JPH0810250B2 - スクイドを用いた磁気雑音除去装置 - Google Patents
スクイドを用いた磁気雑音除去装置Info
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- JPH0810250B2 JPH0810250B2 JP3137175A JP13717591A JPH0810250B2 JP H0810250 B2 JPH0810250 B2 JP H0810250B2 JP 3137175 A JP3137175 A JP 3137175A JP 13717591 A JP13717591 A JP 13717591A JP H0810250 B2 JPH0810250 B2 JP H0810250B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/025—Compensating stray fields
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10S505/842—Measuring and testing
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は極めて微弱である生体の
磁気を計測するような場合に、当該生体のおかれている
環境磁場雑音をキャンセルして、S/Nを改善すること
により、当該計測結果の信頼性を向上させることのでき
る磁気雑音除去装置に関する。
磁気を計測するような場合に、当該生体のおかれている
環境磁場雑音をキャンセルして、S/Nを改善すること
により、当該計測結果の信頼性を向上させることのでき
る磁気雑音除去装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スクイド磁束計を用いて生体磁気計測を
行う際、いかにして環境磁場雑音を低下させ、S/Nを
改善するかが重大な問題となっている。ところで、この
種の磁気雑音は図2の(A)に示されている通り、低周
波数領域では1/f(fは周波数)的特性を有し、1H
zで1×10-10 〜1×10-9T(Hz)-1/2の雑音レ
ベルとなり、低周波側はもっと大きくなっていくもので
あって、これに対して生体磁気の場合にあっては、10
-14 〜10-9Tの信号(信号源の強度深さや方向等で、
その大きさが異なる。)を検出しなければならないこと
になる。
行う際、いかにして環境磁場雑音を低下させ、S/Nを
改善するかが重大な問題となっている。ところで、この
種の磁気雑音は図2の(A)に示されている通り、低周
波数領域では1/f(fは周波数)的特性を有し、1H
zで1×10-10 〜1×10-9T(Hz)-1/2の雑音レ
ベルとなり、低周波側はもっと大きくなっていくもので
あって、これに対して生体磁気の場合にあっては、10
-14 〜10-9Tの信号(信号源の強度深さや方向等で、
その大きさが異なる。)を検出しなければならないこと
になる。
【0003】一方、実際に生体磁気測定に必要な周波数
帯域(△B)は、DC〜1KHz程度であり、この場
合、実計測中の雑音レベルは Bn×△B1/2 (Bnは
単位周波数当りの磁気雑音)であるので、前記の1×1
0-10 〜1×10-9T(Hz)-1/2の場合、DC〜1K
Hzで、32倍程度の雑音レベルとなるのであり、さら
に、雑音には周波数特性があるから、これをも考慮せね
ばならぬこととなるが、仮に5×10-9Tの雑音であっ
たとすると、信号検出のためには、5×105 の磁気的
減衰で10-14 Tの信号に対して、S/N比が1とな
る。以上の考察からして、磁気的な雑音除去装置に要求
されることは、105 〜106 の磁気減衰率が必要とな
ること、そして、特に低周波領域(1Hz以下)の雑音
に対して効果的であることが、生体磁気計測には不可欠
な条件となってくることになる。
帯域(△B)は、DC〜1KHz程度であり、この場
合、実計測中の雑音レベルは Bn×△B1/2 (Bnは
単位周波数当りの磁気雑音)であるので、前記の1×1
0-10 〜1×10-9T(Hz)-1/2の場合、DC〜1K
Hzで、32倍程度の雑音レベルとなるのであり、さら
に、雑音には周波数特性があるから、これをも考慮せね
ばならぬこととなるが、仮に5×10-9Tの雑音であっ
たとすると、信号検出のためには、5×105 の磁気的
減衰で10-14 Tの信号に対して、S/N比が1とな
る。以上の考察からして、磁気的な雑音除去装置に要求
されることは、105 〜106 の磁気減衰率が必要とな
ること、そして、特に低周波領域(1Hz以下)の雑音
に対して効果的であることが、生体磁気計測には不可欠
な条件となってくることになる。
【0004】ところで、これまで既に行われて来た磁気
雑音除去手段、もしくは磁気雑音のキャンセリング手段
としては、次の如きものが知られている。 a)磁気シールドルーム これは、パーマロイなどの高透磁性材料を用いた室を形
成し、当該室内空間に磁気的雑音の減衰領域を作るよう
にしたものである。
雑音除去手段、もしくは磁気雑音のキャンセリング手段
としては、次の如きものが知られている。 a)磁気シールドルーム これは、パーマロイなどの高透磁性材料を用いた室を形
成し、当該室内空間に磁気的雑音の減衰領域を作るよう
にしたものである。
【0005】ここで、図5は当該室内における磁気減衰
率の周波数特性を示しており、ここに示された曲線L
1 、L2 は、アルミニウムとパーマロイを重ねた素材を
