JPH0743321A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置Info
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- JPH0743321A JPH0743321A JP18806893A JP18806893A JPH0743321A JP H0743321 A JPH0743321 A JP H0743321A JP 18806893 A JP18806893 A JP 18806893A JP 18806893 A JP18806893 A JP 18806893A JP H0743321 A JPH0743321 A JP H0743321A
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- Japan
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- ray
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- rays
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 13
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 5
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004081 narcotic agent Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 重元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混
在していても両方の透過した画像を得ることができ、し
かも解像度を向上させたX線検査装置を提供する。 【構成】 被検査物3を透過したX線を検出して画像を
生成するX線検査装置において、150KV以上の高エ
ネルギーのX線と150KV未満の低エネルギーのX線
とを切り替え自在に被検査物に照射するX線源1と、被
検査物3を透過したX線を検出する検出器2と、検出器
2より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像と
を合成する画像合成手段5とを備えたことを特徴として
いる。
在していても両方の透過した画像を得ることができ、し
かも解像度を向上させたX線検査装置を提供する。 【構成】 被検査物3を透過したX線を検出して画像を
生成するX線検査装置において、150KV以上の高エ
ネルギーのX線と150KV未満の低エネルギーのX線
とを切り替え自在に被検査物に照射するX線源1と、被
検査物3を透過したX線を検出する検出器2と、検出器
2より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像と
を合成する画像合成手段5とを備えたことを特徴として
いる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検査物を透過したX
線を検出して画像を生成するX線検査装置に関する。
線を検出して画像を生成するX線検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】空港や工場等において、X線検査装置を
用いた非破壊検査が行われている。X線検査装置は、X
線源から被検査物にX線を照射し、被検査物を透過した
X線を検出器で検出して透過画像を生成するものであ
る。これにより、空港では禁制品(銃刀砲、麻薬等)の
有無を検査したり、工場では溶接部の亀裂、欠陥等を検
査することができる。
用いた非破壊検査が行われている。X線検査装置は、X
線源から被検査物にX線を照射し、被検査物を透過した
X線を検出器で検出して透過画像を生成するものであ
る。これにより、空港では禁制品(銃刀砲、麻薬等)の
有無を検査したり、工場では溶接部の亀裂、欠陥等を検
査することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
のX線検査装置のX線源は150KV以上の高エネルギ
ーX線を発生するか、または、150KV未満の低エネ
ルギーX線を発生するかのいずれか一方となっている。
のX線検査装置のX線源は150KV以上の高エネルギ
ーX線を発生するか、または、150KV未満の低エネ
ルギーX線を発生するかのいずれか一方となっている。
【0004】X線源から高エネルギーのX線が被検査物
に照射される場合には、金属等の重元素を含む物体の画
像が得られ、X線源から低エネルギーのX線が被検査物
に照射される場合には、プラスチック等の軽元素を含む
物体の画像が得られる。
に照射される場合には、金属等の重元素を含む物体の画
像が得られ、X線源から低エネルギーのX線が被検査物
に照射される場合には、プラスチック等の軽元素を含む
物体の画像が得られる。
【0005】このため、例えば重元素を含む物体と軽元
素を含む物体とが同一容器内に混在する場合にはいずれ
か一方の物体の画像しか得られなかった。
素を含む物体とが同一容器内に混在する場合にはいずれ
か一方の物体の画像しか得られなかった。
【0006】また、検出器には通常ライン状の検出器が
用いられており、検出器は透過X線を可視光に変換する
シンチレータ及び光を電気信号に変換する複数のフォト
ダイオードからなっている。フォトダイオードの大きさ
は2〜4mm程度あるため、画像の解像度に限界があ
る。
用いられており、検出器は透過X線を可視光に変換する
シンチレータ及び光を電気信号に変換する複数のフォト
ダイオードからなっている。フォトダイオードの大きさ
は2〜4mm程度あるため、画像の解像度に限界があ
る。
【0007】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、重元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混在して
いても両方の透過した画像を得ることができ、しかも解
像度を向上させたX線検査装置を提供することにある。
し、重元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混在して
いても両方の透過した画像を得ることができ、しかも解
像度を向上させたX線検査装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本願の第1の発明は、被検査物を透過したX線を検出
して画像を生成するX線検査装置において、150KV
以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エネル
ギーのX線とを切り替え自在に被検査物に照射するX線
源と、被検査物を透過したX線を検出する検出器と、検
出器より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像
とを合成する画像合成手段とを備えたものである。
に本願の第1の発明は、被検査物を透過したX線を検出
して画像を生成するX線検査装置において、150KV
以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エネル
ギーのX線とを切り替え自在に被検査物に照射するX線
源と、被検査物を透過したX線を検出する検出器と、検
出器より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像
とを合成する画像合成手段とを備えたものである。
【0009】また、本願の第2の発明は、被検査物を透
過したX線を検出して画像を生成するX線検査装置にお
いて、被検査物に照射するX線源と、被検査物を透過し
たX線を検出する検出器と、被検査物及びX線源と検出
器のいずれか一方を移動させる移動手段とを備え、検出
器が、透過X線を光に変換するシンチレータ及び光を電
気信号に変換する2列に配列された複数のフォトダイオ
ードからなり、1列目に配列された各フォトダイオード
の間に位置するように2列目のフォトダイオードを配列
したものである。
過したX線を検出して画像を生成するX線検査装置にお
いて、被検査物に照射するX線源と、被検査物を透過し
たX線を検出する検出器と、被検査物及びX線源と検出
器のいずれか一方を移動させる移動手段とを備え、検出
器が、透過X線を光に変換するシンチレータ及び光を電
気信号に変換する2列に配列された複数のフォトダイオ
ードからなり、1列目に配列された各フォトダイオード
の間に位置するように2列目のフォトダイオードを配列
したものである。
【0010】
【作用】第1の発明によれば、高エネルギーのX線を被
検査物に照射して重元素を含む物体の透過画像を得、低
エネルギーのX線を被検査物に照射して軽元素を含む物
体の透過画像を得、両透過画像を合成するので、重元素
を含む物体と軽元素を含む物体とが混在していても両方
同時に検査することができる。
検査物に照射して重元素を含む物体の透過画像を得、低
エネルギーのX線を被検査物に照射して軽元素を含む物
体の透過画像を得、両透過画像を合成するので、重元素
を含む物体と軽元素を含む物体とが混在していても両方
同時に検査することができる。
【0011】第2の発明によれば、1列目に配列された
各フォトダイオードの間に位置するように2列目のフォ
トダイオードを配列されているので、フォトダイオード
のチャンネル数が2倍になり、解像度が2倍になる。
各フォトダイオードの間に位置するように2列目のフォ
トダイオードを配列されているので、フォトダイオード
のチャンネル数が2倍になり、解像度が2倍になる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
て詳述する。
【0013】図1は本発明のX線検査装置の一実施例の
概略平面図である。
概略平面図である。
【0014】同図において、1はX線源であり、150
KV以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エ
ネルギーのX線とを切り替え自在に発生させることがで
きるようになっている。2はX線源1に対向して配置さ
れ、被検査物3を透過したX線を検出する検出器であ
る。検出器2は透過X線を光に変換するシンチレータ及
び光を電気信号に変換する複数のフォトダイオードから
なっている。
KV以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エ
ネルギーのX線とを切り替え自在に発生させることがで
きるようになっている。2はX線源1に対向して配置さ
れ、被検査物3を透過したX線を検出する検出器であ
る。検出器2は透過X線を光に変換するシンチレータ及
び光を電気信号に変換する複数のフォトダイオードから
なっている。
【0015】4は被検査物3をX線源1と検出器2との
間を横断するように移動させるコンベアである。
間を横断するように移動させるコンベアである。
【0016】ここで、検出器2に用いられているフォト
ダイオードは(紙面に垂直に)ライン状(1列)に配置
されており、このまま被検査物3からの透過X線を検出
すると、X線源1と検出器2との間を結ぶ線上にある被
検査物3の一部(スリット状)の透過画像しか得られな
い。このため被検査物3の透過画像を得るためには被検
査物3を移動させるか又は、X線源1及び検出器2のい
ずれか一方を移動させる必要がある。本実施例ではコン
ベア4で被検査物3を移動させることにより被検査物3
の透過画像を得ることができるようになっている。
ダイオードは(紙面に垂直に)ライン状(1列)に配置
されており、このまま被検査物3からの透過X線を検出
すると、X線源1と検出器2との間を結ぶ線上にある被
検査物3の一部(スリット状)の透過画像しか得られな
い。このため被検査物3の透過画像を得るためには被検
査物3を移動させるか又は、X線源1及び検出器2のい
ずれか一方を移動させる必要がある。本実施例ではコン
ベア4で被検査物3を移動させることにより被検査物3
の透過画像を得ることができるようになっている。
【0017】5は検出器2からの高エネルギー画像と低
エネルギー画像とを合成する画像合成手段であり、例え
ばマイクロコンピュータが用いられる。
エネルギー画像とを合成する画像合成手段であり、例え
ばマイクロコンピュータが用いられる。
【0018】6は画像合成手段で合成された画像を可視
表示するモニタである。操作者はこのモニタ6の画面に
表示された透過画像を見ることによって被検査物3の内
部の様子を知ることができるようになっている。
表示するモニタである。操作者はこのモニタ6の画面に
表示された透過画像を見ることによって被検査物3の内
部の様子を知ることができるようになっている。
【0019】尚、上述したX線源1、検出器2及び被検
査物3の周囲は図には示されていないがX線遮蔽壁で覆
われるようになっており、操作者がX線を被曝すること
がないようになっている。
査物3の周囲は図には示されていないがX線遮蔽壁で覆
われるようになっており、操作者がX線を被曝すること
がないようになっている。
【0020】次に実施例の作用を述べる。
【0021】図1において、被検査物3としての容器3
aには、軽元素を含む物体(例えばプラスチック製品
等)3bと重元素を含む物体(例えば金属製品等)3
c、3dとが収容されており、この容器3aがコンベア
4で矢印P方向に搬送される場合で説明する。尚、図2
(a)〜図2(c)は図1に示したモニタに表示された
画像を示す図である。
aには、軽元素を含む物体(例えばプラスチック製品
等)3bと重元素を含む物体(例えば金属製品等)3
c、3dとが収容されており、この容器3aがコンベア
4で矢印P方向に搬送される場合で説明する。尚、図2
(a)〜図2(c)は図1に示したモニタに表示された
画像を示す図である。
【0022】X線源1から高エネルギーのX線と、低エ
ネルギーのX線とが短時間に交互に被検査物に照射され
る。高エネルギーのX線が容器3aに照射されると、X
線は軽元素を含む物体3bをほとんど透過し、重元素を
含む物体3c、3dで一部が吸収されるので、重元素を
含む物体3cのシルエットとその物体3cの陰にある物
体3dとの透過画像が得られ、軽元素を含む物体3bの
透過画像は微かにしか見られない(高エネルギー画像、
図2(a))。低エネルギーのX線が容器3aに照射さ
れると、X線は軽元素を含む物体3bで一部が吸収さ
れ、重元素を含む物体3c、3dで略完全に吸収される
ので、軽元素を含む物体3bの透過像と重元素を含む物
体3cのシルエットとの画像が得られる(低エネルギー
画像、図2(b))。画像合成手段5では高エネルギー
画像と低エネルギー画像とを合成し、モニタ6に合成画
像(図2(c))を可視表示するようになっている。
ネルギーのX線とが短時間に交互に被検査物に照射され
る。高エネルギーのX線が容器3aに照射されると、X
線は軽元素を含む物体3bをほとんど透過し、重元素を
含む物体3c、3dで一部が吸収されるので、重元素を
含む物体3cのシルエットとその物体3cの陰にある物
体3dとの透過画像が得られ、軽元素を含む物体3bの
透過画像は微かにしか見られない(高エネルギー画像、
図2(a))。低エネルギーのX線が容器3aに照射さ
れると、X線は軽元素を含む物体3bで一部が吸収さ
れ、重元素を含む物体3c、3dで略完全に吸収される
ので、軽元素を含む物体3bの透過像と重元素を含む物
体3cのシルエットとの画像が得られる(低エネルギー
画像、図2(b))。画像合成手段5では高エネルギー
画像と低エネルギー画像とを合成し、モニタ6に合成画
像(図2(c))を可視表示するようになっている。
【0023】ここで、重元素を含む物体(例えば金属ケ
ース)内に軽元素を含む物体(例えば麻薬等)が隠され
ているような場合について説明する。図3は金属ケース
に麻薬等が隠されている状態を示す図である。図4は図
3に示した金属ケースと透過X線との関係を示す図であ
り、横軸が位置を示し、縦軸がX線透過量を示してい
る。
ース)内に軽元素を含む物体(例えば麻薬等)が隠され
ているような場合について説明する。図3は金属ケース
に麻薬等が隠されている状態を示す図である。図4は図
3に示した金属ケースと透過X線との関係を示す図であ
り、横軸が位置を示し、縦軸がX線透過量を示してい
る。
【0024】図3及び図4において、金属ケース7の側
壁7a内を、この側壁7aに沿って高エネルギーX線が
矢印Aの方向に透過するときは、金属ケース7でのX線
の吸収が大きいため透過量は少なくなり(図4のA)、
金属ケース7がコンベアで移動して金属ケース7の側壁
7b、7cを横切る方向(矢印B)に高エネルギーX線
が透過するときは、X線の吸収が少なくなるため透過量
が大きくなる(図4のB)。さらに金属ケース7が移動
して、高エネルギーX線が矢印Cの方向に透過すると、
高エネルギーX線は金属ケース7の側壁7b、7cと麻
薬8とで吸収されるため透過量がその分ΔSだけ僅かに
減少する(図4のC)。従って、この減少分を検出する
ことにより金属ケース7内に麻薬8が隠されていても検
出することができる。
壁7a内を、この側壁7aに沿って高エネルギーX線が
矢印Aの方向に透過するときは、金属ケース7でのX線
の吸収が大きいため透過量は少なくなり(図4のA)、
金属ケース7がコンベアで移動して金属ケース7の側壁
7b、7cを横切る方向(矢印B)に高エネルギーX線
が透過するときは、X線の吸収が少なくなるため透過量
が大きくなる(図4のB)。さらに金属ケース7が移動
して、高エネルギーX線が矢印Cの方向に透過すると、
高エネルギーX線は金属ケース7の側壁7b、7cと麻
薬8とで吸収されるため透過量がその分ΔSだけ僅かに
減少する(図4のC)。従って、この減少分を検出する
ことにより金属ケース7内に麻薬8が隠されていても検
出することができる。
【0025】すなわち、高エネルギーのX線を被検査物
に照射して重元素を含む物体の透過画像を得、低エネル
ギーのX線を被検査物に照射して軽元素を含む物体の透
過画像を得、両透過画像を合成するので、重元素を含む
物体と軽元素を含む物体とが混在していても両方同時に
検査することができる。
に照射して重元素を含む物体の透過画像を得、低エネル
ギーのX線を被検査物に照射して軽元素を含む物体の透
過画像を得、両透過画像を合成するので、重元素を含む
物体と軽元素を含む物体とが混在していても両方同時に
検査することができる。
【0026】ところで上述したX線検査装置に用いた検
出器2はフォトダイオードが1列に配列されており、1
つのセンサ(シンチレータ上のフォトダイオードが占め
るエリア、Ai で示す)の寸法が小さくすることができ
ないため、信号のチャンネル数を増やすことが制限さ
れ、解像度が制限されてしまう。そこで本発明者らは、
解像度を向上させることを試みた。
出器2はフォトダイオードが1列に配列されており、1
つのセンサ(シンチレータ上のフォトダイオードが占め
るエリア、Ai で示す)の寸法が小さくすることができ
ないため、信号のチャンネル数を増やすことが制限さ
れ、解像度が制限されてしまう。そこで本発明者らは、
解像度を向上させることを試みた。
【0027】図5(a)は本発明の他の実施例の側面概
略図であり、図5(b)は図5(a)に示したX線検査
装置に用いられる検出器の正面図であり、図5(c)は
図5(b)に示した検出器で得られる合成画像データで
ある。尚、図1に示した部材と同一の部材には共通の符
号を用いた。
略図であり、図5(b)は図5(a)に示したX線検査
装置に用いられる検出器の正面図であり、図5(c)は
図5(b)に示した検出器で得られる合成画像データで
ある。尚、図1に示した部材と同一の部材には共通の符
号を用いた。
【0028】図1に示した実施例との相違点は、検出器
10が透過X線を可視光に変換するシンチレータ11、
12及び可視光を電気信号に変換する2列に配列された
複数のフォトダイオード13、14からなり、1列目に
配列された各フォトダイオード13の間に位置するよう
に2列目のフォトダイオード14を配列した点である。
10が透過X線を可視光に変換するシンチレータ11、
12及び可視光を電気信号に変換する2列に配列された
複数のフォトダイオード13、14からなり、1列目に
配列された各フォトダイオード13の間に位置するよう
に2列目のフォトダイオード14を配列した点である。
【0029】すなわち、センサAi 〜An (センサ群S
A)の横にセンサBi 〜Bn-1 (センサ群SB)を配置
し、Ai とAi+1 の中間位置にBi のセンサを配置して
X線検出をし、画像生成前にデータを合成することによ
り(図5(b))、検出器の合計チャンネル数を約2倍
(2n−1)となり(図5(c))、画像の解像度(鮮
明度)を向上させるものである。
A)の横にセンサBi 〜Bn-1 (センサ群SB)を配置
し、Ai とAi+1 の中間位置にBi のセンサを配置して
X線検出をし、画像生成前にデータを合成することによ
り(図5(b))、検出器の合計チャンネル数を約2倍
(2n−1)となり(図5(c))、画像の解像度(鮮
明度)を向上させるものである。
【0030】尚、図ではセンサ群SBをセンサ群SAの
横に配列したが、センサ群SBをセンサ群SAの奥又は
前面に配列してもよいのはいうまでもない。
横に配列したが、センサ群SBをセンサ群SAの奥又は
前面に配列してもよいのはいうまでもない。
【0031】尚、本実施例では被検査物が移動する場合
で説明したが、これに限定されるものではなく、X線源
と検出器とが同時に同一方向に移動するようにしてもよ
い。さらに、高エネルギーX線と低エネルギーX線を交
互に切り替え自在に被検査物に照射するX線源と、Aセ
ンサ及びBセンサの2列からなる検出器とを組み合わせ
た場合で説明したが、これに限定されるものではなく、
通常のX線源(高エネルギーX線か、又は、低エネルギ
ーX線のいずれか一方を放出するX線源)とAセンサ及
びBセンサの2列からなる検出器とを組み合わせてもよ
い。
で説明したが、これに限定されるものではなく、X線源
と検出器とが同時に同一方向に移動するようにしてもよ
い。さらに、高エネルギーX線と低エネルギーX線を交
互に切り替え自在に被検査物に照射するX線源と、Aセ
ンサ及びBセンサの2列からなる検出器とを組み合わせ
た場合で説明したが、これに限定されるものではなく、
通常のX線源(高エネルギーX線か、又は、低エネルギ
ーX線のいずれか一方を放出するX線源)とAセンサ及
びBセンサの2列からなる検出器とを組み合わせてもよ
い。
【0032】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【0033】(1) 高エネルギーのX線と低エネルギーの
X線とを切り替え自在に被検査物に照射し、X線源高エ
ネルギー画像と低エネルギー画像とを合成するので、重
元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混在していても
両方の透過した画像を得ることができる。
X線とを切り替え自在に被検査物に照射し、X線源高エ
ネルギー画像と低エネルギー画像とを合成するので、重
元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混在していても
両方の透過した画像を得ることができる。
【0034】(2) 検出器に用いられる1列目に配列され
た各フォトダイオードの間に位置するように2列目のフ
ォトダイオードが配列されているので、解像度を向上さ
せることができる。
た各フォトダイオードの間に位置するように2列目のフ
ォトダイオードが配列されているので、解像度を向上さ
せることができる。
【図1】本発明のX線検査装置の一実施例の概略平面図
である。
である。
【図2】(a)〜(c)は図1に示したモニタに表示さ
れた画像を示す図である。
れた画像を示す図である。
【図3】金属ケースに麻薬等が隠されている状態を示す
図である。
図である。
【図4】図3に示した金属ケースの位置とX線透過量と
の関係を示す図である。
の関係を示す図である。
【図5】(a)は本発明の他の実施例の側面概略図であ
り、(b)は同図(a)に示したX線検査装置に用いら
れる検出器の正面図であり、(c)は同図(b)に示し
た検出器で得られる合成画像データである。
り、(b)は同図(a)に示したX線検査装置に用いら
れる検出器の正面図であり、(c)は同図(b)に示し
た検出器で得られる合成画像データである。
1 X線源 2 検出器 3 被検査物 5 画像合成手段
Claims (2)
- 【請求項1】 被検査物を透過したX線を検出して画像
を生成するX線検査装置において、150KV以上の高
エネルギーのX線と150KV未満の低エネルギーのX
線とを切り替え自在に前記被検査物に照射するX線源
と、前記被検査物を透過したX線を検出する検出器と、
該検出器より得られる高エネルギー画像と低エネルギー
画像とを合成する画像合成手段とを備えたことを特徴と
するX線検査装置。 - 【請求項2】 被検査物を透過したX線を検出して画像
を生成するX線検査装置において、前記被検査物に照射
するX線源と、前記被検査物を透過したX線を検出する
検出器と、前記被検査物及び前記X線源と前記検出器の
いずれか一方を移動させる移動手段とを備え、前記検出
器が、透過X線を光に変換するシンチレータ及び該光を
電気信号に変換する2列に配列された複数のフォトダイ
オードからなり、1列目に配列された各フォトダイオー
ドの間に位置するように2列目のフォトダイオードを配
列したことを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18806893A JPH0743321A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18806893A JPH0743321A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | X線検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0743321A true JPH0743321A (ja) | 1995-02-14 |
Family
ID=16217151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18806893A Pending JPH0743321A (ja) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | X線検査装置 |
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JP (1) | JPH0743321A (ja) |
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1993
- 1993-07-29 JP JP18806893A patent/JPH0743321A/ja active Pending
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