JPH0751789Y2 - 固体電解コンデンサ - Google Patents
固体電解コンデンサInfo
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- JPH0751789Y2 JPH0751789Y2 JP3508191U JP3508191U JPH0751789Y2 JP H0751789 Y2 JPH0751789 Y2 JP H0751789Y2 JP 3508191 U JP3508191 U JP 3508191U JP 3508191 U JP3508191 U JP 3508191U JP H0751789 Y2 JPH0751789 Y2 JP H0751789Y2
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- sintered body
- electrolytic capacitor
- solid electrolytic
- lead wire
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Links
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は固体電解コンデンサに関
する。
する。
【0002】
【従来の技術】タンタル等の固体電解コンデンサは、例
えば図2(イ)に示す通り、タンタル等の微粉末を角形
に成形し、陽極用リード線11を埋め込み一端を平坦な
端面12から引き出し、焼結した焼結体13を用いる。
すなわち、この焼結体13を化成液に浸漬して陽極酸化
皮膜を形成する。陽極酸化皮膜を形成後、図2(ロ)に
示す通り、テフロン等の円形の平板14を陽極用リード
線11に通し、端面に載せる。そしてこの平板14を載
せた陽極酸化皮膜形成後の焼結体13を硝酸マンガン溶
液等の半導体母液に浸漬して二酸化マンガン層等を形成
する。二酸化マンガン層等を形成後、カーボン層及び金
属層を形成して陰極とする。
えば図2(イ)に示す通り、タンタル等の微粉末を角形
に成形し、陽極用リード線11を埋め込み一端を平坦な
端面12から引き出し、焼結した焼結体13を用いる。
すなわち、この焼結体13を化成液に浸漬して陽極酸化
皮膜を形成する。陽極酸化皮膜を形成後、図2(ロ)に
示す通り、テフロン等の円形の平板14を陽極用リード
線11に通し、端面に載せる。そしてこの平板14を載
せた陽極酸化皮膜形成後の焼結体13を硝酸マンガン溶
液等の半導体母液に浸漬して二酸化マンガン層等を形成
する。二酸化マンガン層等を形成後、カーボン層及び金
属層を形成して陰極とする。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】しかし、焼結体13を
硝酸マンガン溶液等に浸漬した場合、浸漬が浅いと端面
12に液が含浸し難く、端面12が二酸化マンガン等で
被覆されなくなる。そのため、端面12から陽極酸化皮
膜が露出し、熱ストレスや機械的ストレスを受け易い状
態になっていて、耐電圧が低下し、漏れ電流(以下LC
という)が増加し、信頼性が低下する欠点がある。
硝酸マンガン溶液等に浸漬した場合、浸漬が浅いと端面
12に液が含浸し難く、端面12が二酸化マンガン等で
被覆されなくなる。そのため、端面12から陽極酸化皮
膜が露出し、熱ストレスや機械的ストレスを受け易い状
態になっていて、耐電圧が低下し、漏れ電流(以下LC
という)が増加し、信頼性が低下する欠点がある。
【0004】また、焼結体13を深く浸漬しすぎると、
陽極用リード線11にまで二酸化マンガン等が付着し、
陽極用リード線11に陽極端子を溶接するのに不良を生
じ易い欠点がある。
陽極用リード線11にまで二酸化マンガン等が付着し、
陽極用リード線11に陽極端子を溶接するのに不良を生
じ易い欠点がある。
【0005】本考案の目的は、以上の欠点を改良し、耐
圧やLCを改善でき、陽極端子の溶接不良を防止して信
頼性の高い固体電解コンデンサを提供するものである。
圧やLCを改善でき、陽極端子の溶接不良を防止して信
頼性の高い固体電解コンデンサを提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本考案は、上記の目的を
達成するために、固体電解コンデンサにおいて、陽極用
リード線を引き出した端面を波形状に形成した焼結体を
有することを特徴とする固体電解コンデンサを提供する
ものである。
達成するために、固体電解コンデンサにおいて、陽極用
リード線を引き出した端面を波形状に形成した焼結体を
有することを特徴とする固体電解コンデンサを提供する
ものである。
【0007】
【作用】焼結体の陽極用リード線の引き出し端面を波形
状に形成すると、凹部から液が含浸し易くなり、平板の
下にも凹部を形成できるためここにも容易に液を浸漬で
きる。しかも、凹凸が波形状であるため、漏れ性が良
く、より一層液が含浸し易くなる。それ故、焼結体を多
少浅く硝酸マンガン溶液中に浸漬しても、端面に液を必
要なだけ含浸でき、耐圧不良等を改良できる。また、焼
結体を多少浅めに浸漬しても不良を防止できるため、深
く浸漬しすぎて不良となるのを防止できる。
状に形成すると、凹部から液が含浸し易くなり、平板の
下にも凹部を形成できるためここにも容易に液を浸漬で
きる。しかも、凹凸が波形状であるため、漏れ性が良
く、より一層液が含浸し易くなる。それ故、焼結体を多
少浅く硝酸マンガン溶液中に浸漬しても、端面に液を必
要なだけ含浸でき、耐圧不良等を改良できる。また、焼
結体を多少浅めに浸漬しても不良を防止できるため、深
く浸漬しすぎて不良となるのを防止できる。
【0008】
【実施例】以下、本考案を実施例に基づいて説明する。
図1(イ)において、1はタンタルの微粉末を角形に圧
縮成形し、焼結した焼結体である。2はこの焼結体に一
端を埋め込み、他端を端面3から引き出した陽極用リー
ド線である。端面3は特に波形状に形成している。
図1(イ)において、1はタンタルの微粉末を角形に圧
縮成形し、焼結した焼結体である。2はこの焼結体に一
端を埋め込み、他端を端面3から引き出した陽極用リー
ド線である。端面3は特に波形状に形成している。
【0009】この焼結体1に陽極酸化皮膜を設けた後、
図1(ロ)に示す通り、テフロン等からなる円形の平板
4を陽極用リード線2を通して、端面3に載せる。そし
てこの平板4を載せた状態の焼結体1を硝酸マンガン溶
液中に浸漬し、含浸して取り出し焼成する工程を繰り返
し、二酸化マンガン層を形成する。
図1(ロ)に示す通り、テフロン等からなる円形の平板
4を陽極用リード線2を通して、端面3に載せる。そし
てこの平板4を載せた状態の焼結体1を硝酸マンガン溶
液中に浸漬し、含浸して取り出し焼成する工程を繰り返
し、二酸化マンガン層を形成する。
【0010】二酸化マンガン層を形成後、カーボン層及
び金属層を設け、金属層に陽極端子を半田付けするとと
もに、陽極用リード線2に陽極端子を溶接し、さらに樹
脂外装を形成する。
び金属層を設け、金属層に陽極端子を半田付けするとと
もに、陽極用リード線2に陽極端子を溶接し、さらに樹
脂外装を形成する。
【0011】なお、焼結体1の端面3は、図1(イ)に
示す通り、特に、端部5をR部にした波形状に形成すれ
ば、端部5での漏れ性が良くなり、液がより含浸し易く
なる。
示す通り、特に、端部5をR部にした波形状に形成すれ
ば、端部5での漏れ性が良くなり、液がより含浸し易く
なる。
【0012】次に、定格4V10μFの固体電解コンデ
ンサについて、実施例と従来例とに対して耐圧試験及び
はんだ耐熱試験を行い、不良状況を調べた。
ンサについて、実施例と従来例とに対して耐圧試験及び
はんだ耐熱試験を行い、不良状況を調べた。
【0013】実施例は、焼結体1として、図1(イ)に
おいて、A=1.97mm、B=3.37mm、L=2.8
0mm、S(波の底の間の距離)=0.6mmとし、硝酸マ
ンガン溶液中に、図1(ハ)に示す通り、平板4の途中
まで浸漬して二酸化マンガン層を形成したものを用い
る。また、従来例1〜従来例3は、図2(イ)におい
て、A’=1.97mm、B’=3.37mm、L’=2.
80mmとした焼結体13を用いる。そして焼結体13を
硝酸マンガン溶液に含浸する深さは、図3(イ)〜
(ハ)に示す通りとする。すなわち、従来例1は、図3
(イ)に示す通り、端面12の平板14により覆ってい
る箇所以外を液中に浸漬する。従来、例2は、図3
(ロ)に示す通り、端面12を液から露出して浸漬す
る。従来例3は、図3(ハ)に示す通り、平板14を含
めて全体を浸漬する。
おいて、A=1.97mm、B=3.37mm、L=2.8
0mm、S(波の底の間の距離)=0.6mmとし、硝酸マ
ンガン溶液中に、図1(ハ)に示す通り、平板4の途中
まで浸漬して二酸化マンガン層を形成したものを用い
る。また、従来例1〜従来例3は、図2(イ)におい
て、A’=1.97mm、B’=3.37mm、L’=2.
80mmとした焼結体13を用いる。そして焼結体13を
硝酸マンガン溶液に含浸する深さは、図3(イ)〜
(ハ)に示す通りとする。すなわち、従来例1は、図3
(イ)に示す通り、端面12の平板14により覆ってい
る箇所以外を液中に浸漬する。従来、例2は、図3
(ロ)に示す通り、端面12を液から露出して浸漬す
る。従来例3は、図3(ハ)に示す通り、平板14を含
めて全体を浸漬する。
【0014】耐圧試験は、1.3WVの電圧を印加して
行い、短絡したものを不良とし、不良率を表1に示し
た。はんだ耐熱試験は、温度260℃の溶融はんだ中に
10秒間浸漬して行う。そしてLCが規格値(0.5μ
A未満)以上になったものを不良とし、不良率を表1に
示した。試料数は、実施例、従来例1〜従来例3とも各
200ケとする。
行い、短絡したものを不良とし、不良率を表1に示し
た。はんだ耐熱試験は、温度260℃の溶融はんだ中に
10秒間浸漬して行う。そしてLCが規格値(0.5μ
A未満)以上になったものを不良とし、不良率を表1に
示した。試料数は、実施例、従来例1〜従来例3とも各
200ケとする。
【0015】
【表1】
【0016】表1から明らかな通り、実施例1によれば
耐圧不良率及びLC不良率とも0%にできる。これに対
して、従来例では、従来例1の通りに浸漬が適当に行わ
れた場合には両方とも不良を無くすことができるが、従
来例2及び従来例3の通り浸漬が浅かったり深すぎた場
合には、耐圧不良率が1.5%以上、LC不良率が2.
5%以上となる。
耐圧不良率及びLC不良率とも0%にできる。これに対
して、従来例では、従来例1の通りに浸漬が適当に行わ
れた場合には両方とも不良を無くすことができるが、従
来例2及び従来例3の通り浸漬が浅かったり深すぎた場
合には、耐圧不良率が1.5%以上、LC不良率が2.
5%以上となる。
【0017】また、定格4V10μFの固体電解コンデ
ンサについて、図1(イ)及び図2(イ)と同じ焼結体
を用いた実施例及び従来例について、上記と同じはんだ
耐熱試験を行いその前後のLCの値を測定し図4及び表
2に示した。試料数は各々40ケとする。以下余白。
ンサについて、図1(イ)及び図2(イ)と同じ焼結体
を用いた実施例及び従来例について、上記と同じはんだ
耐熱試験を行いその前後のLCの値を測定し図4及び表
2に示した。試料数は各々40ケとする。以下余白。
【0018】
【表2】
【0019】図4及び表2から明らかな通り、試験前後
のLCは、平均値で実施例2が0.034μA及び0.
033μA、従来例4が0.038μA及び0.5μA
となる。従って、変化率は、前者が−2.9%、後者が
31.6%となり、後者の方が少化が大きいことが明ら
かである。
のLCは、平均値で実施例2が0.034μA及び0.
033μA、従来例4が0.038μA及び0.5μA
となる。従って、変化率は、前者が−2.9%、後者が
31.6%となり、後者の方が少化が大きいことが明ら
かである。
【0020】
【考案の効果】以上の通り、本考案によれば、焼結体の
陽極用リード線を引き出した端面を波形状に形成してい
るために、硝酸マンガン溶液等を含浸し易くなり、耐圧
不良やLC不良を防止でき、また、陽極用リード線に陽
極端子を溶接する際のミスも防止できる固体電解コンデ
ンサが得られる。
陽極用リード線を引き出した端面を波形状に形成してい
るために、硝酸マンガン溶液等を含浸し易くなり、耐圧
不良やLC不良を防止でき、また、陽極用リード線に陽
極端子を溶接する際のミスも防止できる固体電解コンデ
ンサが得られる。
【図1】本考案の実施例の焼結体の斜視図と、焼結体を
硝酸マンガン溶液に浸漬する前後の状態の図を示す。
硝酸マンガン溶液に浸漬する前後の状態の図を示す。
【図2】従来の固体電解コンデンサの焼結体の斜視図及
び正面図を示す。
び正面図を示す。
【図3】従来の固体電解コンデンサの焼結体を硝酸マン
ガン溶液に浸漬した状態の図を示す。
ガン溶液に浸漬した状態の図を示す。
【図4】はんだ耐熱試験前後の漏れ電流値のグラフを示
す。
す。
1…焼結体、 2…陽極用リード線、 3…端面、 4
…平板。
…平板。
Claims (1)
- 【請求項1】 弁作用金属の微粉末からなり陽極用リー
ド線を端面から引き出し焼結して焼結体とし、この焼結
体に陽極酸化皮膜、半導体層、カーボン層及び金属層を
設けた固体電解コンデンサにおいて、陽極用リード線を
引き出した端面を波形状に形成した焼結体を有すること
を特徴とする固体電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3508191U JPH0751789Y2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3508191U JPH0751789Y2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 固体電解コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04121726U JPH04121726U (ja) | 1992-10-30 |
JPH0751789Y2 true JPH0751789Y2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=31917331
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3508191U Expired - Lifetime JPH0751789Y2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0751789Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-04-19 JP JP3508191U patent/JPH0751789Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04121726U (ja) | 1992-10-30 |
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