JPH07186375A - 印刷物の検査方法 - Google Patents
印刷物の検査方法Info
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- JPH07186375A JPH07186375A JP5333897A JP33389793A JPH07186375A JP H07186375 A JPH07186375 A JP H07186375A JP 5333897 A JP5333897 A JP 5333897A JP 33389793 A JP33389793 A JP 33389793A JP H07186375 A JPH07186375 A JP H07186375A
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- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 インラインにおいて印刷物の欠陥検出が正確
に行われ、従来技術では非検査領域とされていたエッジ
部の検査が出来る印刷物の検査方法を提供する。 【構成】 印刷部１から給送される印刷物の絵柄情報を
ロータリエンコーダ５から得られるサンプリングタイミ
ングに応じて画素毎に検出部４により取り込み処理回路
６に入力する。処理回路６では、正常な印刷物の絵柄情
報を取り込んだ画像を最小値フィルタ及び／又は最大値
フィルタによりフィルタ処理を施して基準画像を作り、
これと検査画像と比較して差分値を求め、この差分値と
許容値（閾値）とを比較して欠陥を検出する。
に行われ、従来技術では非検査領域とされていたエッジ
部の検査が出来る印刷物の検査方法を提供する。 【構成】 印刷部１から給送される印刷物の絵柄情報を
ロータリエンコーダ５から得られるサンプリングタイミ
ングに応じて画素毎に検出部４により取り込み処理回路
６に入力する。処理回路６では、正常な印刷物の絵柄情
報を取り込んだ画像を最小値フィルタ及び／又は最大値
フィルタによりフィルタ処理を施して基準画像を作り、
これと検査画像と比較して差分値を求め、この差分値と
許容値（閾値）とを比較して欠陥を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷中の印刷物の状態
をインラインで基準物と比較して印刷物の異常を検出す
る印刷物の検査方法に関する。
をインラインで基準物と比較して印刷物の異常を検出す
る印刷物の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、印刷物の検査はオフラインで人間
の視覚に頼って行われるものが主流であった。これは印
刷物における正異常の判断が人間の視覚を頼らざるを得
ない微妙な差によって行われるためである。一方、印刷
中の印刷物に高速で同期回転するミラーにより印刷物の
絵柄を静止画像としてとらえる手段や印刷速度に同期し
たストロボ照明により検査精度を向上させる手段が採用
されている。しかし、これ等はいずれも人間の視覚によ
って検査する方法である。一方、最近ではラインセンサ
を用いて印刷中の印刷物をインラインで検査するシステ
ムが採用されてきている。このシステムは、印刷物の絵
柄情報を画素毎に取り込み、この画像を画素毎に基準画
像と比較して印刷中に発生した異常を検出するものであ
る。
の視覚に頼って行われるものが主流であった。これは印
刷物における正異常の判断が人間の視覚を頼らざるを得
ない微妙な差によって行われるためである。一方、印刷
中の印刷物に高速で同期回転するミラーにより印刷物の
絵柄を静止画像としてとらえる手段や印刷速度に同期し
たストロボ照明により検査精度を向上させる手段が採用
されている。しかし、これ等はいずれも人間の視覚によ
って検査する方法である。一方、最近ではラインセンサ
を用いて印刷中の印刷物をインラインで検査するシステ
ムが採用されてきている。このシステムは、印刷物の絵
柄情報を画素毎に取り込み、この画像を画素毎に基準画
像と比較して印刷中に発生した異常を検出するものであ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】印刷物は定常運転で印
刷されていても微妙に蛇行したり伸縮したりする。従っ
て、単純に基準画像と取り込み画像とを画素毎に比較し
て行くと絵柄のエッジ部で著しい差異が生じ正常な印刷
物を異常と誤判定する問題点が生じる。位置合わせを正
確に行う方法は画像処理の分野では色々研究されている
が、印刷物の絵柄検査の場合には検査対象が大きく、解
像度も細かくする必要があり、かつデータ量も膨大で印
刷スピードも高速のため位置合わせを正確にした上で実
用上エッジ部を検査することは不可能である。このた
め、従来方式では、エッジ部をマスクして非検査領域と
していた。なお、マスク部は微分，ソベールフィルタ等
のエッジ検出処理によりエッジ部を抽出し、それを２値
化して２値マスクとして用いる。以上のように、従来技
術ではエッジ部を非検査領域としてマスクしてしまうた
め、この領域に異常が発生しても検出されないという問
題点がある。
刷されていても微妙に蛇行したり伸縮したりする。従っ
て、単純に基準画像と取り込み画像とを画素毎に比較し
て行くと絵柄のエッジ部で著しい差異が生じ正常な印刷
物を異常と誤判定する問題点が生じる。位置合わせを正
確に行う方法は画像処理の分野では色々研究されている
が、印刷物の絵柄検査の場合には検査対象が大きく、解
像度も細かくする必要があり、かつデータ量も膨大で印
刷スピードも高速のため位置合わせを正確にした上で実
用上エッジ部を検査することは不可能である。このた
め、従来方式では、エッジ部をマスクして非検査領域と
していた。なお、マスク部は微分，ソベールフィルタ等
のエッジ検出処理によりエッジ部を抽出し、それを２値
化して２値マスクとして用いる。以上のように、従来技
術ではエッジ部を非検査領域としてマスクしてしまうた
め、この領域に異常が発生しても検出されないという問
題点がある。
【０００４】本発明は、以上の事情に鑑みて創案された
ものであり、インラインにおいて印刷物の検査が正確に
行われ、従来技術では困難とされていたエッジ部領域の
検査が可能な印刷物の検査方法を提供することを目的と
する。
ものであり、インラインにおいて印刷物の検査が正確に
行われ、従来技術では困難とされていたエッジ部領域の
検査が可能な印刷物の検査方法を提供することを目的と
する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、以上の目的を
達成するために、正常印刷物の絵柄情報を画素毎に取り
込んだ画像に最小値フィルタ及び／又は最大値フィルタ
を施した画像を基準画像とし、被検査物の印刷物の絵柄
情報を画素毎に取り込んだ画像を検査画像とし、該検査
画像と前記基準画像との差分値を演算し、その差分値と
許容値とを比較して異常の有無を検出する印刷物の検査
方法を特徴とするものである。ここで最小値フィルタ又
は最大値フィルタは、注目画像の近傍ｎ×ｍ画素中の最
小値又は最大値を前記注目画素の新しい値とする処理を
行うフィルタである。
達成するために、正常印刷物の絵柄情報を画素毎に取り
込んだ画像に最小値フィルタ及び／又は最大値フィルタ
を施した画像を基準画像とし、被検査物の印刷物の絵柄
情報を画素毎に取り込んだ画像を検査画像とし、該検査
画像と前記基準画像との差分値を演算し、その差分値と
許容値とを比較して異常の有無を検出する印刷物の検査
方法を特徴とするものである。ここで最小値フィルタ又
は最大値フィルタは、注目画像の近傍ｎ×ｍ画素中の最
小値又は最大値を前記注目画素の新しい値とする処理を
行うフィルタである。
【０００６】
【作用】正常印刷物をラインスキャナ等でその絵柄情報
を画素毎に取り込み、これに最小値フィルタ及び／又は
最大値フィルタによるフィルタ処理を施して基準画像を
作成する。一方、検査対象の印刷物の絵柄情報を画素毎
に取り込み検査画像とする。この検査画像と基準画像と
の全画素を比較してその差分値を求める。この差分値と
予め定めた許容値を比較し、差分値が許容値を越した場
合には、印刷された絵柄に異常があると判断し、その印
刷物を異常と判定する。以上の画像処理はインラインに
おいて自動的に行われる。
を画素毎に取り込み、これに最小値フィルタ及び／又は
最大値フィルタによるフィルタ処理を施して基準画像を
作成する。一方、検査対象の印刷物の絵柄情報を画素毎
に取り込み検査画像とする。この検査画像と基準画像と
の全画素を比較してその差分値を求める。この差分値と
予め定めた許容値を比較し、差分値が許容値を越した場
合には、印刷された絵柄に異常があると判断し、その印
刷物を異常と判定する。以上の画像処理はインラインに
おいて自動的に行われる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づき説明
する。図１は本実施例の概要構成を示す配置図、図２乃
至図９は基準画像，検査画像の内容と本実施例の検査方
法を説明する説明図、図１０はエッジ部の検査方法を説
明するための部分画像図、図１１はエッジ部の検査方法
を説明するための画素階調値−度数線図、図１２は本実
施例の処理回路のブロック図である。
する。図１は本実施例の概要構成を示す配置図、図２乃
至図９は基準画像，検査画像の内容と本実施例の検査方
法を説明する説明図、図１０はエッジ部の検査方法を説
明するための部分画像図、図１１はエッジ部の検査方法
を説明するための画素階調値−度数線図、図１２は本実
施例の処理回路のブロック図である。
【０００８】まず、図１により本実施例とそれが適用さ
れる印刷装置の概要を説明する。図では本実施例の検査
装置は輪転機に取り付けられているが、枚葉印刷機や巻
き返し検品機のような用紙を一定速度で搬送する機構を
有する機械であれば適用される。ロール状の巻き取りウ
エブ２より供給された帯状の印刷用紙３は印刷部１で各
色の印刷が行われる。検査装置は全色が印刷された後の
印刷状態を検査するため最終色印刷部の後に取り付けら
れる。印刷部１のローラの１つにとりつけたロータリエ
ンコーダ５はサンプリングのタイミングを取り、処理回
路６に入力する。検出部４は印刷用紙３の印刷物の絵柄
を読み取るもので印刷用紙３と相対向して配置される。
検出部４のラインセンサ等により絵柄情報を印刷用紙３
の流れ方向と直交する方向に走査して読み取りを行う。
すなわち、ラインセンサの走査を主走査とし、印刷用紙
３の流れを副走査とし印刷物の絵柄を画素単位で処理回
路６に取り込む。処理回路６は後に詳説するが、印刷物
の正常，異常の判定を行う。その判定結果が異常の場合
はアラーム，マーキング，リジェクト等の手段で対応す
る。
れる印刷装置の概要を説明する。図では本実施例の検査
装置は輪転機に取り付けられているが、枚葉印刷機や巻
き返し検品機のような用紙を一定速度で搬送する機構を
有する機械であれば適用される。ロール状の巻き取りウ
エブ２より供給された帯状の印刷用紙３は印刷部１で各
色の印刷が行われる。検査装置は全色が印刷された後の
印刷状態を検査するため最終色印刷部の後に取り付けら
れる。印刷部１のローラの１つにとりつけたロータリエ
ンコーダ５はサンプリングのタイミングを取り、処理回
路６に入力する。検出部４は印刷用紙３の印刷物の絵柄
を読み取るもので印刷用紙３と相対向して配置される。
検出部４のラインセンサ等により絵柄情報を印刷用紙３
の流れ方向と直交する方向に走査して読み取りを行う。
すなわち、ラインセンサの走査を主走査とし、印刷用紙
３の流れを副走査とし印刷物の絵柄を画素単位で処理回
路６に取り込む。処理回路６は後に詳説するが、印刷物
の正常，異常の判定を行う。その判定結果が異常の場合
はアラーム，マーキング，リジェクト等の手段で対応す
る。
【０００９】処理回路６は図１２に示すように、ロータ
リエンコーダ５と連結されるタイミングコントローラ７
と、検出部４に連結して検出信号をＡ／Ｄ交換するＡ／
Ｄコンバータ８と、検査画像を格納する検査画像格納メ
モリ９と、基準画像を格納する最小値画像格納メモリ１
０および最大値画像格納メモリ１１と、最小値および最
大値画像格納メモリ１０，１１を作成するための最小値
フィルタ回路１２および最大値格納フィルタ回路１３
と、検査画像と基準画像の差分値を求める差分回路１４
と、差分処理された欠陥候補画像を格納する欠陥候補画
像格納メモリ１５，１６と、予め決めた許容値（閾値）
により欠陥候補画像を２値化処理する２値化回路１７，
１８と、許容値を越える差分値を有する欠陥候補画像を
異常画像として格納する欠陥画像格納メモリ１９等から
構成される。
リエンコーダ５と連結されるタイミングコントローラ７
と、検出部４に連結して検出信号をＡ／Ｄ交換するＡ／
Ｄコンバータ８と、検査画像を格納する検査画像格納メ
モリ９と、基準画像を格納する最小値画像格納メモリ１
０および最大値画像格納メモリ１１と、最小値および最
大値画像格納メモリ１０，１１を作成するための最小値
フィルタ回路１２および最大値格納フィルタ回路１３
と、検査画像と基準画像の差分値を求める差分回路１４
と、差分処理された欠陥候補画像を格納する欠陥候補画
像格納メモリ１５，１６と、予め決めた許容値（閾値）
により欠陥候補画像を２値化処理する２値化回路１７，
１８と、許容値を越える差分値を有する欠陥候補画像を
異常画像として格納する欠陥画像格納メモリ１９等から
構成される。
【００１０】次に、本実施例の検査方法について説明す
る。図２に示すＡは正常な印刷物であり（以下、印刷物
Ａという）、印刷物Ｂは印刷欠陥を有する印刷物を示
す。なお、印刷物Ｂの欠陥２０はゴミ，インキなどの付
着によるものであり、欠陥２１はインキが部分的に付着
しないピンホール的欠陥である。なお、画素の階調値は
暗い部分が小さく、明るい部分を大きく規定すると欠陥
２０の階調値が小さく欠陥２１の階調値は大きな値とな
る。印刷物Ａの絵柄情報を画素毎に取り込んだ画像を画
像Ｃとし図４に示す。一方、印刷物Ｂの絵柄情報を画素
毎に取り込んだ画像を画像Ｆとし図７に示す。この画像
Ｆが検査画像に相当する。画像Ｃに対し最小値フィルタ
を施した画像を画像Ｄとして図５に示す。この画像Ｄが
第１の基準画像となる。一方、画像Ｃに対し最大値フィ
ルタ施した画像を画像Ｅとして図６に示す。この画像Ｅ
が第２の基準画像となる。
る。図２に示すＡは正常な印刷物であり（以下、印刷物
Ａという）、印刷物Ｂは印刷欠陥を有する印刷物を示
す。なお、印刷物Ｂの欠陥２０はゴミ，インキなどの付
着によるものであり、欠陥２１はインキが部分的に付着
しないピンホール的欠陥である。なお、画素の階調値は
暗い部分が小さく、明るい部分を大きく規定すると欠陥
２０の階調値が小さく欠陥２１の階調値は大きな値とな
る。印刷物Ａの絵柄情報を画素毎に取り込んだ画像を画
像Ｃとし図４に示す。一方、印刷物Ｂの絵柄情報を画素
毎に取り込んだ画像を画像Ｆとし図７に示す。この画像
Ｆが検査画像に相当する。画像Ｃに対し最小値フィルタ
を施した画像を画像Ｄとして図５に示す。この画像Ｄが
第１の基準画像となる。一方、画像Ｃに対し最大値フィ
ルタ施した画像を画像Ｅとして図６に示す。この画像Ｅ
が第２の基準画像となる。
【００１１】次に、最小値フィルタおよび最大値フィル
タによるフィルタ処理の具体的方法を説明する。最小値
フィルタは画像Ｃの各画素を注目画素とし、注目画素の
近傍のｎ×ｍ画素を選択しその枠内における階調値の最
も小さい値を求め、その値を注目画素の階調値とする処
理を逐次行う。一方、最大値フィルタは画像Ｃの各画素
を注目画素とし、注目画素の近傍のｎ×ｍ画素を選定し
その枠内における階調値の最も大きい値を求め、その値
を注目画素の階調値とする処理を行うものである。な
お、ｎ，ｍは用紙の蛇行量，伸縮量，画像のボケ具合等
を勘案して決められるもので適宜設定される。
タによるフィルタ処理の具体的方法を説明する。最小値
フィルタは画像Ｃの各画素を注目画素とし、注目画素の
近傍のｎ×ｍ画素を選択しその枠内における階調値の最
も小さい値を求め、その値を注目画素の階調値とする処
理を逐次行う。一方、最大値フィルタは画像Ｃの各画素
を注目画素とし、注目画素の近傍のｎ×ｍ画素を選定し
その枠内における階調値の最も大きい値を求め、その値
を注目画素の階調値とする処理を行うものである。な
お、ｎ，ｍは用紙の蛇行量，伸縮量，画像のボケ具合等
を勘案して決められるもので適宜設定される。
【００１２】次に、第１および第２の基準画像（画像Ｄ
と画像Ｅ）を用いて検査画像である画像Ｆの欠陥を検出
する方法を説明する。検査方法は基準画像と検査画像を
画素毎に比較してその差分値を求める。まず、画像Ｄか
ら画像Ｆの各画素の階調値の差分を求め、更に差分値が
負の場合には０に置換する。この結果が図８の画像Ｇに
示される。以上の処理を次式のＦＩＸ関数で表現する。 Ｇ＝ＦＩＸ（Ｄ−Ｆ） 画像Ｄの各画素の階調値は元の画像Ｃの階調値よりも最
小値フィルタ処理ですべて小さな値に入れ換えられ画像
Ｆは階調値の入れ換えがないため殆どの画素の階調値は
画像Ｄよりも画像Ｆの方が大きい。よってＤ−Ｆの値は
殆どマイナス又は零になる。差分値がマイナス又は零の
場合は画素の階調値を０とする。しかしながら、画像Ｆ
の内、欠陥２０はゴミ，インキなどの付着したもので暗
い画像であり階調値は小さい。そのため、欠陥２０に限
ってはＤ−Ｆの値がプラスの値となり正の差分値とな
る。従って、Ｇ＝ＦＩＸ（Ｄ−Ｆ）により図８の画像Ｇ
に示すように欠陥２０が欠陥候補としてクローズアップ
される。この欠陥候補を予め定めた許容値（閾値）と比
較し差分値が許容値より大きい場合は欠陥であると決定
する。前記と同様の方法で画像Ｅと画像Ｆとを比較しＨ
＝ＦＩＸ（Ｆ−Ｅ）を求める。画像Ｅは元の画像Ｃのす
べての画素の階調値を最大値フィルタ処理により大きな
値に入れ換えたものからなり、Ｆ−Ｅは殆どの画素でマ
イナス又は零となる。しかしながら、欠陥２１に相当す
る部分は大きな階調値を有するものからなりＦ−Ｅはプ
ラスになり正の差分値が求まる。従って図９に示すよう
に画像Ｈには欠陥候補として欠陥２１がクローズアップ
される。この欠陥候補を予め定めた許容値（閾値）と比
較し差分値が許容値より大きい場合には欠陥であると決
定する。以上により、印刷物Ｂの欠陥２０，２１を検出
することが出来る。
と画像Ｅ）を用いて検査画像である画像Ｆの欠陥を検出
する方法を説明する。検査方法は基準画像と検査画像を
画素毎に比較してその差分値を求める。まず、画像Ｄか
ら画像Ｆの各画素の階調値の差分を求め、更に差分値が
負の場合には０に置換する。この結果が図８の画像Ｇに
示される。以上の処理を次式のＦＩＸ関数で表現する。 Ｇ＝ＦＩＸ（Ｄ−Ｆ） 画像Ｄの各画素の階調値は元の画像Ｃの階調値よりも最
小値フィルタ処理ですべて小さな値に入れ換えられ画像
Ｆは階調値の入れ換えがないため殆どの画素の階調値は
画像Ｄよりも画像Ｆの方が大きい。よってＤ−Ｆの値は
殆どマイナス又は零になる。差分値がマイナス又は零の
場合は画素の階調値を０とする。しかしながら、画像Ｆ
の内、欠陥２０はゴミ，インキなどの付着したもので暗
い画像であり階調値は小さい。そのため、欠陥２０に限
ってはＤ−Ｆの値がプラスの値となり正の差分値とな
る。従って、Ｇ＝ＦＩＸ（Ｄ−Ｆ）により図８の画像Ｇ
に示すように欠陥２０が欠陥候補としてクローズアップ
される。この欠陥候補を予め定めた許容値（閾値）と比
較し差分値が許容値より大きい場合は欠陥であると決定
する。前記と同様の方法で画像Ｅと画像Ｆとを比較しＨ
＝ＦＩＸ（Ｆ−Ｅ）を求める。画像Ｅは元の画像Ｃのす
べての画素の階調値を最大値フィルタ処理により大きな
値に入れ換えたものからなり、Ｆ−Ｅは殆どの画素でマ
イナス又は零となる。しかしながら、欠陥２１に相当す
る部分は大きな階調値を有するものからなりＦ−Ｅはプ
ラスになり正の差分値が求まる。従って図９に示すよう
に画像Ｈには欠陥候補として欠陥２１がクローズアップ
される。この欠陥候補を予め定めた許容値（閾値）と比
較し差分値が許容値より大きい場合には欠陥であると決
定する。以上により、印刷物Ｂの欠陥２０，２１を検出
することが出来る。
【００１３】図１２は本実施例が実行可能な処理回路６
のブロック図を示す。これを参照して図１に示した検査
装置の動作を説明する。印刷部１の版胴あるいは圧胴に
取り付けたロータリエンコーダ５より発生したタイミン
グパルスに基づいてタイミングコントロール部７は検出
部４にサンプリングスタート信号等を与える。検出部４
から出力される映像信号はＡ／Ｄコンバータ８を介して
検査画像格納メモリ９に格納される。また、基準画像作
製時には最小値フィルタ回路１２，最大値フィルタ回路
１３を経てそれぞれ最小値画像格納メモリ１０，最大値
画像格納メモリ１１に格納される。検査画像格納メモリ
９と最小値画像格納メモリ１０はそれぞれの画素毎に差
分回路１４で差分演算され、欠陥候補画像格納メモリ１
５に格納される。同様に、最大値画像格納メモリと検査
画像格納メモリ９も差分され、欠陥候補画像格納メモリ
１６に格納される。各欠陥候補画像は２値化回路１７，
１８で２値化後、欠陥画像格納メモリ１９に格納され
る。
のブロック図を示す。これを参照して図１に示した検査
装置の動作を説明する。印刷部１の版胴あるいは圧胴に
取り付けたロータリエンコーダ５より発生したタイミン
グパルスに基づいてタイミングコントロール部７は検出
部４にサンプリングスタート信号等を与える。検出部４
から出力される映像信号はＡ／Ｄコンバータ８を介して
検査画像格納メモリ９に格納される。また、基準画像作
製時には最小値フィルタ回路１２，最大値フィルタ回路
１３を経てそれぞれ最小値画像格納メモリ１０，最大値
画像格納メモリ１１に格納される。検査画像格納メモリ
９と最小値画像格納メモリ１０はそれぞれの画素毎に差
分回路１４で差分演算され、欠陥候補画像格納メモリ１
５に格納される。同様に、最大値画像格納メモリと検査
画像格納メモリ９も差分され、欠陥候補画像格納メモリ
１６に格納される。各欠陥候補画像は２値化回路１７，
１８で２値化後、欠陥画像格納メモリ１９に格納され
る。
【００１４】次に、エッジ部における欠陥検出について
図１０および図１１により説明する。図１０に示すよう
に、この印刷物はＸの範囲が約１３０の階調値を有し、
Ｙの範囲が約８０の階調値を有するものとする。ＸとＹ
の境界のエッジ部２２の近傍の画素を前記した最小値フ
ィルタおよび最大値フィルタを施してその階調値分布を
求めたものが図１１のＭＡＸおよびＭＩＮのヒストグラ
ムにより示される。エッジ部２２の近傍に図１１に示す
欠陥Ｒおよび欠陥Ｓが発生しているとする。欠陥Ｒは４
０の階調値を持ち、欠陥Ｓは１００の階調値をもつ。前
記と同様の検出方法を用いまず欠陥ＲのＦＩＸ関数を求
める。 ＦＩＸ（４０−１３０）→マイナス→０ ＦＩＸ（８０−４０）＝４０ よってプラスの差分値４０が求めるため最小値フィルタ
を施した第１の基準画像により欠陥Ｒは検出される。次
に、欠陥ＳのＦＩＸ関数を求める。 ＦＩＸ（１００−１３０）→マイナス→０ ＦＩＸ（８０−１００）→マイナス→０ 以上により、欠陥Ｓは求められない。以上のことから、
本実施例の検査方法ではエッジ部における淡部と濃部の
中間調の欠陥は検出できないがそれ以外のエッジ部２２
の欠陥は検出可能であることがわかる。元々中間調の欠
陥は希であり又目立たない。このことから従来技術に較
べて本実施例の検査方法はエッジ部の検出機能において
優れる。
図１０および図１１により説明する。図１０に示すよう
に、この印刷物はＸの範囲が約１３０の階調値を有し、
Ｙの範囲が約８０の階調値を有するものとする。ＸとＹ
の境界のエッジ部２２の近傍の画素を前記した最小値フ
ィルタおよび最大値フィルタを施してその階調値分布を
求めたものが図１１のＭＡＸおよびＭＩＮのヒストグラ
ムにより示される。エッジ部２２の近傍に図１１に示す
欠陥Ｒおよび欠陥Ｓが発生しているとする。欠陥Ｒは４
０の階調値を持ち、欠陥Ｓは１００の階調値をもつ。前
記と同様の検出方法を用いまず欠陥ＲのＦＩＸ関数を求
める。 ＦＩＸ（４０−１３０）→マイナス→０ ＦＩＸ（８０−４０）＝４０ よってプラスの差分値４０が求めるため最小値フィルタ
を施した第１の基準画像により欠陥Ｒは検出される。次
に、欠陥ＳのＦＩＸ関数を求める。 ＦＩＸ（１００−１３０）→マイナス→０ ＦＩＸ（８０−１００）→マイナス→０ 以上により、欠陥Ｓは求められない。以上のことから、
本実施例の検査方法ではエッジ部における淡部と濃部の
中間調の欠陥は検出できないがそれ以外のエッジ部２２
の欠陥は検出可能であることがわかる。元々中間調の欠
陥は希であり又目立たない。このことから従来技術に較
べて本実施例の検査方法はエッジ部の検出機能において
優れる。
【００１５】
【発明の効果】本発明によれば、次のような顕著な効果
を奏する。 １）従来は非検査領域とされていたエッジ部の検査が可
能となり、エッジ部の欠陥が大部分検出される。 ２）インラインにおいて印刷物の欠陥が正確に、かつ自
動的に検出される。 ３）許容値およびｎ×ｍの値を印刷物の絵柄状態に合わ
せて適宜設定することにより高精度な測定が行われる。
を奏する。 １）従来は非検査領域とされていたエッジ部の検査が可
能となり、エッジ部の欠陥が大部分検出される。 ２）インラインにおいて印刷物の欠陥が正確に、かつ自
動的に検出される。 ３）許容値およびｎ×ｍの値を印刷物の絵柄状態に合わ
せて適宜設定することにより高精度な測定が行われる。
【図１】本発明の一実施例とそれが適用される印刷装置
の概要構造を示す構成図。
の概要構造を示す構成図。
【図２】正常な印刷物Ａを示す平面図。
【図３】欠陥のある被検査印刷物Ｂを示す平面図。
【図４】印刷物Ａを取り込んだ画像Ｃを示す平面図。
【図５】画像Ｃに最小値フィルタを施した画像Ｄを示す
平面図。
平面図。
【図６】画像Ｃに最大値フィルタを施した画像Ｅを示す
平面図。
平面図。
【図７】印刷物Ｂを取り込んだ画像Ｆを示す平面図。
【図８】画像Ｆと画像Ｄの差分を求めて形成される画像
Ｇを示す平面図。
Ｇを示す平面図。
【図９】画像Ｆと画像Ｅの差分を求めて形成された画像
Ｈを示す平面図。
Ｈを示す平面図。
【図１０】エッジ部の欠陥検出を説明するための印刷物
サンプルを示す平面図。
サンプルを示す平面図。
【図１１】図１０に示した印刷物サンプルをフィルタ処
理して得られた階調値−度数線図。
理して得られた階調値−度数線図。
【図１２】本実施例を実行可能な処理回路のブロック
図。
図。
１ 印刷部 ２ 巻き取りウエブ ３ 印刷用紙 ４ 検出部 ５ ロータリエンコーダ ６ 処理回路 ７ タイミングコントローラ ８ Ａ／Ｄコンバータ ９ 検査画像格納メモリ １０ 最小値画像格納メモリ １１ 最大値画像格納メモリ １２ 最小値フィルタ回路 １３ 最大値フィルタ回路 １４ 差分回路 １５ 欠陥候補画像格納メモリ １６ 欠陥候補画像格納メモリ １７ ２値化回路 １８ ２値化回路 １９ 欠陥画像格納メモリ ２０ 欠陥 ２１ 欠陥 ２２ エッジ部
フロントページの続き (72)発明者 熊谷 良平 東京都世田谷区北沢３−５−18 株式会社 イーゼル内
Claims (3)
- 【請求項１】 正常印刷物の絵柄情報を画素毎に取り込
んだ画像に最小値フィルタを施した画像を基準画像と
し、被検査物の印刷物の絵柄情報を画素毎に取り込んだ
画像を検査画像とし、該検査画像と前記基準画像との差
分値を演算し、その差分値と許容値とを比較して異常の
有無を検出する検査方法であって、前記最小値フィルタ
は、注目画素の近傍ｎ×ｍ画素中の最小値を前記注目画
素の新しい値とする処理を行うフィルタであることを特
徴とする印刷物の検査方法。 - 【請求項２】 正常印刷物の絵柄情報を画素毎に取り込
んだ画像に最大値フィルタを施した画像を基準画像と
し、被検査物の印刷物の絵柄情報を画素毎に取り込んだ
画像を検査画像とし、該検査画像と前記基準画像との差
分値を演算し、その差分値と許容値とを比較して異常の
有無を検出する検査方法であって、前記最大値フィルタ
は、注目画素の近傍ｎ×ｍ画素中の最大値を前記注目画
素の新しい値とする処理を行うフィルタであることを特
徴とする印刷物の検査方法。 - 【請求項３】 前記最小値フィルタを施した基準画像を
第１の基準画像とし、前記最大値フィルタを施した基準
画像を第２の基準画像とし、前記検査画像と第１および
第２の基準画像との差分値を演算し、その差分値と許容
値とを比較して異常の有無を検出することを特徴とする
請求項１及び２の印刷物の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5333897A JPH07186375A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 印刷物の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5333897A JPH07186375A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 印刷物の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07186375A true JPH07186375A (ja) | 1995-07-25 |
Family
ID=18271185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5333897A Pending JPH07186375A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 印刷物の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07186375A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260244B2 (en) | 2002-09-20 | 2007-08-21 | Nitto Denko Corporation | Print inspection method and print inspection apparatus |
| JP2011047862A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、プログラムおよび記録媒体 |
| CN106093058A (zh) * | 2016-08-04 | 2016-11-09 | 河南省新郑金芒果实业总公司 | 一种印刷品质量检测装置及检测方法 |
| US11108932B2 (en) | 2018-06-22 | 2021-08-31 | Konica Minolta, Inc. | Image test apparatus, image forming system and recording medium |
| WO2021256389A1 (ja) | 2020-06-19 | 2021-12-23 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法及びプログラム、並びに印刷装置、印刷物の製造方法 |
| US20220051386A1 (en) * | 2020-08-13 | 2022-02-17 | Konica Minolta, Inc. | Image inspecting apparatus, image inspecting method, and computer-readable recording medium storing image inspecting program |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5333897A patent/JPH07186375A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7260244B2 (en) | 2002-09-20 | 2007-08-21 | Nitto Denko Corporation | Print inspection method and print inspection apparatus |
| JP2011047862A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、プログラムおよび記録媒体 |
| US8538086B2 (en) | 2009-08-28 | 2013-09-17 | Ricoh Company, Limited | Image inspection apparatus, image inspection method, and computer program product |
| CN106093058A (zh) * | 2016-08-04 | 2016-11-09 | 河南省新郑金芒果实业总公司 | 一种印刷品质量检测装置及检测方法 |
| US11108932B2 (en) | 2018-06-22 | 2021-08-31 | Konica Minolta, Inc. | Image test apparatus, image forming system and recording medium |
| WO2021256389A1 (ja) | 2020-06-19 | 2021-12-23 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法及びプログラム、並びに印刷装置、印刷物の製造方法 |
| US20220051386A1 (en) * | 2020-08-13 | 2022-02-17 | Konica Minolta, Inc. | Image inspecting apparatus, image inspecting method, and computer-readable recording medium storing image inspecting program |
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