを備え、第２の光検出装置２４ｂは、偏
光選択性グレーティング２４ｄからの０次光ＬＢ０の光
軸上に配されるフォトディテクタＧと、偏光選択性グレ
ーティング２４ｄからの±１次光ＬＢ１，ＬＢ２の光軸
上にそれぞれ配されるフォトディテクタＨ及びフォトデ
ィテクタＩを備える。ここで、第１の光検出装置２５ａ
の２つのフォトディテクタＡＢＣ，ＤＥＦは、それぞれ
受光領域が平行に分割された３分割フォトディテクタで
あり、それぞれ３つのフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ及び
フォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆを備え、グレーティング２
４ｈからの±１次光ＬＡ１，ＬＡ２の光軸が、それぞれ
フォトディテクタＢ及びフォトディテクタＥの中心に一
致するように配される。
【００４９】なお、本実施例では、複合素子２６を図１
０の矢印Ａ方向から見た図１２、及び図１０の矢印Ｂ方
向から見た図１３に示すように、グレーティング２４ｈ
による回折方向、すなわちグレーティング２４ｈからの
＋１次光ＬＡ１、０次光ＬＡ０及び−１次光ＬＡ２が並
ぶ方向と、偏光選択性グレーティング２４ｄによる回折
方向、すなわち偏光選択性グレーティング２４ｄからの
＋１次光ＬＢ１、０次光ＬＢ０及び−１次光ＬＢ２が並
ぶ方向とを同じ方向にすると共に、これらの回折方向と
第２のビームスプリッタ２４ｆによる戻り光の分離方向
を直交する方向とした。したがって、図１１に示すよう
に、複合素子２６の検出部２５は、これらの各光線に各
フォトディテクタが対応するように、第１の検出装置２
５ａのフォトディテクタＡＢＣとフォトディテクタＤＥ
Ｆが横に並べられると共に、このような第１の検出装置
２５ａの下に、第２の検出装置２５ｂのフォトディテク
タＨ、フォトディテクタＧ及びフォトディテクタＩがこ
の順に横に並べられる。
【００５０】したがって、第１の検出装置２５ａ及び２
の光検出装置２５ｂ上でのスポットパターンは、図１１
に示すように、グレーティング２４ｈによる回折光のう
ちの±１次光ＬＡ１，ＬＡ２が、第１の光検出装置２５
ａのフォトディテクタＡＢＣ及びフォトディテクタＤＥ
Ｆにそれぞれ入射すると共に、偏光選択性グレーティン
グ２４ｄによる回折光のうちの０次光ＬＢ０が、第２の
光検出装置２５ｂのフォトディテクタＧに入射し、偏光
選択性グレーティング２４ｄによる回折光のうちの±１
次光ＬＢ１，ＬＢ２が、第２の光検出装置２５ｂのフォ
トディテクタＨ及びフォトディテクタＩにそれぞれ入射
する。
【００５１】このような光ピックアップ装置において、
フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ
によって検出される光量をそれぞれａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，Ｉとすると、フォーカスエラー信号Ｆ
Ｅ、プッシュプル法に基づくトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤＲＦは、下
記式（３−１）、式（３−２）、式（３−３）、式（３
−４）によって得られる。
【００５２】 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（３−１） ＴＥ＝（ａ−ｃ）＋（ｄ−ｆ） ・・・（３−２） ＭＯＲＦ＝ｇ−（ｈ＋ｉ） ・・・（３−３） ＣＤＲＦ＝ｇ＋（ｈ＋ｉ） ・・・（３−４） 本実施例の光ピックアップ装置では、光磁気信号ＭＯＲ
Ｆや光信号ＣＤＲＦのもととなる光量は、３つのフォト
ディテクタＧ，Ｈ，Ｉによって検出される。したがっ
て、本実施例の光ピックアップ装置では、フォトディテ
クタの分割数が非常に少ないので、記録媒体からＲＦ信
号を検出する際のＳ／Ｎが非常に優れたものとなる。
【００５３】実施例４ 本実施例の光ピックアップ装置は、ビームスプリッタを
１つだけ備える光ピックアップ装置であり、複合プリズ
ムから第２のプリズムを除いて、第１のプリズムと第３
のプリズムを直接接合し、ビームスプリッタを１つだけ
とする他は、実施例３の光ピックアップ装置と同様に構
成される。
【００５４】すなわち、本実施例の光ピックアップ装置
の複合プリズムは、例えば、図１４に示すように、第１
のプリズム２４ａと、第１のプリズム２４ａと偏光膜を
介して接合された第３のプリズム２４ｃと、第１のプリ
ズム２４ａに取り付けられたグレーティング２４ｈと、
第３のプリズム２４ｃに取り付けられた偏光選択性グレ
ーティング２４ｄとを備える。そして、第１のプリズム
２４ａと第３のプリズム２４ｄの間の偏光膜部分が入射
してきた光を透過光と反射光に分離するビームスプリッ
タ２４ｉとなっている。このように、ビームスプリッタ
を１つだけとすると、複合素子２４をよりコンパクトに
まとめることが可能となるので、光ピックアップ装置を
より小型にすることが可能となる。
【００５５】また、複合プリズム２４をこのような構成
としたことに伴って、複合素子２６の受光部２５の第１
の光検出装置２５ａ及び第２の光検出装置２５ｂの位置
も変更される。すなわち、第１の検出装置２５ａは、グ
レーティング２４ｈからの回折光を検出するように、発
光部２３の近傍に配され、第２の検出装置２５ｂは、偏
光選択性グレーティング２４ｄからの回折光を検出する
ように、実施例３のときよりも発光部２３に近い位置に
配される。
【００５６】すなわち、複合素子２６を図１４の矢印Ｃ
方向から見た図１５に示すように、グレーティング２４
ｈからの±１次光ＬＡ１，ＬＡ２が第１の検出装置２５
ａのフォトディテクタＡＢＣ及びフォトディテクタＤＥ
Ｆにそれぞれ入射するように、フォトディテクタＡＢＣ
及びフォトディテクタＤＥＦは、発光部２３を挟むよう
に配される。そして、複合素子２６を図１４の矢印Ｄ方
向から見た図１６に示すように、偏光選択性グレーティ
ング２４ｄからの０次光ＬＢ０が第２の検出装置２５ｂ
のフォトディテクタＧに入射し、偏光選択性グレーティ
ング２４ｄからの±１次光ＬＢ１，ＬＢ２が第２の検出
装置２５ｂのフォトディテクタＨ及びフォトディテクタ
Ｉにそれぞれ入射するように、フォトディテクタＨ、フ
ォトディテクタＧ及びフォトディテクタＩはこの順に、
第１の検出装置２５ａのフォトディテクタＡＢＣ及びフ
ォトディテクタＤＥＦと平行に配される。
【００５７】このような光ピックアップ装置で記録媒体
から信号を読み出す際は、図１４に示すように、発光部
２３からレーザ光が出射される。このレーザ光は複合プ
リズム２４の第１のプリズム２４ａに入射し、ビームス
プリッタ２４ｉによって透過光と反射光に分離される。
そして、この反射光は、上述の実施例と同様に、第１の
プリズム２４ａ内で反射されて、第１のプリズム２４ａ
から第３の光検出装置２５ｃに向かって出射して、この
第３の光検出装置２５ｃによって検出される。一方、ビ
ームスプリッタ２４ｉを透過した透過光は、第３のプリ
ズム２４ｃから出射する。この第３のプリズム２４ｃか
らの出射光は、上述の実施例における第２のプリズム２
４ｂからの出射光と同様に、記録媒体２１に入射した
後、記録媒体２１の記録面２１ａによって反射されて、
記録媒体２１からの信号を含んだ戻り光となる。
【００５８】この戻り光は、入射光の逆の経路で、第３
のプリズム２４ｃに入射する。第３のプリズム２４ｃに
入射した戻り光は、ビームスプリッタ２４ｉにより、ビ
ームスプリッタ２４ｉを透過する戻り光と、ビームスプ
リッタ２４ｉで反射される戻り光とに分離される。
【００５９】そして、ビームスプリッタ２４ｉを透過し
た戻り光は、第３のプリズム２４ｃからグレーティング
２４ｈを介して第１の光検出装置２５ａに向かって出射
する。このとき、この戻り光は、グレーティング２４ｈ
によって回折して０次光と±１次光に分離され、図１５
に示すように、±１次光ＬＡ１，ＬＡ２が第１の光検出
装置２５ａのフォトディテクタＡＢＣ及びフォトディテ
クタＤＥＦによって検出される。
【００６０】一方、ビームスプリッタ２４ｉで反射され
た戻り光は、図１４に示すように、第３のプリズム２４
ｃ内で反射されて、第３のプリズム２４ｃから偏光選択
性グレーティング２４ｄを介して第２の光検出装置２５
ｂに向かって出射する。このとき、この戻り光は、図１
６に示すように、偏光選択性グレーティング２４ｄによ
って回折して、０次光ＬＢ０と、０次光ＬＢ０と偏光方
向が直交する±１次光ＬＢ１，ＬＢ２とに分離される。
そして、偏光選択性グレーティング２４ｄからの０次光
ＬＢ０は、第２の光検出装置２５ｂのフォトディテクタ
Ｇによって検出され、±１次光ＬＢ１，ＬＢ２は、それ
ぞれ第２の光検出装置２５ｂのフォトディテクタＨ及び
フォトディテクタＩによって検出される。
【００６１】そして、このような光ピックアップ装置に
おいても、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエ
ラー信号ＴＥ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤ
ＲＦを、実施例３と同様に得ることができる。
【００６２】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の光ピックアップ装置及び光検出装置では、光学系を
少ない部品点数で構成することが可能である。したがっ
て、製造コストを低減することができる。また、本発明
の光ピックアップ装置及び光検出装置では、光学系の光
路長を短くすることができるので、装置を小型化するこ
とが可能となる。特に、各部品を複合素子として一体化
すると、装置を非常に小型化することができる。
【００６３】さらに、本発明では、記録媒体からのＲＦ
信号の検出に用いられるフォトディテクタの分割数が少
ないので、記録媒体からＲＦ信号を検出する際のＳ／Ｎ
が優れている。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明を適用した光ピックアップ装置と記録
媒体の一例を模式的に示す要部側面図である。
【図２】 図１に示す光ピックアップ装置と記録媒体を
上から見た状態を模式的に示す要部平面図である。
【図３】 本発明を適用した光ピックアップ装置の一構
成例を示す平面図である。
【図４】 図３に示す光ピックアップ装置の複合素子を
拡大して示す平面図である。
【図５】 図４に示す複合素子の発光部の一例を示す平
面図である。
【図６】 図４に示す複合素子の偏光選択性グレーティ
ングによる回折の様子を示す模式図である。
【図７】 図４に示す複合素子の第１及び第２の光検出
装置を拡大して示す平面図である。
【図８】 本発明を適用した光ピックアップ装置の複合
素子の他の例を示す平面図である。
【図９】 図８に示す複合素子の第１及び第２の光検出
装置を拡大して示す平面図である。
【図１０】 本発明を適用した光ピックアップ装置の複
合素子の他の例を示す平面図である。
【図１１】 図１０に示す複合素子の第１及び第２の光
検出装置を拡大して示す平面図である。
【図１２】 図１０に示す複合素子のグレーティングに
よる回折の様子を図１０の矢印Ａの方向から見た側面図
である。
【図１３】 図１０に示す複合素子の偏光選択性グレー
ティングによる回折の様子を図１０の矢印Ｂの方向から
見た側面図である。
【図１４】 本発明を適用した光ピックアップ装置の複
合素子の他の例を示す平面図である。
【図１５】 図１４に示す複合素子のグレーティングに
よる回折の様子を図１４の矢印Ｃの方向から見た側面図
である。
【図１６】 図１４に示す複合素子の偏光選択性グレー
ティングによる回折の様子を図１４の矢印Ｄの方向から
見た側面図である。
【図１７】 従来の光ピックアップ装置の一構成例を示
す平面図である。
【符号の説明】
２１ 記録媒体 ２２ 光ピックアップ装置 ２３ 発光部 ２３ａ 光源 ２３ｂ ミラー ２４ 複合プリズム ２４ａ 第１のプリズム ２４ｂ 第２のプリズム ２４ｃ 第３のプリズム ２４ｄ 偏光選択性グレーティング ２４ｅ 第１のビームスプリッタ ２４ｆ 第２のビームスプリッタ ２４ｇ グレーティング ２４ｈ グレーティング ２４ｉ ビームスプリッタ ２５ 受光部 ２５ａ 第１の光検出装置 ２５ｂ 第２の光検出装置 ２５ｃ 第３の光検出装置 ２６ 複合素子 ２７ レンズ Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ フォトディ
テクタ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 記録媒体にレーザ光を入射し、上記記録
    媒体によって反射されて戻ってくる戻り光を検出するこ
    とにより、上記記録媒体から信号を読み取る光ピックア
    ップ装置において、 上記記録媒体に入射する入射光の光軸上に配され、戻り
    光を入射光の光軸上から取り出す第１のビームスプリッ
    タと、 上記第１のビームスプリッタで取り出された戻り光の光
    軸上に配され、この戻り光を２つに分離する第２のビー
    ムスプリッタと、 上記第２のビームスプリッタで分離された戻り光のうち
    の一方の戻り光を検出する第１の光検出装置と、 上記第２のビームスプリッタで分離された戻り光のうち
    の他方の戻り光の光軸上に配され、この戻り光を０次光
    と、０次光と偏光状態が異なる±１次光とに分離する偏
    光選択性を有する光学素子と、 上記光学素子からの０次光及び±１次光を検出する第２
    の光検出装置とを備えることを特徴とする光ピックアッ
    プ装置。
  2. 【請求項２】 記録媒体にレーザ光を入射し、上記記録
    媒体によって反射されて戻ってくる戻り光を検出するこ
    とにより、上記記録媒体から信号を読み取る光ピックア
    ップ装置において、 戻り光の光軸上に配され、戻り光を２つに分離する第１
    のビームスプリッタと、 上記第１のビームスプリッタで分離された戻り光のうち
    の一方の戻り光の光軸上に配され、この戻り光を０次光
    及び±１次光に分離するグレーティングと、 上記グレーティングからの±１次光を検出する第１の光
    検出装置と、 上記第１のビームスプリッタで分離された戻り光のうち
    の他方の戻り光の光軸上に配され、この戻り光を０次光
    と、０次光と偏光状態が異なる±１次光とに分離する偏
    光選択性を有する光学素子と、 上記光学素子からの０次光及び±１次光を検出する第２
    の光検出装置とを備えることを特徴とする光ピックアッ
    プ装置。
  3. 【請求項３】 前記記録媒体に入射する入射光の光軸上
    に配され、戻り光を入射光の光軸上から取り出す第２の
    ビームスプリッタを備え、 前記第１のビームスプリッタが、上記第２のビームスプ
    リッタで取り出された戻り光の光軸上に配されているこ
    とを特徴とする請求項２記載の光ピックアップ装置。
  4. 【請求項４】 記録媒体にレーザ光を入射し、上記記録
    媒体によって反射されて戻ってくる戻り光を検出するこ
    とにより、上記記録媒体から信号を読み取る光ピックア
    ップ装置に用いられる光検出装置であって、 ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの一方の戻
    り光を検出する３つのフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃから
    成る３分割フォトディテクタを備えると共に、 上記ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの他方
    の戻り光が偏光選択性グレーティングを通過したときに
    生じる０次光と、０次光と偏光状態が異なる±１次光と
    について、０次光を検出する３つのフォトディテクタ
    Ｄ，Ｅ，Ｆから成る３分割フォトディテクタと、＋１次
    光を検出するフォトディテクタＧと、−１次光を検出す
    るフォトディテクタＨとを備え、 上記フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ
    によって検出される光量をそれぞれａ，ｂ，ｃ，ｄ，
    ｅ，ｆ，ｇ，ｈとしたとき、 フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号Ｔ
    Ｅ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤＲＦを、そ
    れぞれ下記式（１）、式（２）、式（３）、式（４）に
    基づいて得ることを特徴とする光検出装置。 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（１） ＴＥ＝ａ−ｃ ・・・（２） ＭＯＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ） ・・・（３） ＣＤＲＦ＝（ｄ＋ｅ＋ｆ）＋（ｇ＋ｈ） ・・・（４）
  5. 【請求項５】 記録媒体にレーザ光を入射し、上記記録
    媒体によって反射されて戻ってくる戻り光を検出するこ
    とにより、上記記録媒体から信号を読み取る光ピックア
    ップ装置に用いられる光検出装置であって、 ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの一方の戻
    り光がグレーティングを通過したときに生じる±１次光
    について、＋１次光を検出する３つのフォトディテクタ
    Ａ，Ｂ，Ｃから成る３分割フォトディテクタと、−１次
    光を検出する３つのフォトディテクタＤ，Ｅ，Ｆから成
    る３分割フォトディテクタを備えると共に、 上記ビームスプリッタで分離された戻り光のうちの他方
    の戻り光が偏光選択性グレーティングを通過したときに
    生じる０次光と、０次光と偏光状態が異なる±１次光と
    について、０次光を検出するフォトディテクタＧと、＋
    １次光を検出するフォトディテクタＨと、−１次光を検
    出するフォトディテクタＩとを備え、 上記フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，
    Ｈ，Ｉによって検出される光量をそれぞれａ，ｂ，ｃ，
    ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈ，ｉとしたとき、 フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号Ｔ
    Ｅ、及び光磁気信号ＭＯＲＦ又は光信号ＣＤＲＦを、そ
    れぞれ下記式（５）、式（６）、式（７）、式（８）に
    基づいて得ることを特徴とする光検出装置。 ＦＥ＝｛（ａ＋ｃ）−ｂ｝−｛（ｄ＋ｆ）−ｅ｝ ・・・（５） ＴＥ＝（ａ−ｃ）＋（ｄ−ｆ） ・・・（６） ＭＯＲＦ＝ｇ−（ｈ＋ｉ） ・・・（７） ＣＤＲＦ＝ｇ＋（ｈ＋ｉ） ・・・（８）
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