JPH0793453B2 - シリコン太陽電池素子の製造方法 - Google Patents
シリコン太陽電池素子の製造方法Info
- Publication number
- JPH0793453B2 JPH0793453B2 JP4052674A JP5267492A JPH0793453B2 JP H0793453 B2 JPH0793453 B2 JP H0793453B2 JP 4052674 A JP4052674 A JP 4052674A JP 5267492 A JP5267492 A JP 5267492A JP H0793453 B2 JPH0793453 B2 JP H0793453B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- type
- oxide film
- electrode
- silicon substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 59
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 59
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims description 59
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 41
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 18
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 claims description 12
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 10
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 7
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 3
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 claims description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- XHXFXVLFKHQFAL-UHFFFAOYSA-N phosphoryl trichloride Chemical compound ClP(Cl)(Cl)=O XHXFXVLFKHQFAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910000905 alloy phase Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001505 atmospheric-pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000006023 eutectic alloy Substances 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N phosphinic chloride Chemical compound ClP=O RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、受光面とは反対側の裏
面に一対の主電極を持ち、一方の主電極をファイァスル
ーにより形成するシリコン太陽電池素子の製造方法に関
する。
面に一対の主電極を持ち、一方の主電極をファイァスル
ーにより形成するシリコン太陽電池素子の製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】現在発電原価が高い太陽光発電が実用的
な電源として普及するためには、太陽電池の変換効率の
向上と製造原価の低減が必要である。最近、太陽電池の
変換効率の向上とその製造原価の低減が期待できる裏面
接触太陽電池素子(Backside Contact Silicon Solar Ce
lls)が発表され、現在では、この素子の製造原価低減の
努力が進められており、第5回国際太陽電池科学技術会
議(1990年)、テクニカル ダイジェスト、第50
8頁にはスクリーン印刷技術を用いる製法に適したシリ
コン太陽電池素子が論じられるている。
な電源として普及するためには、太陽電池の変換効率の
向上と製造原価の低減が必要である。最近、太陽電池の
変換効率の向上とその製造原価の低減が期待できる裏面
接触太陽電池素子(Backside Contact Silicon Solar Ce
lls)が発表され、現在では、この素子の製造原価低減の
努力が進められており、第5回国際太陽電池科学技術会
議(1990年)、テクニカル ダイジェスト、第50
8頁にはスクリーン印刷技術を用いる製法に適したシリ
コン太陽電池素子が論じられるている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術における
太陽電池素子は、工程数が大幅に低減された簡易なプロ
セスにより製作できる素子構造であり、低コストなスク
リーン印刷技術を用い、工程数が大幅に低減された簡易
なプロセスにより製作できる素子構造となっているがさ
らに製造コストの低減に関して不十分な点がある。すな
わち、裏面のn+層とp+層との接合分離に多くの工数
を必要とする問題がある。
太陽電池素子は、工程数が大幅に低減された簡易なプロ
セスにより製作できる素子構造であり、低コストなスク
リーン印刷技術を用い、工程数が大幅に低減された簡易
なプロセスにより製作できる素子構造となっているがさ
らに製造コストの低減に関して不十分な点がある。すな
わち、裏面のn+層とp+層との接合分離に多くの工数
を必要とする問題がある。
【0004】本発明の目的は、上記問題を解決しシリコ
ン太陽電池素子を製造する工程を節減し、変換効率を高
めることにある。
ン太陽電池素子を製造する工程を節減し、変換効率を高
めることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、p型または
n型シリコン基板の受光面と反対側である裏面に、表面
濃度が1×10 19 /cm 3 以下のn型導電性層をリン拡
散により形成する工程と、n型導電性層の表面に酸化膜
を形成する工程と、酸化膜の表面にアルミニウムペース
トを電極パタンにスクリーン印刷して焼成し、酸化膜及
びn型導電性層を貫通するアルミニウムシリコン合金層
からなる第1の電極及びアルミニウムが固溶したp型シ
リコン再成長層を形成する工程と、酸化膜の表面に銀ペ
ーストを電極パタンにスクリーン印刷して焼成し、酸化
膜を貫通しn型導電性層とオーミック接触する第2の電
極を形成する工程とを有することにより達成される。
n型シリコン基板の受光面と反対側である裏面に、表面
濃度が1×10 19 /cm 3 以下のn型導電性層をリン拡
散により形成する工程と、n型導電性層の表面に酸化膜
を形成する工程と、酸化膜の表面にアルミニウムペース
トを電極パタンにスクリーン印刷して焼成し、酸化膜及
びn型導電性層を貫通するアルミニウムシリコン合金層
からなる第1の電極及びアルミニウムが固溶したp型シ
リコン再成長層を形成する工程と、酸化膜の表面に銀ペ
ーストを電極パタンにスクリーン印刷して焼成し、酸化
膜を貫通しn型導電性層とオーミック接触する第2の電
極を形成する工程とを有することにより達成される。
【0006】
【0007】
【0008】
【0009】
【作用】アルミニウムとシリコン酸化膜で被覆されたシ
リコン基板とを合金反応させると、実験事実としてファ
イァスルーによりシリコン酸化膜は貫通され、また、ア
ルミニウムとシリコンとが共晶合金相を示すため、アル
ミニウムシリコン合金層からなる第1の主電極及びこの
第1の主電極の外側のシリコン面にアルミニウムを固溶
したp+型シリコン再成長層である第1の層が同時に形
成される。
リコン基板とを合金反応させると、実験事実としてファ
イァスルーによりシリコン酸化膜は貫通され、また、ア
ルミニウムとシリコンとが共晶合金相を示すため、アル
ミニウムシリコン合金層からなる第1の主電極及びこの
第1の主電極の外側のシリコン面にアルミニウムを固溶
したp+型シリコン再成長層である第1の層が同時に形
成される。
【0010】p型シリコン基板はn型導電層で被覆され
更にn型導電層はシリコン酸化膜で被覆されているが、
シリコン酸化膜及びn型導電層は貫通され、アルミニウ
ムシリコン合金層からなる第1の主電極及びこの第1の
主電極の外側のn型導電層とp型シリコン基板面にアル
ミニウムを固溶したp+型シリコン再成長層である第1
の層が同時に生じる。この結果、金属電極を構成するア
ルミニウムシリコン合金層からなる第1の主電極は、p
+型シリコン再成長層である第1の層と接触し、一方、
p+層である第1の層はn型導電層に対してpn接合で
接続されて、p型シリコン基板に対しオーミック接触さ
れているため、金属電極はn型導電層に対してpn接合
を示す構成となり、p型シリコン基板に対しオーミック
接触を示す構成となる。
更にn型導電層はシリコン酸化膜で被覆されているが、
シリコン酸化膜及びn型導電層は貫通され、アルミニウ
ムシリコン合金層からなる第1の主電極及びこの第1の
主電極の外側のn型導電層とp型シリコン基板面にアル
ミニウムを固溶したp+型シリコン再成長層である第1
の層が同時に生じる。この結果、金属電極を構成するア
ルミニウムシリコン合金層からなる第1の主電極は、p
+型シリコン再成長層である第1の層と接触し、一方、
p+層である第1の層はn型導電層に対してpn接合で
接続されて、p型シリコン基板に対しオーミック接触さ
