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JPH08139096A - 電子部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置 - Google Patents

電子部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置

Info

Publication number
JPH08139096A
JPH08139096A JP6297985A JP29798594A JPH08139096A JP H08139096 A JPH08139096 A JP H08139096A JP 6297985 A JP6297985 A JP 6297985A JP 29798594 A JP29798594 A JP 29798594A JP H08139096 A JPH08139096 A JP H08139096A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bumps
electronic component
substrate
bump
dummy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6297985A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Araki
健次 荒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP6297985A priority Critical patent/JPH08139096A/ja
Publication of JPH08139096A publication Critical patent/JPH08139096A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75745Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、簡易かつ精度良く基板上に実装し得
る電子部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実
装装置の実現を目的とするものである。 【構成】ボンデイング用の第1のバンプが形成された電
子部品の一面に当該第1のバンプよりも低融点の第1の
ダミーバンプを形成すると共に、この電子部品を実装し
た際当該第1のダミーバンプと対向する基板の領域上
に、当該基板に形成されたボンデイング用の第2のバン
プよりも低融点の第2のダミーバンプを形成し、この電
子部品を基板上に位置合わせをして載せた後、第1及び
第2のダミーバンプを溶融させた後、第1及び第2のバ
ンプを加熱溶融して接合するようにしたことにより、簡
易かつ精度良く基板上に実装し得る電子部品及び電子部
品の実装方法並びに電子部品の実装装置を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品及び電子部品の
実装方法並びに電子部品の実装装置に関し、例えばベア
チツプ、ベアチツプを絶縁基板上に実装する際の実装方
法及び実装装置に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、基板上に実装するチツプ状電子部
品の1つとして、半導体集積回路(以下、これをIC回
路と呼ぶ)が複数形成されたウエハを各IC回路毎の個
別のチツプに切断分離することにより形成された、いわ
ゆるベアチツプと呼ばれるものがある。
【0003】通常、ベアチツプは、その回路面の各電極
上にそれぞれ設けられたボンデイング用のバンプ(以
下、これをチツプ側バンプと呼ぶ)を、基板の対応する
各電極上にそれぞれ設けられたボンデイング用のバンプ
(以下、これを基板側バンプと呼ぶ)と位置合わせして
接触させた後、これらチツプ側バンプ及び基板側バンプ
をリフロー等によつて溶融し、接合することにより、図
12に示すように、ベアツチプ1側の各電極2と基板3
側の各電極とをチツプ側バンプ及び基板側バンプと融合
してなるバンプ5を介して接続するようにして当該基板
に実装(以下、この方法を第1の実装方法と呼ぶ)して
いる。
【0004】この第1の実装方法に加え、図12との対
応部分に同一符号を付した図13のように、ベアチツプ
1の回路面1Aに金属膜(以下、これをチツプ側金属膜
と呼ぶ)10を形成すると共に、当該チツプ側金属膜1
0と対向する基板3のパターン面3A上にチツプ側金属
膜10とほぼ同面積の金属膜(以下、これを基板側金属
膜と呼ぶ)11を形成し、これら各チツプ側金属膜10
及び基板側金属膜11をバンプ5とほぼ同融点のはんだ
12で接続することにより当該ベアチツプ1を基板3上
に接続(実装)する方法(以下、この方法を第2の実装
方法と呼ぶ)もある。この第2の実装方法によれば、ベ
アチツプ1を基板3上に実装する際、ベアチツプ1と基
板3との間の熱膨張係数の差に起因してベアチツプ1が
受けるストレスを、チツプ側金属膜10及び基板側金属
膜11間のはんだ12においてある程度吸収し得ること
により、当該ストレスがベアチツプ1の電極2近傍に集
中することを避け得る利点がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
な従来の第1及び第2の実装方法では、ベアチツプ1を
基板3に実装する際、各チツプ側バンプと、対応する基
板側バンプとを確実に接続させるために、X線等を使用
した高精度な位置合わせが必要になる問題があつた。ま
たこのような位置合わせ作業では、各チツプ側バンプ
と、対応する基板側バンプとを1組ずつ又は複数組ずつ
位置合わせを行うため、位置づれを起こさずにベアチツ
プ1を基板3上に実装するためには長い作業時間を必要
とし、従つてベアチツプ11個あたりの実装タクトタイ
ムが低下する問題があつた。
【0006】さらに上述の第1及び第2の実装方法で
は、各ベアチツプ側バンプと、対応する基板側バンプと
を位置合わせした後、リフロー等により接合する際に、
リフロー炉内で発生する熱風等の影響によりチツプ側バ
ンプと基板側バンプとが位置づれを起こすことがあつ
た。
【0007】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易かつ精度良く基板上に実装し得る電子部品及び
電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置を提案し
ようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、第1の発明においては、一面(14A)に複数の第
1のバンプ(72)が形成され、各第1のバンプ(7
2)を、基板(12)に形成された対応する第2のバン
プ(76)にそれぞれ接合することにより基板(12)
に実装する電子部品において、一面(14A)の所定領
域に形成された、第1のバンプ(72)よりも低融点の
単数又は複数のダミーバンプ(73)を設けるようにし
た。
【0009】また第2の発明においては、一面(14
A)に複数の第1のバンプ(72)が形成され、各第1
のバンプ(72)を、基板(12)に形成された対応す
る第2のバンプ(76)にそれぞれ接合することにより
基板(12)に実装する電子部品の実装方法において、
電子部品(14)の一面(14A)の所定領域上に第1
のバンプ(72)よりも低融点の単数又は複数の第1の
ダミーバンプ(73)を形成する第1の工程と、電子部
品(14)を基板(12)に実装する際に第1のダミー
バンプ(73)と対向する基板(12)の所定領域上
に、第2のバンプ(76)よりも低融点の単数又は複数
の第2のダミーバンプ(77)を形成する第2の工程
と、電子部品(14)の第1のダミーバンプと基板の第
2のダミーバンプとを位置合わせて接合する第3の工程
と、第1及び第2のバンプを接合する第4の工程とを設
けるようにした。
【0010】さらに第3の発明においては、一面(14
A)に複数の第1のバンプ(72)が形成され、各第1
のバンプ(72)を、基板(12)に形成された対応す
る第2のバンプ(76)にそれぞれ接合することにより
基板(12)に実装する電子部品の実装装置において、
基板(12)を位置決め保持する基板保持手段(13)
と、基板保持手段(13)により位置決め保持された基
板(12)上に電子部品(14)を、当該電子部品(1
4)の一面(14A)の所定領域に形成された第1のバ
ンプ(72)よりも低融点の第1のダミーバンプ(7
3)と、当該第1のダミーバンプ(73)と対向する基
板(12)の所定領域に形成された第2のバンプ(7
6)よりも低融点の第2のダミーバンプ(77)との位
置合わせをして載せる電子部品載置手段(17)と、第
1及び第2のダミーバンプ(73)、(77)を加熱溶
融させることにより接合させた後、第1及び第2のバン
プ(72)、(76)を加熱溶融させることにより接合
させる加熱手段(18)とを設けるようにした。
【0011】
【作用】ボンデイング用の第1のバンプ(72)が形成
された電子部品(14)の一面(14A)に当該第1の
バンプ(72)よりも低融点の第1のダミーバンプ(7
3)を形成すると共に、この電子部品(14)を実装し
た際当該第1のダミーバンプ(73)と対向する基板
(12)の領域上に、当該基板(12)に形成されたボ
ンデイング用の第2のバンプ(76)よりも低融点の第
2のダミーバンプ(77)を形成し、この電子部品(1
4)を基板(12)上に位置合わせをして載せた後、第
1及び第2のダミーバンプ(73)、(77)を溶融さ
せた場合、電子部品(14)には第1及び第2のダミー
バンプ(73)、(77)が溶融してなる金属の表面張
力によつて、いわゆるセルフアライメント効果が働く。
【0012】従つてこの際、電子部品(14)が正確な
位置に載せられていない場合にはこのセルフアライメン
ト効果により当該電子部品(14)の位置が自動的に正
しい位置に補正される。従つてこの後第1及び第2のバ
ンプ(72)、(76)を加熱溶融して接合することに
より、例えばX線等を用いた高精度の位置合わせを必要
とせず、またリフロー時における電子部品の位置ずれを
抑制できると共に、ベアチツプあたりの実装タクトタイ
ムを大幅に向上させ得るように電子部品(14)を基板
(12)に実装することができる。
【0013】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0014】図1及び図2において、10は全体として
自動電子部品実装装置を示し、筐体11の内部中央に、
絶縁基板12を搬送する基板搬送部13が配設され、筐
体11の背部に、ベアチツプ14を複数収納する部品収
納部15と、当該部品収納部15からベアチツプ14を
取り出して筐体11内部に搬送する部品供給ツール16
とが配設され、かつ筐体11内部の基板搬送部13の上
方に、部品供給ツール16により筐体11内部に搬送さ
れたベアチツプ14を吸引保持して搬送するツール駆動
ロボツト17と、当該ツール駆動ロボツト17に必要に
応じて負圧又は高温エアーを供給するエアーコントロー
ラ18とが配設されて構成されている。
【0015】実際上、基板搬送部13は、基板固定台昇
降装置20により昇降自在に支持された基板固定台21
の上方に、ほぼコ字状の縦断面を有する第1及び第2の
基板通過レール22A、22Bが凹部22AX、22B
Xを互いに対向させて矢印xで示す左右方向(以下、こ
れをX方向と呼ぶ)と平行に並設されて形成されてい
る。この場合第1及び第2の基板通過レール22A、2
2Bは、図示しない駆動機構によつてその長手方向に自
在に移動し得るようになされており、かくして図示しな
い基板供給装置から供給される絶縁基板12を、当該絶
縁基板12の一端部及び他端部をそれぞれ凹部22A
X、22BXで支持して搬送するようになされている。
【0016】また基板固定台21の上面の所定位置には
図示しない基準ピンが植設されている。これにより基板
搬送部13では、第1及び第2の基板通過レール22
A、22Bにより絶縁基板12が筐体11内の所定位置
(以下、この位置を加工位置と呼ぶ)にまで搬送され、
停止されたときに、基板固定台昇降装置20が基板固定
台21を上昇させて上述の基準ピンを絶縁基板12の所
定位置に穿設された貫通孔12Aに嵌挿させることによ
り、絶縁基板12をこの加工位置において位置決め保持
し得るようになされている。
【0017】部品収納部15においては、図2からも明
らかなように、矢印zで示す上下方向(以下、これをZ
方向と呼ぶ)に配列された複数のトレー30を有し、多
数のベアチツプ14が各トレー30上にそれぞれ複数個
ずつその回路面を上向きにしてマトリクス状に並べられ
るようにして収納されている。この場合部品収納部15
では、最上層のトレー30に載上されたベアチツプ14
が全て部品供給ツール16により筐体11内部に搬送さ
れると、当該トレー30がX方向に搬送されて空トレー
ス収納部(図示せず)にストツクされると共に、この後
次段のトレー30がZ方向に押し上げられるようになさ
れており、これにより部品供給ツール16に対して順次
ベアチツプ14を供給することができるようになされて
いる。
【0018】部品供給ツール16は、図1〜図3に示す
ように、筐体11背面に形成された開口11A位置に、
当該開口11Aの下端面11AXに沿つてX方向に移動
自在に、かつ当該開口11Aの下端面11AX近傍を軸
として所定の範囲内で矢印yで示す前後方向(以下、こ
れをY方向と呼ぶ)に回転自在に配設された基部31を
有し、当該基部31の先端に引き出し及び収納自在のア
ーム部32が配置され、当該アーム部32の先端に吸着
ノズル33が配設されて構成されている。この場合吸着
ノズル33は、図示しない負圧源と連結されており、か
くしてその先端部33Aにおいてベアチツプ14を吸着
保持し得るようになされている。
【0019】従つて部品供給ツール16は、部品収納部
15の最上層のトレー30上に載せられているベアチツ
プ14を吸着ノズル33の先端部33AXにおいて吸引
保持した後、筐体11の開口11Aを介して筐体11の
内部側に向けて回転することにより、ベアチツプ14を
回路面を下向きにしてツール駆動ロボツト17(図1)
に供給し得るようになされている。ツール駆動ロボツト
17は、図1からも明らかなように、筐体11内部に固
定配置されたベース部40にY方向に移動自在に取り付
けられたY軸ユニツト41と、当該Y軸ユニツト41に
対してX方向に移動自在に取り付けられたX軸ユニツト
42と、当該X軸ユニツト42に固定配置されたZ軸ユ
ニツト43とを有し、当該Z軸ユニツト43の前面には
カメラ等でなる画像認識装置44が一体に取り付けられ
ている。
【0020】またZ軸ユニツト43の下端部には、図示
しない駆動機構によりZ方向に移動自在の支持軸45を
介して部品装着ツール46が取り付けられており、これ
により当該部品装着ツール46がX軸ユニツト42、Y
軸ユニツト41及び支持軸45の可動範囲内において筐
体11内部を自在に移動し得るようになされている。
【0021】この部品装着ツール46は、図4に示すよ
うに、耐圧ガラスを用いて、開口50Aを下方に向けた
平坦な四角カツプ形状に形成されたチツプ覆い50を有
し、当該チツプ覆い50は、内部上面50Aの平面形状
がベアチツプ14(図2)の平面形状よりも縦寸法及び
横寸法ともにそれぞれ僅かに大きく形成され、かつ内部
の高さがベアチツプ14の高さよりも深く選定されてい
る。これによりチツプ覆い50は、絶縁基板12の実装
位置に位置合わせして載置されたベアチツプ14を、そ
の内部上面50Aとベアチツプ14の上面との間に均一
な隙間が生じ、かつチツプ覆い50の内周面50Bとベ
アチツプ14の外周面との間に均一な隙間が生じるよう
に覆うことができるようになされている。またチツプ覆
い50の内部上面50Aの中央部には貫通孔50Cが穿
設されていると共に、当該貫通孔50Cには筒形状の給
排気ツール51が遊挿配置されている。
【0022】給排気ツール51は、図示しないモータか
ら与えられる駆動力に基づいてZ方向に自在にストロー
クでき、また上端部がパイプ52(図1)を介してエア
ーコントローラ18と連結されていることにより、ベア
チツプ14をその先端部において吸引保持し得るように
なされている。従つてツール駆動ロボツト17(図1)
では、部品供給ツール16(図1〜図3)によつて筐体
11内部に搬送されてきたベアチツプ14を、部品装着
ツール46において吸引保持して部品供給ツール16及
び絶縁基板12間において搬送することができ、かくし
て当該ベアチツプ14を絶縁基板12の所定の実装位置
上に供給することができるようになされている。
【0023】このため図4からも明らかなように、部品
装着ツール46の給排気ツール51の先端部には、ゴム
等の弾性材でなる均一な厚さのパツキン60が取り付け
られおり、かくしてベアチツプ14の吸引時に当該ベア
チツプ14を傷付けないようになされている。またチツ
プ覆い50の内部上面50Aにも貫通孔50Cを避けて
ゴム等の弾性材でなる均一の厚さのパツキン61が配設
されており、かしくて吸引保持したベアチツプ14の上
面をチツプ覆い50の内部上面50Aで傷つけないよう
になされている。
【0024】さらにチツプ覆い50の下端部には、開口
50Aの全周囲を覆うように、ゴム材でなる均一な厚さ
のパツキン62が配設されており、かくして給排気ツー
ル51により吸引保持したベアチツプ14を絶縁基板1
2の実装位置上にマウントする際、チツプ覆い50を絶
縁基板12に圧接させることによつてチツプ覆い50内
部を密封し得るようになされている。これは、ベアチツ
プ14を絶縁基板12上にマウントすると、この後エア
ーコントローラ18(図1)が駆動してリフロー用の高
温エアーを給排気ツール51を介してチツプ覆い50内
部に供給するようになされているためであり、従つてこ
のツール駆動ロボツト17(図1)では、この際にチツ
プ覆い50内部の高温エアーがチツプ覆い50外部に漏
れるのを防止し得るようになされている。
【0025】一方ベアチツプ14においては、図5
(A)及び(B)に示すように、回路面14Aの回路上
を含む中央部に回路面14Aの10分の1ないし4分の
1程度の大きさの金属膜70がパツシベーシヨン上に形
成され、この金属膜70上に、各電極71上にそれぞれ
形成されているボンデイング用のチツプ側バンプ72よ
りも低融点のはんだ(例えば共晶はんだ)でなるダミー
バンプ(以下、これをチツプ側ダミーバンプと呼ぶ)7
3がチツプ側バンプ72と同じ高さで形成されている。
このため図6(A)及び(B)に示すように、絶縁基板
12のベアチツプ14の金属膜70と対向する領域上に
は、当該ベアチツプ14側の金属膜70と同面積の金属
膜74が形成され、この金属膜74上に、絶縁基板12
の各電極75上にそれぞれ形成されているボンデイング
用の基板側バンプ76と同じ高さでチツプ側ダミーバン
プ73と同組成のダミーバンプ(以下、これを基板側ダ
ミーバンプと呼ぶ)77が形成されている。
【0026】以上の構成において、図1及び図2に示す
この自動部品実装装置10では、動作時、まず基板搬送
部13の第1及び第2の基板通過レール22A、22B
が基板供給部から供給された絶縁基板12を、筐体11
内部の上述した加工位置にまで搬送し、続いて基板固定
台昇降装置20が駆動して基板固定台21を上昇させる
ことにより、当該基板固定台21に配設された上述の基
準ピンを絶縁基板12の基準穴12Aに嵌挿させる。こ
れによりこの絶縁基板12を加工位置において位置決め
した状態に固定保持する。続いて部品供給ツール16が
駆動して部品収納部15の最上層のトレー30に載せら
れているベアチツプ14を1つ吸引保持し、この後部品
供給ツール16が筐体11側に回転することにより当該
ベアチツプ14を筐体11内部に搬送する。
【0027】次いでツール駆動ロボツト17が駆動して
部品装着ツール46を、部品供給ツール16により筐体
11内部に搬送されたベアチツプ14の上方位置にまで
移動させると共に、この後エアーコントローラ18が駆
動して部品装着ツール46にこのベアチツプ14を吸引
保持させる。さらに再びツール駆動ロボツト17が駆動
することにより、図7に示すように、部品装着ツール4
6を基板搬送部13により位置決め保持されている絶縁
基板12上方の所定位置に移動させる。この際ツール駆
動ロボツト17は、画像認識装置44(図1)が認識し
た絶縁基板12上の基板側ダミーバンプ77の中心部
と、部品装着ツール46が吸引保持しているベアチツプ
14のチツプ側ダミーバンプ73の中心部とが対向する
ように当該部品装着ツール46を移動させる。
【0028】次いでツール駆動ロボツト17が駆動して
部品装着ツール46を下降させることにより、チツプ覆
い50の下端部に取り付けられたパツキン62を絶縁基
板12の上面に圧接させると共に、この後給排気ツール
51の駆動モータが駆動して当該給排気ツール51を下
降させることにより、図8に示すように、ベアチツプ1
4のチツプ側ダミーバンプ73を絶縁基板12の基板側
ダミーバンプ77に接触させる。
【0029】続いて給排気ツール51の駆動モータが駆
動して、図9に示すように当該給排気ツール51を上昇
させると共に、この後エアーコントローラ18(図1)
が駆動して給排気ツール51の下端からボンデイング用
のチツプ側バンプ72及び基板側バンプ76が溶融せ
ず、かつチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する程度の温度(例えば183 〔°〕程
度)の高温エアーをチツプ覆い50内部に排出すること
により、チツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77のみを溶融させて接合させる。
【0030】因に、ベアチツプ14を絶縁基板12上に
位置合わせして載せる際に、図10のようにチツプ側ダ
ミーバンプ73の中心部と、基板側ダミーバンプ77の
中心部と間で位置ずれが生じることがあるが、この位置
ずれは、チツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する際、はんだのセルフアライメント効
果により自動的に補正される。続いて再びエアーコント
ローラ18(図1)が駆動して部品装着ツール46の給
排気ツール51の下端からチツプ側バンプ72及び基板
側バンプ76が溶融する温度の高温エアーをチツプ覆い
50内部に排出することにより、チツプ側バンプ72及
び基板側バンプ76を溶融し、接合させる。
【0031】これにより図11に示すように、ベアチツ
プ14の金属板70がチツプ側ダミーバンプ73(図7
〜図10)及び基板側ダミーバンプ77(図7〜図1
0)が接合してなるバンプ80を介して絶縁基板12の
金属板74に接続されると共に、ベアチツプ14の各電
極71は絶縁基板12の対応する電極75にチツプ側バ
ンプ73(図7〜図10)及び基板側バンプ77(図7
〜図10)が接合してなるバンプ81を介して接合さ
れ、かくしてベアチツプ14が絶縁基板12上に実装さ
れる。
【0032】次いで図1に示すツール駆動ロボツト17
が駆動して部品装着ツール46を絶縁基板12から引き
離すと共に、基板搬送部13の基板固定台昇降装置20
が駆動して基板固定台21を下降させることにより位置
決め保持を解除した後、第1及び第2の基板通過レール
22A、22Bが駆動してこの絶縁基板12を続くライ
ンに送りだす。さらにこの自動部品検査装置10は、こ
の後同様の動作を順次繰り返す。これにより基板供給部
から順次供給される加工対象の絶縁基板12に対して、
当該絶縁基板12の所定位置上に順次ベアチツプ14を
実装する。
【0033】以上の構成によれば、図7〜図10に示す
ように、ベアチツプ14上に、本来のボンデイング用の
チツプ側バンプ72よりも低融点なダミーバンプ(チツ
プ側ダミーバンプ73)を当該チツプ側バンプ72と同
じ高さに形成すると共に、絶縁基板12に本来のボンデ
イング用の基板側バンプ76よりも低融点な、チツプ側
ダミーバンプ73と同組成のダミーバンプ(基板側ダミ
ーバンプ77)を、基板側バンプ76と同じ高さに形成
し、ベアチツプ14を絶縁基板12の所定位置上に位置
合わせをして載せた後、当該ベアチツプ14を覆う部品
装着ツール46のチツプ覆い50内部にボンデイング用
の基板側バンプ76及びチツプ側バンプ72が溶融せ
ず、かつチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバ
ンプ77が溶融する温度の高温エアーを供給することに
よりチツプ側ダミーバンプ73及び基板側ダミーバンプ
77を溶融接合させると共に、この後チツプ覆い50内
部にボンデイング用の基板側バンプ76及びチツプ側バ
ンプ72が溶融温度の高温エアーを供給することにより
基板側バンプ76及びチツプ側バンプ72を溶融接合さ
せるようにしてベアチツプ14を絶縁基板12上に実装
するようにしたことにより、ベアチツプ14と絶縁基板
12との位置合わせをする際に生じる位置ずれをはんだ
のセルフアライメント効果により自動的に補正すること
ができ、かくしてベアチツプ14を簡易かつ精度良く加
工対象の絶縁基板12上に実装することのできる自動部
品実装装置を実現できる。
【0034】またベアチツプ14と絶縁基板12との位
置合わせをチツプ側ダミーバンプ73と、基板側ダミー
バンプ77との簡単な位置合わせだけで行うことができ
ることにより、各ベアチツプ14毎の実装タクトタイム
を向上させることができる。
【0035】さらにチツプ側ダミーバンプ73及び基板
側ダミーバンプ77の表面積が、チツプ表面積の1/1
0〜1/4程度と十分に大きいため、リフロー時でのベ
アチツプ14と絶縁基板12との位置ずれを最小限に抑
えることができる。さらには、ベアチツプ実装を完全自
動化することができる。
【0036】なお上述の実施例においては、本発明を半
導体集積回路のベアチツプ14、当該ベアチツプ14を
絶縁基板12上に実装する際の実装方法及び、当該ベア
チツプ14を絶縁基板12上に実装する自動部品実装装
置10に適用するようにした場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、この他の電子部品、当該電子部品
を基板上に実装する際の実装方法及び、当該電子部品を
基板上に実装する他の自動部品実装装置にも広く適用す
ることができる。
【0037】また上述の実施例においては、ベアチツプ
14及び絶縁基板12にチツプ側ダミーバンプ73及び
基板側ダミーバンプ77をそれぞれ1個ずつ形成するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、複数個ずつ形成するようにしても良い。
【0038】さらに上述の実施例においては、ベアチツ
プ14に形成するダミーバンプ(チツプ側ダミーバンプ
73及び絶縁基板12に形成するダミーバンプ(基板側
ダミーバンプ77)の大きさを、その表面積がベアチツ
プ14の表面積の10分の1ないし4分の1程度になる
ように選定するようにした場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、この他の大きさであつても良い。
【0039】さらに上述の実施例においては、絶縁基板
12に対するベアチツプ14の位置合わせを、チツプ側
ダミーバンプ73の中央部と基板側ダミーバンプ77の
中央部とが合うように行うようにした場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、これに加えてベアチツプ
14に形成されたボンデイング用の各チツプ側バンプ7
2と、絶縁基板12に形成されたボンデイング用の各基
板側バンプ76との位置合わせを行うことにより絶縁基
板12に対するベアチツプ14の位置合わせするように
しても良い。
【0040】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、ボンデイ
ング用の第1のバンプが形成された電子部品の一面に当
該第1のバンプよりも低融点の第1のダミーバンプを形
成すると共に、この電子部品を実装した際当該第1のダ
ミーバンプと対向する基板の領域上に、当該基板に形成
されたボンデイング用の第2のバンプよりも低融点の第
2のダミーバンプを形成し、この電子部品を基板上に位
置合わせをして載せた後、第1及び第2のダミーバンプ
を溶融させた後、第1及び第2のバンプを加熱溶融して
接合するようにしたことにより、例えばX線等を用いた
高精度の位置合わせを必要とせず、またリフロー時にお
ける電子部品の位置ずれを抑制でき、かつベアチツプあ
たりの実装タクトタイムを大幅に向上させることがで
き、かくして簡易かつ精度良く基板上に実装し得る電子
部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置
を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例による自動部品実装装置の全体構成を部
分的に断面をとつて示す斜視図である。
【図2】実施例による自動部品実装装置の構成を示す略
線的な斜視図である。
【図3】部品供給ツールの構成を示す略線的な斜視図で
ある。
【図4】部品装着ツールの構成を示す断面図である。
【図5】ベアチツプの構成を示す側面図及び平面図であ
る。
【図6】絶縁基板の構成を示す側面図及び平面図であ
る。
【図7】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
【図8】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
【図9】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面図
である。
【図10】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面
図である。
【図11】自動部品実装装置の動作の説明に供する断面
図である。
【図12】従来のベアチツプの実装方法の説明に供する
断面図である。
【図13】従来のベアチツプの実装方法の説明に供する
断面図である。
【符号の説明】
10……自動部品実装装置、12……絶縁基板、13…
…基板搬送部、14……ベアチツプ、14A……回路
面、15……部品収納部、16……部品供給ツール、1
7……ツール駆動ロボツト、18……エアーコントロー
ラ、50……チツプ覆い、51……給排気ツール、7
0、74……金属膜、71、75……電極、72……チ
ツプ側バンプ、73……チツプ側ダミーバンプ、76…
…基板側バンプ、77……基板側ダミーバンプ。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一面に複数の第1のバンプが形成され、上
    記各第1のバンプを基板に形成された対応する第2のバ
    ンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装する
    電子部品において、 上記一面の所定領域に形成された、上記第1のバンプよ
    りも低融点の単数又は複数のダミーバンプを具えること
    を特徴とする電子部品。
  2. 【請求項2】上記所定領域は、上記一面の中央部でなる
    ことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  3. 【請求項3】上記一面の上記所定領域上に形成された金
    属膜を具え、上記ダミーバンプが上記金属膜上に形成さ
    れたことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  4. 【請求項4】上記ダミーバンプは、表面積の大きさが上
    記電子部品全体の表面積の10分の1ないし4分の1程
    度に選定されたことを特徴とする請求項1に記載の電子
    部品。
  5. 【請求項5】一面に複数の第1のバンプが形成され、上
    記各第1のバンプを、基板に形成された対応する第2の
    バンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装す
    る電子部品において、 上記電子部品の上記一面の所定領域上に上記第1のバン
    プよりも低融点の単数又は複数の第1のダミーバンプを
    形成する第1の工程と、 上記電子部品を上記基板に実装する際に上記第1のダミ
    ーバンプと対向する上記基板の所定領域上に、上記第2
    のバンプよりも低融点の単数又は複数の第2のダミーバ
    ンプを形成する第2の工程と、 上記電子部品の上記第1のダミーバンプと上記基板の上
    記第2のダミーバンプとを位置合わせて接合する第3の
    工程と、 上記第1及び第2のバンプを接合する第4の工程とを具
    えることを特徴とする電子部品の実装方法。
  6. 【請求項6】上記電子部品の上記一面の上記所定領域
    は、当該一面の中央部でなることを特徴とする請求項5
    に記載の電子部品の実装方法。
  7. 【請求項7】上記電子部品は、ベアチツプでなることを
    特徴とする請求項5に記載の電子部品の実装方法。
  8. 【請求項8】上記第3の工程は、上記電子部品の上記第
    1のダミーバンプと上記基板の上記第2のダミーバンプ
    とを接合させる以前に、上記電子部品の上記第1のバン
    プと上記基板の上記第2のバンプとを位置合わせする第
    5の工程を含むことを特徴とする請求項5に記載の電子
    部品の実装方法。
  9. 【請求項9】上記第1のダミーバンプは、上記電子部品
    の上記一面の上記所定領域上に形成された第1の金属膜
    上に形成し、 上記第2のダミーバンプは、上記基板の上記一面の上記
    所定領域上に形成された第2の金属膜上に形成すること
    を特徴とする請求項5に記載の電子部品の実装方法。
  10. 【請求項10】上記第1及び第2のダミーバンプの表面
    積の大きさを、それぞれ上記電子部品全体の表面積の1
    0分の1ないし4分の1程度に選定することを特徴とす
    る請求項5に記載の電子部品の実装方法。
  11. 【請求項11】一面に複数の第1のバンプが形成され、
    上記各第1のバンプを、基板に形成された対応する第2
    のバンプにそれぞれ接合することにより上記基板に実装
    する電子部品において、 上記基板を位置決め保持する基板保持手段と、 上記基板保持手段により位置決め保持された上記基板上
    に上記電子部品を、当該電子部品の上記一面の所定領域
    に形成された上記第1のバンプよりも低融点の第1のダ
    ミーバンプと、当該第1のダミーバンプと対向する上記
    基板の所定領域に形成された上記第2のバンプよりも低
    融点の第2のダミーバンプとの位置合わせをして載せる
    電子部品載置手段と、 上記第1及び第2のダミーバンプを加熱溶融させること
    により接合させた後、上記第1及び第2のバンプを加熱
    溶融させることにより接合させる加熱手段とを具えるこ
    とを特徴とする電子部品の実装装置。
  12. 【請求項12】上記電子部品は、ベアチツプでなること
    を特徴とする請求項11に記載の電子部品の実装装置。
  13. 【請求項13】上記電子部品載置手段は、上記第1及び
    第2のダミーバンプの位置合わせの際、上記第1及び第
    2のバンプの位置合わせも行うことを特徴とする請求項
    11に記載の電子部品の実装装置。
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JPH098084A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置および電子部品の半田付け方法
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