JPH0765968B2 - 実装基板検査装置 - Google Patents
実装基板検査装置Info
- Publication number
- JPH0765968B2 JPH0765968B2 JP5077230A JP7723093A JPH0765968B2 JP H0765968 B2 JPH0765968 B2 JP H0765968B2 JP 5077230 A JP5077230 A JP 5077230A JP 7723093 A JP7723093 A JP 7723093A JP H0765968 B2 JPH0765968 B2 JP H0765968B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- frequency
- lighting
- inspection window
- gray value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板上に実装
された表面実装部品のはんだ付け状態、特にはんだボー
ル、はんだブリッジ及びリード曲がり等を、外観上から
検査する実装基板検査装置に関する。
された表面実装部品のはんだ付け状態、特にはんだボー
ル、はんだブリッジ及びリード曲がり等を、外観上から
検査する実装基板検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来この種の基板検査装置には特開平１
−２６０５８６号公報に示されているものがある。この
基板検査装置は、隣り合うピン画像の中間位置にウィン
ドウを設定して、一定角度から照明を照射した場合のウ
ィンドウ内の明るさの平均値等を求め、その値が判定基
準以上か否かを判断する。同様にして他のピン間につい
てもウィンドウ内の明るさを求めて、判定基準との比較
を行う。その結果もし判定基準以上の値が検出されれ
ば、はんだブリッジがあるものと判断する。
−２６０５８６号公報に示されているものがある。この
基板検査装置は、隣り合うピン画像の中間位置にウィン
ドウを設定して、一定角度から照明を照射した場合のウ
ィンドウ内の明るさの平均値等を求め、その値が判定基
準以上か否かを判断する。同様にして他のピン間につい
てもウィンドウ内の明るさを求めて、判定基準との比較
を行う。その結果もし判定基準以上の値が検出されれ
ば、はんだブリッジがあるものと判断する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した、従来の基板
検査装置は、照明装置の長期的照度の不安定性や、画像
入力段階におけるノイズ等の影響を直接に受けやすく、
はんだブリッジやはんだボールを検出する上で判定基準
を設定する際非常に困難を生じる。特に、はんだボール
検出に関しては、はんだボールが様々な形状をしており
一定角度のみの照明では検出が困難であることや、ノイ
ズ等の影響を直接受けやすいことは致命的である。
検査装置は、照明装置の長期的照度の不安定性や、画像
入力段階におけるノイズ等の影響を直接に受けやすく、
はんだブリッジやはんだボールを検出する上で判定基準
を設定する際非常に困難を生じる。特に、はんだボール
検出に関しては、はんだボールが様々な形状をしており
一定角度のみの照明では検出が困難であることや、ノイ
ズ等の影響を直接受けやすいことは致命的である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の実装基板検査装
置は、プリント基板上の表面実装部品を照らすための照
明器具と、前記表面実装部品を撮像するカメラと、この
カネラによる撮像画像の前記表面実装部品の隣合うリー
ド間の部分に検査ウィンドウを発生させる検査ウィンド
ウ発生回路と、前記検査ウィンドウ内の前記リードに対
して垂直な方向の走査線上をスキャンした際の画像の濃
淡値の度数分布を求める濃淡値度数計数回路と、前記走
査線を前記リードに対して平行な方向にスキャンした時
の同一の濃淡値に対する度数のばらつきを求める分散回
路と、この分散回路で求めたばらつきがしきい値より大
きければ前記表面実装部品のはんだ付け状態が不良であ
ると判定する良否判定回路とを備えている。また、照明
器具はそれぞれが異なる方向からプリント基板上の表面
実装部品を照らす複数のものからなるようにし、この複
数の照明器具を切り替えて一つずつを駆動して照明させ
る照明切り替え回路を設けることができる。さらに、照
明器具はプリント基板上の表面実装部品をさまざまな方
向から照らすことができるように可動であるようにする
こともできる。
置は、プリント基板上の表面実装部品を照らすための照
明器具と、前記表面実装部品を撮像するカメラと、この
カネラによる撮像画像の前記表面実装部品の隣合うリー
ド間の部分に検査ウィンドウを発生させる検査ウィンド
ウ発生回路と、前記検査ウィンドウ内の前記リードに対
して垂直な方向の走査線上をスキャンした際の画像の濃
淡値の度数分布を求める濃淡値度数計数回路と、前記走
査線を前記リードに対して平行な方向にスキャンした時
の同一の濃淡値に対する度数のばらつきを求める分散回
路と、この分散回路で求めたばらつきがしきい値より大
きければ前記表面実装部品のはんだ付け状態が不良であ
ると判定する良否判定回路とを備えている。また、照明
器具はそれぞれが異なる方向からプリント基板上の表面
実装部品を照らす複数のものからなるようにし、この複
数の照明器具を切り替えて一つずつを駆動して照明させ
る照明切り替え回路を設けることができる。さらに、照
明器具はプリント基板上の表面実装部品をさまざまな方
向から照らすことができるように可動であるようにする
こともできる。
【０００５】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例における実装基板
検査装置の構成図、図２は本実施例において発生させる
検査ウィンドウを示す図、図３は本実施例における検査
ウィンドウ内の走査時の画像濃淡値の度数分布を示す図
である。
検査装置の構成図、図２は本実施例において発生させる
検査ウィンドウを示す図、図３は本実施例における検査
ウィンドウ内の走査時の画像濃淡値の度数分布を示す図
である。
【０００７】本実施例の実装基板検査装置は、プリント
基板１上の表面実装部品２を異る方向から照らすように
設けられた照明器具３，４と、照明器具３，４による照
明を切り替える照明切り替え回路５と、照明器具３，４
による反射光による表面実装部品２の画像を取り込むカ
メラ６と、カメラ６が取り込んだ画像のアナログ濃淡信
号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路７と、Ａ／
Ｄ変換回路７の出力データを格納する画像メモリ８と、
画像メモリ８に格納されたディジタル画像の実装部品２
の隣合うリード９間に検査ウィンドウ１０を発生させる
検査ウィンドウ発生回路１１と、検査ウィンドウ１０内
の画素群をＸ軸方向（リードに対して垂直方向）の走査
線１６（図３参照）上でスキャンした際に各画素を画像
の濃淡値で分類し各濃淡値の画素数の度数分布を求める
濃淡値度数計回路１２と、濃淡値度数計回路１２により
度数分布を求めた際の走査線１６をＹ軸方向にスキャン
して検査ウィンドウ１０全域をスキャンし、各走査線に
ついての同一の濃淡値に対する度数のばらつき（分散）
を求める分散演算回路１３と、分散演算回路１３の出力
データとをしきい値とを比較し良否を判定する良否判定
回路１５とで構成される。
基板１上の表面実装部品２を異る方向から照らすように
設けられた照明器具３，４と、照明器具３，４による照
明を切り替える照明切り替え回路５と、照明器具３，４
による反射光による表面実装部品２の画像を取り込むカ
メラ６と、カメラ６が取り込んだ画像のアナログ濃淡信
号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路７と、Ａ／
Ｄ変換回路７の出力データを格納する画像メモリ８と、
画像メモリ８に格納されたディジタル画像の実装部品２
の隣合うリード９間に検査ウィンドウ１０を発生させる
検査ウィンドウ発生回路１１と、検査ウィンドウ１０内
の画素群をＸ軸方向（リードに対して垂直方向）の走査
線１６（図３参照）上でスキャンした際に各画素を画像
の濃淡値で分類し各濃淡値の画素数の度数分布を求める
濃淡値度数計回路１２と、濃淡値度数計回路１２により
度数分布を求めた際の走査線１６をＹ軸方向にスキャン
して検査ウィンドウ１０全域をスキャンし、各走査線に
ついての同一の濃淡値に対する度数のばらつき（分散）
を求める分散演算回路１３と、分散演算回路１３の出力
データとをしきい値とを比較し良否を判定する良否判定
回路１５とで構成される。
【０００８】次に本実施例の動作を説明する。照明切り
替え回路５が、プリント基板１に対して低角度に設置さ
れた低角度照明器具３を駆動させ実装部品２に照明光を
照射する。その反射光はカメラ６にて取り込まれ、カメ
ラ６からの画像信号がＡ／Ｄ変換回路７にてＡ／Ｄ変換
された後、画像メモリ８に画像データとして格納され
る。プリント基板１は実装部品２が予め設定された位置
に正確に配置されるように固定されて検査ウィンドウ発
生回路１１は図２に示すように実装部品２の位置及び形
状から隣合うリード９間として求められる位置に検査ウ
ィンドウ１０を発生する。次に濃淡値度数計数回路１２
は、図３に示すように、Ｘ軸方向の走査線１６ごとにス
キャンした際の画像濃淡データの度数分布を求め、分散
演算回路１３に出力する。分散演算回路１３は走査線１
６における１つの濃淡値に対する度数について走査線１
６をＹ軸方向にスキャンした時のばらつき（分散）を求
める。同様にして、全ての濃淡値に対してこのような度
数のばらつき（分散）を求める。
替え回路５が、プリント基板１に対して低角度に設置さ
れた低角度照明器具３を駆動させ実装部品２に照明光を
照射する。その反射光はカメラ６にて取り込まれ、カメ
ラ６からの画像信号がＡ／Ｄ変換回路７にてＡ／Ｄ変換
された後、画像メモリ８に画像データとして格納され
る。プリント基板１は実装部品２が予め設定された位置
に正確に配置されるように固定されて検査ウィンドウ発
生回路１１は図２に示すように実装部品２の位置及び形
状から隣合うリード９間として求められる位置に検査ウ
ィンドウ１０を発生する。次に濃淡値度数計数回路１２
は、図３に示すように、Ｘ軸方向の走査線１６ごとにス
キャンした際の画像濃淡データの度数分布を求め、分散
演算回路１３に出力する。分散演算回路１３は走査線１
６における１つの濃淡値に対する度数について走査線１
６をＹ軸方向にスキャンした時のばらつき（分散）を求
める。同様にして、全ての濃淡値に対してこのような度
数のばらつき（分散）を求める。
【０００９】図３には検査ウィンドウ１０内にはんだボ
ール１４が撮像されている例を示し、さらにはんだボー
ル１４の部分を通る走査線１６上の濃淡値の度数分布の
グラフと、はんだボール１４の部分を通らない走査線１
６上の濃淡値の度数分布のグラフを示してある。図３に
示すようにはんだボール１４があるとその部分を通る走
査線上の濃淡値の分布に異常に度数が大きくなる部分が
生じ、走査線１６をＹ方向にスキャンした時のこの濃淡
値の度数のばらつき（分散）がはんだボールがない場合
に比べて大きくなる。
ール１４が撮像されている例を示し、さらにはんだボー
ル１４の部分を通る走査線１６上の濃淡値の度数分布の
グラフと、はんだボール１４の部分を通らない走査線１
６上の濃淡値の度数分布のグラフを示してある。図３に
示すようにはんだボール１４があるとその部分を通る走
査線上の濃淡値の分布に異常に度数が大きくなる部分が
生じ、走査線１６をＹ方向にスキャンした時のこの濃淡
値の度数のばらつき（分散）がはんだボールがない場合
に比べて大きくなる。
【００１０】さらに、照明切り替え回路５によって照明
を切り替えプリント基板１に対して高角度に設置された
高角度照明記具４を用いた場合についても同様にして、
濃淡値毎の度数のばらつきを求める。良否判定回路１５
は照明器具３、４ついて、それぞれの照明を用いた場合
の濃淡値度数分布のばらつき（分散）がしきい値よりも
大きければ、はんだボール、はんだブリッジ、またはリ
ード曲がりなどの欠陥があると判断し、”ＮＧ”の判定
信号を出力する。
を切り替えプリント基板１に対して高角度に設置された
高角度照明記具４を用いた場合についても同様にして、
濃淡値毎の度数のばらつきを求める。良否判定回路１５
は照明器具３、４ついて、それぞれの照明を用いた場合
の濃淡値度数分布のばらつき（分散）がしきい値よりも
大きければ、はんだボール、はんだブリッジ、またはリ
ード曲がりなどの欠陥があると判断し、”ＮＧ”の判定
信号を出力する。
【００１１】本実施例では照明器具３、４を設け、照明
の設置角度を２種類としたが、本発明は設置角度の異な
る照明器具を増やしたり、照明器具を可動式にするなど
して、さまざまな角度の照明光を照射した場合の濃淡値
のばらつきを求めることにより、はんだボールの検出率
ださらに高くすることもできる。
の設置角度を２種類としたが、本発明は設置角度の異な
る照明器具を増やしたり、照明器具を可動式にするなど
して、さまざまな角度の照明光を照射した場合の濃淡値
のばらつきを求めることにより、はんだボールの検出率
ださらに高くすることもできる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、プリント
基板上の表面実装部品の画像のリード間の部品に設けた
検査用ウィンドウ内のリードと直角方向の走査線上の濃
淡値の度数分布を求め、走査線をリードと平行な方向に
スキャンした時の同一濃淡値の度数のばらつきを求める
ことにより、画像入力段階におけるノイズの影響を小さ
くし、表面実装部品のはんだ付け状態の良、不良の判定
において誤りの確率を減少させることができる効果があ
る。
基板上の表面実装部品の画像のリード間の部品に設けた
検査用ウィンドウ内のリードと直角方向の走査線上の濃
淡値の度数分布を求め、走査線をリードと平行な方向に
スキャンした時の同一濃淡値の度数のばらつきを求める
ことにより、画像入力段階におけるノイズの影響を小さ
くし、表面実装部品のはんだ付け状態の良、不良の判定
において誤りの確率を減少させることができる効果があ
る。
【００１３】また、プリント基板上の表面実装部品を複
数の方向から切り替えて照明し、それぞれの方向からの
照明について撮像して判定することができるため、複雑
な曲面をもつはんだボールの検出率が向上する効果があ
る。
数の方向から切り替えて照明し、それぞれの方向からの
照明について撮像して判定することができるため、複雑
な曲面をもつはんだボールの検出率が向上する効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す検査ウィンドウ発生回路１１による
検査ウィンドウ１０の図である。
検査ウィンドウ１０の図である。
【図３】図１に示す濃淡値度数計数回路１２により求め
る濃淡値の度数分布を説明する図である。
る濃淡値の度数分布を説明する図である。
１ プリント基板 ２ 実装部品 ３ 低角度照明器具 ４ 高角度照明器具 ５ 照明切り替え回路 ６ カメラ ７ Ａ／Ｄ変換回路 ８ 画像メモリ ９ リード １０ 検査ウインドウ １１ 検査ウィンドウ発生回路 １２ 濃淡値度数計数回路 １３ 分散演算回路 １４ はんだボール １５ 良否判定回路
Claims (3)
- 【請求項１】 プリント基板上の表面実装部品を照らす
ための照明器具と、前記表面実装部品を撮像するカメラ
と、このカメラによる撮像画像の表面実装部品の隣り合
うリード間の部分に検査ウィンドウを発生させる検査ウ
ィンドウ発生回路と、前記検査ウィンドウ内の前記リー
ドに対して垂直な方向の走査線上をスキャンした際の画
像の濃淡値の度数分布を求める濃淡値度数計数回路と、
前記走査線を前記リードに対して平行な方向にスキャン
した時の同一の濃淡値に対する度数のばらつきを求める
分散回路と、この分散回路で求めたばらつきがしきい値
より大きければ前記表面実装部品のはんだ付け状態が不
良であると判定する良否判定回路とを含むことを特徴と
する実装基盤検査装置。 - 【請求項２】 証明器具はそれぞれが異なる方向からプ
リント基板上の表面実装部品を照らす複数のものからな
り、この複数の照明器具を切り替えて一つずつを駆動し
て照明させる照明切り替え回路とを有する請求項１記載
の実装基盤検査装置。 - 【請求項３】 照明器具はプリント基板上の表面実装部
品をさまざまな方向から照らすことができるように可動
