JPH08271415A - 非分散型の赤外線の計測装置の校正方法および校正装置 - Google Patents
非分散型の赤外線の計測装置の校正方法および校正装置Info
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- JPH08271415A JPH08271415A JP8065689A JP6568996A JPH08271415A JP H08271415 A JPH08271415 A JP H08271415A JP 8065689 A JP8065689 A JP 8065689A JP 6568996 A JP6568996 A JP 6568996A JP H08271415 A JPH08271415 A JP H08271415A
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- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＮＤＩＲガス分析器の新規な校正方法と装置
を提供する。 【解決手段】 本発明はＮＤＩＲガス分析器を校正する
ための方法と装置に関するものである。本発明の方法に
よれば、校正下にある装置（１）は制御条件下にある基
準装置（２）の補助により校正される。本発明によれ
ば、基準装置（２）は実験室で校正されたＮＤＩＲ計測
装置であり、校正下にある計測装置（１）の計測チャン
バ（６）と実験室で校正された計測装置（２）の計測チ
ャンバ（１６）の両方を経て周囲の空気を循環させ、デ
ィスプレイ（２３）の表示を、あるいはこれに代えて、
校正下にある計測装置の出力信号を、ディスブレイ（２
２）の表示または基準装置（２）の出力信号それぞれに
等しく調節する。
を提供する。 【解決手段】 本発明はＮＤＩＲガス分析器を校正する
ための方法と装置に関するものである。本発明の方法に
よれば、校正下にある装置（１）は制御条件下にある基
準装置（２）の補助により校正される。本発明によれ
ば、基準装置（２）は実験室で校正されたＮＤＩＲ計測
装置であり、校正下にある計測装置（１）の計測チャン
バ（６）と実験室で校正された計測装置（２）の計測チ
ャンバ（１６）の両方を経て周囲の空気を循環させ、デ
ィスプレイ（２３）の表示を、あるいはこれに代えて、
校正下にある計測装置の出力信号を、ディスブレイ（２
２）の表示または基準装置（２）の出力信号それぞれに
等しく調節する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、非分散型の赤外線
の計測装置の校正（較正）方法に関し、また校正装置に
関するものである。
の計測装置の校正（較正）方法に関し、また校正装置に
関するものである。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】低価格の非分散型の赤
外線の（ｎｏｎｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅ ｉｎｆｒａ−ｒ
ｅｄ；ＮＤＩＲ）計測装置は一般的には、その出力信号
が装置の劣化とともにドリフトする傾向にある構造のも
のである。ＮＤＩＲ装置の技術は基本的なレベルにおい
て、例えば日本国特許公報５９−１７３７３４号に説明
されている。従来の方法においては、計測装置を校正用
実験室に持っていき、そこでは計測された物体は校正操
作の期間モニタしないままにされる。このような実験室
における校正は高価であるとともに時間のかかる作業で
あるが、所望の測定精度を維持するためにはある間隔で
繰り返す必要がある。上記した問題は、ＮＤＩＲ装置が
循環空気の二酸化炭素濃度をモニタするために使用され
る場合の空気調節用途に使用される際に特に問題とな
り、計測装置のドリフトが原因で空気調節システムの機
能が混乱してしまう。本発明の目的は上記した技術の欠
点を解消し、また全く新規な校正方法と装置を提供する
ことにある。
外線の（ｎｏｎｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅ ｉｎｆｒａ−ｒ
ｅｄ；ＮＤＩＲ）計測装置は一般的には、その出力信号
が装置の劣化とともにドリフトする傾向にある構造のも
のである。ＮＤＩＲ装置の技術は基本的なレベルにおい
て、例えば日本国特許公報５９−１７３７３４号に説明
されている。従来の方法においては、計測装置を校正用
実験室に持っていき、そこでは計測された物体は校正操
作の期間モニタしないままにされる。このような実験室
における校正は高価であるとともに時間のかかる作業で
あるが、所望の測定精度を維持するためにはある間隔で
繰り返す必要がある。上記した問題は、ＮＤＩＲ装置が
循環空気の二酸化炭素濃度をモニタするために使用され
る場合の空気調節用途に使用される際に特に問題とな
り、計測装置のドリフトが原因で空気調節システムの機
能が混乱してしまう。本発明の目的は上記した技術の欠
点を解消し、また全く新規な校正方法と装置を提供する
ことにある。
【０００３】
【課題を解決するための手段】本発明は、被校正装置に
実験室で校正されたＮＤＩＲ計測装置を並列に接続し、
次いで周囲のガスを循環させて、被校正装置を経て流れ
るガスが実験室の状態下で予め校正された基準の計測装
置のサンプルチャンバに続いて導入されることによりＮ
ＤＩＲ計測装置の校正を行うことに基づくものである。
実験室で校正されたＮＤＩＲ計測装置を並列に接続し、
次いで周囲のガスを循環させて、被校正装置を経て流れ
るガスが実験室の状態下で予め校正された基準の計測装
置のサンプルチャンバに続いて導入されることによりＮ
ＤＩＲ計測装置の校正を行うことに基づくものである。
【０００４】より詳しくは、本発明の方法は請求項１の
特徴部分に述べられている。さらに、本発明による装置
は、請求項５の特徴部分に述べられている。本発明によ
れば顕著な利点が得られる。フィールド校正工程におい
て、別々の校正ガスの混合あるいは実験室での校正の圧
力および温度の補償が不要となる。このような別々の校
正ガスの混合は高価であり、使用が不便であり、またさ
らに、従来の校正工程における圧力と温度補償を省くこ
とは校正が従来のフィールド校正の形態で行われる場合
には非常に大きな不確定要素を含んでしまうのである。
本発明による方法によれば、計測装置それ自体は校正操
作の間に制御システムから分離する必要がないことか
ら、簡単で、迅速およびコスト効率の良いフィールド校
正を行うことができる。
特徴部分に述べられている。さらに、本発明による装置
は、請求項５の特徴部分に述べられている。本発明によ
れば顕著な利点が得られる。フィールド校正工程におい
て、別々の校正ガスの混合あるいは実験室での校正の圧
力および温度の補償が不要となる。このような別々の校
正ガスの混合は高価であり、使用が不便であり、またさ
らに、従来の校正工程における圧力と温度補償を省くこ
とは校正が従来のフィールド校正の形態で行われる場合
には非常に大きな不確定要素を含んでしまうのである。
本発明による方法によれば、計測装置それ自体は校正操
作の間に制御システムから分離する必要がないことか
ら、簡単で、迅速およびコスト効率の良いフィールド校
正を行うことができる。
【０００５】
【発明の実施例】以下に、本発明を添付図面を参照し
て、本発明を具体化した実施例により、より詳細に説明
する。
て、本発明を具体化した実施例により、より詳細に説明
する。
【０００６】図１において、本発明による校正装置は、
原理的には、４つのブロック、つまり、校正されるべき
ＮＤＩＲ測定装置１、実験室で校正された他のＮＤＩＲ
測定装置２、被校正装置の電気部２１および基準装置の
電気部２０から構成される。本明細書においては、実験
室の校正という用語は、測定装置の表示あるいは出力信
号が、成分の濃度が異なりかつ正確な値を持つ少なくと
も２つの異なる校正ガス混合物を使用して、公知の温度
および圧力において正しい値に調節されることを意味す
る。二酸化炭素の測定の場合には、校正ガス混合物は、
装置の零点を確立するために窒素を含んだものが一般に
採用されるが、校正されるべき他の濃度点は一般的には
測定レンジの上限、例えば２００ｐｐｍの二酸化炭素で
ある。
原理的には、４つのブロック、つまり、校正されるべき
ＮＤＩＲ測定装置１、実験室で校正された他のＮＤＩＲ
測定装置２、被校正装置の電気部２１および基準装置の
電気部２０から構成される。本明細書においては、実験
室の校正という用語は、測定装置の表示あるいは出力信
号が、成分の濃度が異なりかつ正確な値を持つ少なくと
も２つの異なる校正ガス混合物を使用して、公知の温度
および圧力において正しい値に調節されることを意味す
る。二酸化炭素の測定の場合には、校正ガス混合物は、
装置の零点を確立するために窒素を含んだものが一般に
採用されるが、校正されるべき他の濃度点は一般的には
測定レンジの上限、例えば２００ｐｐｍの二酸化炭素で
ある。
【０００７】一般的には、ＮＤＩＲ測定装置には測定チ
ャンバ６に対して赤外放射を行うように構成された光源
３が組み込まれている。測定チャンバを通過する赤外放
射は帯域フィルタ５によりフィルタ処理され、また検知
器４により検知される。光源３、チャンバ６、帯域フィ
ルタ５および検知器４により形成される全体は、光学的
校正ベンチとも称される。これらから得られた計測結果
はその出力信号はガス濃度と比例する電気ユニット２１
で処理されて、また必要に応じてガス濃度としてディス
プレイ２３上に表示される。図示した実施例では、ガス
は熱によって誘導された流れにより、入口パイプ１１と
出口パイプ８により光学的な校正ベンチに接続されたバ
イパス流れパイプ９から測定チャンバ６を通過する。バ
イパス流れパイプ９は、被計測ガスがそれを通って測定
装置の周囲の雰囲気から装置のガス循環に、またそこか
ら測定チャンバ６に入る、ガス透過性のパイプ部１０を
有している。低価格クラスの装置においては、このよう
なガス循環は、光源３により放出された熱により生じる
熱誘導された流れにより形成される。独立したポンプを
ガスを循環させるために使用しても良い。
ャンバ６に対して赤外放射を行うように構成された光源
３が組み込まれている。測定チャンバを通過する赤外放
射は帯域フィルタ５によりフィルタ処理され、また検知
器４により検知される。光源３、チャンバ６、帯域フィ
ルタ５および検知器４により形成される全体は、光学的
校正ベンチとも称される。これらから得られた計測結果
はその出力信号はガス濃度と比例する電気ユニット２１
で処理されて、また必要に応じてガス濃度としてディス
プレイ２３上に表示される。図示した実施例では、ガス
は熱によって誘導された流れにより、入口パイプ１１と
出口パイプ８により光学的な校正ベンチに接続されたバ
イパス流れパイプ９から測定チャンバ６を通過する。バ
イパス流れパイプ９は、被計測ガスがそれを通って測定
装置の周囲の雰囲気から装置のガス循環に、またそこか
ら測定チャンバ６に入る、ガス透過性のパイプ部１０を
有している。低価格クラスの装置においては、このよう
なガス循環は、光源３により放出された熱により生じる
熱誘導された流れにより形成される。独立したポンプを
ガスを循環させるために使用しても良い。
【０００８】本発明によれば、被校正計測装置には、ホ
ース１７によって基準装置２の光学的な校正ベンチに接
続された第２の出口パイプ２５が設けられている。基準
装置２は、基準装置のディスプレイ２２上に正確な濃度
表示を提供するために実験室状態で予め校正されてい
る。装置１と同様に、基準装置もまた、光源１３、測定
チャンバ１６、帯域フィルタ１５および、その出力がガ
ス濃度ディスプレイ２２に送出される電気ユニット２０
に接続された検出器１４を有している。出力パイプ２８
に、あるいはその代わりに、基準装置２の入口パイプ２
９に、周囲雰囲気から基準装置１内にガスを注入するよ
うに構成された吸込パイプ１９が接続されており、これ
により、基準装置２の測定チャンバ１６には他の装置の
ものと実質的に同じ雰囲気ガス混合物が供給される。ガ
ス流れチャネルが有限な長さであるために計測の時定数
が長いことから、周囲ガス濃度は校正測定操作の間は実
質的に一定であると仮定できる。計測チャンバおよび電
気ユニットの両方の応答時間が同じであり、また流れ速
度が公知であると仮定した場合には、校正計測において
は種々のガス濃度も使用される。次いで、計測値の比較
が、例えば公知の流れ遅延によって表示を補正すること
で行われ、あるいはその代わりに、計測曲線が計算法を
使用して最適に合致される。
ース１７によって基準装置２の光学的な校正ベンチに接
続された第２の出口パイプ２５が設けられている。基準
装置２は、基準装置のディスプレイ２２上に正確な濃度
表示を提供するために実験室状態で予め校正されてい
る。装置１と同様に、基準装置もまた、光源１３、測定
チャンバ１６、帯域フィルタ１５および、その出力がガ
ス濃度ディスプレイ２２に送出される電気ユニット２０
に接続された検出器１４を有している。出力パイプ２８
に、あるいはその代わりに、基準装置２の入口パイプ２
９に、周囲雰囲気から基準装置１内にガスを注入するよ
うに構成された吸込パイプ１９が接続されており、これ
により、基準装置２の測定チャンバ１６には他の装置の
ものと実質的に同じ雰囲気ガス混合物が供給される。ガ
ス流れチャネルが有限な長さであるために計測の時定数
が長いことから、周囲ガス濃度は校正測定操作の間は実
質的に一定であると仮定できる。計測チャンバおよび電
気ユニットの両方の応答時間が同じであり、また流れ速
度が公知であると仮定した場合には、校正計測において
は種々のガス濃度も使用される。次いで、計測値の比較
が、例えば公知の流れ遅延によって表示を補正すること
で行われ、あるいはその代わりに、計測曲線が計算法を
使用して最適に合致される。
【０００９】校正操作の間は、ディスプレイの表示、あ
るいはこれに代えて、電気ユニット２０と２１の出力信
号が比較され、その後にディスプレイ２３の表示、ある
いはこれに代えて、校正された計測装置１の出力信号
が、校正制御部２４により、基準装置２におけるディス
プレイ２２の表示あるいは出力信号に等しく調整され
る。校正制御部２４は、実際には、例えば、電気ユニッ
ト２１内の電位差計である。これに代えて、校正操作を
自動的に行うようにしても良く、その場合には校正され
た装置１の電気ユニット２１には基準装置２の信号のた
めのコネクタが設けられ、またプロセッサの制御下で基
準装置２０から電気ユニット２１に校正信号が送信され
る。
るいはこれに代えて、電気ユニット２０と２１の出力信
号が比較され、その後にディスプレイ２３の表示、ある
いはこれに代えて、校正された計測装置１の出力信号
が、校正制御部２４により、基準装置２におけるディス
プレイ２２の表示あるいは出力信号に等しく調整され
る。校正制御部２４は、実際には、例えば、電気ユニッ
ト２１内の電位差計である。これに代えて、校正操作を
自動的に行うようにしても良く、その場合には校正され
た装置１の電気ユニット２１には基準装置２の信号のた
めのコネクタが設けられ、またプロセッサの制御下で基
準装置２０から電気ユニット２１に校正信号が送信され
る。
【００１０】上記した本発明による装置は濃度の単一点
における校正のためのものである。同様に、装置１のコ
ネクタ２６に、あるいはその代わりにホース１７のＴコ
ネクタ３６に、その濃度が大体知られている基準ガス混
合物を供給することで、２点校正のための簡単な校正が
実行可能である。二酸化炭素の場合には、このような基
準ガスは、例えばバルーンあるいは同様な容器内に予め
設定した量の呼気ガス、排気ガスあるいは燃焼により過
剰な量の二酸化炭素を含む他のガスを吹き込み、次いで
バルーンの残りの体積を周囲の雰囲気から空気を注入す
ることで作ることができる。このようにして充填された
バルーンはコネクタ２６から計測チャンバ６に放出さ
れ、ここから校正ベンチのポンプはこれを基準装置２の
測定チャンバ１６にポンプ注入する。校正入口のコネク
タ２６は通常は気密の保護キャップ２７により覆われて
いる。同様に、Ｔコネクタ３６は通常は同様な保護キャ
ップ３７により覆われている。
における校正のためのものである。同様に、装置１のコ
ネクタ２６に、あるいはその代わりにホース１７のＴコ
ネクタ３６に、その濃度が大体知られている基準ガス混
合物を供給することで、２点校正のための簡単な校正が
実行可能である。二酸化炭素の場合には、このような基
準ガスは、例えばバルーンあるいは同様な容器内に予め
設定した量の呼気ガス、排気ガスあるいは燃焼により過
剰な量の二酸化炭素を含む他のガスを吹き込み、次いで
バルーンの残りの体積を周囲の雰囲気から空気を注入す
ることで作ることができる。このようにして充填された
バルーンはコネクタ２６から計測チャンバ６に放出さ
れ、ここから校正ベンチのポンプはこれを基準装置２の
測定チャンバ１６にポンプ注入する。校正入口のコネク
タ２６は通常は気密の保護キャップ２７により覆われて
いる。同様に、Ｔコネクタ３６は通常は同様な保護キャ
ップ３７により覆われている。
【００１１】ポンプ１９は通常は吸引ポンプが使用され
るが、過剰な圧力を形成するポジテブ・水頭ポンプ（ｐ
ｏｓｉｔｉｖｅ−ｈｅａｄ ｐｕｍｐ）を使用すること
も本発明の範囲内である。
るが、過剰な圧力を形成するポジテブ・水頭ポンプ（ｐ
ｏｓｉｔｉｖｅ−ｈｅａｄ ｐｕｍｐ）を使用すること
も本発明の範囲内である。
【００１２】図２において、校正すべきＮＤＩＲ計測装
置１には拡散フィルタを設けた楕円の流れスリット３５
を設けることができ、これにより図１に示されたバイパ
ス流れパイプ９が必要なくなる。
置１には拡散フィルタを設けた楕円の流れスリット３５
を設けることができ、これにより図１に示されたバイパ
ス流れパイプ９が必要なくなる。
【００１３】図３において、ガス濃度に関しての理想的
なＮＤＩＲ計測装置における検出器の出力信号の依存性
をグラフ内にプロットした。縦軸は検出器の出力電圧で
あり、横軸はガス濃度である。実線のグラフ３１は３つ
の異なる雰囲気温度あるいは気圧における図１の装置２
の校正された出力曲線を示している。破線のグラフ３０
は３つの異なる雰囲気条件における校正中の装置の対応
する出力曲線を示している。本発明の校正操作において
は、ガス濃度は、例えば、線３２のレベルであり、また
温度はＴ２であり、両方の計測チャンバ内の気圧は実質
的に等しいと推測される。操作においては、ガス濃度の
レベルは正確に知られている必要はなく、むしろ、装置
１と２のガス濃度が等しければ十分である。周囲の空気
が図１のポンプにより基準装置２を経て吸引されたとき
には、両方のディスプレイ２２と２３の表示は等しくな
るべきである。図示した例では、出力電圧の差はグラフ
中で参照符号３４により示した線に等しい。出力電圧の
誤差は、電位差計２４を調節することにより、あるいは
これに代えて、ＮＤＩＲ装置内に設けられた設備により
デジタル形態で供給される誤差ファクターを送信するこ
とで、補正される。したがって、バルーン技術を使用し
て上記のようにして２点校正が行われ、これから他の基
準ガス濃度３３が得られ、これにより校正された測定装
置の出力曲線の傾斜が、予め校正された装置の出力曲線
の傾斜Ｔ２にしたがって補正できる。必要ならば、バル
ーン技術は上昇下にある基準ガスあるいは雰囲気圧力で
充填された他の容器に置き換えることができ、また動力
付きあるいは手動のポンプにより流れを作ることができ
る。
なＮＤＩＲ計測装置における検出器の出力信号の依存性
をグラフ内にプロットした。縦軸は検出器の出力電圧で
あり、横軸はガス濃度である。実線のグラフ３１は３つ
の異なる雰囲気温度あるいは気圧における図１の装置２
の校正された出力曲線を示している。破線のグラフ３０
は３つの異なる雰囲気条件における校正中の装置の対応
する出力曲線を示している。本発明の校正操作において
は、ガス濃度は、例えば、線３２のレベルであり、また
温度はＴ２であり、両方の計測チャンバ内の気圧は実質
的に等しいと推測される。操作においては、ガス濃度の
レベルは正確に知られている必要はなく、むしろ、装置
１と２のガス濃度が等しければ十分である。周囲の空気
が図１のポンプにより基準装置２を経て吸引されたとき
には、両方のディスプレイ２２と２３の表示は等しくな
るべきである。図示した例では、出力電圧の差はグラフ
中で参照符号３４により示した線に等しい。出力電圧の
誤差は、電位差計２４を調節することにより、あるいは
これに代えて、ＮＤＩＲ装置内に設けられた設備により
デジタル形態で供給される誤差ファクターを送信するこ
とで、補正される。したがって、バルーン技術を使用し
て上記のようにして２点校正が行われ、これから他の基
準ガス濃度３３が得られ、これにより校正された測定装
置の出力曲線の傾斜が、予め校正された装置の出力曲線
の傾斜Ｔ２にしたがって補正できる。必要ならば、バル
ーン技術は上昇下にある基準ガスあるいは雰囲気圧力で
充填された他の容器に置き換えることができ、また動力
付きあるいは手動のポンプにより流れを作ることができ
る。
【００１４】図４において、従来技術による５つのＮＤ
ＩＲ計測装置４４の校正では各測定装置に公知の温度と
圧力で正確に知られた濃度の２つの基準ガス混合物４０
と４２を供給する必要がある。このような特別な条件は
フィールド条件では達成するのが困難であり、従来技術
による校正は一般的には実験室あるいは業務施設で行わ
れる必要がある。
ＩＲ計測装置４４の校正では各測定装置に公知の温度と
圧力で正確に知られた濃度の２つの基準ガス混合物４０
と４２を供給する必要がある。このような特別な条件は
フィールド条件では達成するのが困難であり、従来技術
による校正は一般的には実験室あるいは業務施設で行わ
れる必要がある。
【００１５】図５において、ここに図示された装置は、
周囲の空気４８を採用した１つだけの実験室で校正され
た計測装置４４を使用し、あるいはこれに代えて、別に
他の基準ガス５０を付加して使用して、従来技術とほと
んど同じ精度でのフィールド条件下で行うことができる
ものである。本発明によれば、基準ガス４８と５０の濃
度は、予め正確に知る必要がない。さらに、圧力と温度
（Ｔ＆Ｐ）は校正の間に知る必要がない。
周囲の空気４８を採用した１つだけの実験室で校正され
た計測装置４４を使用し、あるいはこれに代えて、別に
他の基準ガス５０を付加して使用して、従来技術とほと
んど同じ精度でのフィールド条件下で行うことができる
ものである。本発明によれば、基準ガス４８と５０の濃
度は、予め正確に知る必要がない。さらに、圧力と温度
（Ｔ＆Ｐ）は校正の間に知る必要がない。
【００１６】二酸化炭素の他、本発明の校正装置は、絶
対湿度、一酸化炭素、メタンあるいはエチレンなどの炭
化水素、および酸化窒素などにも適用できる。
対湿度、一酸化炭素、メタンあるいはエチレンなどの炭
化水素、および酸化窒素などにも適用できる。
【図１】本発明による校正装置の略線図ある。
【図２】本発明による他の校正装置の略線図である。
【図３】ＮＤＩＲ装置における一般的な出力電圧−濃度
曲線の一群のグラフである。
曲線の一群のグラフである。
【図４】従来の校正装置の略線図である。
【図５】本発明による校正装置の略線図である。
２ ＮＤＩＲ測定装置 ３ 光源 ４ 検出器 ５ フィルタ ６ 測定チャンバ ２０、２１ 電気部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リチャード ベンソン デニス イギリス国．スコットランド，イーエッチ 14 ７デージェー，エディンバラ，バレー ノ，ラヴェルリグ ヒル ８，ムーアサイ ド (72)発明者 クリステル ヘレネルンド フィンランド国．06650 ハマリ，レヒヴ ィッキョポルク ６
Claims (7)
- 【請求項１】 校正下にある装置（１）が制御条件下に
ある基準装置（２）の補助により校正される、ＮＤＩＲ
ガス分析器（１）のための校正方法において、 前記基準装置（２）は実験室で校正されたＮＤＩＲ計測
装置であり、校正下にある前記計測装置（１）の計測チ
ャンバ（６）と実験室で校正された前記測定装置（２）
の計測チャンバ（１６）との両方を経て周囲の空気を循
環させるとともに、ディスプレイ（２３）の表示を、あ
るいはこれに代えて、校正下にある前記計測装置の出力
信号を、ディスプレイ（２２）の表示または基準装置
（２）の出力信号それぞれに等しく調節することを特徴
とする校正方法。 - 【請求項２】 校正ガス混合物として機能する雰囲気ガ
スが校正下にある計測装置（１）の計測チャンバ（６）
から吸込みポンプ（１９）により基準装置（２）の計測
チャンバ（１６）に送られる、ことを特徴とする請求項
１記載の校正方法。 - 【請求項３】 第２の計測点が周囲の空気のものとは異
なる濃度のガス混合物を容器に供給し、次いでこの混合
物を校正下にある装置（１）に供給することにより得ら
れることを特徴とする請求項１または２記載の校正方
法。 - 【請求項４】 第２の校正点が容器に呼気空気と雰囲気
空気により形成されるガス混合物を容器に供給し、次い
でこの混合物を校正下にある装置（１）に供給すること
により得られることを特徴とする、二酸化炭素の濃度を
計測するための、請求項１、２または３に記載の校正方
法。 - 【請求項５】 被校正装置（１）の校正のための基準装
置（２）を含む、ＮＤＩＲガス分析器を校正するための
装置において、基準装置が、計測下にある装置（１）の
計測チャンバ（６）と基準装置（２）の計測チャンバ
（１６）の両方を経て周囲の空気を送るための手段（１
９）を有する、実験室で校正されたＮＤＩＲ計測装置で
ある、ことを特徴とする校正装置。 - 【請求項６】 基準装置（２）は、基準装置（２）と校
正下にある装置（１）の各計測結果の間の差の値を直接
作るための手段を組み込まれていることを特徴とする請
求項５記載の校正装置。 - 【請求項７】 基準装置（２）は、差の信号に基づく補
正ファクターをプロセッサの制御下で校正下にある装置
（１）に直接的に送るための手段が組み込まれているこ
とを特徴とする請求項５または６記載の校正装置。
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