れているため、金属電極はn型導電層に対してpn接合
を示す構成となり、p型シリコン基板に対しオーミック
接触を示す構成となる。
【0011】また、シリコン基板がn型の場合、シリコ
ン基板に対して、pn接合を構成するp+型シリコン再
成長層である第1の層及びこれに接触する金属電極を構
成するアルミニウムシリコン合金層からなる第1の主電
極とが同時に構成され、金属電極層は、n型シリコン基
板に対して直接接触していないので、シリコン基板との
間で、良好なpn接合特性を示す。
ン基板に対して、pn接合を構成するp+型シリコン再
成長層である第1の層及びこれに接触する金属電極を構
成するアルミニウムシリコン合金層からなる第1の主電
極とが同時に構成され、金属電極層は、n型シリコン基
板に対して直接接触していないので、シリコン基板との
間で、良好なpn接合特性を示す。
【0012】そして、n型シリコン基板を用いているこ
とによりpn接合が他方の主表面より深い位置に形成で
きるから、光生成電荷の収集効率が高まり変換効率を高
める効果が得られる。
とによりpn接合が他方の主表面より深い位置に形成で
きるから、光生成電荷の収集効率が高まり変換効率を高
める効果が得られる。
【0013】n型導電層の表面濃度が1×1019/cm
3以下のため、このn型導電層とアルミニウムとの反応
の際アルミニウムとりんとの化合物の生成は見られず、
このため、p+型シリコン再成長層である第1の層とn
型導電層とのpn接合特性はショートしておらず、良好
な特性を示した。また、シリコン酸化膜で被覆されたn
型導電層及びこのn型導電層で被覆されたn型シリコン
基板に対しても良好なpn接合特性を示す。
3以下のため、このn型導電層とアルミニウムとの反応
の際アルミニウムとりんとの化合物の生成は見られず、
このため、p+型シリコン再成長層である第1の層とn
型導電層とのpn接合特性はショートしておらず、良好
な特性を示した。また、シリコン酸化膜で被覆されたn
型導電層及びこのn型導電層で被覆されたn型シリコン
基板に対しても良好なpn接合特性を示す。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を用いて説明す
る。
る。
【0015】第1実施例 図1は本発明の第1実施例の構成を示す斜視図である。
【0016】図2は本発明の第1実施例の構成を示す断
面図である。
面図である。
【0017】先ず、本実施例の構成を説明する。
【0018】本図において、1は本実施例のシリコン太
陽電池素子であり、p型導電性のシリコン基板の受光面
となる一方の主表面11、一方の主表面11と反対側に
位置する他方の主表面12に形成されたp+型導電性の
第1の層13、第1の層13に隣接する第1の層13と
反対側の導電性のn+型でその表面濃度が1×1019/
cm3以下の第2の層14、第1の層13に隣接するp
型不純物源及びアルミニウムシリコン合金層からなる第
1の主電極15とを有する半導体である。一方の主表面
11及び他方の主表面12は微小凹凸の存在するテクス
チュア面となっており、その上に酸化膜2、3が形成さ
れている。4は酸化膜2上に形成したTiO2膜であ
る。アルミニウムシリコン合金層からなる第1の電極1
5は、他方の主表面12上にあってp+層13と共に、
n+層14に対して櫛の歯を噛み合わせた形状となって
おり、第1の層13を介してn+層14とpn接合で接
触し、p型シリコン基板とはオーミック接触し、酸化膜
3によりn+層14とは絶縁されている。51は第2の
電極であり、他方の主表面上にあってn+層14に接触
し、酸化膜3によりp+層13とは絶縁されている。ア
ルミニウムシリコン合金層からなる第1の電極15は、
第1の層13のp型不純物源となっているため、第1の
層13と接触させるための位置合わせをすることなく第
1の層13と同時に形成できるので、製造コストを低減
させることができる。第2の層12の1×1019/cm
3以下の表面濃度は第2の層12中で発生した電子正孔
対の再結合を少なくし、起電圧と光生成電流を向上させ
る働きがある。
陽電池素子であり、p型導電性のシリコン基板の受光面
となる一方の主表面11、一方の主表面11と反対側に
位置する他方の主表面12に形成されたp+型導電性の
第1の層13、第1の層13に隣接する第1の層13と
反対側の導電性のn+型でその表面濃度が1×1019/
cm3以下の第2の層14、第1の層13に隣接するp
型不純物源及びアルミニウムシリコン合金層からなる第
1の主電極15とを有する半導体である。一方の主表面
11及び他方の主表面12は微小凹凸の存在するテクス
チュア面となっており、その上に酸化膜2、3が形成さ
れている。4は酸化膜2上に形成したTiO2膜であ
る。アルミニウムシリコン合金層からなる第1の電極1
5は、他方の主表面12上にあってp+層13と共に、
n+層14に対して櫛の歯を噛み合わせた形状となって
おり、第1の層13を介してn+層14とpn接合で接
触し、p型シリコン基板とはオーミック接触し、酸化膜
3によりn+層14とは絶縁されている。51は第2の
電極であり、他方の主表面上にあってn+層14に接触
し、酸化膜3によりp+層13とは絶縁されている。ア
ルミニウムシリコン合金層からなる第1の電極15は、
第1の層13のp型不純物源となっているため、第1の
層13と接触させるための位置合わせをすることなく第
1の層13と同時に形成できるので、製造コストを低減
させることができる。第2の層12の1×1019/cm
3以下の表面濃度は第2の層12中で発生した電子正孔
対の再結合を少なくし、起電圧と光生成電流を向上させ
る働きがある。
【0019】一般にシリコン太陽電池では、太陽光によ
って生成した電子及び正孔の電荷はpn接合によって分
離され、p型領域に正孔が溜り、n型領域に電子が溜
り、この電荷二重層により起電圧を発生する。
って生成した電子及び正孔の電荷はpn接合によって分
離され、p型領域に正孔が溜り、n型領域に電子が溜
り、この電荷二重層により起電圧を発生する。
【0020】p型シリコン基板に上記の構成をした場
合、p型シリコン基板及びp+層には正孔が溜り、n型
導電層には電子が溜り、この電荷二重層により起電圧が
発生する。p+層とn型導電層とが良好なpn接合特性
を示す場合、p型シリコン基板及びp+層の正孔はn型
導電層にリークすることなく、アルミニウムシリコン合
金電極を通って引き出される。n型導電層の電子は、p
型シリコン基板及びp+層にリークすることなく、n型
導電層上に設けた電極を通って引き出される。
合、p型シリコン基板及びp+層には正孔が溜り、n型
導電層には電子が溜り、この電荷二重層により起電圧が
発生する。p+層とn型導電層とが良好なpn接合特性
を示す場合、p型シリコン基板及びp+層の正孔はn型
導電層にリークすることなく、アルミニウムシリコン合
金電極を通って引き出される。n型導電層の電子は、p
型シリコン基板及びp+層にリークすることなく、n型
導電層上に設けた電極を通って引き出される。
【0021】また、n型シリコン基板に上記の構成をし
た場合、p+層には正孔が溜り、n型シリコン基板及び
n型導電層には電子が溜り、この電荷二重層により起電
圧が発生する。p+層とn型シリコン基板及びn型導電
層とが良好なpn接合特性を示す場合、p+層の正孔は
n型導電層にリークすることなく、アルミニウムシリコ
ン合金電極を通って引き出される。n型シリコン基板及
びn型導電層の電子は、p+層にリークすることなく、
n型導電層上に設けた電極を通って引き出される。 次
に、本実施例の太陽電池素子の製法を説明する。
た場合、p+層には正孔が溜り、n型シリコン基板及び
n型導電層には電子が溜り、この電荷二重層により起電
圧が発生する。p+層とn型シリコン基板及びn型導電
層とが良好なpn接合特性を示す場合、p+層の正孔は
n型導電層にリークすることなく、アルミニウムシリコ
ン合金電極を通って引き出される。n型シリコン基板及
びn型導電層の電子は、p+層にリークすることなく、
n型導電層上に設けた電極を通って引き出される。 次
に、本実施例の太陽電池素子の製法を説明する。
【0022】1)p型で比抵抗1Ωcm、厚さ200μ
m、結晶方位(1、0、0)のシリコン基板をKOHを
数%含むアルカリエッチング液で、約20μmエッチン
グして基板両面のインゴットからウエファーに加工した
際に生じた加工歪層を除去するとともに、その表面を微
小凹凸のテクスチュア面にする。
m、結晶方位(1、0、0)のシリコン基板をKOHを
数%含むアルカリエッチング液で、約20μmエッチン
グして基板両面のインゴットからウエファーに加工した
際に生じた加工歪層を除去するとともに、その表面を微
小凹凸のテクスチュア面にする。
【0023】2)りん拡散によりシリコン基板両面にり
ん濃度分布が1×1019/cm3以下のn型層を形成す
る。オキシ塩化りん(POCl3)拡散を850℃で3
0分間行い、シリコン基板の両面に、深さ約0.5μm
のn+層を形成する。この時、n+層のりん濃度分布
は、実験的事実により、その表面濃度が1×1020/c
m3以上で、その濃度が1×1019/cm3以下となるま
での深さが、約0.1μmのりんパイルアップ層と呼ば
れる高濃度層とする。
ん濃度分布が1×1019/cm3以下のn型層を形成す
る。オキシ塩化りん(POCl3)拡散を850℃で3
0分間行い、シリコン基板の両面に、深さ約0.5μm
のn+層を形成する。この時、n+層のりん濃度分布
は、実験的事実により、その表面濃度が1×1020/c
m3以上で、その濃度が1×1019/cm3以下となるま
での深さが、約0.1μmのりんパイルアップ層と呼ば
れる高濃度層とする。
【0024】3)この高濃度のりんパイルアップ層を除
去するため、弗酸でりんガラスを除去した後、水蒸気雰
囲気中で1000℃、30分間、高濃度のりんパイルア
ップ層を酸化して、酸化膜3を形成する。
去するため、弗酸でりんガラスを除去した後、水蒸気雰
囲気中で1000℃、30分間、高濃度のりんパイルア
ップ層を酸化して、酸化膜3を形成する。
【0025】4)この基板の他方の面にスクリーン印刷
により、耐酸性マスク材を印刷する。
により、耐酸性マスク材を印刷する。
【0026】5)弗酸で一方の面の酸化膜を除去した、
更に溶剤でレジストを除去する。
更に溶剤でレジストを除去する。
【0027】6)KOHを数%含むアルカリエッチング
液で、一方の面を約2μmエッチングし、一方の面に形
成されたn+層を除去する。
液で、一方の面を約2μmエッチングし、一方の面に形
成されたn+層を除去する。
【0028】7)乾燥酸素ガス雰囲気中で1000℃、
10分間、酸化して一方の主面上に200Åの酸化膜3
を形成する。
10分間、酸化して一方の主面上に200Åの酸化膜3
を形成する。
【0029】8)粒径が約5μmのアルミニウムを約7
5%含むペーストを酸化膜3上に、厚さ約10μm、ス
クリーン印刷して800℃、1分間、合成空気雰囲気中
で焼成する。この焼成により、ペースト中のアルミニウ
ム粒は酸化膜3と反応してこれを貫通し、次にn+層1
4と反応し、これを貫通し、更にpが他シリコン基板と
反応し、アルミニウムシリコン合金層15及びp+層1
3とが形成される。
5%含むペーストを酸化膜3上に、厚さ約10μm、ス
クリーン印刷して800℃、1分間、合成空気雰囲気中
で焼成する。この焼成により、ペースト中のアルミニウ
ム粒は酸化膜3と反応してこれを貫通し、次にn+層1
4と反応し、これを貫通し、更にpが他シリコン基板と
反応し、アルミニウムシリコン合金層15及びp+層1
3とが形成される。
【0030】9)第2の電極51を形成するため、銀粒
を75%含むペーストを第1の電極15との間に印刷し
て、750℃、1分間合成空気雰囲気中で焼成する。
を75%含むペーストを第1の電極15との間に印刷し
て、750℃、1分間合成空気雰囲気中で焼成する。
【0031】この焼成により、ペースト中のガラスは酸
化膜3と反応してこれを貫通し、ペースト中の銀粒はn
+層14とオーミック接触した第2の電極51が形成さ
れる。
化膜3と反応してこれを貫通し、ペースト中の銀粒はn
+層14とオーミック接触した第2の電極51が形成さ
れる。
【0032】10)TiO2反射防止膜4を酸化膜の表
面に常圧CVD法で550Å形成する。
面に常圧CVD法で550Å形成する。
【0033】このようにして製造した太陽電池素子を受
光面レーザーダイオードマイクロ波法でp型シリコン基
板の少数キャリア寿命を測定したところ、その低下は見
られなかった。これはp+層の不純物源がアルミニウム
であるためと考えられる。
光面レーザーダイオードマイクロ波法でp型シリコン基
板の少数キャリア寿命を測定したところ、その低下は見
られなかった。これはp+層の不純物源がアルミニウム
であるためと考えられる。
【0034】また、アルミニウムの小さな粒で作ったア
ルミニウムペーストまたは、銀ペースト中に小さなアル
ミニウム粒を混ぜたペーストとの上記合金反応において
も、金属電極とn型導電層との間で良好なpn接合特性
及びp型シリコン基板との間で、良好なオーミック特性
を示すことが確認された。
ルミニウムペーストまたは、銀ペースト中に小さなアル
ミニウム粒を混ぜたペーストとの上記合金反応において
も、金属電極とn型導電層との間で良好なpn接合特性
及びp型シリコン基板との間で、良好なオーミック特性
を示すことが確認された。
【0035】第2実施例 図3は本発明の第2実施例の構成を示す斜視図である。
【0036】図4は本発明の第2実施例の構成を示す断
面図である。
面図である。
【0037】先ず、本実施例の構成を説明する。
【0038】本実施例は、第1実施例のp型シリコン基
板とは導電特性が反対のn型シリコン基板を用いてい
る。第1の層13は第2の層であるn+層14に対して
ばかりでなく、n型シリコン基板に対してもpn接合で
接続しているため、pn接合が他方の主表面より深い位
置に形成できる。このため、n型シリコン基板の光生成
電荷の収集効率が高まる効果が有る。
板とは導電特性が反対のn型シリコン基板を用いてい
る。第1の層13は第2の層であるn+層14に対して
ばかりでなく、n型シリコン基板に対してもpn接合で
接続しているため、pn接合が他方の主表面より深い位
置に形成できる。このため、n型シリコン基板の光生成
電荷の収集効率が高まる効果が有る。
【0039】次に、本実施例の太陽電池素子の製法を説
明する。
明する。
【0040】本実施例の太陽電池素子の製法は第1実施
例のp型シリコン基板をn型シリコン基板に替えるだけ
で、同じ工程により製造される。
例のp型シリコン基板をn型シリコン基板に替えるだけ
で、同じ工程により製造される。
【0041】第3実施例 図5は本発明の第3実施例の構成を示す斜視図である。
【0042】図6は本発明の第3実施例の構成を示す断
面図である。
面図である。
【0043】先ず、本実施例の構成を説明する。
【0044】第1実施例で受光面となる一方の主面11
上に第3の層であるn+層16及びこれと接触する第3
の主電極52とを設けた例である。本実施例では、n+
層16及びこれと接触する第3の主電極52があるた
め、少数キャリア寿命の短いp型シリコン基板に対して
一方の主表面11の近くの電子正孔電荷の収集効率が高
まり、起電圧及び光生成電流が向上する効果が有る。
上に第3の層であるn+層16及びこれと接触する第3
の主電極52とを設けた例である。本実施例では、n+
層16及びこれと接触する第3の主電極52があるた
め、少数キャリア寿命の短いp型シリコン基板に対して
一方の主表面11の近くの電子正孔電荷の収集効率が高
まり、起電圧及び光生成電流が向上する効果が有る。
【0045】次に、本実施例の太陽電池素子の製法を説
明する。
明する。
【0046】第1実施例の製造方法において、第3の主
電極52を、一方の主表面に形成されたn+層14をK
OHによるエッチングで除去せず、更に再度の酸化もし
ないようにして、第2の主電極51を形成した後または
前に、第2の主電極51の形成に用いた銀ペーストを光
が入射する主表面11に形成した酸化膜2の上に印刷
し、同様の熱処理条件で、酸化膜2を貫通して、n+層
16にオーミック接触させて形成する。
電極52を、一方の主表面に形成されたn+層14をK
OHによるエッチングで除去せず、更に再度の酸化もし
ないようにして、第2の主電極51を形成した後または
前に、第2の主電極51の形成に用いた銀ペーストを光
が入射する主表面11に形成した酸化膜2の上に印刷
し、同様の熱処理条件で、酸化膜2を貫通して、n+層
16にオーミック接触させて形成する。
【0047】以上述べたように本実施例によれば、スク
リーン印刷技術でn+層とp+層との間をpn接合特性
を持たせて分離できること、p+層の形成と電極の形成
とを同時にできること、電極形成のために必要な高価な
銀ペーストの使用量を低減できること、少数キャリア寿
命の短いp型シリコン基板に対しても変換効率を高くす
ることができること、により変換性能と経済性の向上が
可能となる。
リーン印刷技術でn+層とp+層との間をpn接合特性
を持たせて分離できること、p+層の形成と電極の形成
とを同時にできること、電極形成のために必要な高価な
銀ペーストの使用量を低減できること、少数キャリア寿
命の短いp型シリコン基板に対しても変換効率を高くす
ることができること、により変換性能と経済性の向上が
可能となる。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、アルミニウムとシリコ
ン酸化膜で被覆されたシリコン基板とを合金反応させる
ことによりアルミニウムシリコン合金層からなる第1の
主電極とこの第1の主電極の外側のシリコン面にアルミ
ニウムを固溶したp+型シリコン再成長層である第1の
層が同時に形成され、シリコン酸化膜上にアルミニウム
を含むペーストを印刷することにより、p+型シリコン
再成長層とn層とをpn接合特性を持たせながら分離で
きるから製造工程が節減される効果が得られる。
ン酸化膜で被覆されたシリコン基板とを合金反応させる
ことによりアルミニウムシリコン合金層からなる第1の
主電極とこの第1の主電極の外側のシリコン面にアルミ
ニウムを固溶したp+型シリコン再成長層である第1の
層が同時に形成され、シリコン酸化膜上にアルミニウム
を含むペーストを印刷することにより、p+型シリコン
再成長層とn層とをpn接合特性を持たせながら分離で
きるから製造工程が節減される効果が得られる。
【0049】n型シリコン基板を用いていることにより
pn接合が他方の主表面より深い位置に形成できるか
ら、光生成電荷の収集効率が高まり変換効率を高める効
果が得られる。
pn接合が他方の主表面より深い位置に形成できるか
ら、光生成電荷の収集効率が高まり変換効率を高める効
果が得られる。
【図1】本発明の第1実施例の構成を示す斜視図であ
る。
る。
【図2】本発明の第1実施例の構成を示す断面図であ
る。
る。
【図3】本発明の第2実施例の構成を示す斜視図であ
る。
る。
【図4】本発明の第2実施例の構成を示す断面図であ
る。
る。
【図5】本発明の第3実施例の構成を示す斜視図であ
る。
る。
【図6】本発明の第3実施例の構成を示す断面図であ
る。
る。
1 シリコン太陽電池素子 2 酸化膜 3 酸化膜 4 TiO2膜 11 受光面となる一方の主表面 12 他方の主表面 13 p+型導電性の第1の層 14 n+層 15 第1の主電極 16 n+層 51 第2の電極 52 第3の電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内田 泰明 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 木田 康博 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 初見 君男 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社 日立製作所 日立工場内 (72)発明者 朝日 忠夫 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社 日立製作所 日立工場内 (56)参考文献 特開 平3−165578(JP,A) 特開 昭60−227483(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】 p型またはn型シリコン基板の受光面と
反対側である 裏面に、表面濃度が1×10 19 /cm 3 以
下のn型導電性層をリン拡散 により形成する工程と、 前記n型導電性層の表面に酸化膜を形成する工程と、 前記酸化膜の表面にアルミニウムペーストを電極パタン
にスクリー ン印刷して焼成し、前記酸化膜及び前記n型
導電性層を貫通するアル ミニウムシリコン合金層からな
る第1の電極及びアルミニウムが固溶 したp型シリコン
再成長層を形成する工程と、 前記酸化膜の表面に銀ペーストを電極パタンにスクリー
ン印刷して 焼成し、前記酸化膜を貫通し前記n型導電性
層とオーミック接触する 第2の電極を形成する工程と、 を有することを特徴とするシリコン太陽電池素子の製造
方法 。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4052674A JPH0793453B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | シリコン太陽電池素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4052674A JPH0793453B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | シリコン太陽電池素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05259488A JPH05259488A (ja) | 1993-10-08 |
JPH0793453B2 true JPH0793453B2 (ja) | 1995-10-09 |
Family
ID=12921428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4052674A Expired - Fee Related JPH0793453B2 (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | シリコン太陽電池素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0793453B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6084175A (en) * | 1993-05-20 | 2000-07-04 | Amoco/Enron Solar | Front contact trenches for polycrystalline photovoltaic devices and semi-conductor devices with buried contacts |
KR100416739B1 (ko) * | 1997-01-31 | 2004-05-17 | 삼성전자주식회사 | 실리콘 태양전지의 제조방법 |
JP4674063B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2011-04-20 | シャープ株式会社 | 光電変換素子,その製造方法 |
JP4557772B2 (ja) * | 2005-03-31 | 2010-10-06 | 三洋電機株式会社 | 光起電力装置 |
DE102005025125B4 (de) * | 2005-05-29 | 2008-05-08 | Hahn-Meitner-Institut Berlin Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer einseitig kontaktierten Solarzelle und einseitig kontaktierte Solarzelle |
JP2009152222A (ja) * | 2006-10-27 | 2009-07-09 | Kyocera Corp | 太陽電池素子の製造方法 |
CN101971358A (zh) | 2008-04-25 | 2011-02-09 | 株式会社爱发科 | 太阳能电池的制造方法、太阳能电池的制造装置以及太阳能电池 |