である請求項１記載の実装基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5077230A JPH0765968B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 実装基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5077230A JPH0765968B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 実装基板検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06288931A JPH06288931A (ja) | 1994-10-18 |
| JPH0765968B2 true JPH0765968B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=13628064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5077230A Expired - Lifetime JPH0765968B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 実装基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0765968B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4694272B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2011-06-08 | アンリツ株式会社 | 印刷はんだ検査装置及び印刷はんだ検査方法 |
| JP2007192598A (ja) * | 2006-01-17 | 2007-08-02 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
| JP6349734B2 (ja) * | 2014-01-14 | 2018-07-04 | オムロン株式会社 | 品質管理装置、品質管理方法、およびプログラム |
-
1993
- 1993-04-02 JP JP5077230A patent/JPH0765968B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06288931A (ja) | 1994-10-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6980686B2 (en) | Pattern inspection method and inspection apparatus | |
| KR960002545B1 (ko) | 프린트기판상의 랜드의 최소고리폭 검사 방법 및 장치 | |
| US6518997B1 (en) | Grid array inspection system and method | |
| JP2005121546A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| US7664311B2 (en) | Component mounting board inspecting apparatus | |
| JPH0765968B2 (ja) | 実装基板検査装置 | |
| WO2003013213A2 (en) | Optical inspection of solder joints | |
| JP2009300351A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
| JP2696000B2 (ja) | プリント基板のパターン検査方法 | |
| JP2007139676A (ja) | 基板の検査装置及び検査方法 | |
| JPH05288527A (ja) | 実装基板外観検査方法およびその装置 | |
| JP3061952B2 (ja) | はんだ付検査装置 | |
| JPH08152412A (ja) | 外観検査装置 | |
| JP3038107B2 (ja) | はんだ付け検査方法 | |
| JP3363103B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH09236487A (ja) | エンボステープのカバーテープ検査方法 | |
| JPH04329344A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JP2942171B2 (ja) | プリント基板のパターン検査装置 | |
| JPH0267949A (ja) | 半田付検査装置 | |
| KR0155814B1 (ko) | 인쇄 회로 기판상의 칩 인식 방법 | |
| JP2010117142A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
| JP2002277410A (ja) | 外観検査方法 | |
| JPH04311277A (ja) | チップ部品の実装ずれ検査装置 | |
| JPH03216509A (ja) | はんだボール検査装置 | |
| JPH02278105A (ja) | 半田付検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960109 |