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JPH07117458B2 - Spectrometer - Google Patents

Spectrometer

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Publication number
JPH07117458B2
JPH07117458B2 JP61129015A JP12901586A JPH07117458B2 JP H07117458 B2 JPH07117458 B2 JP H07117458B2 JP 61129015 A JP61129015 A JP 61129015A JP 12901586 A JP12901586 A JP 12901586A JP H07117458 B2 JPH07117458 B2 JP H07117458B2
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JP
Japan
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measurement
value
wavelength
subroutine
light
Prior art date
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JP61129015A
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Japanese (ja)
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JPS62284227A (en
Inventor
正実 杉山
宣和 川越
政仁 稲葉
Original Assignee
ミノルタ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ミノルタ株式会社 filed Critical ミノルタ株式会社
Priority to JP61129015A priority Critical patent/JPH07117458B2/en
Publication of JPS62284227A publication Critical patent/JPS62284227A/en
Priority to US07/697,928 priority patent/US5175697A/en
Priority to US07/951,732 priority patent/US5305233A/en
Publication of JPH07117458B2 publication Critical patent/JPH07117458B2/en
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、測定試料からの反射光または透過光を測定す
る分光検出器の出力と、試料照明用光源からの光を測定
する分光検出器の出力との比を、対応する波長毎に求め
るようにした分光測定装置に関するものであり、パルス
キセノンランプを測定試料照明用の光源とする省電力型
の分光測定装置に特に適するものである。
The present invention relates to an output of a spectroscopic detector that measures reflected light or transmitted light from a measurement sample, and a spectroscopic detector that measures light from a light source for illuminating a sample. The present invention relates to a spectroscopic measurement device that obtains a ratio with the output of each of the corresponding wavelengths, and is particularly suitable for a power-saving spectroscopic measurement device that uses a pulse xenon lamp as a light source for illuminating a measurement sample.

(従来の技術) 特開昭59−20804号公報には、真空蒸着装置を用いて光
学薄膜を蒸着する際に、光学薄膜の分光反射率をリアル
タイムで測定するために、照明光源からの光を試料に照
射し、その反射光を分光検出器により検出すると共に、
照明光源の発光強度を1個の受光素子にて測定するよう
にした膜厚監視装置が開示されている。この従来例にあ
っては、照明光源測定用の受光素子が1個のみであって
照明光源の明るさを測定しているに過ぎず、照明光源の
分光エネルギー分布の変動を測定することはできない。
(Prior Art) Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-20804 discloses a method for measuring the spectral reflectance of an optical thin film in real time when an optical thin film is deposited using a vacuum deposition apparatus. Irradiate the sample and detect the reflected light with a spectroscopic detector,
A film thickness monitoring device is disclosed in which the light emission intensity of an illumination light source is measured by one light receiving element. In this conventional example, there is only one light receiving element for measuring the illumination light source and only the brightness of the illumination light source is measured, and it is not possible to measure the variation of the spectral energy distribution of the illumination light source. .

(発明が解決しようとする問題点) 試料を照明光源にて照明し、試料からの反射光または透
過光の分光測定値を求める際に、試料照明用の光源とし
て、パルスキセノンランプを使用すれば、消費電力が少
なくて済むので好都合である。しかしながら、パルスキ
セノンランプは、その分光エネルギー分布が発光の度毎
に変動するので、分光測定値に誤差を生じるという問題
があった。
(Problems to be Solved by the Invention) When a pulse xenon lamp is used as a light source for illuminating a sample when illuminating the sample with an illumination light source and obtaining a spectroscopic measurement value of reflected light or transmitted light from the sample, It is convenient because it consumes less power. However, the pulse xenon lamp has a problem in that the spectral energy distribution thereof varies with each emission of light, which causes an error in the spectroscopic measurement value.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、試料の分光測定値から光源の分
光エネルギー分布の変動による誤差を除去できるように
して、正確な分光測定値を得られるようにした分光測定
装置を提供するにある。
The present invention has been made in view of such points, and an object of the present invention is to make it possible to remove an error due to a change in spectral energy distribution of a light source from a spectroscopic measurement value of a sample, and to obtain an accurate spectroscopic measurement value. It is to provide a spectroscopic measurement device capable of obtaining

(問題点を解決するための手段) 本発明に係る分光測定装置にあっては、上述のような問
題点を解決するために、第1図に示すように、測定され
る試料(1)を照明するための照明光源(2)と、試料
(1)からの反射光及び透過光のいずれかを、波長毎の
光に分光する第1の分光手段(F1)と、第1の分光手段
により分光された各波長の光を受光する第1の受光素子
列(PDA1)と、照明光源(2)の光を波長毎の光に分光
する第2の分光手段(F2)と、第2の分光手段により分
光された各波長の光を受光する第2の受光素子列(PDA
2)と、第1の受光素子列の出力と、第2の受光素子列
の出力との比を計算する計算手段(DVD)を備え、前記
第2の分光手段(F2)と第2の受光素子列(PDA2)との
組合せによる第2の分光検出器の測定波長間隔を、前記
第1の分光手段(F1)と第1の受光素子列(PDA2)との
組合せによる第1の分光検出器の測定波長間隔よりも大
きくし、前記第2の分光検出器の測定波長間隔の間を補
間計算するように構成して成るものである。
(Means for Solving Problems) In the spectroscopic measurement device according to the present invention, in order to solve the above problems, a sample (1) to be measured is provided as shown in FIG. An illuminating light source (2) for illuminating, and a first spectroscopic means (F1) that disperses either reflected light or transmitted light from the sample (1) into light of each wavelength, and the first spectroscopic means. A first light-receiving element array (PDA1) that receives the separated light of each wavelength, a second light-splitting unit (F2) that splits the light of the illumination light source (2) into light of each wavelength, and a second light-splitting unit. The second light receiving element array (PDA) for receiving the light of each wavelength dispersed by the means.
2) and a calculating means (DVD) for calculating the ratio of the output of the first light receiving element array and the output of the second light receiving element array, and the second spectroscopic means (F2) and the second light receiving element. The measurement wavelength interval of the second spectroscopic detector in combination with the element array (PDA2) is the first spectroscopic detector in combination with the first spectroscopic means (F1) and the first light receiving element array (PDA2). 2 is larger than the measurement wavelength interval of the second spectroscopic detector and interpolation calculation is performed between the measurement wavelength intervals of the second spectroscopic detector.

(作用) 本発明にあっては、測定される試料(1)は照明光源
(2)にて照明される。試料(1)からの反射光及び透
過光のいずれが、第1の分光手段(F1)にて波長毎の光
に分光され、この分光された各波長の光は第1の受光素
子列(PDA1)にて受光される。第1の受光素子列(PDA
1)の出力として得られた試料(1)の分光測定値は、
照明光源(2)の分光エネルギー分布の変動によって影
響を受けており、これが測定誤差の原因となる。そこ
で、本発明では、毎回の試料測定の度毎に、照明光源
(2)の分光エネルギー分布をも同時に測定している。
この光源測定のために、照明光源(2)の光は第2の分
光手段(F2)にて波長毎の光に分光され、この分光され
た各波長の光は第2の受光素子列(PDA2)にて受光され
る。第2の受光素子列(PDA2)の出力として得られた分
光測定値は、照明光源(2)の分光エネルギー分布を測
定したものとなる。第1及び第2の受光素子列の出力は
計算手段(DVD)にて、その比を求められる。ここで求
められた比は、試料(1)の分光測定値から照明光源
(2)の分光エネルギー分布の変動の影響を除去したも
のとなるから、光源に起因する測定誤差を除去すること
ができ、正確な分光測定値を求めることができる。さら
に、第2分光手段と第2受光素子列の組合せから成る第
2の分光検出器の測定波長間隔を大きくし、その測定波
長間隔の間については補間計算によって算出することに
より、第2受光素子列の受光素子の数を減らしたり、ま
た測定時間を短縮することが可能となる。
(Operation) In the present invention, the sample (1) to be measured is illuminated by the illumination light source (2). Either reflected light or transmitted light from the sample (1) is split into light of each wavelength by the first spectroscopic means (F1), and the split light of each wavelength is separated into the first light receiving element array (PDA1). ) Is received. First light receiving element array (PDA
The spectroscopic measurement value of the sample (1) obtained as the output of 1) is
It is affected by the fluctuation of the spectral energy distribution of the illumination light source (2), which causes a measurement error. Therefore, in the present invention, the spectral energy distribution of the illumination light source (2) is also measured at the same time for each sample measurement.
For this light source measurement, the light of the illumination light source (2) is split into light of each wavelength by the second spectroscopic means (F2), and the split light of each wavelength is divided into the second light receiving element array (PDA2). ) Is received. The spectroscopic measurement value obtained as the output of the second light-receiving element array (PDA2) is a measurement of the spectral energy distribution of the illumination light source (2). The ratios of the outputs of the first and second light receiving element arrays can be calculated by the calculating means (DVD). The ratio obtained here is obtained by removing the influence of the fluctuation of the spectral energy distribution of the illumination light source (2) from the spectroscopic measurement value of the sample (1), so that the measurement error due to the light source can be eliminated. It is possible to obtain accurate spectroscopic measurement values. Further, by increasing the measurement wavelength interval of the second spectral detector including the combination of the second spectroscopic means and the second light receiving element array, and calculating the interval between the measurement wavelength intervals by the interpolation calculation, the second light receiving element is obtained. It is possible to reduce the number of light receiving elements in a row and shorten the measurement time.

(実施例) 以下、本発明の好ましい実施例を図面と共に説明する。
第2図は、本発明の一実施例のブロック図である。第2
図において、S1,S2は入射光を波長毎の光に分解し、そ
れぞれの波長毎の光強度に比例した光電流を並列に出力
する分光センサーであり、バンドパスフィルターアレイ
F1,F2とシリコンフォトダイオードアレイPDA1,PDA2で構
成されている。PDA1,PDA2は、それぞれ40個のシリコン
フォトダイオードが直線的に並んだシリコンフォトダイ
オードアレイである。シリコンフォトダイオードアレイ
PDA1,PDA2にはそれぞれ、バンドパスフィルターアレイF
1,F2が光路中に配置されている。バンドパスフィルター
アレイF1,F2は、透過波長が異なる多数の光学的バンド
パスフイルターを直線的にその透過波長が短波長側から
長波長側へ連続的に変わるように並べたものである。上
記バンドパスフィルターアレイF1,F2を通して、光をシ
リコンフォトダイオードアレイPDA1,PDA2に入射するこ
とにより、フォトダイオードアレイにおける各フォトダ
イオードの検出する光の波長が、短波長から長波長へ連
続的に変化するようになっている。
(Examples) Hereinafter, preferred examples of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention. Second
In the figure, S1 and S2 are spectroscopic sensors that split incident light into light of each wavelength and output in parallel a photocurrent proportional to the light intensity of each wavelength.
It is composed of F1 and F2 and silicon photodiode arrays PDA1 and PDA2. Each of PDA1 and PDA2 is a silicon photodiode array in which 40 silicon photodiodes are linearly arranged. Silicon photodiode array
Bandpass filter array F for PDA1 and PDA2 respectively
1, F2 are placed in the optical path. The bandpass filter arrays F1 and F2 are formed by arranging a large number of optical bandpass filters having different transmission wavelengths so that the transmission wavelength thereof continuously changes linearly from the short wavelength side to the long wavelength side. By inputting light to the silicon photodiode arrays PDA1 and PDA2 through the bandpass filter arrays F1 and F2, the wavelength of light detected by each photodiode in the photodiode array continuously changes from short wavelength to long wavelength. It is supposed to do.

照明回路(3)によってパルスキセノンランプ(2)か
ら発せられた光は、1部は光源の分光エネルギー分布の
ばらつきを測定するために、光源測定用分光センサーで
あるS2に入射され、残りの1部は測定試料(1)を照明
する。測定試料(1)からの反射光は、試料測定用分光
センサーであるS1に入射される。センサーS1,S2に入射
した光の波長ごとのエネルギーに比例した光電流が、セ
ンサーS1,S2の各シリコンフォトダイオードから出力さ
れる。PDA1,PDA2の各シリコンフォトダイオードからの
光電流は、測光回路部(4)へ入力され、各シリコンフ
ォトダイオードごとに、積分及びA/D変換され、その値
は、入出力ポート(5)を通して、制御・演算部(6)
へ入力される。照明回路(3)は、入出力ポート(5)
を介して、制御・演算部(6)によって制御される。測
光回路部(4)及び照明回路(3)の詳しい構成及び動
作については、後述する。
The light emitted from the pulse xenon lamp (2) by the illumination circuit (3) is partially incident on the light source measuring spectral sensor S2 in order to measure the variation in the spectral energy distribution of the light source, and the remaining 1 The part illuminates the measurement sample (1). The reflected light from the measurement sample (1) is incident on the sample measurement spectroscopic sensor S1. A photocurrent proportional to the energy of each wavelength of light incident on the sensors S1 and S2 is output from each silicon photodiode of the sensors S1 and S2. The photocurrent from each silicon photodiode of PDA1 and PDA2 is input to the photometric circuit section (4), integrated and A / D converted for each silicon photodiode, and the value is input / output port (5). , Control and computing unit (6)
Is input to. The lighting circuit (3) has an input / output port (5).
Is controlled by the control / calculation unit (6). Detailed configurations and operations of the photometric circuit section (4) and the illumination circuit (3) will be described later.

制御・演算部(6)は、システム全体の制御と演算を行
なう中央処理装置(CPU)である。制御・演算部(6)
には、制御・演算部(6)が実行するプログラムを格納
したリードオンリーメモリー(ROM)であるプログラム
格納部(7)と、演算データやシステムの状態等を記憶
するランダムアクセスメモリー(RAM)であるデータ格
納部(8)と、分光センサーS1,S2の検出波長や各種補
正定数等を記載した電気消去可能なプログラマブルリー
ドオンリーメモリー(EEPROM)である分光センサーデー
タ格納部(9)と、外部のパーソナルコンピューター等
外部機器との間で、データを入出力するための外部入出
力ポート(10)と、フロッピーディスク装置やハードデ
ィスク装置等、磁気記憶装置(12)を制御する磁気記憶
装置制御部(11)と、液晶やCRTからなる表示部(14)
を制御する表示制御部(13)と、キーボード(15)とプ
リンター(16)と現在時刻を計時するリアルタイムクロ
ック(17)が接続されており、これらは制御・演算部
(6)によって制御される。
The control / calculation unit (6) is a central processing unit (CPU) that controls and calculates the entire system. Control / arithmetic unit (6)
Is a program storage unit (7) that is a read-only memory (ROM) that stores programs executed by the control / operation unit (6) and a random access memory (RAM) that stores operation data and system status. A certain data storage section (8), a spectroscopic sensor data storage section (9) which is an electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) in which the detection wavelengths of the spectroscopic sensors S1 and S2 and various correction constants are described, and an external An external input / output port (10) for inputting / outputting data to / from an external device such as a personal computer, and a magnetic storage device control unit (11) for controlling a magnetic storage device (12) such as a floppy disk device or a hard disk device. ) And a display unit consisting of a liquid crystal display and a CRT (14)
A display control unit (13) for controlling the computer, a keyboard (15), a printer (16), and a real-time clock (17) for measuring the current time are connected, and these are controlled by the control / arithmetic unit (6). .

第3図、第4図、第5図は測光回路部(4)の回路図で
あり、第6図、第8図は測光のタイミングチャート、第
9図は測光制御プログラムのフローチャートである。ま
ず、第3図はシリコンフォトダイオードアレイPDA1,PDA
2の中の任意の1個のシリコンフォトダイオードPDiに接
続されている電流電圧変換回路及び積分回路を示してい
る。シリコンフォトダイオードアレイPDA1,PDA2のすべ
てのシリコンフォトダイオードにそれぞれ第3図の回路
が接続されている。第3図において、OP1iは演算増幅器
であり、反転入力端子と出力端子間にフィードバック抵
抗Rfiが接続されている。演算増幅器OP1iの非反転入力
は、グランドに接続されている。シリコンフォトダイオ
ードPDiのアノードは、演算増幅器OP1iの反転入力端子
に接続されており、PDiのカソードはグランドに接続さ
れている。演算増幅器OP1iの出力端子は積分用抵抗Rci
の一端に接続されており、積分用抵抗Rciの他端は、ア
ナログスイッチSW1iの入力端子に接続されている。アナ
ログスイッチSW1iの出力端子は演算増幅器OP2iに反転入
力端子に接続されている。アナログスイッチSW1iのコン
トロール端子は、後述する積分コントロール信号CHGに
接続されている。演算増幅器OP2iの反転入力端子と出力
端子の間には積分用コンデンサCciと積分リセット用ア
ナログスイッチSW2iとが並列に接続されている。アナロ
グスイッチSW2iのコントロール信号は後述する信号RES
に接続されている。また、演算増幅器OP2iの反転入力端
子は放電用アナログスイッチSW4iの入力に接続され、ア
ナログスイッチSW4iの出力は放電用抵抗RDiの一端に接
続され、抵抗RDiの他端は、−5Vに接続されている。ア
ナログスイッチSW4iのコントロール信号を便宜上、ADi
と名付けることにする。演算増幅器OP2iの非反転入力は
グランドに接続され、出力端子は、アナログスイッチSW
3iの入力端子に接続されている。アナログスイッチSW3i
の出力端子は便宜上、Oiと名付けることにする。アナロ
グスイッチSW3iのコントロール信号はアナログスイッチ
SW4iのコントロール信号であるADi信号に接続されてい
る。便宜上、以上の回路をまとめてAN(i)と名付け
る。
FIGS. 3, 4, and 5 are circuit diagrams of the photometry circuit section (4), FIGS. 6 and 8 are timing charts of photometry, and FIG. 9 is a flow chart of the photometry control program. First, Fig. 3 shows the silicon photodiode arrays PDA1 and PDA.
2 shows a current-voltage conversion circuit and an integration circuit connected to any one silicon photodiode PDi in 2. The circuit of FIG. 3 is connected to all the silicon photodiodes of the silicon photodiode arrays PDA1 and PDA2. In FIG. 3, OP1i is an operational amplifier, and a feedback resistor Rfi is connected between the inverting input terminal and the output terminal. The non-inverting input of the operational amplifier OP1i is connected to the ground. The anode of the silicon photodiode PDi is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier OP1i, and the cathode of PDi is connected to the ground. The output terminal of the operational amplifier OP1i is a resistor Rci for integration.
, And the other end of the integrating resistor Rci is connected to the input terminal of the analog switch SW1i. The output terminal of the analog switch SW1i is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier OP2i. The control terminal of the analog switch SW1i is connected to an integration control signal CHG described later. An integration capacitor Cci and an integration reset analog switch SW2i are connected in parallel between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier OP2i. The control signal of the analog switch SW2i is the signal RES described later.
It is connected to the. The calculation inverting input terminal of the amplifier OP2i is connected to an input of the discharge analog switches SW4i, the output of the analog switch SW4i is connected to one end of the discharge resistor R D i, the other end of the resistor R D i is, -5V It is connected to the. For convenience, the control signal of analog switch SW4i is set to ADi
I will name it. The non-inverting input of the operational amplifier OP2i is connected to ground, and the output terminal is the analog switch SW.
It is connected to the input terminal of 3i. Analog switch SW3i
The output terminal of is named Oi for convenience. Control signal of analog switch SW3i is analog switch
It is connected to the ADi signal which is the control signal of SW4i. For convenience, the above circuits are collectively referred to as AN (i).

第6図は、第3図の回路の動作を説明するタイミングチ
ャートである。以下、第6図のタイミングチャートを使
って第3図の回路の動作を説明する。時刻t1においてRE
S信号がLowレベル、CHG信号がHighレベルになり、アナ
ログスイッチSW2iがOFF,アナログスイッチSW1iがONにな
る。それと同時か、もしくは少し遅れて、照明回路
(3)により、パルスキセノンランプ(2)が発光し、
その光はバンドパスフィルターアレイF1又はF2を通っ
て、シリコンフォトダイオードPDiに入射する。シリコ
ンフォトダイオードPDiに光が入射すると、入射光の強
度に比例した光電流I1iが、PDiのアノードから演算増幅
器OP1iの反転入力端子の方へ流れ、そのほとんど全てが
フィードバック抵抗Rfiに流れる。演算増幅器OP1iの出
力電圧V1iは下式で表わされる。
FIG. 6 is a timing chart explaining the operation of the circuit of FIG. The operation of the circuit of FIG. 3 will be described below with reference to the timing chart of FIG. RE at time t1
The S signal goes low, the CHG signal goes high, the analog switch SW2i turns off, and the analog switch SW1i turns on. At the same time, or after a short delay, the lighting circuit (3) causes the pulse xenon lamp (2) to emit light.
The light passes through the bandpass filter array F1 or F2 and enters the silicon photodiode PDi. When light is incident on the silicon photodiode PDi, a photocurrent I1i proportional to the intensity of the incident light flows from the anode of PDi to the inverting input terminal of the operational amplifier OP1i, and almost all of it flows to the feedback resistor Rfi. The output voltage V1i of the operational amplifier OP1i is expressed by the following equation.

V1i=−I1i・Rfi … 現在、アナログスイッチSW1iがON,SW2iがOFFなので積分
用抵抗Rciを通して、演算増幅器OP1iの出力端子から積
分用コンデンサCciに向かって下式の電流I2iが流れる。
V1i = −I1i · Rfi ... Currently, since the analog switch SW1i is ON and SW2i is OFF, the current I2i of the following formula flows from the output terminal of the operational amplifier OP1i to the integration capacitor Cci through the integration resistor Rci.

積分用演算増幅器OP2iの出力電圧V2iは、下式のようにI
2iを時間積分したものになる。
The output voltage V2i of the integrating operational amplifier OP2i is
2i is time-integrated.

従って、V2iはシリコンフォトダイオードPDiに入射する
光の強度の時間積分値に比例した電圧になる。パルスキ
セノンランプ(2)の発光が終了した後の時刻t2にCHG
信号がLowになり、アナログスイッチSW1iがOFFになる。
この時点で積分用演算増幅器OP2iの出力電圧V2iはホー
ルドされる。その後、時刻t3にADi信号がHighになり、
アナログスイッチSW4i,SW3iがONになる。積分用コンデ
ンサCciに充電されている電荷はアナログスイッチSW4i
と放電用抵抗RDiを通して−5Vへ下式で表わされる定電
流I3iで放電される。
Therefore, V2i becomes a voltage proportional to the time integral value of the intensity of light incident on the silicon photodiode PDi. CHG at time t2 after the emission of the pulse xenon lamp (2) ends
The signal goes low and the analog switch SW1i turns off.
At this point, the output voltage V2i of the integrating operational amplifier OP2i is held. After that, the ADi signal becomes High at time t3,
Analog switches SW4i and SW3i are turned on. The charge stored in the integrating capacitor Cci is the analog switch SW4i.
And through the discharge resistor R D i to −5 V with a constant current I3i expressed by the following formula.

従って積分用演算増幅器OP2iの出力電圧V2iは直線的に
減少していく。信号Oiの動作及びこれ以後の時刻におけ
る動作は後述する。
Therefore, the output voltage V2i of the integrating operational amplifier OP2i decreases linearly. The operation of the signal Oi and the operation at the time thereafter will be described later.

第4図は測光回路の中の1ブロック(第kブロック)を
示す回路図である。シリコンフォトダイオードアレイPD
A1,PDA2の中の合計80ケのシリコンフォトダイオードを1
0ケずつ8ケのブロックに分ける。本実施例では、1つ
のブロック内に含まれるシリコンフォトダイオードが連
続した10ケになるように分ける。第4図に示すように、
第kブロック(k=0,1,…,7)の中の10ケのシリコンフ
ォトダイオードPDj〜PDj+9(j=k×10)のアノードは
おのおの前記の電流電圧変換・積分回路AN(j)〜AN
(J+9)に接続されている。シリコンフォトダイオー
ドのカソードは全て、グランドに接続されている。回路
AN(j)〜AN(j+9)の中のアナログスイッチSW3j〜
SW3j+9の出力Oj〜Oj+9は全てコンパレータCMPkの非反転
入力に接続されている。コンパレータCMPkの非反転入力
は、抵抗R1kを介して+5Vに接続されている。コンパレ
ータCMPkの反転入力は、負の基準電圧−VBに接続されて
いる。コンパレータCMPkの出力をCkとする。ADj〜ADj+9
はそれぞれ、回路AN(j)〜AN(j+9)の中のアナロ
グスイッチSW4j〜SW4j+9,SW3j〜SW3j+9のコントロール
信号である。便宜上、第4図の回路ブロックをBLOCK
(k)(k=0,1,2,・・・,7)と名付ける。
FIG. 4 is a circuit diagram showing one block (kth block) in the photometric circuit. Silicon photodiode array PD
A total of 80 silicon photodiodes in A1 and PDA2
Divide into 0 blocks by 8 blocks. In this embodiment, the silicon photodiodes included in one block are divided into 10 consecutive silicon photodiodes. As shown in FIG.
The anodes of the ten silicon photodiodes PDj to PDj +9 (j = k × 10) in the k-th block (k = 0, 1, ..., 7) are respectively the current-voltage conversion / integration circuits AN (j ) ~ AN
It is connected to (J + 9). The cathodes of silicon photodiodes are all connected to ground. circuit
Analog switch SW3j in AN (j) -AN (j + 9)-
The outputs Oj to Oj +9 of SW3j +9 are all connected to the non-inverting input of the comparator CMPk. The non-inverting input of comparator CMPk is connected to + 5V through resistor R1k. Inverting input of the comparator CMPk is connected to the negative reference voltage -V B. The output of the comparator CMPk is Ck. ADj ~ ADj +9
Are control signals of the analog switches SW4j to SW4j +9 and SW3j to SW3j +9 in the circuits AN (j) to AN (j + 9), respectively. For convenience, block the circuit block of Fig. 4
(K) Name it as (k = 0,1,2, ..., 7).

第5図は本実施例の測光回路全体の回路図である。F1,F
2は前記バンドパスフィルターアレイであり、PDA1,PDA2
は前記シリコンフォトダイオードアレイである。PDA1,P
DA2の中のシリコンフォトダイオードはそれぞれ10ケず
つの4ブロック、つまり、PDA1とPDA2とを合わせて8ブ
ロックに分かれ、それぞれ第4図で説明した回路ブロッ
クBLOCK(0)〜BLOCK(7)に接続されている。全ての
シリコンフォトダイオードのカソードはグランドに接続
されている。
FIG. 5 is a circuit diagram of the entire photometric circuit of this embodiment. F1, F
2 is the bandpass filter array, which is PDA1, PDA2
Is the silicon photodiode array. PDA1, P
Each of the silicon photodiodes in DA2 is divided into 10 blocks of 4 blocks, that is, PDA1 and PDA2 are divided into 8 blocks, which are connected to the circuit blocks BLOCK (0) to BLOCK (7) described in FIG. 4, respectively. Has been done. The cathodes of all silicon photodiodes are connected to ground.

IC1は4入力16出力のデコーダである。IC1の入力端子
はイネーブル端子であり、がHighの時には、Q0〜Q15
の出力すべてがLowになる。がLowの時にはA,B,C,D入
力端子に入力される4ビット信号に応じて出力Q0〜Q15
のうちの1つがHighになり、他はLowになる。本実施例
では、Q10〜Q15は使用しないので、回路図中には記述し
ていない。A,B,C,D,入力とQ0〜Q9の関係を第1表に示
す。
IC1 is a 4-input, 16-output decoder. Input terminal of IC1 is enabled terminal, but at the time of the High, Q 0 ~Q 15
All outputs go low. Is Low, outputs according to the 4-bit signal input to the A, B, C, D input terminals Q 0 to Q 15
One of them goes high and the other goes low. In this embodiment, Q 10 to Q 15 are not used, so they are not shown in the circuit diagram. Table 1 shows the relationship between A, B, C, D, inputs and Q 0 to Q 9 .

ただし、上表において、 H:Highレベル L:Lowレベル ×:H又はL この機能を実現するものとしては、例えばCMOS−ICの45
14がある。
However, in the above table, H: High level L: Low level ×: H or L To realize this function, for example, CMOS-IC 45
There are fourteen.

IC1の出力Q0は、AD0,AD10,AD20,AD30,AD40,AD50,AD60,A
D70と接続され、出力Q1はAD1,AD11,AD21,AD31,AD41,AD
51,AD61,AD71と接続され、出力Q2は、AD2,AD12,AD22,AD
32,AD42,AD52,AD62,AD72と接続され、出力Q3は、AD3,AD
13,AD23,AD33,AD43,AD53,AD63,AD73と接続され、出力Q4
は、AD4,AD14,AD24,AD34,AD44,AD54,AD64,AD74と接続さ
れ、出力Q5は、AD5,AD15,AD25,AD35,AD45,AD55,AD65,AD
75と接続され、出力Q6は、AD6,AD16,AD26,AD36,AD46,AD
56,AD66,AD76と接続され、出力Q7は、AD7,AD17,AD27,AD
37,AD47,AD57,AD67,AD77と接続され、出力Q8は、AD8,AD
18,AD28,AD38,AD48,AD58,AD68,AD78と接続され、出力Q9
は、AD9,AD19,AD29,AD39,AD49,AD59,AD69,AD79と接続さ
れている。
The output Q 0 of IC1 is AD 0 , AD 10 , AD 20 , AD 30 , AD 40 , AD 50 , AD 60 , A
Connected with D 70 , output Q 1 is AD 1 ,, AD 11 ,, AD 21 ,, AD 31 ,, AD 41 , AD
51 , AD 61 , AD 71 , output Q 2 is AD 2 ,, AD 12 ,, AD 22 ,, AD
32 , AD 42 , AD 52 , AD 62 , AD 72 , output Q 3 is AD 3 , AD
13 , AD 23 , AD 33 , AD 43 , AD 53 , AD 63 , AD 73 , output Q 4
Is connected to AD 4 , AD 14 , AD 24 , AD 34 , AD 44 , AD 54 , AD 64 , AD 74, and output Q 5 is AD 5 ,, AD 15 , AD 25 , AD 35 , AD 45 , AD 55 , AD 65 , AD
Connected to 75 and output Q 6 is AD 6 ,, AD 16 ,, AD 26 , AD 36 , AD 46 , AD
56 , AD 66 , AD 76 , output Q 7 is AD 7 ,, AD 17 ,, AD 27 , AD
37 , AD 47 , AD 57 , AD 67 , AD 77 , output Q 8 is AD 8 , AD
18 , AD 28 , AD 38 , AD 48 , AD 58 , AD 68 , AD 78 , output Q 9
Are connected to AD 9 , AD 19 , AD 29 , AD 39 , AD 49 , AD 59 , AD 69 , AD 79 .

また、すべての回路ブロックBLOCK(0)〜BLOCK(7)
の中のコンパレータ出力C0〜C7は8入力NORゲートであ
るIC2に入力されている。また、各コンパレータ出力C0,
C1,C2,C3,C4,C5,C6,C7はそれぞれ、2入力ANDゲートで
あるIC4,IC5,IC6,IC7,IC8,IC9,IC10,IC11の一方の入力
に接続され、IC4,IC5,IC6,IC7,IC8,IC9,IC10,IC11のも
う一方の入力は、すべて2入力NORゲートIC3の出力に接
続されている。IC12,IC13,IC14,IC15,IC16,IC17,IC18,I
C19は、16ビットのカウンタであり、CLR入力の立ち上が
りエッジでカウント値が0にクリアーされ、CK入力の立
ち上がりエッジでカウント値が1だけ加算される。OSC
は、A/D変換用基準クロックを出力するための発振器で
ある。OSCの出力は2入力NORゲートIC3の一方の入力に
接続されている。入出力ポート(5)は第2図の説明の
時に述べたものであり、第3図の説明の時に後述すると
述べた信号RES及びCHGは、入出力ポート(5)の出力で
ある。デコーダIC1の,A,B,C,D入力は入出力ポート
(5)の出力である。8入力NORゲートIC2の出力は、入
出力ポート(5)のADE入力に入力される。入出力ポー
ト(5)のCLR出力は、カウンタIC12,IC13,IC14,IC15,I
C16,IC17,IC18,IC19のCLR入力に接続されている。入出
力ポート(5)の出力は2入力NORゲートIC3の一方の
入力に接続されている。2入力NORゲートIC3のもう一方
の入力には、発振器OSCの出力が入力されているので、
2入力NORゲートIC3の出力としては、信号がLowのと
きには発振器OSCの出力の反転信号が出力され、信号
がHighの時には常にLowとなる。カウンタIC12,IC13,IC1
4,IC15,IC16,IC17,IC18,IC19の出力CT0,CT1,CT2,CT3,CT
4,CT5,CT6,CT7は入出力ポート(5)に入力される。
In addition, all circuit blocks BLOCK (0) to BLOCK (7)
Comparator outputs C0 to C7 are input to IC2 which is an 8-input NOR gate. In addition, each comparator output C0,
C1, C2, C3, C4, C5, C6, C7 are connected to one input of IC4, IC5, IC6, IC7, IC8, IC9, IC10, IC11 which are 2-input AND gates respectively, and IC4, IC5, IC6 The other inputs of IC7, IC8, IC9, IC10, and IC11 are all connected to the output of the 2-input NOR gate IC3. IC12, IC13, IC14, IC15, IC16, IC17, IC18, I
C19 is a 16-bit counter, and the count value is cleared to 0 at the rising edge of the CLR input, and the count value is incremented by 1 at the rising edge of the CK input. OSC
Is an oscillator for outputting a reference clock for A / D conversion. The output of the OSC is connected to one input of the 2-input NOR gate IC3. The input / output port (5) was described in the description of FIG. 2, and the signals RES and CHG described later in the description of FIG. 3 are the outputs of the input / output port (5). The A, B, C and D inputs of the decoder IC1 are outputs of the input / output port (5). The output of the 8-input NOR gate IC2 is input to the ADE input of the input / output port (5). CLR output of input / output port (5) is counter IC12, IC13, IC14, IC15, I
It is connected to the CLR input of C16, IC17, IC18, IC19. The output of the input / output port (5) is connected to one input of the 2-input NOR gate IC3. Since the output of the oscillator OSC is input to the other input of the 2-input NOR gate IC3,
As the output of the 2-input NOR gate IC3, an inverted signal of the output of the oscillator OSC is output when the signal is low, and it is always low when the signal is high. Counter IC12, IC13, IC1
4, Output of IC15, IC16, IC17, IC18, IC19 CT0, CT1, CT2, CT3, CT
4, CT5, CT6, CT7 are input to the input / output port (5).

第7図は照明回路(3)を説明するためのブロック図で
ある。第7図において(2),(3),(5)の番号は
第2のものと対応している。(35)は照明回路用電源で
あり、9V程度の低電圧直流電源である。(31)はブロッ
キング発振を利用した昇圧回路であり、パルスキセノン
ランプ発光用の電荷を蓄積するためのメインコンデンサ
(37)に充電するための電源を供給する。(32)は電圧
制御回路であり、メインコンデンサ(37)の充電電圧を
検出し充電電圧が所定の最高電圧よりも高くなると、FC
HG1出力をLowベルにし、メインコンデンサ(37)の充電
電圧が前記最高電圧よりも低い所定の最低電圧よりも低
くなると、FCHG1出力をHighレベルにし、前記充電電圧
が前記最高電圧と前記最低電圧の間にあるときは、FCHG
1出力にはそれまでの状態を保持させるというヒステリ
シスを持った電圧検出回路である。
FIG. 7 is a block diagram for explaining the illumination circuit (3). In FIG. 7, the numbers (2), (3) and (5) correspond to those in the second number. (35) is a power supply for the lighting circuit, which is a low voltage DC power supply of about 9V. Reference numeral (31) is a booster circuit utilizing blocking oscillation, which supplies power for charging a main capacitor (37) for accumulating electric charge for pulse xenon lamp light emission. (32) is a voltage control circuit that detects the charging voltage of the main capacitor (37), and when the charging voltage becomes higher than a predetermined maximum voltage, FC
When the HG1 output is set to low level and the charging voltage of the main capacitor (37) becomes lower than the predetermined minimum voltage which is lower than the maximum voltage, the FCHG1 output is set to high level and the charging voltage becomes the maximum voltage and the minimum voltage. FCHG when in between
This is a voltage detection circuit with hysteresis that keeps the state of 1 output.

前記昇圧回路(31)は前記電圧制御回路(32)からのFC
HG1信号と、入出力ポート(5)からの昇圧制御信号FCH
G2を入力する。FCHG2信号は、入出力ポート(5)から
の出力で、CPU(6)が入出力ポート(5)を介して、
昇圧回路(31)からの電源供給を制御するための信号で
ある。前記昇圧回路(31)は、前記FCHG1信号とFCHG2信
号を入力し、両信号共にHighレベルの時だけ、電源供給
を行なう、(36)は、メインコンデンサ(37)から昇圧
回路(31)に電流が逆流するのを防止するためのダイオ
ードである。従って、入出力ポート(5)からのFCHG2
出力がHighレベルの間、電圧制御回路(32)からの出力
FCHG1により、昇圧回路(31)が制御され、メインコン
デンサ(37)の充電電圧は、前記最高レベルと最低レベ
ルの間になるように制御される。(33)はメインコンデ
ンサ(37)の充電電圧と、前記最低電圧と同じかまたは
それよりも低い、所定の充電完了電圧とを比較し、前記
充電電圧の方が高い場合はVCHK出力信号をHighにし、前
記充電電圧の方が低い場合はVCHK出力信号をLowにす
る。但し、前記最高電圧、最低電圧、充電完了電圧は、
パルスキセノンランプ(2)が発光可能な電圧よりも、
高く設定してある。前記電圧検出回路(33)からのVCHK
信号は入出力ポート(5)に入力されており、CPU
(6)は入出力ポート(5)を介してVCHK信号を入力す
ることにより、照明回路(3)が発光可能な状態にある
か否かを判別する。(34)はパルスキセノンランプ
(2)を発光させるための発光用トリガー回路であり、
入出力ポート(5)からのFLASH信号の立ち上がりエッ
ジでパルスキセノンランプ(2)を発光させる。CPU
(6)は入出力ポート(5)を介してFLASH信号を制御
することにより、照明回路(3)の発光タイミングを制
御する。
The booster circuit (31) is connected to the FC from the voltage control circuit (32).
HG1 signal and boost control signal FCH from I / O port (5)
Enter G2. The FCHG2 signal is output from the I / O port (5), and the CPU (6) outputs it through the I / O port (5).
This is a signal for controlling the power supply from the booster circuit (31). The booster circuit (31) inputs the FCHG1 signal and the FCHG2 signal, and supplies power only when both signals are at a high level. (36) is a current from the main capacitor (37) to the booster circuit (31). This is a diode for preventing the reverse flow of. Therefore, FCHG2 from the I / O port (5)
Output from voltage control circuit (32) while output is high level
The booster circuit (31) is controlled by FCHG1, and the charging voltage of the main capacitor (37) is controlled to be between the highest level and the lowest level. (33) compares the charging voltage of the main capacitor (37) with a predetermined charging completion voltage that is the same as or lower than the minimum voltage, and when the charging voltage is higher, the VCHK output signal becomes High. When the charging voltage is lower, the VCHK output signal is set to Low. However, the maximum voltage, the minimum voltage, and the charging completion voltage are
Than the voltage at which the pulse xenon lamp (2) can emit light,
It is set high. VCHK from the voltage detection circuit (33)
The signal is input to the input / output port (5), and the CPU
By inputting the VCHK signal through the input / output port (5), (6) determines whether the lighting circuit (3) is ready to emit light. (34) is a light emission trigger circuit for causing the pulse xenon lamp (2) to emit light,
The pulse xenon lamp (2) is caused to emit light at the rising edge of the FLASH signal from the input / output port (5). CPU
(6) controls the FLASH signal via the input / output port (5) to control the light emission timing of the illumination circuit (3).

第8図は本実施例の測光タイミングを示すタイミングチ
ャートであり、第9図(a)(b)(c)(d)はCPU
(6)による測光回路部(4)の制御と測定値を算出す
るための演算の手順を示すフローチャートである。以
下、第8図のタイミングチャートと第9図のフローチャ
ートに沿って測光動作を説明する。第9図(a)の#1
において、CPU(6)は入出力ポート(5)を通して照
明回路(3)からの充電完了信号VCHKを入力し、VCHKが
Highレベルか否かを判別することにより、照明回路
(3)が発光可能かどうかを判別する。VCHKがLowなら
ば発光準備が完了していないので、#2に進みエラーフ
ラグERRFを1にしてリターンする。VCHKがHighならば発
光可能なので#3に進み、昇圧制御信号FCHG2をLowにす
る。FCHG2がLowになると、前記昇圧回路(31)は電源供
給を停止するが、完全に停止するまで100マイクロ秒程
度の時間を要するので、#4で時間待ちを行なう。測光
の前に昇圧回路(31)の電源供給を停止する理由は、昇
圧回路(31)は電源供給を行なっている間、高電圧の発
振を行なっており、測光回路部(4)に有害なノイズ発
生源となるためである。次にCPU(6)は#5に進み、R
ES信号をLowにし、CHG信号をHighにして積分動作を開始
する。その直後に#6のステップで、FLASH信号をHigh
にしてパルスキセノンランプ(2)を発光させる。前述
したようにパルスキセノンランプ(2)から発せられた
光は、一部は光源測定用分光センサーS2に入射し、残り
の一部は測定試料(1)に照射され、測定試料(1)か
らの反射光が試料測定用分光センサーS1に照射される。
分光センサーS1,S2に入射した光は、それぞれバンドパ
スフィルターアレイF1,F2によって分光され、シリコン
フォトダイオードアレイPDA1,PDA2に入射し、PDA1,PDA2
の中のシリコンフォトダイオードはそれぞれ、分光され
た光強度に比例した光電流を出力する。各シリコンフォ
トダイオードからの光電流は、第6図のタイミングチャ
ートの説明の時に述べたように、式に従って電流電圧
変換され、式に従って積分される。このため、積分回
路の出力電圧V20〜V279は、第8図に示すように正の方
向へ増大する。CPU(6)は#7のステップで発光が終
了するまでの時間待ちを行い(本実施例では3msec)、
#8のステップでCHG信号をLowにして積分動作を終了す
る。この状態で、積分出力電圧V20〜V279には、各シリ
コンフォトダイオードに入射した光の強度の時間積分値
に比例した電圧が保持される。この時、FLASH信号もLow
レベルに戻し、次の発光に備えておく。
FIG. 8 is a timing chart showing the photometric timing of this embodiment, and FIGS. 9 (a), (b), (c) and (d) are CPUs.
It is a flowchart which shows the procedure of control of the photometry circuit part (4) by (6), and the calculation for calculating a measured value. The photometric operation will be described below with reference to the timing chart of FIG. 8 and the flowchart of FIG. # 1 in FIG. 9 (a)
, The CPU (6) inputs the charging completion signal VCHK from the lighting circuit (3) through the input / output port (5), and VCHK
It is determined whether or not the lighting circuit (3) can emit light by determining whether or not it is at the high level. If VCHK is Low, light emission preparation is not completed, so proceed to # 2, set error flag ERRF to 1, and return. If VCHK is High, light emission is possible, so proceed to # 3 and set boost control signal FCHG2 to Low. When FCHG2 becomes Low, the booster circuit (31) stops the power supply, but it takes about 100 microseconds to completely stop the power supply. The reason why the power supply to the step-up circuit (31) is stopped before the photometry is that the step-up circuit (31) oscillates at a high voltage while the power is supplied, which is harmful to the photometry circuit section (4). This is because it becomes a noise source. Next, the CPU (6) proceeds to # 5 and R
The ES signal goes low and the CHG signal goes high to start the integration operation. Immediately after that, in step # 6, the FLASH signal goes high.
Then, the pulse xenon lamp (2) is caused to emit light. As described above, part of the light emitted from the pulse xenon lamp (2) is incident on the light source measurement spectroscopic sensor S2, and the remaining part is irradiated to the measurement sample (1), and the light is emitted from the measurement sample (1). Is reflected by the sample measurement spectroscopic sensor S1.
The light incident on the spectroscopic sensors S1 and S2 is dispersed by the bandpass filter arrays F1 and F2, respectively, and is incident on the silicon photodiode arrays PDA1 and PDA2.
Each of the silicon photodiodes in the section outputs a photocurrent proportional to the dispersed light intensity. The photocurrent from each silicon photodiode is current-voltage converted according to the formula and integrated according to the formula, as described in the description of the timing chart of FIG. Therefore, the output voltages V2 0 to V2 79 of the integrating circuit increase in the positive direction as shown in FIG. The CPU (6) waits until the light emission ends in step # 7 (3 msec in this embodiment),
In step # 8, the CHG signal is set to Low to end the integration operation. In this state, the integrated output voltages V2 0 to V2 79 hold a voltage proportional to the time integral value of the intensity of light incident on each silicon photodiode. At this time, the FLASH signal is also low
Return to level and prepare for the next flash.

次にCPU(6)は#9に進み、ここで変数Nを0に設定
する。変数Nは第5図の中のデコーダIC1のA,B,C,D入力
に、入出力ポート(5)を通して出力される値であり、
変数Nを2進数で表現した時、0ビット目がA、1ビッ
ト目がB、2ビット目がC、3ビット目がDに対応して
いる。次に#10で入出力ポート(5)のCLR出力をHigh
にし、カウンタIC12,IC13,IC14,IC15,IC16,IC17,IC18,I
C19のカウント値を0にクリアーする。次に#11で変数
Nの値0を入出力ポート(6)からIC1のA,B,C,D端子に
出力する。次に#12のステップでCLR信号をLowに戻し、
信号をLowにする。今、A,B,C,D入力がすべてLowなの
で、第1表に示すようにQ0信号がHighになってADi(i
=0,10,20,30,40,50,60,70)がHighになり、アナログス
イッチSW3i,SW4i(i=0,10,20,・・・・,60,70)が導
通状態になる。従って前述したように、積分出力電圧V2
i(i=0,10,20,・・・・,60,70)は直線的に減少して
行く。この時、コンパレータCMP0,CMP1,CMP2,CMP3,CMP
4,CMP5,CMP6,CMP7の非反転入力は、それぞれアナログス
イッチSW30,SW310,SW320,SW330,SW340,SW350,SW360,SW3
70を通して、V20,V210,V220,V230,V240,V250,V260,V270
に接続されている。今、V20の電圧に注目して説明する
と、V20はアナログスイッチSW30を通してコンパレータC
MP0の非反転入力に接続されている。前述のように、V20
の出力は直線的に減少して行くが、コンパレータCMP0
反転入力端子の基準電圧−VBよりもV20の方が高い場合
は、コンパレータCMP0の出力C0はHighである。C0信号
は、2入力ANDゲートIC4の一方の入力に接続されてお
り、IC4の他方の入力には、発振器OSCの出力と信号と
のNORが入力されているので、カウンタIC12のクロック
入力端子CK0には式の論理式で示される信号が入力さ
れている。
Next, the CPU (6) proceeds to step # 9 where the variable N is set to 0. The variable N is the value output to the A, B, C, D inputs of the decoder IC1 in FIG. 5 through the input / output port (5),
When the variable N is represented by a binary number, the 0th bit corresponds to A, the 1st bit corresponds to B, the 2nd bit corresponds to C, and the 3rd bit corresponds to D. Next, at # 10, set the CLR output of the input / output port (5) to High.
Counter IC12, IC13, IC14, IC15, IC16, IC17, IC18, I
Clear the count value of C19 to 0. Next, at # 11, the value 0 of the variable N is output from the input / output port (6) to the A, B, C, D terminals of IC1. Next, return the CLR signal to Low in step # 12,
Set the signal to Low. Now, since the A, B, C, D inputs are all Low, as shown in Table 1, the Q 0 signal becomes High and ADi (i
= 0,10,20,30,40,50,60,70) becomes High and analog switches SW3i, SW4i (i = 0,10,20, ..., 60,70) become conductive . Therefore, as described above, the integrated output voltage V2
i (i = 0,10,20, ..., 60,70) decreases linearly. At this time, comparator CMP0, CMP1, CMP2, CMP3, CMP
The non-inverting inputs of 4, CMP5, CMP6, CMP7 are analog switches SW3 0 , SW3 10 , SW3 20 , SW3 30 , SW3 40 , SW3 50 , SW3 60 , SW3
Through 70 , V2 0 , V2 10 , V2 20 , V2 30 , V2 40 , V2 50 , V2 60 , V2 70
It is connected to the. Now, it will be described with attention to the voltage of V2 0, V2 0 comparator C via the analog switch SW3 0
Connected to the non-inverting input of MP0. As mentioned above, V2 0
The output of is going to decrease linearly, when towards V2 0 than the reference voltage -V B of the inverting input terminal of the comparator CMP 0 is high, the output C0 of the comparator CMP0 is High. The C0 signal is connected to one input of the 2-input AND gate IC4, and the NOR of the output of the oscillator OSC and the signal is input to the other input of IC4. Therefore, the clock input terminal CK0 of the counter IC12 A signal represented by the logical expression of the equation is input to.

従ってカウンタIC12のクロック入力CK0にはコンパレー
タ出力C0がHighで信号がLowの時だけ、クロックパル
ス信号が入力される。
Therefore, the clock pulse signal is input to the clock input CK0 of the counter IC12 only when the comparator output C0 is High and the signal is Low.

#12で信号がLowになり、現在、コンパレータ出力C0
はHighなのでカウンタIC12はクロックパルスの計数を行
っている。時間の経過とともにV20の電圧は直線的に減
少して行き、前記基準電圧−VBよりも低くなると、コン
パレータ出力C0はHighからLowに切り換わる。C0がLowに
なると、式によりクロック入力CK0にはクロックパル
ス信号が入力されなくなり、カウンタIC12は計数を停止
する。
The signal goes low at # 12, and currently the comparator output C0
Is high, the counter IC12 counts clock pulses. V2 0 voltage with time went linearly decreases becomes lower than the reference voltage -V B, the comparator output C0 is switched to Low from High. When C0 becomes Low, the clock pulse signal is not input to the clock input CK0 according to the formula, and the counter IC12 stops counting.

従ってカウンタIC12のカウント値CT0は、信号がLowに
なってから、C0がLowになるまでの時間に比例した値と
なり、すなわち、(V20+VB)の電圧値に比例した値と
なる。このようにして、シリコンフォトダイオードPD0
の光電流の積分値がA/D変換されたことになる。V210,V2
20,V230,V240,V250,V260,V270の電圧も、上記と同様に
してA/D変換され、カウンタIC13,IC14,IC15,IC16,IC17,
IC18,IC19のカウント値CTkは、下式で表わされる値にな
る。
Therefore, the count value CT0 of the counter IC12 becomes a value proportional to the time from when the signal becomes Low until C0 becomes Low, that is, a value proportional to the voltage value of (V2 0 + V B ). In this way, the silicon photodiode PD0
This means that the integrated value of the photocurrent of has been A / D converted. V2 10 , V2
The voltage of 20 , V2 30 , V2 40 , V2 50 , V2 60 , V2 70 is A / D converted in the same manner as above, and the counter IC13, IC14, IC15, IC16, IC17,
The count value CTk of IC18 and IC19 is a value represented by the following formula.

CTk=C1(V2j+VB) … (ただしC1は比例定数) k=0,1,2,・・・,7 j=k×10 前述したように、すべてのコンパレータCMP0〜CMP7の出
力C0〜C7は、それぞれ8入力NORゲートIC2の1つの入力
に接続されており、IC2の出力ADEはコンパレータ出力C0
〜C7がすべてLowになった時のみHighで、それ以外の場
合はLowである。コンパレータ出力C0〜C7がすべてLowに
なるということは、V20,V210,V220,V230,V240,V250,V2
60,V270のA/D変換がすべて終了したということである。
CTk = C 1 (V2j + V B ) ... (where C 1 is a proportional constant) k = 0,1,2, ..., 7 j = k × 10 As mentioned above, all comparators CMP0 to CMP7 outputs C0 to C7 is connected to one input of each 8-input NOR gate IC2, and the output ADE of IC2 is the comparator output C0.
It is High only when ~ C7 are all Low, and is Low otherwise. The fact that the comparator outputs C0 to C7 are all Low means that V2 0 , V2 10 , V2 20 , V2 30 , V2 40 , V2 50 , V2
60, V2 70 of A / D conversion is that all been completed.

CPU(6)は#13のステップでADE信号を入出力ポート
(5)から入力し、Highかどうかをチェックする。もし
ADE信号がHighでなければHighになるまでADE信号の入力
とチェックを繰り返す。ADE信号がHighになれば、#14
に進み信号をHighにする。信号がHighになると、デ
コーダIC1の出力Q0〜Q9はすべてLowになり、アナログス
イッチSW4i,SW3i(i=0,10,20,30,40,50,60,70)がOFF
になり、積分出力V2i(i=0,10,20,30,40,50,60,70)
の電圧は直線的な減少を停止し、その時点の電圧に保持
される。また、コンパレータCMPk(k=0,1,2,・・・,
7)の非反転入力は、プルアップ抵抗R1kによってHighに
なり、コンパレータ出力CkはHighになるが、信号がHi
ghなので、式によりカウンタIC12〜IC19による計数は
行なわれず、その時点のカウント値を保持する。
The CPU (6) inputs the ADE signal from the input / output port (5) in step # 13 and checks whether it is High or not. if
If the ADE signal is not High, repeat the input and check of the ADE signal until it becomes High. If the ADE signal goes high, # 14
Go to and set the signal to High. When the signal becomes High, all the outputs Q 0 to Q 9 of the decoder IC1 become Low and the analog switches SW4i, SW3i (i = 0,10,20,30,40,50,60,70) are turned off.
And the integrated output V2i (i = 0,10,20,30,40,50,60,70)
Voltage stops decreasing linearly and is maintained at the current voltage. In addition, the comparator CMPk (k = 0,1,2, ...,
The non-inverting input of 7) becomes High by the pull-up resistor R1k, the comparator output Ck becomes High, but the signal becomes Hi.
Since it is gh, the counts by the counters IC12 to IC19 are not performed according to the formula, and the count value at that time is held.

次にCPU(6)は#15で入出力ポート(5)を通してカ
ウンタIC12〜IC19のカウント値CT0,CT1,CT2,・・・,CT7
を入力し、それぞれ配列変数CM1(N),CM1(N+10),
CM1(N+20),・・・,CM1(N+70)に格納する。現
在、Nは0なので、CM1(0),CM1(10),CM1(20),
・・・,CM1(70)となり、つまりV2iのA/D変換値がCM1
(i)(i=0,10,20,・・・,70)に格納されたことに
なる。次に#16でNを1だけ増やし、Nが10であるかど
うかを判別して10でなければ#10に戻る。#10から#15
まで実行すると、N=0の時と同様にして今度はN=1
であるから積分出力V21,V211,V221,V231,V241,V251,V2
61,V271がA/D変換され、配列変数CM1(1),CM1(11),
CM1(21),CM1(31),CM1(41),CM1(51),CM1(61),
CM1(71)に格納される。#16でNを+1し、以降、N
が10になるまで#10〜#17をくり返すと、すべての積分
出力V2iがA/D変換され、CM1(i)に格納される。V2iと
CM1(i)の関係は式で表わせる。
Next, the CPU (6) sends the count value CT0, CT1, CT2, ..., CT7 of the counters IC12 to IC19 through the I / O port (5) at # 15.
, Array variables CM1 (N), CM1 (N + 10),
Store in CM1 (N + 20), ..., CM1 (N + 70). Currently N is 0, so CM1 (0), CM1 (10), CM1 (20),
..., CM1 (70), that is, the V2i A / D conversion value is CM1
(I) (i = 0, 10, 20, ..., 70). Next, in # 16, N is incremented by 1, and whether N is 10 or not is determined. If it is not 10, the process returns to # 10. # 10 to # 15
Up to N = 1 this time, just like when N = 0
Therefore, the integral output V2 1 ,, V2 11 ,, V2 21 ,, V2 31 ,, V2 41 , V2 51 , V2
61 , V2 71 are A / D converted, array variables CM1 (1), CM1 (11),
CM1 (21), CM1 (31), CM1 (41), CM1 (51), CM1 (61),
Stored in CM1 (71). In # 16, N is incremented by 1 and then N
When # 10 to # 17 are repeated until 10 becomes 10, all integrated outputs V2i are A / D converted and stored in CM1 (i). With V2i
The relationship of CM1 (i) can be expressed by an equation.

CM1(i)=C1(V2i+VB) … #17でNが10になったことが判別されると、すべての積
分出力のA/D変換が終了したことになるので、#18でRES
をHighにして、積分コンデンサCci(i=0,1,2,・・・,
79)に並列に接続されているアナログスイッチSW2iをON
にし、積分コンデンサCciの電荷を0にする。さらにこ
こで、A,B,C,Dに0を出力し、初期状態に戻しておく。
CM1 (i) = C 1 (V2i + V B ) ... When it is determined that N has become 10 in # 17, it means that A / D conversion of all integrated outputs is completed.
Is set to High, and the integration capacitor Cci (i = 0,1,2, ...,
Turn on analog switch SW2i connected in parallel to (79)
And the charge of the integration capacitor Cci is set to zero. Furthermore, 0 is output to A, B, C, and D here, and it returns to the initial state.

次に、第9図(b)の#19に進み、ダークオフセットの
測定に入る。ダークオフセットの測定は、前述したパル
スキセノンランプ(2)を発光させての測定である#5
〜#18とほとんど同じであり、ただパルスキセノンラン
プ(2)を発光させないのと、測定終了後に#31のステ
ップで昇圧制御信号FCHG2をHighにし、昇圧回路(31)
による電源供給を再開させるところが違うだけであるの
で、タイミングチャートは省略してある。#19〜#21で
パルスキセノンランプ(2)を発光させない状態での積
分出力V2i(i=0,1,2,・・・,79)が得られ、#22〜#
31で積分出力がすべてA/D変換され、それぞれ配列変数O
F(i)に格納される。このOF(i)の値は、演算増幅
器のオフセットや外光の影響、及び、シリコンフォトダ
イオードの暗電流や、アナログスイッチの漏れ電流など
の影響をすべて含んだ値であり、パルスキセノンランプ
(2)を発光させての測定値であるCM1(i)からこのO
F(i)を差し引くことにより、前記オフセットやシリ
コンフォトダイオードの暗電流、アナログスイッチの漏
れ電流、外光の影響等による誤差をキャンセルすること
ができる。また本実施例は光源にパルスキセノンランプ
(2)を使用しているので、定常光を光源とした場合の
ように、光をチョッピングすることなくダークオフセッ
トを測定することができるので、機械的な駆動部分を必
要としないという長所を持っている。第9図(c)の#
32から#35において、上記のダークオフセットの補正を
行なっている。すなわち、パルスキセノンランプ(2)
を発光しての測定値であるCM1(i)からダークオフセ
ットの測定値OF(i)を差し引いた値をCM1(i)に格
納する。
Next, proceeding to # 19 in FIG. 9B, the measurement of dark offset is started. The measurement of the dark offset is the measurement with the above-mentioned pulse xenon lamp (2) emitted.
~ It is almost the same as # 18, and the pulse xenon lamp (2) is not made to emit light, and the boost control signal FCHG2 is set to High in the step of # 31 after the measurement is finished, and the boost circuit (31)
The timing chart is omitted because the only difference is that the power supply is restarted. In # 19 to # 21, the integrated output V2i (i = 0,1,2, ..., 79) in the state where the pulse xenon lamp (2) is not emitted is obtained, and # 22 to #
All integrated outputs are A / D converted in 31 and array variable O
Stored in F (i). This value of OF (i) is a value including all the effects of the offset of the operational amplifier and the external light, the dark current of the silicon photodiode, the leakage current of the analog switch, and the like, and the pulse xenon lamp (2 ) Is emitted from CM1 (i), which is the measured value.
By subtracting F (i), it is possible to cancel the error due to the offset, the dark current of the silicon photodiode, the leakage current of the analog switch, the influence of external light, and the like. Further, since the pulse xenon lamp (2) is used as the light source in this embodiment, it is possible to measure the dark offset without chopping the light as in the case where the constant light is used as the light source. It has the advantage of not requiring a drive part. # In FIG. 9 (c)
From 32 to # 35, the above dark offset correction is performed. That is, the pulse xenon lamp (2)
A value obtained by subtracting the dark offset measurement value OF (i) from the measurement value CM1 (i) obtained by emitting light is stored in CM1 (i).

#36からは分光感度補正の計算を行なう。ここで、分光
感度補正の意味と原理について説明を行なう。第10図
(a)は本実施例で使用する分光センサーS1における各
シリコンフォトダイオードの光電流I1iと、電流電圧変
換・積分回路AN(i)(i=0,1,2,・・・・,39)の増
幅率を掛け合わせた測光回路系としての分光感度Si
(λ)(i=0,1,2,・・・・,39)である。ただし、λ
は光の波長である。分光センサーS1,S2のバンドパスフ
ィルターアレイF1,F2には赤外線カットと紫外線カット
の処理が施してあり、S0(λ)〜S39(λ)は370nmより
短い波長領域と、720nmより長い波長領域での値はほぼ
零である。S0(λ)〜S39(λ)は、ほぼ10nmピッチで
並んでおり、バンドパスの半値幅は10nmよりも広くなっ
ている。また、バンドパスフィルターアレイとフォトダ
イオードアレイの間での内面反射等の影響により、ピー
ク波長からかなり離れた波長領域にも感度を持ってお
り、これを分光感度のすそ引きと呼ぶことにする。分光
感度のすそ引きと半値幅が広いことのために、測定値に
誤差を生じる。分光感度補正の計算は、このようにすそ
引きがあり、半値幅の広い分光感度を持つセンサーの出
力から正しい測定値を得るためのものである。
Calculation of spectral sensitivity correction is performed from # 36. Here, the meaning and principle of the spectral sensitivity correction will be described. FIG. 10 (a) shows the photocurrent I1i of each silicon photodiode in the spectroscopic sensor S1 used in this embodiment and the current-voltage conversion / integration circuit AN (i) (i = 0, 1, 2, ... , 39) Spectral sensitivity Si as a photometric circuit system multiplied by the amplification factor
(Λ) (i = 0, 1, 2, ..., 39). Where λ
Is the wavelength of light. The band-pass filter arrays F1 and F2 of the spectroscopic sensors S1 and S2 have been subjected to infrared cut and ultraviolet cut processing. The value of is almost zero. S0 (λ) to S39 (λ) are arranged at a pitch of approximately 10 nm, and the half-width of the bandpass is wider than 10 nm. In addition, due to the influence of internal reflection between the bandpass filter array and the photodiode array, it has sensitivity in a wavelength region that is considerably away from the peak wavelength, and this will be referred to as the tail of the spectral sensitivity. Due to the tail of the spectral sensitivity and the wide half width, an error occurs in the measured value. The calculation of the spectral sensitivity correction is to obtain a correct measured value from the output of the sensor having the spectral sensitivity having a wide half width as described above.

今、分光感度Si(λ)(i=0,1,2,・・・,39)のピー
ク波長をPKi(i=0,1,2,・・・,39)とする。そして測
定波長領域(本実施例では370〜720nm)を、 の波長で区切り、40ケの領域△λi(i=0,1,2,・・
・,39)に分割する。今、分光センサーS1に入射する光
の分光分布を第10図(b)に示すように40ケに分割した
1つの波長領域内ではフラットであるように近似し、波
長領域△λiでの光強度をPiとする。この時、Si(λ)
の分光感度を持つ1個のセンサーの出力をOi(i=0,1,
2,・・・,39)とすると、Oiは次の式で表わされる。
Now, let the peak wavelength of the spectral sensitivity Si (λ) (i = 0,1,2, ..., 39) be PKi (i = 0,1,2, ..., 39). Then, the measurement wavelength range (370 to 720 nm in this embodiment) 40 areas Δλi (i = 0,1,2, ...
・, 39). Now, the spectral distribution of the light incident on the spectral sensor S1 is approximated to be flat within one wavelength region divided into 40 as shown in FIG. 10 (b), and the light intensity in the wavelength region Δλi is approximated. Be Pi. At this time, Si (λ)
The output of one sensor with spectral sensitivity of Oi (i = 0,1,
2, ..., 39), Oi is expressed by the following equation.

今、aijを次のように定義する。 Now, aij is defined as follows.

このように定義すると、式は次式のように表せる。 With this definition, the equation can be expressed as

上式は、i=0〜39について成り立つので、行列を用い
て次の式が成り立つ。
Since the above equation holds for i = 0 to 39, the following equation holds using a matrix.

上式を次のように表す。 The above equation is expressed as follows.

ただし、 ここで、 は行列 の逆行列である。したがって、 が分かれば、式により、分光センサーS1の出力 の値から、入射光の分光エネルギー分布 を知ることができる。 However, here, Is the matrix Is the inverse matrix of. Therefore, , The output of the spectroscopic sensor S1 From the value of, the spectral energy distribution of the incident light You can know.

を求めるには、まず分光器を用いて分光センサーの分光
感度S0(λ)〜S39(λ)を測定し、に従って、行列 を求め、 の逆行列 を計算すれば良い。
In order to obtain the Seeking Inverse matrix of Should be calculated.

以上、便宜上試料測定用分光センサーS1について説明し
たが、光源測定用分光センサーS2についても同様であ
る。ここで、入射光の分光エネルギー分布を波長領域△
λiの中で、フラットであるというように近似したが、
本実施例は反射物体の分光反射率を測定するためのもの
であり、塗装や印刷物などの反射物体の分光反射率は概
してなだらかな曲線を描き、急峻な吸収等のないものが
多いので、このように近似することができるものであ
る。
The sample measurement spectroscopic sensor S1 has been described above for convenience, but the same applies to the light source measurement spectroscopic sensor S2. Here, the spectral energy distribution of the incident light is set to the wavelength region Δ
It was approximated as being flat in λi,
This example is for measuring the spectral reflectance of a reflecting object, and the spectral reflectance of a reflecting object such as a coating or a printed material generally has a gentle curve and there are many things without sharp absorption. Can be approximated as follows.

ここで、再び第9図(c)のフローチャートに従って説
明を行なう。試料測定用分光センサー(サンプル用セン
サー)S1についての式中の とし、光源測定用分光センサー(リファレンス用センサ
ー)S2についての式中の とする。#36から#39において、試料測定用分光センサ
ーS1について式に示す分光感度補正計算を行なってい
る。#40から#43において、光源測定用分光センサーS2
について式に示す分光感度補正計算を行っている。
式は分光センサーS1については下記の通りである。
Here, description will be given again according to the flowchart of FIG. In the formula for the spectroscopic sensor for sample measurement (sensor for sample) S1 To And in the formula for the light source measurement spectroscopic sensor (reference sensor) S2 To And In # 36 to # 39, the spectral sensitivity correction calculation shown in the equation is performed for the sample measuring spectral sensor S1. From # 40 to # 43, spectroscopic sensor S2 for light source measurement
The spectral sensitivity correction calculation shown in the equation is performed.
The formula is as follows for the spectroscopic sensor S1.

今、分光センサーS1の出力Oi(i=0,1,2,・・・,39)
は、CM1(i)に格納されており、また式で計算したP
iをCM2(i)に格納することにすれば、 となる。また、式は分光センサーS2については下記の
通りである。
Now, the output Oi of the spectroscopic sensor S1 (i = 0,1,2, ..., 39)
Is stored in CM1 (i) and P calculated by the formula
If you decide to store i in CM2 (i), Becomes The formula is as follows for the spectroscopic sensor S2.

今、分光センサーS2の出力はCM1(i+40)(i=0,1,
2,・・・,39)に格納されており、また式で計算したP
iをCM2(i+40)に格納することにすると、 となる。なお、Bij及びB′ijの値は分光センサーデー
タ格納部(9)に、あらかじめ記憶されている。
Now, the output of the spectroscopic sensor S2 is CM1 (i + 40) (i = 0,1,
2, ..., 39) and calculated by the formula P
If you decide to store i in CM2 (i + 40), Becomes The values of Bij and B'ij are stored in advance in the spectroscopic sensor data storage section (9).

次に第9図(d)の#44に進み、光源補正の計算を行な
う。本実施例の照明用光源はパルスキセノンランプ
(2)であり、その分光エネルギー分布は発光の度毎に
若干変動する。光源測定用分光センサーS2は、パルスキ
セノンランプ(2)の分光エネルギー分布を試料測定用
分光センサーS1とほぼ同じ波長で測定しているので、分
光センサーS1によって測定された試料光の分光エネルギ
ー分布を、分光センサーS2によって測定された光源の分
光エネルギー分布で対応する波長毎に割算し、その値を
測定値とすることにより、光源の分光エネルギー分布の
変動による誤差を消去することができる。#44から#47
でその計算を行なっている。#45でCM2(I)は分光セ
ンサーS1のI番目のシリコンフォトダイオードに対応す
る測定値であり、CM2(I+40)は分光センサーS2のI
番目のシリコンフォトダイオードに対応する測定値であ
る。CM2(I)をCM2(I+40)で割った値をCM3(I)
に格納する。それをI=0〜39まで繰り返し、すべての
測定値を光源補正し、CM3(I)に格納する。以上で照
明光源の分光エネルギー分布の変動の補正を終了し、補
正された値はCM3(i)(i=0〜39)に格納されてい
る。
Next, in # 44 of FIG. 9 (d), the light source correction is calculated. The illumination light source of this embodiment is a pulse xenon lamp (2), and its spectral energy distribution slightly fluctuates with each emission. Since the light source measurement spectroscopic sensor S2 measures the spectral energy distribution of the pulse xenon lamp (2) at almost the same wavelength as the sample measurement spectroscopic sensor S1, the spectral energy distribution of the sample light measured by the spectroscopic sensor S1 is measured. By dividing each corresponding wavelength by the spectral energy distribution of the light source measured by the spectral sensor S2 and using that value as the measured value, it is possible to eliminate the error due to the variation in the spectral energy distribution of the light source. # 44 to # 47
The calculation is done in. In # 45, CM2 (I) is the measured value corresponding to the I-th silicon photodiode of the spectroscopic sensor S1, and CM2 (I + 40) is the I value of the spectroscopic sensor S2.
The measured values correspond to the second silicon photodiode. The value obtained by dividing CM2 (I) by CM2 (I + 40) is CM3 (I).
To store. This is repeated from I = 0 to 39, all measurement values are light source corrected, and stored in CM3 (I). The correction of the fluctuation of the spectral energy distribution of the illumination light source is completed as described above, and the corrected value is stored in CM3 (i) (i = 0 to 39).

次に#48に進み、波長補正の計算を行なう。ここで波長
補正の計算の意味を説明する。本実施例の分光センサー
S1,S2は、バンドパスフィルターアレイを用いており、
ピーク波長はほぼ10nm間隔になっているが、フィルター
の製造時の誤差により、若干の波長ピッチのばらつきが
ある。この波長ピッチのばらつきを直線補間計算により
10nmピッチの値に補正するのが、ここで述べる波長補正
の計算である。
Next, in # 48, the wavelength correction is calculated. Here, the meaning of the wavelength correction calculation will be described. The spectroscopic sensor of this embodiment
S1 and S2 use a bandpass filter array,
The peak wavelengths are approximately 10 nm apart, but there is some variation in the wavelength pitch due to an error in manufacturing the filter. This wavelength pitch variation is calculated by linear interpolation
Correcting to a value of 10 nm pitch is the wavelength correction calculation described here.

第9図(d)の#48において、まず波長番号Jをゼロに
する。波長番号Jは400nmから700nmの波長領域内の10nm
間隔の波長に付けた番号であり、400nmのときJ=0
で、10nm増す毎に1だけ増える数値である。Iはセンサ
ー番号であり、#49でゼロに初期化する。ただし、I=
0はピーク波長が最も短波長のセンサーの番号であり、
長波長側に向かってIが1ずつ増える。#50において波
長番号Jに対応する波長Wを計算する。#51において、
I番目のセンサーのピーク波長PK(I)とJ番目の波長
Wとを比較し、PK(I)<Wであれば、#52でIを1だ
け増やし、#51に戻る。PK(I)≧Wであれば、#53に
進む。つまり、#51,#52において、J番目の波長w以
上でかつWに最も近いピーク波長を持つセンサーの番号
を検索する。#53〜#55においては、第11図に示すW1,W
2,Mの値を計算する。W1とは#51,#52で求めたW以上で
Wに最も近いピーク波長を持つセンサーのピーク波長PK
(I)と、その1つ短波長側のセンサーのピーク波長PK
(I−1)との差であり、W2とはWとPK(I−1)との
差である。Mは1番目のセンサーの測定値CM3(I)
と、(I−1)番目のセンサーの測定値CM3(I−1)
との差である。#56で波長Wにおける測定値をI番目の
センサーと(I−1)番目のセンサーの測定値から直線
補間計算によって求め、その値をMEAS(J)とする。#
57において、波長番号Jを1だけ増し、#58で400nm〜7
00nmの範囲がすべて終了したか否かを判別するために、
Jが31か否かを判別し、31でなければ#50に戻り、次の
波長における測定値を、前述の補間計算により求める。
Jが31になれば、400nmから700nmの範囲の10nm間隔の測
定値が、補間計算によりすべて求められたことであるか
ら、#59に進んで、測光サブーチンを終了し、リターン
する。本実施例では説明をわかりやすくするために#49
から#54の処理を設けたが、波長Wに対応するセンサー
の番号やW1,W2等はあらかじめ計算しておき、分光セン
サーデータ格納部(9)に格納しておくこともでき、そ
の場合、#49,#51,#52,#53,#54を省略することがで
きる。
In # 48 of FIG. 9 (d), the wavelength number J is first set to zero. Wavelength number J is 10 nm in the wavelength range of 400 nm to 700 nm
It is a number given to the wavelength of the interval, and when the wavelength is 400 nm, J = 0
Then, it is a numerical value that increases by 1 for every 10 nm increase. I is the sensor number, which is initialized to zero at # 49. However, I =
0 is the number of the sensor with the shortest peak wavelength,
I increases by 1 toward the long wavelength side. At # 50, the wavelength W corresponding to the wavelength number J is calculated. In # 51,
The peak wavelength PK (I) of the I-th sensor is compared with the J-th wavelength W. If PK (I) <W, the I is incremented by 1 in # 52 and the process returns to # 51. If PK (I) ≧ W, the process proceeds to # 53. That is, in # 51 and # 52, the number of the sensor having the peak wavelength equal to or longer than the J-th wavelength w and closest to W is searched. In # 53 to # 55, W1 and W shown in FIG. 11 are used.
Calculate the value of 2, M. W1 is the peak wavelength PK of the sensor with the peak wavelength closest to W that is greater than or equal to the W determined in # 51 and # 52.
(I) and one of them, the peak wavelength PK of the sensor on the short wavelength side
(I-1) and W2 is the difference between W and PK (I-1). M is the measured value of the first sensor CM3 (I)
And the measured value CM3 (I-1) of the (I-1) th sensor
Is the difference. At # 56, the measurement value at the wavelength W is obtained from the measurement values of the I-th sensor and the (I-1) -th sensor by linear interpolation calculation, and the value is defined as MEAS (J). #
At 57, increase the wavelength number J by 1, and at # 58, 400nm ~ 7
To determine if the 00nm range is all over,
It is determined whether or not J is 31, and if it is not 31, the process returns to # 50, and the measured value at the next wavelength is obtained by the above-described interpolation calculation.
If J becomes 31, it means that all the measured values at 10 nm intervals in the range of 400 nm to 700 nm have been obtained by the interpolation calculation. Therefore, proceed to # 59 to end the photometric subroutine and return. In this embodiment, # 49 is used for the sake of clarity.
Although the process from # 54 to # 54 is provided, the sensor number corresponding to the wavelength W, W1, W2, etc. can be calculated in advance and stored in the spectral sensor data storage unit (9). In that case, # 49, # 51, # 52, # 53, # 54 can be omitted.

以上、本実施例の測光回路動作及び補正計算処理につい
て説明してきたが、次にシステム全体の機能及び動作に
ついて、第12図以降のフローチャートにそって説明を行
う。まずシステムの電源をONにすると、第12図(a)の
#100のステップに進み、入出力ポート(5)、外部入
出力ポート(10)、磁気記憶制御部(11)、表示制御部
(13)、キーボード(15)、プリンター(16)の初期設
定を行なう。次に#101のステップに進み、データ格納
部(8)内のメモリーや設定データを初期化する。次に
#102のステップで表示サブルーチンを実行し、#103で
キーが押されているか否かを判別する。表示サブルーチ
ンについては、後ほど詳述する。キーが押されていれ
ば、第12図(b)の#105に進み、キーが押されていな
ければ、#104で現在時刻をリアルタイムクロック(1
7)から入力し、その値を表示して#103に戻る。本実施
例に用いるキーボード(15)の配置例を第26図に示す。
The photometering circuit operation and the correction calculation process of the present embodiment have been described above. Next, the function and operation of the entire system will be described with reference to the flowcharts of FIG. First, when the power of the system is turned on, the process proceeds to step # 100 in FIG. 12 (a), and the input / output port (5), the external input / output port (10), the magnetic storage control unit (11), the display control unit ( 13), keyboard (15) and printer (16) are initialized. Next, in step # 101, the memory and setting data in the data storage unit (8) are initialized. Next, the display subroutine is executed in step # 102, and it is determined in step # 103 whether or not a key is pressed. The display subroutine will be described in detail later. If the key is pressed, proceed to # 105 in FIG. 12 (b). If the key is not pressed, the current time is set to the real time clock (1
Input from 7), display the value and return to # 103. FIG. 26 shows an arrangement example of the keyboard (15) used in this embodiment.

第12図(b)の#105では、押されているキーが“MENU"
キーかどうかを判別し、そうであれば#125のステップ
で設定に関する処理を行なう設定サブルーチンを実行
し、#102へ戻る。キーが“MENU"でなければ#106へ進
み、キーが“CAL"であるかどうかを判別し、そうであれ
ば#126のステップで標準反射板による校正に関する処
理を行なう校正サブルーチンを実行し、#102へ戻る。
キーが“CAL"でなければ#107に進み、キーが“MEAS"か
否かを判別し、そうであれば#127のステップで測定に
関する処理を行なう測定サプルーチンを実行し、#103
へ戻る。ただし測定サブルーチンは前述した測光サブル
ーチンとは別のものであり、後で詳述する。キーが“ME
AS"でなければ#108に進み、キーが“STAT"かどうかを
判別し、そうであれば#128に進み、測定値の統計計算
に関する処理を行なう統計サブルーチンを実行し、#10
2へ戻る。キーが“STAT"でなければ#109に進み、キー
が“DATA"かどうかを判別し、そうであれば#129に進
み、表示する測定データのデータ番号の設定に関する処
理を行なうためのデータ番号設定サブルーチンを実行
し、#103に戻る。キーが“DATA"でなければ#110に進
み、キーが“FEED"かどうかを判別し、そうであれば#1
30に進み、プリンター(16)の紙送りを行なうプリンタ
紙送りサブルーチンを実行し、#103へ戻る。キーが“F
EED"でなければ#111に進み、キーが“HCOPY"かどうか
を判別し、そうであれば#131に進み、表示画面をプリ
ンター(16)にコピーする画面コピーサブルーチンを実
行し、#103へ戻る。キーが“HCOPY"でなければ#112へ
進み、キーが“LIST"であるかどうかを判別し、そうで
あれば#132に進み、測定値の数値データリストを表示
部(14)に表示するか、またはプリンター(16)に印字
するか、または外部入出力ポート(10)へ出力する処理
を行なうデータリストサブルーチンを実行し、#102へ
戻る。キーが“LIST"でなければ#113へ進み、キーが
“DEL"かどうかを判別し、そうであれば#133に進み、
現在表示中の測定データを消去する処理を行なうデータ
消去サブルーチンを実行し、#102へ戻る。キーが“DE
L"でなければ#114へ進み、キーが“HELP"かどうかを判
別し、そうであれば#134へ進み、システムの使用方法
の説明を表示する処理を行なう使用説明サブルーチンを
実行し、#102へ戻る。キーが“HELP"でなければ#115
へ進み、キーが“CUR"かどうかを判別し、そうであれば
#135へ進み、分光測定値グラフ表示にカーソルを表示
するか否かを設定するための処理を行なうカーソルON/O
FFサブルーチンを実行し、#103に戻る。キーが“CUR"
でなければ#116へ進み、キーが“→”であるかどうか
を判別し、そうであれば#136へ進み、前記分光測定値
グラフ表示のカーソルを右移動する処理を行なうカーソ
ル右移動サブルーチンを実行し、#103へ戻る。キーが
“→”でなければ#117へ進み、キーが“←”であるか
どうかを判別し、そうであれば#137へ進み、分光反射
率グラフ表示のカーソルを左移動する処理を行なうカー
ソル左移動サブルーチンを実行し、#103へもどる。キ
ーが“←”でなければ#118へ進み、キーが“DOUT"か否
かを判別し、そうであれば#138へ進み、外部入出力ポ
ート(10)へ測定データを出力する処理を行なうデータ
出力サブルーチンを実行し、#103へ戻る。キーが“DOU
T"でなければ#119へ進み、キーが“PRINT"か否かを判
別し、そうであれば#139へ進み、測定データをプリン
ター(16)にて印字する処理を行なうデータ印字サブル
ーチンを実行し、#103に戻る。キーが“PRINT"でなけ
れば、第12図(c)の#120に進み、キーが“f1"か否か
を判別し、そうであれば#140へ進み、分光測定値グラ
フや色度測定値グラフの表示のスケールや、表示範囲を
設定する処理を行なうレンジ設定サブルーチンを実行
し、#103へ戻る。キーが“f1"でなければ#121へ進
み、キーが“f2"か否かを判別し、そうであれば#141へ
進み、分光測定値グラフや色度測定値グラフの表示に、
目盛り用の格子(グリッド)を表示するか否かを設定す
るグリッドON/OFFサブルーチンを実行し、#103へ戻
る。キーが“f2"でなければ#122へ進み、キーが“f3"
か否かを判別し、そうであれば#142へ進み、色彩値計
算においてどの表色系を用いるかを設定する処理を行な
う表色系設定サブルーチンを実行し、#102に戻る。キ
ーが“f3"でなければ#123に進み、キーが“f4"か否か
を判別し、そうであれば#143へ進み、分光測定値グラ
フの表示において、測定値と同時に、基準値も表示する
か否かを設定する処理を行なう基準値ON/OFFサブルーチ
ンを実行し、#103に戻る。キーが“f4"でなければ、#
124に進みキーが“f6"か否かを判別し、そうであれば#
144へ進み、表示するグラフの形式及び測定値の単位を
設定する処理を行なう表示モード設定サブルーチンを実
行し、#102へ戻る。キーが“f6"でなければ、#103に
戻る。
In # 105 of FIG. 12 (b), the pressed key is "MENU".
If it is the key, it is determined, and if so, the setting subroutine for performing the setting-related processing is executed in step # 125, and the process returns to step # 102. If the key is not "MENU", proceed to # 106 to determine whether the key is "CAL", and if so, execute the calibration subroutine for performing the calibration process using the standard reflector in step # 126. Return to # 102.
If the key is not "CAL", proceed to # 107, determine whether the key is "MEAS", and if so, execute the measurement sub-routine that performs the process related to measurement in step # 127, and then execute # 103.
Return to. However, the measurement subroutine is different from the photometry subroutine described above, and will be described in detail later. The key is "ME
If it is not "AS", proceed to # 108, determine whether the key is "STAT", and if so, proceed to # 128 to execute a statistical subroutine for processing for statistical calculation of measured values.
Return to 2. If the key is not "STAT", proceed to # 109, determine whether the key is "DATA", and if so, proceed to # 129 to set the data number of the measured data to be displayed. Execute the setting subroutine and return to # 103. If the key is not "DATA", proceed to # 110 and determine whether the key is "FEED". If so, # 1
In step 30, a printer paper feed subroutine for feeding paper to the printer (16) is executed, and the flow returns to step # 103. The key is "F
If it is not "EED", proceed to # 111, determine whether the key is "HCOPY", and if so, proceed to # 131, execute the screen copy subroutine for copying the display screen to the printer (16), and proceed to # 103. If the key is not "HCOPY", proceed to # 112, determine if the key is "LIST", and if so, proceed to # 132 to display the numerical data list of measured values on the display (14). Execute the data list subroutine that displays, prints to the printer (16), or outputs to the external input / output port (10), and returns to # 102. If the key is not "LIST", press # 113. Go to, determine if the key is "DEL" and if so go to # 133
A data erasing subroutine for erasing the measurement data currently displayed is executed, and the process returns to step # 102. The key is "DE
If it is not "L", proceed to # 114, determine whether the key is "HELP", and if so, proceed to # 134 to execute a usage instruction subroutine for displaying a description of how to use the system. Return to 102. If the key is not "HELP", # 115
Proceed to to determine whether the key is "CUR", and if so, proceed to # 135 to perform processing to set whether or not to display the cursor in the graph of the spectroscopic measurement value. Cursor ON / O
Execute the FF subroutine and return to # 103. The key is "CUR"
If not, the process proceeds to # 116 to determine whether or not the key is "→", and if so, the process proceeds to # 136 to execute a cursor right move subroutine for performing a process of right moving the cursor of the spectroscopic measurement value graph display. Execute and return to # 103. If the key is not "→", proceed to # 117, determine whether the key is "←", and if so, proceed to # 137, and move the cursor in the spectral reflectance graph display to the left Execute the left move subroutine and return to # 103. If the key is not "←", proceed to # 118, determine whether the key is "DOUT", and if so, proceed to # 138 to perform processing of outputting measurement data to the external input / output port (10). Execute the data output subroutine and return to # 103. The key is “DOU
If it is not "T", proceed to # 119, determine whether the key is "PRINT", and if so, proceed to # 139 and execute the data print subroutine to print the measured data on the printer (16). Then, if the key is not "PRINT", the process proceeds to # 120 in Fig. 12 (c) to determine whether the key is "f1". Execute the range setting subroutine that performs processing to set the display scale and display range of the measured value graph and chromaticity measured value graph, and return to # 103.If the key is not "f1", proceed to # 121 and press the key. Determine if it is "f2", and if so, proceed to # 141 to display the spectroscopic measurement graph and chromaticity measurement graph.
The grid ON / OFF subroutine for setting whether to display the grid for the scale is executed, and the process returns to # 103. If the key is not "f2", proceed to # 122 and press the key "f3"
If so, the process proceeds to step # 142 to execute a color system setting subroutine for performing a process of setting which color system to use in the color value calculation, and the process returns to step # 102. If the key is not "f3", proceed to # 123, determine whether the key is "f4", and if so, proceed to # 143. In the spectroscopic measurement graph display, the measured value and the reference value are also displayed. The reference value ON / OFF subroutine for performing processing for setting whether to display or not is executed, and the process returns to # 103. If the key is not "f4", #
Proceed to 124 to determine if the key is "f6" and if so #
Proceeding to 144, the display mode setting subroutine for performing the process of setting the format of the graph to be displayed and the unit of the measured value is executed, and the process returns to # 102. If the key is not "f6", return to # 103.

以上、各種キーが押された時の処理について簡単に説明
を行なったが、次に、そのうちの主なものについて、詳
しく説明を行なう。第13図は、前述した設定に関する処
理を行う設定サブルーチンのフローチャートである。#
200のステップで、19種類の設定項目から1つを使用者
に選択させる。次に#201に進み、選択された項目が
「光源」であるか否かを判別し、そうであれば#202に
進み、使用者にD65,A,B,C,USERの5つの色彩値計算用光
源種別の中から1つを選択させ、#200に戻る。項目が
「光源」でなければ#203に進み、項目は「視野」か否
かを判別し、そうであれば#204で、使用者に2゜視野
か10゜視野かを選択させて#200に戻る。項目が「視
野」でなければ#205に進み、項目は「トリガーモー
ド」か否かを判別し、そうであれば#206に進み、測定
の開始をどのように行うかを決定する項目であるところ
のトリガーモードを、マニュアル、外部トリガー単発、
外部トリガー連続、タイマーの4つの中から、1つを使
用者に選択させ、#200に戻る。項目が「トリガーモー
ド」でなければ#207に進み、項目が「トレース波長」
か否かを判別し、そうであれば#208へ進み、選択波長
における分光反射率の時間変化を表示する場合の、その
選択波長を、使用者に設定させ、#200に戻る。項目が
「トレース波長」でなければ#209に進み、項目が「限
界警告」か否かを判別し、そうであれば#210で、基準
値と測定値との間に限界値以上の差があった場合に警告
処理を行うか否かを使用者に設定させ、#200に戻る。
項目が「限界警告」でなければ#211へ進み、項目が
「平均回数」か否かを判別し、そうであれば#212へ進
み、測定値として何回の測定の平均値を用いるかという
平均回数を使用者に設定させ、#200に戻る。項目が
「平均回数」でなければ#213へ進み、項目が「印字モ
ード」か否かを判別し、そうであれば測定データの印字
を測定毎に毎回、自動的に行うか(AUTO),“PRINT"キ
ーが押された時にだけ測定データを印字するか(MANUA
L)を使用者に設定させ、#200に戻る。項目が「印字モ
ード」でなければ#215に進み、項目が「印字項目」か
否かを判別し、そうであれば#216に進み、測定データ
を印字する際に、分光データや色彩計算値等の各種デー
タの中の1種または複数種のどの項目を印字するかを使
用者に選択させ、#200に戻る。項目が「印字項目」で
なければ#217に進み、項目が「データ出力モード」か
否かを判別し、そうであれば#218に進み、測定データ
の外部入出力ポート(10)への出力を測定毎に毎回、自
動的に行うか(AUTO)、“DOUT"キーが押された時にだ
け測定データを出力するか(MANUAL)を使用者に設定さ
せ、#200に戻る。項目が「データ出力モード」でなけ
れば#219に進み、項目が「データ出力項目」か否かを
判別し、そうであれば#220に進み、措定データを外部
入出力ポート(10)へ出力する際に、各種データの中の
1種または複数種のどの項目を出力するかを使用者に選
択させ、#200に戻る。項目が「データ出力項目」でな
ければ#221に進み、項目が「RS232Cモード」か否かを
判別し、そうであれば#222に進み、使用者に外部入出
力ポートであるRS232Cポートのボーレートやストップビ
ット長等の各種のモードを設定させ、#200に戻る。項
目が「RS232Cモード」でなければ#223に進み、項目が
「タイマー」か否かを判別し、そうであれば#224に進
み、測定用インターバルタイマーの開始時刻やインター
バル時間や終了時刻または終了回数、及び、終了を時刻
で行うか回数で行うか等を使用者に設定させ、#200に
戻る。項目が「タイマー」でなければ#225に進み、項
目が「時計」か否かを判別し、そうであれば#226に進
み、リアルタイムクロック(17)の現在時刻を使用者に
設定させ、#200に戻る。項目が「時計」でなければ#2
27に進み、項目が「ユーザー分光感度」かどうかを判別
し、そうであれば#228に進み、ユーザー分光感度の入
力を行なう。
The processing when various keys are pressed has been briefly described above. Next, the main ones thereof will be described in detail. FIG. 13 is a flowchart of a setting subroutine for performing the above-mentioned setting-related processing. #
In step 200, let the user select one of 19 types of setting items. Next, proceeding to # 201, it is determined whether or not the selected item is "light source", and if so, proceeding to # 202, the user is given five color values of D65, A, B, C and USER. Select one of the calculation light source types and return to # 200. If the item is not "light source", proceed to # 203, determine whether the item is "field of view", and if so, in # 204, let the user select either a 2 ° field of view or a 10 ° field of view. Return to. If the item is not "field of view", proceed to # 205, determine whether the item is in "trigger mode", and if so, proceed to # 206 to determine how to start measurement. However, the trigger mode is manual, external trigger single shot,
The user is made to select one of four continuous external triggers and a timer, and the process returns to step # 200. If the item is not "Trigger mode", proceed to # 207 and set the item to "Trace wavelength".
If yes, the process proceeds to step # 208 to let the user set the selected wavelength when displaying the temporal change of the spectral reflectance at the selected wavelength, and the process returns to step # 200. If the item is not "trace wavelength", proceed to # 209 to determine whether the item is "limit warning". If so, in # 210, the difference between the reference value and the measured value is equal to or more than the limit value. If so, the user is made to set whether or not to perform the warning process, and the process returns to # 200.
If the item is not "limit warning", proceed to # 211 to determine whether the item is "average number of times", and if so, proceed to # 212 and determine how many times the average value of the measurements is used. Let the user set the average count and return to # 200. If the item is not "average count", proceed to # 213 to determine whether the item is "print mode". If so, whether to print the measurement data automatically every measurement (AUTO), Whether measurement data is printed only when the "PRINT" key is pressed (MANUA
Let the user set L) and return to # 200. If the item is not "print mode", proceed to # 215 to determine whether the item is "print item", and if so, proceed to # 216, and when printing the measurement data, spectral data and color calculation value The user is allowed to select which item of one or more types among various data to be printed, and the process returns to step # 200. If the item is not "print item", proceed to # 217, determine whether the item is in "data output mode", and if so, proceed to # 218 and output the measurement data to the external input / output port (10). Have the user set whether to automatically perform each measurement (AUTO) or output measurement data only when the "DOUT" key is pressed (MANUAL), and return to # 200. If the item is not "data output mode", proceed to # 219, determine whether the item is "data output item", and if so, proceed to # 220 and output the measured data to the external input / output port (10). In doing so, the user is allowed to select which item of one or more types among various data is to be output, and the process returns to step # 200. If the item is not a "data output item", proceed to # 221 to determine whether the item is in "RS232C mode", and if so, proceed to # 222 to inform the user of the baud rate of the RS232C port which is an external input / output port. Set various modes such as or stop bit length and return to # 200. If the item is not "RS232C mode", proceed to # 223, determine whether the item is "timer", and if so, proceed to # 224, start time, interval time, end time or end of the measurement interval timer. The user is made to set the number of times and whether the end is performed at the time or the number of times, and the process returns to step # 200. If the item is not "timer", proceed to # 225, determine whether the item is "clock", and if so, proceed to # 226 to let the user set the current time of the real-time clock (17). Return to 200. # 2 if the item is not "clock"
Proceed to 27, determine whether the item is “user spectral sensitivity”, and if so, proceed to # 228 to input the user spectral sensitivity.

ここで、ユーザー分光感度の意味について説明を行な
う。一般的に色彩計算を行なう場合、CIEスペクトル三
刺激値λλλを用いるが、例えば、写真の色
濃度を測定する場合には、第25図に示すような分光感度
を用いて三色分解しているし、その他それぞれの業界や
各使用者で、専用の分光感度を使用する場合があり、色
測定において、λλλ以外の任意の分光感度
を使用することができれば、大変便利である。本実施例
では標準でλλλのデータをROM(7)に格
納しており、色彩計算に使用するが、それとは別に使用
者が任意の分光感度(以下これをユーザー分光感度と言
うことにする)を入力することが可能で、そのデータを
RAM(8)に記憶し、その分光感度と試料の分光反射率
と光源の分光エネルギー分布との積和を計算し、表示す
ることが可能になっている。その分光感度は、三種類入
力することができ、三色分解に便利なようになってい
る。#228〜#230で、その三種類のユーザー分光感度を
入力し、それぞれUS1(i),US2(i),US3(i)(i
=0〜30)というメモリーに格納し、#200に戻る。項
目が「ユーザー分光感度」でなければ#231へ進み、項
目が「ユーザー光源」かどうかを判別し、そうであれば
#232へ進み、ユーザー光源の分光エネルギー分布のデ
ータ入力を行なう。ここでユーザー光源の意味について
説明を行なう。物体色の色彩計算においては、標準光源
としてD65光源やA光源、B光源、C光源等が使用さ
れ、本実施例では、それらの光源の分光エネルギー分布
のデータは、ROM(7)に格納されており、色彩計算に
使用されるが、これらの標準光源とは別に使用者が任意
の分光エネルギー分布の光源を定義でき、その光源によ
る色彩計算を行なうことができれば、物体色の見えに及
ぼす光源の高価である演色正を評価する場合に便利であ
る。本実施例では使用者が光源の任意の分光エネルギー
分布を入力することが可能で(以下これをユーザー光源
という)、そのデータをRAM(8)に記憶し、その光源
データを用いて色彩計算することが可能になっている。
#232で、ユーザー光源の分光エネルギー分布を入力
し、UP(i)(i=0〜30)というメモリーに格納し、
#200に戻る。
Here, the meaning of the user spectral sensitivity will be described. In general, CIE spectral tristimulus values λ 1 , λ , and λ are used for color calculation. For example, when measuring the color density of a photograph, the spectral sensitivities shown in FIG. It has been disassembled, and other industries and users may use dedicated spectral sensitivities, and it would be extremely difficult if any spectral sensitivities other than λ , λ , and λ could be used in color measurement. It is convenient. In this embodiment, the data of λ 1 , λ 2 , and λ are stored in the ROM (7) as standard, and are used for color calculation. In addition to this, the user has arbitrary spectral sensitivity (hereinafter referred to as user spectral sensitivity). You can enter the
It is possible to store it in the RAM (8), calculate the product sum of its spectral sensitivity, the spectral reflectance of the sample, and the spectral energy distribution of the light source, and display it. Three types of spectral sensitivity can be input, which is convenient for three-color separation. Enter the three types of user spectral sensitivities with # 228 to # 230, and use US1 (i), US2 (i), US3 (i) (i
= 0 to 30), and return to # 200. If the item is not "user spectral sensitivity", the process proceeds to # 231 to determine whether the item is "user light source". If yes, the process proceeds to # 232 to input data of the spectral energy distribution of the user light source. Here, the meaning of the user light source will be described. In the color calculation of the object color, a D65 light source, an A light source, a B light source, a C light source or the like is used as a standard light source, and in this embodiment, the data of the spectral energy distribution of these light sources is stored in the ROM (7). It is used for color calculation, but if the user can define a light source with an arbitrary spectral energy distribution in addition to these standard light sources and can perform color calculation with that light source, the light source that affects the appearance of the object color This is useful when evaluating the color rendering index, which is expensive. In this embodiment, the user can input an arbitrary spectral energy distribution of the light source (hereinafter referred to as user light source), the data is stored in the RAM (8), and the color is calculated using the light source data. Is possible.
In # 232, input the spectral energy distribution of the user light source and store it in the memory UP (i) (i = 0 to 30).
Return to # 200.

項目が「ユーザー光源」でなければ#233に進み、項目
が「ユーザー標準板」かどうかを判別し、そうであれば
#234へ進み、ユーザー標準板の分光反射率データを入
力し、R2(i)(i=0〜30)というメモリーに格納
し、#200に戻る。ユーザーは標準板については、後述
する校正サブルーチンの説明で詳述するが、簡単に言え
ば使用者が分光器等を使ってあらかじめ自分で反射率デ
ータを測定した標準板を用いて、本実施例の反射率の校
正を行なう際の、その標準板のことである。項目が「ユ
ーザー標準板」でなければ#235へ進み、項目が「限界
値」か否かを判別し、そうであれば#236に進む。本実
施例においては、分光反射率の上限値と下限値を各波長
ごとに設定することができ、分光反射率測定値がその限
界値の範囲からはずれた時に、警告表示を出すようにな
っている。また、その上限値、下限値のデータは、分光
反射率測定値を表示する分光グラフ表示の中に、重ねて
表示できるようになっており、測定値と限界値の関係が
一目でわかるようになっている。#236においては上限
値データを入力し、LIMH(i)(i=0〜30)に格納
し、#237においては下限値データを入力し、LIML
(i)(i=0〜30)に格納し、#200に戻る。項目が
「限界値」でなければ#238に進み、項目が「基準値」
か否かを判別し、そうであれば#239へ進み、測定を行
ない、その測定値を基準値とするのか、分光反射率デー
タをキーボードから入力し、その値を基準値とするのか
の選択を行なう。#239では選択項目を表示を行ない、
#240でキー入力を待つ。キー入力があれば#241へ進
み、キーが1か否かを判別し、1であれば測定値を基準
値とするモードであるので、#242に進み、前述の測光
サブルーチンを実行し、#243で分光反射率R(i)
(i=0〜30)を計算し、#244で、R(i)を基準値
メモリーSTD(i)(i=0〜30)に格納し、#200に戻
る。#241において、キーが1でなければ#245に進み、
キーが2か否かを判別し、そうでなければ#240に戻
り、キー入力を待つ。#245において、キーが2であれ
ば、テンキーからの入力データを基準値データとするモ
ードなので、#246に進み、テンキーから基準値の分光
反射率データを入力し、それをSTD(i)(i=0〜3
0)に格納して、#200に戻る。項目が「基準値」でなけ
れば#247に進み、項目が「終了」か否かを判別し、そ
うであれば設定サブルーチンを終了し、リターンする。
項目が「終了」でなければ#200へ戻る。
If the item is not "user light source", proceed to # 233, determine whether the item is "user standard plate", and if so, proceed to # 234, enter the spectral reflectance data of the user standard plate, and enter R2 ( i) (i = 0 to 30), and return to # 200. The user will describe the standard plate in detail in the explanation of the calibration subroutine described later, but in simple terms, this embodiment uses the standard plate in which the user measured reflectance data by himself using a spectroscope or the like. It is the standard plate when calibrating the reflectance of the. If the item is not the "user standard plate", the process proceeds to # 235, determines whether the item is the "limit value", and if so, the process proceeds to # 236. In this embodiment, the upper limit value and the lower limit value of the spectral reflectance can be set for each wavelength, and when the spectral reflectance measurement value is out of the range of the limit value, a warning display is issued. There is. In addition, the upper limit value and lower limit value data can be displayed overlaid on the spectral graph display that displays the spectral reflectance measurement value, so that the relationship between the measured value and the limit value can be seen at a glance. Has become. In # 236, the upper limit value data is input and stored in LIMH (i) (i = 0 to 30), and in # 237, the lower limit value data is input and LIML
(I) Store in (i = 0 to 30) and return to # 200. If the item is not the "limit value", proceed to # 238 and the item is the "reference value".
If yes, proceed to # 239 to perform measurement and select whether to use the measured value as the reference value or enter the spectral reflectance data from the keyboard and use that value as the reference value. Do. # 239 displays the selected item,
Wait for key input at # 240. If there is a key input, proceed to # 241 to determine whether or not the key is 1, and if it is 1, it is a mode in which the measured value is used as a reference value, so proceed to # 242 and execute the photometry subroutine described above. Spectral reflectance R (i) at 243
(I = 0 to 30) is calculated, R (i) is stored in the reference value memory STD (i) (i = 0 to 30) in # 244, and the process returns to # 200. In # 241, if the key is not 1, proceed to # 245,
Whether the number of keys is 2 is determined, and if not, the process returns to # 240 and waits for key input. In # 245, if the key is 2, it is the mode in which the input data from the numeric keypad is used as the reference value data. Therefore, the process proceeds to # 246, and the spectral reflectance data of the reference value is input from the numeric keypad, and the STD (i) ( i = 0-3
Store it in 0) and return to # 200. If the item is not the "reference value", the process proceeds to # 247 to determine whether the item is "end", and if so, the setting subroutine is ended and the process returns.
If the item is not "end", return to # 200.

以上で設定サブルーチンの説明を終了し、次に、あらか
じめ分光反射率の分かっている試料を用いて反射率測定
値を校正する処理を行なうところの校正サブルーチンに
ついて説明する。第14図に校正サブルーチンのフローチ
ャートを示す。#300において、5つの項目の中から1
つを使用者に選択させる。5つの項目について説明する
と、「1.高精度標準白色板」は、分光反射率の経時変化
が非常に少ないが高価な高精度標準白色板を用いる校正
であり、「2.常用標準白色板」は、分光反射率の経時変
化は高精度標準白色板よりも大きいが安価な常用標準白
色板を用いる校正であり、「3.ユーザー標準板」は使用
者があらかじめ本実施例の装置に標準で付属している白
色板以外の試料を分光器等で分光反射率を測定し、その
試料を用いて校正する項目である。「4.校正モード」は
校正モードを選択する項目であり、「5.終了」は校正サ
ブルーチンを終了する項目である。
The description of the setting subroutine is completed above, and then, the calibration subroutine for performing the process of calibrating the reflectance measurement value using the sample whose spectral reflectance is known in advance will be described. FIG. 14 shows a flowchart of the calibration subroutine. # 300 out of 5 items
Let the user choose one. Explaining five items, "1. High-precision standard white plate" is a calibration that uses an expensive high-precision standard white plate whose spectral reflectance has very little change over time. Is a calibration that uses an inexpensive standard white plate whose spectral reflectance changes over time is higher than that of a high-precision standard white plate, and "3. User standard plate" is a standard for the user of the device of this embodiment. It is an item to measure the spectral reflectance of a sample other than the attached white plate with a spectroscope and calibrate it using the sample. "4. Calibration mode" is an item for selecting the calibration mode, and "5. End" is an item for ending the calibration subroutine.

#301で項目が「終了」か否かを判別し、そうであれば
#302へ進み、校正サブルーチンを終了してリターンす
る。そうでなければ#303へ進み、項目が高精度標準白
色板による校正が否かを判別し、そうであれば#304へ
進み、高精度標準白色度を試料としてセットする旨のメ
ッセージを表示し、#305で「測定」と「中止」の2つ
の項目から1つを使用者に選択させ、#306で項目が
「中止」か否かを判別し、「中止」であれば#307へ進
み、校正サブルーチンを終了し、リターンする。項目が
「中止」でなければ#308に進み、項目が「測定」か否
かを判別し、そうでなければ#305に戻り、そうであれ
ば#309で前述の測光サブルーチンを実行し、#310で測
定値MEAS(i)を、C0(i)(i=0〜30)に格納す
る。次に、#311で常用標準白色板を試料としてセット
する旨のメッセージを表示し、#312で「測定」と「中
止」の2つの項目から1つを使用者に選択させ、#313
で項目が「中止」か否かを判別し、「中止」であれば、
校正サブルーチンを終了して、リターンする。「中止」
でなければ#314へ進み、項目が「測定」か否かを判別
し、そうでなければ#312に戻り、そうであれば#315に
進み、測光サブルーチンを実行する。#316で測定値MEA
S(i)をC1(i)(i=0〜30)に格納する。
In # 301, it is determined whether or not the item is “end”. If so, the process proceeds to # 302, the calibration subroutine is terminated, and the process returns. If not, proceed to # 303 to determine whether the item is calibrated with a high-precision standard white plate, and if so, proceed to # 304 to display a message to set the high-precision standard whiteness as a sample. , # 305 allows the user to select one from the two items of “measurement” and “stop”. In # 306, it is determined whether the item is “stop”. If “stop”, proceed to # 307. , The calibration subroutine is ended, and the process returns. If the item is not "Cancel", proceed to # 308 to determine whether or not the item is "Measurement", and if not, return to # 305, and if so, execute the photometric subroutine in # 309, # At 310, the measured value MEAS (i) is stored in C0 (i) (i = 0 to 30). Next, in # 311, a message to the effect that the standard white plate is set as a sample is displayed, and in # 312 the user is allowed to select one of two items, “measurement” and “stop”.
Determines whether the item is "Cancel", and if "Cancel",
The calibration subroutine is terminated and the process returns. "Cancel"
If not, the process proceeds to # 314 to determine whether or not the item is “measurement”. If not, the process returns to # 312, and if so, the process proceeds to # 315 to execute the photometric subroutine. Measurement value MEA at # 316
S (i) is stored in C1 (i) (i = 0 to 30).

次に#317で式により常用標準白色板の分光反射率を
計算し、R1(i)(i=0〜30)に格納し、#318に進
み、校正サブルーチンを終了し、リターンする。
Next, in # 317, the spectral reflectance of the common standard white plate is calculated by the formula, stored in R1 (i) (i = 0 to 30), the process proceeds to # 318, the calibration subroutine is terminated, and the process returns.

R1(i)=C1(i)×R0(i)/C0(i) … (i=0〜30) 上式で、R0(i)は高精度標準白色板の分光反射率デー
タであり、その値は、あらかじめROM(7)に格納され
ている。すなわち、#304〜#310では、高精度標準白色
板により測定値の校正を行ない、#311〜#317では常用
標準白色板の分光反射率を測定し、メモリーしたのであ
る。#303で、項目が「高精度標準白色板」でなければ
#319に進み。常用標準白色板による校正か否かを判別
し、そうであれば#320に進み、常用標準白色板を試料
としてセットする旨のメッセージを表示し、#321で、
「測定」と「中止」の2項目のうち1つを使用者に選択
させ、#322で項目が「中止」か否かを判別し、「中
止」であれば、#323に進み、校正サブルーチンを終了
してリターンする。「中止」でなければ#324に進み、
項目が「測定」か否かを判別し、「測定」でなければ#
321に戻り、「測定」であれば#325に進み、測光サブル
ーチンを実行する。#326では測定値MEAS(i)をC1
(i)に格納し、#327に進み、校正サブルーチンを終
了し、リターンする。
R1 (i) = C1 (i) × R0 (i) / C0 (i) (i = 0 to 30) In the above formula, R0 (i) is the spectral reflectance data of the high-accuracy standard white plate. The value is stored in the ROM (7) in advance. That is, in # 304 to # 310, the measurement values were calibrated by the high-precision standard white plate, and in # 311 to # 317, the spectral reflectance of the regular standard white plate was measured and stored. In # 303, if the item is not “high-precision standard white plate”, proceed to # 319. It is determined whether or not the calibration is performed using the common standard white plate, and if so, the process proceeds to # 320, a message indicating that the common standard white plate is set as a sample is displayed, and in # 321,
The user is prompted to select one of the two items, "measurement" and "stop", and in # 322 it is determined whether or not the item is "stop". Ends and returns. If it is not "Cancel", proceed to # 324,
Determine whether the item is "measurement" and not "measurement"#
Returning to step 321, if “measurement”, the process proceeds to step # 325 to execute a photometric subroutine. In # 326, the measured value MEAS (i) is C1
Store in (i), proceed to # 327, end the calibration subroutine, and return.

以上述べたように、本実施例の装置においては、分光反
射率の絶対値校正には、常用標準白色板での校正と、高
精度標準白色板での校正があり、日々の校正には安価な
常用標準白色板を用い、常用標準白色板の分光反射率の
経時変化を補正するために、数ケ月に1回という頻度
で、高精度標準白色板を用いて常用標準白色板の分光反
射率を測定し、メモリーするという方式を取っている。
高精度標準白色板は使用頻度が少なく、適切な場所に保
管しておくことにより、汚れや紫外線による経時変化を
防ぐことができ、常用標準白色板は数ケ月に1度という
程度の頻度で経時変化を補正するので、保守が比較的容
易であり、したがって、この方式により安価で作業性が
良く、高精度な測定システムを構成することができる。
As described above, in the apparatus of the present embodiment, the absolute value calibration of the spectral reflectance includes the calibration with the regular standard white plate and the calibration with the high-precision standard white plate, which is inexpensive for daily calibration. In order to correct the temporal change in the spectral reflectance of the regular standard white plate, the regular standard white plate is used once every several months, and the spectral reflectance of the regular standard white plate is measured using the high precision standard white plate. Is measured and stored in memory.
The high-precision standard white plate is rarely used, and by storing it in an appropriate place, it is possible to prevent changes over time due to dirt and ultraviolet rays, and the standard white plate for regular use is stored once every few months. Since the change is corrected, maintenance is relatively easy. Therefore, this method can configure an inexpensive, workable, and highly accurate measurement system.

さて、#319において、項目が「常用標準白色板」でな
ければ、第14図(b)の#328に進み、項目が「ユーザ
ー標準板」か否かを判別し、そうであれば#329に進
み、「測定」と「中止」の2項目から1項目を使用者に
選択させ、#330で項目が「中止」か否かを判別し、
「中止」であれば#331へ進み、構成サブルーチンを終
了して、リターンする。「中止」でなければ#332へ進
み、項目が「測定」か否かを判別し、「測定」でなけれ
ば#329へ戻り、「測定」であれば#333で測光サブルー
チンを実行し、#334で測定値MEAS(i)をC2(i)
(i=0〜30)に格納し、リターンする。#328におい
て、項目が「ユーザー標準板」でなければ、#336へ進
み、項目が「校正モード」か否かを判別し、そうでなけ
れば#300に戻り、そうであれば#337に進んで、標準白
色板とユーザー標準板の2種の校正モードから、1つを
選択させてリターンする。標準白色板の校正モードが選
択されると、試料の分光反射率計算の際に、#320〜#3
26で行なった常用標準白色板による校正で求められた値
C1(i)と、#311〜#317で測定した常用標準白色板の
分光反射率データR1(i)を用いる。ユーザー標準板の
校正モードが選択されると、試料の分光反射率計算の
際、#329〜#334のユーザー標準板による校正で求めら
れた値C2(i)と、設定サブルーチンの#324で、入力
されたユーザー標準板の分光反射率データR2(i)を用
いる。
By the way, if the item is not the "normal standard white plate" in # 319, the process proceeds to # 328 in FIG. 14 (b) to determine whether the item is the "user standard plate". Proceed to step 1 to let the user select one item from the two items of "measurement" and "stop", and determine whether the item is "stop" in # 330,
If it is "Cancel", the process proceeds to # 331 to end the configuration subroutine and return. If it is not "Cancel", proceed to # 332 to determine whether the item is "Measurement". If it is not "Measurement", return to # 329. If it is "Measurement", execute the photometry subroutine in # 333. Measured value MEAS (i) is C2 (i) at 334
Store in (i = 0 to 30) and return. In # 328, if the item is not "user standard plate", proceed to # 336, determine whether the item is in "calibration mode", otherwise return to # 300, and if so, proceed to # 337. Then, one of the two calibration modes of the standard white plate and the user standard plate is selected and the process returns. If the standard white plate calibration mode is selected, # 320 to # 3 will be used when calculating the spectral reflectance of the sample.
Value obtained by calibration using a standard white plate performed in Step 26
C1 (i) and the spectral reflectance data R1 (i) of the standard white plate for common use measured in # 311 to # 317 are used. When the calibration mode of the user standard plate is selected, when calculating the spectral reflectance of the sample, the value C2 (i) obtained by the calibration with the user standard plate of # 329 to # 334 and the setting subroutine # 324 are used. The input spectral reflectance data R2 (i) of the user standard plate is used.

以上で、校正サブルーチンの説明を終了し、次に、測定
サブルーチンの説明を行なう。第15図は測定サブルーチ
ンのフローチャートである。#400で、まずトリガーモ
ードを判別し、マニュアルモードであれば#406に進
み、タイマーモードであれば#401へ進む。#401では、
リアルタイムクロック(17)のデータを入力し、現在時
刻が前述の設定サブルーチンの#224で設定された測定
開始時刻を経過しているか否かを判別し、“NO"であれ
ば#402に進んで、中止キーが押されているか否かを判
別し、押されていれば#403に進んで、測定サブルーチ
ンを終了し、リターンする。中止キーが押されていなけ
れば#401へ戻る。#401で現在時刻が測定開始時刻を経
過していれば#404へ進み、測定回数Jをゼロにクリア
ーする。次に、#405でレジスタTに、現在時刻をメモ
リーして、#406へ進む。#406では、測光サブルーチン
を実行し、#407で反射率計算サブルーチンを実行す
る。計算結果はR(i)に格納されている。反射率計算
サブルーチンの詳細は後述する。#408で、色彩計算や
限界判別等の演算を行なう演算サブルーチンを実行し、
#409において、測定値や演算値の表示を行なう演算値
表示サブルーチンを実行する。#410では、測定値用メ
モリーに空き領域があるか否かを判別し、空き領域がな
ければ#411に進んで、測定値用メモリーに空き領域が
なく、今回の測定値がメモリーされない旨の警告を行な
い、#412へ進む。測定値メモリーに空き領域がある場
合は#413へ進み、最後に測定したデータの番号を示すN
1に1を加算し、#414では、表示しているデータの番号
を示すN2にN1を代入する。#415では表示中のデータの
番号であるN2の値を表示し、#416に進み、分光反射率
計算値R(i)(I=0〜30)の値を、N1番目の測定値
用メモリーに格納して、#412に進む。#412では、印字
モードがAUTOか否かを判別し、AUTOであれば#417に進
み、設定サブルーチンの#216で選択された印字項目を
プリンター(16)にて印字して、#418に進む。#412に
おいて印字モードがAUTOでなければ、#418に進む。#4
18ではデータ出力モードがAUTOか否かを判別し、AUTOで
あれば#419へ進み、設定サブルーチンの#220で選択さ
れたデータ出力項目を、外部入出力ポート(10)へ出力
し、#420へ進む。#418において、データ出力モードが
AUTOでない場合は、#420へ進む。#420ではトリガーモ
ードを判別し、マニュアルモードであれば、#421へ進
み、測定サブルーチンを終了してリターンする。タイマ
ーモードであれば#422に進み、測定回数Jを1だけ増
やし、#423においてタイマー終了モードを判別し、回
数による終了モードであれば#424へ進み、測定回数J
が測定サブルーチンの#224で設定された終了回数と等
しいか否かを判別し、等しければ#425に進み、測定サ
ブルーチンを終了してリターンし、等しくなければ#42
6に進む。#423において、タイマー終了モードが、時刻
による終了モードであれば#426に進む。#426では中止
キーが押されているか否かを判別し、押されていれば#
425に進み、測定サブルーチンを終了してリターンす
る。中止キーが押されていなければ#427に進み、現在
時刻が最後に測定を行なった時刻Tに設定サブルーチン
の#224で設定されたインターバル時間を加えた時刻を
経過したか否かを判別し、経過していれば#405に戻
り、測定をくり返す。経過していなければ#428に進
み、タイマー終了モードを判別し、回数による終了モー
ドであれば#426に戻り、中止キーとインターバルタイ
ムのチェックをくり返す。時刻による終了モードであれ
ば#429に進み、現在時刻が終了時刻を経過したか否か
を判別し、経過していれば#425に進み、測定サブルー
チンを終了してリターンし、経過していなければ#426
に戻り、中止キー、インターバルタイム、終了時刻のチ
ェックをくり返す。
This is the end of the description of the calibration subroutine, and then the measurement subroutine will be described. FIG. 15 is a flowchart of the measurement subroutine. In # 400, first, the trigger mode is determined, and if it is the manual mode, the process proceeds to # 406, and if it is the timer mode, the process proceeds to # 401. In # 401,
Input the data of the real time clock (17) and determine whether the current time has passed the measurement start time set in # 224 of the above-mentioned setting subroutine. If "NO", proceed to # 402. It is determined whether or not the stop key is pressed, and if it is pressed, the process proceeds to step # 403 to end the measurement subroutine and return. If the stop key is not pressed, the process returns to # 401. If the current time has passed the measurement start time in # 401, the process proceeds to # 404 and the number of measurements J is cleared to zero. Next, at # 405, the current time is stored in the register T, and the routine proceeds to # 406. In # 406, a photometric subroutine is executed, and in # 407, a reflectance calculation subroutine is executed. The calculation result is stored in R (i). Details of the reflectance calculation subroutine will be described later. In # 408, execute a calculation subroutine that performs calculations such as color calculation and limit determination,
In # 409, a calculated value display subroutine for displaying the measured value and the calculated value is executed. In # 410, it is determined whether or not there is a free area in the measurement value memory. If there is no free area, the procedure proceeds to # 411, in which there is no free area in the measurement value memory and the current measurement value is not stored. Give a warning and proceed to # 412. If there is a free area in the measured value memory, proceed to # 413 and indicate the last measured data number N
1 is added to 1, and in # 414, N1 is substituted for N2 indicating the number of the displayed data. In # 415, the value of N2, which is the number of the data being displayed, is displayed. Then, in # 416, the spectral reflectance calculation value R (i) (I = 0 to 30) is stored in the N1th measurement value memory. Store in and proceed to # 412. In # 412, it is determined whether the print mode is AUTO. If it is AUTO, the process proceeds to # 417, the print item selected in # 216 of the setting subroutine is printed by the printer (16), and the process proceeds to # 418. . If the print mode is not AUTO in # 412, the process proceeds to # 418. #Four
In 18, it is determined whether or not the data output mode is AUTO, and if it is AUTO, the process proceeds to # 419, and the data output item selected in # 220 of the setting subroutine is output to the external input / output port (10). Go to. In # 418, the data output mode is
If not AUTO, go to # 420. In # 420, the trigger mode is determined, and if it is the manual mode, the process proceeds to # 421 to end the measurement subroutine and return. If it is the timer mode, proceed to # 422 and increase the number of times of measurement J by 1 and determine the timer end mode at # 423.
Is equal to the end count set in # 224 of the measurement subroutine.
Go to 6. In # 423, if the timer end mode is the time end mode, the process proceeds to # 426. # In 426, determine whether or not the cancel key is pressed, and if it is pressed #
Proceed to 425 to end the measurement subroutine and return. If the stop key is not pressed, the process proceeds to # 427, and it is determined whether or not the current time has passed the time T, which is the last measurement, plus the interval time set in # 224 of the setting subroutine, If the time has elapsed, return to # 405 and repeat the measurement. If it has not elapsed, the process proceeds to # 428 to determine the timer end mode, and if it is the end mode by the number of times, the process returns to # 426 to repeat the stop key and the interval time check. If it is the time end mode, proceed to # 429 to determine whether or not the current time has passed the end time, and if it is, proceed to # 425 to end the measurement subroutine and return. If # 426
Return to and repeat the check of the stop key, interval time, and end time.

以上で、測定サブルーチンの説明を終了し、次に測定サ
ブルーチンの#407と設定サブルーチンの#243で使用し
た反射率計算サブルーチンについて説明する。第16図が
反射率計算のフローチャートである。反射率計算は、校
正に用いた標準板の分光反射率データと、測定値、及び
試料の測定値から、試料の分光反射率を計算するもので
ある。#500で、まず波長カウンタIを0にクリアーす
る。#501で現在の校正モードが標準白色板かユーザー
標準板かを判別する。この校正モードは、校正サブルー
チンの#337で設定したものである。校正モードが標準
白色板であれば、#502で式によりI番目の波長での
試料の分光反射率R(I)を計算し、#504に進む。
This is the end of the description of the measurement subroutine, and then the reflectance calculation subroutine used in # 407 of the measurement subroutine and # 243 of the setting subroutine will be described. FIG. 16 is a flowchart of reflectance calculation. The reflectance calculation is to calculate the spectral reflectance of the sample from the spectral reflectance data of the standard plate used for calibration, the measured value, and the measured value of the sample. In # 500, the wavelength counter I is first cleared to 0. In # 501, the current calibration mode is standard white plate or user standard plate. This calibration mode is set in # 337 of the calibration subroutine. If the calibration mode is the standard white plate, the spectral reflectance R (I) of the sample at the I-th wavelength is calculated by the formula in # 502, and the process proceeds to # 504.

上式で、MEAS(I)は試料の測定値、C1(I)は校正サ
ブルーチンで求めた常用標準白色板の測定値、R1(I)
は校正サブルーチンで求めた常用標準白色板の分光反射
率である。#501において校正モードがユーザー標準板
であれば、#503で式によりI番目の波長での試料の
分光反射率R(I)を計算し、#504に進む。
In the above equation, MEAS (I) is the measured value of the sample, C1 (I) is the measured value of the standard white plate used in the calibration, and R1 (I)
Is the spectral reflectance of the standard white plate used in the calibration process. If the calibration mode is the user standard plate in # 501, the spectral reflectance R (I) of the sample at the I-th wavelength is calculated by the equation in # 503, and the process proceeds to # 504.

#504において、波長カウンタIを+1し、#505でIが
31か否かを判別する。本実施例では400nmから700nmまで
の波長領域の10nmピッチの反射率を計算するので、Iは
0〜30であり、Iが31になった時点ですべての波長の反
射率を計算したことになるので、Iが31であれば#506
に進み、反射率計算サブルーチンを終了してリターンす
る。Iが31でなければ#501に戻り、すべての波長での
反射率計算が終了するまでくり返す。以上で反射率計算
サブルーチンの説明を終了する。
In # 504, the wavelength counter I is incremented by 1, and in # 505, I
Determine if 31 or not. In this embodiment, the reflectance of 10 nm pitch in the wavelength region from 400 nm to 700 nm is calculated, so that I is 0 to 30, and when I becomes 31, the reflectance of all wavelengths is calculated. So if I is 31, # 506
Then, the reflectance calculation subroutine is terminated and the process returns. If I is not 31, the process returns to # 501 and is repeated until the reflectance calculation for all wavelengths is completed. This is the end of the description of the reflectance calculation subroutine.

次に、測定サブルーチンの#408で使用した演算サブル
ーチンの説明を行なう。このサブルーチンは、反射率計
算サブルーチンで計算した試料の分光反射率R(i)を
基にして、各種の色彩計算や、限界判別処理を行なうサ
ブルーチンである。第17図は演算サブルーチンのフロー
チャートである。#600において表色系モードを判別
し、表色系モードがユーザー分光感度モードであれば、
#601へ進む。#601〜#609で設定サブルーチンの#202
で選択された光源の種類を判別し、選択されている光源
の分光エネルギー分布のデータをP(i)に格納する。
選択されている光源がD65,A,B,C光源のどれかであれ
ば、あらかじめROM(7)に格納されているそれぞれの
分光エネルギー分布データD65(i),A(i),B(i),
C(i)(i=0〜30)をP(i)に格納する。選択さ
れている光源がユーザー光源であれば、設定サブルーチ
ンの#232で設定されたユーザー光源の分光エネルギー
分布データUP(i)をP(i)に格納する。#610では
1番目のユーザー分光感度US1(i)についての色計算
を行なう。フローチャートに示すように、光源の分光エ
ネルギー分布P(i)と1番目のユーザー分光感度US1
(i)と試料の分光反射率R(i)の測定波長領域内で
の積和を、P(i)とUS1(i)の測定波長領域内での
積和で割った値を、1番目のユーザー色データUC(1)
に代入する。#611,#612では、それぞれ2番目,3番目
のユーザー分光感度US2(i),US3(i)について、#6
10と同様な計算を行ない、それぞれ2番目,3番目のユー
ザー色データUC(2),UC(3)に代入する。次に、#6
13,#614,#615で設定サブルーチンの#239以降で設定
した基準値の分光反射率データSTD(i)について、ユ
ーザー分光感度US1(i),US2(i),US3(i)に関す
る色計算を行ない、その値をそれぞれUSTD(1),USTD
(2),USTD(3)に格納する。次に#616で、ユーザー
分光感度番号Iを1に設定し、#617で表色系がユーザ
ー分光感度の対数モードかパーセントモードかを判別
し、対数モードであれば#618,#619で、UC(I)とUST
D(I)をパーセント値から吸光度値に計算し直す。カ
ラー写真の色濃度測定用の分光感度をユーザー分光感度
として設定し、カラー写真の色測定を行なう場合、一般
的に対数系の値で色評価を行なうので、対数系の値であ
る吸光度値を計算する機能は大変有効である。#620で
は、測定値と基準値の差を計算し、△UC(I)に格納す
る。表色系が対数モードでなくパーセントモードである
場合には#622に進み、UC(I)とUSTD(I)との比率
を計算し、△UC(I)に格納して、#621へ進む。#621
でIに1を加算し、#623でIの値を判別することによ
り、I=1,2,3について、#617〜#621の計算を行な
い、#624へ進む。
Next, the calculation subroutine used in # 408 of the measurement subroutine will be described. This subroutine is a subroutine for performing various color calculations and limit determination processing based on the spectral reflectance R (i) of the sample calculated by the reflectance calculation subroutine. FIG. 17 is a flowchart of the calculation subroutine. In # 600, the color system mode is determined, and if the color system mode is the user spectral sensitivity mode,
Go to # 601. # 202 of the setting subroutine in # 601 to # 609
The type of the light source selected in step S1 is determined, and the spectral energy distribution data of the selected light source is stored in P (i).
If the selected light source is any one of D65, A, B and C light sources, the spectral energy distribution data D65 (i), A (i), B (i ),
Store C (i) (i = 0 to 30) in P (i). If the selected light source is the user light source, the spectral energy distribution data UP (i) of the user light source set in # 232 of the setting subroutine is stored in P (i). In # 610, color calculation is performed for the first user spectral sensitivity US1 (i). As shown in the flowchart, the spectral energy distribution P (i) of the light source and the first user spectral sensitivity US1
The value obtained by dividing the product sum of (i) and the spectral reflectance R (i) of the sample within the measurement wavelength region by the product sum of P (i) and US1 (i) within the measurement wavelength region is the first User color data UC (1)
To. In # 611 and # 612, for the second and third user spectral sensitivities US2 (i) and US3 (i), respectively, # 6
The same calculation as in 10 is performed, and the second and third user color data UC (2) and UC (3) are respectively substituted. Then # 6
13, # 614, # 615 Color calculation for user spectral sensitivity US1 (i), US2 (i), US3 (i) for the spectral reflectance data STD (i) of the reference value set after # 239 of the setting subroutine And set the values to USTD (1) and USTD respectively.
Store in (2), USTD (3). Next, in # 616, the user spectral sensitivity number I is set to 1, and in # 617, it is determined whether the color system is the logarithmic mode or the percent mode of the user spectral sensitivity. If it is the logarithmic mode, in # 618 and # 619, UC (I) and UST
Recalculate D (I) from percent value to absorbance value. When the spectral sensitivity for color density measurement of color photographs is set as the user spectral sensitivity and color measurement of color photographs is performed, color evaluation is generally performed with a logarithmic value, so the absorbance value that is a logarithmic value is used. The calculation function is very effective. In # 620, the difference between the measured value and the reference value is calculated and stored in ΔUC (I). If the color system is not the logarithmic mode but the percent mode, proceed to # 622, calculate the ratio between UC (I) and USTD (I), store in ΔUC (I), and proceed to # 621. . # 621
By adding 1 to I and discriminating the value of I in # 623, # 617 to # 621 are calculated for I = 1, 2, and 3, and the process proceeds to # 624.

#600において、表色系がユーザー分光感度モードでは
なく、XYZモードであれば、#625で設定サブルーチンで
選択された視野(2゜又は10゜)の三刺激値データ(あ
らかじめROM(7)に格納されている)と、選択された
光源の分光エネルギー分布のデータと、試料の分光反射
率データとから、通常のXYZ表色系又はX10Y10Z10の表色
系での色彩計算を行ない、#624に進む。#624では設定
サブルーチンの#210で選択された限界警告モードを判
別し、限界判別警告を行なうモード(ON)であれば#62
5に進む。#625では波長番号Iをゼロにクリアーする。
#626では、I番目の波長の試料の分光反射率R(I)
が、設定サブルーチンの#236で設定されたI番目の波
長での分光反射率の上限値LIMH(I)以上であるか否か
を判別し、そうであれば#627に進み、試料の分光反射
率が許容範囲外にある旨の限界警告表示を行なって演算
サブルーチンを終了し、リターンする。#626で、R
(I)がLIMH(I)より小さい場合は#628に進み、I
番目の波長の試料の分光反射率R(I)が設定サブルー
チンの#237で設定されたI番目の波長での分光反射率
の下限値LIML(I)以下であるか否かを判別し、そうで
あれば#627へ進んで、試料の分光反射率が許容範囲外
にある旨の限界警告表示を行なって、リターンする。#
628において、R(I)がLIML(I)よりも大きい場合
には#629に進み、波長番号Iに1を加算して、#630に
進む。#630では、すべての波長が終了したか否かを判
別するために、Iが31か否かを判別し、“NO"であれば
次の波長において、#626以降の限界判別をくりかえ
す。“YES"であればすべての波長における試料の分光反
射率が、許容範囲内にあるということであるから、#63
1において限界警告表示を消して、演算サブルーチンを
終了し、リターンする。#624において、限界警告モー
ドが限界判別警告を行なわないモード(OFF)であれ
ば、限界判別を行なわず、すぐに#631へ進み、限界警
告表示を消してリターンする。以上で演算サブルーチン
の説明を終了する。
In # 600, if the color system is not the user spectral sensitivity mode but the XYZ mode, the tristimulus value data (previously stored in ROM (7) in the field of view (2 ° or 10 °) selected in the setting subroutine in # 625. Stored), the data of the spectral energy distribution of the selected light source, and the spectral reflectance data of the sample, the color calculation in the normal XYZ color system or X 10 Y 10 Z 10 color system is performed. Go to # 624. In # 624, the limit warning mode selected in # 210 of the setting subroutine is determined, and if the limit determination warning is issued (ON), then # 62.
Go to 5. In # 625, the wavelength number I is cleared to zero.
In # 626, the spectral reflectance R (I) of the sample at the I-th wavelength
Is greater than or equal to the upper limit value LIMH (I) of the spectral reflectance at the I-th wavelength set in # 236 of the setting subroutine, and if so, the process proceeds to # 627 and the spectral reflectance of the sample is determined. A limit warning display indicating that the rate is out of the allowable range is displayed, the arithmetic subroutine is terminated, and the process returns. # 626, R
If (I) is smaller than LIMH (I), proceed to # 628, where I
It is determined whether or not the spectral reflectance R (I) of the sample at the th-th wavelength is less than or equal to the lower limit value LIML (I) of the spectral reflectance at the I-th wavelength set in # 237 of the setting subroutine. If so, proceed to # 627, display a limit warning indicating that the spectral reflectance of the sample is outside the allowable range, and return. #
In R628, when R (I) is larger than LIML (I), the process proceeds to # 629, 1 is added to the wavelength number I, and the process proceeds to # 630. In # 630, in order to determine whether or not all wavelengths have ended, it is determined whether or not I is 31, and if "NO", the limit determination after # 626 is repeated for the next wavelength. If "YES", the spectral reflectance of the sample at all wavelengths is within the allowable range.
In 1, the limit warning display is erased, the calculation subroutine is terminated, and the process returns. In # 624, if the limit warning mode is a mode (OFF) in which the limit determination warning is not issued, the limit determination is not performed, the process immediately proceeds to # 631, the limit warning display is erased, and the process returns. This is the end of the description of the calculation subroutine.

次に、測定サブルーチンの#409で使用した演算値表示
サブルーチンについて説明する。第18図は演算値表示サ
ブルーチンのフローチャートである。第19図(a)
(b)に表示の例を示す。#700において、第12図
(c)の#144の表示モード設定サブルーチン中で設定
された表示モードが分光反射率表示モードか否かを判別
し、“YES"であれば#701へ進み、もし現在分光反射率
グラフに前の測定値を表示していればそれを消して現在
R(i)に格納されている分光反射率測定値を、分光反
射率グラフに表示する。ここでは、カーソル表示モード
がONか否かを判別し、ONのときは、現在分光反射率グラ
フに表示中のカーソルと、カーソル点のデータの数値表
示を新しい測定値に対応するように修正する処理も行な
う。次に#702以降で選択波長における分光反射率の時
間変化グラフの表示を行なう。まず#702において、選
択波長番号Iをゼロにする。本実施例では、選択波長と
して、WL(0),WL(1),WL(2)の3種類を400nm〜7
00nmの範囲で1nmピッチで設定することができ、設定サ
ブルーチンの#208で設定している。分光反射率測定値
は10nm間隔なので選択波長における分光反射率は補間計
算で求める。#703では、I番目の選択波長WL(I)の
1の位を切り捨てた値をWLに代入する。#704におい
て、波長WLに対応する波長番号kを計算する、#705
で、波長WLnmにおける分光反射率R(k)と波長(WL−
10)nmにおける分光反射率R(k−1)の値を用いて、
波長WL(I)における分光反射率を補間計算によって求
め、yに代入する。#706ではIの値を判別し、I=0
ならば#707で×マークを、I=1ならば#708で●マー
クを、I=2ならば#709で○マークを時間変化グラフ
の座標(N2,y)に描画する。すなわち3つの選択波長の
データを識別可能なように、0番目の選択波長WL(0)
におけるデータは×マークで、1番目の選択波長WL
(1)におけるデータは●マークで、2番目の選択波長
WL(2)におけるデータは○マークで表示する。ここで
N2は測定サブルーチンで説明した通り、表示するデータ
のデータ番号である。#710でIに1を加算し、#711で
Iの値を判別し、I=0,1,2のすべてについて、#703〜
#710の処理を行ない、#712に進む。時間変化表示で
は、直前に表示しているグラフは消去せずに、新データ
を重ね書きするものであり、選択波長の分光反射率のデ
ータの古いものから最新のものまでを左側から右側へ並
べて同時に表示するので、使用者はその時間変化を見る
ことができる。また分光反射率グラフにはあらかじめ選
択波長の位置に破線で縦に直線が描かれており、その上
部に各選択波長に対応するマーク×、●、○が描かれて
いるので(第19図(a)を参照)、選択波長とマークと
の関係が一目でわかるようになっている。次に#712に
進み、現在カーソル表示中か否かを判別し、表示中であ
れば#713に進み、反射率時間変化グラフに表示中のカ
ーソルを横軸のN2の位置に移動する。このカーソルは分
光反射率グラフに表示中のデータが時間変化グラフのど
のデータと対応するかを示すものである。#712におい
てカーソル表示中でなければ、すぐに#714へ進む。#7
14においては演算サブルーチンで計算した色彩計算値を
数値表示し、#715に進んで演算値表示サブルーチンを
終了し、リターンする。#700で表示モードが分光反射
率表示モードでない場合は、色彩グラフ表示モードなの
で#716に進み、以降、色彩グラフ表示を行なう(第19
図(b)参照)。#716において現在の表色系がXYZ表色
系かユーザー分光感度表色系かを判別し、XYZ表色系で
あれば#717に進み、Yxy色度座標グラフ上にYxy計算値
をプロットして#714に進む。表色系がユーザー分光感
度表色系であれば#718〜#720に進み、ユーザー色の時
間変化グラフの座標(N2,UC(1))に×マークを、座
標(N2,UC(2))に●マークを、座標(N2,UC(3))
に○マークを描画して#712に進む。UC(1),UC
(2),UC(3)は演算サブルーチンで述べた通り、そ
れぞれユーザー分光感度US1(i),US2(i),US3
(i)に対応する色計算値である、#712〜#713では分
光反射率の時間変化グラフと同様に、表示中のデータ番
号に対応するデータがユーザー色の時間変化グラフ上の
どの位置にあるかを示すためにカーソルを表示し、次に
#714で色彩計算値を数値表示してリターンする。本実
施例では、ユーザー色の時間表時グラフでUC(1),UC
(2),UC(3)の値をグラフ化したが、基準値との偏
差を表わす△UC(1),△UC(2),△UC(3)をグラ
フ化する機能を設けることも容易である。また、分光反
射率の時間変化グラフ及びユーザー色の時間変化グラフ
におけるプロット点の識別のために、プロット点のマー
クを×、●、○と変えることで識別しているが、表示装
置がカラーの場合は表示する色によって区別しても良
い。以上で演算値表示サブルーチンの説明を終了する。
Next, the calculation value display subroutine used in # 409 of the measurement subroutine will be described. FIG. 18 is a flowchart of the calculation value display subroutine. Figure 19 (a)
An example of the display is shown in (b). In # 700, it is determined whether or not the display mode set in the display mode setting subroutine of # 144 in FIG. 12 (c) is the spectral reflectance display mode. If “YES”, the process proceeds to # 701. If the previous measured value is currently displayed on the spectral reflectance graph, it is deleted and the spectral reflectance measured value currently stored in R (i) is displayed on the spectral reflectance graph. Here, it is determined whether or not the cursor display mode is ON, and when it is ON, the cursor currently displayed on the spectral reflectance graph and the numerical display of the data at the cursor point are corrected to correspond to the new measurement value. Processing is also performed. Next, after # 702, a time change graph of the spectral reflectance at the selected wavelength is displayed. First, in # 702, the selected wavelength number I is set to zero. In this embodiment, three types of wavelengths, WL (0), WL (1), and WL (2), are selected as 400 nm to 7 nm.
It can be set in 1nm pitch in the range of 00nm, and it is set in # 208 of the setting subroutine. Since the measured spectral reflectance values are at 10 nm intervals, the spectral reflectance at the selected wavelength is calculated by interpolation. In # 703, a value obtained by cutting off the ones digit of the I-th selected wavelength WL (I) is substituted for WL. In # 704, the wavelength number k corresponding to the wavelength WL is calculated, # 705
Then, the spectral reflectance R (k) at the wavelength WLnm and the wavelength (WL-
Using the value of the spectral reflectance R (k-1) at 10) nm,
The spectral reflectance at the wavelength WL (I) is obtained by interpolation calculation and substituted into y. In # 706, the value of I is determined and I = 0
If so, the X mark is drawn at # 707, if I = 1, the ● mark is drawn at # 708, and if I = 2, the O mark is drawn at # 709 at the coordinate (N2, y) of the time change graph. That is, the 0th selected wavelength WL (0) is set so that the data of the three selected wavelengths can be identified.
The data in is the × mark, the first selected wavelength WL
The data in (1) is the ● mark and the second selected wavelength.
The data in WL (2) is indicated by a circle. here
N2 is the data number of the data to be displayed as described in the measurement subroutine. In # 710, 1 is added to I, the value of I is determined in # 711, and for all of I = 0, 1, 2 # 703-
Perform # 710 and proceed to # 712. In the time change display, new data is overwritten without erasing the graph displayed immediately before, and the oldest to the latest spectral reflectance data of the selected wavelength are arranged from left to right. Since they are displayed at the same time, the user can see the change over time. Also, in the spectral reflectance graph, a straight line is drawn vertically at the position of the selected wavelength with a broken line, and the marks ×, ●, and ○ corresponding to each selected wavelength are drawn above it (see FIG. 19 ( (See a)), the relationship between the selected wavelength and the mark can be seen at a glance. Next, in # 712, it is determined whether or not the cursor is currently displayed. If it is displayed, the process advances to # 713 to move the cursor displayed on the reflectance time change graph to the position N2 on the horizontal axis. This cursor indicates which data on the time change graph the data being displayed on the spectral reflectance graph corresponds to. If the cursor is not being displayed at # 712, the process immediately proceeds to # 714. # 7
At 14, the color calculation value calculated by the calculation subroutine is displayed numerically, and the process proceeds to step # 715 to end the calculation value display subroutine and return. If the display mode is not the spectral reflectance display mode in # 700, it is the color graph display mode, so the process proceeds to # 716, and thereafter, the color graph display is performed (No. 19).
See FIG. (B)). In # 716, it is determined whether the current color system is the XYZ color system or the user spectral sensitivity color system. If it is the XYZ color system, proceed to # 717 and plot the Yxy calculated value on the Yxy chromaticity coordinate graph. And proceed to # 714. If the color system is the user spectral sensitivity color system, proceed to # 718 to # 720, and mark x on the coordinate (N2, UC (1)) of the time-varying graph of the user color and the coordinate (N2, UC (2)). ) Mark ●, coordinates (N2, UC (3))
Draw a circle mark on and proceed to # 712. UC (1), UC
(2) and UC (3) are user spectral sensitivities US1 (i), US2 (i), and US3, respectively, as described in the calculation subroutine.
In # 712 to # 713, which are color calculation values corresponding to (i), the data corresponding to the data number being displayed is located at any position on the time change graph of the user color, similar to the time change graph of the spectral reflectance. A cursor is displayed to indicate whether there is any, and then the color calculation value is numerically displayed in # 714 and the process returns. In the present embodiment, UC (1), UC
Although the values of (2) and UC (3) are graphed, it is easy to provide a function to graph ΔUC (1), ΔUC (2), and ΔUC (3) that represent the deviation from the reference value. Is. In addition, in order to identify the plot points in the time change graph of the spectral reflectance and the time change graph of the user color, the marks of the plot points are changed to ×, ●, and ○. In this case, it may be distinguished by the displayed color. This is the end of the description of the calculated value display subroutine.

次にデータ番号設定サブルーチンについて説明を行な
う。第20図にデータ番号設定サブルーチンのフローチャ
ートを示す。本サブルーチンにおいては、N1個の測定値
メモリーの中から、任意の番号のデータを表示のために
呼び出し、反射率データとする処理を行なう。使用者が
データ番号を入力し、そのデータ番号のメモリー内容が
呼び出されるのみであるが、そのデータ番号の入力はテ
ンキーを用いて数値データで設定することもできるし、
また、“↑",“↓",“→",“←”キーを用いてデータ番
号を連続的に増加もしくは減少させることもできる。デ
ータ番号を連続的に増減させ、かつ、データ番号が変わ
るごとに、そのデータ番号の記憶内容をグラフ上に表示
することにより、分光反射率データの時間変化を分光反
射率グラフの動画像として認識することができる。以
下、第20図のフローチャートに沿って説明する。#800
で、まず、N1(最終測定値のデータ番号)がゼロか否か
を判別する。N1がゼロであれば、測定値が無いというこ
となので何もせずに#801へ進み、リターンする。N1が
ゼロでなければ#802に進み、キー入力が有るまで待
つ。キー入力が有れば#803に進み、そのキーが数字キ
ーか否かを判別し、数字キーであればテンキーからのデ
ータ番号入力であるとみなし、#804へ進み、テンキー
から数値を入力し、変数Nへ格納する。#805で変数N
の値が適正な値か否かを判別し、“YES"であればN2にN
を代入し、#807へ進む。N2は前述した通り、表示中の
データのデータ番号を表わす変数である。#805でNが
適正値でない場合は、N2の値は変更せずに#807に進
む。#807ではデータ番号表示としてN2の値を表示す
る。#808では分光反射率データR(i)にN2番目の測
定値メモリーMEM(N2,i)を格納し、#809においてその
R(i)を用いて演算サブルーチンを実行し、#810に
おいて演算値表示サブルーチンを実行し、#802に戻
る。#803においてキーが数字キーでなかった場合は#8
11に進む。#811ではデータ番号変更スピードを調節す
るための変数kに5を設定する。kの値が大きい程デー
タ番号の変更スピードは遅くなる。#812において、キ
ー入力の内容をKMという変数にメモリーする。#813に
おいてキー入力の内容とKMの内容が等しいか否かを判別
し、等しければ#814に進む。#814ではキーが中止キー
か否かを判別し、中止キーであれば#815に進み、デー
タ番号設定サブルーチンを終了し、リターンする。中止
キーでなければ#816へ進み、以降、#816〜#824でキ
ー入力の内容を判別し、キー入力が“↑”キーであれば
10を、“↓”キーであれば−10を、“→”キーであれば
1を、“←”キーであれば−1を、その他のキーであれ
ば0をデータ番号変更値dに設定し、#825に進む。#8
25ではN2にdを加算した値をNに代入し、#826〜#830
でNの値の適正判別を行なう。Nがゼロ以下であればN2
=1に、Nが最終測定値のデータ番号N1より大きければ
N2=N1に設定し、#831へ進む。Nが適正値であればN
の値をN2に代入し#831へ進む。#831でデータ番号表示
としてN2の値を表示し、#832で分光反射率データR
(i)にN2番目の測定値メモリーMEM(N2,i)の内容を
格納し、#833で演算サブルーチンを実行し、#834では
演算値表示サブルーチンを実行する。#835以降はキー
が押され続けているか否かの判別と、データ変更スピー
ド調節のための時間待ちである。#835でキーが押され
ているか否かを判別し、押されていなければ#802に戻
り、新たなキー入力を待つ。押されていれば#836で100
msecの時間待ちを行なう。#837ではkを1減算し、#8
38でkがゼロか否かを判別してゼロになるまで#835〜
#837を繰り返す。kがゼロになれば#839でkに1を設
定して#813に戻る。#813ではキー入力内容のメモリー
KMと現在のキー入力内容とを比較し、一致していなけれ
ば#802に戻り、新たなキー入力を待つが、一致してい
ればデータ番号増減を繰り返す。すなわち“↑",“↓",
“→",“←”のうちの1つのキーを押し続けるとデータ
番号増減を連続して行なうが、最初のデータ番号増減か
ら2回目のデータ番号増減までは500msecの時間間隔で
あり、それ以降は100msecの時間間隔になる。また
“↑",“↓”キーを用いれば10単位の高速な増減が行な
われ、“→",“←”を用いれば1単位の低速な増減が行
なわれる。つまり、合計4段階のデータ番号変更スピー
ドがあり、分光反射率の時間変化を分光反射率グラフの
動画像として見る場合、スピードを選択することが可能
なので便利である。以上でデータ番号設定サブルーチン
の説明を終了する。
Next, the data number setting subroutine will be described. FIG. 20 shows a flowchart of the data number setting subroutine. In this subroutine, data of an arbitrary number is called out from the N1 measurement value memories for display, and is processed as reflectance data. The user only inputs the data number and the memory content of that data number is called, but the input of that data number can also be set with numerical data using the numeric keypad,
Further, the data numbers can be continuously increased or decreased by using the "↑", "↓", "→" and "←" keys. By continuously increasing or decreasing the data number and displaying the stored contents of the data number on the graph every time the data number changes, the temporal change of the spectral reflectance data is recognized as a moving image of the spectral reflectance graph. can do. Hereinafter, description will be given according to the flowchart in FIG. # 800
Then, first, it is determined whether or not N1 (data number of the final measurement value) is zero. If N1 is zero, it means that there is no measured value, so proceed to # 801 without doing anything and return. If N1 is not zero, proceed to # 802 and wait until there is a key input. If there is a key input, proceed to # 803 to determine whether or not the key is a numeric key. , In variable N. # 805 with variable N
Discriminates whether the value of is an appropriate value, and if "YES", N2
And substitute to # 807. As described above, N2 is a variable that represents the data number of the data being displayed. If N is not an appropriate value in # 805, the value of N2 is not changed and the process proceeds to # 807. In # 807, the value of N2 is displayed as the data number display. In # 808, the N2th measurement value memory MEM (N2, i) is stored in the spectral reflectance data R (i), the calculation subroutine is executed using the R (i) in # 809, and the calculation value is calculated in # 810. Execute the display subroutine and return to # 802. # 8 in # 803 if the key is not a numeric key
Proceed to 11. In # 811, 5 is set to the variable k for adjusting the data number changing speed. The larger the value of k, the slower the speed of changing the data number. At # 812, the contents of the key input are stored in a variable called KM. In # 813, it is determined whether the contents of the key input and the contents of KM are equal, and if they are equal, the process proceeds to # 814. In # 814, it is determined whether or not the key is the cancel key. If the key is the cancel key, the process proceeds to # 815 to end the data number setting subroutine and return. If it is not the cancel key, proceed to # 816. After that, determine the contents of the key input in # 816 to # 824. If the key input is the "↑" key,
Set 10 to -10 for the "↓" key, 1 for the "→" key, -1 for the "←" key, and 0 for other keys as the data number change value d And proceed to # 825. # 8
In 25, the value obtained by adding d to N2 is substituted for N, and # 826 to # 830
The proper determination of the value of N is made with. N2 if N is less than or equal to zero
= 1, if N is greater than the data number N1 of the final measurement,
Set N2 = N1 and proceed to # 831. If N is a proper value, N
Substitute the value of for N2 and proceed to # 831. The value of N2 is displayed as the data number display in # 831, and the spectral reflectance data R is displayed in # 832.
The contents of the N2th measurement value memory MEM (N2, i) are stored in (i), the calculation subroutine is executed in # 833, and the calculation value display subroutine is executed in # 834. After # 835, it waits for the time for determining whether the key is continuously pressed and adjusting the data change speed. In # 835, it is determined whether or not a key is pressed, and if not pressed, the flow returns to # 802 to wait for a new key input. # 836 100 if pressed
Wait for msec. In # 837, k is decremented by 1, and # 8
In step 38, it is determined whether k is zero or not, until it becomes zero.
Repeat # 837. When k becomes zero, k is set to 1 in # 839 and the process returns to # 813. # 813 is a memory of key input contents
KM is compared with the current key input content, and if they do not match, the process returns to # 802 and waits for a new key input. That is, “↑”, “↓”,
Holding down one of the "→" and "←" keys will increase / decrease the data number continuously, but from the first increase / decrease of the data number to the second increase / decrease of the data number, the time interval is 500 msec. Is a time interval of 100 msec. If the "↑" and "↓" keys are used, a fast increase / decrease of 10 units is performed, and if the "→" and "←" are used, a slow increase / decrease of 1 unit is performed. That is, there are a total of four data number changing speeds, and when viewing the temporal change in the spectral reflectance as a moving image of the spectral reflectance graph, the speed can be selected, which is convenient. This is the end of the description of the data number setting subroutine.

次に第12図(a)のメインプログラムのフローチャート
の#102で使用した表示サブルーチンについて説明を行
なう。前述した“演算値表示サブルーチン”はすでに表
示されているグラフスケール上に測定値や計算値を表示
するものであったが、以下に説明する“表示サブルーチ
ン”は表示モードや表色系や選択波長等が変更された後
に、新しい表示モード、表色系、選択波長等で、最初か
らグラフを描画しなおす場合や、使用説明表示等で表示
が一旦グラフ以外のものになった後で再度グラフ表示を
行なう時などに使用されるサブルーチンである。第21図
は表示サブルーチンのフローチャートである。また表示
の例は第19図に示す。#900において表示すべてを消去
する。#901で表示モードの判別を行ない、分光反射率
表示モードならば#902に進み、分光反射率グラフの枠
と単位及び分光反射率の時間変化グラフの枠と単位を描
画する。#903でグリッド表示モードがONかOFFかを判別
し、ONであれば#904で分光反射率グラフと分光反射率
の時間変化グラフにグリッドを描画する(第19図(c)
参照)。#903でグリッド表示モードがOFFであれば#90
4を通らずに#905に進む。#905で分光反射率グラフに
時間変化表示のための選択波長の位置を示すための縦の
破線と×、●、○マークを描画する。#906では限界警
告モードがONかOFFかを判別し、ONであれば#907で分光
反射率の上限値データLIMH(i)と下限値データLIML
(i)とを、分光反射率グラフ上にグラフ表示して#90
8へ進む。OFFであればそのまま#908に進む。#908では
カーソル表示モードがONか否かを判別し、ONであれば#
909でカーソルを描画し、かつカーソル点のデータを数
値表示し#910へ進む(第19図(d)参照)。OFFであれ
ばそのまま#910へ進む。#910では基準値表示モードが
ONか否かを判別し、ONであれば#911で基準値データSTD
(i)を分光グラフに表示して#912へ進む。OFFであれ
ばそのまま#912へ進む。#901で表示モードが色彩グラ
フ表示モードであれば#926へ進み、表色系がXYZ表色系
かユーザー分光感度表色系かを判別し、XYZ表色系であ
ればYxyグラフの枠と単位を描画し、ユーザー分光感度
表色系であればユーザー色の時間変化グラフの枠と単位
を描画する。#929でグリッド表示モードがONかOFFかを
判別し、ONであれば#930でYxyグラフもしくはユーザー
色時間変化グラフにグリッドを描画し、#912へ進む。O
FFであれば何もせずに#912へ進む。#912〜#917では
1番目からN1番目までの測定値のメモリー内容をすべて
分光反射率の時間表示グラフもしくはYxyグラフもしく
はユーザー色の時間変化グラフにプロットするために1
番目の測定値メモリーMEM(1,i)からN1番目の測定値メ
モリーMEM(N1,i)に向かって順に分光反射率R(i)
への代入、演算サブルーチン、演算値表示サブルーチン
の実行を行なう。#918〜#922はN2番目の測定値メモリ
ーMEM(N2,i)の分光反射率グラフ、色彩計算値等を表
示するための処理であり、#918では色彩値の数値表示
のための枠と単位を描画し、#919でMEM(N2,i)をR
(i)に代入し、#920で演算サブルーチンを実行し、
#921でデータ番号としてN2の値を表示し、#922で演算
値表示サブルーチンを実行してリターンする。以上で表
示サブルーチンの説明を終了する。
Next, the display subroutine used in # 102 of the flowchart of the main program of FIG. 12 (a) will be described. The "calculated value display subroutine" described above was to display the measured value or calculated value on the already displayed graph scale, but the "display subroutine" explained below is the display mode, color system and selected wavelength. When the graph is redrawn from the beginning with a new display mode, color system, selected wavelength, etc., after the change etc. This is a subroutine used when performing. FIG. 21 is a flowchart of the display subroutine. An example of the display is shown in FIG. In # 900, erase all display. The display mode is determined in # 901. If the spectral reflectance display mode is selected, the flow advances to # 902 to draw the frame and unit of the spectral reflectance graph and the frame and unit of the spectral reflectance temporal change graph. In # 903, it is determined whether the grid display mode is ON or OFF. If it is ON, a grid is drawn on the spectral reflectance graph and the spectral reflectance time change graph at # 904 (Fig. 19 (c)).
reference). If the grid display mode is OFF in # 903, # 90
Proceed to # 905 without passing 4. At # 905, a vertical broken line for indicating the position of the selected wavelength for the time change display and marks x, ●, and ○ are drawn on the spectral reflectance graph. In # 906, it is determined whether the limit warning mode is ON or OFF. If it is ON, in # 907 the upper limit value data LIMH (i) and the lower limit value data LIML of the spectral reflectance are determined.
Display (i) and # on the spectral reflectance graph # 90.
Go to 8. If OFF, go to # 908. # In 908, determine whether the cursor display mode is ON, and if it is ON, #
The cursor is drawn at 909, the data at the cursor point is displayed numerically, and the process proceeds to step # 910 (see FIG. 19 (d)). If it is OFF, proceed directly to # 910. In # 910, the reference value display mode is
It is judged whether it is ON or not, and if it is ON, the reference value data STD is sent in # 911.
Display (i) on the spectral graph and proceed to # 912. If it is OFF, proceed directly to # 912. If the display mode is color graph display mode in # 901, proceed to # 926 to determine whether the color system is the XYZ color system or the user spectral sensitivity color system. If the color system is the XYZ color system, the Yxy graph frame is displayed. The unit is drawn, and in the case of the user spectral sensitivity color system, the frame and unit of the time change graph of the user color are drawn. In # 929, it is determined whether the grid display mode is ON or OFF. If it is ON, the grid is drawn on the Yxy graph or the user color time change graph in # 930, and the process proceeds to # 912. O
If it is FF, proceed to # 912 without doing anything. In # 912 to # 917, 1 to plot all the memory contents of the 1st to N1th measurement values in the time display graph of the spectral reflectance, the Yxy graph, or the time change graph of the user color.
Spectral reflectance R (i) from the second measurement value memory MEM (1, i) to the N1th measurement value memory MEM (N1, i)
Substituting in, the calculation subroutine, and the calculation value display subroutine are executed. # 918 to # 922 are processes for displaying the spectral reflectance graph of the N2th measurement value memory MEM (N2, i), color calculation values, etc., and # 918 is a frame for displaying numerical values of color values. Draw a unit, and at # 919, R MEM (N2, i)
Substitute in (i), execute the calculation subroutine in # 920,
The value of N2 is displayed as the data number in # 921, the calculated value display subroutine is executed in # 922, and the process returns. This is the end of the description of the display subroutine.

次に、第12図(c)の#141で使用したグリッドON/OFF
サブルーチンについて説明する。このサブルーチンはグ
リッド表示中であればグリッド表示を消し、グリッド表
示していない場合はグリッド表示を描画するものであ
り、かつ、カーソルを表示している場合はカーソル表示
を消してからグリッドを描画する。第22図にそのフロー
チャートを示す。
Next, the grid ON / OFF used in # 141 of Fig. 12 (c)
The subroutine will be described. This subroutine erases the grid display if the grid is being displayed, draws the grid display if it is not displaying the grid, and if the cursor is being displayed, deletes the cursor display and then draws the grid. . The flowchart is shown in FIG.

次に、第12図(b)の#135で使用したカーソルON/OFF
サブルーチンについて説明する。このサブルーチンは、
表示モードが分光反射率表示モードの時にカーソル表示
中であればカーソル表示及びカーソル点のデータの数値
表示を消し、カーソル表示中でなければカーソルを表示
し、カーソル点のデータを数値表示するものであり、か
つグリッド表示中であればグリッド表示を消してからカ
ーソルとカーソル点のデータを描画する。第23図にその
フローチャートを示す。グリッドON/OFFサブルーチンと
カーソルON/OFFサブルーチンの説明から分かるように、
グリッド表示とカーソル表示が混在しないように配慮さ
れており、グリッドとカーソルの混在によってグラフが
見にくくなるのを防いでいる。
Next, turn on / off the cursor used in # 135 of Fig. 12 (b).
The subroutine will be described. This subroutine
When the cursor is being displayed when the display mode is the spectral reflectance display mode, the numerical display of the cursor display and the data at the cursor point is erased. If there is, and the grid is being displayed, the grid display is turned off and then the data of the cursor and the cursor point is drawn. The flowchart is shown in FIG. As you can see from the explanation of the grid ON / OFF subroutine and the cursor ON / OFF subroutine,
Care is taken not to mix the grid display and the cursor display, and it is possible to prevent the graph from becoming difficult to see due to the mixture of the grid and the cursor.

最後に、第12図(c)の#143で使用した基準値ON/OFF
サブルーチンについて説明する。このサブルーチンは表
示モードが分光反射率表示モードの時に、基準値STD
(i)を分光反射率グラフ上に測定値と同時に表示する
か否か切り換えるものであり、基準値STD(i)をグラ
フ上に表示している時にはその表示を消し、STD(i)
をグラフ上に表示していない時には分光反射率グラフに
基準値STD(i)を表示する。第24図にそのフローチャ
ートを示す。
Finally, the reference value ON / OFF used in # 143 of Fig. 12 (c)
The subroutine will be described. This subroutine is for the reference value STD when the display mode is the spectral reflectance display mode.
It is to switch whether or not (i) is displayed on the spectral reflectance graph at the same time as the measured value. When the reference value STD (i) is displayed on the graph, the display is erased and STD (i) is displayed.
When is not displayed on the graph, the reference value STD (i) is displayed on the spectral reflectance graph. The flowchart is shown in FIG.

以上で本発明の第1の実施例についての説明を終了し、
次に本発明の第2の実施例について説明する。前述の実
施例においては、光源測定用分光センサーS2に内蔵され
るフォトダイオードの数は、試料測定用分光センサーS1
と同じであったが、光源の分光エネルギーの分布の変動
が波長に対し、なだらかに生ずる場合には光源測定用分
光センサーS2のフォトダイオードの数を減らして光源の
分光エネルギー分布を粗い波長間隔で測定して、間の波
長における値は補間計算によって求めても十分な精度の
測定を行うことができる。その例を以下に示す。
This completes the description of the first embodiment of the present invention,
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the above-described embodiment, the number of photodiodes incorporated in the light source measurement spectroscopic sensor S2 is equal to the sample measurement spectroscopic sensor S1.
However, if the fluctuation of the spectral energy distribution of the light source occurs gently with respect to the wavelength, reduce the number of photodiodes of the spectral sensor S2 for light source measurement to reduce the spectral energy distribution of the light source at coarse wavelength intervals. It is possible to perform measurement with sufficient accuracy even if the values at the wavelengths between the measured values are obtained by interpolation calculation. An example is shown below.

第27図に本実施例の照明用光源として使用するパルスキ
セノンランプの分光エネルギー分布と、その毎回の発光
での変動を示す。(便宜上、実際よりも変動割合を大き
くして示す。)図から、分かるように、450nm〜500nmの
範囲に、輝線を含んでおり、毎回の発光でこの範囲の分
光エネルギー分布は波長に対して急峻に変動するが、そ
れ以外の波長範囲では波長に対して、なだらかに変動し
ている。そこで、450nm〜550nmの範囲では、光源測定用
分光センサーS2の測定波長ピッチを試料測定用分光セン
サーS1と同じにし、それ以外の範囲では、分光センサー
S2の測定波長ピッチを分光センサーS1よりも大きくし、
フォトダイオードの数を減らして、間の波長での値は補
間計算で求めるようにすることにより、測定精度を低下
させることなく、アナログ回路の部品数を減らすことが
できる。また、測定値のA/D変換の順序を第1の実施例
では分光センサーS1とS2を並行して行なっているが、分
光センサーS2の素子数を減らした場合は、分光センサー
S1のA/D変換が終了してから分光センサーS2のA/D変換を
行うか、分光センサーS2のA/D変換が終了してから分光
センサーS1のA/D変換を行うようにすれば、A/D変換にか
かる時間を短くすることができる。第28図、第29図にそ
の回路例を示す。光源測定用分光センサーS2は、波長45
0nm〜500nm付近のフォトダイオードPD43〜PD50は、波長
間隔がほぼ10nmピッチに、その他の範囲は20nmピッチに
なるように、構成してある。これにより、フォトダイオ
ードの数は24個に、すなわち、分光センサーS1とS2とを
合わせて64個になっている。BLOCK(i)(i=0〜
7)に含まれる電流電圧変換・積分回路は、第28図に示
すように8個ずつにしてある。各ブロックに接続される
フォトダイオードの順序は、第29図に示すように、第1
の実施例とは異なり、まず、分光センサーS1のフォトダ
イオードが8個ずつ同時にA/D変換され、それを5回行
って、分光センサーS1のすべてのフォトダイオードがA/
D変換された後、分光センサーS2のフォトダイオードが
8個ずつ同時にA/D変換され、それを3回繰り返して分
光センサーS2のすべてのフォトダイオードがA/D変換さ
れるように構成してある。第1の実施例では全部で80個
のフォトダイオードと、それに対応する80組の電流電圧
変換・積分回路が必要であり、8個ずつ同時のA/D変換
を10回繰り返す必要があったが、第2の実施例では、64
個のフォトダイオードと、それに対応する64組の電流電
圧変換・積分回路で良く、また、8個ずつ同時のA/D変
換を8回繰り返せば良い。このように、第2の実施例で
は測光回路が小さくなり、A/D変換も速く終了する。こ
の実施例での測光サブルーチンを第30図(a)(b)
(c)(d)に示す。第1の実施例との相異点は、受光
素子数が減少することにより、#17,#30,#35,#41,#
43における定数が減少したことと、A/D変換の順序が変
更されたことにより、#15,#28において、A/D変換値の
メモリーへの格納順序を変更していることと、そして、
#44以降の光源補正において、試料測定用分光センサー
S1では測定していて光源測定用分光センサーS2では測定
していない波長における光源の値を、その前後の波長で
の光源測定値から補間計算により求めている点である。
FIG. 27 shows the spectral energy distribution of the pulse xenon lamp used as the illumination light source of this example and the variation in the light emission each time. (For the sake of convenience, the fluctuation ratio is shown larger than it actually is.) As can be seen, the emission line is included in the range of 450 nm to 500 nm, and the spectral energy distribution in this range is dependent on the wavelength for each emission. Although it fluctuates sharply, it fluctuates gently with respect to the wavelength in other wavelength ranges. Therefore, in the range of 450 nm to 550 nm, the measurement wavelength pitch of the light source measurement spectroscopic sensor S2 is set to be the same as that of the sample measurement spectroscopic sensor S1.
The measurement wavelength pitch of S2 is made larger than that of the spectroscopic sensor S1,
By reducing the number of photodiodes and obtaining the value at the wavelength between them by interpolation calculation, the number of analog circuit components can be reduced without lowering the measurement accuracy. In the first embodiment, the order of A / D conversion of measured values is performed in parallel with the spectroscopic sensors S1 and S2. However, when the number of elements of the spectroscopic sensor S2 is reduced,
If A / D conversion of the spectroscopic sensor S2 is performed after the A / D conversion of S1 is completed, or if A / D conversion of the spectroscopic sensor S1 is performed after the A / D conversion of the spectroscopic sensor S2 is completed. , A / D conversion time can be shortened. 28 and 29 show examples of the circuit. The light source measurement spectroscopic sensor S2 has a wavelength of 45
The photodiodes PD43 to PD50 in the vicinity of 0 nm to 500 nm are configured such that the wavelength interval is approximately 10 nm pitch and the other range is 20 nm pitch. As a result, the number of photodiodes is 24, that is, the total of the spectroscopic sensors S1 and S2 is 64. BLOCK (i) (i = 0 to
The current-voltage converting / integrating circuits included in 7) are arranged in groups of 8 as shown in FIG. The order of the photodiodes connected to each block is as shown in FIG.
Unlike the embodiment described above, first, eight photodiodes of the spectroscopic sensor S1 are A / D-converted at the same time, and this is performed five times, and all the photodiodes of the spectroscopic sensor S1 are A / D converted.
After D conversion, 8 photodiodes of the spectroscopic sensor S2 are simultaneously A / D converted, and this is repeated 3 times so that all the photodiodes of the spectroscopic sensor S2 are A / D converted. . In the first embodiment, a total of 80 photodiodes and 80 sets of corresponding current-voltage conversion / integration circuits were required, and it was necessary to repeat 8 A / D conversions simultaneously 10 times each. , In the second embodiment, 64
One photodiode and 64 sets of corresponding current-voltage converting / integrating circuits are enough, and eight A / D conversions at the same time may be repeated eight times. As described above, in the second embodiment, the photometric circuit becomes small, and A / D conversion ends quickly. The photometric subroutine in this embodiment is shown in FIGS.
Shown in (c) and (d). The difference from the first embodiment is that # 17, # 30, # 35, # 41, # is reduced because the number of light receiving elements is reduced.
Due to the decrease in the constant in 43 and the change in the order of A / D conversion, the order of storing the A / D converted values in the memory is changed in # 15 and # 28, and
Spectral sensor for sample measurement in light source correction after # 44
The point is that the value of the light source at the wavelength measured in S1 and not measured in the light source measurement spectroscopic sensor S2 is obtained by interpolation calculation from the light source measurement values at the wavelengths before and after that.

(発明の効果) 本発明は以上のように、試料測定用の第1の分光手段及
び第1の受光素子列の他に、測定試料照明用光源の光を
波長毎の光に分光する第2の分光手段と、第2の分光手
段により分光された各波長の光を受光する第2の受光素
子列とを設けたから、試料測定の度毎に光源の分光エネ
ルギー分布をも測定することができ、試料測定用の第1
の受光素子列の出力と、光源測定用の第2の受光素子列
の出力との比を計算する計算手段を設けたから、試料の
分光測定値から光源の分光エネルギー分布の変動による
誤差を除去することができ、分光エネルギー分布特性の
不安定な光源を測定試料照明用光源に使用した場合にお
いても、正確な分光測定を行うことができるという効果
がある。
(Effects of the Invention) As described above, the present invention separates the light of the light source for illuminating the measurement sample into light of each wavelength in addition to the first spectroscopic unit for measuring the sample and the first light receiving element array. Since the spectroscopic means and the second light receiving element array for receiving the light of each wavelength dispersed by the second spectroscopic means are provided, the spectral energy distribution of the light source can be measured every time the sample is measured. , First for measuring samples
Since the calculation means for calculating the ratio between the output of the light receiving element array of and the output of the second light receiving element array for light source measurement is provided, the error due to the fluctuation of the spectral energy distribution of the light source is removed from the spectroscopic measurement value of the sample. Even if a light source having an unstable spectral energy distribution characteristic is used as the light source for illuminating the measurement sample, there is an effect that accurate spectroscopic measurement can be performed.

なお、試料照明用光源の分光エネルギー分布の変動が波
長に対してなだらかに生じる波長領域内では、第2の分
光手段と第2の受光素子列との組み合わせによる分光検
出器の測定波長間隔を、第1の分光手段と第1の受光素
子列との組み合わせによる分光検出器の測定波長間隔よ
りも大きくし、測定波長間隔の間を補間計算するように
構成すれば、第2の受光素子列に含まれる受光素子の数
を減らすことができるので、測光回路やA/D変換回路を
小形にすることができ、また、測定時間も短縮すること
ができるものである。
In the wavelength region in which the fluctuation of the spectral energy distribution of the light source for illuminating the sample occurs gently with respect to the wavelength, the measurement wavelength interval of the spectroscopic detector by the combination of the second spectroscopic means and the second light receiving element array is If it is configured to be larger than the measurement wavelength interval of the spectroscopic detector formed by the combination of the first spectroscopic means and the first light receiving element array and to perform the interpolation calculation between the measurement wavelength intervals, the second light receiving element array is formed. Since the number of light receiving elements included can be reduced, the photometric circuit and the A / D conversion circuit can be downsized, and the measurement time can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の基本構成を示すクレーム対応図、第2
図は本発明の一実施例に係る分光測定装置の全体構成を
示すブロック図、第3図は同上に用いられる電流電圧変
換積分回路の回路図、第4図は同上に用いられる測光回
路中の1ブロックを示す回路図、第5図は同上に用いら
れる測光回路の回路図、第6図は第3図の回路の動作を
説明するためのタイミングチャート、第7図は同上に用
いられる照明回路の回路図、第8図は同上における測光
タイミングを示すタイミングチャート、第9図(a)乃
至(d)は同上における測光動作を示すフローチャー
ト、第10図(a)は同上における測光回路の分光感度を
示す図、第10図(b)は同上における波長領域の分割を
説明するための説明図、第11図は同上における波長補正
を説明するための説明図、第12図(a)乃至(c)は同
上におけるシステム全体の動作を説明するためのフロー
チャート、第13図(a)乃至(c)は同上における設定
サブルーチンのフローチャート、第14図(a)(b)は
同上における校正サブルーチンのフローチャート、第15
図(a)乃至(c)は同上における測定サブルーチンの
フローチャート、第16図は同上における反射率計算のフ
ローチャート、第17図(a)乃至(c)は同上における
演算サブルーチンのフローチャート、第18図は同上にお
ける演算値表示サブルーチンのフローチャート、第19図
(a)乃至(d)は同上における表示部の表示例を示す
説明図、第20図(a)(b)は同上におけるデータ番号
設定サブルーチンのフローチャート、第21図は同上にお
ける表示サブルーチンのフローチャート、第22図は同上
におけるグリッド表示のためのサブルーチンのフローチ
ャート、第23図は同上におけるカーソル表示のためのサ
ブルーチンのフローチャート、第24図は同上における基
準値表示のためのサブルーチンのフローチャート、第25
図は同上に用い得る写真の色濃度測定用分光感度を示す
図、第26図は同上に用いるキーボードの配置例を示す
図、第27図は本発明の第2の実施例に用いられるパルス
キセノンランプの分光エネルギー分布の変動を示す図、
第28図は同上における測光回路の1ブロックを示す回路
図、第29図は同上における測光回路を示す回路図、第30
図(a)乃至(d)は同上における測光サブルーチンの
フローチャートである。 (1)は試料、(2)は照明光源、(F1),(F2)はバ
ンドパスフィルターアレイ、(PDA1),(PDA2)はフォ
トダイオードアレイ、(ADC1),(ADC2)はA/D変換手
段、(DVD)は計算手段である。
FIG. 1 is a claim correspondence diagram showing the basic configuration of the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a block diagram showing the overall configuration of a spectroscopic measurement device according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a circuit diagram of a current-voltage conversion integration circuit used in the same as above, and FIG. 4 is a photometric circuit in the same as above. FIG. 5 is a circuit diagram showing one block, FIG. 5 is a circuit diagram of a photometry circuit used in the same as above, FIG. 6 is a timing chart for explaining the operation of the circuit in FIG. 3, and FIG. 7 is an illumination circuit used in the same as above. FIG. 8, FIG. 8 is a timing chart showing the photometric timing in the same as above, FIGS. 9A to 9D are flowcharts showing the photometric operation in the above, and FIG. 10A is the spectral sensitivity of the photometric circuit in the above. FIG. 10 (b) is an explanatory view for explaining the division of the wavelength region in the same as above, FIG. 11 is an explanatory view for explaining the wavelength correction in the same as above, and FIGS. 12 (a) to (c) ) Is the entire system in the same as above. Flow chart for explaining the operation of the flow chart of setting subroutine in Fig. 13 (a) to (c) are same as above, the flow chart of the calibration subroutine in FIG. 14 (a) (b) is same as above, 15
Figures (a) to (c) are the flowchart of the measurement subroutine in the same as above, Figure 16 is the flowchart of the reflectance calculation in the above, Figure 17 (a) to (c) is the flowchart of the calculation subroutine in the above, and Figure 18 is Flow chart of the calculation value display subroutine in the same as above, FIGS. 19 (a) to (d) are explanatory views showing a display example of the display section in the same as above, and FIGS. 20 (a) and 20 (b) are flow charts of the data number setting subroutine in above , FIG. 21 is a flowchart of a display subroutine in the same as above, FIG. 22 is a flowchart of a subroutine for displaying grid in the same as above, FIG. 23 is a flowchart of a subroutine for displaying cursor in above, and FIG. 24 is a reference value in above. Flowchart of Subroutine for Display, No. 25
The figure shows the spectral sensitivity for color density measurement of photographs that can be used in the same as above, FIG. 26 shows the arrangement example of the keyboard used in the same as above, and FIG. 27 shows the pulse xenon used in the second embodiment of the present invention. Diagram showing the variation of the spectral energy distribution of the lamp,
FIG. 28 is a circuit diagram showing one block of the photometric circuit shown in FIG. 29, and FIG. 29 is a circuit diagram showing the photometric circuit shown in FIG.
(A) to (d) are flowcharts of the photometric subroutine in the above. (1) sample, (2) illumination light source, (F1), (F2) bandpass filter array, (PDA1), (PDA2) photodiode array, (ADC1), (ADC2) A / D conversion Means, (DVD) is a calculation means.

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−135730(JP,A) 特開 昭60−113124(JP,A) 実開 昭59−185652(JP,U) 実開 昭51−115066(JP,U)Continuation of the front page (56) Reference JP-A-60-135730 (JP, A) JP-A-60-113124 (JP, A) Actually opened 59-185652 (JP, U) Actually opened 51-115066 (JP , U)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】測定試料照明用光源と、 測定試料からの反射光または透過光のいずれかを、波長
毎の光に分光する第1分光手段と、 第1の分光手段により分光された各波長の光を受光する
第1の受光素子列と、 測定試料照明用光源の光を波長毎の光に分光する第2の
分光手段と、 第2の分光手段により分光された各波長の光を受光する
第2の受光素子列と、 第1の受光素子列の出力と第2の受光素子列の出力との
比を計算する計算手段と を備え、 前記第2の分光手段と第2の受光素子列との組合せによ
る第2の分光検出器の測定波長間隔を、前記第1の分光
手段と第1の受光素子列との組合せによる第1の分光検
出器の測定波長間隔よりも大きくし、前記第2の分光検
出器の測定波長間隔の間を補間計算するように構成して
成る ことを特徴とする分光測定装置。
1. A light source for illuminating a measurement sample, a first spectroscopic unit that disperses either reflected light or transmitted light from the measurement sample into light of each wavelength, and each wavelength dispersed by the first spectroscopic unit. First light-receiving element array for receiving the light of, the second light-splitting unit for splitting the light of the light source for illuminating the measurement sample into light of each wavelength, and the light of each wavelength split by the second light-splitting unit A second light receiving element array and a calculating means for calculating a ratio of the output of the first light receiving element array and the output of the second light receiving element array, the second spectroscopic means and the second light receiving element The measurement wavelength interval of the second spectroscopic detector in combination with the array is made larger than the measurement wavelength interval of the first spectroscopic detector in combination with the first spectroscopic means and the first light receiving element array, It is characterized in that it is configured to interpolate between the measurement wavelength intervals of the second spectral detector. Spectroscopic measurement device to.
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