KR101539047B1 (ko) * | 2008-12-24 | 2015-07-23 | 인텔렉츄얼 키스톤 테크놀로지 엘엘씨 | 광기전력 변환 소자 및 그의 제조방법 |
WO2011074467A1 (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-23 | 東レ株式会社 | 半導体デバイスの製造方法および裏面接合型太陽電池 |
JP5974300B2 (ja) * | 2010-08-24 | 2016-08-23 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池及びその製造方法 |
WO2013027591A1 (ja) * | 2011-08-25 | 2013-02-28 | 三洋電機株式会社 | 太陽電池及び太陽電池モジュール |
JP6108296B2 (ja) * | 2011-12-26 | 2017-04-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池 |
CN117352591A (zh) * | 2016-10-25 | 2024-01-05 | 信越化学工业株式会社 | 太阳能电池的制造方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60227483A (ja) * | 1984-04-26 | 1985-11-12 | Toshiba Corp | 太陽電池 |
JPH0682854B2 (ja) * | 1989-11-24 | 1994-10-19 | 株式会社日立製作所 | 太陽電池 |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP4052674A patent/JPH0793453B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05259488A (ja) | 1993-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN113284961B (zh) | 一种太阳能电池及其钝化接触结构、电池组件及光伏系统 | |
KR101225978B1 (ko) | 태양전지 및 그 제조방법 | |
CN109841693B (zh) | 一种钝化接触结构及太阳能电池 | |
JPH07101752B2 (ja) | 太陽電池素子とその製造方法 | |
KR20100107258A (ko) | 태양전지 및 그 제조방법 | |
CN88101994A (zh) | 太阳能电池 | |
KR20130068968A (ko) | 태양 전지 및 이의 제조 방법 | |
JPH0793453B2 (ja) | シリコン太陽電池素子の製造方法 | |
CN117393624B (zh) | 背接触太阳能电池及其制备方法、光伏组件 | |
JP7639208B1 (ja) | 太陽電池及びその製造方法、積層電池、並びに光起電力モジュール | |
JP2004512674A (ja) | 太陽電池の製造方法、及び該方法により製造される太陽電池 | |
KR20090075421A (ko) | 태양 전지 | |
WO2018019598A1 (en) | A method for producing a photovoltaic device | |
EP3491681B1 (en) | A method for producing a photovoltaic device | |
KR20110061397A (ko) | 태양 전지 및 이의 제조 방법 | |
KR100366350B1 (ko) | 태양 전지 및 그 제조 방법 | |
KR101198430B1 (ko) | 양면 수광형 국부화 에미터 태양전지 및 그 제조 방법 | |
JP3448098B2 (ja) | 結晶シリコン太陽電池 | |
KR101779057B1 (ko) | 기판형 태양전지 및 그 제조방법 | |
KR101181625B1 (ko) | 국부화 에미터 태양전지 및 그 제조 방법 | |
JPH0548123A (ja) | 光電変換素子 | |
JPH08274356A (ja) | 太陽電池素子 | |
US20080092950A1 (en) | Solar Cell Structure With Rear Contacts and Current Collection by Transistor Effect, and Procedure for its Manufacture | |
JP2014127567A (ja) | 太陽電池の製造方法 | |
JPH04192371A (ja) | 太陽電池素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |