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JPH0752019A - 研磨テープを用いた清浄方法 - Google Patents

研磨テープを用いた清浄方法

Info

Publication number
JPH0752019A
JPH0752019A JP5198470A JP19847093A JPH0752019A JP H0752019 A JPH0752019 A JP H0752019A JP 5198470 A JP5198470 A JP 5198470A JP 19847093 A JP19847093 A JP 19847093A JP H0752019 A JPH0752019 A JP H0752019A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaned
resin
polishing tape
polishing
cleaning method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5198470A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsumi Ryomo
克己 両毛
Keisuke Yamada
圭介 山田
Masaaki Fujiyama
正昭 藤山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP5198470A priority Critical patent/JPH0752019A/ja
Publication of JPH0752019A publication Critical patent/JPH0752019A/ja
Priority to US08/698,271 priority patent/US5695386A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/20Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
    • B24B7/22Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B7/228Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B21/00Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/042Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被清浄体から外因性付着物のみを被清浄面を
傷つけることなく除去できる、歩留まりの高い清浄方法
を提供すること。 【構成】 表面に外因性付着物を有する被清浄体と可撓
性支持体上に研磨剤粒子と結合剤を主体とする研磨層を
有する研磨テープとを該被清浄体の被清浄面と該研磨テ
ープの該研磨層とが摺接するように互いに対向させて接
動させ、その際被清浄体の送り速度と研磨テープの送り
速度の比を1/1以下にして該被清浄面上にある該外因
性付着物を除去する清浄方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、外因性付着物のみを被
清浄面を傷つけずに除去する清浄方法に関するものであ
り、特に、可撓性支持体上に研磨層を有する研磨テープ
を用いることにより効率よく外因性付着物のみを除去す
る清浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】IC用基板として使用されるシリコンウ
ェハー、磁気ディスク用の基板として使用されるアルミ
基板、液晶ディスプレーに使用されるガラス基板、光磁
気記録媒体用基板として使用されるポリカーボネート基
板やガラス基板に対してはその表面は傷がなく高度に清
浄されていることが要求される。
【0003】これらの基板にあっては、クリーンルーム
等で存在する(1)人体に起因する成分(タンパク質、
Na、Mg、ビリルビン等汗の成分、トリセチン等の油
分成分、(2)室内の防塵塗料成分(アルキッド樹脂、
ウレタン樹脂、シリコン系無機物の壁剤)、(3)帯電
防止材料からの飛散成分(カーボン混入樹脂、帯電防止
材ドープ樹脂)、(4)加工材料に起因する物質(ハン
ダフラックス、封止樹脂、オイルレス樹脂)、(5)材
料そのものの飛沫(シリコン、ガラス、アルミ、液晶、
ITO膜片等)がその表面に付着していわゆる外因性汚
れとなって、それが基板のもしくは最終製品の不留まり
の低下や寿命の低下をもたらす。このためこれら製造工
程では、次工程加工に入る前にこのような付着物を完全
に除去するための清浄工程が必要である。
【0004】その清浄工程で採用される清浄方法として
は、例えば、フロン113等のフッ素系溶剤、アルコー
ル系溶剤等で被清浄体表面を洗い流す方法、刃物のナイ
フエッジを被清浄体表面に圧着して汚れを掻き落とす方
法等が一般に採用されているが溶剤を使用する方法は、
引火の危険性や大気汚染、オゾン層の破壊の原因物質の
放出という問題があり、刃物を用いる方法も被清浄体表
面を傷つけるという問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来技
術の問題点に鑑み成されたものであり、被清浄体から外
因性付着物のみを被清浄面を傷つけることなく除去でき
る、歩留まりの高い清浄方法を提供しようとするもので
ある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記本発明の目的は、表
面に外因性付着物を有する被清浄体と可撓性支持体上に
研磨剤粒子と結合剤を主体とする研磨層を有する研磨テ
ープとを該被清浄体の被清浄面と該研磨テープの該研磨
層とが摺接するように互いに対向させて接動させ、その
際被清浄体の送り速度と研磨テープの送り速度の比を1
/1以下にして該被清浄面上にある該外因性付着物を除
去する清浄方法により達成される。
【0007】即ち、本発明の清浄方法にあっては、研磨
体として可撓性支持体上に研磨層を有する研磨テープを
使用するので、引火や環境汚染等の問題がなくまた被清
浄体の表面を傷つけることなく表面に付着している汚れ
のみを完全に取り除くことができ、しかも研磨テープの
番手を選択することにより被清浄体表面を一定の表面粗
さにすることができる。
【0008】また、被清浄体と研磨テープとが互いに対
向する向きに摺接しつつ接動しておりしかも被清浄体の
送り速度が研磨テープの送り速度よりも小さくしている
ために外因性付着物である汚れの突起部分が削り取られ
てできた削り屑を研磨テープで取り除くことができるの
で、削り屑による被清浄体の二次的な傷の発生を抑える
ことができ、被研磨面を傷つけることなく外因性付着物
のみを被清浄面から除去できるので歩留まりが高く非常
に効率の良い清浄方法となっている。
【0009】更に研磨テープの厚さが75μm以下であ
るとテープのスティフネスが適度となって、特に被清浄
体がガラスであると清浄効果が大きくなる。そして、巾
が10吋以下であると目視で汚れ除去の状況が確認でき
ることと、研磨テープが巾方向に均一な力で被清浄体と
接触できるのでむらなく外因性付着物を除去することが
できる。
【0010】また、本発明の清浄方法は、硬度が高い研
磨剤粒子からなる研磨テープを用いるので被清浄体が金
属のように比較的表面硬度が軟らかいものよりも比較的
硬度が高く且つ平滑なガラスであると特に有効である。
【0011】本発明における外因性付着物とは、被清浄
体が本来内在している物質ではなく、その加工工程の中
途で外部の環境から表面に付着した物のことである。例
えば、被清浄体がガラス基板やアルミ基板、シリコンウ
エハー基板等精密加工で用いられる材料である場合を例
にとると、クリーンルーム等で存在する(1)人体に起
因する成分(タンパク質、Na、Mg、ビリルビン等汗
の成分、トリセチン等の油分成分、(2)室内の防塵塗
料成分(アルキッド樹脂、ウレタン樹脂、シリコン系無
機物の壁剤)、(3)帯電防止材料からの飛散成分(カ
ーボン混入樹脂、帯電防止材ドープ樹脂)、(4)加工
材料に起因する物質(ハンダフラックス、封止樹脂、オ
イルレス樹脂)、(5)材料そのものの飛沫(シリコ
ン、ガラス、アルミ、液晶、ITO膜片等)等が挙げら
れる。
【0012】即ち、本来被清浄体に要求される最終的な
機能を満たすためには、表面にあってはならない物質な
のである。
【0013】本発明の清浄方法における被清浄体と研磨
テープとは摺接するように互いに対抗して接動し、被清
浄体の送り速度を研磨テープの送り速度よりも小さく、
即ちその送り速度の比を1/1以下、好ましくは1/3
以下更に好ましくは1/10以下である。
【0014】その送り速度の比が1/1を超えると外因
性の付着物を被清浄体の表面から充分に除去できないだ
けでなく、逆に除去された外因性の付着物の削り屑が被
清浄体表面の他の場所に再付着する様なことが起こるの
で好ましくない。
【0015】本発明の清浄方法が適用できる被清浄体と
しては特に制限はないが、本発明の清浄方法を適用して
有効な結果が得られるのは、例えば、ガラス、各種セラ
ミック、ポリカーボネート等のプラスチック、金属等の
被清浄体が挙げられるが、中でもガラス、セラミック等
の表面硬度が高く剛性を有したものが望ましく、その中
でも上述したようにガラスが最も好ましい。
【0016】本願発明の清浄方法を実施する際の条件と
して、被清浄体と研磨テープとの送り速度の比以外の条
件として望ましい範囲は、 (1)被清浄体と研磨テープとの接動する相対速度が10
〜6000mm/秒、望ましくは相対速度が30〜50
00mm/秒であること。相対速度が小さすぎると外因
性付着物が完全に取りきれず、また大きすぎると基板に
傷が入りやすくなり、共に望ましくない。 (2)被清浄体と研磨テープが接動するとき、研磨テープ
を圧し当てロールで被清浄体に圧着することが望まし
く、その際の圧着ロールの径は5〜600mmφ、望ま
しくは5〜100mmφである。この圧着ロールの径が
余り小さいとニップ面積が小さくなるので汚れ除去の効
率が低下し、また余り大きいとニップ面積が大きくなっ
て被清浄体表面に傷が入り易くなるので共に望ましくな
い。 (3) 被清浄体に対する研磨テープの圧し当て荷重は5
〜500g、望ましくは50〜300gがよい。この圧
し当て荷重が余り小さいと被清浄体と外因性付着物の付
着力に抗してそれを除去するのが難しくなり、余り大き
すぎると被清浄体表面に傷が入りやすくなるので望まし
くない。 (4)被清浄体と研磨テープが接動する際の前記圧し当て
ロールの巾は290mm以下、望ましくは100mm以
下さらに望ましくは50mm以下である。ロール幅が大
きすぎると目視による外因性付着物の除去の有無が確認
し難くなったり、ロールへの均一な荷重が得られずむら
なく外因性の付着物を除去することが難しくなる。 (5)被清浄体と研磨テープとが接動するとき、前記圧し
当てロールのニップ圧力は0.1〜100g/mmが望
ましい。ニップ圧力が小さいと汚れが充分に除去できな
くなり、また大きすぎると研磨テープが被清浄体表面を
傷つけたりするので望ましくない。
【0017】本発明の方法を実施するための更に具体的
な条件としては、 (6)研磨層中の研磨剤粒子の平均粒子径が1〜0.05
μm、望ましくは0.5〜0.1μmであって、研磨テ
ープの研磨層表面の中心線平均表面粗さRa(カットオ
フ値0.08mm)は5〜100mμが望ましい。 (7)研磨テープのサプライリールから送り出し、バック
テンションを与えながら、ワーク(汚れ物)部分で研磨
テープと被清浄体を接動させる際の研磨テープの送り速
度は、10〜1000cm/分であり、オシレーション
(送り方向と交差する方向の摺動)は0〜10mm/秒
である。また、ワークを斜めに送っても良いし、10m
m進むとき巾方向に0〜5mm送るようなこともでき
る。 (8)研磨テープの巻取は、テンションを10mm巾あた
り5〜500gでテイクアップリールに巻きとる等が挙
げられる。
【0018】研磨テープの研磨層には研磨剤粒子として
は、例えば、酸化クロム、α−アルミナ、炭化珪素、非
磁性酸化鉄、ダイヤモンド、γ−アルミナ,α、γ−ア
ルミナ 熔融アルミナ,酸化セリウム,コランダム,人
造ダイヤモンド,ザクロ石,エメリ−(主成分:コラン
ダムと磁鉄鉱),ガ−ネット,珪石,窒化珪素,窒化硼
素,炭化モリブデン,炭化硼素,炭化タングステン,チ
タンカ−バイド等で,主としてモ−ス硬度6以上の材料
が1内至4種迄の組合わせで使用される。これらの併用
される研磨剤のpHは2〜10のものが使用され,特に
望ましくは5〜10のものが用いられる。これらの研磨
剤粒子は研磨層の主たる構成物質として用いられる。
【0019】研磨層にはカーボンブラックも添加するこ
とができる。カーボンブラックとしては、ゴム用ファ−
ネス,ゴム用サ−マル,カラ−用ブラック,アセチレン
ブラック等を用いる事ができる。これらカーボンブラッ
クはテープの帯電防止剤、遮光剤、摩擦係数調節剤、耐
久性向上を目的として使用される。カ−ボンブラックの
平均粒子サイズは 5〜1000mμ(電子顕微鏡),
窒素吸着法比表面積は1〜800m2/g,pHは4〜
11(JIS規格K−6221−1982法),ジブチ
ルフタレ−ト(DBP)吸油量は10〜800ml/1
00g(JIS規格K−6221−1982法)であ
る。カ−ボンブラックの粒子サイズは,研磨層の表面電
気抵抗を下げる目的で 5〜100mμのカ−ボンブラ
ックを,また塗布膜の強度を制御するときに50〜10
00mμのカ−ボンブラックを用いる。
【0020】研磨テープの結合剤としては従来公知の熱
可塑性樹脂,熱硬化性樹脂,反応型樹脂、電子線硬化型
樹脂、紫外線硬化型樹脂、可視光線硬化型樹脂やこれら
の混合物が使用される。 熱可塑性樹脂としては軟化温
度が150℃以下,平均分子量が10000〜3000
00,重合度が約50〜2000程度のものでより好ま
しくは200〜700程度であり,例えば塩化ビニル酢
酸ビニル共重合体,塩化ビニル共重合体,塩化ビニル酢
酸ビニルビニルアルコール共重合体,塩化ビニルビニル
アルコール共重合体,塩化ビニル塩化ビニリデン共重合
体,塩化ビニルアクリロニトリル共重合体,アクリル酸
エステルアクリロニトリル共重合体,アクリル酸エステ
ル塩化ビニリデン共重合体,アクリル酸エステルスチレ
ン共重合体,メタクリル酸エステルアクリロニトリル共
重合体,メタクリル酸エステル塩化ビニリデン共重合
体,メタクリル酸エステルスチレン共重合体,ウレタン
エラストマ−,ナイロン−シリコン系樹脂,ニトロセル
ロ−ス−ポリアミド樹脂,ポリフッカビニル,塩化ビニ
リデンアクリロニトリル共重合体,ブタジエンアクリロ
ニトリル共重合体,ポリアミド樹脂,ポリビニルブチラ
−ル,セルロ−ス誘導体(セルロ−スアセテ−トブチレ
−ト,セルロ−スダイアセテ−ト,セルロ−ストリアセ
テ−ト,セルロ−スプロピオネ−ト,ニトロセルロ−
ス,エチルセルロ−ス,メチルセルロ−ス,プロピルセ
ルロ−ス,メチルエチルセルロ−ス,カルボキシメチル
セルロ−ス,アセチルセルロ−ス等),スチレンブタジ
エン共重合体,ポリエステル樹脂,ポリカーボネート樹
脂、クロロビニルエ−テルアクリル酸エステル共重合
体,アミノ樹脂,各種の合成ゴム系の熱可塑性樹脂及び
これらの混合物等が使用される。
【0021】また熱硬化性樹脂又は反応型樹脂としては
塗布液の状態では200000以下の分子量であり,塗
布,乾燥後に加熱加湿することにより,縮合,付加等の
反応により分子量は無限大のものとなる。叉,これらの
樹脂のなかで,樹脂が熱分解するまでの間に軟化又は溶
融しないものが好ましい。具体的には例えばフェノ−ル
樹脂,フェノキシ樹脂,エポキシ樹脂,ポリウレタン樹
脂,ポリエステル樹脂、ポリウレタンポリカーボネート
樹脂,尿素樹脂,メラミン樹脂,アルキッド樹脂,シリ
コン樹脂,アクリル系反応樹脂(電子線硬化樹脂),エ
ポキシ−ポリアミド樹脂,ニトロセルロ−スメラミン樹
脂,高分子量ポリエステル樹脂とイソシアネ−トプレポ
リマ−の混合物,メタクリル酸塩共重合体とジイソシア
ネ−トプレポリマ−の混合物,ポリエステルポリオ−ル
とポリイソシアネ−トとの混合物,尿素ホルムアルデヒ
ド樹脂,低分子量グリコ−ル/高分子量ジオ−ル/トリ
フェニルメタントリイソシアネ−トの混合物,ポリアミ
ン樹脂,ポリイミン樹脂及びこれらの混合物等である。
これらの熱可塑,熱硬化性樹脂,反応型樹脂は,主たる
官能基以外に官能基としてカルボン酸(COOM),ス
ルフィン酸,スルフェン酸、スルホン酸(SO3M),
燐酸(PO(OM)(OM)),ホスホン酸、硫酸(O
SO3M),及びこれらのエステル基等の酸性基(Mは
H、アルカリ金属、アルカリ土類金属、炭化水素基)、
アミノ酸類;アミノスルホン酸類,アミノアルコ−ルの
硫酸または燐酸エステル類,スルフォベタイン、ホスホ
ベタイン、アルキルベタイン型等の両性類基,アミノ
基,イミノ基,イミド基,アミド基等また,水酸基,ア
ルコキシル基,チオ−ル基,アルキルチオ基、ハロゲン
基(F、Cl、Br、I),シリル基,シロキサン基、
エポキシ基、イソシアナト基、シアノ基、ニトリル基、
オキソ基、アクリル基、フォスフィン基を通常1種以上
6種以内含み,各々の官能基は樹脂1gあたり1×10
-6eq〜1×10-2eq含むことが望ましい。
【0022】これらのバインダーの単独又は組合わされ
たものが使われ,ほかに添加剤が加えられる。研磨層の
研磨剤粒子と結合剤との混合割合は重量比で研磨剤粒子
合計100重量部に対して結合剤5〜70重量部の範囲
で使用される。研磨層にもちいるポリイソシアネ−トと
しては,トリレンジイソシアネ−ト,4、4’−ジフェ
ニルメタンジイソシアネ−ト,ヘキサメチレンジイソシ
アネ−ト,キシリレンジイソシアネ−ト,ナフチレン−
1、5−ジイソシアネ−ト,o−トルイジンジイソシア
ネ−ト,イソホロンジイソシアネ−ト,トリフェニルメ
タントリイソシアネ−ト,イソホロンジイソシアネ−ト
等のイソシアネ−ト類,叉当該イソシアネ−ト類とポリ
アルコ−ルとの生成物,叉イソシアネ−ト類の縮合に依
って生成した2〜10量体のポリイソシアネ−ト、又ポ
リイソシアネートとポリウレタンとの生成物で末端官能
基がイソシアネートであるもの等を使用することができ
る。これらポリイソシアネ−ト類の平均分子量は100
〜20000のものが好適である。これらポリイソシア
ネ−トの市販されている商品名としては,コロネ−ト
L,コロネ−トHL,コロネ−ト2030,コロネ−ト
2031,ミリオネ−トMR,ミリオネ−トMTL(日
本ポリウレタン株製),タケネ−トD−102,タケネ
−トD−110N,タケネ−トD−200,タケネ−ト
D−202,タケネ−ト300S,タケネ−ト500
(武田薬品株製),スミジュ−ルT−80,スミジュ−
ル44S,スミジュ−ルPF,スミジュ−ルL,スミジ
ュ−ルNデスモジュ−ルL,デスモジュ−ルIL,デス
モジュ−ルN,デスモジュ−ルHL,デスモジュ−ルT
65,デスモジュ−ル15,デスモジュ−ルR,デスモ
ジュ−ルRF,デスモジュ−ルSL,デスモジュ−ルZ
4273(住友バイエル社製)等があり,これらを単独
若しくは硬化反応性の差を利用して二つ若しくはそれ以
上の組み合わせによって使用することができる。叉,硬
化反応を促進する目的で,水酸基(ブタンジオ−ル,ヘ
キサンジオ−ル、分子量が1000〜10000のポリ
ウレタン、水等),アミノ基(モノメチルアミン,ジメ
チルアミン,トリメチルアミン等)を有する化合物や金
属酸化物の触媒や鉄アセチルアセトネート等の触媒を併
用することもできる。これらの水酸基やアミノ基を有す
る化合物は多官能である事が望ましい。これらポリイソ
シアネ−トは研磨層、バック層ともバインダー樹脂とポ
リイソシアネ−トの総量100重量部あたり2〜70重
量部で使用することが望ましく、より望ましくは5〜5
0重量部である。
【0023】研磨層には粉末状潤滑剤を添加することも
できる。例えば、グラファイト、二硫化モリブデン,窒
化硼素,弗化黒鉛,炭酸カルシウム,硫酸バリウム,酸
化珪素,酸化チタン,酸化亜鉛,酸化錫,二硫化タング
ステン等の無機微粉末,アクリルスチレン系樹脂微粉
末,ベンゾグアナミン系樹脂微粉末,メラミン系樹脂微
粉末,ポリオレフイン系樹脂微粉末,ポリエステル系樹
脂微粉末,ポリアミド系樹脂微粉末,ポリイミド系樹脂
微粉末,ポリフッカエチレン系樹脂微粉末等の樹脂微粉
末等である。また研磨層中に有機化合物系潤滑剤を添加
することもできる。例えば、シリコンオイル(ジアルキ
ルポリシロキサン、ジアルコキシポリシロキサン、フェ
ニルポリシロキサン、フルオロアルキルポリシロキサン
(信越化学製KF96、KF69等)),脂肪酸変性シ
リコンオイル,フッ素アルコ−ル,ポリオレフィン(ポ
リエチレンワックス、ポリプロピレン等),ポリグリコ
−ル(エチレングリコール、ポリエチレンオキシドワッ
クス等),テトラフルオロエチレンオキシドワックス,
ポリテトラフルオログリコ−ル,パーフルオロアルキル
エーテル,パ−フルオロ脂肪酸,パ−フルオロ脂肪酸エ
ステル,パ−フルオロアルキル硫酸エステル,パ−フル
オロアルキルスルホン酸エステル,パ−フルオロアルキ
ルベンゼンスルホン酸エステル,パ−フルオロアルキル
燐酸エステル等の弗素や珪素を導入した化合物、アルキ
ル硫酸エステル、アルキルスルホン酸エステル、アルキ
ルホスホン酸トリエステル、アルキルホスホン酸モノエ
ステル、アルキルホスホン酸ジエステル、アルキル燐酸
エステル,琥珀酸エステル等の有機酸および有機酸エス
テル化合物、 トリアザインドリジン、テトラアザイン
デン、ベンゾトリアゾール、ベンゾトリアジン、ベンゾ
ジアゾール、EDTA等の窒素・硫黄を含む複素(ヘテ
ロ)環化合物、 炭素数10〜40の一塩基性脂肪酸と
炭素数2〜40個の一価のアルコ−ルもしくは二価のア
ルコ−ル,三価のアルコ−ル,四価のアルコ−ル,六価
のアルコ−ルのいずれか1つもしくは2つ以上とから成
る脂肪酸エステル類,炭素数10個以上の一塩基性脂肪
酸と該脂肪酸の炭素数と合計して炭素数が11〜70個
と成る一価〜六価のアルコ−ルから成る脂肪酸エステル
類、炭素数8〜40の脂肪酸或いは脂肪酸アミド類,脂
肪酸アルキルアミド類、脂肪族アルコ−ル類も使用でき
る. これら化合物の具体的な例としては,カプリル酸
ブチル,カプリル酸オクチル,ラウリン酸エチル,ラウ
リン酸ブチル,ラウリン酸オクチル,ミリスチン酸エチ
ル,ミリスチン酸ブチル,ミリスチ酸オクチル,ミリス
チン酸2エチルヘキシル、パルミチン酸エチル,パルミ
チン酸ブチル,パルミチン酸オクチル,パルミチン酸2
エチルヘキシル、ステアリン酸エチル,ステアリン酸ブ
チル,ステアリン酸イソブチル、ステアリン酸オクチ
ル,ステアリン酸2エチルヘキシル、ステアリン酸アミ
ル,ステアリン酸イソアミル、ステアリン酸2エチルペ
ンチル、ステアリン酸2ヘキシルデシル、ステアリン酸
イソトリデシル、ステアリン酸アミド、ステアリン酸ア
ルキルアミド、ステアリン酸ブトキシエチル、アンヒド
ロソルビタンモノステアレ−ト,アンヒドロソルビタン
ジステアレ−ト,アンヒドロソルビタントリステアレ−
ト,アンヒドロソルビタンテトラステアレ−ト,オレイ
ルオレ−ト,オレイルアルコ−ル,ラウリルアルコ−
ル、モンタンワックス、カルナウバワックス、等が有り
単独若しくは組み合わせ使用できる。
【0024】研磨層の形成は上記の組成などを任意に組
合せて有機溶媒に溶解し,塗布溶液として支持体上に塗
布・乾燥また必要により配向する。研磨テ−プとして使
用する場合には支持体の厚み2.5〜500μm,好ま
しくは3〜50μmが好ましい。また非磁性支持体の長
手もしくは幅方向のいずれかのヤング率が400Kg/
mm2以上である事が望ましい。素材としてはポリエチ
レンテレフタレ−ト,ポリエチレンナフタレ−ト等のポ
リエステル類,ポリプロピレン等ポリオレフイン類,セ
ルロ−ストリアセテ−ト,セルロ−スダイアセテ−ト等
のセルロ−ス誘導体,ポリ塩化ビニル等のビニル系樹脂
類,ポリカ−ボネ−ト,ポリイミド、ポリアミド,ポリ
スルホン、ポリフェニルスルホン、ポリベンゾオキサゾ
ール等のプラスチックのほかにアルミニウム,銅等の金
属,ガラス等のセラミックス等も使用出来る。このなか
で特にポリエチレンナフタレートもしくはポリアミドが
好ましい。これらの支持体は塗布に先立って,コロナ放
電処理,プラズマ処理,下塗処理,熱処理,除塵埃処
理,金属烝着処理,アルカリ処理をおこなってもよい。
これら支持体に関しては例えば 西独特許333885
4A,特開昭59−116926号公報,特開昭61−
129731号公報,米国特許4388368号;三石
幸夫著,『繊維と工業』31巻 p50〜55,197
5年などに記載されている。研磨テープ等の場合これら
支持体の中心線平均表面粗さは0.001〜1.5μm
(カットオフ値0.25mm)が好ましい。分散、混練
の方法には特に制限はなく,また各成分の添加順序(樹
脂、粉体、潤滑剤、溶媒等)、分散・混練中の添加位
置、分散温度(0〜80°C)などは適宜設定すること
ができる。研磨層塗料およびバック層塗料の調製には通
常の混練機,例えば,二本ロ−ルミル,三本ロ−ルミ
ル,ボ−ルミル,ペブルミル,トロンミル,サンドグラ
インダ−,ツエ グバリ(Szegvari)アトライタ
−,高速インペラ−,分散機,高速スト−ンミル,高速
度衝撃ミル,ディスパ−,ニ−ダ−,高速ミキサ−,リ
ボンブレンダ−,コニ−ダ−,インテンシブミキサ−,
タンブラ−,ブレンダ−,ディスパ−ザ−,ホモジナイ
ザ−,単軸スクリュ−押し出し機,二軸スクリュ−押し
出し機,及び超音波分散機などを用いることができる。
通常分散・混練にはこれらの分散・混練機を複数備え、
連続的に処理を行う。混練分散に関する技術の詳細は,
T.C.PATTON著(テ−.シ−.パットン)“P
aint Flow and Pigment Dis
persion”(ペイント フロ− アンド ピグ
メント デイ スパ−ジョン)1964年John Wi
ley & Sons社発行(ジョン ウイリ− アン
ド サンズ))や田中信一著『工業材料』25巻37
(1977)などや当該書籍の引用文献に記載されてい
る。これら分散、混練の補助材料として分散・混練を効
率よく進めるため、球相当径で10cmφ〜0.05m
mφの径のスチールボール、スチールビーズ、セラミツ
クビーズ、ガラスビーズ、有機ポリマービーズを用いる
ことが出来る。またこれら材料は球形に限らない。ま
た,米国特許第2581414号及び同第285515
6号などの明細書にも記載がある。本発明においても上
記の書籍や当該書籍の引用文献などに記載された方法に
準じて混練分散を行い研磨層塗料およびバック層塗料を
調製することができる。
【0025】可撓性支持体上へ前記の研磨層用塗布液を
塗布する方法としては塗布液の粘度を1〜20000セ
ンチストークス(25°C)に調整し、エア−ドクタ−
コ−ター,ブレ−ドコ−ター,エアナイフコ−ター,ス
クイズコ−ター,含浸コ−ター,リバ−スロ−ルコ−タ
ー,トランスファ−ロ−ルコ−ター,グラビアコ−タ
ー,キスコ−ター,キヤストコ−ター,スプレイコ−タ
ー、ロッドコ−ター、正回転ロ−ルコ−ター、カ−テン
コ−ター、押出コ−ター、バ−コ−ター、リップコータ
等が利用出来,その他の方法も可能であり,これらの具
体的説明は朝倉書店発行の『コ−テイング工学』253
頁〜277頁(昭和46.3.20.発行)等に詳細に
記載されている。これら塗布液の塗布の順番は任意に選
択でき、また所望の液の塗布の前に下塗り層あるいは可
撓性支持体との密着力向上のためにコロナ放電処理等を
行っても良い。また研磨層もしくはバック層を多層で構
成したいときは、同時多層塗布、逐次多層塗布等を行っ
てもよい。これらは,例えば,特開昭57−12353
2号公報,特公昭62−37451号公報,特開昭59
−142741号公報、特開昭59−165239号公
報の明細書等にしめされている。
【0026】このような方法により,可撓性支持体上に
約1〜100μmほどで塗布された研磨層塗布液は、直
ちに20〜130°Cで多段階で乾燥させる処理を施し
たのち,形成した研磨層を0.1〜10μm厚みに乾燥
する。このときの可撓性支持体の搬送速度は,通常10
m/分〜900m/分でおこなわれ,複数の乾燥ゾーン
で乾燥温度を20℃〜130℃で制御し塗布膜の残留溶
剤量を0.1〜40mg/m2 とする。叉必要により同
様の手順でバック層を設けてもよく、引き続き表面平滑
化加工を施し研磨層もしくはバック層の中心線平均表面
粗さを0.001〜0.3μm(カットオフ0.25m
m)とし,所望の形状に裁断したりして,本発明の研磨
テープを製造する。これらの製造方法は粉体の予備処理
・表面処理、混練・分散、塗布・配向・乾燥、平滑処
理、熱処理、EB処理、表面クリーニング処理、裁断、
巻き取りの工程を連続して行うことが望ましい。 この
ように作成した研磨テープを裁断したあと所望のプラス
チックや金属のリールに巻き取る。巻き取る直前ないし
はそれ以前の工程において研磨テープ(研磨層、バック
層、エッジ端面、ベース面)をバーニシュおよびまたは
クリーニングすることが望ましい。バーニツシュは研磨
テープの表面粗度と研磨力を制御するために具体的には
サファイア刃、剃刀刃、超硬材料刃、ダイアモンド刃、
セラミックス刃のような硬い材料により研磨テープ表面
の突起部分をそぎおとし均一にもしくは平滑にする。こ
れら材料のモース硬度は8以上が好ましいが特に制限は
なく突起を除去できるものであれば良い。これら材料の
形状は特に刃である必要はなく、角型、丸型、ホイール
(回転する円筒形状の周囲にこれらの材質を付与しても
良い)のような形状でも使用できる。また研磨テープの
クリーニングは、研磨テープ表面の汚れや余分な潤滑剤
を除去する目的で研磨テープ表層を不織布などで研磨層
面、バック層面、エッジ端面、バック側のベース面をワ
イピングすることにより行う。このようなワイピングの
材料としては例えば日本バイリーン製の各種バイリーン
や東レ製のトレシー、エクセーヌ、商品名キムワイプ、
また不織布はナイロン製不織布、ポリエステル製不織
布、レーヨン製不織布、アクリロニトリル製不織布、混
紡不織布など、ティッシュペーパー等が使用できる。
【0027】
【実施例】以下に本発明を実施例により更に具体的に説
明する。ここに示す成分,割合,操作順序等は本発明の
精神から逸脱しない範囲において変更しうるものである
ことは本業界に携わるものにとつては容易に理解される
ことである。従って,本発明は 下記の実施例に制限さ
れるべきではない。なお、実施例中の部は重量部をしめ
す。
【0028】〔実施例及び比較例〕厚さ25μmのポリ
エチレンテレフタレート(PET)の可撓性支持体上に
ポリエステルポリウレタン樹脂からなる下塗り層を0.
1μm厚に塗布し、その上に下記の組成からなる10μ
mの厚さの研磨層を設けた研磨テープを用意した。 塗布液組成 研磨剤(アルミナ、粒状、平均粒径0.1μm、モース
硬度9): 95部 研磨剤(ダイアモンド、粒状、平均粒径0.5μm、モ
ース硬度10):5部 結合剤(ポリエステル樹脂):7部 結合剤(ポリウレタン、スルホン酸ナトリウム2×10
-3当量/g樹脂含有、Mw70000):7部 結合剤(ポリイソシアネート、トリメチロールプロパン
(1モル)のTDI(3モル)付加物 : 4部 分散剤(フォスファノール610、エチレングリコール
の燐酸エステル):2部 潤滑剤(ステアリン酸/オレイン酸/ステアリン酸ブチ
ル=1/1/1):1部 添加剤(カーボンブラック):3部 表面に外因性付着物として指紋が付着している厚さ1.
2mmで中心線平均表面粗さRaが20オンク゛ストロームの被清
浄体の表面を表1に示す条件で清浄した。その際の研磨
テープと被清浄体との相対速度は表1の様にした。外因
性付着物の被除去物、及びその除去率を蛍光顕微鏡によ
る蛍光強度の低減率を測定することにより評価した結
果、表1の様になった。
【表1】

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に外因性付着物を有する被清浄体と
    可撓性支持体上に研磨剤粒子と結合剤を主体とする研磨
    層を有する研磨テープとを該被清浄体の被清浄面と該研
    磨テープの該研磨層とが摺接するように互いに対向させ
    て接動させ、その際被清浄体の送り速度と研磨テープの
    送り速度の比を1/1以下にして該被清浄面上にある該
    外因性付着物を除去する清浄方法。
  2. 【請求項2】 前記研磨テープは、幅が10吋以下であ
    り厚さが75μm以下である請求項1に記載の清浄方
    法。
  3. 【請求項3】 前記被清浄体がガラスである請求項1も
    しくは請求項2に記載の清浄方法。
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