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JPH07297154A - Substrate carrying system - Google Patents

Substrate carrying system

Info

Publication number
JPH07297154A
JPH07297154A JP6083299A JP8329994A JPH07297154A JP H07297154 A JPH07297154 A JP H07297154A JP 6083299 A JP6083299 A JP 6083299A JP 8329994 A JP8329994 A JP 8329994A JP H07297154 A JPH07297154 A JP H07297154A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
hand
holding member
holding
processing unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6083299A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsumi Shimaji
克己 嶋治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP6083299A priority Critical patent/JPH07297154A/en
Publication of JPH07297154A publication Critical patent/JPH07297154A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Cleaning In General (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a system for satisfactorily carrying in and carrying out a substrate to/from a processing system through a simple structure in which a substrate to be processed has no adverse effect on a processed substrate. CONSTITUTION:Holding members 71A, 71B are disposed on the upper surface 38S side of a hand 38 and when a substrate W is carried into a cleaning section, the holding member 71A is located at a position for holding a substrate W whereas the other holding member 71B is located at a retracting position in order to prevent contact with the wafer W thus protecting the holding member 71B against contamination. When the substrate W is carried out from the cleaning section, the holding member 71B is located at the substrate W holding position and the other holding member 71A is located at the retracting position in order to prevent contact with the substrate W. Even if the holding member 71A is contaminated during the operation for carrying in a substrate to be cleaned, a cleaned substrate is protected against contamination because the cleaned substrate is carried out by means of the holding member 71B and prevented from touching the holding member 71A.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体製造装置や液
晶基板製造装置などの基板処理装置において、半導体ウ
エハや液晶用ガラス角型基板などの基板(以下、単に
「基板」という)に対して所定の処理を施す処理部に基
板を搬入するとともに、その処理部から基板を搬出する
基板搬送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus such as a semiconductor manufacturing apparatus or a liquid crystal substrate manufacturing apparatus for substrates such as semiconductor wafers and liquid crystal glass rectangular substrates (hereinafter simply referred to as "substrates"). The present invention relates to a substrate transfer apparatus that carries a substrate into a processing unit that performs a predetermined process and carries out the substrate from the processing unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より周知のように、液晶表示基板や
半導体ウエハなどの精密電子基板の製造プロセスにおい
ては、基板に対して所定の処理を施す処理部、例えば洗
浄処理部や熱処理部などが設けられている。そして、基
板搬送装置により、処理部に未処理の基板を搬入すると
ともに、処理を受けた基板を処理部から搬出するように
している。すなわち、基板搬送装置には、処理部に対し
進退移動可能なハンドが設けられており、このハンドの
上面側で未処理基板を保持しながら当該ハンドを処理部
に移動させることで基板を処理部に搬入する一方、同一
ハンドに処理済基板を移載した後、当該ハンドを後退さ
せることで処理済基板を処理部から搬出する。
2. Description of the Related Art As is well known in the art, in the manufacturing process of precision electronic substrates such as liquid crystal display substrates and semiconductor wafers, a processing unit for performing a predetermined process on the substrate, such as a cleaning processing unit or a heat treatment unit, is required. It is provided. Then, the substrate transfer device loads an unprocessed substrate into the processing unit and unloads the processed substrate from the processing unit. That is, the substrate transfer apparatus is provided with a hand that can move back and forth with respect to the processing unit. By moving the hand to the processing unit while holding the unprocessed substrate on the upper surface side of the hand, the substrate is transferred to the processing unit. On the other hand, after the processed substrate is transferred to the same hand, the processed substrate is carried out from the processing section by retracting the hand.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように同一ハンドにより基板の搬入および搬出を行うと
次のような問題が生じる。例えば、洗浄処理部に対して
上記基板搬送装置により基板搬送を行う場合、洗浄処理
前では未処理基板全体が汚れており、この汚れた未処理
基板を当該基板搬送装置によって洗浄処理部に搬入する
ことでハンドが汚染させてしまうことがあるが、この装
置では当該ハンドによって洗浄処理部から洗浄処理を受
けた基板を搬出しなければならず、その結果、洗浄処理
を行ったにもかかわらず、処理済基板が汚染されてしま
うという問題がある。
However, when the substrates are carried in and out by the same hand as described above, the following problems occur. For example, when a substrate is transferred to the cleaning processing unit by the substrate transfer device, the entire unprocessed substrate is dirty before the cleaning process, and the dirty unprocessed substrate is carried into the cleaning processing unit by the substrate transfer device. This may contaminate the hand, but with this device, the substrate that has undergone the cleaning processing must be carried out from the cleaning processing section by the hand, and as a result, despite the cleaning processing being performed, There is a problem that the processed substrate is contaminated.

【0004】また、上記問題を解消するため、例えば基
板搬送装置に基板搬入専用の搬送ロボットと、基板搬出
専用の搬送ロボットを設け、それぞれ専用の搬送ロボッ
トにより基板搬送を行う技術や、基板搬送装置に2つの
ハンドを設け、一方のハンドにより基板搬入を行うとと
もに、他方のハンドにより基板搬出を行う技術が提案さ
れているが、いずれの提案技術においても装置構成が複
雑となり、基板搬送装置のコストアップを招くという問
題がある。
In order to solve the above-mentioned problems, for example, a substrate transfer device is provided with a transfer robot dedicated to loading a substrate and a transfer robot dedicated to unloading a substrate, and a technique for transferring a substrate by each dedicated transfer robot, and a substrate transfer device. A technique has been proposed in which two hands are provided in one and the substrate is carried in by one hand, and the substrate is carried out by the other hand. However, in any of the proposed techniques, the device configuration becomes complicated and the cost of the substrate transfer device is high. There is a problem that it invites up.

【0005】この発明は、上記課題を解消するためにな
されたもので、簡単な構成で、しかも未処理基板による
悪影響を処理済基板に与えないで、処理部への基板搬入
および処理部からの基板搬出を良好に行うことができる
基板搬送装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and has a simple structure and does not adversely affect the processed substrate by the unprocessed substrate, and carries the substrate into and out of the processing unit. An object of the present invention is to provide a substrate transfer device that can carry out a substrate satisfactorily.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明は、基板に所定
の処理を施す処理部に基板を搬入するとともに、前記処
理部から基板を搬出する基板搬送装置であって、上記目
的を達成するため、前記処理部に対して進退移動自在な
ハンドと、前記ハンドを駆動して前記ハンドを前記処理
部に対して進退移動させる駆動手段と、前記ハンドの上
方の基板保持位置と、当該基板保持位置に対し下方の退
避位置との間を往復自在で、少なくとも一方が前記基板
保持位置に移動することで基板を保持する第1および第
2基板保持手段と、基板の搬入及び搬出動作に応じて、
前記第1および第2基板保持手段のうちの一方を前記基
板保持位置まで移動させるとともに、他方を前記退避位
置に移動させる切換手段と、を備えている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a substrate transfer apparatus for carrying a substrate into a processing unit for performing a predetermined process on the substrate and carrying out the substrate from the processing unit. A hand that is movable back and forth with respect to the processing unit; driving means that drives the hand to move the hand forward and backward with respect to the processing unit; a substrate holding position above the hand; The first and second substrate holding means that can reciprocate between a lower retracted position and at least one of them moves to the substrate holding position, and a loading / unloading operation of the substrate.
And a switching unit that moves one of the first and second substrate holding units to the substrate holding position and the other to the retracted position.

【0007】請求項2の発明では、第1及び第2基板保
持手段はハンドに設けられている。
In the invention of claim 2, the first and second substrate holding means are provided in the hand.

【0008】請求項3の発明では、第1及び第2基板保
持手段はそれぞれ吸着機構を有している。
In the third aspect of the invention, the first and second substrate holding means each have a suction mechanism.

【0009】[0009]

【作用】この発明では、第1および第2基板保持手段が
設けられ、切換手段によって、基板の搬入及び搬出動作
に応じて、これら第1および第2基板保持手段のうちの
一方が基板保持位置に位置して基板を保持するととも
に、他方が退避位置に位置して当該基板と非接触状態に
なる。
According to the present invention, the first and second substrate holding means are provided, and one of the first and second substrate holding means is placed at the substrate holding position by the switching means in response to the substrate loading / unloading operation. And holds the substrate, and the other is placed in the retracted position and is in a non-contact state with the substrate.

【0010】例えば、第1基板保持手段が基板保持位置
に移動して未処理基板を保持した状態のままで、ハンド
が前記処理部に前進することで、当該未処理基板が前記
処理部に搬入される。この基板搬入動作時には、第2基
板保持手段は退避位置にあり、当該未処理基板とは非接
触状態にある。逆に、処理済基板を前記処理部から搬出
する場合には、前記第1基板保持手段が退避位置に移動
する一方、前記第2基板保持手段が基板保持位置に移動
して当該処理済基板を保持する。そして、この状態のま
まで、前記ハンドが前記処理部から後退することで、当
該処理済基板が前記処理部から搬出される。このよう
に、第1および第2基板保持手段のうちの一方が基板搬
入のための専用の基板保持手段として機能するととも
に、他方が基板搬出のための専用の基板保持手段として
機能する。
For example, while the first substrate holding means moves to the substrate holding position and holds the unprocessed substrate, the hand advances to the processing section, so that the unprocessed substrate is carried into the processing section. To be done. During this substrate loading operation, the second substrate holding means is in the retracted position and is in a non-contact state with the unprocessed substrate. On the contrary, when carrying out the processed substrate from the processing section, the first substrate holding means moves to the retracted position while the second substrate holding means moves to the substrate holding position to move the processed substrate. Hold. Then, in this state, the processed substrate is carried out of the processing section by retracting the hand from the processing section. Thus, one of the first and second substrate holding means functions as a dedicated substrate holding means for carrying in the substrate, and the other functions as a dedicated substrate holding means for carrying out the substrate.

【0011】したがって、未処理基板と接触した基板保
持手段が処理済基板と接触することがなくなり、未処理
基板による悪影響を処理済基板に与えないで、処理部へ
の基板搬入および処理部からの基板搬出を良好に行うこ
とができる。しかも、ハンドの数を最小限に抑えること
ができるので、装置の構成が簡素化される。
Therefore, the substrate holding means in contact with the unprocessed substrate does not come into contact with the processed substrate, so that the unprocessed substrate is not adversely affected to the processed substrate and the substrate is loaded into the processing unit and is removed from the processing unit. The substrate can be carried out satisfactorily. Moreover, since the number of hands can be minimized, the structure of the device is simplified.

【0012】[0012]

【実施例】図1は、この発明にかかる基板搬送装置を適
当可能な基板洗浄装置を示す図である。以下、この基板
洗浄装置の概要構成および動作を簡単に説明した後、こ
の発明にかかる基板搬送装置の構成などについて詳細に
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram showing a substrate cleaning apparatus which is suitable for a substrate transfer apparatus according to the present invention. Hereinafter, after briefly explaining the general configuration and operation of the substrate cleaning apparatus, the configuration of the substrate transfer apparatus according to the present invention will be described in detail.

【0013】この基板洗浄装置は、インデクサ部1と、
洗浄処理ユニット2と、基板搬送装置3とで構成されて
いる。このインデクサ部1には、基板を複数枚、例えば
25枚収納可能なカセット4を載置するためのカセット
載置部11が3箇所、方向Xに設けられている。このた
め、図示を省略するAGV(無人搬送車)により当該装
置に搬送されてきたカセット4が各カセット載置部11
に載置されると、インデクサ部1では3つのカセット4
が方向Xに配列されることになり、後で詳説する基板搬
送装置3によるカセット4からの基板の取出しおよびカ
セット4への基板の収納が可能となる。なお、図1にお
いて、符号12は自動搬送ロボットとの間でカセット4
を受渡しするためのくぼみ部を示している。
This substrate cleaning apparatus includes an indexer section 1,
It is composed of a cleaning processing unit 2 and a substrate transfer device 3. The indexer unit 1 is provided with three cassette mounting portions 11 in the direction X for mounting a cassette 4 capable of storing a plurality of substrates, for example, 25 substrates. Therefore, the cassette 4 transported to the apparatus by an AGV (unmanned guided vehicle) (not shown) is transferred to each cassette mounting portion 11
When placed on the indexer unit 1, the three cassettes 4
Are arranged in the direction X, and it becomes possible to take out the substrate from the cassette 4 and store the substrate in the cassette 4 by the substrate transfer device 3 which will be described later in detail. In FIG. 1, reference numeral 12 is a cassette 4 between itself and an automatic transfer robot.
It shows a recessed portion for delivering the.

【0014】洗浄処理ユニット2では、基板の両面(あ
るいは裏面のみ)を洗浄するブラシモジュール21と、
基板を回転させながら基板表面を洗浄するスピン部22
とがインデクサ部1から一定間隔だけ方向Yに離隔した
状態で、カセット4の配列方向Xとほぼ平行に対向配列
されている。また、ブラシモジュール21の上方に、基
板表面に紫外線を照射して基板表面上の有機物を焼いて
灰化する処理、つまりドライ洗浄を実行するUVランプ
ハウス23が配置されている。このように、洗浄処理ユ
ニット2では、複数の洗浄処理部(以下、ブラシモジュ
ール21,スピン部22およびUVランプハウス23を
総称する際には、この用語を用いる)が設けられ、基板
を適当な順序で搬送しながら各洗浄処理部で基板に対し
洗浄処理を行うようになっている。なお、この実施例で
は、図1に示すように、インデクサ部1に対し洗浄処理
ユニット2の背面側にブラシモジュール21からスピン
部22に基板を搬送するための搬送ハンド5が設けられ
ている。
In the cleaning processing unit 2, a brush module 21 for cleaning both surfaces (or only the back surface) of the substrate,
Spin unit 22 for cleaning the substrate surface while rotating the substrate
Are spaced apart from the indexer unit 1 by a certain distance in the direction Y and are arranged to face each other substantially parallel to the arrangement direction X of the cassette 4. Further, above the brush module 21, a UV lamp house 23 is disposed which performs a process of irradiating the substrate surface with ultraviolet rays to burn organic substances on the substrate surface to ash, that is, dry cleaning. As described above, the cleaning processing unit 2 is provided with a plurality of cleaning processing units (hereinafter, this term is used to generically refer to the brush module 21, the spin unit 22, and the UV lamp house 23), and the substrate is appropriately used. The cleaning process is performed on the substrate in each cleaning process section while the substrates are sequentially conveyed. In this embodiment, as shown in FIG. 1, a transfer hand 5 for transferring a substrate from the brush module 21 to the spin unit 22 is provided on the back side of the cleaning processing unit 2 with respect to the indexer unit 1.

【0015】このように構成された基板洗浄装置では、
基板は、例えば以下のようにして洗浄される。まず、後
で詳説する基板搬送装置3によってカセット4から未処
理の基板をブラシモジュール21に搬入し、ブラシモジ
ュール21およびスピン部22でこの順序で洗浄処理を
行った後、同じ基板搬送装置3によって、スピン部23
から基板を搬出し、所定のカセット4内に戻す。なお、
ブラシモジュール21によるブラシ洗浄処理の前に、U
Vランプハウス23によるドライ洗浄処理を行ってもよ
く、洗浄処理の組み合わせは任意である。
In the substrate cleaning apparatus thus constructed,
The substrate is washed, for example, as follows. First, an unprocessed substrate is carried into the brush module 21 from the cassette 4 by the substrate transfer device 3 which will be described in detail later, and after the brush module 21 and the spin unit 22 are cleaned in this order, the same substrate transfer device 3 is used. , Spin unit 23
The substrate is unloaded from the cassette and returned into the predetermined cassette 4. In addition,
Before the brush cleaning process by the brush module 21, U
The V lamp house 23 may perform a dry cleaning process, and the combination of cleaning processes is arbitrary.

【0016】このようにして、基板洗浄装置では、1枚
の基板に所定の洗浄処理を施している。
In this way, in the substrate cleaning apparatus, one substrate is subjected to a predetermined cleaning process.

【0017】次に、基板搬送装置3の詳細について説明
する。
Next, the details of the substrate transfer device 3 will be described.

【0018】図2は、基板搬送装置3を示す斜視図であ
る。この基板搬送装置3は、インデクサ部1と洗浄処理
ユニット2とで挟まれた搬送通路6(図1)に配置され
ている。この搬送通路6では、方向Xに伸びるガイドレ
ール31が基板洗浄装置本体の底部に固定され、そのガ
イドレール31に沿って基台32が往復移動自在となっ
ている。また、この基台32には、図示を省略するX駆
動機構が連結されており、基板洗浄装置全体を制御する
制御部(図示省略)からの指令に応じてX駆動機構が動
作し、基台32を方向Xに移動させる。
FIG. 2 is a perspective view showing the substrate transfer device 3. The substrate transfer device 3 is arranged in a transfer path 6 (FIG. 1) sandwiched between the indexer unit 1 and the cleaning processing unit 2. In the transport passage 6, a guide rail 31 extending in the direction X is fixed to the bottom of the substrate cleaning apparatus body, and a base 32 is reciprocally movable along the guide rail 31. An X drive mechanism (not shown) is connected to the base 32, and the X drive mechanism operates according to a command from a control unit (not shown) that controls the entire substrate cleaning apparatus. 32 is moved in the direction X.

【0019】この基台32には、3軸搬送ロボット33
が固定されており、上記X駆動機構により搬送ロボット
33をカセット4の配列および洗浄処理ユニット2内で
の洗浄処理部の配列に沿って往復移動させ、任意のカセ
ット4あるいは洗浄処理部の前に位置させることができ
るようになっている。
A triaxial transfer robot 33 is mounted on the base 32.
Is fixed, and the transfer robot 33 is reciprocally moved by the X drive mechanism along the arrangement of the cassettes 4 and the arrangement of the cleaning processing units in the cleaning processing unit 2, so that the cassette 4 or the cleaning processing unit can be placed in front of the arbitrary processing unit. It can be positioned.

【0020】この搬送ロボット33は、ロボット本体3
4から垂直方向Zに伸縮するコラム35を有しており、
コラム35に連結されたZ駆動機構(図示省略)が制御
部からの指令を受け、コラム35を方向Zに伸縮駆動す
る。このコラム35の先端には、水平方向に伸びる第1
アーム36の一方端が回転軸A1回りに回転自在に取り
付けられている。また、第1アーム36の他方端に第2
アーム37の一方端が、また第2アーム37の他方端に
ハンド38の一方端が、それぞれ回転軸A2,A3回りに
回転自在となっている。そして、搬送ロボット33に
は、図示を省略しているが、各回転軸A1,A2,A3の
回りに各部を回転させるための駆動源たるモータが組み
込まれている。このため、この搬送ロボット33では、
続いて説明するようにしてハンド38により基板を吸着
保持した状態で、制御部からの指令に応じて、ハンド3
8を三次元的に移動させることができ、搬送ロボット3
3の停止位置に対応するカセット4や洗浄処理部との間
で基板搬入および基板搬出を行うことができる。
The transfer robot 33 includes a robot body 3
4 has a column 35 that expands and contracts in the vertical direction Z,
A Z drive mechanism (not shown) connected to the column 35 receives a command from the controller and drives the column 35 to expand and contract in the direction Z. At the tip of the column 35, the first horizontally extending
One end of the arm 36 is attached rotatably around the rotation axis A1. In addition, a second arm is provided at the other end of the first arm 36.
One end of the arm 37 and the other end of the second arm 37 and one end of the hand 38 are rotatable about the rotation axes A2 and A3, respectively. Although not shown, the transfer robot 33 incorporates a motor as a drive source for rotating each part around each of the rotation axes A1, A2, A3. Therefore, in this transfer robot 33,
In the state where the substrate is sucked and held by the hand 38 as described below, the hand 3 is operated in response to a command from the control unit.
8 can be moved three-dimensionally, and the transfer robot 3
Substrate loading and unloading can be performed between the cassette 4 and the cleaning processing unit corresponding to the stop position of 3.

【0021】図3はハンド38の他方端部の拡大平面図
であり、図4は図3のA−A線断面図であり、図5はハ
ンド38により基板を吸着保持するための構成を示す概
略図である。ハンド38には、図5に示すように、その
長手方向に一定間隔だけ離隔して直方体状の保持部材7
1A,71Aが配置されている。これらの保持部材71
A,71Aは、図4に示すように、ハンド38に設けら
れた凹部38A内でハンド38の上面38Sに対し出退
自在となっており、図示を省略する昇降機構によって上
下往復移動される。また、保持部材71A,71Aの間
に挟まれるようにして、保持部材71A,71Aと同一
構成の保持部材71B,71Bが保持部材71A,71
Aに隣接して配置され、昇降機構によってハンド38の
凹部38B内で上下往復移動されるようになっている。
FIG. 3 is an enlarged plan view of the other end of the hand 38, FIG. 4 is a sectional view taken along the line AA of FIG. 3, and FIG. 5 shows a structure for sucking and holding a substrate by the hand 38. It is a schematic diagram. As shown in FIG. 5, the hand 38 has a rectangular parallelepiped holding member 7 that is separated from the hand 38 by a predetermined distance in the longitudinal direction.
1A and 71A are arranged. These holding members 71
As shown in FIG. 4, A and 71A can freely move in and out of the upper surface 38S of the hand 38 within a recess 38A provided in the hand 38, and are vertically reciprocated by an elevator mechanism (not shown). Further, the holding members 71A, 71B having the same structure as the holding members 71A, 71A are sandwiched between the holding members 71A, 71A.
It is arranged adjacent to A and is vertically reciprocated in the concave portion 38B of the hand 38 by the elevating mechanism.

【0022】保持部材71Aには、上面から側面に至る
略L字状の吸引路72Aが形成され、昇降機構によって
上方位置に移動されると、ハンド38の内部に形成され
たメイン吸引路73Aと連通される(図4)一方、下方
位置に移動されると、保持部材71Aの側面でメイン吸
引路73Aを塞ぐように構成されている(図6)。な
お、保持部材71Bにも、上記と同様に、略L字状の吸
引路72Bが形成されており、、昇降機構による上下方
向における位置に応じて、ハンド38の内部に形成され
たメイン吸引路73Bと連通および遮断が制御される
(図4,図6)。
A substantially L-shaped suction passage 72A extending from the upper surface to the side surface is formed in the holding member 71A. When the holding member 71A is moved to the upper position by the elevating mechanism, a main suction passage 73A formed inside the hand 38 is formed. On the other hand, when it is moved to the lower position, the side surface of the holding member 71A closes the main suction passage 73A (FIG. 6). Note that the holding member 71B also has a substantially L-shaped suction passage 72B formed in the same manner as described above, and the main suction passage formed inside the hand 38 in accordance with the vertical position of the lifting mechanism. Communication with 73B and interruption are controlled (FIGS. 4 and 6).

【0023】メイン吸引路73A,73Bは、図5に示
すように、それぞれオートバルブ74A,74Bを介し
て真空ポンプなどの真空発生源に接続されている。この
ため、例えば、保持部材71A,71Aを上方位置に移
動させて吸引路72Aをメイン吸引路73Aに連通させ
るとともに、オートバルブ74Aを「開」にすると、保
持部材71A,71Aによってハンド38の上面38S
から上方に一定間隔だけ離隔した状態で基板Wが支持さ
れるとともに、基板Wの裏面側に負圧がかかり、保持部
材71A,71Aにより吸着保持される。ただし、この
とき、保持部材71Bについては、下方位置に位置して
基板Wと非接触状態に維持されるとともに、オートバル
ブ74Bは「閉」状態にある。
As shown in FIG. 5, the main suction passages 73A and 73B are connected to a vacuum generating source such as a vacuum pump via auto valves 74A and 74B, respectively. Therefore, for example, when the holding members 71A, 71A are moved to the upper position so that the suction passage 72A communicates with the main suction passage 73A and the automatic valve 74A is opened, the upper surface of the hand 38 is held by the holding members 71A, 71A. 38S
The substrate W is supported in a state of being separated from the above by a predetermined distance, and a negative pressure is applied to the back surface side of the substrate W, and the holding members 71A and 71A suck and hold the substrate W. However, at this time, with respect to the holding member 71B, the holding member 71B is located at the lower position and is kept in non-contact with the substrate W, and the auto valve 74B is in the "closed" state.

【0024】保持部材71A,71Bとオートバルブ7
4A,74Bとの間で、メイン吸引路73A,73Bに
オートバルブ74Cが接続され、このオートバルブ74
Cを開くことで、吸引路72A−メイン73Aおよび吸
引路72B−メイン73Bの間を大気開放可能となって
おり、基板Wの受渡しを容易としている。
Holding members 71A, 71B and auto valve 7
4A and 74B, an auto valve 74C is connected to the main suction passages 73A and 73B.
By opening C, the space between the suction path 72A-main 73A and the suction path 72B-main 73B can be opened to the atmosphere, and the substrate W can be easily transferred.

【0025】このように、この実施例にかかる基板搬送
装置3では、昇降機構によって保持部材71A,71B
の上下方向における位置が切り換えられるとともに、上
記位置の切換えに加え、オートバルブ74A,74B,
74Cを制御することで保持部材71Aによる基板Wの
吸着保持および保持部材71Bによる基板Wの吸着保持
を適宜切り換えるようにしている。すなわち、この実施
例では、昇降機構とオートバルブ74A,74B,74
Cで切換手段が構成されている。
As described above, in the substrate transfer device 3 according to this embodiment, the holding members 71A and 71B are moved by the elevating mechanism.
The vertical position of the auto valves 74A, 74B,
By controlling 74C, the suction holding of the substrate W by the holding member 71A and the suction holding of the substrate W by the holding member 71B are appropriately switched. That is, in this embodiment, the lifting mechanism and the auto valves 74A, 74B, 74
The switching means is composed of C.

【0026】なお、以下の説明の便宜から、この明細書
では、保持部材が上方位置に移動して基板Wを保持可能
となった位置を「基板保持位置」と称する一方、下方位
置に移動して基板Wと非接触状態となる位置を「退避位
置」と称することとする。
For the sake of convenience of the following description, in this specification, the position where the holding member is moved to the upper position to hold the substrate W is referred to as "substrate holding position", while it is moved to the lower position. The position in which the substrate W is not in contact with the substrate W is referred to as a "retracted position".

【0027】次に、上記のように構成された基板搬送装
置3による基板Wの搬送動作を中心に、(1)洗浄処理前
の基板Wを未処理基板用カセット4から取り出す動作、
(2)ブラシモジュール21およびスピン部22での洗浄
処理、(3)洗浄処理後の基板Wをスピン部22から取り
出して処理済基板用カセット4に戻す動作について、順
次説明する。
Next, focusing on the transfer operation of the substrate W by the substrate transfer device 3 configured as described above, (1) an operation of taking out the unprocessed substrate W from the unprocessed substrate cassette 4,
The operation of (2) the cleaning process in the brush module 21 and the spin unit 22, and (3) the operation of taking out the cleaned substrate W from the spin unit 22 and returning it to the processed substrate cassette 4 will be sequentially described.

【0028】まず、搬送ロボット33を方向Xに移動さ
せ、未処理基板用カセット4Aの手前で停止させた後、
コラム35を上昇させてハンド38をカセット4A内の
未処理基板Wの高さよりもわずかに低い位置に位置決め
する(図7)。なお、このとき、ハンド38において
は、保持部材71Aが基板保持位置まで上昇されてハン
ド38の上面38Sから上方に突出して基板Wを支持可
能となるとともに、保持部材71Bは退避位置まで下降
されてハンド38の上面38Sよりも下方に位置してい
る、つまり図4に示すようにハンド38内に埋没してい
る。また、オートバルブ74A,74B,74Cはすべ
て「閉」状態にある。
First, after the transfer robot 33 is moved in the direction X and stopped before the unprocessed substrate cassette 4A,
The column 35 is raised to position the hand 38 at a position slightly lower than the height of the unprocessed substrate W in the cassette 4A (FIG. 7). At this time, in the hand 38, the holding member 71A is raised to the substrate holding position to project upward from the upper surface 38S of the hand 38 to support the substrate W, and the holding member 71B is lowered to the retracted position. It is located below the upper surface 38S of the hand 38, that is, it is buried in the hand 38 as shown in FIG. The auto valves 74A, 74B and 74C are all in the "closed" state.

【0029】そして、各回転軸A1,A2,A3の回りに
各部を回転させるためのモータを駆動して、ハンド38
を未処理基板Wの裏面直下まで前進させる。その後、コ
ラム35をさらに上昇させることで、ハンド38の保持
部材71A,71A上に基板Wを載せた後、保持部材7
1Aと真空発生源との間に接続されたオートバルブ74
Aを「開」にして保持部材71Aによる真空吸着を開始
する。これによって、基板Wはハンド38の上面38S
から一定間隔だけ離隔した状態で保持部材71A上に吸
着保持される。なお、保持部材71Bは、基板Wと非接
触状態に維持される(図8)。
Then, the motor for rotating the respective parts around the respective rotation axes A1, A2, A3 is driven, and the hand 38
Are advanced to just below the back surface of the unprocessed substrate W. After that, the column 35 is further raised to place the substrate W on the holding members 71A and 71A of the hand 38, and then the holding member 7
Auto valve 74 connected between 1A and vacuum source
A is set to "open" to start vacuum suction by the holding member 71A. As a result, the substrate W moves to the upper surface 38S of the hand 38.
Is held by suction on the holding member 71A in a state of being separated from the holding member by a predetermined distance. The holding member 71B is kept in non-contact with the substrate W (FIG. 8).

【0030】上記のようにしてカセット4Aからハンド
38への基板Wの移載が完了すると、ハンド38を後退
させて基板Wをカセット4から抜き出し、さらに搬送ロ
ボット33をブラシモジュール21の基板搬入口まで移
動した後、基板Wを吸着保持したままハンド38をブラ
シモジュール21側に前進させ、ブラシモジュール21
のローダ位置、つまり回転軸RA回りに回転することで
基板Wを所定方向に搬送する搬送ローラ21A上に位置
させる。そして、保持部材71Aと真空発生源との間に
接続されたオートバルブ74Aを「開」にして保持部材
71Aによる基板Wの真空吸着を停止させるとともに、
大気開放用のオートバルブ74Cを「開」にして保持部
材71Aを大気開放して保持部材71Aによる基板Wの
吸着保持を終了させる。その後、コラム35を下降させ
て基板Wを搬送ローラ21上に載置し、基板Wのブラシ
モジュール21への移載を完了する。なお、大気開放用
のオートバルブ74Cを「開」にすることによって基板
Wを吸着保持していない方の保持部材71Bも大気開放
される。
When the transfer of the substrate W from the cassette 4A to the hand 38 is completed as described above, the hand 38 is retracted to take out the substrate W from the cassette 4, and the transfer robot 33 is moved to the substrate loading port of the brush module 21. After moving to the brush module 21, the hand 38 is advanced to the brush module 21 side while holding the substrate W by suction.
The loader position, that is, the substrate W is positioned on the transport roller 21A that transports the substrate W in a predetermined direction by rotating around the rotation axis RA. Then, the auto valve 74A connected between the holding member 71A and the vacuum generation source is opened to stop the vacuum suction of the substrate W by the holding member 71A,
The auto valve 74C for opening to the atmosphere is opened to open the holding member 71A to the atmosphere, and the suction holding of the substrate W by the holding member 71A is completed. Then, the column 35 is lowered to place the substrate W on the transport roller 21, and the transfer of the substrate W to the brush module 21 is completed. The holding member 71B that does not adsorb and hold the substrate W is also opened to the atmosphere by opening the atmospheric opening auto valve 74C.

【0031】それに続いて、上記モータを制御してハン
ド38を後退させて、搬送ロボット33を図7の状態に
戻し、さらに大気開放用オートバルブ74Cを「閉」に
して、次の動作を待つ。このように、この実施例にかか
る基板搬送装置3では、保持部材71Aが基板保持位置
に位置して基板Wを保持するとともに、他方の保持部材
71Bが退避位置に位置して当該基板Wと非接触の状態
のままで、洗浄処理部たるブラシモジュール21への基
板Wの搬入が実行されるため、たとえ洗浄処理前の未処
理基板Wが汚れていたとしても、保持部材71Bの汚染
が防止される。
Subsequently, the motor 38 is controlled to retract the hand 38 to return the transfer robot 33 to the state shown in FIG. 7, and further, the atmosphere opening auto valve 74C is "closed" to wait for the next operation. . As described above, in the substrate transfer device 3 according to the present embodiment, the holding member 71A is located at the substrate holding position to hold the substrate W, and the other holding member 71B is located at the retracted position so as not to contact the substrate W. Since the substrate W is carried in to the brush module 21 that is the cleaning processing unit in the contact state, the holding member 71B is prevented from being contaminated even if the unprocessed substrate W before the cleaning processing is dirty. It

【0032】一方、ブラシモジュール21に渡された基
板Wは、搬送ローラ21Aによって水平姿勢で搬送され
つつロールブラシ(図示省略)をその表裏両面に押し当
てて表裏両面を洗浄する。また、このブラシ洗浄処理が
完了した基板は、搬送ハンド5によってスピン部22に
搬入され、スピンチャック22d(図10)に設けられ
た多数の基板支持ピン22e(図10)によって回転可
能に支持される。そして、スピンチャック22dととも
に基板を回転させつつ、その表面に対して自公転ブラシ
22aによる洗浄処理、超音波洗浄ノズル22bから超
音波振動が加えられた溶液を基板表面にシャワー状に吐
出する超音波シャワー洗浄処理および純水ノズル22c
による純水リンス処理をこの順序で行う。
On the other hand, the substrate W delivered to the brush module 21 is conveyed in a horizontal posture by the conveying roller 21A, and a roll brush (not shown) is pressed against the front and back surfaces to wash both the front and back surfaces. The substrate on which the brush cleaning process has been completed is carried into the spin unit 22 by the transport hand 5, and is rotatably supported by a large number of substrate support pins 22e (FIG. 10) provided on the spin chuck 22d (FIG. 10). It Then, while rotating the substrate together with the spin chuck 22d, a cleaning treatment is performed on the surface of the substrate by the revolving brush 22a, and ultrasonic waves are applied to the surface of the substrate by ultrasonic vibration from the ultrasonic cleaning nozzle 22b. Shower cleaning process and pure water nozzle 22c
The pure water rinsing process is performed in this order.

【0033】このようにしてスピン部22でのスピン洗
浄処理が完了すると、搬送ロボット33をスピン部22
の手前まで移動させる(図10)。このとき、ハンド3
8内において、昇降機構により保持部材71Bが基板保
持位置まで上昇されてハンド38の上面38Sから上方
に突出して基板Wを支持可能とするとともに、保持部材
71Aは退避位置まで下降されて凹部38B内に埋没さ
せる。また、オートバルブ74A,74B,74Cはす
べて「閉」状態にある。一方、スピン部22では、基板
Wがスピンチャック22dの上に載置された状態にあ
る。
When the spin cleaning process in the spin unit 22 is completed in this way, the transfer robot 33 is moved to the spin unit 22.
(Fig. 10). At this time, hand 3
In FIG. 8, the holding member 71B is raised to the substrate holding position by the elevating mechanism to project upward from the upper surface 38S of the hand 38 to support the substrate W, and the holding member 71A is lowered to the retracted position in the recess 38B. To be buried in. The auto valves 74A, 74B and 74C are all in the "closed" state. On the other hand, in the spin unit 22, the substrate W is placed on the spin chuck 22d.

【0034】次に、図11に示すように、スピンチャッ
ク22d上に載置された基板Wを押上げピン(図示省
略)によって上方に押し上げ、搬送ロボット33との基
板受け渡しを可能とする。それに続いて、上記モータを
駆動してハンド38をスピンチャック22d側に前進さ
せ、押し上げピンによって押し上げられている基板Wの
直下位置まで移動させる。そして、押し上げピンを下降
させることで、基板Wをハンド38の上面38Sから突
出している保持部材71Bの上に基板Wを載せる。その
後、保持部材71Bと真空発生源との間に接続されたオ
ートバルブ74Bを「開」にして保持部材71Bによる
真空吸着を開始する。これによって、基板Wはハンド3
8の上面38Sから一定間隔だけ離隔した状態で保持部
材71B上に吸着保持され、保持部材71Aとの接触が
防止される(図12)。したがって、仮に未処理基板の
ブラシモジュール21への搬入時にハンド38の保持部
材71Aが汚れたとしても、洗浄処理部たるスピン部2
2からの処理済基板Wの搬出を保持部材71Bによって
行い、保持部材71Aの接触を防止しているため、処理
済基板Wの汚染を防止することができる。
Next, as shown in FIG. 11, the substrate W placed on the spin chuck 22d is pushed upward by a push-up pin (not shown), and the substrate can be transferred to and from the transfer robot 33. Subsequently, the motor is driven to move the hand 38 forward to the spin chuck 22d side and move it to a position directly below the substrate W pushed up by the push-up pin. Then, by lowering the push-up pin, the substrate W is placed on the holding member 71B protruding from the upper surface 38S of the hand 38. After that, the auto valve 74B connected between the holding member 71B and the vacuum source is opened, and the vacuum suction by the holding member 71B is started. As a result, the substrate W is moved to the hand 3
8 is sucked and held on the holding member 71B in a state of being separated from the upper surface 38S of 8 by a constant distance, and contact with the holding member 71A is prevented (FIG. 12). Therefore, even if the holding member 71A of the hand 38 is contaminated when the unprocessed substrate is loaded into the brush module 21, the spin unit 2 that is the cleaning processing unit.
The processed substrate W is unloaded from the substrate 2 by the holding member 71B, and the holding member 71A is prevented from coming into contact with the processed member W, so that the processed substrate W can be prevented from being contaminated.

【0035】その後、上記モータを駆動して、保持部材
71Bによって基板Wを吸着保持したままの状態でハン
ド38を処理済基板用カセット4B側に移動させる。そ
して、保持部材71Bと真空発生源との間に接続された
オートバルブ74Bを「開」にして保持部材71Bによ
る基板Wの真空吸着を停止させるとともに、大気開放用
のオートバルブ74Cを「開」にして保持部材71Bを
大気開放して保持部材71Bによる基板Wの吸着保持を
終了させる。その後、コラム35を下降させて基板Wを
カセット4B内の所定の棚の上に載置し、処理済みの基
板Wのカセット4Bへの移載を完了する。なお、大気開
放用のオートバルブ74Cを「開」にすることによって
基板Wを吸着保持していない方の保持部材71Aも開放
される。
After that, the motor is driven to move the hand 38 to the processed substrate cassette 4B side while the substrate W is suction-held by the holding member 71B. Then, the auto valve 74B connected between the holding member 71B and the vacuum generation source is "opened" to stop the vacuum suction of the substrate W by the holding member 71B, and the auto valve 74C for opening to the atmosphere is "opened". Then, the holding member 71B is opened to the atmosphere, and the suction holding of the substrate W by the holding member 71B is completed. Then, the column 35 is lowered to place the substrate W on a predetermined shelf in the cassette 4B, and the transfer of the processed substrate W to the cassette 4B is completed. The holding member 71A that is not holding the substrate W by suction is also opened by opening the auto valve 74C for opening to the atmosphere.

【0036】それに続いて、上記モータを駆動してハン
ド38をカセット4Bから後退させ、図10の状態に戻
り、最後に大気開放用オートバルブ74Cを「閉」にし
て、次の動作を待つ。
Subsequently, the motor 38 is driven to retract the hand 38 from the cassette 4B to return to the state shown in FIG. 10, and finally the atmospheric opening auto valve 74C is "closed" to wait for the next operation.

【0037】以上のように、この実施例では、保持部材
71Aを洗浄処理部への基板の搬入専用の基板保持手段
として機能させる一方、保持部材71Bを洗浄処理部か
らの基板の搬出専用の基板保持手段として機能させてい
るため、未処理基板と接触した基板保持手段が処理済基
板と接触することがなくなり、未処理基板による悪影響
を処理済基板に与えないで、処理部への基板搬入および
処理部からの基板搬出を良好に行うことができる。しか
も、ハンドの数を最小限、つまり1個に抑えることがで
き、装置構成の簡素化を図ることができる。
As described above, in this embodiment, the holding member 71A functions as a substrate holding means dedicated to carrying the substrate into the cleaning processing section, while the holding member 71B is used to carry the substrate out of the cleaning processing section. Since it functions as a holding unit, the substrate holding unit that comes into contact with the unprocessed substrate does not come into contact with the processed substrate, and the unprocessed substrate is not adversely affected by the unprocessed substrate and the substrate is not loaded into the processing unit. It is possible to favorably carry out the substrate from the processing section. Moreover, the number of hands can be minimized, that is, to one, and the device configuration can be simplified.

【0038】なお、上記実施例では保持部材71A,7
1Bを両者とも昇降自在で説明したが、一方のみ昇降自
在であれば、同様の効果を達成できる。すなわち、一方
がハンド38より上方に突出し、他方がハンド面高さの
退避位置と一方の突出高さよりさらに上方の基板保持位
置間で昇降自在であればよい。
In the above embodiment, the holding members 71A, 7A
Although both 1B have been described as being vertically movable, the same effect can be achieved if only one is vertically movable. That is, it is only necessary that one protrudes upward from the hand 38 and the other can move up and down between the retracted position of the hand surface height and the substrate holding position further above one protruding height.

【0039】なお、上記実施例では、保持部材71A,
71Bの両者とも退避位置においてハンド38の上面3
8Sよりも下方に位置してハンド38内に埋没するよう
に構成されていたが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、保持部材は退避位置においてハンドに埋没する
必要はない。さらに、上記実施例ではガイドレール31
が基板洗浄装置本体の底部に固定されていたが、ガイド
レール31を基板洗浄装置本体の側壁に固定してもよ
い。また、上記実施例では直方体状の保持部材71A,
71Bが用いられていたが、保持部材の形状は直方体に
限定されるものではなく、種々の形状とすることができ
る。
In the above embodiment, the holding members 71A,
Both 71B are in the retracted position and the upper surface 3 of the hand 38
Although it is configured to be located below 8S and buried in the hand 38, the present invention is not limited to this, and the holding member does not need to be buried in the hand at the retracted position. Further, in the above embodiment, the guide rail 31
Is fixed to the bottom of the substrate cleaning apparatus main body, the guide rail 31 may be fixed to the side wall of the substrate cleaning apparatus main body. In addition, in the above-mentioned embodiment, the rectangular parallelepiped holding member 71A,
Although 71B was used, the shape of the holding member is not limited to a rectangular parallelepiped, and various shapes can be used.

【0040】なお、上記実施例では、保持部材71A,
71Bをそれぞれ異なった位置に設け、これらの保持部
材71A,71Bを選択的に上下移動させているが、以
下のようにしてもよい。
In the above embodiment, the holding members 71A,
71B are provided at different positions, and the holding members 71A and 71B are selectively moved up and down, but the following may be adopted.

【0041】図14は、この発明のかかる基板搬送装置
の変形例を示す図である。同図に示すように、この装置
では、ハンド38の上面38S側に、上面38S方向に
開口を有する凹部38Cが設けられ、この凹部38C内
で保持部材81が回転軸82回りに回転自在となってい
る。また、この保持部材81には、基板Wと面接触可能
な平面81A,81Bが形成されており、図示を省略す
る回転駆動機構により保持部材81を回転軸82回りに
回転させることで、これら平面81A,81Bがそれぞ
れハンド38の上面38Sから突出して基板Wを支持可
能となっている。例えば、同図(a)に示すように、平面
81Aが上方を向いた状態となった場合には、この平面
81Aに基板Wを載置可能となる。さらに、保持部材8
1には、略L字状の吸引路83A,83Bがそれぞれ平
面81A,81Bに至るようにして形成され、平面81
Aが上方を向く(同図(a))と、吸引路83Aがハンド
38内に形成されたメイン吸引路84と連通される一
方、平面81Bが上方を向く(同図(c))と、吸引路8
3Bがメイン吸引路84と連通されるように構成されて
いる。
FIG. 14 is a view showing a modified example of the substrate transfer device according to the present invention. As shown in the figure, in this device, a concave portion 38C having an opening in the direction of the upper surface 38S is provided on the upper surface 38S side of the hand 38, and the holding member 81 is rotatable around the rotation shaft 82 in the concave portion 38C. ing. Further, the holding member 81 is formed with flat surfaces 81A and 81B capable of making surface contact with the substrate W. By rotating the holding member 81 around a rotation shaft 82 by a rotation drive mechanism (not shown), these flat surfaces are formed. 81A and 81B respectively project from the upper surface 38S of the hand 38 and can support the substrate W. For example, as shown in FIG. 7A, when the flat surface 81A faces upward, the substrate W can be placed on the flat surface 81A. Further, the holding member 8
In FIG. 1, substantially L-shaped suction paths 83A and 83B are formed so as to reach the planes 81A and 81B, respectively.
When A faces upward ((a) in the figure), the suction passage 83A communicates with the main suction passage 84 formed in the hand 38, while the flat surface 81B faces upward ((c) in the figure). Suction path 8
3B is configured to communicate with the main suction passage 84.

【0042】したがって、例えば未処理基板Wを洗浄処
理部に搬入する場合には、保持部材81の平面81Aを
上方側に位置させることで、この平面81Aによって基
板Wの吸着保持を行うことができる一方、未処理基板W
を洗浄処理部から搬出する場合には、保持部材81の平
面81Bを上方側に位置させることで、この平面81B
によって基板Wの吸着保持を行うことができる。つま
り、基板の搬入及び搬出動作に応じて、回転駆動機構に
よって保持部材81を回転させることで、基板Wを吸着
保持する面を切り換えることができ、その結果、未処理
基板と接触した基板保持手段(平面81A)が処理済基
板と接触することがなくなり、上記実施例と同様の効果
が得られる。
Therefore, for example, when the unprocessed substrate W is carried into the cleaning processing section, the flat surface 81A of the holding member 81 is located on the upper side so that the flat surface 81A can suck and hold the substrate W. On the other hand, untreated substrate W
When unloading the flat surface 81B from the cleaning processing unit, the flat surface 81B of the holding member 81 is positioned on the upper side,
Thus, the substrate W can be suction-held. That is, the surface for sucking and holding the substrate W can be switched by rotating the holding member 81 by the rotation drive mechanism in accordance with the loading and unloading operations of the substrate, and as a result, the substrate holding means in contact with the unprocessed substrate. (Plane 81A) does not come into contact with the processed substrate, and the same effect as that of the above embodiment can be obtained.

【0043】また、この変形例では、保持部材81の回
転移動によって吸引経路を切り換えているため、上記実
施例に比べて配管がシンプルになるという効果がある。
Further, in this modified example, since the suction path is switched by the rotational movement of the holding member 81, there is an effect that the piping becomes simpler as compared with the above-mentioned embodiment.

【0044】なお、上記においては、本願発明を基板洗
浄装置に適用した場合について説明したが、この発明の
適用可能な装置は、上記基板洗浄装置に限定されるもの
ではなく、基板に対して所定の処理を施す処理部を備え
た基板処理装置全般に適用することができる。
In the above description, the case where the present invention is applied to the substrate cleaning apparatus has been described. However, the apparatus to which the present invention is applicable is not limited to the above substrate cleaning apparatus, and a predetermined substrate may be used. The present invention can be applied to all substrate processing apparatuses provided with a processing unit that performs the above processing.

【0045】また、上記においては、基板を保持部材に
よって吸着保持しているが、メカピンなどの保持部材に
よって機械的に基板を保持するようにしてもよい。
Further, in the above, the substrate is sucked and held by the holding member, but the substrate may be mechanically held by a holding member such as a mechanical pin.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、切換
手段を設け、基板の搬入および搬出動作に応じて、第1
および第2基板保持手段のうちの一方が基板保持位置ま
で移動したとき、他方は退避位置にあって当該基板との
接触を防止しているので、簡単な構成で、しかも未処理
基板による悪影響を処理済基板に与えないで、処理部へ
の基板搬入および処理部からの基板搬出を良好に行うこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the switching means is provided, and the first means is provided according to the loading and unloading operations of the substrate.
When one of the second substrate holding means and the second substrate holding means moves to the substrate holding position, the other one is in the retracted position to prevent contact with the substrate, so that the structure is simple and there is no adverse effect due to the unprocessed substrate. It is possible to favorably carry the substrate in and out of the processing unit without giving it to the processed substrate.

【0047】また、請求項2の発明では、未処理基板に
よる悪影響を処理済基板に悪影響を与えないで、処理部
への基板搬入および処理部からの基板搬出が良好に行う
ことができる。
Further, according to the second aspect of the present invention, the substrate can be carried in and out of the processing section satisfactorily without adversely affecting the processed substrate by the adverse effect of the unprocessed substrate.

【0048】請求項3の発明では、確実に基板を保持で
きるとともに、未処理基板による悪影響を処理済基板に
悪影響を与えないで、処理部への基板搬入および処理部
からの基板搬出が良好に行うことができる。
According to the third aspect of the present invention, the substrate can be surely held, and the unprocessed substrate is not adversely affected by the untreated substrate, and the substrate can be carried in and out of the processing section favorably. It can be carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明にかかる基板搬送装置が組み込まれた
基板処理装置の一例を示す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing an example of a substrate processing apparatus in which a substrate transfer apparatus according to the present invention is incorporated.

【図2】基板搬送装置の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a substrate transfer device.

【図3】ハンドの部分拡大平面図である。FIG. 3 is a partially enlarged plan view of a hand.

【図4】図3のA−A線断面図である。4 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図5】ハンドにより基板を吸着保持するための構成を
示す概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration for sucking and holding a substrate with a hand.

【図6】図3のA−A線断面図である。6 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図7】洗浄処理前の基板を未処理基板用カセットから
取り出す動作を説明するための図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining an operation of taking out a substrate before a cleaning process from an unprocessed substrate cassette.

【図8】洗浄処理前の基板を未処理基板用カセットから
取り出す動作を説明するための図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining an operation of taking out a substrate before a cleaning process from an unprocessed substrate cassette.

【図9】洗浄処理前の基板を未処理基板用カセットから
取り出す動作を説明するための図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining an operation of taking out a substrate before a cleaning process from an unprocessed substrate cassette.

【図10】洗浄処理後の基板Wをスピン部から取り出し
て処理済基板用カセットに戻す動作を説明するための図
である。
FIG. 10 is a diagram for explaining the operation of taking out the substrate W after the cleaning processing from the spin unit and returning it to the processed substrate cassette.

【図11】洗浄処理後の基板Wをスピン部から取り出し
て処理済基板用カセットに戻す動作を説明するための図
である。
FIG. 11 is a diagram for explaining the operation of taking out the substrate W after the cleaning processing from the spin unit and returning it to the processed substrate cassette.

【図12】洗浄処理後の基板Wをスピン部から取り出し
て処理済基板用カセットに戻す動作を説明するための図
である。
FIG. 12 is a view for explaining the operation of taking out the substrate W after the cleaning processing from the spin unit and returning it to the processed substrate cassette.

【図13】洗浄処理後の基板Wをスピン部から取り出し
て処理済基板用カセットに戻す動作を説明するための図
である。
FIG. 13 is a view for explaining the operation of taking out the substrate W after the cleaning processing from the spin unit and returning it to the processed substrate cassette.

【図14】この発明にかかる基板搬送装置の変形例を示
す部分断面図である。
FIG. 14 is a partial cross-sectional view showing a modified example of the substrate transfer device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ブラシ洗浄部 3 基板搬送装置 21 ブラシモジュール 22 スピン部 23 UVランプハウス 38 ハンド 71A,71B,81 保持部材 2 Brush Cleaning Section 3 Substrate Transfer Device 21 Brush Module 22 Spin Section 23 UV Lamp House 38 Hands 71A, 71B, 81 Holding Member

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に所定の処理を施す処理部に基板を
搬入するとともに、前記処理部から基板を搬出する基板
搬送装置であって、 前記処理部に対して進退移動自在なハンドと、 前記ハンドを駆動して前記ハンドを前記処理部に対して
進退移動させる駆動手段と、 前記ハンドの上方の基板保持位置と、当該基板保持位置
に対し下方側の退避位置との間を往復自在で、少なくと
も一方が前記基板保持位置に移動することで基板を保持
する第1および第2基板保持手段と、 基板の搬入および搬出動作に応じて、前記第1および第
2基板保持手段のうちの一方を前記基板保持位置まで移
動させるとともに、他方を前記退避位置に移動させる切
換手段と、を備えたことを特徴とする基板搬送装置。
1. A substrate transfer device for loading a substrate into a processing unit that performs a predetermined process on the substrate and unloading the substrate from the processing unit, wherein the hand is movable back and forth with respect to the processing unit. A driving unit that drives the hand to move the hand forward and backward with respect to the processing unit, a substrate holding position above the hand, and a retreat position lower than the substrate holding position can be reciprocally moved. At least one of the first and second substrate holding means holds the substrate by moving to the substrate holding position, and one of the first and second substrate holding means depending on the substrate loading / unloading operation. A substrate transfer apparatus comprising: a switching unit that moves the substrate to the substrate holding position and moves the other to the retracted position.
【請求項2】 前記第1及び第2基板保持手段が前記ハ
ンドに設けられている請求項1に記載の基板搬送装置。
2. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the first and second substrate holding means are provided in the hand.
【請求項3】 前記第1及び第2基板保持手段がそれぞ
れ吸着機構を有している請求項1または2に記載の基板
搬送装置。
3. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein each of the first and second substrate holding means has a suction mechanism.
JP6083299A 1994-04-21 1994-04-21 Substrate carrying system Pending JPH07297154A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012130985A (en) * 2010-12-21 2012-07-12 Kawasaki Heavy Ind Ltd End effector for transfer robot
JP2017224657A (en) * 2016-06-13 2017-12-21 東京エレクトロン株式会社 Substrate transfer device and substrate transfer method
JP2020080407A (en) * 2016-06-13 2020-05-28 東京エレクトロン株式会社 Substrate transfer device and method for detecting abnormality in substrate transfer device
JP2021019115A (en) * 2019-07-22 2021-02-15 株式会社ディスコ Processing equipment

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