JPH07306152A - 光学的歪検査装置 - Google Patents
光学的歪検査装置Info
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- JPH07306152A JPH07306152A JP7057117A JP5711795A JPH07306152A JP H07306152 A JPH07306152 A JP H07306152A JP 7057117 A JP7057117 A JP 7057117A JP 5711795 A JP5711795 A JP 5711795A JP H07306152 A JPH07306152 A JP H07306152A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Image Processing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 透光性を有する被検査物の光学的歪を定量的
に抽出し検査することで精度よくばらつきの無い評価を
行なえると共に、光学的歪の範囲を定量的に表せる検査
装置の提供。 【構成】 光源ユニット2から照射される照明光の照射
方向に、検体W、スリット3、及び、投影面5の順に夫
々配置させる。光源ユニット2から照射される光が、光
源ユニット2と検体Wとの中間に配置されたスリット3
のスリット孔31により一部遮光されることで、照射さ
れる照明光が検体Wを透過し投影面5に投影される。投
影された像は画像入力部6で撮像され画像信号が画像処
理部7に出力される。画像処理部7は入力する画像信号
を複数部分に分割し、各部分における各画素の濃淡レベ
ルのばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定し、濃
淡画像全体における歪有り部分の割合を求める。
に抽出し検査することで精度よくばらつきの無い評価を
行なえると共に、光学的歪の範囲を定量的に表せる検査
装置の提供。 【構成】 光源ユニット2から照射される照明光の照射
方向に、検体W、スリット3、及び、投影面5の順に夫
々配置させる。光源ユニット2から照射される光が、光
源ユニット2と検体Wとの中間に配置されたスリット3
のスリット孔31により一部遮光されることで、照射さ
れる照明光が検体Wを透過し投影面5に投影される。投
影された像は画像入力部6で撮像され画像信号が画像処
理部7に出力される。画像処理部7は入力する画像信号
を複数部分に分割し、各部分における各画素の濃淡レベ
ルのばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定し、濃
淡画像全体における歪有り部分の割合を求める。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】 この発明は透光性を有する被検
査物の光学的歪を検査する為の光学的歪検査装置に関す
る。
査物の光学的歪を検査する為の光学的歪検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】 従来、この種の検査装置に関しては、
被検査物の表面上の欠陥を検査する装置として特開平3
−287053号公報のものが知られている。この装置
では、被検査物の正常部と欠陥部との吸光差が最小とな
る波長近傍にピーク透過率を持つ光学バンドパスフィル
タと、最大となる波長近傍にピーク透過率を持つ光学バ
ンドパスフィルタを交互に使用して撮像した二つの画像
間に画素間減算を施し、欠陥部分の画像の抽出を行な
い、この部分の面積に基づいて欠陥の有無を判定してい
る。
被検査物の表面上の欠陥を検査する装置として特開平3
−287053号公報のものが知られている。この装置
では、被検査物の正常部と欠陥部との吸光差が最小とな
る波長近傍にピーク透過率を持つ光学バンドパスフィル
タと、最大となる波長近傍にピーク透過率を持つ光学バ
ンドパスフィルタを交互に使用して撮像した二つの画像
間に画素間減算を施し、欠陥部分の画像の抽出を行な
い、この部分の面積に基づいて欠陥の有無を判定してい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、かか
る従来の装置では、透光性を有する被検査物の光学的歪
を検査しようとしても被検査物の性質上、光源の波長変
化による吸光差が殆ど生じないため、歪部分を抽出する
ことができないという問題点を有する。又、少なくとも
2種類の光学バンドパスフィルタを使用しなければなら
ないため、その切替え機構も含めて、装置が大がかりに
なってしまうという問題点も有する。本発明は、上記問
題点に鑑みてなされたもので、簡単な装置構成により透
光性を有する被検査物で、しかも、小さな濃淡レベルの
差しか生じない被検査物の光学的歪を検査できると共
に、光学的歪の範囲を定量的に表せる検査装置を提供す
ることを目的とする。
る従来の装置では、透光性を有する被検査物の光学的歪
を検査しようとしても被検査物の性質上、光源の波長変
化による吸光差が殆ど生じないため、歪部分を抽出する
ことができないという問題点を有する。又、少なくとも
2種類の光学バンドパスフィルタを使用しなければなら
ないため、その切替え機構も含めて、装置が大がかりに
なってしまうという問題点も有する。本発明は、上記問
題点に鑑みてなされたもので、簡単な装置構成により透
光性を有する被検査物で、しかも、小さな濃淡レベルの
差しか生じない被検査物の光学的歪を検査できると共
に、光学的歪の範囲を定量的に表せる検査装置を提供す
ることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】 そこで、この発明は、
透光性を有する被検査物に向けて照明光を照射する光源
ユニットと、被検査物を透過した前記照明光を投影する
投影面と、投影面を撮像して濃淡画像を生成する画像入
力部と、画像入力部で得られた濃淡画像の濃淡レベルの
ばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定する画像処
理部とを有することを特徴とする光学的歪検査装置、及
び、該検査装置において、光源ユニットと被検査物との
間に光源ユニットからの照明光を一部遮光するスリット
を設けることを特徴とする光学的歪検査装置、及び、該
検査装置において、画像処理部が画像入力部で得られた
濃淡画像を複数に分割し、各部分の濃淡レベルのばらつ
きの度合いに基づいて歪の有無を判定し、濃淡画像全体
における歪有り部分の割合を求める画像処理部であるこ
とを特徴とする光学的歪検査装置、を提供することによ
り上述の課題を解決する。
透光性を有する被検査物に向けて照明光を照射する光源
ユニットと、被検査物を透過した前記照明光を投影する
投影面と、投影面を撮像して濃淡画像を生成する画像入
力部と、画像入力部で得られた濃淡画像の濃淡レベルの
ばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定する画像処
理部とを有することを特徴とする光学的歪検査装置、及
び、該検査装置において、光源ユニットと被検査物との
間に光源ユニットからの照明光を一部遮光するスリット
を設けることを特徴とする光学的歪検査装置、及び、該
検査装置において、画像処理部が画像入力部で得られた
濃淡画像を複数に分割し、各部分の濃淡レベルのばらつ
きの度合いに基づいて歪の有無を判定し、濃淡画像全体
における歪有り部分の割合を求める画像処理部であるこ
とを特徴とする光学的歪検査装置、を提供することによ
り上述の課題を解決する。
【0005】
【作用】 被検査物に向けて光源ユニットが照明光を照
射すると、照明光が被検査物に照射され、更に、被検査
物を透過し、投影面に投影される。スリットを使用した
構成の場合には、照明光が直接被検査物に照射され、更
に、被検査物を透過し、投影面に投影される。次いで、
画像入力部が投影された像を撮像して濃淡画像を生成す
る。この濃淡画像を画像処理部が入力し、濃淡レベルの
ばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定する。光源
ユニットと被検査物との間にスリットを設けた場合は、
スリットにより一部遮光された照明光が被検査物に照射
され、更に、被検査物を透過し、投影面に投影される。
画像入力部が画像入力部で得られた濃淡画像を複数に分
割し、各部分の濃淡レベルのばらつきの度合いに基づい
て歪の有無を判定し濃淡画像全体における歪有り部分の
割合を求める場合には、入力する濃淡画像を複数部分に
分割し、分割された各部分の濃淡レベルのばらつきの度
合いに基づいて歪の有無を判定する。次いで、各部分に
おいて歪有りと判定された部分全体と濃淡画像全体との
割合を求める。
射すると、照明光が被検査物に照射され、更に、被検査
物を透過し、投影面に投影される。スリットを使用した
構成の場合には、照明光が直接被検査物に照射され、更
に、被検査物を透過し、投影面に投影される。次いで、
画像入力部が投影された像を撮像して濃淡画像を生成す
る。この濃淡画像を画像処理部が入力し、濃淡レベルの
ばらつきの度合いに基づいて歪の有無を判定する。光源
ユニットと被検査物との間にスリットを設けた場合は、
スリットにより一部遮光された照明光が被検査物に照射
され、更に、被検査物を透過し、投影面に投影される。
画像入力部が画像入力部で得られた濃淡画像を複数に分
割し、各部分の濃淡レベルのばらつきの度合いに基づい
て歪の有無を判定し濃淡画像全体における歪有り部分の
割合を求める場合には、入力する濃淡画像を複数部分に
分割し、分割された各部分の濃淡レベルのばらつきの度
合いに基づいて歪の有無を判定する。次いで、各部分に
おいて歪有りと判定された部分全体と濃淡画像全体との
割合を求める。
【0006】
【実施例】 図1はこの発明の第1実施例を表す平面説
明図であり、図2はこの発明の第1実施例を表す正面説
明図であり、図3は円形のスリットを表す説明図であ
り、図4は角形のスリットを表す説明図であり、図5は
検体の説明図であり、図6はこの発明の第2実施例の平
面説明図であり、図7はこの発明の第2実施例の正面説
明図であり、図8はこの発明の第3実施例を表す正面説
明図であり、図9はこの発明の第3実施例を表す側面説
明図であり、図10は濃淡画像の説明図であり、図11
はこの発明の第4実施例の正面説明図であり、図12は
この発明の第4実施例の正面説明図であり、図13及び
図14は検体の載置方法を表す平面説明図である。
明図であり、図2はこの発明の第1実施例を表す正面説
明図であり、図3は円形のスリットを表す説明図であ
り、図4は角形のスリットを表す説明図であり、図5は
検体の説明図であり、図6はこの発明の第2実施例の平
面説明図であり、図7はこの発明の第2実施例の正面説
明図であり、図8はこの発明の第3実施例を表す正面説
明図であり、図9はこの発明の第3実施例を表す側面説
明図であり、図10は濃淡画像の説明図であり、図11
はこの発明の第4実施例の正面説明図であり、図12は
この発明の第4実施例の正面説明図であり、図13及び
図14は検体の載置方法を表す平面説明図である。
【0007】以下に、この発明の第1実施例を図1乃至
図5に従い説明する。1は光学的歪検査装置であり、W
は検体である。光学的歪検査装置1は、検体Wの光学的
歪を検査する。検体Wは、この実施例では、図5に表す
ようにガラス板W1と被検査物である中間膜W2から構
成する。この実施例で検査する中間膜W2は、自動車の
フロントガラス等に使用される中間膜で、使用時にはガ
ラス板W1に挟んだ状態で使用するので、使用時を想定
して2枚のガラス板W1に挟んだ状態で検査する。この
実施例では中間膜を検査するが、検査目的が光学的歪の
検出であれば、特に中間膜に限定されない。この実施例
で検査される検体Wは、光学的歪のサイズが比較的小さ
く、しかも、歪部分の濃淡差が比較的大きなものなの
で、照明光に対し検体Wを傾けないで載置する。光学的
歪検査装置1は、光源ユニット2、スリット3、検体載
置部4、投影面5、画像入力部6、画像処理部7、架台
8、評価部9とからなり、画像処理部7及び評価部9以
外の夫々を架台8上に載置し、夫々移動可能に構成す
る。光学的歪検査装置1は、検体載置部4上に検体Wを
載置可能である。光源ユニット2は、発光部21、光フ
ァイバー22、照射口23とからなり、発光部21で発
光される照明光が光ファイバー22内を経由し、照射口
23からスリット3方向へ照射される。照射口23は架
台8の一方端に載置され、照射口23から照射される光
軸A方向へ移動可能である。発光部21はこの実施例で
はハロゲン電球を配設してなるが、特定波長の光でもよ
く、検体Wを透過した像が投影面5に、より鮮明に投影
されるような光が望ましい。
図5に従い説明する。1は光学的歪検査装置であり、W
は検体である。光学的歪検査装置1は、検体Wの光学的
歪を検査する。検体Wは、この実施例では、図5に表す
ようにガラス板W1と被検査物である中間膜W2から構
成する。この実施例で検査する中間膜W2は、自動車の
フロントガラス等に使用される中間膜で、使用時にはガ
ラス板W1に挟んだ状態で使用するので、使用時を想定
して2枚のガラス板W1に挟んだ状態で検査する。この
実施例では中間膜を検査するが、検査目的が光学的歪の
検出であれば、特に中間膜に限定されない。この実施例
で検査される検体Wは、光学的歪のサイズが比較的小さ
く、しかも、歪部分の濃淡差が比較的大きなものなの
で、照明光に対し検体Wを傾けないで載置する。光学的
歪検査装置1は、光源ユニット2、スリット3、検体載
置部4、投影面5、画像入力部6、画像処理部7、架台
8、評価部9とからなり、画像処理部7及び評価部9以
外の夫々を架台8上に載置し、夫々移動可能に構成す
る。光学的歪検査装置1は、検体載置部4上に検体Wを
載置可能である。光源ユニット2は、発光部21、光フ
ァイバー22、照射口23とからなり、発光部21で発
光される照明光が光ファイバー22内を経由し、照射口
23からスリット3方向へ照射される。照射口23は架
台8の一方端に載置され、照射口23から照射される光
軸A方向へ移動可能である。発光部21はこの実施例で
はハロゲン電球を配設してなるが、特定波長の光でもよ
く、検体Wを透過した像が投影面5に、より鮮明に投影
されるような光が望ましい。
【0008】スリット3は、中央部にスリット孔31を
有し、光源ユニット2の照射口23及び検体W間に、検
体Wの光源ユニット2と反対側に設置される投影面5へ
光源ユニット2からの照明光が投影される位置に設置さ
れ、架台8上を光軸A方向に移動可能である。スリット
3は、照射口23からの光をスリット孔31を通過させ
ることにより、点光源に近い光を検体Wに照射可能に
し、検体Wを透過した光による像に検体Wの光学的歪
が、より鮮明に表されるようにする。この実施例ではス
リット3は照射口23の照射端部から10mmの位置に配
置され、スリット孔31形状は、図3に表す通り、円形
のスリット孔31或いは長方形のスリット孔31であ
り、この実施例においては、円形のスリット孔31で
は、直径0.1mmの円形状とした。又、図4に表す角形
のスリット3では、検体Wの光学的歪に方向性がある場
合に有効であり、この実施例では0.19mm×0.5mm
の長方形状のスリット孔31とした。光学的歪の方向と
角形のスリット3の長手方向が一致した場合には投影面
上の光の疎密状態が強調され、円形スリット3以上に鮮
明に表すことが可能となるので、使用に際してはスリッ
ト3の長手方向が光学的歪の方向と一致するように用い
る。勿論、スリット3の大きさは、照射口23の形状、
照射口23、検体W及び投影面5との位置関係等を考慮
し決定する。
有し、光源ユニット2の照射口23及び検体W間に、検
体Wの光源ユニット2と反対側に設置される投影面5へ
光源ユニット2からの照明光が投影される位置に設置さ
れ、架台8上を光軸A方向に移動可能である。スリット
3は、照射口23からの光をスリット孔31を通過させ
ることにより、点光源に近い光を検体Wに照射可能に
し、検体Wを透過した光による像に検体Wの光学的歪
が、より鮮明に表されるようにする。この実施例ではス
リット3は照射口23の照射端部から10mmの位置に配
置され、スリット孔31形状は、図3に表す通り、円形
のスリット孔31或いは長方形のスリット孔31であ
り、この実施例においては、円形のスリット孔31で
は、直径0.1mmの円形状とした。又、図4に表す角形
のスリット3では、検体Wの光学的歪に方向性がある場
合に有効であり、この実施例では0.19mm×0.5mm
の長方形状のスリット孔31とした。光学的歪の方向と
角形のスリット3の長手方向が一致した場合には投影面
上の光の疎密状態が強調され、円形スリット3以上に鮮
明に表すことが可能となるので、使用に際してはスリッ
ト3の長手方向が光学的歪の方向と一致するように用い
る。勿論、スリット3の大きさは、照射口23の形状、
照射口23、検体W及び投影面5との位置関係等を考慮
し決定する。
【0009】検体載置部4は、検体Wを光軸Aに略垂直
に載置可能であり、架台8上を光軸A方向に移動可能で
ある。投影面5は、検体Wに対し、図1に表すように角
度θを画像入力部6方向に傾け配置し、スリット3、検
体Wを経た照射口23からの照明光による像を投影す
る。角度θは、この実施例では、105゜に傾け配置す
る。更に、投影面5は、光沢が無く、又、凹凸が少ない
白紙等が望ましい。画像入力部6は、CCDカメラから
なり、投影面5に投影された像を撮像し、投影された像
の明暗を信号に変換し濃淡画像信号として画像処理部7
へ出力する。架台8は、本体81とアーム82から構成
され、本体81の中間部から画像入力部6を載置可能な
アーム82を、本体81の長手方向に移動可能に設置さ
せ構成する。以上のように、図1に表す平面方向からの
夫々の位置関係は照射口23から出射される照明光の光
軸Aに対し、スリット3、検体載置部4、検体Wが夫々
略垂直に設置され、投影面5は角度θで載置され、画像
入力部6は撮像方向が投影面5と略垂直に載置される。
又、図2に表す正面方向からの夫々の位置関係は、スリ
ット3は光軸Aに略垂直に、検体Wは検査面が光軸Aと
略垂直に、投影面5は投影面が光軸Aに略垂直に、画像
入力部6は、その撮像方向が光軸A方向になるようアー
ム82に載置される。画像処理部7は、画像入力部6か
らの濃淡画像の信号を入力し、取込んだ濃淡画像の各画
素間の濃度値の分散値を出力する。この濃淡画像は、検
体Wの歪が大きい場合には、屈折率の差も大きくなるの
で、できる縞模様も明暗差のはっきりした大きなものに
なり、歪が小さい場合には屈折率の差も小さくなるの
で、明暗差のあまりはっきりしない微小な縞模様とな
る。又、この実施例では中間膜W2による歪は横方向に
現れ、ガラス板W1による歪は縦方向に現れる。
に載置可能であり、架台8上を光軸A方向に移動可能で
ある。投影面5は、検体Wに対し、図1に表すように角
度θを画像入力部6方向に傾け配置し、スリット3、検
体Wを経た照射口23からの照明光による像を投影す
る。角度θは、この実施例では、105゜に傾け配置す
る。更に、投影面5は、光沢が無く、又、凹凸が少ない
白紙等が望ましい。画像入力部6は、CCDカメラから
なり、投影面5に投影された像を撮像し、投影された像
の明暗を信号に変換し濃淡画像信号として画像処理部7
へ出力する。架台8は、本体81とアーム82から構成
され、本体81の中間部から画像入力部6を載置可能な
アーム82を、本体81の長手方向に移動可能に設置さ
せ構成する。以上のように、図1に表す平面方向からの
夫々の位置関係は照射口23から出射される照明光の光
軸Aに対し、スリット3、検体載置部4、検体Wが夫々
略垂直に設置され、投影面5は角度θで載置され、画像
入力部6は撮像方向が投影面5と略垂直に載置される。
又、図2に表す正面方向からの夫々の位置関係は、スリ
ット3は光軸Aに略垂直に、検体Wは検査面が光軸Aと
略垂直に、投影面5は投影面が光軸Aに略垂直に、画像
入力部6は、その撮像方向が光軸A方向になるようアー
ム82に載置される。画像処理部7は、画像入力部6か
らの濃淡画像の信号を入力し、取込んだ濃淡画像の各画
素間の濃度値の分散値を出力する。この濃淡画像は、検
体Wの歪が大きい場合には、屈折率の差も大きくなるの
で、できる縞模様も明暗差のはっきりした大きなものに
なり、歪が小さい場合には屈折率の差も小さくなるの
で、明暗差のあまりはっきりしない微小な縞模様とな
る。又、この実施例では中間膜W2による歪は横方向に
現れ、ガラス板W1による歪は縦方向に現れる。
【0010】分散値の算出は、濃淡画像の画素単位の濃
度値から縦方向一列について、分散値を計算し、同様に
他の列についても行ない、その平均をとることによって
行なう。分散値の求め方は種々考えられ、濃淡画像全体
の分散値を計算してもよいが、前記した縦あるいは横方
向を一単位として計算することにより、検査対象となる
光学的歪を検出するにはより有効である。即ち、この実
施例では中間膜W2の光学的歪の検査を行うので、ガラ
ス板W1による光学的歪の影響を排除するため縦方向に
計算したが、検査対象がガラス板W1の光学的歪となる
場合等は、横方向に分散値を計算し、中間膜W2の光学
的歪の影響を排除可能となる。又、濃淡画像全体を対象
とする必要はなく、特定の一部についてのみ分散値を求
めてもよい。例えば、光学的歪が生じやすい部分につい
て、一又は複数の所定の大きさの領域を設定し、その領
域内を対象として分散値を計算するものである。これに
より計算量の軽減がはかれる。9は、評価部であり、評
価部9では画像処理部7により算出される分散値と、予
め定められた許容範囲の分散値とを比較し、検体Wの品
質を評価する。又、この実施例では記述していないが、
検体Wをロボットなどにより載置、取外しを行なう場合
等には、評価部9で評価した結果により取外してから自
動的に良品、不良品に分類することも可能である。
度値から縦方向一列について、分散値を計算し、同様に
他の列についても行ない、その平均をとることによって
行なう。分散値の求め方は種々考えられ、濃淡画像全体
の分散値を計算してもよいが、前記した縦あるいは横方
向を一単位として計算することにより、検査対象となる
光学的歪を検出するにはより有効である。即ち、この実
施例では中間膜W2の光学的歪の検査を行うので、ガラ
ス板W1による光学的歪の影響を排除するため縦方向に
計算したが、検査対象がガラス板W1の光学的歪となる
場合等は、横方向に分散値を計算し、中間膜W2の光学
的歪の影響を排除可能となる。又、濃淡画像全体を対象
とする必要はなく、特定の一部についてのみ分散値を求
めてもよい。例えば、光学的歪が生じやすい部分につい
て、一又は複数の所定の大きさの領域を設定し、その領
域内を対象として分散値を計算するものである。これに
より計算量の軽減がはかれる。9は、評価部であり、評
価部9では画像処理部7により算出される分散値と、予
め定められた許容範囲の分散値とを比較し、検体Wの品
質を評価する。又、この実施例では記述していないが、
検体Wをロボットなどにより載置、取外しを行なう場合
等には、評価部9で評価した結果により取外してから自
動的に良品、不良品に分類することも可能である。
【0011】次に、この実施例の作用について説明す
る。検体Wを検体載置部4に載置する。次に、光源ユニ
ット2の発光部21で照明光を発生させ、光ファイバー
22内を経由し、照射口23から検体Wに照射する。照
明光は、検体W方向に照射されスリット3によりスリッ
ト孔31以外の部分は遮光され検体Wを透過して投影面
5にスリット孔31形状の検体Wを透過した像が拡大投
影される。この時、投影された像は、検体Wの被検査物
W2に凹凸等の光学的歪がある場合には、歪箇所で照明
光が屈折される。この屈折された照明光は、スリット3
が存在せず、照射範囲が一様に中間膜W2全体に及ぶ様
な広範囲に照射された場合には、他の部分で乱屈折した
照明光等と被検査物W2の歪箇所で生じた屈折による照
明光とが互いに影響し合い、あまり大きな濃度差を生じ
ない。しかし、照射口23と近接した位置にスリット3
を設置し、微小な間隔のスリット孔31を通過すること
で照射された照明光が他の屈折光に影響される事無く疑
似的な点光源からの照射光となり、中間膜W2に到達
し、中間膜W2の一部分のみを照射し、光学的歪が拡大
され濃淡の有る縞模様として明暗差で投影面5に投影さ
れる。このように照明光はスリット孔31を通過するこ
とで、疑似的な点光源からの照射光となる。
る。検体Wを検体載置部4に載置する。次に、光源ユニ
ット2の発光部21で照明光を発生させ、光ファイバー
22内を経由し、照射口23から検体Wに照射する。照
明光は、検体W方向に照射されスリット3によりスリッ
ト孔31以外の部分は遮光され検体Wを透過して投影面
5にスリット孔31形状の検体Wを透過した像が拡大投
影される。この時、投影された像は、検体Wの被検査物
W2に凹凸等の光学的歪がある場合には、歪箇所で照明
光が屈折される。この屈折された照明光は、スリット3
が存在せず、照射範囲が一様に中間膜W2全体に及ぶ様
な広範囲に照射された場合には、他の部分で乱屈折した
照明光等と被検査物W2の歪箇所で生じた屈折による照
明光とが互いに影響し合い、あまり大きな濃度差を生じ
ない。しかし、照射口23と近接した位置にスリット3
を設置し、微小な間隔のスリット孔31を通過すること
で照射された照明光が他の屈折光に影響される事無く疑
似的な点光源からの照射光となり、中間膜W2に到達
し、中間膜W2の一部分のみを照射し、光学的歪が拡大
され濃淡の有る縞模様として明暗差で投影面5に投影さ
れる。このように照明光はスリット孔31を通過するこ
とで、疑似的な点光源からの照射光となる。
【0012】このように検体Wを照射し投影された明暗
差による像は、画像入力部6により撮像される。画像入
力部6では、投影面5に投影された像が画像信号として
出力され、画像処理部7に入力される。画像処理部7で
は、濃淡画像の画素単位の濃度値から分散値を算出し、
評価部9へ出力する。分散値を入力した評価部9では、
入力した分散値と、予め定められた許容範囲の分散値と
を比較し、検体Wの品質を評価する。又、光源ユニット
2により、点光源或いは線光源に近い照明光をであり、
スリット3を用いた場合と同等の照明光を照射可能であ
ればスリット3を使用しなくとも検査可能である。
差による像は、画像入力部6により撮像される。画像入
力部6では、投影面5に投影された像が画像信号として
出力され、画像処理部7に入力される。画像処理部7で
は、濃淡画像の画素単位の濃度値から分散値を算出し、
評価部9へ出力する。分散値を入力した評価部9では、
入力した分散値と、予め定められた許容範囲の分散値と
を比較し、検体Wの品質を評価する。又、光源ユニット
2により、点光源或いは線光源に近い照明光をであり、
スリット3を用いた場合と同等の照明光を照射可能であ
ればスリット3を使用しなくとも検査可能である。
【0013】第2実施例として、光源ユニット2により
スリット3を用いたと同様の照明光を照射する場合を図
6及び図7に従い説明する。この実施例では、光源ユニ
ット2は、発光部21、照射口23、照明光生成部24
からなり、架台8の本体81一端部に設置される。発光
部21では、第1実施例同様照明光を発生する。照明光
生成部24では、発光部21で発生された照明光を、レ
ンズ等の光学機器により、偏向させスリット3を用いた
と同様の照明光を照射する。照射口23は、第1実施例
同様、照明光を検体Wに照射し、投影面5に投影可能で
ある。検体載置部4,投影面5,画像入力部6,画像処
理部7及び評価部9については、第1実施例同様であ
る。この実施例の作用は、第1実施例同様であるが、ス
リット3が無いので、照射する照明光が直接検体Wを透
過し、投影面5に投影される。投影面5,画像入力部
6,画像処理部7及び評価部9の作用については、第1
実施例同様である。検体Wは、第1実施例及び第2実施
例においては、光学的歪のサイズが比較的小さく、しか
も、歪部分の濃淡差が比較的大きなものなものであった
が、光学的歪のサイズが比較的大きく、しかも、歪部分
の濃淡差が小さな検体Wを検査する場合には、光学的歪
部分の濃淡差を強調し検査した方がより正確に検査でき
る。
スリット3を用いたと同様の照明光を照射する場合を図
6及び図7に従い説明する。この実施例では、光源ユニ
ット2は、発光部21、照射口23、照明光生成部24
からなり、架台8の本体81一端部に設置される。発光
部21では、第1実施例同様照明光を発生する。照明光
生成部24では、発光部21で発生された照明光を、レ
ンズ等の光学機器により、偏向させスリット3を用いた
と同様の照明光を照射する。照射口23は、第1実施例
同様、照明光を検体Wに照射し、投影面5に投影可能で
ある。検体載置部4,投影面5,画像入力部6,画像処
理部7及び評価部9については、第1実施例同様であ
る。この実施例の作用は、第1実施例同様であるが、ス
リット3が無いので、照射する照明光が直接検体Wを透
過し、投影面5に投影される。投影面5,画像入力部
6,画像処理部7及び評価部9の作用については、第1
実施例同様である。検体Wは、第1実施例及び第2実施
例においては、光学的歪のサイズが比較的小さく、しか
も、歪部分の濃淡差が比較的大きなものなものであった
が、光学的歪のサイズが比較的大きく、しかも、歪部分
の濃淡差が小さな検体Wを検査する場合には、光学的歪
部分の濃淡差を強調し検査した方がより正確に検査でき
る。
【0014】以下に、光学的歪のサイズが比較的大き
く、しかも、歪部分の濃淡差が小さな検体Wを検査する
実施例として図8及び図9に基づき第3実施例を説明す
る。この実施例では、第2実施例同様スリット3を用い
ない構成であり、光源ユニット2、検体載置部4、投影
面5、画像入力部6、画像処理部7、及び、評価部9
は、架台8を用いず夫々が独立して設置される。光源ユ
ニット2は、発光部21、照射口23とからなり、発光
部21で発光される光が照射口23から投影面5方向へ
照射される。発光部21はこの実施例では高圧水銀灯を
配設してなるが、特定波長の光でもあるいは特定波長で
ない光でもよく、検体Wを透過した光により投影面5へ
投影された像に検体Wの光学的歪がより鮮明に投影され
るような擬似平行光が望ましい。この実施例で用いる擬
似平行光は、各光束が完全に平行なものではなく、発光
する光をある程度の拡大率になるよう集合させ照射され
る光束光をいう。勿論、投影面5と同等の面積を有する
平行光束光を用いても可能である。
く、しかも、歪部分の濃淡差が小さな検体Wを検査する
実施例として図8及び図9に基づき第3実施例を説明す
る。この実施例では、第2実施例同様スリット3を用い
ない構成であり、光源ユニット2、検体載置部4、投影
面5、画像入力部6、画像処理部7、及び、評価部9
は、架台8を用いず夫々が独立して設置される。光源ユ
ニット2は、発光部21、照射口23とからなり、発光
部21で発光される光が照射口23から投影面5方向へ
照射される。発光部21はこの実施例では高圧水銀灯を
配設してなるが、特定波長の光でもあるいは特定波長で
ない光でもよく、検体Wを透過した光により投影面5へ
投影された像に検体Wの光学的歪がより鮮明に投影され
るような擬似平行光が望ましい。この実施例で用いる擬
似平行光は、各光束が完全に平行なものではなく、発光
する光をある程度の拡大率になるよう集合させ照射され
る光束光をいう。勿論、投影面5と同等の面積を有する
平行光束光を用いても可能である。
【0015】検体載置部4は、検体Wを光軸Aに対して
角度θ1に載置可能である。この実施例では、検体載置
部4は検体Wを光軸Aに対して20度に固定して載置す
る。この実施例で検査される検体Wは、光学的歪のサイ
ズが比較的大きく、しかも、歪部分の濃淡差が小さなも
のなので、照明光を擬似平行光とし、照明光に対し検体
Wを傾けて載置することで、他から屈折してくる光等に
よる影響をおさえ傾けた方向の光学的歪が圧縮、強調さ
れ画像の濃淡差がはっきり表れるようになる。本実施例
では、検体Wの歪度合いを強調するために検体Wに角度
を持たせたが検体Wの性格によってはこの限りではな
く、適宜角度に載置してもよい。又、検体Wの光学的歪
の濃淡差が比較的大きく、光学的歪のサイズが比較的大
きい場合などは、検体Wを傾けないで設置してもよい。
投影面5は、検体Wに対し、図8に表すように光軸Aと
略垂直に配置し、検体Wを経た照射口23からの擬似平
行光による像を投影する。画像入力部6は、CCDカメ
ラからなり、投影面5に投影された像を撮像し、投影さ
れた像の明暗を信号に変換し濃淡画像の信号として画像
処理部7へ出力する。
角度θ1に載置可能である。この実施例では、検体載置
部4は検体Wを光軸Aに対して20度に固定して載置す
る。この実施例で検査される検体Wは、光学的歪のサイ
ズが比較的大きく、しかも、歪部分の濃淡差が小さなも
のなので、照明光を擬似平行光とし、照明光に対し検体
Wを傾けて載置することで、他から屈折してくる光等に
よる影響をおさえ傾けた方向の光学的歪が圧縮、強調さ
れ画像の濃淡差がはっきり表れるようになる。本実施例
では、検体Wの歪度合いを強調するために検体Wに角度
を持たせたが検体Wの性格によってはこの限りではな
く、適宜角度に載置してもよい。又、検体Wの光学的歪
の濃淡差が比較的大きく、光学的歪のサイズが比較的大
きい場合などは、検体Wを傾けないで設置してもよい。
投影面5は、検体Wに対し、図8に表すように光軸Aと
略垂直に配置し、検体Wを経た照射口23からの擬似平
行光による像を投影する。画像入力部6は、CCDカメ
ラからなり、投影面5に投影された像を撮像し、投影さ
れた像の明暗を信号に変換し濃淡画像の信号として画像
処理部7へ出力する。
【0016】画像処理部7は、画像入力部6からの濃淡
画像の信号を入力し、取込んだ濃淡画像を複数に分割し
た各部分について夫々各画素の濃度値から分散を求め、
求めた各分散値と予め定める分散値とを比較し、判定す
る濃淡画像全体に対する歪を有する分割部分の割合を評
価部9へ出力する。濃淡画像を複数部分に分割する方法
は種々考えられるが、この実施例では、濃淡画像を縦横
5画素毎に格子状に分割する。即ち、図10に表すよう
に、各部分aのXY方向夫々をX0乃至X4、Y0乃至
Y4の画素が含まれるように分割する。この実施例では
5画素毎としたが、歪の大きさ等により適宜設定すれば
よい。このように分割した部分aの分散値の算出は、分
割した各部分aにおいて濃淡画像の画素単位の濃度値か
ら縦方向一列(列X0における行Y0乃至Y4の画素)
について、分散値を計算し、同様に他の列(列X1乃至
X4)についても行い、その平均(列X0乃至X4の平
均分散値)をとることによってその平均を分割部分の分
散値とする。勿論、横方向(各行Yにおける列X0乃至
X4)に計算することも可能である。このようにして求
めた部分aの分散値が予め定める分散値(以下、閾値と
いう。)以上の場合、その部分は歪有と判定する。そし
て、全ての分割部分について判定を行った後、判定する
濃淡画像全体に対する、歪有りと判断された分割部分の
割合を求める。この分散値の求め方は、各分割部分にお
いて第1実施例で説明したと同様前記した縦あるいは横
方向を一単位として計算した方が、光学的歪を検出する
にはより有効である。又、濃淡画像全体を対象とする必
要はなく、一部であってもよい。例えば、光学的歪が生
じやすい部分について、一又は複数の所定の大きさの領
域を設定し、その領域内を対象として前記同様に各分割
部分の分散値を計算し、求めた分散値から、判定する濃
淡画像全体に対する歪有りと判定された分割部分の割合
を求めるものである。これにより計算量の軽減がはかれ
る。
画像の信号を入力し、取込んだ濃淡画像を複数に分割し
た各部分について夫々各画素の濃度値から分散を求め、
求めた各分散値と予め定める分散値とを比較し、判定す
る濃淡画像全体に対する歪を有する分割部分の割合を評
価部9へ出力する。濃淡画像を複数部分に分割する方法
は種々考えられるが、この実施例では、濃淡画像を縦横
5画素毎に格子状に分割する。即ち、図10に表すよう
に、各部分aのXY方向夫々をX0乃至X4、Y0乃至
Y4の画素が含まれるように分割する。この実施例では
5画素毎としたが、歪の大きさ等により適宜設定すれば
よい。このように分割した部分aの分散値の算出は、分
割した各部分aにおいて濃淡画像の画素単位の濃度値か
ら縦方向一列(列X0における行Y0乃至Y4の画素)
について、分散値を計算し、同様に他の列(列X1乃至
X4)についても行い、その平均(列X0乃至X4の平
均分散値)をとることによってその平均を分割部分の分
散値とする。勿論、横方向(各行Yにおける列X0乃至
X4)に計算することも可能である。このようにして求
めた部分aの分散値が予め定める分散値(以下、閾値と
いう。)以上の場合、その部分は歪有と判定する。そし
て、全ての分割部分について判定を行った後、判定する
濃淡画像全体に対する、歪有りと判断された分割部分の
割合を求める。この分散値の求め方は、各分割部分にお
いて第1実施例で説明したと同様前記した縦あるいは横
方向を一単位として計算した方が、光学的歪を検出する
にはより有効である。又、濃淡画像全体を対象とする必
要はなく、一部であってもよい。例えば、光学的歪が生
じやすい部分について、一又は複数の所定の大きさの領
域を設定し、その領域内を対象として前記同様に各分割
部分の分散値を計算し、求めた分散値から、判定する濃
淡画像全体に対する歪有りと判定された分割部分の割合
を求めるものである。これにより計算量の軽減がはかれ
る。
【0017】評価部9では、画像処理部7により算出さ
れる歪部分の割合と、予め定められた許容範囲の割合と
を比較し、検体Wの品質を評価する。評価方法として
は、割合別にランクを設け、どのランクに属するかを判
断させる。又、画像処理部7で各分割部分毎の歪の判定
結果を出力し、その出力を評価部9が入力し、検体Wの
どの位置で歪が発生しているかをマッピングし、CRT
あるいはプリンタ等の表示部(図示せず)に表示するこ
とも可能である。又、検体Wの載置、取外しをロボット
などにより行なう場合等には、評価部9の評価結果に基
づいて取外してから自動的にランク分けし、良品あるい
は不良品に分類することも可能である。この実施例では
画像処理部7は、各分割部分の縦方向の分散値の平均を
分割部分内の分散値としたが、各分割部分の分散値を分
割部分内の縦方向の分散値の最大値或いは最小値とする
ことで、検体Wの評価基準を各分割部分における光学的
歪の濃淡差の最大値或いは最小値とすることが可能とな
る。又、画像処理部7は濃淡画像全体と歪部分との割合
を出力したが、各分割部分から求まる分散値中の最大値
を出力し、評価部9が同最大値からランクを判定するこ
とも可能である。この方法は、存在する光学的歪部分と
濃淡画像全体との割合に係わらず歪部分の濃淡差を判定
基準とする場合に有効である。更に、濃淡画像全体と歪
部分との割合を出力すると共に、各分割部分から求まる
分散値中の最大値も出力し、歪部分と濃淡画像全体との
割合とを評価基準に併用することで、例えば、歪部分と
濃淡画像全体との割合が10%以未満の場合には分割部
分の分散値の最大値が15以上のものが不良品、歪部分
と濃淡画像全体との割合が10%以上25%未満の場合
には分割部分の分散値の最大値が10以上のものが不良
品というように歪部分と濃淡画像全体との割合によって
不良品で有ると判断する分散値の基準を変化させて判断
することが可能となる。
れる歪部分の割合と、予め定められた許容範囲の割合と
を比較し、検体Wの品質を評価する。評価方法として
は、割合別にランクを設け、どのランクに属するかを判
断させる。又、画像処理部7で各分割部分毎の歪の判定
結果を出力し、その出力を評価部9が入力し、検体Wの
どの位置で歪が発生しているかをマッピングし、CRT
あるいはプリンタ等の表示部(図示せず)に表示するこ
とも可能である。又、検体Wの載置、取外しをロボット
などにより行なう場合等には、評価部9の評価結果に基
づいて取外してから自動的にランク分けし、良品あるい
は不良品に分類することも可能である。この実施例では
画像処理部7は、各分割部分の縦方向の分散値の平均を
分割部分内の分散値としたが、各分割部分の分散値を分
割部分内の縦方向の分散値の最大値或いは最小値とする
ことで、検体Wの評価基準を各分割部分における光学的
歪の濃淡差の最大値或いは最小値とすることが可能とな
る。又、画像処理部7は濃淡画像全体と歪部分との割合
を出力したが、各分割部分から求まる分散値中の最大値
を出力し、評価部9が同最大値からランクを判定するこ
とも可能である。この方法は、存在する光学的歪部分と
濃淡画像全体との割合に係わらず歪部分の濃淡差を判定
基準とする場合に有効である。更に、濃淡画像全体と歪
部分との割合を出力すると共に、各分割部分から求まる
分散値中の最大値も出力し、歪部分と濃淡画像全体との
割合とを評価基準に併用することで、例えば、歪部分と
濃淡画像全体との割合が10%以未満の場合には分割部
分の分散値の最大値が15以上のものが不良品、歪部分
と濃淡画像全体との割合が10%以上25%未満の場合
には分割部分の分散値の最大値が10以上のものが不良
品というように歪部分と濃淡画像全体との割合によって
不良品で有ると判断する分散値の基準を変化させて判断
することが可能となる。
【0018】又、この実施例では、分割部分の分散値と
閾値とを比較して、各分割部分における歪の有無を判定
し濃淡画像全体における歪部分の割合を求めたが、閾値
を予め設定せずに濃淡画像全体と歪部分との割合が例え
ば10%となるよう閾値を変化させ、10%となった時
の閾値を評価対象とし、その時の閾値が5未満をAラン
ク,5以上10未満をBランク,10以上未満15未満
をCランク,15以上を不良品というようにランク分け
することも可能である。以上説明した実施例で検査され
る検体Wは、光学的歪のサイズが比較的大きく、しか
も、歪部分の濃淡差が小さなものでは、光軸Aに対し検
体Wを傾けて載置することで、傾けた方向の光学的歪が
圧縮、強調され画像の濃淡差がはっきり表れるようにし
て検査を行った。以上説明したような濃淡画像を複数部
分に分割して評価する方法は、勿論、第1実施例及び第
2実施例に用いてもよい。又、第3実施例で実施したと
同様に第1実施例及び第2実施例でも光軸Aに対し検体
Wを傾けて載置してもよく、この場合にも第3実施例同
様傾けた方向の光学的歪を圧縮、強調し画像の濃淡差が
はっきり表れる。
閾値とを比較して、各分割部分における歪の有無を判定
し濃淡画像全体における歪部分の割合を求めたが、閾値
を予め設定せずに濃淡画像全体と歪部分との割合が例え
ば10%となるよう閾値を変化させ、10%となった時
の閾値を評価対象とし、その時の閾値が5未満をAラン
ク,5以上10未満をBランク,10以上未満15未満
をCランク,15以上を不良品というようにランク分け
することも可能である。以上説明した実施例で検査され
る検体Wは、光学的歪のサイズが比較的大きく、しか
も、歪部分の濃淡差が小さなものでは、光軸Aに対し検
体Wを傾けて載置することで、傾けた方向の光学的歪が
圧縮、強調され画像の濃淡差がはっきり表れるようにし
て検査を行った。以上説明したような濃淡画像を複数部
分に分割して評価する方法は、勿論、第1実施例及び第
2実施例に用いてもよい。又、第3実施例で実施したと
同様に第1実施例及び第2実施例でも光軸Aに対し検体
Wを傾けて載置してもよく、この場合にも第3実施例同
様傾けた方向の光学的歪を圧縮、強調し画像の濃淡差が
はっきり表れる。
【0019】以下に、第4実施例として第1実施例の装
置において検体Wを光軸Aに対して傾けて載置した場合
を図11乃至図14に従い説明する。勿論、スリット3
を省いた第2実施例でも同様に傾けて載置することが可
能である。この実施例では検体Wを光軸Aに対して傾け
て載置した以外は光源ユニット2、スリット3、投影面
5、画像入力部6、画像処理部7、及び、評価部9につ
いては第1実施例同様であるが、検体Wの濃淡差が小さ
いために、スリット3を光源ユニット2から遠ざけると
共に検体Wを投影面5に近接させて載置し、照射する光
をより平行度の高い光とすることで投影された像の濃淡
差がはっきりと見えるようにすることが望ましい。従っ
て、第2実施例における光源ユニット2ではレンズ等の
光学系の装置を用い、照射する光の平行度を調整可能と
するなどが考えられる。
置において検体Wを光軸Aに対して傾けて載置した場合
を図11乃至図14に従い説明する。勿論、スリット3
を省いた第2実施例でも同様に傾けて載置することが可
能である。この実施例では検体Wを光軸Aに対して傾け
て載置した以外は光源ユニット2、スリット3、投影面
5、画像入力部6、画像処理部7、及び、評価部9につ
いては第1実施例同様であるが、検体Wの濃淡差が小さ
いために、スリット3を光源ユニット2から遠ざけると
共に検体Wを投影面5に近接させて載置し、照射する光
をより平行度の高い光とすることで投影された像の濃淡
差がはっきりと見えるようにすることが望ましい。従っ
て、第2実施例における光源ユニット2ではレンズ等の
光学系の装置を用い、照射する光の平行度を調整可能と
するなどが考えられる。
【0020】検体Wは光軸Aに対し図11に表すように
角度αだけ傾けて配置する。角度αは小さい程傾けた方
向の光学的歪が圧縮、強調される。この実施例の作用
は、図11に表すように検体Wを光軸Aに対して傾けて
載置することで水平方向の歪が圧縮、強調されて投影面
5に投影される。従って、微小な光学的歪さえも像とし
て投影面5に投影でき、歪の有無を判定できる。その他
の作用については第1実施例と同様である。検体Wが上
記実施例のような平板ではなく、塊状あるいは曲板から
なり、光学的歪を有する面が平らではない場合は、該面
上の検査したい点における接線を光軸Aに対して傾けて
載置し検査すればよい。
角度αだけ傾けて配置する。角度αは小さい程傾けた方
向の光学的歪が圧縮、強調される。この実施例の作用
は、図11に表すように検体Wを光軸Aに対して傾けて
載置することで水平方向の歪が圧縮、強調されて投影面
5に投影される。従って、微小な光学的歪さえも像とし
て投影面5に投影でき、歪の有無を判定できる。その他
の作用については第1実施例と同様である。検体Wが上
記実施例のような平板ではなく、塊状あるいは曲板から
なり、光学的歪を有する面が平らではない場合は、該面
上の検査したい点における接線を光軸Aに対して傾けて
載置し検査すればよい。
【0021】図13は自動車のフロントガラスのような
曲板を検査する場合の載置方法を示す平面図である。架
台8に検体載置部4を介して検体Wが取付けられてい
る。この時検体W上の点Bの光学的歪を検査したい場合
は、点Bにおける検体Wの接線Cと光軸Aが角度αを保
つよう載置すればよい。図14は、机上で使用する飾り
物の重石のような塊状のものを検査する場合の載置方法
を示す平面図である。図13に表した例と同様検体Wの
点Bにおける光学的歪を検査したい場合、点Bにおける
検体Wの接線Cを考え、接線Cと光軸Aとが角度αを保
つように載置すればよい。この場合、作用も図13に表
す例と同様検体Wの光学的歪を有する面を光軸Aに対し
て傾けて載置することで、水平方向の歪が圧縮強調され
て投影面5に投影される。従って、濃淡の微小な光学的
歪でも像として投影面5に投影でき、歪の有無を判定で
きる。
曲板を検査する場合の載置方法を示す平面図である。架
台8に検体載置部4を介して検体Wが取付けられてい
る。この時検体W上の点Bの光学的歪を検査したい場合
は、点Bにおける検体Wの接線Cと光軸Aが角度αを保
つよう載置すればよい。図14は、机上で使用する飾り
物の重石のような塊状のものを検査する場合の載置方法
を示す平面図である。図13に表した例と同様検体Wの
点Bにおける光学的歪を検査したい場合、点Bにおける
検体Wの接線Cを考え、接線Cと光軸Aとが角度αを保
つように載置すればよい。この場合、作用も図13に表
す例と同様検体Wの光学的歪を有する面を光軸Aに対し
て傾けて載置することで、水平方向の歪が圧縮強調され
て投影面5に投影される。従って、濃淡の微小な光学的
歪でも像として投影面5に投影でき、歪の有無を判定で
きる。
【0022】
【発明の効果】 上述のように、本発明によれば、フィ
ルム状物等透光性を有する被検査物の光学的歪を、簡単
な構成で、しかも、歪の有無を定量的に検査できると共
に歪の有する範囲も定量的に検査できるので、ばらつき
の少ない検査が可能となる。又、小さな濃淡差しか生じ
ない被検査物の光学的歪も検査可能となった。
ルム状物等透光性を有する被検査物の光学的歪を、簡単
な構成で、しかも、歪の有無を定量的に検査できると共
に歪の有する範囲も定量的に検査できるので、ばらつき
の少ない検査が可能となる。又、小さな濃淡差しか生じ
ない被検査物の光学的歪も検査可能となった。
【図1】 この発明の第1実施例を表す平面説明図
【図2】 この発明の第1実施例を表す正面説明図
【図3】 スリットの形状を表す説明図
【図4】 スリットの形状を表す説明図
【図5】 検体の説明図
【図6】 この発明の第2実施例を表す平面説明図
【図7】 この発明の第2実施例を表す正面説明図
【図8】 この発明の第3実施例を表す正面説明図
【図9】 この発明の第3実施例を表す側面説明図
【図10】 濃淡画像の説明図
【図11】 この発明の第4実施例を表す平面説明図
【図12】 この発明の第4実施例を表す正面説明図
【図13】 検体の載置方法を表す平面説明図
【図14】 検体の載置方法を表す平面説明図
1 光学的歪検査装置 2 光源ユニット 21 発光部 22 光ファイバー 23 照射口 24 照明光生成部 3 スリット 31 スリット孔 4 検体載置部 5 投影面 6 画像入力部 7 画像処理部 8 架台 81 本体 82 アーム 9 評価部
Claims (3)
- 【請求項1】透光性を有する被検査物に向けて照明光を
照射する光源ユニットと、 被検査物を透過した前記照明光を投影する投影面と、 投影面を撮像して濃淡画像を生成する画像入力部と、 画像入力部で得られた濃淡画像の濃淡レベルのばらつき
の度合いに基づいて歪の有無を判定する画像処理部とを
有することを特徴とする光学的歪検査装置。 - 【請求項2】光源ユニット及び被検査物間に光源ユニッ
トからの照明光を一部遮光するスリットを設けることを
特徴とする請求項1記載の光学的歪検査装置。 - 【請求項3】画像処理部が、画像入力部で得られた濃淡
画像を複数に分割し、各部分の濃淡レベルのばらつきの
度合いに基づいて歪の有無を判定し、濃淡画像全体にお
ける歪有り部分の割合を求めることを特徴とする請求項
1又は請求項2記載の光学的歪検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7057117A JPH07306152A (ja) | 1994-03-16 | 1995-03-16 | 光学的歪検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6-46045 | 1994-03-16 | ||
JP4604594 | 1994-03-16 | ||
JP7057117A JPH07306152A (ja) | 1994-03-16 | 1995-03-16 | 光学的歪検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07306152A true JPH07306152A (ja) | 1995-11-21 |
Family
ID=26386158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7057117A Pending JPH07306152A (ja) | 1994-03-16 | 1995-03-16 | 光学的歪検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07306152A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010507801A (ja) * | 2006-10-27 | 2010-03-11 | セミシスコ・カンパニー・リミテッド | ガラス基板の品質検査装置及びその検査方法 |
JP2017021003A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 株式会社リコー | シート状の被検査体の欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査システム |
WO2018167714A1 (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-20 | Sabic Global Technologies B.V. | Method and device for measuring optical aberration |
JP2019191112A (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 日立造船株式会社 | 画像取得方法、測定方法および画像取得装置 |
WO2021002035A1 (ja) | 2019-07-02 | 2021-01-07 | 積水化学工業株式会社 | 合わせガラス用中間膜及び合わせガラス |
WO2021200961A1 (ja) | 2020-03-30 | 2021-10-07 | 積水化学工業株式会社 | 合わせガラス用中間膜及び合わせガラス |
-
1995
- 1995-03-16 JP JP7057117A patent/JPH07306152A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010507801A (ja) * | 2006-10-27 | 2010-03-11 | セミシスコ・カンパニー・リミテッド | ガラス基板の品質検査装置及びその検査方法 |
JP2017021003A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 株式会社リコー | シート状の被検査体の欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査システム |
WO2018167714A1 (en) * | 2017-03-15 | 2018-09-20 | Sabic Global Technologies B.V. | Method and device for measuring optical aberration |
JP2019191112A (ja) * | 2018-04-27 | 2019-10-31 | 日立造船株式会社 | 画像取得方法、測定方法および画像取得装置 |
WO2021002035A1 (ja) | 2019-07-02 | 2021-01-07 | 積水化学工業株式会社 | 合わせガラス用中間膜及び合わせガラス |
WO2021200961A1 (ja) | 2020-03-30 | 2021-10-07 | 積水化学工業株式会社 | 合わせガラス用中間膜及び合わせガラス |
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