用いて室を形成した場合を示しており、アルミニウムと
パーマロイの重積層数を増加していくと、磁気減衰率が
大きくなっていく。そして、かかる磁気シールドルーム
は、同上図からも明らかな通り、低周波側の磁気雑音に
対しては、大きな磁気減衰率を期待することができない
ばかりか、測定室が狭く、閉空間となる欠点があり、パ
ーマロイが高価であるため、その価格が数千万円から1
億円以上と高価なものとなってしまう。
率の周波数特性を示しており、ここに示された曲線L
1 、L2 は、アルミニウムとパーマロイを重ねた素材を
用いて室を形成した場合を示しており、アルミニウムと
パーマロイの重積層数を増加していくと、磁気減衰率が
大きくなっていく。そして、かかる磁気シールドルーム
は、同上図からも明らかな通り、低周波側の磁気雑音に
対しては、大きな磁気減衰率を期待することができない
ばかりか、測定室が狭く、閉空間となる欠点があり、パ
ーマロイが高価であるため、その価格が数千万円から1
億円以上と高価なものとなってしまう。
【0006】b)電気的な磁気雑音のキャンセル法 この方法は図6に示す如き装置を用いることで、信号検
出用のスクイド磁束計SC1、リファレンススクイド磁
束計SC2用いて、両磁束計における測定結果の差分を
とることで、出力信号におけるノイズ成分を除去しよう
とするものであり、図中矢印Mは信号、Nは雑音、P
1、P2はコントローラ、Qは信号処理回路部、Rはア
ウトプットを示している。上記の手段によるときは、信
号検出空間の実際の磁場を除去していないこととなるの
で、多チャンネルスクイドシステムを考えたときの各チ
ャンネルの補正が必要となる欠点がある。
出用のスクイド磁束計SC1、リファレンススクイド磁
束計SC2用いて、両磁束計における測定結果の差分を
とることで、出力信号におけるノイズ成分を除去しよう
とするものであり、図中矢印Mは信号、Nは雑音、P
1、P2はコントローラ、Qは信号処理回路部、Rはア
ウトプットを示している。上記の手段によるときは、信
号検出空間の実際の磁場を除去していないこととなるの
で、多チャンネルスクイドシステムを考えたときの各チ
ャンネルの補正が必要となる欠点がある。
【0007】c)グラジオメータ 既知の如く、スクイド磁束計の構成は、通常図7のよう
に磁束検出コイルMC、入力コイルIP、そしてスクイ
ドインダクタンスSIを組合せた磁束トランスの構成を
とっているが、この磁束検出コイルMCにつき、検出し
たい磁場の空間的な勾配が決まっていれば、磁束傾斜計
として、それ以下の勾配磁場をキャンセルするように構
成するのである。すなわち、図8のようにマグネットメ
ータU、一次微分傾斜計U1、二次微分傾斜計U2のよ
うにして傾斜計を構成すると、均一磁場(一次微分)や
一次勾配までの磁場(二次微分)等をキャンセルした
り、∂Bz/∂x、∂Bx/∂x、∂Bx/∂z等、目
的によって各種の構成を取ることができることとなる。
に磁束検出コイルMC、入力コイルIP、そしてスクイ
ドインダクタンスSIを組合せた磁束トランスの構成を
とっているが、この磁束検出コイルMCにつき、検出し
たい磁場の空間的な勾配が決まっていれば、磁束傾斜計
として、それ以下の勾配磁場をキャンセルするように構
成するのである。すなわち、図8のようにマグネットメ
ータU、一次微分傾斜計U1、二次微分傾斜計U2のよ
うにして傾斜計を構成すると、均一磁場(一次微分)や
一次勾配までの磁場(二次微分)等をキャンセルした
り、∂Bz/∂x、∂Bx/∂x、∂Bx/∂z等、目
的によって各種の構成を取ることができることとなる。
【0008】しかし、上記のものの欠陥は、より高次に
なれば、磁束密度に対するスクイド磁束計の感度が低下
してしまうことであり、また、距離(∂Bz/∂zであ
ればZ方向)に対する感度の減衰が大きくなり、巻きバ
ランスによってキャンセル効率が決まるため、通常は1
02 〜104 程度の除去率となるのであって、この場合
にも、実際の磁気雑音を除去してしまっているわけでは
ない。
なれば、磁束密度に対するスクイド磁束計の感度が低下
してしまうことであり、また、距離(∂Bz/∂zであ
ればZ方向)に対する感度の減衰が大きくなり、巻きバ
ランスによってキャンセル効率が決まるため、通常は1
02 〜104 程度の除去率となるのであって、この場合
にも、実際の磁気雑音を除去してしまっているわけでは
ない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の如き
従来例の有する欠陥に鑑み検討されたもので、その着想
はこれまでスクイド磁束計にあって知られているゼロ磁
界の検出の考え方に基づいており、通常のスクイド回路
では、スクイド素子が常にゼロ磁場となるように、フィ
ードバックループを構成していた点に着目したものであ
る。すなわち、スクイド磁束計のフィードバック電流
を、スクイド素子ではなく、ノイズキャンセルコイルに
供給し、この際、このノイズキャンセルコイルの所定空
間部にスクイド磁束計の磁束検出コイルを配設すること
によって、当該磁束検出コイルをゼロ検出器として働か
せ、これにより、磁気雑音を極めて効果的にシールドす
ることのできる空間を、当該ノイズキャンセルコイルの
所定空間部に形成しようとするのが、その目的である。
従来例の有する欠陥に鑑み検討されたもので、その着想
はこれまでスクイド磁束計にあって知られているゼロ磁
界の検出の考え方に基づいており、通常のスクイド回路
では、スクイド素子が常にゼロ磁場となるように、フィ
ードバックループを構成していた点に着目したものであ
る。すなわち、スクイド磁束計のフィードバック電流
を、スクイド素子ではなく、ノイズキャンセルコイルに
供給し、この際、このノイズキャンセルコイルの所定空
間部にスクイド磁束計の磁束検出コイルを配設すること
によって、当該磁束検出コイルをゼロ検出器として働か
せ、これにより、磁気雑音を極めて効果的にシールドす
ることのできる空間を、当該ノイズキャンセルコイルの
所定空間部に形成しようとするのが、その目的である。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、所望の空間に、ノイズキャンセルコイル
を、所要数だけ配設し、当該ノイズキャンセルコイル間
の所定空間部に、上記ノイズキャンセルコイルに対応す
るスクイド磁束計の磁束検出コイルを配設すると共に、
当該スクイド磁束計から出力されるフィードバック電流
を、前記所要数のノイズキャンセルコイルに供給するよ
うにしたことを特徴とするスクイドを用いた磁気雑音除
去装置を提供しようとするものである。
達成するため、所望の空間に、ノイズキャンセルコイル
を、所要数だけ配設し、当該ノイズキャンセルコイル間
の所定空間部に、上記ノイズキャンセルコイルに対応す
るスクイド磁束計の磁束検出コイルを配設すると共に、
当該スクイド磁束計から出力されるフィードバック電流
を、前記所要数のノイズキャンセルコイルに供給するよ
うにしたことを特徴とするスクイドを用いた磁気雑音除
去装置を提供しようとするものである。
【0011】
【作用】本発明によるときは、スクイド磁束計における
通常のフィードバック回路のかわりに、フィードバック
電流がノイズキャンセルコイルに供与される。ノイズキ
ャンセルコイルで作られる磁場空間にスクイド磁束計の
磁束検出コイルが配置されているから、当該磁束検出コ
イルがゼロ検出器として働くこととなる。この結果ノイ
ズキャンセルコイルは、環境磁気雑音に対して、所定空
間部にて、ゼロ磁場の空間を作ることができることとな
る。
通常のフィードバック回路のかわりに、フィードバック
電流がノイズキャンセルコイルに供与される。ノイズキ
ャンセルコイルで作られる磁場空間にスクイド磁束計の
磁束検出コイルが配置されているから、当該磁束検出コ
イルがゼロ検出器として働くこととなる。この結果ノイ
ズキャンセルコイルは、環境磁気雑音に対して、所定空
間部にて、ゼロ磁場の空間を作ることができることとな
る。
【0012】
【実施例】まず、環境磁気雑音の空間的性質につき説示
しておくと、磁気雑音信号源からの磁場強度は、距離に
対して0次からn次微分の多項式で表現される。ただ
し、測定空間の距離に対して当該雑音源が非常に遠い場
合、その空間内での磁場強度は、ほぼ均一(0次)と見
なすことができる。通常、磁気雑音信号源は主として遠
方にあると考えられるが、どこから発生しているかにつ
いては不定であるから、測定空間には、0次よりも、高
次の磁場成分が含まれている。そこで本発明による磁気
雑音除去装置では、適当な次数の磁場成分を検出するス
クイド磁束計(例えば図8に示す如きもの)と、それに
対応する次数の磁場空間を作製するノイズキャンセルコ
イルを組合わせることで、実際の雑音空間に適応する。
例えば、0次の磁場成分を除去するためには、スクイド
磁束計の磁束検出コイルに、図8に示すマグネトメータ
(0次)を用い、ノイズキャンセルコイルにはヘルムホ
ルツコイルを用いるというように、実際の雑音磁場空間
に合わせて、より高次な磁気雑音除去装置と順次対応さ
せて構成されることとなる。
しておくと、磁気雑音信号源からの磁場強度は、距離に
対して0次からn次微分の多項式で表現される。ただ
し、測定空間の距離に対して当該雑音源が非常に遠い場
合、その空間内での磁場強度は、ほぼ均一(0次)と見
なすことができる。通常、磁気雑音信号源は主として遠
方にあると考えられるが、どこから発生しているかにつ
いては不定であるから、測定空間には、0次よりも、高
次の磁場成分が含まれている。そこで本発明による磁気
雑音除去装置では、適当な次数の磁場成分を検出するス
クイド磁束計(例えば図8に示す如きもの)と、それに
対応する次数の磁場空間を作製するノイズキャンセルコ
イルを組合わせることで、実際の雑音空間に適応する。
例えば、0次の磁場成分を除去するためには、スクイド
磁束計の磁束検出コイルに、図8に示すマグネトメータ
(0次)を用い、ノイズキャンセルコイルにはヘルムホ
ルツコイルを用いるというように、実際の雑音磁場空間
に合わせて、より高次な磁気雑音除去装置と順次対応さ
せて構成されることとなる。
【0013】本発明に係る磁気雑音除去装置につき、図
面を参照して以下詳記すると、図1の(A)に示す如く
スクイド磁束計1と、ノイズキャンセルコイル2として
の一対のヘルムホルツコイルとにより構成されたもの
で、図中3はスクイド磁束計1の磁束検出コイルを示
し、この磁束検出コイル3が、所望空間にあって、所定
距離だけ離間して平行に並設された一対のヘルムホルツ
コイル間に形成された所定空間部4としての中心空間部
に、当該ヘルムホルツコイルと同軸状となるよう配設さ
れている。ここで、ノイズキャンセルコイル2は磁場勾
配のない均一磁場を構成するものであるけれども、それ
は中心空間部等の所定空間にあって可能となるので、大
きな均一磁場空間を得ようとすれば、大きなノイズキャ
ンセルコイル2を用いることが要求される。この実験例
では除去の対象となる雑音源が、主として遠方であり、
一軸に限って実施している。
面を参照して以下詳記すると、図1の(A)に示す如く
スクイド磁束計1と、ノイズキャンセルコイル2として
の一対のヘルムホルツコイルとにより構成されたもの
で、図中3はスクイド磁束計1の磁束検出コイルを示
し、この磁束検出コイル3が、所望空間にあって、所定
距離だけ離間して平行に並設された一対のヘルムホルツ
コイル間に形成された所定空間部4としての中心空間部
に、当該ヘルムホルツコイルと同軸状となるよう配設さ
れている。ここで、ノイズキャンセルコイル2は磁場勾
配のない均一磁場を構成するものであるけれども、それ
は中心空間部等の所定空間にあって可能となるので、大
きな均一磁場空間を得ようとすれば、大きなノイズキャ
ンセルコイル2を用いることが要求される。この実験例
では除去の対象となる雑音源が、主として遠方であり、
一軸に限って実施している。
【0014】図1の(A)にあって、1bは磁束検出コ
イル3と既知の入力コイル1aとの間に挿接した磁束ト
ランスを、1cは既知の如くスクイド磁束計1における
スクイド素子を示し、その出力側には順次前置増巾器1
d、スクイドコントローラ1e、そして電圧電流変換器
1fが接続されており、本発明では、この電圧電流変換
器1fの出力であるフィードバック電流Iが、前記のよ
うに所定箇所に配設されて、磁束検出コイル3と同軸状
に位置しているノイズキャンセルコイル2としてのヘル
ムホルツコイルに供給されるよう構成されている。
イル3と既知の入力コイル1aとの間に挿接した磁束ト
ランスを、1cは既知の如くスクイド磁束計1における
スクイド素子を示し、その出力側には順次前置増巾器1
d、スクイドコントローラ1e、そして電圧電流変換器
1fが接続されており、本発明では、この電圧電流変換
器1fの出力であるフィードバック電流Iが、前記のよ
うに所定箇所に配設されて、磁束検出コイル3と同軸状
に位置しているノイズキャンセルコイル2としてのヘル
ムホルツコイルに供給されるよう構成されている。
【0015】図1の(B)に示されている本発明の実施
例では、上記図1の(A)におけるものが、一対のヘル
ムホルツコイルによって一軸、0次勾配であるのに対
し、一対のヘルムホルツコイルをx軸、y軸、z軸の配
置にて、2x、2y、2zのように設置し、もちろん、
これら各ヘルムホルツコイル2x、2y、2zに対応し
たスクイド磁束計1x、1y、1zを設けて、夫々のフ
ィードバック電流Ix、Iy、Izをヘルムホルツコイ
ル2x、2y、2zに供与するようにしてあり、もちろ
ん、スクイド磁束計1x、1y、1zの各磁束検出コイ
ル3x、3y、3zは、夫々のヘルムホルツコイル2
x、2y、2zによる所定空間部4としての中心空間部
に配設されている。従って、この実施例では磁束検出コ
イル3x、3y、3zとヘルムホルツコイル2x、2
y、2zを3軸にすることで、三次元空間の磁気シール
ドを可能とすることができる。このように、三次元空間
の磁気シールドを実現した場合、磁束検出コイル3x、
3y、3zは、ヘルムホルツコイル2x、2y、2zと
どのような角度の関係にあってもよい(ただし3xと2
xが直交する場合を除く)のであり、そのため、磁束検
出コイル3x、3y、3zは自由に動かせる。 実際に、
生体磁気等を測定するための磁束検出コイル(図1
(A)の5aに対応するもの)は、如何なる形状、角度
でもよいという利点があることとなる。
例では、上記図1の(A)におけるものが、一対のヘル
ムホルツコイルによって一軸、0次勾配であるのに対
し、一対のヘルムホルツコイルをx軸、y軸、z軸の配
置にて、2x、2y、2zのように設置し、もちろん、
これら各ヘルムホルツコイル2x、2y、2zに対応し
たスクイド磁束計1x、1y、1zを設けて、夫々のフ
ィードバック電流Ix、Iy、Izをヘルムホルツコイ
ル2x、2y、2zに供与するようにしてあり、もちろ
ん、スクイド磁束計1x、1y、1zの各磁束検出コイ
ル3x、3y、3zは、夫々のヘルムホルツコイル2
x、2y、2zによる所定空間部4としての中心空間部
に配設されている。従って、この実施例では磁束検出コ
イル3x、3y、3zとヘルムホルツコイル2x、2
y、2zを3軸にすることで、三次元空間の磁気シール
ドを可能とすることができる。このように、三次元空間
の磁気シールドを実現した場合、磁束検出コイル3x、
3y、3zは、ヘルムホルツコイル2x、2y、2zと
どのような角度の関係にあってもよい(ただし3xと2
xが直交する場合を除く)のであり、そのため、磁束検
出コイル3x、3y、3zは自由に動かせる。 実際に、
生体磁気等を測定するための磁束検出コイル(図1
(A)の5aに対応するもの)は、如何なる形状、角度
でもよいという利点があることとなる。
【0016】図1の(A)に示した実施例にあって、ス
クイド磁束計1の磁束検出コイル3は24mmの直径で
5ターンのマグネトメータを使用してあり、ここで、ヘ
ルムホルツコイルとしては、直径1590mm、巻数7
2のものを用い、フィードバック電流Iとしては、±7
mAまで流すことができるようにし、この際における雑
音キャンセルの可能な磁場の大きさは560nTであ
る。図1の(A)にあって、5は前記スクイド磁束計1
と同じ構成をもつ測定用スクイド磁束計を示しており
(ただし、フィードバック電流は、スクイド素子にもど
してある。)、これにより、当該所定空間部4における
環境磁場雑音を測定し、かつ本発明に係る磁気雑音除去
装置(アクティブシールドシステム)を動作させた時の
磁場雑音をも測定し、当該各雑音の大きさの比から、磁
気減衰率を求めるためのもので、図中5aは測定用スク
イド磁束計5の磁束検出コイルを示しており、前記スク
イド磁束計1の磁束検出コイル3から100mmの間隔
をおいて、これまた同軸状に配設してある。
クイド磁束計1の磁束検出コイル3は24mmの直径で
5ターンのマグネトメータを使用してあり、ここで、ヘ
ルムホルツコイルとしては、直径1590mm、巻数7
2のものを用い、フィードバック電流Iとしては、±7
mAまで流すことができるようにし、この際における雑
音キャンセルの可能な磁場の大きさは560nTであ
る。図1の(A)にあって、5は前記スクイド磁束計1
と同じ構成をもつ測定用スクイド磁束計を示しており
(ただし、フィードバック電流は、スクイド素子にもど
してある。)、これにより、当該所定空間部4における
環境磁場雑音を測定し、かつ本発明に係る磁気雑音除去
装置(アクティブシールドシステム)を動作させた時の
磁場雑音をも測定し、当該各雑音の大きさの比から、磁
気減衰率を求めるためのもので、図中5aは測定用スク
イド磁束計5の磁束検出コイルを示しており、前記スク
イド磁束計1の磁束検出コイル3から100mmの間隔
をおいて、これまた同軸状に配設してある。
【0017】同上図1の(A)にあって、前記測定用ス
クイド磁束計5により測定した結果が、図2の(A)
(B)に示されており、その測定した周波数範囲は10
mHz〜10KHzであって、図3の(A)は本発明装
置を稼動させないアクティブシールド無しの場合、同図
の(B)がアクティブシールド有りの場合における各磁
気雑音スペクトラムを夫々示している。上記の測定結果
から明らかなように、100Hz以下の領域にあって、
本発明に係る磁気雑音シールド装置のシールド効果が顕
著に発揮されており、磁気減衰率は、0.5Hzで90
0、1Hzで700、10Hzで120、50Hzで2
5、100Hzで14であった。
クイド磁束計5により測定した結果が、図2の(A)
(B)に示されており、その測定した周波数範囲は10
mHz〜10KHzであって、図3の(A)は本発明装
置を稼動させないアクティブシールド無しの場合、同図
の(B)がアクティブシールド有りの場合における各磁
気雑音スペクトラムを夫々示している。上記の測定結果
から明らかなように、100Hz以下の領域にあって、
本発明に係る磁気雑音シールド装置のシールド効果が顕
著に発揮されており、磁気減衰率は、0.5Hzで90
0、1Hzで700、10Hzで120、50Hzで2
5、100Hzで14であった。
【0018】さらに、ペンレコーダを用いて雑音測定を
行った結果が図3と図4に示されており、ここで図3、
図4は夫々、アクティブシールド無しと有りの場合にお
けるレコードチャートを示すものである。上記の図3に
あって見られる数nT〜数十nTの大きな磁気雑音は、
近くの道路を自動車が通過した時のもので、図4に明示
の如くアクティブシールドを用いることで、このノイズ
ピークが100pT以下となっており、近くを通過する
車の雑音に対しては、磁気減衰率が100以上である。
行った結果が図3と図4に示されており、ここで図3、
図4は夫々、アクティブシールド無しと有りの場合にお
けるレコードチャートを示すものである。上記の図3に
あって見られる数nT〜数十nTの大きな磁気雑音は、
近くの道路を自動車が通過した時のもので、図4に明示
の如くアクティブシールドを用いることで、このノイズ
ピークが100pT以下となっており、近くを通過する
車の雑音に対しては、磁気減衰率が100以上である。
【0019】上記の実験による測定にあっては、実際上
磁束検出コイル3とヘルムホルツコイルとの位置ずれが
あり、このことが、アクテイブシールドの性能を決定し
ていたことから、本装置の回路定数、位置ずれ、ヘルム
ホルツコイルの均一度を改善することによって、低周波
領域において均一磁場に対して1以上のシールディング
ファクターを期待できる。さらに、本発明における磁気
雑音除去装置と、前記従来の簡易な磁気シールドルーム
を併用(DC〜10KHzの領域)し、より効果的な磁
気雑音の除去を行うことができ、特に実際の生体磁気計
測にあって有用なものとなることがわかった。
磁束検出コイル3とヘルムホルツコイルとの位置ずれが
あり、このことが、アクテイブシールドの性能を決定し
ていたことから、本装置の回路定数、位置ずれ、ヘルム
ホルツコイルの均一度を改善することによって、低周波
領域において均一磁場に対して1以上のシールディング
ファクターを期待できる。さらに、本発明における磁気
雑音除去装置と、前記従来の簡易な磁気シールドルーム
を併用(DC〜10KHzの領域)し、より効果的な磁
気雑音の除去を行うことができ、特に実際の生体磁気計
測にあって有用なものとなることがわかった。
【0020】
【発明の効果】本発明は、以上のようにして構成するこ
とができるから、スクイド磁束計とノイズキャンセルコ
イルとの適切な構成により、当該ノイズキャンセルコイ
ルの所定空間部に、特に低周波領域の雑音に対する高い
シールド効果をもたせることができる。また、当該装置
によるときは磁束検出コイルが置かれている磁場空間の
正味の環境雑音をキャンセルするよう構成されているの
で、例えば、生体磁気計測における多点同時測定用のス
クイド磁束計に効果的である。従って、スクイド磁束計
とノイズキャンセルコイルを必要数装備させるだけで、
磁気雑音除去効果を発揮させ得るので、従来の如く高価
な磁気シールドルームを使用したり、スクイド磁束計の
感度を犠牲にしてグラジオメータの次数を高くしたりす
る必要もなく、必要な空間の磁気雑音を大幅に下げるこ
とができる。
とができるから、スクイド磁束計とノイズキャンセルコ
イルとの適切な構成により、当該ノイズキャンセルコイ
ルの所定空間部に、特に低周波領域の雑音に対する高い
シールド効果をもたせることができる。また、当該装置
によるときは磁束検出コイルが置かれている磁場空間の
正味の環境雑音をキャンセルするよう構成されているの
で、例えば、生体磁気計測における多点同時測定用のス
クイド磁束計に効果的である。従って、スクイド磁束計
とノイズキャンセルコイルを必要数装備させるだけで、
磁気雑音除去効果を発揮させ得るので、従来の如く高価
な磁気シールドルームを使用したり、スクイド磁束計の
感度を犠牲にしてグラジオメータの次数を高くしたりす
る必要もなく、必要な空間の磁気雑音を大幅に下げるこ
とができる。
【図1】(A)(B)は本発明に係る磁気雑音シールド
装置の夫々異種実施例を示す電気回路系統説明図であ
る。
装置の夫々異種実施例を示す電気回路系統説明図であ
る。
【図2】(A)(B)は本発明装置の夫々非稼動、稼動
状態にあって、当該装置の中心空間部にあって測知した
磁気雑音のスペクトラムである。
状態にあって、当該装置の中心空間部にあって測知した
磁気雑音のスペクトラムである。
【図3】本発明装置の非稼動状態にあって、当該装置の
中心空間部にて測知したペンコーダによる磁気雑音の時
間波形図である。
中心空間部にて測知したペンコーダによる磁気雑音の時
間波形図である。
【図4】本発明装置の稼動状態にあって、当該装置の中
心空間部で測知したペンコーダによる磁気雑音の時間波
形図である。
心空間部で測知したペンコーダによる磁気雑音の時間波
形図である。
【図5】従来の磁気シールドルーム内におけるシールド
ファクターの周波数特性を示した図表である。
ファクターの周波数特性を示した図表である。
【図6】従来の電気的に磁気雑音をキャンセルするのに
用いられている装置の電気回路構成図である。
用いられている装置の電気回路構成図である。
【図7】従来のスクイド磁束計を示す要部構成図であ
る。
る。
【図8】従来のグラシオメータを示す構成説明図であ
る。
る。
1 スクイド磁束計 2 ノイズキャンセルコイル 3 磁束検出コイル 4 所定空間部 I フィードバック電流
Claims (1)
- 【請求項1】 所望の空間に、ノイズキャンセルコイル
を所要数だけ配設し、当該ノイズキャンセルコイル間の
所定空間部に、上記ノイズキャンセルコイルに対応する
スクイド磁束計の磁束検出コイルを配設すると共に、当
該スクイド磁束計から出力されるフィードバック電流
を、前記所要数のノイズキャンセルコイルに供給するよ
うにしたことを特徴とするスクイドを用いた磁気雑音除
去装置。
Priority Applications (7)
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JP3137175A JPH0810250B2 (ja) | 1991-05-13 | 1991-05-13 | スクイドを用いた磁気雑音除去装置 |
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DE69214347T DE69214347T2 (de) | 1991-05-13 | 1992-04-22 | Anlage zur magnetischen Geräuschverminderung für ein Squidmagnetometer |
EP92303621A EP0514027B1 (en) | 1991-05-13 | 1992-04-22 | Magnetic noise reducing device for a squid magnetometer |
CA002067963A CA2067963C (en) | 1991-05-13 | 1992-05-04 | Magnetic noise reducing device using squid |
FI922129A FI107195B (fi) | 1991-05-13 | 1992-05-11 | SQUIDia käyttävä magneettisen melun vaimennuslaite |
US07/881,795 US5367259A (en) | 1991-05-13 | 1992-05-12 | Active shielding device based on SQUID and feedback therefrom for the reduction of environmental magnetic noise |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3137175A JPH0810250B2 (ja) | 1991-05-13 | 1991-05-13 | スクイドを用いた磁気雑音除去装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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JPH0810250B2 true JPH0810250B2 (ja) | 1996-01-31 |
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ID=15192570
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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---|---|
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EP (1) | EP0514027B1 (ja) |
JP (1) | JPH0810250B2 (ja) |
AT (1) | ATE144050T1 (ja) |
CA (1) | CA2067963C (ja) |
DE (1) | DE69214347T2 (ja) |
FI (1) | FI107195B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5537037A (en) * | 1993-03-16 | 1996-07-16 | Hitachi, Ltd. | Apparatus with cancel coil assembly for cancelling a field parallel to an axial direction to the plural coils and to a squid pick up coil |
AU676075B2 (en) * | 1993-09-15 | 1997-02-27 | Broken Hill Proprietary Company Limited, The | SQUID detector for TEM prospecting |
CA2132149C (en) * | 1993-09-15 | 2003-11-11 | Graeme John Sloggett | Squid detector for tem prospecting |
JP2864095B2 (ja) * | 1994-07-19 | 1999-03-03 | 株式会社超伝導センサ研究所 | 磁気遮蔽装置 |
DE4437436C2 (de) * | 1994-10-20 | 1997-04-03 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Materialprüfung |
US5633583A (en) * | 1995-06-07 | 1997-05-27 | Gas Research Institute | Magnetic telescope with enhanced noise suppression |
DE19525514A1 (de) * | 1995-07-13 | 1997-01-16 | Stefan Schoene | Verfahren zur Reduzierung des Rauschens in supraleitenden Quanten- Interferenz-Detektoren (SQUIDs) |
JP3742998B2 (ja) * | 1997-03-26 | 2006-02-08 | 住友電気工業株式会社 | 磁性体濃度の検出方法及び装置 |
DE19718649A1 (de) | 1997-05-02 | 1998-11-05 | Peter Heiland | Vorrichtung und Verfahren zur aktiven Kompensation magnetischer und elektromagnetischer Störfelder |
JP3454237B2 (ja) * | 1998-04-28 | 2003-10-06 | 株式会社日立製作所 | 生体磁場計測装置 |
JP3454236B2 (ja) * | 1998-04-28 | 2003-10-06 | 株式会社日立製作所 | 生体磁場計測装置 |
JP3454238B2 (ja) * | 1998-04-28 | 2003-10-06 | 株式会社日立製作所 | 生体磁場計測装置 |
JP3451193B2 (ja) * | 1998-04-28 | 2003-09-29 | 株式会社日立製作所 | 生体磁場計測装置 |
FI112399B (fi) | 1998-08-28 | 2003-11-28 | Neuromag Oy | Menetelmä ja laite taustahäiriön poistamiseksi monikanavaisista ilmaisinasetelmista |
JP3406273B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2003-05-12 | 株式会社エムティアイ | 外乱磁界キャンセル装置 |
JP4736210B2 (ja) * | 2000-11-08 | 2011-07-27 | ヤマハ株式会社 | センサ |
GB0124887D0 (en) * | 2001-10-17 | 2001-12-05 | Qinetiq Ltd | Metal detection apparatus |
FI118577B (fi) * | 2004-02-13 | 2007-12-31 | Elekta Ab | Menetelmä mittalaitteen suojaamiseksi häiriöiltä |
DE102006006487A1 (de) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Anordnung zur Messung magnetischer Signale |
EP1843177A1 (en) * | 2006-04-06 | 2007-10-10 | Leica Geosystems AG | Calibration method and calibration apparatus for a hand-held locating device |
US8249820B2 (en) | 2010-07-02 | 2012-08-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Detector assembly for use in environments containing background magnetic noise and method thereof |
JP5799553B2 (ja) | 2011-04-01 | 2015-10-28 | セイコーエプソン株式会社 | 磁場測定装置、磁場測定システムおよび磁場測定方法 |
CN104880680B (zh) * | 2014-02-28 | 2017-12-05 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 超导量子干涉器磁传感系统 |
JP2015212715A (ja) * | 2015-08-26 | 2015-11-26 | セイコーエプソン株式会社 | 磁場測定装置、磁場測定システムおよび磁場測定方法 |
WO2017077870A1 (ja) * | 2015-11-04 | 2017-05-11 | Tdk株式会社 | 磁界検出装置及び磁界検出方法 |
US10700257B2 (en) | 2018-10-15 | 2020-06-30 | International Business Machines Corporation | Flux-biasing superconducting quantum processors |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US4327498A (en) * | 1980-03-17 | 1982-05-04 | Sperry Corporation | Magnetic compass compensation system |
JPS5925726A (ja) * | 1982-07-31 | 1984-02-09 | 株式会社島津製作所 | 診断用観測装置 |
US4663590A (en) * | 1985-11-06 | 1987-05-05 | Sperry Corporation | Single frequency noise reduction circuit for squids |
DE4104232A1 (de) * | 1991-02-12 | 1992-08-13 | Siemens Ag | Squid-messvorrichtung |
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1991
- 1991-05-13 JP JP3137175A patent/JPH0810250B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-04-22 EP EP92303621A patent/EP0514027B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-04-22 AT AT92303621T patent/ATE144050T1/de not_active IP Right Cessation
- 1992-04-22 DE DE69214347T patent/DE69214347T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-04 CA CA002067963A patent/CA2067963C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-11 FI FI922129A patent/FI107195B/fi active
- 1992-05-12 US US07/881,795 patent/US5367259A/en not_active Expired - Fee Related
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FI922129L (fi) | 1992-11-14 |
US5367259A (en) | 1994-11-22 |
FI107195B (fi) | 2001-06-15 |
EP0514027A2 (en) | 1992-11-19 |
EP0514027A3 (en) | 1993-12-15 |
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DE69214347T2 (de) | 1997-04-24 |
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CA2067963A1 (en) | 1992-11-14 |
CA2067963C (en) | 2001-08-14 |
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