JPH0762642B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JPH0762642B2 JPH0762642B2 JP63244226A JP24422688A JPH0762642B2 JP H0762642 B2 JPH0762642 B2 JP H0762642B2 JP 63244226 A JP63244226 A JP 63244226A JP 24422688 A JP24422688 A JP 24422688A JP H0762642 B2 JPH0762642 B2 JP H0762642B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、被測定光ファイバに光パルスを入射し、こ
の被測定光ファイバから入射端に戻ってくる光信号を検
出することにより、被測定光ファイバの障害点探索、損
失特性等を行なう光パルス試験器に関するものである。
の被測定光ファイバから入射端に戻ってくる光信号を検
出することにより、被測定光ファイバの障害点探索、損
失特性等を行なう光パルス試験器に関するものである。
［従来の技術］ 従来の光パルス試験器は、光パルスを被測定ファイバに
入射し、その被測定光ファイバより戻ってくるフレネル
反射光および後方散乱光を検出することにより被測定光
ファイバを試験していた。
入射し、その被測定光ファイバより戻ってくるフレネル
反射光および後方散乱光を検出することにより被測定光
ファイバを試験していた。
この光パルス試験器の概要を第６図に示す。図の中で10
はパルス信号を発生するパルス発生部、20は前記パルス
信号により光パルスを発生する光出力部、30は前記光パ
ルスを被測定光ファイバ40に入射し、この被測定光ファ
イバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後
方散乱光を取り出すための光路の切換え手段で、この例
では方向性結合器を用いている。51はフレネル反射光お
よび後方散乱光を電気信号に変換するための光電変換
器、52はこの電気信号を増幅する第１の増幅器、53は可
変抵抗減衰器、54はこの可変抵抗減衰器53の出力する電
気信号を増幅する第２の増幅器、60は前記電気信号をデ
ジタル信号に変換するためのA/D変換器、90は表示部、1
00はデータ処理部である。
はパルス信号を発生するパルス発生部、20は前記パルス
信号により光パルスを発生する光出力部、30は前記光パ
ルスを被測定光ファイバ40に入射し、この被測定光ファ
イバから入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後
方散乱光を取り出すための光路の切換え手段で、この例
では方向性結合器を用いている。51はフレネル反射光お
よび後方散乱光を電気信号に変換するための光電変換
器、52はこの電気信号を増幅する第１の増幅器、53は可
変抵抗減衰器、54はこの可変抵抗減衰器53の出力する電
気信号を増幅する第２の増幅器、60は前記電気信号をデ
ジタル信号に変換するためのA/D変換器、90は表示部、1
00はデータ処理部である。
第７図は、この構成により得られる被測定光ファイバの
特性を示す代表的な表示例である。第３図は縦軸はレベ
ル（dB）、横軸は距離（km）、F0は被測定光ファイバ40
の入射端で生じたフレネル反射、F1は他端で生じたフレ
ネル反射である。特性Ａは後方散乱光であって、その傾
斜は被測定光ファイバ40の光伝送特性を示す。また、Ｓ
は被測定光ファイバ40の融着接続による接続点を示す。
特性を示す代表的な表示例である。第３図は縦軸はレベ
ル（dB）、横軸は距離（km）、F0は被測定光ファイバ40
の入射端で生じたフレネル反射、F1は他端で生じたフレ
ネル反射である。特性Ａは後方散乱光であって、その傾
斜は被測定光ファイバ40の光伝送特性を示す。また、Ｓ
は被測定光ファイバ40の融着接続による接続点を示す。
前記光パルス試験器の構成において、可変抵抗減衰器53
は被測定光ファイバ40の種類、観測範囲、光出力部20が
出力する光パルスのパルス幅、波長および出力レベルに
よって決定付けられる反射光を光電変換した電気信号を
減衰させ、第２の増幅器54において前記電気信号の飽和
を防ぐためのものである。従来の光パルス試験器では第
２の増幅器54において前記電気信号が飽和していないこ
とを表示部90の画面を目視しながら可変抵抗減衰器53の
減衰量を手動操作により可変し調整を行なっていた。
は被測定光ファイバ40の種類、観測範囲、光出力部20が
出力する光パルスのパルス幅、波長および出力レベルに
よって決定付けられる反射光を光電変換した電気信号を
減衰させ、第２の増幅器54において前記電気信号の飽和
を防ぐためのものである。従来の光パルス試験器では第
２の増幅器54において前記電気信号が飽和していないこ
とを表示部90の画面を目視しながら可変抵抗減衰器53の
減衰量を手動操作により可変し調整を行なっていた。
［発明が解決しようとする課題］ 被測定対象側としての被測定光ファイバの特性である測
定波形は、第７図に示すように、距離が遠くなるにつれ
レベルが次第に低下したり、パルス状にレベルが高いフ
レネル反射等がある。一方、測定者側が任意に変更する
ものとして観測距離範囲を部分的に拡大縮小する機能を
用いる等があり、操作者は上記各種いずれの側のパラメ
ータ変更を考慮した上で可変抵抗減衰器53を操作しなけ
ればならなかった。
定波形は、第７図に示すように、距離が遠くなるにつれ
レベルが次第に低下したり、パルス状にレベルが高いフ
レネル反射等がある。一方、測定者側が任意に変更する
ものとして観測距離範囲を部分的に拡大縮小する機能を
用いる等があり、操作者は上記各種いずれの側のパラメ
ータ変更を考慮した上で可変抵抗減衰器53を操作しなけ
ればならなかった。
上記のような光パルス試験器においては、被測定光ファ
イバ40からのフレネル反射光および後方散乱光を受光し
電気信号に変換後、その電気信号を増幅してA/D変換器6
0に加えるにあたり、オペレータが可変抵抗減衰器53の
減衰量の設定値を誤って大きく設定した場合、前記電気
信号のレベルの低下によりS/Nが悪化し、S/N改善のため
に長時間のアベレージング処理を必要とする問題があっ
た。
イバ40からのフレネル反射光および後方散乱光を受光し
電気信号に変換後、その電気信号を増幅してA/D変換器6
0に加えるにあたり、オペレータが可変抵抗減衰器53の
減衰量の設定値を誤って大きく設定した場合、前記電気
信号のレベルの低下によりS/Nが悪化し、S/N改善のため
に長時間のアベレージング処理を必要とする問題があっ
た。
逆に可変抵抗減衰器53の減衰量の設定値を小さく設定し
た場合、前記電気信号が第２の増幅器54で飽和し、被測
定光ファイバ40からのフレネル反射光および後方散乱光
を忠実に観測できないという問題があった。
た場合、前記電気信号が第２の増幅器54で飽和し、被測
定光ファイバ40からのフレネル反射光および後方散乱光
を忠実に観測できないという問題があった。
さらに、オペレータが特に初心者である場合には、減衰
量を可変するにあたって最適な減衰量が設定されたかを
判断することが困難であるとともに、減衰量を最適な値
に設定するのに必要以上の時間を要し、能率的な測定が
行なえなかった。
量を可変するにあたって最適な減衰量が設定されたかを
判断することが困難であるとともに、減衰量を最適な値
に設定するのに必要以上の時間を要し、能率的な測定が
行なえなかった。
そして、減衰量の設定値が異なると、この減衰量以外の
パラメータを同一にして同じ被測定光ファイバを測定し
た場合でも信号レベルのS/Nに差が生じ、それらの測定
結果にはバラツキが生じる。したがって、減衰量を最適
に設定し、前記信号レベルのS/Nが良好なもので測定し
た場合は、その測定結果の精度が高く、一方減衰量の設
定が不適当で前記信号レベルのS/Nが悪いもので測定し
た場合には、その測定結果の精度が悪くなり、よって測
定結果の再現性が悪くなる。したがって、オペレータが
減衰量を設定するにあたりオペレータの個人差が生じる
ことにより測定結果の精度が変化したり、測定結果の再
現性が悪く信頼性が低下するという欠点があった。
パラメータを同一にして同じ被測定光ファイバを測定し
た場合でも信号レベルのS/Nに差が生じ、それらの測定
結果にはバラツキが生じる。したがって、減衰量を最適
に設定し、前記信号レベルのS/Nが良好なもので測定し
た場合は、その測定結果の精度が高く、一方減衰量の設
定が不適当で前記信号レベルのS/Nが悪いもので測定し
た場合には、その測定結果の精度が悪くなり、よって測
定結果の再現性が悪くなる。したがって、オペレータが
減衰量を設定するにあたりオペレータの個人差が生じる
ことにより測定結果の精度が変化したり、測定結果の再
現性が悪く信頼性が低下するという欠点があった。
また、オペレータが常に表示部90の画面を目視しながら
減衰量を設定することが必要であるために、外部コント
ローラによる無人測定での減衰量の最適設定にも応用し
にくい面もあった。
減衰量を設定することが必要であるために、外部コント
ローラによる無人測定での減衰量の最適設定にも応用し
にくい面もあった。
本発明は、係る問題点に鑑みて成されたものであって、
その目的は被測定光ファイバからのフレネル反射光およ
び後方散乱光を観測する設定パラメータを変更しても電
気信号が飽和せず、かつ最適な減衰量が自動的に設定で
き、オペレータの個人差により測定結果のばらつきを最
小にし、操作の簡単化が図れ、かつ外部コントローラに
よる無人測定にも容易に応用できる光パルス試験器を提
供することにある。
その目的は被測定光ファイバからのフレネル反射光およ
び後方散乱光を観測する設定パラメータを変更しても電
気信号が飽和せず、かつ最適な減衰量が自動的に設定で
き、オペレータの個人差により測定結果のばらつきを最
小にし、操作の簡単化が図れ、かつ外部コントローラに
よる無人測定にも容易に応用できる光パルス試験器を提
供することにある。
［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するために、本発明は被測定光ファイバ
（40）に所定の波長の光パルスを入射し、前記被測定光
ファイバからのフレネル反射光または後方散乱光を受光
し、これを電気信号に変換してA/D変換した後、信号処
理し、その結果を表示またはデータを出力する光パルス
試験器において； 観測距離範囲の所定の位置に対応する前記電気信号のレ
ベルを可変するレベル可変手段（55）と、 前記レベル可変手段の出力信号をA/D変換するA/D変換器
（60）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのI/O手段（72）と、 前記パラメータに基づく前記レベル可変手段に設定すべ
き初期値（ａ）を格納するための初期値記憶手段（81）
と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後に得られ
る前記A/D変換器からの出力値とを比較するため、予め
設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準値記憶手段
（82）と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後、得られ
る前記A/D変換器の出力値と、前記基準値記憶手段に記
憶されている前記基準値とを比較し、前記レベル可変手
段に設定されている初期値を変更するための補正値
（ｄ）を算出する比較手段（83）と、 を備えたものである。
（40）に所定の波長の光パルスを入射し、前記被測定光
ファイバからのフレネル反射光または後方散乱光を受光
し、これを電気信号に変換してA/D変換した後、信号処
理し、その結果を表示またはデータを出力する光パルス
試験器において； 観測距離範囲の所定の位置に対応する前記電気信号のレ
ベルを可変するレベル可変手段（55）と、 前記レベル可変手段の出力信号をA/D変換するA/D変換器
（60）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのI/O手段（72）と、 前記パラメータに基づく前記レベル可変手段に設定すべ
き初期値（ａ）を格納するための初期値記憶手段（81）
と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後に得られ
る前記A/D変換器からの出力値とを比較するため、予め
設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準値記憶手段
（82）と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後、得られ
る前記A/D変換器の出力値と、前記基準値記憶手段に記
憶されている前記基準値とを比較し、前記レベル可変手
段に設定されている初期値を変更するための補正値
（ｄ）を算出する比較手段（83）と、 を備えたものである。
［作用］ この発明においては、被測定光ファイバ40の種類と、こ
の被測定光ファイバ40を試験するための光パルス試験器
の各パラメータの設定をI/O手段72に入力し、このパラ
メータによって決まるレベル可変手段55の初期値を初期
値記憶手段81より出力しレベル可変手段55に設定する。
次に、被測定光ファイバ40に所定の波長の光パルスを入
射し、被測定光ファイバ40からのフレネル反射または後
方散乱光を受光し、これを電気信号に変換した後、A/D
変換器60に加え、このA/D変換器60からの出力値と、基
準値記憶手段82に予め設定された基準値とを比較手段83
で比較し、前記レベル可変手段55の初期値を変更する。
これにより、最適な減衰量つまり飽和を起さないための
必要最小限の減衰量で被測定光ファイバ40を広げダイナ
ミックレンジで測定できる。
の被測定光ファイバ40を試験するための光パルス試験器
の各パラメータの設定をI/O手段72に入力し、このパラ
メータによって決まるレベル可変手段55の初期値を初期
値記憶手段81より出力しレベル可変手段55に設定する。
次に、被測定光ファイバ40に所定の波長の光パルスを入
射し、被測定光ファイバ40からのフレネル反射または後
方散乱光を受光し、これを電気信号に変換した後、A/D
変換器60に加え、このA/D変換器60からの出力値と、基
準値記憶手段82に予め設定された基準値とを比較手段83
で比較し、前記レベル可変手段55の初期値を変更する。
これにより、最適な減衰量つまり飽和を起さないための
必要最小限の減衰量で被測定光ファイバ40を広げダイナ
ミックレンジで測定できる。
［実施例］ 第１図は、この発明の一実施例を示す図で、被測定光フ
ァイバに光パルスを入射し、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を検出することによりA/D変換器への入力信号の大きさ
を最適設定させるために自動レベル可変機能をもった光
パルス試験器のブロックダイヤグラムである。この図に
おいて、10、20、30、40、51、52、54、60、90、100
は、上記従来の光パルス試験器と同一の構成部であり、
その説明を省略する。
ァイバに光パルスを入射し、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を検出することによりA/D変換器への入力信号の大きさ
を最適設定させるために自動レベル可変機能をもった光
パルス試験器のブロックダイヤグラムである。この図に
おいて、10、20、30、40、51、52、54、60、90、100
は、上記従来の光パルス試験器と同一の構成部であり、
その説明を省略する。
55は、第１の増幅器52が出力する電気信号のレベルを可
変するレベル可変手段であり、この例では減衰量AT0、A
T1、…、ATn-1、ATn（AT0＞AT1＞…＞ATn-1＞ATn）の値
をとる可変抵抗減衰器である。またこのレベル可変手段
55はデジタル入力によりその減衰量が変更されるもので
ある。この手段は第１の増幅器52、レベル可変手段55、
第２の増幅器54を一つの可変利得増幅器に置き換えても
良い。72は前記被測定光ファイバからの前記フレネル反
射光および後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータ
を入力するためのI/O手段であり、この実施例でI/O手段
72には、被測定光ファイバ40の種類、観測距離範囲、光
出力部20が出力する光パルスのパルス幅、波長、光のレ
ベルなどのパラメータを入力する。
変するレベル可変手段であり、この例では減衰量AT0、A
T1、…、ATn-1、ATn（AT0＞AT1＞…＞ATn-1＞ATn）の値
をとる可変抵抗減衰器である。またこのレベル可変手段
55はデジタル入力によりその減衰量が変更されるもので
ある。この手段は第１の増幅器52、レベル可変手段55、
第２の増幅器54を一つの可変利得増幅器に置き換えても
良い。72は前記被測定光ファイバからの前記フレネル反
射光および後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータ
を入力するためのI/O手段であり、この実施例でI/O手段
72には、被測定光ファイバ40の種類、観測距離範囲、光
出力部20が出力する光パルスのパルス幅、波長、光のレ
ベルなどのパラメータを入力する。
81は前記I/O手段72に入力された前記パラメータに基づ
いて、前記レベル可変手段55に設定すべき初期値ａを記
憶している初期値記憶手段である。
いて、前記レベル可変手段55に設定すべき初期値ａを記
憶している初期値記憶手段である。
ここで本実施例では第６図に示した代表的な表示例から
もわかるように、被測定光ファイバ40の特性は接続点を
除いては全て右下りであることと、前記被測定光ファイ
バ40の入射端で光出力部20が出力する光パルスのパルス
幅に対応する幅を持つフレネル反射F0が生じることか
ら、これらを鑑みた上での初期値が予め初期値記憶手段
81に記憶されている。
もわかるように、被測定光ファイバ40の特性は接続点を
除いては全て右下りであることと、前記被測定光ファイ
バ40の入射端で光出力部20が出力する光パルスのパルス
幅に対応する幅を持つフレネル反射F0が生じることか
ら、これらを鑑みた上での初期値が予め初期値記憶手段
81に記憶されている。
つまり、初期値記憶手段81の記憶内容としては、標準的
な光ファイバの減衰特性として、所定の減衰特性（前記
右下りの特性線）に対応する設定値（レベル可変手段55
の減衰量）を所定距離毎に合計複数個記憶している。こ
の減衰特性線は、前記パラメータの種類によって変化す
る。例えば、光の波長が異なることにより特性線全体の
傾きが変る他、出力する光のパルス幅によりフレネル反
射部分の幅が変化し、かつ特性線のレベルが上下にシフ
トする。また後述するように観測距離範囲の変更によ
り、所定観測距離範囲のみが拡大、縮小される。さら
に、光のレベルについては、同じ波長でもLDからの出力
パワーの違うユニットに対応するパラメータを持つ。
な光ファイバの減衰特性として、所定の減衰特性（前記
右下りの特性線）に対応する設定値（レベル可変手段55
の減衰量）を所定距離毎に合計複数個記憶している。こ
の減衰特性線は、前記パラメータの種類によって変化す
る。例えば、光の波長が異なることにより特性線全体の
傾きが変る他、出力する光のパルス幅によりフレネル反
射部分の幅が変化し、かつ特性線のレベルが上下にシフ
トする。また後述するように観測距離範囲の変更によ
り、所定観測距離範囲のみが拡大、縮小される。さら
に、光のレベルについては、同じ波長でもLDからの出力
パワーの違うユニットに対応するパラメータを持つ。
82は前記初期値を前記レベル可変手段55に設定した後に
得られる前記A/D変換器60の出力値と比較するために予
め設定された基準値ｃを記憶するための基準値記憶手段
である。
得られる前記A/D変換器60の出力値と比較するために予
め設定された基準値ｃを記憶するための基準値記憶手段
である。
実施例では、第３図および第６図に示すように前記増幅
器54で前記電気信号が飽和した場合の前記A/D変換器60
の出力値よりも少し小さな値に前記基準値ｃを設定して
いる。これにより、ダイナミックレンジを最大にするた
めの上限値が決定されることになる。
器54で前記電気信号が飽和した場合の前記A/D変換器60
の出力値よりも少し小さな値に前記基準値ｃを設定して
いる。これにより、ダイナミックレンジを最大にするた
めの上限値が決定されることになる。
83は前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後得ら
れる前記A/D変換器60の出力値と、前記基準値とを比較
し、前記レベル可変手段55に設定されている初期値を最
適値に補正するための補正値を算出するための比較手段
である。
れる前記A/D変換器60の出力値と、前記基準値とを比較
し、前記レベル可変手段55に設定されている初期値を最
適値に補正するための補正値を算出するための比較手段
である。
制御部71は前記I/O手段72に入力されたパラメータによ
り前記パルス発生部10、A/D変換器60、初期値記憶手段8
1、基準値記憶手段82、比較手段83、データ処理部100を
制御する。尚、制御部71は観測距離範囲の変更時にパル
ス発生部10が発生する一定な間隔のパルスが出力されて
から、A/D変換器60の取り込みを開始させるまでの時間
を制御線ｅを介して変更させている。尚、データ処理部
100は、表示部90への表示処理あるいはデータ出力部110
からのデータ出力を選択的に動作させる。
り前記パルス発生部10、A/D変換器60、初期値記憶手段8
1、基準値記憶手段82、比較手段83、データ処理部100を
制御する。尚、制御部71は観測距離範囲の変更時にパル
ス発生部10が発生する一定な間隔のパルスが出力されて
から、A/D変換器60の取り込みを開始させるまでの時間
を制御線ｅを介して変更させている。尚、データ処理部
100は、表示部90への表示処理あるいはデータ出力部110
からのデータ出力を選択的に動作させる。
次に第２図のフローチャートを参照しながらこの実施例
の一連の動作を説明する。
の一連の動作を説明する。
そして、第３図は、光パルス試験器により光ファイバA1
と光ファイバB1とを接続点Ｓで融着接続した被測定光フ
ァイバを測定した表示例である。ここで観測する範囲を
観測距離範囲Ａとする。また第４図は、被測定光ファイ
バの第３図の観測距離範囲Ｂに対応する部分のみを拡大
して測定した表示例である。第３図と第４図のレベルＬ
と距離D1およびD2はそれぞれ等しい。
と光ファイバB1とを接続点Ｓで融着接続した被測定光フ
ァイバを測定した表示例である。ここで観測する範囲を
観測距離範囲Ａとする。また第４図は、被測定光ファイ
バの第３図の観測距離範囲Ｂに対応する部分のみを拡大
して測定した表示例である。第３図と第４図のレベルＬ
と距離D1およびD2はそれぞれ等しい。
光パルス試験器の観測距離範囲を観測距離範囲Ａから観
測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可変手段55の設
定値（減衰量）を以下の手順で自動的に変更する。
測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可変手段55の設
定値（減衰量）を以下の手順で自動的に変更する。
（イ）I/O手段72に各種パラメータが設定されることに
より、設定値の補正動作が開始される。
より、設定値の補正動作が開始される。
（ロ）初期値記憶手段81に記憶しているレベル可変手段
55に設定する初期値として、I/O手段72に記憶されたパ
ラメータに対応した初期値ａを、初期値記憶手段81から
出力してこの値をレベル可変手段55に設定する。（SP
1） したがって今、補正しようとする補正する所定観測点部
分のみの拡大については、初期値記憶手段81に記憶され
ている距離D1′に対応した光のレベルL1′は予め予想で
きるので、この光のレベルL1′に対応するA/D変換後の
受光レベルを比較手段83において比較するにあたり最低
限必要なS/Nの信号レベルを得るための設定値（減衰
量）ａを出力するようになっている。
55に設定する初期値として、I/O手段72に記憶されたパ
ラメータに対応した初期値ａを、初期値記憶手段81から
出力してこの値をレベル可変手段55に設定する。（SP
1） したがって今、補正しようとする補正する所定観測点部
分のみの拡大については、初期値記憶手段81に記憶され
ている距離D1′に対応した光のレベルL1′は予め予想で
きるので、この光のレベルL1′に対応するA/D変換後の
受光レベルを比較手段83において比較するにあたり最低
限必要なS/Nの信号レベルを得るための設定値（減衰
量）ａを出力するようになっている。
（ハ）次に、パルス発生部10が電気パルス信号を発生
し、この電気パルス信号により光出力部20が光パルスを
出力する。この光パルスを切換え手段30を通過させ被測
定光ファイバ40に入射して、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を切換え手段30で光電変換器51に導く。
し、この電気パルス信号により光出力部20が光パルスを
出力する。この光パルスを切換え手段30を通過させ被測
定光ファイバ40に入射して、この被測定光ファイバから
入射端側に戻ってくるフレネル反射光および後方散乱光
を切換え手段30で光電変換器51に導く。
（ニ）フレネル反射光および後方散乱光を光電変換器51
で電気信号に変換し、この電気信号を増幅器52で増幅し
た後、初期値記憶手段81から出力された初期値ａに設定
されているレベル可変手段55により減衰させ、再び増幅
器54により増幅して出力する（SP2）。
で電気信号に変換し、この電気信号を増幅器52で増幅し
た後、初期値記憶手段81から出力された初期値ａに設定
されているレベル可変手段55により減衰させ、再び増幅
器54により増幅して出力する（SP2）。
そして、第７図に示すように被測定光ファイバの特性線
が右下りであることから、観測距離範囲の光パルスの入
射端に近い部分の１点に対応する電気信号をA/D変換器6
0でデジタル信号に変換しデジタル信号ｂを得る（SP
3）。
が右下りであることから、観測距離範囲の光パルスの入
射端に近い部分の１点に対応する電気信号をA/D変換器6
0でデジタル信号に変換しデジタル信号ｂを得る（SP
3）。
ここでこのデジタル信号ｂの精度を高めるために第５図
（ａ）に示すサンプリング間隔P1でサンプリングしてい
る観測距離範囲の距離D1と距離D2間を、第５図（ｂ）の
ようにサンプリング間隔P1に比べて短いサンプリング間
隔P2でサンプリングし、これにより得たデジタル信号の
平均値をデジタル信号ｂとしている。このデジタル信号
ｂは、前記電気信号を初期値ａに予備設定されているレ
ベル可変手段55で減衰して得たA/D変換器60の出力で、
この後に行なう基準値ｃと比較するために得るものであ
る。
（ａ）に示すサンプリング間隔P1でサンプリングしてい
る観測距離範囲の距離D1と距離D2間を、第５図（ｂ）の
ようにサンプリング間隔P1に比べて短いサンプリング間
隔P2でサンプリングし、これにより得たデジタル信号の
平均値をデジタル信号ｂとしている。このデジタル信号
ｂは、前記電気信号を初期値ａに予備設定されているレ
ベル可変手段55で減衰して得たA/D変換器60の出力で、
この後に行なう基準値ｃと比較するために得るものであ
る。
（ホ）次に、比較手段83はデジタル信号ｂと、基準値記
憶手段82に記憶されている基準値ｃとを比較し、レベル
可変手段55の設定値を ｃ−ｂ＜ATn−ATn-1 が成立するための補正値ｄを算出して、この結果をレベ
ル可変手段55に出力する。
憶手段82に記憶されている基準値ｃとを比較し、レベル
可変手段55の設定値を ｃ−ｂ＜ATn−ATn-1 が成立するための補正値ｄを算出して、この結果をレベ
ル可変手段55に出力する。
ここで、比較手段83は、第３図に示す如く全観測距離範
囲のなかで前記フレネル反射F0を含まない被測定光ファ
イバ40の特性Ａのできるだけ左側の部分に相当するデジ
タル信号ｂと基準値ｃとを比較し補正値ｄを得て（SP
4）、さらに補正値ｄによりレベル可変手段55の設定値
（減衰量）を最適値に自動的に設定する（SP5）。
囲のなかで前記フレネル反射F0を含まない被測定光ファ
イバ40の特性Ａのできるだけ左側の部分に相当するデジ
タル信号ｂと基準値ｃとを比較し補正値ｄを得て（SP
4）、さらに補正値ｄによりレベル可変手段55の設定値
（減衰量）を最適値に自動的に設定する（SP5）。
ところで、フレネル反射F0を含む観測距離範囲の補正動
作時、このフレネル反射F0は、I/O手段72に入力される
光パルス幅のパラメータにより自動的に排除できるよう
になっている。
作時、このフレネル反射F0は、I/O手段72に入力される
光パルス幅のパラメータにより自動的に排除できるよう
になっている。
（ヘ）以上の過程によりレベル可変手段55の最適設定が
終了し、再びI/O手段72にパラメータが設定されるまで
は上記動作による補正値ｄによりレベル可変手段55の値
が変更されることはない。そして、この後補正された値
により被測定ファイバ40の特性測定が行なわれるが、特
性測定自体の動作は従来の光パルス試験器に同じであ
り、特開昭57−161633号公報に記載されている。
終了し、再びI/O手段72にパラメータが設定されるまで
は上記動作による補正値ｄによりレベル可変手段55の値
が変更されることはない。そして、この後補正された値
により被測定ファイバ40の特性測定が行なわれるが、特
性測定自体の動作は従来の光パルス試験器に同じであ
り、特開昭57−161633号公報に記載されている。
ところで、光パルス試験器の観測距離範囲を観測距離範
囲Ａから観測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可変
手段55の設定値（減衰量）を変更しないと、観測結果は
第４図の表示（２）になる。従来の光パルス試験器は、
前述したように観測範囲を変えた場合には可変抵抗減衰
器53の設定値をその都度オペレータが手動で可変し、測
定結果を表示（１）のようなS/Nの良好な状態に変える
必要があった。
囲Ａから観測距離範囲Ｂに変更するときに、レベル可変
手段55の設定値（減衰量）を変更しないと、観測結果は
第４図の表示（２）になる。従来の光パルス試験器は、
前述したように観測範囲を変えた場合には可変抵抗減衰
器53の設定値をその都度オペレータが手動で可変し、測
定結果を表示（１）のようなS/Nの良好な状態に変える
必要があった。
本実施例では、このように観測範囲を変えた場合、前記
観測開始点D1がI/O手段72に入力されることにより、こ
の観測開始点D1を含むパラメータの組み合わせによって
決まる初期値ａを初期値記憶手段81から出力してレベル
可変手段55に設定した後、前記（ハ）〜（ヘ）の動作を
行なっている。この方法により、レベル可変手段55の設
定値を常に最適になるように調整でき、第４図の表示
（１）のように測定波形をレベルが高くS/Nの良好な状
態で観測できる。
観測開始点D1がI/O手段72に入力されることにより、こ
の観測開始点D1を含むパラメータの組み合わせによって
決まる初期値ａを初期値記憶手段81から出力してレベル
可変手段55に設定した後、前記（ハ）〜（ヘ）の動作を
行なっている。この方法により、レベル可変手段55の設
定値を常に最適になるように調整でき、第４図の表示
（１）のように測定波形をレベルが高くS/Nの良好な状
態で観測できる。
また、光パルス試験器から遠隔地の場所にI/O手段72に
接続された外部コントローラを設け、この外部コントロ
ーラにパラメータを入力することにより前記自動補正が
行なえ、被測定光ファイバ40が敷設された箇所の無人測
定に容易に応用できる。
接続された外部コントローラを設け、この外部コントロ
ーラにパラメータを入力することにより前記自動補正が
行なえ、被測定光ファイバ40が敷設された箇所の無人測
定に容易に応用できる。
また、第７図に示すように通常は長距離にわたって布設
された実回線においては多くの接続箇所が存在し、この
箇所で光のレベルが大きく変化するので従来この作業に
手間がかかったが、本発明の光パルス試験器によれば任
意の観測範囲におけるフレネル反射光および後方散乱光
の受光レベルを予想して自動的に予備設定しその後比較
して予想外のレベルであってもそれに対応できるので、
レベルの変化があっても最適値に自動的に設定すること
ができる。
された実回線においては多くの接続箇所が存在し、この
箇所で光のレベルが大きく変化するので従来この作業に
手間がかかったが、本発明の光パルス試験器によれば任
意の観測範囲におけるフレネル反射光および後方散乱光
の受光レベルを予想して自動的に予備設定しその後比較
して予想外のレベルであってもそれに対応できるので、
レベルの変化があっても最適値に自動的に設定すること
ができる。
［発明の効果］ この発明に係る光パルス試験器は、被測定光ファイバか
らのフレネル反射光および後方散乱光を観測する設定パ
ラメータを変更しても前記電気信号が飽和せず、かつ最
適な減衰量が自動的に設定できるので、オペレータの個
人差による測定結果のばらつきを最小にし、操作の簡単
化、省力化、、短時間化が図れる。また、実回線での接
続点のレベル変動を許容して自動化が計れる。さらに、
外部コントローラによる無人測定にも容易に応用でき
る。
らのフレネル反射光および後方散乱光を観測する設定パ
ラメータを変更しても前記電気信号が飽和せず、かつ最
適な減衰量が自動的に設定できるので、オペレータの個
人差による測定結果のばらつきを最小にし、操作の簡単
化、省力化、、短時間化が図れる。また、実回線での接
続点のレベル変動を許容して自動化が計れる。さらに、
外部コントローラによる無人測定にも容易に応用でき
る。
第１図は、本発明の光パルス試験器を示すブロックダイ
アグラム、第２図は、同光パルス試験器の補正動作を示
すフローチャート、第３図および第４図は、同光パルス
試験器の補正動作を説明するための被測定ファイバの特
性グラフ、第５図（ａ）は、設定された観測距離範囲の
サンプリング間隔を示す図、第５図（ｂ）は、同図
（ａ）の距離D1とD2間のサンプリング間隔を短くとった
状態を示す図、第６図は、従来の光パルス試験器を示す
ブロック図、第７図は、一般的な光ファイバの特性を示
すグラフである。 40……被測定光ファイバ、54……第２の増幅器、55……
レベル可変手段、60……A/D変換器、71……制御部、81
……初期値記憶手段、82……基準値記憶手段、83……比
較手段。
アグラム、第２図は、同光パルス試験器の補正動作を示
すフローチャート、第３図および第４図は、同光パルス
試験器の補正動作を説明するための被測定ファイバの特
性グラフ、第５図（ａ）は、設定された観測距離範囲の
サンプリング間隔を示す図、第５図（ｂ）は、同図
（ａ）の距離D1とD2間のサンプリング間隔を短くとった
状態を示す図、第６図は、従来の光パルス試験器を示す
ブロック図、第７図は、一般的な光ファイバの特性を示
すグラフである。 40……被測定光ファイバ、54……第２の増幅器、55……
レベル可変手段、60……A/D変換器、71……制御部、81
……初期値記憶手段、82……基準値記憶手段、83……比
較手段。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定光ファイバ（40）に光パルスを入射
し、前記被測定光ファイバからのフレネル反射光または
後方散乱光を受光し、これを電気信号に変換してA/D変
換した後、信号処理し、その結果を表示またはデータを
出力する光パルス試験器において； 前記電気信号のレベルを可変するレベル可変手段（55）
と、 前記レベル可変手段の出力信号をA/D変換するA/D変換器
（60）と、 前記被測定光ファイバからの前記フレネル反射光または
後方散乱光のレベルを決定付けるパラメータを入力する
ためのI/O手段（72）と、 前記パラメータに基づく前記レベル可変手段に設定すべ
き初期値（ａ）を格納するための初期値記憶手段（81）
と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後に得られ
る前記A/D変換器からの出力値とを比較するため、予め
設定した基準値（ｃ）を記憶するための基準値記憶手段
（82）と、 前記初期値を前記レベル可変手段に設定した後、得られ
る前記A/D変換器の出力値と、前記基準値記憶手段に記
憶されている前記基準値とを比較し、前記レベル可変手
段に設定されている初期値を変更するための補正値
（ｄ）を算出する比較手段（83）と、 を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63244226A JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
| US07/258,995 US4893006A (en) | 1987-10-19 | 1988-10-17 | Optical time domain reflectometer with level adjusting function |
| DE3850210T DE3850210T4 (de) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optisches Zeitbereichsreflektometer mit Niveaueinstellung. |
| DE3850210A DE3850210D1 (de) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optisches Zeitbereichsreflektometer mit Niveaueinstellung. |
| EP88117405A EP0313020B1 (en) | 1987-10-19 | 1988-10-19 | Optical time domain reflectometer with level adjusting function |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26185087 | 1987-10-19 | ||
| JP62-261850 | 1987-10-19 | ||
| JP63244226A JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH021527A JPH021527A (ja) | 1990-01-05 |
| JPH0762642B2 true JPH0762642B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=26536632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63244226A Expired - Fee Related JPH0762642B2 (ja) | 1987-10-19 | 1988-09-30 | 光パルス試験器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4893006A (ja) |
| EP (1) | EP0313020B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0762642B2 (ja) |
| DE (2) | DE3850210D1 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5022752A (en) * | 1989-09-25 | 1991-06-11 | Reliance Comm/Tec Corporation | Echo cancelling circuit for use with laser |
| US5148230A (en) * | 1990-04-25 | 1992-09-15 | Tektronix, Inc. | Measurement apparatus having improved sample density using nested data acquisitions |
| US5023445A (en) * | 1990-04-27 | 1991-06-11 | Tektronix, Inc. | Signal acquisition method and automatic masking system for an OTDR |
| JP2717592B2 (ja) * | 1990-05-18 | 1998-02-18 | 国際電信電話株式会社 | 電気的パルスエコーによる光海底ケーブルの障害点測定方法 |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| US5530367A (en) * | 1995-01-06 | 1996-06-25 | Fluke Corporaton | Pulse based cable attenuation measurement system |
| GB9620288D0 (en) | 1996-09-28 | 1996-11-13 | Univ Strathclyde | Automatic fault location in cabling systems |
| US6687632B1 (en) | 1998-01-23 | 2004-02-03 | Trilithic, Inc. | Testing of CATV systems |
| JP4109351B2 (ja) * | 1998-07-02 | 2008-07-02 | 株式会社キーエンス | 検出スイッチおよび光電スイッチ |
| US6154584A (en) * | 1999-02-03 | 2000-11-28 | Lan-Hopper Systems, Inc. | Optical analyzer with variable attenuators at inputs and outputs |
| JP3770527B2 (ja) * | 1999-09-06 | 2006-04-26 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験装置 |
| DE60031834T2 (de) * | 1999-09-06 | 2007-09-13 | Anritsu Corp., Atsugi | System zur messung der wellenlängendispersion einer optischer faser |
| JP2003050181A (ja) * | 2001-08-03 | 2003-02-21 | Ando Electric Co Ltd | 光ファイバ測定装置 |
| CN101351689B (zh) * | 2006-07-03 | 2011-12-07 | 安立股份有限公司 | 光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法 |
| EP1884758B1 (en) * | 2006-08-03 | 2009-10-28 | Alcatel Lucent | Control loop for the integrated sine wave OTDR measurement online |
| WO2011147030A1 (en) | 2010-05-27 | 2011-12-01 | Exfo Inc. | Multiple-acquisition otdr method and device |
| CN103124193B (zh) * | 2011-11-21 | 2015-11-18 | 上海光家仪器仪表有限公司 | 基于嵌入式系统的多功能光时域反射仪 |
| US9641243B2 (en) | 2015-02-23 | 2017-05-02 | Exfo Inc. | Safe-mode OTDR method |
| EP3401662A1 (en) * | 2017-05-12 | 2018-11-14 | ADVA Optical Networking SE | A method and apparatus for measurement of a backscattered trace of a fiber |
| US11387922B2 (en) | 2020-02-25 | 2022-07-12 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Receiver with a power detecting function for a pulsed signal and receiving method |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6033011B2 (ja) * | 1978-05-28 | 1985-07-31 | 日本ビクター株式会社 | 自動音量減衰装置 |
| JPS6150033A (ja) * | 1984-08-18 | 1986-03-12 | Iwatsu Electric Co Ltd | タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ |
| DE3506884A1 (de) * | 1985-02-27 | 1986-08-28 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Optisches zeitbereichsreflektometer mit heterodyn-empfang |
| DE3609371A1 (de) * | 1986-03-20 | 1987-09-24 | Philips Patentverwaltung | Optisches zeitbereichsreflektometer mit heterodyn-empfang |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP63244226A patent/JPH0762642B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-17 US US07/258,995 patent/US4893006A/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-19 DE DE3850210A patent/DE3850210D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-19 DE DE3850210T patent/DE3850210T4/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-10-19 EP EP88117405A patent/EP0313020B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3850210T2 (de) | 1995-01-26 |
| EP0313020B1 (en) | 1994-06-15 |
| US4893006A (en) | 1990-01-09 |
| DE3850210D1 (de) | 1994-07-21 |
| EP0313020A3 (en) | 1991-04-10 |
| DE3850210T4 (de) | 1995-08-10 |
| EP0313020A2 (en) | 1989-04-26 |
| JPH021527A (ja) | 1990-01-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |