JPH07111440B2 - ガスの流れの計測方法 - Google Patents
ガスの流れの計測方法Info
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- JPH07111440B2 JPH07111440B2 JP3195472A JP19547291A JPH07111440B2 JP H07111440 B2 JPH07111440 B2 JP H07111440B2 JP 3195472 A JP3195472 A JP 3195472A JP 19547291 A JP19547291 A JP 19547291A JP H07111440 B2 JPH07111440 B2 JP H07111440B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスの流れの計測方法
に関する。
に関する。
【0002】なお、ここでいう「ガスの流れの計測」と
は、ガスの流速の計測のみならず、ガス流分布の可視化
による計測をも意味するものである。
は、ガスの流速の計測のみならず、ガス流分布の可視化
による計測をも意味するものである。
【0003】
【従来の技術と発明が解決しようとする課題】レーザー
計測装置を用いたガス流速計測をはじめとする光計測装
置を用いたガスの流れの計測に使用するシーディング粒
子としては、SiO2、TiO2、SiC等の多孔質粒
子(平均粒子径0.5〜150μm程度)が用いられて
いた。レーザー計測装置を用いたガス流速の計測方法の
例としては、レーザードップラー流速計、フェーズドッ
プラー流速計などを用いた方法が挙げられる。この場合
は、平均粒子径0.5〜10μm程度の粒子が用いられ
ていた。
計測装置を用いたガス流速計測をはじめとする光計測装
置を用いたガスの流れの計測に使用するシーディング粒
子としては、SiO2、TiO2、SiC等の多孔質粒
子(平均粒子径0.5〜150μm程度)が用いられて
いた。レーザー計測装置を用いたガス流速の計測方法の
例としては、レーザードップラー流速計、フェーズドッ
プラー流速計などを用いた方法が挙げられる。この場合
は、平均粒子径0.5〜10μm程度の粒子が用いられ
ていた。
【0004】また、その他のガスの流れの計測方法の例
としては、フラッシュランプやパルスレーザーなどの瞬
間的かつ強力な光源を用いて、シーディング粒子の分布
を写真撮影することによりガスの流れを計測する方法が
挙げられる。この場合には、平均粒子径5〜150μm
程度の粒子が用いられていた。
としては、フラッシュランプやパルスレーザーなどの瞬
間的かつ強力な光源を用いて、シーディング粒子の分布
を写真撮影することによりガスの流れを計測する方法が
挙げられる。この場合には、平均粒子径5〜150μm
程度の粒子が用いられていた。
【0005】また、多孔質粒子としては、共沈法により
製造したもの、天然物を利用したものなどが挙げられ
る。
製造したもの、天然物を利用したものなどが挙げられ
る。
【0006】従来より使用されている代表的なシーディ
ング粒子の電子顕微鏡写真を、図3〜図14に示す。
(図3、4はホワイトカーボン、図5、6はTiO2、
図7、8はタルク、図9、10はTiO2+タルク、図
11、12は関東ロームから採取したもの、図13、1
4は白色溶融アルミナの写真である。)しかし、このよ
うなシーディング粒子は、写真にも明瞭に現れているよ
うに、下記1〜5のような欠点があり、ガスの流れ計測
誤差を大きくしていた。
ング粒子の電子顕微鏡写真を、図3〜図14に示す。
(図3、4はホワイトカーボン、図5、6はTiO2、
図7、8はタルク、図9、10はTiO2+タルク、図
11、12は関東ロームから採取したもの、図13、1
4は白色溶融アルミナの写真である。)しかし、このよ
うなシーディング粒子は、写真にも明瞭に現れているよ
うに、下記1〜5のような欠点があり、ガスの流れ計測
誤差を大きくしていた。
【0007】1)シーディング粒子の形状が不定型であ
るため、光検出器によって検出されるべき光の散乱断面
積は、光検出時における粒子の向きによって異なる。 2)粒子の粒径分布が広く、光の散乱断面積が粒子毎で
異なり、比較的大きい粒子が2つ以上の光の干渉ジマに
おいて同時に光を散乱する。
るため、光検出器によって検出されるべき光の散乱断面
積は、光検出時における粒子の向きによって異なる。 2)粒子の粒径分布が広く、光の散乱断面積が粒子毎で
異なり、比較的大きい粒子が2つ以上の光の干渉ジマに
おいて同時に光を散乱する。
【0008】3)粒子の見かけ比重が重いため、粒子が
ガスの流れに充分追従しない。
ガスの流れに充分追従しない。
【0009】4)粒径分布が広く見掛け比重の分布もあ
るため、粒子のガス流れに対する追従性がばらつき、ガ
ス流れの定量的評価ができない。
るため、粒子のガス流れに対する追従性がばらつき、ガ
ス流れの定量的評価ができない。
【0010】5)粒子の表面に凹凸があり、粒子同志が
互いに引っ掛かって凝集を起こし、実効粒子径が増大す
る。
互いに引っ掛かって凝集を起こし、実効粒子径が増大す
る。
【0011】また、シーディング粒子をガス流体へ混入
する従来の方法としては、例えば、スクリューフィーダ
ーで押し出したシーディング粒子を気流により吹き出す
方法、あるいはシーディング粒子を溶媒に懸濁させた
後、超音波加湿器で噴霧する方法などがある。
する従来の方法としては、例えば、スクリューフィーダ
ーで押し出したシーディング粒子を気流により吹き出す
方法、あるいはシーディング粒子を溶媒に懸濁させた
後、超音波加湿器で噴霧する方法などがある。
【0012】しかし、上記した方法にあっては、いずれ
もシーディング粒子の供給量が一定しないため、結果的
に計測誤差の原因となっていた。
もシーディング粒子の供給量が一定しないため、結果的
に計測誤差の原因となっていた。
【0013】
【課題を解決するための手段】そこで、上記の問題を解
決するために、次のような手段を講じた。
決するために、次のような手段を講じた。
【0014】すなわち、第1の発明である計測方法は、
光計測装置によるガスの流れの計測方法において、直径
0.5〜150μmのセラミックス多孔質の球状粒子を
シーディング粒子として用いた方法である。
光計測装置によるガスの流れの計測方法において、直径
0.5〜150μmのセラミックス多孔質の球状粒子を
シーディング粒子として用いた方法である。
【0015】前記計測方法のうち、レーザードップラー
流速計などのレーザー計測装置を用いたガス流速の計測
方法にあっては、直径0.5〜10μmの球状粒子を用
いることが好適である。その中でも、直径1.5〜2.
5μmの球状粒子を用いることがさらに好適である。
流速計などのレーザー計測装置を用いたガス流速の計測
方法にあっては、直径0.5〜10μmの球状粒子を用
いることが好適である。その中でも、直径1.5〜2.
5μmの球状粒子を用いることがさらに好適である。
【0016】また、写真撮影を用いたガスの流れの計測
方法にあっては、直径5〜150mμmの球状粒子を用
いることが好適である。その中でも、直径30〜100
μmの球状粒子を用いることがさらに好適である。
方法にあっては、直径5〜150mμmの球状粒子を用
いることが好適である。その中でも、直径30〜100
μmの球状粒子を用いることがさらに好適である。
【0017】前記シーディング粒子が中空球状粒子であ
ることが好適である。
ることが好適である。
【0018】前記シーディング粒子がSiO2よりなる
ことが好適である。
ことが好適である。
【0019】70%以上の前記シーディング粒子の粒子
径が、平均粒子径±50%の範囲内であることが好適で
ある。
径が、平均粒子径±50%の範囲内であることが好適で
ある。
【0020】前記シーディング粒子は逆ミセル法により
製造されることが好適である。
製造されることが好適である。
【0021】この場合、シーディング粒子原料を含有す
る水溶液を孔径のほぼ均一な多孔質ガラス膜あるいは孔
径のほぼ均一な細孔を有する高分子膜から有機溶媒に押
出して径のそろった逆ミセルを形成することにより、前
記シーディング粒子を製造することがさらに好ましい。
一例として、SiO2粒子を製造する場合には、前記シ
ーディング粒子原料として珪酸ナトリウムなどが用いら
れる。
る水溶液を孔径のほぼ均一な多孔質ガラス膜あるいは孔
径のほぼ均一な細孔を有する高分子膜から有機溶媒に押
出して径のそろった逆ミセルを形成することにより、前
記シーディング粒子を製造することがさらに好ましい。
一例として、SiO2粒子を製造する場合には、前記シ
ーディング粒子原料として珪酸ナトリウムなどが用いら
れる。
【0022】メジャーリングホイール式粉体フィーダー
により、前記シーディング粒子をレーザー計測装置に供
給することが好適である。
により、前記シーディング粒子をレーザー計測装置に供
給することが好適である。
【0023】
【作用】光計測装置を用いたガスの流れの計測に使用さ
れるシーディング粒子が球状であれば、光検出器によっ
て検出されるべき光の散乱断面積は、光検出時における
粒子の向きに関係なく一定となる。また、表面に引っ掛
かりを生じるような凹凸が存在しないため、2つ以上の
シーディング粒子が凝集しながら流体中を流れるような
ことはない。これらにより、ガスの流れの計測精度を向
上させることができる。
れるシーディング粒子が球状であれば、光検出器によっ
て検出されるべき光の散乱断面積は、光検出時における
粒子の向きに関係なく一定となる。また、表面に引っ掛
かりを生じるような凹凸が存在しないため、2つ以上の
シーディング粒子が凝集しながら流体中を流れるような
ことはない。これらにより、ガスの流れの計測精度を向
上させることができる。
【0024】シーディング粒子が中空球状粒子であれ
ば、見掛け比重が小さくなり、ガスの流れに追従しやす
くなる。これにより、ガスの流れの計測精度をより一層
向上させることができる。なお、前記中空球状のシーデ
ィング粒子は球状のシーディング粒子よりも、高い計測
精度が得られ、特に高速流体中において両者の差異は顕
著である。
ば、見掛け比重が小さくなり、ガスの流れに追従しやす
くなる。これにより、ガスの流れの計測精度をより一層
向上させることができる。なお、前記中空球状のシーデ
ィング粒子は球状のシーディング粒子よりも、高い計測
精度が得られ、特に高速流体中において両者の差異は顕
著である。
【0025】前記中空球状粒子における殻の厚みには特
に限定はないが、粒子の直径に対して1/3〜1/10
であることが好ましい。1/10未満であれば、流体中
において破壊し易く、また1/3を超えれば、中空であ
ることの効果があまり得られない。
に限定はないが、粒子の直径に対して1/3〜1/10
であることが好ましい。1/10未満であれば、流体中
において破壊し易く、また1/3を超えれば、中空であ
ることの効果があまり得られない。
【0026】前記シーディング粒子の素材としては、白
色で化学的に安定であれば特に限定はなく、炭酸カルシ
ウム、炭酸バリウムなどのアルカリ土類金属炭酸塩;珪
酸カルシウム、珪酸マグネシウム、酸化銅などのアルカ
リ土類金属珪酸塩;SiO2、酸化鉄、アルミナ等の金
属酸化物などが挙げられる。これらのうち、SiO2が
安価で、かつ耐熱性に優れている点から好ましい。耐熱
性に優れていれば、高温流体中でも破壊されることなく
充分使用し得る。
色で化学的に安定であれば特に限定はなく、炭酸カルシ
ウム、炭酸バリウムなどのアルカリ土類金属炭酸塩;珪
酸カルシウム、珪酸マグネシウム、酸化銅などのアルカ
リ土類金属珪酸塩;SiO2、酸化鉄、アルミナ等の金
属酸化物などが挙げられる。これらのうち、SiO2が
安価で、かつ耐熱性に優れている点から好ましい。耐熱
性に優れていれば、高温流体中でも破壊されることなく
充分使用し得る。
【0027】シーディング粒子の粒径分布は狭いほど望
ましいが、70%以上の前記シーディング粒子の粒子径
が、平均粒子径±50%の範囲内であれば、ほぼ均一な
光の散乱断面積を得ることができる。また、気流中にお
けるシーディング粒子の挙動、言い換えれば、ガスの流
れに対する追従のしやすさがほぼ一定となる。また、サ
ンプルデータレートが増加しても、平均有効データ率が
低下しない。すなわち、例えばレーザードップラー流速
計を用いたガス流速の計測方法において、従来では、単
位時間当りのデータ数(サンプルデータレート)を増や
すためにシーディング粒子の供給量を増加させても、平
均有効データ率が低下してしまい、サンプルデータレー
トは余り増加しない。しかし、本発明の方法を用いる
と、従来よりも大きな粒子濃度まで平均有効データ率が
低下しないため、サンプルデータレートを容易に増加さ
せることができる。
ましいが、70%以上の前記シーディング粒子の粒子径
が、平均粒子径±50%の範囲内であれば、ほぼ均一な
光の散乱断面積を得ることができる。また、気流中にお
けるシーディング粒子の挙動、言い換えれば、ガスの流
れに対する追従のしやすさがほぼ一定となる。また、サ
ンプルデータレートが増加しても、平均有効データ率が
低下しない。すなわち、例えばレーザードップラー流速
計を用いたガス流速の計測方法において、従来では、単
位時間当りのデータ数(サンプルデータレート)を増や
すためにシーディング粒子の供給量を増加させても、平
均有効データ率が低下してしまい、サンプルデータレー
トは余り増加しない。しかし、本発明の方法を用いる
と、従来よりも大きな粒子濃度まで平均有効データ率が
低下しないため、サンプルデータレートを容易に増加さ
せることができる。
【0028】前記シーディング粒子を製造する際、逆ミ
セル法を採用すれば、球状のあるいは中空球状の多孔質
なシーディング粒子を安価に、しかも容易に製造するこ
とができる。
セル法を採用すれば、球状のあるいは中空球状の多孔質
なシーディング粒子を安価に、しかも容易に製造するこ
とができる。
【0029】また、逆ミセルを作る際、反応物質の水溶
液を孔径のほぼ均一な多孔質ガラス膜あるいは孔径のほ
ぼ均一な細孔を有する高分子膜から有機溶媒に押し出す
方法を用いた場合には、粒子径が揃った、言い換えれば
粒径分布の狭い粒子を得ることができ、シーディング粒
子としてさらに望ましい。
液を孔径のほぼ均一な多孔質ガラス膜あるいは孔径のほ
ぼ均一な細孔を有する高分子膜から有機溶媒に押し出す
方法を用いた場合には、粒子径が揃った、言い換えれば
粒径分布の狭い粒子を得ることができ、シーディング粒
子としてさらに望ましい。
【0030】シーディング粒子を、メジャーリングホイ
ール式粉体フィーダーによりレーザー計測装置に供給す
れば、その供給量を定量的に供給することができ、計測
精度の向上がより顕著に現れる。従来の方法では計測精
度が低かっため、一測定毎に計測精度の維守のための計
測部の条件設定が必要であった。しかし、本方法ではそ
れが不要となったため、一定時間内に多くの測定ができ
るようになる。
ール式粉体フィーダーによりレーザー計測装置に供給す
れば、その供給量を定量的に供給することができ、計測
精度の向上がより顕著に現れる。従来の方法では計測精
度が低かっため、一測定毎に計測精度の維守のための計
測部の条件設定が必要であった。しかし、本方法ではそ
れが不要となったため、一定時間内に多くの測定ができ
るようになる。
【0031】写真撮影を用いたガスの流れの計測方法に
あっては、供給時のシーディング粒子の分布を一定にで
きるため、それ以後の粒子分布、すなわちガス分布を正
確に計測することができる。
あっては、供給時のシーディング粒子の分布を一定にで
きるため、それ以後の粒子分布、すなわちガス分布を正
確に計測することができる。
【0032】
【発明の効果】本発明によりガスの流れの計測精度が著
しく向上した。
しく向上した。
【0033】
【実施例】本発明をより一層明らかにするために、以下
に実施例を挙げる。
に実施例を挙げる。
【0034】実施例1 平均粒子径1.5μm、標準偏差0.3μmのSiO2
からなる多孔質な中空球状シーディング粒子(殻の厚み
は粒子の直径に対して1/5)を用いて、メジャーリン
グホイール式粉体フィーダーおよびスクリューフィーダ
ーによる供給テストを行った。
からなる多孔質な中空球状シーディング粒子(殻の厚み
は粒子の直径に対して1/5)を用いて、メジャーリン
グホイール式粉体フィーダーおよびスクリューフィーダ
ーによる供給テストを行った。
【0035】メジャーリングホイール式粉体フィーダ
ー、スクリューフィーダーの双方とも高い精度で供給す
ることができたが、特にメジャーリングホイール式粉体
フィーダーを用いれば、シーディング粒子を0.3±
0.01g/minの精度でレーザー計測装置に供給す
ることができ、スクリューフィーダーよりも約5倍高い
供給精度を得ることができた。レーザー計測装置を用い
たガス流速の計測において、計測装置への粒子の供給精
度が高ければ、ガス流速の計測装置によって得られる計
測精度も当然のことながら高いことが容易に予測され
る。
ー、スクリューフィーダーの双方とも高い精度で供給す
ることができたが、特にメジャーリングホイール式粉体
フィーダーを用いれば、シーディング粒子を0.3±
0.01g/minの精度でレーザー計測装置に供給す
ることができ、スクリューフィーダーよりも約5倍高い
供給精度を得ることができた。レーザー計測装置を用い
たガス流速の計測において、計測装置への粒子の供給精
度が高ければ、ガス流速の計測装置によって得られる計
測精度も当然のことながら高いことが容易に予測され
る。
【0036】比較例1 従来から用いられていた凝集性の平均粒子径1.5μm
のSiO2からなるシーディング粒子を用いて、メジャ
ーリングホイール式粉体フィーダーおよびスクリューフ
ィーダーによる供給テストを行なった。メジャーリング
ホイール式ではシーディング粒子が凝集してしまい、シ
ーディング粒子を供給できなかった。
のSiO2からなるシーディング粒子を用いて、メジャ
ーリングホイール式粉体フィーダーおよびスクリューフ
ィーダーによる供給テストを行なった。メジャーリング
ホイール式ではシーディング粒子が凝集してしまい、シ
ーディング粒子を供給できなかった。
【0037】スクリューフィーダーによるシーディング
粒子の供給精度は、0.3±0.14g/minであ
り、実施例1と比較すれば、球状のシーディング粒子を
使用した方が、レーザー計測装置への供給精度が高いこ
とが判った。レーザー計測装置を用いたガス流速の計測
において、計測装置への粒子の供給精度が高ければ、ガ
ス流速の計測装置によって得られる計測精度も当然のこ
とながら高いことが容易に予測される。
粒子の供給精度は、0.3±0.14g/minであ
り、実施例1と比較すれば、球状のシーディング粒子を
使用した方が、レーザー計測装置への供給精度が高いこ
とが判った。レーザー計測装置を用いたガス流速の計測
において、計測装置への粒子の供給精度が高ければ、ガ
ス流速の計測装置によって得られる計測精度も当然のこ
とながら高いことが容易に予測される。
【0038】参考例1および比較例2 従来より用いられている、非凝集性の平均粒子径5μm
のTiO2からなるシーディング粒子を用いて、メジャ
ーリングホイール式粉体フィーダー(参考例1)、及び
スクリューフィーダー(比較例2)による供給テストを
行なった。供給精度はそれぞれ、0.3±0.02g/
min、0.3±0.08g/minであり、メジャー
リングホイール式粉体フィーダーの計測精度が優れてい
ることが判った。
のTiO2からなるシーディング粒子を用いて、メジャ
ーリングホイール式粉体フィーダー(参考例1)、及び
スクリューフィーダー(比較例2)による供給テストを
行なった。供給精度はそれぞれ、0.3±0.02g/
min、0.3±0.08g/minであり、メジャー
リングホイール式粉体フィーダーの計測精度が優れてい
ることが判った。
【0039】実施例3 70%の粒子の粒子径が平均粒子径1.5μm±0.4
μmの範囲内であるSiO2からなる中空球状のシーデ
ィング粒子(殻の厚みは粒子の直径に対して1/5)を
用い、下記の条件でレーザー計測装置による円筒内の空
気流の速度を測定した(平均流速約20m/min)。
μmの範囲内であるSiO2からなる中空球状のシーデ
ィング粒子(殻の厚みは粒子の直径に対して1/5)を
用い、下記の条件でレーザー計測装置による円筒内の空
気流の速度を測定した(平均流速約20m/min)。
【0040】 1.測定装置 ファイバータイプレーザードップラー流速計 (仕様)レーザー:He−Neレーザー レーザーパワー8mW×2 レンズ径:55mm 2.測定条件 測定中心周波数:20MHz バンド幅:±16MHz 有効サンプル数:5,000 シグナルゲイン:24dB フォトマル電圧:760V 結果を、表1に記載する。
【0041】
【表1】
【0042】表1から明らかなように、サンプルデータ
レートが増加しても、計測精度を示す代表的指標の一つ
である平均有効データ率は余り低下せず、比較例3に比
べ、計測精度がよくなっていることが判る。
レートが増加しても、計測精度を示す代表的指標の一つ
である平均有効データ率は余り低下せず、比較例3に比
べ、計測精度がよくなっていることが判る。
【0043】実施例4 90%の粒子の粒子径が1〜5μmの範囲内であり、S
iO2からなる中空球状のシーディング粒子(殻の厚み
は粒子の直径に対して1/5)を用い、実施例3と同様
の実験を行なった。その結果を、表2に記載する。
iO2からなる中空球状のシーディング粒子(殻の厚み
は粒子の直径に対して1/5)を用い、実施例3と同様
の実験を行なった。その結果を、表2に記載する。
【0044】
【表2】
【0045】表2から明らかなように、実施例3と比べ
るとシーディング粒子の粒径分布が広いために平均有効
データ率は劣るものの、高サンプルデータレートでも安
定した有効データ率が得られた。
るとシーディング粒子の粒径分布が広いために平均有効
データ率は劣るものの、高サンプルデータレートでも安
定した有効データ率が得られた。
【0046】比較例3 従来の代表的なシーディング粒子である、図3、4に示
す湿性法ホワイトカーボン(平均一次粒子径0.2μ
m、平均凝集粒子径(実効粒子径)6μm、日本シリカ
工業株式会社製、NIPSIL SS−50F)を用い
て、参考例1と同様の実験を行なった。その結果を表3
に記載する。
す湿性法ホワイトカーボン(平均一次粒子径0.2μ
m、平均凝集粒子径(実効粒子径)6μm、日本シリカ
工業株式会社製、NIPSIL SS−50F)を用い
て、参考例1と同様の実験を行なった。その結果を表3
に記載する。
【0047】
【表3】
【0048】表3から明らかなように、平均有効データ
率は、実施例3、4に比べ全体的に低く、特に高いサン
プルデータレートでは極端に低い結果となった。
率は、実施例3、4に比べ全体的に低く、特に高いサン
プルデータレートでは極端に低い結果となった。
【0049】前記ホワイトカーボンを使用する代わりと
して、図3〜図14に示すような従来のシーディング粒
子を使用しても、上記と同様の結果が得られることが容
易に予測できる。
して、図3〜図14に示すような従来のシーディング粒
子を使用しても、上記と同様の結果が得られることが容
易に予測できる。
【0050】実施例5 球状のシーディング粒子を使用した場合の計測精度と、
中空球状のシーディング粒子を使用した場合の計測精度
とを、レーザー計測装置におけるガス流体の速度を変え
て(低速時および高速時)調べるために、70%の粒子
の粒子径が平均粒子径2.5±0.7μmの範囲にある
球状粒子(図1、2参照)を用いて実施例3と同様の実
験を行なった。結果を表4に示す。
中空球状のシーディング粒子を使用した場合の計測精度
とを、レーザー計測装置におけるガス流体の速度を変え
て(低速時および高速時)調べるために、70%の粒子
の粒子径が平均粒子径2.5±0.7μmの範囲にある
球状粒子(図1、2参照)を用いて実施例3と同様の実
験を行なった。結果を表4に示す。
【0051】
【表4】
【0052】表4から明らかなように、双方とも、低速
時および高速時において、高い計測精度が得られたが、
特に高速時には、球状のシーディング粒子よりも中空球
状のシーディング粒子の方が計測精度が高かった。
時および高速時において、高い計測精度が得られたが、
特に高速時には、球状のシーディング粒子よりも中空球
状のシーディング粒子の方が計測精度が高かった。
【0053】実施例6および比較例4 従来から用いられている平均粒子径5μm、粒子比重6
g/cm3のTiO2製流体可視化用シーディング粒子
(比較例4に相当)と、前記シーディング粒子とほぼ同
一の平均流体追随挙動を持つ平均粒子径30μm、粒子
比重約1g/cm3のSiO2製多孔質球状粒子(実施
例6に相当、72%が粒子径±50%の範囲に入ってい
る。)を用い、写真撮影法により流体の可視化実験を行
なった。その結果、多孔質球状粒子における粒子1個当
たりの平均反射光量は、従来の粒子のそれの約20倍で
あった。
g/cm3のTiO2製流体可視化用シーディング粒子
(比較例4に相当)と、前記シーディング粒子とほぼ同
一の平均流体追随挙動を持つ平均粒子径30μm、粒子
比重約1g/cm3のSiO2製多孔質球状粒子(実施
例6に相当、72%が粒子径±50%の範囲に入ってい
る。)を用い、写真撮影法により流体の可視化実験を行
なった。その結果、多孔質球状粒子における粒子1個当
たりの平均反射光量は、従来の粒子のそれの約20倍で
あった。
【0054】また、層流領域における粒子の流れの広が
り幅にあっては、多孔質球状粒子は従来の粒子の約0.
8〜0.5倍であった。
り幅にあっては、多孔質球状粒子は従来の粒子の約0.
8〜0.5倍であった。
【0055】平均流体追随挙動がほぼ同一である場合に
おいて、平均反射光量すなわち信号量がより大きく、層
流領域における粒子の流れの広がり幅がより狭ければ、
当然のことながらガスの流れの計測精度が高いことが容
易に推測される。
おいて、平均反射光量すなわち信号量がより大きく、層
流領域における粒子の流れの広がり幅がより狭ければ、
当然のことながらガスの流れの計測精度が高いことが容
易に推測される。
【0056】また、比較例4で使用したシーディング粒
子の代わりとして、図3〜図14に示すような従来のシ
ーディング粒子を使用しても、上記と同様の結果が得ら
れることが容易に予測できる。
子の代わりとして、図3〜図14に示すような従来のシ
ーディング粒子を使用しても、上記と同様の結果が得ら
れることが容易に予測できる。
【0057】実施例7および比較例5 さらに、上記平均粒子径30μmのSiO2製多孔質球
状粒子を用いる代わりに、平均粒子径100μmのSi
O2製多孔質球状粒子(実施例7に相当、72%が粒子
径±50%の範囲に入っている。)を用い、またこれと
ほぼ同一の流体追随挙動を持つTiO2製流体可視化用
シーディング粒子(比較例5に相当)を用いて、上記と
同じ可視化実験を行なった。
状粒子を用いる代わりに、平均粒子径100μmのSi
O2製多孔質球状粒子(実施例7に相当、72%が粒子
径±50%の範囲に入っている。)を用い、またこれと
ほぼ同一の流体追随挙動を持つTiO2製流体可視化用
シーディング粒子(比較例5に相当)を用いて、上記と
同じ可視化実験を行なった。
【0058】平均粒子径100μmのSiO2製多孔質
球状粒子の方が、平均反射光量、及び層流領域における
粒子の流れの広がり幅、の双方に優位な結果が得られ
た。
球状粒子の方が、平均反射光量、及び層流領域における
粒子の流れの広がり幅、の双方に優位な結果が得られ
た。
【図1】実施例5で使用した粒子の電子顕微鏡写真であ
る(倍率2,000倍)。
る(倍率2,000倍)。
【図2】実施例5で使用した粒子の電子顕微鏡写真であ
る(倍率10,000倍)。
る(倍率10,000倍)。
【図3】比較例3で使用した粒子の電子顕微鏡写真であ
る(倍率10,000倍)。
る(倍率10,000倍)。
【図4】比較例3で使用した粒子の電子顕微鏡写真であ
る(倍率50,000倍)。
る(倍率50,000倍)。
【図5】従来より使用されていた粒子(TiO2)の電
子顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
子顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
【図6】従来より使用されていた粒子(TiO2)の電
子顕微鏡写真である(倍率50,000倍)。
子顕微鏡写真である(倍率50,000倍)。
【図7】従来より使用されていた粒子(タルク)の電子
顕微鏡写真である(倍率1,000倍)。
顕微鏡写真である(倍率1,000倍)。
【図8】従来より使用されていた粒子(タルク)の電子
顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
【図9】従来より使用されていた粒子(TiO2+タル
ク)の電子顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
ク)の電子顕微鏡写真である(倍率10,000倍)。
【図10】従来より使用されていた粒子(TiO2+タ
ルク)の電子顕微鏡写真である(倍率50,000
倍)。
ルク)の電子顕微鏡写真である(倍率50,000
倍)。
【図11】従来より使用されていた粒子(関東ロームか
ら採取したもの)の電子顕微鏡写真である(倍率10,
000倍)。
ら採取したもの)の電子顕微鏡写真である(倍率10,
000倍)。
【図12】従来より使用されていた粒子(関東ロームか
ら採取したもの)の電子顕微鏡写真である(倍率50,
000倍)。
ら採取したもの)の電子顕微鏡写真である(倍率50,
000倍)。
【図13】従来より使用されていた粒子(白色溶融アル
ミナ)の電子顕微鏡写真である(倍率2,000倍)。
ミナ)の電子顕微鏡写真である(倍率2,000倍)。
【図14】従来より使用されていた粒子(白色溶融アル
ミナ)の電子顕微鏡写真である(倍率10,000
倍)。
ミナ)の電子顕微鏡写真である(倍率10,000
倍)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池田 裕二 兵庫県神戸市灘区水車新田字宮坂111−1 −205
Claims (9)
- 【請求項1】シーディング粒子としてセラミックスの多
孔質粒子を用いた光計測装置によるガスの流れの計測方
法において、 前記シーディング粒子が、直径0.5〜150μmの球
状粒子であることを特徴とするガスの流れの計測方法。 - 【請求項2】レーザードップラー流速計などのレーザー
計測装置を用いて、ガス流速を計測する方法において、 前記シーディング粒子が、直径0.5〜10μmの球状
粒子であることを特徴とする請求項1に記載のガスの流
れの計測方法。 - 【請求項3】フラッシュランプやパルスレーザー等の瞬
間的かつ強力な光源を用いて、シーディング粒子の分布
を写真撮影することにより、ガスの流れを計測するガス
の流れの計測方法において、 前記シーディング粒子が、直径5〜150μmの球状粒
子であることを特徴とする請求項1に記載のガスの流れ
の計測方法。 - 【請求項4】前記シーディング粒子が中空球状粒子であ
ることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載
のガスの流れの計測方法。 - 【請求項5】前記シーディング粒子がSiO2よりなる
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の
ガスの流れの計測方法。 - 【請求項6】70%以上のシーディング粒子の粒子径
が、平均粒子径±50%の範囲内であることを特徴とす
る請求項1〜5のいずれか1項に記載のガスの流れの計
測方法。 - 【請求項7】前記シーディング粒子が逆ミセル法により
製造されたことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1
項に記載のガスの流れの計測方法。 - 【請求項8】シーディング粒子原料を含有する水溶液を
孔径のほぼ均一な多孔質ガラス膜あるいは孔径のほぼ均
一な細孔を有する高分子膜から有機溶媒に押出して逆ミ
セルを形成することにより、前記シーディング粒子が製
造されたことを特徴とする請求項7に記載のガスの流れ
の計測方法。 - 【請求項9】メジャーリングホイール式粉体フィーダー
により、前記シーディング粒子をレーザー計測装置など
の光計測装置に供給することを特徴とする請求項1〜8
のいずれか1項に記載のガスの流れの計測方法。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3195472A JPH07111440B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-08-05 | ガスの流れの計測方法 |
NO92920755A NO920755L (no) | 1991-03-01 | 1992-02-26 | Fremgangsmaate til maaling av fluidstroemning |
CA002061910A CA2061910C (en) | 1991-03-01 | 1992-02-26 | Method for measuring the flow of fluids |
EP92103447A EP0501505B1 (en) | 1991-03-01 | 1992-02-28 | Method for measuring the flow of fluids |
DE69231262T DE69231262D1 (de) | 1991-03-01 | 1992-02-28 | Verfahren zum Messen der Flüssigkeitsströmung |
KR1019920003445A KR960015071B1 (ko) | 1991-03-01 | 1992-03-02 | 유체흐름의 계측방법 |
US08/708,906 US6118519A (en) | 1991-03-01 | 1996-09-05 | Method for measuring the flow of fluids |
US09/568,866 US6414748B1 (en) | 1991-03-01 | 2000-05-09 | Method for measuring the flow of fluids |
US10/151,839 US6903812B2 (en) | 1991-03-01 | 2002-05-20 | Method for measuring the flow of fluids |
US11/139,067 US20050219507A1 (en) | 1991-03-01 | 2005-05-26 | Method for measuring the flow of fluids |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3-36235 | 1991-03-01 | ||
JP3623591 | 1991-03-01 | ||
JP3195472A JPH07111440B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-08-05 | ガスの流れの計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04348281A JPH04348281A (ja) | 1992-12-03 |
JPH07111440B2 true JPH07111440B2 (ja) | 1995-11-29 |
Family
ID=26375277
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3195472A Expired - Fee Related JPH07111440B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-08-05 | ガスの流れの計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07111440B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6161470B2 (ja) * | 1981-03-30 | 1986-12-25 | Intaanashonaru Bijinesu Mashiinzu Corp |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6161470U (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-25 |
-
1991
- 1991-08-05 JP JP3195472A patent/JPH07111440B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6161470B2 (ja) * | 1981-03-30 | 1986-12-25 | Intaanashonaru Bijinesu Mashiinzu Corp |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04348281A (ja) | 1992-12-03 |
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |